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Sistema de

Testes e Ensaios
de Proteo
OMICRON

Adimarco Representaes e Servios Ltda


Rio de Janeiro
SETEMBRO 2005

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Setembro / 2005

Sistema de Teste e Ensaios de


Proteo OMICRON
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Adimarco Representaes e Servios LTDA
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podendo inclusive ser impressa para melhor leitura
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Os infratores sero processados na forma da lei.

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

Sistema deTeste e Ensaios de Proteo OMICRON

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte I: Conceitos e Definies

Cap 01 : A Adimarco Representaes


e Servios LTDA
Resumo
Este texto apresenta a Adimarco
Representao e Servios LTDA. Sua relao com
a Omicron eletronics e suas atividades.

1. A ADIMARCO
A Adimarco Representaes e Servios
LTDA. atua desde 1988 com o firme
compromisso de levar at o cliente o que de
melhor existe quanto implementao de
solues de alta tecnologia e custos adequados.
Para tal, realiza uma rigorosa seleo de
suas representadas de forma a garantir seu
padro de excelncia, tanto no fornecimento de
equipamentos quanto na prestao de servios.
A Adimarco opera em dois segmentos
distintos: Aviao e Setor Eltrico, sendo para o
segundo figura como uma das grandes parceiras
de empresas do setor eltrico nacional e
empresas prestadoras de servios com a
representao distribuio exclusiva da OMICRON
Eletronics no Brasil.

A OMICRON Eletronics uma companhia


internacional que desenvolve, fabrica e vende
equipamentos de testes com a mais sofisticada
tecnologia para a realizao dos mais avanados
testes de protees eltricas, medidores de
energia e transdutores utilizados em sistemas
eltricos. Combinando inovao, avanadas
tecnologias e um software com solues criativas
a OMICRON alcanou o status de lder mundial
nesse nicho de mercado.
Contando
com
uma
equipe
de
profissionais altamente qualificados, com larga
experincia no mercado, complementados com
consultores de renome nacional e internacional, e
aliado aos equipamentos de ltima gerao, a
Adimarco cumpre sua misso bsica de oferecer
servios com um alto padro de qualidade e
confiabilidade. Este sistema de trabalho permite
uma ampla capacitao tcnica de prestao de
servios e consultorias

Figura 2 Prestao de servio Adimarco


Qualidade e Alta Tecnologia
1.1.
Figura 1 Omicron Inovao, avanadas
tecnologias e solues criativas.

Recursos Materiais

Testes e ensaios em rels de proteo so


realizados utilizando-se a mala de teste de rels
OMICRON CMC 256-6 EP (Preciso Estendida). A
preciso extremamente alta dos amplificadores

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CAP 01: A Adimarco Representaes e Servios LTDA

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte I: Conceitos e Definies

de tenso e corrente da CMC 256-6 EP ideal para


a calibrao e teste dos mais novos rels e
medidores de energia (classe acima de 0.2S de
acordo com a norma IEC687, 0 .. 300V trifsico);
as caractersticas adicionais da CMC 256-6 EP
provm
uma
soluo
completa
para
desenvolvimento e aplicaes especiais, tais
como: testes de tipo, testes de aceitao,
calibrao de dispositivos, ou teste de
performance de produtos.

Teste e ensaios em equipamentos de


subestao so realizados com sistema de teste
primrio multifuncional para comissionamento e
Manuteno de Subestaes CPC 100 o nico
sistema mundial que permite o teste
automatizado de transformadores de potencia,
TCs, TPs, teste de resistncia entre outros.
Fornece mais de 800 A e 2000 V. Possui um PC
integrado. A rotina do software testa grande
parte dos equipamentos da subestao, criando
automaticamente relatrios configurveis. O
design compacto (29 Kg) e o software inovador
poupam tempo de teste e minimiza o custo de
transporte. Correntes e tenses analgicas
podem ser medidas com uma preciso muito
alta. O medidor de O troca automaticamente de
faixa de O para kO permitindo uma grande
variedade de aplicaes. Medio de resistncia
de aterramento. O teste em equipamentos no
convencionais como bobinas Rogowski ou
sensores de corrente completam o espectro de
testes.

Figura 3 Prestao de servio Adimarco


utilizao de sistemas de teste OMICRON
Quando se realizam testes ponta a ponta
dos esquemas de proteo de linhas, so
necessrias vrias partidas simultaneamente. A
CMGPS uma unidade baseada em sincronizao
GPS que e usada com os equipamentos de teste
CMC.
O CMGPS recebe os sinais dos satlites do
sistema de posicionamento global (GPS) e
proporciona uma sada no tempo especificado
pelo usurio. Este sinal de clock usado como
entrada de trigger para a partida da unidade
CMC. O CMGPS foi desenvolvido para cumprir os
requisitos de testes de campo, porque o receptor
de GPS normal tem algumas desvantagens
(tamanho, peso, funcionamento complicado).

Figura 5 Teste e ensaios em equipamentos de


subestao
1.2.

reas de Atuao

Manuteno Preventiva, teste e ensaios em


rels de proteo;
Comissionamento de novas instalaes

Figura 4 CMGPS OMICRON

Teste de aceitao em painis de controle e


proteo

Calibrao de medidores e transdutores

Testes ponta
transmisso

ponta

em

linhas

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Parte I: Conceitos e Definies

Aplicao de arquivos de faltas


com eventos transitrios que
contm sinais analgicos de
tenses
e
correntes
simultaneamente nas duas pontas
da LT, sincronizada via GPS.
Medidas de baixa resistncia (contatos,
conectores buswire);

Teste e ensaio em Equipamentos:


Transformadores de Corrente indutivos
(TC)

Corrente
secundria
com
magnitude e ngulo (erro de
ngulo do TC)

Relao de transformao com


erro em valor percentual

Polaridade nos terminais do TC

Burden em VA e fator de
potncia (cos )

Tenso
secundaria
em
magnitude e ngulo

Curva de excitao do TC

Resistncia do enrolamento

Determinao do escoamento
da corrente fluindo atravs do
isolamento
q Transformadores
de
Potencial
indutivos (TP)

Relao de transformao com


erro em valor percentual

Polaridade nos terminais do TPC

Burden em VA do secundrio e
fator de potncia (cos )

Corrente
secundaria
em
magnitude e ngulo

Resistncia do enrolamento

Determinao do escoamento
da corrente fluindo atravs do
isolamento
q Transformadores
de
Potencial
Capacitivos (TPC)

Relao de transformao com


erro em valor percentual

Polaridade nos terminais do TPC

Burden em VA do secundrio e
fator de potncia (cos )

Valores de Impedncias internas


co TPC (R, L e C);

Corrente
secundaria
em
magnitude e ngulo
q Transformadores de Potncia

Relao de transformao (por


Tap)

Resistncias e Continuidade do
LTC
Resistncia de enrolamento

2. A OMICRON ELETRONICS
OMICRON eletronics uma companhia
internacional que prov solues inovadoras para
testes primrios e secundrios.
Combinando inovao, tecnologia de
ponta, e solues criativas de software, A
OMICRON tem conseguido o status de lder
mundial dentro deste nicho de mercado. Com
vendas em mais de 100 pases, escritrios na
Europa, Estados Unidos e sia, e uma rede
mundial de distribuidores e representantes, a
OMICRON tem verdadeiramente construdo uma
reputao como fornecedor da mais alta
qualidade.
Os testes automatizados e a capacidade de
documentao das solues de teste OMICRON
so importantes benefcios luz das mudanas
das condies de mercado, resultando em
organizaes reestruturadas que requerem fazer
mais com menos.
Hoje, os produtos OMICRON giram em
torno de conceitos de testes que prov solues
para muitos desafios criados por estas tendncias
competitivas de mercado. A integrao de um
hardware leve e confivel com um software
flexvel e amigvel se chama OMICRON Test
Universe.
Servios
na
rea
de
Consultoria,
comissionamento, teste de rels e treinamento,
faz com que a OMICRON tenha uma gama
completa de produtos.
A especializao dos testes em sistemas
eltricos de potncia junto com uma liderana
visionria permite a OMICRON continuar com
desenvolvimentos inovadores de seu sistema de
testes para satisfazer s novas necessidades que
os clientes necessitam para o sculo XXI.

3. CURSOS ADIMARCO
O curso de utilizao da caixa de teste
OMICRON fundamental para habilitar os
usurios a um conhecimento pleno e melhor
aproveitamento do equipamento e de seu
software.
O material didtico preparado por
equipe especializada, com larga experincia no
setor eltrico, visando abordar os aspectos da
instalao e equipamentos do cliente, utilizando-

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Parte I: Conceitos e Definies

se os procedimentos de testes nos rels indicados


pelo cliente como base do material apresentado
no curso. Para tal, o cliente deve disponibilizar,
no s a documentao tcnica, mas tambm os
equipamentos necessrios.

Os cursos so estruturados segundo a


necessidade do cliente ou j preparados como
nossos cursos de catlogo, entre eles:
Sistema digital de teste de proteo de
sistemas eltricos
Proteo de sistemas eltricos testes e
ensaios
Proteo de Mquinas eltricas
Proteo de linhas de transmisso
Proteo de transformadores
Manuteno de equipamentos eltricos

4. CONTATOS
ADIMARCO Representaes e Servios Ltda.
Av das Amricas 500 - Bloco 21 - Sala 336
Barra da Tijuca
22640-100- Rio de Janeiro - RJ BRASIL

Figura 6 Aulas expositivas e testes prticos


Aps o curso, os participantes do curso estaro
aptos a utilizar com desenvoltura o equipamento.
Alm dos cursos de utilizao da caixa de
teste OMICRON, a Adimarco oferece vrios
cursos, sempre visando oferecer ao cliente
solues a custos adequados.

Eng Marcelo Paulino


Departamento Tcnico-Comercial
Ph: 55 21 2494 7140
Fax:55 21 2494 7141
email: marcelo@adimarco.com.br

Figura 7 Aulas prticas in company

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CAP 01: A Adimarco Representaes e Servios LTDA

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Parte I: Conceitos e Definies

Cap 02 : Caracterstica de Hardware


Resumo
Este captulo descreve as caractersticas
dos equipamentos OMICRON, mostrando os
diferentes tipos de hardware associado a cada
modelo.

1. CARACTERSTICAS GERAIS
A linha CMC da OMICRON consiste de
equipamento de teste trifsico para qualquer tipo
de proteo eltrica (21, 24, 25, 27, 32, 37, 46,
47, 50, 51, 55, 59, 60, 62, 67, 68, 76, 78, 79,
81, 85, 86, 87g e 87gt, 92), controlado por um
microcomputador.
Possui conversor Digital / Analgico de 16
bits. O amplificador de tenso autoprotegido
contra curto-circuito e sobrecarga e o
amplificador de corrente protegido contra a
abertura intencional da corrente ou sobrecarga.
O equipamento digital assim como sua prpria
calibrao. Possui um autocheque da calibrao
para no necessitar de padro externo de
referncia.
1.1.

CMC 156

O equipamento possui um peso de


aproximadamente 9.8 Kg, e seus hardwares
contem os seguintes elementos:

Uma seo de gerao de sinal que


prov doze canais independentes
Uma seo de amplificao com trs
amplificadores de tenso e trs de
corrente,
Uma seo de temporizao numrica
de alta preciso com dez entradas
binrias para deteco de seqncia de
contatos
Uma seo de medio analgica com
duas entradas analgicas para a
medio de sinais de transdutores
Quatro rels de sada
Circuitaria completa de controle de
sistema

Figura 1 Equipamento CMC156


A gerao de sinais executada
digitalmente (Tecnologia DSP). A converso D/A
de 16-bit resulta em um sinal de alta qualidade
inclusive para pequenas amplitudes.
Em adio as seis sadas da seo de
amplificao, seis canais independentes com
baixo nvel de sinal esto disponveis na parte
traseira da unidade. Eles podem ser usados para
controlar amplificadores externos, para aplicaes
que necessitem mais que trs fases de tenses ou
correntes. Por exemplo, o teste em protees
diferenciais, ou aplicaes que necessitem de
correntes, tenses e potncias de sada maiores
que as disponveis na CMC156. Os sinais de baixo
nvel podem tambm ser usados para o teste de
equipamentos que tenham entradas de baixo
nvel, tais como adaptadores de fibra tica.
1.2.

CMC 256

O equipamento CMC 256 disponvel em


duas verses. CMC 256-6 com seis fases com
sada de corrente de 6 x 12.5 A e com trs fases
CMC 256-3 com sada de corrente de 3 x 25 A.
Comparando CMC 156, a CMC 256 oferece as
seguintes caractersticas adicionais:
- Sada de Tenso de 0 a 300 V:
Para testes em rels de proteo que necessitem
de altas tenses (acima de 600 V fase-terra) na
industria, medidores e transdutores de medio.

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CAP 02 : Caracterstica de Hardware

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Parte I: Conceitos e Definies

- Quatro controles independentes da tenso de


sada 0 a 300 V:
Por exemplo, para o teste conveniente de
dispositivos de sincronismo ou geradores com
tenso residual
- Sada de Correntes 6 x 12,5 A ou 3 x 25 A:
Alta potncia para o teste de rels
eletromecnicos sem o amplificador adicional.
Seis correntes de sada (CMC 256-6); permite o
teste na proteo diferencial de transformadores
de dois enrolamentos sem o adicional
amplificador externo de corrente.
- Fonte DC independente (0 a 264V, 50 W):
Por exemplo, para Rel de potncia.
- Entrada de medida analgica: (com o opcional
EnerLyzer)
Suprindo todas as dez entradas binrias com
funes de medidas analgicas para tenses
acima de 600 V e correntes (utilizando clamps de
corrente). Amplitude, freqncia, fase, medio
de potncia, gravao e analise dos sinais
transitrios, trigger de eventos, etc.

1-fase AC (L-L)
DC (L-N)

1 x 0 ... 250 V
1 x 0 ... 125 V

Potncia
3-fases AC (L-N)
1-fase AC (L-N)
1-fase AC (L-L)
AC (L-N)
Resoluo
Preciso
Distoro (THD+N)
gar.)

3 x 50 VA at 125 V
1 x 100 VA at 125 V
1 x 100 VA at 250 V
1 x 90 W at 125 V
6 mV
<0.025% tp.(<0.1%gar.)
<0.015% tp. (<0.05%

Geradores/Amplificadores de Corrente
Faixa de Ajuste
3-fase AC (L-N)
3 x 0 ... 12.5 A
1-fase AC (3L-N)
1 x 0 ... 21 A
DC (3L-N) 1 x 0 ... 30 A (Se controlado via
software Windows)
Potncia
3-fase AC (L-N)
3 x 40 VA
1-fase AC (L-L)
1 x 80 VA
dc (L-N)
1 x 60 W
Resoluo
500 A
Preciso
<0.02 % tp. (<0.1 % gar.)
Distoro (THD+N) <0.03% tp. (<0.07% gar.)
Sada de sinais de baixo nvel
Faixa de Ajuste
6 x 0 ... 5 Vrms
Sada de corrente
max. 2 mA
Resoluo
250 V
Preciso
<0.025 % tp. (<0.1% gar.)
Distoro (THD+N) <0.015% tp. (<0.05%
gar.)
Isolao
SELV

2.1.2. Dados comuns aos geradores

Figura 2 Equipamento CMC256-6 e notebook


de controle

2. ESPECIFICAES TCNICAS
2.1.

Especificaes Tcnicas CMC 156

2.1.1. Seo Gerador/amplificador


Tenso Gerador/Amplificador
Faixa de Ajuste
3-fases AC (L-N)
3 x 0 ... 125 V

Faixa de freqncia
sinais senoidais
10 ... 1000 Hz
sinais transitrios
DC ... 3.1 kHz
Resoluo da freqncia 5 Hz
Preciso da freqncia/der. 0.5 ppm / 1 ppm
faixa angulo de fase - 360 ... + 360
resoluo de fase
0.001
Erro de Fase
<0.02tp(<0.1gar.)at 50/60
Hz
Conexes
Sada Amplificador

soquete banana de 4mm ou


de amplificador combinado
de 8 pinos

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Parte I: Conceitos e Definies

Sinais de Baixo Nvel Soquete combinado de 16


pinos
Todos doze geradores so ajustveis
independentemente em amplitude, fase e
freqncia. No necessrio o chaveamento de
ajustes. Todas as sadas de tenso e corrente
esto protegidas contra sobrecarga e curtocircuito, e so protegidas contra sinais
transitrios externos de alta tenso e
sobretemperatura. (Indicao via mensagem de
erro
no
software).
Os
circuitos
do
Gerador/Amplificador
esto
galvnicamente
separados.

Numero
Tipo

4
Contato seco controlado
via software
Capac. interrupo AC
Vmax: 250 Vac
Imax: 8 A,
Pmax:
2000 VA
Capac. interrupo DC
Vmax: 300 Vdc,
Imax: 8 A,
Pmax:
50 W
Conexo
soquetes banana 4 mm

2.1.4. Geral

2.1.3. Seo de Temporizao/Medio


Entradas Binrias
Quantidade
10 entradas
Critrio de Trigger
Troca de posio dos
contatos sem potencial ou
tenso DC at 250 V; O
nvel de trigger pode ser
ajustado via software
Tempo de resposta 120 s
isolao Galvnica Separados galvnicamente
dos amplificadores. Dois
grupos galvnicamente
separados.
Mximo tempo de medio Infinito (se
controlado via
software Windows)
Conexes soquetes banana 4 mm ou
via soquete combinado
Entradas do Contador de 100 kHz
Numero
2
Histerese de tenso
2V
Max. tenso de entrada 30 V
Isolao
SELV
Conexes
via soquetes na parte
traseira da unidade
Entrada de medio de corrente DC
Faixa de Medio
0 ... 20 mAdc
Preciso
erro <0.05% gar.
Conexo
soquetes banana 4mm ou
via soquete combinado
Entrada de medio de Tenso DC
Faixa de Medida
0 ... 10 Vdc
Preciso
erro <0.05% gar.
Conexo
soquetes banana 4mm
soquete combinado

Sadas Binrias

Fonte de alimentao
V nominal de entrada
110 - 240 Vac, 1-fase
V permissvel de entrada 99 ... 264 Vac
Freqncia Nominal 50/60 Hz
Faixa Admissvel
47 - 63 Hz
Consumo
< 600 VA
Conexo
soquete Standard Ac (IEC 60320)
Condies Ambientais
Temp. de operao 0...+50C(+32...+122F)
Temp. de armazenagem -25.+70C(-13.+158F)
Faixa de umidade
umidade relativa 5...95%,
sem condensao
Vibrao
I
EC 68-2-6 (20 m/s2 at
10 ... 150 Hz)
Choque
IEC 68-2-27 (15g / 11ms meia seno)
EMC
CE conforme (89/336/EEC)
Emisso
EN 50081-2, EN 61000-3-2/3FCC
Sub parte B da Parte 15 Classe A
Imunidade EN 50082-2, IEC 61000-4-2/3/4/6
Segurana EN 61010-1, EN 60950+A1
IEC 61010-1, UL 3111-1
CAN/CSA-C22.2 No 1010.1
Certificaes TV-GS; UL, CUL
Peso
9.8 kg (21.6 lb.)
Dimenses 343x145x268mm(13.5x5.7x10.6)
(Largura x Altura x Profundidade,
sem ala)
Autodiagnstico do hardware durante a
operao
do
equipamento.
Superviso
automtica das sadas de tenso e corrente.
Conexo ao PC via porta paralela para impressora
2.2.

ou

CMC 156 EP (Preciso estendida)

via

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DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte I: Conceitos e Definies

Quando atualizado com a opo EP


(Preciso estendida), o equipamento de teste
CMC 156 se converte em um instrumento ideal
para testar medidores de energia de classe 0.26,
de acordo com a norma IEC687 (certificado PTB)
sem um medidor adicional de referncia. Essa
grande preciso tambm faz do CMC 156 EP
ideal para os fabricantes de rels para a execuo
de testes de tipo. A principal diferena com o
equipamento CMC 156 standard uma adicional
comutao automtica do limite de corrente do
amplificador assegurando um incremento na
preciso em toda a faixa.

1-fase ac (3L-N)
1-fase ac (L-L)
dc (3L-N)
Resoluo

2 x 210 VA at 22.5 A
2 x 140 VA at 7.5 A
2 x 235 W at 17.5 A
500 A

Faixa 12.5 A
Faixa de Ajuste
3-fase ac (L-N)

6 x 0 ... 1.25 A

Potncia
3-fase ac (L-N)
Resoluo

6 x 12.5 VA at 1.25 A
50 A

Grupo A e B em srie
2.3.

Especificaes Tcnicas CMC 256

2.3.1. Seo Gerador/amplificador


Tenso Gerador/Amplificador
Faixa de Ajuste
4-fase ac (L-N) 4x0..300V(VL4(t)automaticamente
Calculo:VL4=(VL1+VL2+VL3)*C
ou programao livre
1-fase ac (L-L) 1 x 0 ... 600 V
dc (L-N)
4 x 0 ... 300 V
Potncia
3-fase ac (L-N)
3 x 85 VA at 85 ... 300 V
VL4 ac (L-N) 1 x 85 VA at 85 ... 300 V
4-fase ac (L-N)4 x 50 VA at 75 ... 300 V
1-fase ac (L-N)1 x 150 VA at 75 ... 300 V
(Tpico. 200VAat100..300V)
1-fase ac (L-L) 1 x 150 VA at 150 ...600 V
dc (L-N)
1 x 360 W at 300 V
Preciso
<0.025% Tp. (<0.1% gar.)
at 30 ... 300 V
Distoro (THD+N)2 <0.015% Tp.(<0.05% gar.)
Faixa da tenso de sada 150 V, 300 V
Resoluo
5 mV em 150 V faixa
10 mV em 300 V faixa
Geradores/Amplificadores de CorrenteCMC256-6
Amplificadores de Corrente grupo A e/ou B
Faixa 12.5 A
Faixa de Ajuste
3-fase ac (L-N)
1-fase ac (3L-N)
dc (3L-N)

6 x 0 ... 12.5 A
2 x 0 ... 37.5 A
2 x 0 ... 17.5 A

Potncia
3-fase ac (L-N)

6 x 70 VA at 7.5 A

Conexo externa
(IL2A - IL2B)

Potncia
1-fase ac (IL1A-IL1B) 280 VA at 7.5 A (40 Vrms)
Geradores/Amplificadores
de
Corrente

CMC256-3 ou CMC256-6 com Amplificadores de


Corrente grupo A e B em paralelo.
Faixa 25 A
Faixa de Ajuste
3-fase ac (L-N)
3 x 0 ... 25 A
1-fase ac (3L-N)
1 x 0 ... 75 A
dc (L-N)
1 x 0 ... 35 A
Potncia
3-fase ac (L-N)
1-fase ac (L-L)
1-fase ac (L-N)
dc (3L-N)
Faixa 2,5 A
Faixa de Ajuste
3-fase ac (L-N)

3 x 140 VA at 15 A
1 x 280 VA at 15 A
1 x 420 VA at 45 A
1 x 470 W at 35 A

3 x 0 ... 2.5 A

Potncia
3-fase ac (L-N)
3 x 25 VA
Resoluo 100 A / 1 mA em 2.5 A / 25 A faixa
Geradores/amplificadores de Corrente:
Preciso
<0.03% Tp. (<0.1% gar.)
Distoro (THD+N)2 <0.025% Tp.
(<0.07% gar.)
Max. Concordncia tenso A, B 10 Vrms ,
15 Vpk
Baixo nvel de sada LL out 1-6
Faixa de Ajuste
6 x 0 ... 10 Vpk
(LL out 1-6)
Max corrente sada 1 mA
Preciso
<0.025% Tp.

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CAP 02 : Caracterstica de Hardware

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DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte I: Conceitos e Definies

(<0.07% gar.)
at 1 ... 10 Vpk
Resoluo
250 V
Distoro (THD+N)2 <0.015% Tp.
(<0.05% gar.)

Conexo

Isolao
SELV
Usabilidade usada completamente independente
das sadas dos amplificadores internos

Soquete banana 4 mm
na parte frontal do
painel

Protegidos contra curto circuitos, e


isolados galvnicamente de todos outros grupos,
sinal de indicao de sobrecarga
Seo de Temporizao/Medio
Entradas Binrias

Dados dos Geradores


Freqncia faixa
Sinal senoidal
10 ... 1000 Hz
Sinal Transitrio
dc ... 3.1 kHz
Freq.Preciso/variao 0.5 ppm / 1 ppm
Freq. resoluo
< 5 Hz
Faixa de angulo de fase -360 ... +360
Resoluo de fase
0.001
Erro de fase <0.02Tp. (<0.1 gar.) at 50/60Hz
Largura de Banda (-3dB) 3.1kHz
Conexo
Sada do Amplificador Todos sinais soquete
banana parte frontal painel; Sada VL1..VL3 e N
e Sada IL1-IL3 e N do grupo A em soquete
combinado 8 pinos
Baixo sinal sada
LL out 1-6
Soquete combinado 16 pinos
(Lado de Traz)

Quantidade
10 entradas
Critrio de trigger Troca de posio dos
contatos sem potencial ou tenso DC
Caractersticas
0 ... 600 Vdc threshold,
ou contato seco
Resoluo de threshold 2 mV, 20 mV,
200 mV, 2 V,
20 V faixa 100 mV,
1 V, 10 V, 100 V,
600 V(rms.)
Taxa de amostragem
10 kHz
Resoluo
100 s
Max. tempo medida
Infinita
Funo contador

<3 kHz,
largura do pulso>150s
isolao galvnica
5grupos(2+2+2+2+2)
Max. tenso de entrada 600Vrms (850Vpk)
Conexo
Soquete banana 4 mm
na parte frontal do
painel (combinado com
entradas analgicas )

Todas as tenses e correntes dos geradores


so continuamente e independentemente
ajustveis em amplitude, fase e freqncia. Todas
sadas de corrente e tenso so completamente
garantidos contra curto-circuito e sobrecarga e
protegidos contra sinais transitrios de alta
tenso e sobretemperatura (indicado no software
via mensagem de erro). Os circuitos do
gerador/amplificador e circuitos principais so
galvnicamente separados. Os circuitos de
entrada de corrente, tenso, auxiliar dc e
binrio/anlogos so galvnicamente separados
de todos outros.

Contador de entrada 100 kHz


Numero
2
Max. cont. freqncia 100 kHz
Largura do Pulso
>3 s
Threshold Tenso
6V
Histerese de tenso
2V
Max. Tenso entrada
30 V
Isolao
SELV
Conexo
Soquete 16 pinos
combinado
(lado de traz)

Fonte Auxiliar DC

Sadas Binrias

Faixa da tenso de sadas 0 ... 264 Vdc, 0.2 A


0 ... 132 Vdc, 0.4 A
0 ... 66 Vdc, 0.8 A
Potncia
max. 50 W
Preciso
Erro < 2% Tpico.
(< 5% gar.)

Rels
Quantidade
Tipo
Capacidade interr. Ac

4
Contato seco
controlado via software
Vmax:300Vac,Imax: 8A,
Pmax: 2000 VA

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 02 : Caracterstica de Hardware

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte I: Conceitos e Definies

Capacidade interr. dc
Conexo

Transistor
Quantidade
Tpico
Taxa de atualizao
Imax
Conexo

Vmax:300Vdc,Imax: 8A,
Pmax: 50 W
Soquete banana 4 mm
na parte frontal do
painel
4
Sada com transistor
coletor aberto
10 kHz
5 mA
Soquete combinado 16
pinos (lado de traz)

Medio entrada Tenso DC e Corrente DC


Faixa med tenso entrada
0 ... 10 V
Faixa med corrente entrada 0 ... 1 mA,
0 ... 20 mA
Preciso
< 0.003% Tpico.
(<0.02% gar.)
Conexo
Soquete banana 4 mm na parte
frontal do painel
Entradas de medidas analgicas ac+dc
(opcional, em conexes com EnerLyzer)
Tipo

ac+dc tenso de
Entrada analgica
Quantidade
10
Faixa entrada nominal 100 mV, 1 V, 10 V,
100 V, 600 V (rms)
Amplitude Preciso
< 0.06% Tp.
(<0.15% gar.)
Largura de banda
dc ... 10 kHz
Freqncia amostragem
28.44kHz,
9.48 kHz, 3.16 kHz
Impedncia de entrada
500 kW // 50 pF
Buffer entrada transitria 3,5 s para todos os dez
canais de entrada com freqncia de
amostragem de 28 kHz ou 316 s com uma canal
e 3 kHz de freqncia de amostragem
Clamps de Corrente Clamp de corrente com
tenso de sada ou shunt
externo e clamp de corrente
standard.
Funes de medio Idc, Vdc, Iac, Vac,, fase,
freqncia, potncia,
energia, harmnicos,
capacidade de gravao de
transitrios em todos os

canais.
Indicao sobrec. Entrada
sim
Proteo entrada
sim
Max. tenso entrada
600 Vrms (850 Vpk)
Isolao galvnica 5 grupos (2+2+2+2+2)
Conexo
Soquete banana 4 mm na
parte frontal do painel
(combinado com entradas
analgicas)
Geral
Fonte de potncia
Entrada tenso nominal
Entrada perm. Tenso
Freqncia Nominal
Faixa perm. freqncia
consumo2 de Potncia

110 - 240 Vac, 1-fase


99 ... 264 Vac
50/60 Hz
45 - 65 Hz
1.2 kVA at 115 V
1.6 kVA at 230 V
Taxa de corrente
10 A
Conexo
Soquete ac standard (IEC 60320)
Condies Ambientais
Temp.de funcionamento 0..+50C(+32..+122F)
Temp de armazenam.-25..+70C(-13..+158F)
Faixa de umidade
Rel. umidade 5...95%,
sem condensao
Vibrao
IEC 68-2-6 (20 m/s2 at
10 ... 150 Hz)
Choque
IEC 68-2-27 (15g / 11ms meio seno)
EMC
CE conforme (89/336/EEC)
Emisso
EN 50081-2, EN61000-3-2/3
FCC Sub parte B da Part 15 Classe A
Imunidade EN 50082-2, IEC 61000-4-2/3/4/6
Segurana EN 61010-1, EN 60950+A1
IEC 61010-1, UL 3111-1
CAN/CSA-C22.2 No 1010.1
Certificaes TV-GS; UL, CUL
Peso
15.7 kg (34.8 lb.)
Dimenses 450x145x390mm(17.7x5.7x15.4)
Miscelnea
Conexo com PC

Porta paralela
IEEE1284-C conector)
CMC 56/156 SW-Compatibilidade
Windows - SW (Test Universe)
Indicao sinal (LED)
>42V para AUX-dc,
e sada de tenso
Soquete aterramento
Soquete banana 4 mm
na parte de traz do
painel

:
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CAP 02 : Caracterstica de Hardware

10

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte I: Conceitos e Definies

Autodiagnstico do hardware aps cada


partida. Superviso automtica das sadas de
tenso e corrente durante o teste
2.4.

CMC 256-6 EP (Preciso estendida)

O CMC 256-6 tambm disponvel com a


opo de hardware EP (preciso estendida). A
preciso extremamente alta dos amplificadores
de tenso e corrente da CMC 256-6 EP ideal
para a calibrao e teste dos novos medidores de
energia (classe acima de 0.25 de acordo com a
norma IEC687, 0 ... 300V trifsico); para a o
desenvolvimento de aplicaes especiais, testes
de tipo, testes de aceitao, calibrao de
dispositivos, ou demonstrao de produtos, as
caractersticas adicionais da CMC 256-6 EP
provm uma soluo completa.
A opo EP pode ser encomendada
juntamente com uma nova unidade CMC 256-6,
ou com uma CMC 256-6 j existente, podendo
ser atualizada para incluir esta opo.

As especificaes diferem da CMC 256-6 nos


seguintes valores:
Corrente geradores/amplificadores
Preciso
Erro <0.02 % Tpico. (<0.05% gar.)
Tenso geradores/amplificadores
Preciso
Erro <0.02 % Tpico. (<0.05% gar.)
Dados gerais dos geradores
Erro de Fase
<0.005 Tpico. (<0.02 gar.)
at 50/60 Hz
Variao Temp. 0.0025% / C
Potncia de sada
Preciso5 Erro <0.05% Tpico. (<0.1% gar.)
relativo aos valores ajustados (Erro
relativo) at 0.1 12.5 A
(amplificador corrente grupo A ou B,
50/60 Hz) e 50 300 V
Variao Temp. <0.001%/C Tp.
(<0.005%/C gar.)

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 02 : Caracterstica de Hardware

11

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte I: Conceitos e Definies

Cap 03 : Introduo ao Software


OMICRON Test Universe
Resumo
Este captulo apresenta o software de
comando e anlise do sistema Omicron de testes
de proteo, o OMICRON TEST UNIVERSE.
Apresenta suas ferramentas gerais de testes, bem
como descreve a filosofia aplicada nos
procedimentos de testes que sero abordados ao
longo do curso.

1. O SOFTWARE OTU
O OMICRON Test Universe esta projetado
para realizar testes em dispositivos de proteo e
medida, tanto pelas companhias eltricas, assim
como pelas companhias fabricantes de rels.
Consiste em um hardware sofisticado e um

software fcil de usar, baseado no ambiente


Windows e que proporciona flexibilidade e
completa adaptabilidade a diferentes aplicaes
de teste.
A flexibilidade proporcionada com os
distintos pacotes de software, onde a
adaptabilidade conseguida utilizando-se de
diversas maneiras combinaes diferentes dos
componentes dos pacotes do software. Cada
pacote contm uma seleo de mdulos de teste
orientados por funo. Os mdulos de teste
podem operar de modo autnomo para teste
simples ou podem estar concatenados com
outros mdulos em um documento de teste do
Control Center (plano de teste, dependendo do
pacote de software que compe o sistma de
teste) para testes completos multifuncionais.

Figura 1 Pgina inicial do software OMICRON TEST UNIVERSE


:
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CAP 03: Introduo ao Software OMICRON Test Universe

12

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte I: Conceitos e Definies

2. INSTALAO
DO
SOFTWARE
OMICRON TEST UNIVERSE 2.0
A OMICRON tem enviado, gratuitamente,
aos usurios de seus equipamentos os UPDATEs
do software OMICRON TEST UNIVERSE.
Em 2003 a verso 1.61 introduzida no
mercado. A partir deste ano os UPDATEs seriam
fornecidos atravs de Service Realeses.
Em 2004 a verso 2.0 introduzida no
mercado. Caracterizando um novo sistema de
teste, o Software de controle OMICRON Test
Universe 2.0 traz um novo sistema de
configurao de teste utilizando os arquivos
XRIO,
construindo
testes
automatizados
utilizando as aplicaes mais simples do sistema
de teste.
Este novo sistema apresentado neste
curso.
Lembramos que todos os arquivos de teste
gerados nas verses anteriores podem ser
utilizados na verso 2.0. E que os arquivos
gerados pela nova verso no podero ser
utilizados nas verses anteriores.
Assim, recomendamos que:
1) Para instalar a verso 2.0 do software,
deve-se desinstalar a verso atualmente
em uso.
2) Por segurana, deve-se realizar um backup
dos arquivos de teste e arquivos RIO
gerados pelo usurio. Lembre-se que os
diretrios onde so armazenados os
arquivos dependem do idioma no qual o
software foi instalado. (Por exemplo,
<C:\My documents\Omicron Tests> ou
<C:\Meus
documentos\
Testes
OMICRON>).

Figura 2 Tela de escolha do idioma do software


a ser instalado
5) O sistema de instalao automtico,
bastando o usurio seguir as instrues
das telas de instalao.

Figura 3 O software possui um assistente de


instalao para ajud-lo a tarefa.
6) Estaro habilitados os mdulos de
software relativos ao equipamento do
usurio. Novas licenas podero ser
adicionadas ao sistema conforme a escolha
do usurio.

3) Nas verses antigas o arquivo de licena


<Omicron.lic> era entregue em um
disquete 1.44 com um executvel para
instalar a licena antes da instalao do
software principal. Nas verses 1.61 e 2.0
a licena est contida no CD do software
principal,
ou
seja,
ele
instalar
automaticamente a licena durante o
procedimento de instalao do software
principal.
4) Com a execuo do programa
instalao, escolhe-se o idioma
software a ser instalado.

de
do
Figura 4 Setup Wizard.

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 03: Introduo ao Software OMICRON Test Universe

13

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte I: Conceitos e Definies

7) Com o software instalado, o usurio


poder modificar ou reparar componentes
instalados, ou ainda desinstalar o
software.

Configurao de Hardware:
Definio
das
sadas
binrias/analgicas do CMC
Definies das entradas
(resposta do objeto de
teste)
Definio das conexes
entre o objeto a ser testado
e o CMC.
Mdulo de teste:
Definio da estrutura de
teste
Escolha dos pontos a
serem testados
Gerao automtica de
relatrio do teste

3.1.

Teste Modular

Organizado pela funo de proteo do


objeto a ser testado.

Figura 5 Modificar, reparar ou remover o


programa.

3.2.

3. A LEI DE OHM DA OMICRON


A lei de Ohm da Omicron um anagrama
das siglas conforme mostrado a seguir:

Objeto sob teste


Hardware
Mdulo de teste
Cada vez que se realiza um teste deve-se
especificar (ou ter especificado previamente no
documento de teste) os dados necessrios para
realizao do teste dentro dos trs passos
descritos.

Parmetro do objeto de teste:


Configuraes do objeto a
ser testado,
Informaes do sistema
original do objeto a ser
testado,
Informaes gerais.

Teste Automtico.

Utilizao de mtodos matemticos,


eliminando a necessidade de programao, ou a
realizao de macros.
Utiliza o PC para registro de dados,
clculos, relatrios, etc., potencializando a
interface com o usurio.
Omicron
Control
Center
(fcil
procedimento de teste para equipamentos
multifuno)

4. A UTILIZAO DO HELP
A utilizao do HELP consiste em uma
poderosa ferramenta de ajuda. De uma forma
geral, seu contedo pode ser acessado de
qualquer parte do programa pelo boto de
acesso rpido indicado na figura abaixo. Depois
de pressionado, aparecer um ponto de
interrogao (?) junto ao ponteiro do windows.
Ao clicar com o ponteiro sobre qualquer ponto
da tela aparecer um quadro com texto
relacionado rea marcada. O texto poder
conter hypertextos que direcionar a busca por
mais informaes. Um exemplo de acesso
mostrado na figura 6.

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 03: Introduo ao Software OMICRON Test Universe

14

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte I: Conceitos e Definies

Figura 6 Localizao do boto de acesso rpido ao HELP na tela do QuickCMC.


de sinais desequilibrados, variao de freqncia,
indicao de sobrecarga na tela, dentre outras.
A tela principal do mdulo de software
QuickCMC mostrada na figura 6.

5. SOFTWARES DE USO GERAL


5.1.

QuickCMC

O QuickCMC uma ferramenta to fcil de


usar como um painel de um controle manual,
mas que proporciona muita mais flexibilidade.
Todas as funes do hardware da OMICRON so
acessveis aos usurios na tela do PC. Este
enfoque grfico proporciona no somente
nmeros, como tambm o diagrama vetorial das
tenses e corrente de forma grfica.
O QuickCMC proporciona uma definio
simples
dos
ajustes
e
controles
dos
amplificadores que so usados para gerar sinais
de teste. Isto conseguido introduzindo valores
numricos ou posicionando, com o mouse, os
fasores de I e V no diagrama vetorial. Por isso,
todas as caractersticas dos amplificadores da
OMICRON podem ser usadas, tais como: gerao

5.1.1. Caractersticas do QuickCMC

Controle e ajuste de 12 amplificadores,


onde cada sinal individualmente ajustado
em amplitude, fase e freqncia.
Os valores de tenso e correntes podem
ser introduzidos por meio do teclado ou
do mouse.
O modo de teste pode ser escolhido pelo
usurio: rampa manual (passo a passo) ou
automtica
Medidas simples das entradas binrias
(primeira transio de estado para cada
entrada aps ultima troca da sada, mostra
a inclinao e tempo)

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 03: Introduo ao Software OMICRON Test Universe

15

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte I: Conceitos e Definies

5.2.

Os resultados do teste so armazenados


em relatrio para uso posterior. Tal
relatrio pode ser personalizado em estilo
e contedo.
Freqncia: CC, 10-1000 Hz para todos os
geradores.
Indicao de sobrecarga na tela.
As respostas do rele de proteo ou as
sadas do transdutor de medio
supervisionada e uma medio de tempo
realizada. As entradas analgicas so
apresentadas em grficos e as entradas
binrias tm os seus contatos secos e
molhados monitorados.

Ramping

Este mdulo de software define e gera


rampas de amplitude, fase ou freqncia para as
sadas de corrente e tenso, determina valores

limites, como o valor de partida mnimo ou nveis


de histerese em mudanas de estado.
Tambm podem ser realizadas tarefas
automticas que permitem o teste de funes
simples ou complexas. A flexibilidade deste
mdulo permite que duas rampas com variveis
diferentes sejam executadas simultaneamente de
forma sincronizada assim como a execuo de
uma seqncia de at cinco segmentos
consecutivos de rampa, conforme mostrado na
figura 8.
Todos os valores especificados assim como
as tolerncias admissveis da rampa principal
podem ser determinadas. Conseqentemente, a
gerao automtica da avaliao do teste pode
ser realizada imediatamente aps a execuo,
resultando em uma analise rpida e segura por
parte do usurio.

Figura 7 Entrada dos dados do teste - Ramping.

5.2.1. Caractersticas do RAMPING

Testes automticos usando a seqncia de


rampa

Duas rampas simultneas de duas variveis


independentes
Definio de at cinco segmentos de
rampas consecutivos
Controle visual dos valores de sadas

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 03: Introduo ao Software OMICRON Test Universe

16

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte I: Conceitos e Definies

5.3.

Apresentao dos resultados dos testes


com avaliao automtica
Repetio dos testes de rampa ou
seqncias de rampa
Clculo da razo dos valores de duas
rampas simultneas (por exemplo, V/Hz ou
V/I)

STATE SEQUENCER

O State Sequencer uma ferramenta


muito flexvel para a determinao de tempos de
operao e de seqncias lgicas temporizadas.
Um estado definido pelas condies
das sadas (tenses e correntes, sadas binrias) e
uma condio de finalizao do estado. Vrios
estados podem ser correlacionados entre si para
definir uma seqncia de teste. A transio de
um estado ao prximo pode ocorrer depois de
um tempo pr-fixado ou depois de uma condio
de disparo nas entradas binrias do CMC, ou
aps um pulso de sincronizao via GPS ou
depois de acionar uma tecla. Baseado nesta
seqncia de estados, a medida de tempo pode

ser definida. Isto pode ser usado para checar a


correta operao dos rels.
Dentro de um estado, at 12 sinais podem
ser ajustados independentemente em amplitude,
fase e freqncia. O diagrama vetorial pode ser
usado para verificao visual dos ajustes das
sadas. Uma viso global dos dados
apresentada em uma tabela. A viso detalhada
proporciona toda a informao sobre um estado
especfico.
Acrescentando-se definio individual de
cada estado uma seqncia de condies de prfalha, falha e ps-falha podem ser definidas, para
testar rels de distncia introduzindo a
impedncia da falha.
Dentro da seqncia de estados que
definem o teste, medies de tempo a executar
podem ser especificadas para a correta operao
do rel. Por exemplo, espera-se que um rel
opere logo aps dois ciclos da ocorrncia do
estado de falta. Tempos de disparo individuais e
seus desvios (positivo/negativo) podem ser
especificados para cada condio de medio. Se
a medio de tempo est dentro do range, a
avaliao aprovada, caso contrrio,
desaprovada.

Figura 10 Definio dos estados e condies de sada State Sequencer

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 03: Introduo ao Software OMICRON Test Universe

17

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte I: Conceitos e Definies

Cap 04 : Definindo o Hardware no


Teste e Ajustes do Relatrio
Resumo
Este captulo aborda passo a passo a
montagem das configuraes de hardware para
execuo de testes com o Sistema de Teste
OMICRON,
mostrando
suas
opes
e
procedimentos
para
configurao
e
armazenagem de informaes. Tambm mostra o
ajuste para confeco automtica dos relatrios
de teste.

Com o equipamento de teste CMC ligado


e conectado no laptop, ao acionar o cone da
configurao de hardware, o sistema reconhecer
automaticamente o hardware conectado ao
sistema, mostrando seu nmero de srie e
modelo.

1. CONFIGURAO DE HARDWARE
Conforme mostrado no captulo anterior, o
segundo passo da nossa Lei de OHM a
configurao do hardware para o teste, onde
teremos:

Definio das sadas binrias/analgicas do


CMC
Definies das entradas (resposta do
objeto de teste)
Definio das conexes entre o objeto a
ser testado e o CMC.

Para acessar as telas de


configurao de hardware, escolha o
cone Configurao de Hardware no
menu, ou acesse atravs do menu Parmetros/
Configurao de Hardware conforme mostra a
figura 1:

Figura 2 A tela Geral


Caso o usurio esteja realizando testes
simulados ou preparando os arquivos de teste
off-line, poder escolher qual o equipamento que
ir configurar atravs da tela Geral.
Note que, quando o teste realizado
off-line, aparece uma lista de pontos de
interrogao no lugar do nmero de srie do
equipamento. Isto denota a falta de conexo do
sistema de teste com o hardware.

1.1.1. A Tela Detalhes


Clicando no boto Detalhes aberta uma
caixa de dialogo onde a configurao desejada
para o teste pode ser ajustada.
Figura 1 Acesso configurao de hardware
1.1.

A tela Geral
Figura 3 Boto Detalhes

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 04 : Definindo o Hardware de Teste e Ajustes do Relatrio

18

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte I: Conceitos e Definies

A seguir so mostradas algumas opes


possveis para a configurao do equipamento de
teste.

SADA DE CORRENTE 6X12,5A;70VA@7,5A;10Vrms

Figura 8 Configurao de Hardware

SADA DE TENSO - 4X300V;85VA@85V;1Arms


Figura 4 Configurao de Hardware

SADA DE CORRENTE 3X12,5A;70VA@7,5A;10Vrms

Figura 9 Configurao de Hardware

SADA DE TENSO - 2X600V;150VA@150V;1Arms

Figura 5 Configurao de Hardware

SADA DE CORRENTE 3X12,5A;70VA@7,5A;10Vrms

Figura 10 Configurao de Hardware

SADA DE TENSO -1X600V;150VA@150V;1Arms

Figura 6 Configurao de Hardware

SADA DE CORRENTE 1X37,5A;420VA@22,5A;20Vrms

Figura 11 Configurao de Hardware

SADA DE TENSO 1X300V;150VA@75V;2Arms


Figura 7 Configurao de Hardware

SADA DE CORRENTE 1X75A;420VA@45A;10Vrms

Figura 12 Configurao de Hardware

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 04 : Definindo o Hardware de Teste e Ajustes do Relatrio

19

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte I: Conceitos e Definies

Os valores de garantia no manual do


hardware so validos por 1 ano da data da ultima
calibrao em fbrica.

SADA DE CORRENTE 1X12,5A;280VA@7,5A;40Vrms

Figura 13 Configurao de Hardware


Figura 16 Dados de Calibrao

1.1.2. Aviso de Verificao de Fiao


A seguir apresentamos um checkbox , na
figura 14, que permite o chaveamento para on
ou off da mensagem de advertncia da fiao.
Se estiver ativa lembrar voc de checar
fisicamente a fiao de seu hardware toda vez
que voc mudar os ajustes da fiao no software.

Figura 14 Checagem da fiao

1.1.4. Importar e Exportar a Configurao de


Hardware
Usando a funo Importar/Exportar,
mostrada na figura 17, permitido ler / escrever
arquivos OHC. Arquivos OHC contem todas as
informaes que podem ser ajustadas na
configurao de hardware.
Desta forma a configurao de hardware
pode ser facilmente transferida entre diferentes
documentos do OMICRON Control Center.

1.1.3. Busca de Hardware e Informao sobre


calibrao
Figura 17 Importar e Exportar configurao de
hardware

Busca...
A opo Busca..., mostrada na figura 15,
em Dispositivo de teste conectados, possibilita
que o software busque por dispositivos
conectados. Normalmente isto no necessrio
para executar a busca manual, porque o software
o executa automaticamente, conforme j
observado.
Se diferentes dispositivos so encontrados
dentro da busca, informaes incompatveis de
configurao sero perdidas.

1.2.

Entradas Binrias / Analgicas

As entradas binrias/analgicas so fixas


para o numero de entradas 1 a 10 como no
painel frontal do dispositivo de teste.
Essas entradas podem ser configuradas
de acordo com a aplicao.
A figura 18 mostra a tela de configurao.

1.2.1. Contatos secos


Figura 15 Dispositivos de teste conectados
Calibrao...
Tambm na figura 15, acionando o boto
Calibrao... aberta uma caixa de dilogo,
mostrada na figura 16 onde a ultima calibrao
em fbrica do dispositivo de teste OMICRON
mostrada.

Na linha Funo selecione Binrio para as


entradas que voc quer configurar.
Na linha Livre de Potencial habilite os
checkboxes usados para as entradas que voc
quer configurar.
Para as unidades CMC 256, podemos
ajustar cada uma das entradas para seco ou
molhado, para as unidades CMC 156 ou CMC 56
somente grupos podem ser ajustados (1-4 e 510).

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 04 : Definindo o Hardware de Teste e Ajustes do Relatrio

20

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte I: Conceitos e Definies

Figura 18 Tela de configurao das entradas binrias/analgicas.

1.2.2. Sensibilizao por Potencial


Na linha Funo selecione Binrio para as
entradas que voc quer configurar.
Na linha Livre de Potencial, desabilite os
checkboxes usados para as entradas que voc
quer configurar.
Na linha Faixa Nominal, ajuste a tenso
nominal do seu sinal. Se voc deseja ajustar a
mesma tenso nominal para todas as entradas
use o menu contextual (boto direito do mouse).
Se o valor nominal modificado, o limiar
de operao ajustado em 0,7 vezes o novo
valor nominal automaticamente.
Na linha Limiar (Threshold) ajuste o valor
do limiar de operao, ou seja, o valor de tenso
onde o contato muda de estado.
Se voc deseja ajustar o mesmo valor de
limiar para todas entradas do grupo, use o menu
contextual (boto direito do mouse).

1.2.3. Contador de Pulsos Contatos Secos


Na linha Funo selecione Contador para
as entradas que voc quer configurar.
A contagem de freqncia limitada a 3
kHz. Para freqncias acima de 100 kHz use a

entrada do contador de freqncia no painel


frontal do equipamento de teste.
Na linha Livre de Potencial, habilite os
checkboxes usados para as entradas que voc
quer configurar.

1.2.4. Contador de
Molhados

Pulsos

Contatos

Na linha Funo selecione Contador para


as entradas que voc quer configurar.
Na linha Livre de Potencial, desabilite os
checkboxes usados para as entradas que voc
quer configurar.
Na linha Faixa Nominal, ajuste a tenso
nominal do seu sinal. Se voc deseja ajustar a
mesma tenso nominal para todas as entradas
use o menu contextual (boto direito do mouse).
Na linha Limiar (Threshold) ajuste o valor
do limiar de operao, ou seja, o valor de tenso
onde o contato muda de estado.
Na linha Limiar (Threshold) ajuste o valor
do limiar de operao, ou seja, o valor de tenso
onde o contato muda de estado.

1.2.5. Leitura de Sinais de Tenso

:
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CAP 04 : Definindo o Hardware de Teste e Ajustes do Relatrio

21

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Parte I: Conceitos e Definies

Na linha Funo selecione Tenso para as


entradas que voc quer configurar.
Na linha Faixa Nominal, ajuste faixa de
entrada adequada ao seu sinal.

atravs do menu contextual. (boto direito do


mouse).
Na linha Faixa Nominal, ajuste faixa de
entrada adequada ao seu sinal.

1.2.6. Leitura de Sinais de Corrente

1.3.

Na linha Funo selecione Corrente para


as entradas que voc quer configurar.
Na linha Relao do Clamp de Corrente
entre com a relao do clamp (livremente entre
1V/A a 1V/A) ou selecione um valor tpico

Na
tela
Sadas
Analgicas
so
configuradas os canais de sada de tenso e
corrente, anteriormente escolhidos em Detalhes.

Sadas Analgicas

Figura 19 Tela de configurao das sadas analgicas.


Configurando o Relatrio de Teste
Selecionando a opo Parmetros /
Relatrio no menu principal, a caixa de dilogos
Ajustes do Relatrio aberta. Ela permite
escolher as seguintes opes para o relatrio de
teste.

podendo ser criados e salvos novos modelos de


acordo com as necessidades do usurio.

Figura 21 Opes de Relatrio


Figura 20 Menu de ajuste Relatrio

1.3.1. Formulrios de Relatrio

A figura 21 mostra as opes de


configurao padro existente para a elaborao
dos relatrios de teste, sendo elas:

Short Form (OCC Short)


Long Form (OCC Long)

Essas duas opes so modelos j


definidos para o relatrio. Clicando na opo
Definir.., possvel adicionar ou deletar
informaes a serem inseridas no relatrio,

Mudanas realizadas no relatrio atravs


do boto Definir... so gravadas em um modelo
local, salvo como parte integrando do arquivo de
teste onde os ajustes foram feitos.
Existe tambm o Formulrio de Relatrio
onde cada novo teste utiliza as definies de
ajuste do relatrio criadas pelo usurio.
A localizao do Formulrio de Relatrio
mostrada na caixa de dialogo Definir Relatrios.
Voc pode apagar os ajustes das definies do
relatrio de qualquer teste, para utilizar estas do
Formulrio de Relatrio,
clicando no boto

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CAP 04 : Definindo o Hardware de Teste e Ajustes do Relatrio

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Parte I: Conceitos e Definies

Deletar, ou adicionar uma nova configurao

com o boto Adicionar....

Figura 22 Tela Definir Relatrios


Acionando o boto Ajustar como Padro,
todos os ajustes do arquivo so estabelecidos
como padro de relatrio. Novas mudanas feitas
manualmente atravs do ajuste dos itens que
compem o relatrio so perdidas quando
escolhido um modelo pr-gravado.

1.3.2. Selecionando um Formulrio OCC


Selecionando o ajuste Formulrio Curto
(OCC Curto) o relatrio resumido ser definido
como ajuste corrente. Similarmente, selecionando
Formulrio Longo (OCC Longo) o ajuste de
relatrio longo ser definido como ajuste
corrente.
O nome do Formulrio ajustado para
Formulrio Curto seguido pelo comentrio
(OCC Curto), enquanto o nome do Formulrio
ajustado para Formulrio Longo seguido pelo
comentrio (OCC Longo). O ajuste do relatrio
no pode ser o mesmo (longo e curto) ao mesmo
tempo.
Esta diferenciao realizada para
utilizao do mdulo de teste dentro do
OMICRON Control Center.

No OMICRON Control Center (OCC) so


utilizados esses dois modelos (longo e curto)
como padro. O mesmo no ocorre para outros
modelos criados pelo usurio.
No OCC possvel acionar um simples
comando de forma a ajustar para todos mdulos
de teste o uso do Formulrio Longo ou o
Formulrio Curto, especificando o ajuste para
cada modulo de teste individualmente. Neste
caso, as definies dos ajustes para os relatrios
no OCC so definidas aqui para serem usadas.

1.3.3. Exportando o Relatrio


Esta caixa de dilogo aberta acionando
em Arquivo | Exportar Relatrio... para permitir
que o relatrio seja exportado em uma variedade
de formatos. A figura 23 mostra o menu com a
opo Exportar Relatrio...

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Parte I: Conceitos e Definies

Arquivos exportados no formato TXT so


simplesmente textos. Formataes e grficos
sero perdidos. Os mdulos de testes so
mostrados somente como textos.
Arquivos exportados no formato RTF
contem grficos e formatao pr-ajustada de
tabelas. Este o formato adequado para registro
relatrio completo para ser editado em editores
de texto como MS-Word.
Figura 23 Exportando o Relatrio

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Parte I: Conceitos e Definies

Cap 05 : Gerenciando os Arquivos de


Licena dos Equipamentos
Resumo
Este texto apresenta a estrutura de busca e
manipulao dos arquivos de licena do sistema
de teste da OMICRON para os equipamentos
Trata dos aplicativos para Gerenciamento de
Licenas, tanto na verso 1.61, quanto na verso
2.0, apresentadando e descrevendo suas
caractersticas.

4. Com a execuo do programa de


instalao, escolhe-se o idioma do software
a ser instalado.

1. INSTALAO DA VERSO OTU 1.61


A licena para instalao da verso 1.61
diferente das licenas utilizadas para a instalao
de verses anteriores.
Lembramos que todos os arquivos de teste
gerados nas verses anteriores podem ser
utilizados na verso 1.61. E que os arquivos
gerados pela nova verso no podero ser
utilizados nas verses anteriores.
Assim, recomendamos que:

Figura 1 Tela de Instalao OTU 1.61


5. O sistema de instalao automtico,
bastando o usurio seguir as instrues das
telas de instalao.

1. Para instalar a verso 1.61 do software,


deve-se desinstalar a verso atualmente em
uso.
2. Por segurana, deve-se realizar um backup
dos arquivos de teste e arquivos RIO
gerados pelo usurio. Lembre-se que os
diretrios onde so armazenados os
arquivos dependem do idioma no qual o
software foi instalado. (Por exemplo,
<C:\My documents\Omicron Tests> ou
<C:\My documents\ Testes OMICRON>).
3. Nas verses anteriores o arquivo de licena
<Omicron.lic> era entregue em um
disquete 1.44 com um executvel para
instalar a licena antes da instalao do
software principal. Na verso 1.61 a licena
est contida no CD do software principal,
ou seja, ele instalar automaticamente a
licena durante o procedimento de
instalao do software principal.

Figura 2 Istalando verso 1.61

Figura 3 Incio da Instalao Setup Wizard

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CAP 05: Gerenciando os Arquivos de Licena dos Equipamentos

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Parte I: Conceitos e Definies

6. Estaro habilitados os mdulos de


software relativos ao equipamento do
usurio. Novas licenas podero ser
adicionadas ao sistema conforme a escolha
do usurio.

7. Com o software instalado, o usurio


poder modificar ou reparar componentes
instalados, ou ainda desinstalar o software.
1.1.

Procurando Arquivos de Licena


na Verso 1.61

A verso 1.61 possui o aplicativo SCAN


LIC. Ele possibilita ao usurio buscar e visualizar
quaisquer licenas.
A figura 5 mostra a tela de trabalho do
SCAN LIC.
O usurio utiliza o boto Browse... para
direcionar a busca, escolhendo o diretrio onde
se encontar o arquivo de licena requerido.
Depois s clicar em Scan Folder para
que o aplicativo leia todas as licenas que
encontar naquele diretrio.
O contedo das licenas mostrado na
tela na parte inferior.

Figura 4 Opes na Instalao

Figura 5 Tela do Scan Lic

1.2.

Adicionando Arquivos de Licena


na Verso 1.61

Uma vez identificado o arquivo com o


ScanLic, o usurio pode adiconar essa licena ao
arquivo de licena principal do seu sistema de
teste.

:
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CAP 05: Gerenciando os Arquivos de Licena dos Equipamentos

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DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte I: Conceitos e Definies

Para tal ele ir usar o utilitrio AddLIC.


Uma vez iniciado, o AddLIC ira oferecer duas
opes, mostradas na figura 6:
1. O usurio pode inserir uma nova licena
atravs de um arquivo <omicron.lic>;

2. O usurio pode entrar manualmente com


os cdigos da nova licena.
Uma vez escolhida a primeira opo, basta
o usurio direcionar o local onde est o arquivo
da nova licena e clicar em Next.

Figura 6 Tela inicial AddLic

Figura 7 Tela de busca do AddLic

2. O GERENCIADOR DE LICENA NO 2.0


O Gerenciador de Licena combina a
funcionalidade de um aplicativo de licena, uma
ferramenta para manipulao e um editor de
licenas.

Ele busca os arquivos de licena OMICRON


armazenados no hard disk(s) do computador e
mostra seu contedo.
Ele combina as informaes das licenas
de difrentes arquivos dentre de uma licena
pricipal no arquivo <Omicron.lic>. Alm disso
pode-se adicionar licenas manualmente.

:
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CAP 05: Gerenciando os Arquivos de Licena dos Equipamentos

27

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Parte I: Conceitos e Definies

2.1.

Procurando Arquivos de Licena


na Verso 2.0

Entre o caminho e localizao do folder


que contem o arquivo procurado no campo
"Search in" e clique em "Search". O Gerenciador

de Licenas ir procurar automaticamente nesse


folder e em todos os subfolders.
Se o usurio quiser procurar em todo hard
disk, basta digitar a letra correspondente ao
drive, por exemplo C:\.

Figura 8 - O gerenciador de licena


O campo "Search in" salva o seleo mais
recente.
Outra opo clicar em "Browse" para
navegar entre toda a estrutura do folder.
Selecionar um forder e clicar em "Search.
Todo arquivo de licena encontrado
listado em campo prprio.
A arquivo da licena pricipal (Master
License) no precisa ser buscada. Como ela est
presente no hard disk, ela sempre ser mostrada

3. CONTEDO
LICENA

DO

ARQUIVO

DE

Clique no arquivo de licena escolhida no


campo das licenas.

Exitem dois campos na parte inferior da tela do


gerenciador de licenas que mostram todo
contedo das licenas.
O campo no lado inferior esquerdo mostra
os equipamentos cujas licenas esto nos
arquivos, e seus respectivos nmeros de
srie, como mostrado na figura 9.
O

campo inferior direito mostra o


contedo da liena do equipamento
selecionado no campo mostrada na
figura 10. Cada linha representa um
mdulo de teste habilitado para
trabalhar no equipamento selecionado.

:
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CAP 05: Gerenciando os Arquivos de Licena dos Equipamentos

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Parte I: Conceitos e Definies

No campo superior apresentada uma


lista onde escolhida um arquivo de
licena. O arquivo selecionado
combinado com o arquivo de licena
pricipal e novos mdulos de teste podem
ser agregados a licena. Se uma licena
relaciona com um mdulo ou com a
licena inteira j existir, a nova licena ir
sobrepor a antiga.

Figura 9 Equipamentos e nmeros de srie

Nota: O conteudo combinado unidirectional,


isto , somente a combinao de uma arquivo de
licena dentro do arquivo da licena principal
possvel, mas no o contrrio. Entretanto,
dependendo do arquivo de licena selecionado,
este boto e o correspondente item do meno
pode ser desabilitado
Correspondente ao item do menu: Edit |
Delete File

Figura 10 Contedo da licena


3.1.

Deleta o arquivo de licena selecionado.


CUIDADO: Qualquer arquivo de licena
principal pode ser deletada. Uma vez
deletado a licena, ela no poder ser
restaurada da Lixeira do Windows
(Windows Recycle Bin).

Combinando Arquivos de Licena


no Arquivo de Licena Principal
(Master License) campo superior
Correspondente ao item do menu: File |
Open File and Merge

Navega entre a estrutura do folder e


seleciona um arquivo de licena escolhido.
O arquivo selecionado combinado com o
arquivo de licena pricipal <Omicron.lic>.
Entradas de arquivos duplicados para um
mesmo equipamento deve ser evitado,
pois a nova licena ir sobrepor a antiga.
Correspondente ao item do menu: Edit |
Merge File

3.2.

Menu Contextual (boto direito


do mouse)

Em todos os campos, um clique no boto


direito do mouse abre um menu contextual. Os
itens desse menu corresponde a uma barra de
ferramentas e um menu de comandos.

Figura 11 - Menu Contextual

:
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CAP 05: Gerenciando os Arquivos de Licena dos Equipamentos

29

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte I: Conceitos e Definies

3.3.

Escolhendo os dados a serem


mostrados

Ser realizada um cpia do arquivo de


licena para a aplicao padro de e-mail de seu
computador.

Nos dois campos inferiores de listagem so


mostrados dados que podem ser mostrados em
ordem
ascendente
pelo
tipo
de
equipamento,nmero de srie e nome dos
mdulos de software. Para fazer organizar a
amostragem, clique no repectivo item (p. ex.
Device).
3.4.

Seleo
de
visualizao
licenas por verso

das
Figura 13 - Enviando Licena por e-mail para
OMICRON

Iniciando o software Test Universe 2.0,


uma cpia do cdigo da licena introduzida.
Em uma mesma licena pode ser adicionada
diferentes verses da licena do software TU, ou
seja, em uma mesma licena principal (Master
License) esto armazenadas diferentes verses do
software ( p. ex., 1.6 ou 2.0).
Esta mesma licena principal pode ser
usada em diferentes computadores com
diferentes veses de software sem a necessidade
da exportao e uso de diferentes arquivos de
licena principal.
Um combo box apresenta um filtro para as
diferentes verses, mostrada na figura a seguir.

4. CONSIDERAES FINAIS
O usurio deve sempre lembrar que:
O sistema de teste composto por
hardware e software, onde este ltimo
habilitado por uma licena nica. Ou
seja, para operar com um determinado
equipamento necessrio ter a licena
deste equipamento.
O

que determina a quantidade de


equipamentos que um computador ou
notebook pode operar a quantidade de
licenas adicionadas.

As licenas devem ser usadas com as


verses corretas de software. Licenas de
uma determinada verso s podem ser
usadas com o software instalado nesta
mesma verso.
Figura 12 - seleo da verso do software
Pode-se especificar que seja mostrada
todas as licenas de todas as verses ou somente
aquela verso da escolha do usurio.
3.5.

Enviando sua Licena principal


para OMICRON por e-mail

No caso de precisar enviar o arquivo de


licena principal para o suporte tcnico da
OMICRON para anlise, selecione o menu File |
Send Master License File.

Importante: Todos os arquivos de teste


gerados nas verses mais antigas
podero ser utilizados nas verses mais
novas. Os arquivos gerados por verses
mais novas no podero ser utilizados
nas verses anteriores.
Caso o usurio tenha dois equipamentos
com softtware de verses diferentes e
deseje trabalhar com um s computador,
ele deve instalar as duas verses neste
computador. Isso s possvel
particionando-se o HD e instalando dois
sistemas operacionais separados.

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 05: Gerenciando os Arquivos de Licena dos Equipamentos

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SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte II: Sistema Automatizado de Teste

Cap 06 : QuickCMC
Resumo
Este texto mostra passo a passo a
montagem dos procedimentos de teste utilizando
o mdulo de teste QuickCMC. A metodologia
adotada consiste em se realizar um teste da
funo (50/51), demonstrando as caractersticas
do software.

a) Ajuste a tenso para no usada e a


corrente para 3 x 12,5 A, como mostrado
na figura 1. Confirme a seleo clicando
em OK.
b) Clique em Sadas Analgicas;

1. DADOS DO REL
Para efeito didtico propomos um ajuste
de um rel de sobrecorrente (50/51) fictcio.
Lembramos que os procedimentos adotados
podem ser usados para quaisquer testes.
Ajustes do rel
Valor de Pickup
Curva Caracterstica
Dial de Tempo
Pickup Instantneo (I>>)
Tolerncia para Pickup/Dropout

Valores Fase-Neutro
0,36 x Inom ou 1,8 A
Very Inverse (VI)
1
5,5 x Ipickup
5% = 0,9 A

Tabela 1 Dados do rel

2. CONFIGURAO DE HARDWARE
So apresentados os procedimentos para
efetuar a configurao de hardware, ou seja, as
ligaes entre o rel a ser testado e o
equipamento de teste CMC.

Figura 2 Saidas analogicas


c) Defina os nomes para cada sinal de
corrente, adicionando-os na coluna
Etiqueta, por exemplo IA, IB, IC, IN e
Jumpers.
d) O terminal de conexo no rel pode ser
especificado na terceira coluna.
e) Selecione com um clique do mouse,
marcando um X nas colunas para IA, IB,
IC e IN. Assim so especificadas as sadas
analgicas do CMC que so conectadas
com o terminal do rel.
f) Caso uma determinada coluna seja
desmarcada,
o
canal
analgico
correspondente ser desabilitado.
g) Clique em Entradas Binrias/Analgicas

Figura 3 - entradas binarias


Figura 1 detalhes
:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 06: QuickCMC

31

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte II: Sistema Automatizado de Teste

h) Defina a entrada binria 1 como Inicio ,


entrada binria 2 como Disparo, entrada
binria 3 como Disparo L3 e entrada
binria 4 como entr.bin 4. Em Etiqueta
preencher como Inicio, Trip L-L, Trip
L-N e Inst.

tenso, o nvel de trigger para cada


entrada
pode
ser
especificado
separadamente (no caso do CMC256!).

3. TESTE DE VALORES DE PICKUP L-N

i) Selecione com X as respectivas entradas


binrias (conforme ligao)

a) Entre com as correntes 1, 2 e 3 iguais a


zero

j) Defina as entradas binrias de 1 a 4 como


Livre de Potencial atravs da seleo do
check box. Se utilizarmos contatos com

b) No campo Passo/Rampa
Sada , selecione a opo I1

na

opo

Figura 4 Tela de teste QuickCMC


c) No campo Grandeza escolha a opo
Magnitude.

g) Clique no boto On/Off F5 para ligar a


saida de corrente da CMC 256-6

d) No campo Taman preencha o valor


0,020 A (Passo)

h) A fase A de corrente ir aumentar


gradativamente at que a entrada binria
do sinal de trip Incioopere.

e) No campo Tempo entre com o valor de


1,00 s
f) Marque a opo Passo Auto

i) Isso ir acontecer para o valor de corrente


da figura acima (1.8 A). Para anexar este
dado ao relatrio de teste, clique em Add
to report:

:
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CAP 06: QuickCMC

32

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte II: Sistema Automatizado de Teste

c) Isto ir acontecer para o valor de corrente


de 1,720 A, para anexar este dado ao
relatrio de teste, clique em Adicionar ao
Relatrio.
Figura 5 Boto Adicionar ao Relatrio

5. TESTE DA CURVA DE CORRENTE X


TEMPO (L-N)

j) No campo Titulo digite Teste PickUp


Fase-Neutro, insira os comentrios no
campo Comentrio , e em seguida
classifique o resultado do teste como
Aprovado ou Reprovado.

4. TESTE DE VALORES DE DROPOUT L-N

a) A figura a seguir mostra o teste para 2 x


Ipickup.
b) Desmarque as entradas binrias 1 e 2
deixando a caixa com o trigger somente
para o trip fase neutro.

a) Clique na seta abaixo na tela do QuickCMC

c) Clique no boto On/Off F5 para ligar


as correntes de sada da CMC 256

b) A fase A de corrente ir diminuir


gradativamente at que a entrada binria
do sinal de Trip Incio desopere.

d) Clique no boto Segurar Valores para


congelar a sada da CMC na configurao
presente.

Figura 6 Tela de teste QuickCMC


e) Entre agora com o valor de 3,6 A no
campo da fase A

f) Clique novamente no boto Segurar


Valores para descongelar a sada da CMC
e aplicar a nova configurao.

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 06: QuickCMC

33

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte II: Sistema Automatizado de Teste

g) Observe a resposta da entrada binria 3


para o tempo de trip.
h) Para capturar os dados do teste para o
relatrio, clique no boto Adiconar o
Relatrio.
i) Reseteie a corrente para 0 A, e repita o
teste usando 3 X Ipickup (5,4 A) e 4 X
Ipickup (7,2 A)

6. TESTE DE PICKUP INSTANTNEO

Figura 7 - Modos de Ajuste

a) Desmarque a entrada binria 3 e marque a


entrada binria 4 Instantneo)

Para uma rede trifsica teremos


mximo 9 modos de ajuste disponveis:

b) No campo Passo na opo Sada ,


selecione a opo I1
c) No campo Grandeza escolha a opo I1
d) No campo Size preencha o valor 0,05 A
(Passo)
e) No campo Tempo entre com o valor de
1s.
f) Selecione a caixa Auto-Passo
g) Clique no boto On/Off -F5 para ligar a
sada de corrente da CMC 256.
h) Clique na seta acima. O teste ir iniciar at
o trigger parar o teste.
i) Observe o resultado do teste :
o

O Pickup instantaneo 9,9 A

O
tempo
de
operao
instantneo de 0,08 s.

j) Para capturar o dado do teste, clique em


Adicione ao Relatorio

a) Direto (Fase-Neutro) - mostra a entrada de


parametros para VL1E, VL2E, VL3E, IL1,
IL2, IL3, VF, IF, f1, f2, f3, f4, f5, f6.
b) Fase-Fase (simetrica) - mostra a entrada de
parametros para VLL, VN, IL1, IL2, IL3, VF,
IF, f
c) Componentes Simtricras - mostra
a
entrada de parametros V1, V2, V0, I1, I2,
I0,f
d) Potncia (V constante) - mostra a entrada
de parametros paraP, Q, P1, P2, P3, Q1,
Q2, Q3, VL1E, VL2E, VL3E, f
e) Valres de Falta - mostra a entrada de
parametros para VF, IF, Delta Phi, tipo de
falta
f) Z-I const. (impedncia de falta absoluta, se
constante fault impedance absolute, If
constante)
mostra
a
entrada
de
parametros para falta tipo, [Z], Phi, X, R, If
g) Z-V const. (Impedncia de falta absoluta,
Vf constante) mostra a entrada de
parametros para falta tipo, [Z], Phi, X, R, Vf
h) Z%-I const. (Impedncia de falta relativa, If
constante)
mostra
a
entrada
de
parametros para falta tipo, Z%, Phi(Z), If
Ref. Z comp.linha, todas zonas, Z1-Zx),
Ref. Phi (constante relativa)

7. VISUALIZAO DO TESTE
7.1.

no

Sadas Analgicas

Na combo box Modos de Ajuste feita a


seleo de acordo com sua escolha.
:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 06: QuickCMC

34

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte II: Sistema Automatizado de Teste

i) Z%-V const. (Impedncia de falta relativa,


Vf constante) mostra
a
entrada
de
parametros para falta tipo, Z%, Phi(Z), Vf
Ref. Z (comp. linha, todas zonas, Z1-Zx),
ref. Phi (constante, relativa)
7.2.

Boto Liga/Desliga

Desligar no trigger para a rampa


automtica quando o trigger ocorre e desliga as
sadas da CMC.
O Atraso posterga o desligamento aps o
trigger e desliga as sadas da CMC. O Atraso
simula uma pausa mecnica aps o trigger no
teste do rel.
Nota: O Atraso est disponvel mesmo quando
o Desligar no trigger no estiver ativo, pois o
atraso tambm determina o tempo no qual a
medida permance ativa.
O grfico e a tabela a seguir mostram o
comportamento para diferentes aplicaes do
boto Desligar no Trigger.

Figura 8 - Liga ou Desliga a sada analgica


7.3.

Desligar no Trigger

Figura 9 Desligar Trigger


Pode desligar as fontes de tenso e
corrente
de
duas
maneira:
Ambas
imediatamente ou com um tempo de atraso
especificado.

Figura 10 Desligar o Trigger

Modo Padro
1. Desligar no Trigger - Marcado
Delay - 0 seg

Procedimento
Trigger - Imediato

2. Desligar no Trigger - Marcado


Delay = 5 seg

Trigger - A rampa parada e o sinal


mantido por 5 segs. O evento somente
mostrado no final do tempo (atraso). No
caso de mudanas de UI quando utilizamos
o "atraso", o atraso completamente
repetido e o trigger mostrado no final.

3. Desligar no Trigger - Desmarcado


Delay - 0 seg

Trigger - A rampa para imediatamente e


mantem a sada at o ultimo passo.
O evento somente mostrado aps
o tempo de atraso.

Tabela 1 Modos de Trigger

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 06: QuickCMC

35

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DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte II: Sistema Automatizado de Teste

3. Terceira Coluna: A ativao da entrada


binria ser considerada para o trigger.
Neste caso, a funo do trigger pode ser
de parar a janela de medida de tempo,
para a rampa ou de ativar o "Ligar no
Trigger". Ela tambm mostra o tempo das
entradas entre uma mudana no sinal de
entrada e um trigger.

Nota: Se nenhuma entrada binria / Trigger for


selecionada quando o QuickCMC desligar no
trigger (mesmo se essa opo for selecionada),
mas mantem os valores de sada e medida de
tempo at que o boto OFF for pressionado.
Desligar no Trigger e Atraso somente para leitura
assun qye a sada ON for clicada.
7.4.

Entradas Analgicas

4. Quarta Coluna: Slope da entrada binria


no trigger (Para Cima/Para Baixo)

Na caixa Entradas Analgicas, os valores


das entradas DC para Tenso (VDC) e Corrente
(IDC) so mostrados.
No relatrio para o passo do teste, os
valores para as entradas DC no instante do
trigger so mostrados. Se no acontece o trigger,
voce pode adicionar o valor de qualquer tempo.

5. Quinta Coluna: Tempo entre a partida da


sada e a partida do ultimo step da rampa.

Figura 11 Entradas Analgicas


Nota : O nome da entrada analgica assinalado
na Configurao de Hardware mostrado na tela
de teste.
7.5.

Figura 12 - Entradas Binrias

Entradas Binrias

O "LED" do monitor de entrada binria


mostra o estado do sinal de corrente de entrada.
O slope do sinal (subida ou descida)
mostrado, e o tempo passado entre momento
que a sada ligada e a mudana de estado da
entrada binria mostrado.
No somente o tempo de trigger pode ser
medido mas tambem o tempo entre o trigger at
o tempo de atraso ter passado mostrado.
Os nomes mostrados definido na
Configurao de Hardware so mostrados na
interface do usurio.
O tempo pode ser mostrado como
segundos ou ciclos de acordo com o usurio.

Os tempos so sempre mostrados se as


entradas binrias so habilitadas na Configurao
de Hardware. Uma vez que as cindies de
trigger so reunidas, outras medidas so feitas
at transcorrer o tempo de atraso.
No Pulse Ramp, no caso do trigger estar
dentro do tempo de reset, o tempo medido da
partida do estado de falta.
Algumas aplicaes usam as novas
funcionalidades das entradas binrias.
7.6.

1. Primeira Coluna: Nome definido pelo


usurio para a entrada binria.
2. Segunda Coluna: Status da entrada binria

Verificao do Tempo de Trip


Verifica o tempo de pick-up e Trip com um
disparo.
Verifica o tempo de pick-up e Trip com
uma rampa normal
Verifica o "threshold" com o Pulse Ramp

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 06: QuickCMC

36

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Parte II: Sistema Automatizado de Teste

7.7.

Sadas Binrias

O dispositivo ajustado para 0 com a


caixa de verificao em branco, e ajustada para
1 com a caixa marcada.

As sadas binrias so controladas pelo


boto Liga/Desliga
O nomes mostrados definidos na
Configurao de Hardware so agora refletidos
na interface do usurio.

8. CONCLUSES
O
QuickCMC

uma
ferramenta
extremamente til para as mais diversas
aplicaes, pois tem-se o perfeito controle de
todas as entradas e sadas da mala de teste.
Sua utilizao ser determinada pelo
usurio segundo sua necessidade.

Figura 13 Sadas Binrias

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 06: QuickCMC

37

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Cap 07 : Ramping
Resumo
Este texto mostra passo a passo a
montagem dos procedimentos de teste utilizando
o mdulo de teste Ramping. A metodologia
adotada consiste em se realizar um teste da
funo (50/51), demonstrando as caractersticas
do software.

1. DADOS DO REL
utilizado como exemplo o mesmo rel
do captulo anterior.

2. TESTE DE PICKUP
INSTANTNEO

DROPOUT

2.1. No modulo Ramping Vista do Teste,


mostrado na figura 1, defina quatro rampas
consecutivas
clicando
no
cone
correspondente Quatro Rampas de Teste
2.2. Selecione IA no menu drop-down Sinal.
2.3. Selecione Amplitude no menu drop-down
Funo.
2.4. Use a toolbar de navegao para mudar de
estado.

Figura 1 toolbar para navegao

Figura 2 configurao das rampas


2.5. Entre com os dados para a avaliao
conforme mostrado a seguir.

Figura 3 Configurao dos valores nominais e tolerncias


:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 07: Ramping

38

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Parte II: Sistema Automatizado de Teste

2.6. Escolha a opo Geral na Vista de Teste e


entre com o nmero de repeties que voc
deseja. Se optar por 0x o teste ser
executado uma nica vez.

2.7. Selecione Estado 1 Sinal 1 no campo Clculo


de Relao. O Clculo de Relao
automaticamente ir calcular o pickup e o
dropout do rel.

Figura 4 Tela Geral


2.8. Todos os valores estticos durante a sada
da rampa so definidos no Sadas
Analgicas na Vista de Detalhe. Os valores
da rampa so mostrados com fundo cinza;
os valores estticos so mostrados em
fundo branco ou amarelo. Voc pode editar
os valores estticos manualmente.

2.9. Para o estado 1 entre com IA =1,6 A, como


mostrado acima.
2.10.Para o estado 2 entre com IA = 2 A
2.11.Para o estado 3 entre com IA = 0 A
2.12.Para o estado 4 entre com IA = 9 A
2.13. necessrio informar os contatos que iro
operar para o pickup e para o dropout do
rel. No exemplo acima, o contato de
partida conectado na entrada binria 1 e
chamado de partida.
2.14.Selecione a opo Trigger na Vista de
Detalhe
2.15.Habilite
as
condies
de
trigger
selecionando Condio Trigger bin. As
condies de trigger so definidas
individualmente para cada estado da
rampa.

Figura 5 Sadas Analgicas


:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 07: Ramping

39

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Parte II: Sistema Automatizado de Teste

2.16.Durante o estado 1, o contato de partida ir


fechar (passando do estado 0 para o estado
1). Conseqentemente, a condio de
trigger deve ser ajustada para Partida = 1
para o estado 1.

2.18.Na opo Passo atrs, se designarmos um


valor
para Tempo retardo, assim que
ocorrer o pick-up do rel, a rampa ir parar
e manter aplicado o valor esttico
correspondente ao pick-up, durante o
intervalo de tempo ajustado em Tempo
retardo, conforme mostrado na figura 6.

Figura 5 Parar rampa ativado com ajuste de


Tempo retardo.
2.19.A opo Passo atrs habilita a sub-rampa
para ser executada sendo possvel uma
maior preciso em ensaios de pickup.

Figura 4 Trigger
2.17.No campo Trigger ativado selecione a opo
Parar rampa. Desta forma, a rampa ser
parada aps a condio de trigger
acontecer, acelerando o teste.

Figura 6 Atuao do Passo atrs


2.20.Ajuste a condio de trigger Partida = 0
para o estado 2
2.21.Para o estado 3 no selecione nenhum
trigger

Figura 5 Parar rampa ativado


:
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CAP 07: Ramping

40

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Parte II: Sistema Automatizado de Teste

2.22.Ajuste a condio de trigger Inst = 0 e


Start = X para o estado 4. Marque a caixa
de verificao stop ramp State para os
estados 2 e 4, deixando-os sem delay time.

3. CONCLUSES

Essa ferramenta, alm de possibilitar a


medida de tempos de atuao do sistema,
adequada para a obteno dos valores de
amplitude (pickup, dropout, etc.) do sistema de
proteo testado.

:
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CAP 07: Ramping

41

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Cap 08 : State Sequencer


Resumo
Este texto mostra passo a passo a
montagem dos procedimentos de teste utilizando
o mdulo de teste State Sequencer. A
metodologia adotada consiste em se realizar um
teste da funo (50/51), demonstrando as
caractersticas do software.

1. O SEQUENCIADOR DE ESTADOS
O State Sequencer um seqenciador de
estados utilizado para construir qualquer tipo de
falta (evolutiva, religamento, etc.) ou perturbao
(abertura de uma fase, perda de potencial, etc.) e
provar o rel sob estas condies.
Durante a execuo do teste todas as
mudanas das entradas do equipamento devem
so monitoradas. Dispe de oscilografia e
diagramas vetoriais para uma anlise mais
detalhada da prova, com capacidade de at 100
estados.

Caso a configurao j tenha sido feita em


um teste anterior e exportada como arquivo
OHC, pode-se usa-lo novamente usando a funo
Importar, mostrada na figura 01.

Figura 01 Importar e Exportar configurao de


hardware

4. TESTE DE PICKUP E DROPOUT


a) Ajuste a corrente da fase A para 1,6 A.
b) Escolha a opo Trigger em Vista de
Detalhes

2. DADOS DO REL
Para efeito didtico propomos um ajuste
de um rel de sobrecorrente (50/51) fictcio.
Lembramos que os procedimentos adotados
podem ser usados para quaisquer testes.
Ajustes do rel
Valor de Pickup
Curva Caracterstica
Dial de Tempo
Pickup Instantneo (I>>)
Tolerncia para Pickup/Dropout

Valores Fase-Neutro
0,36 x Inom ou 1,8 A
Very Inverse (VI)
1
5,5 x Ipickup
5% = 0,9 A

Tabela 1 Dados do rel

3. CONFIGURAO DE HARDWARE
Os procedimentos para efetuar a
configurao de hardware so os mesmos
apresentados no captulo 05, item 2Configurao de Hardware.

Figura 2 Condies de trigger


c) Em Condio Trigger Bin. selecione a
logica 1 para a condio de trigger
PARTIDA

:
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CAP 08: State Sequencer

42

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DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte II: Sistema Automatizado de Teste

d) Clique no cone Novo Estado ou selecione


Editar | Inserir estado... . Sera copiado o
estado 1 com todos seus ajustes para o
estado 2.

m) Ajuste todas correntes em zero e o tempo


para 1s.
n) Desmarque a caixa Condio Trigger Bin.,
deixando somente Tempo mx. do estado
ativo.
o) So
montados
os
estados
cujas
caractersticas so resumidas na Tabela 2.
Estado
1
2
3
4
5
6
7
8

Figura 3 Boto Novo Estado

Fase A
1,6 A
1,7 A
1,8 A
1,9 A
1,8 A
1,7 A
1,6 A
0A

Fase B
0,0 A
0,0 A
0,0 A
0,0 A
0,0 A
0,0 A
0,0 A
0,0 A

Fase C
0,0 A
0,0 A
0,0 A
0,0 A
0,0 A
0,0 A
0,0 A
0,0 A

Trigger
Start = 1
Start = 1
Start = 1
Start = 1
Start = 0
Start = 0
Start = 0
Nenhum

Tabela 2 Condies de trigger


p) Selecione a opo Ativar visualizao de
medida, mostrada na figura 5 a seguir.

Figura 5 Opo Ativar visualizao de medida

Figura 4 Boto Novo Estado

q) Na primeira linha da Visualizao de


Medidas.

e) Edite o tempo do estado 2 para 0,2 s


f) Incremente os valores de corrente de 0,1 A
para IA mantendo IB e IC iguais a zero.
g) Repita os itens d a f e incremente os
valores de corrente da fase A at 1,9 A
h) Clique em Novo Estado ou selecione Editar
| Inserir estado... para criar o estado 5
i) Decresa o valor de corrente de 0,1 A para
a fase A
j) Mude a lgica de trigger PARTIDA para
lgica 0 .

p1) Na primeira coluna, entre com o


nome para o teste L-L PUV.
p2) Na segunda coluna, Ignorar antes,
ajuste para Estado 2. Isto significa
que todos os estados antes desta
referncia sero ignorados.
p3) Na coluna Iniciar deve ser ajustado
para Estado 2. Isto indica o primeiro
estado onde a corrente muda e o rel
da trip.

k) Repita os itens h e j at a corrente IA for


igual a 2,0 A.

p4) Na coluna Parar o ajuste para Partida


0>1. Isto indica que a entrada binria
Partida passa do estado lgico 0
para o estado lgico 1.

l) Clique em Novo Estado ou selecione Editar


| Inserir estado... para criar o estado 8

p5) Tnom ajustado para 0,400 s

:
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CAP 08: State Sequencer

43

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Parte II: Sistema Automatizado de Teste

Figura 6 Leitura de Tempos vista de medidas

5. LEVANTAMENTO
DA
CORRENTE x TEMPO

CURVA

a) Os procedimentos para realizao do teste


so os mesmos aplicados a determinao
de Pickup.

State

Fase A

Pre falta 2 x L-N


2 x PUV L-N
Pre falta 3x L-N
3 x PUV L-N
Pre falta 4 x L-N
4 x PUV L-N
Dead state

0,0 A
3,6 A
0A
5,4 A
0A
7,2 A
0A

Fase B
0,0
0,0
0,0
0,0
0,0
0,0
0,0

A
A
A
A
A
A
A

Fase C
0,0
0,0
0,0
0,0
0,0
0,0
0,0

A
A
A
A
A
A
A

Trigger
Trip L-N =X
Trip L-N =1
Trip L-N =X
Trip L-N =1
Trip L-N =X
Trip L-N =1
Nenhum

Tabela 3 Dados de teste

b) So
montados
os
estados
cujas
caractersticas so resumidas na Tabela 3.

Figura 3 Leitura de Tempos vista de medidas tempo-corrente


Inst L-N #1
Inst L-N #1

6. TESTE DE PICKUP INSTANTNEO

9,9 A
10 A

0,0 A
0,0 A

0,0 A
0,0 A

Inst = 1
Inst = 1

Tabela 3 Pickup Instantneo

a) Os procedimentos para realizao do teste


so os mesmos aplicados a determinao
de Pickup.
b) So
montados
os
estados
cujas
caractersticas so resumidas na Tabela 2.
State
Inst L-N #1
Inst L-N #1

Fase A
9,7 A
9,8 A

Fase B
0,0 A
0,0 A

Fase C
0,0 A
0,0 A

Trigger
Inst = 1
Inst = 1

Figura 4 Leitura de Tempos vista de medidas


pickup instantneo

:
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CAP 08: State Sequencer

44

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Parte II: Sistema Automatizado de Teste

7. CONCLUSES
O seqenciador de estados OMICRON a
ferramenta ideal para a medida de tempo entre
dois estados. Entretanto pode ser utilizada no
manuseio de diversas condies de teste onde a
variao das grandezas aplicadas ao rel seja
necessria.

Desde a simples determinao de uma


curva tempo-corrente, at sua utilizao em
ensaios mais elaborados, como o Ponta a Ponta,
o State Sequencer mostra-se de fcil manuseio,
promovendo a repetibilidade dos eventos e
determinao dos tempos de atuao do sistema
de proteo.

:
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CAP 08: State Sequencer

45

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Cap 09 : Overcurrent
Resumo

Nome e endereo da subestao onde o


elemento esta localizado.

Este captulo aborda passo a passo a


montagem dos procedimentos de teste da
funo sobrecorrente. (50/51), utilizando o
mdulo de teste Overcurrent. So destacados
todas os itens de parametrizao do teste,
mostrando as opes de configurao.

1. PARMETROS DA
SOBRECORRENTE

PROTEO

DE

Iniciando o primeiro passo da Lei de OHM


descrita no captulo 3 acessando o cone
Parmetros do equipamento em teste, conforme
mostra a figura 1.

1.3.

Entre com o endereo e o nome do bay


onde o elemento esta localizado
1.4.

So apresentados passo a passo os itens


da tela Ajuste do Dispositivo.
Esta uma tela de registro geral dos dados
do ensaio, como as informaes do rel, de sua
localizao e classificao, da funo a ser
testada, dentre outros. Tambm so ajustados os
valores de tenses e correntes do sistema.
importante ressaltar que esta tela, de uso
geral, sempre estar presente nos outros
mdulos de software.
1.1.

Entrada de dados do elemento protegido


1.2.

Tenso Residual/Fator de Corrente

Esses parmetros somente so relevantes


se o rel tem transformadores de potencial /
corrente separados para a tenso / corrente
residual (para o aumento da sensibilidade).
A
relao
desses
transformadores
separados
em
relao

relao
dos
transformadores das fases expressa com um
fator que ser ajustado aqui.
O ajuste padro :

VLN 1,732
=
VN
3

(1)

como a tenso de fase forma a tenso residual na


conexo delta aberto, e

IN

Dispositivo

Valores Nominais

Entre com os valores nominais (tenso,


corrente, freqncia, corrente primria e tenso
primria e numero de fases)
Para o teste de rels convencionais, a
corrente nominal (1 ou 5 A) deve ser ajustada
aqui.
1.5.

Figura 1 - Parmetros do equipamento em teste localizao

Bay

I nom

=1

(2)

Esses fatores so suportados pelos


mdulos de Distancia e Distancia Avanado.

Subestao

:
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CAP 09: Overcurrent

46

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Parte II: Sistema Automatizado de Teste

Figura 1 Ajustes do dispositivo


1.6.

Limites

1.7.

Neste item so ajustados os mximos


valores de tenso e corrente que o dispositivo de
teste capaz de fornecer (mximos valores
possveis so determinados pela configurao de
hardware ajustada pelo usurio).

1.. Sinal antes do filtro

Filtros Debounce/Deglitch

Entre com os tempos de Debounce e


Deglitch para o Teste Object nestes campos. Esses
valores so usados onde os sinais do algoritmo
de suavizao so implementados.

2.. Sinal aps o filtro

Figura 2 Debounce ou Deglich time


:
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CAP 09: Overcurrent

47

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DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte II: Sistema Automatizado de Teste

2. PROTECTION DEVICE
2.1.

Tolerncia de Corrente

A tolerncia da corrente definida como


tolerncia absoluta e relativa.
A tolerncia de corrente relativa
definida em % da corrente de pickup nominal, e
a tolerncia de corrente absoluta definida em
I/In.
Para cada ponto a ser testado, o mdulo
de teste selecionar o maior de dois intervalos
para ser a tolerncia valida. A tolerncia de
corrente tem influencia na avaliao do teste no
caso de pontos de testes que esto dentro das
bordas da regio de trip ( ITOL).
2.2.

Avaliao
do
sobrecorrente

teste

de

Para avaliao do teste, o software


compara cada ponto do tempo de operao de
resposta do rel durante o teste (tempo atual)
com o tempo de operao nominal.
Se o tempo de operao atual esta
dentro do tempo especificado de tolerncia, o
ponto avaliado como Aprovado caso contrrio
como Reprovado.
Para pontos que esto dentro das regies
das bordas de trip (dentro da faixa de +ITOL e ITOL), a faixa de tempo de operao permitida
menor ou maior que o tempo permitido para
ambos intervalos, como mostrado a seguir.
A mesma influncia da tolerncia de
corrente no intervalo de tempo resultante,
aplicado ao ponto onde a caracterstica tende ao
infinito.

Figura 3 Tolerncias de Zona

Pontos fora da faixa ou out of range, ou


pontos que esto fora da faixa de tempo, so
considerados Aprovados, para permitir a
avaliao automtica do teste.
Se alguns pontos no puderem ser
testados por alguma razo, o software adiciona a
mensagem correspondente no relatrio.
O software considera o conjunto de
testes como aprovado se todos pontos forem
avaliados com aprovados.
Para efeito da avaliao automtica do
teste e uma rpida avaliao visual aps a
realizao do teste, o software utiliza cones,
apresentados a seguir.

Figura 4 Simbologia da avaliao automtica


2.3.

Tolerncia de Tempo

As tolerncias de tempo so definidas


como tolerncias absolutas e relativas.
A tolerncia de tempo relativa definida
em % do tempo de trip nominal.
O intervalo de tempo resultante definido
pelo tempo de trip nominal menos uma
percentagem e pelo tempo de trip nominal mais
a percentagem definida.
A tolerncia de tempo absoluta definida
em segundos.
Para a avaliao do teste, o software
selecionar o maior de dois intervalos de tempo.
Na borda da regio de trip, o intervalo de tempo
combinado valido.
Quando os pontos de teste so ajustados,
As faixas de tempo permitidas so desenhadas
como linhas verticais no diagrama I / t para cada
ponto.

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 09: Overcurrent

48

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte II: Sistema Automatizado de Teste

Para faltas monofsicas (no exemplo


mostrado na figura 5 - falta A-N), a corrente de
teste ITEST aplicada na fase faltosa (no exemplo
IA). As outras duas correntes so ajustadas para a
corrente de carga com 120 graus de defasagem.
A tenso para a fase faltosa igual
tenso de falta selecionada. As outras duas fases
so ajustadas para valores nominais, com 120
graus de defasagem.
Os valores mostrados sero considerados
pelo dispositivo de teste.
VA = Tenso de falta 0
VB = Tenso Nominal -120
VC = Tenso Nominal 120
IA = ITEST j
IB = Corrente de carga -120 + j
IC = Corrente de carga 120 + j

Figura 4 Avaliao pelas tolerncias


2.4.

Seleo do Grupo de Falta

Os parmetros correspondentes do grupo


de falta so mostrados dependendo qual grupo
selecionado.
Esses grupos podem ser editados na caixa
Fault Group Parameters.
Existem quatro grupos de faltas disponveis
no software :

Line Neutral
Define os parametros para
monofsicas (A-N, B-N, C-N)

falhas
Figura 5 Falta Monofsica

Line Line
Define os parametros para falhas bifsicas
(A-B, B-C, C-A) e falhas trifsicas.

Negative Sequence
Define os parametros para faltas de
sequencia negativa (I2).

Zero Sequence
Define os parametros para faltas de
sequencia zero (I0).

Para cada grupo de faltas, os parmetros dos


grupos precisam ser preenchidos separadamente.

FALTAS BIFSICAS
Para falhas bifsicas (no exemplo falta BC), a corrente de teste ITEST aplicada das duas
correntes das fases afetadas ( no exemplo IB e IC )
com 180 graus de defasagem.
As tenses formam um sistema
balanceado e so ajustadas para valores
nominais. O arranjo dos vetores mostrado no
exemplo a seguir.
Os valores mostrados sero considerados
pelo dispositivo de teste:

2.4.1. Modelos de Falta


FALTAS MONOFSICAS

VA = Tenso de falta 0
VB = Tenso Nominal -120
VC = Tenso Nominal 120
IA = 0
IB = ITEST -90 + j
IC = ITEST 90 + j

:
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CAP 09: Overcurrent

49

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte II: Sistema Automatizado de Teste

com 120 graus de defasagem entre elas. As


correntes IB e IC so trocadas, de forma que
aparea a corrente de seqncia negativa.
Todas tenses tm tenses iguais
tenso de falta com 120 graus de defasagem. As
defasagnes dos fasores VB e VC so trocadas, de
forma que esteja configurada a seqncia
negativa.

Figura 6 Falta Bifsica


FALTAS TRIFSICAS
Para faltas trifsicas, a corrente de teste
ITEST aplicada em todas fases, com 120 graus de
defasagem entre elas.
As tenses so iguais a tenso de falta
selecionada.

Figura 8 Seqncia Negativa


Os valores mostrados sero considerados
pelo dispositivo de teste.
VA = Tenso de falta 0
VB = Tenso Nominal 120
VC = Tenso Nominal -120
IA = ITEST j
IB = ITEST 120 + j
IC = ITEST -120 + j
SEQNCIA ZERO

Figura 7 Falta Trifsica


Os valores mostrados sero considerados
pelo dispositivo de teste.
VA = Tenso de falta 0
VB = Tenso Nominal -120
VC = Tenso Nominal 120
IA = ITEST j
IB = Corrente de carga -120 + j
IC = Corrente de carga 120 + j

Para as faltas de seqncia zero, a


corrente de teste ITEST aplicada em todas fases,
com 0 graus de defasagem. As correntes esto
em fase com as outras. Desta forma, a corrente
de seqncia zero aparece igual a ITEST
selecionado.
As tenses so iguais as tenses de falta,
com 0 graus de defasagem, as tenses esto em
fase com as outras. Desta forma, a tenso de
seqncia zero aparece, igual a tenso da falta
selecionada.
Os valores mostrados sero considerados
pelo dispositivo de teste:

SEQNCIA NEGATIVA
Para falta de seqncia negativa, a
corrente de teste ITEST aplicada em todas as fases

VA = Tenso de falta 0
VB = Tenso de falta 0
VC = Tenso de falta 0
IA = Itest/3 j

:
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CAP 09: Overcurrent

50

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DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte II: Sistema Automatizado de Teste

O ltimo estado da falta at a condio de


trigger ser encontrada ou o mximo tempo de
falta ter transcorrido.
O estado de ps-falta projetado para
permitir o reset do objeto testado. Durante o
estado de ps-falta, existem duas possibilidades:

IB = Itest/3 j
IC = Itest/3 j

Figura 9 Seqncia Zero

2.5.

Comportamento Direcional

Este ajuste influencia a tenso de sada. Se


este parmetro ajustado para :

Direcional: Tenses sero consideradas


segundo o tipo de falta selecionada e o
estado da corrente na seqncia de shot.

No-Direcional: Nenhuma tenso de sada


aparecer

cada uma das tenses nominais no sistema


balanceado com corrente zero, ou
ambas tenses e correntes sero ajustadas
para 0.

Isto pode ser ajustado com o parmetro


Conexo TP na tela de parametrizao.A durao
do estado de ps-falta pode ser ajustada atuando
do Delay Time.
2.6.

Conexo Ponto de Neutro TC

A conexo dos TCs somente relevante


para rels de sobrecorrente direcionais. Isto
influencia a defasagem entre as correntes e
tenses.
Se este parmetro ajustado para:

A seqncia de shot consiste em pr-falta,


falta e ps-falta. O detalhamento de cada estado
de teste, ou a transio de um estado par o
prximo mostrado abaixo.

Em direo linha, A corrente possui uma


defasagem em relao a tenso ajustada
pelo parmetro ngulo (I) na caixa direo
na pgina de parametrizao da Falta.

Em direo barra, A corrente tem uma


defasagem da tenso A corrente possui
uma defasagem em relao a tenso de
um angulo (I) + 180 graus.

Figura 9 Comportamento de Falta


Durante o estado de pr-falta, todas
tenses so ajustadas para o sistema balanceado,
com magnitude igual tenso nominal, e Ajuste
de VA igual a 0 graus.
A durao do estado de pr-falta pode ser
ajustado no Tempo de Pr-falta; se for ajustado
para zero, nenhum estado de pr-falta
considerado.
Durante o estado de falta, as correntes e
tenses so consideradas de acordo com o ajuste
do tipo de falta ou a aplicao do modelo de
falta (item 2.4) (L-N, L-L,L-L-L, I2, I0).

Figura 10 - Exemplo de Conexo: Conexo Ponto


de Neutro TC em direo a barra

:
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51

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DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte II: Sistema Automatizado de Teste

Figura 11 Dispositivo de proteo


2.7.

Parmetros I/t do Grupo de Falta


Selecionado

Nesta caixa, os parmetros do grupo de


falta selecionados podem ser ajustados. Para
mostrar ou editar os parmetros de diferentes
grupos de falta, o grupo de falta necessita ser
selecionado na caixa de seleo do grupo de
falta.
Cada regio de trip (I>, I>>, I>>>) pode
ser ativada ou desativada pela marcao ou no
do checkbox .
Como padro, as regies I> e I>> so
ativadas e a regio I>>> desativada.
O tempo de trip para as regies de trip
(I>, I>>, I>>>) pode ser ajustados.
Para a regio de trip I> o ajuste de tempo
tambm representado.
O tempo de trip em segundos para a
caracterstica de tempo definido ou o index da
curva de tempo (dial de tempo) usados para o
teste da caracterstica de tempo inverso.

3. DEFINIO DA CARACTERSTICA
Os elementos desta caixa dependem do
ajuste do grupo de falta e do tipo da
caracteristica.
Como padro associada a caracteristica
de tempo inversa.
O nome do grupo de falta mostrado na
parte superior esquerda desta caixa.
Se desejar mudar o grupo de falta,
necessrio mudar para a pgina de parmetros
de sobrecorrente.
3.1.

Definio
Caracterstica

da

Equao

Pode-se escolher dentre das seguintes


opes para definir a equao caracterstica:

Figura 12 Opes para Equao Caracterstica


:
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Parte II: Sistema Automatizado de Teste

Copiar - Pressione este boto para abrir um


dialogo, onde a caracterstica de diferentes
grupos de falta pode ser copiada para o grupo de
falta selecionado.

Basta acesssar o boto Novo para abrir


uma janela e escolher a nova caracterstica,
conforme mostra a figura 13.

Novo - Pressione este boto para abrir uma nova


caixa de dialogo, onde a nova caracterstica pode
ser criada para o grupo de falta corrente
selecionado.
Pr-definido - Pressione este boto para abrir
uma caixa de dialogo, onde uma caracterstica
predefinida pode ser escolhida para o grupo de
falta corrente selecionado. O mdulo de teste de
sobrecorrente tem quatro caractersticas prdefinidas :

Definite Time
IEC Normal Inverse
IEC Very Inverse
IEC Extremely Inverse

Figura 13 Nova caracterstica

Essas caractersticas no podem ser


modificadas. Tambm, a caracterstica pode ser
definida pelo usurio.
As caractersticas predefinidas IEC seguem
as equaes IEEE standart.
A tabela a seguir mostra os parmetros
usados.
A
B
P
Q K1
0.14 0.0 0.02 1
0
IEC Very Inverse
13.5 0.0 1.0 1
0
IEC Extremely Inverse
80.0 0.0 2.0 1
0
Tabela 1 Parmetros das curvas

Caracterstica

IEC Normal Inverse

Para os fatores dos rels de uma planta,


favor consultar o manual do rel ou pergunte ao
fabricante do mesmo.
Aps a escolha na tela mostrada na figura
13, basta preencher os valores dos fatores das
equaes, conforme mostrado nas figuras 14 e
15.

K2
0
0
0

Importar - Pressione este boto para abrir uma


caixa de dialogo, onde a caracterstica pode ser
importa de um arquivo DCC.
3.2.

Figura 14 Termos da Equao Caracterstica


IEEE extendida

Termos da Equao Caracterstica

Estes sos os fatores das equaes para a


definio de cada uma das caractersticas inversas
na equao IEEE entendida (fatores A, B, P, Q, K1
e K2) ou da caracterstica IT (fatores A, Q, P)
representando a equao IEEE padro.
Estes fatores so necessrios para ajustar a
caracterstica de acordo com a especificao do
fabricante.
Figura 15 Termos da Equao Caracterstica
IEEE padro
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Parte II: Sistema Automatizado de Teste

3.3.

ndice de tempo (Time Index)

5. FALTA

O ndice de tempo mostrado. Para


muda-lo, v para a pagina de parmetros de
sobrecorrente e mude o valor na coluna de
tempo da regio de trip I>.

4. PARAMETRIZAO DO TESTE
4.1.

Tipo de Falta

Clicando em uma destas opes


selecione o tipo de falta. O ajusta para o tipo de
falta um ajuste de teste geral e, portanto vlido
para todos os pontos definidos na tabela abaixo.
De acordo com o ajuste do tipo de falta, o
modelo de falta apropriado usado para o
calculo dos valores de teste. Modelos de falta
para falhas monofsicas, bifsicas, trifsicas,
falhas com seqncia negativa e seqncia zero
esto disponveis.
4.2.

5.1.

Ajustes de Falta

5.1.1. Tempo Mximo Absoluto e Tempo


Mximo Relativo
A mxima durao da falta pode ser
ajustada com sendo um valor absoluto em
Tempo max, ou como um valor relativo em
percentual do mximo tempo de trip em Tmax
realtivo.

Corrente de Teste - ITEST

A corrente de teste ITEST para um ponto


de teste simples pode ser especificada aqui pela
entrada do valor desejado.
Clicando o boto esquerdo do mouse no
diagrama da caracterstica de sobrecorrente o
valor correspondente transferido para este
campo. O ponto de teste pode ser adicionado
pressionando o boto Adiconar. O valor pode ser
especificado em MTS ou em Corrente absoluta
(Veja Vista/Correntes Absolutas).
Figura 17 Configuraes de Falta

Figura 16 Correntes Absolutas


Para adicionar um ponto de teste clique
o boto esquerdo do mouse no diagrama de
sobrecorrente pressionando a tecla Ctrl.

O mximo tempo de trip ajustado na


caixa Tolerncia de Tempo na tela de
parametrizao de sobrecorrente, Dispositivo de
Proteo. Ver item 2.3.
O
ajuste
percentual
dever
ser
adicionado ao mximo tempo de trip (P.ex. o
valor de 10% resultar em um mximo tempo de
falta de 1,10 x Tmax).
O sistema sempre utiliza a menor dos
dois valores de tempo. O sistema permite o teste
atravs de uma larga faixa de corrente e tempo
de operao sem danificar o rel.

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Parte II: Sistema Automatizado de Teste

5.1.2. Corrente de Carga

6. GERAL

Esta corrente ser considerada para


todas fases durante o estado de pr-falta na
seqncia de shot.
Durante o estado de falta esta corrente
somente ser considerada para as fases sem falta
para faltas monofsicas.

6.1.

5.2.

Ajustes Adicionais

5.2.1. Tempo de Pr-Falta

Teste de Pick up

Na tela de parmetros gerais, o teste de


pickup pode ser ativado. Se o teste de pickup
habilitado, ele ser executado antes do primeiro
ponto da tabela de teste. O teste de pickup
projetado para determinar os limites de operao
do objeto sob teste. Em passos, a corrente
aumentada/diminuda. Em cada passo, o valor
considerado corresponde ao tipo de falta
selecionado.

Durante o estado de pr-falta, todas


tenses so ajustadas para o sistema balanceado,
com magnitude igual tenso nominal, e ajuste
de VA em 0 graus.
A durao do estado de pr-falta pode ser
ajustada em T de pr-falta; se este ajuste for 0, o
estado de pr-falta no considerado.

5.2.2. Tempo de Atraso


O estado de ps-falta projetado para
permitir o reset do objeto testado. Durante o
estado de ps-falta, existem duas possibilidades:

cada uma das tenses nominais no sistema


balanceado com corrente zero, ou
ambas tenses e correntes sero ajustadas
para 0.

Isto pode ser ajustado com o parmetro


Conexo do TP na tela de parametrizao.
A durao do estado de ps-falta pode
ser ajustada no item Tempo de Atraso.
5.3.

Direo

5.3.1. Tenso de
Nominal

Falta,

ngulo,

Tenso

Como a tenso de falta ser usada para


formar a tenso de fase de falta, depende do
modelo de falta correspondente. O angulo (I) o
angulo entre as tenses e correntes no estado de
falta. Com a tenso nominal tambm usada
para o calculo da falta, ela mostrada aqui.

Figura 18 Configuraes de Falta - GERAL


A tenso, se habilitada, ser tambm
considerada de acordo com o ajuste da tenso de
falta.
Se a pr-falta selecionada, o programa
ir aplicar os valores de pr-falta durante o
tempo de pr-falta, para que o rel seja
preparado para o teste.
Para a avaliao automtica, o teste ser
sempre considerado como aprovado.
Entretanto, se o teste de Pickup/Dropout
o nico teste selecionado no modulo, ento o
teste somente ser aprovado se os valores de
pickup e dropout forem encontrados com xito.

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Parte II: Sistema Automatizado de Teste

Existem dois tipos de teste, com a


determinao de pickup e dropout com e sem o
contato de partida, ou seja, para rels digitais ou
eletromecnicos.

6.1.1. Determinao do pickup/dropout em


rels com contato de partida
INFORMAES GERAIS SOBRE O TESTE DE PICKUP
Para este teste, necessrio que o
contato geral de partida seja designado.
Caso contrrio, o modulo de teste ira
reportar hardware insuficiente e o teste no ser
executado.
O estado de pr-falta no relevante
para este teste e, portanto no ser considerado.
DETERMINAO DO VALOR DE DROP-OUT
Para determinar o valor de drop-out, o
modulo partir a corrente de falta para (1.15 x
IPICKUP.).

Isto causar a operao do contato de


partida. Se o contato de partida no estiver
operado aps o tempo assinalado em Resoluo
o teste ser cancelado.
A corrente de teste ser reduzida em
degraus com tamanho de (0.01 x IPICKUP), at o
contato de partida abrir ou at o valor de (0.8 x
IPICKUP ) ser alcanado.
Se o contato no aberto, os valores de
pickup/dropout no podem ser determinados e o
teste cancelado. Se o contato abre, o valor da
corrente gravado como o valor de dropout do
rel.
DETERMINAO DO VALOR DE PICKUP
Usando o mesmo tamanho de passo e
tempo, at que o contato de partida opere ou o
valor de (1.15 x IPICKUP.) seja alcanado.
Se o contato de partida no esta ativo, o
teste ser cancelado, e somente o valor de
dropout ser gravado.
Entretanto, o valor para que o contato
de partida opere gravado como o valor de
pickup do rel.

Figura 19 Determinao do valor de Pickup e Dropout com contato de partida


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Caso o rel opere, o valor gradualmente


reduzido at 0.8 x IPICKUP, caso no haja a
desoperao do contato o teste cancelado.

Figura 20 - Valores de Pickup e Dropout no


encontrados.
USO DO CONTATO DE PARTIDA
O mdulo de teste segue os seguintes
critrios:

Se o contato de partida parte da


condio de trigger, o mdulo de teste ir
considerar o contato ativo e fechado ou
ativo e aberto de acordo como foi definido
na condio de trigger (1 ou 0
respectivamente).
Se o contato definido como No usado
(X), o mdulo de teste ir considerar
como contato fechado.

6.1.2 - Determinao dos valores de


Pickup/Dropout para rels sem contato de
partida
INFORMAES GERAIS SOBRE O TESTE DE PICKUP
O algoritmo utilizado leva vantagem, pois
considera
a
inrcia
de
dispositivos
eletromecnicos ao determinar os valores de
pickup e dropout.
Para detectar o trip, o mdulo de teste usa
a condio de trigger. Tal condio considera o
trip no rel quando a entrada binria realizar a
condio de trigger, ou cosidera o no trip
quando isto no ocorrer.

DETERMINAO DO VALOR DE PICKUP


O mdulo de teste ocasiona o trip no rel
pelo mtodo da falta valores de IPICKUP (valores
de trip). Esta falta ser processada com sendo um
ponto de teste normal.
Entretanto, ela ter um tempo de trip
nominal, e o mximo tempo de falta derivado. Os
valores de falta (aps a pr-falta, se escolhida),
so aplicados ao rel at ocorrer trip ou at o
mximo tempo de falta esgotar.
Para este caso particular, nenhum teste
para o tempo fora da faixa feito. Se o rel no
d trip dentro do mximo tempo de falta, o teste
de pickup cancelado.
Depois que o trip detectado, os
geradores sero desligados para a Resoluo
adotada ou at a condio de trip no estar mais
presente.
Isto ser reaplicado com valores de 1,15 x
IPICKUPS at que o rel atue com o trip novamente
ou decorra 3 segundos, quando o temporizador
expira.
Assim, a seqncia repetida para valores
de 1.14, 1.13 x IPICKUPS em diante, at que para
um deles no atue o trip do rel. O ltimo valor
para o qual ocorre a atuao de trip do rel
gravado como o valor de pickup.
Se a seqncia alcana 0.8 x IPICKUPS
detectando trip para todos pontos, o valor de
pickup no pode ser determinado e o teste
cancelado.
DETERMINAO DO VALOR DE DROP-OUT
Aps a determinao do valor de pickup,
1.15 x IPICKUPS aplicado at o trip do rel operar
ou passado o tempo de 10 segundos o
temporizador expira.
Se o temporizador expirar, o valor de
dropout no pode ser determinado e o teste
cancelado.
Se o trip do rel opera, o mdulo de
teste reduz o valor da falta em pasos de 0,01 x
IPICKUP , com o passo de tempo igual ao adotado
em Resoluo, at que a condio de trip
desaparea ou o alcance 0.8 x IPICKUP .
No ltimo caso, o valor de dropout no
pode ser determinado, e o teste cancelado.
Entretanto, o passo em que a condio
de trip desapareceu ser gravado como valor de
dropout.

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Figura 21 - Determinao do valor de Pickup e Dropout sem contato de partida

Tempo mximo de falta


Figura 22 Atuao do tempo mximo de falta
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Tempo de Resoluo

Figura 21 Atuao do tempo de resoluo


Os contatos de TRIP e PARTIDA devem ser
pr-definidos poir estes contatos so necessrios
para a realizao do teste.
Para mudar a designao dos contatos
binarios de entrada deve-se acessar a
configurao de hardware (pressione Ctrl + H)
ou acesse o icone.

Figura 22 Acesso Configuraao de Hardware

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59

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Cap 10 : Distance
Resumo
Este captulo aborda passo a passo
montagem dos procedimentos de teste da
funo distncia (21), utilizando o mdulo de
teste Distance ou Advanced Distance. So
destacados todas os itens de parametrizao do
teste, mostrando as opes de configurao.

1. PARMETROS
DISTNCIA

DA

PROTEO

DE

Iniciando o primeiro passo da Lei de OHM


descrita no captulo 3 acessando o cone
Parmetros do equipamento em teste, conforme
mostra a figura 1.

Nome e endereo da subestao onde o


elemento esta localizado.
1.3.

Entre com o endereo e o nome do bay


onde o elemento esta localizado
1.4.

So apresentados passo a passo os itens


da tela Ajuste do Dispositivo.
Esta uma tela de registro geral dos dados
do ensaio, como as informaes do rel, de sua
localizao e classificao, da funo a ser
testada, dentre outros. Tambm so ajustados os
valores de tenses e correntes do sistema.
importante ressaltar que esta tela, de uso
geral, sempre estar presente nos outros
mdulos de software.
1.1.

Entrada de dados do elemento protegido


1.2.

Subestao

Tenso Residual/Fator de Corrente

Esses parmetros somente so relevantes


se o rel tem transformadores de potencial /
corrente separados para a tenso / corrente
residual (para o aumento da sensibilidade).
A
relao
desses
transformadores
separados
em
relao

relao
dos
transformadores das fases expressa com um
fator que ser ajustado aqui.
O ajuste padro :

VLN 1,732
=
VN
3

(1)

como a tenso de fase forma a tenso residual na


conexo delta aberto, e

IN

Dispositivo

Valores Nominais

Entre com os valores nominais (tenso,


corrente, freqncia, corrente primria e tenso
primria e numero de fases)
Para o teste de rels convencionais, a
corrente nominal (1 ou 5 A) deve ser ajustada
aqui.
1.5.

Figura 1 - Parmetros do equipamento em teste localizao

Bay

I nom

=1

(2)

Esses fatores so suportados pelos


mdulos de Distancia e Distancia Avanado.

:
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CAP 10: Distance

60

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte II: Sistema Automatizado de Teste

Figura 2 Ajustes do dispositivo


1.6.

Limites

1.7.

Neste item so ajustados os mximos


valores de tenso e corrente que o dispositivo de
teste capaz de fornecer (mximos valores
possveis so determinados pela configurao de
hardware ajustada pelo usurio).

1.. Sinal antes do filtro

Filtros Debounce/Deglitch

Entre com os tempos de Debounce e


Deglitch para o Teste Object nestes campos. Esses
valores so usados onde os sinais do algoritmo
de suavizao so implementados.

2.. Sinal aps o filtro

Figura 3 Debounce ou Deglich time

2.

AJUSTES DO SISTEMA

:
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CAP 10: Distance

61

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DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte II: Sistema Automatizado de Teste

O sistema de teste precisa conhecer alguns


parmetros gerais do dispositivo de proteo
para efetuar o teste com sucesso. Esses
parmetros so vlidos para todas as zonas.

A figura 3 mostra a tela do Ajuste do


Sistema, ou seja, as caractersticas do sistema.

Figura 4 Ajuste do Sistema


2.1.

Tenso Ps Falta

ngulo da Linha

V = VN

Aqui so definidos ngulo da linha de


transmisso, e as conexes do TP e TC.
2.2.

Conexo TP
Figura 6 TP do lado da barra

2.2.1. Conexo do TP no lado da linha


2.3.

Tenso Ps Falta V = 0 V

Ponto neutro do TC

Em geral a corrente que flui em direo ao


objeto a ser protegido definida com direo
para frente.
Para o rel de distncia esta corrente flui
na direo da linha.
Para a corrente primria fluindo em
direo da linha e aterrando os TCs no lado da
linha, a corrente secundria flui para o rel.

Figura 5 TP do lado da linha

2.2.2. Conexo do TP no lado da barra

:
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CAP 10: Distance

62

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte II: Sistema Automatizado de Teste

Se os TCs so aterrados no lado da barra,


a corrente flui para fora do rel para a mesma
corrente primria. Ela esta fluindo na direo
oposta ou tem 180 graus de defasagem.

Figura 9 CB Trip

Figura 7 TC aterrado do lado da linha


Figura 10 CB Close
2.5.

Figura 8 TC aterrado do lado da barra


Especificando a direo do aterramento
dos TCs, as correntes de falta so injetadas na
direo correta.
2.4.

Simulao de Disjuntor

Na seqncia de trip CB, a injeo das


quantidades para o teste estendida aps a
condio de trip ser recebida. Na seqncia de
fechamento CB, o incio da quantidade de teste
atrasado aps o comando de fechamento CB ser
emitido. Ambos tempos so sempre aplicados.
Os parmetros 52a% e 52b% so usados
para a simulao de contatos auxiliares de CB
para seqncias de trip e close. As figuras
mostradas abaixo mostram a dependncia do
tempo dos contatos 52a e 52b.
A simulao dos contatos auxiliares CB
somente aplicada se a simulao de CB
selecionada na Vista do Teste e as sadas binrias
correspondentes
so
configuradas
na
configurao do hardware.

Tolerncias

Valores tpicos para o tempo e tolerncia


da impedncia para rels numricos so de 5%
para a impedncia relativa e 10% para o tempo
relativo.
A tolerncia para a impedncia absoluta
deve ser ajustada para 50 ohms e a tolerncia de
tempo deve ser ajustada para 2.5 ciclos.
O tempo de trip uma quantidade
importante quando compara valores nominais e
atuais. Para realizar isto, o mximo valor derivado
da tolerncia de tempo absoluta ou relativa
usado.
Para a tolerncia do tempo de trip, o
maior entre cada tolerncia de tempo, valor
positivo ou negativo, absoluto ou relativo
usado. A tolerncia de tempo relativa atual
determinada para cada tempo de trip gravado. Se
a tolerncia relativa no requerida, especificar o
menor valor (p.ex. 0.1 %).
Para a avaliao do tempo de trip, o teste
deve ser feito e o tempo de trip nominal
comparado. Se o desvio abaixar dentro da banda
de tolerncia especificada o teste classificado
como OK.
Para a tolerncia da impedncia o maior
valor entre a tolerncia absoluta ou relativa
usada. A faixa de tolerncia relativa atual
determinada para cada zona sobre o angulo da
linha.

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CAP 10: Distance

63

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DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte II: Sistema Automatizado de Teste

Isto aplicado somente para falhas


monofsicas entre fase e terra.
Vrios caminhos ou definies para entrar
com esse fator so disponveis para uma entrada
simples do parmetro diretamente do ajuste do
rel.

Figura 11 Configurao das Tolerncias relativas


e absolutas
A maior tolerncia de impedncia
aplicada uniformemente (p.ex. paralelo a cada
lado em toda direo ao redor da caracterstica
nominal) para produzir a faixa de tolerncia
mostrada.

Figura 14 Fator de Terra - Definies


O software fornece as opes:

KL =

Z E 1 Z0
= 1
Z L 3 Z1

(3)

RE
XE
e
RL
XL

(4)

Z0
Z1

(5)

Onde:

Figura 12 Configurao das Tolerncias das


zonas de proteo
2.6.

Fator de Terra

O grounding factor (ou fator de


compensao para falhas a terra) compensa a
diferena entre impedncias de falha a terra e
impedncia para falhas entre fases medida pelo
rel.

Figura 13 Configurao do Grounding Factor

2.7.

Z0 representa a impedncia de seqncia


zero .
Z1 a impedncia de seqncia positiva
da LT.
ZE o alcance para falhas a terra (sem
compensao).
ZL o alcance para falha fase do rel.

Separao de Resistncia de Arco

Quando calculamos a impedncia a partir


da tenso e corrente medidas, alguns rels
consideram a resistncia de arco separadamente
da poro da impedncia da linha.
O rel assume que qualquer valor de
impedncia de falta que desvia do angulo de
impedncia da linha devido resistncia de
arco puramente resistiva.
Adicionalmente, estes rels consideram a
resistncia de arco como uma resistncia de loop
(por exemplo, a resistncia de arco total no loop

:
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CAP 10: Distance

64

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte II: Sistema Automatizado de Teste

de falta), e no como uma resistncia de


seqncia positiva.
Usando o diagrama do circuito equivalente
para uma falha fase-terra, Temos :

Z test = Z L + K L Z L + R F

(6)

Onde

Ztest a impedncia de loop. Porque o


diagrama R/X um diagrama de seqncia
positiva, Ztest poder ser convertido numa
impedncia de seqncia positiva.
ZL a impedncia de seqncia positiva
de ZL(1 + kL). A resistncia de arco RF
precisa ser convertida para uma resistncia
de seqncia positiva usando a funo
Resistncia de arco separada:

RF' = RF

(1 + K L )

(7)

Em adio as entradas comuns em valores


secundrios, s impedncias podem tambm ser
entradas com valores primrios. Isto feito
selecionando a caixa Impedncia em Valores
Primrios.
Selecione esta opo para entrar com as
impedncias em valores primrios. Estes valores
so convertidos para valores secundrios
aplicando a seguinte equao :
Zsec = ( CTratio / PTratio ) * Zprim
2.9.

(8)

que pode ser plotada no diagrama R/X. Ztest


ento usada para calcular as quantidades para o
teste, a serem injetadas usando a impedncia
normal do rel.
Para faltas fase-terra somam o valor
RF/(1+kL)
ao
valor
correspondente
da
impedncia ZL. ZL derivado pela projeo da
parte reativa de Ztest para o angulo da linha.
Finalmente Ztest usado em vez de Ztest para
calcular as quantidades do teste.

Correo da Impedncia 1 A/ I nom

Se a corrente nominal do rel 5 A , o


clculo da impedncia tratado diferentemente
para alguns rels. Se a equao para o calculo da
impedncia usa mltiplos da corrente nominal
para determinar a impedncia, esta opo dever
ser selecionada

Z=

A impedncia de teste de seqncia


positiva Ztest igual ZL + RF, ou seja:

Z test = ZL + R 'F

(9)

Vtest
I test

(10)

I nom

Se a equao da impedncia calcula a


impedncia independentemente da corrente
nominal, esta opo no dever ser selecionada.

3.

AJUSTE DE ZONA

3.1.

Definies das Zonas de Proteo

As Zonas de proteo, caracterizadas pela


parametrizao do rel a ser testado, podem ser
inseridas no sistema de teste de duas formas:
4 Importao do arquivo RIO
Exportado
do
programa
parametrizao do rel
Gerado por outros meios

de

4 Entrada Manual de cada ZONA


Formas predefinidas
Linhas e arcos
Figura 15 Clculo de Ztest
3.2.
2.8.

Impedncia em Valores Primrios

Caractersticas
Proteo

das

Zonas

de

4 Definies individuais para cada ZONA


:
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65

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DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte II: Sistema Automatizado de Teste

As tolerncias para cada teste (fase-terra


AN-BN-CN , fase-fase AB-AC-BC e trifsico A-BC), devem ser ajustadas nesta tela.
Valores tpicos para o tempo e tolerncia
da impedncia para rels numricos so de 5%
para a impedncia relativa e 10% para o tempo
relativo.

Nome, Label
Tipo (starting, tripping, )
Loop de Falta
Forma e Alcance

Editor de Caracterstica
Trip time
Tolerncias

Figura 16 Tela Ajustes de Zona


A tolerncia para a impedncia absoluta
deve ser ajustada para 50 ohms e a tolerncia de
tempo deve ser ajustada para 2,5 ciclos.
3.3.

caractersticas e ter acesso s ferramentas de


edio, conforme mostra a figura 17, a seguir.

Editor de Caractersticas das Zonas


de Proteo

Com o editor de caractersticas das zonas


de proteo, o usurio pode inserir qualquer
caracterstica, segundo qualquer parametrizao
alocada no rel a ser testado.
O editor possui ferramentas com:

boto

Caractersticas pr-definidas;
Lista de elementos
Na tela Ajuste de Zona, basta acionar o
Editar... para entrar no editor de

Figura 17 Editor de Caractersticas

:
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3.3.1. Caractersticas Pr-definidas


O editor possui caractersticas prdefinidas de forma a facilitar a elaborao e
registro das zonas de proteo parametrizadas
em cada rel. Basta alterar os dados, por
exemplo, o ngulo de inclinao de um blinder, e
adequar os valores padres parametrizao a
ser testada.
Figura 19 - Caracterstica Lente ou Tomate

Figura 18 - Caracterstica Mho


Figura 20 - Caracterstica Quadrilateral

Figura 21 Lista de elementos para editorao das caractersticas de zona

4.

AJUSTES DE TESTE PADRO

So includos na metodologia de teste. Os


test settings normalmente no precisam ser
redefinidos para cada novo teste.

Estes ajustes so independentes dos


ajustes dos rels. Se os ajustes dos rels so
importados/exportados, estes ajustes no so
afetados.

:
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apenas uma entrada seja satisfeitas conforme


configurado.
Cada contato pode ser configurado da
seguinte forma:
Contato tipo NA
1
Contato tipo NF
0
desabilitado
X
Tabela 1 Opes de seleo de contatos
5.2.
Figura 21 Ajustes de Teste Padro

Selecionando os Ajustes para o


Teste

Na tela de visualizao do teste, selecione


a opo Ajustes.

5.

PARAMETRIZAO DOS TESTES

5.1.

Ajustando o Trigger para o Teste

Na tela de visualizao do teste, selecione


a opo Trigger.

Figura 24 Selecionando os Ajustes


Alguns itens configurados nos Ajustes de
Teste Padro aparecem aqui tambm para
melhor acesso do usurio.

Figura 22 Selecionando o Trigger


Iro aparecer nesta opo todos os
contatos que foram definidos na configurao do
hardware do equipamento de teste, no item
Entradas binrias e analgicas.

Figura 25 Tela de Configurao Ajustes


Figura 23 Configurao de Trigger

5.2.1. Ajuste do tipo de teste

A opo E faz com que para haver sinal


de entrada para a caixa seja necessrio que todas
as
entradas
sejam
satisfeitas
conforme
configurado.
A opo OU faz com que para haver
sinal de entrada para a caixa seja necessrio que

As opes incluem testes com corrente,


tenso ou impedncia constante. Utilizaremos a
opo Corrente Constante.

5.2.2. Ajuste da corrente de teste

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

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68

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Como a opo utilizada foi a de corrente


constante, usaremos 2A

5.2.3. Ajuste do tempo de pr falta e ps


falta
Pr falta = 0.5 s
Mximo tempo de falta = 4 s (garantir que o
mximo tempo de falta seja ajustado por um
tempo maior que o retardo do elemento de trip
do rel).
Ps falta = 0.1 s (este ajuste deve ser aumentado
para rels eletromecnicos para permitir que o
rel opere o reset corretamente)

5.2.4. Ajuste do Incio da Falta


O ngulo de fase da tenso e
conseqentemente o angulo da corrente de falha
atravs da opo Incio da Falta pode ser
especificado.
Alm da simulao da falta permanente,
possvel simular o comportamento do transitrio
de offset DC que resulta da simulao do modelo
especifico RL.
Para isso necessrio selecionar o
checkbox Offset DC.
O ngulo especificado em f Incio da Falta
definido em referencia tenso de curto
circuito. Isto depende do tipo da falha
selecionada (monofsica, bifsica, trifsica).
As seguintes opes so disponveis :

mximo offset negativo presente


no
angulo de inicio da falta igual a angulo
de impedncia mais 90 graus.
4 Sem offset
Neste modo o ngulo de inicio
igual ao angulo de impedncia.
componente DC esta presente,
faltas trifsicas, onde nenhuma
esta presente na fase A.

da falta
Nenhuma
fora para
offset DC

5.2.5. Permitir Reduo de ITEST


Se o modelo de teste com corrente
constante selecionado e a tenso de teste
calculada exceda a tenso nominal do rel, uma
mensagem Fora de Faixa (Out of Range)
sinalizada.
Igualmente se o teste com tenso
constante selecionado e a corrente calculada
exceda o mximo valor de corrente especificada
para o rel a mesma mensagem sinalizada.
Se esta alternativa selecionada, a
tenso ou corrente de teste automaticamente
adaptada de forma a fazer o teste para qualquer
ZTESTE possvel. A corrente ou tenso de teste
usada mostrada no relatrio.

5.2.6. Referncia de Tempo


Os seguintes ajustes so possveis

Incio de Falta
Iniciando

4 Aleatrio
O ngulo do inicio da falta calculado
para cada teste aleatoriamente
4 ngulo Fixo
O angulo de inicio da falta pode ser
livremente ajustado. Se a caixa DC-offset
esta ativada, a simulao do DC-offset
feita.
4 Maximo offset
O ngulo de inicio da falta escolhido tal
que o mximo positivo e o mximo
negativo DC offsets so simulados para
prevenir a saturao dos TCs de entrada
do rel. O mximo offset positivo presente
no angulo do inicio da falta, igual ao
angulo de impedncia menos 90 graus. O

Figura 26 Referncia de Tempo


O tempo de trip de um rel de proteo
o tempo medido desde o inicio da falta at o
comando de trip do rel ser enviado. Este tempo
registrado como Referncia de Tempo = Incio
da Falta.
Outro modo de medir o tempo do atraso
dos elementos medir o tempo desde a partida
do contato de pick-up at o comando de trip ser
enviado.

:
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69

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Este o tempo de atraso atual do


temporizador interno, excluindo-se o tempo de
pick-up do rel, este tempo registrado como
Referncia de Tempo = Incio da Falta.
Selecionando a referncia de tempo
partida requer que um contato de partida do rel
seja conectado e configurado no sistema de
teste. Os sinais seguintes na configurao de
hardware so automaticamente identificados:
START, START A, START B, START C.
Para rels de seleo de fase, a partida
de fase correspondente usada para faltas
monofsicas e o contato de partida mais rpido
usado para faltas polifsicas.

Figura 27 Referencia de Tempo

5.2.7. Ignorar Caractersticas


Resoluo de Busca

Nominal

Z1 ACT

Trip em t1

Trip em t2
Max (Abs,rel)
Tolerance band
Z1 nominal

Figura 29 Ajuste de resoluo


Quando estiver efetuando um teste de
busca em uma caracterstica nominal conhecida,
o disparo inicial para busca dos alcances de zona
so colocados no limite de tolerncia do alcance
da zona.
Se a caracterstica no for conhecida, que
seria o caso de nenhuma zona ser definida para o
rel, ento os disparos iniciais so colocados em
distancias fixas, de acordo com o valor definido
no ajuste de Intervalo de Busca, na linha de
busca.
Se o alcance da zona esperada entre dois
disparos, o teste feito acima do valor
especificado de Intervalo de Busca.
Ainda que as zonas tenham sido definidas
para o rel, a opo de ignorar a caracterstica
nominal pode ser usada para realizar o mesmo
procedimento da caracterstica desconhecida.

5.2.8. Zonas Estendidas Ativas

No modo Busca, que ser abordado a


frente, a preciso e o nmero de shots durante
o teste depende
do ajuste colocado em
Resoluo de Busca.

Figura 28 Resoluo de Busca


A busca para o alcance de impedncia
atual parada, se a diferena da impedncia
entre dois consecutivos disparos, ambos
identificados em diferentes zonas, for menor que
o ajuste de Resoluo de Busca O maior de cada
um dos valores de Resoluo de Busca, (absoluto
ou relativo) aplicado.

Inicialmente vamos definir o que so as


zonas de proteo:
4 Zona de Trip
o tipo mais comum, tem um tempo de
trip correspondente a ele associado.
4 Zona de Partida
normalmente exterior a todas as zonas
de trip, tem um tempo de pickup
associado. Se a zona de partida for
dividida em elementos no direcionais e
direcionais (forward), necessrio entrar
com duas zonas separadas.
4 Zona estendida
Similares s zonas de trip, entretanto
somente esto ativas se a opo Zonas
Estendidas Ativas estiver selecionada.
4 Zona de no trip
Pode ser usada como zona de informao
(power-swing p.ex.), ou para definir sees

:
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de zonas de trip onde o trip no


permitido ( rea de load encroachment).
Para testar as zonas de sobrealcance ou
estendidas, as zonas relevantes devem primeiro
ser definidas como zonas estendidas na caixa de
dialogo no Ajustes de Zona, ver item 3.2.

A medio do tempo de trip mostrada


como resultado.
Uma comparao automtica dos valores
nominais e resultados do teste pode ser realizada
se o mdulo conhece os parmetros do rel, ou
seja, se foram introduzidos no mdulo de teste
as caractersticas parametrizadas no rel.
O procedimento completo para teste
descrito nos itens a seguir.

5.3.1. Definio dos pontos de teste


Primeiro defina o tipo de falta:
Figura 30 Ajuste para Zona estendida
Selecionando Zonas Estendidas Ativas as
zonas estendidas so mostradas no plano R-X ao
lado da janela de ajustes. Os resultados do teste
so tambm comparados com as zonas definidas
como zonas estendidas.
Note que no rel, as zonas estendidas so
normalmente ativas somente por um perodo
limitado de tempo (por exemplo durante o
religamento automtico) ou trabalham em
conjunto com um contato de entrada do rel
(por exemplo esquemas de teleproteo ou
comando de fechamento manual para o CB).
Se uma sada binria for configurada como
Zonas Estendidas Ativas na configurao de
hardware, esta sada pode ser usada para simular
aquele contato do rel.
A temporizao da sada binria pode ser
ajustada na pagina de configurao do trigger.
A simulao do contato e ajustes do
tempo podem somente ser acessados se as a
seleo das Zonas Estendidas estiver ativada.
5.3.

Selecionando a opo DISPARO

Na tela de visualizao do teste, selecione


a opo Disparo.

Figura 32 Tipos de falta


tambm possvel definir os pontos de
teste como valores absolutos ou realtivos de
impedncia pela marcao no checkbox Relativa.

Figura 32 Definio dos pontos de teste


Pontos de teste relativos esto situados
na linha especificada pelo angulo Phi e refere-se a
interseco com a borda da zona nominal
selecionada no Zone drop down menu.

Figura 31 Selecionando Disparo


O objetivo deste teste checar os alcances
das zonas individuais e seus tempos de Trip
usando quaisquer pontos de teste, de acordo
com a escolha do responsvel pelo teste.
Figura 33 Pontos de teste relativos
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Figura 34 Tela Teste Disparo


Para adicionar pontos de teste na lista de
pontos de teste para o tipo de falha selecionada,
clique em Adicionar.
Clicando em Adicionar ... pode-se
adicionar pontos de teste para diversos tipos de
falta.
Para remover pontos de teste da lista,
clique em Remover (para o tipo de falha
selecionado) ou Remove tudo... (para todos os
tipos de falha).
Pode-se tambm selecionar os pontos de
teste no plano de impedncia, com ajuda do
mouse:
4 Acionando o boto esquerdo do
mouse no plano de impedncia, a
impedncia daquele ponto do plano
selecionada
e
seu
valor
correspondente mostrado na janela
Ponto de Teste. Pressionando-se
Adicionar, este valor registrado na
lista de pontos de teste.
4 Pressione a tecla Ctrl e clique com o
boto esquerdo do mouse no plano
de impedncia para adicionar o ponto
selecionado diretamente lista de
pontos de teste.
4 Clicando no boto direito do mouse
no plano de impedncias o menu
contextual para o grfico aberto.

Figura 35 Pop-up menu

5.3.2. Iniciando o teste de DISPARO


A premissa bsica para o sucesso do
teste a correta configurao do hardware do
dispositivo a ser testado e a definio das
corretas condies de Trigger.
Teste com um Shot individual
As correntes e tenses correspondentes ao
tipo de falta selecionada so aplicadas ao rel.
Para iniciar o teste acione
ou selecione
Teste Teste nico.
tambm possvel iniciar o teste
diretamente do plano de impedncias ou
diagrama Z/t , pelo posicionamento do mouse no
plano de impedncias e pressionando a tecla

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Shift juntamente com o boto esquerdo do


mouse.
Teste com uma lista de Shots
Para todos os tipos de faltas, as correntes e
tenses correspondentes para cada shot definido
no ponto de teste aplicado ao rel.
Para iniciar o teste clique em
ou selecione
Teste Iniciar/continuar.
A execuo do teste pode ser pausada
clicando em
ou selecionando Teste Pausa.
Clicando em
ou selecionando Teste
Parar o teste interrompido. Para limpar o
resultado do teste e permitir um novo teste clique
em
ou selecione Teste Limpar.
Lembre-se: Antes de um novo teste ser iniciado,
os resultados dos testes antigos devem ser
limpos.

adaptada de forma a fazer o teste para qualquer


Zteste possvel. A corrente de teste (ou tenso)
usada mostrada no relatrio.
Quando o teste para grandes alcances
for executado, a corrente de teste injetada dever
sempre ser maior que a mnima corrente de pickup para o rel. Se o rel utiliza a tenso
dependente da corrente de partida, assegure que
a tenso de teste seja sempre menor que a
tenso ajustada de pick-up.
ANLISE NA LISTA DE PONTOS DE TESTE
Em adio aos parmetros de teste (R, X,
Z, phi, I, V ...) os tempos atuais e nominais de trip
so mostrados. De maneira a obter uma vista
especfica do usurio diferente da vista standard,
clique o boto direito do mouse na lista de
pontos de teste para abrir um menu contextual
podendo as colunas ser mostradas ou
escondidas. A largura das colunas pode tambm
ser ajustada.

5.3.3. Avaliao do teste de Shot


ANLISE DO TESTE NA TELA
A janela de resultados para o teste de
shot, contm informaes sobre o tempo de trip
medido para a corrente do ponto de teste na lista
de pontos de teste e sobre o resultado da
avaliao automtica.

aprovado
reprovado
no testado
fora de faixa (Zmin > |Z| > Zmax)
sobrecarga

Figura 37 Resultados
Na primeira coluna o resultado
mostrado imediatamente aps a teste usando
diferentes smbolos. Esses smbolos so
mostrados a seguir:

Figura 36 Resultados
Se o modelo de teste com corrente
constante selecionado e a tenso calculada
excede a tenso nominal do rel, a mensagem
mostrada para este teste Fora da Faixa.
Igualmente se a tenso de teste
constante selecionada e a corrente calculada
excede a mxima corrente especificada para o
rel, a mensagem mostrada para este teste Fora
da Faixa.
Se o checkbox selecionado, a corrente
de teste (ou tenso) automaticamente

Figura 38 Simbologia da avaliao


ANLISE GRFICA
No plano de impedncias, os pontos de
teste so mostrados usando os mesmos smbolos
como nas colunas da lista dos pontos de teste. O

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progresso do teste pode ser facilmente


monitorado. Clicando o boto direito do mouse
no plano de impedncias o menu contextual
aberto para o grfico que do acesso aos ajustes
do grfico do plano de impedncias.

5.4.

Selecionar a opo Verificao

Na tela de visualizao do teste, selecione


a opo Trigger.

Figura 41 Seleo de Check


O plano de impedncias usado com
vista para o teste. As tenses e correntes so
calculadas automaticamente.
O objetivo do teste checar os alcances
e tempos de trip das zonas individuais acima e
abaixo do alcance. Isto feito usando dois
disparos para cada zona. Esta a principal
modificao no procedimento do teste de
disparo onde os pontos de teste so
automaticamente ajustados na linha de
checagem.
O resultado mostra o tempo nominal e
atual de trip bem como a sua avaliao. O teste
somente possvel se a caracterstica nominal
especificada.

5.4.1. Definio das Linhas de Checagem

Figura 39 Anlise grfica


ANLISE NO RELATRIO DO TESTE
O relatrio do teste mostrado clicando
no boto
ou selecionando a opo Vista
Relatrio.

Figura 40 Exemplo de Resultados no Relatrio


O exemplo acima mostra como o
relatrio de teste mostra os dados de cada ponto
de teste, os valores nominais e atuais dos tempos
de trip e a avaliao automtica. O teste foi feito
para falhas do tipo A-B e falhas trifsicas A-B-C.
Devido ao usurio poder modificar o
contedo do relatrio para que contenha seus
requisitos especiais, informaes adicionais
podem tambm ser mostradas aps o teste ser
completado.

Figura 42 Definio das linhas de Checagem


Deve-se selecionar o tipo de falta para o
qual o teste ser executado.
ENTRADAS NUMRICAS
A linha de verificao definida por um
ponto que consideramos ser sua origem e
ngulo. Note na figura 42 que a origem pode ser

:
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definida
em
coordenadas
polares
ou
retangulares.
O comprimento da linha de checagem
pode ser definido at a impedncia relativa ou
absoluta (relacionada para uma das zonas).

5.4.2. Inicio do teste de Verificao


A premissa bsica para o sucesso do
teste a correta configurao do hardware do
dispositivo a ser testado e a definio das
corretas condies de Trigger.
TESTE AO LONGO DA LINHA DE CORRENTE

Figura 43 Definio das linhas nas zonas de


proteo
O teste ser executado ao longo de vrias
linhas de checagem. Assim, mltiplas linhas de
checagem podem ser adicionadas lista de linhas
pela seleo da opo Adicionar.
Observe que a adio das linhas de
checagem est relacionada com o tipo de falha
selecionada.
Se a linha de checagem for usada para
vrios tipos de falhas, selecione Adicionar ...
Para remover linhas de check da lista,
clique em Remover (para o tipo de falha
selecionada) ou Remover tudo (para vrios tipos
de falhas).
A opo Seqncia permite a entrada de
vrias linhas de checagem com passos de ngulos
uniformes usando o mesmo ponto de origem.
SELECIONANDO NO PLANO DE IMPEDNCIAS
Boto esquerdo + arrastar (enquanto o boto
estiver pressionado) para definir a linha de
verificao. (use Adicionar para adicionar o item
lista)
Ctrl + boto esquerdo + arrastar para adicionar
a linha de verificao diretamente lista de linhas
de verificao.
Clicando o boto direito do mouse no
plano de impedncias o menu contextual
aberto para o grfico que d acesso aos ajustes
do grfico do plano de impedncias.

O teste executado para o tipo de falha


selecionada e somente ao longo da linha de
verificao selecionada.
Para iniciar este teste clique em
ou
seleciona Teste Teste nico no menu.
tambm possvel para iniciar o teste
diretamente do plano de impedncias pelo
posicionamento do mouse no plano de
impedncia e pressionando-se a. tecla Shift
juntamente com o boto esquerdo do mouse.
TESTE AO LONGO DE VRIAS LINHAS
Para todas as linhas especificadas, os
tempos de trip para cada ponto de teste so
medidos um aps o outro e comparados com os
valores nominais e atuais.
Para iniciar o teste clique em
ou selecione
Teste Iniciar/continuar.
A execuo do teste pode ser pausada
clicando em
ou selecionando Teste Pausa.
Clicando em
ou selecionando Teste
Parar o teste interrompido. Para limpar o
resultado do teste e permitir um novo teste clique
em
ou selecione Teste Limpar.
Lembre-se: Antes de um novo teste ser iniciado,
os resultados dos testes antigos devem ser
limpos.

5.4.3. Avaliao do teste de Verificao


Anlise da lista de linhas de check
Devido a cada linha incluir vrios testes
de shots em diferentes zonas, no possvel
mostrar resultados detalhados aqui. Em vez disso,
a origem e o angulo de busca so usados para
identificar o teste.
A largura das colunas pode ser ajustada.
Colunas podem tambm ser escondidas pela
seleo da mesma e pelo boto direito do

:
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CAP 10: Distance

75

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mouse. Um menu contextual aberto que


mostra as vrias opes.
As colunas de estado mostram os
resultados da avaliao de um especfico teste de
check com diferentes smbolos, mostrados
abaixo.

O relatrio do teste mostrado clicando


no boto
ou selecionando a opo Vista
Relatrio.

Figura 48 Exemplo de relatrio


Na opo Relatrio tem-se os resultados
detalhados do teste. Como o usurio pode
especificar a informao que o relatrio ir
conter, tambm possvel mostrar informaes
adicionais aps o teste ser completado.

Figura 44 Simbologia da avaliao


ANLISE GRFICA
No plano de impedncias os pontos de
teste so mostrados usando os mesmos smbolos
como no teste de shot. O progresso do teste
pode ser monitorado pela visualizao do teste
corrente em destaque.
Para a analise detalhada, diferente
opes so disponveis. Clicando no boto direito
do mouse no plano de impedncias um menu
contextual aberto para o grfico, permitindo,
por exemplo, a mudana da vista.

5.5.

Selecionando a opo Busca

Na tela de visualizao do teste, selecione


a opo Busca.

Figura 49 Selecionando Busca

5.5.1. Determinao dos shots.


O objetivo deste teste determinar o exato
alcance das zonas individuais aplicando shots ao
longo de uma linha de busca.
O nmero de shots calculado
automaticamente usando o valor parametrizado
em Resoluo da Busca.
Os valores de impedncia encontrados das
zonas so mostrados. Comparaes automticas
dos valores nominais e atuais podem ser feitas se
o mdulo de teste informado dos parmetros
do rel.

5.5.2. Utilizando a Seqncia de Teste


A seguir so definidos os passos para a realizao
de um teste em seqncia.

Figura 47 Anlise grfica


ANLISE NO RELATRIO DO TESTE
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76

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Parte II: Sistema Automatizado de Teste

a) Definir os valores do ngulo de inicio e do


ngulo final. Ver figura 50.

c) Definir o valor de Comprimento da linha


de teste. Este comprimento deve
ultrapassar somente uma vez a zona
testada. Recomendamos o ajuste relativo
ao comprimento da zona a ser testada,
preenchendo-se o valor de percentagem
de zona como 140% de Zona a ser
testada,
de
forma
a
ultrapassar
completamente a tolerncia externa.
d) No campo tipos de falta escolher a opo
desejada. No caso de um teste completo,
basta assinalar todos.
e) Pressionar o boto OK

Figura 50 Selecionando Busca


b) Definir o nmero de passos ou o Passo
ngulo. Esses dados definem a quantidade
de linhas de busca que sero realizadas.

f) Os pontos a serem testados para os tipos


de faltas com as respectivas tolerncias so
definidos segundo o especificado. A figura
a seguir apresenta um exemplo do
resultado
da
aplicao
desses
procedimentos, com um arquivo de teste
ponto para ser utiizado.

Figura 51 Tela de Busca pronto para teste

:
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77

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Figura 51 Tela de Busca teste finalizado

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78

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Parte II: Sistema Automatizado de Teste

Cap 11 : Differencial e Advanced

Differencial

Resumo

O grupo da a informao sobre a conexo


do objeto protegido, as possveis conexes so :

Este texto mostra passo a passo


montagem dos procedimentos de teste utilizando
o mdulo de teste Advanced Differencial. A
metodologia adotada consiste em se realizar um
teste da funo (87), demonstrando as
caractersticas do software.

1. CONFIGURAO
DIFERENCIAL

DO

TESTE

1.3.

Y (Estrela) ou
D (Delta)

Nmero de Enrolamentos

configurado o nmero de enrolamentos


do elemento protegido.

So apresentados os itens da configurao


para o teste diferencial.
1.1.

Objeto Protegido
Figura 3 Nmero de enrolamentos

O objeto a ser protegido pelo dispositivo


de proteo selecionado. O objeto protegido
pode ser um Transformador, Gerador, Motor ou
Barra.

Figura 1 Objeto Protegido


1.2.

1.4.

Valores Nominais

O nome do enrolamento correspondente


pode ser alterado pelo usurio, para permitir uma
nica designao para o elemento protegido.
Este nome tambm automaticamente
destinado para os transformadores de corrente e
os transformadores de corrente de terra,
correspondentes a esse enrolamento, em outras
janelas do software de teste.

Grupo Vetorial

selecionado o nmero de enrolamentos


do transformador (somente selecionavel se o
transformador ajustado como elemento
protegido).

Figura 2 Grupo Vetorial

Figura 4 Valores Nominais

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 11: Differential e Advanced Differential

79

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte II: Sistema Automatizado de Teste

A Tenso nominal do enrolamento


correspondente
do
elemento
protegido,a
potencia
nominal
do
enrolamento
correspondente do elemento protegido e o
Grupo vetorial do enrolamento correspondente
do elemento protegido so ajustados.
HV
D0
D0
D0

Tipo
LV
Y0
Y 30
Y 330

Ajuste
HV
LV
D
Y0
D
Y1
D
Y 11

Referncia fasorial
HV
LV
0
0
0
30 lag
0
30 lead

enrolamento se o startpoint efetivamente


aterrado para :
O lado da falta selecionada para o mdulo
Diff Configuration
O lado de referencia da caracterstica Diff
Operating ou o modulo de tempo Diff
Trip
Startpoint grounding do enrolamento
correspondente do elemento protegido. Este
ajuste influencia o fluxo de corrente para falhas
monofsicas a terra.

Tabela 1 Grupo Vetorial


A seleo de faltas tipo monofsica no
mdulo de teste no significa que a corrente de
terra (corrente de seqncia zero) seja simulada
corretamente.
Na verdade, o parmetro Startpoint
grounding critico aqui. Isto significa que a
corrente de seqncia zero pode somente fluir no

1.5.

Configurao do TC

Se a caixa de verificao Use Ground


Current Measurement Inputs (CT) est
selecionada, a corrente de seqncia zero do
enrolamento correspondente simulada no
gerador de sada.

Figura 2 Ground CT Nominal Values

Figura 3 Valores nominais do TC


1.6.

Dispositivo de Proteo

A quantidade Ibias algumas vezes se refere


como a quantidade de estabilizao ou restrio
e usada para comparar com a quantidade Idiff
para a deciso de trip. O mtodo de calculo para

a quantidade Ibias determinado de acordo com


o fabricante do rel e no pode ser ajustado
arbitrariamente.

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 11: Differential e Advanced Differential

80

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte II: Sistema Automatizado de Teste

para
cada
enrolamento
de
referencia,
dependendo o grupo vetorial para falhas
monofsicas ou bifsicas.
Os valores absolutos das correntes
medidas no transformador para o enrolamento
de referncia pelo ajuste do grupo vetorial e
eliminao de seqncia zero so diferentes
devido a diferentes relaes de enrolamentos do
transformador.

Figura 4 Clculo de Ibias


Siemens digital relay series
7UT51...,
GEC digital relay series
(|Ip| +|Is|) / k1
KBCH
SEL Schweitzer digital relay
series SEL5
AEG digital relay series
PQ7
(Ip + Is)/ k1
Vrios rels convencionais

(|Ip| +|Is|
k2) / k1

GE Multilin digital Relay


srie SR745

K1 = 1
K1 = 2
K1 = 2
K1 = 2
K1 = 1
K2 = 1
K1 = 2
K1 = 3
(Trafo
3
enrol.)

Max (|Ip| , |Is|) ELIN digitan relay serie DRS K1 = 1

Tabela 2 Tabela de Ibias

Figura 6 Standardize using


Entretanto, os valores absolutos padronizados
das correntes nas extremidades para serem
comparadas so diferentes para cada fabricante
de rel. A corrente nominal do objeto protegido
ou do TC do enrolamento com a maior potencia.
Esses parmetros so essenciais e tem de ser
solicitados aos fabricantes de rels se houver
alguma dvida com relao a isso.
Ajustes errados levam a testes indefinidos.

1.6.1. Rels
sem
defasamento
Figura 5 Enrolamento de referncia
O estabelecimento do enrolamento de
referncia usado para o clculo da corrente de
teste de referncia de Idiff e Ibias. Isto ocorre
para o teste da caracterstica de operao e da
caracterstica de tempo de trip. A falta ser
sempre localizada no lado de referncia.
As correntes medidas pelos rels
diferenciais so diferentes em valores absolutos e
fase sob operao normal e no podem ser
usados diretamente para o clculo de Idiff e Ibias.
Entretanto, o rel de proteo tem de definir o
enrolamento de referncia para normalizar as
correntes para o mesmo defasamento e
eliminao da corrente de seqncia zero.
Para que seja capaz de testar a
caracterstica de operao esta referencia tem
que ser definida para o mdulo de teste. Em
princpio, no existem diferenas no lado do
transformador que definido como referncia,
mas a distribuio de corrente nas fases e seus
valores absolutos e defasamentos so diferentes

compensao

de

O
item
no
Transformer
Model
(deactivated) deve ser marcado para testes em
rels
diferenciais
convencionais
sem
compensao de defasamento

Figura 7 Tempos e Modelo do Transformador


Test Max. Restringe o mximo tempo de teste
para proteger o rel.
Delay Time o tempo entre sucessivos testes para
dar o tempo de reset do rel.
Estes so ajustes padro para os
parmetros de teste atuais que podem ser
ajustados na pagina General test parameters.

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 11: Differential e Advanced Differential

81

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte II: Sistema Automatizado de Teste

Os parmetros para o teste de rels


diferenciais convencionais, como a corrente
nominal do rel ( 1 ou 5 A), tm de ser ajustada
com o parmetro I nom na General Page.
O ajuste dos dados para o transformador e
TC no tem influncia no teste, mas eles so
representados no relatrio.

Figura 9 Valores de Idif> e Idif>>

1.6.2. Eliminao de Seqncia Zero


Para transformadores com enrolamento
delta-estrela aterrado, a corrente de seqncia
zero ir fluir na direo do enrolamento de terra
para falha fase-terra.
Porque a corrente de seqncia zero no
flui no enrolamento delta, a corrente no rel tem
de ser compensada ou corrigida pelo desbalano
causado pelo deslocamento angular sobre o
transformador.
A correo do angulo de fase pode ser
completada pelos TCs de interposio (mtodo
tradicional) ou com jumpers nos rels
(eletromecnicos
ou
estticos)
ou
computacionalmente para rels digitais.
O mtodo usado para eliminao de
seqncia zero critico para o teste. Entretanto,
isto necessrio para selecionar o tipo de
eliminao de seqncia zero utilizada.

Figura 8 Eliminao de seqncia zero


A eliminao de corrente de seqncia
zero
(somente
relevante
para
falhas
monofsicas), pode se ajustada.

Figura 10 Valores de tempo de Idif> e Idif>>

Figura 11 Tolerncias
1.7.

Characteristc Definition

Os dados de Idif> e Idif>> so trazidos


da pgina Protection Device (ver item 1.6.3).
Os campos Start point e End point so
utilizados para a entrada do ponto de partida e
fim da linha (Um elemento da caracterstica a ser
definida)
O
campo
de
Slope
calcula
automaticamente o slope do segmento de reta
parametrizado pelos pontos inicial e final.
Ainda pode-se configurar a inicializao
automtica do novo ponto de partida aps a
adio de uma nova linha.
O usurio pode escolher que seja
mostrados os valores dos pontos definidos da
caracterstica no grfico e as linhas de grid.

(IL I0) Corrente de linha de


seqncia zero
YD Transformador de interposio
YDY Transformador de interposio

1.6.3. Ajustes e Tolerncias


Ajustes e tolerncias do rel de acordo
com a planilha de dados do fabricante.

Figura 12 Configuraes do Editor de


Caracterstica

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

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82

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DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte II: Sistema Automatizado de Teste

Para quase todos reles diferenciais digitais


o valor lxf = constante aplicado. O bloqueio de
restrio harmnica independente do valor
da corrente diferencial. Para rels diferenciais
convencionais, entretanto, o valor lxf = f(Idiff)
aplicado. O bloqueio de restrio harmnica
dependente
do
valor
da
corrente
diferencial.
Para lxf = constante Linha reta
Para lxf = no constante Curva devido
concatenao de segmentos. Todos estes
segmentos so definidos individualmente pelas
suas coordenadas Start Idiff/In e Start Ixf/Idiff
tambm por End Idiff/In e End Ixf/Idiff.
Nota : No caso do rel permitir o ajuste de
atraso, note que este time delay(ajustado no
box time delay) dever ser ajustado por mais
tempo que o tempo de teste maximo (como
mostrado na tabela protection device).

2. PARAMETRIZAO DOS TESTES


Figura 12 Definio da caracterstica diferencial

2.1.

Test Data

Para o ajuste do teste de restrio


harmnicas.

Figura 14 configuraes do editor de


caracterstica
Figura 14 configuraes da restrio harmnica
Serve para definir as curvas harmnicas, a
faixa de tolerncia e o atraso da restrio
harmnica.

Itest Corrente de teste


Add - Adiciona os valores de Itest tabela de
teste.
Add Sweep - Adiciona a sequencia de valores de
Itest, comeando com Start Value, o valor de

:
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CAP 11: Differential e Advanced Differential

83

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DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte II: Sistema Automatizado de Teste

Itest incrementado pelo Step Size at o valor


de End Value .
Remove - Deleta os pontos de teste selecionados
na tabela.
Table -: Nesta tabela, entram os valores de
Itest.
Os
valores
nominais
do
correspondente ao valor de Idiff mostrado
para comparao.
Pontos de teste podem ser adicionados
entrando no campo Itest e clicando o boto
Add.
O numero de pontos de teste podem ser
adicionados pressionando o boto Add Sweep
e especificando a sequencia de pontos de teste.
2.2.

Test

Test Status - O Status do teste mostrado em


forma de Itest e Status.
Test Assessment - O teste pode ser
manualmente classificado como Passed ou
Failed
2.3.

General

Define quais enrolamentos sero testados e quais


enrolamentos esto no lado da falta e no lado da
fonte.
Todos os testes so possveis, onde o
enrolamento primrio envolvido. Por isso duas
possibilidades
de
teste
resultam
para
transformadores de dois enrolamentos e quatro
para transformadores de trs enrolamentos.
Tambm ocorre o ajuste de Load Side e Iload
I load usado somente se o checkbox Iload
marcado. Somente possvel para o teste de
objetos com 3 enrolamentos.

Figura 15 configuraes de Test


Data Input - possvel especificar quais valores
sero lidos/medidos. possvel escolher entre os
valores Primary ou Secondary ou Tertiary em
magnitude e angulo, ou valores de Idiff e Ibias.
Os campos de entrada mudam, por conseguinte.
Os dados preenchidos aqui sero includos do
relatrio do teste.

Figura 16 configuraes de General

:
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CAP 11: Differential e Advanced Differential

84

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte III: Testes Especiais

Cap 12 : Testes com Transitrios


Advanced Transplay e Harmonics
Resumo

2.1.

Este texto mostra passo a passo a


montagem de exemplos dos procedimentos de
teste utilizando o mdulo de teste Advanced
Transplay. Mostra tambm o exemplo de
utilizao do software Harmonics.

1. INTRODUO
O software Advanced Transplay utilizado
para importar ou editar dados transitrios para a
aplicao ao rel. Estes transitrios foram criados
por uma simulao ou aquisitados valores reais
do sistema atravs de equipamentos como
RDPs.
Os seguintes foramtos de arquivo so
suportados :

CFG Arquivo de configurao


comtrade que contem a descrio da
falta (nomes dos sinais, frquncia de
amostragem, etc...)
DAT Arquivo comtrade com exemplo
de valores da falta.
HDR Contem dados texto que no
so usados pelo software.
Formato L4 com arquivos PL4
Formato TRF com arquivos TRF.

Ajustes Rel SEL387

SLOPE1 = 25%
SLOPE2 = 75%
IRS1 = 3
O879 = 0,3
U87P = 5
INOMINAL = 5A
CTR1 = 120
CTR2 = 240
W1CTC = 0
W2CTC = 0
PCT2 = 25%
PCT5 = 45%

2.2.

Software Harmonics

Utilizando o software harmonics, vamos


gerar 4 arquivos com a extenso .CFG.

2.2.1. Arquivo 1
harmnico

24%

de

segundo

Vamos exemplificar a utilizao do


software Advanced Transplay utilizando dois
exemplos mostrados a seguir.

2. APLICAO
DE
ARQUIVOS
COMTRADE
GERADOS
PELO
SOFTWARE HARMONICS PARA A
VERIFICAO DA RESTRIO DE
SEGUNDO E QUINTO HARMNICOS
NO REL SEL 387.

Figura 1 - 24% de segundo harmnico

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 12: Testes com Transitrios - Advanced Transplay e Harmonics

85

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte III: Testes Especiais

2.2.2. Arquivo 2
harmnico

26%

de

segundo

Figura 4 - 46% de segundo harmnico


Foram
comtrade:

Figura 2 - 26% de segundo harmnico

2.2.3. Arquivo 3 44% de quinto harmnico

2.3.

gerados

quatro

arquivos

HARM24%.cfg
HARM26%.cfg
HARM44%.cfg
HARM46%.cfg

Aplicao dos Arquivos Comtrade

Utilizamos agora o Advanced Transplay


para aplicarmos os arquivos Comtrade ao rel
SEL387, e analisarmos o desempenho do rel.
Primeiramente vamos iniciar o software Advanced
Transplay, e fazer todas as configuraes
necessrias para a execuo do ensaio.

2.3.1. Primeiro passo


Objeto a ser testado:

Figura 3 - 44% de segundo harmnico

2.2.4. Arquivo 4 46% de quinto harmnico.

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 12: Testes com Transitrios - Advanced Transplay e Harmonics

86

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte III: Testes Especiais

Figura 8 Configurao das Entradas binrias

2.3.3. Terceiro Passo


Importa-se o arquivo de teste:

Figura 5 Ajustes do dispositivo

2.3.2. Segundo Passo


Configurao do Hardware de Teste:

Figura 9 Importar...
Escolhemos o arquivo HARM24%.cfg:

Figura 6 Configurao de Hardware

Figura 10 Arquivo de teste


Configurao da Mala Omicron :
Figura 7 Configurao das Sadas Analgicas

:
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CAP 12: Testes com Transitrios - Advanced Transplay e Harmonics

87

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte III: Testes Especiais

A marca de estado ser denominada


INICIO e foi inserida no instante t = 0,000 s.
Vamos agora aplicar o sinal Comtrade ao
rel SEL387.

Figura 11 Vista de detalhe


Canal Nesta coluna, os canais analgicos do
arquivo de dados que foi carregado, so
marcados como canais de sada da CMC. Essa
configurao pode ser alterada de acordo com a
necessidade do teste. Isto feito clicando na
celula correspondente e selecionando o sinal da
lista.
Escala Nesta coluna, podemos entrar com um
fator de escala para o sinal de sada. Este fator
permite aumentar ou diminuir a grandeza.
Min e Max Mostra os valores mnimo e mximo
do sinal analgico de acordo com a escala
escolhida.
Vamos agora inserir marcadores, para
efetuar a medio do tempo entre a aplicao do
sinal e a operao do rel.

Figura 12 Inserir marcadores

Figura 14 Aplicao de sinal


Pode-se ativar a visualizao de medida
para realizar a leitura do tempo de atuao do
rel.

Figura 15 Leitura do tempo de atuao


Conclumos que houve a atuao do rel
em aproximadamente 37 ms.
Repetimos os mesmos procedimentos para
os outros arquivos, e teremos como resultado a
operao do rel para o arquivo HARM44%.cfg e
a no operao do rel para os arquivos
HARM26%.cfg e HARM46%.cfg.

3. APLICAO
DE
ARQUIVOS
COMTRADE AQUISITADOS POR UM
REGISTRADOR
DIGITAL
DE
PERTURBAO
DURANTE
UMA
OCORRNCIA
NO
SISTEMA
ELTRICO.
3.1.

Figura 13 Inserir marcadores

Descrio da Ocorrncia

Houve falta monofsica envolvendo a fase


"C" de uma LT 345kV causada por provvel
descarga atmosfrica. A falta foi localizada pela
oscilografia dos rels como sendo a 38% do

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 12: Testes com Transitrios - Advanced Transplay e Harmonics

88

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte III: Testes Especiais

comprimento total da LT contados a partir do


terminal A, e eliminada em 50ms pela atuao
das protees primria e secundria de distncia
para falhas terra zona 1 em ambos os
terminais.
Anlise Cronolgica
T0
Incio da perturbao
T1 = T0 + 42ms
Abertura do terminal A da LI 345kV
T2 = T0 + 50ms
Abertura do terminal B da LI 345kV
T3 = T0 + 3min 34seg
Atuao do ECE
3.2.

Ajustes do Rel SEL321

Z1P = 4.79 Z2P = 8.20


Z3P = 8.20 Z4P = 10.25
50PP1 = 1.00 50PP2 = 1.00 50PP3 = 1.00
50PP4 = 1.00
Z1MG = 4.79 Z2MG = 8.20 Z3MG = 8.20
Z4MG = 10.25
XG1 = 4.79 XG2 = 8.20
XG3 = 8.20 XG4 = 10.25
RG1 = 4.79 RG2 = 8.40
RG3 = 8.40 RG4 = 10.30
50L1 = 0.50 50L2 = 0.50
50L3 = 0.50 50L4 = 0.50
50G1 = 0.50 50G2 = 0.50 50G3 = 0.50
50G4 = 0.50
k01M = 1.115 k01A =-2.64 k0M = 1.115
k0A =-2.64
3.3.

RELID =21P-PRIMRIA
TRMID =LI 1 (21P)
Z1MAG = 6.84
Z1ANG = 84.81 Z0MAG =
29.71 Z0ANG = 82.77
LOCAT = Y
LL = 100.00 CTR = 600.0
PTR = 3000.0
PMHOZ = 4
GMHOZ = 4
QUADZ = 4
DIR1 = F
DIR2 = F
DIR3 = R
DIR4 = F

Aplicao dos Arquivos Comtrade

Utilizamos o software Advanced Transplay


para aplicarmos o arquivo Comtrade aquisitado
do RDP de uma das subestaes ao Rel SEL321.

3.3.1. Primeiro Passo


Configurao do Objeto sob Teste

Figura 16 Objeto sob Teste


:
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CAP 12: Testes com Transitrios - Advanced Transplay e Harmonics

89

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Parte III: Testes Especiais

3.3.2. Segundo Passo


Configurao de Hardware de Teste:

Figura 17 Configurao de Hardware

Figura 18 Sadas Analgicas

Figura 19 Entradas binrias

3.3.3. Terceiro Passo


Para realizao do teste, importa-se o arquivo

Comtrade que foi aquisitado pelo RDP da


Estao 1.
O arquivo foi nomeado IPS78_2003.cfg

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 12: Testes com Transitrios - Advanced Transplay e Harmonics

90

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte III: Testes Especiais

Figura 20 Importao do arquivo

Figura 21 Tela de teste


O prximo passo selecionar no menu a
opo iniciar e em seguida selecionar a opo
Inserir marcador de estado.
Vamos nomear este estado como Inicio da
Falha. Observar que o tempo deste evento
aproximadamente 486 ms.

Figura 22 Inserindo marcador


:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 12: Testes com Transitrios - Advanced Transplay e Harmonics

91

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte III: Testes Especiais

O passo seguinte aplicarmos este sinal ao


Rel e observarmos o desempenho do mesmo
para esta ocorrncia real do sistema eltrico.

Podemos utilizar tambem a opo Ativar


Visualizao de Medida, e medirmos o tempo
entre o Inicio da Falta e o instante da abertura do
Disjuntor.

Figura 23 teste realizado

Figura 24 medida de tempo

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 12: Testes com Transitrios - Advanced Transplay e Harmonics

92

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte III: Testes Especiais

Cap 13 : Teste Ponta a Ponta


Resumo
Este trabalho descreve os procedimentos
utilizados para a realizao do teste ponta a
ponta em diversos sistemas de proteo,
sincronizados por sinais de satlite do sistema de
posicionamento global (GPS), utilizando sinais
transitrios gerados por programas de simulao
de redes eltricas ou adquiridos por meio de
registrador de perturbaes.

1. INTRODUO
O Sistema Eltrico de Potncia consiste de
uma extensa e complexa malha devido
interligao de grandes centros de gerao e
consumo de energia eltrica.
No caso de linhas de transmisso, o
sistema de proteo com esquemas de
teleproteo concebido utilizando-se rels, um
em cada ponta da linha de transmisso, e um
sistema de comunicao entre eles.
Os padres de teste e comissionamento
aceitos atualmente so realizados com intuito de
testar a funcionalidade e as caractersticas da
proteo. Os ensaios so realizados nos rels
individualmente nas duas pontas da linha de
transmisso.
Utilizando-se procedimentos e ferramentas
adequadas, como equipamentos de teste
microprocessados,
tem-se
obtidos
bons
resultados, e a garantia da atuao desses rels,
dentro das caractersticas de parametrizao dos
mesmos.
Entretanto tal procedimento traz a
desvantagem de testar os rels individualmente
ou seja, no existe garantia de que todo o
sistema de proteo trabalhar em conjunto.
Esta desvantagem pode ser superada com
a aplicao de um mtodo capaz de testar o
sistema completo, isto , testar os rels em cada
ponta da linha de transmisso e o link de

comunicao, simulando as condies reais de


atuao de todo sistema de proteo.
Os sistemas de teste foram estruturados
com equipamentos de teste OMICRON,
sincronizados com unidades CMGPS. Um sinal de
clock usado como referncia para partidas
simultneas dos equipamentos de teste nos
terminais da linha testada. Assim, foram
aplicados arquivos de transitrios de falta
contendo sinais analgicos secundrios de
tenses e correntes, gerados pelo programa de
simulao ATP ou atravs de equipamentos de
simulao do sistema eltrico, como o RTDS. Tais
arquivos so preparados de forma a possibilitar a
injeo simultnea desses sinais nos rels dos
terminais da LT testada

2. PROCEDIMENTO DO TESTE PONTA A


PONTA
Este mtodo consiste no teste ponta a
ponta, sincronizado por sinais de satlite do
sistema de posicionamento global (GPS),
utilizando sinais transitrios gerados pelo ATP ou
sistemas de simulao de rede. Com determinada
condio de falta aplicada em ambos rels, nas
pontas
da
linha
de
transmisso,
sicronizadamente, pode-se verificar a completa
funcionalidade de todo esquema de proteo da
linha.
Para execuo de teste na proteo so
utilizados conjuntos de teste de injeo
secundria, largamente usados para executar
testes de comissionamento e rotina com todos os
tipos de rels, mostrado na figura 2.
Assim este procedimento capaz de testar o
sistema completo como uma unidade, isto ,
testar os rels em cada ponta da linha de
transmisso e o link de comunicao, com um
teste simulando as condies reais de atuao de
todo sistema de proteo.
Os testes ponta a ponta necessitam de
alguns requisitos dos conjuntos de testes, dentre
eles:

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 13: Teste Ponta a Ponta

93

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte III: Testes Especiais

Figura 1 Configurao do teste ponta a ponta


a) Software para a modelagem das condies
de faltas
b) Equipamento de sincronia de tempo

Os procedimentos adotados e os
conjuntos de teste CMC156/256 usados para
executar os testes fornecem todos os recursos
especificamente requisitados:

c) Software para a aquisio das respostas do


sistema (acionamento de contatos,
medio de tempo de trip, etc.)

Figura 2 Utilizao de conjuntos de teste de


injeo secundaria

totalmente controlado pelo PC.


Sinais de falta podem ser prcarregados e serem injetados segundo
um sinal de disparo.

Possui 10 entradas binrias para


aquisio das respostas do sistema,
com uma taxa de amostragem
suficiente (10 kHz). Sinais de disparo
liberados pelos receptores GPS,
entretanto, podem ser captados com
uma exatido de 120 us. Isto mais
que suficiente, pois os tempos de
disparos tpicos de um rel ocorrem
em torno de 20 ms.

Por meio de um software ou sistema


de simulao, a linha de transmisso a
ser testada pode ser modelada,
gerando
correntes
e
tenses

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 13: Teste Ponta a Ponta

94

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte III: Testes Especiais

disponveis em forma de arquivos


transitrios em formato padro
COMTRADE ou PL4.

O sistema permite a realizao de


provas fora de linha (off line), ou seja,
permite executar uma prova de forma
simulada, sem a necessidade de
conectar o equipamento nem o rel de
proteo, desta forma todo o teste foi
preparado no escritrio.

2.1.

Equipamentos utilizados

2.1.1. Equipamento de Teste Trifsico


Fontes e Amplificadores
Para injeo de sinais secundrios no
sistema
de
proteo
foram
utilizados
equipamentos OMICRON CMC156 e CMC256, e
amplificador de corrente CMA156.

Figura 3 Equipamento de teste CMC 156 com amplificador

2.1.2. Unidade de
OMICRON

Sincronizao

CMGPS

Quando se realizam testes ponta a ponta


dos esquemas de proteo de linhas, so
necessrias vrias partidas simultaneamente. A
CMGPS uma unidade baseada em sincronizao
GPS que e usada com os equipamentos de teste
CMC.
O CMGPS recebe os sinais dos satlites do
sistema de posicionamento global (GPS) e
proporciona uma sada no tempo especificado
pelo usurio. Este sinal de clock usado como
entrada de trigger para a partida da unidade
CMC. O CMGPS foi desenvolvido para cumprir os
requisitos de testes de campo, porque o receptor
de GPS normal tem algumas desvantagens
(tamanho, peso, funcionamento complicado).
O CMGPS tipicamente esta pronto para
operao 5 minutos depois de ativado e emite
um pulso pr minuto (1 sinal PPM). O pulso de
sincronizao pode ser configurado de acordo
com a necessidade da aplicao. O software que

est integrado com os mdulos de teste (neste


caso utilizando o Advanced Transplay) e tambm
prov uma aplicao independente. Isto permite
o ajuste do primeiro pulso de sada, a freqncia
e a polaridade.

Figura 4 Unidade de Sincronizao CMGPS


Dois pulsos de tempo independentes esto
disponveis em conectores separados, em um
conector de 16 pinos (sada Pulso 1) que est
conectado com o equipamento CMC (interface

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CAP 13: Teste Ponta a Ponta

95

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte III: Testes Especiais

externa) e o outro em 2 conectores tipo banana


(sada Pulso 2).
2.2.

Parametrizao Arquivos de Teste


com
Advanced
Transplay

OMICRON

Advanced transplay uma ferramenta


utilizada para realizar testes com sinais
transitrios utilizando o sistema CMC da
OMICRON.
Arquivos de sinais transitrios obtidos dos
registradores digitais de faltas ou de programas
de simulao de redes eltricas podem ser
carregados, processados e reproduzidos com o
Advanced Transplay. A resposta do rel que est
sendo testado com estes sinais gravada e
avaliada. O relatrio do teste gerado
automaticamente.
O Advanced Transplay aceita os formatos
de arquivos COMTRADE (C37.111-1991 e

P37.111/D11), PL4 (formato ASCII para PC) e TRF.


Permite a distribuio do sinal de cada canal de
tenso ou corrente a cada canal de sada do
equipamento, segundo a escolha do operador.
Marcadores podem ser ajustados para
assinalar pontos significantes do oscilograma, tal
como o ponto de incio da falha, partida, disparo,
etc. Estes marcadores constituem a base para as
medies de tempo.
O Advanced Transplay no s reproduz
sinais de tenso e de corrente como tambm
pode reproduzir sinais binrios de um registro de
faltas, utilizando as sadas binrias (transistor ou
rel) do CMC. Sinais binrios adicionais (por
exemplo, sinais de envio/recebimento de
esquemas baseados em comunicao) podem ser
agregados. A Figura 5 mostra a tela de um teste
j realizado com a oscilografia do sinal, a
simulao de sinais de disjuntores e a respostas
das entradas binrias.

Figura 5 Vista dos sinais de teste Advanced Transplay OMICRON


Durante a reproduo das faltas, os sinais
de tenso, corrente e binrio so aplicados a um

rel de proteo. Se necessrio, a reproduo


pode ser sincronizada via GPS ou por um pulso

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CAP 13: Teste Ponta a Ponta

96

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte III: Testes Especiais

de tempo aplicado atravs de uma entrada


binria. Podem ser configurados a data, o
instante de disparo e os intervalos de repetio

deste sinal. A Figura 6 mostra a tela de


configurao do sistema de disparo e
sincronizao.

Figura 6 Vista do disparo do sistema de sincronizao Configurao do CMGPS


A resposta da proteo medida e
avaliada por meio de medies de tempo.
Medies de tempo absoluto ou relativo so
possveis.
Medies de tempo absolutas so
realizadas determinando-se os intervalos de
medida segundo os marcadores ajustados sobre
a oscilografia, que determinam, por exemplo, os
tempos de partida ou disparo do rel enquanto o
sinal reproduzido.

Medies relativas comparam a resposta


do rel durante a reproduo do sinal e sua
resposta original armazenada no registro
(referncia), ou seja, o operador define os valores
esperados e os intervalos de tolerncia para cada
tempo lido. O sistema devolve automaticamente
e graficamente uma avaliao do ponto testado,
conforme mostrado na Figura 7.

Figura 7 Visualizao das medidas dos tempos de atuao do sistema de proteo aps o teste

3. CONCLUSES

O mtodo apresentado oferece novas


possibilidades para teste de proteo e poder
desempenhar um papel importante no que diz

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CAP 13: Teste Ponta a Ponta

97

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte III: Testes Especiais

respeito a temas como anlise distncia para


atendimento a clientes ou testes integrados entre
empresas fornecedoras e consumidores de
energia eltrica.
Com os mtodos tradicionais um teste
dessa complexidade pode durar vrias horas de
trabalho intensivo de diversos especialistas, em
ambos os locais de teste, pois rels de proteo
digitais trazem benefcios significativos em todos
os aspectos dos sistemas de potncia, porm eles
requerem maior sofisticao das instalaes e
principalmente uma qualificao diferenciada dos
profissionais envolvidos nas vrias etapas do
projeto at a manuteno destes sistemas
Isto posto, exigida das equipes
envolvidas uma qualificao superior abrangendo
noes
de
sistemas
de
potncia,
de
parametrizao de rels, de operao de software
dedicado.
Com os procedimentos adotados torna-se
possvel que especialistas possam dar apoio a
equipes de teste sem a necessidade de sua
presena fsica no local do teste, pois a
metodologia e procedimentos de teste podem ser
facilmente executados pelas equipes locais.
O teste isolado de equipamentos,
instalaes, painis e sistemas de comunicao
comprovam sua validade e performance
separadamente. Entretanto, com a injeo de
faltas simuladas no sistema de proteo como
um todo, cria-se a oportunidade de testar por
completo o esquema de proteo. Pode-se testar,
por exemplo, a integrao dos sistemas de
teleproteo, religamento monopolar, dentre
outros. Alm disso, o procedimento de teste
criado poder ser utilizado para testes
convencionais de rotina.
Dentre outras vantagens observadas, destacamos:
(1) A performance dos rels, bem como as
lgicas de teleproteo so verificadas.
(2) Simplicidade na realizao dos testes, com
nmero reduzido de conexes no painel

(6) O procedimento de teste criado pode ser


utilizado para testes convencionais de rotina.
De posse dos resultados obtidos nos teste de
comissionamento, tem-se os valores reais das
atuaes do sistema de proteo. Tais valores
podem ser incorporados aos procedimentos
de teste promovendo uma avaliao rpida e
confivel da performance do sistema.
(7) A anlise detalhada mediante a injeo de
uma falta no sistema pode ser realizada
imediatamente aps os testes, promovendo
imediata correo das no conformidades
encontradas. O processo pode ser facilmente
repetido at a obteno do resultado
desejado.

4. REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS
(1) OMICRON electronics; CMC software User
manual V1.5 APROT.AE.3; July 2001;
(2) IEEE Standard C37.90.111 (1991); Common
Format for Transient Data Exchange
(COMTRADE);
(3) PAULINO, M. E. de C.; Sistema Automatizado
de Teste de Proteo Eltrica OMICRON,
Novas tecnologias para teste secundrio em
painis de comando e proteo Adimarco;
Maio 2002;
(4) PAULINO, M. E. de C.; Lima, R. C. De; Aoun,
G. M.; Oliveira, R. C. de; Teste Ponta a Ponta,
nas Protees das Linhas de Transmisso
Cachoeira Paulista-Itajub e Itajub-Poos de
Caldas 500 KV, Sincronizado por GPS,
Utilizando Sinais Transitrios Modelados em
ATP. XVII SNPTEE Seminrio Nacional de
Produo e Transmisso de Energia Eltrica,
Uberlndia, MG; Outubro 2003;

(3) Os
testes
foram
realizados
com
equipamentos convencionais j existentes nas
empresas.
(4) Toda a preparao foi feita off line, no
escritrio.
(5) O teste foi realizado na frao do tempo que
seria necessrio para o teste convencional.
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98

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte III: Testes Especiais

Cap 14 : Cheque de Polaridade


Resumo
Este texto apresenta os procedimentos
para utilizao do Polatity Check, instumento
para cheque de polaridade de uma instalao.

1. INTRODUO
Para determinar a polaridade correta em
um circuito, o equipamento CMC injeta um sinal
de teste com polaridade especial em um ponto
pr determinado.
O sinal gerado pelo CMC pode ser tanto
de corrente como um sinal de tenso.

Este sinal tem caractersticas similares a um


sinal dente-de-serra com diferentes inclinaes de
subida e descida.

2. UTILIZANDO O CPOL
O cheque de polaridade realizado com o
acessrio CPOL, um portatil instrumento de uso
muito fcil.
O esquema de utilizao do CPOL
mostrado na figura 1.
Na outra ponta do circuito testado so
conectadas as pontas de prova do CPOL, que
indicar as condies do cirtuito, conforme
descrito a seguir.

Figura 1 Esquema para cheque de polaridade


Se o CPOL detecta um sinal com
a mesma caracterstica no ponto
testado,
a
polaridade

considerada OK e aceso um
LED verde.
Se o sinal dectado possui
caractersticas
invertida
ou
distorcida, o CPOL considera a
palaridade no OK, aceso o

LED vermelho
Se o CPOL detecta um sinal
muito baixo, ambos os sinais
so acesos ao mesmo tempo.
Como
soluo
pode-se
aumentar o nivel do sinal
injetado.

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CAP 14: Cheque de Polaridade

99

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte III: Testes Especiais

Na figura 2 mostrado em detalhe o


CPOL.
Se o usurio no tem certeza se a sua
medida esta correta, ele pode confirmar fazendo
a reverso na aplicao das pontas de prova do
CPOL. Neste caso, o outro LED ir acender.

3. A BATERIA DO CPOL
Se a bateria do CPOL
estiver baixa, os LEDs
comearam a piscar juntos

Pelo perodo eu os LEDs estiverem


piscando, as baterias proveram suficiente
potncia para continuar operando. Entretanto, as
barterias devem ser trocadas assim que possvel

CUIDADO:
Nunca
compartimento
perigoso de
compartimento
prova tocar um
em potencial.

operar
o
CPOL
com
o
de baterias aberto. Um nvel
tenso pode ocorrer no
da bateria se uma ponta de
ponto de teste com alta tenso

Figura 2 CPOL Polarity Checker

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CAP 14: Cheque de Polaridade

100

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Parte III: Testes Especiais

Cap 15 : Enerlyzer
RESUMO

O EnerLyzer um software de mdulo de


medio que parte do OMICRON Test Universe.
projetado para trabalhar com o CMC 256,
convertendo suas entradas binrias em entradas de
medio analgicas. O CMC 256 a nica unidade
com potencialidade. Este captulo apresenta os
procedimentos para utiliao do mdulo de
software Enerlyzer.
1 INTRODUO

O
EnerLyzer
permite
configurar
individualmente qualquer ou todas as dez entradas
binrias do CMC 256 para transformar em entradas
analgicas para medio de tenses ou correntes.
O CMC 256 tem um DSP independente para
executar a amostragem dos dados dos sinais da
tenso ou da corrente. EnerLyzer pode executar a
anlise e monitorao em tempo real do
componente
de
energia.
EnerLyzer
pode
matematicamente combinar e avaliar os canais de
medio a fim conseguir:
componentes DC
valores eficazes (RMS)
valores de pico (Vpico, Ipico, )
ngulos de fase com referncia a um
dado sinal de entrada
potncias aparente, reativa e real
diagramas de harmnicos
captura de sinais de entrada transitrios
O EnerLyzer funciona como um mdulo de
medio autnomo com dois modos de operao:
modo multmetro e modo gravao de transitrios.
2 DADOS DO HARDWARE DO CMC 256

Cada uma das dez entradas binrias na


seo ENTRADA BINRIA/ANALGICA do CMC 256
pode ser configurada atravs do EnerLyzer para ser
uma entrada analgica para tenses CC e CA at
600V. As entradas so implementadas como
entradas de tenso e tm cinco escalas de medida:
100 mV, 1V, 10V, 100V e 600V. As entradas so

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protegidas em cada escala de medida at a tenso


de entrada Vrms = 600 V e de Vpico = 850V.
Impedncia de entrada: 500kO // 50pF em
todas as escalas de medida.
Proteo de sobrecarga: Vpico = 850 V
(Vrms = 600V) do potencial de terra de referncia, de
uma outra entrada ou proteo de terra (protective
earth ground - PE).
Devido s entradas analgicas do CMC 256
serem entradas de tenso, as pontas de prova da
corrente ativa com sadas de tenso so usadas para
medir correntes. Todas as pontas de prova devem
ser pontas de prova de corrente ativa com sada de
tenso ou pontas de prova de corrente com um
shunt.
A preciso da medida atual limitada
preciso do clamp na ponta de prova.
2.1 ENTRADA BINRIA/ANALGICA (1 - 10)
As dez entradas binrias so dividida em
cinco grupos de dois, cada grupo separado
galvanicamente dos outros. Conseqentemente,
estes so convertidos em grupos de duas entradas
quando EnerLyzer usado.

Figura 1: Entrada Binria/Analgica.


A captao de valores de medio com
troca de escala de cada dois canais ocorre em um
estgio de entrada analgica AFE (Analog Front End)
que separado galvanicamente dos outros estgios
da entrada.
A largura de faixa nas entradas analgicas
pode variar de 0Hz (CC) a 10kHz. A taxa de
amostragem pode ser trocada entre trs valores
predefinidos: 28,4kHz, 9,48kHz e 3,16kHz.
Os valores medidos so passados atravs de
um amplificador de isolao Unidade de

CAP 15 : Enerlyzer

101

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte III: Testes Especiais

Medio" e digitalizados com um conversor A/D.


Processamento adicional ocorre atravs de um
processador de sinal digital de ponto flutuante (DSP)
de alta performance.
Assim, potncia
aparente, potncia reativa,
potncia real, etc., podem ser fornecidas em tempo
real e ser transmitidas ao PC.
2.2 MODO MULTMETRO
O modo multmetro projetado para sinais
de medio de estado estacionrio, tais como CC ou
senoidal. Medies como valores rms, deslocamento
de fase, freqncia, etc. podem ser feitas.
Os sinais de entrada so processados em
tempo real sem nenhum atraso intencional.
2.3 - GRAVAO DE TRANSITRIOS

Figura 2: Definio do canal de tenso e corrente

Neste modo de operao, sinais transitrios


em at 10 canais de entrada podem ser capturados
sincronicamente. A captura comea sempre que
uma condio de trigger encontrada. As condies
do trigger so configuradas facilmente no software
EnerLyzer.
Alm disso, um tempo de offset para a
janela de captura ao ponto do tempo de trigger
pode ser especificado. O atraso do trigger pode ser:

O uso do canal pode ser especificado


na fileira da funo com menus em
cada canal de 1 a 10. Os canais
podem ser usados como entradas
binrias,
entradas
contadoras,
entradas da tenso ou entradas de
corrente.

positivo (a gravao comea aps o


ponto de tempo do trigger)
ou negativo (a gravao comea j
antes do ponto de tempo do trigger).

A escala nominal pode ser


especificada cada canal de tenso ou
corrente. A escala nominal o
mximo dinmico (valor de pico) que
esperado aparecer no canal.

O comprimento mximo da captura


dependente dos ajustes para a taxa de amostra e o
nmero de canais a serem capturados.
2.4 CONFIGURAO DO HARDWARE
Inicie o programa EnerLyzer a partir da
pgina inicial do OMICRON Test Universe.
A configurao do hardware iniciada no
programa EnerLyzer ou pressionando o cone ou
selecionando Parmetro | Configurao de
Hardware.
A mesma caixa de dilogo da configurao
de hardware aparece da caixa de dilogo
Configurao da Medio quando o cone de
configurao pressionado. A caixa de dilogo
Configurao da Medio aparece quando o
boto Configurao pressionado a partir da guia
Sinais ou da guia Potncia do Modo Multmetro.

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Para cada canal de corrente, a


relao de clamp da corrente pode
ser especificada. Este ajuste na caixa
de dilogo Configurao de
Hardware deve combinar os ajustes
no clamp de corrente atual.
As entradas do CMC 256 foram planejadas
para sinais sinoidais. Assim, a escala nominal pode
ser considerada Vrms. Junto com uma relao de
clamp, especifica quanto maiores os valores de pico
podem ser antes que o clipping ocorra. Isto
importante lembrar para os sinais no-senoidais que
podem estar dentro da escala nominal de Vrms mas
que pode ter valores de pico maiores.

CAP 15 : Enerlyzer

102

SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte III: Testes Especiais

Especificar uma escala maior pode impedir


clipping. Entretanto, fazer resultados em uma perda
de definio, porque a converso analgica para
digital tem somente 12-bits para representar a
escala inteira.
A coluna da esquerda da caixa de dilogo
Configurao de Hardware usada especificar o
sinal de entrada do Mdulo de Teste. Os nmeros
de ndice n no Vn e In representam uma conexo
lgica em caixas de dilogo de potncia
subseqentes para determinar a Potncia n real,
aparente, e reative n. Ou seja, Potncia2 calculada
de V2 e I2. No possvel monitorar por exemplo
os resultados de V1 e de I3.
A segunda coluna da esquerda na caixa de
dilogo da Configurao de Hardware usada
dar entrada em um Nome de Exibio para caixas
de dilogo subseqentes. Neste exemplo para
monitorar tenses e correntes, os nomes de exibio
escolhidos so V a, V b, e V c para as tenses de
entrada e I a, I b e I c para as correntes de
entrada, como mostrado na Figura 6-3. A parcela
restante da caixa de dilogo da Configurao de
Hardware uma tabela para estabelecer conexes
lgicas entre os sinais de entrada ou os nomes de
exibio e os canais fsicos no CMC 256. Cada sinal
de entrada pode ser atribudo a somente um canal e
vice-versa.
A Figura 2 mostra um exemplo das
conexes lgicas e da fiao fsica planejada das
pontas de prova de tenso e dos clamps de corrente
do CMC 256. Se a fiao real dos clamps de
corrente for diferente (por exemplo, se as entradas
de corrente forem trocadas pelas entradas de
tenso), as conexes lgicas podem ser usadas fazer
as associaes em vez dos cabos fisicamente no
painel dianteiro do CMC 256.
2.5 - AJUSTANDO O HARDWARE
Ambas as guias Sinais e Potncia
fornecem acesso s configuraes do
canal ao pressionar no boto
Configurao. Essa ao exibe a
caixa de dilogo Configurao da
Medio que permite que voc mude
a configurao da medio conforme
necessrio.
Selecione Parmetro | Configurao De
Hardware. No menu F1 Medio de Freqncia,
selecione o primeiro canal que mede a freqncia.
Este canal usado tambm como canal de

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referncia para a medio da fase. (Pela definio,


sempre mostra fase 0).
No menu F2, voc pode selecionar um segundo
canal para a medio da freqncia.
O fator mdio ajuda a suavizar sinais
ruidosos. Medir um sinal de estado permanente,
ajustando o fator mdio para mdio ou alto
aumenta a preciso. Se o sinal variar rapidamente
ou tiver uma forma de onda complicada, melhor
desligar.
A mdia aplica-se a todas as leituras (isto ,
RMS, fase, freqncia e potncia). A mdia trabalha
"recordando" valores precedentes,
usando a
equao:
Resultado = NovoValor * FatorMdio +
ValorAntigo * (1 - FatorMdio)
NovoValor: o valor da nova amostra.
ValorAntigo: o valor das amostras precedentes
(que tambm tinham sido calculadas pela mdia).
Resultado: o valor recentemente calculado.
FatorMdio: o fator mdio
1 = para nenhuma mdia,
0,6 = para mdia de valor mdio, e
0,1 = para mdia elevada.
A taxa de amostragem determina a preciso
do sinal gravado. Se o sinal medido varia
significativamente em tempo ou tem uma forma de
onda complicada, aumentar a taxa de amostragem
ajudar a medir o sinal precisamente. Se o sinal for
uma freqncia senoidal baixa, a taxa de
amostragem pode ser ajustada a uma taxa mais
baixa.
Notas:
A taxa de amostragem deve ser ao menos
duas vezes a maior componente da
freqncia a ser medida.

Na caixa de edio da taxa Restaurar, entre


com um valor que determina a freqncia
com que a informao na tela atualizada.
A taxa Restaurar refere-se aos parmetros
da tela do PC e no amostragem real dos
sinais de entrada.

Na verso Enerlyzer Lite s habilitada a


opo Multmetro com a utilizao das
entradas 6, 8 e 10 para leituras analgicas.

CAP 15 : Enerlyzer

103

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Cap 16 : Modelo de Teste


Rel 7SJ63 (50/51)
Resumo
Este texto mostra passo a passo a
montagem dos procedimentos de teste da
funo sobrecorrente (50/51) do rel Siemens
7SJ63

elementos de tempo definido (instantneos)


incluem dois elementos de fase chamados 50-2 e
50-1 e dois elementos de terra chamados 50N-2
e 50N-1. Os elementos de tempo inverso incluem
um elemento de fase chamado 51 e um
elemento de terra chamado 51N.

1. CONSIDERAES INICIAIS

1.1.

A proteo de Sobrecorrente a principal


funo de proteo do rel 7SJ63.
Tal proteo pode ser habilitada ou
desabilitada para faltas fase ou fase-terra, e pode
ser configurada com varias curvas tempo x
corrente.
Existem quatro curvas de tempo definido
(elementos instantneos com temporizadores
opcionais) e duas curvas tempo inverso. Os

Os elementos de sobrecorrente 50-2 e


50N-2, fase e terra so comparados
separadamente com os valores de pickup dos
elementos 50-2 e 50-N2. Valores de correntes
acima dos valores so detectados e gravados
dentro do rel. Aps o trmino do tempo de
atraso acontece o trip.

Descrio
da
Proteo
Sobrecorrente Instantnea
50N)

de
(50,

Figura 1 - Diagrama lgico para a proteo 50-2 e 50-N2.

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 16: Modelo de Teste Rel 7SJ63 (50/51)

104

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Figura 2 - Diagrama lgico para a proteo 50-1 e 50-N1.

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 16: Modelo de Teste Rel 7SJ63 (50/51)

105

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

1.1 - PARAMETRIZAO DO REL:

Figura 3 Configurao do Rel Habilitao de funes de Proteo

Figura 4 Configurao da Funo 50/51 Phase Ground

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 16: Modelo de Teste Rel 7SJ63 (50/51)

106

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Figura 5 Configurao da Funo 50/51 Phase Ground

Figura 6 Curvas parametrizadas no rel

2. PARAMETRIZAO DOS ARQUIVOS


DE TESTE

configurada na tela Ajuste do Dispositivo


com os dados nominais do sistema e a descrio
do equipamento ser testado.

Utilizando o software Overcurrent, so


apresentadas as telas de configurao do teste,
relativas ao primeiro passo da Lei de OHM.
:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 16: Modelo de Teste Rel 7SJ63 (50/51)

107

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Figura 6 Ajuste do Dispositivo

Figura 7 Dispositivo de Proteo


Na tela Dispositivo de Proteo esto as
caractersticas do dispositivo de proteo, ou
seja, os dados parametrizados no rel, como as
tolerncias de tempo e corrente, o grupo de falta

a ser testado, bem como a direcionalidade do


sistema de proteo.
So definidos os parmetros do grupo de
falta com as correntes de pickup e o dial de
tempo.

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 16: Modelo de Teste Rel 7SJ63 (50/51)

108

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

3. CONSTRUO
CARACTERSTICA

DA

CURVA

Para a definio da curva tempo-corrente,


parametrizando a atuao do rel, utiliza-se a
opo de importar caracterstica.

4. AJUSTES DO TESTE
So definidos os intervalos para aplicao
dos pontos de teste sobre a curva tempocorrente, definida no item anterior. A tela
Mltiplos mostra que deve-se definir o intervalo
de teste, ou seja, os valores iniciais e finais do
intervalo e o passo de aplicao dos pontos
dentre do intervalo definido.

Figura 11 Definies dos pontos de teste

Figura 9 Opes de criao de novas


caractersticas
Atravs da opo Importar pode-se
acessar a biblioteca com as curvas caractersticas
fornecidas pelo software da OMICRON.

Automaticamente o software indica o nmero


total dos pontos a serem testados. Quanto o
operador aciona Add to Table, tais pontos so
plotados na tela de teste.
Assim, a figura 11 mostra a tela de teste pronta
para executa-lo.
A figura 12 mostra o teste executado.

Opo Siemens VI
escolhida
Figura 10 Definio da curva

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 16: Modelo de Teste Rel 7SJ63 (50/51)

109

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Tabela mostrando
a avaliao dos
pontos testados

Teste executado sob


a
caracterstica
grfica da funo
50/51

Figura 12 Teste executado

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 16: Modelo de Teste Rel 7SJ63 (50/51)

110

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Cap 17 : Modelo de Teste


Rel Micom P437 (50/51)
Resumo
Este texto mostra passo a passo a
montagem dos procedimentos de teste da
funo sobrecorrente (50/51) do rel Micom
P437.

Veremos neste capitulo a conceituao da


funo IDMT (Sobrecorrente Tempo Inverso) para
o rele P437.
Mostraremos tambm a utilizao do
software de comunicao e a respectiva
parametrazao da funo para o ensaio com a
mala OMICRON.

1. AJUSTES E CLCULOS

Figura 1 Funo IDMT (Sobrecorrente Tempo Inverso)

Figura 2 Logica da funo IDMT (1)

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 17: Modelo de Teste Rel Micom P437 (50/51)

111

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Figura 3 Clculo da caracterstica da funo IDMT

Figura 4 Curvas da caracterstica da funo IDMT

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 17: Modelo de Teste Rel Micom P437 (50/51)

112

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Figura 5 Logica da funo IDMT (2)

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 17: Modelo de Teste Rel Micom P437 (50/51)

113

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Figura 6 Parametros de Ajuste

2. CONCEITUAO

Tabela 1 Ajustes do rel P437

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 17: Modelo de Teste Rel Micom P437 (50/51)

114

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Figura 7 tela de parametrizao do rel


Resumo :
Iref,P = 1 x Inom
= Tap
Ch.factor kt,p = 0,5 = Dial de Tempo
Characterist. P
= IEC Very Inverse

3. CONSTRUO
CARACTERSTICA

DA

CURVA

configurada a tela Ajuste do Dispositivo,


com os dados nominais do sistema e a descrio
do equipamento ser testado.

Utilizando o software Overcurrent, so


apresentadas as telas de configurao do teste,
relativas ao primeiro passo da Lei de OHM.

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 17: Modelo de Teste Rel Micom P437 (50/51)

115

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Figura 8 tela de Ajustes do Dispositivo

Figura 9 tela do Dispositivo de Proteo


Na tela Protection Device so
as
as tolerncias de tempo e corrente, o grupo de
caractersticas do dispositivo de proteo, como
:
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CAP 17: Modelo de Teste Rel Micom P437 (50/51)

116

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

falta a ser testado, bem como a direcionalidade


do sistema de proteo.
So definidos os parmetros do grupo de
falta com as correntes de pickup e o dial de
tempo.
Nesta tela devemos parametrizar os valores
ajustados no rele, tais como :

Corrente de Pickup
Dial de Tempo
Direcionalidade
Grupo de Falta
Tolerncias do teste

Figura 10 Opes de caractersticas IEC

Figura 11 Definio de caracterstica


intervalo e o passo de aplicao dos pontos
dentre do intervalo definido.
Automaticamente o software indica o
So definidos os intervalos para aplicao
nmero total dos pontos a serem testados.
dos pontos de teste sobre a curva tempoQuando o operador aciona Add to Table,
corrente, definida no item anterior. A tela Add
tais pontos so plotados na tela de teste.
Multiple mostra que deve-se definir o intervalo de
teste, ou seja, os valores iniciais e finais do

4. AJUSTES DO TESTE

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 17: Modelo de Teste Rel Micom P437 (50/51)

117

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Assim, a figura 13 mostra a tela de teste


pronta para executa-lo

Figura 12 Definies dos pontos de teste

Figura 13 Tela de teste

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 17: Modelo de Teste Rel Micom P437 (50/51)

118

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Cap 18 : Modelo de Teste


Rel Micom P343 (50/51)
Resumo
Este texto mostra passo a passo a
montagem dos procedimentos de teste da
funo sobrecorrente (50/51) do rel Micom
P343.

Onde:

1. FAIXAS DE AJUSTE

Tempo de operao

Constante

Corrente Medida

Is

Ajuste de Corrente

Constante

Constante ANSI/IEEE (Zero para


curvas IEC e UK)

Mltiplo de tempo para curvas


IEC e UK

TD

Dial de tempo para curvas IEEE


/ US

Equao para as curvas IEC/UK


Mltiplos de tempo para curvas IEC / UK

Equao para as curvas IEEE/US

Dial de tempo para curvas IEEE / US

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 18: Modelo de Teste Rel Micom P343 (50/51)

119

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Tabela 1 Descrio das curvas segundo as normas apresentadas

2. DADOS PARA O TESTE

I>2 Time Delay

Funo
I>1 Function
I>1 Current Set
I>1 Time Delay
I>1 TMS
I>1 Time Dial
I>1 Reset Char
I>1 tRESET
I>2 Function
I>2 Current Set

3. CONFIGURAO DO TESTE

Ajuste
IEC VInverse
500 mA
0s
1
DT
0s
DT
1,5 x In A

3.1.

0s

Objeto a ser testado

Conforme descrito no captulo 08, so


preenchidos os dados do objeto a ser testado.

Figura 1 Objeto sob teste


:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 18: Modelo de Teste Rel Micom P343 (50/51)

120

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Figura 2 Dispositivo de Proteo

Figura 3 Definio da Caracterstica

4. TESTE PRONTO

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 18: Modelo de Teste Rel Micom P343 (50/51)

121

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Figura 4 Teste a ser realizado

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 18: Modelo de Teste Rel Micom P343 (50/51)

122

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Cap 19 : Modelo de Teste


Rel ZIV - ZLS (50/51)
Resumo
Este texto mostra passo a passo a
montagem dos procedimentos de teste da
funo sobrecorrente (50/51) do rel ZIV.

Alavanca de Tempo = 0,6

Curva - IEC (VI)

Ipickup = 1 A

2. CONSTRUO
CARACTERSTICA

1. AJUSTES E CLCULOS
Neste caso a elaborao dos clculos e a
apresentao dos ajustes so relativamente
simples, sendo eles:

DA

CURVA

Utilizando o software Overcurrent, so


apresentadas as telas de configurao do teste,
relativas ao primeiro passo da Lei de OHM.
configurada a tela Ajuste do Dispositivo,
com os dados nominais do sistema e a descrio
do equipamento ser testado.

Tabela 1 Configurao das sadas do rel

Figura 1 tela de parametrizao do rel

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 19: Modelo de Teste Rel ZIV ZLS (50/51)

123

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Figura 2 tela de Ajustes do Dispositivo


Na tela Protection Device so
as
caractersticas do dispositivo de proteo, como
as tolerncias de tempo e corrente, o grupo de
falta a ser testado, bem como a direcionalidade
do sistema de proteo.

So definidos os parmetros do grupo de


falta com as correntes de pickup e o dial de
tempo.

Figura 3 tela do Dispositivo de Proteo

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 19: Modelo de Teste Rel ZIV ZLS (50/51)

124

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Para a definio da curva tempo-corrente,


parametrizando a atuao do rel, utilza-se a
opo Curva Pr Definida IEC Muito Inversa.
Definida
a
curva,
segundo
a
parametrizao do rel a ser testado, no caso a

curva IEC VI (muito inversa), e de posse da tabela


dos pontos de tempos correspondente a corrente
aplicada, os dados so inseridos no software.

Figura 4 Opes de caractersticas IEC

Figura 5 Definio de caracterstica

3. AJUSTES DO TESTE
So definidos os intervalos para aplicao
dos pontos de teste sobre a curva tempocorrente, definida no item anterior. A tela Add
Multiple mostra que deve-se definir o intervalo de
teste, ou seja, os valores iniciais e finais do
intervalo e o passo de aplicao dos pontos
dentre do intervalo definido.

Figura 6 Definies dos pontos de teste

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 19: Modelo de Teste Rel ZIV ZLS (50/51)

125

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Automaticamente o software indica o


nmero total dos pontos a serem testados.
Quanto o operador aciona Add to Table, tais
pontos so plotados na tela de teste.

Assim, a figura 7 mostra a tela de teste


pronta para executa-lo.

Figura 7 Tela de teste

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 19: Modelo de Teste Rel ZIV ZLS (50/51)

126

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Cap 20 : Modelo de Teste


Rel Beckwith M3425A (51N)
Resumo
Este texto mostra passo a passo a
montagem dos procedimentos de teste da
funo sobrecorrente (51N) do rel Rel
Beckwith M3425A.

1. CONCEITUAO
utilizada para a proteo de faltas
terra. A famlia de curvas abaixo obedecem a
norma IEC Very Inverse..

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 20: Modelo de Teste Rel Beckwith M3425A (51N)

127

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

2. AJUSTES

3. TESTES

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 20: Modelo de Teste Rel Beckwith M3425A (51N)

128

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Tabela mostrando
a avaliao dos
pontos testados

Teste executado sob


a caracterstica
grfica da funo
51N

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 20: Modelo de Teste Rel Beckwith M3425A (51N)

129

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Cap 21 : Modelo de Teste


Rel SIEMENS 7SA611 (21)
RESUMO
Este texto mostra passo a passo
montagem dos procedimentos de teste da
funo distncia (21) do rel 7SA611

1. CONEXES
mostrado o diagrama de conexes do
rel 7SA611.

Figura 2 Caracterstica d rel 7SA611


2.1.

Parametrizao do Rel

2.1.1. Zona 1
Figura 1 Diagrama de conexes

2. CONSTRUO DA CURVA
CARACTERSTICA
Utilizando o software Advanced Distance,
so apresentadas as telas de configurao do
teste, relativas ao primeiro passo da Lei de OHM.
A caracterstica parametrizada dos ajustes
de zona no rel 7SA611 mostrada na figura 2,
a seguir.

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 21: Modelo de Teste Rel SIEMENS 7SA611 (21)

130

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

2.1.2. Zona 2

2.1.3. Zona 3

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 21: Modelo de Teste Rel SIEMENS 7SA611 (21)

131

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

2.1.4. Zona 4

2.1.5. Zona 4 extendida

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 21: Modelo de Teste Rel SIEMENS 7SA611 (21)

132

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

2.2.

Ajustes do Dispositivo

configurada a tela Ajustes do


Dispositivo, com os dados nominais do sistema
e a descrio do equipamento ser testado. As
zonas de proteo so configuradas segundo os
procedimentos apresentados no captulo 9, com

os dados parametrizados na ordem de ajuste do


rel.
A ordem de ajuste mostrada neste captulo
figura apenas como exemplo didtico. Atravs
das ferramentas para ajustes de zona e edio da
caracterstica da funo 21, o testador pode
facilmente modifica-las.

Figura 3 Ajustes do dispositivo


:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 21: Modelo de Teste Rel SIEMENS 7SA611 (21)

133

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

2.3.

Configurao de Hardware

Zona 1 Fase-Terra

Zona 2 Fase-Fase

2.4.

Montagem da Curva Caracterstica

Zona 1 Fase-Fase

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 21: Modelo de Teste Rel SIEMENS 7SA611 (21)

134

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Zona 2 Fase-Terra

Zona 4 Fase-Fase

Zona 3 Fase-Fase

ona 4 Fase-Terra

Zona 3 Fase-Terra

Zona Estendida Fase-Fase

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 21: Modelo de Teste Rel SIEMENS 7SA611 (21)

135

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Zona Estendida Fase-Terra

2.5.

Montagem das linhas de Teste

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 21: Modelo de Teste Rel SIEMENS 7SA611 (21)

136

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Cap 22 : Modelo de Teste


SEL 321 (21)
Resumo
Este texto mostra um exemplo de
montagem da curva caracterstica para o teste da
funo distancia (21) do rel SEL 321

1. CONSIDERAES INICIAIS

faltas, e pode ser configurada segundo as


caractersticas de proteo de zona escolhidas
pelo usurio.
Assim mostramos como exemplo a
montagem de algumas zonas de proteo da
funo 21 do rel SEL321 segundo descrito no
captulo 09.

A proteo de distncia pode ser


habilitada ou desabilitada para todos os tipos de

Figura 1 Ajuste do Dispositivo


:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 22: Modelo de Teste SEL 321 (21)

137

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

2. CARACTERSTICA DE ZONA 1 FASE-TERRA - QUADRILATERAL


Z1ANG = 86,52
RG! = 4

Z1ANG = 86,52
Z1MAG = 3,96

Figura 2 - Caracterstica de Zona 1 Fase-Terra - Quadrilateral

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 22: Modelo de Teste SEL 321 (21)

138

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

3. CARACTERSTICA DE ZONA 1 FASE-TERRA - MHO


Z1MG = 3,96

Z1ANG = 86,52

Figura 2 - Caracterstica de Zona 1 Fase-Terra MHO

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 22: Modelo de Teste SEL 321 (21)

139

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

4. CARACTERSTICA SEL 321 FUNO 21

Figura 3 Caracterstica SEL 321 funo 21

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 22: Modelo de Teste SEL 321 (21)

140

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Cap 23 : Modelo de Teste


Rel Micom P437 (21)
Resumo
Este texto mostra passo a passo a
montagem dos procedimentos de teste da
funo distncia (21) do rel Micom P437.

Veremos neste capitulo a conceituao da


funo distncia para o rele P437.
Mostraremos tambm a utilizao do
software de comunicao e a respectiva
parametrazao da funo para o ensaio com a
mala OMICRON.

1. CARACTERSTICA DE OPERAO DO
RELE

Figura 1 Caracteristica de operao

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 23: Modelo de Teste Rel Micom P437 (21)

141

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Figura 2 Elementos da caracteristica de operao

Figura 3 Parametrizao e ajustes do rele (1)

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 23: Modelo de Teste Rel Micom P437 (21)

142

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Figura 4 Parametrizao e ajustes do rele (2)

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 23: Modelo de Teste Rel Micom P437 (21)

143

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Figura 5 Parametrizao e ajustes do rele (3)

2. CONSTRUO
CARACTERSTICA

DA

CURVA

configurada a tela Ajuste do Dispositivo,


com os dados nominais do sistema e a descrio
do equipamento ser testado.

Utilizando o software Distance, so


apresentadas as telas de configurao do teste,
relativas ao primeiro passo da Lei de OHM.
:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 23: Modelo de Teste Rel Micom P437 (21)

144

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Figura 3 Caracterstica de operao do rel


ZONA 1 FASE-FASE

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 23: Modelo de Teste Rel Micom P437 (21)

145

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

ZONA 1 FASE-TERRA

ZONA 2 FASE-FASE

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 23: Modelo de Teste Rel Micom P437 (21)

146

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

ZONA 2 FASE-TERRA

ZONA 3 FASE-FASE

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 23: Modelo de Teste Rel Micom P437 (21)

147

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

ZONA 3 FASE-TERRA

3.

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 23: Modelo de Teste Rel Micom P437 (21)

148

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Cap 24 : Modelo de Teste


Rel SEL587 (87)
Resumo

1. AJUSTES E CLCULOS

Este texto mostra passo a passo a montagem dos


procedimentos de teste da funo diferencial de
fase (87) do rel SEL587.

Os ajustes e clculos da parametrizao do


SEL587 so apresentados no anexo.

2. CONEXES E ESQUEMAS DO REL

Figura 1 Painel de conexes do rel SEL587

Figura 2 Diagrama de ligao

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 24: Modelo de Teste Rel SEL 587 (87)

149

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Figura 3 Diagrama lgico do rel

3. MONTAGEM DA CURVA CARACTERSTICA

Figura 4 Caracterstica de operao do rel

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 24: Modelo de Teste Rel SEL 587 (87)

150

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Start Point1
Ibias = 0
Idiff = 0,3
End Point1
Ibias = 1,2
Idiff = 0,3

Figura 5 Caracterstica de operao do rel


3.1.

Primeiro Ramo
Figura 6 Primeiro Ramo da caracterstica de
operao do rel

0,25 = CD / OC
0,25 = 0,3 / OC => OC = 1,2
IBIAS1 = 1,2

Figura 7 Construo do primeiro ramo


3.2.

Segundo Ramo

0,25 = AB / OB => 0,25 = AB / 3

AB = 0,75 => Idiff2 = 0,75


Start Point2
Ibias = 1,2

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 24: Modelo de Teste Rel SEL 587 (87)

151

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Idiff = 0,3
End Point2
Ibias = 3
Idiff = 0,75

Figura 8 Segundo Ramo da caracterstica de


operao do rel

Figura 9 Construo do segundo ramo


3.3 Terceiro Ramo
0,75 = (4 0,75) / (IBIAS3 - 3)
IBIAS3 = 7,33
Logo,
Start Point3

Ibias = 3
Idiff = 0,75
End Point3
Ibias = 7,33
Idiff = 4

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 24: Modelo de Teste Rel SEL 587 (87)

152

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Figura 10 Construo do terceiro ramo

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 24: Modelo de Teste Rel SEL 587 (87)

153

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Cap 25 : Modelo de Teste


Rel SIEMENS 7UT512 (87)
1126 Processing of zero sequence current of wind. 2 Ioelimination

RESUMO
Este texto mostra passo a passo a
montagem dos procedimentos de teste da
funo diferencial de fase (87) do rel 7UT512.

1. AJUSTES E CLCULOS
Os ajustes e clculos da parametrizao
do Rel 7UT512 so apresentados anexos.

2. MONTAGEM
CARACTERSTICA
2.1.

DA

CURVA

Ajustes

Settings Parameter set A


1100 TRANSFORMER DATA
1102 Rated voltage of winding 1 of transformer
138.0 kV
1103 Rated apparent power of winding 1
40.0 MVA
1104 Primary rated current of CT winding 1
300 A
1105 Starpoint formation of CT winding 1
Towards
transformer
1106 Processing of zero sequence current of wind. 1 Without
1121 Vector group numeral of winding 2
1
1122 Rated voltage of winding 2 of transformer
13.8 kV
1123 Rated apparent power of winding 2
40.0 MVA
1124 Primary rated current of CT winding 2
2500 A
1125 Starpoint formation of CT winding 2
Towards
transformer

1600 TRANSFORMER DIFFERENTIAL PROTECTION DATA


1601 State of differential protection
on
1603 Pick-up value of differential current
0.20 I/InTr
1604 Pick-up value of high set trip
8.0 I/InTr
1606 Slope 1 of tripping characteristic
0.25
1607 Base point 2 for slope 2 of tripping charact. 2.5 I/InTr
1608 Slope 2 of tripping characteristic
0.50
1610 State of 2nd harmonic restraint
on
1611 2nd harmonic contend in the different. current 15 %
1612 Time for cross-blocking with 2nd harmonic
2 *1P
1613 Choice a further (n-th) harmonic restraint 5th
harmonic
1614 n-th harmonic contend in the differen. current 30 %
1615 Active time for cross-blocking with n-th harm. 2 *1P
1616 Limit IDIFFmax of n-th harmonic restraint
1.5 I/InTr
1617 Max. blocking time at CT saturation
8 *1P
1618 Min. restr. current for blocking at CT satur. 7.00 I/InTr
1625 Trip time delay of diff. current stage IDIFF> 0.00 s
1626 Trip time delay of diff. current stage IDIFF>> 0.00 s
1627 Reset delay after trip has been initiated
0.10 s
2100 BACK-UP OVERCURRENT PROTECTION
2101 State of back-up overcurrent protection
on
2103 Pick-up value for high current stage I>>
30.00 I/In
2104 Delay time for I>>
TI>> +* s
2111 Overcurrent time stage characteristic
Normal
inverse
2112 Pick-up value of overcurrent time stage I> 30.00 I/In
2113 Delay time for I>
TI> +* s
2114 Pick-up value of overcurrent time stage Ip 1.44 I/In
2115 Time multiplier for Ip (inverse time IDMT) Tp 1.30 s
2116 Method of RMS calculation for IDMT
Without
harmonics
2118 Reset delay after trip has been initiated
0.10 s
2121 Effective stage after manual closing of CB Ineffective
2900 MEASURED VALUE SUPERVISION
2903 Symmetry threshold for current monitoring
0.50 I/In
2904 Symmetry factor for current monitoring
0.50

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 25: Modelo de Teste Rel SIEMENS 7UT512 (87)

154

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Figura 1 Painel de conexes do rel SEL587

3. MONTAGEM DA CURVA CARACTERSTICA

Figura 2 Curva de Slopes 7UT512

3.1.

Primeiro Ramo

Idiff = 0,2 (1603)


Ponto Final1
Ibias = 0,8
Idiff = 0,2

Ponto Inicial1
Ibias = 0

0,25 = AB / OB
Ibias1 = 0,2 / 0,25
Ibias1 = 0,8

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 25: Modelo de Teste Rel SIEMENS 7UT512 (87)

155

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

3.2.

Segundo Ramo

8 0,25 x Ibias2 = 9
Ibias2 = 5
Idiff2 = 1,25
Logo:
Ponto Inicial2
Ibias = 0,8
Idiff = 0,2 (1603)
Ponto Final2
Ibias = 5
Idiff = 1,25

0,5 = 8 / (Ibias3 2,5)


Ibias3 = 18,5

3.3.

Terceiro Ramo

Ponto Inicial3
Ibias = 5
Idiff = 1,25
Ponto Final3
Ibias = 18,5
Idiff = 8 (1604)
0,25 = Idiff2 / Ibias2
(1)
0,5 = (8 Idiff2) / (18,5 Ibias2) (2)
8 Idiff2 = 9,25 0,5 Ibias2
De (1) Temos
Idiff2 = 0,25 x Ibias2
Substituindo, Temos

Resumindo:

1
2
3

Idiff
PInicial
0,2
0,2
1,25

Pfinal
0,2
1,25
8

Ibias
Pinicial
0
0,8
5

Pfinal
0,8
5
18,5

Tabela 1 Resumo
Utilizando o software Omicron Test Universe,
mdulo Advanced Diferential, temos :

Segundo Ramo

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

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156

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DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Segundo Ramo

Terceiro Ramo

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 25: Modelo de Teste Rel SIEMENS 7UT512 (87)

157

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

4. MONTAGEM DA CARACTERSTICA DE
RESTRIO HARMNICA
4.1.

4.2.

Quinto Harmnico

Segundo Harmnico

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 25: Modelo de Teste Rel SIEMENS 7UT512 (87)

158

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Cap 26 : Funes Especiais de


Proteo: SWITCH ONTO FAULT
Rel SEL321
Resumo
Este texto apresenta um exemplo de teste
da funo SOTF em um rel SEL 321

A lgica de SOTF (Switch Onto Fault)


permite especificar elementos para Trip por um
tempo ajustvel aps o fechamento do Disjuntor.
Esses elementos so especificados na
varivel lgica chamada MTO.

1. CONSIDERAES INICIAIS

Figura 1 Lgica de SOTF em um rel SEL321


Temos duas maneiras de trabalhar com
essa funo :
ENCLO = Y
Aps o fechamento do disjuntor, a sada
SOTFE imediatamente ativada, essa sada
permanece nessa condio pelo tempo ajustado
por SOTFD.
EN52A = Y
Nesse caso,
quando o disjuntor for
aberto, depois de decorrido o tempo ajustado em
52AEND, a sada SOFTE ativada. Essa sada
permanece nessa condio pelo tempo ajustado
por SOTFD.

2. REALIZAO DO TESTE
Para o teste desta funo criamos dois
estados :
No primeiro estado simulamos o disjuntor
aberto (sada binria 1 desativada), e tenses e
correntes ajustadas em 0V e 0A respectivamente.
No segundo estado simulamos o
fechamento do disjuntor (sada binria 1) ativada
e tenses e correntes com valores nominais.
Este sinal injetado no rel e colhidas as
informaes de sua atuao.
A figura 2 mostra configurao dos
estados e a figura 3 mostra a oscilografia do teste
realizado.

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 26: Funes Especiais de Proteo: SWITCH ONTO FAULT

159

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Figura 2 Construo dos estados para teste da Lgica de SOTF

Figura 2 Resultado de teste da Lgica de SOTF


2.1.

Anlise dos resultados


No instante da abertura do disjuntor, o
sinal SOTFE foi imediatamente ativado.

No instante do fechamento do disjuntor, o


sinal de SOTFE permanece por 522 ms,
aproximadamente 30 ciclos (ajuste de
SOTFD).

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 26: Funes Especiais de Proteo: SWITCH ONTO FAULT

160

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Parte IV: Configuraes de Teste

Cap 27 : Funes Especiais de


Proteo: STUB Rel SEL321
Resumo

a)

Este texto apresenta um exemplo de teste


da funo SOTF em um rel SEL 321

1. CONSIDERAES INICIAIS
A funo STUB protege o trecho do
barramento, caso a seccionadora de linha estiver
aberta.
Essa lgica definida na varivel lgica
MTU.
M1P + Z1G + Y + 67N1 + 51NT + 3P59 +
50M*LP1 +\ Z2G*LP2 + M2P*LP2 + W*!SPTE +
ECTTT*LP1

2. REALIZAO DO TESTE

No primeiro, simulamos a seccionadora de


linha fechada e aplicamos um valor de
corrente superior ao ajuste da unidade
50M.

b) No segundo, simulamos a abertura da


seccionadora de linha, e aplicamos um
valor de corrente inferior ao ajuste de
50M.
c)

No terceiro estado, simulamos a


seccionadora de linha aberta e aplicamos
um valor de corrente superior ao ajuste da
unidade 50M.

A figura 2 mostra configurao dos


estados e a figura 3 mostra a oscilografia do teste
realizado.

Para o teste desta funo utilizamos o


State Sequencer da OMICRON e criamos trs
estados :

Figura 1 Construo dos estados para teste da Lgica de STUB

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 27: Funes Especiais de Proteo: STUB Rel SEL321

161

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DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Figura 2 Resultado de teste da Lgica de STUB


2.1.

Anlise dos resultados

Nos dois primeiros estado no houve sada


de trip, como era de se esperar.

No terceiro estado, todas condies


necessria ativao da lgica de STUB
foram satisfeitas.

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 27: Funes Especiais de Proteo: STUB Rel SEL321

162

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Cap 28 : Funes Especiais de


Proteo: OUT OF STEP
Resumo
Este texto apresenta um exemplo de teste
da funo Out of Step OOS em um rel SEL
321

1. CONSIDERAES INICIAIS
A caracterstica retangular usa impedncia
de seqncia positiva e superviso de
sobrecorrente.

Quando a impedncia permanece entre as


zonas 5 e 6 por um tempo superior que OSBD, a
lgica do rel, bloqueia o trip por at dois
segundos.
A caracterstica OOS no afeta a proteo
de falta terra.
montada a caracterstica quadrilateral
exemplificando a caracterstica OOS, mostradas
na figura 1 e 2 a seguir.

Figura 1 Caracterstica quadrilateral da funo OOS - interior

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 28: Funes Especiais de Proteo: Out of Step

163

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Figura 2 Caracterstica quadrilateral da funo OOS - exterior

2. REALIZAO DO TESTE
Para o teste desta funo utilizamos o
State Sequencer da OMICRON e criamos trs
estados.

No primeiro estado,
permanece fora da caracterstica
um tempo de 500 ms.
No segundo estado,
permanece entre a zona 6 e a
tempo superior a dois segundos.

a impedncia
de oscilao por
a impedncia
zona 7 por um

Figura 2 Resultado de teste da Lgica de OOS


:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 28: Funes Especiais de Proteo: Out of Step

164

SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEO


DE SISTEMAS ELTRICOS OMICRON
Parte IV: Configuraes de Teste

Figura 2 Resultado de teste da Lgica de OOS

2.1.

Anlise dos resultados

Podemos observar que a sada OSB


(Bloqueio por oscilao) apareceu aps 50.10 ms,

sendo desativada aps dois segundos de


permanncia da impedncia entre a zona 5 e
zona 6.

:
ADIMARCO Representaes e Servios LTDA

CAP 28: Funes Especiais de Proteo: Out of Step

165