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Perfilagem de poos
Definio: registro das propriedades fsicas do sistema rocha-fluido ao longo do poo.
Objetivos: correlao estratigrfica, identificao de litologias, fluidos e fraturas, avaliao da qualidade de reservatrios (porosidade, permeabilidade e saturao em HC)
Tipos de perfilagem
Perfilagem a cabo LWD (Log While Drilling)
Soeiro (2005)
LWD
Soeiro (2005)
Principais perfis
Calibre Raios gama (natural) Densidade (gama-gama) Snico Nutrons (neutro) Potencial espontneo Resistividade
Fluido de perfurao
Tipos: a base de gua doce, gua salgada, leo ou gs (aerado). Importncia: resfriar e lubrificar a broca, transportar fragmentos de rocha at a superfcie, manter a presso do reservatrio e evitar blowout, sustentar as paredes do poo.
Blowout
Feij (2005)
O ambiente de perfilagem
As propriedades fsicas medidas por perfilagem dizem respeito ao sistema rochafluido, que inclui tanto fluidos naturais quanto o fluido de perfurao.
Soeiro (2005)
Soeiro (2005)
Soeiro (2005)
Principal uso
Avaliar qualidade dos dados dos demais perfis (acoplamento da ferramenta) Determinar zonas com invaso
Soeiro (2005)
Utilizao
Correlao estratigrfica Identificao de litologias Particularidades: sais de potssio, arcsios, folhelhos ricos em matria orgnica e cinzas vulcnicas.
Exemplos
Soeiro (2005)
Soeiro (2005)
Soeiro (2005)
Perfil snico
Princpio
Mede-se o tempo de trnsito de ondas P ao longo de 1 p da formao. Unidade (DT): s/ft
Finalidade
Clculo de porosidade. Modelagem ssmica (clculo de velocidades e amarrao entre poo e sees ssmicas TTI tempo de trnsito integrado).
Soeiro (2005)
Clculo de porosidade
tlog = tf * + (1- ) * tma
tlog: tempo de trnsito da formao. tma: tempo de trnsito da matriz. tf: tempo de trnsito do fluido.
Princpio
Uma fonte radioativa emite radiao gama sobre a formao (rocha-fluido). Parte dos raios gama sofrem espalhamento. O espalhamento dos raios gama proporcional densidade de eltrons da formao, que proporcional densidade da formao.
Soeiro (2005)
Finalidades
Identificao de litologias e correlao estratigrfica Determinao de porosidade (melhor perfil) Identificao de zonas com gs (em combinao com o perfil de nutrons)
Curva RHOB
Soeiro (2005)
Clculo da porosidade
Princpio
Emite-se nutrons sobre a formao e capta-se a resposta devido s colises entre os nutrons e os tomos da formao. A perda de energia mxima quando h coliso com tomos de hidrognio. Portanto, a resposta indica a concentrao de tomos de hidrognio na formao. Unidades (PHIN): porosidade (%)
Elemento
Finalidades
Determinao de porosidade. Definio de litologia. Deteco de gs (em combinao com o perfil de densidade).
Curva PHIN
Pista 4, escala linear.
Soeiro (2005)
Determinao da porosidade
Leitura direta na curva PHIN. Correo para arenitos: arenito=calcrio + 4%
Ateno: a leitura de porosidade confivel apenas em reservatrios limpos, pois a PHIN influenciada pela argilosidade (argilas possuem muita gua na estrutura).
Deteco de gs
Qual o efeito da presena de gs sobre a porosidade neutrnica?
Zona com gs
Os perfis de nutrons e densidade so representados de modo que a reduo da porosidade devido presena de gs provoca afastamento das curvas PHIN e RHOB (escalas invertidas) (ver entre 1650 e 1663 m).
Soeiro (2005)
Resposta de litologias
Soeiro (2005)
Informaes importantes
A diferena de potencial proporcional diferena de resistividade entre o filtrado (Rmf) e a gua da formao (Rw). S opera com fluido de perfurao condutor (gua+sal).
Finalidades
Detectar camadas permeveis (com invaso). Posicionar limites de camadas permeveis. Medir resistividade da gua de formao (Rw). Determinar o volume de argila em camadas permeveis. Auxiliar na deteco de HC.
Curva SP
Deflexo negativa
SSP
Deflexo positiva
*Registro na pista 1
SSP
HC A
Perfis de resistividade
O ambiente de perfilagem
Perfis de induo
Princpio Emisso de campo magntico sobre a formao
Tipos: ISF (induction spherical focused): curvas Rild (funda) e Sflu (rasa) DIL (dual induction log): curvas Ild (profunda), Ilm (mdia) e Sflu (rasa) AIT (array induction image tool): curvas AHT 10, 20, 30, 60 e 90 polegadas
Perfis focalizados
Princpio: mede a resistividade atravs da emisso de corrente eltrica.
Tipos: DLL (dual laterolog): curvas LLD (profunda) e LLS (rasa) ARI (azimutal resistivity imager) HALS (high resolution azimutal Llog): curvas HLLD (profunda) e HLLS (rasa)
Importante
No possvel usar perfis de induo em lamas com salinidade acima de 70.000 mg NaCl/l. Resoluo vertical: ~80 cm Profundidade de investigao: at ~2,5 m
Microperfis
Microlog (ML) Microlaterolog (MLL) Microesfrico focalizado (MSFL) *Maior resoluo vertical (2-5 cm) e menor profundidade de investigao (zona invadida, <20 cm)
Soeiro (2005)
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