UNIVERSIDADE DE SO PAULO

Instituto de Fsica

Laboratrio de Estrutura da Matria

Fsica 5 FNC-313

Raios-X






Raios-X I

Emisso, Fluorescncia e Absoro

I-Introduo:

Nas experincias a serem realizadas, a emisso de raios-X produzida por tubos em
alto vcuo, no qual um filamento aquecido libera eltrons que so acelerados por um
campo eltrico associado a uma diferena de potencial (da ordem de dezenas de kV)
aplicada entre o filamento e o anodo (fig. 1). Os eltrons acelerados pelo campo eltrico
penetram no anodo, perdem velocidade e transferem energia aos tomos com os quais
interagem, provocando, em particular, ejeo de eltrons (ionizao) das diversas
camadas profundas (K, L, M) dos tomos. Como conseqncia disto observa-se a
emisso de ftons de raios-X originados no volume irradiado do anodo, cujo espectro
pode ser classificado em dois tipos: contnuo e caracterstico.



Fig. 1 Esquema de um tubo emissor de raios-X.

Estas experincias devem ser realizadas em trs sesses. Na primeira sesso haver
uma introduo terica e devem realizar-se as experincias (a), na segunda as (b) e na
terceira as (c) do Captulo II. Os alunos devem trazer respondidas as questes do
Apndice I na segunda sesso e as do Apndice II na terceira sesso. As respostas das
questes do Apndice I e II devem fazer parte do relatrio, que dever ser entregue duas
semanas aps terminada a experincia.







Espectro contnuo de emisso

A perda de velocidade dos eltrons quando penetram no anodo faz eles emitirem
ftons de raios-X com espectro contnuo de energia (ou comprimento de onda). A parte
contnua do espectro de emisso chamada bremsstrahlung. Nos diversos processos
possveis de gerao de ftons, como conseqncia da variao da velocidade do
eltron, tem-se o caso extremo no qual um eltron perde o total de sua energia, num
nico processo, e cria-se um s fton. Em processos mais complexos a energia dos
ftons produzidos sempre menor do eltron incidente no anodo.
A energia E
f
de um fton est relacionada com a sua freqncia e com o seu
comprimento de onda associados, por

c
h h
Ef
= =


onde h a constante de Plank e c a velocidade da luz no vcuo. A energia cintica E
c
,
que ganha um eltron quando acelerado por uma diferena de potencial V, dada por:

E
c
= eV
Onde e a carga do eltron.



Fig.2 Intensidade de um espectro de emisso de raios-X em funo da energia (a) e do
comprimento de onda (b) dos ftons.

O valor mximo de energia de um fton E
fmax
=h
max
correspondente ao espectro de
emisso contnua (Fig. 2), est associado ao processo de criao de um fton com
energia E
f
igual a energia cintica E
c
do eltron:





min
max

c
h h eV E E
mas c f
= = =


Estas equaes relacionam a voltagem de acelerao dos eltrons no tubo de raios-X
com a energia mxima, e o comprimento de onda mnimo dos ftons correspondentes
ao espectro contnuo de emisso. Em conseqncia, o espectro contnuo depende da
voltagem V aplicada ao tubo de raios-X.
Esta parte do espectro contnuo porque ftons com qualquer energia E
f
<E
f Max
(ou
>
min
) so tambm produzidos pelos eltrons desacelerados, nos numerosos possveis
processos elementares que envolvem a transformao parcial da energia dos eltrons
em energia eletromagntica.

Espectro caracterstico de emisso

Os tubos de raios-X emitem tambm ftons de energia bem definida, que
constituem o espectro de linhas ou caracterstico, associado com as transies
eletrnicas nos tomos ionizados pelas colises dos eltrons incidentes no anodo. As
energias dos ftons correspondentes ao espectro caracterstico de raios-X, com picos
estreitos, dependem exclusivamente da estrutura de nveis de energia eletrnicos
profundos dos tomos ( ver Apndice I ).


Fig.3 Esquema dos nveis de energia dos eltrons nos tomos.


Na emisso dos tubos de raios-X convencionais, observa-se um espectro
caracterstico composto por picos associados s transies entre as camadas eletrnicas
L K e M K, sendo a camada K a mais profunda dos tomos (fig. 3 ). Estas
transies originam linhas de emisso chamadas K e K, respectivamente. Estudos

espectroscpicos de alta resoluo mostram que essas emisses esto compostas por
vrias linhas de comprimento de onda vizinhos. Estes picos complexos de emisso
esto associados estrutura fina dos nveis de energia eletrnicos.



Difrao de raios-X

A difrao de raios-X se produz quando h interferncia construtiva no processo de
espalhamento dos ftons pelos tomos de uma estrutura cristalina.
Esquematizando a estrutura peridica dos cristais por planos cristalogrficos, tem-se
condies de difrao, ou reflexo de Bragg, quando:

B
=
I
=
R

e

2 d sen =n com n =1, 2, ... (Lei de Bragg)

onde o comprimento de onda dos ftons,
I
e
R
os ngulos de incidncia e de
espalhamento, respectivamente, e d a distncia interplanar dos planos cristalogrficos.
Os nmeros n =1, 2, ... definem a ordem da reflexo ( 1 ordem, 2 ordem, etc.).







Fig. 4 Esquema mostrando os raios incidentes e refletidos por planos cristalinos de
espaamento d.




A lei de Bragg implica, quando ela satisfeita, que a diferena de caminho tico
entre os feixes espalhados pelos diversos planos cristalogrficos igual ao
comprimento de onda ( A-B-C na figura 4 ) ou a um mltiplo dele (por exemplo A-
B-C). Nas direes tais que essa relao no se verifica (2 d sen n ), a
interferncia entre as ondas espalhadas destrutura e no se observa intensidade de
espalhamento significante.
Um cristal, orientado de tal maneira a satisfazer
I
=
R
, pode ser usado como um
analisador de um espectro de emisso de raios-X. Supondo como dominante a reflexo
de primeira ordem, a lei de Bragg se escreve 2 d sen =. Isto implica que numa
varredura do ngulo o cristal atua como um filtro que reflete apenas a radiao com
comprimento de onda num entorno do valor de que satisfaz a lei de Bragg
especificada acima.
No laboratrio utiliza-se um conjunto tubo-gonimetro-detector. O gonimetro dispe
de duas rotaes, - 2, que fazem o cristal manter o mesmo ngulo i) com a direo
do feixe incidente e ii) com a direo do feixe refletido e medido pelo detector (ver
desenho na Seo IIb).

Absoro de raios-X

Os ftons de raios-X so absorvidos pela matria. No domnio de energia
correspondente aos raios-X (5 a 30 keV nestas experincias), o principal processo de
absoro dos tomos com Z na faixa de 23 a 30, utilizados neste trabalho prtico, o
efeito fotoeltrico, pelo qual os ftons ionizam tomos transferindo a sua energia aos
eltrons das diversas camadas de nveis atmicos. Para cada camada atmica (K, L, M)
existe um limiar de energia do fton incidente para que o efeito fotoeltrico seja
possvel. Essa energia igual energia de ligao ou de ionizao correspondente
respectiva camada de eltrons. A probabilidade de um fton ser absorvido e,
conseqentemente, o coeficiente mssico de absoro dos ftons funo decrescente
da energia dos ftons E
f
e depende tambm do tipo de tomo que compe o material.
Esse coeficiente pode ser medido utilizando a relao:

I
T
=I
o
e
-(E) x
(Lei de Lambert-Beer)

onde a densidade do material, I
o
a intensidade de ftons incidentes e I
T
a
intensidade transmitida por uma lmina de espessura x (Fig. 5a). O coeficiente mssico
de absoro especificado em tabelas usualmente em cm
2
/g. A absortncia A de um
certo material definida como:
T
o
I
I
A = . A absortncia A (E, , x) depende da natureza
dos tomos presentes e funo da energia do fton incidente e da espessura e
densidade da lmina absorvedora.


Fig. 5 (a) Intensidade transmitida atravs de uma lmina de espessura x. (b) Funo
absortncia para tomos com diferentes nmeros atmicos em funo da energia dos
ftons incidentes.

Em geral o coeficiente de absoro e a absortncia diminuem para energias dos
ftons crescentes. Existem porm, nos espectros de absoro, certas descontinuidades
ou bordas associadas a um abrupto acrscimo na absoro para energias dos ftons
crescentes (Fig. 5b). Estas descontinuidades se produzem quando a energia dos ftons
tem um valor suficiente para conseguir ionizar camadas adicionais dos tomos
absorvedores. Em conseqncia, as chamadas bordas K, L, M, etc. dos espectros de
absoro correspondem s energias de ionizao das respectivas camadas eletrnicas.
Ftons com energia menor que a energia de ionizao das diversas camadas podem
eventualmente excitar tomos promovendo transies eletrnicas a nveis de energia
superiores desocupados. Estas transies do origem a picos de absoro em energias
inferiores s das descontinuidades pode-se observar tambm, no caso de tomos em
matria condensada, a presena de oscilaes associadas estrutura geomtrica dos
tomos. Estes efeitos no sero considerados na anlise dos resultados experimentais do
trabalho prtico.

Fluorescncia de raios-X

Aps a ionizao por efeito fotoeltrico, os tomos tendem a voltar a seu estado
fundamental, de mnima energia, mediante vrios processos. Aquele pelo qual a
vacncia eletrnica simplesmente eliminada pela sua ocupao por um eltron de uma
camada superior, com a conseqente emisso de um fton, denomina-se fluorescncia.
A emisso de ftons de raios-X por fluorescncia , como conseqncia da ionizao dos
tomos pelos ftons incidentes, corresponde s mesmas linhas de emisso provocadas
pelos eltrons incidindo no anodo do tubo de raios-X. As energias dos ftons de
fluorescncia emitidos dependem exclusivamente da estrutura de energia eletrnica de
cada tomo.

Caracterizao do detector de ftons Geiger e da estabilidade da fonte de Raios-X

Para a realizao das experincias de emisso, difrao, absoro e fluorescncia de
raios-X ser utilizado um detector Geiger. Para o seu uso se deve conhecer o plateau,
para fixar a voltagem de trabalho, e determinar o seu tempo morto. Um esquema de um
grfico tpico de Taxa de Contagem de Ftons versus Voltagem apresentado na Figura
6a. Sabendo que a intensidade de emisso de um tubo de raio-X proporcional
corrente eletrnica, o tempo morto do detector pode ser determinado a partir de um
grfico de Taxa de Contagem de Ftons (R) versus Corrente(I) do tubo de raios-X,
mantendo todos os outros parmetros constantes. Se o tempo morto do detector for
nulo, a taxa de contagem R deveria ser proporcional corrente I:

R =K I

Em caso de ser 0 mede-se uma taxa aparente, R*, relacionada com R por

* 1
*
R
R
R

=


Na Figura 6b esto esquematizadas funes tpicas R(I) e R*(I).


Fig. 6 (a) Plateau do detector Geiger. (b) Taxas de contagem real e aparente em
funo da corrente eletrnica no tubo de raios-X. (c) Histograma de freqncia do
nmero de contagens.

A estabilidade de uma fonte pode ser estimada a partir de um estudo experimental
do nmero de ftons N que se mede para um tempo fixo quando todos os parmetros de
controle so mantidos constantes. Deve-se medir N um nmero M elevado de vezes e
fazer um histograma da funo F que representa o nmero de vezes em que o nmero
de ftons contados corresponde aos diversos intervalos N do histograma (Fig. 6c). Do
histograma experimental de F obten-se a funo P
e
como

N N F
N F
N P
i
e

=
) (
) (
) (


no caso de ser N << N , no limite de M a funo P
e
(N) tende funo de
distribuio terica P(N). Esta funo representa uma densidade de probabilidade.
P(N)N a probabilidade de medir um certo nmero de ftons compreendido entre N e
N+N. Segundo a teoria estatstica P(N), quando N >>0, deve satisfazer:


2
2
2
) (
2
1
) (


N N
e N P

=
onde = N


O valor de representa o desvio padro associado a uma contagem N de ftons. Um
valor experimentalde sensivelmente maior que N indica a presena de
inestabilidades eltricas ou mecnicas da montagem experimental afetando as
medies.

Condies de trabalho do tubo de raios-X

Somente uma pequena parte de potncia eletrnica P do tubo de raios-X (P=VI,
onde V a voltagem e I a corrente eletrnica do tubo de raios-X) transformada em
radiao (inferior a 1%). O resto se transforma em calor que aquece o anodo. A corrente
eletrnica I no tubo de raios-X utilizado deve ser pequena para que o aquecimento do
anodo no seja excessivo. Em geradores de raios-X de uso mdico e cientfico, que
precisam de altas correntes (dezenas ou centenas de mA), necessrio esfriar, mediante
circulao de gua, o anodo para conseguir evacuar o calor produzido. O gerador
utilizado na presente experincia no tem sistema de resfriamento, por isso a corrente
eletrnica deve ser limitada at um mximo de 80A

II Experincias

Para a realizao das experincias utilizado um aparelho gerador de raios-X com
acessrios Tel-X-ometer. O anodo do tubo de Cu. Duas voltagens podem ser
escolhidas para a acelerao dos eltrons no tubo de raios-X: 20 ou 30 kV. Antes de ser
ligado o aparelho deve-se conectar um microampermetro para medir a corrente
eletrnica e cuidar para que no ultrapasse o valor mximo de 80A. O Tel-X-ometer
dispe de um gonimetro no centro do qual se colocam os cristais. No brao do mesmo
se posiciona o detector Geiger para medir a intensidade do feixe emitido, espalhado ou
transmitido pelo material estudado. A rotao do cristal e a rotao 2 do detector
esto acopladas para assegurar, para todo ngulo, que o ngulo de incidncia e de
reflexo so iguais (
I
=
R
). Esta igualdade representa uma condio necessria para a
verificao da lei de Bragg ( =2 d sen ).

a) Caracterizao do detector de ftons

Para determinar a voltagem de trabalho do detector deve-se fazer incidir nele um
feixe de raios-X e registrar o nmero de ftons em funo da voltagem de alimentao.
Escolhida e fixada a voltagem, deve-se medir a taxa de contagem para fluxos de ftons
crescentes para analisar o efeito do tempo morto do detector. Medies repetidas em
condies equivalentes permitiro estudar a estatstica de contagem.


i) Determinao da voltagem de trabalho e do tempo morto do detector

Elementos necessrios: Fenda de definio de 1mm, cristal de LiF, Fenda de resoluo
de 3mm, detector.

- Ligar o aparelho (30kV).
- Variando a posio angular do detector e utilizando o Ratemeter, buscar um dos
mximos na intensidade de raios-X espalhada pelo cristal. Utilizar a fenda de
resoluo de 3mm de tal maneira de obter uma taxa de contagem de
aproximadamente 300 c/s. Variar a corrente eletrnica do tubo de raios-X se
necessrio ( sem ultrapassar 80A ).
- Medir durante 10s utilizando o Counter a taxa de ftons recebida pelo detector para
voltagens crescentes a partir de V=300V at um mximo de 500V, com intervalos
de 10V. Fazer grfico da taxa R versus V.
- Escolher como voltagem de trabalho um valor de V que corresponda ao plateau
(aproximadamente 40V acima do limiar inferior).
- Fixar inicialmente a corrente eletrnica no tubo em 80A e, variando o ngulo do
gonimetro, obter uma taxa entre 500 e 1000 c/s.
- Medir as taxas de ftons variando a corrente eletrnica no tubo de raios-X
mantendo o resto do aparelho em condies constantes (variar a corrente entre 0 e
80A). Graficar a taxa de contagem aparente R* (c/s) versus a corrente I (A).
- Considerando que, para baixas taxas de contagens de ftons (I 0), a taxa real de
ftons R igual a taxa aparente R*, e que as duas taxas so R = R* = KI
(K =constante, para taxas baixas), graficar a taxa R versus I, extrapolando a parte
do grfico correspondente a valores de I 0.
- A partir da expresso de R em funo de R*, citada na introduo terica, deduzir o
valor do tempo morto .

ii) Estatstica de contagens de ftons

Verificar-se- a validade da teoria que conduz determinao do erro estatstico
= N , utilizado nas experincias dos itens precedentes.

- Ajustar a corrente eletrnica para obter uma taxa de contagem de aproximadamente
100 c/s.
- Realizar como mnimo 100 medidas do numero de ftons em 10s, em condies
experimentais equivalentes.
- Fazer histograma da freqncia das diversas contagens. Utilizar para o histograma
um passo
3
N
N .
- Determinar e graficar a funo normalizada P
e
(Ver Introduo).
- Calcular o valor mdio do nmero de ftons N e representar no mesmo grfico a
curva da densidade de probabilidade P esperada utilizando = N (Ver
Introduo).
- Comparar o histograma experimental com a curva terica e discutir as eventuais
discrepncias.

b) Determinao do espectro de emisso de raio-X do Cu

determinado o espectro de emisso (incluindo as partes contnuas e
caractersticas) do Cu, utilizando um cistal nico de LiF, do qual se supe conhecida a
distncia interplanar d = 2.015. O cristal de LiF atua como monocromador ou
analisador, selecionando para cada ngulo um comprimento de onda ou energia do
fton. O comprimento de onda do feixe espalhado pelo cristal de LiF, para cada ngulo
, aquele que satisfaz a lei de Bragg =2 d sen . A energia do fton se deduz a
partir da relao

hc
E
f
= .



Fig.7 Esquema da montagem experimental do analizador de raios-X.


Elementos necessrios: fenda de definio de 1mm vertical, cristal de LiF, gonimetro
- 2, fenda de resoluo de 3mm vertical, detector Geiger, contador.

- Fazer uma varredura com o gonimetro - 2 e, utilizando detector Geiger (Fig. 7),
determinar a intensidade de difrao por um cristal de LiF da radiao produzida
por um tubo de Cu com I
1
80A, V
1
=30kV, em funo do ngulo de difrao
2. Fazer a varredura a partir de 2
min
at 60 com passo de 0,50 nos picos de
emisso e de 1 entre eles.
- Fazer outra curva como a indicada no item precedente com V
2
=20kV e I
2
80A.
- Utilizando a lei de Bragg, supondo conhecido d =2,015 para o LiF, determinar a
energia dos ftons E
f
para cada ngulo . Graficar num mesmo diagrama as duas
curvas I
f
(ftons / segundo) versus E (kV) determinadas nos itens precedentes.
Identificar os dois picos correspondentes s transies K e K e determinar a
energia e o comprimento de onda dos ftons emitidos. Comparar com os valores de
tabela (ver Apndice I).
- Comparar os espectros contnuo e caracterstico obtidos a 20kV e 30kV, com
correntes eletrnicas de 80A, e comentar as suas caractersticas.
- Medir com maior detalhe a parte do espectro contnuo correspondente a baixos
ngulos (ou altas energias dos ftons) para V =20kV e I =80A. A partir do valor
experimental de 2
min
, e supondo conhecidos d, E e c, deduzir o valor da cosntante
de Planck h.

c) Fluorescncia e absoro de raios-X

determinada a absortncia de ftons de raios-X por lminas (ou filtros) compostas
por diversos elementos atmicos, para diferentes radiaes de fluorescncia geradas por
vrias fontes monoatmicas. Utilizar-se- para isso a montagem experimental descrita
na Fig. 8.


Fig. 8 Montagem experimental para a experincia de fluorescncia e absoro de
raios-X.

Elementos necessrios: fenda de definio de 1mm carrossel contendo elementos com
23 <Z <30 , controle externo e suporte, filtros de V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu e Zn,
detector Geiger situado em posio angular fixa 2 90 graus.

- Colocar o carrossel contendo as lminas de V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu e Zn que
produziro a fluorescncia, frente ao tubo de raios-X, no eixo do gonimetro (retirar
previamente as peas que foram utilizadas nas experincias precedentes para fixar
os cristais). Fixar o carrossel de tal maneira que os materiais fluorescentes estejam
com as suas superfcies a 45 graus com respeito ao feixe incidente. O detector
Geiger deve ser posicionado a 90 graus com respeito ao feixe incidente para receber
os ftons produzidos pela fluorescncia dos materiais situados no carrossel.
- Irradiar os diversos materiais colocados no carrossel, com o feixe produzido pelo
tubo de raios-X de Cu, para excitar os tomos do alvo e eles produzirem os ftons
caractersticos de fluorescncia. Utilizar o dispositivo de controle externo para a
mudana dos alvos.
- Medir com o detector Geiger, para cada elemento emissor situado no carrossel, a
intensidade de fluorescncia I
o
emitida.
- Graficar a intensidade de fluorescncia I
o
produzidas pelos diferentes elementos
emissores do carrossel ( sem absorvedor ou filtro ).
- Medir com o detector Geiger, para cada elemento emissor, a intensidade transmitida
I
T
atravs de uma lmina de V.
- Determinar a absortncia I
o
/ I
T
da lmina de V para os ftons de fluorescncia dos
diversos elementos atmicos do carrossel (23 <Z <30).
- Realizar os mesmos procedimentos dos dois itens precedentes utilizando filtros de
Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu e Zn.
- Graficar as funes absortncia, A =I
o
/ I
T
, dos diversos filtros versus o nmero
atmico Z dos elementos fluorescentes.
- Supondo que a fluorescncia composta essencialmente pelas emisses K dos
diversos elementos, graficar, utilizando os valores de E
K
da tabela (Apndice I), a
funo A versus E
f
, para todos os filtros estudados.
- Analisar os grficos dos itens precedentes e verificar que as descontinuidades da
funo A se encontram nas posies esperadas (consultar tabela do Apndice).



Apndice I


- Distncias interplanares de cristais de estrutura cbica:

LiF d = 2,015
NaCl d = 2,820

Comprimentos de onda associados s linhas de emisso K e K de vrios
elementos e comprimento de onda associado descontinuidade K (
K
). Este valor
est associado energia de ligao ou de ionizao correspondente aos eltrons da
camada K:
k
k
c
h E

= .


Elemento Emisso Borda de absoro
Smbolo Z K () K () K ()
V 23 2,55 2,28 2,27
Cr 24 2,29 2,08 2,07
Mn 25 2,10 1,91 1,89
Fe 26 1,94 1,76 1,74
Co 27 1,79 1,62 1,61
Ni 28 1,66 1,49 1,48
Cu 29 1,54 1,39 1,38
Zn 30 1,44 1,29 1,28


- Valores da energia dos ftons (espectro caracterstico) emitidos pelos tomos com
23 <Z <30 e esquema de nveis de energia eletrnica.



a) Completar o seguinte quadro:


Elemento Z E
K
(keV) E
K
(keV) E
K
(keV)
V 23
Cr 24
Mn 25
Fe 26
Co 27
Ni 28
Cu 29
Zn 30




b) Completar (em escala) os esquemas de nveis de energia eletrnica correspondentes
s camadas profundas (K, L, M), sem considerar a estrutura fina das mesmas.


Apndice II

Questes

1) Qual a voltagem mxima que pode ser aplicada a um tubo de raios-X de Cu para ele
produzir um espectro contnuo sem as linhas caractersticas K e K?

2) Discutir o fato de que, na determinao do espectro de emisso de um tubo de raios-X
utilizando por exemplo um cristal de LiF e um detector Geiger, a parte do espectro
experimental correspondente a energias E
max
/2 <E <E
max
no contm erros associados
existncia de contribuies harmnicas.

3) A partir dos dados da Tabela, demonstrar graficamente a lei de Mosley
( ) ( s Z C Ef = , C e s constantes) para emisses K e K. Determinar C e s.

4) Quais so as diferenas esperadas num espectro de emisso I versus (parte contnua
e caracterstica) correspondente a dois elementos A e B, tais que Z
A
> Z
B
para V =
20kV?

5) Determinar a energia mxima dos ftons e o ngulo mnimo de difrao associados
ao espectro contnuo para =1,54 , quando se usa V
1
=20kV e V
2
=30kV,
utilizando cristais de LiF e NaCl.

6) Explicar (experincia c) porque no se devem observar as descontinuidades de
absoro do Cu e do Zn em experincias de absoro de raios-X nas quais se utiliza
radiaes incidentes K de elementos com 23 Z 30.

7) Excitando a fluorescncia atmica de elementos com 23 Z 30 com um tubo de
raios-X com anodo de Cu, observa-se valores menores de intensidade emitida para
emisses com Z 28. J ustificar esta observao.

8) Partindo do conhecimento independente da estrutura cbica do NaCl e sabendo que a)
a intensidade do cristal =2,16 g/cm
3
, e b) a reflexo de Bragg com n =1,
utilizando um feixe de raios-X de desconhecido observada para 2 =40,24,
determinar o comprimento de onda do feixe de raios-X utilizado.


























Bibliografia

Os espectros de emisso estudados nestas experincias foram analisados associando-
os a transies entre estados de simples ionizao (linhas de emisso de primeira ordem).
Utilizando espectrmetros mais sensveis outras linhas de emisso mais fracas podem ser
detectadas. Elas esto associadas a transies entre estados de ionizao mltipla. Mais
detalhes sobre Espectroscopia de Raios-X e, em particular, sobre as caractersticas dos
espectros de emisso (contnuo e caracterstico) de raios-X podem ser encontrados nos
livros seguintes:

- Introduction to Modern Physics
F. K. Richtmyer, E. H. Kennard, T. Lauritsen.

- Introduction to Atomic Physics
O. Oldemberb

- Principles of Modern Physics
R. Leighton





























Raios-X

Tpicos da entrevista (Alm das questes da apostila)


1) Tubos de Raios-X: Descrio, princpio de funcionamento.

2) Analisador de Raios-X: Funo e descrio do cristal monocromador-analisador. Lei
de Bragg (deduo). Gonimetro - 2 (necessidade do seu uso, descrio, fendas de
definio e resoluo).

3) Detector de Raios-X (Geiger): Descrio. Princpio de funcionamento. Plateau.
tempo morto (definio, determinao, correo de taxas de contagem de ftons por
tempo morto). Estatstica de contagem de ftons (Determinao de histograma de
freqncias).

4) Espectro de Emisso de Raios-X: Caractersticas (espectro de linhas ou caracterstico
e espectro contnuo). Origens do espectro de linhas. Conexo entre o espectro de
linhas e a estrutura de nveis de energia eletrnicos. Origem do espectro contnuo.
Determinao da constante de Planck a partir de (2)
min
do espectro contnuo.
Esquemas qualitativos de espectros de emisso I versus
f
e versus E
f
para diversos
elementos atmicos e diversas voltagens do tubo de Raios-X.

5) Fluorescncia e Absoro de Raios-X: Origem e caractersticas de um espectro de
emisso de fluorescncia de Raios-X. Descrio qualitativa da funo Absortncia
versus Energia dos ftons incidentes (estes ftons gerados pela fluorescncia de
vrios elementos: 23 Z 30), para vrios elementos atmicos (V, Mn, etc.),
supondo o espectro de emisso de fluorescncia de Raios-X como monocromtico
(I( K) >>I( K)).

6) Relao entre a Emisso e a Absoro de Raios-X com as Estruturas de Nveis de
Energias Eletrnicas: Determinao das energias associadas s transies K e K e
borda de absoro K, e os comprimentos de onda K, K e K, a partir do
conhecimento das estruturas de nveis de energia eletrnicos dos tomos.
Determinao das energias associadas s camadas eletrnicas K, L e M a partir das
medies dos valores das energias dos ftons emitidos (EK e EK) e da energia da
borda K (EK) (ou K, K e K).