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Gerao de Alta Tenso Alternada a partir de um Circuito Ressonante Srie

Mosqueira, Ricardo A. de 50 e 60 Hz. Dessa forma, muito importante Resumo - Este trabalho apresenta um testar os equipamentos com altas tenses em estudo acerca da gerao de alta tenso alternada frequncias prximas a elas. Uma das grandes atravs de um circuito ressonante, que uma vantagens deste tipo de circuito o fato de a prtica muito empregada nos dias de hoje. ressonncia estar controlada na frequncia Dividido em quatro etapas, consiste na modelagem fundamental e, portanto, no ocorre ressonncia em do circuito, uma vez que importante gerar frequncias indesejadas. tenso com frequncia semelhante a qual os Os testes em campo para se saber a exata equipamentos em estaro submetidos. A segunda condio de equipamentos de potncia com sistemas etapa se refere simulao computacional, nos de teste ressonantes tm se tornado cada vez mais ambientes Spice e Matlab, onde sero analisados aceitos devido razes que sero abordadas neste os efeitos dos parmetros do circuito na tenso trabalho. gerada. Em um terceiro momento faz-se a montagem do circuito com componentes reais em pequena escala que traz boas indicaes do 2. OBJETIVOS comportamento em larga escala e das aplicaes deste tipo de metodologia. Por ltimo mostra-se as O objetivo desse trabalho estudar a vantagens e desvantagens deste tipo de aplicao. gerao de alta tenso alternada atravs de um circuito ressonante srie. 1. INTRODUO feita uma anlise das principais caractersticas e de seu princpio de funcionamento. A indstria moderna possui grande O estudo divido em quatro diferentes etapas: (I) necessidade de energia eltrica. Dessa forma, a modelagem do circuito de forma a se obter um gerao, transmisso e distribuio de energia devem circuito capaz de gerar alta tenso em 60 Hz. (II) suprir a demanda e uma das formas de se fazer isso simulao computacional, onde se identifica a com o aumento da capacidade de transmisso, que influncia dos principais parmetros do circuito: pode ser feita atravs do aumento da tenso das resistncia srie, indutncia, intervalo de capacitncia linhas. Uma vez sujeitos a tenses elevadas, (equipamento) a ser testada e fator de qualidade. (III) equipamentos como transformadores, cabos, testes em laboratrio com um circuito em escala capacitores, buchas, entre outros, devem ser reduzida visando obter as indicaes do eficientes e confiveis. Para isso so feitos testes em comportamento real de um gerador de alta tenso que laboratrio com geradores de alta tenso capazes de utiliza esta metodologia e (IV) vantagens e simular todas as condies que estes equipamentos desvantagens deste tipo de gerao quando podero enfrentar. Assim, possvel estudar o comparadas a outros tipos de gerao de alta tenso comportamento do isolamento de diversos para testes e suas principais aplicaes. dispositivos. Os circuitos ressonantes surgiram como um 3. Gerao de Alta Tenso Alternada meio de superar a ressonncia acidental e indesejada aos quais os testes convencionais esto sujeitos. Mais A gerao de alta tenso alternada tarde, esses circuitos passaram a ser usados na realizada de duas maneiras principais. O mtodo mais gerao de alta tenso alternada, por apresentar comum de atravs da utilizao de um vantagens em alguns aspectos em relao aos outros transformador monofsico. Outro mtodo utilizado tipos de gerao. o alvo deste trabalho, o uso de um circuito Os isolamentos dos equipamentos de ressonante, mtodo mais comum para testes de potncia so influenciados basicamente pelas tenses equipamentos em campo.

3.1 Transformador Monofsico O transformador monofsico o mtodo mais comumente usado na gerao de alta tenso para testes em laboratrios. Este transformador muito similar um transformador de potncia e feito para operar na frequncia de operao do equipamento a ser testado. Em alguns casos pode-se fazer com que o transformador funcione em frequncias diferentes, mas deve-se evitar a saturao do ncleo. Isto se deve ao fato de que preciso se evitar harmnicos na fonte geradora. sabido que transformadores funcionando na regio de saturao podem possuir altas correntes de magnetizao, o que gera a presena de harmnicos. A figura 1 apresenta o esquema de um transformador monofsico. Pode-se ver o ncleo aterrado (1), o primrio (2) e o tercirio (3). No primrio do transformador da figura 1 no comum utilizar tenses maiores do que 1 kV, assim as tenses geradas no secundrio do transformador no so muito maiores do que 100kV quando se utiliza apenas um transformador.

de sada V e conectado em srie ao secundrio do segundo estgio. O enrolamento tercirio funciona como fonte para o primrio do segundo estgio. No segundo estgio o processo o mesmo. O enrolamento secundrio projetado novamente para uma sada V e est conectado ao secundrio do terceiro estgio. O tercirio funciona como fonte do primrio do prximo estgio da mesma forma. A ligao em srie dos secundrios faz com que os nveis de tenso em relao terra sejam maiores medida que se aumentam o nmero de estgios e permite que se faa uso da tenso desejada de acordo com o equipamento testado.

Figura 2 - Esquema de um gerador de alta tenso formado por transformadores monofsicos em cascata. (1) Primrio, (2) Secundrio, (3) Tercirio.

Figura 1 - Esquema de um transformador monofsico capaz de gerar alta tenso. (1) Ncleo Aterrado, (2) Primrio, (3) Secundrio.

Para que se possam obter tenses muito maiores do que 100 kV, se faz o uso de transformadores em cascatas. A figura 2 apresenta um esquema de ligao entre os transformadores. O que se faz de fato o aumento de tenso por estgios. Em um primeiro estgio, existem os enrolamentos do primrio, do secundrio e do tercirio. O secundrio projetado para uma tenso

A vantagem deste tipo de gerao est na sua simplicidade, na obteno de vrios nveis de tenso, mas os transformadores utilizados so muito grandes, o que dificulta a realizao de testes em campos. O uso de transformadores em cascata faz com o que o peso das unidades seja menor, embora ainda sejam elevados. Outra desvantagem deste tipo de gerao que os primrios dos primeiros estgios possuem corrente muito elevada. As figuras 3 e 4 mostram transformadores monofsicos utilizados em testes de laboratrios e seu tamanho elevado.

Figura 3 - Sistema de testes na Alemanha da High Volt Dresden.

O circuito utilizado na gerao um RLC srie e o seu esquema pode ser visualizado na figura 6. Os principais parmetros do circuito so a resistncia r, que normalmente a resistncia srie da bobina utilizada, a indutncia L das bobinas, (podem ser utilizadas bobinas em srie ou paralelo) e a capacitncia C, que o objeto a ser testado ou ainda, para que haja uma maior variao de equipamentos possveis de serem testados pode-se utilizar uma capacitncia predominante e o equipamento testado soma-se a essa capacitncia alterando muito pouco o seu valor.

Figura 4 - Sistema de teste do laboratrio de alta tenso da Technical University of Munich.

Figura 5 - Sistema de teste da Toshiba.

3.2 Circuito Ressonante Srie. Os circuitos ressonantes srie so os alvos de estudo deste trabalho. Eles surgiram para que a ressonncia indesejada que ocorria em alguns testes fosse contornada. Uma vez que a ressonncia imposta pelo projeto do circuito do gerador, ela ocorre apenas nas frequncias desejadas e nenhuma outra ressonncia ocorre. Nos testes com transformadores monofsicos, quando a reatncia capacitiva (equipamento testado) igual reatncia indutiva e isso ocorre de maneira acidental, acontece a ressonncia acidental e a tenso no equipamento testado torna-se muito elevada podendo danific-lo. A gerao de alta tenso partir de ressonncia um mtodo muito utilizado para testes de equipamentos em campo, porque o peso e o tamanho dos equipamentos so pequenos, como mostrado no equipamento da figura 5.

Figura 6 - Circuito RLC utilizado em geradores ressonantes.

A ressonncia ocorre quando a frequncia f da fonte igual frequncia de ressonncia dada pela expresso:

Neste caso, a impedncia do circuito a menor possvel e igual resistncia srie. A

corrente no circuito a maior possvel e valores de tenso muito elevados aparecem no capacitor. A equao do circuito RLC srie uma equao de segunda ordem e a tenso V C do capacitor pode ser calculada ao resolv-la.

resistncia. Quanto maior a resistncia, menor o pico de ressonncia e maior a banda de ressonncia.
Efeitos da Variao da Resistncia 40 30

20 10

Magnitude (dB)

Considera-se uma tenso de entrada de amplitude V e frequncia f. Ao resolver a equao anterior possvel estudar o comportamento da variao dos parmetros. A anlise da dos efeitos da variao dos parmetros na tenso de sada muito importante neste tipo de gerao, pois atravs dela possvel ajustar a tenso de sada para a frequncia e amplitudes desejadas. Alm disso, a ressonncia ocorre apenas para uma faixa de frequncias bem definida denominada faixa de ressonncia. Para determinados valores dos parmetros R, L e C do circuito pode haver atenuao do sinal de entrada e a tenso de sada pode estar fora da banda de ressonncia. Nestes casos a tenso de sada baixa e o uso deste tipo de circuito torna-se invivel.

Tenso (V)

-10 -20 R=1 Entrada R=5 R=50

-30

-40 0.5

0.51

0.52

0.53

0.54

0.55 0.56 Tempo (s)

0.57

0.58

0.59

0.6

Figura 7 - Efeitos da variao da resistncia na tenso gerada no tempo.

Bode Diagram 30 25 20 15 10 5 0

4. Avaliao dos Efeitos da Variao dos Parmetros do Circuito.


As simulaes realizadas so capazes de demonstrar o que ocorre com a tenso de sada ao variar os parmetros do circuito. Os principais parmetros a serem analisados so a resistncia srie, a indutncia, a capacitncia e ainda o fator de qualidade que uma funo direta dos parmetros resistncia e indutncia. 4.1 Resistncia srie A resistncia srie o primeiro parmetro avaliado. Normalmente se considera um parmetro fixo e a resistncia srie da bobina. As simulaes demonstram que quanto menor o seu valor, maior a tenso gerada no capacitor. Isto pode ser percebido na figura 7 que mostra a tenso gerada no tempo para diferentes valores de resistncia. A figura 8 apresenta a resposta em frequncia do circuito medida que se varia a
Phase (deg)

-5 0

-45

-90

-135

-180 250 300 350 Frequency (rad/sec) 400 450 500

Figura 8 - Efeitos da variao da resistncia na tenso gerada avaliada na frequncia.

4.2 Indutncia A indutncia apresenta comportamento inverso da resistncia. tambm um parmetro fixo do circuito, embora em alguns casos possa ser variada atravs da adio de bobinas em srie ou paralelo. Quanto maior o valor de indutncia, maior a tenso gerada na sada e assim a banda de ressonncia torna-se menor. A figura 9 mostra que para diferentes valores de indutncia, a tenso de sada diferente. importante notar que ao variar a

indutncia, o valor de capacitncia foi alterado para que a resposta do circuito estivesse dentro da banda de ressonncia. A figura 10 apresenta o comportamento na frequncia e pode-se ver que quanto maior a indutncia, maior o pico de ressonncia.
Efeitos da Variao da Indutncia 30

20

10

Tenso (V)

Em funo desta variao normalmente se adota o uso de uma capacitncia predominante e o equipamento em teste colocado em paralelo com esta capacitncia. As figuras 11 e 12 apresentam a resposta da tenso de sada no tempo e na frequncia, respectivamente, quando h a variao da capacitncia. Desta vez, a indutncia no alterada de forma que o pico da ressonncia ocorre em frequncias diferentes. Como a tenso operada na frequncia de 60 Hz, o ponto de operao no est mais no pico de ressonncia, mas estando ainda dentro da faixa de ressonncia, a tenso gerada elevada.
Tabela 1 - Equipamentos e suas respectivas capacitncias.

-10 L=100mH Entrada L=200mH L = 400mH

-20

Equipamento
0.6

Capacitncia (pF) 10 100 1000 200 500 1000 10000 60 300 1000 10000

-30 0.5

0.51

0.52

0.53

0.54

0.55 0.56 Tempo (s)

0.57

0.58

0.59

Isoladores de suspenso Buchas Transformadores

Figura 9 - Avaliao dos efeitos da variao de indutncia na tenso de sada no tempo.

Bode Diagram L = 400mH L = 200mH L = 100mH

Magnitude (dB)

30

Transformadores de Potncia Cabos de Alta Tenso Subestaes isoladas a SF6.

20

10

0
Phase (deg)

-45 -90 -135 -180 320 340 360 380 400 420 440 Frequency (rad/sec)

Efeitos da Variao do Equipamento Testado 8 6 4 2

Tenso (V)

Figura 10 - Avaliao dos efeitos da variao da indutncia na tenso de sada na frequncia.

0 -2 -4 -6 -8 0.5 C = 70 uF Entrada C = 35 uF C = 17.5 uF

4.3 Capacitncia
A capacitncia o parmetro a ser variado no circuito, pois ela representa o equipamento em teste, sejam buchas, cabos, transformadores, subestaes isoladas a SF6. No projeto do circuito deve ser permitida uma boa variao deste parmetro, pois como mostra a tabela 1, possvel que haja uma variao de at 10000 vezes no valor deste parmetro.

0.51

0.52

0.53

0.54 0.55 0.56 Tempo (s)

0.57

0.58

0.59

0.6

Figura 11 - Avaliao dos efeitos da variao de capacitncia na tenso de sada no tempo.

Bode Diagram 20

10 0 -10 -20 0 C = 17,5uF -45 -90 -135 -180 200 400 600 800 1000 1200 Frequency (rad/sec) C = 35uF C = 70uF

classe AB sem ganho. Este circuito funciona com um buffer e sua nica funo reduzir a resistncia de sada da fonte. No circuito mostrado na figura 13 a impedncia de sada reduziu de 50 para 2 e desta forma a atenuao da onda antes verificada no existia mais. possvel observar ainda que dois indutores com resistncia srie de 11,5 e 200mH foram associados em paralelo para que ambos os parmetros fossem reduzidos metade. Por fim, a carga considerada foi um capacitor de 70F, representado por dois capacitores de 35F.

Phase (deg)

Magnitude (dB)

Figura 12 - Efeitos da variao da capacitncia na frequncia.

4.4 Fator de Qualidade


O fator de qualidade funo parmetros R e L. definido pela expresso: dos

Figura 13 - Circuito utilizado para se verificar a gerao de tenso partir de ressonncia.

Desta forma, para um aumento da resistncia ocorre a diminuio do fator de qualidade e para a o aumento da indutncia h aumento do fator de qualidade. Considerando este tipo de circuito como um filtro, pode-se dizer que o fator de qualidade est diretamente ligado seletividade do filtro, de maneira que aument-lo significa diminuir a banda de passagem ou banda de ressonncia do circuito e aumentar o pico de ressonncia. Esta situao pode ser verificada pelas anlises anteriores para indutncia e resistncia, onde se verificou alteraes no fator de qualidade.

5. Circuito RLC srie real utilizando o princpio da ressonncia.


O circuito mostrado a seguir capaz de ampliar a tenso de entrada baseada no princpio de ressonncia. Em sua montagem o grande obstculo encontrado foi a impedncia de sada da fonte geradora de sinal de 50 , pois como verificado nas simulaes para resistncia srie acima de 50 a tenso de sada j se mostra atenuada. Para contornar o problema a sada do gerador de sinais foi conectado um estgio de sada

A variao de componentes era muito limitada, ento para que a curva de resposta em frequncia fosse feita, foi preciso variar a frequncia do sinal, com a amplitude de entrada sendo mantida constante. A tenso de pico da sada foi medida e mostrada na tabela 2 para diferentes frequncias. Com estes valores foi possvel levantar a curva de resposta em frequncia indicada na figura 14. O pico de ressonncia ocorreu em aproximadamente 50 Hz. Isto se deve ao fato de que os valores de componentes adquiridos s possibilitaram que houvesse ressonncia para esta frequncia, embora a frequncia de 60Hz ainda esteja dentro da banda de ressonncia.
Tabela 2 - Tenses de pico para diferentes frequncias.

Frequncia (Hz) 10 20 30 40 50 60 70 80

Tenso de Pico (V) 1,48 1,60 2,08 3,19 6,00 3,64 1,60 1,20

Na figura 15 mostra-se um exemplo da visualizao do osciloscpio para a frequncia de 50Hz. Pode-se observar a tenso de entrada em amarelo e a tenso de sada em azul. A onda de entrada apresenta-se distorcida pela presena de um rudo, mas na sada a presena do rudo eliminada. Esta uma das grandes vantagens deste tipo de gerao, apenas a frequncia fundamental ampliada e ocorre atenuao das demais frequncias, o que faz com que a onda na sada seja uma senide pura. Na figura 15, ainda pode-se ver que a entrada de 1,32V foi ampliada para 6,00V na sada, um aumento de seis vezes.

6. Concluses
O circuito ressonante srie apresenta peso reduzido e maior facilidade de transporte, o que possibilita a realizao de testes em campo. Tudo isto em funo do tamanho reduzido das bobinas. Dessa forma, este tipo de gerao cada vez mais utilizado. Outra vantagem j citada deste tipo de filtro a eliminao da presena de harmnicos. Como a ressonncia desejada, ocorre apenas ampliao da fundamental da onda e as componentes harmnicas so atenuadas. O circuito ressonante srie de fcil construo, pois h a possibilidade de se associar bobinas em srie e paralelo visando a operao em um melhor ponto da curva de ressonncia. Deve-se atentar apenas para o valor da resistncia srie do circuito, pois para valores acima de determinado patamar a onda de entrada passa a ser atenuada e o uso deste tipo de metodologia j no se torna interessante. O uso desta metodologia permite, portanto, que se faam testes em diferentes frequncias com diferentes equipamentos, desde que no se extrapole a banda de ressonncia do circuito. Atravs do ajuste dos diferentes parmetros do circuito possvel obter diversos nveis de tenso de acordo com a necessidade de cada teste, o que torna grande a aplicao deste tipo de gerao. Por outro lado, em alguns casos pode ser difcil encontrar valores de componentes para a montagem do circuito e as frequncias, bem como equipamentos a serem testados tornam-se bastante limitados, sendo essa uma das desvantagens desta gerao. No caso da utilizao de um transformador menor anterior ao circuito ressonante, a fonte de alimentao deste transformador deve prover uma corrente muito alta e essa talvez a principal desvantagem deste tipo de aplicao.

Figura 14 - Curva de resposta em frequncia do circuito da figura 13.

7. Referncias Bibliogrficas
1.
Figura 15 - Visualizao do osciloscpio para a frequncia de 50Hz.

Schufft, W. et. al. Powerful frequency tuned resonant test systems for after laying tests of cables; 9th ISH, Graz (1995), Paper 4486.

2.

3.

4.

5.

Hauschild W. Frequency-Tuned Resonant Test Systems for HV on-site testing of XLPE cables and SF6 insulated apparatues; 1997; Dresden, Germany. S. Schierig; T. Steiner et. al. HV AC Generation Based on Resonant Circuits with Variable Frequency for testing of Electrical Power Equipment on Site; International Conference on Condition Monitoring and Diagnosis, 2008; Beijing, China. Fragnito, Hugo L. Circuitos de Corrente Alternada; Unicamp; Campinas/SP; Set. 2000. Kuffel, E.; Zaengl, W.S.; Kuffel, J. High Voltage Engineering Fundamentals. 2. ed. Woburn, MA. Butterworth-Heinemann. 2000.

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