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DIFRAO DE RAIOS X

A difratometria de raios X corresponde a uma das principais


tcnicas de caracterizao microestrutural de materiais
cristalinos.
Os raios X, ao atingirem um material (obstculos) podem ser
espalhados elasticamente sem perda de energia pelos
eltrons.
A difrao uma consequencia de relaes de fase
especficas estabelecidas entre duas ou mais ondas que
foram dispersas pelos obstculos. CALLISTER, 2007
As condies para que ocorra a difrao vo depender da
diferena de caminho percorrido pelos raios X e o
comprimento de onda da radiao incidente Lei de Bragg
n = 2 d sen





A intensidade difratada depende do nmero de eltrons no
tomo.
Quando os raios X incidem
numa substncia de estrutura
aleatria, so disperses em
todas as direes.

No entanto, em planos
cristalinos haver direes
preferenciais nas quais se d
interferncia construtiva ou
destrutiva dos raios X.
TCNICA DE DIFRAO DE RAIOS X
A tcnica consiste na incidncia
da radiao em uma amostra e
na deteco dos ftons
difratados, que constituem o
feixe difratado.
Serve para estudar os efeitos
causados pelo material sobre
esse feixe de radiao.
Determina experimentalmente a
estrutura cristalina do material.
Exerccio:
Os raios X de comprimento de onda 154 pm incidem num
cristal e so refletidos em um ngulo de 22,5. Considerando
que n=1, calculi o espaamento entre os planos de tomos
que so responsveis por essa reflexo.

Soluo:

d = n .
2 sen
d = 1 . 154
2 sen 22,5
Fonte: Cristalografia e Difrao em Raio X Michele Oliveira
d = 154
2 . 0,383
d = 201 pm

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