Você está na página 1de 129

UNIVERSIDADE FEDERAL DE SANTA CATARINA

Centro Tecnolgico Programa de Ps-graduao em Metrologia Cientfica e Industrial

Maria Isabel da Costa Bandeira

AUTOMAO DO ENSAIO DE SATURAO EM TRANSFORMADORES DE CORRENTE UTILIZADOS EM SISTEMAS DE TRANSMISSO DE ENERGIA ELTRICA

Dissertao submetida Universidade Federal de Santa Catarina para obteno do Grau de Mestre em Metrologia

Orientador: Prof. Carlos Alberto Flesch, Dr. Eng.

Florianpolis, 2004.

AUTOMAO DO ENSAIO DE SATURAO EM TRANSFORMADORES DE CORRENTE UTILIZADOS EM SISTEMAS DE TRANSMISSO DE ENERGIA ELTRICA
Maria Isabel da Costa Bandeira

Esta dissertao foi julgada adequada para obteno do ttulo de Mestre em Metrologia e aprovada na sua forma final pelo Programa de Ps-graduao em Metrologia Cientfica e Industrial.

Prof. Carlos Alberto Flesch, Dr. Eng. Orientador

Prof. Marco Antnio Martins Cavaco, Ph. D. Coordenador do Curso de Ps-graduao em Metrologia Cientfica e Industrial

Banca Examinadora:

Prof. Marco Antnio Martins Cavaco, Ph. D. Departamento de Engenharia Mecnica UFSC Prof. Celso Luiz Nickel Veiga, Dr. Eng. Departamento de Engenharia Mecnica PUCPR Prof. Hari Bruno Mohr, Dr. Eng. Departamento de Engenharia Eltrica - UFSC

A todos que acreditam, persistem, entregam-se e realizam seus sonhos, com amor.

AGRADECIMENTOS
Ao LABMETRO, por ter me acolhido, me proporcionado uma formao com profissionais de indiscutvel talento e competncia, alm da oportunidade de realizar esse trabalho que me transformou em uma profissional e pessoa muito, muito melhor. Ao meu amor e companheiro, Flavio, por toda a fora, apoio, pacincia, dedicao e essencial contribuio no trabalho de arte grfica. A minha querida me, Eliete, pela sua dedicao, luta, esforos e orientao na minha formao. Ao grande Professor Carlos Alberto Flesch, por todo o seu empenho, pacincia, impecvel orientao e competncia, bom humor e valorosa contribuio neste documento. Aos profissionais da ELETROSUL que me apoiaram desde o incio desse trabalho e participaram da sua estruturao com muito profissionalismo, dedicao e otimismo: Egidio Loch, Paulo Bernardes, Clndio Radeck e Dalvir Maguerroski. Aos profissionais do LALTE, onde foi implementado esse projeto, pela estrutura concedida, profissionalismo, dedicao e ampliao das suas aplicaes. Ao amigo Mestre, Csar Penz, pela grande e fundamental ajuda, competente e tranqila, nos momentos mais difceis. Aos amigos por todo carinho, amizade, apoio e companheirismo: Jana, Lu, Snia, Csare, Liliana, Mario, Alex, Ana, Jaison, Gemaque, Puchalski, Fabrcio (em memria) e todos da especial e nica turma 2002. Somos todos anjos de uma nica asa e s podemos voar quando abraados uns aos outros.

RESUMO
A garantia da confiabilidade dos transformadores de corrente utilizados nos sistemas de transmisso de energia eltrica obtida atravs de ensaios. O ensaio de saturao um deles. Foi acompanhado o dia-a-dia de um dos mais competentes laboratrios do Brasil na rea e foi feito um levantamento do estado-da-arte de tal ensaio no tocante metrologia. Observou-se quase completa omisso com relao a aspectos metrolgicos, em especial no tocante avaliao da incerteza, em publicaes, procedimentos e normas. Identificou-se tambm a possibilidade de automao de tal ensaio, com investimentos de pequena monta. Desenvolveu-se um sistema automatizado com Labview. Promoveu-se uma avaliao da incerteza e props-se uma forma de considerar tal incerteza na anlise da conformidade dos equipamentos. A automao permitiu auferir ganhos significativos, operacionais e de confiabilidade metrolgica.

ABSTRACT
The guarantee of the reliability of the current transformers used in the systems of electrical energy transmission is gotten through tests. The saturation assay is one of them. The day-by-day of one of the most competent Brazilian laboratories in the area was followed and was made a survey about the state of the art in this assay that relates to metrology. Almost complete omission with regard to metrological aspects was observed, in special in that it relates to the uncertainty evaluation in publications, procedures and norms. It was also identified the possibility of automate this assay with investments of small sum. An automated system with Labview was developed. An evaluation of the uncertainty was promoted and a form to consider such uncertainty in the conformity analysis of the equipment was proposed. The automatization allowed to improve significant operational and metrological reliability profits.

LISTA DE FIGURAS
Figura 1: TC na linha de transmisso e conexo com instrumentos de medio e proteo. ............................................................................................................18 Figura 2: Modelo do transformador de corrente ........................................................27 Figura 3: Representao fasorial do funcionamento do TC (as grandezas no esto representadas em proporo real) [3]. ...............................................................29 Figura 4: Grfico I2 = f(I1) Corrente limite a partir da qual o TC entra em saturao. Na medio curva (1) e na proteo curva (2). ..................................................31 Figura 5: Comportamento da curva de magnetizao b=f(h) e a resposta correspondente da corrente de excitao para 4 situaes de operao [3]. ....34 Figura 6: Regies da curva de saturao de TC VS=f(Im) (VS=Ve e Im=Ie) [2]. ..........35 Figura 7: Corrente secundria na sada de um TC Saturado (preto) No

saturado (azul) [19]. ...........................................................................................37 Figura 8: Curva de saturao tpica do TC Ilustrao de pontos crticos [40]. ......44 Figura 9: Circuito eltrico do ensaio de saturao em TC........................................46 Figura 10: Diagrama em blocos da arquitetura de um sistema de aquisio de sinais ...........................................................................................................................53 Figura 11: Elementos tpicos de um sistema de aquisio de sinais........................54 Figura 12: Diagrama de blocos do sistema de automao do ensaio de saturao em TC ......................................................................................................................70 Figura 13: Diagrama de comando e potncia da fonte de tenso AC varivel..........74 Figura 14: Circuitos de acionamento da fonte de tenso, isolao, chaves de posio e conexo com o pente de bornes da placa DAQ..............................................75 Figura 15: Modulo de operao - CONTROLE FONTE ............................................78 Figura 16: Mdulo de interface REALIZAR ENSAIO..............................................79

Figura 17: Painel frontal calibrao da tenso ..........................................................80 Figura 18: Montagem do circuito de ensaio de saturao automatizado para enrolamentos de medio de TC .......................................................................84 Figura 19: Montagem do circuito de ensaio de saturao automatizado para enrolamentos de proteo de TC.......................................................................84 Figura 20: Caixa do circuito de controle da fonte de tenso ....................................86 Figura 21: Diagrama em blocos geral para as duas cadeias de medio e mapeamento das possveis incertezas associadas ...........................................89 Figura 22: Diagrama em blocos do circuito da calibrao dos transdutores .............90 Figura 23: Curva de calibrao do transdutor de tenso - nvel de confiana de 95% ...........................................................................................................................97 Figura 24: Curva de calibrao do transdutor de corrente de (750 a 10000) mA nvel de confiana de 95% ...............................................................................100 Figura 25: Curva de calibrao do transdutor de corrente de (10 a 750) mA - nvel de confiana de 95%.............................................................................................100 Figura 26: Circuito eltrico equivalente da cadeia de medio da tenso..............101 Figura 27: Circuito reduzido da cadeia de medio da tenso................................104 Figura 28: Modelo equivalente da cadeia de medio da corrente ........................105 Figura 29: Diagrama da sub-rotina de balano de incertezas .................................108 Figura 30: Ilustrao da proposta para o estabelecimento do Lc. ...........................113 Figura 31: Curva de saturao tpica para TC classes C ou K com ncleo fechado [11]. ..................................................................................................................113

LISTA DE TABELAS
Tabela 1: Corrente e relaes nominais simples para TC segundo a ABNT [9].....20 Tabela 2: Cargas nominais para medio e proteo [11] [9]. .................................21 Tabela 3: Fator trmico normatizado para transformadores de corrente .................22 Tabela 4: Descrio dos itens do circuito de ensaio de saturao automatizado ....85 Tabela 5: Definio das incertezas padres do processo de calibrao com base no fabricante ...........................................................................................................93 Tabela 6: Incertezas obtidas na calibrao do transdutor de tenso ........................95 Tabela 7: Caractersticas metrolgicas dos instrumentos de calibrao1..................96 Tabela 8: Incertezas obtidas na calibrao do transdutor de corrente ......................98 Tabela 9: Caractersticas metrolgicas dos instrumentos de calibrao...................98 Tabela 10: Especificao de exatido da placa DAQ 6024 E [91]. ........................106 Tabela 11: Faixas de medio na placa DAQ e VM correspondente ......................108 Tabela 12: Incertezas padro e expandida das cadeias de medio.....................109

SUMRIO
1 INTRODUO .......................................................................................................13 1.1 Caracterizao do escopo deste trabalho........................................................13 1.2 Objetivos do trabalho .......................................................................................14 1.3 Estrutura de apresentao do trabalho............................................................15 2 TRANSFORMADORES DE CORRENTE .............................................................17 2.1 Especificaes .................................................................................................18 2.1.1 Corrente e relao nominal .......................................................................19 2.1.2 Carga nominal ...........................................................................................20 2.1.3 Fator trmico .............................................................................................21 2.1.4 Classes de exatido ..................................................................................22 2.1.5 Tenso secundria nominal ......................................................................23 2.1.6 Impedncia secundria na proteo .........................................................23 2.1.7 Servios de proteo e medio ...............................................................24 2.2 Modelagem de TC ..........................................................................................25 2.3 A saturao em transformadores de corrente..................................................30 2.3.1 Curva de magnetizao do TC..................................................................32 2.3.2 Efeitos da saturao de TC em campo .....................................................36 2.4 Consideraes................................................................................................38 3 ENSAIO DE SATURAO EM TC .......................................................................40 3.1 Mtodo de ensaio ............................................................................................41 3.1.1 Tolerncias especificadas .........................................................................42 3.1.2 Anlise da curva de saturao ..................................................................44 3.2 Realizao de ensaio.......................................................................................45 3.2.1 Ensaio de saturao..................................................................................45

3.2.2 Ensaio de exatido para proteo Mtodo indireto ................................47 3.3 Confiabilidade metrolgica...............................................................................49 4 REQUISITOS PARA A AUTOMAO DE BANCADAS DE ENSAIOS.................52 4.1 Sistemas de aquisio de sinais......................................................................53 4.1.1 Transdutores .............................................................................................54 4.1.2 Condicionador de sinais ............................................................................55 4.1.3 Processamento e apresentao de dados ................................................57 4.2 Estruturas usuais em aquisio de sinais ........................................................58 4.2.1 Instrumentos com interface de comunicao ............................................59 4.2.2 Sistemas modulares ou bastidores ...........................................................61 4.2.3 Placas de aquisio de dados...................................................................62 4.3 Escolha da estrutura adequada ...................................................................65 5 DESENVOLVIMENTO DO SISTEMA DE AUTOMAO DO ENSAIO..................68 5.1 Estrutura do sistema de automao do ensaio................................................68 5.2 Descrio do hardware desenvolvido ..............................................................69 5.2.1 Placa de aquisio ....................................................................................70 5.2.2 Medio da corrente e tenso...................................................................72 5.2.3 Controle da fonte de tenso ......................................................................73 5.3 Descrio do software .....................................................................................76 5.3.1 Mdulos de interface de operao. ...........................................................77 5.3.2 Aquisio, processamento e armazenamento de dados...........................81 5.4 Procedimento de realizao do ensaio ............................................................83 5.4.1 Diagrama da montagem fsica ..................................................................83 5.4.2 Procedimento operacional.........................................................................86 6 AVALIAO METROLGICA DO SISTEMA DESENVOLVIDO ..........................88

6.1 Caracterizao do processo de medio.........................................................88 6.2 Avaliao a priori da incerteza da medio .....................................................90 6.2.1 Calibrao dos transdutores .....................................................................90 6.2.2 Avaliao da incerteza da calibrao ........................................................92 6.2.2.1 Resultados da calibrao do transdutor de tenso ................................95 6.2.2.2 Resultados da calibrao do transdutor de corrente ..............................97 6.2.3 Modelo das cadeias de medio .............................................................101 6.2.4 Placa DAQ ..............................................................................................105 6.3 Balano de incertezas....................................................................................107 6.4 Aplicao da incerteza da medio na avaliao crtica dos resultados do ensaio ..................................................................................................................110 7 CONCLUSES ...................................................................................................114 Recomendaes para trabalhos futuros ..............................................................117 REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS ....................................................................119

13

1 INTRODUO
1.1 Caracterizao do escopo deste trabalho
Equipamentos dos sistemas de transmisso e distribuio de energia eltrica so ensaiados periodicamente para avaliao da conformidade. A conformidade de tais equipamentos um dos principais requisitos da garantia da confiabilidade operacional do sistema de fornecimento de energia eltrica. Tais ensaios so realizados em sua maioria de forma manual e sem grandes preocupaes com aspectos metrolgicos. Um desses ensaios o de saturao realizado em transformadores de corrente (TC) para medio e proteo. O conhecimento da curva de saturao de um TC fundamental na especificao para sua instalao em campo. Essa caracterstica fornecida pelo fabricante de transformadores de corrente, a qual verificada em ensaios de rotina por laboratrios que efetuam manuteno em equipamentos utilizados no sistema de transmisso de energia eltrica [1] [2] [3]. Um transformador desse tipo tem uma relao aproximadamente linear entre corrente no primrio e tenso no secundrio, desde que esteja operando fora da regio de saturao. Quando saturado, tal relao deixa de ser vlida, podendo implicar em erros de medio comprometedores para a confiabilidade do sistema eltrico [2] [3]. Alm disso, retirar um transformador da condio de saturao exige procedimentos especiais no usualmente aplicveis em campo. O ensaio de saturao realizado com o objetivo de verificar o comportamento da curva de magnetizao do ncleo do TC e sua conformidade com a especificao do fabricante. O resultado do ensaio apresentado graficamente,

14

onde se pode comparar o comportamento atual do transformador com ensaios anteriores e sua especificao [1]. Dos resultados do ensaio de saturao em TC tambm so retirados dados que permitem a verificao da exatido para os enrolamentos de proteo [4]. A normalizao existente para ensaios em transformadores de corrente fornece mtodos diferentes para verificar a exatido, porm pouco diz a respeito da saturao em si. Mesmo sendo um ensaio importante, quase nada encontrado na literatura e na prtica do dia-a-dia dos laboratrios com relao avaliao das incertezas de medio inerentes a tal ensaio. Foram estabelecidos os objetivos deste trabalho a partir do estudo do estado-da-arte em ensaios de transformadores de corrente, em especial do ensaio de saturao, e do acompanhamento das atividades realizadas em um laboratrio. Identificou-se um ambiente propcio aplicao da automao e da avaliao metrolgica como forma de contribuio confiabilidade do processo de avaliao da conformidade de equipamentos da transmisso.

1.2

Objetivos do trabalho
Como forma de contribuio garantia da confiabilidade metrolgica e

operacional dos ensaios de saturao em transformadores de corrente, foram estabelecidos os seguintes objetivos para este trabalho: levantamento de informaes sobre ensaios de transformadores de corrente e anlise das correspondentes abordagens acerca de aspectos metrolgicos;

15

estabelecimento dos requisitos para automao de um ensaio de saturao;

desenvolvimento e testes, em condies reais de utilizao, de um sistema automatizado do ensaio de saturao em TC empregando o software Labview;

avaliao metrolgica do ensaio automatizado e proposta de forma de considerao das influncias das incertezas das medies na avaliao da conformidade.

1.3

Estrutura de apresentao do trabalho


Os captulos deste documento esto divididos da seguinte forma: O captulo 2 faz a abordagem inicial sobre transformadores de corrente e a

importncia da saturao. O captulo 3 descreve os ensaios de saturao e faz consideraes acerca dos aspectos metrolgicos inerentes. O captulo 4 apresenta os requisitos para automao de um ensaio e analisa as configuraes usuais em aquisio automatizada de ensaios. O captulo 5 apresenta o desenvolvimento e implantao do sistema de automao junto um laboratrio. O captulo 6 mostra a avaliao das incertezas das medies e prope um mtodo para considerar tais incertezas na anlise da conformidade de um transformador de corrente. O captulo 7 apresenta as concluses e sugestes de temas que possam ser explorados em trabalhos futuros para contribuir com a disseminao da cultura

16

metrolgica no setor de ensaios de equipamentos do sistema de fornecimento de energia eltrica.

17

2 TRANSFORMADORES DE CORRENTE

Os transformadores de corrente (TC) fazem parte de um grupo denominado transformadores para instrumentos. Esses transformadores so mundialmente utilizados nos sistemas de transmisso e distribuio de energia eltrica. Eles proporcionam isolamento contra as altas tenso e corrente do circuito de potncia suprindo instrumentos que integram os sistemas de medio, controle e proteo da rede de transmisso e distribuio [1] [4] [5]. O transformador de corrente conectado linha de transmisso com o seu circuito primrio ligado em srie com a linha de alta tenso. Seu enrolamento primrio possui ento impedncia desprezvel se comparada ao circuito externo [6] [1]. O circuito primrio do TC constitudo de poucas espiras (duas ou trs por exemplo) feitas de condutor de cobre de grande seo. Em muitos casos o prprio condutor do circuito de alta tenso serve como primrio. O circuito secundrio

fornece uma corrente proporcional passante na linha de transmisso, porm suficientemente reduzida, de forma que os instrumentos conectados a ele possam ser fabricados relativamente pequenos [1] [4] [5]. Esses instrumentos so instrumentos eltricos de baixa impedncia, e fazem parte dos sistemas de proteo, medio e controle da rede. Tratam-se de ampermetros, bobinas de corrente de wattmetros, rels de corrente, entre outros. (figura 1) [1] [3] [4] [5] [7].

18

Figura 1: TC na linha de transmisso e conexo com instrumentos de medio e proteo.

As caractersticas do TC so definidas segundo a tecnologia utilizada pelo sistema e as funes previstas para a sua operao. Eles so especificados com base nos parmetros de relao de transformao, potncia, classe de exatido, faixa de operao nominal e carga, em funo da sua aplicao [2].

2.1 Especificaes
Transformadores de corrente possuem padronizao de suas caractersticas. As especificaes para projeto, operao e realizao de ensaios seguem regras determinadas em normas tcnicas. No Brasil existem trs normas da ABNT: NBR 6546/91: Transformadores para Instrumentos Terminologia [8]; NBR 6856/92: Transformadores de Corrente Especificao [9]; NBR 6821/92: Transformadores de Corrente Mtodo de Ensaio [10]. Em nvel mundial, dentre outras, tm-se as seguintes freqentemente referenciadas na literatura:

19

IEEE

C57.13/1993

IEEE

Standard

Requirements

for

Instruments

Transformers. (reviso da antiga ANSI/IEEE C57.13/1978) [11]. IEC 60044-1 Instruments Transformers Part 1: Current Transformers (NF C 42-502 na Frana) [12]. IEC - 60044-6 Instruments Transformers Part 6 Requirements for protective current transformers for transient performance [13]. Existem diferenas em algumas especificaes entre as normas brasileiras e internacionais, principalmente no que se refere a limites de tenso e corrente em ensaios. Nesse trabalho sero seguidas as determinaes da ABNT e da IEEE. Essas normas especificam uma srie de caractersticas que no so tratadas nesse item. Somente o que for significativo para o ensaio de saturao, objeto de estudo desse trabalho, apresentado.

2.1.1 Corrente e relao nominal


Os valores nominais de corrente primria e secundria para os

transformadores de corrente so apresentados na NBR 6856 [9]. Esses valores normatizados valem para TC a servio de proteo e medio. Para os TC fabricados no Brasil so estabelecidas correntes primrias nominais (I1N) dentro de uma faixa que varia de 5 A a 8000 A. A corrente secundria nominal (I2N) padronizada em 5 A, porm correntes de 1 A e 2 A podem tambm ser utilizadas. Em casos especiais na proteo pode-se encontrar TC com corrente secundria nominal de 2,5 A [5] [1]. A norma especifica as correntes primrias e as relaes nominais para TC em quatro grupos. Esses grupos caracterizam respectivamente tipos de relaes nominais simples, duplas, triplas e mltiplas.

20

A tabela 1 apresenta as relaes nominais referentes ao grupo de relaes simples. Desse grupo obtm-se outros conjuntos de relaes atravs da combinao de derivaes no primrio ou no secundrio [9]. A relao entre I1N e I2N define a relao nominal (RN) do TC especificada pelo fabricante. Tambm chamadas de relao de transformao, atingem valor mximo de 1600:1 (tabela 1) (I1N de 8000 A e I2N= 5 A) [9] [5].
Tabela 1: Corrente e relaes nominais simples para TC segundo a ABNT [9] IN1 (A) 5 10 15 20 25 30 40 50 60 75

RN
1:1 2:1 3:1 4:1 5:1 6:1 8:1 10:1 12:1 15:1

IN1 (A) 100 150 200 250 300 400 500 600 800

RN
20:1 30:1 40:1 50:1 60:1 80:1 100:1 120:1 160:1

IN1 (A) 1000 1200 1500 2000 2500 3000 4000 5000 6000 8000

RN
200:1 240:1 300:1 400:1 500:1 600:1 800:1 1000:1 1200:1 1600:1

2.1.2 Carga nominal


Segundo SOLON [5], a carga nominal de um TC a carga na qual se baseiam os requisitos de exatido do equipamento. Ela deve ser especificada levando em considerao o consumo dos aparelhos e da fiao [5]. As cargas nominais especificadas so designadas por um smbolo, formado pela letra C seguida de um nmero (segundo a ABNT) . Esse nmero representa em volt-ampres o quadrado da corrente secundria nominal multiplicada pela impedncia da carga nominal (tabela 2). Na designao da IEEE, a carga nominal representada pela letra B seguida de um nmero que corresponde diretamente ao valor da impedncia da carga nominal em ohms (tabela 2).

21

Tabela 2: Cargas nominais para medio e proteo [11] [9]. Cargas nominais para medio -Fator de potncia 0,9 Designao ABNT C 2,5 C5 C 12,5 C 22,5 C 45 C 90 IEEE B-0,1 B-0,2 B-0,5 B-0,9 B-1,8 B-3,6 Potncia aparente (VA) 2,5 5,0 12,5 22,5 45,0 90,0 Potncia aparente (VA) 25 50 100 200 Resistncia () 0,09 0,18 0,45 0,81 1,62 3,24 Reatncia indutiva () 0,044 0,087 0,218 0,392 0,785 1,569 Reatncia indutiva 0,866 1,732 3,464 6,928 Impedncia - ZN () 0,1 0,2 0,5 0,9 1,8 3,6 Impedncia - ZN 1,0 2,0 4,0 8,0 Tenso secundria nominal [FSxIN2xZN] (V) 10 20 50 90 180 360 Tenso secundria nominal [FSxIN2xZN] (V) 100 200 400 800

Cargas nominais para proteo Fator de potncia 0,5 Designao ABNT C 25 C 50 C 100 C 200 IEEE B-1 B-2 B-4 B-8 Resistncia 0,05 1,00 2,00 4,00

2.1.3 Fator trmico


Os TC so projetados e construdos para suportarem em regime permanente uma corrente maior do que a corrente nominal sem que qualquer dano lhes seja causado [5] [1]. Essa caracterstica definida pelo fator trmico. Ele fixado pelo fabricante segundo os limites de elevao de temperatura. Sua determinao leva em considerao os diferentes tipos de materiais isolantes que podem ser utilizados na fabricao. O fator trmico definido como o nmero que deve ser multiplicado pela corrente primria nominal para obter a corrente mxima que o TC pode suportar em regime permanente. Adicionalmente considerado o TC operando com carga e freqncias nominais, sem exceder os limites de elevao de temperatura

22

correspondentes a sua classe de isolamento, e sem sair de sua classe de exatido. (tabela 3) [9] [11] [5].
Tabela 3: Fator trmico normatizado para transformadores de corrente

Norma tcnica ABNT [9] IEEE [11]

1,0 1,0

1,2 1,33

Fator trmico 1,3 1,5 1,5 2,0

2,0 3,0

4,0

2.1.4 Classes de exatido


A NBR 6856 classifica os transformadores de corrente em dois tipos quanto ao servio a que se destinam: TC para servio de medio e TC para servio de proteo [9]. Os transformadores de corrente destinados ao servio de medio devem ter uma boa exatido no domnio da corrente nominal at sua corrente mxima determinada pelo fator trmico [2]. Eles so enquadrados, segundo a ABNT [9], nas classes de exatido: 0,3%, 0,6% e 1,2%. Para classificar essa exatido so considerados erros de relao e fase levantados em ensaios [2] [9]. Os transformadores de corrente destinados ao servio de proteo, segundo a ABNT [9], se enquadram nas classes 5 ou 10, e classe 10 pela norma IEEE [11]. Para classific-los levado em considerao apenas o erro de relao [9] [11]. Na proteo o que interessa o efeito produzido nos rles pelo mdulo da corrente secundria em funo do mdulo da corrente primria. E, nesse caso, o erro de fase no oferece qualquer influncia [1]. A classe de exatido na proteo deve ser mantida dentro de limites de sobrecorrente. Essa caracterstica define o fator de sobrecorrente (FS). Ele

23

estabelece a corrente mxima que o TC deve suportar sem sair de sua classe de exatido, ou seja, sem que o erro de relao exceda o valor especificado [9] [11] [5]. Em [1] diz-se ainda que a classe de exatido define o quanto de tenso no circuito secundrio o TC pode suportar sem que o ncleo do TC entre em saturao. Essa definio pode ser melhor compreendida com as explicaes dos itens 2.1.6 e 2.3.

2.1.5 Tenso secundria nominal


A tenso secundria nominal definida segundo a ABNT [9], como a tenso que aparece nos terminais de uma carga nominal imposta ao TC a 20 vezes a corrente secundria nominal, sem que o erro de relao exceda o valor especificado (tabela 2) [9]. Isso quer dizer que o TC deve suportar uma corrente mxima no seu circuito secundrio proporcional a 20 vezes a sua corrente nominal sem transmitir erros superiores ao especificado por sua classe de exatido. A tenso secundria nominal representa a tenso mxima que o TC deve suportar em condies de sobrecorrente. O valor 20 fixado pela ABNT como o valor padronizado para o fator de sobrecorrente [9]. Somente os TC para servio de proteo atingem a tenso secundria nominal. Nos TC de medio, o ncleo satura muito antes da corrente secundria atingir esse valor (item 2.3) [14] [5].

2.1.6 Impedncia secundria na proteo


O erro de relao depende da impedncia conectada ao circuito secundrio. O clculo da impedncia total do circuito para efeitos prticos de especificao do TC utiliza como referncia as cargas nominais padronizadas (item 2.1.2) [1].

24

Porm, os TC para servio de proteo possuem ainda uma considerao no clculo da impedncia do circuito secundrio. A ABNT subdivide esses TC em duas classes quanto a sua impedncia [9] [5]. Os TC enquadrados na CLASSE A (CLASSE T segundo a IEEE) possuem alta impedncia interna. Isso est relacionado impedncia total do circuito secundrio quando esse alimenta sua carga nominal. Nesse caso a reatncia de disperso do enrolamento secundrio possui valor significativo e considerada nos clculos [9] [5] [11]. Ao contrrio, os TC de CLASSE B possuem baixa impedncia interna. A reatncia de disperso do enrolamento secundrio possui valor desprezvel e no considerada no clculo da impedncia total do circuito. (segundo a IEEE, equivale CLASSE C) [9] [5] [11]. O clculo da impedncia total do circuito secundrio tambm utilizado para definir a tenso de operao [1]. tambm aplicada no clculo da tenso utilizada para o ensaio de exatido pelo mtodo indireto conforme est descrito no item 3.2.1 [9].

2.1.7 Servios de proteo e medio


Caractersticas marcantes so impostas no projeto de construo do TC no que se refere ao tipo de ncleo e tipo de enrolamento primrio e secundrio. So essas caractersticas que dividem o TC quanto a sua adequada utilizao para medio e proteo [5] [2] [15]. Transformadores de corrente para servio de medio no podem ser utilizados para proteo e vice-versa. Principalmente se for o caso de medio para fins de faturamento ao consumidor [5] [2] [15].

25

As caractersticas que impem as diferenas e a necessidade de precauo so a classe de exatido e o circuito magntico. Em termos de especificao, por exemplo, um erro de definio da classe de exatido de um enrolamento de medio levar a um faturamento de energia errado e conseqentemente a perdas para o distribuidor ou para o cliente [2] [15]. Do mesmo modo um erro de especificao na proteo pode levar ao acionamento indevido de um rel de proteo, ou at mesmo, ao no acionamento do mesmo em caso de distrbios na linha de transmisso [2].

2.2 Modelagem de TC
O transformador de corrente ideal pode ser definido como um transformador, no qual qualquer condio no primrio reproduzida no circuito secundrio com exata proporo e relao de fase [6]. Uma definio alternativa, e possivelmente melhor, que o transformador de corrente ideal possui a relao ampres-espiras (excitao) do primrio exatamente igual magnitude da relao ampres-espiras do secundrio. Alm disso, essas relaes esto em fases opostas [16] [6]. Sendo as excitaes dos dois enrolamentos iguais, tem-se que:
N1 I1 = N 2 I 2

(1)

Conseqentemente, pode-se definir a relao de transformao nominal do TC como:

I1n N 2 = = KN I 2 n N1
onde K N =

(2)

N2 a relao de transformao nominal do TC. N1

26

Em caso real:

I1 = Kr I2
onde Kr a relao de transformao real, onde, Kc diferente de Kr [16] [5].

(3)

O teorema de Ampre diz que a soma das correntes de uma bobina igual circulao de um vetor no campo magntico [3].
n1 i1 + n2 i2 = H n dl
Ncleo

(4)

onde H representa o campo magntico e n o vetor unitrio tangente. Logo, um transformador real dito perfeito, ou ideal, quando:
H n dl = 0
Ncleo

(5)

No transformador real esse termo expressa o erro introduzido pelo circuito magntico. Esse erro define a intensidade de excitao Ie gerada no secundrio por: n1 i1 + n2 i2 = n2 ie (6)

Essa relao pode ser escrita como:


i1 + i = i 2 e n

(7)

O transformador pode ento ser representado como no modelo da figura 2. Um transformador perfeito de relao n que induz ao secundrio uma corrente I1/n1 em paralelo com uma impedncia que consome uma corrente Ie.

27

Figura 2: Modelo do transformador de corrente

Na realidade, impossvel manter a relao ideal, pois se as duas excitaes fossem iguais e opostas, no existiria fluxo no ncleo. A corrente I1/n refletida no circuito secundrio dividida em duas correntes. Uma a corrente secundria real I2 que passa pela impedncia da carga Z. A outra a corrente de excitao Ie que passa atravs do ramo magnetizante para manter o fluxo no ncleo [16] [3] [6]. O ramo magnetizante funciona como se fosse um shunt. Ele introduz um erro de relao na transformao do TC. Os enrolamentos primrio e secundrio provocam uma queda de tenso interna devido resistncia da bobina dos enrolamentos R1 e R2 e das reatncias de disperso L1 e L2. A corrente secundria provoca ainda uma queda de tenso externa pela carga Z [16] [3] [6]. Para equilibrar essas quedas de tenses precisa-se de uma fora eletromotriz (fem). Mas em compensao necessita de um fluxo no ncleo, que gerado pela diferena das duas excitaes, que responsvel pelos erros do TC [3]. Se o fluxo comum as duas bobinas pode-se escrever entre as fem e1 , e2 e as diferenas de potencial (ddp) v1, v2 as seguintes relaes:

28

V1 = e1 + R1 i1 + 1

di1 dt
di2 dt

(8)

e2 = v2 + R2 i2 + 2 e1 = n1 d dt d dt

(9)

(10)

e2 = n2

(11)

Se todas a funes descritas so senoidais de freqncia pode-se escrevlas de forma vetorial:

V1 = E 1 + (R1 + j1 ) l 1 E 2 = V 2 + R2 l 2 E1 = jn1 E 2 = jn2 l1 +l2 = le n


(12) (13) (14) (15) (16)

O esquema eltrico da figura 3 e as equaes 12, 13, 14, 15 e 16 conduzem representao fasorial apresentada na figura 3. A intensidade de excitao I e , decomposta sobre os eixos , E , em:

l e = l a+ l m

(17)

29

Figura 3: Representao fasorial do funcionamento do TC (as grandezas no esto representadas em proporo real) [3].

A representao fasorial de um TC tem o mesmo desenvolvimento que a de qualquer outro transformador. A transferncia se d entre as potncias de um enrolamento a outro por criao da fem que induz o fluxo [3] [14]. Para manter o fluxo magntico no ncleo, precisa-se de uma corrente Ia, que ir provocar perdas no ncleo. Ia representa as correntes de perda no circuito magntico (perdas no ferro provenientes da histerese e das correntes de Foucault). Ela faz aparecer uma corrente Im (em quadratura com o fluxo). Im a corrente de magnetizao que assegura o processo de transferncia. Essas duas correntes, formam o tringulo de correntes, caracterizando a corrente de excitao Ie [3] [14] [6].

30

Sendo assim, a presena de Ie vai resultar numa diferena entre I1/n e I2, tanto na amplitude (I), como no defasamento (). O valor da diferena das correntes

relacionado ao valor da corrente primria, chama-se erro de relao (), enquanto o defasamento () chama-se erro de fase de um TC [3] [16]. Os erros de fase no so tratados nesse trabalho por no serem significativos no ensaio de saturao. O erro de relao para TC definido pela equao 18 [9] [16].

R =

K N [(I 1 I 2 )] K N I 2 I 1 = [(I 1 I 2 )] I1

(18)

2.3 A saturao em transformadores de corrente


Os transformadores de corrente para servio de medio possuem ncleo feito de material de elevada permeabilidade magntica. Isso quer dizer que possuem pequena corrente de excitao, pequenas perdas e baixa relutncia. Trabalham sob condies de baixa induo magntica (cerca de 0,1 tesla) [14] [2] [5]. Eles entram em saturao logo que a induo magntica cresce para (0,4 a 0,5) tesla. O que corresponde a um crescimento da corrente primria de cerca de quatro vezes o seu valor nominal (figura 4). Essa a corrente mxima que ser refletida no secundrio (4 x I2N) em caso de saturao, mesmo que a corrente primria ultrapasse essa ordem de grandeza e atinja valores excessivos [14] [2] [5]. Nesse caso no necessrio que os aparelhos de medio ligados ao circuito secundrio suportem grandes intensidades de corrente, como os instrumentos ligados ao circuito de proteo [15] [2].

31

Essa caracterstica tambm impede que a corrente secundria distorcida pela saturao do ncleo (figura 7) chegue aos instrumentos, o que poderia provocar erros na medio para fins de faturamento [3].

Figura 4: Grfico I2 = f(I1) Corrente limite a partir da qual o TC entra em saturao. Na medio curva (1) e na proteo curva (2).

O ncleo dos TC para proteo feito de material magntico que no tem a mesma permeabilidade magntica que o TC para medio. Seu ncleo entra em saturao pra valores muito elevados do fluxo (induo magntica elevada). Isso corresponde em termos prticos a uma corrente primria de cerca de 20 vezes o seu valor nominal (figura 4). Nos instrumentos de medio essa corrente poderia danific-los. Porm os rels podem perfeitamente suport-la desde que sejam especificados para essa condio [14] [2] [5]. Um TC para proteo deve saturar em altos nveis de corrente para permitir a medio de correntes de falta. Para isso tem seu limite de funcionamento muito

32

elevado, como tambm, devem ser os rels, disjuntores e contatores ligados ao circuito, capazes de suportar altas correntes [2]. Deve-se conhecer a resposta do TC em regime de saturao para assegurar o bom funcionamento da proteo, necessria para quando a corrente primria ultrapassa a intensidade nominal. Serve em particular para situaes de curtocircuito quando surgem valores de corrente muito elevados [3]. O TC para proteo deve retratar com fidelidade as correntes de falta sem sofrer os efeitos da saturao. Na sua especificao deve-se considerar a tenso secundria mxima a partir da qual o TC passa a sofrer os efeitos da saturao. Nesse momento ele comea a no atender mais os requisitos de sua classe de exatido [2] [3]. A suscetibilidade dos transformadores de corrente entrarem em saturao mediante correntes de curto-circuito tem implicao direta no desempenho dos sistemas de proteo dos equipamentos e linhas de transmisso [17]. O transformador de ncleo toroidal amplamente usado em toda indstria de energia de potncia. Suas vantagens incluem: baixo custo, isolao galvnica, confiabilidade e fcil aplicao. Porm suas desvantagens so a facilidade de saturao e o fluxo remanescente [15]. Um mtodo de evitar a saturao em TC aumentar o tamanho do ncleo. Outro mtodo utilizar um material no ncleo que suporte grandes densidades de fluxo. Ambas as opes podem afetar no custo e na facilidade de aplicao do transformador [15].

2.3.1 Curva de magnetizao do TC


As propriedades dos materiais ferromagnticos so representadas

principalmente pela curva de magnetizao. A qualidade de um circuito magntico

33

traduzida pela relao que ele impe entre o valor de induo B e o vetor campo magntico H (figura 3) [2]. Em um dado instante esses dois vetores so ligados pela permeabilidade magntica relativa do material magntico r, tal que: (19) B = o r H O circuito magntico ento caracterizado pela curva b=f(h) chamada de curva de magnetizao. Em regime senoidal b representa a tenso, pois:

B=

n S

(20)

E 2 = n 2 j

(21)

V = E2
E h representa a intensidade da corrente de excitao dado que:
n2 le = H n dl
Ncleo

(22)

(23)

supondo que:

H n = H = cons tan te
tem-se,

(24)

n2 l e = L H

(25)

Em um transformador perfeito a permeabilidade magntica supostamente infinita:


l H = 0 onde, le = 0 e l 2 = 1 n

(26)

34

Essa hiptese est prxima da realidade quando o TC opera muito abaixo da saturao. I2 nesse caso uma imagem fiel de I1 (figura 5 transformador perfeito). As quatro situaes apresentadas na figura 5 representam as possibilidades de operao do TC.

Figura 5: Comportamento da curva de magnetizao b=f(h) e a resposta correspondente da corrente de excitao para 4 situaes de operao [3].

Transformador linear: a permeabilidade do ncleo constante, onde Ie e I2 so funes senoidais.

Transformador saturado sem histerese: a saturao representa uma variao brutal de r. Essa variao ocorre dentro de uma faixa que cresce rapidamente at um ponto de estabilidade chamado de joelho da curva de saturao. A induo B a partir desse ponto cresce muito lentamente e Ie se deforma passando a representar um ponto.

35

Transformador saturado com histerese: a curva de magnetizao duplicada traduzindo a resistncia do material do circuito magntico s variaes de induo. A curva Ie presente tem uma forma caracterstica.

A curva ento estabelece a relao entre o valor da induo magntica do material B e o valor da intensidade do campo magntico H que a cria. Porm, segundo as equaes (22) e (26) pode ser representada pela tenso de excitao no secundrio (Ve) em funo da corrente de excitao Ie [3]. Na prtica ela assim determinada; e tambm chamada de curva de saturao do TC. Seu resultado consiste, a grosso modo, no grfico apresentado na figura 6. Sua trajetria pode ser dividida em trs regies [2] .

Legenda: 1- Regio no-saturada linear. 2- Regio intermediria joelho da curva. 3- Regio saturada no linear. Figura 6: Regies da curva de saturao de TC VS=f(Im) (VS=Ve e Im=Ie) [2].

36

2.3.2 Efeitos da saturao de TC em campo


Os rels diferenciais detectam bem as falhas enquanto o TC estiver reproduzindo bem a corrente do primrio [18]. O TC produz geralmente uma forma de onda que representa fielmente a corrente primria at que o ncleo sature [19] [7]. Evidncias experimentais mostram que correntes de alta intensidade no primrio provocam efeitos da saturao e histerese no material magntico o que resulta numa no linearidade na transformao, a qual no pode ser desconsiderada [7]. A saturao distorce a forma de onda da corrente secundria. A extenso da distoro depende do valor do fluxo remanescente no ncleo do TC e da presena de um offset DC na corrente primria [20] [18]. comum, em linhas de transmisso, ocorrer situaes que gerem sobrecorrentes no circuito. Essas situaes levam geralmente perda de alguma fase ou a um curto-circuito. E, de uma forma geral so denominadas correntes de falta [22]. A figura 7 mostra que o TC no entra em saturao imediatamente aps a ocorrncia de uma corrente de falta. A saturao provoca um corte na forma de onda secundria que aumenta com a saturao no ncleo [21] [19].

37

Figura 7: Corrente secundria na sada de um TC Saturado (preto) No saturado (azul) [19].

O efeito da histerese faz com que o TC venha a saturar por um acmulo de pequenas correntes de falta, isso se d quando essas ocorrem em pontos no nulos da forma de onda e so bruscamente interrompidas, no havendo tempo de ocorrer desmagnetizao do ncleo [20] [1] [14] [19]. Nessa situao, o ncleo permanece magnetizado e com uma alta densidade de fluxo. Isso faz com que uma nova pequena corrente de falta sobreponha os valores nominais de operao do TC, levando-o saturao [20] [1] [14] [19]. comum de acontecer em certas faltas externas, quando as correntes de falta so muito elevadas, o aparecimento de componentes significantes de tenso contnua (DC offset) que se sobrepem s correntes de falta simtricas [19]. Chamadas de corrente de falta assimtrica podem levar um TC saturao muito mais rapidamente do que vrias pequenas correntes de falta simtricas sem componente contnua [15] [18]. A corrente contnua transiente flui pelo enrolamento primrio do TC, enquanto o crescimento do fluxo do ncleo o leva saturao. A corrente distorcida no ser a representao fiel da corrente primria, o que pode levar o TC a uma saturao indevida [14] [15]. Essa saturao indevida em sistemas de proteo pode provocar o surgimento de altas correntes diferenciais. Isso pode causar um atraso no tempo de

38

operao de alguns rels convencionais e, conseqentemente, a atuao indevida do circuito de proteo [22].

2.4 Consideraes
O comportamento do TC e suas especificaes para operao e ensaio so cobertos pelas normas citadas neste documento. Contudo, elas tm o propsito de especificar o comportamento do TC em regime permanente e em condies de falta simtrica [15]. O comportamento do TC sob condies de faltas assimtricas apresentado em vrios estudos. Sendo grande motivo de preocupao, elas so fruto de uma m qualidade da energia eltrica transmitida. Adaptaes freqentes na linha, incluso de novas subestaes

sobrecarregam a linha de transmisso. Geram harmnicos e componentes contnuas na linha que fazem o TC operar em regime no linear (transitrio). As distores harmnicas, por exemplo, ocorrem devido operao de cargas no-lineares no sistema eltrico. So exemplos: fornos a arco, fornos de induo, mquinas de solda, conversores estticos, compensadores estticos, etc. Elas tm aumentado nos sistemas eltricos devido aplicao crescente da eletrnica de potncia [22]. Contudo, representar essas situaes em laboratrio para uma realizao prtica de ensaio ainda no se mostrou vivel. Atualmente utilizam-se softwares que simulam as respostas transitrias a partir de especificaes pr-definidas [22] [23]. Vrios autores apresentam tcnicas utilizadas em sistemas de proteo para deteco da saturao, ou algoritmos de compensao da mesma associada ao rel

39

de proteo para o caso de faltas assimtricas [22] [23] [24] [25] [26] [27] [28] [29] [30]. Todos tratam da saturao em transformadores de corrente em um regime que se encontra fora do escopo desse trabalho. Porm, seria omisso falar sobre saturao em transformadores de corrente sem citar essa realidade que tange o tema. Para delimitar claramente a abrangncia deste trabalho acompanhou-se a execuo de diversos ensaios e analisou-se procedimentos e relatrios. Em comum acordo com o corpo tcnico do laboratrio em que esta dissertao foi realizada, optou-se pelo desenvolvimento do sistema de automao do ensaio de saturao e pela anlise da sua confiabilidade. As razes para tal esto expostas no captulo 3.

40

3 ENSAIO DE SATURAO EM TC

A saturao em transformadores de corrente um fato caracterstico das propriedades de um equipamento que opera com induo ferro-magntica. Sua ocorrncia inevitvel caso o TC opere em condies superiores as suas condies nominais [1]. Cabe ento aos projetistas conhecer a curva de saturao do equipamento para bem especificar o TC para sua operao em campo [1]. A NBR 6856 [9] prescreve que o fabricante deve fornecer a Curva tpica de excitao para TC a servio de proteo [9]. A curva de saturao do TC define uma regio satisfatria para operao dentro das suas caractersticas nominais e de acordo com as especificaes do circuito onde operar. um dos elementos utilizados na especificao do TC para sua operao em campo [1]. O TC designado para operar em uma estreita faixa, na regio inicial da curva de saturao. Um TC bem projetado sobre a corrente nominal, o ponto de trabalho fica na faixa linear da curva de saturao, com a corrente de excitao variando quase que proporcionalmente tenso desenvolvida no secundrio. Desse modo o mximo erro de relao do TC estar dentro da classe de exatido especificada [1] [6]. Aos laboratrios que realizam manuteno em transformadores de corrente cabe verificar as condies de operao do equipamento segundo os dados fornecidos pelo fabricante [4] [5] [37] [36].

41

O ensaio de saturao faz parte ento da rotina de ensaios realizados em TC. Seu procedimento de realizao, porm, no est prescrito em norma como esto os ensaios de tipo e rotina estabelecidos para esse equipamento. Visto que a corrente de excitao reflete o erro de relao do TC limitado por sua classe de exatido, pode-se verificar a exatido do TC para servio de proteo atravs da curva de saturao. Esse mtodo descrito pela ABNT [9] como ensaio de exatido para proteo pelo mtodo indireto [9] [1]. No meio operacional comum se referenciar a esse ensaio como ensaio de saturao. No uma expresso literalmente correta pois os limites de ensaio no chegam a representar a curva de saturao como um todo.

3.1 Mtodo de ensaio


O mtodo de realizao do ensaio de saturao consiste em levantar a curva de magnetizao do ncleo do TC. O ensaio executado a partir da aplicao de uma tenso de excitao (Ve) freqncia industrial, no secundrio do TC com o enrolamento primrio aberto [4] [5] [9]. A tenso Ve aplicada gera no circuito de ensaio uma corrente de excitao (Ie). Essa corrente absorvida pelo ncleo representa a intensidade de excitao proporcional ao circuito magntico H [3]. A integrao da tenso Ve representa o fluxo que proporcional ao vetor campo magntico B (equaes 20 26). Assim obtm-se na prtica a curva de magnetizao do TC [3]. Na realidade, o que ocorre uma simulao da tenso secundria que seria gerada sobre uma carga nominal conectada ao TC em operao. As condies de

42

operao a serem analisadas e as condies do laboratrio determinam os limites de tenso e corrente durante o ensaio.

3.1.1 Tolerncias especificadas


A ABNT [9] estabelece que o fabricante do TC deve fornecer a curva tpica de excitao. Ela deve ser traada para uma corrente de excitao de (1 a 500) % da corrente secundria nominal a uma tenso de excitao que no exceda a 1600 V [9]. Junto com a curva de excitao, deve ser fornecida a resistncia a 75 C do enrolamento secundrio e dos condutores de ligao aos terminais. Para os TC da classe A deve ser ainda fornecido o valor da reatncia de disperso do enrolamento secundrio indicando-se o mtodo usado na sua obteno [9]. A NBR 6856 foi a nica referncia direta ao ensaio de saturao especificado em norma encontrada em pesquisa bibliogrfica efetuada. Existe, porm o ensaio dieltrico de tenso induzida, normatizado, que utiliza circuito e procedimento de ensaio semelhante ao ensaio de saturao. Parte desse ensaio consiste na aplicao de tenso freqncia industrial no enrolamento secundrio do TC com os demais abertos. Tem o objetivo de fazer produzir a corrente de excitao [9] [11]. O ensaio limitado pelo valor da corrente secundria nominal do enrolamento multiplicado pelo fator trmico. A tenso limitada em 3500 V de pico para TC novos e 75 % dessa tenso para TC usados ou com enrolamento recuperado [9] [11]. Essa especificao direcionada aos enrolamentos de proteo. Aos enrolamentos destinados medio a corrente tambm limitada pelo fator trmico e a tenso especificada em 282 V de pico ou 200 V em valor eficaz (RMS) [9] [11]. No mbito dos profissionais que realizam esses tipos de ensaio em TC, bem como fabricantes do equipamento, os limites estabelecidos para o ensaio de tenso

43

induzida so compreendidos como aceitveis para a realizao do ensaio de saturao [4]. Na verificao da classe de exatido para proteo pelo mtodo indireto o limite de tenso especificado em norma. Uma equao determina a tenso secundria mxima para a operao do TC dentro da sua classe de exatido [4] [5] [9] [10]. A IEEE [11] estabelece que a curva tpica de excitao deve ser traada em grfico logaritmo para todas as relaes do TC. Desde 1% da tenso nominal at a tenso que causar uma corrente de excitao igual a 5 vezes a corrente secundria nominal [11]. No grfico dever estar sinalizado o ponto que determinada o joelho da curva. Tambm dever estar especificada a tolerncia mxima dos valores de excitao acima e abaixo do joelho da curva [11]. Apesar dessa determinao da IEEE [11] esses dados no foram encontrados em nenhuma curva de saturao da documentao do laboratrio onde foi desenvolvida a dissertao. Dos grficos analisados destacam-se os fabricantes de TC: ALSTON, ABB e TOSHIBA. Diante dessas especificaes diversas, retiram-se os limites especificados para realizao do ensaio de saturao. Para TC novos o fabricante deve fornecer a curva de saturao para uma corrente de excitao de at 25 A [9] [11]. Na prtica assim que as especificaes so de fato apresentadas. O limite de tenso varia para os fabricantes entre os 3500 V de pico determinados para o ensaio de tenso induzida [9] [11] e os 1600 V de valor eficaz especificado pela ABNT [9].

44

A realizao do ensaio de saturao, por laboratrios de manuteno, ocorre normalmente em TC usados ou recuperados. A corrente de excitao ento limitada pelo fator trmico. A tenso eficaz limitada em aproximadamente 1860 V rms (75 % de 3500 V de pico) na proteo e 200 V na medio [9].

3.1.2 Anlise da curva de saturao


A figura 8 apresenta uma curva tpica de saturao em grfico logaritmo. Essa figura ilustra regies e pontos considerados na anlise dos resultados do ensaio. Sabe-se que o fluxo aumenta proporcionalmente com a corrente primria at o ponto de inicio da saturao. Esse ponto chamado de ponto de permeabilidade mxima ou joelho da curva de saturao. Observa-se que na regio no saturada (anterior ao joelho da curva) a relao entre a tenso e a corrente constante [2] [11] [40].

Figura 8: Curva de saturao tpica do TC Ilustrao de pontos crticos [40].

45

Na regio de saturao (a partir do joelho da curva) essa relao comea a diminuir. A tenso de saturao (VS) e o ponto de permeabilidade mxima (PM), so determinados graficamente em funo da curva de saturao do TC [40]. A tenso de saturao definida pela interseo das projees das partes retas da curva de saturao. O ponto de permeabilidade mxima (PM) o ponto em que a reta tangente, que parte do ponto de inflexo da curva (Pi) (inicio da curva), se desloca da mesma definindo o joelho da curva de saturao [40]. Para TC com ncleo fechado (nongapped) essa tangente possui coeficiente angular =45 com a abscissa. Para TC com ncleo aberto (gapped) essa tangente possui coeficiente angular =30 com a abscissa [11] [40]. O joelho da curva tambm definido como um ponto na curva de saturao a partir do qual um aumento de 10% na tenso induzida, provoca um aumento de 50% na corrente de excitao [2] [11]. A norma IEEE [11] especifica que a curva de saturao deve ser levantada na rotina de ensaios para enrolamentos de proteo. Especifica tambm que o ponto de permeabilidade mxima deve ser determinado de acordo com o trao das tangentes. Adicionalmente estabelece que, na anlise dos resultados, a corrente de excitao no dever exceder a 125% do valor tpico da curva fornecida pelo fabricante [11].

3.2

Realizao de ensaio

3.2.1 Ensaio de saturao


O ensaio de saturao realizado basicamente com o circuito de ensaio apresentado na figura 9 [5]. Uma fonte de tenso CA varivel conectada ao circuito secundrio do TC com o primrio aberto [4] [5] [38] [39].

46

Figura 9: Circuito eltrico do ensaio de saturao em TC

Instrumentos de medio (ampermetro (A) e voltmetro (V)) so conectados no circuito de ensaio como mostra a figura. Antes e depois do ensaio deve ser feita a desmagnetizao do ncleo [38] [39]. O processo de desmagnetizao realizado com o mesmo circuito de ensaio. Eleva-se a tenso no secundrio at 1,2 vezes a tenso nominal. Atingida a tenso determinada, imediatamente ela reduzida at zero. Esse procedimento realizado 3 vezes [38] [39]. Aps a desmagnetizao do ncleo o ensaio iniciado. A tenso de excitao ento aplicada desde 0 V at o limite especificado pelo laboratrio. O limite determinado pelos equipamentos disponveis do laboratrio, norma de referncia utilizada, tipo e condies do enrolamento sob ensaio conforme apresentado no item 3.1.1. A tenso aplicada em degraus pr-definidos. A cada degrau de tenso, a elevao da tenso interrompida para a medio da tenso e corrente de excitao. Os dados so registrados manualmente em folha de ensaio [38] [39]. Alguns laboratrios utilizam a corrente como referncia. Determinam previamente degraus de corrente. Elevam a tenso observando o ampermetro at

47

atingir o limite de corrente definido. Nesse momento interrompe-se a elevao da tenso para registro dos valores [38] [39]. Em ambos os casos a corrente monitorada com ateno. Caso ocorra uma elevao brusca da corrente durante a aplicao da tenso, constatada a saturao do ncleo. O ensaio interrompido e o TC identificado como saturado. Os dados de ensaio so passados manualmente para uma planilha EXCELL onde gerado o grfico da curva de saturao. A partir da os resultados podem ser graficamente analisados.

3.2.2 Ensaio de exatido para proteo Mtodo indireto


O critrio usado para a classificao da exatido dos TC para proteo tem como base a maior tenso que pode ser induzida no secundrio, sem saturao e, conseqentemente, sem exceder o erro de relao especificado [4]. Nesse ensaio verifica-se o erro de relao percentual (%) do TC para proteo e conseqentemente a sua classe de exatido. A classe de exatido corresponde a uma determinada carga padronizada (tabela 2) no secundrio, no qual circulam correntes que variam desde a nominal at 20 vezes a nominal [2] [5] [10]. O erro percentual dado por:

% =

k N I 2 I1 100 I1

(27)

A tenso induzida no enrolamento secundrio pode ser expressa pela equao 28, onde r2 e x2 representam respectivamente a resistncia e reatncia do enrolamento secundrio.
E 2 = V 2 + r2 I 2 + jx2 I 2

(28)

48

A carga nominal padronizada representada pela equao 29.


V 2 = R I 2 + jX I 2

(29)

Assim tem-se a equao da tenso induzida no ncleo (30) que em mdulo tem a forma da equao 31.
E 2 = ( R + r2 ) I 2 + j ( X + x 2 ) I 2

(30)

E 2 = I 2 ( R + r2 ) 2 + ( X + x 2 ) 2

(31)

A equao 31 especificada pela ABNT como a tenso que deve ser induzida no circuito secundrio para verificao da classe de exatido. Os valores da resistncia (R) e reatncia (X) da carga nominal so fornecidos pela tabela 2 [5] [9]. A reatncia (x2) e resistncia (r2) do enrolamento secundrio so fornecidas pelo fabricante. A corrente I2 para a qual a exatido verificada determinada em situaes de sobrecorrente. O fator de sobrecorrente (FS) igual a 20 ento multiplicado pela corrente nominal I2N padronizada em 5 A [5] [9] [10]. Considerando que a corrente secundria I2 = FSI2N utilizada no clculo de E2 possui um valor equivalente no primrio: I1=kNFSI2N, assim sendo a expresso do erro percentual descrita como:

% =

Ie 100 FS I 2 N

(32)

Aps a realizao do ensaio o valor equivalente da corrente de excitao medida tenso de excitao especificada pela equao 31 aplicado equao 32 e o erro de relao do TC calculado [5] [9] [10].

49

Considera-se que um TC para servio de proteo encontra-se dentro da sua classe de exatido, quando o erro percentual calculado com a equao 32 no for superior ao especificado para a sua classe [5] [9] [10].

3.3

Confiabilidade metrolgica
Genericamente, confiabilidade refere-se capacidade de um item (produto,

processo ou sistema) desempenhar uma funo requerida sob condies preestabelecidas em um perodo de tempo definido [41]. Em um sistema de medio, a confiabilidade metrolgica refere-se capacidade de fornecer resultados de medies confiveis conforme condies de utilizao definidas [5]. Em ambiente industrial, diversos procedimentos deveriam ser aplicados para garantir o correto funcionamento do sistema de medio, em especial nas medies das grandezas que mais influenciam na qualidade do produto. Segundo [42] a comprovao metrolgica integra um conjunto de operaes necessrias para assegurar-se de que um dado equipamento de medio est em condies de conformidade com os requisitos para o uso pretendido. Um dos itens desse conjunto o relato da incerteza da medio, que deve levar em conta todas as incertezas significativas identificadas no processo de medio [41] [42] [43]. A declarao do resultado de uma medio somente completa se ela contiver tanto o valor atribudo ao mensurando quanto a incerteza de medio associada a este valor [43] [41] [44]. De uma forma geral a aplicao do conceito de incerteza de medio em ensaios est ocorrendo relativamente h muito pouco tempo. [44]

50

Em [45] apresentado um trabalho sobre confiabilidade de equipamentos utilizados na transmisso de energia eltrica. Trata-se de um acompanhamento estatstico sobre anlise de falhas em uma viso geral dos ensaios de recepo e rotina [45]. Em [46] enfatiza-se que a garantia da continuidade do fornecimento de energia eltrica passa pela necessidade de equipamentos e instalaes do sistema eltrico apresentarem alta disponibilidade e confiabilidade operativa [46]. Nesse contexto a funo manuteno assume um papel estratgico. A necessria disponibilidade e confiabilidade exigem que esses equipamentos passem por adequada manuteno de natureza preditiva. Nesse caso os resultados obtidos em ensaios entram como o meio de garantia dessa confiabilidade [46]. Contudo, nenhuma referncia apresentada sobre a anlise das incertezas de medio e sua influncia nos resultados dos ensaios realizados. O que se observa com relao confiabilidade metrolgica nos ensaios de saturao semelhante ao que ocorre com os demais ensaios de equipamentos da transmisso:

existe uma preocupao quanto calibrao dos instrumentos de medio, mas os certificados nem sempre so utilizados corretamente, no que refere a aplicao de correes e emprego da incerteza da medio;

nas referncias obtidas de laboratrios que efetuam esse tipo de servio, constatou-se que os executantes consideram, que, se um instrumento est calibrado, ele est automaticamente apto para realizar a medio, sem necessidade de se questionar quanto incerteza do mesmo;

no caso de medies de grandezas eltricas, normalmente se admite uma incerteza de 1/3 da tolerncia. No ensaio em questo, acredita-se que

51

incertezas dessa ordem no so significativas na avaliao da conformidade do equipamento;

senso comum nos laboratrios que os instrumentos utilizados para medio dessas grandezas esto tecnologicamente bastante avanados no que diz respeito sua qualidade metrolgica; Nessa situao optou-se por automatizar e avaliar a confiabilidade do ensaio

de saturao em funo do seguinte cenrio observado:

ensaio integralmente manual; ensaio em que descuidos do operador podem levar o TC saturao; ensaio em que a confiabilidade das medies no era assegurada; disponibilidade de equipamentos possveis de automao a custo

relativamente baixo;

grande interesse do laboratrio na automao do ensaio.

52

4 REQUISITOS PARA A AUTOMAO DE BANCADAS DE ENSAIOS

O segmento da automao seguramente o que mais cresce, dentro da instrumentao de medio. Principalmente a utilizao de bancadas automatizadas tem aumentado de forma bastante significativa [47]. A automao da medio integra vantagens operacionais e metrolgicas inerentes s capacidades de aquisio de dados decorrentes do uso do computador associado [48]. O emprego de recursos de processamento, armazenamento e aquisio em tempo real aumentam a confiabilidade metrolgica dos processos de medio [47] [48]. A evoluo tecnolgica tem agregado um custo cada vez mais atrativo automao [49]. Segundo FLESCH [47], atualmente o custo de uma bancada automatizada, com uso do computador igual, ou muitas vezes menor, do que o custo empregado a instrumentos convencionais. Isso se deve possibilidade de compartilhamento de mdulos de processamento de sinais, atravs da multiplexao, ao uso de transdutores mais simples e eliminao de mdulos mostradores, pelo emprego de instrumentos virtuais [50] [51]. Diante da contnua evoluo da tecnologia de instrumentao eltrica e das alternativas existentes, importante conhecer as principais disponibilidades, para desenvolver um projeto de um sistema de aquisio de dados [51] [52] [53].

53

4.1

Sistemas de aquisio de sinais


Um sistema de aquisio de sinais um conjunto de elementos inter-

relacionados, que se coloca entre um processo e seu observador, com o propsito de aquisio, anlise e apresentao dos dados sobre o referido processo [54] [55] [56]. O sistema de aquisio de sinais deve, portanto, medir, analisar e validar as informaes adquiridas do mundo real. Para tanto, esses sistemas devem apresentar uma arquitetura na qual os elementos se comunicam e se entendem mutuamente, interagindo entre si (figura 10) [54] [56].

Figura 10: Diagrama em blocos da arquitetura de um sistema de aquisio de sinais

Para uma viso mais prxima da realidade a figura 11 apresenta os elementos tpicos do hardware de um sistema de aquisio de dados. So eles: transdutores, condicionadores de sinais, mdulos de aquisio de dados e processador [54].

54

Figura 11: Elementos tpicos de um sistema de aquisio de sinais

4.1.1 Transdutores
Transdutores so componentes responsveis pela transformao do

fenmeno que se deseja medir em uma grandeza eltrica, capaz de ser compreendida pelo sistema de aquisio de dados [54] [57]. Segundo o VIM [58] o transdutor um dispositivo que fornece uma grandeza de sada que tem uma correlao determinada com a grandeza de entrada. O sensor definido como elemento de um instrumento de medio ou de uma cadeia de medio que diretamente afetado pelo mensurando [58]. Os transdutores podem ser formados a partir de sensores passivos que sofrem variao de algum parmetro eltrico (resistncia, capacitncia, indutncia) em funo da grandeza de medio. Esse tipo de transdutor necessita de excitao externa [57]. Tambm, podem ser formados a partir de sensores ativos, que geram diretamente um sinal eltrico na forma de corrente, tenso ou carga eltrica [57]. Em [47] prope-se que para a classificao de transdutores sejam adotados os termos: transdutores auto-geradores e transdutores que requerem alimentao [47].

55

4.1.2 Condicionador de sinais


Os sinais eltricos gerados por sensores e transdutores devem ser otimizados para a faixa de medio de entrada do conversor analgico-digital (A/D) da placa ou mdulo de aquisio do sinal. Freqentemente o sinal precisa receber algum tipo de tratamento anterior converso A/D. Os condicionadores de sinais realizam essa adaptao para viabilizao da medio. As funes mais importantes desempenhadas pelos condicionadores de sinais so apresentadas a seguir [54] [59]. A amplificao muito utilizada em condicionamento de sinais. Sinais de baixa intensidade, como de termopares por exemplo, devem ser amplificados para melhorar a resoluo e a relao sinal/rudo [57]. Para uma maior exatido, o sinal deve ser amplificado de forma que a mxima faixa de tenso do sinal a ser condicionado coincida com a mxima faixa de tenso de entrada do conversor A/D [55] [57]. Em muitos casos, para a proteo da entrada do conversor A/D, utilizado o isolamento de sinais. uma aplicao comum de condicionamento de sinais de transdutores. O sistema a ser monitorado pode conter transientes de tenso elevada que podem danificar o conversor [54] [60]. A isolao pode eliminar ou minimizar efeitos de potenciais de terra distintos entre os sinais de entrada de sistemas de aquisio de dados (DAQs) e os sinais adquiridos (efeito ground loop). Essa diferena pode levar a representaes erradas na medio, e, no caso de diferenas elevadas, ainda danificar o equipamento [54] [60]. A isolao destacadamente importante nos ensaios de equipamentos da transmisso de energia eltrica por eles envolverem tenses elevadas.

56

Uma tcnica muito utilizada pra medir diversos sinais com um nico dispositivo de medio a multiplexao. O equipamento de condicionamento de sinais analgicos geralmente prov multiplexao para uso com sinais de variao lenta, como temperatura [43] [55] [57] [59] [60] [62] [63] [64]. Porm, empregando-se multiplexao com chaves semicondutoras, sinais de alta freqncia tambm podem ser multiplexados [56] [61]. Na multiplexao o conversor A/D amostra um canal, troca para o prximo e assim sucessivamente. Para amostrar muitos canais ao mesmo tempo, a taxa de amostragem efetiva de cada canal inversamente proporcional ao nmero de canais amostrados [54] [60]. A taxa de aquisio mxima do sistema DAQ para um dado sinal (taxa efetiva) depende da relao entre a taxa de aquisio do sistema e o nmero de canais utilizados. Por exemplo, um sistema com 1MS/s (um milho de amostragens por segundo), na utilizao de 100 canais fornecer uma taxa efetiva de 10 kS/s (dez mil amostragens por segundo) para cada canal. Outro tipo de condicionamento de sinal a linearizao. utilizada em transdutores que possuem uma resposta no linear s variaes das grandezas de medio. Muitos transdutores, como por exemplo, os termopares e os termistores possuem essa caracterstica [43] [54]. A filtragem possui a funo de remover sinais indesejados do sinal que se deseja medir. Filtros de rudo - passa baixas - so utilizados para sinais CC, como os que resultam de medidas de temperatura. Eles atenuam as componentes de maior freqncia, que em grande parte so responsveis pela disperso da medio [54] [65].

57

Medies de sinais AC necessitam muitas vezes de filtros especiais como antialiasing filters. Esse tipo de filtro, tambm passa baixa, atenua componentes de freqncia superior largura de banda do sinal desejado. Caso no fossem removidas, poderiam aparecer erradamente como sinais dentro da faixa de medio do sistema de aquisio [65]. A excitao aplicada a transdutores que necessitam de alimentao externa. Extensmetros, termistores e termoresistores, por exemplo, utilizam mdulos de condicionamento de sinais que geram a excitao de tenso ou corrente necessria para o seu funcionamento [43] [54] [65]. Medidas com termoresistores so geralmente feitas com uma fonte de corrente que converte a variao em resistncia para uma tenso que pode ser medida. Strain gauges so dispositivos de baixa sensibilidade, alimentados por uma fonte de tenso e tipicamente usados em ponte de Wheatstone [43] [57]. fundamental conhecer a natureza do sinal, a configurao que est sendo usada na medio e os efeitos que o ambiente causa no sistema. Com base nessas informaes pode-se determinar o condicionamento adequado para o sistema de aquisio [54].

4.1.3 Processamento e apresentao de dados


interessante que a capacidade de processamento incorporada ao sistema de aquisio d condies para a anlise de dados coletados. Os softwares dirigidos ao desenvolvimento de aplicativos que empregam a filosofia de instrumentao virtual, como HPVEE, Labwindows e Labview, so formas amigveis de programao de controle de operao e de aquisio de sinais de instrumentos [66].

58

O ambiente de programao de aquisio e processamento de sinais mais usual na atualidade o LabView da empresa National Instruments. Trata-se de um pacote para visualizao e anlise de dados que permite criar de forma bastante simples e rpida a interface grfica de acordo com as necessidades [53]. A interface de operao vem a ser o que o fabricante chama de instrumento virtual. Os instrumentos virtuais se caracterizam por painis apresentados em telas de monitores de vdeo, acessadas pelo usurio. Atravs do software emula-se o comportamento operacional de instrumentos reais, que so comandados via teclado e mouse [47]. O software Labview uma linguagem de programao que permite a aquisio de dados, anlise, simulao ou controle de instrumentos e processos. Alm disso, ele possui bibliotecas para aquisio de dados, controle de instrumentos via GPIB e serial, analisador de dados e representao de dados [47] [67] [68]. Na verso 7 (atual), tambm permite o controle via internet de instrumentos e processos, alm da criao de arquivos auto-executveis para serem utilizados em computadores que no possuem o software instalado [69] [70].

4.2

Estruturas usuais em aquisio de sinais


Atualmente vrios organismos (ANSI, EIA, IEEE, por exemplo) desenvolveram

padres para auxiliar o projeto e desenvolvimento de sistemas de aquisio de sinais. Alguns desses padres so aceitos mundialmente, e muitos fabricantes oferecem uma grande quantidade de equipamentos compatveis com tais padres [70].

59

Esses padres definem critrios para controle remoto de instrumentos eletrnicos e para a comunicao destes entre si, atravs de barramentos ou protocolos de comunicao. Dentre os mais utilizados para este fim, destacam-se o IEEE-488, VXI e o RSXXX(RS-232, RS-485, RS-422) [47] [53]. Cada padro tem suas caractersticas, vantagens e desvantagens relacionadas ao tipo de aplicao. Com a evoluo da tecnologia dos conversores A/D e a popularizao dos computadores, as placas de aquisio de dados (placa DAQ) tm sido uma excelente alternativa para implementao de sistemas de aquisio. Contudo, as caractersticas de um sistema de aquisio de sinais so ditadas pelo processo do qual deseja-se adquirir dados e pelas necessidades do usurio do sistema. Desse modo um conhecimento detalhado dos padres existentes indispensvel para o projeto de sistemas de aquisio de dados [53].

4.2.1 Instrumentos com interface de comunicao


Atualmente vrios fabricantes equipam seus instrumentos com interface para tipos de barramento que permitem conectar instrumentos programveis a microcomputadores [52]. Os sistemas de aquisio de dados baseados nesse tipo de instrumento necessitam de equipamentos dotados do mesmo padro de comunicao para adquirirem os dados desejados [52]. A Hewlett-Packard (HP) desenvolveu na dcada de sessenta o barramento HPIB com o objetivo de controlar sua linha de instrumentos programveis [71]. Devido alta taxa de transmisso de dados, da ordem de 1Mbytes/s, este barramento foi rapidamente aceito e se transformou no padro IEEE 488 GPIB [71].

60

Para melhorar sua performance, vrios outros padres foram definidos. Entre eles destaca-se o padro IEEE 488-1975, desenvolvido dez anos depois do barramento GPIB [71]. Em 1987 o padro IEEE 488 foi melhorado e passou a ser denominado ANSI/IEEE 488.2. Este novo padro proporcionou uma maior facilidade de comunicao com os instrumentos, estabeleceu um protocolo de comunicao baseado em trocas de mensagens (SCPI), e resolveu o problema da padronizao de comandos [71] [72]. Para melhorar a interface com o usurio de sistemas de medio baseados em GPIB, vrios fabricantes criaram pacotes grficos de alto nvel como o LabWindows, LabVIEW, Measure e Asystant GPIB. Esses pacotes vm

acompanhados de bibliotecas de interfaces, que incorporam comandos apropriados para cada instrumento [71] [73]. Outro tipo de comunicao bastante usual na transmisso de dados de um computador para um perifrico, como uma impressora, uma plotadora ou um instrumento programvel a comunicao serial. Ela encontrada nos padres: RS232, RS-422, RS-485 e USB [74]. O padro RS-232 permite um tipo de comunicao ideal para transferncia de dados, em baixas taxas e distncias de at 10 m. A sua limitao a possibilidade de comunicao com apenas um dispositivo. Para acomodar vrios dispositivos necessrio o uso de uma placa com portas seriais mltiplas ou uma porta multiplexada [74]. O padro RS-422 o padro serial encontrado nos computadores Macintosh. Usa um sinal eltrico diferencial, ao contrrio do padro RS-232, cujo sinal possui referncia ao terra. A taxa de transmisso utiliza duas linhas para cada um dos

61

sinais de envio e de transmisso. Por isso, possui uma maior imunidade a rudo e permitiu aumento no comprimento mximo entre os dispositivos seriais. Alm disso, esse padro suporta at 10 dispositivos seriais conectados a uma nica porta [74]. O padro RS-485 um melhoramento do padro RS-422. Permite um nmero mximo de 32 dispositivos e define as caractersticas eltricas necessrias para garantir os nveis de tenso adequados durante a conexo, que pode chegar at 1000 m de distncia. Com esse padro podem-se criar redes complexas de dispositivos com uma porta serial nica. um padro bastante usual em controle de processos industriais [74]. O padro USB (Universal Serial Bus) uma tecnologia recente que tem substitudo a antiga RS-232. Esse padro foi projetado inicialmente para o controle de dispositivos perifricos, tais como teclado e mouse. Entretanto, se mostrou til para muitas outras aplicaes, inclusive a automao da medio. O padro USB possui as caractersticas de auto deteco e configurao dos dispositivos plug and play e permite a conexo de at 127 dispositivos por ponto [73] [74].

4.2.2 Sistemas modulares ou bastidores


Sistemas modulares so utilizados quando as grandezas medidas demandam uma velocidade elevada na aquisio de dados, grande quantidade de medies e alta capacidade de processamento [52]. Esses sistemas so compostos de vrias placas de aquisio de dados controladas por uma placa conectada ao computador dedicada exclusivamente ao controle do funcionamento dessas. Utilizam um barramento de interconexo desenvolvido especificamente para essa funo [52]. Assim, o computador fica com a funo de trabalhar com os resultados j processados pela placa de controle do sistema [52].

62

O sistema de aquisio de dados montado em um gabinete especfico. Contm as placas de aquisio, barramento de conexo e processador dedicado. interligado ao microcomputador atravs de uma das interfaces computacionais [52]. Existem diversos tipos de sistemas com estas caractersticas, mas a maioria dos fabricantes segue algum padro para que componentes com diferentes procedncias possam ser compatveis entre si [75]. A plataforma VXI plug and play rene uma grande quantidade de produtos para aquisio de dados de diferentes fabricantes, mantendo a compatibilidade entre eles. Tal compatibilidade garantida devido a especificaes mecnicas, eltricas e lgicas para interligao dos componentes [75] [76]. Outro tipo de sistema modular a plataforma PXI. uma arquitetura baseada no barramento PCI (PXI = PCI eXtensions for Instrumentation). Combina as caractersticas eltricas do barramento PCI, amplamente difundidas pelo seu uso em qualquer PC, com as caractersticas mecnicas e modulares do CompactPCI [75] [76]. A plataforma PXI integra barramentos de sincronizao especializados e caractersticas especficas de software tornando-se uma plataforma de alto desempenho e custo relativamente baixo para sistemas de medio e automao [75] [76].

4.2.3 Placas de aquisio de dados


As placas de aquisio de dados (placa DAQ) efetuam a digitalizao de valores dos sinais analgicos geralmente tenso - e transfere a informao digital para o computador. As placas so ligadas diretamente aos barramentos internos do computador, conferindo boa velocidade na troca de dados [54]. Desta forma, a placa

63

DAQ possui as mesmas condies de acesso de outros componentes do sistema como controladores de vdeo, memria, disco, etc. Alm da digitalizao de tenses, comumente os fabricantes incluem outras funes como sadas de sinais analgicos, entradas e sadas digitais,

temporizadores e contadores [54]. As especificaes de entradas analgicas fornecem informaes sobre as caractersticas e a exatido do sistema de aquisio de dados. As especificaes bsicas informam o nmero de canais, a taxa de amostragem, a resoluo e as faixas de medio [54]. O nmero de canais de entradas analgicas de uma placa DAQ especificado pela configurao dessas entradas. A configurao do sistema depende completamente da sua aplicao e do tipo de sinal a ser medido [60]. Na maioria dos sistemas de aquisio deve-se escolher na configurao das entradas analgicas entre: single-ended ground referenced (RSE), single-ended ground nonreferenced (NRSE) ou differentiais (DIFF) para todo o grupo de canais analgicos [60]. A diferena entre os esses tipos de configurao est no uso do terminal negativo do sinal. Na configurao RSE o terminal negativo do amplificador diferencial no utilizado; todos os canais compartilham um terra comum. Essas entradas so tipicamente usadas quando os sinais so de alto nvel (maior que 1 V). A distncia entre a fonte de sinal ao hardware de entrada analgica devem ser pequenas (por exemplo, menores que 3 m) [60] [77]. Se os sinais no se encaixam nesses critrios, deve-se utilizar as entradas diferenciais. No modo diferencial os dois terminais do amplificador so utilizados. Cada entrada tem sua prpria referncia e os erros causados por rudos so reduzidos [54] [60].

64

A taxa de amostragem o parmetro que determina a freqncia com que as converses so realizadas. Uma taxa de amostragem muito alta adquire mais dados num tempo determinado e pode, portanto, gerar uma representao do sinal mais prxima do original [54] [77]. Esse parmetro medido em amostras por segundo (samples per second, samples/s). Para digitalizar o sinal de maneira apropriada o teorema da amostragem (teorema de Nyquist) deve ser respeitado [54]. Ele diz que, a freqncia de amostragem deve ser no mnimo duas vezes a freqncia mxima contida no sinal. Ou seja, a taxa de amostragem deve ser no mnimo duas vezes mais rpida que a componente de freqncia mais alta do sinal a ser coletado. Por exemplo, uma medio que precisa de um sinal de 1 kHz deve possuir uma taxa de amostragem mnima de 2 kHz [54]. Na prtica, para que se garanta boa exatido, relaes de 10 vezes, ou at mais, so necessrias. A faixa de converso ou faixa de medio (FM) desses sinais determinada pelos nveis de tenso mximo e mnimo que o conversor pode quantizar [54]. A exatido da converso dependente da resoluo, linearidade do conversor, ganho (G) e erros de offset do amplificador de entrada [54]. Algumas placas DAQ oferecem faixas de medio e ganhos selecionveis. Os ganhos determinam diferentes nveis de tenso para as faixas de converso e conseqentemente a resoluo do conversor A/D [54]. A resoluo e o ganho disponveis determinam a tenso mnima que o conversor pode detectar. A resoluo pode ser determinada pela equao (33):

FM G 2 n bits
Onde: FM faixa de medio

(33)

65

G ganho utilizado

4.3 Escolha da estrutura adequada


Os requisitos bsicos identificados para a automao do ensaio de saturao foram: duas entradas analgicas para a medio das grandezas com uma taxa de aquisio compatvel com a freqncia mxima de 60 Hz e 5 bits de entradas e sadas digitais para controle e comando da fonte de tenso. A escolha da melhor estrutura a ser utilizada passa por uma anlise das estruturas apresentadas nesse captulo, considerando os requisitos bsicos identificados e os recursos disponveis no laboratrio de implementao. A evoluo da tecnologia de converso A/D e de acessrios de condicionamento tornaram o uso das placas DAQ uma das opes mais populares para sistemas de instrumentao. Sistemas baseados em barramentos IEEE 488 e VXI so geralmente utilizados para medies mais sofisticadas. Por outro lado, para uso em sistemas de aquisio de dados mais simples existem os sistemas baseados em instrumentos que se interligam atravs de algum protocolo de comunicao serial, tambm muito populares. Para a escolha da configurao utilizada no projeto de aquisio de dados, no mnimo trs pontos devem ser observados: a meta a ser alcanada, a necessidade de integrao com outros sistemas e os benefcios que cada configurao traz para a aplicao. Deve-se visualizar se o sistema a ser desenvolvido ir se integrar com um j existente, ou se, haver no futuro necessidade de ampliaes. Deve-se estar atento de que as tecnologias podem ser mescladas para a criao de diversas configuraes.

66

Por exemplo, pode-se construir um sistema apenas com instrumentos VXIs, ou integr-los com instrumentos GPIB, ou ainda, integrar instrumentos VXIs com GPIBs e com placas DAQ. Um resumo das principais caractersticas de cada tecnologia descrita nesse captulo apresentado como forma de facilitar decises associadas s vantagens e desvantagens que elas podem oferecer a um determinado sistema em questo.

IEEE 488 Larga faixa de aceitao e compatibilidade com grande quantidade de instrumentos e fabricantes; projetado para controle remoto de instrumentos programveis; controla at 14 instrumentos; taxas de

transferncia acima de 1Mbytes/s.

Placas de aquisio Combina baixo custo com desempenho moderado; Instalada diretamente no barramento do PC; transfere dados diretamente para a memria do PC; resoluo de 8 a 16 bits; taxa de amostragem pode chegar acima de 1 MHz; converso A/D, D/A; operaes de temporizao; entradas e sadas digitais.

Comunicao serial Controle remoto serial para instrumentos simples; usual para longas distncias; usual para controle remoto de subsistemas de aquisio de sinais; a maioria dos computadores possui uma interface RS232; grande quantidade de instrumentos disponveis.

Barramento VXI Padro mundialmente aceito desde 1987; instrumentos sofisticados e de alto desempenho; componentes modulares; compatvel com padres VME e IEEE 488; alta velocidade de compartilhamento de memria; alto custo.

67

Para a automao do ensaio de saturao em TC adotou-se uma estrutura trivial em automao laboratorial que utiliza uma placa de aquisio de dados controlada via software LABVIEW por um PC. Alm das caractersticas e vantagens descritas at agora sobre os sistemas de aquisio de sinais baseados em placas DAQ, outros fatores foram levados em considerao:

quanto aplicao, as grandezas envolvidas no ensaio oferecem a facilidade de se dispor de sinais j pr-tratados - no necessitam de vrias unidades de condicionamento e processamento de sinais para justificar o uso de bastidores;

os sinais a serem adquiridos esto na freqncia industrial de 60 Hz. Por isso, no necessita de um sistema com alta taxa de aquisio;

os nveis de incerteza da medio exigidos pela aplicao no so grandes. A disponibilidade de entradas e sadas digitais permite a comunicao de

informaes binrias ou pulsos diretamente ao sistema de aquisio de dados, o que permite exercer as funes de controle e comando necessrias para o projeto. As placas DAQ oferecem tambm escalabilidade, o que caracteriza a possibilidade de futuras expanses e upgrades sem perder investimentos j realizados. Isso se deve a sua plataforma aberta, que permite integraes com sistemas futuros. Sobre expanses futuras, verifica-se ainda, que a necessidade de expanso do sistema com emprego de transdutores especiais, no compatveis com placas DAQ, muito remota. As placas de aquisio so de baixo custo. Apresentam facilidade de operao e de manuteno tambm a baixo custo sob forma de substituio.

68

5 DESENVOLVIMENTO DO SISTEMA DE AUTOMAO DO ENSAIO

O sistema de automao do ensaio de saturao em transformadores de corrente (TC) foi estruturado para o mtodo de levantamento da curva de magnetizao. Conforme descrito no captulo 3, esse mtodo permite verificar as caractersticas magnticas do ncleo, bem como avaliar a exatido dos enrolamentos de proteo do TC. O procedimento de ensaio, em sua forma tradicional, consiste na aplicao de tenso alternada varivel ao secundrio do TC, atravs de uma fonte que controlada manualmente. A cada degrau de tenso ou corrente pr-definido realizada uma interrupo para a medio e registros de ambas as grandezas. A medio feita com instrumentos de bancada - voltmetro e ampermetro. Os dados so registrados manualmente em folha de ensaio. Os registros so posteriormente transferidos para o programa Excel no qual gerada a planilha de resultados [38] [39].

5.1

Estrutura do sistema de automao do ensaio


necessrio integrar a estrutura de aquisio de sinais adotada, justificada

em 4.3, aos mdulos que iro compor o sistema de automao do ensaio. Diante disso, iniciou-se um processo de anlise de todos os itens que compem o circuito de ensaio. Foi preciso conhecer o funcionamento da fonte de tenso e criar um meio de integr-la ao novo sistema, sem perder suas caractersticas funcionais anteriores.

69

Para isso, desenvolveu-se um circuito de acionamento com o devido isolamento entre as chaves de atuao da fonte e a placa de aquisio. Foram escolhidos transdutores para a medio das grandezas envolvidas. A escolha teve como base a compatibilidade necessria entre a faixa de medio e a faixa de entrada da placa de aquisio. Tambm, foi necessrio adequar as especificaes mnimas necessrias para a implementao do projeto, com os recursos disponveis no laboratrio onde foi realizada a dissertao. Foi desenvolvido um programa em LabView que realiza as funes desejadas com uma interface de operao funcional e amigvel para o operador. A apresentao dos dados realizada conforme normatizao [10] [11]. O armazenamento dos registros feito em interface grfica do programa Excel. O Excel ferramenta de uso contnuo do laboratrio em questo, para registro e anlise dos resultados do ensaio. Para a realizao prtica foi preciso definir o modo de interligao entre todos os mdulos do sistema e o funcionamento desejado. A descrio detalhada do desenvolvimento do hardware apresenta todos os itens e condies analisadas para a implementao do projeto.

5.2

Descrio do hardware desenvolvido


A concepo do hardware para o sistema de automao pode ser dividida em

quatro blocos funcionais que se interligam na realizao do ensaio, conforme apresenta o diagrama de blocos da figura 12. Esses blocos representam as seguintes funes:

configurao da placa de aquisio de dados;

70

reduo da amplitude dos sinais envolvidos a uma faixa compatvel com a placa de aquisio;

circuito de acionamento da fonte e isolao com a placa DAQ; interface de operao e tratamento dos dados. O processo de anlise e desenvolvimento utilizado na integrao,

configurao e especificao desses blocos so descritos e detalhados nesta seo.

Figura 12: Diagrama de blocos do sistema de automao do ensaio de saturao em TC

5.2.1 Placa de aquisio


A placa de aquisio adquirida para este projeto um dispositivo da National Instruments modelo 6024-E. Trata-se de uma placa PCI de 12 bits com 16 canais de entradas analgicas na configurao RSE e NRSE ou 8 canais na configurao DIFF. Possui 2 canais de sadas analgicas, 1 byte de entradas e ou sadas digitais e canais para funes de timer e trigger [77]. Todos os atributos disponveis nesse dispositivo so configurados pelo driversoftware NI-DAQ, que promove a integrao entre o hardware e o software de desenvolvimento, nesse caso o Labview [77].

71

Dos recursos da placa de aquisio foram utilizadas as entradas analgicas e as entradas e sadas digitais. As funes adicionais podero ser utilizadas no futuro em diversas aplicaes no laboratrio ou mesmo para aprimoramento e extenso do sistema desenvolvido. Duas entradas analgicas foram destinadas medio da tenso e da corrente de excitao. Elas foram configuradas em modo diferencial devido s caractersticas do sinal e posicionamento dos itens de ensaio no laboratrio. A configurao diferencial garante uma melhor confiabilidade das medies para sinais flutuantes (sem referncia de aterramento) transmitidos a longas distncias [60]. Esse o caso dos sinais vindos dos transdutores, cuja disposio no circuito de ensaio exigiu a utilizao de cabos de 10 m para a medio da corrente e 20 m para a medio da tenso. A taxa de aquisio para o grupo de entradas analgicas de 200 kS/s. Nesse caso obtm-se 100 kS/s para cada um dos dois canais utilizados. A faixa de medio mxima, para cada canal, de (-10 a +10) V. Ganhos programveis, via software, permitem a variao dessa faixa para obter uma melhor resoluo na medio de sinais de baixa intensidade. A placa DAQ 6024E possui um byte de entradas ou sadas digitais que pode ser configurado como porta (byte inteiro) ou como linhas (bit a bit). Esse recurso foi destinado ao controle da fonte de tenso. A porta digital foi configurada para funcionar em linha. Trs linhas foram configuradas para leitura do estado das seguintes chaves de posio da fonte: fim de curso superior, fim de curso inferior e disjuntor de tenso. E, duas linhas foram configuradas para enviar os comandos de elevar e reduzir a tenso no controle da fonte.

72

Todas as linhas digitais possuem internamente um resistor de 50 k em configurao pull-up ligado a uma fonte de tenso contnua (CC) de 5 V. Essa configurao mantm as linhas digitais naturalmente em nvel lgico positivo. Na descrio do circuito de controle da fonte de tenso, item 5.2.3, poder ser observado que essa configurao influenciou diretamente na forma de controle utilizado, bem como, exigiu cuidados na aplicao das linhas de sada.

5.2.2 Medio da corrente e tenso


Para a medio da corrente e da tenso foi necessrio especificar transdutores compatveis com as faixas de medio do ensaio e da entrada da placa DAQ. A tenso alternada (CA) aplicada ao secundrio do TC durante o ensaio possui uma faixa de variao, em valor eficaz, de (0 a 1860) V. A entrada analgica da placa de aquisio possui um conversor A/D de 12 bits e uma faixa de medio mxima de (-10 a +10) volts de pico. Dentre os transdutores disponveis nas instalaes do laboratrio optou-se pela utilizao de dois transformadores redutores de tenso. Usou-se dois, devido dificuldade de se encontrar, at mesmo no mercado, um transformador que atingisse toda a faixa desejada. O conjunto de transformadores composto por um primeiro, conectado diretamente ao secundrio do TC, com uma relao de 2200 V para 220 V (TP1) e um segundo entre a sada do primeiro e a placa DAQ, com relao de transformao de 220 V para 6 V (TP2). O conjunto apresenta uma relao de reduo aproximada de 322,58 conforme calibrao (item 6.2.2.1). A faixa de variao da tenso na fonte, observada em experincias prticas realizadas no decorrer deste trabalho,

73

compreende valores de (2 a 1650) V, o que resulta em uma faixa de medio aproximada de 6 mV a 5,12 V. A corrente de excitao gerada durante o ensaio de saturao varia aproximadamente de 10 mA a 10 A. No comum encontrar transdutores de corrente no mercado que apresentam uma boa linearidade, com a mesma exatido, em uma larga faixa como essa. A diviso de manuteno e ensaios, da qual o laboratrio em questo integrante, costuma desenvolver transdutores de corrente prprios para suas aplicaes. Normalmente esses so destinados medio de correntes na ordem de alguns ampres. Neste trabalho foi utilizado um desses transdutores de corrente desenvolvidos pela referida diviso. Tal transdutor um transformador de corrente em formato alicate com sensibilidade de aproximadamente 100 mV/A. Os resultados da sua calibrao apresentadas em 6.2.2.2 mostrou uma boa linearidade em toda a faixa e uma incerteza compatvel com a incerteza mxima admitida para o ensaio.

5.2.3 Controle da fonte de tenso


A fonte de tenso utilizada um autotransformador com um eixo varivel, controlado por um motor. O eixo movimenta-se sobre quatro colunas de espiras interligando-as de forma a somar suas tenses e correntes, o que permite fornecer em sua sada uma tenso AC varivel de (0 a 450) volts, em at 375 A. A alimentao tanto para fonte como para o motor provm da rede eltrica de 220 V; 60 Hz. Seu acionamento manual se d atravs de uma botoeira com um boto para cada sentido. Os botes acionam independentemente dois contatores interligados entre si que ligam o motor e impedem o acionamento simultneo nos dois sentidos. de

74

interesse que o circuito de acionamento manual continue operante e que a fonte possa ser facilmente utilizada para outras funes. A soluo adotada foi utilizar rels em paralelo com as botoeiras para permitir o acionamento automtico da fonte sem interferir no seu funcionamento manual (figura 13). As caractersticas dos rels possibilitam interligar tenses da ordem de 220 V; e correntes de 5 A, conforme requer a aplicao.

Figura 13: Diagrama de comando e potncia da fonte de tenso AC varivel

Para a atuao dos rels via placa DAQ desenvolveu-se dois circuitos idnticos em uma configurao tpica de transistores operando com saturao forada (figura 14). A operao dos transistores de sada T3 e T4 permite a energizao da bobina dos rels quando um sinal aplicado na base dos transistores de entrada T1 e T2. Para um controle mais fino o sinal aplicado base de T1 e T2 enviado em forma de pulsos. Os pulsos so gerados por uma subrotina do programa de controle e substituem a utilizao do sadas digitais. sinal lgico contnuo normalmente fornecido pelas

75

A configurao padro interna das sadas digitais as mantm naturalmente em nvel lgico positivo na ausncia de comandos sobre a mesma. Essa caracterstica no se mostrou interessante nessa aplicao. Com o circuito de acionamento conectado diretamente linha digital, teria-se sempre um sinal positivo na linha, acionando indevidamente o rel. Para resolver esse problema acrescentaram-se os resistores R5 e R6 entre cada linha de sada digital e o terra (GND). Esses foram calculados para inverter a configurao para nvel lgico negativo e garantir que as sadas estejam sempre desativadas exceto quando um pulso enviado.

Figura 14: Circuitos de acionamento da fonte de tenso, isolao, chaves de posio e conexo com o pente de bornes da placa DAQ

As chaves da fonte de tenso no podem ser acionadas diretamente pela placa de aquisio. necessrio um adequado isolamento para sua proteo. Para isso utilizou-se os optoacopladores IS1 e IS2 de modelo 4N25 [78]. Esse

76

componente foi inserido no circuito de forma a isolar a parte digital da parte analgica e proteger a entrada da placa DAQ (figura 14). Duas chaves de fim de curso na fonte indicam a posio do eixo nos limites mnimo e mximo de tenso e uma outra chave conectada ao disjuntor indica a presena de tenso na sada a fonte. Para receber os sinais da fonte pelas entradas digitais aproveitou-se a configurao padro da placa DAQ. As chaves FC_I, FC_S e DISJ foram inseridas entre a sada digital e o DGND da placa DAQ (figura 14). O acionamento das chaves ocorre em lgica negativa para indicar chave fechada e lgica positiva para indicar chave aberta. Uma sinalizao local foi adicionada em srie com essas chaves atravs de leds (figura 14).

5.3 Descrio do software


O LabView um ambiente de desenvolvimento, que utiliza uma linguagem de programao grfica com a qual programas so criados na forma de diagramas de blocos [54] [67]. Assim como outros diversos ambientes de programao possui ferramentas para depurar os programas, como breakpoints e execuo passo a passo. Os programas em LabView so chamados de virtual instruments (VI), pois, sua aparncia e funcionamento se assemelham muito aos instrumentos reais. Entretanto, VI so similares a funes das linguagens de programao convencionais[54][67]. Um VI constitudo por uma interface interativa que pode conter grficos, botes e outros controles e indicadores; um diagrama de blocos que representa o cdigo fonte; e, por um cone o qual permite que o VI se torne uma rotina ou funo

77

de outro programa. Um VI que funciona como uma rotina ou funo de outro VI chamado subVI [54] [67] [68]. O Labview possui duas telas de trabalho, chamadas de painel frontal (front panel) e diagrama de blocos (block diagram). No diagrama de blocos desenvolvida a programao. No painel frontal criada a interface de operao [54] [67]. O programa desenvolvido para o ensaio de saturao em TC se constitui de quatro mdulos de programao. A interface de operao, desenvolvida no painel frontal, representa para o usurio quatro janelas de operao com funes distintas. Porm, para o programador, cada janela representa no block diagram, todo o desenvolvimento necessrio para aquisio, processamento, apresentao,

armazenamento e controle dos dados envolvidos no processo.

5.3.1 Mdulos de interface de operao.


O programa de automao do ensaio de saturao possui uma interface de operao principal na qual quatro janelas distintas so acessveis via mouse. Alias, o mouse, o dispositivo que permite a integrao do operador com qualquer caixa ou boto de entrada no sistema. A primeira janela, denominada CONTROLE FONTE, foi desenvolvida para permitir o controle automtico da fonte de tenso independente da realizao do ensaio (figura 15). Ela possui sinalizadores virtuais que indicam o estado dos fins de curso superior e inferior, e do disjuntor da fonte de tenso. Permite o controle da fonte atravs de um boto, tipo caixa de seleo, onde podem ser acionados os comandos Elevar a tenso, Reduzir a tenso e Parar. Essa janela possui dois indicadores de medio, que apresentam

respectivamente os valores da tenso e da corrente eficazes dos transdutores. Um

78

mostrador analgico, tipo VU, auxilia na visualizao da tenso e oferece ao operador uma noo instantnea da medio. Esse mdulo funciona como uma interface simples para verificao e controle, na qual os dados so mostrados em tempo real, ponto a ponto, e, sem qualquer tipo de armazenamento ou processamento mais elaborado.

Figura 15: Modulo de operao - CONTROLE FONTE

A segunda janela de interface (figura 16) foi desenvolvida para a realizao do ensaio de saturao em TC. Ela possui campos de entrada para o registro das especificaes do TC sob ensaio e determinao dos limites de controle. Esses dados, juntamente com o estado da fonte de tenso em seu limite inferior, caracterizam as condies necessrias para incio do ensaio. Na ausncia de algumas das condies, uma mensagem alerta o operador para verificar o que aconteceu.

79

A janela possui dois botes: INICIAR e PARAR, ambos com tipo de contato momentneo. O boto INICIAR s liberado quando as condies iniciais so satisfeitas. Ele se refere exatamente ao incio do ensaio. O boto PARAR pode ser acessado a qualquer momento. Seu acionamento gera um procedimento de segurana, que semelhante ao executado quando algum limite de controle do ensaio atingido.

Figura 16: Mdulo de interface REALIZAR ENSAIO

Trs dispositivos indicadores apresentam, ponto a ponto, os valores eficazes da tenso e da corrente, e da tenso de pico medidos durante o ensaio. Esses dados so adquiridos, processados e armazenados conforme descrito no item 5.3.2. O indicador grfico apresenta a curva de magnetizao do ncleo. Ela gerada em tempo real durante o ensaio. O boto de entrada Zerar dados permite

80

limpar os dados na tela e no arquivo temporrio de registro para realizao do prximo ensaio. As outras duas janelas foram desenvolvidas para uma calibrao

parcialmente automatizada das cadeias de medio. Sua funo mostrou-se de grande utilidade no controle da garantia da confiabilidade do sistema. Denominadas de CALIBRAO TENSO (figura 17) e CALIBRAO CORRENTE, possuem elementos e procedimento de realizao idnticos, tendo como nica diferena os valores nominais adotados para a calibrao.

Figura 17: Painel frontal calibrao da tenso

Os blocos de entrada referentes ao Objeto Sob Calibrao OSC apresentam os valores medidos pela cadeia sob calibrao. O boto Realizar medio permite a aquisio via placa DAQ do valor aplicado pela fonte padro.

81

A caixa de seleo Ciclo de medio direciona a coluna de entrada do valor medido. O ponto nominal sob calibrao obrigatoriamente selecionado em ordem crescente para o 1 e 3 ciclo e, ordem decrescente para o 2 ciclo. A tabela referente ao Sistema de Medio Padro SMP composta de blocos de entrada externos. Os valores correspondentes ao indicado no medidor de referncia utilizado na calibrao so passados manualmente para esses blocos, de acordo com a seqncia dos ciclos de medio.

5.3.2 Aquisio, processamento e armazenamento de dados


Para definir a taxa de amostragem da aquisio dos sinais, bem como a quantidade de pontos de cada amostra, foi necessrio analisar as caractersticas do sinal desejado e a utilizao da fonte de tenso em um processo sem interrupes. Os dados necessrios para a realizao do ensaio de saturao e avaliao dos resultados exigem a medio de valores eficazes do sinal. Porm, para se obter um valor eficaz confivel importante estabelecer que a aquisio seja realizada em perodos completos do sinal. A fonte de tenso AC leva aproximadamente 25 s para percorrer toda a sua faixa, desde o fim de curso inferior ao fim de curso superior. Isso corresponde a um

V 18 V/s, na faixa de operao de (0 a 450) V.


Em observaes prticas constatou-se que essa variao no constante. O espaamento entre as espiras da fonte no contnuo e o posicionamento das escovas sobre as mesmas no garante degraus contnuos de tenso. Devido a no linearidade da fonte, sua forma de controle foi estabelecida em pulsos, o que proporciona um controle mais fino do que um sinal continuamente atuante na chave.

82

Para a aquisio dos sinais da tenso e corrente foi realizada a seguinte anlise. Com dois canais em uso, tem-se uma taxa de amostragem de 100 kS/s por canal, ou seja, a cada 1 s possvel adquirir 100.000 amostras. Um perodo do sinal medido de 60 Hz corresponde aproximadamente a 16,7 ms. Logo, a medio de 1 perodo nessa taxa de aquisio corresponder a uma amostra de 1667 pontos. Isso equivale, para essa aplicao, ao menor intervalo vlido de medio, no que se refere velocidade de aquisio. Quanto menor o intervalo entre uma medio e outra, melhor ser a resposta do sistema nas situaes limites de controle. Na operao manual da fonte esse controle fino praticamente impossvel. Assim, foi definido trabalhar na taxa de aquisio natural de 100 kS/s, com amostras de 1667 pontos a cada aquisio. Esse processo contnuo dentro dos ciclos de medio do programa. Devido larga faixa de medio utilizada, foi implantada uma rotina para seleo de ganhos variveis ao longo da faixa. A cada aquisio de um perodo do sinal, o valor medido em rms comparado com faixas pr-estabelecidas, e, de acordo com o seu enquadramento em uma das faixas o ganho ideal selecionado. Aps a seleo realizada uma nova medio, com o ganho ideal, a qual vai ser utilizada no processo. Essas faixas foram definidas empiricamente, porm equivalem

aproximadamente ao valor eficaz calculado para o valor de pico correspondente faixa de medio de cada ganho. Essas faixas esto apresentadas na tabela 10, captulo 6. O ganho selecionado para cada ponto medido armazenado para uma posterior seleo das respectivas componentes de incerteza no clculo do erro mximo introduzido pela entrada analgica ao resultado da medio. Esse erro faz

83

parte da composio da incerteza total da medio, o qual calculado para cada ponto e armazenado junto com seu valor de origem em um array de registro de dados. Os resultados das medies e sua incerteza associada, processados e registrados durante o ensaio, permanecem armazenados at o boto zerar dados ser acionado. Isso ocorre mesmo se o programa for fechado e o computador desligado. Ao fim de cada ensaio ou interrupo do mesmo ocorre uma rotina de transferncia dos registros. Uma planilha padro armazenada em um diretrio especifico chamada. Essa planilha contm uma macro que executada na sua abertura. Os dados so transferidos do LabView para o Excel. A macro os distribui na planilha de forma estruturada e gera o grfico logartmico da curva de saturao do TC ensaiado.

5.4

Procedimento de realizao do ensaio


O sistema desenvolvido utiliza dois circuitos distintos, um para enrolamentos

de medio e outro para enrolamentos de proteo, empregando as fontes de tenso disponveis no laboratrio.

5.4.1 Diagrama da montagem fsica


A figura 18 apresenta a montagem do circuito real para ensaio de saturao para enrolamentos de medio. Os componentes utilizados nesse circuito e suas respectivas funes esto descritos na tabela 4. Esses itens, bem como o procedimento de realizao do ensaio, tambm so vlidos para o circuito do ensaio para enrolamentos de proteo, apresentado na

84

figura 19, o qual possui uma fonte adicional que permite elevar a tenso de sada da fonte sob controle aos nveis exigidos para esse enrolamento.

Figura 18: Montagem do circuito de ensaio de saturao automatizado para enrolamentos de medio de TC

Figura 19: Montagem do circuito de ensaio de saturao automatizado para enrolamentos de proteo de TC

85

Tabela 4: Descrio dos itens do circuito de ensaio de saturao automatizado Ref. 1 Componente Variac Descrio Responsvel pela reduo da tenso de alimentao da fonte com o objetivo de aumentar a resoluo da mesma. Autotransformador com tenso de alimentao de 220 V; 60 2 Fonte de tenso AC varivel Hz. Fornece em sua sada uma tenso AC varivel de (0 a 480) V, 60 Hz e 375 A. 3 Transdutor de corrente TC201 Transdutor de tenso Transformador de corrente Transformador de corrente com relao de transformao de 100 mV/A. Opera com um capacitor de 0,15 F em paralelo com a sada para eliminar rudos. Conjunto de 2 transformadores redutores de tenso. TP1 2200 V para 220 V e TP2 220 V para 6 V. Equipamento a ser verificado no ensaio Controlado pela placa DAQ, via software, responsvel 6 Circuito de controle da fonte pelo acionamento dos comandos subir e descer da fonte, isolao para proteo da placa DAQ e indicao de estado e posicionamento da fonte. 7 8 9 10 11 Pente de bornes da placa DAQ Computador pessoal PC Cabo de acionamento Cabo de leitura Cabo de controle: 10 m. Cabo de medio da corrente: 10 m. Cabo de medio da tenso: 20 m. Cabo de conexo do TP1 Cabo da placa DAQ Autotransformador elevador de tenso Realiza a conexo entre os elementos de circuito e a placa de aquisio que est inserida no computador. Comporta a placa DAQ e suas configuraes, e contm a interface de operao do sistema. Envia os comandos para as chaves contatoras na fonte que acionam o motor responsvel pela variao da tenso. Recebe o estado das chaves de fim de curso e disjuntor para indicao real e virtual. Realiza a conexo entre o circuito de acionamento e isolao com o pente de bornes da placa de aquisio. Leva o sinal da corrente medida no circuito de ensaio em tenso para o pente de bornes da placa DAQ. Leva o sinal reduzido da tenso de ensaio do TP2 para o pente de bornes da placa DAQ. Realiza a conexo do enrolamento secundrio do TC sob ensaio. Realiza a conexo entre o pente de bornes e a placa DAQ. Utilizado somente para ensaios na proteo. Aumenta a tenso de ensaio para aproximadamente 1650 V.

4 5

12

13 14 15 16

86

5.4.2 Procedimento operacional


O procedimento de ensaio descrito a seguir um resumo do manual de operao do sistema que foi redigido para o laboratrio no qual o sistema foi implementado. Passo 1 - Ligar o computador e esperar 30 min para estabilizao da placa DAQ; Passo 2 - Preparar o circuito de ensaio de acordo com a figura 18 ou Figura 19; Passo 3 - Conectar o cabo 15 (tabela 4) na placa DAQ; (Obs.1: A conexo do cabo 15 (tabela 4) s deve ser realizada com o PC ligado.) Passo 4 - Conferir todas as conexes; Passo 5 - Abrir o programa no cone AUTOSAT; Passo 6 - Ligar a fonte de tenso; Passo 7 - Verificar se os leds na janela CONTROLE FONTE e na caixa de controle (Figura 15 e Figura 20), bem como as indicaes de tenso e corrente condizem com a realidade.

Figura 20: Caixa do circuito de controle da fonte de tenso

Passo 8 - Passar para a janela REALIZAR ENSAIO; Passo 9 - Preencher os campos de identificao do TC e limites de controle;

87

Passo 10 - Acionar o INICIAR. A fonte comear a elevar o valor da tenso, as medies sero realizadas e apresentadas ponto a ponto nos indicadores: Irms (A), V_rms (V) e V_pico (V). O grfico da curva de magnetizao tambm ser formado ponto a ponto na tela. Quando os limites de tenso ou corrente forem atingidos o ensaio entra no seguinte processo de finalizao:

a fonte para; os dados registrados so enviados para o Excel; a fonte comea a retornar para o seu ponto inicial; atingido o fim de curso inferior, o ensaio est terminado.

Passo 11 - Salvar a planilha de resultados com outro nome deixando a planilha padro livre para outros ensaios. (Obs.2: Antes de realizar um novo ensaio limpar registros anteriores com o boto zerar dados.) A transio do procedimento tradicional de realizao do ensaio para o procedimento automatizado definiu um novo mtodo de realizao que engloba as seguintes caractersticas:

controle automtico da fonte de tenso, em um processo de variao sem


interrupes dentro da faixa de operao;

obteno da medio simultnea da corrente e da tenso, em um processo


automtico, sem interferncia do operador e com um nmero maior de dados;

visualizao dos dados e da curva de saturao em tempo real; registro e tratamento de dados sem influncia do operador; apresentao automtica do resultado da medio com a incerteza
associada.

88

6 AVALIAO METROLGICA DO SISTEMA DESENVOLVIDO

O sistema de automao desenvolvido para o ensaio de saturao em TC analisado neste captulo. A avaliao metrolgica a priori analisa os elementos que compem as cadeias de medio, identifica as fontes de incerteza e a sua influncia no processo. Com base nos erros admitidos para o processo proposto um mtodo de avaliao dos resultados do ensaio. Esse mtodo teve como base critrios estabelecidos em norma tcnica para avaliao de resultados do ensaio de saturao.

6.1

Caracterizao do processo de medio


Para que um processo de medio seja adequado necessrio avaliar a

incerteza da medio e comprovar que essa seja menor do que a incerteza admissvel para o processo [47]. Para isso necessrio que o processo de medio esteja bem caracterizado e que a avaliao da incerteza do processo seja realizada como um todo. Isso envolve uma perfeita caracterizao do mensurando e das condies de contorno do processo de medio [79]. As condies de contorno se referem s precaues que devem ser executadas e controladas, antes, durante e depois da realizao do ensaio. A preparao do circuito de ensaio, os cuidados com as interligaes e condies ambientais so elementos que devem ser controlados para garantir a repetitividade e reprodutibilidade dos resultados.

89

Os equipamentos envolvidos no processo devem ser operados conforme suas prescries, mantendo-se as grandezas de influncia em valores aceitveis. Essas condies referenciam o processo de forma a garantir que sua exatido se mantenha dentro da faixa especificada. O processo de medio do sistema de automao do ensaio de saturao possui duas cadeias de medio; uma para medio da tenso e outra para medio da corrente. O diagrama em blocos da figura 21 apresenta uma cadeia de medio geral que serve para os dois sistemas de medio. A cadeia foi dividida em trs blocos: transdutor, placa de aquisio e mostrador (esses blocos executam as funes de transduo, aquisio e processamento e apresentao respectivamente.) A cada bloco funcional esto associadas as principais fontes de incerteza. Uma anlise mais detalhada, no prximo item, permite identificar as fontes de incerteza que so realmente significativas no processo em questo.

VE

Transdutor
- Erro de linearidade - Erro de zero - Repetitividade - Deriva com temperatura - Tendncia - Retroao

Placa de
VM

Mostrador (Interface grfica)


- Resoluo - Processamento

aquisio
- Tempo de estabilizao - Interligao - Repetitividade - Ganho - Offset - Rudo - Deriva com temperatura; - Resoluo

Figura 21: Diagrama em blocos geral para as duas cadeias de medio e mapeamento das possveis incertezas associadas

90

6.2

Avaliao a priori da incerteza da medio

6.2.1 Calibrao dos transdutores


A calibrao dos dois transdutores foi realizada com os mesmos equipamentos, procedimentos, mtodo e circuito eltrico. O diagrama em blocos da figura 22 mostra um circuito geral descritivo, que serve para as duas calibraes tratadas aqui. X Transdutor Y

Fonte padro FLUKE 5520 A

Multmetro FLUKE 8508 A

Figura 22: Diagrama em blocos do circuito da calibrao dos transdutores

Na execuo da calibrao utiliza-se o modelo de leitura direta, na qual o sinal de sada do transdutor, alimentado pela fonte padro FLUKE 5520 A, medido pelo multmetro digital FLUKE 8508 A. O valor da grandeza de entrada (X) pr-determinado. Corresponde ao conjunto de pontos nominais escolhidos ao longo da faixa de medio do transdutor. Cada ponto deve ser medido no mnimo 3 vezes, de forma a verificar a repetitividade do instrumento [80]. O nmero de repeties (n) realizado para a medio determina a quantidade de ciclos de medio que ocorrero durante a calibrao. A estimativa da grandeza de sada, em cada ponto de calibrao, obtida a partir da mdia das n observaes repetidas (equao 34) com mudanas de evento a cada repetio [81]. O desvio padro experimental dessas medies estima o erro aleatrio da distribuio [82] [83] [84] [85].

Y=

Yi
i =1

(34)

91

Onde: Y - estimativa da grandeza de sada do transdutor; Yi - valores das medies realizadas por ponto de calibrao; n - nmero de repeties. A relao de transformao, que corresponde sensibilidade do transdutor obtida a partir do grfico que relaciona Y em funo de X. Com os pontos plotados, traa-se uma reta de ajuste. O mtodo adotado nesse procedimento o dos mnimos quadrados. Essa reta representa uma aproximao linear da caracterstica de resposta do transdutor. Em relao a ela so determinados: o erro de linearidade (que no caso particular igual tendncia) e o erro de zero. O mtodo dos mnimos quadrados indicado pelo ISO-GUM para obter a curva de calibrao linear de um instrumento de medio [82]. Para tal anlise foi empregado o programa Excel. A caracterstica de resposta do transdutor assumida ento como uma funo linear definida pela equao 35.

y = Sx + b

(35)

Onde b o deslocamento da reta no eixo Y, denominado de erro de zero, e S a sensibilidade, ou relao de transformao, como usualmente tratada no contexto de transformadores para instrumentos. O erro de linearidade (equao 36) corresponde diferena entre a funo que interpola os valores reais obtidos da calibrao e os obtidos da funo linear da reta de ajuste.

ErroLinear = td = Y Sx

(36)

92

A repetitividade associada ao erro aleatrio pode ser estimada pela equao 37.

Re = t s

(37)

Onde t o coeficiente t-Student e s o desvio padro dos valores de sada do transdutor para n repeties referentes ao valor de entrada considerado [86].

6.2.2 Avaliao da incerteza da calibrao


O erro imputvel ao processo de calibrao deve ser to pequeno quanto possvel. Na maioria das reas de medio no deveria ser maior do que um tero e, de preferncia, um dcimo do erro permissvel do equipamento comprovado quando em uso [42]. Normalmente deve-se praticar devidas adequaes considerando-se as diferenas entre as condies de referncia durante a calibrao e as condies de operao [82] [80]. Apesar das condies de operao serem diferentes das condies ambientais de referncia sob as quais foram realizadas as calibraes, sabe-se que os transdutores utilizados no sofrem variaes significativas. As propriedades eltricas e magnticas responsveis pelo comportamento metrolgico dos transformadores so pouco sensveis s variaes de temperatura, umidade e presso [87]. Em [87] mostra-se que as nicas influncias em transformadores estritamente magnticos so dadas por sua prpria constituio fsica, igualmente, pouco afetado pela temperatura e insensvel umidade e presso [87]. Uma vez demonstrado pela calibrao que o equipamento de medio tem desempenho correto (dentro das especificaes), admite-se normalmente que os

93

erros surgidos durante o uso no excedem os limites especificados de erro permissvel [80] [62] [57]. Parte-se do pressuposto que o equipamento continue assim at a prxima calibrao e comprovao, desde que o equipamento no esteja em condies de uso freqentemente mais severas, quando comparadas com as condies controladas da calibrao [62] [57]. A utilizao de mtodos estatsticos recomendada para monitorar e controlar a incerteza da medio de forma continua [88]. Por uma questo de segurana precisa-se de um fator de segurana do erro mximo dos transdutores avaliados na calibrao para ser ajustado na medida em que se forma um histrico do processo. Inicialmente prope-se que tal fator tenha valor igual a 1,2. Essa margem de segurana de 20%, no caso em questo, no compromete a relao entre a incerteza desejvel e a praticada. As incertezas envolvidas no processo de calibrao esto apresentadas na tabela 5.
Tabela 5: Definio das incertezas padres do processo de calibrao com base no fabricante
Fonte de incerteza

Tipo

Distribuio

Divisor

upadro

EmxP RP EmxM RM

B B B B

Retangular Retangular Retangular Retangular

3 3 3 3

u(x1) = EmxP/3 u(x2) = RP/3 u(Y1) = EmxM /3 u(Y2) = RM /3

Sendo: EmxP = erro mximo da fonte padro RP = resoluo da fonte padro EmxM = erro mximo do multmetro

94

RM = resoluo do multmetro

= graus de liberdade.
u(X1) = incerteza padro do erro mximo da fonte padro. u(X2) = incerteza padro da resoluo da fonte padro. u(Y1) = incerteza padro do erro mximo do multmetro. u(Y2) = incerteza padro da resoluo do multmetro. A incerteza padro combinada uc para o processo de calibrao com base em especificaes do fabricante encontrada com a utilizao da equao (38) [83].
uc2 (cal ) = u 2 ( x1 ) + u 2 ( x2 ) + u 2 ( y1 ) + u 2 ( y2 )

(38)

A incerteza expandida U95% representada por Ical obtida multiplicando-se a incerteza padro combinada pelo fator de abrangncia k com 95 % de confiana, utiliza os critrios e equaes adotadas pelo ISO-GUM. Nesta calibrao o resultado apresentado como na equao (39) com k = 2 [83].
U 95% = Ical = k uc (cal )

(39)

As incertezas relativas s influncias de condies ambientais no so consideradas porque as medies foram realizadas em condies que se encontram dentro da faixa de operao especificada pelo fabricante dos instrumentos. A calibrao foi executada utilizando-se dos recursos disponveis num laboratrio credenciado, pertencente Rede Brasileira de Calibrao, num ambiente com temperatura de (23 5) C e umidade relativa de (55 10) %.

95

6.2.2.1

Resultados da calibrao do transdutor de tenso

A tabela 6 apresenta os valores das incertezas obtidas na calibrao que se procedeu a partir de 15 medies para cada ponto nominal na faixa de calibrao de (0 a 480) V. A anlise grfica descrita no item anterior, segundo o mtodo dos mnimos quadrados, teve como resultado a funo da caracterstica de resposta do transdutor representada pela equao (40). y = 0,00310x - 0,0003 (40)

O valor do erro de zero representado pelo coeficiente linear da equao (40) pode ser considerado desprezvel diante dos valores analisados.
Tabela 6: Incertezas obtidas na calibrao do transdutor de tenso
X (V) 30 60 90 120 150 180 210 240 270 300 330 360 390 420 450 480 Y (V) 0,093 0,187 0,280 0,374 0,468 0,561 0,655 0,748 0,842 0,935 1,029 1,123 1,216 1,310 1,403 1,497 s (V) 0,0000027 0,0000067 0,0000083 0,0000088 0,0000086 0,0000120 0,0000131 0,0000119 0,0000127 0,0000205 0,0000177 0,0000172 0,0000152 0,0000149 0,0000165 0,0000190 s* (V) 0,00086 0,00215 0,00266 0,00283 0,00278 0,00387 0,00423 0,00384 0,00410 0,00661 0,00571 0,00556 0,00492 0,00482 0,00531 0,00612 Re (V) 0,0019 0,0046 0,0057 0,0061 0,0060 0,0083 0,0091 0,0082 0,0088 0,0142 0,0123 0,0119 0,0106 0,0103 0,0114 0,0131 Td (V) -0,00015 -0,00020 -0,00022 -0,00022 -0,00022 -0,00021 -0,00019 -0,00016 -0,00012 -0,00007 -0,00006 -0,00001 0,00006 0,00012 0,00018 0,00027 Ical (V) 0,011 0,018 0,028 0,035 0,042 0,049 0,056 0,063 0,070 0,078 0,132 0,143 0,154 0,165 0,176 0,186 Emx (V) 0,012 0,023 0,033 0,040 0,047 0,057 0,065 0,071 0,079 0,092 0,144 0,155 0,164 0,175 0,187 0,200

Obs.: s*= desvio experimental refletido na entrada. As incertezas do processo de calibrao (Ical) so obtidas a partir da tabela 5, com base nas equaes de erro mximo fornecidas pelos fabricantes dos instrumentos utilizados no processo (tabela 7). O erro mximo avaliado o resultado

96

da soma da incerteza do processo de calibrao (Ical), da repetitividade (Re) e da tendncia (Td).


Tabela 7: Caractersticas metrolgicas dos instrumentos de calibrao1
Erro Mximo da fonte padro FLUKE 5520 A Faixa de trabalho (30 a 330) V (330 a 480) V Accuracy (190 ppm VA + 0,010 ) V (300 ppm VA + 0,010 ) V
2

Erro Mximo do multmetro FLUKE 8508 A Faixa de medio (0 a 200) mV (0,2 a 2) V Accuracy (110 ppm VM3 + 20 ppm range) mV (85 ppmVM + 10 ppm range) V

Obs. 1 Para relatar fielmente as especificaes manteve-se as indicaes Accuracy, ppm e range. 2 VA significa valor aplicado. 3 VM significa valor medido. Pode-se observar, devido aos baixos valores do desvio experimental, que o conjunto de transformadores possui uma boa repetitividade. Observa-se tambm, que a maior contribuio na incerteza da calibrao provem da incerteza do processo de calibrao - Ical, mais especificamente do voltmetro. A figura 23 apresenta a curva de calibrao do transdutor de tenso. Nela pode-se observar os valores encontrados para repetitividade, tendncia e erro mximo da calibrao. A reta funo do erro mximo foi traada utilizando os pontos de maior incerteza na faixa, e engloba todos os outros valores obtidos. Essa funo usada no processo de avaliao da incerteza da medio do sistema de automao. O fator de segurana 1,2 multiplicado pelo resultado da funo do erro mximo avaliado para cada medio realizada no ensaio, durante o processamento da contribuio da incerteza do transdutor.

97

0,25

0,20

0,15 Funo do erro mximo y = 0,0004x + 0,00252

0,10

0,05

0,00 Erro (V)

-0,05

-0,10

-0,15

-0,20

-0,25 0,00

50,00 Ve X Td

100,00 Emx +

150,00

200,00 Emx -

250,00 Funo Emx

300,00

350,00

400,00

450,00 Tenso medida (V)

500,00

Figura 23: Curva de calibrao do transdutor de tenso - nvel de confiana de 95%

6.2.2.2

Resultados da calibrao do transdutor de corrente

A tabela 8 apresenta os valores das incertezas obtidas na calibrao que se procedeu a partir de 5 medies para cada ponto nominal na faixa de calibrao de 10 mA a 10 A. A relao de transformao obtida em anlise grfica descrita no item anterior, segundo o mtodo dos mnimos quadrados, teve como resultado a funo da caracterstica de resposta do transdutor representada pela equao (41). y = 0,10002x + 0,0040900 (41)

O valor do erro de zero, representado pelo coeficiente linear da equao (41) pode ser considerado desprezvel diante dos valores analisados.

98

Tabela 8: Incertezas obtidas na calibrao do transdutor de corrente X (mA) 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 150 200 250 500 750 1000 2500 5000 7500 10000 Ym (mV) 1,00 2,00 3,00 4,00 5,00 6,00 7,00 8,00 9,00 10,00 15,01 20,01 25,01 50,02 75,02 100,04 250,07 500,13 750,18 1000,24 s (mV) 0,00080 0,00045 0,00071 0,00076 0,00116 0,00045 0,00046 0,00057 0,00076 0,00141 0,00087 0,00182 0,00170 0,00402 0,00621 0,01941 0,02134 0,09259 0,12939 0,18613 s (mA) 0,0080 0,0045 0,0071 0,0076 0,0116 0,0045 0,0046 0,0057 0,0076 0,0141 0,0087 0,0182 0,0170 0,0402 0,0621 0,1940 0,2133 0,9257 1,2937 1,8609 Re (mA) 0,022 0,013 0,020 0,021 0,032 0,013 0,013 0,016 0,021 0,039 0,024 0,051 0,047 0,112 0,172 0,539 0,592 2,570 3,591 5,166 Td (mA) -0,0049 -0,0009 -0,0045 -0,0092 -0,0124 -0,0178 -0,0168 -0,0162 -0,0146 -0,0152 -0,0222 -0,0266 -0,0214 0,0100 0,0257 0,1337 0,0346 0,0160 -0,0285 -0,0090 Ical (mA) Emx (mA) 0,08 0,08 0,09 0,09 0,09 0,10 0,10 0,10 0,11 0,11 0,13 0,15 0,17 0,35 0,45 0,56 4,52 6,15 7,83 9,54 0,10 0,10 0,10 0,10 0,11 0,09 0,10 0,10 0,11 0,13 0,13 0,17 0,20 0,47 0,65 1,23 5,15 8,73 11,40 14,70

As incertezas do processo de calibrao (Ical) so obtidas a partir da tabela 5, com base nas equaes de erro mximo fornecidas pelo fabricante (tabela 9) dos instrumentos utilizados no processo. O erro mximo avaliado o resultado da soma da incerteza do processo de calibrao (Ical), da repetitividade (Re) e da tendncia (Td).
Tabela 9: Caractersticas metrolgicas dos instrumentos de calibrao Erro mximo da fonte padro FLUKE 5520 A Faixas de trabalho Exatido (10 a 330) mA (0,04% VA1 +0,02) mA (330 a 1100) mA (0,05 % VA + 0,1) mA (1100 a 10000) mA (0,06% VA + 2) mA Erro mximo do multmetro FLUKE 8508 A Faixa de medio Exatido (1 a 200) mV (110 ppm VM2 + 20 ppm range) mV (200 a 1000) mV (85 ppm VM+ 10 ppm range) mV

* VA = valor aplicado e VM = valor medido.

99

Com base nesses dados foi elaborado o grfico da curva de calibrao do transdutor de corrente. Todavia, na definio da funo do erro mximo foi necessrio dividir a faixa de medio em duas faixas distintas. Essa diviso teve como fundamento a evoluo do erro mximo avaliado dentro da faixa de calibrao. Na primeira faixa estabelecida entre 10 mA e 750 mA (figura 25) foi possvel definir uma funo, cujos valores de erro correspondentes foram considerados como admissveis para o ensaio de saturao. O mesmo ocorreu para a segunda faixa de 750 mA a 10000 mA (figura 24). A funo aceitvel para essa faixa, porm, se utilizada para valores inferiores a 750 mA comea a inferir erros que variam aproximadamente de 1 a 25 % do valor medido. Como tal fato no condiz com a realidade, esse transdutor possui duas funes de erro mximo utilizadas no processamento da incerteza da medio no sistema automatizado. O fator de segurana 1,2 multiplicado pelo resultado da funo do erro mximo avaliado para cada medio.

100
15,00 13,00 11,00 9,00 7,00 5,00 3,00 Erro (mA) 1,00 -1,00 -3,00 -5,00 -7,00 -9,00 -11,00 -13,00 -15,00 0 1000 2000 Tendncia 3000 Emx + 4000 Emx 5000 6000 Funo Emx 7000 8000 9000 10000 Corrente medida (mA) Funo do erro mximo y = 0,0012x + 2,76

Figura 24: Curva de calibrao do transdutor de corrente de (750 a 10000) mA - nvel de confiana de 95%

0,65 0,60 0,55 0,50 0,45 0,40 0,35 0,30 0,25 0,20 0,15 0,10 0,05 0,00 -0,05 -0,10 -0,15 -0,20 -0,25 -0,30 -0,35 -0,40 -0,45 -0,50 -0,55 -0,60 -0,65 0 100
Tendncia

Funo do erro mximo y = 0,0007x + 0,1128

Erro (mA)

200
Emx +

300
Emx -

400

500
Funo Emx

600

700

800

Corrente medida (mA)

Figura 25: Curva de calibrao do transdutor de corrente de (10 a 750) mA - nvel de confiana de 95%

101

6.2.3 Modelo das cadeias de medio


Esse item apresenta o circuito eltrico modelo de cada cadeia de medio do processo. Com base nesses circuitos realizada uma anlise do caminho percorrido pelo sinal desde sua origem at o ponto de medio na entrada analgica da placa DAQ. A figura 26 apresenta o circuito equivalente da cadeia de medio da tenso. O circuito engloba o processo de medio, desde o enrolamento secundrio do TC sob ensaio at a placa de aquisio. O objeto de medio a tenso desenvolvida no secundrio do TC, tenso VIN na figura 26. Essa tenso funo da tenso aplicada pela fonte AC. Se a cadeia de medio fosse ideal, essa a tenso que chegaria placa DAQ.

IN

Figura 26: Circuito eltrico equivalente da cadeia de medio da tenso

Uma impedncia conectada ao circuito secundrio de um transformador ser vista pelo primrio multiplicado pela relao que est entre o primrio e o secundrio [89].

102

Conhecidas as propriedades de propagao da tenso em um circuito de impedncias, realiza-se uma operao matemtica com as impedncias relativas do circuito. Tem-se que:

ZTP2 =

Vout I out V1 I1 I1

(42)

ZTP1 =

(43)

I out =

(N 2

N1 )

(44)

Vout =

V1 (N1 N 2 )

(45)

ZTP2 =

ZTP2 = ZTP1 ( N 2 N1 )TP2


2

V1 (N 2 N1 )2 I1

(46) (47)

ZTP1 =

VIN 2 (N 2 N1 )TP 1 IN

(48)

ZTP2 =

VIN 2 2 (N 2 N1 )TP (N 2 N1 )TP 1 2 IN

(49)

Sendo: VIN = tenso de excitao do secundrio do TC sob ensaio. IN = corrente de excitao do secundrio do TC sob ensaio. ZTP1 = impedncia vista na sada do transformador 1. ZTP2 = impedncia vista na sada de do transformador 2.. V1 = tenso de sada do transformador 1.

103

I1 = Corrente de sada do transformador 1. VOUT = tenso de sada do transformador 2. IOUT = Corrente de sada do transformador 2. Rc = resistncia do cabo. XLC = reatncia indutiva do cabo. XC = reatncia capacitiva do cabo. ZC = modelo equivalente do cabo. VM = Valor da tenso a ser medida (na entrada da placa DAQ). ZPL = modelo equivalente da entrada da placa DAQ (R=100 G e C=100 pF). N1 = nmero de espiras do primrio do transformador. N2 = nmero de espiras do secundrio do transformador. A impedncia equivalente cadeia de medio de tenso referenciada ao secundrio do TP2 pode ser representada conforme a equao (49). As relaes de transformao so iguais a 10 para o TP1 e 31 para o TP2. Considerando-se com base na mxima relao tenso/corrente tpica obtida da referncia [11], a mxima impedncia tpica do TC sob ensaio antes da saturao da ordem de 20 . O conhecimento da real influncia do transdutor de tenso, nesse caso, tratado com a calibrao do conjunto, o que permite conhecer com determinada exatido a relao de transformao e sua incerteza associada. O circuito resultante a ser analisado est apresentado na figura 27. As retroaes provocadas pelo cabo e pela impedncia de entrada da placa DAQ podem ser analisadas a partir desse circuito.

104

Figura 27: Circuito reduzido da cadeia de medio da tenso

Z PL =

R JWC R Z PL = R + 1 JWC RJWC + 1

(51)

A tenso aplicada ao secundrio do TC medida durante o ensaio, do tipo alternada na freqncia industrial de 60 Hz. Ao aplicar os valores correspondentes da resistncia, capacitncia e freqncia do sinal na equao (51) obtm-se uma impedncia equivalente na entrada analgica da placa DAQ de aproximadamente 2,7 107 . A impedncia vista pela placa de aquisio, composta pela fonte de tenso, pelos transformadores de tenso e pelos cabos estar sempre muito abaixo de 1 k. Dessa forma a relao de impedncias pode ser desconsiderada. A mesma analogia pode ser usada na avaliao do circuito equivalente da cadeia de medio da corrente. A figura 28 apresenta os elementos que compem essa cadeia desde a grandeza de entrada (IN) no transdutor at a entrada da placa DAQ.

105

Figura 28: Modelo equivalente da cadeia de medio da corrente

A impedncia do cabo entre a tenso de sada do transdutor (Vout) e a tenso medida (VM) na entrada da placa DAQ, tambm na medio de corrente no oferece influncias a ponto de causar uma atenuao considervel no sinal de interesse. A cadeia de medio de tenso colocada em paralelo com o secundrio do TC sob ensaio pode reduzir de forma significativa a tenso sobre esse. Mas como a tenso que est sendo medida tenso alternada, tal fato no implica erro de medio. Fato semelhante ocorre com relao retroao provocada pela cadeia de medio da corrente. Seu efeito o de reduzir a corrente no secundrio do TC sob ensaio, porm essa corrente alterada a que efetivamente est sendo medida.

6.2.4 Placa DAQ


Segundo o fabricante da placa de aquisio [90] a equao para calcular a incerteza de uma medio na entrada analgica deve ser uma composio dos seguintes parcelas: Absolute accuracy = ((input voltage x % of reading) + offset + noise & quantization + drift)

106

Onde, o drift calculado para medies realizadas fora da faixa de temperatura de operao que varia de (15 a 35) C, pela seguinte equao: Drift = Temperature diference x % Drift per degree C x input voltage. Para os casos em que as medies so realizadas dentro da faixa de temperatura de operao da placa DAQ, a frmula para o clculo da incerteza pode ser reduzida para: Absolute accuracy = ((input voltage x % of reading) + offset + noise & quantization) Aps efetuar o clculo conforme o ganho utilizado e o valor medido, tem-se a incerteza tipo B da placa de aquisio, caracterizado como o erro mximo da placa. Essa fonte de incerteza, juntamente com a resoluo so consideradas como uma distribuio retangular no balano da incerteza da medio. O manual da placa de aquisio fornece os dados para cada ganho conforme tabela 10:
Tabela 10: Especificao de exatido da placa DAQ 6024 E [91].
Absolute Accuracy Nominal Range(V) Gain Positive Negative 1 Year FS 0,5 1 10 100 10 5 0,5 0,05 FS -10 -5 -0,5 -0,05 0,0914 0,0314 0,0914 0,0914 (mV) 6,38 3,20 0,340 0,054 Pt. 3,91 1,95 0,195 0,063 Averaged 0,975 0,488 0,049 0,006 (%/C) 0,0010 0,0005 0,0010 0,0010 (mV) 16,504 5,263 0,846 0,106 Offset Single % of Reading Noise + Quantization (mV) Temp Drift Absolute Accuracy at Full Scale

107

6.3

Balano de incertezas
O balano de incertezas realizado no processamento do sistema de

automao do ensaio durante as medies. O diagrama em blocos da figura 29 apresenta uma viso global dessa sub-rotina do programa. Para cada ponto medido, o ganho utilizado na medio armazenado. A faixa correspondente aos valores de incerteza para o respectivo ganho selecionada. A incerteza da placa DAQ calculada e depois de padronizada armazenada em DAQ. Simultaneamente, o valor medido multiplicado pela relao de

transformao RTR referente ao transdutor em questo. As funes de erro mximo, apresentadas na Figura 23, Figura 24 e Figura 25 so utilizadas e o fator de correo aplicado a essa incerteza que depois de padronizada somada a DAQ.

108

Valor medido em RMS (VM)

Seleo da tabela de caractersticas em funo do ganho

VA = VM x RTR

DAQ =

%VM + offset + noise RTR 3

Seleo da funo do erro mximo

TR =

f (erromx, VA) 1,2 2

2 2 c = DAQ + TR

U 95VA = c 2

Figura 29: Diagrama da sub-rotina de balano de incertezas

A ttulo de ilustrao, associou-se faixas de medio para os transdutores com base nas faixas da placa DAQ. A tabela 11 apresenta as faixas de medio da placa DAQ e seu valor correspondente em rms. A tabela 12 demonstra as incertezas padres e expandidas obtidas para as cadeias de medio nessas faixas.

Tabela 11: Faixas de medio na placa DAQ e VM correspondente Faixa de medio da placa DAQ (V) (- 5 a + 5) (-0,500 a + 0,500) (-0,050 a +0,050)

Ganho 1 10 100

VM* em rms (V) (0,350 a 3,5) (0,035 a 0,350) (0 a 0,035)

* VM = valor medido. .

109

Tabela 12: Incertezas padro e expandida das cadeias de medio. VA* no transdutor Ganho 1 10 100
*

Incerteza padro na placa DAQ (V) (0,13 a 0,89) (0,017 a 0,13) (0,000 a 0,017) Incerteza padro

Incerteza padro no transdutor (V) (0,033 a 0,24) (0,012 a 0,033) (0,010 a 0,012) Incerteza padro

Incerteza da medio (95%) (V) (0,27 a 1,8) (0,042 a 0,27) (0,020 a 0,042) Incerteza da

de tenso (V) (113 a 1129) (11 a 113) (0 a 11) VA no transdutor de

Ganho 1 10 100

corrente (mA) (3.499 a 34.993) (350 a 3.499) (0 a 350)

na placa DAQ (mA) no transdutor (mA) medio (95%) (mA) (4,09 a 27,63) (0,52 a 4,09) (0,0 a 0,52) (3,46 a 22,36) (0,18 a 3,46) (0,06 a 0,18) (10,72 a 71,09) (1,10 a 10,72) (0,12 a 1,10)

* VA = valor aplicado.

A garantia de que ao longo do tempo as incertezas das medies se mantm dentro dos limites admissveis envolve prticas de calibrao, verificao da aptido dos instrumentos para medir dentro dos limites admissveis no processo e controle das condies de contorno [47]. A calibrao das cadeias de medio do sistema automatizado desenvolvido para o ensaio de saturao pode ser realizada atravs dos mdulos incorporados para esse fim no software de operao do sistema. O registro de dados da calibrao fornecido em planilhas eletrnicas que fornecem a mdia das medies e seus desvios para o objeto sob calibrao e o sistema de medio padro. Os devidos clculos para obteno da incerteza da medio devem ser realizados por um laboratrio credenciado para essa funo e assim com capacidade de garantir a rastreabilidade das grandezas.

110

Dentro dessas recomendaes foi realizada uma calibrao do sistema. Os resultados obtidos demonstraram uma incerteza inferior a calculada no processo. Porm ainda cedo para assumir a incerteza de uma calibrao do sistema. Outras calibraes devem ser realizadas e os resultados comparados para verificao da reprodutibilidade do sistema de medio ao longo do tempo.

6.4 Aplicao da incerteza da medio na avaliao crtica dos resultados do ensaio


Nas referncias sobre a execuo do ensaio no foi encontrado qualquer laboratrio ou documento que fizesse meno incerteza da medio. Contudo, o resultado de uma medio no possui validade se a incerteza da mesma no estiver declarada. O sistema de medio deve ter as caractersticas metrolgicas requeridas para o uso pretendido (por exemplo: exatido, estabilidade, faixa e resoluo) [42]. Para a garantia da confiabilidade da avaliao da conformidade necessrio assegurar que o processo de medio possui incerteza adequada. Essa adequao est ligada aos valores mximos de incerteza admissvel (Imxadm) para o ensaio. importante definir os parmetros e estabelecer critrios de conformidade baseado nas tolerncias e, com base nas medies, criar um mtodo de trabalho que garanta um resultado confivel avaliao da conformidade [79]. As tolerncias dos parmetros de controle estabelecidas para a realizao e avaliao dos resultados do ensaio de saturao se baseiam apenas em valores limites de aceitao. Trata-se do caso de especificaes do tipo valor mximo aceitvel ou valor mnimo aceitvel. Nesses casos a Imxadm deve ser estabelecida considerando-se

111

as implicaes de se dispor de resultados que gerem dvidas quanto conformidade do equipamento. Por exemplo, se valores usuais encontrados para um ensaio so muito inferiores ao limite estabelecido, pode-se conviver com uma incerteza de medio grande. Se, no entanto, os valores usuais esto prximos do limite de aceitao, a incerteza de medio ter que ser pequena para que no se tenha grande dvida acerca da conformidade do equipamento [79]. Assim, os limites mximos estabelecidos para efeito de interrupo no ensaio de saturao devem ser corrigidos para valores que considerem as incertezas das medies da corrente e da tenso. Essa anlise vale tambm para verificao da conformidade do equipamento com base nos resultados do ensaio. Normalmente os resultados de ensaios so comparados com os resultados do ensaio de fbrica do equipamento (ensaio de recepo). A analise qualitativa. Na curva de saturao obtida do ensaio, selecionam-se pontos crticos em torno da regio intermediria da curva (em torno do joelho) e verifica-se a corrente relativa a esse ponto. A distncia entre a corrente medida no ensaio e a fornecida pelo fabricante no deve ser muito grande. Porm, no existe nenhuma referncia normatizada sobre essa tolerncia. Contudo, uma referncia foi encontrada em uma publicao do IEEE [11]. Ela estabelece que para as curvas de saturao de TC classe C ou K, a tenso aplicada no deve gerar um valor de corrente maior que 1,25 vez o valor de referncia estipulado nas curva de saturao fornecidas por esse documento [11].

112

Para essa prescrio, se no houvesse incerteza, o limite de conformidade para a corrente (Lc) seria igual a 1,25 vez a corrente de referncia (Iref). Mas, a incerteza da medio existe e deve ser considerada. Nesse caso, para garantir que o valor analisado esteja abaixo do Lc, a equao para verificao da conformidade do resultado precisa ser ajustado, considerando-se algumas precaues. O mtodo proposto por esta dissertao o seguinte. Para o ponto sob anlise, por uma questo de segurana, utiliza-se o valor de tenso menos a sua incerteza (V-IMV) (figura 30). Esse valor de tenso possui uma corrente de referncia (Iref) na curva padro (figura 31). Ento, o valor da corrente medida em ensaio para o ponto sob anlise, deveria ser no mximo 1,25 vezes o valor referente a Iref da curva padro. Porm, a incerteza da medio da corrente (IMI) ainda precisa ser

considerada. E assim, a condio de conformidade fica sendo a estabelecida pela equao (52):

Im i I ref i 1,25 I MI i
onde Imi: corrente medida para cada i-sima tenso aplicada.

(52)

Iref i: corrente de referncia, funo do valor e da incerteza de medio de cada i-sima tenso aplicada. IMI i: incerteza de medio da corrente para cada i-sima corrente medida.

113

I
Legenda: VM = tenso medida; I = corrente no grfico IEEE. VM IMV = tenso medida menos a sua incerteza. Iref = corrente de referncia. Lc = limite de conformidade normatizado Lc = limite de conformidade corrigido. Figura 30: Ilustrao da proposta para o estabelecimento do Lc.

Figura 31: Curva de saturao tpica para TC classes C ou K com ncleo fechado [11].

114

7 CONCLUSES
Reunir informaes sobre transformadores de corrente, em especial sobre ensaios de saturao e seus aspectos metrolgicos e operacionais no foi uma tarefa fcil. A bibliografia existente muito antiga. As normas tcnicas so poucas. Os artigos sobre o assunto tratam de situaes muito especficas, e na maioria das vezes so omissos com relao aos aspectos metrolgicos. Contudo, toda a pesquisa realizada durante essa dissertao permitiu reunir um acervo de referncias para o auxilio de profissionais e estudiosos da rea. A contribuio desse trabalho tambm se d pela reunio de informaes na prpria narrativa. Muitos conceitos so encontrados de forma dispersa e s vezes at divergente. Uma dedicao especial foi dada coleta e organizao dos dados de forma a descrever sobre o tema com amplitude e ordenao coerentes. A ABNT deixa bastante a desejar nas especificaes dos ensaios de uma forma geral. Trata-se muitas vezes de menes superficiais que geram dvida na compresso da informao. Os textos requerem suporte, no se fazem entender por si s. Alm disso, esto totalmente em desacordo com a terminologia e com os atuais procedimentos relativos confiabilidade metrolgica. Com relao ao ensaio de saturao, apesar de ser um ensaio realizado amplamente, no possui uma referncia normatizada sobre seu procedimento de execuo e avaliao dos resultados. As prescries para o ensaio so encontradas quase que exclusivamente no mbito dos laboratrios e profissionais envolvidos no setor de transmisso de distribuio de energia eltrica.

115

Este trabalho permitiu despertar maior preocupao com a cultura metrolgica no laboratrio em que foi desenvolvido. Nesse sentido, pode-se implantar uma idia do uso de uma nova terminologia, pois, o setor utiliza termos prprios da rea, que no so conformes com termos empregados na metrologia. Foi difundida uma conscientizao da importncia da incerteza na medio e nos resultados avaliados. Para isso, foram propostos mtodos para considerar a incerteza da medio na avaliao da conformidade. Provavelmente, o desenvolvimento dessa dissertao proporcionou uma das primeiras realizaes de ensaios em transformadores de corrente, em que a incerteza da medio seja avaliada e considerada nos resultados. O emprego dos recursos de sistemas automatizados para aumentar a confiabilidade metrolgica foi claramente evidenciado. O processamento dos dados em tempo real permitiu utilizar os valores de incerteza da medio apropriados para cada ponto. A facilidade proporcionada por sistemas automatizados, no que se refere ao processamento, armazenamento e apresentao dos dados, contribuem na disseminao do uso da incerteza da medio na anlise de resultados e verificao da conformidade em ensaios. O desenvolvimento de um sistema de automao, com a utilizao de placa de aquisio, se caracterizou como um recurso de baixo custo, se comparado com outros sistemas existentes. Operacionalmente, identificou-se uma grande flexibilidade, segurana e simplicidade de implementao e uso. O sistema implantado disponibiliza ainda recursos para automatizar outros equipamentos do laboratrio.

116

O programa Labview mostrou-se adequado para a aplicao. De fcil programao e operao, proporciona uma interface operacional com aspecto profissional, adicionado possibilidade de se gerar um programa executvel para ser utilizado em computadores que no possuem o programa instalado. Operacionalmente o sistema se mostrou muito satisfatrio. A visualizao do desenvolvimento da curva de saturao durante o ensaio aproximou o operador da realidade. Isso possibilitou maiores recursos para se tomar decises em tempo real e fazer anlises antes de gerar o relatrio final do ensaio. A gerao automtica do relatrio final economizou grande tempo dispensado anteriormente na transcrio dos dados manuscritos para o Excel. Adicionalmente houve a excluso de possveis erros causados pelo operador durante todo o processo de registro dos dados. O tempo de execuo do ensaio diminuiu consideravelmente. Obteve-se uma maior segurana na interrupo do ensaio em limites de controle. Com o controle automtico a velocidade de atuao muito maior do que quando controlado pelo operador. O sistema pode ser facilmente implementado para futuras adaptaes que envolvam os recursos disponveis no sistema e as capacidades do software utilizado. Tambm pode ser transferido para um sistema operado por um computador PC porttil (tipo laptop). Essa facilidade de transio do sistema por completo devido s prprias caractersticas da placa DAQ 6024-E. Ela tambm pode ser encontrada no padro PCMCIA, com todas as especificaes fsicas e funcionais da placa PCI utlizada. Essa transio foi testada na prtica e nenhum problema de integrao foi encontrado.

117

A avaliao das cadeias de medio mostrou que o desempenho metrolgico do sistema de medio atende s exigncias necessrias para a garantia da confiabilidade dos resultados do ensaio. O erro mximo avaliado na calibrao tem grande parcela devida aos padres empregados. No caso, no houve comprometimento dos resultados devido boa capacidade do processo. O erro mximo estabelecido para o sistema muito menor que a tolerncia do processo. Os objetivos do trabalho foram plenamente alcanados. A convivncia com a rotina de trabalho de um laboratrio de alta tenso do sistema de transmisso e distribuio de energia eltrica possibilitou conhecer no s o ensaio sob estudo, como outros vrios aspectos do setor.

Recomendaes para trabalhos futuros


O sistema de automao do ensaio de saturao, na forma em que se encontra hoje em dia, pode ser utilizado para realizar os ensaios de tenso induzida e tenso suportvel. O mdulo de programao que permite o controle automtico da fonte pode ser utilizado para realizao desses ensaios. Prope-se o estudo de tais ensaios sob enfoque metrolgico e de automao. Os recursos de automao implementados podem ser utilizados para a calibrao integralmente automatizada das cadeias de medio. Isso pode ser feito com o controle de uma fonte padro via interface GPIB j disponvel no laboratrio em que foi implementado o sistema de automao. O prprio sistema desenvolvido pode ser expandido para realizar o gerenciamento dos intervalos de calibrao e de possveis compensaes de incertezas. Independente da calibrao automatizada recomendado que futuras

118

calibraes sejam realizadas de forma a acompanhar os resultados do balano de incertezas. Outro trabalho importante para o setor de ensaios de equipamentos da transmisso a reviso, sob enfoque metrolgico, de todos os ensaios usuais. Procedimentos padronizados poderiam ser gerados para nortear o tratamento das questes metrolgicas, nos diferentes ensaios.

119

REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS

[1] ABB POWER DISTRIBUTION. Instrument transformer. Technical information and application guide, www.abb.com/distribution. ltimo acesso em julho, 2004. [2] FONTI, P. Transformateurs de courant: comment les spcifier. Cahier technique Schneider Electric n 194, janvier 2001. [3] OLHARC, M. Le transformateur de courant pour la protection en HT. Cahier technique Schneider Electric n 164 dition, dcembre 1992. [4] DAJUZ, ARY. Equipamentos Eltricos; especificao e aplicao em subestaes de alta tenso. Rio de Janeiro, FURNAS 1985. [5] SOLON M. F. Medio de Energia Eltrica, 3 ed. Rio de Janeiro, 1976. [6] OLIVEIRA, Patricia Calls. Anlise de transformadores de corrente para medio, Dissertao de mestrado, Ps-MQI, Rio de Janeiro, fevereiro de 2001. [7] BITTANTI, S.; CUZZOLA, F.A.; LORITO, F.; PONCIA, G. Compensation of nonlinearities in a current transformer for the reconstruction of the primary current. IEEE Transactions on control systems technology, vol. 9, n 4, p.565-573, july 2001. [8] ABNT ASSOCIAO BRASILEIRA DE NORMAS TCNICAS. Transformadores para instrumentos Terminologia. NBR 6456, ABR./1991. [9] ABNT ASSOCIAO BRASILEIRA DE NORMAS TCNICAS. Transformador de Corrente Especificao. NBR 6856, ABR./1992. [10] ABNT ASSOCIAO BRASILEIRA DE NORMAS TCNICAS. Transformador de Corrente Mtodo de Ensaio. NBR 6821, ABR./1992.

120

[11] IEEE Standard REQUIREMENTS FOR INSTRUMENT TRANSFORMERS IEEE Std C57.13-1993 March 4, 1994 (Revision of IEEE Std C57.13-1978). [12] INTERNATIONAL STANDARD - Instruments Transformers Part 1: Current Transformers IEC 60044-1 - Edition 1.2. Fev,2003. [13] NORME INTERNATIONALE CEI Instruments Transformers Part 6 Requirements for protective current transformers for transient performance. IEC 60044-6 1992. [14] WRIGHT, Arthur. Current Transformers Their transient and steady state performance - Chapman and Hall, 1968. [15] DAVID, C.Y.; CUMMINS J.C.; WANG, Z.; KOJOVIC, L.A. Correction of current transformer distorted secondary currents due to saturation using artificial neural networks. IEEE Transactions on power delivery, vol. 16, n 2, p.189-194, april 2001. [16] JACOBS P., JADIN V. Mesures lectriques Courant continu, courant alternative basse frquence. Dunod-Paris, 1968. [17] MEDEIROS, E.P.; PINTO, O.A.P.; PAULI, A.; FERNANDEZ, L.R. Estudo de verificao da susceptibilidade dos transformadores de corrente saturao, mediante a corrente de curto-circuito. I SME - Seminrio de manuteno da Eletrosul. Florianpolis, setembro 2003. [18] GUZMN, A.; ZOCHOLL, S.; BENMOUYAL, G.; ALTUVE, H.J. A current-based solution for transformer differential protection - part 1: problem statement. IEEE Transactions on power delivery, vol. 16, n 4, p.485-491, october 2001. [19] HRABLIUK, J.D.P. Optical current sensors eliminate CT saturation. NxtPhase Corporation, V5M 1Z4, p.1478-1481, Vancouver (BC), 2002.

121

[20] YONG-CHEOL K, SEUNG-HUN OK, SANG-HEE Kang. A CT Saturation Detection Algorithm. I IEEE Transactions on power delivery, vol.19, no. 1, January 2004. [21] MOHINDAR, S.S.; SIDHU, T.S.; GILL, H.S. A busbar protection technique and its performance during CT saturation and CT ratio-mismatch. IEEE Transactions on power delivery, vol. 15, n 3, p.895-901, july 2000. [22] TAVARES, M.C., COURY, D.V., CAMPOS, P.E.G. e LIMA, M.C..Anlise de desempenho da proteo diferencial dos transformadores de potncia com o emprego do ATP-EMTP, XV Seminrio nacional de producao e transmissao de energia eltrica, Foz do Iguau, outubro de 1999. [23] BICHELS, Arlei. Curvas de saturao de transformadores- COPEL Companhia Paranaense de Energia. Curitiba, [24] KASZTENNY, B.; ROSOLOWSKI, E.; LUKOWICZ M.; IZYKOWSKI, J. Current related relaying algorithms immune to saturation of current transformers. The Technical University of Wroctaw, p.365-368, Poland. [25] ALSTOM T&D PROTECTION AND CONTROL LTD.; MUTHUMUNI, D.; MCLAREN, P.G.; CHANDRASENA W.; PARKER, A. Simulation model of an air gapped current transformer. IEEE, Stafford (UK), 2001. [26] BUNYAGUL, T.; GALE, P.; CROSSLEY, P. Design and evaluation of an overcurrent relay suitable for operation with measurement current transformers. Developments in power system protection, conference publication n 479, IEE, p.201-204, 2001. [27] CESREO, F. An impedance-based CT saturation detection algorithm for busbar differential protection. IEEE Transactions on power delivery, vol. 16, n 4, p.468472, october 2001.

122

[28] CUMMINS, J.C.; YOON, HONG-JUN; YU, D.C.; WANG, Z.; KOJOVIC, L.A.; STONE, D. Neural network for current transformer saturation correction. IEEE, p.441446, 1999. [29] GALE, P.; BUNYAGUL, T.; CROSSLEY, P. Overcurrent protection using signals derived from saturated measurement CTs. IEEE, p.103-108, 2001. [30] HOSEMANN, G.; STEIGERWALD, H.M. Modal saturation detector for digital differential protection. IEEE Transactions on power delivery, vol. 8, n 3, p.993-940, july 1993. [31] LOCCI, N.; MUSCAS, C. A digital compensation method for improving current transformer accuracy. IEEE transactions on power delivery, vol. 15, n 4, p.11041109, october 2000. [32] MUSCAS, C.; LOCCI, N. Hysteresis and edy currents compensation in current transformers. IEEE transactions on power delivery, vol. 16, n 2, p.154-159, april 2001. [33] SAWA, T.; KUROSAWA, K.; KAMINISHI, T.; YOKOTA, T. Development of optical instrument transformers. IEEE transactions on power delivery, vol. 5, n 2, p.884-891, april 1990. [34] YANG, L.; DOLLOFF, P.A.; PHADKE, A.G. A microprocessor based bus relay using a current transformer saturation detector. IEEE, p.193-202, 1990. [35] LOCCI Nicola and MUSCAS Carlo. Histeresis and Eddy Currents Compensation in Current Transformers, IEEE Transactions on power delivery, vol.16, no. 2, april 2001. [36] ELETROSUL. Treinamento em equipamentos de ptio de subestaes Mdulo: Transformadores para instrumentos, Coordenao Geral, Coordenao Tcnica. Outubro/2001.

123

[37] SERMARINI, ANDR LUIZ, CTEEP. Aspectos tcnicos e gerenciais da manuteno em instalaes eltricas: Estudo de caso da manuteno preventiva centrada em confiabilidade. XVI SNPTEE, So Paulo 2001. [38] ELETROSUL. Levantamento da caracterstica de magnetizao dos ncleos de transformadores de corrente. Manual de manuteno MM, Mdulo: Equipamentos de ptio, Captulo: Instrues de manuteno, Seo: Transformadores de corrente. Novembro,2001. [39] ELETROSUL . Medio da corrente de excitao em transformadores. Manual de manuteno MM, Mdulo: Equipamentos de ptio, Captulo: Instrues de manuteno, Seo: Transformadores de corrente. Novembro,2001. [40] IEEE 76CH1130-4PWR: Transient response of current transformers: Std 242: Recommended practice for protection and coordination of industrial and commercial power systems. New York, January 1976. [41] BARP, A.M. Metolologia de avaliao e de gerenciamento da incerteza de sistemas de medio em temperatura.. Dissertao (Mestrado em Engenharia Mecnica) Programa de Ps-graduao em Engenharia Mecnica, Universidade Federal de Santa Catarina. 120p. Florianpolis, 2000. [42] ABNT ASSOCIAO BRASILEIRA DE NORMAS TCNICAS. Requisitos de garantia da qualidade para equipamentos de medio NBR ISO 10012-1, Nov/1993. [43] FLESCH C. A.; BARP A. M. Avaliao a priori da incerteza em sistemas

modulares de medio de temperatura. In: IV Congreso Ibearoamericano de Ingeniera Mecnica CIDIM/99. Anais em CDROM. Santiago de Chile, 23 a 26 nov. 1999b. [44] NORMA - NIT-DICLA-033 Poltica para implementao da estimativa de incerteza de medio em laboratrios de ensaio. INMETRO. Mar/2003.

124

[45] CARNEIRO, J.C. Aspectos de confiabilidade de equipamentos eltricos de alta tenso constatados na inspeo e ensaios de recebimento em fabrica: subsdios para avaliao da qualidade do produto e suas conseqncias para o fornecimento de energia eltrica. XVI SNPTEE, Fz do Iguau. 1999. [46] CAVICHIOLI, Nelson; PASQUA, Maurcio. Gesto da manuteno em sistema de transmisso de energia: Uma experincia de sucesso, XVI SNPTEE Seminrio Nacional de Produo de Transmisso de Energia Eltrica. SIQUEIRA, Campinas, 21 a 26 outubro, 2001. [47] FLESCH, Carlos A. Estruturao de um sistema de simulao de instrumentos de medio. 2001. Tese (Ps-Graduao em Engenharia Mecnica) - Universidade Federal de Santa Catarina, Fpolis, 2001. [48] SCHOUKENS, J.; PINTELON, R.; VANDERSTEEN, G. A sinawave fitting procesure for characterizing data acquisition channels in the presense of time base distortion and time jitter. IEEE Transactions on Instruments and Measurement, v.46, n.4, p.1005-1010, Aug. 1997. [49] TRYLING, D. P. Eletronics for the new century. Electrical Apparatus. V.53, n.3, p49-50, Mar.2000. [50] JAIN, R. The Art of Computer Systems Performance Analysis. New York: John Wiley & Sons, 1995. [51] GLENN O.A., WAYNE W. M. A perspective on data analysis, Site www.senorsmag.com/articles/, December 2001. Acesso em novembro, 2003. [52] KADIONIC, Patrice. Les bus industriels cole Nationale Suprieure Electronique, Informatique et Radiocommunications, ENSEIR. Bordeaux. Site http://www.enseirb.fr/~kadionik. Acesso em novembro, 2003.

125

[53] CEJER, Mark. Choises, choises, choises, part.1: Open vc. Closed architectures, proprietary packages and programming language environments. Site www.senorsmag.com/articles/ , September 2002. Acesso em novembro, 2003. [54] NATIONAL INSTRUMENTS - Data Acquisition Fundamentals Aplication note 007, Site http://www.natinst.com. Acesso em julho 2003. [55] FLESCH, C. A.; CAMARANO, D. M. Proposta de metodologia de seleo dos mdulos fsicos e lgicos de um processo de medio automatizado de temperatura com transdutores dos tipos termopar, termoresistor e termistor. In: XII Congresso Brasileiro de Engenharia Mecnica. Anais. v.3., p.269-274. Braslia, dez. 1993a. [56] BLANK, M. Sistematizao das especificaes metrolgicas em sistemas automatizados de aquisio de sinais. Florianpolis, 1996. 120p. Dissertao (Mestrado em Engenharia Mecnica) Programa de Ps-graduao em Engenharia Mecnica, Universidade Federal de Santa Catarina. [57] BARP, A., FLESCH, C. A. Avaliao da incerteza de medio durante o projeto de cadeias de medio automatizadas. III SEMETRO Seminrio Internacional de Metrologia Eltrica; Rio de Janeiro, RJ, 15 a 17/09/1998, Anais em CDROM. [58] INMETRO . Vocabulrio Internacional de Termos Fundamentais e Gerais de Metrologia. Verso Brasileira do "Vocabulary of basic and general terms in metrology" publicado em 1993 pela ISO/IEC/OIML/BIPM. Rio de Janeiro: Mar 1995. [59] FLESCH, C. A.; TRONCOSO, L. S. Sistematizao da anlise das fontes de erros na multiplexao automatizada de extensmetros resistivos. In: V Congresso Nacional de Ingeniera Mecnica. Anais. Punta Arenas, dez. 1992. [60] SCHRAFF, Fred. Choosing differential or single-ended measurements for data acquisition systems, www.senorsmag.com/articles/, December 1997. Acesso em novembro, 2003.

126

[61] FLESCH, C. BLANK, M., - Anlise comparativa entre erros metrolgicos decorrentes da multiplexao automatizada obtidos em anlise terica e experimental. XV Congresso Brasileiro de Engenharia Mecnica; Baur, SP, 12/1997; Anais. [62] FLESCH, C. A.; SCAVONE, R. Aplicacin de sistemas expertos para

determinar intervalos de calibracin de instrumentos de medicin en bancos de ensayo. Revista Internacional Indexada Informacin Tecnolgica, ISSN 0716-8756. v. 9, n.2, p.169-176, 1998. [63] FLESCH, C. A. Metrologia. Apostila da disciplina Metrologia e Eletrnica para Experimentao do Programa de Ps-graduao em Engenharia Mecnica da UFSC. Florianpolis: Laboratrio de Metrologia e Automatizao da UFSC, 2000. [64] FLESCH, C. A.; FRANA, L. R. G. Sistema de gerenciamento de instrumentos de controle geomtrico: caracterizao e desenvolvimento de um prottipo. In: Congresso Brasileiro de Engenharia Mecnica. Anais. v.3, p.1551-1554 Braslia, dez. 1993b. [65] POTTER, David Programmable lowpass filters for PC-Based Data Acquisition (DAQ) Boards, NATIONAL INSTRUMENTS Application Note 068. Site www.ni.com/. Acesso em janeiro, 2004. [66] CRISTALTI, L.; FERRERO, A. PIURI, V. Programmable instruments, virtual instruments and distributed measurement systems: what is really useful, innovative and technically sound? IEEE Instruments Measurement Magazine, V.2, n.9, p.20-27, Sept.1999. [67] NATIONAL INSTRUMENTS Tutorial Labview Jan.1996. Site: www.ni.com/. Acesso em fevereiro, 2003. [68] NATIONAL INSTRUMENTS. Taking Your Measurements to the Web with Labview. Austin, 2002.Site: www.ni.com/. Acesso em fevereiro, 2003.

127

[69] NATIONAL INSTRUMENTS - Introduction to LabVIEW 7 and Data Acquisition, Site: www.ni.com/. Acesso em outubro, 2002. [70] NATIONAL INSTRUMENTS - NI Measurement Studio 7.0 Extensible Architectures and .NET Measurement Designers Deliver Flexibility and Robust I/O Connectivity. Site www.ni.com/. Acesso em novembro 2003. [71] NATIONAL INSTRUMENTS Alternative GPIB interfaces. Site www.ni.com. Acesso em maro, 2004. [72] NATIONAL INSTRUMENTS - Using a GPIB Controller to Talk to or from a Serial Device. Site www.ni.com. Acesso em maro, 2004. [73] NATIONAL INSTRUMENTS - Connect RE232/485 serial instruments to USB with the NI USB-232 and NI USB-485. Site www.ni.com. Acesso em maro, 2004. [74] NATIONAL INSTRUMENTS - USB Overview. Site www.ni.com. Acesso em maro, 2004. [75] Technical Note VXI Bus Overview VXI Technology Site.

http://www.vxitech.com. Acesso em novembro de 2003. [76] The VXI Platforme Today and the future - VXI Technology Site. http://www.vxitech.com. Acesso em novembro de 2003. [77] NATIONAL INSTRUMENTS-User Manual 6023E/6024E/6025E Multifuncion I/O Devices for PCI, PXI,CompactPCI, and PCMCIA Bus Computers Instruments. Site http://www.ni.com [78] FAIRCHILD SEMICONDUCTOR CORPORATION - General purpose 6-pin phototransistor optocouplers 2003. National

128

[79] FLESCH, A.C. Sistema de garantia da confiabilidade metrolgica Manual de manuteno Eletrosul Modulo: Qualidade, Captulo: Instruo organizacional, Seo: Confiabilidade metrolgica. Junho/2003. [80] NORMA - NIT-DICLA-004 Critrios especficos para calibrao de instrumentos analgicos e digitais de medio na rea de eletricidade. INMETRO. Mar/2002. [81] NORMA - NIT-DICLA-021 Expresso da incerteza de medio. INMETRO. Mai, 2003. [82] INSTITUTO NACIONAL DE METROLOGIA, NORMALIZAO E QUALIDADE INDUSTRIAL (INMETRO) et al. Guia para Expresso da Incerteza de Medio. Edio Brasileira do "Guide of Uncertaincy in Measurements" . 2. ed. Rio de Janeiro, 1998. [83] ARRI, E. at al. On the application of the Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement to measuring instruments. Elsevier Measurement, Orlando, n. 16, 1995. [84] INSTITUTO NACIONAL DE METROLOGIA, NORMALIZAO E QUALIDADE INDUSTRIAL (INMETRO). Expresso da Incerteza de Medio na Calibrao. Verso Brasileira do Documento de Referncia EA-4/02. Rio de Janeiro, 1999. [85] INSTITUTO NACIONAL DE METROLOGIA, NORMALIZAO E QUALIDADE INDUSTRIAL (INMETRO). Expresso da Incerteza de Medio na Calibrao Exemplos. Verso Brasileira do Documento de Referncia EA-4/02-S1.Suplemento 1 ao EA-4/02. Rio de Janeiro, 1999. [86] ALBERTAZZI, A. Apostila de metrologia. Laboratrio de Metrologia e Automatizao LABMETRO. Fev/2002. [87] SOLON M. F. Fundamentos de Medidas Eltricas. 2 ed. Rio de Janeiro, 1981.

129

[88] ABNT ASSOCIAO BRASILEIRA DE NORMAS TCNICAS. Normas de gesto da qualidade e garantia da qualidade - Parte 4: Guia para gesto da dependabilidade NBR ISSO 9000-4/1993. [89] LEROUX, Le transformateur. Site: http://www.gel.usherbrooke.ca/leroux/projet/data/Moteur/chap08.htm. maro, 2003. [90] NATIONAL INSTRUMENTS Calibration: Accuracy and Uncertainty. Site: www.ni.com/. Acesso em novembro, 2003. [91] NI 6023E/6024E/6025E Family Specification Atualizado em setembro de 2003. Site http://www.ni.com . Acesso em novembro, 2003. Acesso em

Você também pode gostar