MUESTREO - ACEPTACION Texto

MUESTREO DE ACEPTACIN P. Reyes / Sept.
2007
Pgina 1 de 58
y

MUESTREO DE
ACEPTACIN

Elabor: Dr. Primitivo Reyes Aguilar
Septiembre de 2007
MUESTREO DE ACEPTACIN P. Reyes / Sept. 2007
Pgina 2 de 58
CONTENIDO

1. Muestreo de aceptacin por atributos
1.0 Mtodos estadsticos para la mejora de la calidad

1.1 Muestreo de aceptacin por atributos

1.2 Muestreo simple por atributos

1.3 Muestreo doble, mltiple y secuencial

1.4 Tablas de muestreo MIL-STD-105E o Z1.4

2. Muestreo de aceptacin por variables
2.1 Ventajas y desventajas

2.2 Mtodo de control de la fraccin defectiva

2.3 Tablas ASQC Z1.9 de muestreo por variables

2.4 Uso de las tablas

2.5 Otros procedimientos de muestreo por variables

Preguntas y ejercicios

Pgina 3 de 58
1. MUESTREO DE ACEPTACIN POR ATRIBUTOS

1.0 MTODOS ESTADSTICOS PARA LA MEJORA DE LA CALIDAD
Se utilizan tres mtodos estadsticos principales para el monitoreo y mejora de
procesos: las cartas de control, el diseo de experimentos y el muestreo
estadstico, adems de las herramientas estadsticas para la solucin de
problemas en planta por grupos de trabajo o Crculos de calidad.

CARTAS DE CONTROL
La carta de control es una tcnica muy til para el monitoreo de los procesos,
cuando se presentan variaciones anormales donde las medias o los rangos salen
de los lmites de control, es seal de que se debe tomar accin para remover esa
fuente de variabilidad anormal. Su uso sistemtico proporciona un excelente
medio para reducir la variabilidad.

LSC (UCL) = Lmite superior de control
LC = Lnea central
LIC (LIC) = Lmite inferior de control

Fig. 1.1 Carta de control de Shewhart y sus lmites de
control
Sample
S
a
m
p
l
e

M
e
a
n
18 16 14 12 10 8 6 4 2
90
80
70
60
_
_
X=72.69
UCL=86.84
LC L=58.53
Sample
S
a
m
p
l
e

R
a
n
g
e
18 16 14 12 10 8 6 4 2
48
36
24
12
0
_
R=24.54
UCL=51.89
LC L=0
Xbar-R Chart of Pulse1
Pgina 4 de 58

Fig. 1.2 Carta de control y patrones de anormalidad

Ejemplo 1.1 Identificar una situacin donde se pueda monitorear un comportamiento o
una caracterstica de calidad (dimensin, tiempo, etc.), identificar como medir, cada
cuando medir y que muestra se toma.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.

Discutir sus hallazgos con el grupo.

DISEO DE EXPERIMENTOS

Un experimento diseado es muy til para descubrir las variables clave que
tienen influencia en las caractersticas de calidad de inters del proceso. Es un
mtodo para variar en forma sistemtica los factores controlables del proceso y
determinar los efectos que tienen esos factores en los parmetros finales del
producto. Permite reducir la variabilidad en la caracterstica de calidad y en
determinar los niveles ms adecuados de los factores controlables que optimicen
el desempeo del proceso.
Regin de control,
captura la variacin
natural del proceso
original
Causa Especial
identificada
El proceso ha cambiado
TIEMPO
Tendencia del proceso
LSC
LIC
M
E
D
I
D
A
S
C
A
L
I
D
A
D
Regin de control,
captura la variacin
natural del proceso
original
Causa Especial
identificada
El proceso ha cambiado
TIEMPO
Tendencia del proceso
LSC
LIC
M
E
D
I
D
A
S
C
A
L
I
D
A
D
Pgina 5 de 58
ENTRADAS CONTROLABLES
X1 X2 XP

INSUMOS DEL PROCESO Y CARACT.DE CALIDAD

Materias primas,
Componentes, etc.

Z1 Z2 ZQ
ENTRADAS NO CONTROLABLES
Fig. 1.3 Proceso de produccin, entradas y salidas

El principal mtodo para disear experimentos es el diseo factorial, en el cual
los factores son variados de tal forma de probar todas las posibles combinaciones
de los niveles de los factores.

El diseo de experimentos es una herramienta fuera de lnea es decir se utiliza
durante el desarrollo de los productos o procesos, ms que durante su fabricacin.

Una vez que se han identificado las variables que afectan el desempeo del
proceso, normalmente es necesario modelar la relacin entre estas variables y la
caracterstica de calidad de inters. Para lo cual se puede utilizar el anlisis de
regresin.

El monitoreo en el proceso de las variables relevantes que afectan las
caractersticas de calidad se hace por medio de cartas de control.

Ejemplo 1.2 Identificar un proceso y describir como se pueda experimentar variando
algunos factores en ciertos niveles y midiendo una caracterstica del producto.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.

PROCESO

Pgina 6 de 58

MUESTREO DE ACEPTACIN
Est relacionado con la inspeccin y prueba del producto, donde se selecciona e
inspecciona una muestra aleatoria de un lote mayor, resultando en una aceptacin
o rechazo de ese lote mayor, esto ocurre en la recepcin de materias primas y
componentes y en el producto terminado.

Tiene las siguientes ventajas:
- El costo de evaluacin es menor que con la inspeccin al 100%
- Se puede aplicar ms fcilmente cuando se trata de realizar pruebas
destructivas.
- Se puede aplicar presin sobre la calidad de los lotes de proveedores ya que
con una pequea muestra puede ser rechazado el total de su lote.

Entre sus desventajas se encuentran:
- Se pueden cometer errores al aceptar lotes defectivos, dada la probabilidad
finita de encontrar productos defectivos en la muestra.
- Si los lotes no son uniformes, el muestreo no es una tcnica confiable.
- No se garantiza que los lotes aceptados estn libres de defectivos.

A continuacin se muestran diferentes esquemas de la aplicacin del mtodo.

a) INSPECCIN EN LINEA FINAL o EN PROCESO ENVIO

Productos Productos

b) INSPECCION EN RECIBO DE MATERIALES COMPRADOS
ENVIO

Materias primas Materias primas

PROCESO
INSPECCION CLIENTE
INTERNO O
EXTERNO
PROVEEDOR INSPECCION
CLIENTE /
PLANTA
Pgina 7 de 58
c) INSPECCION RECTIFICADORA ACEPTAR ENVIO

Materias
primas
RECHAZO

DISPOSICIN DE LOTES

Fig. 1.4 Variaciones del muestreo de aceptacin

El muestreo de aceptacin tiende a reforzar el apego o conformancia a
especificaciones pero no tiene un efecto de retroalimentacin en el proceso de
produccin o diseo que mejoren la calidad.

Ejemplo 1.3 Identificar un proceso o lnea donde se aplique el muestreo de aceptacin
explicando como se realiza y por qu.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.

Ejemplo 1.4 Identificar un material comprado donde se aplique el muestreo de aceptacin
en recepcin explicando como se realiza y por qu.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.

PROVEEDOR INSPECCION
CLIENTE /
PLANTA

Desperdicio Retrabajo
Seleccin
Pgina 8 de 58
Ejemplo 1.5 Identificar un material crtico que se inspeccione en recibo y se seleccione si
se encuentra defectivo, explicar este proceso y sus resultados e impacto en las lneas de
produccin.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.

En el transcurso del tiempo, las tres tcnicas estadsticas anteriores han tenido la
evolucin siguiente:

Fig. 1.5 Evolucin de la aplicacin de mtodos estadsticos
100%

0%
Tiempo

El muestreo se ha estado utilizando para calificar los lotes de proveedores, sin
embargo ha estado siendo desplazado por mtodos preventivos como el CEP y el
diseo de experimentos, delegando toda la responsabilidad en el proveedor.

1.1 MUESTREO DE ACEPTACIN POR ATRIBUTOS

Si se recibe un lote de un proveedor, se toma una muestra y se evalan algunas
de las caractersticas del producto, en base a los resultados se toma una decisin

MUESTREO DE
ACEPTACION

CONTROL DE PROCESO

DISEO DE
EXPERIMENTOS
Pgina 9 de 58
sobre la disposicin del lote, ya sea aceptados para su uso en produccin, o
rechazados para que el proveedor tome acciones.

Fig. 1.6 Proceso de inspeccin por muestreo

Hay 3 aspectos importantes del muestreo:
1. Su propsito es calificar los lotes, no estimar los parmetros del lote.
2. No proporcionan un mecanismo de control de calidad, simplemente aceptan o
rechazan lotes.
3. Sirven como herramienta de auditora para asegurar que la calidad de un lote
est de acuerdo a especificaciones.

Existen 3 alternativas para calificar un lote:
1. Aceptar sin inspeccin. Con proveedores confiables.
2. Inspeccionar al 100%, separando los productos defectuosos.
3. Realizar un muestreo de aceptacin.

La aceptacin por muestreo es ms til en las situaciones siguientes:
Muestreo aleatorio estadstico
Lote N
Muestra n
Muestreo aleatorio estadstico
Lote N
Muestra n
Pgina 10 de 58
1. Cuando las pruebas son destructivas.
2. Cuando el costo de la inspeccin 100% es muy alto.
3. Cuando la inspeccin 100% es muy tardada.
4. Cuando las cantidades a inspeccionar 100% son muy altas y con tasa de
defectos baja, que haga que se causen errores al inspeccionar, dejando pasar
productos defectuosos.
5. Cuando el proveedor no es confiable al 100%, o su capacidad de proceso es
baja.
6. Cuando hay riesgo de generar problemas legales por productos crticos.

1.1.1 VENTAJAS Y DESVENTAJAS DEL MUESTREO

Cuando se utiliza inspeccin por muestreo, se tienen las ventajas siguientes:
1. Es ms barato, requiriendo menos inspeccin.
2. Existe un menor manejo de producto o menor dao.
3. Se aplica a pruebas destructivas.
4. El rechazar un lote completo en lugar de slo las partes defectivas, motiva al
proveedor a mejorar su calidad.

El muestreo de aceptacin tambin presenta varias desventajas:
1. Existe el riesgo de aceptar lotes malos y de rechazar lotes buenos.
2. La informacin que se genera respecto al producto o proceso es poca.
3. El muestreo de aceptacin requiere documentacin y planeacin, no as la
inspeccin 100%.

1.1.2 TIPOS DE PLANES DE MUESTREO

Existen diversas clasificaciones de estos planes, una de ellas es la de variables y
atributos. Una caracterstica se expresa en variables si se puede medir, o en
atributos si se califica como pasa no pasa.

Pgina 11 de 58
Un plan de muestreo simple es un procedimiento de calificacin de lotes, donde
se toma una muestra aleatoria de n partes y la disposicin del lote es determinada
dependiendo de los resultados de la muestra, aceptndose si se encuentran hasta
c productos defectivos.

Un plan de muestreo doble implica que despus de tomar una muestra e
inspeccionar, se toma una decisin de (1) rechazar, (2) aceptar o (3) tomar una
segunda muestra, si esto sucede, se combina la informacin de la primera y de la
segunda para tomar una decisin.

Un plan de muestreo mltiple es una extensin del doble, en el cual ms de dos
muestras pueden ser necesarias antes de tomar una decisin. Los tamaos de
estas muestras son ms pequeos que en el muestreo doble.

El muestreo secuencial implica la seleccin de unidades del lote, una por una,
tomando decisiones de aceptar o rechazar el lote despus de un cierto nmero de
unidades.

Se pueden desarrollar planes de muestreo que produzcan resultados similares con
cualquiera de las modalidades anteriores.

1.1.3 FORMACIN DE LOTES

Para inspeccin de lotes, estos deben cumplir las caractersticas siguientes:

1. Deben ser homogneos, las unidades deben ser producidas por las mismas
corridas de produccin, en condiciones similares. Es difcil tomar acciones
correctivas para lotes mezclados.
2. Lotes grandes son preferibles a lotes pequeos, dado que la inspeccin es
ms eficiente.
Pgina 12 de 58
3. Los lotes deben manejarse en forma similar con el proveedor y con el
cliente, las partes deben estar empacadas adecuadamente para evitar riesgos
de dao y permitir la seleccin de muestra en forma sencilla.

MUESTREO ALEATORIO

Las muestras deben ser representativas del lote, no deben tomarse slo partes de
las capas superiores, sino de preferencia numerar las partes con un nmero y
seleccionar con tablas de nmeros aleatorios o tambin se puede estratificar el
lote.

1.1.4 GUIA DE APLICACIN DE PLANES DE MUESTREO
Un plan de aceptacin es el establecimiento del tamao de muestra a ser usado y
el criterio de aceptacin o rechazo para calificar lotes individuales.

Un esquema de aceptacin es un conjunto de procedimientos de planes de
aceptacin en los cuales se relacionan los tamaos de lote, tamao de muestra,
criterio de aceptacin o rechazo, la cantidad de inspeccin 100% y de muestreo.

Un sistema de muestreo es un conjunto de esquemas de muestreo. Los
procedimientos de muestreo de aceptacin son:

Procedimiento Procedimiento
Objetivos por atributos por Variables

1. Asegurar niveles de calidad Plan especfico Plan especfico
Para el consumidor y productor en base a curva OC en base a curva OC

2. Mantener la calidad en el Sistema de AQL Sistema de AQL
objetivo MIL-STD-105E MIL-STD-414

Los clientes estn enfocados a mejorar la calidad de sus proveedores,
seleccionando a los mejores y trabajando en forma cercana para reducir su
Pgina 13 de 58
variabilidad, con tcnicas de control estadstico del proceso. El muestreo de
aceptacin se utiliza mientras se mejora la calidad con el proveedor.

1.2 MUESTREO SIMPLE POR ATRIBUTOS

En este sistema se toma una muestra simple aleatoria del lote (n) cuyo tamao es
(N) y si se encuentra hasta un mximo de partes defectivas (c.) se acepta el lote,
de otra forma se rechaza.

Ejemplo 1.6 En la bolsa de fichas se encuentran algunas de otro color representando las
defectuosas, tomar 10 muestras de 20 fichas cada una y anotar cuantas defectuosas se
obtuvieron, indicando si se acepta o se rechaza el lote, si c = 2.

Muestra Defectuosas
En la muestra
Lote aceptado (X) Lote rechazado (X)
1 20 partes
2 20 partes
3 20 partes
4 20 partes
5 20 partes
6 20 partes
7 20 partes
8 20 partes
9 20 partes
10 - partes
Totales Porcentaje de lotes
aceptados
Porcentaje de lotes
rechazados

Pgina 14 de 58

Muestra Defectuosas
En la muestra
Lote aceptado (X) Lote rechazado (Y)
1 20 partes
2 20 partes
3 20 partes
4 20 partes
5 20 partes
6 20 partes
7 20 partes
8 20 partes
9 20 partes
10 - partes
Totales Porcentaje de lotes
aceptados
Porcentaje de lotes
rechazados


Muestra Defectuosas
En la muestra
Lote aceptado (X) Lote rechazado (X)
1 20 partes
2 20 partes
3 20 partes
4 20 partes
5 20 partes
6 20 partes
7 20 partes
8 20 partes
9 20 partes
10 - partes
Totales Porcentaje aceptado Porcentaje rechazado

Pgina 15 de 58
Un plan de muestreo simple se define por su tamao de muestra n y el nmero de
aceptacin c. El tamao del lote se especifica como N.

Por ejemplo si se tiene el plan:
N=10,000
n=89
c=2

Significa que de cada lote de 10,000 partes se toman al azar n=89 para
inspeccin, si el nmero de productos defectivos observados en la muestra d es
menor o igual a c = 2, el lote se acepta, en caso contrario se rechaza.

1.2.1 LA CURVA OC

La curva caracterstica de operacin (OC) muestra la probabilidad de aceptar el
lote (Pa o | en el eje Y), versus la fraccin defectiva media en el lote (p en el eje
X), mostrando la potencia de discriminacin del plan de muestreo.

Fig. 1.7 Curva caracterstica de operacin y plan de muestreo

0.05 0.1 0.15 0.2 0.25 0.3 p Prov.
Pa
1
0.8
0.5
0.3
0.1
Curva caracterstica de
Operacin dado una
Tamao de muestra n
y un criterio de aceptacin c
0.05 0.1 0.15 0.2 0.25 0.3 p Prov.
Pa
1
0.8
0.5
0.3
0.1
Operacin dado una
Tamao de muestra n
y un criterio de aceptacin c
Pgina 16 de 58

Pgina 17 de 58
Ejemplo 1.9 El total de fichas de otro color entre las fichas del color principal representa
la fraccin defectiva en el lote o sea _______. Esto representa solo un punto en la curva
caracterstica de operacin siguiente para n = 20.

Para construir la curva OC completa variar la fraccin defectiva como sigue y graficar la
probabilidad de aceptacin. En Excel Insertar funcin (Fx); Estadsticas; seleccionar la
funcin =distr.binom(c, n, p, 1)

Fraccin defectiva
en el lote
Pa-Probabilidad de
aceptacin c = 4
Pa-Probabilidad de
aceptacin c = 2
Pa-Probabilidad de
aceptacin c = 0
0.005
0.01
0.02
0.03
0.04
0.05
0.06
0.07
0.08
0.09
0.10
Etc.

La curva caracterstica de operacin se obtiene graficando p versus la
probabilidad binomial de encontrar y aceptar a lo ms c defectivos o sea:

= <= =
c
d
d n d
p p
d n d
n
c d P Pa
0
) 1 (
)! ( !
!
) { (1.1)

Esto mismo se puede aproximar por la distribucin de Poisson para efectos
prcticos.
Se puede usar Excel para los clculos, un ejemplo utilizando la distribucin
binomial acumulada (opcin VERDADERA en Excel) se muestra a continuacin:

1.2.2 CURVA CARACTERSTICA DE OPERACIN OC
Pgina 18 de 58
p Pa = |
0.005 0.98968755
0.01 0.939689918
0.02 0.736577576
0.03 0.498482838
0.04 0.304158359
0.05 0.172076864
0.06 0.091869347
0.07 0.046819851
0.08 0.022955079
0.09 0.010886432

Fig. 1.8 Clculo de la Curva caracterstica de operacin OC

En este caso si los lotes tienen un 2% de defectivo, su probabilidad de aceptacin
es de 0.74. Significa que de cada 100 lotes recibidos, se aceptarn 74 y se
rechazarn 26.

A continuacin se muestran algunas variaciones de la curva caracterstica de
operacin variando tanto como el criterio de aceptacin c manteniendo n
constante y despus manteniendo c como constante y variando n.

Manteniendo n constante y variando c se tiene:

p n = 89, c=0 n = 89 c=1 n = 89, c =2

0.005 0.640109373 0.926389444 0.98968755
0.01 0.408820174 0.776345382 0.939689918
0.02 0.165623034 0.466448545 0.736577576
0.03 0.06647898 0.249467514 0.498482838
0.04 0.026432591 0.124453451 0.304158359
0.05 0.010408805 0.059165839 0.172076864
0.06 0.004058625 0.027115072 0.091869347
0.07 0.001566688 0.01206181 0.046819851
0.08 0.000598572 0.005231002 0.022955079
Pa
p
Curva OC
Pgina 19 de 58
0.09 0.0002263 0.002218234 0.010886432

Pa

P (fraccin defectiva en el lote)

Para el caso en que lo que se vare sea n se tiene:

p n = 50, c=2 n = 100, c = 2 n = 200, c = 2

0.005 0.997944456 0.985897083 0.920160568
0.01 0.986182729 0.920626798 0.676678695
0.02 0.921572252 0.676685622 0.235148136
0.03 0.810798075 0.419775083 0.059290946
0.04 0.676714004 0.232142624 0.012489138
0.05 0.540533123 0.118262981 0.002336294
0.06 0.416246472 0.056612777 0.000400477
0.07 0.310788561 0.025788541 6.40456E-05
0.08 0.225974275 0.011272803 9.66278E-06
0.09 0.160540491 0.004756131 1.38543E-06

Pa

p (fraccin defectiva en el lote)
Fig. 1.9 Curvas caractersticas de operacin diversas

PUNTOS ESPECIFICOS EN LA CURVA OC

Un consumidor frecuentemente fija de comn acuerdo con su proveedor, un nivel
de calidad aceptable (AQL), que representa el nivel ms pobre de calidad que el
consumidor considera aceptable como promedio, normalmente es la fraccin
defectiva que tiene un 95% de ser aceptada (| = 0.95).

c=0, 1, 2
n=50, 100,200
2
Pgina 20 de 58
Por otra parte el consumidor quiere rechazar los lotes en la mayora de los casos
cuando tengan una fraccin defectiva de a lo ms un porcentaje defectivo
tolerable en el lote (LTPD), normalmente esta fraccin defectiva corresponde a
una probabilidad de aceptacin del 10% o rechazo del 90% de las veces. Tambin
se el denomina Nivel de Calidad Rechazable.

Ejemplo 1.10 Identificar en las curvas del ejercicio 1.9 el AQL y el LTPD aproximados
para cada plan de muestreo o curva OC.
_______________________________________________________________.
_______________________________________________________________.
_______________________________________________________________.

CURVAS OC TIPO A y B.
La curva OC tipo A utilizando la distribucin hipergeomtrica se construye cuando
se tiene un lote aislado de tamao finito, se utiliza cuando n/N >=0.10. En Excel se
utiliza la funcin (Fx Estadsticas) =distr.hipergeom(c, n, fraccin defectiva, N).

La curva OC tipo B utiliza la distribucin binomial o de Poisson cuando n/N < 0.1,
sin embargo en los niveles donde n/N=0.1 ambas curvas A o B son muy
parecidas. Para binomial usar en Excel = distr.binom(c, n, p, 1) y con Poisson
=poisson(c, nxp,1)

Ejemplo 1.11 Para n = 20, n = 2, N =100, construir una curva OC utilizando la distribucin
Hipergeomtrica y la distribucin Binomial y de Poisson.

Fraccin defectiva
en el lote
Pa-Distribucin
Hipergeomtrica
Pa-Distribucin
binomial
Pa-Distribucin de
Poisson
0.005
0.01
0.02
0.03
0.04
0.05
0.06
0.07
Pgina 21 de 58
0.08
0.09
0.10
Etc.

1.2.3 INSPECCIN RECTIFICADORA

Los programas de aceptacin por muestreo normalmente requieren accin
correctiva cuando los lotes son rechazados, de tal forma que el proveedor los
selecciona al 100% remplazando los artculos defectivos por buenos. Esta
actividad se denomina inspeccin rectificadora por su impacto en la calidad de
salida final hacia la planta.

Fig. 1.10 Inspeccin rectificadora (las piezas malas son
reemplazadas y reintegradas al lote)

Entrada de 100
lotes de cierto
proveedor con
N=10,000 y
p = 0.02
n =200
c = 1
P=0.02
Pa
91 lotes son
rechazados y
seleccionados
por el
proveedor,
deja 910,000
piezas OK
9 lotes son
aceptados a pesar
de tener un 2%
defectivo:
Es decir ingresan
88,820 piezas OK
Y 1800 piezas KO
Total de piezas OK
998,820
Piezas defectivas
1,800
0.18% AOQ
AOQ
Alm.
Entrada de 100
lotes de cierto
proveedor con
N=10,000 y
p = 0.02
n =200
c = 1
P=0.02
Pa
91 lotes son
rechazados y
seleccionados
por el
proveedor,
deja 910,000
piezas OK
9 lotes son
aceptados a pesar
de tener un 2%
defectivo:
Es decir ingresan
88,820 piezas OK
Y 1800 piezas KO
Total de piezas OK
998,820
Piezas defectivas
1,800
0.18% AOQ
AOQ
Alm.
Pgina 22 de 58
Suponiendo que los lotes que llegan tienen una fraccin defectiva p
0
, despus de
la actividad de inspeccin bajo un plan de muestreo, algunos lotes sern
aceptados y otros sern rechazados.

Los lotes rechazados sern seleccionados al 100% por el proveedor remplazando
los artculos defectuosos por buenos despus se integran a los lotes que ingresan
a la planta obtenindose una fraccin defectiva p
1
menor a la original, denominada
calidad promedio de salida AOQ, en lotes de tamao N se tiene:

1. n artculos de la muestra no contienen defectivos.
2. N-n artculos los cuales si el lote se rechaz no contenan defectivos.
3. N-n artculos los cuales si el lote se acepta contienen p(N-n) defectivos.
As los lotes despus del proceso rectificador, contienen un nmero esperado de
defectivos igual a P
a
p(N-n) con la cual se puede expresar una fraccin defectiva
media AOQ como sigue,

N
n N p P
AOQ
a
) (
= (1.2)

Ejemplo 1.12 Suponiendo que N=10,000, c=2 y que la calidad de
entrada p=0.01.

Como en la curva caracterstica de operacin (para n=89, c=2)
cuando p=0.01, Pa = 0.9397, entonces el AOQ es:

0093 . 0
10000
) 89 10000 )( 01 . 0 )( 9397 . 0 ( ) (
=
=
N
n N p P
AOQ
a

AOQ ~ 0.93% en lugar del 1% entrante.

Cuando N es grande respecto al tamao de muestra n, se tiene,

Pgina 23 de 58
p P AOQ
a
~ (1.3)

La curva de AOQ versus p se muestra a continuacin:

Fig. 1.11 Curva de calidad de salida promedio (AOQ)

CURVA AOQ
Fraccin defectiva
p Pa Pa . P
0.005 0.98968755 0.004948438
0.01 0.939689918 0.009396899
0.02 0.736577576 0.014731552
0.03 0.498482838 0.014954485
0.04 0.304158359 0.012166334
0.05 0.172076864 0.008603843
0.06 0.091869347 0.005512161
0.07 0.046819851 0.00327739
0.08 0.022955079 0.001836406
0.09 0.010886432 0.000979779

Fig. 1.12 Clculo de la Curva de calidad de salida promedio
(AOQ)

AOQ
p

p
0.03
AOQL = 1.55%
0.05 0.1 0.15 0.2 0.25 0.3 p Prov.
AOQ = p*Pa
0.3
0.25
0.20
0.15
0.1
AOQL
Planta
Almacn
Fraccin
defectiva
que ingresa
al almacn o
planta
despus de
aplicar el
plan de
muestreo
Fraccin
defectiva
que enva el
proveedor
0.05 0.1 0.15 0.2 0.25 0.3 p Prov.
AOQ = p*Pa
0.3
0.25
0.20
0.15
0.1
AOQL
Planta
Almacn
Fraccin
defectiva
que ingresa
al almacn o
planta
despus de
aplicar el
plan de
muestreo
Fraccin
defectiva
que enva el
proveedor
Pgina 24 de 58
De la grfica anterior se observa que la curva AOQ tiene un valor mximo o la
peor fraccin defectiva de salida hacia la planta o proceso, que se denomina
lmite de calidad de salida promedio AOQL el cual es aproximadamente 0.0155
o 1.55% defectivo.

Ejemplo 1.12

Para construir la curva AOQ variar la fraccin defectiva como sigue y graficar la
probabilidad de aceptacin binomial multiplicada por la fraccin defectiva. En Excel
Insertar funcin (Fx); Estadsticas; seleccionar la funcin =distr.binom(c, n, p, 1) y
multiplicar por p.

Fraccin defectiva
en el lote (p)
AOQ = Pa x p
c = 4
AOQ = Pa x p
c = 2
AOQ = Pa x p
c = 0
0.005
0.01
0.02
0.03
0.04
0.05
0.06
0.07
0.08
0.09
0.10
Etc.

El nmero promedio de inspeccin total por lote es ATI, igual a:

) )( 1 ( n N Pa n ATI + = (1.4)

Ejemplo 1.13 Con N=10000, n=89, c=2 y p=0.01. Como Pa =
0.9397 se tiene:

Pgina 25 de 58
ATI = 89 + (1-0-9397)(10000 89) = 687

Siendo este el total de piezas que en promedio se
inspeccionarn por lote, algunas por el cliente (n) y otras
por el proveedor (N-n) en base al plan de muestreo.

Las curvas ATI para diferentes tamaos de lote se muestra a
continuacin, para n = 89 y c = 2:

p Pa ATI-N=1000 ATI-N=5000 ATI-N=10000
0.005 0.98968755 92.39464177 139.644441 191.20669
0.01 0.939689918 143.9424844 385.1828112 686.7332196
0.02 0.736577576 322.9778285 1382.667526 2699.779647
0.03 0.498482838 545.8821346 2551.950783 5059.536593
0.04 0.304158359 722.9117347 3506.278297 6985.486501
0.05 0.172076864 843.2379767 4154.93052 8294.546199
0.06 0.091869347 916.3070247 4542.829636 9089.4829
0.07 0.046819851 951.3471157 4770.067712 9535.968456
0.08 0.022955079 979.0879231 4881.267607 9772.492212
0.09 0.010886432 990.0824602 4946.536731 9892.104569

Fig. 1.13 Curvas de nmero de muestras inspeccionadas
promedio por el cliente y por el proveedor

1.3 MUESTREO DOBLE, MLTIPLE Y SECUENCIAL
ATI
p
N=10,000
N=5,000
N=1,000
10,000
ATI
p
N=10,000
N=5,000
N=1,000
10,000
Pgina 26 de 58

Estos tipos de muestreo son extensiones del muestreo simple, se pueden disear
curvas OC equivalentes.

1.3.1 PLANES DE MUESTREO DOBLE

Un plan de muestreo doble es un procedimiento en el cual, bajo ciertas
circunstancias, se requiere una segunda muestra para calificar el lote. El plan se
define por los parmetros siguientes:

n
1
= tamao de muestra en la primera muestra.
c
1
= criterio de aceptacin en la primera muestra.
n
2
= tamao de muestra en la segunda muestra.
c
2
= criterio de aceptacin en la segunda muestra.

Al aplicar el plan el nmero de defectivos observados en la primera muestra es d
1

y los defectivos observados en la segunda muestra es d
2.

defectuosas, tomar 10 muestras de 20 fichas en una o dos muestras como sigue.

Tomar una muestra y anotar los productos defectuosos d1, si d1 es menor o igual a c1 = 2
se acepta el lote. Si d1 es mayor o igual a c2 = 4 rechazar el lote. Continuar con otro lote.

En caso de que los defectuosos d1 sean 2 o 3 todava no aceptar ni rechazar el lote,
tomar una segunda muestra y anotar los defectuosos encontrados como d2.

Si d1 ms d2 es menor o igual que c2 = 4 aceptar el lote. Si d1 ms d2 exceden a c2 =4
rechazar el lote.

Anotar los hallazgos en la tabla siguiente:

Muestras de 20
partes, tomar
una o dos segn
se requiera
d1 =
Defectuosas
En la primera
muestra
d2 =
Defectuosas
En la
segunda
muestra
Lote
aceptado
(X)
Lote
rechazado
(Y)
1
Pgina 27 de 58
2
3
4
5
6
7
8
9
10
Totales Porcentaje
rechazado

Suponiendo que:
n
1
= 50
c
1
= 1
n
2
= 100
c
2
= 3

Fig. 1.14 Operacin del muestreo doble

En la primera muestra de n=50 artculos, se acepta el lote si el total de defectivos
d
1
<= c
1
=1, rechazndose si d
1
>c
2
=3.
Inspeccionar 1a.
Muestra con n1=50
d1 = # de defectivos
Inspeccionar 2a.
Muestra con n2=50
Si
d1<=c1=1
Aceptar lote
Si
d1 > c2 = 3
Rechazar lote
Si d1 + d2
<= c2 =3
Aceptar lote
Si d1+d2 > c2
Con c2 = 3
Rechazar lote
1< d1 <= 3
Inspeccionar 1a.
Muestra con n1=50
Inspeccionar 2a.
Muestra con n2=50
Si
d1<=c1=1
Aceptar lote
Si
d1 > c2 = 3
Rechazar lote
Si d1 + d2
<= c2 =3
Aceptar lote
Si d1+d2 > c2
Con c2 = 3
Rechazar lote
1< d1 <= 3
Pgina 28 de 58

Si d
1
es igual a 2 o a 3, se toma una segunda muestra de 100 artculos, se
inspecciona y se determina el nmero de defectivos d
2
.
Se acepta el lote si [d
1
+d
2
<= c
2
=3] y se rechaza en caso contrario.

En ambas muestras la primera y segunda, la inspeccin se continua hasta
inspeccionar todos los artculos, por eso se denomina inspeccin completa, el
nmero promedio de artculos inspeccionados por muestra ASN es,
) 1 (
1 2 1
P n n ASN + = (1.5)

donde P
1
es la probabilidad de tomar una decisin en la primera muestra o sea:
P
1
=P{el lote se acepta en la primera muestra} + P{el lote es rechazado en la
primera muestra}

Si por el contrario la inspeccin de los artculos se suspende cuando se encuentra
un nmero de defectivos mayor al criterio de aceptacin c
2
y no se inspeccionan
todos los artculos, el mtodo se denomina inspeccin recortada, el
comportamiento de ambos esquemas se muestra a continuacin,

Fig. 1.14 Diferencias en muestras inspeccionadas por el
cliente promedio con inspeccin completa y recortada

60
90
120
ASN
p
0.02 0.04 0.06 0.08 0.10 0.12
Inspeccin
simple
Inspeccin doble
completa
Inspeccin
recortada
Plan: n1=60, n2=120, c1=2, c2=3
60
90
120
ASN
p
0.02 0.04 0.06 0.08 0.10 0.12
Inspeccin
simple
Inspeccin doble
completa
Inspeccin
recortada
Plan: n1=60, n2=120, c1=2, c2=3
Pgina 29 de 58
Por tanto el muestreo doble es ms econmico que el simple slo para ciertos
valores de p, ya que si p tiene valores intermedios el ASN es mayor implicando
mayores costos de inspeccin.

La inspeccin recortada si es ms econmica sin embargo proporciona menos
informacin acerca del lote.

CURVA CARACTERSTICA DE OPERACIN

Del ejemplo anterior, si Pa es la probabilidad de aceptacin, esta se forma con la
probabilidad de aceptacin en la primera muestra ms la probabilidad de
aceptacin en la segunda muestra ya sea usando la distribucin binomial o la de
Poisson. O sea:

II
a
I
a a
P P P + = (1.6)
) 1 (
1 1
n d P P
I
a
s = (1.7)
) 0 ( ) 3 ( ) 1 ( ) 2 (
2 2 1 1 2 2 1 1
n d xP n d P n d xP n d P P
II
a
= = + s = = (1.8)
Prob.de decidir
p Pa (1 muestra) Pa (2 muestra) Pa total en 1 muestra
0.005 0.973868476 0.023086044 0.99695452 0.975541743
0.01 0.910564687 0.060110197 0.970674884 0.928938723
0.02 0.735771394 0.082974214 0.818745608 0.876809831
0.03 0.555279873 0.055742128 0.611022002 0.908030663
0.04 0.400481197 0.027184125 0.427665321 0.971005627
0.05 0.279431752 0.01098373 0.290415482 1.021593093
0.06 0.190003258 0.003907151 0.193910409 1.04698017
0.07 0.126493499 0.001264661 0.12775816 1.052081017
0.08 0.082712023 0.00037995 0.083091973 1.046006124
0.09 0.053238461 0.000107325 0.053345786 1.035937851

Pgina 30 de 58

Fig. 1.15 Curva caracterstica de operacin bajo muestreo
doble

INSPECCIN RECTIFICADORA

Cuando se usa el esquema de inspeccin rectificadora, la curva AOQ est dada
por,

N
p n n N P n N P
AOQ
II
a
I
a
)} ( ) ( {
2 1 1
+
= (1.9)

Asumiendo que todos los defectivos son remplazados por artculos buenos en los
lotes rechazados, la curva de inspeccin total promedio es,

) 1 ( ) (
2 1 a
II
a
I
a
P N P n n nP ATI + + + = (1.10)
donde
II
a
I
a a
P P P + =

1.3.2 PLANES DE MUESTREO MLTIPLE

Pa
p
Probabilidad de rechazo
con Primera muestra
Probabilidad de
Aceptacin con
Primera muestra
Probabilidad de
Aceptacin con
Muestras combinadas
Pa
p
Probabilidad de rechazo
con Primera muestra
Probabilidad de
Aceptacin con
Primera muestra
Probabilidad de
Aceptacin con
Muestras combinadas
Pgina 31 de 58
Un muestreo mltiple es una extensin del doble, donde pueden requerirse ms
de dos muestras para calificar el lote, por ejemplo un plan de 5 etapas es el
siguiente:

Muestra acumulada Nmero de aceptacin No. Rechazo
20 0 3
40 1 4
60 3 5
80 5 7
100 8 9

Al terminar cada etapa de muestreo, si el nmero de defectivos es menor o igual al
nmero de aceptacin, se acepta el lote. Si en cualquier etapa el nmero de
defectivos acumulado excede el nmero de rechazo, se rechaza el lote, de otra
forma se sigue tomando una siguiente muestra.

Una ventaja que tiene es que el tamao de muestra es ms pequeo que en el
caso del simple o del doble, con una mejor eficiencia de inspeccin. Sin embargo
es ms complejo de administrar.

1.3.3 MUESTREO SECUENCIAL

Es una extensin de los planes anteriores, aqu se toma una secuencia de
muestras del lote, cuya magnitud ser determinada por los resultados del proceso
de muestreo. Si el tamao del subgrupo inspeccionado en cada etapa es mayor
que uno, se denomina muestreo secuencial de grupo, si es uno, como es nuestro
caso, se denomina muestreo secuencial artculo por artculo.

En este caso se tienen 2 lneas, una de aceptacin y otra de rechazo, teniendo
como dato las coordenadas de la curva OC (p
1
, 1-o) y (p
2
, |).

Pgina 32 de 58
En este caso no se puede tomar una decisin de aceptacin hasta que hayan
transcurrido las suficientes muestras, que hagan que la lnea de aceptacin tenga
valores positivos en Xa, 44 en este caso, y no se puede rechazar hasta en la 2.
Muestra.

Fig. 1.16 Operacin del muestreo secuencial

1.4 TABLAS DE MUESTREO MIL-STD-105E (ANS Z1.4, ISO 2859)

DESCRIPCIN DE LA NORMA

Esta norma se desarroll durante la segunda guerra mundial emitindose en 1950
con la versin A. La versin D se public en 1963 y en 1971 fue adoptada por la
ANSI con pequeos cambios como la Z1.4 y en 1973 fue adoptada por la ISO
como la norma ISO 2859. En 1989 se liber la versin E.

La norma proporciona tres tipos de muestreo (con curvas OC equivalentes):
- Muestreo simple.
- Muestreo doble.
7
6
5
4
3
2
1
0
-1
-2
No.de
Defectivos
10 20 30 40
Rechazar
Aceptar
Continuar
Xa
Xb
-h1
h2
7
6
5
4
3
2
1
0
-1
-2
No.de
Defectivos
10 20 30 40
Rechazar
Aceptar
Continuar
Xa
Xb
-h1
h2
Pgina 33 de 58
- Muestreo mltiple

En cada uno de los casos se prevn los siguientes tipos de inspecciones:

- Inspeccin normal.
- Inspeccin estricta.
- Inspeccin reducida.

Se inicia con la inspeccin normal, se pasa a estricta cuando se observa mala
calidad del proveedor y se usa la reducida cuando la calidad del proveedor es
buena, reduciendo los tamaos de muestra.

El punto focal de la norma es el AQL (nivel de calidad aceptable entre 0.1% y
10%), negociado entre cliente y proveedor. Los valores tpicos de AQL para
defectos mayores es de 1%, 2.5% para defectos menores y 0.65% para defectos
crticos. Cuando se utiliza para planes de defectos por unidad se tienen 10 rangos
adicionales de AQLs hasta llegar a 1000 defectos por cada 100 unidades, los
niveles pequeos de AQL se pueden utilizar tanto para controlar fraccin
defectiva como defectos por unidad.

El tamao de muestra en el estndar est determinado por el tamao del lote y
por la seleccin del nivel de inspeccin.

Se proporcionan tres niveles de inspeccin, donde el nivel II se considera normal;
el nivel I requiere alrededor de la mitad de la inspeccin del nivel II y se usa
cuando se requiere menos discriminacin; el nivel III requiere alrededor del doble
de inspeccin del nivel II, y se usa cuando se requiere ms discriminacin.

Hay tambin cuatro niveles especiales de inspeccin, S-1, S-2, S-3 y S-4, estos
usan tamaos de muestra muy pequeos y slo deben usarse cuando los riesgos
Pgina 34 de 58
grandes del muestreo sean aceptables, el nivel S4 se utiliza en pruebas
destructivas.

Para un AQL especfico, un nivel de inspeccin y un tamao de lote dado, el
estndar MIL-STD-105E proporciona un plan de muestreo normal que se utilizar
conforme el proveedor produzca productos con calidad AQL o mejor. Tambin
proporciona un mecanismo de cambio a inspeccin estricta o reducida como se
ilustra en la figura y se describe a continuacin.

1. Normal a estricta. Cuando se tiene inspeccin normal, la inspeccin estricta
se instituye cuando cundo dos de cinco lotes consecutivos han sido
rechazados.

2. Estricta a normal. Cuando se tiene inspeccin estricta, la inspeccin normal
se instituye cuando cinco lotes consecutivos son aceptados.

3. Normal a reducida. Cuando se tiene inspeccin normal, la inspeccin
reducida se instituye cuando se cumple con todas las condiciones siguientes:

a. Diez lotes consecutivos han sido aceptados con inspeccin normal.
b. El nmero total de defectivos en las muestras de los diez lotes
precedentes es menor o igual a el nmero lmite aplicable del estndar.
c. La produccin de lotes ha sido continua sin interrupciones mayores.
d. La inspeccin reducida se considera adecuada por la funcin
responsable de la inspeccin por muestreo.

4. Reducida a normal. Cuando se tiene inspeccin reducida, la inspeccin
normal se instituye cuando se cumple cualquiera de las condiciones
siguientes:

a. Un lote es rechazado.
Pgina 35 de 58
b. Cuando el procedimiento de muestreo termina sin decisin de aceptacin
o rechazo, el lote se acepta pero se cambia a inspeccin normal en el
prximo lote.
c. La produccin es irregular o se retarda en entregas.
d. Otras condiciones que fuercen a cambiar a la inspeccin normal.

5. La Inspeccin se descontina. Cuando diez lotes se acepten con
inspeccin estricta y el proveedor tome acciones para mejorar su calidad.

10 lotes OK 2 lotes rechazados
de 5 recibidos
1 lote rechazado 10 lotes
aceptados

Fig. 1.17 Reglas de cambio de planes de inspeccin

PROCEDIMIENTO

Los pasos a seguir para el uso de las normas es el siguiente:

1. Negociacin del AQL Nivel de calidad aceptable (cliente proveedor).
2. Decisin del nivel de inspeccin.
3. Determinacin del tamao del lote.
4. Consultar la tabla 1 (ver apndice) y localizar la letra cdigo correspondiente
al tamao del lote y el nivel de inspeccin.
5. Decisin en cuanto al procedimiento de muestreo a utilizar (simple, doble,
mltiple).
6. Uso de la tabla correcta para encontrar el tipo de plan a utilizar (las tablas se
encuentran en el apndice).
Inspeccin
normal
Inspeccin
estricta
Inspeccin
reducida
Pgina 36 de 58
7. Uso de la tablas para inspeccin reducida y estricta, cuando se requieran
hacer cambios.

Ejemplo 1.15 Si N= 2,000 y AQL= 0.65% usando el nivel II de
inspeccin:

1. La tabla I indica la letra cdigo K.

2. La tabla II-A para inspeccin normal indica el plan de
muestreo n=125 y c=2.

3. La tabla II-B para inspeccin estricta indica el plan de
muestreo n= 125, c=1.

4. La tabla IIC para inspeccin reducida indica el plan de
muestreo n = 50, Aceptar = 1, Rechazar = 3

La flecha descendente cambia el plan, la letra de cdigo y
el tamao de muestra, lo mismo para la ascendente. Por
ejemplo, un AQL de 1.5% y letra F ser cambiado a letra G
con tamao de muestra 32 en lugar de 20.

Para el caso de muestreo doble con los datos anteriores, la
letra cdigo es K y de las III-A, III-B y III-C se obtienen
los planes siguientes:

Inspeccin normal (n
1
= n
2
=80, c
1a
=0, c
ir
=3, c
2a
=3),
Estricta (mismas que n
1
y n
2
, c
1a
=0, c
ir
=2, , c
2a
=1, c
2r
=2)
y Reducida (n
1
= n
2
=32, c
1a
= c
2a
=0, c
2r
=3, c
2r
=4).

Comprobar lo anterior.

DISCUSIN

El estndar MIL-STD-105E est orientado al AQL, se enfoca al lado de riesgo del
productor de la curva OC, la parte restante de la curva depende de la seleccin
del nivel de inspeccin. Los tamaos de muestra seleccionados son 2, 3, 5, 8, 13,
20, 32, 50, 80, 125, 200, 315, 500, 800, 1250 y 2000.

Pgina 37 de 58
El estndar civil ANSI/ASQC Z1.4 o ISO 2859 es la contraparte del estndar MIL-
STD-105E, difiriendo en que:

1. Se usa el trmino No conforme o no conformancia o porcentaje no
conforme.
2. Cambian ligeramente las reglas de cambio agregndose una opcin para
inspeccin reducida sin el uso de nmeros lmite.
3. Se agregan varias tablas que muestran el desempeo de los planes, como el
AOQL, fracciones defectivas para Pa = 0.1 y Pa = 0.95, curvas de ASN y OC.
4. Hay una descripcin detallada de los planes de muestreo simples.
5. Se proporciona un esquema ilustrando las reglas de cambio en inspeccin.

Pgina 38 de 58
2. MUESTREO DE ACEPTACIN POR VARIABLES

2.1 VENTAJAS Y DESVENTAJAS

La principal ventaja del muestreo por variables es que se puede obtener la misma
curva caracterstica de operacin con tamao de muestra menor que el que
requerira un plan por atributos. Otra ventaja es que los datos por variables
proporcionan ms informacin del proceso que los atributos. Cuando los AQLs son
muy pequeos (del orden de ppm), el tamao de muestra requerido en el caso de
muestreo por atributos es muy grande y por variables muy pequeo. Cuando la
inspeccin es del tipo destructivo, los planes por variables si se aplican son ms
econmicos.

Como desventajas se tienen el probable alto costo de las mediciones versus
juzgar por atributos, a pesar de que el tamao de muestra sea menor y que es
necesario un plan de muestreo para cada caracterstica importante del producto.
Otra desventaja es que se utiliza un plan de muestreo por cada caracterstica
inspeccionada.

Se debe conocer la distribucin de la caracterstica de calidad, la cual debe ser
normal ya que de otra forma se pueden cometer errores en la aplicacin del
plan de muestreo por variables. Esto es ms crtico cuando las fracciones
defectivas son muy pequeas.

Los planes especifican el nmero de artculos a muestrear en los cuales se hacen
mediciones en la caracterstica de calidad seleccionada, y el criterio de aceptacin
de esos lotes.

Pgina 39 de 58
Una comparacin entre los diferentes tipos de muestreo se da a continuacin,
considerando una p
1
= 0.01, p
2
= 0.08, o = 0.05 y | = 0.10:

Tipo de muestreo n ASN
1. Muestreo simple por atributos

2. Muestreo doble por atributos

3. Muestreo mltiple por atributos

6. Muestreo simple por variables,
sigma desconocida, mtodo de s

1. Muestreo simple por variables
Sigma conocida
n = 61.

ASN en p
1
= 45

ASN en p
1
= 41

n=27

n=10

Como se observa, si la distribucin es normal y la desviacin estndar es
conocida, el costo de muestreo por variables es menor.

TIPOS DE PLANES DE MUESTREO

Existen dos tipos de planes de muestreo por variables, los que controlan la
fraccin defectuosa del lote y los que controlan un parmetro del proceso tal como
la media.

2.1 MTODO DE CONTROL DE LA FRACCIN DEFECTIVA

Como la caracterstica de calidad es una variable, siempre existir ya sea un lmite
de especificacin inferior (LIE), lmite de especificacin superior (LSE) o ambos,
que definan los valores aceptables de esa caracterstica.

Pgina 40 de 58
Considerando una caracterstica de calidad X normalmente distribuida y un lmite
inferior de especificaciones LIE, la fraccin defectiva p es funcin de la media del
lote y su desviacin estndar o.

Asumiendo que la desviacin estndar o del proceso es conocida, se desea tomar
una muestra del lote para determinar si o no el valor de la media es tal que la
fraccin defectiva p es aceptable. Para esto se tienen dos mtodos.

p o

LIE
__
X x
Fig. 2.1 Bases del muestreo por variables

Procedimiento 1.

Tomando una muestra aleatoria de n artculos del lote y calculando el estadstico

o
LIE X
Z
LIE

= (2.1)

Z
LIE
expresa justamente la distancia entre la media X de la muestra y el lmite
inferior de especificacin LIE, entre mayor sea su valor, la media X de la muestra
estar ms alejada del LIE y en consecuencia menor ser la fraccin defectiva p.

Si hay un valor crtico p que no deba ser excedido con una probabilidad
establecida, se puede traducir el valor de p en una distancia crtica por decir k
para Z
LIE.
De esta forma si Z
LIE
<= k, se aceptar el lote ya que automticamente
la fraccin defectiva p es satisfactoria, en caso contrario la fraccin defectiva p es
mayor que la aceptable y se rechazar el lote.
Pgina 41 de 58

Fig. 2.2 Muestreo por variables Procedimiento 1 (K)

Fig. 2.3 Curva caracterstica de operacin (OC) y plan de
muestreo para el procedimiento 1 en base a K

Ejemplo 2.1 Si =100, o =10 y LIE= 82:

8 . 1
10
100 82
=
=
o
LIE X
Z
LIE

1.05 1.1 1.15 1.2 1.25 1.3 Dimensin X
Posicin de la media en
Relacin con el lmite de
Especificacin inferior LIE
LIE
Z
Z = (LIE-Xm)/s
Conforme se
Recorre a la
derecha la fraccin
defectiva disminuye
1.05 1.1 1.15 1.2 1.25 1.3 Dimensin X
Posicin de la media en
Relacin con el lmite de
Especificacin inferior LIE
LIE
Z
Z = (LIE-Xm)/s
Conforme se
Recorre a la
derecha la fraccin
defectiva disminuye
El lote se acepta si |Z| >= k es lo minimo que puede valer Z, porque
en el momento mas pequeo es mas se acerca al limite de aceptacin
0.05 0.1 0.15 0.2 0.25 0.3 p Prov.
Pa
1
0.8
0.5
0.3
0.1
Operacin dado una
Tamao de muestra n
y un criterio de aceptacin k
Pgina 42 de 58
Donde u(-1.8) = 0.0359 o sea el 3.59% defectuoso.

Se sigue el mismo procedimiento para el caso de tener un lmite superior de
especificacin unilateral LSE.

o
X LSE
Z
LSE

= (2.2)

Cuando se tiene un solo lmite de especificacin, la relacin entre Z y la fraccin
defectiva (p) es:

p Z
s
Z
i

0.25
0.20
0.15
0.10
0.05
0.02
0.01
0.6745
0.8416
1.0364
1.2816
1.6449
2.0537
2.3263

Procedimiento 2.

A partir de una muestra sencilla de tamao n del lote, se calcula Z
LIE
o
) 1 /( = n n Z Q
LIE LIE
(ms exacto) y se estima la fraccin defectiva p como el rea
bajo la curva normal debajo de Z
LIE
, si esta fraccin estimada p, excede un valor
mximo M, se rechaza el lote, de otra forma se acepta.

Pgina 43 de 58

Fig. 2.4 Muestreo por variables Procedimiento 2 (M)

Fig. 2.5 Curva caracterstica de operacin (OC) y plan de
muestreo para el procedimiento 2 en base a M
LIE
Qi
Qs
LSE
P(Qi) P(Qs)
X
s
Aceptar el lote
Si P(Qtot) <= M
LIE
Qi
Qs
LSE
P(Qi) P(Qs)
X
s
Aceptar el lote
Si P(Qtot) <= M
0.05 0.1 0.15 0.2 0.25 0.3 p Prov.
Pa
1
0.8
0.5
0.3
0.1
Operacin dado una
Tamao de muestra n
y un criterio de aceptacin M
0.05 0.1 0.15 0.2 0.25 0.3 p Prov.
Pa
1
0.8
0.5
0.3
0.1
Operacin dado una
Tamao de muestra n
y un criterio de aceptacin M
Pgina 44 de 58
Para el caso de lmites bilaterales se calculan ambos Q
LIE
y Q
LSE
.

) 1 /(
= n n
LIE X
Q
LIE
o
(2.3)
) 1 /(
= n n
X LSE
Q
LSE
o

Se estiman las fracciones defectivas P(Q
LIE
) y P(Q
LSE
) de la tabla mostrada en el
apndice para estimar las fracciones defectivas p
I
y p
S
, si la suma de ambas
fracciones defectivas no excede al valor mximo permitido M se acepta el lote, en
caso contrario se rechaza el lote.

Cuando la desviacin estndar o es desconocida, se puede estimar de la
desviacin estndar de la muestra s, remplazando en las frmulas anteriores a o
por s.

2.2 TABLAS ASQC Z1.9 1993 DE MUESTREO POR VARIABLES

Originalmente se emitieron las tablas MIL-STD-414 sin embargo posteriormente
fueron homologadas con las tablas MIL-STD-105E (incluyendo inspeccin normal,
reducida y estricta y concordancia en las letras cdigo de los planes para cada
AQL) para su uso en la industria dando lugar a las tablas Z1.9 de la ASQC.

Se enfoca al AQL (entre 0.1% a 10%) con cinco niveles generales de inspeccin
(el normal es el II), el nivel III tiene una curva ms abrupta que el nivel II. Se
pueden usar niveles ms bajos (S3 S4) para reducir costos muestrales si se
toleran riesgos mayores.

Tiene la siguiente organizacin:

Pgina 45 de 58

Variabilidad Variabilidad
Desconocida Conocida
Mtodo de S

Especificacin Especificaciones
Unilateral Bilaterales

Procedimiento 1 Procedimiento 2 Procedimiento 2
(Mtodo de k) (Mtodo de M) (Mtodo de M)

Fig. 2.6 Organizacin de las tablas de muestreo por variables

Tienen 4 secciones:

A. Descripcin general, con definicin de trminos, cdigo de letras de tamao de
muestra, y curvas OC de los planes.
B. Planes basados en la desviacin estndar de la muestra con sigma del
proceso desconocida.
C. Planes basados en la amplitud de la muestra con sigma desconocida (ya
descontinuado).
D. Planes basados en la media de la muestra cuando se conoce la sigma del
proceso.

2.3 USO DE LAS TABLAS

Las tablas se encuentran en el apndice y su uso se ilustra con un ejemplo:

Ejemplo 2.2 Para el caso del embotellador: Si el lmite
inferior LIE = 225 psi, suponiendo que el nivel de calidad
aceptable en este lmite es AQL = 1% y que las botellas se
Pgina 46 de 58
embarcan en lotes de N = 100,000, con sigma desconocida se
tiene:

Procedimiento 1.
1. En la tabla A-2 se identifica el cdigo de letra, en este
caso, la N:
2. En la tabla B-1 se determina la n y k en este caso con la
letra N y AQL= 1.00 negociado entre proveedor y cliente,
se obtiene k = 2.03. Para el caso de inspeccin severa
(escala inferior) k = 2.12. Para el caso de inspeccin
reducida k = 1.8 de la tabla B-2.
3. En la tabla B-3 se determina M en el rengln de N y
columna de AQL= 1% obtenindose M= 2.05%. Para inspeccin
severa M = 1.42%. Para inspeccin reducida, de la tabla B-
4 se obtiene k = 3.44%.
4. La inspeccin estricta se usa cuando 2 de 5 lotes han
sido rechazados
5. La inspeccin reducida se usa cuando los 10 lotes
anteriores se han aceptado y su fraccin defectiva estimada
es menor que un lmite inferior especificado y la produccin
es estable.

Nota:
Es posible pasar de planes de muestreo con sigma desconocida a planes con
sigma conocida con menor n si se demuestra estabilidad en una grfica X -s para
los lotes (al menos para 30). Los planes especficos para este tipo de planes se
deben consultar en el estndar.

Pgina 47 de 58
EJEMPLOS TOMADOS DEL ESTANDAR Z1.9-1993

2.3.1 VARIABILIDAD DESCONOCIDA MTODO DE LA
DESVIACIN ESTNDAR

B1. Plan de muestreo para lmite especificacin unilateral. Procedimiento 1

a) De la tabla A
2
seleccionar la letra cdigo de funcin del tamao del lote y el
nivel de inspeccin.
b) Usar tablas B
1
(normal y estricta) y B
2
(reducida) para obtener el plan.
n - tamao de muestra.
K - constante de aceptabilidad
c) Obtener mediciones de muestras , calcularX y s.
d) Criterio de aceptacin.
LSE - Lmite superior de especificacin.
LIE - Lmite inferior de especificacin.

Comparar (LSE X) / s (X LIE) / s con k.

Si es mayor o igual se acepta el lote, en caso contrario se rechaza.

Ejemplo 2.3 La mxima temperatura de operacin es de 209F.
Un lote de 40 artculos se inspecciona, tomando AQL = 1%,
nivel II.

Solucin.
a) De tabla A
2
, se selecciona la letra D.
b) De la tabla B
1
, n = 5, k= 1.52
c) Suponiendo lecturas 197, 188, 184, 205 y 201.
X= 195 , s = 2.8
d) ( LSE - X ) / s = (209 195) / 2.8 = 1.59
Pgina 48 de 58
e) 1.59 > k por tanto se acepta el lote.

B5- Usando el procedimiento 2

a) Usar tablas B
3
( normal y estricta) y B
4
(reducida) y obtener el plan de
inspeccin, n y M Porcentaje mximo de no conformes.
b) Obtener mediciones de muestras, calculandoX y s.
c) Criterio de aceptacin.
Calcular el ndice de calidad Q
S
= (LSE - X ) / s
Q
I
= (X LIE ) / s
En tabla B
5
entrar con Q
U
o Q
L
para encontrar porcentaje estimado no conforme
P
S
o P
I
.

Comparar P
S
o P
I
con M , si es igual o menor se acepta el lote, se rechaza en
caso contrario.

Ejemplo 2.4 De lo anterior; X = 195 ; s = 2.8
a) De la tabla B
3
se obtiene M = 3.33% para letra D, n = 5 y
AQL = 1%.
b) De la taba B
5
con Q
S
= 1.59 se obtiene P
S
= 2.19%
c) Como P
S
s M se acepta el lote.

B2. Plan de muestreo para doble lmite de especificacin.

a) Determinar la letra cdigo de la tabla A2, en base a nivel de inspeccin.
b) Obtener el plan n y M de tabla B3 y B4. Si se especifican diferentes AQLs
para cada lmite de especificacin, obtener el porcentaje mximo no conforme
para cada lmite M
I
y M
S
. Si se asigna el mismo AQL a ambos lmites,
designar el nivel mximo de porcentaje no conforme por M.
c) Obtener mediciones del muestreo.
d) Calcular los ndices de Calidad Q
S
= (LSE - X ) / s y Q
L
=( X LIE ) /s
Pgina 49 de 58
e) De tabla B5 encontrar P
I
y P
S
en base a Q
U
y Q
L
y el tamao de muestra n.
P
estimada
= P
I
+ P
S
f) Comparar P
est.
Con M, si es menor o igual se acepta el lote, en caso contrario
se rechaza.

Nota: Cuando hay diferente AQL para cada lmite:
Aceptar si P
I
s M
I
y P
S
s M
S
y P = P
I +
P
S
s mayor (M
S
,

M
I
)

Ejemplo 2.5 Se inspecciona un lote de 40 muestras con nivel
de inspeccin II, inspeccin normal y en base a temperaturas
de los ejemplos anteriores, n = 5,
_
X = 195; s= 2.8;
considerando LIE= 180F; LSE= 209F; AQL= 1% donde de tabla
B-3 M = 3.32%

Q
S
= =
8 . 8
180 209
1.59 ; P
S
= 2.19% (de tabla B-5)
Q
I
= =
8 . 8
180 195
1.704; P
I
= 0.66% (de tabla B-5) por tanto la
fraccin defectiva total es de
p = 2.85%

Como P < M se acepta el lote.

Ejemplo 2.6 Si el AQL
S
= 1% y AQL
I
= 2.55% de tabla B3, M
S
=
3.32% , M
I
=9.8%
a) P
S
= 2.19% ; P
I
= 0.66% P = 2.85%
b) Comparando P
S
s M
S
; P
I
s M
I
y P s M
I

Se acepta el lote.

Pgina 50 de 58
2.3.2 VARIABILIDAD CONOCIDA

D.1 Slo un lmite de especificacin. Procedimiento 1.
Usar tabla D1 y D2 para obtener n y k

Ejemplo 2.7 Se toma un lote de 500 artculos para
inspeccin. LIE= 58,000 psi. N= 500, nivel II, inspeccin
Normal. AQL= 1.5%. La variabilidad o es conocida con valor
3,000 psi

a) de tabla A2, se identifica la letra I y de tabla D1
obtenemos n = 10
Valores de muestra 62,500; 60,500; 68,000; 59,000; 65,500
62,000; 61,000; 96,000; 58,000; 64,500.
a) Clculo de X= 63,000 ; ( X LIE) / o = 1.67
b) De tabla D1 ; k = 1.7
c) Comparando ( X LIE)/ o < k y el lote se rechaza.

D.5 Usando la el procedimiento 2.
a) Usar tablas D3 y D4 obteniendo n, M y V
b) Calcular Q
S
= (LSE - X) V / o y Q
L
=( X LIE) V / o
c) Usando tabla D5 estimar P
S
y P
I

d) Comparar D= P
S
+ P
I
s M para aceptabilidad

Ejemplo 2.8 Sea LIE= 58,000 psi; tamao del lote 500
artculos;AQL = 1.5%; Inspeccin nivel II, normal. De los
datos anteriores se obtuvo
_
X = 63,000; n = 10 ; o = 3,000.
De tabla A-2 se obtiene la letra I.
a) Obtencin en tabla D3 de n, M y V como 10, 3.63%, 1.054
respectivamente.
Pgina 51 de 58
b) Clculo de Q
L
=(63,000 - 58,000) * 1.054 / 3,000 = 1.756
c) Determinar P
L
de tabla D5 con Q
L
= 1.756 es 3.92%
Como P
L
> M se rechaza el lote.

D9. Plan de muestreo para doble lmite de especificacin

a) Determinar la letra cdigo de la tabla A2, en base a nivel de inspeccin.
b) Obtener el plan n, el factor v y el porcentaje mximo aceptable M de tabla D3 y
D4. Si se especifican diferentes AQLs para cada lmite de especificacin,
obtener el porcentaje mximo no conforme para cada lmite M
I
y M
S
. Si se
asigna el mismo AQL a ambos lmites, designar el nivel mximo de porcentaje
no conforme por M.
c) Obtener mediciones del muestreo en n partes.
d) Calcular la media de los datos.
e) Calcular los Indices de Calidad Q
S
= (LSE - X ) v / o y Q
L
=( X LIE ) v / o
f) De tabla D-5 encontrar P
I
y P
S
en base a Q
U
y Q
L
y el tamao de muestra n.
P
estimada
= P
I
+ P
S

Ejemplo 2.9 La especificacin para una colada de acero es de
67,000 y 58,000 psi respectivamente. Un lote de 500 artculos
se somete a inspeccin. El nivel de inspeccin es II,
inspeccin normal con AQL = 1.5%. La variabilidad o conocida
con valor 3,000 psi.

a) De tabla D-3 se obtuvo n = 10, v = 1.054, M = 3.63%
b) De las mediciones de las 10 muestras se obtuvo 000 , 63
_
= X
c) Los ndices Q
S
con Q
L
son respectivamente 2.459 y 3.162 con
fracciones estimadas defectuosas 0.697% y 0.078% de la
tabla D-5.
d) Como la fraccin defectiva total no excede el valor de M =
3.63%, se acepta el lote.

Pgina 52 de 58
NOTA: Comparar P
estimada
con M, si es menor o igual se acepta el lote, en caso
contrario se rechaza.

Una consideracin muy importante en el uso de las normas es que la
poblacin de donde se obtienen las muestras debe ser normal. Es ms
crtico para pequeos valores de AQL.

La ventaja de la norma Z1.4 es que se puede iniciar con un esquema de
muestreo por atributos con la MIL-STD-105E, obtener informacin suficiente y
despus cambiar a un esquema por variables manteniendo la misma combinacin
de letra para el AQL.

Es muy importante una prueba de normalidad a partir de los datos variables
de cada lote.

Pgina 53 de 58
2.5 OTROS PROCEDIMIENTOS DE MUESTREO POR VARIABLES

2.4.1 ASEGURAMIENTO DE LA MEDIA DEL PROCESO

Los planes de muestreo por variables tambin pueden utilizarse para asegurar la
calidad media de un material en lugar de su fraccin defectiva. El mtodo
general que aqu se emplea es el de prueba de hiptesis, lo cual se ilustra con un
ejemplo.

Ejemplo 2.10 Se considera aceptable un lote si tiene menos
de 0.3 ppm de emisiones de formaldedo en maderas. Se disea
un plan de muestreo con una probabilidad de aceptacin del
95% si las emisiones son en promedio de 0.3 ppm, y los lotes
con un 0.4 ppm tengan una probabilidad de aceptacin del
10%. Si por experiencia se sabe que la desviacin estndar
es 0.10 ppm, se tiene:

Si X
A
es la media muestral debajo de la cual se aceptar el
lote, est normalmente distribuida y tiene una probabilidad
de 0.95 de aceptacin, entonces,

645 . 1
1 . 0
3 . 0 3 . 0
+ =
n
X
n
X A A
o
(2.4)

En forma similar si los lotes que tienen un nivel de emisin
de 0.40 ppm tienen una probabilidad de 0.10 de aceptacin,
entonces,

282 . 1
1 . 0
4 . 0 4 . 0
=
n
X
n
X A A
o
(2.5)

resolviendo para X
A
y n se obtiene:

X
A
= 0.355 n= 9

Pgina 54 de 58
Preguntas y Ejercicios de muestreo de aceptacin

MUESTREO DE ACEPTACIN POR ATRIBUTOS

1. Explique qu es el muestreo de aceptacin.

2. El muestreo de aceptacin es una decisin intermedia entre dos extremos: cero
inspeccin o inspeccin al 100%. Explique bajo qu condiciones se recomienda
aplicar el muestreo de aceptacin.

3. Cules son las ventajas del muestreo de aceptacin sobre la inspeccin al
100%?

4. Comente de manera general en qu consisten los planes de muestreo por
atributos y por variables.

5. En qu consiste un muestreo doble?

6. Explique en forma general cmo se recomienda formar un lote que va a ser
sometido a un plan de muestreo de aceptacin.

7. Describe qu es y cul es la utilidad de la curva caracterstica de operacin de un
plan de muestreo por atributos.

8. Apoyndose en las propiedades de la curva CO, seale qu tanta influencia tiene
el tamao de lote en el tipo de calidad que acepta un plan de muestreo de
aceptacin.

9. Algunas personas tienen la costumbre de tomar un tamao de muestra igual a
cierto porcentaje del tamao de lote (10%). Con base en las propiedades de la
curva CO, es adecuada esta costumbre?

10. Comente el significado de los ndices NCA (AQL) y NCL (AOQ), su relacin con el
riesgo del productor y riesgo del consumidor.

11. Cul es el propsito de los distintos niveles de inspeccin en las tablas de MIL
STD 105E?

12. Cul es la finalidad de que un esquema de muestreo obtenido mediante las MIL
STD 105E tenga planes normal, reducido y severo o estricto?

13. Un proveedor de sbanas y un hotel han decidido evaluar el producto en lotes de
100 usando un AQL de 1% con una probabilidad de rechazo del 0.10 .
a) Use el MIL STD 105E y determine los planes de muestreo para c = 0, 1, 2 .
b) Si usted fuera el comprador, cul de los planes anteriores seleccionara?
Por qu?

14. En una empresa se ha venido aplicando un muestreo de aceptacin con base en
MIL STD 105E, usan un AQL de 1.5%. Conteste.
Pgina 55 de 58

a) Suponiendo lotes de 12 000 piezas, y usando nivel de inspeccin normal
(ll) encuentre los planes normal, reducido y severo que se aplicarn.
b) De acuerdo a lo anterior, este plan garantiza que no se acepten lotes con
un porcentaje de defectuosos mayor al 1.5%? Explique.
c) Si el tamao de lote en lugar de 12 000, fuera de 32 000, compruebe que
de acuerdo al MIL STD 105D el tamao de muestra y el nmero de
aceptacin seran los mismos. Por qu cree usted que ocurre esto?

15. Usando un MIL STD 105 D, un inspector general de servicios de administracin
necesita determinar los planes de muestreo simple para la siguiente informacin.

16. En una empresa se usa un mtodo de muestreo de aceptacin que consiste en lo
siguiente: se toma una muestra de 10% del lote, y si en la muestra se encuentra
1% o menos de piezas defectuosas entonces el lote es aceptado, en caso
contrario el lote es rechazado. Los tamaos de lote ms frecuentes son de 1 000 y
2 000 piezas, por lo tanto ( n = 100, c = 1) ( n = 200, c = 2), respectivamente. De
acuerdo a lo anterior conteste:

a) En general cul es su opinin sobre este mtodo de muestreo?
b) Construya las curvas CO que correspondan.
c) Cul es la proteccin que cada plan proporciona al nivel de calidad
aceptable que es de 1.0%? Comente los resultados obtenidos.

17. Una manufacturera automovilista est usando un plan muestral de n = 200 y c = 0
para todos los tamaos del lote. Construye las curvas CO y AOQ. Grficamente
determina el valor de AQL para o = .05 y el valor de AOQL.

18. Una de las principales firmas de computadoras usan un plan muestral de n = 50 y
c = 0 sin tomar en cuenta el tamao del lote. Construye las curvas CO y AOQ .
Grficamente determina el valor de AQL para o = .05 y el valor de AOQL.

Caso Nivel de inspeccin

Inspeccin AQL Tamao del
lote
a)
b)
c)
d)
ll
l
lll
lll
Severa
Normal
Reducida
Normal
1.5%
0.65%
0.40%
2.5%
1 400
115
160 000
27
Pgina 56 de 58
MUESTREO DE ACEPTACIN POR VARIABLES

19. Qu ventajas tiene el muestreo de aceptacin para variables respecto al de
atributos?

20. Un lote de 480 artculos es sometido a inspeccin con un nivel ll, y un NCA =
1.5%. De acuerdo a las tablas MIL STD 414 o Z1.9. Cul es el plan de muestreo
apropiado n, M? Explique.

21. Suponiendo inspeccin normal, MIL STD 414 o Z1.9, el mtodo de la desviacin
estndar y la variabilidad desconocida, adems de letra cdigo D y AQL = 2.5%, y
una especificacin de inferior de 200g.

a) Con un tamao de lote N= 40 encuentre el plan apropiado.
b) Determinar si un lote es aceptado o rechazado utilizando el mtodo 2, dado
que los resultados de la inspeccin fueron los siguientes: 204, 211, 199,
209 y 208g.

22. Para aceptar embarques de 400 bultos que deben pesar 50kg cada uno, se
establece como especificacin inferior para el peso 49.5 y como superior 50.5.

a) Si se establece un NCA = 1.0%, aplicando MIL STD 414 y nivel IV o nivel II
de la Z1.4 de inspeccin encuentre el plan apropiado (n, M).
b) De acuerdo al pan anterior, cuando se recibe un embarque, qu se hace y
cmo se decide si se rechaza o acepta el embarque.
c) Aplicando el plan se selecciona una muestra de bultos, se pesan y se
muestra que Xmedia = 49.8, y S = 0.2, se acepta o se rechaza el
embarque? Argumente.

23. Si en el problema anterior se hubiera utilizado un NCA = 4.0%.
a) Encuentre el plan de muestreo apropiado.
b) Explique en qu y por qu son diferentes los planes para NCA = 1.0% y
NCA = 4.0%.
c) Utilizando x =49.8 y S =0.2, se rechaza o se acepta el lote con el plan NCA
= 4.0%?

24. Si usted es el vendedor, cul de los dos planes anteriores preferira? Argumente
su respuesta.

MUESTREO POR ATRIBUTOS

10.1.
a) Usando Military Standars 105E, encuentre un proceso de muestreo con
muestra sencilla, fraccin defectuosa, para los lotes de aproximadamente
15 000 y un AQL de 2.5% . Use el nivel ll de inspeccin.
b) Determine los procedimientos a los que cambiar bajo inspeccin ms
severa e inspeccin reducida. Trace las curvas CO para los tres
procesos en la misma grfica.
10.2
Pgina 57 de 58
a) Una agencia militar desea un proceso de inspeccin por muestreo con un
AOL de 1.5%. Los lotes representan aproximadamente a 8 000 piezas.
Determine el proceso que adoptara al seguir a Military Standard 105E,
usando muestreo sencillo. Use nivel de inspeccin ll.
b) Encuentre los procesos a los que cambiar bajo inspeccin severa y bajo
inspeccin abreviada. Trace las curvas CO para los tres procesos en la
misma grfica.

10.3 Repita el problema 10.1 para un producto que se juzga requiere el uso de un ...

a) nivel de inspeccin lll.
b) Nivel de inspeccin l.

10.4 Repita el problema 10.2 para un producto que se juzga requiere el uso de un...

a) nivel de inspeccin lll.
b) Nivel de inspeccin l.

10.5

a) Usando la Military Standard 105E, encuentre un proceso de muestreo con:
Muestra sencilla, defectos-por-unidad, para lotes de aproximadamente 450 y
un AQL de 4 defectos por cada 100 unidades. Use nivel ll de inspeccin.

b) Encuentre los procesos a los que cambiaria a inspeccin ms severa e
inspeccin abreviada. Trace las curvas CO para los tres procesos en una
misma grfica.

10.6

a) Usando la Military Standard 105E, encuentre un proceso de muestreo por:
Muestra sencilla, defectos-por-unidad, para lotes de aproximadamente 1 000 y
un AQL de 1.5 defectos por cada 100 unidades. Use nivel ll de inspeccin.

b) Encuentre los procesos a los que cambiara a inspeccin ms severa e
inspeccin reducida. Trace las curvas CO para los tres procesos en la
misma grfica.

10.7

a) Usando la Military Satndard 105D, encuentre un proceso de muestreo por :
b) Muestra sencilla, defectos-por-unidad, para lotes de aproximadamente 35 y
un AQL de 15 defectos por cada cien unidades. Use el nivel especial de
inspeccin S-4.
c) Encuentre los procesos a los que cambiara a inspeccin ms severa e
inspeccin abreviada. Trace las curvas CO para los tres procesos en la
misma grfica.

Pgina 58 de 58
10.8 Repita el problema 10.1 para:1) un proceso de muestreo doble, y 2) un
proceso de muestreo sencillo, omitiendo el dibujo de las curvas CO.

10.9 Repita el problema 10.2 para:1) un proceso de muestreo doble, y2) un
proceso de muestreo mltiple, omitiendo el dibujo de las curvas CO.

10.10 Repita el problema 10.3 para 1) un proceso de muestreo doble, y2) un

10.11 Repita el problema 10.4 para: 1) un proceso de muestreo doble, y2) un

MUESTREO - ACEPTACION Texto

Enviado por

Dados do documento

Título original

Direitos autorais

Formatos disponíveis

Compartilhar este documento

Compartilhar ou incorporar documento

Opções de compartilhamento

Você considera este documento útil?

Este conteúdo é inapropriado?

Direitos autorais:

Formatos disponíveis

MUESTREO - ACEPTACION Texto

Enviado por

Direitos autorais:

Formatos disponíveis

MUESTREO DE ACEPTACIN P. Reyes / Sept.

Você também pode gostar