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DRX-anotações

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  • Princípios de Raio-X
  • Espectro Eletromagnético
  • Produção de Raios-X
  • Espalhamento de elétrons
  • Fluorescência
  • Radiação Emitida
  • Espectro Contínuo
  • Cálculo do λminou λ0
  • Espectro Característico
  • Linhas K
  • Intensidade das Linhas K
  • Exemplos de Linhas K
  • Absorção de Raios-X -Filtros
  • Detecção de Raios-X
  • Precauções
  • Difração de Raios-X
  • Introdução
  • Superposição de Ondas
  • Comparação Espelho x Cristal
  • Difratograma de Raios-X
  • Métodos de Difração de Raios-X
  • Intensidade do Feixe Difratado
  • Intensidade do feixe difratado
  • Fator de Estrutura
  • Cálculo do fator de estrutura
  • Cálculo do fator de estrutura (cont.)
  • Intensidade difratada
  • Cálculo de intensidade
  • Difratômetrode Raios-X
  • Difratômetro de raios-X
  • Características gerais
  • Características gerais (cont.)
  • Ótica de raios-X
  • Detectores
  • Monocromadores
  • Análise de Fases
  • Método de Hanawalt
  • Dificuldades Práticas
  • Análise Quantitativa
  • Método da comparação direta
  • Método do padrão interno
  • Análise de Tensão Residual
  • Textura por Difração de Raio-X
  • Métodos Experimentais de Análise de Textura
  • Difração de Raio-X
  • Berço de Euler
  • Correção de “Background”
  • Absorção
  • Correção de Desfocalização
  • Normalização
  • Relevância Estatística

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais

Princípios de Raio-X

1

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais

Introdução
• • • Raios-X: descobertos em 1895 por um físico alemão Roentgen Natureza desconhecida (daí o nome de raios-X) Características: – invisível
– propaga em linha reta – tem ação sobre filmes fotográficos – tem poder de penetração > luz (atravessa corpo humano, madeira, metais e outros objetos opacos)

Os raios-X foram descobertos por um físico alemão, Roentgen, na Universidade de Wurzburg, na Alemanha. Embora sua natureza não fosse ainda bem conhecida (daí o nome de raios-X), eles foram, devido à alta penetração, quase que imediatamente utilizados para estudar a estrutura interna dos objetos opacos (radiografia). Vários estudos permitiram concluir que: • os raios-X são invisíveis; propagam-se em linha reta (como a luz); tem ação sobre filmes fotográficos (como a luz); possuem alto poder de penetração (maior que o da luz); atravessam corpo humano, madeira, alguns metais e outros objetos metálicos.

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Difração de Raios-X e Textura dos Materiais

Introdução
• Com estas características, os raios-X foram imediatamente utilizados principalmente no campo da medicina, através das radiografias 1912 Von Loue
– previu teoricamente que os raios-X poderiam ser difratados por cristais

Bragg (pai e filho): determinaram o retículo cristalino do NaCl, KCl, KBr e KI através da difração de raios-X Determinação da estrutura cristalina dos materiais

Com as características mencionadas anteriormente, os raios-X foram imediatamente utilizados para estudar a estrutura interna dos objetos opacos (radiografias). No Brasil, as primeiras radiografias foram obtidas em meados de março de 1896 na Escola Politécnica do Rio de Janeiro, pelo professor Henrique Morize. Em 1912 von Loue, utilizando a teoria eletromagnética da luz, previu teoricamente que os raios-X poderiam ser difratados pelos cristais. Em seguida, os Bragg (pai e filho) determinaram experimentalmente o reticulado cristalino do NaCl, KCl, KBr e KI por difração de raios-X. É importante ressaltar então que a história da cristalografia se divide em duas partes: antes e após de 1912: antes de 1912, só se estudava a morfologia e após 1912 a estrutura cristalina dos materiais pode ser determinada. A difração de raios-X possibilitou o estudo de detalhes do retículo cristalino, o qual tem dimensões da ordem de ângstroms, colocando à disposição de pesquisadores e engenheiros, uma ferramenta muito poderosa.

3

Há um campo elétrico (E) na direção y e um campo magnético (H) na direção z. Considere agora somente o campo elétrico (E). 4 . viajando em uma direção x. são necessários alguns conceitos iniciais sobre radiação eletromagnética.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Radiação Eletromagnética Componentes de uma radiação eletromagnética: • campo elétrico (E) e campo magnético (M) z H y E x • O campo elétrico (E) varia com o tempo e com o espaço ⎛x ⎞ Ε = Αsin 2π ⎜ − νt ⎟ ⎠ ⎝λ 1/ν Onde: A: amplitude da onda λ: comprimento de onda ν: freqüência c: velocidade da luz 3. uma radiação eletromagnética monocromática. Considere então. então a onda está polarizada.00 x 108 m/s Para um bom entendimento sobre raios-X. de um único comprimento de onda. Se este campo for confinado ao plano xy. através da equação acima. Este campo varia com o tempo e com a distância ao longo do eixo x. isto é.

comprimento de onda (λ) e freqüência (ν).00 x 108 m/s A t A x -E 1/ν -E λ λ = c ν Graficamente a variação é senoidal. 5 .Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Radiação Eletromagnética Variação de um campo elétrico E. como pode ser vista na Figura. e as principais componentes são: amplitude (A). de uma eletromagnética em função do tempo e da distância +E +E radiação Onde: A: amplitude da onda λ: comprimento de onda ν: freqüência c: velocidade da luz 3.

5 a 3. porém com menor comprimento de onda (λ).01 a 100 Å.0 Å. porém com comprimento de onda da ordem de: λ = 0. igual a 10-8 cm. porém para investigar estruturas cristalinas utiliza-se 0.01 a 100 Å • Para investigar estruturas cristalinas (difração) utiliza-se: λ = 0.0 Å λ Luz visível ~ 6000 Å 1 Å = 10-8 cm = 10-10 m 1 nm = 10 Å = 10-9 m Como já mencionado.5 a 3. A unidade de medida na região dos raios-X é ângstrom. os raios-X são um tipo de radiação eletromagnética da mesma natureza da luz. Os raios-X variam de 0.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Raios X: definição • Raios-X: ondas eletromagnéticas da mesma natureza da luz. 6 . Å. Cabe ressaltar que a luz visível possui comprimento de onda da ordem de 6000 Å.

ηm Ultravioleta 10 3 104 105 1 mícron. μm 1013 1012 1011 1010 10 9 Infra-Vermelho 106 107 108 109 1010 1 centímetro. λ Raios Gama 10-3 10-2 10-1 1 10 102 Raios-X 1 Ângstron. 7 . cm 1 metro. Å 1 nanômetro. m 108 10 7 Ondas Curtas 1011 1012 1013 106 105 10 4 1 quilômetro. km Ondas Longas 1014 1015 103 Os raios-X ocupam a região entre os Raios Gama e os Raios Ultravioleta na espectro eletromagnético. Os contornos entre as regiões são arbitrários.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Espectro Eletromagnético Freqüência (Hz) 1022 1021 1020 1019 1018 1017 1016 1015 10 14 Comprimento de Onda.

um anodo (alvo metálico) e um catodo (geralmente um filamento de tungstênio).Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Produção de Raios-X • Como os raios-X são produzidos? Os raios-X são produzidos quando qualquer partícula carregada eletricamente (geralmente elétrons) e com determinada energia cinética. sofre desaceleração. que contém uma fonte de elétrons e dois eletrodos. 8 . • São produzidos em um ‘Tubo de Raios-X’. Aplica-se um diferença de potencial entre estes eletrodos e assim. Estas janelas são feitas de berílio pois este material é transparente aos raios-X. Ou Os raios-X são produzidos quando elétrons com alta velocidade colidem com um alvo metálico. os elétrons são enviados em direção ao alvo metálico. Aplica-se uma forte diferença de potencial entre os eletrodos permitindo que os elétrons emitidos do catodo. a radiação de raios-X acontece quando elétrons com alta velocidade colidem com um alvo metálico. colidam com o alvo metálico. A emissão de raios-X ocorre em um ‘Tubo de raios-X’. sofre desaceleração. que contém uma fonte de elétrons e dois eletrodos. No impacto são gerados os raios-X. Os raios-X são produzidos quando qualquer partícula carregada eletricamente (geralmente elétrons) e com determinada energia cinética. ou de uma maneira mais simplificada. os elétrons interagem com o alvo permitindo a emissão de raios-X em todas as direções. porém escapam do tubo através de duas ou mais janelas de berílio. No momento da colisão.

Mo. Estes tubos não são caros e produzem espectros puros.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Tubo de Raios-X . os quais foram utilizados pelo Roentgen. Por esta razão.Filamento elétrons Parâmetros importantes: Alvo Metálico: Cu. de acordo com a origem dos elétrons: Tubo de Filamento e Tubo de Gás. chamada ‘Focal Spot’. pois o alvo não é contaminado com materiais evaporados de um filamento aquecido. menos que 1 % é transformada em raios-X. porém deve-se fazer uma limpeza periódica do alvo. contendo um anodo. os elétrons são produzidos pela ionização de uma pequena quantidade de gás de baixa pressão. que é um bloco de cobre com um alvo metálico e um catodo. Consistem de uma câmara de vidro mantida sob vácuo. Os Tubos de Filamento foram inventados por Coolige (1913) e são os mais usados atualmente. Co Voltagem do Tubo: 20 a 50 kV Corrente do Tubo: 10 a 40 mA Os Tubos de Raios-X podem ser divididos em dois tipos. par evitar sua fusão. consistindo de um filamento de tungstênio. Os elétrons são focados em uma determinada região do alvo. que são altamente transparente aos raios-X. o alvo metálico precisa ter um sistema de refrigeração. Fe. Cr. a grande desvantagem destes tubos é a difícil operação e hoje são praticamente obsoletos. A maioria da energia cinética dos elétrons é convertida em calor. para eliminar linhas L do tungstênio (contaminação de materiais evaporados do filamento aquecido). Raios-X são emitidos para todas as direções e escapam através de duas ou mais janelas de berílio. O filamento é aquecido através da passagem de uma corrente elétrica (~3A) emitindo elétrons que são acelerados através de uma alta voltagem (~ 20 a 50kV). Nos Tubos de Gás. Porém. A corrente do fluxo de elétrons (corrente do Tubo) é aproximadamente 10 a 40 mA). 9 . A Figura ilustra a estrutura interna deste tipo de Tubo. A vantagem dos Tubos de Filamentos é que se pode melhor controlar a intensidade dos raios-X.

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Tubo de Raios-X .Filamento Difratômetro de raios-X .SIEMENS Tubo de raios-X Tubo de raios-X da PHILIPS O slide mostra exemplos de tubos de raios-X em um difratômetro de raios-X da SIEMENS e em detalhe um tubo da PHILIPS. 10 .

Em um Tubo de 30kV. então a energia cinética dos elétrons no impacto é dada pela equação apresentada acima. 11 . Como já mencionado. Se e é a carga do elétron e V é a voltagem entre os eletrodos. a velocidade do elétron é aproximadamente 1/3 da velocidade da luz. a maioria da energia do elétron é transformada em calor e apenas 1% é convertida em raios-X.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Interação Feixe Elétrons x Alvo Metálico Raios-X são produzidos no momento do impacto feixe de elétrons x alvo metálico Energia cinética do elétron: E = eV = 1 2 mv 2 Onde: E: energia do elétron e: carga do elétron (1. que é possível correlacionar a energia cinética do elétron e a voltagem do tubo e assim calcular qual a velocidade do elétron no momento antes do impacto. através da equação.11 x 10-31 kg) v: velocidade do elétron antes do impacto (m/s) Conforme já mencionado.60 x 10-19 Coulomb) V: voltagem do tubo m: massa do elétron (9. a emissão de raios-X acontece no momento de impacto do feixe de elétrons com o alvo metálico. Verifica-se então.

mencionadas a seguir. 12 .Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Interação Feixe Elétrons x Alvo Metálico • Quando os elétrons atingem o alvo metálico. eles irão interagir com os átomos deste através dos dois fenômenos: • Fenômeno de Espalhamento • Fenômeno de Fluorescência Ambos os fenômenos irão emitir raios-x com características específicas. eles irão interagir com os átomos deste através dos dois fenômenos: – espalhamento e – fluorescência Quando os elétrons atingem o alvo metálico.

O fóton emitido tem comprimento de onda (λ) da ordem de 2 Å. O fenômeno de espalhamento de elétrons se resume no encurvamento da trajetória de um elétron incidente sobre o núcleo atômico.. ou núcleo atômico Alvo metálico núcleo M L k Raios-X Elétron do feixe Considere um átomo consistindo de um núcleo e camadas contendo elétrons (camadas K.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Espalhamento de elétrons Fenômeno de espalhamento: desaceleração dos elétrons quando atingem um alvo metálico. cuja faixa do espectro das ondas eletromagnéticas chama-se raios-X. 13 .). M.. L. provocando a emissão de onda eletromagnética.

Este é o fenômeno de fluorescência. Kβ Kα Lα núcleo 14 .. L. É também impossível excitar a camada K sem excitar outras camadas. Nesse processo há emissão de energia e o átomo volta ao estado normal.).Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Fluorescência Fenômeno de Fluorescência: salto de elétrons para outros níveis de energia Elétron defletido Alvo metálico Alvo metálico Emissão de raios-X núcleo núcleo Elétron arrancado da camada K Transição do elétron da camada L para K. emitindo radiação eletromagnética (raios-X). resultando em linhas Kα mais fortes que as linhas Kβ. A vacância da camada K pode ser preenchida por um elétron de outra camada. de alta energia. ele poderá arrancar um elétron da camada K tornando o átomo excitado. M.. Quando um elétron do feixe incidente tiver energia cinética suficiente. M. A energia emitida é uma radiação de um comprimento de onda característico e neste caso é uma radiação K característica. As linhas características L originam em um modo similar. Um dos outros elétrons das camadas adjacentes (L..) imediatamente vai preencher a lacuna deixada na camada K. um elétron da camada L é arrancado e um elétron de outra camada preenche a vacância. emitindo raios-X Considere novamente um átomo com um núcleo e camadas contendo elétrons (camadas K.. produzindo as linhas: • Kα (elétron vindo da camada L para a camada K) • Kβ (elétron vindo da camada M para a camada K) É mais provável que uma vacância da camada K seja preenchida por um elétron vindo da camada L em relação à camada M.

gerados pela desaceleração dos elétrons. A radiação emitida contém: • espectro contínuo: contendo uma mistura de comprimentos de onda. • espectro característico. contendo comprimento de onda característico do metal do alvo. – Espectro característico. Quando os elétrons atingem o alvo. gerados pelo processo de fluorescência. Conforme já mencionado. gerados pela desaceleração dos elétrons. verifica-se que são constituídos de uma mistura de comprimentos de onda e a variação da intensidade com estes comprimentos de onda dependem da voltagem do Tubo. a emissão de raios-X acontece no momento de impacto do feixe de elétrons com o alvo metálico. eles irão interagir com os átomos deste através dos dois fenômenos mencionados anteriormente: espalhamento (desaceleração dos elétrons) e fluorescência (salto para outros níveis de energia). 15 . Quando os raios-X emitidos de um tubo de raios-X são analisados. gerados pelo processo de fluorescência. contendo comprimento de onda característico do metal do alvo.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Radiação Emitida • Os raios-X emitidos de um tubo contêm: – espectro contínuo: contendo uma mistura de comprimentos de onda.

verifica-se um decréscimo suave.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Espectro Contínuo 5 Intensidade dos raios-X 4 radiação contínua 3 20 2 15 1 0 0 1. verifica-se uma intensidade zero à um comprimento de onda mínimo (λmin ou λo) e um aumento rápido a um máximo de intensidade. Vamos aplicar várias voltagens neste tubo e verificar as curvas obtidas: • Aplicando uma voltagem de 5 kV. Após o máximo. 16 . É originada pelo fenômeno de desaceleração de elétrons (espalhamento). fornecendo toda a energia no momento da impacto.0 Comprimento de onda (Å) λmin ou λ0 Espectro de raios-X do Mo como função da voltagem aplicada Considere um tubo de raios-X com alvo de molibdênio.0 10 5 2. Nem todos os elétrons são desacelerados da mesma maneira. O resultado é um mix de comprimentos de ondas. Estas curvas suaves então são obtidas aplicando uma voltagem de 20 kV ou menos para um tubo com alvo de Mo. • Aumentando a voltagem aplicada até 20 kV. enquanto outros são desviados do caminho pelo núcleo atômico. perdendo apenas algumas frações de sua energia cinética. alguns sendo totalmente interrompidos. a intensidade aumenta e o comprimento de onda mínimo (λmin ou λo) e a posição do máximo se deslocam para comprimentos ainda menores. formada por vários comprimentos de onda.0 3. como já mencionado. A radiação representada por cada curva é chamada de radiação (espectro) contínua ou branca.

é possível calcular o valor do λmin. A distribuição do espectro contínuo depende apenas da voltagem do tubo (verificar a equação) porém a intensidade depende da corrente do tubo e do número atômico. Com a equação do elétron.40 × 103 = V Considere agora o elétron totalmente interrompido no momento do impacto com o núcleo atômico. Esta equação fornece o menor comprimento de onda (em ângstrom) como função da voltagem aplicada. é possível prever qual a voltagem adequada para produzirmos raios-X de determinada energia ou comprimento de onda. Esta radiação será menor que hνmax e consequentemente o comprimento de onda será maior que λmin. ele apenas sofrerá uma desaceleração de sua velocidade. através desta equação. Se um elétron não for completamente interrompido. então somente uma fração de sua energia eV é transformada em raios-X.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Cálculo do λmin ou λ0 Cálculo do λmin ou λ0 Energia cinética do elétron eV = hν máx Energia máxima do raios-X eV = h c λmín λmin λmín = hc eν 12. A totalidade destes comprimentos constituem o espectro contínuo. A intensidade é dada por: onde: A: constante m:constate ~2 I espectrocontínuo = ΑiΖV m i: corrente do tubo Z: número atômico do alvo 17 . Toda a energia cinética do elétron irá se transformar em um fóton de raios-X de maior energia e consequentemente de menor comprimento de onda (λmin ou λo). Logo.

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Espectro Característico 6 Intensidade dos raios-X 5 radiação característica kα 25 kV 4 radiação contínua 3 kβ 20 2 15 1 10 5 Espectro de raios-X do Mo como função da voltagem aplicada 0 0 1. superpondo o espectro contínuo. Estas linhas. eles são chamados de linhas características ou espectros característicos. ou energia. característico de cada metal.0 3. um pico com intensidade máxima aparece a um certo comprimento de onda. Uma vez que estes picos são muito estreitos e o comprimento de onda é característico do alvo. 18 .0 2. ou salto dos elétrons para outros níveis de energia. Na Figura do slide.0 Comprimento de onda (Å) Quando a voltagem de um tubo de raios-X é aumentada acima de um valor crítico. a linha característica refere-se às linhas Kα (elétron vindo da camada L para a camada K) e Kβ (elétron vindo da camada M para a camada K) do Molibdênio. são referentes ao fenômeno de fluorescência.

Kα2 e Kβ1. sendo que as linhas de maior comprimento de onda podem ser absorvidas por outros materiais. Há diversos tipos de linha K.8 1.70 0.72 Comprimento de onda (Å) Geralmente.2 0.6 0. somente as linhas k são úteis para difração de raios-x.71 0. Kα2 e Kβ1.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Linhas K • • As linhas K são as radiações mais utilizadas na difração Tipos de Linha K mais importantes: Kα1 Kα2 e Kβ2 70 kα 60 Intensidade Espectros característicos do Mo para 35 kV. Os componentes α1 e α2 possuem comprimento de onda muito próximos que nem sempre são apresentados como linhas diferentes. ilustrando as linhas características Kα1. 19 . A Figura mostra o espectro do Mo à 35kV em uma escala vertical. são chamadas simplesmente Kα.0 0.4 0. mas é da ordem de 5/1. O lado direito da escala foi expandida e mostra o dubleto Kα1 Kα2 50 kα1 40 30 20 kβ kα2 10 0 0. Kα1 é geralmente duas vezes maior que Kα2 e a razão Kα1/ Kβ1 depende do número atômico. se forem linhas diferentes são chamados Kα dubleto e se iguais. porém as mais importantes são: Kα1.

por exemplo.01kV). pois muitos experimentos de raios-X requerem o uso de radiação monocromática. porém não há variação do comprimento de onda. a linha Kα tem uma intensidade 90 vezes maior que o comprimento de onda adjacente no espectro contínuo. A equação mostra esta relação. Para um alvo de Cu. 20 . há um aumento da intensidade das linhas K. permite o grande uso da difração de raios-X. A existência de linhas estreitas e fortes.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Intensidade das Linhas K • Aumentando a voltagem do Tubo de Raios-X. há um aumento na intensidade das linhas características. Intensidade depende da corrente do tubo e da voltagem • I K line = Bi (V − Vk ) n Onde: I: intensidade da linha K B: constante i: corrente do tubo n: constante ~ 1. A intensidade depende da corrente do Tubo e da voltagem aplicada.5 V: voltagem do tubo Vk: voltagem mínima para excita a linha K Aumentando a voltagem do Tubo de raios-X acima de uma voltagem crítica (para o Mo a voltagem crítica é 20. porém nunca ocorre variação no comprimento de onda.

Como pode-se notar.79285 1.75661 1. da ordem dos espaçamentos interplanares.29361 1.54056 0.29100 1.79060 1.71073 kα1 2.54439 0.93736 1.39222 0. ou seja. 21 .93998 1.71359 kα2 2.70930 kβ 2.63229 * média ponderada entre Kα1 e Kα2 A Tabela mostra as linhas k mais usadas em difração.54184 0.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Exemplos de Linhas K Comprimento de Onda (Å) das Linhas K Elemento Cr Fe Co Cu Mo kα∗ 2.78897 1.5 a 3.28970 1.93604 1.08487 1.62075 1.0 Å. os comprimentos de onda mais utilizados estão na faixa 0.

semelhante à interação dos elétrons com os materiais. Se um feixe de raios-X incidir sobre um material com intensidade I0. ele parcialmente pode ser absorvido ou parcialmente transmitido. Considere a Figura acima. Quando um feixe de raios-X intercepta um determinado material. O coeficiente de absorção μ. o feixe que emergirá na mesma direção terá intensidade I dada pela equação acima. é dependente da densidade do material e do comprimento de onda dos raios-X incidentes. é a interação de raios-X com outros materiais. 22 . A absorção de fótons de raios-X por um material pode ser através dos fenômenos de espalhamento e fluorescência.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Absorção de Raios-X Considere um feixe de raios-X incidindo sobre um material: I0 x μ l I I = I 0 e − μx Onde: I0:intensidade incidente I: intensidade transmitida μ: coeficiente de absorção linear x: espessura efetiva do material O que será discutido agora.

0 a ~1. utilizando estas propriedades dos materiais.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Absorção de Raios-X 400 Coeficiente de absorção-μ (cm) 300 Aresta de absorção 200 100 0 0 0.0 2.5 2. 23 .5 1. Para pequenos comprimentos de ondas.0 há baixa absorção. Assim. há alta absorção e de 1. podemos modificar. há absorção dos raios-X. para λ variando de 1. pois é um material muito utilizado.5.5 a 2. A descontinuidade é a energia necessária para arrancar um elétron da camada K. verifica-se que a curva consiste de duas partes separadas por uma descontinuidade chamada de Aresta de Absorção. Analisando o gráfico. ou melhor. A Figura. apresenta este comportamento para o Níquel. monocromatizar um feixe de raios-X produzidos por um determinado alvo. É o que será discutido a seguir. pode ser mostrado através de um gráfico.5 λ (Å) A maneira pelo qual o coeficiente de absorção varia com o comprimento de onda do feixe de raios-X incidente.0 1.

mas também mas também as linhas Kβ e o espectro contínuo. a radiação de um tubo de raios-X operando acima de uma voltagem crítica.Como já mencionado.2 1. O efeito da filtração é mostrado no slide. onde tem-se um tubo de Cu e um filtro de Ni. isto é muito importante para as análises de difração dos materiais.2 1. onde deseja-se uma radiação monocromática.2 1.8 1.6 1.6 1.4 1.6 1.8 1. No entanto.4 1.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Absorção de Raios-X Tubo de Cobre Raios -X Níquel Raios-X monocromatizado Espectro contínuo do Cobre Intensidade de Raios-X Kα Coeficiente de absorção do Níquel Kα Kα Kβ Kβ 1. contem não somente as linhas Kα. Os filtros são geralmente utilizados na forma de placas finas. indesejáveis nas análises. A intensidade dessas linhas indesejáveis pode ser diminuída passando o feixe de raios-X através de um filtro feito de um determinado material que absorva estas linhas e deixe passar apenas a linha Kα. 24 .8 λ (Å) λ (Å) λ (Å) Muitos experimentos de difração requerem radiação os quais devem ser monocromáticas. O espectro original é parcialmente filtrado e a radiação final é monocromática.4 1.

4 Mo 0.014 0.743 0.632 Zr 0.069 0.Filtros Filtros: são feitos de materiais cujas linhas de absorção caem entre os comprimentos de onda Kα e Kβ do metal alvo Estes materiais têm.5 Fe 1.94 1.793 1.108 0.488 0. A Tabela apresenta os filtros mais utilizados em conjunto com vários alvos metálicos. 25 .021 0.621 Fe 1. a espessura requerida e o fator de transmissão para a linha Kα.709 0.44 Cu 1.544 1.294 2.31 Material do Filtro λk (Å) Espessura g/cm mm 2 Fração de Kα1 transmitido Os filtros são geralmente utilizados na forma de placas finas.085 V 2.936 1.009 0.789 1.896 0.392 Ni 1.016 0.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Absorção de Raios-X . normalmente.269 1.688 0.012 0.016 0.46 Co 1.714 0.541 1.29 2.757 Mn 1. número atômico 1 ou 2 menos que o alvo metálico Alvo Comprimento de onda Espessura do filtro I kβ 1 = I kα 600 Kα2 (Å) Kα1 (Å) Kβ (Å) Cr 2.019 0.018 0.

No entanto. contendo traços de níquel. filmes fotográficos e detectores. isto é. Sob ação dos raios-X. As telas fluorescentes são feitas de um fina camada de sulfeto de zinco. Detectores são aparelhos que convertem raios-X em um pulso de corrente elétrica e o número desses pulsos por unidade de tempo é proporcional à intensidade dos raios-X. emite luz amarela. 26 . Filmes fotográficos são afetados por raios-X da mesma maneira que a luz visível. tais compostos fluorescem na região do visível. os filmes para detectar raios-X possuem camadas de emulsão mais espessas para permitir uma maior absorção de raios-X.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Detecção de Raios-X Os raios-x podem ser detectados através de: • • • Telas fluorescentes Filmes fotográficos Detectores Os principais meios utilizados para detectar os raios-X são telas fluorescentes.

eles tem efeito cumulativo no organismo. Choque elétrico é sempre um risco nos equipamentos que utilizam alta voltagem. na verdade esta é a propriedade utilizada na terapia com raios-X para eliminar células do câncer. mutações genéticas etc. mas acima de um certo nível. Novamente é importante ressaltar que os equipamentos modernos apresentam um grande nível de segurança. chamada de ‘dose de tolerância’. Os efeitos biológicos podem ser queimaduras. sem causar riscos ao operador. Existem detectores portáteis utilizados para controlar o nível de raios-X do ambiente e assim pode-se trabalhar com mais segurança. mas ambos são bem controlados nos equipamentos modernos. Pequenas exposições não são cumulativas. OS equipamentos de raios-X são construídos para que o operador utilize o mesmo com grande segurança. O problema de radiação é devido ao fato de que raios-X matam o tecido humano. O grande problema é que os raios-X são invisíveis e não causam sensação de queimadura.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Precauções O operador de um equipamento de raios-X deve tomar as seguintes precauções: • • choque elétrico exposição à radiação O técnico de um equipamento de raios-X é exposto a dois grandes perigos: choque elétrico e radiação. 27 .

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Difração de Raios-X 28 .

A identificação dos compostos cristalinos e a orientação cristalográfica. perfeição e orientação dos cristais.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Introdução Difração de Raios-X Identificação dos compostos cristalinos Orientação Cristalográfica A difração de raios-X é muito importante na análise microestrutural dos materiais. Esta técnica permite a identificação de compostos cristalinos assim como fornece detalhes a respeito do tamanho. provavelmente serão as principais demandas do Centro de Pesquisa. 29 .

Elétrons da amostra: da mesma forma que um feixe incidente de elétrons pode arrancar um elétron de uma amostra (fenômeno que ocorre no tubo de raios-X. mas é característico da amostra. um feixe de raios-X também pode arrancar um elétron de uma amostra (por exemplo um elétron da camada k) e provocar assim a fluorescência da amostra. vários processos ocorrem. também poderá ocorrer alteração da temperatura. que depende do comprimento de onda do raios-X e a intensidade do feixe transmitido ma mesma direção depende da espessura efetiva da amostra. como pode ser visto na Figura acima. Absorção: A amostra pode absorver raios-X incidente. por exemplo). I0 Raios-X fluorescente Absorção Raios-X espalhados • Coerentes • Incoerentes Para entender o fenômeno de difração. em outras direções estará havendo emissão de raios-X do feixe incidente que poderá ser do mesmo comprimento de onda do feixe incidente ou não. 30 . Raios-X espalhados: Ao mesmo tempo que ocorre absorção. Calor: quando um feixe de raios-X atravessa uma amostra.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Interação Raios-X x Amostra elétrons calor Feixe transmitido. I Feixe de raios-X monocromático. Este fenômeno de fluorescência causado por raios-X é explorado nos espectrômetros de fluorescência. Este fenômeno será discutido em seguida. o raio-X emitido da amostra devido ao efeito da fluorescência não é o mesmo raios-X do feixe. emissão de elétrons e fluorescência. Logo. ou uma amostra. Quando um feixe de raios-X monocromático atinge um átomo. é necessário entender o que ocorre quando um feixe de raios-X incide sobre uma amostra.

A Figura representa o fenômeno de espalhamento dos raios-X. vibrará correspondentemente e reemitirá raios-X na mesma freqüência recebida. Assim. Portanto. alta freqüência. só que agora cada átomo será uma fonte de emissão esférica (lembre-se que carga acelerada emite onda eletromagnética). Como o raios-X tem comprimento de onda relativamente pequeno e. qualquer carga pode perceber uma onda eletromagnética através da interação com esse campo elétrico.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Interação Raios-X x Amostra Raios-X Coerentes átomos Átomo do material Feixe de raios-X incidente Emissão esférica Como todos sabem. os materiais são construídos por átomos que por sua vez compõemse de núcleo carregado positivamente e elétrons negativamente. cada elétron do material receberá sobre si o feixe de raios-X. O feixe espalha-se por todas as direções. uma onda eletromagnética compõe-se de um campo elétrico e um campo magnético. O núcleo é pesado demais para responder a tão alta freqüência. Por outro lado. 31 . portanto. somente os elétrons percebem tal excitação. O feixe de raios-X espalhados tem o mesmo comprimento de onda do feixe incidente e é chamado de raiosX Coerentes.

Este tipo ocorre quando elétrons fracamente ligados ao núcleo são atingidos por um feixe de raios-X com determinada energia incidente. 32 .Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Interação Raios-X x Amostra Raios-X Incoerentes Antes do impacto Raios-X: hν1 elétron Raios-X: hν2 Depois do impacto elétron hν2 < hν1 Há um outro tipo de espalhamento de raios-X que ocorre quando um feixe desta onda atinge uma amostra. Estes raios-X não são utilizados para a difração e são denominados de radiação incoerente. O raio-X apresenta um comprimento de onda diferente do feixe incidente. Na colisão os raios-X perdem energia e o elétron é arrancado do átomo (elétron emitido).

Bem. podemos ter em P interferência construtiva ou destrutiva. levando em consideração as diferenças de fase devido as posições. relativas entre cada fonte e também devido ao atraso de recebimento de feixe incidente por cada fonte. Somamos as amplitudes das ondas que chegam no ponto de interesse. proveniente desse material irradiado.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Interação Raios-X x Amostra Raio-X incidente r1 r2 P ponto de interesse Suponha agora que o nosso interesse seja calcular qual a intensidade de raios-X espalhados que chega em um ponto do espaço. podemos resolver este problema usando a teoria de superposição de ondas. Como é de se esperar. 33 .

No ponto B o feixe 2 tem um máximo da amplitude. Por conveniência assume-se que este feixe está polarizado. Considere agora um experimento imaginário. seus vetores de campo elétrico. Considere um feixe de raios-X (feixe 1) viajando da esquerda para a direita. duas ondas estarão completamente em fase se a diferença de caminho percorrido for um número interior de comprimento de ondas. os dois feixes estão completamente em fase. no qual os feixes 2 e 3 percorrem caminhos diferentes. No ponto A. Duas conclusões podem ser tiradas: • Diferenças do caminho percorrido pode levar a diferenças de fases • A diferença de fases produz variação na amplitude. 34 . então. fora de fase e a amplitude do feixe 1 em B é calculada através da equação de onda e é diferente da amplitude em A. cada um com metade da amplitude do feixe 1. Medindo a diferença de fase em comprimentos de onda. têm a mesma amplitude e direção no mesmo instante. porém o feixe 3 tem amplitude zero.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Superposição de Ondas Total = 7λ + 1/4 λ Total = 7λ O fenômeno de difração é devido essencialmente à existência de certas relações de fase entre duas ou mais ondas. Os dois feixes estão. Imaginemos agora que este feixe é composto por duas partes (feixes 2 e 3). λ. isto é.

somente haverá interferência construtiva em certas direções bem definidas e interferência destrutiva para as direções restantes. e que tenha uma distância interatômica da ordem do comprimento de onda desse raios-X? Ocorrerá o fenômeno de difração. ou seja. 35 .Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Difração de Raios-X Raios-X transmitido s 2θ Raios-X incidentes Material cristalino (átomos distribuídos periodicamente) Raios-X difratados Baseando nos princípios básicos dos fenômenos ondulatórios se observa um fenômeno muito interessante. que apresenta uma distribuição ordenada. Do mesmo modo que antes cada átomo reemitirá e agora pelo fato de que estes átomos estão distribuídos periodicamente no espaço. O que acontecerá no caso de incidirmos um feixe de raios-X sobre um material policristalino. periódica de seus átomos no espaço.

Fica claro. com comprimento de onda λ. o feixe difratado pelo segundo plano de átomos percorre uma distância PO + OQ a mais que o feixe difratado pelo primeiro plano de átomos. Esta equação é conhecida como Lei de Bragg e os ângulos θ para os quais ocorre difração são chamados ângulos de Bragg. 4. isto é. 3.. interferência construtiva. Por exemplo. A condição para que ocorra interferência construtiva é: PO + OQ = nλ = 2d sen θ onde n= 1. se a distância extra percorrida por cada feixe for um múltiplo inteiro de λ. 2. pela equação. incidindo com um ângulo θ em um conjunto de planos cristalinos com espaçamento d. que as direções para as quais ocorre difração (interferência construtiva) são determinadas pela geometria do reticulado. Só ocorrerá reflexão..Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Difração de Raios-X 1 plano normal 1´ 2´ Raios-X incidentes 2 Raios-X difratados θ P K θ d Q θ θ O Sólido cristalino Vamos considerar o fenômeno de difração de raios-X de uma maneira mais geométrica. Considere um feixe monocromático de raios-X. 36 .

37 . para que possamos ter difração do feixe incidente.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Lei de Bragg plano normal 1 1´ Diferença de caminho para os raios: 11´e 22´é: PO + OP = nλ 2 θ K θ θ θ P O Q 2´ d senθ + d sen θ = nλ 2d sen θ = n λ d n λ = 2d sen θ Lei de Bragg A Lei de Bragg é uma condição geométrica que o arranjo cristalino deve satisfazer em primeiro lugar.

Um cristal não poderia ser difratado por uma radiação ultravioleta.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Lei de Bragg 2d sen θ = n λ Como sen θ < 1. de comprimento de onda da ordem de 500 Å. Este requisito sai da Lei de Bragg. então: λ < 2d Podemos utilizar radiação com λ < 6Å. então: nλ = sen θ < 1 2d nλ < 2d Como o menor n é 1. o que significa que λ não pode exceder 6Å. conforme mostra o slide. Para a maioria dos cristais. d é da ordem de 3Å ou menos. se λ é muito pequeno. d. pois a radiaç 6Å maioria dos sólidos cristalinos apresentam d ~3Å só ~3Å A difração geralmente ocorre quando o comprimento de onda é da ordem da distância interplanar. 38 . o ângulo de difração é muito pequeno para ser medido. Por outro lado.

Para a difração de raios-X por um cristal. da luz visível não obedece a uma lei de Bragg e portanto para qualquer θ. porém olhe a diferença fundamental. Veja o slide. A reflexão. a reflexão é discreta. por um espelho. podemos ser levados a fazer um paralelismo com a reflexão da luz visível por um espelho.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Comparação Espelho x Cristal Luz visível (λ) Raios-X (λ) θ2 θ1 θ1 espelho θ2 θ2 θ1 cristal θ2 Em um primeiro instante. independente de λ sempre teremos reflexão no mesmo ângulo θ. 39 .

aná microestrutural • Alternativamente. Experimentalmente. 40 . Esta raiostécnica é utilizada para determinar os espectros de emissão dos materiais e também a densidade dos materiais.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Espectroscopia e Difratometria de Raios-X Experimentalmente. a Lei de Bragg pode ser utilizada em experimentos. medir θ e então determinar o comprimento de onda de uma radiação: isto é espectroscopia de raios-X. a Lei de Bragg pode ser utilizada através de dois caminhos: • utilizando raios-X de comprimento de onda conhecido e medindo θ. esta é a análise microestrutural. Esta técnica é utilizada para determinar os espectros de emissão de raios-X dos materiais e também para determinar a densidade dos materiais. podemos determinar o espaçamento d de vários planos em um cristal. através de dois caminhos: • utilizando raios-X de comprimento de onda conhecido e medindo θ. • Alternativamente. esta é a análise microestrutural. medir θ e então determinar o comprimento de onda de uma radiação: isto é espectroscopia de raios-X. podemos usar um cristal com planos d conhecidos. podemos determinar o espaçamento d de vários planos em um cristal. podemos usar um cristal com planos d conhecidos.

41 .Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Espectroscopia e Difratometria de Raios-X Difratômetro: Difratômetro: T: tubo de raios-X C: amostra Espectrômetro: T: amostra C: cristal de estrutura conhecida O slide mostra o esquema de um difratômetro e de um espectrômetro.

42 .Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Difratograma de Raios-X Exemplos de difratogramas obtidos para material cristalino e amorfo 2θ 2θ O slide mostra exemplos de difratogramas obtidos para um material cristalino e um material amorfo.

O método do pó se aproxima mais dos interesses do Centro de Pesquisa.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Métodos de Difração de Raios-X Existem três métodos principais de Difração de Raios-X: λ Método de Laue Método do Cristal Girante Método do Pó (Debye-Scherrer) variável fixo fixo θ fixo variável (parcialmente) variável Existem três métodos principais de difração de raios-X: • Método de Laue • Método do Cristal Girante • Método do Pó ( Debye Scherrer) Os dois primeiros métodos são utilizados para estudar monocristais. o que não é aplicado na ACESITA. 43 .

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Intensidade do Feixe Difratado 44 .

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Intensidade do feixe difratado • Fatores que afetam a intensidade relativa do feixe difratado – – – – – – Fator de multiplicidade Fator de Lorentz Fator de polarização Fator de absorção Fator de temperatura Fator de estrutura 45 .

0 6 hh0 4 h00 2 00l 6 0k.planos {100} (100).l 12 0kl 8 h0l 4 0k0 2 0kk 12 hk. (100).l 2 00l 2 00l 2 Tetragonal Ortorrômbico Monoclínico Triclínico Informações mais detalhadas podem ser encontradas no livro do Cullity. – Pode ser definido como sendo o número de diferentes planos que têm o mesmo espaçamento.) • Fator de multiplicidade – Refere-se à proporção relativa de planos contribuindo para a mesma reflexão e que entram na equação de intensidade.l 24 hkl 16 hkl 8 hkl 4 hkl 2 hhl 24 hh.0 12 hk0 8 hk0 4 hhh 8 hh. (001) Fator de multiplicidade Sistema Cristalino Cúbico hkl 48 hhl 24 Planos 0kl 24 6 0kk 12 hhh 8 00l 6 Fatores de multiplicidade para vários sistemas cristalinos Sistema Cristalino Cúbico Hexagonal e Romboédrico hkl 48 hk. – Exemplo: Sistema cúbico .l 12 hhl 8 0kl 4 h0l 2 Planos 0kl 24 0k.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Intensidade do feixe difratado (cont. (001). (010).0 6 0k0 4 0k0 2 00. “Elements of X-Ray Diffraction”. 46 . (010).

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Intensidade do feixe difratado (cont. – É dado por: 1 4sin 2θ cos θ • Fator de polarização – É um fator de correção geométrico utilizado devido ao feixe incidente não ser polarizado. Na equação acima está omitida a constante 1/8. normalmente eles são combinados formando o fator de Lorentz-polarização. O efeito global destes fatores geométricos é diminuir a intensidade das reflexões em ângulos de Bragg intermediários. – É dado por: 1 (1 + cos 2 2θ ) 2 Os fatores de Lorentz e polarização não são usados em separado. que é dado por: 1 + cos 2 2θ sin 2θ cosθ Onde: θ . 47 .) • Fator de Lorentz – É um fator de correção geométrico que influencia a intensidade do feixe refletido.ângulo de Bragg. ou seja.

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Intensidade do feixe difratado (cont. No caso de amostras cilíndricas. portanto. o cálculo do fator de absorção é muito difícil sendo negligenciado no cálculo da intensidade quando o método de DebyeScherrer é usado.) • Fator de absorção – Afeta as intensidades dos raios difratados. • Quanto maior o coeficiente de absorção da amostra menor a intensidade do feixe difratado. – Absorção depende do material (amostra). • Absorção diminui as intensidades de todos os feixes difratados por um mesmo fator e. não entra no cálculo das intensidades relativas. 48 . – Amostras planas: • O volume irradiado da amostra é constante e independente do ângulo θ.

aumenta com o aumento da temperatura. diminui a intensidade do feixe difratado.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Intensidade do feixe difratado (cont. a vibração térmica aumenta o background. A amplitude média da vibração atômica não é função apenas da temperatura. como aproximação o efeito de um cancela o efeito do outro. causa expansão das células unitárias (altera d). O efeito da vibração é mais pronunciado para materiais com baixo ponto de fusão. aumenta o background (devido ao espalhamento coerente). O espalhamento coerente em todas as direções é chamado de temperature-diffuse scattering. ou seja. ou seja. – Pode ser ignorado em alguns casos.) • Fator de temperatura – Átomos não são pontos fixos – Vibração térmica • • • • Vibração térmica. Ela depende também da constante elástica do cristal. A vibração térmica causa espalhamento coerente em todas as direções contribuindo somente para o background. Para amostras cilíndricas o efeito da temperatura e o efeito da absorção dependem do ângulo de maneira oposta. 49 . – É um fator muito difícil de ser calculado. A intensidade do background aumenta gradualmente com 2θ.

) • Fator de estrutura – Depende de: • • • • número de átomos na célula unitária posição dos átomos tipo de átomos fator de espalhamento dos átomos – Determina qual plano vai dar difração (interferência construtiva) 50 .Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Intensidade do feixe difratado (cont.

posição do átomo em relação ao eixo X yj .posição do átomo em relação ao eixo Y zj .posição do átomo em relação ao eixo Z 51 .fator de espalhamento do átomo j xj .Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Fator de Estrutura – O fator de estrutura é dado por: Fhkl = ∑ fe j e j=1 N 2πi(x j h + y jk + z jl ) Onde: fej .

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais

Cálculo do fator de estrutura
• Cálculo do fator de estrutura para o Ferro C.C.C.
– Número de átomos na célula:
N = 1 + 8 * 1/8 = 2

– Posições:
(0 0 0) e (½ ½ ½)

– Fator de estrutura:

Fhkl = ∑ fe j e
j=1

N

2πi(x jh + y j k + z jl )
1 1 1 2πi( h + k + l ) 2 2 2

Fhkl = fe Fe e

2πi(0h + 0k + 0l )

+ fe Fe e

Fhkl = fe Fe (1 + eπi(h + k + l ) )

52

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais

Cálculo do fator de estrutura (cont.)
Tem-se que: eiπ(h+k+l) = cos[π(h+k+l)] + i sen[π(h+k+l)]; h k l inteiros Então: sen[(h+k+l)π] = 0 eiπ (h+k+l) = cos[(h+k+l)π]
h2+k2+l2 h k l h+k+l 1 + cos(h+k+l)π 1 1 0 0 1 1 + cos 1 π = 1 + -1 = 0 2 1 1 0 2 1 + cos 2 π = 1 + 1 = 2 3 1 1 1 3 1 + cos 3 π = 1 + -1 = 0 4 2 0 0 2 1 + cos 2 π = 1 + 1 = 2 5 2 1 0 3 1 + cos 3 π = 1 + -1 = 0 6 2 1 1 4 1 + cos 4 π = 1 + 1 = 2 8 2 2 0 4 1 + cos 4 π = 1 + 1 = 2 9 2 2 1 5 1 + cos 5 π = 1 + -1 = 0 9 3 0 0 3 1 + cos 3 π = 1 + -1 = 0 10 3 1 0 4 1 + cos 4 π = 1 + 1 = 2 11 3 1 1 5 1 + cos 5 π = 1 + -1 = 0 Fhkl 0 2 fe 0 2 fe 0 2 fe 2 fe 0 0 2 fe 0

Conclusão: Conclusão: Só vai haver Só vai haver raia raia quando quando (h+k+l) for um (h+k+l) for um número par número par

Relações úteis: enπi= -1 se “n” é ímpar enπi= +1 se “n” é par

53

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais

Intensidade difratada
• A intensidade do feixe difratado é dada por:
* I hkl = I 0 × m hkl × Fhkl × Fhkl × LP × FT

Onde: I0 - intensidade do feixe incidente m - fator de multiplicidade F - fator de estrutura F* - conjugado do fator de estrutura LP - fator de Lorentz - Polarização FT - fator de temperatura

Sendo:

LP =

1 + cos 2 2θ sen 2 θ cosθ
2

* Fhkl × Fhkl = Fhkl

54

6402Å Sistema cúbico Número de átomos na célula Na: 6 * 1/2 + 8 * 1/8 = 3 + 1 = 4 Cl: 12 * 1/4 + 1 = 3 + 1 = 4 N=8 – Posições Na: (000)(½½0)(½0½)(0½½) Cl: (½00)(0½0)(00½)(½½½) 55 .Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Cálculo de intensidade • Cálculo da intensidade difratada para o NaCl – – – – λ (Cu Kα) = 1.54Å aNaCl = 5.

4 Na + 4 0 0 Na + 4 0 0 0 Na . λ θ. λ dhkl θBragg fe Fhkl Ihkl h2+k2+l2 1 2 3 4 5 6 8 9 9 10 11 12 13 14 16 17 17 18 18 19 20 h 1 1 1 2 2 2 2 2 3 3 3 2 3 3 4 3 4 3 4 3 4 k 0 1 1 0 1 1 2 2 0 1 1 2 2 2 0 2 1 3 1 3 2 l 0 0 1 0 0 1 0 1 0 0 1 2 0 1 0 2 0 0 1 1 0 Fhkl 0 0 Na .Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Cálculo de intensidade (cont.4 Na + 4 0 0 Na + 4 0 0 0 0 Na .) hkl. aNaCl dhkl.4 Na + 4 4 fe 4 fe fe Cl fe Cl 4 fe fe Cl I hkl = I 0 × m hkl × Fhkl × LP × FT 2 4 fe 4 fe fe Cl fe Cl 4 fe fe Cl 4 fe 4 fe fe Cl fe Cl 56 .

1535 8.6 210080 21.4606 4.18 33.7 96041 9.68 62.85 13.68 36.63 24.25 4.81 45. (tabelado) θ Na Cl Bragg =1/(2d) 13.6282 1.8201 1.4 -10.63 0.2940 6.9 85347 8.56 9.4343 4.8 -12.2612 1.e.25 8.22 0.18 0.0 188317 19.34 57 .0 988843 100.85 0.00 10.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Cálculo de intensidade (cont.57 Fhkl -18 82.3864 5.04 6.13 7.89 7.68 0.18 37.4 8.05 41.71 3.35 15.16 m 8 6 12 24 8 6 24 24 24 8 LP Ihkl (/I0 FT) Ihkl/Imax*100 (calculado) 32.71 0.8 3335 0.12 53.10 0.8 11316 1.) 2 2 2 h +k +l 3 4 8 11 12 16 19 20 24 27 h k 1 2 2 3 2 4 3 4 4 3 1 0 2 1 2 0 3 2 2 3 l 1 0 0 1 2 0 1 0 2 3 d 3.4 20188 2.52 0.6 244989 24.0855 (senθ)/λ f.7006 1.2 50.53 7.3965 5.04 2.14 3.9 663859 67.85 9.2507 7.52 28.8 71.2564 2.24 22.92 0.98 0.96 58.78 3.1773 8.9941 1.64 -11.1513 1.2940 1.45 10.98 8.4101 1.46 12.4 26.3546 5.3071 6.

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Cálculo de intensidade (cont.) Difratograma ilustrativo para o NaCl (Cu Kα ) ) Difratograma ilustrativo para o NaCl (Cu Kα 100 100 90 90 80 80 70 70 60 60 50 50 40 40 30 30 20 20 10 10 00 20 20 111 111 200 200 220 220 311 311 222 222 400 400 331 331 420 420 422 422 333 333 30 30 40 40 50 50 60 60 70 70 80 80 90 90 100 100 Intensidade Intensidade 22θ θ 58 .

_ Difração do espectro contínuo.) Difratograma ilustrativo para o NaCl (Cu Kα ) Difratograma ilustrativo para o NaCl (Cu Kα ) 100 100 90 90 80 80 70 70 60 60 50 50 40 40 30 30 20 20 10 10 0 0 20 20 111 111 200 200 220 220 311 311 222 222 400 400 331 331 420 420 422 422 333 333 30 30 40 40 50 50 60 60 70 70 80 80 90 90 100 100 Comparação entre difratograma ilustrativo e real. A intensidade do background é devido às seguintes causas: _ Radiação fluorescente emitida pela amostra. suporte da amostra) além da amostra. _ Espalhamento difuso da amostra. ar. Cartão JCPDS para o NaCl 59 .Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Cálculo de intensidade (cont. _ Difração e espalhamento de outros materiais (colimador. Filtro de Ni. Intensidade Intensidade 2θ 2θ Espectro de difração do NaCl na forma de pó. Radiação de Cu.

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Difratômetro de Raios-X 60 .

• Exemplo comercial: – Difratômetro Shimadzu 61 .Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Difratômetro de raios-X • É um instrumento usado para estudo de materiais cristalinos através de medidas da maneira como eles difratam raios-X de comprimentos de onda conhecidos.

Contador (detector) H . é necessário manter a intensidade do feixe de raios-X incidente constante para que as intensidades relativas das linhas de difração possam ser medidas corretamente. Num difratômetro.Suporte da amostra K . as linhas de difração são medidas uma após a outra.Alvo do tubo de raios-X Os suportes E e H são acoplados mecanicamente de forma que a rotação de x graus da amostra é acompanhada da rotação de 2x graus do detector.Eixo do difratômetro S . B .Fendas especiais C .Amostra E . 62 .Fenda de recepção G .Escala graduada O .Suporte para contador e fendas de recepção F . Este acoplamento assegura que o ângulo de incidência e o de reflexão serão iguais à metade do ângulo de difração.Fonte de raios-X (tubo) T . Portanto.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Características gerais Onde: A.

• Considerações importantes na escolha da radiação a ser utilizada – o comprimento de onda característico usado não deve ser menor que a linha de absorção K da amostra para evitar radiação fluorescente – a diminuição do comprimento de onda desloca as linhas de difração para menores ângulos de Bragg e aumenta o número total de linhas de difração • Radiações características usadas na difração de raios-X • Mo Kα. Entretanto. é usado radiação monocromática.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Características gerais (cont. Fe Kα.) • Essencialmente. 63 . Cu Kα. Cr Kα Dentre todas as radiações. a Cu Kα é geralmente a mais útil. Co Kα. ela não pode ser utilizada para materiais ferrosos porque ela causa radiação fluorescente do ferro na amostra.

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Ótica de raios-X • Teorema geométrico: – Todos os ângulos inscritos em um círculo e localizados sobre o mesmo arco são iguais um ao outro e iguais à metade do ângulo formado no centro do círculo pelo mesmo arco. 64 .

a fenda de recepção F e a fonte de raios-X S estão sempre localizados no círculo do difratômetro. Para se obter um foco perfeito em F é necessário que a amostra seja curvada para se ajustar ao círculo mas esta medida não é prática por causa da mudança do raio de curvatura do círculo. O raio do círculo focalizador não é constante. o que causa um alargamento do feixe difratado em F.) • Geometria focalizadora para amostras planas Forward refletion Back reflection Para qualquer posição do contador. ou seja.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Ótica de raios-X (Cont. A principal razão para o uso de amostras planas é tirar vantagem da focalização e aumentar a intensidade de feixes difratados fracos para um ponto onde eles podem ser medidos corretamente. Isto significa que a superfície da amostra é sempre tangente ao círculo focalizador centrado na normal à amostra e que passa por F e S. 65 . ele aumenta à medida que o ângulo 2θ diminui.

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais

Ótica de raios-X (Cont.)
• Desenho ilustrativo do arranjo relativo de fendas em um difratômetro.

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Difração de Raios-X e Textura dos Materiais

Ótica de raios-X (Cont.)
• Monocromador no difratômetro
– É usado em problemas que requerem um feixe incidente estritamente monocromático para que os efeitos a serem medidos não sejam “mascarados” pelo espectro contínuo.

Os raios-X que saem da fonte S são difratados pelo cristal curvo e cortado M para um foco em S’(fonte virtual de raios-X), localizado no círculo do difratômetro, e depois divergem para a amostra C. Após difração na amostra os raios-X são focalizados na fenda de recepção F do contador.

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Difração de Raios-X e Textura dos Materiais

Ótica de raios-X (Cont.)
• Posicionamento do monocromador no difratômetro

Feixe incidente

Feixe difratado

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Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Detectores • Os principais meios usados para detectar feixes de raios-X são: – Telas fluorescentes – Filmes fotográficos – Dispositivos de ionização – Outros tipos 69 .

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Detectores (cont.) • Telas fluorescentes – Feitas de uma fina camada de sulfeto de zinco. montadas sobre uma base – A maioria dos feixes difratados são muito fracos para serem detectados por este método – Largamente usadas para localizar a posição do feixe primário no ajuste do equipamento – Um cristal fluorescente usado em conjunto com um fototubo forma um contador de cintilação (Scintillation counter) 70 . contendo traços de níquel.

) • Filmes fotográficos – São afetados pelos raios-X da mesma forma que pela luz visível – Na prática é quase impossível medir fotograficamente as intensidades relativas de dois feixes com diferentes comprimentos de onda 71 .Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Detectores (cont.

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Detectores (cont.) • Dispositivos de ionização – Medem a intensidade dos feixes de raios-X pela quantidade de ionização que eles produzem num gás – Exemplos: • Câmara de ionização • Contador Proporcional • Contador Geiger 72 .

) • Outros tipos – PSD (Position Sensitive Detector) – Área 73 .Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Detectores (cont.

) • Características do contador de cintilação – A eficiência deste contador se aproxima de 100% para toda a faixa de comprimentos de onda usados em difração – A sensibilidade é uniforme na superfície da janela do contador – A voltagem do pulso de saída é proporcional à energia do quantum que entra.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Detectores (cont. A eficiência deste contador se aproxima de 100% para toda a faixa de comprimentos de onda porque todos os quanta de raios-X incidentes são absorvidos pelo cristal. A quantidade de pulsos por unidade de tempo é diretamente proporcional à intensidade do feixe de raios-X que chega ao contador. 74 . ou seja. Os quanta de raios-X absorvidos pelo cristal são transformados dentro do contador em pulsos. é proporcional à intensidade dos raios-X. varia com o comprimento de onda dos raios-X – Alto background – Longos tempos de coleta de dados Desenho esquemático de um contador de cintilação. que pode ser medida por meio de um fototubo. No contador de cintilação (Scintillation counter) os quanta de raios-X incidentes produzem luz visível fluorescente em um cristal e a quantidade de luz emitida .

quando operado desta maneira. Então.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Detectores (cont. se a intensidade do raio-X for constante. 75 . os elétrons e íons são coletados nos eletrodos e. haverá uma pequena corrente passando pela resistência R1. por isso. Uma ddp (diferença de potencial) aplicada entre o anodo e o catodo faz os elétrons movimentarem-se na direção do anodo e os íons positivos na direção do catodo. Este dispositivo. chama-se câmara de ionização. mas está obsoleto por causa da sua baixa sensibilidade na medição das intensidades dos raios-X. está obsoleta.) • Características da câmara de ionização – Possui baixa sensibilidade na medição das intensidades dos raios-X e. Esta corrente é uma medida da intensidade do raio-X. Os raios-X que entram na câmara ionizam um gás resultando na liberação de elétrons pelo mesmo.

o contador pode atingir taxas de contagem muito altas – Para um feixe monocromático. varia com o comprimento de onda e depende do gás do contador – Longos tempos de coleta de dados O contador proporcional difere-se da câmara de ionização pelo fato da ddp aplicada ser muito maior provocando o aparecimento de um fenômeno chamado ionização múltipla. a distribuição na amplitude dos pulsos resultantes é mais estreita que em contadores de cintilação e o ruído é menor – A sensibilidade é similar à do contador Geiger.) • Características do contador proporcional – Os pulsos são proporcionais em amplitude à energia do quantum absorvido – O “dead time” é muito pequeno. que faz com que o número de átomos ionizados pela absorção de um quanta de raios-X seja de 103 a 105 vezes maior. 76 . ou seja.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Detectores (cont. O resultado desta amplificação é a enorme quantidade de elétrons que atingem o fio fazendo com que o pulso de corrente no circuito externo seja facilmente detectado. A figura abaixo mostra curvas de distribuição de amplitude dos pulsos de um contador proporcional e de um contador de cintilação para as radiações CuKα e MoKα.

que é o tempo durante o qual o contador é insensível após o pulso. aproximadamente. Com isto. – A eficiência geralmente varia de ponto para ponto na janela do contador. obtém-se um fator de amplificação de 108 a 109. – A eficiência do contador varia com o comprimento de onda dos raios-X. – Longos tempos de coleta de dados O contador Geiger também possui o mesmo princípio de funcionamento de um contador proporcional mas difere-se do mesmo por trabalhar com uma ddp ainda maior (1000 a 1500V). 77 .) • Características do contador Geiger – A principal desvantagem é a perda nas contagens que ocorre por causa do “dead time”.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Detectores (cont.

) • Características do contador PSD – É mais rápido que um detector convencional (cintilação) usado na mesma resolução angular tempos médios de coleta de dados – Vários feixes difratados são medidos ao mesmo tempo – O efeito da desfocalização é tão pequeno que pode ser negligenciado (no caso de textura) Desenho esquemático de um goniômetro de textura (Eulerian Cradle) equipado com um detector PSD.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Detectores (cont. 78 .

79 . c) Área. b) PSD linear.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Detectores (cont.) • Características do contador de área – Mede diferentes ângulos de Bragg ao mesmo tempo – É muito mais rápido que um detector convencional (cintilação) usado na mesma resolução angular tempos muito curtos de coleta de dados – É útil para determinação de textura em materiais com texturas muito fortes – É útil para medidas de textura em multi-cristais (muitos cristalitos individuais podem ser distinguidos) Desenho esquemático de um goniômetro de textura (Eulerian Cradle) equipado com um detector de área. Desenho esquemático da área de visão e resolução angular do feixe difratado para os goniômetros de textura: a) Convencional (Cintilação).

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Monocromadores • Vantagens – Feixe com radiação monocromática – Diminuição da intensidade do background – Espectro resultante é “mais limpo” • Desvantagem – Diminui a intensidade das linhas de difração • Existem dois tipos que dependem do cristal refletor – Cristal plano (não curvo) – Cristal curvo e cortado 80 .

para filmes finos. ou seja.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Monocromadores (cont.) • O cristal plano – Não é um refletor muito eficiente resultando num feixe refletido de intensidade muito baixa • O feixe incidente nunca é composto somente de raios paralelos. 81 . por exemplo. ele contém uma grande proporção de radiação convergente e divergente mesmo com a utilização de fenda ou colimador – É usado.

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Monocromadores (cont.) • O cristal cortado curvo e – É possível obter um grande ganho na intensidade do feixe refletido 82 .

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Análise de Fases 83 .

131. com ou sem padrão. ou análise de fases. A análise qualitativa é realizada identificando o padrão de cada substância presente. chamado ICSD (Inorganic Crystal Structure Database).: Existe um banco de dados mantido pelo FIZ (Fachsinformationzentrum). Obs. Esta é a base para a análise química baseada em difração.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Análise de Fases • Análise química pela identificação da substância ou fase e não dos elementos químicos constituintes. cujos dados estão incorporados no PDF-2. 84 .000 fases (ano 2000) • Análise qualitativa e quantitativa. esteja ou não numa mistura de substâncias. Uma dada substância sempre produz um padrão de difração característico. A análise quantitativa é possível porque as intensidades dos picos produzidos por um constituinte da mistura são proporcionais à fração volumétrica do constituinte na mistura. • Comparação com padrões pré-determinados – ICDD (Internation Centre for Diffraction Data) • PDF-2 (Powder Diffraction FileTM) .

em porcentagem da mais intensa. para facilitar a busca. 85 . juntamente com as intensidades relativas. baseado no espaçamento d dos planos da rede cristalina. Os índices. Os valores de d1. Valores de d e I/I1 para as linhas medidas Referências sobre o método de obtenção. d2 e d3. normalmente são suficientes para localizar o padrão de uma substância desconhecida no banco de dados. óticos e químicos O padrão de difração do pó de uma substância é característico da substância e forma uma espécie de impressão digital. Ficha pdf . No Método de Hanawalt cada substância é caracterizada pelos valores de d das três linhas mais intensas. sendo d1 para a mais intensa. são baseados nas três raias de maior intensidade.Claudimar Dados cristalográficos. d2 e d3 . Cada padrão de difração é descrito pela lista dos valores de d e dos valores relativos de intensidade dos picos correspondentes. intensidades relativas correspondentes. chamados de d1. A radiação usada afeta as intensidades relativas. I. d2 para a segunda mais intensa e d3 para a terceira mais intensa. Fatores de conversão são usados nas comparações quando diferem as radiações utilizadas na amostra e no padrão (normalmente Cu). Em 1936 Hanawalt criou um sistema de classificação de padrões de difração.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Método de Hanawalt Três linhas mais intensas e maior valor de d. Hoje existem softwares de busca fornecidos com o banco de dados e também pelos fabricantes de difratômetros. a partir da qual a substância pode ser identificada.

Podem haver linhas de diferentes fases superpostas. tornando a solução mais difícil. micro-absorção e extinção: tamanhos de graõs diferentes entre as fases de coeficientes de absorção diferentes . Os programas de busca e identificação hoje disponíveis facilitam o trabalho. • Componentes com baixa porcentagem não produzem bom espectro. deformação Erros de intensidade: preparação de amostra (textura.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Dificuldades Práticas • Erro no espectro de difração da amostra desconhecida que afetam a posição e intensidade das linhas. Erros de posição: alinhamento. 86 . A análise de uma substância simples é relativamente fácil. Na mistura de fases as três linhas de maior intensidade podem não pertencer a uma mesma fase.tamanho de grão muito pequeno minimiza os efeitos).

• Método da comparação direta • Método do padrão interno 87 . – Esta relação não é necessariamente linear.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Análise Quantitativa • A intensidade do espectro de difração de uma fase. numa mistura de fases. depende da concentração da fase na mistura. pois depende da absorção. que pode variar com a concentração.

m . respectivamente.área da seção do feixe incidente ν . ferrita delta). Iγ = K 2 Rγ cγ 2 μγ Onde cα e cγ são as frações volumétricas de α e γ.fator de temperatura μ .: com uso de monocromador pode-se detectar 0. 88 .carga e massa do elétron c .raio do círculo do difratômetro A .comprimento de onda r .fator de estrutura p .intensidade do feixe incidente e.volume da célula unitária F .velocidade da luz λ . sem monocromador. Iγ Iα = Rγ cγ Rα cα Valores de R calculados e I medidos Este método é adequado para amostras metálicas policristalinas (austenita retida.coeficiente de absorção linear ex. I .intensidade integrada I0 .ângulo de Bragg e-2M .multiplicidade θ . pode-se escrever para uma linha particular de dada fase: Iα = K 2 Rα cα 2 μα .1% de austenita retida (em volume).Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Método da comparação direta ⎛ I e 4 ⎞⎛ λ3 A ⎞⎛ 1 ⎞ ⎡ 2 I = ⎜ 02 4 ⎟⎜ ⎜ m c ⎟⎜ 32πr ⎟⎜ ν 2 ⎟ ⎢| F | ⎟ ⎠⎝ ⎠ ⎣ ⎝ ⎠⎝ ⎛ I e 4 ⎞⎛ λ3 A ⎞ K 2 = ⎜ 02 4 ⎟⎜ ⎜ m c ⎟⎜ 32πr ⎟ ⎟ ⎝ ⎠⎝ ⎠ ⎛ 1 ⎞⎡ R = ⎜ 2 ⎟ ⎢| F |2 ⎝ ν ⎠⎣ ⎛ 1 + cos 2 2θ p⎜ ⎜ sen 2 θ cos θ ⎝ ⎛ 1 + cos 2 2θ p⎜ ⎜ sen 2 θ cosθ ⎝ ⎞⎤⎛ e −2 M ⎟⎥⎜ ⎟ ⎜ 2μ ⎠⎦⎝ ⎞ ⎟ ⎟ ⎠ Intensidade do feixe difratado K2 independe das substâncias difratantes ⎞⎤ − 2 M ⎟⎥ e ⎟ ⎠⎦ ( ) R depende das substâncias difratantes (hkl e θ) I= K2R 2μ Designando as substâncias por α e γ. 5 a 10% é o mínimo.

Mistura-se na substância original um quantidade conhecida da fase padrão S.fase padrão IA = IS = ' K 3c A μm μm μm .. A fração volumétrica de A passa de cA para cA’. A comparação de intensidades de A e S no espectro de difração permite a obtenção de cA a partir de uma curva de calibração assim obtida: amostras sintéticas contendo concentrações conhecidas de A e uma concentração constante cS de S.. C.coeficiente de absorção da mistura K3 .fração em peso ρ .densidade Variação nas quantidades relativas de B.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Método do padrão interno Quantificar A numa mistura A. (cA) S . Consiste em comparar uma linha da fase que se quer quantificar com a de uma substância conhecida (padrão) adicionada. onde a quantidade relativa das outras fases pode variar.os demais termos da expressão de I são constantes para uma linha do espectro de A K 4 cs I A K 3c 'A = I S K 4 cS w . não afetam a relação entre as intensidade de A e S. É conveniente para determinar a quantidade de A numa mistura de fases A.. B. 89 .. B. C. C.. D... ' c 'A wA ρ S = cS wS ρ A wS é mantido constante e wA’ = wA(1-wS) IA = KwA IS Este método é limitado a amostras sob a forma de pó.

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Análise de Tensão Residual 90 .

ν .módulo de Young.45 para a maioria dos metais e ligas).razão de Poisson (0.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Análise de Tensão Residual z x σ y = Eε y y ε z = −νε y ε z= d − d0 d0 E ⎛ d − d0 ⎞ ⎜ ⎟ ν ⎜ d0 ⎟ ⎝ ⎠ σy =− E . 91 .25 a 0.

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Análise de Tensão Residual nλ = 2d sen θ dd = − cotg θ dθ d d − d0 εz = = − cotg θ 0 (θ − θ 0 ) d0 Para uma dada deformação ε o deslocamento (θ−θ0) cresce com θ0. Assim. as medidas são usualmente feitas para 70°<θ0<85° 92 .

AO está contido no plano definido por OB e a normal à superfície. σ2. A substituição de d0 por dn no denominador da expressão final de σφ introduz erro desprezível. σ3 (neste caso. O que normalmente se deseja é medir a tensão numa direção específica. 93 . 2. que faz um ângulo f com a direção principal 1 e um ângulo b com o eixo x.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Método sen2ψ Tensão biaxial Deformação na direção normal à superfície ε3 = ε z = − ν E (σ 1 + σ 2 ) dn − d0 ν = − (σ 1 + σ 2 ) d0 E Deformação da direção AO. São as direções onde agem as tensões principais σ1. existem 3 direções mutuamente perpendiculares (1. 3) em que não agem tensões de cizalhamento. a um ângulo ψ com a normal: Fig pag 437 Cullity εψ = di − d0 d0 εψ − ε 3 = σ Φ (1 + ν ) sen 2 ψ Combinando as expressões acima: σφ = E (1 + ν ) sen 2 ψ ⎛ di − d n ⎞ ⎜ ⎟ ⎜ d ⎟ n ⎠ ⎝ Qualquer que seja o sistema de tensão de um corpo. OB. σ3 = 0).

medição normal (ψ=0) θi . θn .Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Método sen2ψ σφ pode ser expresso em função de 2θ: Fig pag 445 Cullity σφ = E cotgθ (2θ n − 2θ i ) 2(1 + ν ) sen 2 ψ Normalmente ψ é tomado igual a 45°. resulta em diminuição da intensidade. com a inclinação da amostra. 94 .medição normal (ψ=ψ) Usa-se a mesma reflexão (hkl) para as duas leituras. A mudança de foco de F para F’.

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Textura por Difração de Raio-X 95 .

• Determinação de densidade de polos em policristais: – É o método comumente usado para determinação de textura por difração de raio-X.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Métodos Experimentais de Análise de Textura • Orientações individuais em policristais: – É o método mais direto de determinação de textura. 96 . Este método tornou-se importante com a automação das medidas das bandas de Kikuchi no microscópio eletrônico de varredura (EBSD). usando a difração de cada cristal. Baseia-se no fato de que num policristal a intensidade difratada é proporcional à fração volumétrica dos cristais que satisfazem a condição de difração. grão a grão.

) a análise se tornou quantitativa. com a introdução do goniômetro de figura de polo e o uso de um contador Geiger (Decker et al.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Difração de Raio-X • Lei de Bragg monocromática: 2 dhkl senθ = nλ para radiação Fig pag 128 . Para determinar a orientação de um plano hkl o detetor é posicionado no ângulo de Bragg correspondente ao pico difratado de interesse. mas somente em 1948. A intensidade registrada é proporcional à fração volumétrica de cristais com os planos {hkl} satisfazendo às condições de reflexão. 97 . rotações ω e χT para a geometria de transmissão. Difração de raios-x foi empregada para analisar orientação preferencial em metais pela primeira vez em 1924 (Wever). As rotações do goniômetro são relacionadas às coordenadas polares α e β que definem a orientação de um polo. • Planos com espaçamento dhkl obedecem à lei de Bragg. 2θ. O método de reflexão é o mais comumente usado. A amostra é então girada no goniômetro de figura de polo: rotações φ e χR para a geometria de reflexão.kocks Condições: • Os planos {hkl} difratam quando em posição de reflexão entre o feixe incidente e o feixe difratado: normal ao plano {hkl} é a bissetriz entre feixe incidente e feixe difratado.

θ. usado pelos cristalógrafos para determinação da estrutura de cristais. χ. Na maioria das aplicações ω é mantido igual a zero. 98 . ω.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Berço de Euler Um difratômetro para figura de polo consiste essencialmente de um goniômetro de 4 círculos. A nomenclatura das rotações é padronizada: φ. No goniômetro de figura de polo a amostra pode ser oscilada.

α=75°). numa região distante de qualquer pico de Bragg. interação do feixe com moléculas de ar e de ruído eletrônico. O “background” muda com α mas decresce somente para grandes ângulos (e. Há.g.. um alargamento da incidência do feixe com o ângulo α. Esta curva é determinada numa amostra de composição similar. com poucos picos. mas ela pode ser determinada e subtraída da intensidade medida.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Correção de “Background” Iα = I bg bg α =0 bg Iα ( padrão ) bg Iα =(0padrão ) A intensidade de fundo ou “background” resulta do espalhamento incoerente e fluorescência da amostra. porém. Na prática não se consegue eliminar a intensidade de “background”. Em função disso alguns autores preferem a medição do “background” para α=0 e o uso de uma curva de correção. 99 . que praticamente elimina fluorescência (requer soller). A fluorescência pode ser reduzida na seleção do tubo de raio-x ou com o uso de monocromador. Em alguns equipamentos ela é medida para cada ângulo α (χ em reflexão).

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Absorção A fração G da intensidade medida que provém de uma camada superficial de espessura t é dada por: G = 1 . Espessura da amostra. para diferentes radiações e diferentes materiais. que resulta em valores de G de 50% e 90%. em μm. com 2θ=40°: 100 .exp (-2μt/senθ) onde μ é o coeficiente de absorção linear do material.

por isso figura de polo não deve ser medida para 2θ<20°. Quando a amostra é rodada em torno de χ isto não mais se aplica. no mesmo 2θ. Curvas de correção empíricas podem ser medidas numa amostra do mesmo material. mas sem orientação preferencial. O alargamento e a distorção da área irradiada causam desfocalização do feixe difratado. Para 2θ pequeno a interseção é mais alongada. com mesma geometria. O alargamento do feixe pode também causar sobreposição de picos de difração próximos. que normalmente são resolvidos para α=0. 101 . mas não próximo da periferia da figura de polo.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Correção de Desfocalização α= Iα corr aleatória Iα =0 = Iα aleatória Iα A forma da área irradiada depende do sistema de colimação e da orientação da superfície da amostra relativamente ao feixe incidente. Quando não é possível a obtenção de amostra de orientação aleatória são usadas curvas de correção teóricas. Para um feixe cilíndrico (2mm de diâmetro) a interseção com a superfície é uma elipse. Isto resulta em intensidade reduzida. que se alonga com o aumento da inclinação α. uma vez que somente parte do feixe passa pela fenda de recepção. Na geometria de reflexão de Bragg-Bretano um feixe divergente focaliza-se no detetor.

102 . A normalização equivale a expressar as intensidade em múltiplos de uma distribuição aleatória.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Normalização • As intensidades medidas e corrigidas são normalizadas para que a textura seja expressa em unidades padronizadas independentes da intensidade do feixe difratado e dos parâmetros experimentais particulares. ponderadas em função da contribuição em área. As intensidades medidas e corrigidas são somadas para toda a figura de polo. posteriormente. • norm Iαβ ∑ sen α = Iαβ ∑ Iα β sen α ' i i ' ' ' i i Mesmo para figuras de polo incompletas é feita a normalização. No cálculo da ODF. considerando apenas as intensidades medidas. é feita uma normalização final.

volume médio do grão Vamostra . Esta definição independe de parâmetros estruturais e mesmo da existência de grãos bem definidos. desalinhamento do goniômetro. No caso da difração de raio-x o volume irradiado pode variar com a orientação da amostra (ω. Na técnica de reflexão a área irradiada decresce com 1/senχ e a penetração decresce com senχ. O método mais simples e mais usado é o de comparar as figuras de polo experimentais com as recalculadas a partir da função distribuição . Resolução angular e relevância estatística são relacionados um ao outro.fator de multiplicidade A textura é definida pela fração volumétrica de cristais na orientação g. A ODF pode ser também definida pela fração de número de grãos. Porém. Se a área irradiada é constante.χ). Na maioria dos casos. de modo que o volume efetivo contribuindo para a difração seja independente de χ.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Relevância Estatística Por número de grãos: df 1 = f N df ⎡ V grão 8π 2 1 ⎤ =⎢ ⎥ f ⎣V amostra Δg .. 103 .ODF. é a ODF por número.. a variação do volume com 2θ tem de ser considerada. correções de background e desfocalização inadequadas. Fontes de erro na obtenção de textura: preparação de amostra. ruído na intensidade do raio-x. O somatório dos erros leva a uma falta de consistência dos dados de textura que pode ser detectada na fase de análise.volume irradiado da amostra Δg . o volume efetivamente irradiado é proporcional a senθ. entretanto. Isto significa que figuras de polo em ângulo de Bragg pequeno têm baixa relevância estatística.resolução angular m . os grãos existem.m f ( g ) ⎦ 1/ 2 Onde: Vgrão .

A equação é sempre indeterminada e uma solução única não é obtida a menos que condições adicionais sejam aplicadas (não mencionadas aqui). Existem diferentes métodos propostos na literatura.h y||h A fração volumétria de cristais com h||y é dada por: A(hy ) = 1 2π ∫ h||y f ( g ) dψ (1) onde ψ é o ângulo de rotação em torno da direção comum. d . c . A obtenção de f(g) a partir de um conjunto de figuras de polo é chamada inversão de figura de polo (pole figure inversion).Tranformação integral.o mais avançado é conhecido como WIMV (Williams-ImhofMatthies-Vinel). acima.Método de aproximação . que leva a uma fórmula inversa expressando f(g) em função de A(h. A solução não é simples. a . b .Discretização .Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Cálculo da ODF Uma direção na amostra é definida pelo vetor unitário y no sistema de coordenadas da amostra: y=[y1. Nos outros casos a melhor maneira de obter a orientação é usar os dados para calcular a distribuição de orientação (ODF). ou figura de polo: A(h. e .y).Expansão numa série usando um conjunto de funções hamônicas ortogonais.h3]={Θγ} no sistema KB Para um cristal numa orientação g. podendo ser determinada satisfatoriamente por simples exame de uma figura de polo.no qual a função densidade de polos é aproximada pro um número de funções distribuição particulares centradas em certos orientações de alta densidade (componentes).y2.Ajuste de componentes . as direções y e h são relacionadas por: y=g. 104 .h2. Quando h é mantido constante tem-se uma função distribuição de densidade de polos. Este método é adequado para um cálculo interativo de f(g) a partir das figuras de polo.y3]={αβ} no sistema KA Uma direção cristalográfica é definida pelo vetor unitário h no sistema de coordenadas do cristal: h=[h1. Comumente usa-se 4 figuras de polo incompletas. e começa colocando em cada célula da ODF a média geométrica dos valores nas figuras de polo associadas. A função densidade de orientação f(g) é relacionada com a função distribuição de polos A(hy) pela expressão (1).que transforma a integral numa soma.y) = Ph(y) = P(hkl)(αβ) Em poucos casos a textura de uma amostra se aproxima de um cristal simples. para cálculo da ODF. obtidas por reflexão.

Uma vez encontrada uma solução. Isto não é possível de se obter a partir da difração de um policristal. As várias abordagens mencionadas são diferentes na maneira de chegar a uma solução. Isto permite uma estimativa do erro experimental para cada figura de polo: P(hkl) y) polo medidas: ( ( E para todas as figuras(deexp − P hkl) (y)comp dy = ΔP hkl) ∫[ ] 2 ( hkl ) ∑ ΔP ( hkl ) = ΔP 105 . ter-se uma função contínua A(hy). Qualquer solução do problema inclui condições arbitrárias. dΩ = sen α dα dβ A função é normalizada de modo a corresponder a múltiplo de densidade de uma distribuição aleatória. de modo que: 1 P( hkl ) (αβ ) sen α dα dβ = 1 4π ∫ Uma solução única do problema da inversão de figura de polo requer um número infinito de figuras de polo (hkl). ou seja. que é um compromisso entre dados medidos e condições impostas f(g)comp. as figuras de polo daí obtidas diferem das medidas.γ) A função P(hkl)(y) define a fração volumétrica de cristais com h⊥(hkl) na direção variável y={αβ}: dVαβ / V dΩ = P( hkl ) (αβ ).Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Cálculo da ODF Cálculo da ODF Quando se fixa a direção y tem-se a figura de polo inversa: Ry(h) = Ry(Θ.

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Tabela de ângulos entre planos 106 .

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Tabela de ângulos entre planos 107 .

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