a) Qual o parmetro fundamental para descrever a performance de um microscpio:

resoluo o aumento? Porque?

b) Qual o objetivo principal de utilizar eletrons como radiao do um microscopio?
c) A difraco de raios-x esta baseada no esplahmento de R-X pelos eltrons da amostra (densidade
eletrnica o elemento fundamental para analizardo centro esplhador).
Que pode dizer sobre o mecanismo de espalhamento explorado para fazer imagens num
Microscopio Eletrnico de Transmisso (TEM)?
d) UM TEM um instrumento que permite estudar nanosistemas no espao real (imagens) e tambm
no espao recproco (difrao).
Explique Considerando uma lente convergente, como possvel obter essas duas informaes
diferentes no mesmo instrumento?
e) Menciono no mnimo 4 aspectos diferentes da amostra que poder determinar utilizando
informao medida em diagramas de difrao da amostra?
f)

Que so as faixas pretas e escuras na

imagem de TEM mostrada embaixo?
Como so geradas (ajuda: isso se chama
difrao dinmica)

i)

Que informaes podemos obter de

amostras amorfas?

j)

Tente explicar o diagrama de difrao

embaixo

g) Que mecanismo gera o contraste que

permite ver discordncias em imagens de
k) Na imagens de um nanotubo de carbono
obtida com um microscpio TEM de 0.2
nm de resoluo so observadas somente
linhas paralelas. Porque
TEM?

h) Por que necessrio ter a amostra

(cristalina) bem orientada para obter
imagens de resoluo atmica (HRTEM)?