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Homework 1 – Confiabilidade e teste de circuitos nano- e microeletrônicos

Questão 1 - What is the difference between a defect and a fault model? Give an example.
Um defeito (defect) é uma diferença não-intencional entre um hardware e o seu design
pretendido. Por outro lado, um modelo de falta (fault model) é uma maneira de modelar um
comportamento lógico errado de um circuito, com, por exemplo um modelo de single stuck-at
fault, de forma que permita gerar estratégias para realizar o teste do mesmo.
Questão 2 - How many test vectors will be needed if functional testing will be used to test the
above circuit?
2³ = 8 vetores.
Questão 3 - What is the number of potential fault sites in the above circuit?
Há 18 locais com potencial para falha.
Questão 4 - Derive the equivalence collapsed set. What is the collapsed ratio? (optional: you
may also use dominant fault collapsing)

Entrada [0 1 1].Use D algorithm to generate a test pattern for SA0 shown in the circuit.556 Questão 5 . Entrada [0 0 1].O número de faltas possíveis é 18*2 = 36 e o número de faltas colapsadas é 20.Use D algorithm to generate a test pattern for SA1 shown in the circuit. saída [D D] Questão 6 . então a razão de colapso (collapse ratio) é 20/36 = 0. saída [0 ~D] .