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安可科技

Amkor Technology

工商管理系企業管理組三年級
B88701130 周亞琴 B88701150 陳芬芳
B88701153 宗政輝 B88701154 陳依琳
B88701155 何碧琴
1 By :阿輝
公司簡介
位於桃園縣龍潭鄉的安可技術公司台灣一廠
( Amkor Technology ),前身是上寶技術公
司。 Amkor 是目前全球最大的半導體封裝測試廠商,高
階半導體封裝測試技術方面也居於領導地位。

左圖:晶圓 右圖:晶圓與封裝

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市場簡介 & 公司定位
半導體產業流程:
積體電路設計公司 →晶圓製造廠 →封裝廠
Integrated Circuit solution (Design House)
ex. ICSI
Semi-conductor Manufacturing Company
ex. TSMC
Packaging
產業特色與趨勢: and Testing Semi-conductor
Interconnect Services ex. AMKOR
1. 競爭激烈,價格快速下跌
2. 易受景氣波動影響
3. 更輕、更薄、更小、更優
4. 高階封裝委外代工
3
總經理

財 行 資 採 生 品 工 營 測
務 政 訊 購 產 保 程 運 試
處 處 服 處 企 處 研 處 處
務 劃 發
處 處 中

文 品 品 可 供
件 質 管 靠 應
管 系 部 性 商
制 統 實 品
組 部 驗 質
援客 品 室 工
組戶 管 程
品 組 組

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ASSEMBLY FLOW
MATERIAL USE
QCGate1 Wafer incoming
Wafer mount Blue
作 tape
Wafer saw Wafer
業 ring

流 QCGate2 2ND Optical inspection

程 Die bound
frame &Silver epoxy
Lead

Wire bound Gold


wire
QCGate3 3RD Optical inspection  
Die coating(optional)
Coating epoxy
Molding
Molding compound 5
品質管理三部曲
品管政策: With quality as our priority,we
provide reliable products and
satisfactory services.
品質規畫
實驗設計 (DOE,Design of Experiments)
失效模式 & 效應分析 (FMEA, Failure Mode &
Effect Analysis)
品質管制
統計製程管制 (SPC,Statistical Process
Control)
供應商品質評鑑 (QOS,Quality of Suppliers)
品質改進
實驗設計 (DOE,Design of Experiments)
6
實驗設計 (DOE)
方法種類:
田口實驗設計 (Taguchi Methods
Design)
Screening Design
部份因子實驗 (Fractional factorial
Design)
全因子實驗 (Full factorial Design)
Response surface design

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失效模式 & 效應分析 (FMEA)
失效模式 & 效應分析 (FMEA) :是一種系統化之工程設計輔
助工具,主要係利用表格方式協助工程師進行工程分析,使其
在工程設計時早期發現潛在缺陷及其影響程度,及早謀求解決
之道,避免失效之發生或降低其發生時產生之影響,提高系統
之可靠度。可分為設計 (Designed FMEA) 與製程 (Process
FMEA) 兩種。
計算方式如下:
嚴重度 (S,Severity) :缺點發生對客戶可能產生不良影響的
嚴重情況。
發生度 (O,Occurrence) :某個缺點的原因發生之機率。
難檢度 (D,Detection) :在完成後,離開製程前能否檢測出
其已發生之缺點。
風險優先數 (RPN,Risk Priority Number) :缺點綜合指標。
RPN=S*O*D
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統計製程管制 (SPC)
SPC :預防管理,在未產生重大錯誤前,先發覺製
程異常,及時改變的方法。

Out of Control 管制界限:


離群值 (Outliers) a.Control Limit :
Test1:Extreme Points 在下列情形下須重新計算

連續 8 點在平均之上或下
-Cpk 變動幅度 >20%
Test4:Runs above or below
-S.I.<0.95
the center line
- 品保工程師認為有足夠理
連續 7 點有向上或向下之趨 由
勢 ( 如物料、檢驗方法改變
等)
Test5:Linear Trend
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Identification
統計製程管制 (SPC)
cont.
Cp :準確性指標。衡量製程寬度與規格界限相差之
情形,
即製程之準度。
Cpk :能力指標。同時衡量製程分散度與變異之綜合
指數
行動
及製程能力與中心值之關係。即製程之精度及
準確
Cpk 描述
度之綜合指標。
<1 Very incapable不可進行生產
S.I. :穩定指數。 S.I.=1-( 超出界限資料點數 / 總資料
只有在品保核準及改善行
1.00~1.33
點數 ) Just capable
動並行下才可生產
1.34~1.67 Capable 在改善行動進行下可生產

1.68~2 Extreme capable 做為生產的標竿


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統計製程管制 (SPC)
cont.
Process OCAP(Out of Control
Action Plan) :
1. 是在超出管制時指示應如何應變
的文
件系統。
2. 幫助線上員工了解每一個設備及
其能
力的製造工具書。利用 OCAP 可
快速找
出超出管制的根源,並及時行動。 11
供應商品質評鑑 (QOS)

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品質改進 (Quality
Improvement)

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客戶服務 (Customer
In time WIP
Service)
  Product develop evaluation
  Thermal simulation
  Electrical simulation
  Product reliability / Failure
Analysis
  Turnkey service solution

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提案改善 (Bottom-
up)提案: 審核: 追蹤結案:
各個部門提案人應填寫改 改善委員會 執行 填寫改善提案成果報
善提案書交直屬部門主管 討論決定執 告書並交相關單位執
審核後交改善委員會 行單位 行標準化作業並公佈
實施
標準化:
增訂規範訓練執行

專案改善 (Top-
down)
提案: 審核: 執行: 檢討評估:
高階主管 QIT 得適時 報告執行進度成果並
管理階層指派專案經理籌
核可後可 修正改善作 提出需要的支援記錄
組”品質改善小組” QIT 並
執行 業 會議作為績效評估之
制訂”專案改善計劃書”
依據經高階主管核准
後得修訂原預訂目標
結案:
已達原訂目標則可結案,
可繼續改善另立專案執行
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結論 (Conclusion)
對封裝業來說,品質就是他們的生

安可科技的品管方法十分健全

建議:
‧ 適度的調整流程,或進行流程改進

降低品管系統的複雜性
‧ 實施無紙化 (paperless) 作業,節
省資
源 16

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