CONTROL ESTADISTICO DE PROCESOS

El objetivo de fondo del CEP es conocer y mantener bajo control la variabilidad del proceso, la cual siempre
existe.

Si no hubieran especificaciones para el producto entonces el CEP estara enfocado a conocer, controlar y en
lo posible reducir la variabilidad.

Si existen especificaciones, el CEP estara enfocado a lo mismo pero tratando adems de mantener la
variabilidad dentro de los lmites establecidos (lmites de control LCS y LCI).
Ojo, que un proceso cumpla con los LCS y LCI no significa que el proceso este bajo control.

Si la caracterstica del producto se puede medir (dimensiones, pesos, densidades, etc.), lo normal es utilizar
grficos X-R. Si el tamao de muestra es grande (del orden de 8 o mayor) es preferible usar los X-S (medias,
desviaciones tipo).

Si se trata de controlar variables de proceso (temperatura, presin, etc.) se utilizan grficos de observaciones
individuales. Estos son tambin los ms apropiados cuando se trata de controlar caractersticas de productos
fabricados en flujo continuo, como la humedad o densidad en un producto alimenticio fabricado por extrusin
(es decir un producto que sale en flujo continuo como la fabricacin de embutidos (salchichas)), ya que la
nica diferencia entre dos medidas consecutivas sera la debida al error experimental.
Para el control de atributos el grfico ms habitual es el de control de porcentaje de defectos P, o de nmero
de defectos NP. Los grficos P se utilizan para seguir la evolucin de porcentajes de defectos cuando las
caractersticas de calidad no son medibles, sino que los productos se dividen en correctos y defectuosos.

Tamao de la muestra.Si el grfico es del tipo X - R lo normal es trabajar con tamaos de muestra entre 3 y 5. En casos especiales, y
si la obtencin y medicin de las muestras es fcil y rpida, estos valores pueden aumentarse, aunque
teniendo en cuenta que a partir de tamaos de muestra de 8 10 unidades, aumentar esta cantidad aumenta
muy poco la eficacia del grfico.

En los grficos de tipo P o NP el tamao de muestra est en funcin del porcentaje de defectos esperado. Es
conveniente que el tamao de la muestra por el porcentaje de defectos esperado d un valor superior a 5.

Frecuencia de muestreo.-

Esto depende de lo estable que sea el proceso (grado de variabilidad de las caractersticas de inters) y de la
dificultad de muestreo y medicin. En general, si el proceso sufre muy pocos cambios bastar con obtener
muestras cada 30 60 minutos, si por el contrario, los cambios pueden ser ms frecuentes se deber
aumentarse la frecuencia pasando a 10 15 minutos.
Interpretacin de los grficos.La aparicin de un punto fuera de lmites es el sntoma ms claro de que el proceso se ha descentrado ya que
la probabilidad de que esto ocurra con el proceso centrado es del orden del 3 por mil (ojo.- estamos hablando
de promedios en el caso de grficos X-R, un punto en el grfico corresponde al resultado obtenido a partir de
una muestra aleatoria)
Adems del punto fuera de lmite, es razonable pensar que se ha producido un descentramiento cuando
aparece una racha de 9 puntos seguidos al mismo lado de la lnea central ya que la probabilidad de que esto

ocurra con el proceso centrado tambin es muy baja (igual a que salgan 9 resultados iguales seguidos al ir
tirando una moneda).
Las tendencias de puntos seguidos en orden creciente o decreciente tambin debe tomarse como un sntoma
de que algo no va bien, al igual que 14 puntos alternativamente arriba y abajo (grficos en forma de diente de
sierra). Si el espacio entre la lnea central y cada uno de los lmites se divide en 3 zonas (A, B y C desde fuera
hacia adentro) la zona C incluir alrededor del 68 % de las observaciones, la zona B en torno al 37 % y la A
alrededor del 5 %. Es por tanto poco probable que aparezcan valores en la zona A y si aparecen 2 de 3
puntos seguidos es un sntoma de descentramiento, al igual que 4 de 5 en la zona A o B, tambin seguidos y
al mismo lado.
Los grficos que muestran formas peridicas regulares reflejan la presencia de causas asignables (existen las
causas aleatorias que son propias de todos los procesos e imposibles de identificar y erradicar, y las
asignables que se deben a un motivo en particular, identificable y por lo tanto se puede eliminar) . Mencin
especial merece el caso en que lo excepcional es que disminuya la variabilidad. Puede considerarse que esta
situacin se da cuando aparecen 15 puntos seguidos en la zona C. Es necesario identificar qu es lo que
produce esta disminucin de variabilidad, puede ser que algo no va bien en el proceso de medida, pero
tambin puede ser que se haya introducido algn cambio (materia prima de otro proveedor, pequeos
cambios en el proceso a los que no se haba dado importancia, ...). En este caso el objetivo no es eliminar
esas causas especiales, sino integrarlas en el proceso si esto es posible.

A estos casos me refera cuando seal que el cumplimiento de los LCS y LCI no significaba que el proceso
estuviera funcionando bajo control.

Criterios de aceptacin.-

El CEP nos dice el estado de control del proceso y nos da informacin para su mejora, pero el criterio de
aceptacin lo establece el cliente. Puede establecerlo la propia organizacin en caso que el diseo del
producto lo realice ella.

Si los puntos graficados se salen de los lmites de tolerancia, entonces todo el lote representado por la o las
muestras anmala estaran cuestionados. En tal caso hay que controlar el producto no conforme
implementando medidas como las indicadas en el numeral 8.3 de la norma ISO 9001:2008.

Independiente de lo que se haga con el producto no conforme, el proceso debe ser vuelto al estado de control
a travs de las siguientes actividades:
1.- Ver capacidad de la mquina.
2.- Si la mquina es capaz, entonces ver si el proceso esta centrado.
3.- Cumplidos los dos puntos anteriores, aplicar CEP.

Caso 1.- Se trata de saber si la mquina puede producir dentro de la tolerancia especificada.
Esquemticamente, el proceso a seguir es el siguiente:
1. Asegurarse de que la mquina se encuentra en estado de control. Es decir que se encuentre en buen
estado, que los accesorios funcionen correctamente, que no existan averas, que este limpio, que produzca
en forma estable.
2. Tomar un mnimo de 50 unidades consecutivas (normalmente entre 50 y 100), midiendo para cada una la
caracterstica a estudiar.
3. Verificar la normalidad de los datos. Graficar en histograma para ver la distribucin de los datos (una forma
como campana de gaus indica distribucin normal)
4. Estimar la desviacin tipo del proceso (desviacin muestral)
La capacidad del proceso estar dada por la expresin.Cp = LTS LTI / (6*sigma)

donde.-

LTS= Lmite de tolerancia superior del producto

LTI = Lmite de tolerancia inferior del producto
Sigma.- desviacin estandar de la muestra (calculado con n-1)

Cp debe ser mayor o igual a 1, de lo contrario la maquina no es capaz

Si la mquina no es capaz entonces se debe ajustar (o cambiar en caso que no se pueda ajustar), o cambiar
las tolerancias del producto si es que se puede optar por esa alternativa.

Se puede tambin calcular la capacidad del proceso, esto implica hacer un control mas extenso en el tiempo,
controlando mas de un turno, lo cual implica controlar diferentes operarios, mquinas, materiales, etc.

Caso 2.- Centramiento del proceso.-

Una vez capaz la mquina (o el proceso) viene la etapa de ver si esta centrado, ya que puede estar
descentrado.

El ndice muy usado es el Cpk, que mide lo centrada que est la mquina respecto al valor nominal. Su valor
es el mnimo entre el Cp superior y el Cp inferior, siendo:

Por ejemplo, si el proceso de llenado de sacos es capaz pero se descentra y pasa a llenarlos en torno a un
valor de 19,85 los valores del Cp superior e inferior sern:

Por tanto, como Cpk = mnimo (Cp superior, Cp inferior) tendremos que:

Ntese que si el Cp coincide con el Cpk la mquina est exactamente centrada. Si no coinciden, el proceso
est descentrado, llegando a Cpk = 0 cuando la mquina se halla centrado sobre un extremo del intervalo de
tolerancias. (Si se halla centrada en un valor fuera del intervalo de tolerancias Cpk < 0).

Si la maquina o proceso esta descentrado entonces hay que averiguar que provoca esto y corregirlo, puede
estar desajustada una pieza, excesivamente gastada, mquina mal regulada o calibrada, dispositivo
defectuoso (por ejemplo un marcador de T o un manmetro de presin), se usa materia prima inapropiada,
un operador opera en forma inadecuada o incorrecta la maquina, etc.

Una vez centrada la mquina no queda mas que aplicar CEP, con los grficos X-R u otro que corresponda, y
viendo el comportamiento de los datos para saber si esta bajo control, y si esta bajo control ver la posibilidad
de reducir la variabilidad, etc.

Bueno compaeros, he resumido lo mas posible el tema y he tratado de ser lo mas claro y sencillo posible en
la explicacin. Ustedes pueden profundizar mas en el tema y se darn cuenta que existe mucha mas
informacin que la aportada por mi. Lgicamente tienen que profundizar en el tema de los grficos para que
puedan implementar lo que explique.

Saludos cordiales.