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CAPÍTULO 10

PROPAGAÇÃO DE INCERTEZAS ATRAVÉS DE MÓDULOS

Freqüentemente diferentes módulos são interligados para compor sistemas de medição


específicos. Transdutores de diferentes tipos e características metrológicas são interligados à
unidades de tratamento de sinais que, por sua vez, são conectadas a sistemas de indicação ou
registro. As incertezas de cada um dos módulos interligados se propagam de forma a compor a
incerteza combinada do sistema de medição completo.
Este problema aparece de forma tão freqüente na experimentação que é aqui tratado em
detalhes. É um caso particular da análise de incertezas também denominado de propagação de
incertezas. Este capítulo apresenta considerações e procedimentos recomendados para estimar a
incerteza combinada do sistema de medição a partir das características metrológicas dos módulos
interligados.
A interligação de diversos módulos para compor um sistema de medição é esquematicamente
representada na figura 10.1. O comportamento metrológico individual de cada uma dos módulos é
conhecido a priori, em termos de sua incerteza padrão u(Mi) e sua correção C(Mi), para as
condições de operação. Deseja-se avaliar o comportamento metrológico do sistema completo.

S(M1) S(M2) S(M 3) S(Mn)


M1 M2 M3 ... Mn
E(M1) E(M2) E(M3) E(Mn)

K(M 1) K(M2) K(M 3) K(Mn)


C(M1) C(M 2) C(M 3) C(Mn)
u(M1) u(M 2) u(M 3) u(Mn)

Figura 10.1 - Propagação de incertezas entre módulos interligados de um Sistema de Medição

Seja E(M1) o sinal de entrada do módulo 1 e S(M1) o seu respectivo sinal de saída. Sejam ainda
conhecidas a sensibilidade deste módulo, denominada por K(M1) (a constante multiplicativa que
relaciona a entrada com a saída do módulo), a correção C(M1)e a incerteza padrão u(M1) . O sinal
de saída do primeiro módulo está correlacionado com a entrada pela equação (10.1)

S(M1 ) = E(M 1).K(M1 ) - C(M 1) ± u(M 1) (10.1)

A correção C(M1) aparece com sinal negativo porque a saída do módulo é calculada em função da
entrada, que o caminho contrário ao usual. Note ainda que a dispersão equivalente a uma
incerteza padrão do primeiro módulo está presente no sinal de saída. Analogamente, para o
módulo 2:

S(M 2 ) = E(M 2 ).K(M 2 ) - C(M 2 ) ± u(M 2 )


Quando o módulo 2 é interligado ao módulo 1, a saída do módulo 1 passa a coincidir com a
entrada do módulo 2. Assim, a equação acima, quando combinada com a (10.1), leva a:

S(M 2 ) = E(M 1 ).K(M 1 ). K(M 2 ) - [C(M 1 ). K(M2 ) + C(M 2 )] ± [u(M 1 ). K(M 2 ) + u(M 2 )]

O lado direito da equação acima foi agrupado em três blocos: O primeiro bloco corresponde ao
sinal de saída nominal, livre da influência de qualquer incerteza. O segundo bloco decorre dos
erros sistemáticos. O terceiro é a componente associada à incerteza padrão de cada módulo.
Se esta análise for estendida para n módulos, a equação acima cresce em complexidade. Porém,
já é possível notar a existência de um certo padrão que pode ser extrapolado para n módulos.
Note que a entrada do bloco 1 coincide com a entrada do SM e a saída do bloco n com a saída do
SM. Assim:

a) O valor nominal da saída do SM dado por:

S(SM) = E(SM).K(M 1 ).K(M 2 ).K(M 3 ) ... K(M n ) (10.2)

b) A influência dos erros sistemáticos, expressos através das respectivas correções de cada
módulo:

C(SM) = (...(((C(M 1).K(M2 ) + C(M2 )).K(M 3 ) + C(M 3 )).K(M4 ) + C(M4 ))...). K ( M n )

c) A influência da incerteza padrão de cada módulo na saída do SM:

u(SM) = ± (...(((u(M1 ). K(M 2 ) + u(M 2 )). K(M 3 ) + u(M 3 )).K(M 4 ) + u(M 4 ))...). K ( M n )

Após algumas manipulações algébricas, as equações acima podem ser reescritas em termos dos
erros relativos, o que leva aos seguintes resultados:

C r (SM) = C r ( M1 ) + C r (M 2 ) + C r (M 3 ) + ... + C r (M n ) (10.3)

onde:
Cr(SM)= C(SM)/ S(SM) é a correção relativa do SM
Cr(Mi)= C(Mi )/S(Mi) é a correção relativa do módulo i

ur (SM) = ± u2r (M1 ) + u2r (M 2 ) + u2r (M 3 ) + ... + u 2r (M n )


(10.4)

onde:
ur(SM) = u(SM) / S(SM) é a incerteza padrão relativa do SM
ur(Mi) = u(Mi) / S(Mi) é a relativa do módulo i

As equações (10.2), (10.3) e (10.4) permitem a caracterizar o comportamento do SM composto


pela interligação dos n módulos a partir das características metrológicas de cada módulo
individualmente.
Uma vez determinada a incerteza relativa combinada do sistema de medição é necessário
determinar a incerteza expandida. Para tal, deve ser utilizada a equação de Welch-Satterwaite
para estimar o número de graus de liberdade efetivos envolvido e, a partir deste, determinar o
respectivo fator de abrangência.

Problema resolvido:

A indicação do voltímetro abaixo é de 2,500 V. Determinar o resultado da medição do


deslocamento, efetuado com o sistema de medição especificado abaixo, composto de:

a) Transdutor indutivo de deslocamentos:


faixa de medição 0 a 20 mm
sensibilidade de 5 mV/mm
correção: -1 mV
incerteza padrão = 2 mV, estimada com ν = 16

b) Unidade de tratamento de sinais


faixa de medição: ± 200 mV na entrada
amplificação: 100 X
correção: 0,000 V
incerteza padrão = 0.2 %, estimada com ν = 20

c) Dispositivo mostrador: voltímetro digital


faixa de medição: ± 20 V
resolução: 5 mV
correção: + 0.02% do valor indicado
incerteza padrão = 5 mV, estimada com ν = 96

Unidade de

? Transdutor tratamento de
sinais
Dispositivo
mostrador
2,500 V

K(T) = 5 mV/mm K(UTS) = 0,1 V/mV K(DM) = 1 V/V


C(T) = - 1 mV C(UTS) = 0,000 mV C(DM) = 0,02% da indicação
u(T) = 2 mV u(UTS) = 0,2% u(DM) = 5 mV
Para determinar o valor nominal do deslocamento é necessário aplicar a equação (10.2) sobre o
valor indicado no voltímetro. Neste caso, S(SM) = 2,500 V e as constantes K, dadas pelas
sensibilidades de cada módulo do SM, são:

Transdutor: K(T) = 5 mV/mm


UTS: K(UTS)= 0,1 mV/V
Mostrador K(DM)= 1 V/V
logo:
2,500 = E(SM) . 5 . 0,1 . 1
donde:
E(SM) = 5,000 mm

Para determinar os erro relativos, é necessário determinar o valor de saída de cada módulo:

S(T) = E(T) . K(T) = 5,000 mm . 5 mV/mm = 25,000 mV

S(UTS) = E(UTS) . K(UTS) = 25,000 mV . 0,1 mV/V = 2,500 V

S(DM)= E(DM) . K(DM) = 2,500 V . 1 V/V = 2,500 V

A correção expressa em termos relativos para cada módulos é calculada por:

Cr(T)= C(T)/S(T) = -1 mV/25,000 mV = -0,04

Cr(UTS) = C(UTS)/S(UTS) = 0,000 V/2,500 V = 0,000

C(DM)= 0,02% . 2,500 V = 0,5 mV

Cr(DM)= C(DM)/S(DM) = 0,5 mV/2500 mV = 0,0002

As incertezas padrão relativas são determinadas:

ur(T)= u(T)/S(T) = 2 mV/25,000 mV = 0,08

u(UTS) = 0,2% . 20 V = 0,04 V

ur(UTS)= u(UTS)/S(UTS) = 0,04 V/2,500 V = 0,016

ur(DM) = u(DM)/S(DM) = 5 mV/2500 mV = 0,002

A correção relativa combinada do SM é calculada pela equação (10.3):

Cr(SM)= -0,04 + 0,000 + 0,0002 = -0,0398

o que, na entrada do SM, resulta em:

C(E) = -0,0398 . 5,000 mm = -0,199 mm

A incerteza padrão relativa combinada do SM é:

ur(SM) = (0,08² + 0,016² + 0,002²)1/2


ur(SM) = 0,01 . (64 + 2,56 + 0,04)1/2
ur(SM) = 0,0815

O que, na entrada do SM, resulta em:

u(E) = 0,0815 . 5,000 mm = 0,4075 mm

A incerteza expandida deve ser obtida pela multiplicação da incerteza padrão multiplicada pelo
fator de abrangência para o número de graus de liberdade envolvidos, calculado por:
ν ef =
(0,0815)4 = 17,2
(0,080) 4 (0,016) 4 (0,002) 4
+ +
16 20 96

Logo, k9 5 = 2,17 e:

U(E) = 2,17 . 0,4075 mm = 0,88 mm

Assim, finalmente, o resultado da medição do deslocamento é calculado por:

RM = I + C ± U
RM = (5,000 - 0,199 ± 0,88) mm
RM = (4,8 ± 0,9) mm