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UNIVERSIDADE FEDERAL DE SO PAULO CAMPUS DIADEMA

Interfermetro de Michelson
Laboratrio de Fsica III Profa. Dra. Sara Isabel Pinto Monteiro do Nascimento Alves

Alyne da Silva Barros 55262 Andr Oliveira 61306 Daniel de Carvalho Albertini 44292

Engenharia Qumica Diadema - SP 11 / 11 / 2013

Sumrio
Introduo..................................................................................................................... 1 Objetivos....................................................................................................................... 2 Parte Experimental ....................................................................................................... 2 Resultados e Discusso ............................................................................................... 3 Concluso e Sugestes ................................................................................................ 3 Bibliografia .................................................................................................................... 6

I.

Resumo

No experimento realizado, utilizou-se o interfermetro de Michelson para a observao interferncias construtivas e destrutivas da luz e formao de franjas. Foi feito o alinhamento dos elementos pticos: espelhos, difusor, laser, lente. muito importante o alinhamento correto dos equipamentos para a visualizao das franjas, visto que as franjas circulares s so formadas quando as distncias entre cada um dos espelhos e a lente difusora so exatamente iguais e os espelhos esto perpendiculares entre si. Entretanto, os equipamentos so muito sensveis a qualquer perturbao, mas felizmente foi possvel a observao de 11 franjas circulares de interferncia. A luz sofre difrao e por isso foi possvel observar tambm pequenos crculos concntricos formados ao longo da imagem projetada.

II.

Introduo

Em 1881, Albert Abraham Michelson, fsico estadunidense, construiu um interfermetro para testar a existncia do ter um meio hipottico em que a luz poderia se propagar. Seus trabalhos foram cruciais para demonstrar que essa hiptese no era vivel, contribuindo, assim, para consolidar a posio, hoje aceita, de que a luz uma onda que no necessita de um meio para se propagar.[1] No interfermetro de Michelson, luz de uma fonte S subdividida, em dois feixes perpendiculares por uma lmina semi-espelhada depositada sobre uma placa de vidro P1, a 45 do feixe incidente. O feixe refletido vai a um espelho E1, que o manda de volta e para a lente L, depois de atravessar novamente P1. O feixe transmitido pela lmina semi-espelhada vai para outro espelho E2 e, depois de refletirse na lmina, vai tambm para L, a placa P2, idntica a P1, mas no-espelhada, inserida para compensar a diferena de caminho tico correspondente ao duplo atravessamento de P1 pelo feixe que se reflete em E1. Os dois feixes interferem no plano de observao O, onde so focalizados pela lente L. Se E2 a imagem especular de E2 na lmina semi-espelhada, as condio~es de interferncia construtiva ou destrutiva so as mesmas que para a lmina de faces paralelas formada por E1 e E2 para o par de raio, aqui no h reflexes mltiplas. Como o raio que vai para E1 sofre reflexo interna na camada espelhada, e o que vai para E2 refletido externamente, h uma defasagem adicional de , com n=1, d 2d cosm=m0 (m=0,1,2,...) para interferncia destrutiva, onde d=[l2-l1] a diferena de caminho, anis escuros. O interfermetro de Michelson permite detetar diferenas extremamente pequenas de caminh tico entre os dois braos perpendiculares do percurso dos raios. Uma diferena de caminho 0(m) representa um deslocamento de m franjas. possvel estimar visualmente deslocamentos at de m `1/20 de franja.[2]

Figura 1 - Interfermetro de Michelson.

IV.

Objetivos

Temos como objetivo neste experimento a familiarizao com os instrumentos, a visualizao das interferncias construtivas e destrutivas da luz e formao de franjas, uso do interfermetro para medidas precisas de pequenos deslocamentos e determinao do de fontes monocromticas.

V.

Parte Experimental
Materiais Utilizados

5.1.

Experimento 1 Laser de He-Ne; Divisor de feixe; Espelhos; Lente expansora divergente; Anteparo; Caixa de areia.

5.2.

Procedimento Experimental

Foi montado o sistema de acordo com a figura 1:

.
Figura 2: Montagem do Interfermetro. (A1:espelho; A2: espelho acoplado a um deslocador linear; P: Divisor de feixe.)

Foram alinhados os componentes do interfermetro de maneira que a reflexo do laser em cada um dos espelhos voltasse exatamente pelo mesmo caminho, fazendo com que as distncias entre o espelho A1 e A2 em relao ao divisor de feixe fossem os mesmos. Aps este alinhamento perfeito, utilizou-se uma lente divergente para expandir o feixe para melhor observao no anteparo do padro de interferncia. Depois, houve a tentativa de contagem das franjas durante o deslocamento do espelho. Contudo, como no estavam estticas e no houve variao no relgio comparador, no houve a possibilidade de contagem durante um deslocamento do relgio.

VI.

Resultados e Discusso

Experimento 1 O alinhamento dos espelhos foi a etapa mais trabalhosa. Foi necessrio o uso de objetos que nivelassem o LASER, o divisor de feixe e os espelhos. Aps realizado o alinhamento, observou-se no anteparo a imagem representada na figura abaixo.

Figura 3: Esquema das franjas de interferncias observadas durante a aula prtica.

Embora a franjas tenham se formado de maneira ntida o padro no circular e paralelo mostrou que os espelhos no estavam de fato alinhados, ou seja, os espelhos no estavam mesma distncia do divisor de feixes e nem disposta de forma perpendicular. Tal padro tambm formado por um circulo concntrico, porm o centro no est inserido na imagem projetada no anteparo. O alinhamento foi feito mais uma vez. Desta vez posicionou-se o feixe de luz bem prximo ao centro dos espelhos, que foram dispostos de forma equidistante ao divisor de feixes. E foi observado um padro de franjas como no esquema abaixo.

Figura 4: Esquema demonstrando a imagem formada no anteparo (fonte: mecfunnet.faii.etsii.upm.es)

Na imagem formada no anteparo foi possvel observar a formao de 11 franjas. Verificou-se que a intensidade da imagem era maior no centro que nas bordas, condizendo com uma gaussiana de intensidade. Tambm foi possvel notar pequenos crculos concntricos formados ao longo da imagem projetada causados pela difrao da luz. As franjas formadas so devidas interferncia causada pela incidncia de dois feixes sobre um ponto. A resultante pode ser tanto mais intensa que as ondas originais (fruto de interferncia construtiva) ou menos intensas (fruto de uma interferncia destrutiva) [3]. Em uma bolha de sabo, quando um feixe de luz incide atravs da gua parte dele refletido causando outro feixe de luz incidente. A interferncia resultante causa faixas coloridas devido a interferncia destrutiva causada a alguns comprimentos de onda. No caso de um feixe monocromtico, como o caso deste experimento, as interferncias destrutivas causaro sombras, e as construtivas formaro as franjas [4]. As interferncias sero construtivas sempre que os comprimentos de onda dos dois feixes estiverem a uma angulao em 0, 2, 4, 6,... . De forma equivalente pode-se dizer que os feixes esto em fase sempre que a diferena de caminhos 0, , 2, 4, ..., m. Por outro lado os feixes esto fora de fase quando a distncia est em , 3, 5,..., ou seja, /2, 3/2, 5/2, ... , (m+1/2). Notou-se tambm que vibraes externas causavam um distrbio no perfil de interferncia. Isso explicado porque por menores que fossem as vibraes, estas causavam movimentaes micromtricas aos espelhos, variando a distncia percorrida pelos feixes e fazendo com que estes mudassem seu padro de interferncia, ou seja, o ponto em que os feixes estavam em fase e o ponto onde a interferncia era destrutiva eram alterados pelas vibraes externas, como as causadas pelo apoio de mos na bancada onde os espelhos e o LASER estavam suportados.

Para a segunda etapa do experimento, foi solicitado calcular o comprimento de onda do laser He-Ne por meio da movimentao em escala micromtrica do espelho, porm essa etapa no pde ser feita devido a problemas com a lente expansora que no estava funcionando. Era de se espera que ne segunda etapa a movimentao do espelho 2 causasse alteraes no padro das franjas de interferncia. A medida que o espelho 2 fosse deslocado para frente, as franjas pareceriam se expandir, com novos anis surgindo do centro do crculo e expandindo-se para fora. No centro do padro os anis iriam se alternar entre claros e escuros. Visto que o feixe de luz percorre o caminho duas vezes, a mudana de claro para escuro e novamente para claro evidenciaria que o caminho da luz variou , indicando que o espelho teria se movido a uma distncia de /2.

Figura 5: Efeito da movimentao do espelho na interferncia dos feixes de laser. O surgimento de uma franja escura no ao centro decorrente da movimentao de /2 do espelho.

Caso a movimentao micromtrica do espelho ocorresse com sucesso, seria possvel obter o comprimento de onda utilizando a relao 2d = m, onde d a distncia que o espelho 2 se movimentou, m o nmero de franjas e o comprimento de onda do feixe. O comprimento de onda poderia ser determinado atravs da simples manipulao demonstrada abaixo

Ou seja,

Dessa forma, teria sido possvel calcular o comprimento de onda do laser de He-Ne. O valor esperado para o comprimento de onda de aproximadamente = 632,8 nm. Quanto maior a distncia percorrida, mais preciso ser o comprimento de onda calculado. Atravs desse experimento, Michelson mostrou que o metro padro era igual a 1.553.163,5 comprimentos de onda de uma luz vermelha de cdmio, o que lhe rendeu o prmio Nobel em 1907 [3]. possvel tambm calcular, atravs da equao supracitada, o ndice de refrao do ar. Aproximando o comprimento de onda do LASER a 633 nm, a uma movimentao do espelho 2 de 10 mm, sabe-se que o numero de franjas observadas seria:

Aplicando esse resultado a equao: ( [ ) ]

Ou seja, n ~ 1, onde n igual ao ndice de refrao do ar. 5

VII.

Concluso e Sugestes

Neste experimento foi possvel a observao da formao de franjas provenientes das interferncias de ondas somente por meio de um ajuste perfeito dos espelhos, pois necessrio um alinhamento perfeito entre os feixes. Alm disso necessria a utilizao de uma lente divergente para expanso dos feixes. Contudo, todo o equipamento era muito sensvel, logo, vibraes na bancada, correntes de ar e impreciso nos aparelhos geraram erros e dificultaram a observao da formao das franjas assim como a contagem para os diferentes deslocamentos. Somente aps um ajuste perfeito foi possvel a observao de 11 franjas.

VIII.

Bibliografia

[1] Apostila de tica Interfermetro de Michelson Prof. Dr. Maurcus Vincius Baeta Moreira UFTM 2007. [2] - H.Moyses Nussenzveig - Curso de Fsica Bsica tica Relatividade e Fsica Quntica 1Edio Volume 4 Editora Blucher So Paulo, SP 2010. [3] Halliday, D. et al. Fsica 4, 5 edio. Editora LTC, 2004, Rio de janeiro, p.384. [4] Tipler, P.A.; Mosca, G. Fsica, volume 2, 5 edio. Editora LTC, 2006, Rio de Janeiro, p. 550.