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UNIVERSIDADE FEDERAL FLUMINENSE GRADUAO EM ENGENHARIA DA PRODUO DISCIPLINA: SISTEMAS DE APOIO LOGSTICO

NOES BSICAS DE CONFIABILIDADE (por EDUARDO SIQUEIRA BRICK)

SUMRIO

1. 2. 3. 4. 5.

CONCEITOS BSICOS REVISO DE PROBABILIDADE A FUNO DE CONFIABILIDADE CLCULO DA CONFIABILIDADE DE SISTEMAS PREVISO DE CONFIABILIDADE

OBS: Este trabalho foi realizado como parte das atividades do Projeto de Ensino Textos Didticos sobre Apoio Logstico Integrado.

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1. CONCEITOS BSICOS A Engenharia de Confiabilidade se ocupa das falhas que ocorrem durante a vida util de um produto. As tcnicas de controle de qualidade, por outro lado, se ocupam com a qualidade do produto, somente at o tempo zero (incio) da sua vida. Ambas as disciplinas esto relacionadas com o problema de garantia da qualidade de produtos. A qualidade de um produto o conjunto de caractersticas relacionadas com a sua capacidade em satisfazer uma dada necessidade.
QUALIDADE DE UM PRODUTO

CONTROLE DE QUALIDADE

CONFIABILIDADE

NVEL MNIMO DE ACEITAO

TAXA DE FALHAS TMEF

DISTRIBUIO DE PARMETROS

CONFIABILIDADE

DISPONIBILIDADE

INDEPENDENTE DO TEMPO

MANUTENIBILIDADE

VIDA TIL

DEPENDENTE DO TEMPO

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Questes respondidas pela Engenharia de Confiabilidade: qual a causa da falha de componentes? quais as consequncias de falhas de componentes para o comportamento do sistema? qual a probabilidade da ocorrncia de falhas? o que pode ser feito para minimizar falhas em um dado produto? como se pode verificar o grau de confiabilidade de um produto? como aumentar a confiabilidade de um produto?

Confiabilidade , pois, um conceito ligado a tempo. Define-se CONFIABILIDADE como: a probabilidade de que um item (componente ou sistema) executar a funo para a qual foi concebido, dentro de condies especificadas, por um dado perodo de tempo. Matematicamente: Confiabilidade = R(t) = P(T t), onde T = varivel aleatria que representa o tempo de funcionamento at falha do componente. t = um tempo qualquer. Os componentes bsicos dos modelos de confiabilidade so trs: 1. uma caracterizao do evento falha; e 2. o tempo decorrido at a ocorrncia deste evento, medido em uma unidade adequada ao sistema em questo (horas de operao, ciclos de operao, tempo calendrio, etc.); 3. uma caracterizao do que se considera como condies normais de uso (cargas, ambiente, regime de operao). CARACTERIZAO DAS FALHAS Define-se FALHA como:

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a interrupo da habilidade de um item em desempenhar as funes para as quais foi especificado. As falhas podem ser analisadas segundo os seguintes aspectos: CAUSAS DE FALHA MODOS DE FALHA MECANISMOS DE FALHA CAUSA DE FALHA so as circuntncias durante o projeto, produo ou uso, que eventualmente resultam na falha do item. MODO DE FALHA o sintoma apresentado pela falha. Por exemplo: curto circuito circuito aberto excesso de ruido

MECANISMO DE FALHA o processo fsico, qumico, metalrgico, etc, que resulta em uma falha. Por exemplo: corroso desalinhamentos

As falhas tambm podem ser classificadas como SBITAS (caso no possam ser previstas pelo exame do item) ou GRADUAIS e, ainda, como COMPLETAS ou PARCIAIS. FALHA CATASTRFICA uma falha sbita e completa. FALHA DE DEGRADAO uma falha gradual e parcial. Normalmente, quando se fala de falhas, em estudos de confiabilidade est-se referindo s falhas catastrficas.

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2. A FUNO DE CONFIABILIDADE Tratando-se de confiabilidade, a varivel de interesse para anlise o TEMPO DE FUNCIONAMENTO NORMAL AT A OCORRNCIA DE UMA FALHA. Se vrios componentes idnticos forem colocados para funcionar nas mesmas condies, o instante de falha de cada um deles ser diferente. Tempos at falha so, portanto, variveis aleatrias e devem ser analisados usando os conceitos da Teoria das Probabilidades. Seja T a varivel aleatria que representa o tempo at falha de um componenente ou sistema qualquer. T tem uma FUNO DE DISTRIBUIO FT (t) = P [ T t), ou, abreviadamente, F (t) A CONFIABILIDADE do componente definida como: R (t) = 1 F (t) = P (T > t) R(t) denominada FUNO DE CONFIABILIDADE. O tempo esperado de vida do componente dado pelo valor esperado da varivel T:
D o

E (T ) = tf (t )dt = R(t )dt


o

onde f (t) a FUNO DENSIDADE DE PROBABILIDADE de T e foi usado o fato de que T uma varivel no-negativa (T 0) E(T) normalmente denominado TEMPO MDIO ENTRE FALHAS (TMEF) ou TEMPO MDIO AT FALHAR (TMAF) (em ingls MTBF e MTTF, respectivamente). Outros indicadores de tendncia central so a mediana (tmed) e a moda (tmoda). A mediana divide a funo derivada em duas reas iguais a 0,50. R(tmed) = F(tmed) = 0,5 A moda, ou mais provvel tempo at falha, o valor de t que maximiza (f(t). f (tmoda) = max f(t). Um outro conceito muito importante no estudo de confiabilidade o de TAXA DE FALHAS. Suponhamos que um dado componente funcionou, sem apresentar falhas, at o instante t. Desejamos saber a probabilidade de que ele ir falhar no prximo intervalo de tempo t.

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Ou seja, desejamos conhecer a probabilidade condicional de que ele ir falhar no intervalo (t, t + t), dado que sobreviveu at o instante t, isto :
P[t < T t + t/T t] = = P[(t < T t + t) I (T t)] P(T t) P [t < T t + t] F (t + t) - F (t) 1 - R(t + t) - (1 - R(t) ) R(t) - R(t + t) = = = = R(t) R (t) P (T t) R(t)

mas, (t < T t + t) I (T t) = t < T t + t , vem Para t pequeno F (t + t) - F(t) = f(t)t : = f(t)t R(t) f(t) = R(t) (1)

Definindo h(t) =

TAXA DE FALHAS INSTANTNEA OU FUNO TAXA DE FALHAS Observar que f(t) = h(t) = dF(t) dt (1 - R(t) dR(t) = =dt dt dt

dR(t) 1 . dt R(t) P (falhar em (t, t + t) / funcionou at t) h (t) t

h(t) = lim

t 0

P(t < T t + t/T t) t

Uma Funo Taxa de Falhas pode ser crescente (IFR Increasing Failure Rate), decrescente (DFR Decreasing Failure Rate), ou constante com o tempo (CFR Constant Failure Rate) A funo densidade de probabilidade do tempo at falhas completamente definida por (t).

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dR(t) 1 dt R(t) dR(t) (t)dt = integrando, e observando que R(0) = 1, vem R(t) t r A dR ( ) R(t) ( )du = - d(u) = lnR( ) /1 - - ln R(t) o 1 R ( )

(t) = -

R(t) = e x p (- ( )du )
o

A TAXA DE FALHAS definida como a probabilidade de que uma falha por unidade de tempo ocorra no intervalo (t, t + t) dado que o sistema funcionou corretamente at t. A TAXA DE FALHAS INSTANTNEA h (t) o limite da TAXA de falhas quando t0. Na prtica, as anlises de confiabilidade de componentes so feitas considerando-se uma populao contendo N itens idnticos (mesma funo de distribuio F (t)), funcionando sob as mesmas condies. Seja N (t) o nmero de itens sobreviventes no instante t. N (t) uma varivel aleatria binomial de parmetros n = N e p = R (t). Isto :
P(N(t) = K) = N! [R(t)]K [1 R(t)] N K K!(N K)! K = 0,..., N

E(N(t)) = N(t) = N.R(t) E[N(t)] N(t) = E[ R(t) = ] N N mas, N(t) = frao de itens sobreviventes no instante t N

(2)

confiabilidade o valor esperado da frao de itens funcionando no instante t. Aplicando-se a definio de taxa de falhas:

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h(t) =

f(t) F(t + t) F(t) = R(t) tR(t)


_

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(3)

mas, N - N(t) = valor esperado dos itens avariados at o instante t (N - N(t + t )) ( N N (t )) = valor esperado dos itens avariados no intervalo t < T t +t mas, F (t + t) - F(t) a probabilidade de um item ser avariado no intervalo, t < T t + t e, o nmero de itens avariados nesse intervalo binomial com p = F (t + t) - F (t) e n = N. Portanto, N.(F(t + t) - F (t)) tambm o valor esperado dos itens avariados nesse mesmo intervalo. 1 N N(t + t ) N - N(t ) N Substituindo (2) e (4) em (3), vem : Assim, F(t + t) - F(t) = = N N(t + t) (N N(t)) Nt N (t)/N = N(t) N(t + t) N(t) t (4)
_ _

TAXA DE FALHAS o nmero esperado de falhas, no instante t, por unidade de tempo, dividido pelo nmero esperado de sobreviventes.

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DISTRIBUIO EXPONENCIAL FUNO DENSIDADE

f(t) = e t t0 >0 =
2

1 1

=1
f(t)

FUNO DE CONFIABILIDADE

R(t) =e
1

R(t)

TAXA DE FALHAS

h(T) =

f(t) = = CONSTANTE R(t)

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DISTRIBUIO GAMMA FUNO DENSIDADE


t

f(t) =

(t )

n 1

(n)

t 0 Gamma (n, ) n > 0 = parmetro de forma > 0 = parmetro de escala

= n/
2

= n/

1 n

=1 n = 1 exponencial c/ parmetro n = inteiro n Erlang = , n = k/2


o

(n) = x n -1 e x dx n > 0

(n) = (n 1) (n - 1)! (1) = 1 (1/2) =

Se n inteiro > 0 (n) = (n - 1)! Para n inteiro a distribuio gamma a soma de exponenciais i.i.d, isto , o tempo do nsimo evento exponencial ocorrendo em srie. ( n-Erlang) Para = 1 e n=1 n= 2

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fdp - Gamma

0.5

2 Tempo

n=1 n=2

FUNO DE CONFIABILIDADE

k t ( t) e R(t) = k! k =0
n 1

Para = 1 e n=1 n=2

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1

Confiabilidade- Gamma

0.5

2 Tempo

n=1 n=2
TAXA DE FALHA
3

Taxa de falha- Gamma

0.5 Tempo

1.5

n=1 n=2 n = 0,8

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DISTRIBUIO DE WEIBULL FUNO DENSIDADE

f(t) = t 1 exp(- t ) , > 0 t0 = 1 (1/ + 1) 1 2 = 2 [(2/ + 1) 2 (1/ + 1)]

Para = 1 e =2 =4 = 10

fdp - Weibull

1 Tempo

alfa=2 alfa = 4 alfa = 10


FUNO DE CONFIABILIDADE

R(t) = exp[ ( t) ] Para = 1 e =2 =4 = 10


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Confiabilidade - Weibull

0.5

1 Tempo

alfa=2 alfa = 4 alfa = 10


TAXA DE FALHAS

h(t) = t. 1 2 Para = 1 e =1 =2 =4
4

Taxa de falha- Weibull

0.5 Tempo

alfa=1 alfa = 2 alfa = 4

= PARMETRO DE FORMA

= PARMETRO DE ESCALA

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DISTRIBUIO LOGNORMAL FUNO DENSIDADE


1 t 2 1 ln t - ( ) 2
2
2

f (t) =

exp [-

t 0

= E (T) = exp [ + ] 2

T = Var (T ) = [exp(2 + )] [exp( ) - 1]


Para = 1 e =2 =4

0.3

fdp - LogNormal

0.2

0.1

5 Tempo

10

Mu= 1 Mu=2
FUNO DE CONFIABILIDADE

R (t) = P[T >t] Mas, se T lognormal, ln T normal com mdia e varincia .

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P(T > t) = P [ln T > ln t] = P [ Entretanto

ln T - ln t - ] >

ln T - ~ N (0, 1) = Z ln t - R(t) = P [ > ]

Para = 1 e =1 =2
1

Confiabilidade - LogNormal

0.5

10 Tempo

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Mu= 1 Mu=2

TAXA DE FALHAS

h(t) =

f (t) R (t)

Para = 0,2 e =1 =2
4

Taxa de Falhas- LogNormal

5 Tempo

10

Mu= 1 Mu=2

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TAXAS DE FALHAS P/ SISTEMAS REAIS

SISTEMAS ELTRICOS
(t)

FALHAS PRECOCES

VIDA NORMAL

t ENVELHECIMENTO

SISTEMAS MECNICOS
(t)

SISTEMAS ELETROMECNICOS
(t)

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3. CLCULO DA CONFIABILIDADE DE SISTEMAS

O clculo da confiabilidade de sistemas depende da perfeita compreeno da definio do sistema, enquanto relacionada com a definio de confiabilidade. Para isto, preciso definir: a) b) c) d) propsito e misso; parmetros de desempenho e limites permitidos; condies ambientais e de funcionamento; e condies que constituem falha.

Para que se possa estabelecer um requisito de confiabilidade necessrio especificar: a) uma definio do desempenho esperado do sistema, de tal forma que todas as condies possveis sejam classificadas como aceitveis (SUCESSO) ou inaceitveis (FALHA); b) uma definio das condies de operao, que inclua condies ambientais e ciclo de funcionamento; c) uma definio da durao da misso. Observar que um sistema pode executar vrias funes diferentes (MODOS FUNCIONAIS DE OPERAO) ou ter vrias maneiras de executar a mesma funo (MODOS ALTERNATIVOS DE OPERAO).
CONSTRUO DO MODELO DE CONFIABILIDADE

PASSO 1 Definir o que necessrio para o sucesso da misso e obter um diagrama de confiabilidade. As estruturas tpicas para construir diagramas de confiabilidade so as seguintes:
ESTRUTURA SRIE o sistema s funciona se todos os seus componentes funcionam.

ESTRUTURA PARALELA o sistema funcionam se pelo menos um de seus componentes funciona.

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ESTRUTURA K em N o sistema funciona se pelo menos K de um total de N componentes funcionam.


1 K/N

ESTRUTURA STAND-BY (OU REDUNDNCIA PASSIVA) o sistema s deixa de funcionar quando todos os seus componentes falharem

PASSO 2 Escrever uma equao para a confiabilidade do sistema. PASSO 3 Calcular a confiabilidade de cada componente. PASSO 4 Calcular a confiabilidade do sistema usando os resultados obtidos nos passos 2 e 3. PASSO 5 Repetir passos 3 e 4 caso se deseje a confiabilidade para vrias duraes da misso.

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1 em 2 P P 2 em 3 P P
2

RS = P

RS = 2p p

RS = 3p

3 2p

Confiabilidade do Sistema em Funo da Confiabilidade de um elemento

Confiabilidade de Sistemas

0.5

0.5 Confiabilidade de um elemento

Elemento Isolado Paralelo 1 em 2 K/N - 2 em 3

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Seja, Rs = confiabilidade do sistema = probabilidade de sucesso = Ps Rx = confiabilidade do componente x = probabilidade de sobrevivncia do componente x = probabilidade de sucesso do componente x = Px Qx = 1 Rx = probabilidade de insucesso do componente x.
CONFIABILIDADE DE SISTEMA SRIE

EVENTO SUCESSO = {COMPONENTE 1 FUNCIONA E COMPONENTE 2 FUNCIONA E .... COMPONENTE N FUNCIONA } = S Representando por i o evento componente i funciona e por ~i o evento componente i no funciona, vem: S = { 1 2 3 ... N} Se os eventos forem independentes: Ps = P{1 2 ... N} = P1. P2 ... PN
Ps = Rs = Pi
i =1 N

CONFIABILIDADE DE SISTEMA PARALELO

SUCESSO = { 1 OU 2 OU 3 OU ... N}= S S = {1 2 3 ... N} 1 Rs = Qs = P{~1 ~2 ~3 ... ~N} = (1-P1) ... (1 PN)
Rs = 1 (1 P1) ... (1 PN)

Ps = Rs = 1 (1 Pi )
i =1

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CONFIABILIDADE DE SISTEMAS K em N

Se a confiabilidade de todos os componentes for igual a R. S = {pelos menos K componentes funcionam} Obs: O nmero de componentes que funcionam tem distribuo binomial
Rs = ( Ni ) R (1 R)
i i=K N i N N i

Rs = Ps = ( Ni ) R (1 R)
i= N

N i

CONFIABILIDADE DE SISTEMAS STAND BY

Supondo que o dispositivo sensor-comutador (S) possua confiabilidade 1 e tempo de reao desprezvel ( 0) e, ainda, que os tempos at falha sejam exponenciais e o sistema tenha s componentes em redundncia passiva, vem: P (falha no intervalo [o, t]) = P (qtde de falhas s + 1 no intervalo [o, t]). mas, o nmero de falhas no intervalo [o, t] Poisson com parmetro t

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P (falha no intervalo [o, t ]) =

k = s +1

(t )k e
k!

R(t) = P (sobrevivncia no intervalo [o, t] = 1 - P (falha no intervalo [o, t] =

(t )k e -t
k!

k=0

R(t) =

k=o

(t )k
k!

e - t

CONFIABILIDADE DE ESTRUTURAS COMPLEXAS

Decompor um problema grande em vrios problemas pequenos, que se enquadram nos casos j tratados acima. Exemplo:

1 2 3 8 4 R8= 1-(1-R1)(1-R2)(1-R3) 5

7 9 R9=1-(1-R 6)(1-R7)

R = R4.R5.R8.R9

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MTODO 1: CONDICIONAMENTO

P ( A) = P ( A / B) P( B ) + P( A / B) P( B)

Ps = P(S/x funciona) Px + P(S/ x funciona) (1 Px) = P (Sucesso) EXEMPLOS: 1)

Ps = P (S/A) PA + P (S/~A) (1-PA) P(S/A) = 1 P(S/~A) = PB Ps= PA + PB - PAPB

(1)

B1

C1

C1 = C2 = C B1 = B2 = B

B2

C2

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Condicionando em A funcionando e usando (1), vem:


B1 C1

B2

C2

P(S/A) = 2PC PC2 Condicionando em A no funcionando, vem: P(S/~A) = 2 PBPc (PB Pc) Ps = PA (2Pc - Pc) + (1-PA) (2PBPc (PBPc))
MTODO 2: TABELA VERDADE

Ex:
B A C

A 0 0 0 0 1 1 1 1

B 0 0 1 1 0 0 1 1

C 0 1 0 1 0 1 0 1

SUCESSO (S) OU FALHA (F) F F F F F S S S

PS PA(1-PB)PC PA PB (1-PC) PA PB PC

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Ps = PA(1 PB)PC + PAPB(1-PC) + PAPBPC = PAPC + PAPB(1 PC) = PA(PC + PB(1 PC)) = PA(PC + PBPBPC)

MTODO 3: MAPA DE KARNAUGH B

0 1

0 000 100 0

0 001 101 1
C

1 011 111 1

1 010 110 0

AB~C

C
AC

F = A(C + B~C)

Ps = PA (PC + PB (1 PC))

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CONFIABILIDADE DE SISTEMAS COM FUNES MLTIPLAS 1 CASO

NENHUM COMPONENTE APARECE EM MAIS DE UMA FUNO FUNES SO INDEPENDENTES NO TEMPO, i.e, NO SO EXECUTADAS SIMULTANEAMENTE.

Tratar cada funo como no caso anterior. Para o sistema, combinar as funes como se fossem equipamentos e tratar o diagrama de confiabilidade resultante como se fosse um sistema de funo nica.
2 CASO

EXISTEM COMPONENTES NECESSRIOS AO DESEMPENHO DE VRIAS FUNES.


A B

B FUNO 1

C FUNO 2

MISSO DEPENDE DE FUNO 1 E DA FUNO 2 E COMPONENTE B NECESSRIO A AMBAS AS FUNES

FUNO 1 FUNO 2 SISTEMA

Ps1 = 1 (1-PA) (1 PB) Ps2 = 1 (1 PB) (1 PC) Ps Ps1 x Ps2

USANDO MTODO 1

Ps = P (SUCESSO / B FUNCIONA) PB + + P (SUCESSO / B FUNCIONA) (1 PB) P (SUCESSO / B FUNCIONA) = 1 P (SUCESSO / B FUNCIONA) = PA PC

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Ps = PB + PA PC (1 PB)
MTODO 2

A 0 0 0 0 1 1 1 1

B 0 0 1 1 0 0 1 1

C 0 1 0 1 0 1 0 1

S ou F F F S S F S S S

PS (1-PA)PB(1-PC) (1-PA)PBPC PA(1 PB)PC PAPB(1 PC) PAPBPC = PB + PA PC PA PB PC

MTODO 3 B

1
C

1 1

1 1
B

Ps = PB + PA(1-PB)PC

A~BC

4. PREVISO DE CONFIABILIDADE

Cada vez mais os contratos para aquisio de sistemas complexos e os projetos para desenvolvimento destes sistemas esto incluindo a exigncia de que sejam feitas previses de confiabilidade. Isto , estimativas, baseadas no conhecimento que se tem, sobre a confiabilidade das partes componentes do sistema, da confiabilidade que se pode esperar do sistema, quando for colocado em operao.
Previses de confiabilidade servem a vrios propsitos:

a) Para o fabricante do sistema permite apontar, em estgios iniciais do desenvolvimento, quais os componentes crticos; b) Para os responsveis pelo sistema de manuteno, as previses fornecem informaes imprescindveis para a formao de estoques;

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c) Para fabricantes e responsveis a previso indica se os objetivos de confiabilidade especificados sero atendidos.

Para um sistema com estrutura SRIE, tempos at falha independentes, com distribuio exponencial e taxas de falhas 1, 2, ...., N, a confiabilidade de cada componente igual a exp (-i t). Portanto, a confiabilidade do sistema igual a:
Rs = Ri = e = exp(( i t )
i i i t

=e

i t

Vemos, pois, que o tempo at falha do sistema tambm tem uma distribuio exponencial com taxa de falhas igual a i. IMPORTANTE Para sistemas srie, tempos exponenciais, a nica informao necessria para fazer previso de confiabilidade o conhecimento das taxas de falhas dos componentes.

BANCOS DE DADOS SOBRE TAXAS DE FALHAS

Taxas de falhas de componentes so, pois, essenciais para previses de confiabilidade e duas perguntas aparecem imediatamente. a) ONDE OBT-LAS; e b) COMO SO FORNECIDAS.
FONTES DE TAXAS DE FALHAS

As principais fontes disponveis para taxas de falhas so as seguintes: a) MIL-HDBK-217F: Reliability Prediction of Electronic Equipment US Department of Defense. a fonte mais utilizada e tem como vantagens os fatos de ser bastante explicita com relao aos modelos usados e ser continuamente atualizada1. As previses fornecidas com base no HDBK-217F costumam ser pessimistas.
1

Atualmente deixou de ser atualizada pelo Departamento de Defesa americano.

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b) CNET: Recmeil de Donns de Fiabilit. CNET, 1980. Manual publicado pelo Centre National d Estudes de Tlcommunication in France. Contm as mesmas informaes bsicas do HDBK-217, entretanto mais voltado para aplicaes aeroespaciais e referncia a padres europeus. c) INSPEC: Eletronic Reliability Data. A Guide to selected Components. The Institution of Electrical Engineers, London, 1981. Contem informaes compiladas pelo National Centre of Systems Reliability. d) Bancos de dados sobre confiabilidade: GIDEP (Government Industry Data Exchange Program) nos EEUU EuReData (European Reliability Data Bank Association) na Europa.

UTILIZAO DAS FONTES DE TAXAS DE FALHAS

A confiabilidade de componentes depende dos seguintes fatores: a) qualidade de fabricao, ou rigor do controle de qualidade (por exemplo, existem componentes eletrnicos para aplicaes comerciais e militares) b) os esforos a que so submetidos os componentes (por exemplo, nveis de tenso, corrente e potncia de trabalho do componente) c) ambiente em que opera o componente (por exemplo, componente trabalha em ambiente condicionado ou em um veculo) O modelo mais usado para levar em conta todos estes fatores o seguinte: = b . A . Q . E onde, b = taxa de falhas bsica A um fator de esforo (STRESS) Q um fator de qualidade E um fator de ambiente As fontes de taxas de falha fornecem estes dados grupados por categorias de componentes. Para o MIL-HDBK 217F as categorias so as seguintes: MICROCIRCUITOS SEMICONDUTORES DISCRETOS VLVULAS

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LASERS RESISTORES CAPACITORES BOBINAS ROTATIVOS RELS CHAVES CONECTORES CIRCUITOS IMPRESSOS CONEXES MISCELNEAS

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