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Avaliao da Qualidade da Energia Eltrica

S.M.Deckmann e J. A. Pomilio

6. Variaes transitrias de tenso de curta durao1


As Variaes Transitrias de Curta Durao (VTCD) so eventos de afundamento e elevao de tenso com durao de 0,5 ciclo a alguns minutos, dependendo da norma a ser considerada. H uma dificuldade de classificao para os transitrios com durao menor que 1 ciclo da tenso fundamental da rede eltrica, os surtos e transitrios rpidos de tenso. Esses distrbios so de difcil identificao e classificao principalmente os distrbios oscilatrios, que no podem ser definidos nem como afundamento e nem como elevao de tenso. Esta parte de classificao, que todas as normas de alguma maneira fazem, em termos prticos, no tem valor alm do que concerne denominao dos eventos em faixas, colocando-lhes uma nomenclatura. 6.1 Metodologia da Magnitude e Durao do Evento (M&D) A metodologia da Magnitude e Durao do Evento (M&D) caracteriza um evento de VTCD por dois parmetros como prprio nome da metodologia j explicita: a magnitude e a durao. Todas as normas utilizam-se do valor eficaz da tenso (Vef) para verificar o desvio mais significativo da tenso, esse desvio define a magnitude do evento. 6.1.1 Norma Brasileira [1,2] A Magnitude (VMag) do evento, desvio mais significativo da tenso, definido segundo a norma americana e a recomendao brasileira como sendo: Nvel extremo do valor eficaz da tenso, tenso residual ou remanescente (Vres,) em relao tenso nominal2 (Vn) no ponto de observao, expresso em porcentagem (%) ou valor por unidade (pu). Vres Vres VMag = ( pu ) ou VMag % = 100 (%) (6.1) Vn Vn

A Durao (t) do evento definida como: O intervalo de tempo decorrido entre o instante (ti) em que o valor eficaz da tenso ultrapassa determinado limite de referncia (Vref) e o instante (tf) em que a mesma varivel volta a cruzar esse limite, expresso em segundos ou ciclos da fundamental. t = tf ti ( segundos ou ciclos) (6.2)

Na figura 6.1 apresentado um exemplo da caracterizao de um afundamento de tenso, em que a magnitude do evento de V 32,0 % ou V 0,32 pu e durao de t 92,0 ms (5,52 ciclos). A recomendao brasileira, submdulo 2.2, dos procedimentos de rede aplicvel rede bsica do Operador Nacional do Sistema Eltrico (ONS). Para a rede de distribuio tem-se [2] a regulamentao da ANEEL, estabelecida no mdulo 8, Qualidade da Energia Eltrica, do Prodist. As definies ali apresentadas so as seguintes:
Trechos e figuras deste captulo foram obtidas na dissertao de mestrado de Ernesto Kenji Luna, com orientao do prof. Sigmar M. Deckamann. Uma Contribuio ao Estudo de VTCDs Aplicado a Equipamentos Eletrnicos Alimentados por Conversor CA-CC, aprovada em 29/05/2005. 2 O Prodist indica que a tenso de comparao a tenso de referncia, a qual pode ser a tenso nominal ou a contratada.
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1.5

Comportamento da Tenso na Fase (ex: Va) Comportamento do Valor Eficaz da Tenso (Vef)
Vn Vref

TENSAO (PU)

0.5

Vn Vres

-0.5

-1

-1.5

ti
-2 0.05 0.1

t (Durao)
0.15

tf
0.2 0.25

TEMPO (s)

Figura 6.1 Caracterizao de um Afundamento de Tenso (Normas Brasileira e Americana).


Tabela 6.1 - Classificao das VTCD [1,2]
Classificao Denominao Interrupo Momentnea de Tenso Variao Momentnea de Tenso Afundamento Momentneo de Tenso Elevao Momentnea de Tenso Interrupo Temporria de Tenso Variao Temporria de Tenso Afundamento Temporrio de Tenso Elevao Temporria de Tenso Durao do Evento Inferior ou igual a 3 segundos Superior ou igual a 1 ciclo e inferior ou igual a 3 segundos Superior ou igual a 1 ciclo e inferior ou igual a 3 segundos Superior a 3 segundos e inferior ou igual a 1 minuto Superior a 3 segundos e inferior a igual a 1 minuto Superior a 3 segundos e inferior ou igual a 1 minuto Amplitude da Tenso (valor eficaz) em relao tenso de referncia Inferior a 0,1 pu Superior ou igual a 0,1 pu e inferior a 0,9 pu Superior a 1,1 pu

Inferior a 0,1 pu Superior ou igual a 0,1 pu e inferior a 0,9 pu Superior a 1,1 pu

Metodologia de medio [2]

Alm dos parmetros durao e amplitude j definidos, a severidade da VTCD, medida entre fase e neutro, de determinado barramento do sistema de distribuio tambm caracterizada pela freqncia de ocorrncia. Esta corresponde quantidade de vezes que cada combinao dos parmetros durao e amplitude ocorrem em determinado perodo de tempo ao longo do qual o barramento tenha sido monitorado. O indicador a ser utilizado para conhecimento do desempenho de um determinado barramento do sistema de distribuio com relao s VTCD corresponde ao nmero de eventos agrupados por faixas de amplitude e de durao, discretizados conforme critrio estabelecido a partir de levantamento de medies.

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Num determinado ponto de monitorao, uma VTCD caracterizada a partir da agregao dos parmetros amplitude e durao de cada evento fase-neutro. Assim sendo, eventos fase-neutro simultneos so primeiramente agregados compondo um mesmo evento no ponto de monitorao (agregao de fases). Os eventos consecutivos, em um perodo de trs minutos, no mesmo ponto, so agregados compondo um nico evento (agregao temporal). O afundamento ou a elevao de tenso que representa o intervalo de trs minutos o de menor ou de maior amplitude da tenso, respectivamente. A agregao de fases deve ser feita pelo critrio de unio das fases, ou seja, a durao do evento definida como o intervalo de tempo decorrido entre o instante em que o primeiro dos eventos fase-neutro transpe determinado limite e o instante em que o ltimo dos eventos faseneutro retorna para determinado limite. As seguintes formas alternativas de agregao de fases podem ser utilizadas: a) agregao por parmetros crticos - a durao do evento definida como a mxima durao entre os trs eventos fase-neutro e o valor de magnitude que mais se distanciou da tenso de referncia; b) agregao pela fase crtica - a durao do evento definida como a durao do evento faseneutro de amplitude crtica, ou seja, amplitude mnima para afundamento e mxima para elevao.

6.1.2 IEEE Std. 1159 [3]

Na norma americana no existe um equivalente para VTCD, os afundamentos e elevaes de tenso so denominados respectivamente de voltage sag e voltage swell. A Tabela 6.2 apresenta as denominaes de VTCD segundo a norma americana e suas faixas de magnitude e durao.
Tabela 6.2 Classificao das VTCD segundo IEEE - Std 1159 [3].
Classificao Denominao Afundamento Instantneo (Instantaneous sag) Elevao Instantnea (Instantaneous swell) Interrupo Momentneo (Momentary Interruption) Afundamento Momentneo (Momentary sag) Elevao Momentnea (Momentary swell) Interrupo Temporria (Temporary Interruption) Afundamento Temporrio (Temporary sag) Elevao Temporria (Temporary swell) Interrupo Sustentada (Interruption, sustained) Subtenso (Undervoltage) Sobretenso (Overvoltage) Durao do Evento 0,5 30 ciclos 0,5 30 ciclos 0,5 ciclo 3 segundos 30 ciclos 3 segundos 30 ciclos 3 segundos 3 segundos 1 minuto 3 segundos 1 minuto 3 segundos 1 minuto > 1 minuto > 1 minuto > 1 minuto Amplitude do Evento 0,1 0,9 pu 1.1 1.8 pu < 0,1 pu 0,1 0,9 pu 1.1 1.4 pu < 0,1 pu 0,1 0,9 pu 1.1 1.2 pu 0,0 pu 0,1 0,9 pu 1.1 1.2 pu

Variaes de Curta Durao (Short duration variations)

Variaes de Longa Durao (Long duration variations)

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6.1.3 EN 50160 Norma Europia (CENELEC) [4]

A norma europia com relao a VTCDs, apresenta abordagem para afundamentos de tenso, sendo estes denominados de voltage dips. As elevaes de tenso no so abrangidas por tal norma, que se limita a definir tais eventos como: transitrios de sobretenso (transient overvoltage) e sobretenso temporria (temporary overvoltage), no especificando faixas de magnitude e durao. A caracterizao de uma VTCD pela M&D do evento diferente das normas americana e brasileira. A Magnitude de uma VTCD definida como a diferena entre o valor nominal da tenso (Vn) e o extremo do valor da tenso eficaz da tenso residual (Vres), normalmente expressa em porcentagem (%) ou valor por unidade (pu). VMag = Vn Vres ( pu ) Vn ou VMag % = Vn Vres 100 (%) Vn (6.3)

A diferena entre o valor nominal e o valor residual da tenso, tambm definida como tenso de afundamento Voltage Dip (VDip).
V Dip = Vn Vres (V ) (6.4)

A Durao do evento definida da mesma maneira que a norma americana e recomendao brasileira.
Tabela 6.3- Classificao das VTCDs segundo CENELEC - EN 50160 [4]
Denominao Afundamento de Tenso (Voltage Dips) Interrupo de Curta Durao (Short Interruption) Interrupo de Longa Durao (Long Interruption) Transitrio de Sobretenso (Transient overvoltage) Sobretenso Temporria (Temporary overvoltage) Durao do Evento 0,5 ciclo 1 minuto 0,5 ciclo 3 minutos > 3 minutos No definido No definido Amplitude do Evento 0,01 0,9 pu < 0,01 pu < 0,01 pu > 1,1 pu > 1,1 pu

Na figura 6.2 apresentado o mesmo evento da figura 6.1. A magnitude determinada pela equao(6.4), assim V 68,0 % ou V 0,68 pu e durao de t 92,0 ms (5,52 ciclos). A norma europia no faz a caracterizao e classificao de eventos de elevao de tenso.
2 1.5

Comportamento da Tenso na Fase (ex: Va) Comportamento do Valor Eficaz da Tenso (Vrms)
Vn Vref

TENSAO (PU)

0.5

VDip Vn Vres

-0.5

-1

-1.5

ti
-2 0.05 0.1

t (Durao)
0.15

tf
0.2 0.25

TEMPO (s)

Figura 6.2 - Caracterizao de Afundamento de Tenso pela Norma Europia.

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6.2 Tolerncia de equipamentos a VTCDs

Uma prtica indevida a aplicao da metodologia da M&D comparando os resultados com os limites de tolerncia de equipamentos, como o caso da curva CBEMA/ITIC [5,6] e da curva SEMI F47 [7]. A tcnica de M&D foi definida para caracterizao do evento no contexto de QEE, enquanto os limites de tolerncias so de utilizao especfica de fabricantes de equipamentos que definem tais limites como critrios de projeto para condies mnimas de suportabilidade dos equipamentos por eles fabricados.
6.2.1 Limites CBEMA/ITIC

Com a expanso do uso de equipamentos de informtica e eletrnicos domsticos, que so bastante sensveis s variaes da tenso de alimentao, tornou-se necessrio padronizar as condies de teste para verificar a suportabilidade dos equipamentos aos distrbios provenientes da rede. Como guia para os fabricantes de equipamentos na rea de informtica, os EUA estabeleceram a norma ANSI/IEEE Std. 446 [5], conhecida como curva CBEMA propondo metas a serem satisfeitas pelas fontes e dispositivos que alimentam computadores com relao s variaes de tenso e respectivas duraes suportveis. O objetivo uniformizar os limites de suportabilidade de variaes da tenso de alimentao a dispositivos eletrnicos, particularmente os destinados ao processamento de dados. Foram estabelecidas curvas magnitude x durao para variaes de tenses abaixo e acima da nominal como mostra a figura abaixo. Como de se esperar, eventos de menor durao podem ter maiores excurses. Essa norma trata os eventos isoladamente, e por isso no avalia o efeito das flutuaes de tenso com relao ao efeito flicker. Como mostra a figura 6.3.a, a norma prescreve que os equipamentos de informtica devem suportar interrupes completas da tenso da rede durante intervalos de at meio ciclo. Para isso os fabricantes das fontes devem prever suficiente capacidade de armazenamento de energia em capacitores e/ou baterias para suprir a carga eletrnica durante a falta da rede. De at 30 ciclos (meio segundo) as cargas devem suportar subtenses que variam inversamente com a durao e, no caso de subtenses sustentadas, as cargas devem suportar at 13% de reduo da tenso nominal. Para o caso de sobretenses, est previsto que as cargas devem suportar em regime aumentos de 6% do valor nominal e no caso de surtos muito rpidos (durao < 0.01 ciclo), at quase 300% de sobretenso. Para eventos com durao de 1 ciclo, os valores suportveis so 70% para subtenso e 15% para sobretenso. Em geral as sobretenses tem a ver com a ruptura do dieltrico ou o breakdown de semicondutores, enquanto que as subtenses se relacionam com a deficincia de energia armazenada. Aps algumas modificaes, foi apresentada em 1997 uma nova verso para os limites de tolerncia conhecida como CBEMA/ITIC ou simplesmente ITIC [6] (Information Tecnology Industry Council) e mostrada na figura 6.3.b, sendo devidamente aprovada no ano de 2000, com os limites definidos para serem aplicados a equipamentos eletrnicos e computadores relacionados tecnologia da informao (TI).

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Figura 6.3.a.Curva CBEMA: Limites de durao de sub e sobretenses.

Figura 6.3.b. Curva ITIC para durao de sub e sobretenses. Envelope de tolerncia de tenso tpico para sistema computacional (adaptado da norma IEEE 466). Essa curva passou a ser uma referncia para verificao do nvel de vulnerabilidade de equipamentos comparando-se a curva de sensibilidade do equipamento com a curva das variaes permitidas ou observadas durante um determinado intervalo de tempo (por ex. 1 ano). Nota-se na figura 6.3.b que, em regime, a tenso deve estar limitada a uma sobretenso de 10% e uma subtenso de 10%. Quanto menor a durao da perturbao, maior a alterao admitida, uma vez que os elementos armazenadores de energia internos ao equipamento devem ser capazes de
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absorve-la. Assim, por exemplo, a tenso pode ir a zero por um ciclo, ou ainda haver um surto de tenso com 2 vezes o valor nominal (eficaz), desde que com durao inferior a 1ms. Uma outra definio em termos da tenso suprida a Distoro Harmnica Total (THD) que tem um limite de 5%. Alm disso, para alimentao trifsica, tolera-se um desbalanceamento entre as fases de 3 a 6%. No que se refere freqncia, tem-se um desvio mximo admissvel de +0,5Hz (em torno de 60Hz), com uma mxima taxa de variao de 1Hz/s.
6.2.2 Limites SEMI

O limite de tolerncia da SEMI F47 [7], desenvolvido e apresentado pelo Semiconductor Equipment and Materials Institute SEMI, abrange apenas os distrbios de afundamento de tenso, no contemplando as elevaes de tenso. Esta norma aplicada a equipamentos e processos ligados a fabricantes de semicondutores para verificar a imunidade contra afundamentos de tenso. Um ponto peculiar nesta norma que os processos dos fabricantes devem atender os limites estabelecidos pela SEMI F47 sem a utilizao de suprimento auxiliar de energia, como por exemplo, UPS (Uninterruptable Power Supply ou No-Breaks).
120 % DA TENSAO NOMINAL (EFICAZ OU EQUIV. DE PICO)

100

Regio de Operao Normal


80

Limite para Afundamentos de Tenso 60

40

Regio de Desligamento

20

0 -1 10

10

10 10 DURAAO EM CICLOS DE 60Hz

10

10

Figura 6.4 Limites de Tolerncia SEMI F47 [7].

6.3 Comportamento de cargas eletrnicas frente a VTCDs

Os efeitos de uma VTCD sobre uma carga dependem fortemente do tipo de evento e do tipo de carga. Cargas cuja operao depende do valor eficaz da tenso so bem caracterizadas pelos valores M&D. J as cargas eletrnicas que possuem no estgio de entrada um retificador a diodos com filtro capacitivo (o que engloba a maior parte das cargas eletrnicas de baixa e mdia potncia), o comportamento muito distinto. A figura 6.5 mostra o circuito e o decorrente comportamento da tenso de sada de um retificador monofsico com filtro capacitivo. Note-se que a tenso CC a que interessa para o circuito alimentado por este retificador. A figura indica um hipottico ponto de desligamento (PD) no qual o equipamento deixaria de operar. Observe-se tambm que a resposta a uma elevao de
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tenso imediata, pois o circuito sensvel ao valor de pico da tenso de entrada e no ao seu valor eficaz.
tr iT e (t) iC C + vret (t) vc (t) iR R vR(t)

TENSAO CA (V)
200 100 0 -100 -200 0 0.05 0.1 0.15 0.2 0.25 0.3 0.35

(a)

TENSAO CC (V)
250 200

TEMPO (s)

Vlim 150 100 50 0 0 0.05 0.1 0.15 0.2 0.25 0.3 0.35 PD

PD

(b)
Vmn

TEMPO (s)

Figura 6.5 Circuito de retificador monofsico com filtro capacitivo e formas de onda de entrada e sada na ocorrncia de distrbios na tenso CA. A figura 6.6 mostra possveis distrbios em uma alimentao trifsica, supondo um retificador com filtro capacitivo. Note-se que no caso de afundamento de tenso em uma das fases no h efeito muito pronunciado na sada CC, alm de um aumento na ondulao da tenso, pois o retificador passa a operar como um retificador bifsico. Quando ocorre a interrupo, a queda da tenso depender da potncia consumida pela carga. No restabelecimento da tenso o retorno muito rpido, assim como a sobretenso que se observa quando ocorre uma elevao de tenso em uma das fases. A figura 6.7 mostra duas formas de onda de tenso, ambas contm a 5 harmnica, porm uma com fase invertida da outra. Em (a) a fase de 0 e em (b) a fase de 180. Os valores eficazes das duas formas de onda so iguais, ou seja, qualquer afundamento de tenso que fosse igual tanto em (a) quanto em (b) teriam o mesmo valor de magnitude, porque a evoluo do valor eficaz se d da mesma maneira. Porm, supondo-se que tais tenses (a) e (b) sejam aplicadas a uma carga eletrnica com um retificador com filtro capacitivo, possvel notar que a dinmica de vC(t) do grfico (a) diferente de vC(t) do grfico (b). Assim uma VTCD afetaria de modo diferente o equipamento eletrnico somente pelo motivo de as componentes harmnicas terem diferena de fase.

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TENSAO (V)
300 200 (A)(B)(C) 100 0 -100 -200 -300 0
Afundamento Interrupo FA, FB e Elevao FC

(a

0.05

0.1

0.15

0.2

0.25

TEMPO (s)

4 0 0 v c (t) 3 0 0 2 0 0 o 1 0 0 0 P D o P D V m n

0 .0 5

0 .1

0 .1 5

0 .2

0 .2 5

Figura 6.6 Formas de onda CA e CC em retificador trifsico com filtro capacitivo frente a distrbios na alimentao.
1.5 vc(t) COM HARMONICA vc(t) SEM HARMONICA EVOLUO DO VALOR EFICAZ (Vef) 1 0.72 0.5 0.36 1 0.72 0.5 0.36 1.5 vc(t) COM HARMONICA vc(t) SEM HARMONICA EVOLUAO DO VALOR EFICAZ (Vef)

TENSAO (PU)

TENSAO (PU) COM HARMONICA SEM HARMONICA 0.06 0.07 0.08 0.09 TEMPO (S) 0.1 0.11 0.12 0.13

-0.5

-0.5

-1

-1 COM HARMONICA SEM HARMONICA -1.5 0.05 0.06 0.07 0.08 0.09 TEMPO (S) 0.1 0.11 0.12 0.13

-1.5 0.05

tafund

tafund

(a) Harmnico fase 0

(b) Harmnico fase 180

Figura 6.7 Cargas que No Respondem ao Valor Eficaz e Influncia de Harmnicos. Nos grficos da figura 6.7 pode-se perceber dois efeitos que no so caracterizados pelo valor eficaz da tenso: o primeiro que o equipamento responde pelo valor vc(t) e o segundo que a composio harmnica e suas fases podem afetar o equipamento de modo distinto. Este ltimo torna-se relevante principalmente porque muitos afundamentos de tenso perdem a caracterstica senoidal da tenso. A figura 6.8 mostra a inadequao da medio por M&D para bem caracterizar os distrbios. Ambos eventos possuem os mesmos valores definidos para magnitude e durao, como se v na figura 6.9. No entanto, a depender da carga alimentada, o impacto da perturbao pode ser
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muito distinto, uma vez que a medio do valor eficaz pode no representar adequadamente o resultado do fenmeno sobre a carga, especialmente se for uma carga eletrnica.
EVENTO 01 - AFUNDAMENTO RETANGULAR 200 150 Vref.=90% de Vnominal 100 TENSAO (V) 50 0 -50 -100 -150 -200
TENSAO (V)

EVENTO 02 AFUNDAMENTO COM PERFIL IRREGULAR


200 Vnominal=127V 150 Vreferncia=90% Vnominal

Vnominal=127V

Vresidual=50,8V

100

50

-50

-100 Vresidual=50,8V

-150

0.02

0.04

0.06

0.08

tafund

0.1 0.12 0.14 TEMPO (s)

0.16

0.18

0.2

0.22

-200 0.02

0.04

0.06

0.08

0.1

tafund

0.12 TEMPO (S)

0.14

0.16

0.18

0.2

0.22

(a) (b) Figura 6.8 Eventos de Afundamento de Tenso com mesma Magnitude e Durao
200 % da TENSAO NOMINAL (RMS ou PICO EQUIV.) 180 160 140 120 100 80 60 40 20 0 -3 10
-2 -1

LIMITE DE SOBRETENSES 110

90 LIMITE DE SUBTENSES EVENTOS 01 E 02 "MAGNITUDE E DURAO" 10 10 10 DURACAO (S)


0

10

10

Figura 6.9 Eventos 01 e 02 Distintos com mesma Representao de M&D.


6.4 Dinmica Lenta do Clculo do Valor Eficaz Janela de 1 Ciclo

O clculo do valor eficaz da tenso uma mdia quadrtica com perodo T. Em aplicaes de instrumentao, utilizando-se tcnicas de processamento digital de sinais, o valor eficaz da tenso pode ser definido conforme equao (6.5) [1,3,12,17].
Vef [k ] = 1 N 1 2 v [ k n] N n =0

(6.5)

N v[k]

nmero de amostras da janela mvel k-sima amostra da tenso

A utilizao da equao(6.5) baseia-se em uuma janela mvel de N amostras no perodo de integrao, equao (6.6) calculados de modo contnuo, atualizando-se a janela mvel amostra a amostra.

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T = N ta

(6.6)

ta

taxa de amostragem

A atualizao contnua das amostras no clculo do valor eficaz mostra que existe um perodo de convergncia de N amostras que normalmente o prprio perodo da fundamental da rede eltrica. Esse perodo de convergncia insere um erro na avaliao da durao de um evento, como mostrado na figure 6.10. Na interrupo com durao de 1 ciclo, possvel perceber que o valor eficaz da tenso levou 1 ciclo para atingir o valor da interrupo e aps o restabelecimento da tenso de entrada o valor eficaz levou mais 1 ciclo para voltar ao valor da condio normal de operao.
250 Valor Eficaz da Tenso (Vef) 200 150 100 TENSAO (V) 50 0 -50 -100 -150 -200 -250 0.3 1 CICLO 0.31 0.32 0.33 0.34 0.35 0.36 TEMPO (s) 0.37 0.38 0.39 0.4 2 CICLOS

Figura 6.10 Resposta do Valor Eficaz para Janela Mvel de 1 Ciclo. Assim, para qualquer distrbio de VTCD, a durao apresentada pelo valor eficaz da tenso acrescentar 1 ciclo na durao do evento. Esse erro mais crtico em evento de curta durao pois o erro de 1 ciclo torna-se significativo, como no caso da figura 6.10. Esse erro pode ser observado na norma brasileira, j que considera o menor distrbio de VTCD quando seu valor for maior ou igual a 1ciclo. Considerando a norma europia e americana, nas quais o menor evento classificado como VTCD tem durao maior ou igual a ciclo e supondo a utilizao de uma janela mvel de um ciclo, tem-se um novo problema na avaliao do distrbio, alm do descrito anteriormente, na durao do evento. Devido ao tempo de convergncia, eventos menores que 1 ciclo no so avaliados corretamente quanto sua magnitude, justamente porque a janela mvel, sendo uma mdia quadrtica de 1 ciclo, nunca ser preenchida por completo, no conseguindo atingir o valor correto de magnitude, como no caso da figura 6.11 para uma interrupo de ciclo. Poderia ser sugerida a utilizao da janela mvel de ciclo, diminuindo o erro na avaliao da durao e o valor da magnitude atingiria o valor correto, mas isso tambm pode no ser adequado, e o que ser discutido a seguir.
6.4.1 Assimetria de Onda - Clculo do Valor Eficaz Janela de Ciclo

Utilizando-se uma janela de meio ciclo, o problema de convergncia ainda existe, porm o erro na avaliao de uma VTCD se reduz a ciclo, e este erro ainda seria significativo para VTCD com valores pequenos de durao, figura 6.12.

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250 Valor Eficaz da Tenso (Vef) 200 150 100 TENSAO (V) 50 0 -50 -100 -150 -200 -250 0.3 Tenso Residual No Vai a Zero

Interrupo de 1/2 Ciclo 0.31 0.32 0.33 0.34 0.35 0.36 TEMPO (s) 0.37 0.38 0.39 0.4

Figura 6.11 Janela Mvel de 1 Ciclo e Interrupo de Ciclo.


250 Valor Eficaz da Tenso (Vef) 200 150 100 TENSAO (V) 50 0 -50 -100 -150 -200 -250 0.3 1 CICLO 1 1/2 CICLOS

0.31

0.32

0.33

0.34

0.35 0.36 TEMPO (s)

0.37

0.38

0.39

0.4

Figura 6.12 Resposta do Valor Eficaz para Janela Mvel de 0,5 Ciclo. A utilizao da janela mvel de ciclo ainda apresenta outro problema que est relacionado assimetria de meia onda, ou seja, o semi-ciclo positivo ser diferente do semi-ciclo negativo. Na figura 6.13 mostrada a tenso de entrada com 2 harmnica em que seu valor 20% da fundamental. Devido assimetria de meia onda causada pela 2 harmnica, o valor eficaz da tenso torna-se oscilante o que no ocorreria se a janela mvel aplicada fosse de 1 ciclo do perodo da fundamental.
250 Valor Eficaz da Tenso (Vef) 200 150 100 TENSAO (V) 50 0 -50 -100 -150 -200 Fundamental + 2 Harmnico -250 0.3 0.31 0.32 0.33 0.34 0.35 0.36 TEMPO (s) 0.37 0.38 0.39 0.4

Figura 6.13 Janela de Ciclo e Assimetria de Meia Onda (Fundamental + 2 harmnica).

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Referncias

[1] [2] [3]

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DSCE FEEC - UNICAMP

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