RESUMO

Nesse trabalho iremos fazer anlise de filmes finos de permalloy, eles tm espessura da
ordem de nanmetros (10
-9
m). Esses filmes so lar!amente apli"ados nos dispositi#os de
armazenamento, n$"leos de transformadores, "abe%otes de &'s e outros dispositi#os ma!n(ti"os.
)s filmes foram tratados a temperaturas de 1*0+,, -*0+, e .*0+,, temos tamb(m filmes /ue no
realizamos tratamento t(rmi"o, al!uns desses passaram por um pro"esso de o0ida%o. 1oi feita a
difra%o de raios-2 dessas amostras. 3nalisamos tamb(m as "u#as de ma!netiza%o na dire%o do
ei0o de f"il ma!netiza%o e no de dif4"il ma!netiza%o. 'is"utimos sobre a ma!netorresistn"ia
(56), obser#amos o "omportamento da resistn"ia el(tri"a na presen%a do "ampo e0terno, as
medidas de 56 foram realizadas para as dire%7es de f"il ma!netiza%o, dif4"il ma!netiza%o e a
.8+ da dire%o dos dom4nios ma!n(ti"os. 1oram realizadas medidas de ma!netorresistn"ia
anisotr9pi"a (356), /ue refere-se ao "omportamento da resistn"ia el(tri"a em fun%o do :n!ulo
entre o "ampo ma!n(ti"o e0terno e a "orrente apli"ada na amostra. ;uando temos a ma!netiza%o
paralela a "orrente, a resistn"ia ( m0ima, para a ma!netiza%o perpendi"ular a "orrente, a
resistn"ia ( m4nima.