GESTIN DE LA CALIDAD, LA SEGURIDAD Y LA

SOSTENIBILIDAD
3 Curso del Grado en Ingeniera en
Organizacin Industrial
Curso 2013-2014

PRCTICAS
Prcticas 2-4. Tema 7.2.
Control Estadstico de Proceso
(CEP, SPC)
Escuela de Ingeniera Industrial de Vigo
Departamento de Organizacin de Empresas y
Marketing

Prof. Arturo J. Fernndez Gonzlez

PRECISIN DE UN PROCESO

= 10 0,05 mm.
Ts = + 0,05 mm.
Ti = - 0,05 mm.

LTi

LTs

SITUACIN DESEADA

VARIABILIDAD
LA VARIABILIDAD ES CUALQUIER DESVIACIN DEL
PROCESO TERICAMENTE PTIMO QUE PRODUCE
PRODUCTOS PERFECTOS, A TIEMPO Y SIEMPRE.
LA VARIABILIDAD SE PRODUCE POR LA
COMBINACIN DE VARIOS FACTORES:
MANO DE OBRA: CANSANCIO, FATIGA, EXPERIENCIA,
DESTREZA, REFLEJOS, HABILIDAD, SUEO

MQUINA: HOLGURAS, VIBRACIONES, DESAJUSTES,

DESGASTES
MATERIA PRIMA: VARIACIONES EN DUREZA,
ESTRUCTURA, POROSIDAD, DIMENSIONES

MEDIO AMBIENTE: TEMPERATURA, HUMEDAD,

PRESIN, PRESENCIA DE POLVO U OTRAS PARTCULAS
EN SUSPENSIN

MTODO DE TRABAJO: INDEFINICIONES, FALTA DE

TILES, USO DE CRITERIOS PERSONALES O SUBJETIVOS
MTODO DE MEDIDA: AVERA, DESAJUSTE,
DESCALIBRACIN DEL APARATO

CAUSAS DE VARIABILIDAD
ESPECIALES, ASIGNABLES O ESPORDICAS
SON DETECTABLES Y CORREGIBLES, Y SE DEBEN A CAUSAS
PUNTUALES
SU PRESENCIA HACE IMPREDECIBLES LOS RESULTADOS DEL
PROCESO
SE SOLUCIONAN MEDIANTE ACTUACIONES LOCALES
(OPERARIOS, REGULADORES, ETC)

COMUNES, INHERENTES O ALEATORIAS

ACTAN CONSTANTEMENTE, DE FORMA ESTABLE,
PROVOCANDO UNA VARIABILIDAD HOMOGNEA Y
PREVISIBLE
ESTN SIEMPRE PRESENTES EN GRAN NMERO Y SE
CARACTERIZAN POR SU DBIL INFLUENCIA INDIVIDUAL Y
SU INDEPENDENCIA ENTRE S

UN PROCESO SE DICE ESTABLE O CONTROLADO

CUANDO SE HAN ELIMINADO LAS CAUSAS
ESPORDICAS, Y SLO PRESENTA CAUSAS COMUNES
DE VARIABILIDAD

VARIABILIDAD. EFECTOS
LOS RESULTADOS (PIEZAS, P.EJ.) DE UN PROCESO
SOBRE EL QUE ACTAN SOLAMENTE CAUSAS
COMUNES DE VARIABILIDAD SE COMPORTAN DE
FORMA ASIMILABLE A UNA DISTRIBUCIN
NORMAL (PROCESO ESTABLE O CONTROLADO)

95,44% de todo x
permanece dentro
de 2s

99,73% de todo x
permanece dentro
de 3s

68,26% de todo
x permanece
dentro de 1s
X

PARMETROS ESTADSTICOS
N

MEDIA DE LA MUESTRA

DESVIACIN TPICA =

X=

i=1

Xi
N

(xi - x )2

i=1

n-1

ELLO NO SIGNIFICA QUE LA MEDIA DE LA DISTRIBUCIN

COINCIDA CON EL VALOR DESEADO (PUEDE ESTAR
DESCENTRADA)

CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO

(CEP, SPC)
EL CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO (STATISTICAL
PROCESS CONTROL, SPC) CONSTITUYE UNA
HERRAMIENTA ESENCIAL PARA EL SEGUIMIENTO DE
LAS DIVERSAS FASES DE UN PROCESO MEDIANTE EL
TRATAMIENTO ESTADSTICO DE LOS DATOS
RECOPILADOS SOBRE UNA O VARIAS CARACTERSTICAS
DE CALIDAD, CON EL OBJETO DE REDUCIR LA
VARIABILIDAD Y CONTROLAR Y MEJORAR DICHO
PROCESO

Salida

Producir un bien

No

Proporcionar un servicio

Tomar una muestra

Causas
imputables?

S
Examinar la muestra

Crear
grfico de control

Detener el proceso

Descubrir el porqu

CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO

(CEP, SPC)

Walter A. Shewhart
(EEUU, 1891-1967)
Fsico. Estadstico de los
Laboratorios de Investigacin
de la Bell Telephone.
Considerado el padre del
Control Estadstico del Proceso
(SPC) y del Ciclo PDCA (PlanDo-Check-Act).
Economic Control of Quality of
Manufactured Product (1931):
la productividad se incrementa
al reducirse la variacin en el
proceso.
Su trabajo fue divulgado por
Deming.

CONTROL ESTADSTICO DE PROCESOS.

FUNDAMENTOS
CONTROL DE PRODUCTOS:

TOTAL GARANTA

INSPECCIONES DE M.P., PRODUCTOS

INTERMEDIOS, PRODUCTOS FINALES
INSPECCIN 100%
OPERATIVO, RENTABLE
MUESTRA ESTADSTICAMENTE
REPRESENTATIVA (N)

POBLACIN

* MUESTRA ALEATORIA:
* MUESTRA SISTEMTICA:

UNIDADES EXTRADAS AL AZAR DE

FORMA ALEATORIA
UNIDADES EXTRADAS POR GRUPO
CADA CIERTO TIEMPO (EJ. 5 EN 5
CADA 30)

VARIABLE:
CONTINUA:

PUEDE TOMAR CUALQUIER VALOR DENTRO DE SU

DOMINIO (p.ej. T, PESO, LONGITUD, TIEMPO...)

DISCRETA:

TOMA EN LA MAYORA DE LOS CASOS VALORES

ENTEROS (P.EJ. CALIFICACIONES ESCOLARES)

CASO PARTICULAR:

ATRIBUTO SLO DOS VALORES (p.ej.

CORRECTO / INCORRECTO S/NO
PASA/NO PASA)

CONTROL ESTADSTICO DE PROCESOS.

FUNDAMENTOS

SI UTILIZAMOS SUBGRUPOS DE OBSERVACIONES, SE

DEMUESTRA (TEOREMA CENTRAL DEL LMITE) QUE PARA
UN TAMAO DE LOS MISMOS PEQUEO (n=4 n=5), LA
DISTRIBUCIN DE LOS VALORES MEDIOS MUESTRALES
TIENDE A SEGUIR UNA CURVA NORMAL, AUNQUE LA
POBLACIN DE LA CUAL SE HAN EXTRADO NO LO SEA.

CONTROL ESTADSTICO DE PROCESOS.

FUNDAMENTOS

LA MEDIA DE LOS VALORES MEDIOS

MUESTRALES ES LA MISMA DE LA
POBLACIN:

__ _
X=X

LA DESVIACIN TPICA DE LOS VALORES

MEDIOS MUESTRALES ES MENOR QUE

LA DESVIACIN TPICA DE LA
POBLACIN:

x
n

CONTROL ESTADSTICO DE PROCESOS.

FUNDAMENTOS

CAPACIDAD DE UN PROCESO
TRATA DE MEDIR SI LA VARIABILIDAD DE LA
CARACTERSTICA FIGURA ENTRE LOS LMITES DE
TOLERANCIAS ESTABLECIDOS ( LOS PRODUCTOS SEAN
ACEPTABLES)
PARMETROS EXTERNOS:
LTI = LMITE DE TOLERANCIA INFERIOR
LTS = LMITE DE TOLERANCIA SUPERIOR

VCO = VALOR CENTRAL PTIMO

PARMETROS INTERNOS:

X = MEDIA DEL PROCESO

= DESVIACIN TPICA DEL PROCESO

n

Xi

X=

i=1

(xi - x )2

i=1

n-1

NDICES DE CAPACIDAD
NDICE DE CAPACIDAD POTENCIAL (Cp):
EVALA CUNTAS VECES CABRA EL INTERVALO 6
(INTERVALO DE TOLERANCIAS NATURALES) DENTRO DE (LTS LTI)
Cp

(AL NO USAR X NO IMPORTA QUE

LA DISTRIBUCIN NO EST CENTRADA
RESPECTO VCO)

LTS - LTI
6

NDICE DE CAPACIDAD REAL (Cpk):

EVALA CUNTAS VECES CABE REALMENTE LA DISTRIBUCIN
TAL COMO EST, CENTRADA O NO, DENTRO DE (LTS - LTI)

Cpk = min

LTS - X
3

PROCESO CAPAZ

X - LTI
3

CUALQUIERA DE SUS MQUINAS

Cpk 1

n 100

LARGO PLAZO
MEDIDAS DE TURNOS, LOTES
ESPACIADAS

MQUINA CAPAZ

Cpk 1,33
n 50
CORTO PLAZO
MEDIDAS +
SEGUIDAS

NDICES DE CAPACIDAD

SIGNIFICADO DEL NDICE DE CAPACIDAD REAL (Cpk):

Cpk = nmero negativo

Cpk = cero
Cpk = entre cero y 1
Cpk = 1
Cpk mayor de 1

GRFICOS DE CONTROL
UN GRFICO DE CONTROL REPRESENTA LOS VALORES DE
UNA CARACTERSTICA DE CALIDAD CUYA VARIABILIDAD SE
QUIERE CONTROLAR (en el eje de ordenadas) EN FUNCIN
DE LAS UNIDADES DE PRODUCTO CONTROLADAS (en el eje
de abscisas).
TIENEN COMO FINALIDAD EVALUAR LA ESTABILIDAD DE UN PROCESO
A LO LARGO DEL TIEMPO, EN FUNCIN DE LA EVOLUCIN DEL VALOR
DE UNA O VARIAS VARIABLES DETERMINADAS QUE RIGEN DICHO
PROCESO

LCI = LMITE DE CONTROL INFERIOR = X - 3

LCS = LMITE DE CONTROL SUPERIOR = X + 3
LCS

LMITE DE CONTROL
SUPERIOR

LC

LMITE CENTRAL

LCi

LMITE DE CONTROL
INFERIOR

(A. SHEWHART, 30s)

SEGN LA NATURALEZA DE LA CARACTERSTICA DE CALIDAD

A CONTROLAR, SE DISTINGUE ENTRE:
GRFICOS DE CONTROL POR VARIABLES
GRFICOS DE CONTROL POR ATRIBUTOS

GRFICOS DE CONTROL
GRFICOS POR VARIABLES (X / R)
LA REALIZACIN DEL CONTROL DEL PROCESO ES A TRAVS
DE VARIABLES MESURABLES: PESOS, DIMENSIONES,
INTENSIDADES, ETC.
SE EMPLEAN CUANDO LAS CARACTERSTICAS DE
DETERMINADOS PRODUCTOS EXIJAN UNA GRAN
PRECISIN.

A PESAR DE QUE SOLAMENTE SE PUEDE TRATAR UNA

CARACTERSTICA POR GRFICO, SE PREFIEREN A LOS
GRFICOS POR ATRIBUTOS PORQUE OFRECEN MS
INFORMACIN.

GRFICOS POR ATRIBUTOS (p, np, c, u)

EL CONTROL DEL PROCESO SE HACE SOBRE SI

DETERMINADO PRODUCTO POSEE O NO LA CUALIDAD
DEFINIDA
(CONFORME/NO ; S/NO ; FUNCIONA/NO ; ...)

GRFICO X / R: FUNDAMENTOS
TAMAO DE MUESTRA: NORMALMENTE 5 UNIDADES TOMADAS
CONSECUTIVAMENTE
(EVITAR MUCHA VARIABILIDAD)
FRECUENCIA: GENERALMENTE CADA HORA, 2 HORAS, 2 POR TURNO
(FRECUENCIA MS CORTA SI SE PREV MUCHA
VARIABILIDAD)
N DE MUESTRAS:

NORMALMENTE 25 MS

CLCULO DE LOS LMITES DE CONTROL

GRFICO X

GRFICO R

LCSX = X + A2 R

LCSR = D4 R

LCIX = X - A2R

LCIR = D3 R

A2 , D4, , D3 = COEFICIENTES TABULADOS F(N)

X=

X1 + X2 + ... + XK
K

R=

R1 + R2 + ... + RK
K

CUANDO EL TAMAO DE LOS SUBGRUPOS ES GRANDE

(n > 8), EL RANGO PIERDE PRECISIN, SIENDO MS ACONSEJABLE

EMPLEAR LA DESVIACIN TPICA GRFICO DE MEDIAS
DESVIACIONES (X / s)
CLCULO DE LOS LMITES DE CONTROL
GRFICO X

GRFICO s

LCSX = X + A3s

LCSs = B4 s

LCIX = X A3s

LCIs = B3 s

A3 , B4, , B3 = COEFICIENTES TABULADOS F(N)

GRFICO X / R: FUNDAMENTOS
CLCULO DE LOS LMITES DE CONTROL DE MEDIAS
MUESTRALES

GRFICOS DE CONTROL POR VARIABLES

GRFICO X / R: FUNDAMENTOS
ELABORACIN DE GRFICOS DE CONTROL POR EL PROPIO
OPERARIO
DATOS INICIALES
VALOR NOMINAL (CON TOLERANCIAS) Ts y Ti

X Y R DE GRFICO ANTERIOR
SI VALORES ANTERIORES
d2 (Ts Ti)
Ts + Ti
R=
X=
6
2
CONSTRUIR LOS GRFICOS UTILIZANDO X Y R
COMPROBAR QU MUESTRAS TIENEN PIEZAS DEFECTUOSAS O FUERA
DE LOS LMITES
CALCULAR LAS NUEVAS X Y R PARA EL GRFICO SIGUIENTE ELIMINANDO
ESAS MUESTRAS

GRFICOS DE CONTROL:
INTERPRETACIN
EN GENERAL, SE DICE QUE UN PROCESO EST BAJO
CONTROL CUANDO TODOS LOS PUNTOS DEL GRFICO
DE CONTROL SE ENCUENTRAN DENTRO DE LOS
LMITES DE CONTROL
ADEMS, SE DEBE VERIFICAR QUE ESTN
AGRUPADOS DE FORMA HOMOGNEA, ES DECIR,
QUE NO DESCRIBAN TRAMOS O TENDENCIAS
PARTICULARES, LO QUE INDICARA QUE EXISTE
ALGUNA VARIACIN IMPORTANTE
PERO EL QUE TODAS LAS OBSERVACIONES ESTN
DENTRO DE LOS LMITES DE CONTROL NO ES
GARANTA SUFICIENTE DE QUE EL PROCESO SLO
EST SOMETIDO A CAUSAS ALEATORIAS DE
VARIABILIDAD (BAJO CONTROL) EN REALIDAD, LA
DISTRIBUCIN PUEDE PRESENTAR ANOMALAS SIN
SALIRSE DE LOS LMITES DE CONTROL
PARA DETECTAR ESTAS ANOMALAS, ES NECESARIO
COMPARAR EL GRFICO RESULTANTE CON CIERTOS
PATRONES (P.EJ. LOS DE LLOYD-NELSON)

ESCUELA TCNICA SUPERIOR

DE
INGENIEROS INDUSTRIALES
Universidade
de

DPTO. ORGANIZACIN EMPRESAS

Y MARKETING

Vigo

GRFICOS DE CONTROL:
INTERPRETACIN

GRFICOS DE CONTROL:
INTERPRETACIN
PATRN 1: PUNTOS FUERA DE LOS LMITES DE
CONTROL
TANTO EN EL GRFICO DE MEDIAS COMO EN EL DE
OBSERVACIONES INDIVIDUALES, EL HECHO DE QUE
ALGN PUNTO CAIGA FUERA DE LOS LMITES DE
CONTROL (TANTO LCS COMO LCI), INDICA QUE EL
PROCESO NO EST BAJO CONTROL O QUE HA
EMPEORADO EXISTE CAUSA ESPECIAL DE
VARIACIN
RECORDEMOS QUE:
99,73% de todo x
permanece dentro
de 3s

(OJO: SIEMPRE EXISTE LA POSIBILIDAD DE QUE SE HAYA

REGISTRADO MAL LA(S) OBSERVACIN(ES), O QUE LA ALTERACIN
SE D EN EL TIL DE MEDICIN)

GRFICOS DE CONTROL:
INTERPRETACIN
GRFICO X/R: VALOR DE LA MEDIA MUESTRAL
FUERA DE LOS LMITES DE CONTROL
DADO QUE LA PROBABILIDAD DE QUE ESO OCURRA
ES MUY BAJA (0,27% PARA 3) NOS HARA
SOSPECHAR QUE LA MEDIA DEL PROCESO SE HA
DESVIADO (HACIA ARRIBA O HACIA ABAJO).
A CONTINUACIN SE OBSERVAR LA EVOLUCIN DEL
GRFICO DE RECORRIDOS.
1) SI LA DISPERSIN SE MANTIENE
APROXIMADAMENTE CONSTANTE, NOS
HALLAREMOS SLO ANTE UN CAMBIO DE LA
MEDIA DEL PROCESO, POR CAUSAS ESPECIALES O
COMUNES. NORMALMENTE NO EXISTIRN
VALORES INDIVIDUALES FUERA DE TOLERANCIAS.
2) SI SE DIESE UN INCREMENTO DE LA DISPERSIN,
SIGNIFICAR QUE SE EST TRABAJANDO CON
MENOS PRECISIN, POR LO QUE
PROBABLEMENTE PUEDAN APARECER VALORES
INDIVIDUALES FUERA DE TOLERANCIAS.

GRFICOS DE CONTROL:
INTERPRETACIN
PATRN 2: 2 PUNTOS DE CADA 3 EN LA ZONA A
EN UN PROCESO EN ESTADO DE CONTROL, LAS
ZONAS C Y B DEBERAN CONTENER EN CONJUNTO EL
95,4% DE LAS OBSERVACIONES, Y LAS ZONAS C, B Y A
EL 99,7%; AS QUE NO DEBERA HABER MS DE UN
4,3% EN LA ZONA A.
RECORDEMOS QUE:

95,44% de todo x
permanece dentro
de 2s

99,73% de todo x
permanece dentro
de 3s

(EL VALOR 2/3 ES INDICATIVO DE LA EXISTENCIA DE UN PROBLEMA

REAL, BASNDONOS EN LA EXPERIENCIA: SITUACIONES QUE
ROMPEN CON LA LEY NORMAL)

GRFICOS DE CONTROL:
INTERPRETACIN
PATRN 3: 4 PUNTOS DE CADA 5 EN LA ZONA B O
MS ALEJADOS
PATRN 4: 9 PUNTOS CONSECUTIVOS A UN MISMO
LADO DEL LMITE CENTRAL
Causas posibles: cambio en la media del proceso;
alteracin en el sistema de medicin
PATRN 5: 15 PUNTOS CONSECUTIVOS EN LAS ZONAS
C SUPERIOR O INFERIOR EN TORNO AL LMITE
CENTRAL
PATRN 6: OCHO PUNTOS CONSECUTIVOS EN LAS
ZONAS A B SUPERIORES O INFERIORES EN TORNO
AL LMITE CENTRAL
PATRN 7: 14 PUNTOS SEGUIDOS CON ALTERNANCIA
CRECIENTE-DECRECIENTE
PATRN 8: 6 PUNTOS SEGUIDOS CON CRECIMIENTO
O DECRECIMIENTO SOSTENIDO
Causas posibles: desgaste de herramientas, desgaste
de elementos de fijacin, acumulacin de residuos

GRFICOS DE CONTROL POR

ATRIBUTOS
SE BASAN EN LA DETERMINACIN DE LA CANTIDAD O EL
PORCENTAJE DE UNIDADES DEFECTUOSAS EN UNA
POBLACIN DE PRODUCTOS OBTENIDOS DE UN
PROCESO.
SE SUELEN UTILIZAR CUANDO LAS CARACTERSTICAS DE
CALIDAD NO SON CUANTIFICABLES (NO SE PUEDEN
REPRESENTAR COMO VARIABLES), Y TAN SLO SE PUEDE
VERIFICAR SI CUMPLEN O NO CON LAS
ESPECIFICACIONES (p.ej. aspecto general o acabado de
una prenda de vestir, de un tablero chapillado, de una
pieza pintada o barnizada, etc).
TAMBIN SE UTILIZAN CUANDO LAS CARACTERSTICAS
DE CALIDAD SON CUANTIFICABLES, PERO DEMASIADAS
PARA HACER DIFERENTES GRFICOS DE CONTROL POR
VARIABLES.
TIPOS:
GRFICO p (proporcin de unidades defectuosas)
GRFICO np (nmero de unidades defectuosas)
GRFICO u (proporcin de defectos por unidad)
GRFICO c (nmero de defectos por muestras)

GRFICO p
CONTROLA LA EVOLUCIN DE LA PROPORCIN DE
UNIDADES DEFECTUOSAS (p)
SE TOMA LA MAYOR CANTIDAD POSIBLE DE DATOS
AGRUPADOS EN SUBGRUPOS CUYO TAMAO NO TIENE POR
QU SER CONSTANTE
EL CLCULO DE LOS LMITES SUPERIOR E INFERIOR DEPENDE
DEL TAMAO DE CADA SUBGRUPO i
Siendo k subgrupos:

xi

Nmero de artculos
defectuosos en el
subgrupo i

ni

Tamao del
subgrupo i

LC = p

i 1
k

i 1

Entonces:

LCS i p + z

p (1 - p )
ni

p-z

p (1 - p )
ni

LCI i

z = 3 para el 99,7%

GRFICO p
Un taller de confeccin efecta una inspeccin final del 100% de las prendas que elabora.
Los resultados de las inspecciones son registrados por los operarios de control de calidad
encargados de ello. A lo largo de una jornada, cada uno de estos operarios va recibiendo lotes
de prendas terminadas, en la cantidad correspondiente a cada orden de fabricacin.
Durante una cierta jornada laboral se obtienen los siguientes datos:
Lote
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10

Cantidad
20
15
25
22
30
14
18
23
40
35

Prendas defectuosas
4
3
4
2
3
1
2
2
7
5

Lote
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20

Cantidad
21
25
17
24
29
33
35
27
15
17

Prendas defectuosas
1
3
1
6
3
4
7
4
2
1

Obtenga un grfico de control por atributos de tipo "p" utilizando SPSS, calculando previamente
los lmites de control (central, superior e inferior) de dicho grfico utilizando Excel.
Dibuje de nuevo dicho diagrama suponiendo ahora que todos los lotes fuesen del mismo tamao,
25 unidades, y se hubiese detectado el mismo nmero de prendas defectuosas.

GRFICO np
CONTROLA LA EVOLUCIN DEL NMERO DE UNIDADES
DEFECTUOSAS (np)
SE TOMA LA MAYOR CANTIDAD POSIBLE DE DATOS
AGRUPADOS EN SUBGRUPOS DE TAMAO CONSTANTE

CLCULO DE LOS LMITES CENTRAL, SUPERIOR E INFERIOR:

Siendo k subgrupos:

LC = npm

np i

i 1

LCS = npm + z

LCI = npm

Nmero de unidades
defectuosas en el
subgrupo i

- z

npm (1 -

npm (1 -

npm
n

npm
n

z = 3 para el 99,7%

GRFICO np
Durante la produccin de una amplia orden de fabricacin
de 5.000 unidades de una falda de primavera-verano,
los operarios de control de calidad van recibiendo cada hora
lotes de idntico tamao, 20 prendas, para su inspeccin.
Obtenga ahora un grfico de control por atributos de tipo "np",
utilizando los siguientes datos de prendas defectuosas:
Lote
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10

Cant. Def.
3
4
2
1
5
2
3
1
4
4

Lote
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20

Cant. Def.
3
2
2
1
6
3
4
6
5
3

GRFICO u
CONTROLA LA EVOLUCIN DE LA PROPORCIN DE
DEFECTOS POR UNIDAD DE INSPECCIN O MUESTRA
SE TOMA LA MAYOR CANTIDAD POSIBLE DE DATOS
AGRUPADOS EN SUBGRUPOS CUYO TAMAO NO TIENE POR
QU SER CONSTANTE
EL CLCULO DE LOS LMITES SUPERIOR E INFERIOR DEPENDE
DEL TAMAO DE CADA SUBGRUPO i
Siendo k subgrupos:

Nmero de defectos en
el subgrupo i

LC = um

ci

i 1
k

Tamao del
subgrupo i

ni

i 1

LCS i = um + z

um
ni

- z

um
ni

LCI i = um

z = 3 para el 99,7%

GRFICO u
Obtenga el grfico de control por atributos de tipo "u",
utilizando los siguientes datos del nmero de prendas inspeccionadas
y de defectos encontrados en las prendas:
Lote
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10

Cant.
20
15
25
22
30
14
18
23
40
35

Def.
4
6
4
2
4
3
2
2
9
6

Lote
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20

Cant.
21
25
17
24
29
33
35
27
15
17

Cant. Def.
1
4
1
10
3
4
8
5
3
3

GRFICO c
CONTROLA LA EVOLUCIN DEL NMERO DE DEFECTOS
ENCONTRADOS POR UNIDAD DE INSPECCIN O MUESTRA
SE TOMA LA MAYOR CANTIDAD POSIBLE DE DATOS
AGRUPADOS EN SUBGRUPOS DE TAMAO CONSTANTE

CLCULO DE LOS LMITES CENTRAL, SUPERIOR E INFERIOR:

Siendo k subgrupos:

Nmero de
defectos en el
subgrupo i

LC = cm

ci

i 1

LCS = cm + z

cm

- z

cm

LCI = cm

z = 3 para el 99,7%

GRFICO c
EJEMPLO

N defectos por
5.000 soldaduras

Figura 20, p. 200

Fuente: W.E. DEMING, Calidad, productividad y competitividad (1989)

GRFICOS DE CONTROL:
INTERPRETACIN
QU NOS DICE EL SIGUIENTE GRFICO?

Fuente: W.E. DEMING, Calidad, productividad y competitividad (1989)

GRFICOS DE CONTROL POR

ATRIBUTOS: INTERPRETACIN
LA INTERPRETACIN ES SIMILAR AL CASO DE LOS GRFICOS
DE CONTROL POR VARIABLES
EN ESTE CASO:
PUNTOS POR ENCIMA DEL LMITE SUPERIOR INDICAN QUE
EL PROCESO HA EMPEORADO EST PRODUCIENDO MS
PIEZAS DEFECTUOSAS INVESTIGAR LAS CAUSAS Y
CORREGIRLAS
PUNTOS POR DEBAJO DEL LMITE INFERIOR INDICAN QUE EL
PROCESO HA MEJORADO EST PRODUCIENDO MENOS
PIEZAS DEFECTUOSAS INVESTIGAR LAS CAUSAS Y
ESTANDARIZARLAS
MUESTRA

DETERMINAR LOS
LMITES DE CONTROL

HAY CAUSAS ESPECIALES

ACTUANDO?
S
ANALIZAR EL PROCESO,
DETERMINAR CAUSAS,
CORREGIRLAS, EXCLUIR
DATOS

NO
PROLONGAR GRFICO
CON NUEVAS
MUESTRAS

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SOSTENIBILIDAD
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Organizacin Industrial
Curso 2013-2014

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Marketing

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