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CAPTULO I - INTRODUO
1. INTRODUO
O trabalho visou avaliar a aplicabilidade da tcnica de difrao de raios-X utilizando o mtodo de Rietveld no estudo quantitativo dos compostos do clnquer, tendo sido previamente realizada uma caracterizao qualitativa dos mesmos por difrao, para os quais os dados cristalogrficos j so amplamente conhecidos na literatura. Para aferio dos resultados foram tambm utilizadas tcnicas tradicionais no controle de qualidade do clnquer portland pela indstria brasileira, a microscopia ptica e o clculo potencial pelo mtodo de Bogue. A anlise quantitativa atravs de tcnicas de difrao de raios-X ainda pouco difundida na indstria do cimento, porm presente nos centros de pesquisa h duas dcadas, constituindo-se este trabalho o primeiro a abord-la no mbito nacional. Com uma produo de 39 milhes de toneladas distribudas em 79 fornos, o Brasil foi considerado em 2001 como o oitavo maior produtor mundial de cimento Portland (Giusti, 2002). No estudo foram utilizadas 40 amostras de clnqueres provenientes de cinco diferentes fornos, com caractersticas diferentes quanto s matrias-primas e processo de fabricao, representando caractersticas diversificadas de clnqueres nacionais. Sendo o produto gerado nos fornos, o clnquer de cimento Portland o material sinterizado e peletizado, resultante da calcinao de uma mistura adequada de calcrio e argila e, eventualmente, de componentes corretivos de natureza silico-aluminosa ou at mesmo ferrfera, empregados de modo a garantir a composio qumica da mistura dentro de limites especficos da unidade fabril. Os compostos sintticos do clnquer portland podem ser subdivididos em trs grupos distintos: os silicatos clcicos, a fase intersticial, e o grupo dos componentes menos freqentes como o periclsio (MgO), cal livre (CaO) e sulfatos. Introduzido por Hugo Rietveld em 1969, o mtodo que leva seu nome tem por base a simulao de todo o perfil difratomtrico a partir de parmetros estruturais das fases constituintes, permitindo refinar parmetros de natureza instrumental e cristalogrfica. Para atingir os objetivos do projeto foram utilizadas tcnicas analticas auxiliares, como a microscopia eletrnica de varredura com micro-anlises (MEV-EDS) e a dissoluo seletiva.

2. OBJETIVO
O projeto visou a aplicao de difrao de raios-X, mtodo do p, com refinamento pelo mtodo de Rietveld para quantificao das fases cristalinas do clnquer Portland, a partir de amostras de clnqueres industriais de diferentes fbricas fazendo uma comparao sistematizada com os mtodos tradicionais de Bogue e anlise modal por microscopia ptica. O desenvolvimento de uma sistematizao otimizada para o refinamento partindo de amostras de clnquer constitui-se de uma parte do objetivo do trabalho. O tema englobou investigaes sobre a influncia na quantificao por DRX-Rietveld da preparao de amostras (pulverizao) e o estabelecimento de parmetros de quantificao incluindo condies operacionais do difratmetro bem como a definio, a partir da literatura e banco de dados de referncia (ICSD), de estruturas cristalinas e parmetros cristalogrficos adequados para o refinamento.

3. JUSTIFICATIVAS
Para a caracterizao e controle de qualidade dos compostos do clnquer Portland nas fbricas de cimento brasileiras, utiliza-se normalmente mtodos de anlises quantitativas tradicionais, sendo mais usual a caracterizao qumica por via mida, visando determinao dos teores de cal livre presentes e tambm o mtodo de Bogue, que permite atravs de clculo estequiomtrico a obteno dos teores das fases do clnquer. A caracterizao atravs da microscopia ptica de luz refletida permite no s quantificar os compostos presentes no clnquer, mas tambm qualificar etapas do processo produtivo, como as condies de preparao da farinha, como moagem e homogeneizao das matriasprimas, e tambm as condies de queima e de resfriamento do clnquer. freqentemente aplicada na indstria brasileira para anlises qualitativas. A alternativa de mtodos de quantificao atravs da difratometria de raios-X, apresenta-se como soluo mais veloz e de alta reprodutibilidade. Sua aplicao atual nas indstrias cimenteiras pouco freqente e vinculada a procedimentos baseados em curvas de calibrao, metodologia que enfrenta a dificuldade de obteno de amostras padro para cada linha produtiva industrial. A metodologia de refinamento por Rietveld, que vem sendo aplicada para quantificao de fases de clnqueres em centros de pesquisa e fbricas de cimento no mbito internacional, uma interessante alternativa para o controle de processo, que supera a

3 restrio da necessidade de amostras padro, bem como permite determinar todos compostos presentes. No estudo cuidou-se de utilizar um conjunto diversificado de amostras, tendo sido introduzidos clnqueres com teores variados de lcalis e MgO. A escolha das amostras de clnquer aluminoso visou verificar o desempenho do mtodo DRX-Rietveld na determinao dos polimorfos do C3A em clnqueres industriais. Paralelamente pde ser abordado o composto C12A7, componente da fase intersticial de clnqueres de cimento branco. A dissoluo seletiva foi inserida no estudo como tcnica que permite concentrar compostos da fase intersticial para aferir a quantificao dos polimorfos de C3A obtida por DRX-Rietveld. Alm da microscopia, tcnica de maior importncia utilizada na aferio dos resultados, a microscopia eletrnica de varredura conjugada com o EDS para anlises qumicas pontuais foi utilizada para correlao com as estruturas cristalinas identificadas pela difrao de raios-X bem como para compostos no visualizados por microscopia.