Anlisis de la estructura cristalina mediante difraccin de rayos X

Cristina Mantilla 9 de octubre de 2013

El estudio de los materiales cristalinos constituye un tema de particular inters en la ciencia de materiales. La particularidad que los diferencia del resto de materiales es la periodicidad asociada a su estructura atmica. La estructura cristalina est caracterizada microscpicamente por la agrupacin de iones, tomos o molculas segn un modelo de repeticin peridica. Esto permite la identicacin de un cristal con solo conocer las propiedades y caractersticas de la celda unitaria que genera su red cristalina, as como la simetra presente en el cristal. La rama que se ocupa de las tcnicas utilizadas para caracterizar la estructura, composicin y formacin de cristales es la cristalografa. El descubrimiento de la interaccin de los rayos X con los cristales revolucion el campo de la cristalografa. Debido a la similitud de las longitudes de onda de los rayos X con distancias interatmicas en la materia es posible utilizar la difraccin de rayos X como un mtodo para explorar la naturaleza de los cristales. Los equipos que se utilizan para producir estos rayos X son relativamente sencillos. Disponen de un generador de alta tensin, que se suministra al tubo de rayos X, que es realmente donde se produce la radiacin. El desarrollo de equipos ms modernos y avanzados a travs de los aos ha permitido la difusin de esta tcnica como una tcnica poderosa de caracterizacin y determinacin de la estructura de sustancias. El resultado de realizar un experimento de difraccin, el que se miden las intensidades de los rayos X difractados por un cristal en determinados ngulos, se reeja en un difractograma. La determinacin de la base cristalina de un material es posible gracias al anlisis de los difractogramas obtenidos. La base de datos de patrones existentes permite identicar la estructura cristalina y molecular de las sustancias mediante un anlisis cualitativo de las muestras. La cantidad de informacin que incluyen los difractogramas, as como la facilidad de manipulacin de las muestras y del equipo de rayos X ha hecho que en la actualidad la difraccin de rayos X sea una tcnica bsica en caracterizacin de materiales.