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Dr. Jorge Luis Gonzlez Velzquez Profesor Investigador ipn Director del GAID
METALOGRAFA
Se define como la tcnica para la observacin, identificacin y cuantificacin de los constituyentes microestructurales de un material metlico.
El examen metalogrfico es una parte fundamental de la evaluacin de integridad (aptitud para el servicio) y por tanto forma parte de los planes de inspeccin no destructiva previstos en los cdigos adoptados por la industria para este fin, como el API 579/ASME FFS-1, API 570, API 571, etc. Los inspectores y compaas de inspeccin no destructiva competentes deben incluir en su catlogo de servicios la realizacin de metalografas de calidad y su interpretacin debe ser realizada por expertos en la materia.
Fue inventada por Henry Clifton Sorby (1826-1908) La primer metalografa exitosa la realiz en 1863 Jos Ramn Villela (18971971) perfeccion la tcnica de pulido y ataque. Es el fundador de la metalografa moderna
Grano
AUSTENITA
+
A1 (723 C)
+ perlita
100% FERRITA 0.5 0.8
100% PERLITA
1.0
%C
DIAGRAMA TTT
TEMPERATURA Tc
Inicio
Recocido
Ferrita + perlita
Fin
Normalizado
Acero ferritico-perltico
Perlita esferoidizada
Perlita laminar
Desbaste y pulido
En metalografa de campo, esta etapa es manual con ayuda de herramientas de mano. El objetivo es producir una superficie lisa, libre de rayas y con acabado espejo Los materiales de desbaste pueden ser esmeriles y lijas Los materiales de pulido son: almina, silica o pasta de diamante
El ataque
El objetivo del ataque es revelar la microestructura mediante una solucin qumica o por mtodos electrolticos. El ataque es un proceso de corrosin selectiva, donde el contraste es producido por la disolucin preferencial y en algunos casos, por la formacin de pelculas. Los atacantes se componen de: un agente corrosivo, un modificador y un oxidante. En algunos reactivos como el Nital un componente puede tener doble o hasta triple funcin
El ataque
En metales monofsicos, el contraste lo dan los lmites de grano y la orientacin diferencial entre granos. Los materiales polifsicos se atacan mas fcilmente por la diferencia de potencial entre las fases. La fase no atacada se ver mas clara y la fase atacada (andica) se ver obscura o con mayor contraste. Si el ataque es excesivo, la fase catdica se convierte en andica y toda la superficie se observar obscura.
Tcnicas de ataque
Siempre que se pueda, el ataque debe ser por INMERSIN.
El mojado con algodn hmedo solo se debe aplicar en materiales duros y con reactivos que no formen pelculas.
Es recomendable tener una buena visibilidad de la superficie para verificar el avance del ataque. El tiempo de ataque es determinado por experiencia, pero se recomienda ir de menor a mayor.
Las temperatura fras que la ambiente hacen mas lento el ataque y las mayores lo aceleran. A temperaturas altas mas de 40 C) el ataque puede ser muy rpido y producir depsitos, por lo que debe ser evitado.
El metaloscopio
El microscopio metalogrfico trabaja por luz reflejada
OCULAR
CAMPO CLARO
CONDENSADOR
Sin relieve
OBJETIVO
Con relieve
MUESTRA
Metaloscpio de campo
Mono-ocular. o Un solo objetivo (amplificacin fija) o Ligero y fcil de manejar o Requiere una superficie plana para asentar o La cmara se acopla al ocular o Es inestable (fotos movidas)
Revolver o Varios objetivos (amplificacin variable: 50, 100, 200 y 400X) o Solo para posicin horizontal o Puede asentar en superficies curvas o Es mas estable y de mejor calidad ptica que el mono-ocular (mejores fotos)
Desenfocada
Vibracin
Iluminacin dispareja
Replicas
La superficie se pule y ataca de la manera normal. Se aplica el material replicante (cinta o pasta) ablandado o fresco, aplicando una presin suave. Se deja secar o endurecer y se retira con cuidado (la rplica no debe estar adherida. La replica se pega a un vidrio portaobjetos y se observa al microscopio. Se puede pegar papel aluminio en la parte trasera del vidrio para mejorar la imagen o si es posible evaporar un metal precioso sobre la rplica.
Replica
Metalografa directa
Imagen tomada con rplica fijada sobre placa de vidrio metalizada y vista en metaloscpio de banco
Mejorado de rplicas
Replica cubierta con oro evaporado y fijada en el vidrio portaobjetos. La cara trasera del vidrio pintada con aluminio
Descripcin de microestructuras
Grano: Forma, tamao (d y ASTM), uniformidad. Perlita: Forma y tamao de colonia, grosor de laminillas, distribucin (bandeamiento), cantidad. Inclusiones: Tipo (ASTM), cantidad, distribucin. Precipitados: Tamao, distribucin, cantidad, forma. Segundas fases: Tamao, distribucin, cantidad, forma, identificacin. Defectos: Poros, micro-grietas, traslapes, segregacin: tamao, cantidad, ubicacin.
Grano:
Usualmente la forma de los granos es poligonal. A esta forma tambin se le llama equiaxial.
1 2
8 9 10 11
12
L = 660 m
Este mtodo mide el nmero de granos por pulgada cuadrada en un campo ampliado a 100X; el numero de grano ASTM es el exponente G con el cual se obtiene el nmero de granos por pulgada cuadrada N*, de acuerdo a la siguiente expresin: N* = 2G - 1
Equivalencias TG ASTM y dimetro promedio:
TG ASTM d (m) Rejilla para determinacin de tamao de grano ASTM :
1
4 5 6 8 10
225
80 56 40 20 10
Microestructuras alteradas
Microestructuras alteradas
Bandeamiento de perlita: Producida por rolado o forjado en caliente
Moderado
Severo
Microestructuras alteradas
Tubo acero API 5L X56 con tratamiento termomecnico incorrecto, posiblemente rolado a baja temperatura
Microestructuras alteradas
Decarburacin y crecimiento de grano en el borde de un tubo de acero SA 210 A-1 (0.27C0.93Mn) de un condensador
Microestructuras alteradas
Microestructuras alteradas
Microestructuras alteradas
Pared interna
La porosidad y el agrietamiento son defectos detectables con la metalografa. Son visibles sin ataque, pero ste ayuda a
Direccin de laminacin
Direccin de laminacin
SOLDADURA SAW
TRANSVERSAL
ZAC
METAL DEPOSITADO
METAL BASE
SOLDADURA SAW
SUPERFICIAL
ZAC
METAL DEPOSITADO
METAL BASE
Separacin media
Parmetros de contenido: Numero de partculas por unidad de rea o volumen (densidad) Fraccin rea Fraccin volumen
Muy buena
Mtodos bsicos
Mtodo de mallado: Tamao de malla (N x M) lneas = No. de puntos Longitud de lnea Tamao promedio = No. de intersecciones / longitud de lnea Fraccin rea = rea de partculas / rea total Densidad = No. de partculas / rea total Mtodo aproximado Fraccin rea = No. de puntos en partculas / Total de puntos en malla
Anlisis tridimensional
1 2
Corte 1: corta partcula 1 a la mitad y un casquete de la 2
1 1
2 2 3
CONCLUSIN