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A N

A M E R I C A N

N A T I O N A L

S T A N D A R D

SURFACE TEXTURE
(SURFACE ROUGHNESS,
WAVINESS, AND LAY)

ASME B46.1-2002
(Revision of ASME B46.1-1995)

CONTENTS
Foreword . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Committee Roster . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Correspondence with the B46 Committee . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

vii
ix
x

Terms Related to Surface Texture . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .


General . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Definitions Related to Surfaces . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Definitions Related to the Measurement of Surface Texture by Profiling
Methods . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Definitions of Surface Parameters for Profiling Methods . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Definitions Related to the Measurement of Surface Texture by Area
Profiling and Area Averaging Methods . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Definitions of Surface Parameters for Area Profiling and Area Averaging
Methods . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

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1
1

13

Section 2
2.1
2.2
2.3

Classification of Instruments for Surface Texture Measurement . . . . . . . . . . . . . . . .


Scope of Section 2 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Recommendation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Classification Scheme . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

16
16
16
16

Section 3
3.1
3.2
3.3
3.4

Terminology and Measurement Procedures for Profiling, Contact, Skidless


Instruments . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Scope of Section 3 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
References . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Terminology . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Measurement Procedure . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

19
19
19
19
23

Section 4
4.1
4.2
4.3
4.4

Measurement Procedures for Contact, Skidded Instruments . . . . . . . . . . . . . . . . . . .


Scope of Section 4 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
References . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Purpose . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Instrumentation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

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25
25
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25

Section 5
5.1
5.2
5.3
5.4
5.5

Measurement Techniques for Area Profiling . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .


Scope of Section 5 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
References . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Recommendations . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Imaging Methods . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Scanning Methods . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

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30
30
30
30
30

Section 6
6.1
6.2

Measurement Techniques for Area Averaging . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .


Scope of Section 6 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Examples of Area Averaging Methods . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

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31
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Section 7

Nanometer Surface Texture And Step Height Measurements By Stylus Profiling


Instruments . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Scope of Section 7 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Applicable Document . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Definitions . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Recommendations . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Preparation for Measurement . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Calibration Artifacts . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Reports . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

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32
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32
32
34
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Section 1
1.1
1.2
1.3
1.4
1.5
1.6

7.1
7.2
7.3
7.4
7.5
7.6
7.7

iii

2
6
12

Section 8
8.1
8.2
8.3
8.4
8.5
8.6
8.7
8.8

Nanometer Surface Roughness as Measured with Phase Measuring


Interferometric Microscopy . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Scope of Section 8 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Description and Definitions: Noncontact Phase Measuring Interferometer . . . .
Key Sources of Uncertainty . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Noncontact Phase Measuring Interferometer Instrument Requirements . . . . . . .
Test Methods . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Measurement Procedures . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Data Analysis and Reporting . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
References . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

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37
37
37
37
38
38
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39

Section 9
9.1
9.2
9.3
9.4
9.5
9.6

Filtering of Surface Profiles . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .


Scope of Section 9 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
References . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Definitions and General Specifications . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2RC Filter Specification for Roughness . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Phase Correct Gaussian Filter for Roughness . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Filtering for Waviness . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

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41
41
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42
44
47

Section 10 Terminology and Procedures for Evaluation of Surface Textures Using Fractal
Geometry . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
10.1
General . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
10.2
Definitions Relative to Fractal Based Analyses of Surfaces . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
10.3
Reporting the Results of Fractal Analyses . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
10.4
References . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

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52
54

Section 11 Specifications and Procedures for Precision Reference Specimens . . . . . . . . . . . . . .


11.1
Scope of Section 11 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
11.2
References . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
11.3
Definitions . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
11.4
Reference Specimens: Profile Shape and Application . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
11.5
Physical Requirements . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
11.6
Assigned Value Calculation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
11.7
Mechanical Requirements . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
11.8
Marking . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

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Section 12 Specifications and Procedures for Roughness Comparison Specimens . . . . . . . . . .


12.1
Scope of Section 12 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
12.2
References . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
12.3
Definitions . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
12.4
Roughness Comparison Specimens . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
12.5
Surface Characteristics . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
12.6
Nominal Roughness Grades . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
12.7
Specimen Size, Form, and Lay . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
12.8
Calibration of Comparison Specimens . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
12.9
Marking . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

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63

Figures
1-1
1-2
1-3
1-4
1-5
1-6
1-7
1-8
1-9

Schematic Diagram of Surface Characteristics . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .


Measured vs Nominal Profile . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Stylus Profile Displayed With Two Different Aspect Ratios . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Examples of Nominal Profiles . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Filtering a Surface Profile . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Profile Peak and Valley . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Surface Profile Measurement Lengths . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Illustration for the Calculation of Roughness Average Ra . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Rt, Rp, and Rv Parameters . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
iv

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4-3
4-4
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7-3
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8-2

8-3
9-1
9-2
9-3
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9-5

9-6
10-1
10-2
10-3

10-4

Surface Profile Containing Two Sampling Lengths, l1 and l2, Also


Showing the Rpi and Rti Parameters . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
The Rt and Rmax Parameters . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
The Waviness Height, Wt . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
The Mean Spacing of Profile Irregularities, RSm . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
The Peak Count Level, Used for Calculating Peak Density . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Amplitude Density FunctionADF(z) or p(z) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
The Profile Bearing Length . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
The Bearing Area Curve and Related Parameters . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Three Surface Profiles With Different Skewness . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Three Surface Profiles With Different Kurtosis . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Topographic Map Obtained by an Area Profiling Method . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Area Peaks (Left) and Area Valleys (Right) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Comparison of Profiles Measured in Two Directions on a Uniaxial,
Periodic Surface Showing the Difference in Peak Spacing as a Function
of Direction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Classification of Common Instruments for Measurement of Surface
Texture . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Profile Coordinate System . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Conical Stylus Tip . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Truncated Pyramid Tip . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Aliasing . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Schematic Diagrams of a Typical Stylus Probe and Fringe-Field Capacitance
Probe . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Effects of Various Cutoff Values . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Examples of Profile Distortion Due to Skid Motion . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Example of Profile Distortion . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
The Radius of Curvature for a Surface Sine Wave . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Stylus Tip Touching Bottom and Shoulders of Groove . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
The Stylus Tip Contact Distance, x . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
A Typical Phase Measuring Interferometer System . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Demonstration of the Detector Array With Element Spacing and the
Measurement of the Longest Spatial Wavelength, L Covering the Total
Number (N) Pixels . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Demonstration of the Detector Array With Element spacing and the
Measurement of the Smallest Spatial Wavelength R Covering 5 Pixels . . . .
Wavelength Transmission Characteristics for the 2RC Filter System . . . . . . . . . .
Gaussian Transmission Characteristics Together With the Uncertain
Nominal Transmission Characteristic of a 2 m Stylus Radius . . . . . . . . . . . .
Weighting Function of the Gaussian Profile Filter . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Gaussian Transmission Characteristic for the Waviness Short-Wavelength
Cutoff or for Deriving the Roughness Mean Line Having Cutoff
Wavelengths c p 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, and 8.0 mm . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Gaussian Transmission Characteristic for the Roughness LongWavelength Cutoff Having Cutoff Wavelengths c p 0.08, 0.25, 0.8,
2.5, and 8.0 mm . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Example of a Deviation Curve of an Implemented Filter From the Ideal
Gaussian Filter as a Function of Spatial Wavelength . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Self-Similarity Illustrated on a Simulated Profile . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
An Idealized Log-Log Plot of Relative Length (of a Profile) or Relative
Area (of a Surface) Versus the Scale of Observation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
An Idealized Log-Log Plot of Relative Length or Area Versus the Scale of
Observation (Length-Scale or Area-Scale Plot), Showing Multi-Fractal
Characteristics and Crossover Scales . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Three Stepping Exercises from a Length-Scale Analysis on a Simulated
Profile . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
v

8
8
8
9
9
9
10
10
10
11
13
13

14
17
20
20
21
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33
33
34
38

39
40
42
43
44

45

46
47
49
50

50
51

10-5

10-6
11-1
11-2
11-3
11-4
11-5
11-6
11-7
11-8
11-9
11-10
11-11
Tables
3-1
3-2
4-1

Four Tiling Exercises From an Area-Scale Analysis, Illustrated for a Diamond


Coating on a Silicon Substrate, Fabricated and Measured With a
Scanning Tunneling Microscope at UNCC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
An Area-Scale Plot Including the Results of the Tiling Series in Fig. 10-5 . . . . .
Type A1 Groove . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Type A2 Groove . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Allowable Waviness Height Wt for Roughness Calibration Specimens . . . . . . .
Assessment of Calibrated Values for Type A1 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Type B1 Grooves: Set of 4 Grooves . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Type B2 or C2 Specimens With Multiple Grooves . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Use of Type B3 Specimen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Type C1 Grooves . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Type C3 Grooves . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Type C4 Grooves . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Unidirectional Irregular Grooves Having Profile Repitions at 4 mm
Intervals . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

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53
55
55
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57
57
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58
59
59
59
60

Cutoff Values for Periodic Profiles Using RSm . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .


Cutoff Values for Nonperiodic Profiles Using Ra . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Measurement Cutoffs and Traversing Lengths for Continuously
Averaging Instruments Using Analog Meter Readouts . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Measurement Cutoffs and Minimum Evaluation Lengths for Instruments
Measuring Integrated Roughness Values Over a Fixed Evaluation
Length . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Limits for the Transmission Characteristics for 2RC Long-Wavelength Cutoff
Filters . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Typical Cutoffs for Gaussian Filters and Associated Cutoff Ratios . . . . . . . . . . .
Typical Values for the Waviness Long-Wavelength Cutoff (cw) and
Recommended Minimum Values for the Waviness Traversing Length . . . . . .
Example of a Report on Fractal Analysis . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Nominal Values of Depth or Height and Examples of Width for Type A1 . . . .
Nominal Values of Depth and Radius for Type A2 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Tolerances for Types A1 and A2 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Tip Size Estimation From the Profile Graph for Type B1 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Recommended Ra and RSm Values for Type C1 Specimens . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Tolerances for Types C1 to C4 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Nominal Values of Ra and RSm for Type C2 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Nominal Values of Ra for Type C4 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Tolerances for Unidirectional Irregular Profiles . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Nominal Roughness Grades (Ra) for Roughness Comparison Specimens . . . . .
Form and Lay of Roughness Comparison Specimens Representing
Various Types of Machined Surfaces . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Examples of Sampling Lengths for Calibration of Comparison Specimens,
mm . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

64

Nonmandatory Appendices
A
General Notes on Use and Interpretation of Data Produced by Stylus
Instruments . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
B
Control and Production of Surface Texture . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
C
A Review of Additional Surface Measurement Methods . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
D
Additional Parameters for Surface Characterization . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
E
Characteristics of Certain Area Profiling Methods . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
F
Descriptions of Area Averaging Methods . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
G
Observations on the Filtering of Surface Profiles . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
H
Reference Subroutines . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
I
A Comparison of ASME and ISO Surface Texture Parameters . . . . . . . . . . . . . . .

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70
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86
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90
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4-2

9-1
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9-3
10-1
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12-3

vi

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25
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