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RESUMO

Fundamentos do CEP e Sistemas de Medio


Nbia Batista Brando

1 INTRODUO E MOTIVAO

Conceito de metrologia;

Importncia da metrologia nas organizaes;

Monitora-se uma caracterstica da qualidade por meio de algum sistema de medio;

Toda medio possui variabilidade, e essa pode ser dividida em variabilidade da


caracterstica e variabilidade inerente medio;

Lei de aditividade de varincias;

Rastreabilidade Padro Primrio de Medio

2 CARACTERSTICAS DE UM SISTEMA DE MEDIO

Conceitos importantes:
o Vcio
o Preciso
o Acurcia ou exatido
o Erro Sistemtico
o Erro Aleatrio
o Repetitividade
o Reprodutibilidade
o Erro de Medio
o Varincia da medio

3 PORCENTAGEM DE TOLERNCIA

A porcentagem da tolerncia (PT) compara a capacidade do instrumento de medio


com a faixa de especificao;

uma medida para avaliar o sistema de medio.

4 REPETITIVIDADE

a variao nas medidas obtidas quando um operador utiliza o instrumento para


medir repetidas vezes a caracterstica de interesse dos mesmos itens;

Ou o grau de concordncia entre os resultados de medies sucessivas de um


mesmo mensurando;

Desvio-padro =

Quais fatores que podem levar a uma baixa repetitividade de um instrumento de


medio?

Estimao de

Aplicao

5 REPRODUTIBILIDADE

a variao na mdia das medidas obtidas quando diferentes operadores utilizam o


instrumento de medio para medir repetidas vezes a caracterstica de interesse dos
mesmos itens;

Desvio-padro =

Quais fatores que podem conduzir a uma reprodutibilidade inadequada?

Estimao de

Aplicao

6 VCIO DO SM

Investiga a diferena entre as medidas efetuadas por um instrumento padro e o


instrumento de medio que est sendo avaliado;

Um mesmo operador deve medir o item em dois instrumentos: o padro e aquele a ser
avaliado;

Utiliza-se o diagrama de disperso para avaliar o vcio do sistema.

Bibliografia sugerida:

COSTA, A. F. B.; EPPRECHT, E. K. Controle estatstico de qualidade. 2 ed. So


Paulo: Atlas, 2005.

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