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A influncia dos erros de paralelismo e planeza em micrmetros externos Rosenilda Rodrigues de Souza e Fabiana Schmitz Toda indstria que

ao final de seu processo tem um produto ou objeto palpvel como resultado utiliza controle dimensional, por mais bsico que seja, porm indispensvel para manter os padres exigidos, verificar o desenvolvimento conforme projeto e fazer uma inspeo bsica no produto. O controle dimensional em cho de fbrica efetua-se com auxlio de instrumentos e, para casos onde estes no so suficientes, utilizam-se as mquinas de medio. Os micrmetros externos, foco deste estudo, so utilizados para medies de peas em geral, permitindo a aferio de geometrias diversas, dentro da faixa de medio do equipamento utilizado. Este estudo est delimitado para faixas de 0 a 75 mm onde so requeridas, por norma, a averiguao e quantificao dos erros de paralelismo e planeza. As normas de referncia para este trabalho so a JIS B 7502, 1994 e a DIN 863-1, 1983. A norma JIS estabelece o seguinte como erro admissvel para micrmetros externos:
Faixa de Medio (mm) 0-25 e 25-50 50-75 Faixa de Medio (mm) 0-25 e 25-50 50-75 Paralelismo Erro (nmero de franjas) 4 6 Planeza: Erro (nmero de franjas) 2 3

J a Norma DIN 863-1 estabelece:


Faixa de Medio (mm) 0-25 e 25-50 50-75 Faixa de Medio (mm) 0-25 e 25-50 50-75 Paralelismo: Erro (nmero de franjas) 6 10 Planeza: Erro (nmero de franjas) 2 3

Nota-se que a norma JIS mais criteriosa quanto ao nmero de franjas admissvel para o erro de paralelismo. J no caso da planeza, as duas normas estabelecem o mesmo critrio. Experimentao A experimentao prtica foi realizada no laboratrio de metrologia da Sociesc acreditado ao Inmetro, sendo assim, as condies de medio englobam, por exemplo, temperatura e umidade controladas. Com base nas normas anteriormente citadas foram realizados ensaios visando quantificar os erros de paralelismo e planeza nos instrumentos e verificar a influncia destes nas medidas obtidas conforme as posies de medio da pea em relao ao instrumento.

Equipamentos utilizados Os ensaios e experimentao foram realizados com a utilizao dos seguintes equipamentos: jogos de paralelos pticos Tesa - para micrmetros com faixas de 0 a 25mm, 25 a 50mm e 50 a 75mm; plano ptico - Mitutoyo; micrmetros das faixas anteriormente citadas, sendo estes instrumentos de utilizao freqente; base para micrmetro externo; desempeno de granito. Procedimento A primeira etapa do procedimento consiste na escolha e separao dos micrmetros a serem utilizados, de todas as faixas citadas. Posteriormente realizou-se a experimentao com os paralelos e plano pticos.Posicionou-se o micrmetro a ser analisado sobre a base para micrmetro e limpou-se cuidadosamente as faces tanto do instrumento como dos paralelos e do plano. Zerou-se o micrmetro. Em seguida os paralelos, cada um separadamente, so dispostos entre os batentes do micrmetro e exercida fora para remoo da camada de ar existente entre os batentes e as faces do paralelo utilizado. Somou-se ento a quantidade de franjas encontradas em cada batente. Este nmero de franjas deve ser multiplicado por 0,32m para se obter o valor expresso em micrometro, pois o valor que corresponde metade do comprimento de onda de luz (branca) incidente sobre o micrmetro. Se for utilizado outro tipo de luz, deve-se multiplicar pelo fator correspondente. Quantifica-se o nmero de franjas para todos os paralelos. Com a utilizao do plano ptico verificou-se em cada batente separadamente o nmero de franjas que se formaram. necessrio aplicar uma fora para remover a camada de ar formada, definida por norma como sendo de 10N. Multiplicou-se o nmero de franjas encontrado para cada batente separadamente por 0,32m, conforme citado anteriormente para o caso dos paralelos pticos. Esses valores encontrados so os erros que o micrmetro apresenta de paralelismo e de planeza das faces dos batentes do instrumento averiguado. Os dados apresentados no captulo seguinte visam a verificao da influncia destas irregularidades existentes nas faces dos micrmetros nas medies realizadas com utilizao destes instrumentos. Dados coletados Os ensaios foram realizados conforme procedimento acima descrito com anlise de medies nas posies ilustradas na figura 1 em seqncia.

Fig. 1 Posies de medio Fonte: Laboratrio de Metrologia Sociesc

A posio 5, no apresentada pela ilustrao anterior, refere-se posio correta de utilizao do micrmetro ao medir uma pea, que aquela que contempla toda a face dos batentes. Com a experimentao prtica foram obtidos os resultados apresentados nas tabelas dispostas na seqncia. As tabelas apresentam no ttulo a descrio do micrmetro e dos erros encontrados com a utilizao do plano e dos paralelos pticos. O erro de planeza est expresso em nmero de franjas, descrevendo-se primeiro o valor encontrado para o batente fixo e sendo o segundo valor correspondente ao erro de planeza para o batente mvel. No caso do paralelismo, apresentou-se os valores em nmero de franjas encontrados utilizando-se os paralelos pticos da menor para a maior espessura. Os micrmetros de faixa 0 a 25mm apresentam quatro valores, pois foram utilizados quatro paralelos pticos de diferentes espessuras, j os demais apresentam trs valores pelo fato de utilizarem-se apenas trs paralelos pticos. As indicaes apresentadas nas tabelas so valores retirados das normas de calibrao de micrmetros externos, sendo que foram utilizados cinco valores diferentes, considerando toda a faixa de medio. Os dados apresentados nas colunas das posies so valores dos erros, expressos em mm, em relao indicao relacionada pela linha, obtidos em cada posio.
Tabela 1 - Micrmetro 1, sem erro de planeza, porm com erro de paralelismo de: 10, 10, 9 e 12 franjas

MICRMETRO 0 - 25 mm INDICAO POSIO (mm) 1 2 3 4 5,1 12,9 15 -1 -2 -2 -2 -2 -1 -1 -1 -2 -1 -2 -1

0 0 -1

17,6 25

-1 -1

-2 -2

-2 -1

-2 0 -1 -1

Tabela 2 - Micrmetro 2 apresenta erro de planeza de 3 e 5 franjas, e de paralelismo: 10, 12, 10 e 12 franjas
MICRMETRO 0 - 25 mm INDICAO POSIO (mm) 1 2 3 4 5,1 12,9 15 17,6 25 -3 -4 -4 -3 -3 -2 -3 -2 -3 -2 -5 -5 -5 -5 -6 -3 -2

-1 -3 -1 -2 0

-1 0 -1

Tabela 3 - Micrmetro 3 apresenta erro de planeza de 4 e 5 franjas, e de paralelismo: 13 15, 14 e 15 franjas


MICRMETRO 0 - 25 mm INDICAO POSIO (mm) 1 2 3 4 5,1 12,9 15 17,6 25 -6 -4 -4 -5 -5 -5 -4 -3 -4 -5 -6 -5 -4 -5 -6 -3 -5

-5 -4 -2 -5 -1

-1 -2 -1

Tabela 4 - Micrmetro 4 apresenta erro de planeza de 3 e 3 franjas e de paralelismo: 10, 9 e 12 franjas.


MICRMETRO 25 - 50 mm INDICAO POSIO (mm) 1 2 3 4 30,1 37,9 40 42,6 50 6 6 6 6 7 6 5 5 6 5 7 7 6 5 7 5 6 5 7 5

3 2 1
2 3

Tabela 5 - Micrmetro 5 apresenta erro de planeza de 2 e 2 franjas e de paralelismo: 15, 18 e 17 franjas


MICRMETRO 25 - 50mm INDICAO POSIO (mm) 1 2 3 4 30,1 37,9 40 42,6 50 -6 -5 -6 -7 -7 -3 -4 -4 -3 -4 -3 -3 -4 -3 -3 -3 -3 -4 -4 -3

-2 -1 -3 -2 -1

Tabela 6 - Micrmetro 6 apresenta erro de planeza de 3 e 4 franjas e de paralelismo: 14, 13 e 14 franjas

MICRMETRO 25 - 50mm INDICAO POSIO (mm) 1 2 3 4 30,1 37,9 40 42,6 50 5 5 6 6 6 3 3 4 4 4 4 3 4 4 3 5 6 6 6 5

2 3 4
3 4

Tabela 7 - Micrmetro 7 apresenta erro de planeza de 3 e 3 franjas e de paralelismo: 13, 12 e 12 franjas


MICRMETRO 50 - 75mm INDICAO POSIO (mm) 1 2 3 4 55,1 62,9 65 67,6 75 5 5 6 5 5 5 5 5 4 5 4 4 5 5 4 4 4 4 5 5

2 2 3
3 3

Tabela 8 - Micrmetro 8 apresenta erro de planeza de 4 e 3 franjas e de paralelismo: 8, 8 e 9 franjas

MICRMETRO 50 - 75mm INDICAO POSIO (mm) 1 2 3 4 55,1 62,9 65 67,6 75 5 5 4 5 5 4 4 4 5 5 4 4 5 4 5 4 4 3 4 4

2 2 2 3 3

Tabela 9 - Micrmetro 9 apresenta erro de planeza de 2 e 3 franjas e de paralelismo: 8, 7 e 6 franjas


MICRMETRO 50 - 75mm INDICAO POSIO (mm) 1 2 3 4 55,1 62,9 65 67,6 75 -3 -3 -3 -4 -4 -3 -3 -2 -3 -4 -3 -2 -3 -4 -4 -3 -3 -3 -3 -3

-1 -1 -1 -2 -3

Conforme a posio de utilizao dos micrmetros para medio da pea ocorre variao de medidas obtidas. Porm ao analisar-se a posio 5, que seria a posio ideal conforme norma para realizar medio com utilizao de micrmetro conclui-se que os erros de paralelismo e planeza causam pouca interferncia, visto que somado eles ainda existem os erros e defeitos do

prprio instrumento, como as folgas e desgaste do fuso, e os erros do operador. Assim, o primeiro cuidado ao elaborar um critrio para micrmetro assegurar a correta forma de utilizao bem como as tolerncias necessrias para aquela etapa do processo. Nos casos de tolerncias centesimais, por exemplo, realizando-se medio com as faces dos batentes totalmente apoiadas na pea no h necessidade de verificao dos erros de paralelismo e planeza, pois como apresentado nas tabelas de experimentao prtica em captulo anterior, os erros mximos encontrados foram da ordem de 5m. A necessidade ou no de quantificar os erros de paralelismo e planeza s podem ser definidos pelo processo no qual estes instrumentos so utilizados, pelas tolerncias exigidas. Cada caso tem suas particularidades, cada processo tem suas exigncias.
Referncias [1] JIS B 7502. Japanese Industrial Standard.1994. [2] DIN 863-1.Deustsches Institut for Normung. 1983. [3] Vocabulrio Internacional de Termos Fundamentais e Gerais de Metrologia (VIM). Disponvel em: http://www.inmetro.gov.br/infotec/vim.asp# - Acesso em: 18.abr. 2007.

Rosenilda Rodrigues de Souza e Fabiana Schmitz so da Sociedade Educacional de Santa Catarina - rosenilda.souza@sociesc.com.br fabiana.schmitz@sociesc.com.br