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Curso:
UNIDAD 2:
CONTROL ESTADSTICO DE PROCESOS Y ANLISIS DE CAPACIDAD DE PROCESO
LOGRO DE LA UNIDAD: Los alumnos al finalizar la unidad tendrn las competencias para utilizar las herramientas bsicas de calidad, seleccionando las apropiadas para cada problema presentado en un determinado proceso. Elabora grficos de control y los utiliza apropiadamente para determinar si un proceso se encuentra o no bajo control estadstico, identificando causas comunes y especiales de variacin Evalua si un proceso es capaz de elaborar un producto o servicio de acuerdo con las especificaciones. TEMAS A DESARROLLAR: Herramientas bsicas para el CEC: Hoja de recogida de datos, Histograma, diagrama de Pareto, diagrama de Ishikawa, lluvia de ideas, diagrama de dispersin. Grficos de control. Anlisis de capacidad de proceso:
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Campos de accin
Control estadstico de la calidad
Muestreo de aceptacin
GC X -R
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GC X -S
GC P , NP
GC
C, U
Grfico de control c y u
Basados en la distribucin de Poisson c = conteo de atributos n = tamao de la muestra
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Grfica p
Artculo defectuosos: Es un producto que no rene ciertos atributos, por lo que no se le deja pasar a la siguiente etapa del proceso, pudiendo ser reprocesado o rechazado. La carta p muestra las variaciones en la fraccin o proporcin de artculos defectuosos por muestra, es ampliamente utilizada para evaluar el desempeo de una parte o todo un proceso o subgrupo. De cada lote, embarque, pedido o cada cierta parte de la produccin, se toma una muestra o subgrupo de n artculos, que puede ser la totalidad o una parte de las piezas bajo anlisis. Las n piezas de cada subgrupo son inspeccionadas y cada una es catalogada como defectuosa o no. Luego graficar.
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Grfica np
Si el tamao de subgrupo es variable, se opta por la carta p, pero si el tamao de subgrupos es constante puede optarse por la carta np. Para convertir una carta np en una carta p, basta dividir la escala entre el tamao de muestra (ejm.120). Cuando se quieren analizar las variables del tipo pasa-no pasa en un proceso y se toman muestras de tamao constante, el criterio para elegir entre una carta p o np es segn se prefiera entre proporcin de defectuosos o nmero de defectuosos. En la carta np se tiene la ventaja de que se grafica directamente el nmero de defectuosos y no es necesario calcular la proporcin; mientras que en la carta p es ms fcil evaluar la magnitud de las fallas en el proceso en trminos porcentuales.
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p 1 p n
n
i 1
# Subgrupos o muestras
i
x
i 1 k i 1
LCI c c 3 c
# Defectos en unidad i
i 1
ci
# Unidades muestreadas
LCI u u 3 u / n
# Defectos en unidad i
i 1
ui
# Unidades muestreadas
Constante
No constante
Ejemplo En una empresa de embutidos, se evala el proceso de empaquetado para asegurar un adecuado sellado de los envases. Cada hora se registra el nmero de paquetes con sellado defectuoso, y el nmero de paquetes producidos en dicha hora. Analizar los datos y establecer los lmites de control
Ejemplo
En una fbrica de muebles se inspecciona el acabado de las mesas cuando salen de la seccin de laqueado y se registra los defectos encontrados. Analizar los datos y determinar los lmites de control
Ejemplo
En una fbrica se ensamblan artculos electrnicos y al final del proceso se hace una inspeccin por muestreo para detectar defectos relativamente menores, y as retroalimentar el proceso para enfocar bien las acciones de mejora. En la tabla se presenta el nmero de defectos observados en muestreos realizados sobre 10 lotes consecutivos de piezas electrnicas. El nmero de piezas inspeccionadas en cada lote es variable, por lo que no es apropiado analizar el nmero de defectos por muestra, mediante una carta c. Es mejor analizar el nmero promedio de defecto por pieza, mediante la carta u.
Ejemplo
Lote Tamao de muestra, ni 20 20 20 20 15 15 15 25 25 25 Defectos encontrados, ci 17 24 16 26 15 15 20 18 26 10 ui= ci/ni
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
0.85 1.20 0.80 1.30 1.00 1.00 1.33 0.72 1.04 0.40
Desarrollo de ejercicios