MDULO 3 POLARIMETRIA, REFRATOMETRIA, ANLISE TRMICA E DIFRAO DE RAIOS -X

8. POLARIMETRIA

8.1. Teoria: A luz polarizada circularmente representa uma onda no qual a componente eltrica (e magntica) segue uma trajetria em espiral, em torno da direo de propagao do raio, quer no sentido dos ponteiros do relgio (d), quer no sentido inverso (l). Combina-se o polarmetro para poder determinar a rotao ptica, a diferentes comprimentos de onda conhecidos. Se um determinado corpo tem ndices de refrao diferentes para componentes direita e esquerda no plano, ao atravessar este corpo, um dos feixes ir se atrasar em relao ao outro e o plano de polarizao girar em um certo ngulo.

l =

C l

d =

C d

l d = d l
onde, = ndice de refrao C = Velocidade de propagao no vcuo = Velocidade mdia A diferena em graus entre os dois raios ser:

2b 2b d l

2bnd 2bnl 0 0
=

2b

( n d nl )

ou

b ( n d nl ) 0

onde, b = espessura do corpo 0 = comprimento de onda = freqncia de rotao

8.2. Substncias que desviam a luz polarizada

2

As molculas que apresentam atividade ptica apresenta carbono assimtrico, como exemplo o composto a seguir:

O O H
Os ismeros pticos so substncias apresentam propriedades fsicas idnticas, excetuando o sentido de rotao do plano de polarizao da luz. Podem ser classificados com enantimeros, molculas que so a imagem especular da outras, diasteroismeros que no a imagem especular. Ex.

C H 3 C H O H
ESPELHO Diateroismeros Enntimeros

H 3C C H O H

C H 3 H H O

C l H C H 3
ESPELHO Diasteroismeros

C l H C H 3

C H 3 H O H

O H C H 3 C H 3 H C l
ESPELHO

O H C H 3 C H 3 C l H

A caracterstica do ismero ptico pode ser exemplificada pela Tabela 8. Tabela 8: Propriedades do metilbutanol. Propriedade d-metilbutanol-1 Rotao especfica +5.90o Ponto de Ebulio 128,9 o Densidade 0,8193 ndice de Refrao 1,4107 l-metilbutanol -5.90o 128,9 o 0,8193 1,4107

8.3. Mistura Racmica A mistura de duas partes iguais dos 2 enantimeros. Uma mistura racmica opticamente inativa.

8.4. Medida de Rotao ptica

(b, , T )
0

Para certas substncias:

(b, , T , t , pH )
0

devido a variao de estrutura. Este fenmeno chamado de mutarrotao.

8.5 - Poder Rotatrio Especfico Lei de Biot

[ ] = 1000.
b.C = ngulo de rotao 0 = espessura em dm C = Concentrao em g/L

[] =

b.

- densidade

8.6 - Clculos Polarimtricos

[ ] = [] xM .M .
100

8.7 - Instrumental - Polarmetro O polarmetro pode ser dividido em 5 partes bsicas representadas pelo esquema da Figura 27.

1 Campo de observao 2 e 4 Prisma de Nicol 3 Tubo de amostra 5 Fonte luminosa Figura 27: Esquema de polarmetro.

9. REFRATOMETRIA 9.1 ndice de Refrao Quando a radiao passa a um ngulo atravs de uma interface, entre dois meios transparentes de diferentes densidade, ocorre uma mudana de direo da radiao refrao. A refrao de um feixe observada como conseqncia da diferena de velocidade da radiao nos dois meios de densidades diferentes (Figura 28).

M1

M2 2

nde: M1 Meio 1 M2 Meio 2 1 ngulo incidncia da radiao 2 ngulo de refrao da radiao Figura 28: Refrao da radiao em dois meios. O ndice de refrao () de uma substncia dado pela relao entre a velocidade mdia da radiao no vcuo e a velocidade mdia em um meio, ou ainda, entre o seno do ngulo da radiao incidente e da radiao refratada:
=
C

onde:

sen 1 sen 2

C velocidade da radiao no vcuo - velocidade da radiao em um meio A relao entre os ndices de refrao com as velocidade mdias dos meios chamada Lei de Snell.

 2 sen 1 1 = = 1 sen 2 2

O ndice de refrao, para um dado sistema de dois meios funo da temperatura e do comprimento de onda da radiao, no caso de gases, tambm funo da presso. Com estes fatores fixos, o ndice de refrao uma constante caracterstica do meio em estudo. Para um corpo transparente, o ndice de refrao decresce gradualmente medida que aumenta o comprimento de onda, salvo regies aonde ocorre o processo de absoro, onde o ndice de refrao sofre uma enorme variao. Desta forma, necessrio especificar o comprimento de onda, quando se indica o ndice de refrao de uma 20 substncia. O smbolo D significa que se trata do ndice referida s linhas do sdio a 20C. Quando um feixe luminoso passa de um meio mais denso para outro menos denso, o raio 2 ser maior que 1. A medida que 1 aumenta, o 2 aumenta. Quando 1 atinge um valor para 2 = 90, o raio luminoso no passar para o segundo meio formando com a normal a esta superfcie um ngulo de 90. Este chamado raio limite. Quando 1 inferior aquele valor particular, a luz passa para o 2 meio, se superior, toda a luz retroceder para o primeiro meio. este o fundamento da construo de refratmetros. A reflexo total s se verifica quando o primeiro meio mais denso do que o segundo. 9.2 Refraes Atmicas O ndice de refrao de um lquido varia com a temperatura e a presso, porm a refrao especfica rD dada pela equao de Lorentz-Lorenz:

rD
onde, ndice de refrao - densidade

( = (

2 D 2 D

1 1 . +2

) )

A refrao molar (MrD) dada pelo produto da refrao especfica pelo massa molar:
MrD = M .MxrD

Constitui-se em uma propriedade quase que aditiva dos grupos e elementos que constituem um dado composto. Na Tabela 9 so mostrados as contribuies de grupamentos orgnicos.

Os valores do ndice de refrao dos lquidos orgnicos variam de 1,2 a 1,8, enquanto de slidos orgnicos varia, de 1,3 a 2,5.

Tabela 10: Contribuies de grupamentos orgnicos. Grupo H C C=C (Dupla ligao) C=C (Tripla ligao) O (Carbonila) O (Hidroxila) O (ster, ter: C-O-C) S (Tiocarbonila: C=S) S (mercapta: S-H) F Cl Br I N (Amina aliftica primria) N (Amina aliftica secundria) N (Amina aliftica terciria) N (Amina aromtica primria) N (Amina aromtica secundria) N (Amina aromtica terciria) N (amida) -NO2 -C=N 9.3 Instrumental - REFRATMETRO DE ABBE 8.3.1 - Princpio de medio No refratmetro de Abbe se mede o ngulo limite da reflexo total, sendo que possvel se distinguir dois mtodos de medio: um por transmisso onde a luz incide rasante, e outro por reflexo atravs da reflexo total (Figura 29). MrD 1,100 2,418 1,733 2,398 2,211 1,525 1,643 7,97 7,69 1,0 5,967 8,865 13,900 2,322 2,499 2,840 3,21 3,59 4,36 2,65 7,30 5,459

a) Medida por transmisso com prisma de iluminao b) Medida por luz refletida com prisma de iluminao

c) Medida por transmisso d) Medida com luz refletida .Figura 29: Mtodos de medio. . Os principais componentes do refratmetro de Abbe so o prisma de medio, que trabalha em uma faixa de ndice (para o equipamento do laboratrio 1,300 < D < 1,700 ), a objetiva de focalizao, e o crculo graduado de cristal com microscpio de leitura. O prisma de medio esta montado em um sistema que pode girar em torno de um eixo horizontal, juntamente com o prisma de iluminao. As bases dos dois prismas (medida e iluminao) formam um espao pequeno para receber a amostra, e esto presos por uma dobradia que permite um movimento de abertura. O bloco de prismas possui terminais para conexo de gua termorregulada para garantia da estabilidade da temperatura do sistema, assim como um termmetro acoplado a esse corpo para acompanhamento da temperatura. Juntos a esse bloco esto tambm dois espelhos, um para iluminao da escala, que deve ser ajustado toda vez que o conjunto for deslocado, podendo ser substitudo por uma lmpada para iluminao do sistema, e o outro para refletir a luz do Na para o interior do prisma (Linha D do sdio com l = 589.29 nm - no centro das duas linhas). Na Figura 30 - Com a ocular de focalizao (1) se observa a linha limite entre uma parte clara e outra escura. O boto compensador (4) serve para eliminar a franja colorida da linha limite, e a escala (3) serve para a medida da disperso mdia F - D respectiva ao nmero de Abbe. O anel graduado possui 2 escalas com divises de 0 a 60. Para a medio do ndice de refrao, se gira o corpo de prismas com o boto de acionamento (10), at ter a linha limite exatamente no ponto de interseo do retculo na ocular (Figura 31).

Figura 30: Refratmetro de Abbe .

Figura 31: Campo visual da ocular . O microscpio de leitura (12) que esta ao lado da ocular de focalizao, indica diretamente o valor do ndice medido, sobre o crculo graduado de cristal que esta acoplado com o corpo dos prismas (Figura 32).

Figura 32: Campo visual do microscpio de leitura O refratmetro descansa sobre uma coluna e pode girar-se ao redor de um eixo horizontal para as distintas posies de uso. O circulo graduado possuem duas divises, uma para ndice de refrao e a outra para porcentagens de acar (substncia seca). 9.3.2 - Tipos de medidas
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a) Na medida por transmisso, a luz passa atravs da amostra sobre a face medidora do prisma de medio. Parte da luz que incide rasante chega a refletir-se abaixo do ngulo limite da reflexo total e se observa na ocular como uma linha limite entre o campo claro e escuro. A incidncia rasante no prisma de medio se consegue de duas maneiras diferentes, no primeiro se usa o prisma de iluminao (Figura 29a) cuja base inferior deixa incidir a luz em todas as direes, inclusive de forma rasante sobre a face medidora (til na medio de lquidos), e o segundo caso se deixa incidir luz sem o prisma de iluminao (Figura 29c) sobre a face medidora (til na medio de slidos). b) Na medida por reflexo, a luz entra diretamente sobre o prisma de medio (Figura 29b, e Figura 29d). Na superfcie de contato entre prisma de medio e amostra, h reflexo de luz e esta se mostra na ocular como um campo claro. O contraste entre campo claro e escuro no to grande como no caso da medida por transmisso, alm da inverso de posio entre claro e escuro. c) Se o ndice de refrao depende do comprimento de onda da luz com que se esta medindo, a linha limite possui em geral uma franja de cores. Esta se elimina com a ajuda de um prisma com a mxima disperso determinada, porm que de viso direta para a luz amarela do Sdio. Ambos os prismas podem girar simultaneamente porem em sentido inverso, ao redor do eixo ptico, possibilitando assim uma compensao da disperso gradual da amostra. A posio do compensador depois de ser lida, pode ser convertida em valores de disperso atravs de uma tabela. Para operao, o refratmetro deve estar bem apoiado e com um sistema de elevao para ajustar-se fonte de luz. Para garantia das medidas, introduzir o termmetro no bloco dos prismas para acompanhamento da temperatura e calibrao. Ajustar o espelho para iluminar uniformemente o disco graduado de cristal, para permitir uma boa observao da escala. 9.3.3 - Medida de lquidos Girar a trava do prisma (Figura 30) para a esquerda at que seja possvel abrir o conjunto do corpo dos prismas. Inclinar a parte superior do aparelho at que a superfcie do prisma de medio fique na posio horizontal (Figura 33). Limpar e secar esmeradamente as superfcies dos dois prismas e tambm das molduras metlicas usando um leno de papel com um pouco de gua destilada ou ter. Com um basto de vidro depositar 2 ou 3 gotas do liquido a ser medido na superfcie do prisma de medio. Com o mximo de cuidado fechar o bloco movendo para isso o prisma de iluminao at poder trava-lo novamente. Evite deixar bolhas no lquido uma vez que elas reduzem o contraste da linha limite.

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Figura 33: Posio de trabalho do refratmetro . Aguardar uns minutos at o liquido entrar em equilbrio trmico com o conjunto dos prismas. Colocar o aparelho na posio de uso (8 - Figura 30). Posicionar a fonte de luz (Na), para que atravs do espelho (9 - Figura 30) seja possvel iluminar a abertura inferior do prisma de iluminao. Procurar lentamente na ocular a linha de separao, variando o ngulo de incidncia atravs do boto de acionamento (10 - Figura 30), Se houver franjas coloridas faze-las desaparecer atravs do boto 4 da Figura 30. Com a linha de separao ntida, possvel posicionar-se a linha de separao exatamente no ponto de interseo do retculo. O procedimento para abertura inclinar novamente o equipamento a metade do curso, abrir o bloco de prismas atravs da trava, e efetuar a limpeza das superfcies dos prismas. O bloco dos prismas construdo de metal cromado, o que permite seu uso em materiais cidos desde que o tempo de contato da substncia com o equipamento seja o menor possvel. Para medida de lquidos coloridos se for usado o mesmo procedimento, seguramente o resultado ser incorreto, ento usa-se a luz refletida. Para tal retira-se a tampa redonda inferior no corpo do prisma de medio, para que a luz entre somente por ele, usar sempre o espelho (9 - Figura 30) para iluminar a amostra. . 9.3.4 - Medida de slidos Corpos slidos bem transparentes, podem ser medidos em muitos casos com luz incidente rasante. Para tal necessrio que o corpo a ser medido possua 02 faces polidas com ngulo entre elas 90o, com uma aresta viva. Uma das faces polidas fica apoiada no prisma de medio e a outra ser usada para a entrada de luz. A camada de ar entre a pea e o prisma de medio, deve ser eliminada empregando um liquido para contato com ndice de refrao superior ao da amostra (Na maioria dos casos usa-se o alfabromonaftalina com D = 1.65). importante observar que nos corpos slidos (exceo dos plsticos) o ndice de refrao no varia tanto como nos lquidos. Normalmente a medida de slidos se faz com luz rasante, porem se a amostra for pouco translcida, colorida ou ainda no for possvel deixar uma quina viva entre as duas superfcies, ento a nica possibilidade medir atravs da luz refletida (Figura 34).

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Neste mtodo s uma superfcie polida do tamanho do prisma de medio necessria, e a configurao do aparelho como na Figura 34 (Superfcie do prisma de medio na posio horizontal). .

Figura 34: Posio para medida de slidos e plsticos. 9.3.5 - Calibrao Normalmente antes de iniciar as medidas, preciso verificar se o ajuste do refratmetro esta correto, comprovao esta que pode ser feita usando-se gua destilada a temperatura conhecida, ou medindo-se a plaqueta padro fornecida com o equipamento, cujo ndice tambm conhecido. a) Ajuste com gua destilada - Depositar algumas gotas de gua sobre o prisma de medio, fechar o bloco e localizar na ocular a linha de separao - fazer a leitura no termmetro e na escala do refratmetro e comparar com a tabela anterior. No caso de diferena acentuada, ajustar a leitura do equipamento com a tabela e depois com o pino de correo ajustar a linha de separao na ocular. Ajuste com a placa de calibrao - Usando um pano bem limpo ou um leno de papel limpar esmeradamente a superfcie do prisma de medio e ambas as superfcies polidas da plaqueta. Colocar uma gota do liquido de acoplamento sobre o prisma de medio e comprimir a plaqueta para remover todas as bolhas de ar. Se a quantidade de alfabromonaftalina foi grande, deveremos retirar o excesso com um papel absorvente, para evitar que o liquido forme uma cunha entre os dois vidros, cujo efeito prismtico produz no campo visual uma posio incorreta da linha limite. A plaqueta quando colocada corrretamente, produz franjas de interferncia paralelas s laterais da plaqueta nos dando assim a certeza do perfeito assentamento. Novamente no caso da leitura no corresponder ao valor anotado na plaqueta, fazer a correo com o pino apropriado de acordo com a Tabela 10.

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Tabela 10: Valores de Correo. T.oC D 10 1.3337 11 1.3336 12 1.3336 13 1.3335 14 1.3335 15 1.3334 16 1.3333 17 1.3332 18 1.3332 19 1.3331 20 1.3330 9.4 - Aplicao

T.oC 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30

D 1.3330 1.3329 1.3328 1.3327 1.3326 1.3325 1.3324 1.3323 1.3322 1.3321 1.3320

O uso de refratmetros laboratoriais na indstria alimentcia tem vrias aplicaes. Estas anlises servem para inspecionar tanto a matria-prima quanto o produto final de produes de acar e lcool, sucos, derivados de tomate, leites condensados, cido ctrico, cido actico, aspartame e coadjuvantes alimentares. A aplicabilidade da refratometria, deve-se ao fato de que ao alterar a concentrao de um soluto, o ndice de refrao da soluo tambm alterado. Por tanto, pode-se correlacionar a concentrao de uma soluo com o ndice de refrao, sendo uma ferramenta confivel para determinar a concentrao de uma soluo desconhecida. Na indstria de alimentos muito comum o uso de operaes de modificao de concentrao conseguidas atravs de evaporadores e concentradores. Esses processos podem se beneficiados com o controle de concentrao em tempo real, obtido com o emprego de refratmetros instalados na linha. O princpio utilizado em um refratmetro em linha o mesmo que de um refratmetro laboratorial, o qual baseia-se no desvio ou reflexo da luz (decorrentes em funo do ndice de refrao) quando em contato com um lquido. Contudo, tem o adicional de sua leitura ser em tempo real, e graas s facilidades da eletrnica digital pode-se armazenar a correlao entre concentrao e o ndice de refrao de qualquer produto, e inform-la na unidade que o usurio desejar. Alm de assegurar e facilitar o servio dos operadores, permite a automao do controle, com ganhos de produtividade obtidos pelo condicionamento da uniformidade de processo e qualidade do produto. Em linhas gerais, um processo de concentrao pode ser controlado pelas concentraes e vazes iniciais e finais, as presses de vcuo e fluxo de vapor em cada estgio. Suponhamos que as presses e o fluxo de vapor sejam ideais, por tanto, sobrariam como variveis apenas as concentraes e vazes. Consideremos tambm, como hiptese, apenas um estgio de evaporao; atravs de um balano de massas aplicado ao produto obtm-se a seguinte equao:
Vf = SixVi Sf
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Onde V e S representam as vazes e concentraes de soluto, e os ndices f e i significam final e inicial respectivamente. Pode-se perceber, baseado nas consideraes feitas, que estes processos podem ser controlados ajudando-se a vazo final em funo da concentrao final, vazo e concentrao iniciais. Sendo a concentrao final constante e especificada pelo usurio, o controle ento passa a ser realizado pela modulao das vazes em funo da concentrao inicial, a fim de estabelecer a relao entre as concentraes iniciais e finais; assim, as leituras de vazes em geral no importam se so leituras de vazes volumtricas ou mssicas. Existem vrios meios de medir a concentrao de um fludo alimentcio, porm a refratometria o mtodo mais direto e com menor nmero de interferentes, sofrendo apenas influncia da temperatura. Slidos que estejam apenas suspensos, como polpas de frutas em sucos ou bagaos, no interferem na leitura por refratometria em linha como interferem em leituras baseadas em densidade ou diferena de presso na linha. Por tanto, a melhor maneira de se medir a concentrao em sistemas. Outro fator importante o cultural, muitos produtos tm sua concentrao estipulada em Brix, pois considerado que estes produtos complexos tenham como principal soluto o acar, e em razo desse conceito a unidade de controle para produtos como o leite condensado e o catchup. grande o benefcio que a refratometria em linha proporciona possibilitando a correo do processo, minimizando as perdas e rejeies. Conhecido os valores reais do produto na linha, podem-se estabelecer estratgias de controle que otimizem o processo, evitando desperdio de consumo de vapor e alteraes da qualidade do produto por modificaes das caractersticas organolpticas. As aplicaes de um refratmetro em linha no se restringem somente a produtos em base gua. Concentraes de gliceris tambm podem ser controladas com o emprego de um refratmetro em linha. Desde que o fludo possa ser considerado uma soluo binria, e que os valores de concentrao sejam na ordem de 0,001%, a refratometria em linha poder ser de grande valia no controle ou monitoramento de seu processo.

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10.

ANLISE TRMICA

O calor suscetvel de ser utilizado como um reagente. Com efeito, quando submetida a uma larga faixa de temperatura, dada substncia pode sofrer alteraes fsico-qumicas, reagir com os componentes do ambiente, perder gua de cristalizao, etc. Todas essas transformaes so acompanhadas pela perda ou absoro de energia, sob a forma de calor.
10.1. ATD Anlise Trmica Diferencial

Na ATD, medem-se as diferenas de temperatura da amostra e de uma material de referncia termicamente inerte, em funo da temperatura (geralmente da amostra). Qualquer alterao que a amostra sofra resultar na liberao ou absoro de energia, como o correspondncia desvio da sua temperatura, em relao temperatura do material de referncia. O grfico desta temperatura diferencial ( T) contra a temperatura programada (T) qual o sistema vai sendo submetido revela a temperatura a que ocorre a alterao da amostra, e se trata de um processo exotrmico ou endotrmico (Figura 34). A Figura 35 representa o equipamento tpico da a ATD.

Figura 34: ATD do CaC2O4.H2O.

10.2. ATG Anlise Termogravimtrica

A ATG fornece a medida quantitativa de qualquer variao de peso associada a uma alterao. Assim, por exemplo, a ATG permite registrar diretamente a perda de peso, em funo do tempo ou temperatura, devido desidratao decomposio. As curvas termogravimtricas so caractersticas de um dado composto ou sistema, devido ao carter especfico da seqncia das reaes fsico-qumicas que ocorrem ao longo de uma faixa de temperatura. Nesta anlise, a amostra continuamente pesada, a medida que se vai aquecendo at atingir uma temperatura elevada. Coloca-se a amostra num cadinho ou em um prato baixo, que se fixa a uma balana de registro automtico. A balana automtica
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de zero incorpora um elemento sensor, o qual detecta qualquer desvio do travesso, da sua posio de equilbrio (Figura 35).

Figura 35: Equipamento tpico da a ATD.

Figura 36: Aparelho de ATG.

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As Figuras de 37 a 43 so termogramas de vrias substncias.

Figura 41: Termogramas do CuSO4. 5H2O.

Figuras 37 e 39: Termogramas do CaC2O4.H2O.

Figura 42: Termograma do Cu(NH3)4SO4. H2O.

Figura 40: Termogramas do CuSO4. 5H2O.

Figura 43: Termograma do da anlise elementar do carvo

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10.3. DSC Differencial Scanning Calorimetry

A DSC uma tcnica trmica na qual diferenas em fluxo de calor nas substncias e a referncia so medidas em funo da temperatura da amostra, em temperatura programada. A diferena bsica entre a DSC e a ATD est no calormetro, onde a energia medida de forma diferente. A Figura 44 mostra um termograma da tcnica.

Figura 44: Termograma de DSC de terftalato de polietileno.

DIFRAO DE RAIOS-X

Histrico A descoberta dos Raios-X se deu a partir de experimentos com os tubos catdicos, equipamentos exaustivamente utilizados em experimentos no final do sculo XIX que consistiam em um tubo de vidro, ligado a uma bomba de vcuo, onde era aplicada uma diferena de potencial entre dois terminais opostos, gerando uma corrente eltrica dentro do tubo. No final do sculo XIX, foi estabelecido que os raios provenientes do ctodo eram absorvidos pela matria e que a sua absoro era inversamente relacionada com a voltagem de acelerao. E mais: incidindo essa radiao em alguns cristais, era provocada a emisso de luz visvel, chamada fluorescncia. Em 1896, Thomson demonstrou que os raios provindos do ctodo eram compostos por pequenas partculas carregadas negativa-mente, tendo massa aproximadamente igual a 1/1800 do menor tomo, o Hidrognio. Essa partcula passou a ser chamada de eltron, e teve sua carga absoluta (1,601x1019C) medida por Robert Milikan em 1910.
O fsico alemo Wilhelm Conrad Rntgen (Fig. 45) passou a estudar os chamados raios catdicos (nome utilizado na poca para designar o fluxo de eltrons gerado no tubo) em 1894, e no ano seguinte comeou a observar a radiao que chamaria de Raios-X, por sua natureza desconhecida. Primeiramente, Rntgen verificou que um papel pintado com platino-cianeto de brio na mesma mesa do tubo fluorescia mesmo estando o tubo completamente envolto em papelo preto. A radiao tinha ento propriedades semelhantes da luz, mas no era possvel que fosse esse tipo de radiao, j que o experimento havia sido feito com o tubo blindado. Mas depois que o cientista percebeu a sombra de um fio metlico sobre o papel fluorescente, Rntgen passou a pensar na radiao como uma forma de luz invisvel.

Figura 45. Wilhelm Conrad Rntgen, fsico que primeiramente estudou os Raios-X. Percebendo que se tratava de algo novo, a radiao passou a ser estudada exaustivamente por ele, e dessa forma descobriu-se suas principais propriedades, como a propagao em linha reta (da formar sombras bem delimitadas), alta capacidade de penetrao, indiferena campos magnticos e capacidade de impressionar chapas fotogrficas. Tais propriedades ora aconteciam com a luz, ora com os raios catdicos. Tentativas de verificar reflexo, refrao ou difrao foram feitas, sem sucesso. Assim, Rntgen sups que era algo diferente de todas as radiaes conhecidas, chegando a sugerir que fossem ondas eletromagnticas longitudinais. Aps o estudo da radiao, Rntgen publicou um trabalho sobre a nova radiao e enviou separatas do artigo para vrios cientistas influentes da poca, acompanhada de algumas radiografias (Fig. 46).

Figura 46. A clssica radiografia feita por Rntgen em 1895, mostrando a mo de sua esposa .

Sua descoberta espalhou-se muito rapidamente, e a sua principal aplicao, a radiografia, passou a ser utilizada pelos hospitais, e, mais tarde, pelas indstrias em todo o mundo. Com seu feito, Rntgen foi premiado com o primeiro prmio Nobel de Fsica.
Rntgen j havia verificado que nodos de metais pesados emitiam raios-x mais penetrantes que aqueles emitidos por nodos de metais mais leves. Barkla verificou que havia uma radiao caracterstica para cada metal utilizado como alvo, o que foi explicado pelo modelo atmico de Niels Bohr (e que ser discutido na prxima seo). Tal contribuio rendeu a Barkla o prmio Nobel de Fsica em 1917. O estudo da difrao dos raios-X em cristais se deu com Laue a partir de 1912, quando este cientista esteve discutindo aspectos da propagao da luz em cristais com P. P. Ewald, que estava desnvolvendo sua tese de doutorado sobre o assunto. Chamou a ateno de Laue o modelo terico de Ewald para os cristais, que consistia em pequenos osciladores espaados periodicamente em trs dimen-es, com distncias da ordem de 10-8cm. Dos experimentos de Rntgen, Laue sabia que o comprimento de onda dos raios-x era dessa ordem. Logo, um cristal serviria como uma grade ideal para a difrao dos raios-x. Experimentos foram feitos para detectar o fenmeno, e em 1912 Laue conseguiu obter o primeiro diagrama de difrao, utilizando o sulfato de cobre. Aplicando seus conhecimentos sobre a difrao da luz por grades de uma e duas dimenses, Laue formulou uma teoria de difrao de raios-x para estruturas tridimensionais (cristais), obtendo assim o prmio Nobel de Fsica em 1912.

A Produo de Raios-X

Figura 47. A produo de Raios X a nvel atmico Os Raios-X so gerados quando uma partcula de alta energia cintica rapidamente desacelerada. O mtodo mais utilizado para produzir raios-X fazendo com que um eltron de alta energia (gerado no ctodo do tubo catdico) colida com um alvo metlico (nodo). Na Figura 47, analisa-se o fenmeno a nvel atmico. Quando esse eltron atinge o alvo (I), um eltron da camada K de um tomo do material liberado na forma de fotoeltron (II), fazendo com que haja uma vacncia nessa camada. Para ocupar o espao deixado por esse eltron, um outro eltron de uma camada mais externa passa camada K (III), liberando energia na forma de um fton de Raio-X (IV). A energia desse fton corresponde diferena de energia entre as duas camadas. Durante os primeiros estudos sobre a gerao de Raios-X, foi percebido que ao aumentar a diferena de potencial entre os terminais, aumenta-se a intensidade e a faixa de comprimentos de onda produzidos pelo tubo, como mostra a Figura 48: Analisando o espectro, nota-se que para voltagens mais altas, produzem-se certos comprimentos de onda em intensidades bem mais altas que as demais. a chamada radi-ao caracterstica do alvo. Os demais comprimentos de onda so chamados de radiao branca, pois assim como a luz branca e o rudo branco, formada por v-rios comprimentos de onda. Usa-se tambm o termo bremsstrahlung (do alemo radia-o de frenamento). Quanto mais se au-menta a diferena de potencial (cada curva mostrada ao lado representa o espectro para uma determinada voltagem), mais a radiao caracterstica se destaca em relao radia-o contnua, possibilitando a utilizao de um comprimento de onda prdeterminado. Figura 48. A relao entre a diferena de potencial entre os terminais do tubo e as intensidades de cada comprimento de onda produzido

A maneira como se comporta o espectro de raios-X explicada atravs das transies de nveis atmicos de energia. Para cada diferente transio de nveis de energia, um comprimento de onda diferente emitido. A radiao K1, mostrada na Figura 49, produzida quando um eltron transita da camada LIII para a camada K, enquanto que a radiao K1 gerada quando o eltron transita da camada MIII para K. Figura 49. Os nveis atmicos de energia e as emisses de radiao referentes a cada transio Como foi dito anteriormente, a energia do fton emitido equivale a diferena de energia entre as duas camadas. Para a radiao K1, teramos Efton=K-LIII. Com essa energia, podemos ento obter o comprimento de onda atravs da equao =hc/(K-LIII). Como a energia para cada nvel varia com o elemento atmico (alvo), cada tipo de alvo produz radiaes caractersticas em diferentes comprimentos de onda. A tabela ao lado mostra os comprimentos de onda para os materiais mais utilizados em tubos de Raios-X (Tabela 11).
Tabela 11: Radiaes caractersticas dos principais materiais utilizados em tubos de raios-x

Elemento
Cu Mo Cr Co W Ni Fe

K1 () 1.54056 0.70930 2.28970 1.78896 0.20901 1.65791 1.93604

K1()

1.39221 0.63228 2.08487 1.62079 0.18437 1.50013 1.75661

Outra forma de gerar raios-x em aceleradores sncrotron, como o que existe em Campinas-SP. Nesses grandes equipamentos, eltrons so acelerados a grandes velocidades, prximas da luz, por campos magnticos, e ao serem desacelerados, produzem raios-X em vrios comprimentos de onda (nesse caso no h a radiao caracterstica). A Figura 50 ilustra o esquema de um acelerador para produo de luz sncrotron.

Figura 50: Esquema ilustrativo de uma fonte de luz sncrotron

10.1.3. O Fenmeno da Difrao de Raios-X O espalhamento e a conseqente difrao de raios-X um processo que pode ser analisado em diferentes nveis. No mais bsico deles, h o espalhamento de raios-X por um eltron. Esse espalha-mento pode ser coerente ou incoerente. No espalhamento coerente, a onda espalhada tem direo definida, mesma fase e mesma energia em relao onda incidente. Trata-se de uma coliso elstica. No espalhamento incoerente, a onda espalhada no tem direo definida. Ela no mantm a fase nem a energia ( o chamado Efeito Compton). A coliso inelstica, e a energia referente diferena entre a onda incidente e a onda espalhada traduzse em ganho de temperatura (vibrao do tomo). Quando duas ondas em fase incidem no tomo, pode acontecer a conformao mostrada na Figura 51 Observa-se que para que haja uma interferncia construtiva das ondas espalhadas, necessrio que seja obedecida a condio mostrada abaixo (onde o ngulo de incidncia): = 2d sen

Figura 51. Interferncia entre raios a nvel atmico Essa equao conhecida como a Lei de Bragg. importante frisar que ela deve ser aplicada a nvel atmico (como mostrado acima), pois s assim ela poder ser novamente aplicada a nvel de planos cristalinos, como ser mostrado a seguir. interessante tambm notar que, como impossvel saber se os eltrons do tomo estaro na conformao mostrada na figura, determinar como um tomo ir difratar um feixe de raios-X um processo probabilstico. Em 1914, Laue montou um experimento em que um feixe de raios-X incidia em um cristal e por trs do cristal havia uma chapa fotogrfica, como mostrado na Figura 52.

Figura 52. Experimento de Laue Verificando a chapa fotogrfica, Laue observou que se formava um padro de difrao, como o mostrado na Figura 53: Havendo difrao, estava provada a natureza ondulatria dos raios-X. A difrao tornou-se til para a determinao de estruturas cristalinas, como veremos adiante.

Figura 53. Padro de Laue impresso na chapa fotogrfica A formao desses picos de difrao se deve justamente lei de Bragg quando vista em nvel de planos cristalinos. A Figura 54 ilustra o fenmeno:

Figura 54. Interferncia entre raios a nvel planar

As linhas horizontais representam os planos cristalinos, e as setas representam os raiosx incidentes no cristal. Quando a condio = 2d sen obedecida, h um pico de intensidade, responsvel pelos pontos mais claros no padro de Laue.

10.1.4. Cristais e suas estruturas Numa definio simples e concisa, cristais so arranjos atmicos ou molecuares cuja estrutura se repete numa forma peridica tridimensional. Um exemplo simples o do sal de cozinha, NaCl, cuja estrutura consiste em tomos de Sdio e Cloro dispostos de forma que um tomo de sdio ter sempre tomos de cloro como vizinhos e vice-versa, como mostrado na Figura 55.

Figura 55. Clula unitria do NaCl O que vemos na figura mostrada a clula unitria do NaCl. Clula unitria a menor estrutura que representa um cristal, isto , um cristal formado por diversas clulas unitrias arranjadas tridimensionalmente (esse arranjo tambm chamado de rede cristalina). Existem clulas unitrias com sete tipos de simetria: cbica, tetragonal, ortorrmbica, rombodrica (ou trigonal), hexagonal, monoclnica e triclnica. O que diferencia esses tipos de clulas unitrias a relao entre seus parmetros de rede. Os seis parmetros de rede definem a clula unitria da seguinte forma: a, b e c indicam o comprimento dos trs eixos, enquanto , e so os trs ngulos existentes em um vrtice da clula. No caso do cristal de NaCl (de simetria cbica) a = b = c = 5.64 e = = = 90 o. Definiremos agora quais as relaes entre os sete tipos de simetria e os parmetros de rede de suas clulas unitrias:

A partir desses sete sistemas podemos obter as chamadas 14 redes de Bravais, que sero mostradas aps uma introduo sobre a geometria utilizada em cristalografia.

10.1.5. Geometria

Para simplificar a representao de planos cristalinos, utiliza-se uma representao chamada espao recproco. Trata-se da utilizao de trs ndices, h, k e l (conhecidos como ndices de Miller) que correspondem ao inverso do valor em que o plano corta os eixos convencionais. Para facilitar o entendimento, mostraremos a representao de dois planos que cortam um cristal cbico no espao real e seus ndices no espao recproco: No exemplo ao lado, o plano corta o cristal seguindo a diagonal das faces. Ele corta os eixos b e c em 1 e no corta o eixo a. Logo, para calcular os ndices de Miller dos planos, fazemos: h = 1/. = 0 k = 1/1 = 1 l = 1/1 = 1 Pode-se ento chamar o plano de (011).

J no caso ao lado, o plano passa no eixo c em , cor-tando o cristal em dois paraleleppe-dos iguais

Temos ento que: h = 1/. = 0 k = 1/. = 0 l = 1/() = 2. Assim, podemos chamar este plano de (002).
A antagem da utilizao do espao recproco (cuja origem remonta ao sculo XVIII com Abb Hay, e foi popularizada por W. H. Miller no sculo seguinte) que um plano pode ser representado no utilizando uma equao geomtrica, mas apenas trs ndices.

Quando temos um cristal hexagonal, o sistema de ndices utilizados dif-rente. A figura abaixo mostra a clula unitria de um cristal hexagonal:

A clula unitria do cristal delimitada pelos traos mais fortes. As outras duas partes do prisma hexagonal correspondem rotaes da clula unitria Note que nesse caso h quatro ei-xos: a1, a2, a3 e c. Seus ndices de Miller so chamados h, k, i e l. importante observar que o vetor i o simtrico da soma dos vetores h e k (isto , h + k = -i). Vamos exemplificar a representao de planos em um cristal hexagonal a seguir:.

Nesse primeiro exem-plo, o plano corta o cris-tal verticalmente. Note que tanto para o eixo a1 como para o a3, o plano corta o eixo em 1. Em a2, o plano corta o eixo em . Assim, fazemos: h = 1/(-1) = -1 k = 1/( ) = 2
i = - (h + k) = - (1) = -1

l = 1/. = 0 (o plano no corta o eixo c) O plano pode ento ser represen-tado por:

Nesse exemplo, temos um plano que corta o eixo a1 em 1, o eixo a2 em 1 e no corta nem o eixo a3 nem o eixo c. Assim, os ndices de Miller sero: h = 1/1 = 1 k = 1/(-1) = -1 i = 1/. = 0 l = 1/. = 0 O plano pode ento ser representado por:

J para direes cristalogrficas, utiliza-se a notao dos ndices de Miller entre chaves, como exemplificado abaixo. O vetor mostrado ao lado tem valor 1 para as componentes b e c, e est na direo oposta ao vetor a, deslocando-se de 2/3 do parmetro de rede a. Dessa forma, podemos chamar os seus ndices de Miller sero 2/3, 1 e 1. Mas no estamos interessados no mdulo do vetor, logo podemos multiplicar cada ndice por 3, o que alteraria seu mdulo, mas conservaria sua direo e sentido, que o que realmente se deseja representar. Assim, essa direo cristalogrfica pode ser escrita como:

Mais uma vez, a representao para cristais hexagonais requer cuidados. H duas formas de representar direes em cristais hexagonais. A primeira utiliza trs ndices, referentes aos eixos a1, a2 e c, como mostrado a seguir.
O vetor ao lado tem valor 1 para a componente a2 e c, e valor zero para a componente a1. Assim, pode ser representado como [011].

Mas pode-se representar direes em cristais hexagonais utilizando quatro ndices. Para isso, utilizam-se as seguintes equaes de transformao:
U=ut V=vt W=w Onde U, V e W so os ndices no sistema de trs eixos, e u, v, t e w so os ndices no sistema de quatro eixos. Das equaes acima vem que: u = (2U V)/3 v = (2V U)/3 t = -(U+V)/3 w=W Para o vetor do exemplo anterior, temos: u = (2*0 1)/3 = 1/3 v = (2*1 0)/3 = 2/3 t = (0 + 1)/3 = 1/3 w=1 Representamos ento a direo como anterior. Dessa forma est definida a maneira de representar planos e direes cristalogrficas. A utilizao dos ndices de Miller para representao de planos prtica por necessitar apenas de trs (ou aps multiplicar os ndices por 3 como no exemplo

quatro) ndices (e no de expresses geomtricas) para representar planos, e a inverso dos valores para a obteno dos ndices tem um significado geomtrico. O plano (200) o plano que corta a clula em duas partes iguais, enquanto o (300) corta o cristal a 1/3 de sua largura, e assim por diante.

Utilizando essa representao de planos, podemos aplic-la lei de Bragg da seguinte forma: Para calcular a distncia entre dois planos cristalinos (distncia interplanar), quando ===90o, utilizamos a expresso abaixo:

Onde a, b e c so os parmetros de rede do cristal considerado. Como exem-plo, calcularemos a distncia entre dois planos 220 (hkl=220) do cristal de NaCl (simetria cbica, com parmetros de rede a=b=c=5.640).

Substituindo ento o valor na lei de Bragg, podemos encontrar o ngulo de Bragg (ngulo onde h um pico de intensidade devido interferncia construtiva das ondas espalhadas) relativo a esse plano:

Note que usamos 1.54 para o valor de . Trata-se do comprimento de onda K1 do Cobre (como mostrado na tabela 1), um dos materiais mais utilizados como alvo em tubos de raio-x. O significado desses clculos que, incidindo um feixe de raios-x a um ngulo de incidncia de 22.7o, haver um pico de intensidade, devido ao plano 220. Se incidirmos o feixe em ngulos variveis em uma amostra com uma certa distribuio de pequenos cristalitos (amostra na forma de p) e colocarmos essas intensidades em funo do ngulo de espalhamento 2 (ngulo entre a onda incidente e a onda espalhada), iremos obter um grfico chamado difratograma, mostrado na Figuura 56.

Figura 56: Padro de difrao de p (difratograma) do NaCl

Esse padro de difrao nico para cada tipo de cristal. Dessa forma, possvel descobrir a composio de mate-riais atravs da difrao de raios-x. Esse processo chamado caracterizao. Tendo conhecimento da geometria utilizada na cristalografia, iremos introduzir o conceito das 14 redes de Bravais.

10.1.6. As 14 Redes de Bravais Em 1848, o cristalgrafo francs A. Bravais mostrou que na natureza s h 14 redes cristalinas encontradas, redes essas que levam hoje seu nome e esto mostradas nas figuras abaixo:

Sabe-se que cristais podem ter estruturas das mais diversas, e nem sempre as posies atmicas em suas clulas unitrias ir coincidir com as posies dos pontos das redes de Bravais. Como fazer ento para definir qual a rede de Bravais a qual pertence um cristal? Para isso, vamos definir trs tipos de translao: Corpo-centrado: 0 0 0, (movimenta a clula de metade de seu parmetro de rede nas trs direes) Face-centrada: 0 0 0, 0 , 0 , 0 (movimenta a clula de metade de seu parmetro de rede nas 3 direes, duas a duas) Base-centrada: 0 0 0, 0 (movimenta a clula de metade de seu parmetro de rede em apenas duas direes) Essas trs translaes esto exemplificadas na Figura 57 mostrada a seguir.

Uma clula unitria ser de cada um desses tipos se, ao fizermos a translao que leva seu nome, ela comece e termine em tomos do mesmo tipo. Para explicar melhor como isso acontece, descobriremos qual a rede de Bravais do cristal de CsBr: A estrutura do cristal de CsBr a mostrada na Figura 57:

Figura 57: Estrutura cristalina do CsBr. Os tomos externos so os de Csio e o central o Bromo. primeira vista, pode-se pensar que trata-se de um cristal do tipo cbico de corpo centrado. No o que acontece, porm. Quando fazemos a translao de corpo centrado (isto , movendo a clula unitria de de seus parmetros de rede nas trs direes), o tomo de Csio que se encontrava no canto da clula unitria (origem) ir encontrar o tomo de Bromo no centro. Como so tomos de espcies diferentes, no se trata de uma rede cbica de corpo centrado. Assim, como a clula no tem espcies em suas faces, no podendo ento ser do tipo face-centrada, trata-se de uma rede cbica simples. Voltemos agora Figura 10, que mostra a estrutura cristalina do NaCl. Vemos que h tomos tanto no centro da clula unitria como em suas faces. Logo, devemos utilizar as translaes para descobrir qual o tipo de rede nesse caso. Se utilizarmos a translao de corpo centrado, o tomo de sdio da origem ir encontrar um tomo de cloro no centro. Logo, descarta-se a possibilidade de rede cbica de corpo centrado. Testemos agora a translao de face-centrada. Fazendo as trs translaes, haver sempre o encontro de um tomo de sdio com outro de mesma espcie. Sendo assim, trata-se de uma rede cbica de facecentrada.

10.1.7. Clculo da Intensidade Analisando o padro de difrao do policristal de NaCl (NaCl na forma de p), mostrado na Figura 56, verificamos que os picos referentes a planos diferentes tm intensidades diferentes. Se construssemos o padro de difrao usando apenas aspectos geomtricos (lei de Bragg), seria esperado que, como em todos os picos h interferncia construtiva, eles deveriam ter a mesma intensidade. Porm, h vrios aspectos fsicos que interferem na intensidade. O primeiro a ser considerado o fator de espalha-mento atmico (f). Tal valor indica o quanto um tomo pode espalhar a um dado ngulo e um certo comprimento de onda (geralmente os valores tabelados so dados para valores de sen/), sendo expressado como o quociente entre a amplitude da onda espalhada por um tomo sobre a amplitude da onda espalhada por um eltron. H diversas formas de calcular o fator de espalhamento atmico. Utilizaremos o resultado do artigo de Z. Su e P. Coppens, citado na bibliografia dessa apostila, que prope aproximaes analticas para o seu valor em tomos neutros de nmero atmico 1 a 54. O prximo passo calcular o fator de estrutura do cristal. Assim como o fator de espalhamento atmico, o fator de estrutura um quociente de duas amplitudes, no caso, a amplitude da onda espalhada por todos os tomos da clula unitria e a amplitude da onda espalhada por um eltron. Para calcular o fator de estrutura, F, usamos a seguinte equao:

Isto , deve-se calcular o somatrio para todos os N tomos na clula unitria. A razo de F ser um nmero complexo (observe o i no expoente de e) que ele expressa tanto a amplitude quanto a fase da onda. Calcularemos aqui o fator de estrutura para o cristal de NaCl quando temos reflexo no plano 002 (exemplo feito anteriormente, que, usando a lei de Bragg, implicou no ngulo 22.7). O valor tabelado para o fator de espalhamento atmico para Na e Cl na reflexo 220 so 7.618 e 10.632, respectivamente, para sen/=0.25-1. Temos ento:

Agora devemos definir o fator de multiplicidade. H planos que, por terem a mesma distncia interplanar, difratam no mesmo pico. o caso, por exemplo, dos planos 100, 010 ou 001 numa clula cbica. Somando-se a esses trs os planos com 1 ao invs de um, temos 6 planos contribuindo para a mesma reflexo, im-plicando em um fator de multiplicidade 6. O apndice do presente material contm uma tabela com os diferentes fatores de multiplicidade para cada caso. Para chegar na expresso da inten-sidade, precisamos ainda de mais trs fatores de correo. Os dois primeiros se referem a fatores geomtricos que afetam a intensidade difratada: so o fator de Lorentz e o fator de polarizao. Costuma-se expressar ambos conjunta-mente, como mostrado abaixo:

Finalmente, deve-se aplicar o fator de temperatura, adicionando expresso da intensidade o fator e-2M. Isso se deve ao fato de que o aumento de temperatura afeta o fenmeno da difrao, pois expande a clula unitria e gera efeitos como o deslocamento dos picos, a diminuio da intensidade nos picos e o aumento do background (tambm chamado de radiao de fundo, trata-se das intensidades onde no h picos de difrao). Uma explanao mais completa desses fatores, que foge ao escopo do presente material, pode ser encontrada nas referncias indicadas no final da apostila. Unindo todos esses fatores, obtemos a seguinte expresso para a intensidade difratada: Onde:

Dessa forma, podemos determinar as intensidades relativas dos picos de difrao. A equao acima calcula a intensidade em unidades arbitrrias. Em tabelas de cristalografia, os materiais so catalogados de forma a informar a intensidade de cada pico em relao ao pico de maior intensidade. Consultando o banco de dados do ICSD, temos uma intensidade 1000 para a reflexo 200 do NaCl e 663.6 para a reflexo 220 (no caso, o pico com a segunda maior intensidade). Calculemos ento as intensidades para essas duas reflexes utilizando a expresso da intensidade para confrontar os resultados obtidos com os valores catalogados. Como o fator de temperatura influi muito pouco para a intensidade ( geralmente bem prximo de um) e envolve clculos complicados para a sua obteno, no o utilizaremos em nossos clculos. J calculamos anteriormente o fator de estrutura do NaCl. Calculemos ento a intensidade para a reflexo 220, da qual j dispomos de alguns dados:

Obs:. O valor da multiplicidade foi obtido da tabela no apndice. Para a reflexo 200, precisamos primeiro calcular o ngulo de Bragg:

Consultando a tabela de fatores de espalhamento atmico para sen/=0.15-1, obtemos 9.02 e 13.5 para os valores de f para o sdio e o cloro, respectivamente. Podemos ento calcular o fator de estrutura:

Finalmente, calculamos a intensidade para essa reflexo:

Basta agora fazer uma regra de trs simples para determinar as intensidades relativas:

Conseguimos um valor relativo prximo ao disponvel no banco de dados do ICSD (663.6). O erro de aproximao devido ao fator de espalhamento atmico utilizado (tabelado). possvel ob-ter valores mais precisos para f utilizando interpolaes como aquela mostrada no artigo citado. Para construir um difratograma terico como o mostrado na figura 12, basta centrar em cada pico uma funo que o represente. No caso da difrao de nutrons, outra tcnica utilizada para estudos de materiais, utilizada a conhecida funo normal ou gaussiana. Na difrao de raios-x, utilizada uma curva chamada pseudo-Voigt, que corresponde soma de uma gaussiana e uma lorentziana. Comparando difratogramas tericos com aqueles obtidos em laboratrio atravs de difratmetros, possvel fazer estudos detalhados a respeito da estrutura do material da amostra. Exemplos Nesta seo, analisaremos alguns difratogramas e suas particularidades. Abaixo, vemos o padro de difrao do quartzo e do NaCl na forma de policristal (amostra na forma de p): Quando analisamos uma amostra, comum que ela seja formada por uma mistura de diferentes materiais. Abaixo, vemos o resultado de uma medida que contenha uma mistura de NaCl e Quartzo:

Prestando ateno na figura, vemos que o difratograma ao lado uma superposio dos dois padres de difrao mostrados acima. Dessa forma, para descobrir que materiais formam uma determinada amostra (caracteriz-la), devemos testar simulaes de diferentes materiais at obtermos um padro de difrao que coincida com o da amostra na posio e intensidade dos picos. Esse trabalho feito utilizando programas de computador como o DBWS e o FULLPROF.

A figura ao lado mostra o padro de difrao calculado e o experimental de uma super-rede de semicondutores. Esse material consiste em ca-madas de semicondutores sobrepostas de forma peridica. Esses materiais so importantes devido s suas propriedades pticas, sendo utilizados em diversos dispositivos eletrnicos. Devido espessura muito pequena das camadas de semicondutores (da ordem de angstroms), necessrio um controle rigoroso em sua produo. 100Log (I)(u.)-a. A difrao de raios-x de alta resoluo (note que o difratograma est em segundos e no em graus) utilizada nesse controle. Atravs dela possvel estudar tenses mecnicas e deformaes microscpicas durante o processo de crescimento. O prximo exemplo de um cristal onde se fez implantao inica. Nesse processo, ons so acelerados de forma a bombardear um cristal. De acordo com os desvios de trajetria que ocorrem dentro do alvo, eles ficam implantados a diversas profundidades (e em diversas concentraes) no cristal.
No grfico ao lado, mostrado o padro de difrao de um cristal de GaAs onde foram bombardeados ons de zinco. No grfico menor, vemos a variao de tenso em funo da profundidade. Tenso definida como a variao do parmetro de rede (devido aos ons implantados, que fazem com que ele aumente), sobre o prprio parmetro de rede, sendo dado por uma percentagem. Dessa forma, como se houvessem vrias camadas de parmetros de rede prximos, resultando em picos to prximos que se assemelham a picos mais suaves, como visto ao lado.