CONTROLE ESTATSTICO DE PROCESSOS - CEP

Profa. Ghislaine Miranda Bonduelle UFPR/DETF

CEP
Pode ser definido como um mtodo preventivo de se comparar continuamente os resultados de um processo com um padro, identificando, a partir de dados estatsticos, as tendncias para variaes significativas, eliminando ou controlando estas variaes com o objetivo de reduzilas cada vez mais.

CEP
o conjunto de tcnicas utilizadas para o controle da qualidade do produto durante cada etapa de fabricao.

FERRAMENTAS
Histogramas Diagramas Curva de Distribuio Normal Cartas de Controle Capacidade do Processo Grfico de Pareto Diagrama de Causa-Efeito/Ishikawa

VARIAES NO PROCESSO
Comuns ou aleatrias
Intrinsecas ao processo

Variaes aleatrias: intrsecas ao processo

VARIAES NO PROCESSO
Causais : podemos interferir

CEP

HISTOGRAMAS
um tipo de grfico de barras que apresenta de forma clara a distribuio de um grupo de dados. A altura ou o comprimento das barras em um histograma correspondem ao numero de vezes ou freqncia que um determinado dado ocorre. Os histogramas so muito teis na visualizao do padro de distribuio dos valores observados. Eles mostram tanto o grau de disperso quanto a localizao (tendncia central) das amostras coletadas.

CONSTRUO
Colete os dados Determine a Amplitude das Amostras Coletadas Amplitude = Maior Valor Menor Valor Determine o Intervalo de Classe (h)
h = Amplitude k

K = nmero de classes

HISTOGRAMAS
Estabelea os intervalos de classe e classifique os dados coletados. Determine as freqncias relativas e construa o histograma. Anote no grfico todas as informaes disponveis (fornecedor, mdia, desvio padro, especificaes, etc).

CARTAS DE CONTROLE
So grficos de anlise e ajuste da variao de um processo em funo do tempo, atravs de duas caractersticas bsicas: sua centralizao e sua disperso. A Centralizao pode ser verificada atravs da mdia do processo e a Disperso estimada atravs do desviopadro ou da amplitude dos dados.

CARTAS DE CONTROLE
CARTAS DE CONTROLE POR VARIVEIS Baseadas nas distribuies contnuas apresentam dados que podem ser medidos ou que sofrem variaes contnuas. Exemplos: variaes na altura de um talho, resistncia a trao.

CARTAS DE CONTROLE
CARTAS DE CONTROLE POR ATRIBUTOS Baseadas em distribuies discretas, possuem um carter dicotmico , ou seja, os dados s podem ser contados ou classificados. Exemplos|: passa/no passa; mole/duro; conforme/no-conforme.

PRINCIPAIS TIPOS DE CARTAS DE CONTROLE POR VARIVEIS

- carta de mdia e desvio-padro ( e s); - carta de mdia e amplitude (e R) Observa-se que a anlise deve ser feita aos pares, observando a centralizao e a disperso.

CARTA DE CONTROLE PARA MDIAS E DESVIO PADRO

Estas cartas so construdas a partir de dados do processo. Observa-se que o desvio-padro um melhor indicador da disperso do processo que a amplitude, porm o seu clculo mais complexo.

CARTAS DE CONTROLECONSTRUO
1. Coleta de dados k*n>100
K=nmero de amostras N=tamanho das amostras

CARTAS DE CONTROLE Construo

2. Clculo das mdias das amostras (x)

Xi

x1 x2 x3 ... x n n

n = nmero de itens da amostra-tamanho da amostra xi-n = valor individual do item i.

CARTAS DE CONTROLE Construo

3. Clculo da mdia do processo (X)

x1 x 2 x 3 ... x k X k
k= nmero de amostras = mdia das amostras i

CARTAS DE CONTROLEConstruo
4. Clculo do desvio-padro

(x

x)

xi-n = valor de cada item da amostra para o qual se quer obter o desvio-padro. = mdia da amostra em questo n = tamanho da amostra

n 1

CARTAS DE CONTROLE Construo

. Clculo do desvio padro mdio do processo

s1 s2 s3 ...sk s k

k= nmero de amostras si = desvio-padro da mostra i.

 6. Clculo dos limites de controle (LSC e LIC) 6.1. Para a mdia : Limite Superior de Controle (LSC) = + A3 * Limite Inferior de Controle (LIC) = A3 * 6.2. Para o desvio padro: Limite Superior de Controle = B4 * Limite Inferior de Controle (B3 * S = desvio-padro mdio do processo A3, B3 e B4 so fatores que dependem do tamanho da amostra (Tabela