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UNIVERSIDADE FEDERAL DA PARAIBA

CENTRO DE TECNOLOGIA
DISCIPLINA: CONTROLE (ESTATSTICO) DE QUALIDADE
PROFESSOR: Mrcio Botelho da Fonseca Lima
ALUNO: Joaldo Garcia Arruda
MATRCULA: 11221409
CURSO: Qumica Industrial

2 EXERCCIO ESCOLAR
2014.2

JOO PESSOA
2014

1) Os dados da tabela a seguir correspondem a um ms de amostras, cada uma com n=6, de um processo de
produo de aneis de vedao. As medidas correspondem aos trs ltimos digitos. Por exemplo, Xbarra=297
significa 1,4297 cm, e R=16 significa 0,0016 cm.

Foram calculados X 2barras e Rbarra, sendo Rbarra = 25,73 e X 2barras = 259,59.


a) Calcule os limites de controle para os grficos de Xbarra e R, para monitorar o processo.
1) Seja: n = 6; X2barras = 259,59;Rbarra = 25,73
Amostras

Xbarra

LM R

LSC R

LIC R

LM
Xbarra

LSC
Xbarra

LIC
Xbarra

259

16

25,72727273

51,54288

259,591

272,017

247,165

270

21

25,72727273

51,54288

259,591

272,017

247,165

249

17

25,72727273

51,54288

259,591

272,017

247,165

250

31

25,72727273

51,54288

259,591

272,017

247,165

273

23

25,72727273

51,54288

259,591

272,017

247,165

265

37

25,72727273

51,54288

259,591

272,017

247,165

260

27

25,72727273

51,54288

259,591

272,017

247,165

248

24

25,72727273

51,54288

259,591

272,017

247,165

251

27

25,72727273

51,54288

259,591

272,017

247,165

10

252

26

25,72727273

51,54288

259,591

272,017

247,165

11

259

28

25,72727273

51,54288

259,591

272,017

247,165

a)LM Xbarra = 259,59


LSC Xbarra = 272,017
LIC Xbarra = 247,165

LM R = 25,72727273
LSC R = 51,54288
LIC R = 0

Grfico Controle de Amplitude (R)


60
R

50
Linear (LM R)

LM R

LSC R

Linear (LSC R)

40

Amplitude Amostrais

30
20

LIC R

10

Linear (LIC R)

0
0

10

15

20

25

Amostras

Grfico de Controle da Mdia


280
270
260
Xbarra
LM
Mdia (Xbarra) 250Xbarra

LSC Xbarra

LIC Xbarra

240
230
0

10

15

20

25

Nmero da Amostra

As amostras de nmero 5 e 14 esto fora do Limite Superior de Controle (LSC) e do Limite Inferior de Controle
(LIC), para resolver esse problema de controle, tais amostras devem ser descartadas.
b) retirada uma amostra por dia. Suponha que ocorra alterao da mdia do processo para
1,426X cm, sendo X o ltimo dgito de seu n de matrcula. Qual a probabilidade de que se passem
4 dias seguidos sem que o grfico sinalize essa alterao ocorrida? (suponha que o desvio-padro
do processo no se altere; apenas a mdia se alterou).

Alterao da mdia do processo para: 1,4269cm.


X barra = 269; R barra=25,73, n=6; d2=2,534; LM Xbarra=259,59 teremos:
Sigma 0=R barra/d2=> Sigma 0= 10,15
=(X barra-LMXbarra)/sigma 0

=0,92709
Pd = Pr (Z < -3+ * Raiz de n) + Pr (Z <-3 - * Raiz de n)

Onde: Z(LSC) = -0,72997 e Z(LSI) = -5,27090


Pd= Pr[Z<-0,72] + Pr[Z<-5,27]
Z(-0,72)= 0,23576

Z(-5,27)= 0,000000267

Pd = 0,23576 - 0,000000267 = 0,235759733 = 23,58%


Nova mdia da amostra(NMA) = 1/Pd = 4,241606432
C) Sendo consideradas apenas as amostras de tamanho 12:

X2barra = 259,59

LSC R = 44,16273

LSC Xbarra = 266,4294

Rbarra = 25,73

LM R = 25,73

LM Xbarra = 259,59

d2 = 3,258

LIC R 7,297274

LIC Xbarra = 252,7506

d3 = 0,778
Analisando os dados da mdia, conclui-se que as amostras 2, 15, 16 e 22
ultrapassam o LSC, enquanto as amostras 3, 4, 8, 9, 10 e 14 ultrapassam no LIC.
Para que o processo esteja em controle, tais amostras deveram ser eliminadas.
Os novos limites com a retirada de tais amostras:
Amplitude:
LSCR = 44,16273
LMR = 25,73
LICR = 7,297274
Mdia:
LSCXbarra = 266,4294
LMXbarra = 259,59
LICXbarra = 252,7506
d) Algumas pessoas criticaram a deciso do supervisor, dizendo que seria melhor manter as
amostras de 6 unidades, passando porm a retirar 2 amostras por dia, em vez de apenas uma.
Qual das duas alternativas(n=12, 1 amostra/dia; ou n=6, 2 amostras/dia) leva ao menor tempo de
detecco, pelo grfico de Xbarra, de eventual alterao da mdia do processo para 1,426X cm?

d)K = 3
n = 12
= (268 259,59)/
(25,73/3,258) = 0,558406
Expresso de Pd utilizando delta:
Pd = Pr[Z<-k+*raiz(n)] + Pr[Z<-k*raiz(n)]
Z(LSC) = -1,06563
-4,93437

Z(LSI) =

Pd= Pr[Z<-1,06] + Pr[Z<-4,93]


Z(-1,06)= 0,14457
Z(-4,93)= 0,0000004
Pd= 0,14457-0,0000 = 0,14457
NMA = 1/Pd = 6,917064
Para n=6 , leva menor tempo

2) Grficos de controle de Xbarra e S so estabelecidos para monitorar uma caracterstica


de qualidade. O tamanho da amostra n=4. Aps 40 amostras, obtm-se: Somatrio de X
barra, de 1 a 40 amostras, igual a 6740X;Somatrio de S, de 1 a 40 amostras, igual a 64X
(X=ltimo dgito).
a) Assumindo que ambos os grficos exibam controle, estime os valores da mdia e do
D.Padro.

A) n = 4

Xbarra = 67409

S = 649

c4 = 0,921

Estimativa da mdia = 67409/40 = 1685x103


Estimando o Desvio Padro = (649/40)/c4 = 17,6167

b) Calcule os limites de 3 Sigma para o grfico de S.

A) = 649/2,059 = 315,20
LSCS = c4x + 3**RAIZ(1-(c4xc4)) = 557,18

d2 = 2,059

LMS = x c4 = 245,57
LICS = c4x 3**RAIZ(1-(c4xc4)) = -66,042
c) Calcule os limites de probabilidade 0,005 para o grfico de Xbarra (isto , o LSC e o LIC
que
resultem em uma probabilidade de alarme falso igual 0,005).

Alfa/2 = 0,005

k(0,0025) = 2,807034

LMXbarra = 1426,1
LSCXbarra = 1426,1+[ k(0,0025) x 14,90228]/RAIZ(4) = 1447
LICXbarra = 1426,1-[ k(0,0025) x 14,90228]/RAIZ(4) = 1405,2

3) Em mdia so encontrados 25 defeitos em 1000 metros de cabo de telefone. Calcular a linha


central e os limites de controle do grfico apropiado. Deve ser utilizado o grfico de controle c
'contando defeitos na pea'. A unidade de amostragem e inspeo de 1000 metros.

Os limites de controle so 25+/- 3*25 = 25 +/- 15 = (10; 40).


4) Calcular o limite inferior de controle de um grfico p de um processo
que possui um percentual mdio de peas no conformes igual a 2,5%.
Sabe-se que as amostras apresentam um tamanho igual a 1500.

O LIC :
0,025 3 * [0,025 (1 0,025) / 1500 ] = 0,02

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