UNIVERSIDAD AUTNOMA DE ZACATECAS LABORATORIO DE PTICA Y FSICA MODERNA

CODIGO : EDICION : 01 IQ-PS-DIFRA Pag: 1 PROGRAMA: PRACTICA: INGENIERA QUMICA DIFRACCIN

1. OBJETIVO Y ALCANCE a. Medir la longitud de onda utilizando una rejilla de difraccin

2. INTRODUCCIN La difraccin es la desviacin hacia una nueva direccin de las ondas que se encuentran un objeto (una barrera o una abertura) en su camino. Es un fenmeno que sucede para todos los tipos de ondas, para que se presente el fenmeno el objeto debe de ser del mismo orden de magnitud que la longitud de onda de las ondas incidentes; cuando la longitud de onda es mucho menor que el tamao del objeto, por lo general, el fenmeno no se observa y el objeto forma una sombra definida. Los patrones de difraccin constan de bandas claras y obscuras, semejantes a los patrones de interferencia; mediante el anlisis de estos patrones podemos aprender acerca del objeto difractante: por ejemplo la difraccin de rayos X, es un mtodo importante en el estudio de la estructura de los slidos y la difraccin de rayos gama se usa para estudiar los ncleos.

3. FUNDAMENTO TERICO Y/O NORMATIVO Los modelos de difraccin simple son producidos por rendijas estrechas. Sin embargo, cualquier apertura, o coleccin de aperturas, producir un modelo de difraccin si las dimensiones de las aperturas son del mismo orden de magnitud de las longitudes de onda de la luz visible. El modelo de difraccin creado por una apertura puede ser determinado cuantitativamente usando el principio de Huygen. El tratamiento simple de cada apertura como una coleccin de puntos fuentes de luz (pequeos, estrechamente empacadas darn la mejor aproximacin al modelo de difraccin). En cualquier posicin sobre la pantalla, ser posible determinar la fase de la luz contribuida por cada punto sobre la apertura. Finalmente, use el principio de superposicin para sumar las contribuciones de todos los puntos de la apertura. De hecho puede llevar a cabo los mismos clculos sobre la pantalla para determinar el modelo de difraccin completo una tarea que consume tiempo-. En ste experimento la aproximacin ser ms cuantitativa. Puede usar sus conocimientos de modelos de difraccin formados por rendijas para entender los modelos formados por aperturas ms complicadas.

4. DESARROLLO Materiales o equipo

Banco ptico Componente sostenedor Placa de difraccin Filtro de color (cualquier color) Alfiler Fuente de luz Apertura variable Placa con ranura Papel negro
Revis Aprob Academia De Ingeniera Aplicada Fecha aplicacin

Elabor I.Q. Hctor Gerardo Garca Silva

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TCNICA DE LA PRCTICA Arme el equipo mostrado en la figura 1. Inicie con la apertura variable completamente abierta. Mire a travs del plato de difraccin el filamento de la fuente de luz, examine los modelos de difraccin formados por los modelos H, I y J.

Figura 1 Armado y posicin del equipo Mientras mira a travs del modelo H, cierre lentamente la apertura variable. Repita esto con los modelo I y J. 1. 2. Qu efecto causa el tamao de la apertura en la claridad de los modelos de difraccin? Qu efecto causa el tamao de la apertura sobre el brillo de los modelos de difraccin?

Ajuste la apertura variable para maximizar el brillo y la claridad de los modelos. Coloque un filtro de color sobre la apertura de la fuente de luz. 3. De qu manera simplifica el filtro de color los modelos de difraccin formados?

RENDIJAS CRUZADAS Examine el modelo de difraccin formado por la apertura H (la rendija cruzada). Cmo observa el modelo? Gire lentamente el plato de difraccin para tener primero una rendija vertical y luego la otra. 4. Describa el modelo de difraccin en trminos del modelo formado por cada rendija individual.

MATRIZ ALEATORIA DE APERTURAS CIRCULARES Examine el modelo de difraccin formado por la apertura I, la matriz aleatoria de aperturas circulares. El modelo es similar al formado por la difraccin a travs de una apertura circular simple. Para verificar esto, use un alfiler para formar un pequeo hoyo en una pieza de papel de construccin negro. Mire el filamento de la fuente de luz a travs de ese orificio. En el modelo formado por la matriz aleatoria, los modelos de todas las aperturas circulares se traslapan, de esta manera el modelo de difraccin es ms brillante. En la matriz aleatoria, los pequeos orificios usados son los que usted hace con el alfiler. 5. Qu efecto causa sobre el modelo de difraccin que el dimetro de los crculos sea pequeo?

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En la observacin de la difraccin de rendija simple, encontr que entre ms estrecha es la rendija, mayor es la separacin entre las franjas del modelo de difraccin. Generalmente esto es cierto. Para cualquier apertura, los efectos de difraccin son ms pronunciados en una direccin paralela con la dimensin ms pequea de la apertura. 6. Use la generalizacin anterior para explicar la simetra de los modelos de difraccin formados por una abertura circular. MATRIZ CUADRADA DE ABERTURAS CIRCULARES Examine el modelo de difraccin formado por la apertura J, la matriz cuadrada de aperturas circulares.

Figura 2. Interferencia por matrices cuadradas de puntos 7. 8. ste modelo de difraccin tiene alguna similitud con el formado por la matriz aleatoria de orificios? En que son diferentes?

Cada apertura en el arreglo forma un modelo de difraccin circular con mximos y mnimos apareciendo en diferentes radios. Sin embargo, la regularidad del arreglo causa que haya interferencias ente los modelos formados por los crculos individuales. Esto es anlogo a la forma en la cual se crean los modelos de difraccin de rendija doble, en l se crean mximos y mnimos que son sobrepuestos sobre el modelos de rendija simple creado por las rendijas individuales. 9. En una hoja de papel, aparte, dibuje el modelo de difraccin. Puede especificar si no hubo interferencias entre los modelos de difraccin de los diferentes orificios (como en la matriz aleatoria). Indique claramente los mximos y los mnimos. 10. Para comprender la interferencia que ocurre, considere el arreglo de puntos como si fueran una coleccin de rendijas paralelas, tal como se muestra en las figuras 3.1a, b y c. Dibuje los modelos de difraccin que fueron creados por cada una de esas colecciones de ranuras paralelas. Etiquete claramente los mximos y los mnimos. 11. Su dibujo de la segunda etapa muestra donde es difractada la luz desde cada apertura circular individual. Para aproximar el efecto de interferencia entre las aperturas circulares, sobreponga una copia de uno de sus modelos de interferencia del paso 3 sobre su dibujo de paso 2. solamente donde se traslapan los mximos, habr mximos en los patrones combinados. Repita este procedimiento para cada uno de sus dibujos de interferencia.

5. RESULTADOS De respuesta a los cuestionamientos del procedimiento 6. CONCLUSIONES