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Etec Polivalente de Americana

- Qumica Aplicada a Indstria Txtil Curso: Tecelagem I


Junho 2012

Prof. David Luis Tonim Prof. Sandro de Jesus Zampieri

Gustavo Romano Boer N 13 Thiago de Jesus Machado N 32

A Histria do Microscpio

No se sabe ao certo quando as lentes foram inventadas porm no ano 721 A.C. h relato de um cristal de rocha recortado com propriedades de ampliao. Contudo, as lentes passaram a ser realmente conhecidas e utilizadas por volta do ano 1280, na Itlia, com a inveno dos culos. Com sua rpida popularizao, logo comearam as primeiras experincias de combinao de lentes para aplicao em instrumentos de ampliao de imagens, resultando na criao do primeiro microscpio composto (duas ou mais lentes). O surgimento do microscpio dado ao holands Zacharias Jansen (15801638), por volta do ano 1595. Como era muito jovem na poca, provvel que o primeiro microscpio, com duas lentes, tenha sido desenvolvido pelo seu pai, Hans Jansen. Contudo, era Zacharias quem montava os microscpios, distribudos para realeza europia. Era composto por uma objetiva de lente

convexa e uma lente (de luneta) cncava, conforme relatou Galileu Galilei em 1609. No incio, o instrumento era considerado um brinquedo, que possibilitava a observao de pequenos objetos. Tudo indica, porm, que o primeiro a fazer observaes microscpicas de materiais biolgicos foi o holands Antonie van Leeuwenhoek (1632-1723). Considerado um cientista invulgar, veio de uma famlia de comerciantes, nunca teve fortuna, no recebeu formao universitria, nem sabia outra lngua palm do holands. O seu pai fazia cestos, enquanto que a me vinha de uma famlia de cervejeiros. Mesmo assim, com percia, persistncia, uma curiosidade infinita e uma mente aberta e livre do dogma cientfico da poca, Leeuwenhoek fez algumas das mais importantes descobertas na histria da biologia. Em 1648, foi aprendiz numa loja de negociantes de linho e mais tarde ele prprio aderiu ao negcio dos tecidos. Em 1668 aprendeu a polir lentes, uma vez que costumava usar uma lupa na para avaliar a qualidade dos tecidos, e fez assim o seu primeiro microscpio. H quem diga que teria sido inspirado pelo trabalho de Robert Hooke (1635-1703) , aps ter visto a capa de uma cpia do

Micrographia numa livraria.


Hooke, aps algumas experincias com microscpios compostos, abandonou o seu uso uma vez que no era possvel uma ampliao superior a 20 ou 30 vezes. Por outro lado Leewenhoek tinha a percia no polimento de lentes, e isso permitiu construir um microscpio ptico simples (apenas com uma lente de boa qualidade) que ampliava mais de 200 vezes. Foi assim que se tornou um pioneiro na observao de diferentes espcies microscpicas: protistas, algas e bactrias, as quais desenhou e enviou Royal Society de Londres. Os seus microscpios eram individualmente feitos para cada amostra e alguns dos seus infinitamente pequenos eram observados com uma ampliao de cerca de 300 vezes, uma faanha considervel, mesmo em comparao com alguns instrumentos modernos. Com a ajuda de um
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microscpio simples, Leeuwenhoek observou e desenhou os infinitamente pequenos. Curiosamente, alguns destes seres microscpicos apresentam grandes homologias com os seres humanos, como o caso da existncia de sistema digestivo. E tambm observou detalhadamente diversos tipos de material biolgico, como embries de plantas, os glbulos vermelhos do sangue e os espermatozides presentes no smen dos animais. Foi tambm Leeuwenhoek quem descobriu a existncia dos micrbios, como eram antigamente chamados os seres microscpicos, hoje conhecidos como microorganismos. Atualmente, os micrbios observados no microscpio ptico composto, so bastante diferentes dos observados por Leeuwenhoek. Acompanhando o desenvolvimento da mecnica fina em meados de sculo XVIII, John Cuff (1708-1792) passa do uso da madeira e couro para o metal, e rene pela primeira vez num instrumento a focalizao por parafuso, platina para amostras, espelho para luz transmitida e refletida, que permitem equivalncia com a disposio moderna.

Aps estas primeiras descobertas, os estudos microscpicos progrediram muito pouco, e nos duzentos anos seguintes, nenhuma descoberta importante foi feita. Finalmente, a partir de 1830, comearam a produzir-se lentes acromticas, que no do origem a aberraes. Este progresso culminou com a inveno, pelo fsico alemo Ernest Abb, do microscpio acromtico com condensador, praticamente idntico aos utilizados atualmente. A hiptese de que todos os seres vivos so constitudos por clulas foi crescendo lenta e gradualmente, medida que iam sendo aperfeioadas as lentes e os microscpios, que permitiram observaes mais precisas da estrutura interna dos seres vivos. O aparecimento do microscpio permitiu tambm o nascimento de um nova cincia: a citologia. A citologia a cincia que estuda a clula que s foi possvel conhecer depois do aparecimento do microscpio.
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Os microscpios dividem-se basicamente em duas categorias:

Microscpio ptico: funciona com um conjunto de lentes (ocular e objetiva) que ampliam a imagem transpassada por um feixe de luz, e que pode ser:

Microscpio de campo claro Microscpio de fundo escuro Microscpio de contraste de fase Microscpio de interferncia Microscpio eletrnico: amplia a imagem por meio de feixes de eltrons, estes dividem-se em duas categorias: Microscpio de Varredura e de Transmisso.

H ainda os microscpios de varredura de ponta que trabalham com um larga variedades de efeitos fsicos (mecnicos, pticos, magnticos, eltricos). Um tipo especial de microscpio eletrnico de varredura por tunelamento, capaz de oferecer aumentos de at cem milhes de vezes, possibilitando at mesmo a observao da superfcie de algumas macromolculas, como o caso do DNA.

Surgimento do Microscpio Eletrnico


Em 1930, V. Zworkin (1888-1882) inventa o microscpio eletrnico. O seu uso veio a revelar a ultra-estrutura celular, permitindo aumentar ainda mais o objeto da biologia. No microscpio eletrnico a luz substituda por um feixe de eltrons que se propaga no vcuo. Este microscpio no utiliza elementos pticos, mas lentes eletrostticas ou magnticas, do que resulta uma ampliao e um poder de resoluo muito maior.
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Em 1938, Von Ardenne (1907-1997) construiu um microscpio eletrnico de transmisso no qual a aquisio de imagem era feita por varredura, disposio muito mais tarde retomada na forma de microscpio eletrnico de varredura e transmisso, obtendo um aumento na ordem de 8.000 X, ainda que o tempo exigido para uma exposio no fosse muito prtico. A partir de 1943, Raimond Castaing (1921-1988) sob orientao de Andr Guirnier (1911-2000) em Paris, dedicou-se ao desenvolvimento de uma microssonda eletrnica. Nesse instrumento, um feixe colimado de eltrons excita a emisso de raios X, que analisados atravs da lei de Moseley, permitem anlises elementares em um volume da ordem de 1 m3 do material. Inicialmente concebido como dois instrumentos distintos, o microscpio eletrnico de varredura e a microssonda foram progressivamente reunidos; a disponibilidade destes recursos simultaneamente consolidou definitivamente a posio do microscpio eletrnico de varredura para aplicaes como anlise de falhas e desenvolvimento de tecnologias industriais. Em 1950 a Universidade de Cambridge interessou-se em criar um grupo de pesquisa em tica eletrnica e retomou o desenvolvimento do microscpio eletrnico de varredura. Foi ento desenvolvido um instrumento com caractersticas modernas, como utilizao de eltrons secundrios e retroespalhados, elucidao dos diversos mecanismos de contraste, e principalmente reconhecida a grande profundidade de campo para o exame de superfcies rugosas. Em 1952, foi atingida a resoluo de 50 nm, que uma dcada depois havia sido reduzida de um fator de 5 nm; era ento chegado o momento de comercializar o microscpio eletrnico de varredura com a Cambridge Instrument Company, a partir de 1965. Durante a dcada de 90 verificou-se um importante progresso no microscpio eletrnico de varredura: o desenvolvimento dos trabalhos iniciais de Danilatos (1953- ) possibilitou a criao do microscpio eletrnico de
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varredura de baixo vcuo, capaz de operar com presses at algo acima da presso de vapor da gua. Isto possibilitou no apenas o exame de amostras midas (como por exemplo, amostras biolgicas), mas tambm o exame de amostras no condutoras de eletricidade, uma das limitaes importantes dos instrumentos tradicionais. A formao da imagem do microscpio eletrnico por varredura foi provavelmente o desenvolvimento mais importante ocorrido em microscopia no sculo XX, introduzindo, ao cabo de quase quatro sculos, um novo conceito na visualizao de microestruturas. Em princpio, cada fenmeno fsico, com o qual seja possvel provocar uma resposta localizada no objeto e adquirir um sinal correspondente, pode ser utilizado como base para um microscpio. Uma das primeiras, e at agora, a mais importante aplicao utilizar o efeito de tunelamento (efeito quntico, segundo o qual uma pequena corrente tunela atravs de uma fina camada de material isolante). Varrendo a superfcie de uma amostra condutora com uma sonda de dimenses atmicas, Castaing e Guirnier descreveram em 1982 o microscpio de tunelamento, com o qual obtiveram imagens de resoluo atmica. Segundo eles prprios, conseguiram algo que em princpio nem deveria funcionar. A rapidez com que eles foram reconhecidos e agraciados pelo Prmio Nobel em 1986 atesta o enorme impacto deste instrumento no desvendamento da estrutura de superfcies em dimenses atmicas, da maior importncia no limiar, em nossos dias, da nanotecnologia. Pouco tempo depois, Binning e colaboradores introduziram o microscpio de fora atmica, de concepo ainda mais improvvel que contornou a limitao do exame apenas de amostras condutoras. Esta inveno iniciou a era dos Microscpios de sonda de varredura, campo no qual se verificaram atualmente os maiores desenvolvimentos de microscopia. Novas modalidades so propostas continuamente, e s a perspectiva histrica poder decidir, no futuro, quais deles tero impacto
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comparvel com os grandes desenvolvimentos do sculo XX, na nossa busca de ver o pequeno.

Componentes do Microscpio Eletrnico


Um MET ( microscpio eletrnico de transmisso ) composto de diversos componentes, os quais incluem um sistema de produo de vcuo no qual os eltrons viajam, uma fonte de emisso de eltrons para a gerao da corrente de eltrons, uma srie de lentes eletromagnticas, assim como placas eletrostticas. Os dois ltimos permitem ao operador orientar e manipular o feixe, conforme necessrio. Tambm necessrio um dispositivo para permitir a insero, o movimento interno e a retirada de amostras do trajeto do feixe. Dispositivos de imagens so posteriormente usados para criar uma imagem dos eltrons que saem do sistema. Os principais componentes so:

Sistema de vcuo Porta-objetos do espcime Canho de eltrons Lentes eletrnicas Aberturas

Sistema de vcuo
Para a aumentar o percurso livre mdio da interao do gs de eltrons, um MET padro evacuado para baixas presses, tipicamente na ordem de 104 Pa. A necessidade para isso dupla: primeiro prover subsdios para a diferena de tenso entre o catodo e o terra sem gerar um arco, por outro, reduzir a frequncia de coliso dos eltrons com os tomos de gs para nveis insignificantes, este efeito caracterizado pelo percurso livre mdio.

Porta-objetos do espcime

O projeto do porta-objetos do espcime de um MET (correspondente platina dos microscpios ticos) incluem eclusas de ar para permitir a insero do suporte da amostra no vcuo com um aumento mnimo na presso em outras reas do microscpio. Os fixadores da amostra so adaptados para manter um tamanho padro de grelha sobre a qual a amostra colocada ou um tamanho padro de amostra auto-sustentvel. O tamanho padro da grelha de um MET um anel de 3,05 mm de dimetro, com tamanho, espessura e malhas variando de alguns a 100 m. A amostra colocada sobre a rea interna em malha com um dimetro de cerca de 2,5 mm. Os materiais mais comuns da grelha so cobre,molibdnio, ouro ou platina. Essa grelha colocada no porta-amostras que est emparelhado com o porta-objeto da amostra. Existe uma grande variedade de disposies de porta-objetos e de fixadores, dependendo do tipo de experimento a ser realizado. Uma vez inseridos em um MET, a amostra geralmente tem que ser manipulado para apresentar a regio de interesse para o feixe, como em uma nica difrao de gro (cristalito), em uma orientao especfica. Para acomodar isso, o porta-objetos do MET inclui mecanismos para a translao da amostra no plano XY da amostra, do ajuste da altura Z do fixador da amostra, e, normalmente, h pelo menos um grau de liberdade de rotao para a amostra. Assim, um estgio de MET pode fornecer quatro graus de liberdade para o movimento do espcime. Os critrios de projeto de porta-objetos de um MET so complexos, devido s exigncias simultneas de restries mecnicas e de ptica de eltrons e, assim, gerar muitas implementaes nicas. Um porta-objetos de MET requerido para ter-se a habilidade de fixar um espcime e manipul-lo para trazer a regio de interesse para o trajeto do feixe de eltrons. Existem duas disposies principais para porta-objetos em um

MET, a verso de entrada lateral e a de entrada pelo topo, sendo o mais comum o com a entrada lateral.

Canho de eltrons
O canho de eltrons formado por vrios componentes: o filamento, um circuito de polarizao, uma capa Wehnelt, e um nodo de extrao. Ao ligar o filamento para a o componente negativo da alimentao de energia, os eltrons podem ser "bombeados" do canho de eltrons para a placa do nodo, e coluna do MET, completando assim o circuito. O canho projetado para criar um feixe de eltrons saindo do dispositivo em um determinado ngulo, conhecido como o semi-ngulo de divergncia do canho, .

Lentes eletrnicas

As lentes eletrnicas so projetadas para atuar de uma maneira que emula as lentes ticas, por focar raios paralelos em uma distncia focal constante. Lentes podem operar eletrostaticamente ou magneticamente. A maioria das lentes eletrnicas para TEM utilizam bobinas eletromagnticas para gerar uma lente convexa. Para estas lentes o campo produzido pelas lentes deve ser radialmente simtrico, como o desvio da simetria radial das lentes magnticas causa aberraes tais como astigmatismo, e aberrao esfrica ecromtica. Lentes eletrnicas so produzidas com ferro, ferro-cobalto ou ligas de nquel e cobalto, tais como permalloy. Estas so selecionadas por suas propriedades magnticas, tal como a saturao, histerese e a permeabilidade magntica. Os componentes incluem o ncleo metlico, a bobina magntica, os plos, os cabeotes e os circuitos de controle externo.

Aberturas

Aberturas so placas metlicas anulares, atravs das quais os eltrons que esto a uma distncia fixa maior do eixo ptico podem ser excludas. Estas so compostas por um pequeno disco metlico que suficientemente espesso para impedir a passagem de eltrons atravs do disco, embora permita eltrons axiais. Esta permisso de eltrons centrais em um MET provoca dois efeitos simultneos: por um lado, aberturas diminuem a intensidade do feixe pelos eltrons que so filtrados do feixe, o que pode ser desejvel, no caso das amostras sensveis ao feixe. As aberturas so tanto aberturas fixas dentro da coluna, tais como a lente do condensador, ou aberturas mveis, que podem ser inseridas ou retiradas do caminho do feixe, ou movidas no plano perpendicular ao caminho do feixe.

Referncias Bibliogrficas: http://www.portalsaofrancisco.com.br/alfa/microscopio/historia-domicroscopio.php#ixzz1yLxt4Xuk http://www.portalsaofrancisco.com.br/alfa/microscopio/historia-domicroscopio.php#ixzz1yLxYXQvz http://www.prof2000.pt/users/biologia/historia.htm http://golubcollection.berkeley.edu/18th/18.html http://www.invivo.fiocruz.br/celula/historia_01.htm http://www.nuvlac.com.br/profiles/blogs/a-evolu-o-da-microscopia http://pt.wikipedia.org/wiki/Microsc%C3%B3pio_eletr%C3%B4nico_de_transmi ss%C3%A3o#Porta-objetos_do_esp.C3.A9cime
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