LABORATORIO DE DIFRACCIN POR OBSTACULOS EN EL CONTROL DE

CALIDAD DE FABRICACION DE ALAMBRES

CAMILO CARO
JUAN AFRICANO
EIDER CASTRO
JHON GIRALDO

Laboratorio: Fsica de color y ondas

Grupo: 1

RAFAEL GUZMAN
Docente

ESCUELA COLOMBIANA DE INGENIERA JULIO GARAVITO

Bogot, junio 24 de 2015

OBJETIVOS

Obtencin de los diagramas de difraccin de Fraunhofer en obstculos

simples (para este laboratorio alambres).
Obtener las medidas de espesor del obstculo.

INTRODUCCION
El trmino difraccin viene del latn diffractus que significa quebrado. La
etimologa alude al fenmeno por el que una onda puede contornear un
obstculo en su propagacin, alejndose del comportamiento de rayos
rectilneos. La evolucin de una onda sigue las leyes impuestas por la ecuacin
de D'Alembert que determina los fenmenos de difraccin. Para el caso de
ondas monocromticas (cualquier onda puede considerarse una superposicin
de ondas monocromticas), dicha ecuacin se convierte en la ecuacin de
Helmholtz, de la que partiremos para abordar el proceso de clculo de la
amplitud de un campo ondulatorio que en su propagacin se encuentra con uno
o varios obstculos.
Cuando un fenmeno ondulatorio encuentra en su camino un pequeo
obstculo es capaz de rodearlo. Por eso somos capaces de or una
conversacin al otro lado de un muro. Del mismo modo, cuando los frentes de
onda encuentran una pequea abertura, se propagan a partir de ella en todas
las direcciones. Estos dos comportamientos constituyen la difraccin, una
propiedad caracterstica del movimiento ondulatorio hasta tal punto que slo se
admiti la naturaleza ondulatoria de la luz cuando se comprob que presentaba
difraccin. La rendija de la escena sirve para aclarar el concepto.
MARCO TERICO
Difraccin, en fsica, fenmeno del movimiento ondulatorio en el que una onda
de cualquier tipo se extiende despus de pasar junto al borde de un objeto
slido o atravesar una rendija estrecha, en lugar de seguir avanzando en lnea
recta. La expansin de la luz por la difraccin produce una borrosidad que
limita la capacidad de aumento til de un microscopio o telescopio; por ejemplo,
los detalles menores de media milsima de milmetro no pueden verse en la
mayora de los microscopios pticos. Slo un microscopio ptico de barrido de
campo cercano puede superar el lmite de la difraccin y visualizar detalles
ligeramente menores que la longitud de onda de la luz.
Cuando dos haces de luz se cruzan pueden interferir, lo que afecta a la
distribucin de intensidades resultante.
El primero en mostrar un diagrama de interferencias fue el fsico britnico
Thomas Young, en el experimento ilustrado en la figura 8. Un haz de luz que
haba pasado previamente por un orificio, iluminaba una superficie opaca con

dos orificios o rendijas. La luz que pasaba por ambas rendijas formaba un
diagrama de franjas circulares sucesivamente claras y oscuras en una pantalla.
La luz que incide sobre el borde de un obstculo es desviada, o difractada, y el
obstculo no genera una sombra geomtrica ntida. Los puntos situados en el
borde del obstculo actan como fuente de ondas coherentes, y se forma un
diagrama de interferencias denominado diagrama de difraccin. La forma del
borde del obstculo no se reproduce con exactitud, porque parte del frente de
onda queda cortado.
Como la luz pasa por una abertura finita al atravesar una lente, siempre se
forma un diagrama de difraccin alrededor de la imagen de un objeto. Si el
objeto es extremadamente pequeo, el diagrama de difraccin aparece como
una serie de crculos concntricos claros y oscuros alrededor de un disco
central, llamado disco de Airy en honor al astrnomo britnico del siglo XIX
George Biddell Airy. Esto ocurre incluso con una lente libre de aberraciones. Si
dos partculas estn tan prximas que los dos diagramas se solapan y los
anillos brillantes de una de ellas coinciden con los anillos oscuros de la
segunda, no es posible resolver (distinguir) ambas partculas. El fsico alemn
del siglo XIX Ernst Karl Abbe fue el primero en explicar la formacin de
imgenes en un microscopio con una teora basada en la interferencia de los
diagramas de difraccin de los distintos puntos del objeto.

d sen=

( 2 M 1 )
2

Donde d es el espesor del obstculo, D es la distancia del lser al diagrama de

difraccin Y es la distancia entre el mximo que es el punto ms brillante y la
mitad de la barra siguiente de lo que depende el mximo M (1, 2,3 etc.)

Figura2
MATERIALES

Laser con su respectiva frecuencia.

Alambres
Soportes para cada uno
Flexmetro.

PROCEDIMIENTO:

Se realiza el respectivo montaje con soportes para el lser y para los

alambres.

Se revisa la longitud de onda de lser.

Se toman las
medidas D, Y,

respectivas
M. (Figura 1 y 2)

CALCULOS:
1. Alambre:
D = 254 cm
Sen=

y = 3.7 cm

Incertidumbre: 0.05 cm (0.5 mm)

3.7

( 254 ) + (3.7 )
2

Sen = 0.01456 0.05 cm

M= 1

= 632.8 nm

d sen=

d=

( 2 M 1 )
2

6.328105
2(0.01456)
3

d=2.173010 cm

2. Alambre:
D = 254 cm

y = 1.4 cm

Incertidumbre: 0.05 cm (0.5 mm)

Sen=

1.4

( 254 ) + (3.7 )
2

Sen = 0.005512 0.05 cm

M= 1

= 632.8 nm

d sen=

d=

( 2 M 1 )
2

6.328105
2(0.0 05512)
3

d=5 .7 40203110 cm

3. Alambre

D = 254 cm
Sen=

y = 3.7 cm
3.7

( 254 ) + (3.7 )
2

Sen = 0.01456 0.05 cm

M= 1

= 632.8 nm

d sen=

( 2 M 1 )
2
5

d=

6.32810
2(0.01456)

Incertidumbre: 0.05 cm (0.5 mm)

d=2.1730103 cm

Conclusiones.

Se pudo determinar los espesores de los alambres para poder

comprobar la calidad de fabricacin de estos.
Comprobamos que para resultados obtenidos para el seno de los
ngulos mayores a uno, es imposible, por lo cual podramos concluir que
solo los mximos se observaran en los primeros casos.
Esta medicin es ms precisa que al medir con instrumentos mecnicos
(tornillo micromtrico, calibradores, etc.), ya que estos pueden ocasionar
un aplastamiento de la fibra dando errores en la medida por eso en la
industria es ms utilizado este mtodo.

Bibliografa:

P.A. TIPLER. Fsica I, tercera edicin. ED. Reverte, S.A, 1994.

R.A. SERWAY. Fsica I, cuarta edicin. ED. Mc. Graw Hill, 1998.