MICROSCOPIA DE FUERZA ATOMICA (AFM)

Ivan Camilo Quintero Santacruz 0745812

UNIVERSIDAD DEL VALLE FACULTAD DE INGENIERA ESCUELA DE INGENIERA DE MATERIALES SANTIAGO DE CALI 2012

1. Introduccin

La Microscopia de fuerza atmica (Atomic force microscopy) es una tcnica de caracterizacin de materiales ampliamente usada en el mbito de nanotecnologa y pelculas delgadas, debido a que detecta fuerza del tamao de piconewtons (1x1012 N) y puede hacer un sondeo topogrfico de los materiales con precisiones nanomtricas. [1] Usando AFM se ha podido reemplazar tomos individuales usando mtodos puramente mecnicos [2], esto es gracias a que, a grosso modo, el AFM consiste en una plataforma y una sonda que efecta un barrido o escaneado de la muestra, la sonda termina en una punta acoplada de tan solo unos 100 de dimetro ( 400 a 500 tomos aproximadamente). [1]

2. MARCO TERICO
2.1 Funcionamiento El funcionamiento del AFM se basa en una punta de 100 , dicha

punta es seleccionada especialmente dependiendo del material a caracterizar, los materiales ms comunes de los que puede estar hecha es punta es de Silicio o Nitruro de silicio [3]. Este punta interacciona con la superficie del material a caracterizar, dependiendo de la fuerza de los tomos de la superficie estudiado la punta se flexionar, el grado de flexin lo registra y traduce un escner gracias a un pequeo lser, al mismo tiempo que la punto se desliza por toda la superficie, lo que permite registrar la topografa a nivel manomtrico de la superficie del material. La fuerzas ms comunes que son responsables de la flexin son de segundo orden (Van der Waals) aunque tambin influyen otras fuerzas. [3]

Ilustracin 2 Micrografa electrnica de la punta de un AFM [4]

Ilustracin 1Micrografa de la punta desde el lado [4]

Es una tcnica muy verstil ya que tiene varias formas de funcionamiento dependiendo del material a analizar y sus propiedades, adems de que puede ser utilizado tanto en materiales conductores, semiconductores o aislantes [1], la resolucin del AFM es de menos de 1nm lo que le permite mostrar pequeos detalles en la superficie del material con una amplificacin de varias millones de veces

Modo de empleo Contacto Tapping Imagen de Fase No Contacto Fuerza Magntica Fuerza Elctrica Potencial de Superficie Modo Lift Modulacin de Fuerza Fuerza Lateral Microscopa de Tunelamiento Microscopa Electroqumica Litografa:

Usado para: Mide la topografa de la muestra deslizando la punta sobre su superficie. Tambin llamado contacto intermitente, mide la topografa de la muestra tocando intermitentemente su superficie. Proporciona una imagen contrastada generada por las diferencias de adhesin en la superficie de la muestra Mide la topografa de acuerdo a las fuerzas de Van der Waals que existen entre la superficie de la muestra y la punta. Mide el gradiente de fuerza magntica sobre la superficie de la muestra. Mide el gradiente de fuerza elctrica sobre la superficie de la muestra. Mide el gradiente de campo elctrico sobre la superficie de muestra Tcnica que utiliza dos modos de operacin usando la informacin topogrfica para mantener la punta a una altura constante sobre la superficie. Mide la elasticidad/suavidad relativa de la superficie de las muestras. Mide la fuerza de friccin entre la punta y la superficie de las muestras. Mide la topografa de superficie de la muestra utilizando la corriente de tunelamiento. Mide la estructura de la superficie y las propiedades de los materiales conductores inmersos en soluciones electrolticas Se emplea una punta especial para grabar informacin sobre la superficie de muestra

Ilustracin 3 Modos de operacin: a. Modo contacto, b. Modo de no contacto, c. Modo de tapping [4] Debido a la alta precisin del AFM se deben tomar algunas medidas preventivas para evitar errores, por ejemplo, se debe montar el microscopio en sistemas anti-vibracin y en cmaras anti-sonido para evitar cualquier perturbacin exterior o en casos catastrficos la ruptura de la punta medidora.

Para mover la punta se usan actuadores piezoelctricos, tambin se puede mover la muestra y dejar la punta fija, en ambos casos los controladores son manejador por computadoras. Se puede diferenciar 2 grandes formas de estudia, la formas con contacto de la punta y el material y las formas sin contacto (No contacto), la gran diferencia entre unas y otras radica en que en las primera las fuerzas que se detectarn entre la punta y el material sern predominantemente de repulsin y en el segundo sern de atraccin.

Modo contacto: La punta del AFM se sita a pocos Angstroms de distancia de la superficie. Fuerzas de repulsin Modo sin contacto: La punta se sita a decenas o cientos de Angstroms de la superficie. Fuerzas de atraccin
Ilustracin 4 Esquema de la punta de un AFM [4]

La desventaja del modo contacto es que muestras biolgicas o suaves, pueden resultar daadas en el proceso. En la mayora de los AFM, detectan la flexin de la punta mediante medio puramente pticos, utilizando un lser que se refleja en la punta y mediante el clculo de la deflexin del lser en un fotodetector se detecta la posicin de la punta. El detector contiene particiones que permiten detectar cambios pequeos en la posicin del haz incidente, incluso de unos pocos angstrom. [5] Dentro de estos dos modos se diferencia otro grupo, la cual depender de si la punta permanecer a altura o a flexin constante.

Modo altura constante: Mide directamente la flexin de la punta a medida que esta se mueve por toda la superficie del material, esto genera datos con coordenadas planas (x,y) mientas que la deflexin de la punta da el valor tridimensional (z).

Ilustracin 6 Esquema del funcionamiento de un AFM [4]

Modo fuerza constante: Este modo es ms complejo, pues se necesita dejar la flexin de la punta constante a medida que la punta o el material se mueve, esto se logra gracias a una retroalimentacin del AFM que corrige en cuestin de segundos la flexin de la punta (o la deflexin del lser), En este caso la imagen se genera con las coordenadas x-y del barrido ms la seal z de la altura de la sonda. Sin embargo este mtodo est limitado al tiempo de correccin del retroalimentador. [5]

Ilustracin 7 Un AFM [4]

2.1.1 Caracterizacin de propiedades Tambin se puede usar el AFM no solo para conseguir imgenes de las muestras, sino tambin para crear graficas de las fuerzas de la superficie vs la altura, para ello se hace oscilar verticalmente la punta y se registra la flexin de esta, luego se representa una grfica Fuerza vs Altura. Esto es muy til para caracterizar propiedades especficas de los materiales como la adhesin y a la vez permite estudiar la interaccin de una molcula con sus alrededores, caracterizar la elasticidad e indentacin de los polmeros, longitud de enlace, etc. 2.1.2 Caracterizacin de las superficies individuales de los tomos. El AFM puede ser utilizado para cartografiar la superficie de tomos individuales, esto es debido a que cada tomo en la superficie siente a sus vecinos en la capa inferior gracias a las interacciones atmicas y a los enlaces qumicos que forman, estos enlaces pueden alterar sutilmente la interaccin de la punta con la superficie del material estudiado, el AFM traduce estas alteraciones y distingue el tomo de los otros, esto se usa principalmente para diferenciar tomos de silicio, estao y plomo en aleaciones.

Bibliografa 1. http://www.uco.es/~iq2sagrl/TranspTema9.pdf 2. http://www.fisica.uh.cu/bibvirtual/vida%20y%20tierra/microscopiofuerza% 20atomica/index.htm 3. http://www.uaz.edu.mx/cippublicaciones/eninvie2K5/I_1%5CI_2Microsco pioFA.pdf 4. Imagen tomada de http://commons.wikimedia.org 5. http://nanoquimica.awardspace.com/AFM.htm