Medidas da distribuio espacial de campo

eltrico focalizado utilizando molculas

fluorescentes como sondas locais

Aluno: Aroldo Ribeiro Neto

Orientador: Dr. Ado Jrio
Co-orientador: Dr. Luiz Gustavo

Apresentao do problema:

x3.3

Fonte: Roy, D.; Wang, J.; Welland, M.

Faraday Discuss., v. 132, p. 215-225,
2006.

Sistema
controlador
SPM

Ponta
de ouro

XY STAGE

60x
NA 1.4
Fonte: Equipe laboratrio
de nano espectroscopia

Objetiva
a leo

Fonte: Roy, D.; Wang, J.; Welland, M.

Faraday Discuss., v. 132, p. 215-225, 2006.

Sistema
controlador
SPM

Ponta
de ouro

XY STAGE

60x
NA 1.4
Fonte: Equipe laboratrio
de nano espectroscopia

Objetiva
a leo

Fonte: Roy, D.; Wang, J.; Welland, M.

Faraday Discuss., v. 132, p. 215-225, 2006.

Teoria:

, =

, + ,

Youngworth, K.; Brown, T.

Opt. Express, v. 7, n.2, p.
77, 2000.

, =

max

, = 2

cos sin2 0 0 sin cos

0
max

, =
0

cos sin 2 0 1 sin cos

Componente longitudinal
Componente transversal

Intesidade das componentes do campo eltrico:

Comparao entre a
intensidade das componentes

Relao entre abertura numrica e intensidade:

NA = 1.4

NA = 0.87

max

, =

Fonte: Olympusmicro.com (11/10/2015)

cos sin 2 0 1 sin cos

Componente longitudinal

Parte Experimental
Microscopia de Fotoluminescncia Confocal
Sample
XY STAGE

Oil
60x
NA 1.4 Objective

Doughnut
Mode

Dichroic mirror

Expansor and
collimator lenses

Notch
Filter

Band filter
APD
APD

10 + 10

Novotny, L. et al.
Phys. Rev. Lett.,v. 86, n. 23,
p. 5251-5254, 2001.

Interference
Laser Filter

Laser
Source

01

Fonte: Equipe laboratrio

de nano espectroscopia

Amostra para Microscopia Confocal

Nile Blue:

2C20H20N3O SO4
Alto rendimento quntico de fluorescncia
Momento de dipolo fixo

Preparao da amostra:
Trs camadas:
PMMA Nile Blue PMMA
10 30 nm de expessura

Fonte: Sigma-Aldrich

Ajuste de dados:
Intensidade unidadesarbitrrias

0.2

0.4

max

=
0

0.6

0.8

1.0

cos sin 2 0 1 sin cos

Comparao com Dados Tericos

Concluso:

max

, =

cos sin 2 0 1 sin cos

Fonte: Meng, L. et al.

Sci. Rep., v. 5, p. 9240, 2015.