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SPECTROLAB

Prestaciones y Flexibilidad:
Una herencia de Innovacin
El nuevo SPECTROLAB es la culminacin de 25 aos de
experiencia en el desarrollo, fabricacin y suministro de
espectrmetros de chispa estacionarios. Es el primer gran
paso hacia una nueva clase de analizadores de metal
distinguida por ofrecer prestaciones analticas mejoradas,
mayor flexibilidad para la investigacin y manejo ms
sencillo. Acorde con la herencia de su predecesor, el
analizador de metales de ms xito en el segmento alto, el
nuevo SPECTROLAB no es solo un lavado de cara, sino una
nueva creacin avanzada. Casi todos sus componentes se
han rediseado y algunos son nuevas invenciones. Entre
estos avances inditos debemos destacar, el grupo de
componentes que tan importante resulta para el anlisis
fuente de excitacin, ptica y sistema de lectura porque
estos han realizado un salto cuntico en su desarrollo y
adaptacin ptima entre s. El resultado de la unin de estos
componentes es un ncleo analtico imbatible en la nueva
generacin de espectrmetros que combinan prestaciones y
flexibilidad. El SPECTROLAB tambin establece nuevos
estndares para el proceso de muestras. Los tiempos de
anlisis son ms cortos y las necesidades de mantenimiento
de la repisa de chispeo y sistema UV son an ms reducidas
contribuyendo a la simplicidad tanto como la nueva versin
ampliada del software de espectrmetro Spark Analyzer
Vision que entre otras caractersticas, incluye una nueva
herramienta de diagnstico que monitoriza continuamente.
SPECTROLAB
Prestaciones y Flexibilidad:
Una herencia de Innovacin
Carcasa: Espacio para almacenar las herramientas necesarias y altura ergonmica que facilita la productividad
Mesa de PC: El SPECTROLAB incluye una funcional mesa especficamente diseada con altura ajustable, repisa para
teclado, cabina de ordenador protegida contra el polvo y fcil acceso a las conexiones USB
Anlisis
Dependiendo de las necesidades individuales, el alcance
analtico se puede disear a medida en base a 10
matrices estndares: Fe, Al, Cu, Ni, Co, Mg, Ti, Sn, Pb y
Zn; o como una alternativa de las cinco matrices de
metales preciosos Au, Ag, Pt, Pd y Ru. En ciertos casos,
existe el potencial de combinar las matrices de metales
preciosos con las matrices estndar. Hay disponible un
nmero ilimitado de canales CCD para los elementos en
el rango desde 120 a 780 nm, as como hasta 108
canales fijos analgicos PMT de altas prestaciones con
micro integracin para anlisis de ultratrazas y
evaluacin de descargas individuales. Esto permite que
se cumpla de manera ptima cada necesidad analtica
sin compromiso.
Equipado con la tecnologa ms moderna y
componentes de calidad, el SPECTROLAB est diseado
para necesidades analticas sofisticadas. Con sus
extraordinarias prestaciones y flexibilidad se adecua
perfectamente a los anlisis de rutina exigentes en el
control de procesos, control de especificaciones
definidas durante el control de calidad as como a llevar
a cabo tareas especiales de investigacin en el
desarrollo de nuevos productos y muchas otras
aplicaciones en las industrias de produccin, proceso y
reciclaje del metal.
Exclusiva ptica hbrida con detectores
analgicos y sensores digitales
Registra el espectro completo desde 120 a
780 nm para una seleccin perfecta de lneas
Sistema UV de bajo mantenimiento con
mnimos costes operativos
Sistema de lectura de altas prestaciones con
evaluacin detallada y flexible de cada
descarga individual
Generador digital de plasma para control
exacto de las condiciones del plasma
Repisa de chispeo de bajo mantenimiento con
consumo de argn muy bajo
La ptica hbrida del nuevo
SPECTROLAB procesa directamente
el haz de la repisa de chispeo;
mediante tubos fotomultiplicadores
(PMT) y detectores CCD
simultneamente. El resultado:
lmites de deteccin
extremadamente bajos y un rango
de uso flexible.
SPECTRO UV-PLUS
1- Sistema ptico
2- Cartucho de limpieza
3- Bomba de membrana
3
2
1
ptica con sistema UV-Plus
El sistema ptico del SPECTROLAB emplea las ventajas
de ambos sistemas de deteccin: CCDs y tubos
fotomultiplicadores. Mediante el montaje Paschen-
Runge de tecnologa optimizada con cuerpo de aluminio
y mtodos de elementos finitos, ofrece una construccin
mecnica extremadamente robusta y al mismo tiempo
un volumen interior mnimo. Para hacer que el sistema
sea independiente de las influencias ambientales, se
mantienen constantes la presin interna y la
temperatura. El sistema de refrigeracin empleado para
ello funciona sin generacin de hielo y mediante la
vaporizacin especfica de la condensacin; es libre de
mantenimiento y resistente a las interferencias externas.
La carcasa de la ptica contiene dos mdulos
espectrales separados con gratculas de difraccin
hologrficas maestras: una equipada con detectores
PMT y la otra con sensores CCD. Es posible conectar
adicionalmente una ptica CCD en aire para ampliar
hacia arriba el rango de longitudes de onda.
El sistema UV-PLUS probado de SPECTRO se emplea en
el SPECTROLAB para mediciones en el rango UV. La
cmara ptica interna sellada hermticamente se rellena
una vez con argn hacindola transparente en las
regiones de longitudes de onda ultravioletas ms bajas
sin necesidad de emplear tecnologas complicadas. El
argn, dentro de la ptica, se hace circular mediante una
bomba de membrana a travs un cartucho de filtro. As
se evita la contaminacin de los componentes pticos
que ocurre en sistemas con bomba de vaco o purga de
gas y se asegura una excelente estabilidad a largo plazo.
Excepto por el intercambio del filtro de cartucho cada 12
o 15 meses, el sistema esta completamente libre de
mantenimiento. La reduccin drstica en los costes
operativos es una ventaja clara del sistema UV-PLUS,
adems de la extraordinaria transparencia en el rango de
longitudes de onda entre 120 y 180 nm.
Mediante la construccin nica y el concepto UV-PLUS
sin rival, el nuevo sistema ptico del SPECTROLAB es
capaz de registrar simultneamente todo el espectro
relevante desde 120-780 nm en el primer orden espectral
con una elevada resolucin de hasta 9 picmetros.
Generador de plasma
Con este nuevo desarrollo del generador de plasma de
SPECTRO uno de los sistemas de excitacin ms
robustos que existen la descarga estable se genera
bajo atmsfera de argn. Mediante el procedimiento de
excitacin y de control de la excitacin completamente
digital, es posible definir la energa del plasma con una
precisin y fiabilidad extremas. Mediante los nuevos
parmetros de excitacin y pureza de la seal, ahora por
fin es posible aumentar la precisin del sistema, mejorar
la reproducibilidad y reducir considerablemente los
tiempos de chispeo. Para aplicaciones estndar los
resultados estn disponibles en menos de 18 segundos,
permitiendo aumentar el ritmo de muestreo y
acelerando el control del proceso.
Sistema de Lectura
Incluso el sistema de lectura ha sido rediseado. Procesa
simultneamente las seales de los detectores PMT y los
sensores CCD. Hay disponibles 22 (opcionalmente 37) de
estos ltimos, cada uno con 3800 pxeles. La enorme
cantidad de datos resultante se puede mostrar tras cada
medicin, como un escaneo completo de longitudes de
onda. Esto ofrece numerosas posibilidades para I&D, as
como informacin sobre materiales desconocidos y/o
nuevas aleaciones. Para mediciones de rutina, basadas en
lneas seleccionadas, solo se transmiten las regiones de
inters (ROI). Esto permite una transmisin en tiempo real
de las seales transientes de forma que durante la
medicin se puedan determinar resultados analticos con
una fiabilidad estadstica incremental a medida que
progresa la medicin.
Dependiendo de la aplicacin, ciertas lneas espectrales se
miden mediante tubos fotomultiplicadores. La corriente del
fotn se procesa mediante micro integradores que
permiten lecturas en rangos de microsegundos.
De esta forma un chispeo individual se puede dividir en 100
o ms pasos proporcionando informacin detallada acerca
del proceso de intensidades de la chispa para cada lnea
espectral instalada disponible al finalizar la medicin.
Mediante estas mediciones de corriente, es posible definir
la ventana de integracin con rangos dinmicos
optimizados y las mejores relaciones de seal con ruido de
fondo para anlisis de trazas (Spark Analisis For Traces-
SAFT). A diferencia de los espectrmetros convencionales,
ahora es posible determinar la salida de luz para cada carga
individual, en vez de integrar la luz total durante un periodo
de tiempo fijo. Esto permite la eliminacin de descargas
defectuosas debido a inclusiones o porosidad. Esto a su
vez, deriva en resultados significativamente mejorados
(Single Spark Evaluation-SEE).
Tanto el SAFT como el SEE pueden ser definidos
independientemente para cada tubo multiplicador
requerido mltiples veces si fuera necesario. Esta
flexibilidad permite alcanzar resultados analticos ptimos
con los menores tiempos de medicin.
Software: Software: Software: Software: Software: Una barra de navegacin
permite el acceso a los tres mdulos de
programa principales: Anlisis, Mtodos y
Configuracin. La ventana de medicin
permite al operario visualizar mltiples
mediciones y valores medios. Utilice el
Portapapeles de Windows para copiar de
manera rpida y simple los resultados de
medicin y otros datos en otras
aplicaciones de Windows.
Proceso de Muestras
El diseo sofisticado del SPECTROLAB ha minimizado las
tareas de control y de mantenimiento requeridas haciendo
el trabajo del operario mucho ms fcil. Los anlisis de
rutina se pueden realizar con la simple presin de un botn.
El anlisis completo incluyendo la preparacin puede
automatizarse para volmenes de muestreo elevados. El
sistema de diagnstico integrado dentro del software
SPECTRO Spark Analyzer Vision controla de manera
continua y documenta el correcto estado operativo del
equipo, adems el software se presenta mediante un
interface simple e intuitivo con funciones comprensibles de
los parmetros del equipo, para intercambio de datos con
ordenadores externos, para impresin y evaluacin de
datos o para la determinacin de la calidad de anlisis. Una
base de datos SQL integrada forma la base para la gestin
de datos.
Repisa de Chispeo
El haz de luz va directamente desde la repisa de chispeo del
SPECTROLAB al sistema ptico, hay disponible una
conexin adicional de fibra ptica para la ptica CCD
adicional. El volumen de la cmara interior est minimizado
y un flujo de argn de nuevo diseo deriva en un menor
consumo de argn con la eliminacin efectiva simultnea
de la condensacin que se forma. Este es entonces derivado
a un sistema de doble filtro con mnimos requisitos de
mantenimiento. El mantenimiento de la repisa de chispeo
tambin se reduce enormemente. El sujeta-muestras,
puede oscilarse a derecha e izquierda y tiene un circuito de
seguridad integrado, permite el cambio de muestras rpido
y puede emplearse para una amplia variedad de formas de
muestra. Se pueden utilizar adaptadores especiales para
formas de muestras no usuales como piezas pequeas,
alambres y chapas finas. Estos adaptadores mejoran la
precisin y reproducivilidad del anlisis.
Adaptadores: Gracias a los adaptadores
especiales de SPECTRO, el anlisis de
alambres y chapas finas no resulta un
problema
U.S.A.
SPECTRO A. I. Inc.
91 McKee Drive
Mahwah, NJ 07430
Tfno: +1.800.548.5809
+1.201.642.3000
Tfax: +1.201.642.3091
spectro-usa.sales@ametek.com
ALEMANIA
SPECTRO A. I. GmbH & Co. KG
Boschstrasse 10
47533 Kleve
Tfno: +49.2821.8922102
Tfax: +49.2821.8922202
spectro.sales@ametek.com
HONG KONG (Asia-Pacific)
SPECTRO A. I. (Asia-Pacific) Ltd.
2303-4 Sino Favour Centre
1 On Yip Street
Chaiwan
Tfno: +852.2976.9162
Tfax: +852.2976.9132
spectro-ap.sales@ametek.com
ESPANA
SPECTRO Hispania, S.L.
PAE Asuarn - Edificio Enekuri,
Nave 9, 48950 ERANDIO,
Vizcaya - Espaa
Tfno: +34.94.4710401
Tfax: +34.94.4711741
comercial@spectro.es
Montaje Paschen-Runge
Crculo Rowland con distancia focal de 750 mm
(ptica opcional de distancia focal de 400 mm)
Estabilizado trmicamente contra fluctuaciones
de temperatura externas
ptica UV rellena de gas para longitudes de
onda<200 m
Sistema de purificacin autorregulado
Haz de luz barrido por argn
Gratcula hologrficas maestras
3600, 2924, 2400 lneas/mm
Material de la gratcula: Zerodur
Rango de longitud efectivo: 120-780 nm
Dispersin recproca:
Sistema principal
3600 lneas/mm: 0.37 nm/mm (1 orden)
2924 lneas/mm: 0.46/0.23 nm/mm (1 y 2 orden)
ptica opcional
2400 lneas/mm: 1.04 nm/mm (1 orden)
Repisa de chispeo abierta para gran volumen de
procesamiento
Anlisis de muestras de distintos tipos y
geometras
Flujo de argn optimizado
www.spectro.com
Subsidiarios: CHINA: Tfno +86.10.65544998, Tfax +86.10.65544990, spectro-china.sales@ametek.com, FRANCIA: Tfno +33.1.30688970,
Tfax +33.1.30688979, spectro-france.sales@ametek.com, GRAN BRETAA: Tfno+44.121.5508997, Tfax +44.121.5505165, spectro-uk.sales@ametek.com,
ITALIA: Tfno+39.02.946931, Tfax +39.02.94693650, spectro-italy.sales@ametek.com, SUDAFRICA: Tfno +27.11.9794241, Tfax +27.11.9793564,
spectro-za.sales@ametek.com. SPECTRO opera en todo el mundo y est presente en ms de 50 pases. Por favor contacte con su representante local.
SPECTRO 2007, Subjecto a modificationes tcnicas, G-7, Photos: SPECTRO, GettyImages, Corbis.
Consumo de argn minimizado
Elevada disponibilidad gracias a los
intervalos de limpieza reducidos
Repisa de chispeo de fcil intercambio
Diseo para absorcin de temperatura,
refrigeracin por agua no necesaria
Sistema integrado de chispeo para visin
optimizada del plasma
Generador de plasma totalmente digital con
definicin digital de descarga, generacin del
pulso digital y control del pulso digital.
32 Micro controladores
Rango de muestreo- 400 en 200 s descarga
Resolucin de energa: 125 mW
Duracin max. del chispeo: 4000 s
Potencia max. del chispeo: 4 KW
Funcionamiento paralelo de CCD y PMT
- Convertidores paralelos A/D de 12Bit a 1MHz
para cada canal
Diagnstico automtico de funcionamiento y
sistema
Software Spark Analyzer Vision con mdulo de
calibracin para Windows
Interface de funcionamiento sencillo
Base de datos SQL integrada para
procesamiento, creacin de informes y archivo
de los resultados de las mediciones
Sistema visual de diagnstico y mantenimiento
SATEUS (Safety Test of Usefulness) para
reconocimiento de superficies defectuosas
durante el pre-chispeo
SEREPS (Self Regulated Pre.Spark) para
optimizacin del tiempo de pre-chispeo
SETEME (Security Test for Measurement) para
reconocimiento de muestras defectuosas
durante el tiempo de integracin
Ordenador externo con la ltima tecnologa
con sistema operativo Windows
Teclado

y ratn
Pantalla planta de 17
Impresora
230VAC -15% +10%50/60Hz
1.0 kVA durante la medicin
0.5 kVA en standby
Fusible principal: 16 Fusible lento
Longitud: 1674 mm
Ancho: 771 mm
Alto: 1409 mm
Peso aprox. 520 kg
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Especificaciones Tcnicas
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