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S.R. Galleti
onda da radiao. Para isso, se fez necessrio desenvolver equipamentos que empreguem outra forma de radiao, e aqui que o desenvolvimento do microscpio eletrnico comea. Componentes do microscpio eletrnico Propriedades ondulatrias dos eltrons Em condies apropriadas, os eltrons apresentam propriedades ondulatrias, que, assim como a luz visvel, encontram-se associados a um comprimento de onda, cujo valor de, aproximadamente, 0,005 nm. Desta forma tem-se uma melhoria correspondente no poder resolvente. A comparao deste valor com o comprimento de onda da luz visvel (0,5 m ou 500 nm) mostra que um feixe eletrnico cerca de 100.000 vezes menor. Considerando apenas este fator, teramos um aumento correspondente no poder resolvente. Porm, o poder resolvente efetivamente conseguido ser discutido aps considerarmos os outros componentes do microscpio eletrnico. Canho eletrnico Canho eletrnico a fonte de iluminao do microscpio eletrnico e consiste de um pequeno fragmento de fio em forma de V. Uma alta voltagem aplicada nesse filamento, fazendo com que uma corrente flua atravs dele e o incandesa, emitindo eltrons. A propriedade de emitir eltrons por aquecimento comum a todos os metais e chama-se emisso termoinica. O comprimento de onda dos eltrons est diretamente relacionado a voltagem aplicada sobre o filamento. Quanto maior for a voltagem menor ser o comprimento de onda dos eltrons, favorecendo o poder resolvente. Lentes eletrnicas Um campo magntico radialmente simtrico como aquele formado por um enrolamento de fio eltrico atravs do qual passa uma corrente atuar como uma lente que pode ser usada para focalizar um feixe eletrnico. Na prtica, a lente eletrnica consiste basicamente de uma bobina, formada por milhares de voltas de fio, atravs da qual passa uma corrente. Microscpio eletrnico de transmisso Esse tipo de microscpio comumente chamado de microscpio eletrnico direto ou de transmisso (MET) pelo fato da imagem do espcimen ser formada simultaneamente passagem do feixe de luz atravs dele. O emprego do MET bastante difundido no estudo de materiais biolgicos, pois ele permite definio de imagens intracelulares, permitindo estudos de morfologia celular, aspectos gerais das organelas e
tambm da interao de parasitas com as clulas, fornecendo informaes sobre alteraes e efeitos citopatticos ocasionados por vrus, fitoplasmas, micoplasmas, bactrias e outros organismos diminutos, de impossvel visualizao na microscopia de luz. Composio A construo do MET robusta, a fim de garantir estabilidade mecnica e evitar perturbaes por vibraes do edifcio. As bobinas das lentes, atravs das quais passam correntes, tenderiam a aquecer-se e, portanto so usualmente resfriadas por gua que circula a sua volta. Isso conseguido com uma unidade de refrigerao de gua interligada ao MET. Nossos olhos no so sensveis a eltrons, por isso a imagem final projetada sobre um anteparo de observao, que recoberto com um material que fluoresce quando irradiado com eltrons, ou sobre uma placa fotogrfica, se pretendemos registrar a imagem de forma permanente. Na prtica, o intervalo de aumentos do MET varia de 1.000 a cerca de 200.000X. As lentes eletrnicas, assim como as lentes de vidro, apresentam defeitos. Esses defeitos interferem no poder resolvente do microscpio eletrnico. A soluo adotada para minimizar esse problema reside em se trabalhar apenas com a poro central da lente, e isso se consegue construindo nela uma abertura de pequeno dimetro. Outro fator que impede que se atinja o poder resolvente terico a estabilidade mecnica do MET. Devido ao fato de se atingir um poder resolvente na ordem de nanmetros, qualquer oscilao em escala semelhante ir interferir no resultado final. Portanto, o poder resolvente obtido na prtica depende essencialmente da qualidade do projeto e construo do ME, da natureza do espcimen, e ainda do cuidado e experincia do operador. Os melhores resultados obtidos para amostras biolgicas situa-se na faixa de 1 nm. Comparando-se com o poder resolvente do microscpio de luz, temos uma melhoria de cerca de 200 vezes. Microscpio eletrnico de varredura No microscpio eletrnico de varredura (MEV) um feixe de eltrons extremamente estreito usado para varrer o espcimen isto , ele movido para diante e para trs enquanto passa atravs do espcimen. O feixe tem vrios efeitos sobre o espcimen, dos quais o principal para nossa finalidade que ele faz com que o prprio espcimen emita eltrons. A imagem construda em sequncia, no tempo, medida que o espcimen varrido. Os MEV apareceram no mercado, pela primeira vez, em 1965, e desde ento se tm revelado indispensveis em muitos tipos de pesquisa biolgica, contribuindo para a classificao e taxonomia de insetos e fungos, estudo da morfologia
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de plens e em pesquisas de superfcies de diversas estruturas de plantas e animais. Composio Os principais componentes do MEV assemelham-se queles do MET. A coluna, com o canho eletrnico e a srie de lentes eletrnicas, e o sistema de alto vcuo, so similares nos dois tipos de equipamentos. Um conjunto de bobinas defletoras faz com que o feixe varra o espcimen. Assim, a imagem montada ponto a ponto, linha por linha, do mesmo modo que a imagem no visor de televiso. A imagem pode ser observada diretamente, ou fotografada. O MEV tem uma srie de aspectos extremamente valiosos. Ele pode ser operado em uma escala ampla de aumentos, desde 10X at 100.000X. Seu alcance assim se estende desde aquele da lupa manual at o de um MET. O MEV tem grande profundidade de foco. Como consequncia, a topografia superficial de objetos slidos pode ser examinada com grande facilidade, e as micrografias tm aspecto tridimensional. A resoluo obtida com o MEV depende de uma srie de fatores. O dimetro da sonda do feixe eletrnico varrendo o espcimen o mais importante de todos, mas a natureza do espcimen e a interao deste com o feixe tambm so influentes, bem como a velocidade de varredura e o nmero de linhas na imagem. Na prtica, uma resoluo de cerca de 10 nm pode ser conseguida sob condies favorveis.
MEV x MET O MET um instrumento admirvel para estudar os detalhes mais finos de uma estrutura celular, ou a organizao molecular de vrus ou constituintes subcelulares. O preo de conseguir alta resoluo, entretanto, que o instrumento complexo, os espcimens devem ser extremamente finos e difcil obter informao sobre estruturas em trs dimenses. O MEV, por outro lado, ideal para estudar a topografia de superfcie de objetos slidos, mas fornece pouca, ou nenhuma informao sobre a estrutura interna. Seu poder separador no se iguala ao do microscpio de transmisso, embora seja adequado para muitos propsitos. Deve-se sempre ter em mente o objetivo da pesquisa que est desenvolvendo, pois, ele que indicar qual equipamento dever ser empregado para se atingir os resultados desejados.
BIBLIOGRAFIA CONSULTADA BOZZOLA , J.J. & RU S S E L L , L.D. Electron microscopy. Boston: Jones and Bartlett Publishers, 1999. 670p. GRIMSTONE , A.V. O microscpio eletrnico em biologia . So Paulo: E.P.U./EDUSP, 1980. 70p. ME E K , G.A. Practical electron microscopy for biologists. New York: John Wiley and Sons, 1976. 528p.