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TEMA: Historia, Ventajas y Desventajas del Microscopio Electrnico de Barrido Ambiental ESEM ESEM Historia El desarrollo del microscopio

o electrnico de barrido ambiental (ESEM) se ha llevado a cabo para resolver las limitaciones del microscopio electrnico de barrido (MEB) convencional, como son el estudio y caracterizacin de emulsiones, geles, espumas, cauchos y otras muestras que contienen o pueden llegar a contener agua, aceites o cualquier sustancia voltil que puede evaporarse en alto vaco. Desde los primeros aos de la microscopia electrnica, se han llevado a cabo varios estudios que han intentado examinar el interior de los especmenes celulares en condiciones medio ambientales que poseen agua o gas atmosfrico, con la ayuda de microscopios electrnicos de transmisin convenciones y de barrido. Sin embargo, una de las primeras observaciones de muestras hmedas en un microscopio electrnico de barrido fue en el ao de 1970 por Lane. Lane fue capaz de inyectar pequeas cantidades de vapor de agua sobre la superficie de la muestra sobre el punto de observacin. Luego, el gas fue difundido dentro de la cmara de la muestra sin llegar a causar ninguna modificacin en el microscopio. A continuacin, entre los aos 1977 y 1979, Shah y Beckett informaron acerca del uso de clulas bombeadas diferencialmente para probablemente mantener la conductividad de estos especmenes botnicos con el fin de permitir el uso de la misma en el microscopio electrnico del modo que la muestra absorba la corriente para la deteccin de la seal. Luego se inform el uso y diseo de varias configuraciones para la deteccin de clulas del medio ambiente en un MEB, incluyendo bombeo diferencial, o el uso de pelculas de electrones trasparentes para mantener las muestras en su estado hmedo. Debido a su naturaleza, estas clulas slo tena uso de una aplicacin limitada y ningn desarrollo se haba realizado. Se report luego un mejor enfoque por Robinson en el ao 1974 usando un detector de electrones retro-dispersados y de bombeo de vaco diferencial con una sola abertura y la introduccin de vapor de agua alrededor de 600 Pa de presin en el punto de congelacin. A pesar de esto, ninguno de estos enfoques produjo un instrumento lo suficientemente estable como para la operacin de rutina. Robinson en 1978, estando en la Universidad de Nueva Gales del Sur en Sdney, junto con Danilatos llevaron a cabo un estudio a fondo cuantitativo y experimental que dio lugar a una operacin estable del microscopio a temperatura ambiente y altas presiones hasta 7000 Pa. En los aos posteriores, Danilatos, trabajando independientemente, inform una serie de trabajos acerca del diseo y la construccin de un microscopio electrnico de barrido ambiental o atmosfrico (ASEM), los cuales eran capaces de trabajar a cualquier presin de vaco hasta de una atmsfera. Estas obras contribuyeron a la optimizacin del sistema de bombeo diferencial, junto con detectores de electrones retro-dispersados (EEB). En el ao de 1983, cuando se invent el uso

del gas del medio ambiente como un medio de deteccin. Luego, en 1988, el primer ESEM comercial fue exhibido en Nueva Orleans por ElectroScan Corporation, una compaa de capital aventurero que deseaba comercializar el ESEM de Danilatos. La compaa hizo hincapi en los electrones secundarios (SE) y se asegur el monopolio del comercio de ESEM con una serie de nuevas patentes claves. Las empresas Philips y la FEI lograron proveer a ElectroScan de suministros de los instrumentos comerciales del ESEM. Con la expiracin de patentes clave y la asistencia de Danilatos, nuevos instrumentos comerciales se han aadido recientemente al mercado por LEO. Otras mejoras se han reportado hasta la fecha de ahora sobre el prototipo experimental original ESEM de Sidney y de numerosos otros trabajadores con el ESEM comercial. En resumen, el ESEM se desarroll en los aos ochenta. Sus principales ventajas radican en que permite al microscopista variar el entorno de la muestra a travs de una serie de presiones, temperaturas y composiciones de gas. El SEM Ambiental conserva todas las ventajas de rendimiento de un SEM convencional, pero elimina la restriccin de alto vaco en el medio ambiente de la muestra. Mojado, aceitoso, muestras sucias, no conductores podrn examinarse en su estado natural, sin modificacin o reparacin. El ESEM ofrece imgenes de alta resolucin secundaria de electrones en un ambiente gaseoso de prcticamente cualquier composicin, a presiones de hasta 50 Torr, y las temperaturas tan altas como 1500 C. Ventajas y Desventajas del Microscopio Electrnico de Barrido Ambiental Ventajas del ESEM (Environmental Scanning Electron Microscope) Los diferentes modos de vaco y la pletina peltier del Microscopio Electrnico de Barrido Ambiental (ESEM) permiten trabajar sin la limitacin para los materiales aislantes o de baja conductividad elctrica si necesidad de complicadas preparaciones previas. Asimismo existe la posibilidad de experimentos con muestras o atmsferas hmedas as como determinados experimentos dinmicos. Por lo que el uso de este instrumento significa que nuevas clases de materiales, antes insospechadas, pueden ser reflejados en su estado natural. Tambin permite la obtencin de imgenes de alta resolucin de muestras de diferente tamao, en un corto periodo de tiempo. Adems, ya que la muestra cambia segn la dinmica del ambiente, se pueden realizar procesos de hidratacin y deshidratacin segn su comportamiento natural y determinar las caractersticas de la muestra en cada estado. Gracias al sistema de bombeo diferencial, donde el can de electrones se puede mantener en alto vaco, mientras que el compartimiento de la muestra se puede mantener a una presin constante de 10-20 mmHg (1 torr ~ 133 Nm -2). En el ESEM existen una serie de aberturas de limitacin de presin (PLA) que se colocan en la columna; a travs de cada una de ellas se obtiene un diferencial de presin. La figura 1 muestra la columna y pone de relieve las presiones en las diferentes zonas. En consecuencia, a pesar de la relativamente alta presin en la cmara, este diseo permite al ESEM operar con filamentos, as como el tungsteno. Tambin, la emisin de caones de campana que posee tambin le permite dar una imagen de calidad superior.

Figura 1. ESEM La cmara de observacin de la muestra puede trabajar a presiones de 0 a 20 Torr en pasos de 0.1 Torr. Dentro de la cmara hay vapor de agua y condiciones que permiten variaciones de presin, temperatura y humedad para observacin de muestras no conductivas sin preparacin previa, especialmente las del tipo biolgico. Posee dos tipos de detectores: GSED (Gaseous Secundary Electron Detector) de electrones secundarios, diseado para trabajar en atmsfera gaseosa; y el BSED (Backscattered Electron Detector) de electrones retrodispersados que permite realizar anlisis morfolgicos y por contraste de nmero atmico. El equipo posee adems dos tipos de platina: una estndar y otra por efecto Peltier con rango de temperatura de 20C a partir de la temperatura ambiente. El microscopio electrnico de barrido ambiental, permite adems realizar un microanlisis elemental, es decir, permite conocer los elementos qumicos presentes en las diferentes partes de una muestra en un volumen tan pequeo de un micrmetro cbico y, en muchos casos, cuantificarlos. Del mismo modo permite ver la distribucin de cada elemento sobre la muestra; obtencin de informacin morfolgica y topogrfica de materiales orgnicos e inorgnicos. El rango de materiales con los que podemos trabajar en el ESEM, es muy amplio: Cermicos, metlicos, semiconductores, polmeros, biolgicos, histolgicos, etc.

Los campos de aplicacin de este microscopio abarcan tanto la ciencia y tecnologa de materiales, microelectrnica, como las ciencias biolgicas: Automocin, Biotecnologa, Nanotecnologa, Energas renovables, Farmacutica, Agroalimentaria, Micro-optoelectrnica, etc. El ESEM se puede utilizar tambin para estudiar la Nanometrologa, y para realizar controles de calidad, anlisis de fallos, anlisis de partculas, aplicaciones forenses, estudios celulares, localizacin de protenas, etc. Se pueden realizar procesos in situ y a tiempo real: corrosin, cristalizacin, ensayos mecnicos, etc. como por ejemplo, se puede ver in situ y en tiempo real como crece una sal en una solucin y cmo se modifica su crecimiento en presencia de inhibidores de la cristalizacin. Gracias a las caractersticas del ESEM, tenemos la posibilidad de obtener casi el 100% de eficiencia con los electrones secundarios y mantener una buena resolucin de la muestra, ya que opera basndose en tres fenmenos fundamentales: El haz de electrones que atraviesa la columna, el gas de densidad moderada produce un efecto de electrones dispersados mientras que el centro del haz permanece con su dimetro original. Los electrones secundarios que se emiten desde la superficie de la muestra ionizan una fraccin del gas creando electrones secundarios de ambiente y cationes. Estos ltimos son atrados por la superficie de la muestra (cargada negativamente) formando una capa conductora sobre la misma y neutralizando la carga superficial. Los electrones secundarios o ambientales. Pueden chocar con otras molculas de gas produciendo un efecto de cascada y, por tanto, ampliando la seal. Los electrones secundarios originales y los ambientales son detectados por un disco de metal sobre la muestra y cargados positivamente. El ruido creado por estos electrones se pueden detectar y separarse electrnicamente, lo que permite mejorar la relacin seal/ruidos.

Desventajas del ESEM Algunas de las desventajas del Microscopio Electrnico de Barrido Ambiental son: Alto costo del equipo por los diferentes aditamentos utilizados en el microscopio y complejo mantenimiento, por ejemplo, se necesita montar un detector especfico de cada vez. Asimismo, al utilizar este microscopio se requiere de un mantenimiento cuidadoso de la muestra de clulas vivas.

La microcinematografa requerida para mirar los procesos que realiza la clula in vivo requiere de equipos especiales y personal entrenado. La principal desventaja del microscopio ambiental contra el SEM es la baja calidad de la imagen cuando se trabaja con humedades relativas elevadas, es decir, prdida de contraste. Debido al funcionamiento de este instrumento se sabe que produce algunos efectos radiactivos, sin embargo, stos son desconocidos, y tampoco se conoce el impacto del campo electrnico sobre la muestra. Para objetos grandes y largos, se requiere usar una longitud de onda dispersiva muy corta.

Bibliografa: Instituto de Ciencia y Tecnologa de Polmeros. Consejo Superior de Investigaciones Cientficas. Consultado: 8 de Diciembre, 2010, en el sitio web: http://www.ictp.csic.es/index.php?opc=50 Imaging Technological Group. Environmental Scanning Electron Microscope (ESEM). Consultado: 8 de Diciembre, 2010, en el sitio web: http://www.itg.uiuc.edu/ms/equipment/microscopes/esem/ Krisada Kimseng y Marcel Meissel. Short overview about the E S E M - The Environmental Scanning Electron Microscope. Consultado: 8 de Diciembre, 2010, en el sitio web: http://www.calce.umd.edu/TSFA/ESEM.pdf