2 Breve Reviso de Espectrometria de Massa e da Tcnica PDMS

Em 1907, J.J. Thomson construiu o primeiro espectroscpio de massa, no qual se obtinha imagens com forma parablica. O instrumento foi usado na realizao do seu trabalho sobre a anlise de raios positivos [6]. Este pesquisador foi agraciado com o Prmio Nobel em fsica em 1906 por ter descoberto o eltron em 1898. Um dos seus alunos, F.W. Aston, utilizou a nova tecnologia de espectrometria de massa na descoberta de que muitos elementos so encontrados naturalmente como istopos estveis [7], por esse trabalho ele tambm ganhou o
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Prmio Nobel em qumica em 1922. A aplicao dessa nova tcnica em petroqumica [8] revelou, atravs da anlise de lubrificantes e outros fluidos associados com os sistemas de vcuo que os sinais de rudo de fundo em espectros de massa estariam relacionados a hidrocarbonetos e outras molculas orgnicas. Uma breve reviso da histria da espectrometria de massa est referenciada em [9]. Atualmente, a espectrometria de massa (MS Mass Spectrometry) [10] uma tcnica microanaltica utilizada para obter informao do peso molecular e de caractersticas estruturais da amostra. A espectrometria de massa uma das mais importantes ferramentas analticas disponveis aos cientistas, j que capaz de fornecer informao sobre: i) a composio elementar de amostras; ii) a estrutura molecular; iii) a composio qualitativa e quantitativa de misturas complexas; iv) a estrutura e a composio de superfcies slidas e as propores sotpicas de i tomos em amostras [11]. Na espectrometria de massa, alguma forma de energia transferida amostra para causar a sua ionizao. O requisito bsico para uma anlise por espectrometria de massa a formao de ons livres em fase gasosa. O alcance e a utilidade do mtodo de espectrometria de massa ditado pelo processo de ionizao. A aparncia do espectro de massa de uma espcie molecular altamente dependente do mtodo de ionizao usado. Os agentes ionizantes

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empregados em espectrometria de massa podem ser distribudos em duas categorias: as que requerem a amostra em fase gasosa e os agentes que provocam dessoro em amostras slidas ou liquidas [11]. A vantagem dos ltimos que so aplicveis a amostras no volteis e termicamente instveis. Este o caso da tcnica de espectrometria de massa com dessoro de plasma (Plasma Desorption Mass Spectrometry - PDMS).

2.1 Espectrometria de Massa Um resumo do processo integral de anlise pela espectrometria de massa clssica, culminando num espectro de massa tpico freqentemente encontrado na literatura mostrado na figura 2.1, onde M representa as molculas de um
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composto puro na fase gasosa. Aps um processo de ionizao, M+ se decompe, criando ons de massas menores que, detectados, geram o espectro de massa.
Ionizao
m/z 29 m/z 27 m/z 57

M
amostra m = 58

M+
m/z 43

a. anlise de massa de todos os ons b. aquisio de dados c. grfico de barras

m/z 15

15 27

57

m/z

e absoro de excesso de energia

decomposio unimolecular de M+

espectro de massa

Fig. 2.1 Anlise por espectrometria de massa Para que o processo integral possa acontecer, preciso que o instrumento contenha os componentes adequados. A figura 2.2 mostra um diagrama de blocos dos componentes principais de um espectrmetro de massa. Como podemos ver na figura, so trs os componentes principais: uma fonte de ons, o analisador de massa e o detector. Na fonte de ons, os componentes de uma amostra so convertidos em ons, pela ao de um agente ionizante, os ons positivos ou negativos so imediatamente acelerados em direo ao analisador de massa. A funo do analisador de massa separar tais ons de acordo com a sua relao massa-carga (m/z). Os espectrmetros de massa podem ser classificados em vrias

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categorias dependendo da natureza do analisador de massa. Finalmente um detector recebe os ons que foram separados pelo analisador, transformando a corrente de ons em sinais eltricos que so processados, armazenados na memria de um computador e mostrados em uma tela.
1 0-5 a 1 0-8 t o r r

Fonte de ons

Analisador de Massa

Detector

Bomba de Vcuo Amostras

Tratamento de dados

Processador de sinais

m/z

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Espectro de massa

Fig. 2.2 Componentes bsicos de um espectrmetro de massa

2.2 Analisador de Massa tomos e molculas neutras devem ser ionizados para que possam ser analisados por espectrometria de massa. Os analisadores dependem em geral da acelerao dos ons, por isso os separam de acordo com a relao massa-carga (m/z), e no apenas em funo de suas massas. As trs principais caractersticas de um analisador so: o limite de massa, a transmisso inica e o poder de resoluo em massa. O limite de massa significa o valor mais alto de massa que pode ser medido; geralmente expresso em daltons (Da) para um on de carga unitria, i.e, z = 1. A transmisso a razo entre o nmero de ons que chegam ao detector e os ons produzidos na fonte. O poder de resoluo a capacidade de produzir dois sinais distintos para dois ons com uma diferena de massa pequena. [12,13]; pode ser quantificado por R = m/m onde m a menor diferena de massa capaz de ser resolvida, ou ainda, m a largura de um pico meia altura (FWHM Full Width at Half Maximum)

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Existem diversos dispositivos para a separao de ons com diferentes valores de massa-carga. O analisador deve permitir a passagem de um nmero de ons suficiente para fornecer uma corrente de ons facilmente mensurvel. Neste trabalho ser considerado apenas a analisador de massa do tipo tempo-de-vo (time-of-flight, TOF). 2.2.1 Espectrometria por Tempo de Vo (TOF-MS) Os analisadores de massa por tempo de vo foram descritos por Wiley e McLaren em 1955 [13,14]. Eles conseguiram reunir os requisitos de focalizao espacial e de energia dos ons, tornando vivel o primeiro instrumento comercial TOF-MS. [12] (Ver tambm [15,16]). O princpio de operao do TOF-MS [17-20] envolve a medida do tempo
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que um on leva para viajar da fonte de ons at o detector. Todos os ons recebem o mesmo acrscimo de energia cintica (e. g., 10 kV) durante uma acelerao rpida (na faixa de 0.1 a 1 s), mas como eles tm diferentes valores de m/q so progressivamente separados em grupos de acordo com a sua velocidade (e portanto segundo a quantidade m/q) a medida que atravessam a regio livre de campo entre a fonte de ons e o detector. Os ons batem seqencialmente no detector em ordem de valor crescente de m/q, produzindo pulsos eltricos. A seguir apresenta-se as equaes bsicas (axiais) para tempo de vo (TOF), junto com um esquema (para PDMS) definindo as diferentes regies e parmetros utilizados (fig. 2.3).
Amostra
252

Cf

FF

d1 FF U

Start signal

Stop signal

Fig. 2.3 Esquema de um espectrmetro TOF linear (252 Cf - PDMS)

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Fora e acelerao
F Eq = m m

a=

(1)

Velocidade e tempo
qE dt m

v = adt =

(2)

se E = constante,
Eq t m

v = v0 +
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(3)

onde v e v0 so as velocidades final e inicial do on. O tempo necessrio para o on atravessar a regio de acelerao : v v0 m E q

t1 =

(4)

A energia potencial eletrosttica determina o aumento de energia cintica do on na regio de acelerao:

1 qU = m v 2 2

desprezando-se a velocidade inicial v0 , a velocidade na regio de vo livre tornase proporcional ao inverso da raiz quadrada da massa:

v=

2qU m

(5)

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Tempo de vo total TOF = t1 + tL (6)

tL =

L v m 2 qU

tL = L

onde: t1 tL
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tempo em que o on acelerado tempo que o on viaja a velocidade constante O poder de resoluo de um nstrumento TOF funo do comprimento i

(L) do tubo de vo, da voltagem de acelerao e das distribuies iniciais de velocidades e espacial dos ons [16]. Na situao ideal, o pacote inicial de ons deveria ter uma largura infinitesimal e ser monoenergtico, mas na prtica, devido s vrias velocidades de formao dos ons e variaes nas energias trmicas dos mesmos, o pacote tem uma largura finita que impedir que todos os ons com m/q diferentes sejam detectados seqencialmente. O poder de resoluo experimental determinado levando em conta todas as causas de alargamento dos picos de tempo (t). Para isso, so consideradas as disperses das medidas de tempo de vo de ons de mesma massa. Vrias so as causas destas disperses, entre elas esto as incertezas sobre o instante de formao de um on, a sua localizao inicial na regio de extrao, a sua energia cintica inicial, os efeitos geomtricos do espectrmetro, como a posio da grade de acelerao, e as flutuaes do campo eltrico acelerador. Na Fig. 2.4 esto esquematizadas as situaes na regio de acelerao que contribuem para o alargamento dos picos de tempo de vo dos ons, de mesma razo m/q, dessorvidos de uma superfcie [16].

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Fig. 2.4 Causas de perda de resoluo em massa. Ref [16]. A fig. 2.5 resume as causas de perda de resoluo em massa, indicando seu efeito na forma do pico. No foi levada em considerao a deformao de picos devida aos mltiplos istopos em espectros de baixa resoluo.
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Fig. 2.5 Efeitos da emisso sobre a forma do pico. Ref. [16].

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O poder de resoluo motivo de desenvolvimento freqente em TOF-MS [21]. No momento, o poder de resoluo mximo em instrumentos disponvel comercialmente, com 2 metros de comprimento, na regio de vo livre, superior a 10000; onde a largura do pico medida em FWHM (Full Width at Half Maximum) [12]. Trs fenmenos fundamentais so responsveis pelo poder de resoluo baixo: a) O alargamento nos tempos de vo devido s diferenas nas energias cinticas iniciais dos ons. Pode ser corrigido com tcnicas de extrao atrasada (DE Delayed Extraction) ou espelhos eletrostticos. b) O alargamento nos tempos de vo devido s diferentes posies de onde os ons saem quando so emitidos da fonte, i.e., o alargamento espacial. Este efeito desprezvel no caso de amostras slidas e se os efeitos da emisso
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coletiva (pluma) no so muito importantes. c) O que chamado de turn-around time (emisso inica em sentidos opostos, para alvos gasosos) que pode ser visto como a diferena de tempo de vo entre dois ons de massas iguais saindo do mesmo plano na fonte e se movimentando com as mesmas velocidades iniciais mas em direes opostas. 2.2.2 Comparao do TOF com outras tcnicas Como j foi dito, os ons so separados no analisador de massa de acordo com a razo massa-carga. A separao pode ser conseguida aplicando campos magntico e/ou eltrico apropriados. Os ons so separados em funo da sua energia, momento ou velocidade. Em um instrumento de setor magntico, a separao baseada no momento e energia dos ons [22]. Em um instrumento TOF os ons so acelerados a uma energia dada e logo separados de acordo com a sua velocidade [23]. Os instrumentos de quadrupolo utilizam potenciais de corrente contnua e radiofreqncia para separar diretamente os ons de acordo com a sua relao m/q [24]. Recentemente, o espectrmetro de Ressonncia Ciclotrnica de ons de Transformada de Fourier (FT - ICR) tornou-se uma

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tcnica de espectrometria de massa poderosa baseada no confinamento de ons [25, 26]. As vantagens e desvantagens de cada um dos analisadores de massa citados esto na tabela 1.1; estes dados foram transcritos da referncia [27], e se referem a instrumentos padro. Tabela 2.1 Caractersticas de alguns analisadores de massa Caracterstica * Limite de Massa * Poder de Resoluo * Exatido em massa * Sensibilidade
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Setor Magnt. Bom Bom Boa Boa Boa Excelente Excelente Regular

TOF Excelente Regular M Excelente Excelente Regular Regular Boa

Quad. Regular Regular M Boa Boa Bom Excelente Boa

FT-ICR Bom Excelente Boa Boa Boa Regular Excelente Regular

* Velocidade de Anlise * Faixa dinmica * Potencial para MS/MS * Facilidade de Operao Fonte: ref. [27]

2.3 Tcnicas de Ionizao Como mencionado no incio do captulo, uma das trs unidades bsicas de um espectrmetro de massa a fonte de ons. Na tabela 1.2 apresenta-se um resumo geral das tcnicas de ionizao utilizada em espectrometria de massa molecular juntamente com algumas de suas caractersticas. Esta tabela mostra que estas tcnicas subdividem-se em dois grupos segundo o estado da amostra: no primeiro caso a amostra j se encontra em fase gasosa e no segundo produz-se dessoro inica a partir da fase condensada (slida ou lquida) da amostra.

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Uma vantagem das fontes por dessoro, que so aplicveis a amostras no volteis e termicamente instveis. Tabela 2.2 Tcnicas de Ionizao para Espectrometria de Massa Molecular Tipo Bsico
Fase gasosa Dessoro PUC-Rio - Certificao Digital N 0124802/CA

Nome
Impacto de eltrons (EI) Ionizao qumica (CI) Ionizao por campo eltrico (FI) Luz sncrotron Dessoro por campo eltrico (FD) Ionizao por Electrospray (ESI) Ionizao/dessoro por assistido por uma matriz (MALDI) Dessoro de plasma (PDMS) (FAB) Emisso de ons secundrios (SIMS) Ionizao (TS) Impacto de ons pesados (HIMS) trmica

Agente Ionizante
Eltrons energticos ons de um gs reagente Eletrodo em potencial eltrico alto Ftons Eletrodo em potencial eltrico alto Campo eltrico intenso

laser, Feixe de laser (UV) Fragmentos de fisso do

252

Cf (MeV)

Bombardeamento por tomos rpidos Feixe de tomos energticos ( 5 KeV) Feixe de ons energticos (5-15 KeV)

[thermospray] Temperatura alta Feixe de ons de aceleradores (MeV)

Fonte: ref. [11,16].

2.3.1 A Tcnica PDMS Em 1973 Ronald Macfarlane e colaboradores, no Laboratrio Ciclotron da Universidade Texas A&M, usaram fragmentos de fisso energticos de uma fonte radiativa do istopo 252 de califrnio para bombardear uma amostra de acetato de sdio, e produziram um espectro de massa de tempo de vo [28,29]. Eles consideraram, este fato como um evento histrico, e criaram a tcnica analtica
252

Cf PDMS, em que os fragmentos de fisso do

252

Cf so usados para produzir

ons moleculares de compostos difceis de serem analisados pelas outras tcnicas de ionizao (i.e., aqueles no volteis e termicamente instveis) [30,31]. Chamaram este mtodo de Plasma Desorption Mass Spectrometry porque se

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14

acreditava que os fragmentos de fisso do instantaneamente um plasma na amostra.

252

Cf produzissem local e

Detector Start

Folha de Converso

Porta alvos
2

Amostra

Detector Stop Tubo de vo

e-

252

Cf

Fragmentos de fisso

20 kV

Amplificador CFD TDC

Amplificador CFD

Espectro de massa

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Fig 2.6: Diagrama esquemtico de um espectrmetro para PDMS Os componentes bsicos de um instrumento na Fig. 2.6. A fonte
252 252

Cf-PDMS so apresentados

Cf, de 10 a 30 Ci, produz pares de fragmentos de fisso

(FF), emitidos em direes opostas. Um dos dois fragmentos de cada par detectado diretamente ou atravs de eltrons secundrios emitidos por uma folha que ele atravessa. O sinal eltrico amplificado pelo sistema de deteco start. O segundo fragmento de fisso incide sobre a amostra, praticamente no mesmo instante que o primeiro sobre o detector. Os ons desorvidos da amostra so acelerados a energias de 10 a 20 keV, enviados ao tubo de tempo-de-vo, no fim do qual so detectados, produzindo os sinais "stop". Um cronmetro do tipo TDC (time to digital converter) usado para determinar o tempo de vo, definido como o intervalo de tempo entre os sinais "start" e "stop". O espectro de massa produzido por registro e acumulao dos resultados de tempo de muitos ciclos semelhantes. Para uma fonte de 10-Ci haver de 1200 a 1500 desses ciclos por segundo, dependendo da geometria do instrumento [32]. A anlise por impacto de fragmentos de fisso pode ser feita por dois modos: por reflexo se o alvo for grosso (o FF incide na face a ser analisada) ou por transmisso se o alvo for fino (o FF atravessa a amostra).

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15

A fonte de

252

Cf o cerne da tcnica
252

252

Cf-PDMS. Ela uma fonte de

energia pulsante, porttil e compacta, sanduichada entre duas folhas, uma de nquel e a outra de tntalo. O nucldio Cf tem uma meia vida de 2,65 anos, decaindo espontaneamente. A sua principal emisso de partculas alfa (97%), porm para a tcnica PDMS de interesse apenas a frao do seu decaimento por fisso (3%). Neste ltimo caso, o ncleo do
252

Cf se fissiona simultaneamente em

dois fragmentos assimtricos de alto estado de carga, sendo que cada fragmento de um par sempre emitido em direo (quase) oposta do outro. Um decaimento por fisso tpico corresponde emisso simultnea de
106

Tc e
252

142

Ba com energias

de 104 e 79 MeV, respectivamente [31]. Alm disso, o

Cf um emissor de

neutrons: uma fonte de 10Ci de atividade tem um fluxo de aproximadamente 106 nutrons/s [32]; em mdia, so emitidos 3,86 neutrons por evento de fisso [16].

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2.4 Preparao de Amostras A preparao de amostras uma etapa crtica em todos os tipos de espectrometria de massa de ons secundrios. Em PDMS, as molculas da amostra tm que estas distribudas homogeneamente na forma de um filme fino e depositadas sobre uma superfcie condutora plana. Para a obteno de espectros TOF de boa qualidade desejvel que o depsito seja o mais regular possvel. O procedimento consiste em dissolver a amostra, depositar uma pequena quantidade da soluo sobre um suporte condutor e sec-la. Algumas tcnicas de obteno de filmes so descritas a seguir, a escolha de qual utilizar depende da natureza da amostra e do propsito da anlise. 2.4.1 Electrospray A deposio de amostras por eletrospray forma uma camada homognea de microcristais de igual tamanho. O mtodo foi proposto para alcanar uma rpida evaporao e para minimizar efetivamente os efeitos de segregao da amostra. Nesta tcnica, uma pequena quantidade de mistura amostra-solvente (de

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fcil volatilizao) percolada num capilar (de ao inoxidvel ou vidro) no qual se introduz um eletrodo. A deposio acontece aplicando alta tenso entre o eletrodo e o porta-amostras que um suporte metlico. O alto campo eltrico criado na ponta do capilar causa a emisso de pequenas gotas carregadas. O solvente nessas gotas se evapora durante o "spray" formando uma camada seca de pequenas partculas ( 1 m de dimetro) sobre o suporte metlico. 2.4.2 Deposio por "Spin" (Spin-casting) A deposio por rotao bem conhecida em tratamento de

semicondutores, onde ela utilizada para aplicar dopantes ou polmeros sobre as superfcies dos semicondutores. O aparelho empregado chamado spinner. Uma gota da soluo da amostra pingada sobre um suporte enquanto ele gira em alta
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velocidade. O solvente deve ter alta volatilidade para evaporar durante o processo de rotao deixando um filme relativamente uniforme sobre o suporte. A espessura do filme controlada regulando a velocidade de rotao e a concentrao da soluo. 2.4.3 Evaporao em Vcuo Os experimentos do presente trabalho foram realizados utilizando amostras obtidas por este mtodo. A evaporao em vcuo indicada para preparar filmes de compostos estveis termicamente. Amostras de sais, como haletos alcalinos, e aminocidos podem ser evaporadas diretamente sobe um filme fino de alumnio, carbono, ou mylar aluminizado, para dessoro por transmisso. O composto a ser evaporado colocado em um cadinho dentro de uma cmara de vcuo; acima do cadinho posto o substrato sobre o qual se deseja depositar o filme. O processo de produo de filmes por evaporao consiste no ciclo completo de evaporao, trnsito e condensao do material sobre o substrato. Duas vantagens dessa tcnica so a uniformidade e a no introduo de solventes.