A difratometria de raios X corresponde a uma das principais
tcnicas de caracterizao microestrutural de materiais cristalinos. Os raios X, ao atingirem um material (obstculos) podem ser espalhados elasticamente sem perda de energia pelos eltrons. A difrao uma consequencia de relaes de fase especficas estabelecidas entre duas ou mais ondas que foram dispersas pelos obstculos. CALLISTER, 2007 As condies para que ocorra a difrao vo depender da diferena de caminho percorrido pelos raios X e o comprimento de onda da radiao incidente Lei de Bragg n = 2 d sen
A intensidade difratada depende do nmero de eltrons no tomo. Quando os raios X incidem numa substncia de estrutura aleatria, so disperses em todas as direes.
No entanto, em planos cristalinos haver direes preferenciais nas quais se d interferncia construtiva ou destrutiva dos raios X. TCNICA DE DIFRAO DE RAIOS X A tcnica consiste na incidncia da radiao em uma amostra e na deteco dos ftons difratados, que constituem o feixe difratado. Serve para estudar os efeitos causados pelo material sobre esse feixe de radiao. Determina experimentalmente a estrutura cristalina do material. Exerccio: Os raios X de comprimento de onda 154 pm incidem num cristal e so refletidos em um ngulo de 22,5. Considerando que n=1, calculi o espaamento entre os planos de tomos que so responsveis por essa reflexo.
Soluo:
d = n . 2 sen d = 1 . 154 2 sen 22,5 Fonte: Cristalografia e Difrao em Raio X Michele Oliveira d = 154 2 . 0,383 d = 201 pm