IX CONGRESO NACIONAL DE INGENIERA ELCTRICA Y ELECTRNICA DEL MAYAB CONIEEM 2009

DETERMINACIN DEL NDICE DE REFRACCIN POR EL MTODO INTERFEROMTRICO

Marysol Lpez Castaeda, Walter Ariel Silva Martnez, Aarn Flores Gil, Manuel May Alarcn.
Universidad Autnoma del Carmen (UNACAR) Facultad de Ingeniera Calle 56, No 4; Colonia Aviacin; Ciudad del Carmen, Campeche, C.P. 24180. Telfono y fax: 019383826516 gea_aglo@hotmail.com, walter_silva_m@hotmail.com, aflores@pampano.unacar.mx, mmay@pampano.unacar.mx

RESUMEN
Se llev a cabo la determinacin del ndice de refraccin de dos muestras de vidrio Flint de diferentes caractersticas por el mtodo interferomtrico usando un contador electrnico de franjas. Al aumentar el camino ptico de un haz de lser a travs de un material con ndice de refraccin distinto al del aire, se observan desplazamientos en las franjas de interferencia. Estos desplazamientos fueron realizados al rotar dos muestras distintas de vidrio en el camino de uno de los haces de luz del interfermetro, y posteriormente fueron cuantificados e interpretados para calcular el ndice de refraccin del material en cuestin. Se obtuvieron valores de ndice de refraccin que concuerdan con los valores encontrados en tablas de datos.

ABSTRACT
In this work we determine the refraction index of two Flint glass samples with different characteristics by the interferometric method, using an electronic fringe counter. When we increase the optic path of a laser beam through a material with different refraction index from air, we can observe fringe displacements in the interference. These displacements were achieved rotating two different glass samples in the path of one of the light beams in the interferometer, and then quantifying and processing them to calculate the refraction index of the material in question. We obtained refraction indexes that agree to values found on data tables.

1. INTRODUCCION
Existen diferentes mtodos para medir el ndice de refraccin de materiales, entre estos estudios se encuentran la elipsometra, el mtodo de lneas negras (M-lines), la transmitancia de luz en el medio mtodo de Pfund (Lser), mtodo de alturas aparentes (microscopio) y mtodo del ngulo de desviacin mnima (espectrmetro), entre otros [1,2,3]. El mtodo de la interferometra puede tener ventaja sobre estos mtodos mencionados debido a la sensibilidad intrnseca del arreglo. Ya se ha usado este ocasiones anteriores en laboratorio con aplicaciones distintas, como cuantificar franjas para determinar desplazamientos finos, o deteccin de vibraciones, por lo que ahora se decide usarlo en la determinacin del ndice de refraccin usando su caracterstica de sensibilidad ante cambios en el camino ptico a travs de los cuales viajan sus haces de luz.

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2. ARREGLO EXPERIMENTAL
Se hace una determinacin del ndice de refraccin analizando la cantidad de franjas desplazadas en el interfermetro de Michelson. Puesto que la velocidad de la luz y su longitud de onda sufren alteraciones dependiendo del ndice de refraccin, al aumentar el camino recorrido dentro del vidrio con un ndice de refraccin mayor al del aire, hay un desplazamiento de franjas provocado por la alteracin del camino ptico que recorre el haz de luz. El arreglo experimental para la configuracin del interfermetro de Michelson se muestra en la figura 1, en donde inicialmente tenemos el haz de luz que emerge de un lser de He-Ne, con una longitud de onda de 633nm. El haz llega en primera instancia a un espejo orientado perpendicularmente a la direccin del lser. Enseguida se tiene una lente expansor de haz, que provoca que el haz se expanda y pasa posteriormente a travs del un divisor de haz 50/50. El haz sigue su trayectoria hasta llegar a un espejo, se refleja y retorna nuevamente al divisor de haz, el divisor ahora desva el haz a otro espejo que se encuentra perpendicular a la trayectoria del haz original, se refleja y retorna nuevamente al divisor, en donde interfiere con el haz del otro espejo, dando origen a la formacin de anillos concntricos de interferencia. A la salida del divisor se coloca otra lente, la cual aumenta el tamao de la imagen formada por el patrn de interferencia [5]. El arreglo da mejores resultados si es armado de manera que no tenga vibracin intrnseca, fijando los componentes a la mesa ptica, para que la interferencia resultante sea estable y as asegurarnos que el nico desplazamiento de franjas sea producido por el cambio en el camino ptico provocado por el movimiento del vidrio colocado en una base giratoria entre el divisor de haz y el espejo fijo. El espejo mvil permanece fijo para esta aplicacin.

Figura 1. Diagrama del arreglo del Interfermetro de Michelson, junto con el contador de franjas usado. Cuando se mueve la muestra de vidrio en la base giratoria a partir de una posicin perpendicular al espejo fijo, se aumenta el camino ptico recorrido dentro del mismo, y esta se refleja en las franjas circulares concntricas de interferencia que se desplazan en la pantalla.

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Estas franjas desplazadas son cuantificadas con un contador electrnico digital, cuyo principal componente es un fotodetector PT331C para espectro visible, mostrado en la figura 2. Este contador tiene la capacidad de condicionar la seal y mostrarnos por medio de 3 displays de 7 segmentos la cantidad de franjas de luz que detecta, entrantes o salientes [5].

Figura 2. Diagrama de la estructura bsica del contador optoelectrnico. El fototransistor del contador electrnico es colocado en el camino de la imagen de las interferencias, en una de las franjas tan cercanas al centro de la interferencia como sea posible, ya que esas son las que tienen mayor intensidad y son ms fciles de detectar. Una vez colocados ambos arreglos, se coloca la muestra de vidrio en la base giratoria ubicada entre el divisor de haz y el espejo fijo y se llevan a cabo giros a distintos ngulos, cuantificando las franjas desplazadas. La relacin entre el desplazamiento de franjas y el ndice de refraccin esta establecida por la ecuacin [4]:

Q=
Donde:

W 1 R FRV W FRV 1 R

(1)

n t N
o

ndice de refraccin de la muestra de vidrio grosor de la muestra de vidrio cantidad de franjas desplazadas ngulo desplazado de la muestra, ngulo de incidencia longitud de onda del lser

Tenemos dos muestras distintas de vidrio Flint cuyo grosor es medido usando un vernier con una resolucin de 50 m, y as obtener el dato de grosor del vidrio para la frmula. Una de las muestras tiene un grosor de 2.8mm, y la segunda muestra es de 5.6mm. Ambas son sometidas al mismo procedimiento, bajo las mismas condiciones. Debido a que la resolucin de desplazamiento de la base giratoria es de 2 tomamos lecturas en , incrementos de 4 hasta llegar a 40 Las franjas desplazadas por el interfermetro, y contadas con . nuestro dispositivo fotodetector, son introducidas junto con los dems datos a las frmulas y obtenemos as un ndice de refraccin por cada lectura

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3. RESULTADOS EXPERIMENTALES
Se obtuvieron las lecturas de cuantificacin de franjas de ambas muestras, y los ndices de refraccin obtenidos son graficados tomando como referencia los valores de ndice de refraccin existentes para el vidrio Flint. Debido a que no conocemos el tipo de Flint al que pertenecen nuestras muestras, tomamos como referencia el ndice de refraccin mas bajo conocido, para el Flint de Titanio (n=1.51118), y el mas alto, el del Flint Denso de Tntalo (n=1.95250) [6]. Tomadas las lecturas con distintos desplazamientos, y usando la formula (1) se obtuvieron las siguientes grficas. La figura 3 presenta los ndices de refraccin obtenidos para la muestra de vidrio de 2.8mm, y se comparan con las referencias ya mencionadas.
Comparacin de ndice de refraccin terico contra experimental
2.00 1.90 1.80

ndice de refraccin

1.70 1.60 1.50 1.40 1.30 1.20 1.10 1.00 0 4 8 12 16 20 24 28 32 36 40 44 48 52 56 60

n promedio n maximos n minimos n terico mnimo n terico mximo

ngulo de incidencia

Figura 3. Datos comparativos entre el valor de ndice de refraccin obtenido en las lecturas experimentales para la muestra de 2.8mm, y las referencias encontradas en la literatura. Se puede observar que el ndice de refraccin ms alto corresponde al de las lecturas de 4 de desplazamiento, con la lectura ms alta de 1.8637 y la menor de 1.589. El promedio es de 1.6568, lo que es 0.1456 ms alto que la referencia inferior y 0.2957 menor que la referencia superior. Asimismo, los ndices de refraccin mas bajos obtenidos se obtuvieron a 50 de desplazamiento, con la lectura mas alta de 1.5381 y la mas baja de 1.4623. Su promedio, de 1.5091, se ubica 0.0021 por debajo de la referencia inferior y 0.4434 por debajo de la referencia superior. En promedio general, el ndice de refraccin obtenido experimentalmente para esta muestra es de 1.5769, con una variacin mxima superior de 0.2868 y variacin mxima inferior de 0.1268. A continuacin en la figura 4, se muestran los resultados obtenidos para la muestra de 5.6mm de grosor.

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Comparacin de ndice de refraccin terico contra experimental

2.80 2.60

Indice de refraccin

2.40 2.20 2.00 1.80 1.60 1.40 1.20 1.00

n promedio n mximos n mnimos n terico mnimo n terico mximo

12

16

20

24

28

32

36

40

44

48

52

56

60

Angulo de incidencia

Figura 4. Datos comparativos entre el valor de ndice de refraccin obtenido en las lecturas experimentales para la muestra de 5.6mm, y las referencias encontradas en la literatura. Se puede observar que el ndice de refraccin ms alto corresponde al de las lecturas de 4 de desplazamiento de nuevo, con la lectura ms alta de 2.6729 y la menor de 2.2534. El promedio es de 2.3633, lo que es 0.8521 mayor a la referencia inferior y 0.4108 mayor a la referencia superior. Asimismo, los ndices de refraccin mas bajos obtenidos se obtuvieron a 50 de desplazamiento, con la lectura mas alta de 1.5601 y la mas baja de 1.5464. Su promedio, de 1.5511, se ubica 0.0399 sobre la referencia inferior y 0.4014 bajo la referencia superior. En promedio general, el ndice de refraccin obtenido experimentalmente para esta muestra es de 1.7315, con una variacin mxima superior de 0.9414 y variacin mnima inferior de 0.1851. La mayora de las lecturas nos dieron como resultado ndices de refraccin dentro del rango de los obtenidos en las tablas de datos. Se observ que los resultados obtenidos en los ngulos ms pequeos tenan una tendencia a ser altos, y en los ngulos ms grandes, el ndice de refraccin obtenido tiende a decaer. Por otra parte, los resultados ms estables se obtuvieron con las lecturas tomadas entre los 16 y los 36 .

4. CONCLUSIONES
Con los resultados obtenidos podemos usar el ndice de refraccin para diferenciar entre algunos tipos de materiales a un cierto nivel de eficacia. Obtuvimos el ndice de refraccin experimental promedio de la primera muestra, de 1.5769, y se observ diferencia entre esta y el obtenido de la segunda muestra, de 1.7315. Esta diferencia de resultados entre ambas muestras nos da buena base para concluir que con refinamiento, se podra reducir el margen de error de manera que se tuviera la capacidad de diferenciar entre tipos de vidrios. La mayora de los resultados se encontraron dentro de los valores obtenidos en las tablas de datos usados como referencia. Debido a los resultados en los ngulos pequeos, se puede trabajar de

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manera futura refinando el desplazamiento angular de la base giratoria de la muestra de vidrio, ya sea mejorando la resolucin de la base usada o diseando algn mecanismo que pueda girar la base de manera controlada y con mayor exactitud que la manipulacin humana. 5. BIBLIOGRAFIA 1. 2. 3. 4. 5. 6. Harvey Palmer, C. (1969). Optics, Experiments and Demonstrations. Baltimore, USA: The John Hopkins Press. Wood, R. W. (1988). Physical Optics. Washington, DC, EUA: Optical Society of America. E. Hecht, A. Zajac, ptica (Addison-Wesley Iberoamericana, Mxico), pag. 308, (1986). G.S. Monk, Light, Principles and Experiments, (New York & London), McGraw-Hill, pag. 477, (1937). M. Lpez, A. Flores, M. May, S. Castillejos, Memorias SOMI XXIII, Dispositivo Optoelectrnico para Detectar Variaciones en la Intensidad Luz del Interfermetro de Michelson (2008). M.J. Weber, Handbook of Optical Materials, (CRC Press, USA), pag. 499, (2003).

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