UNIVERSIDADE ESTADUAL PAULISTA JLIO DE MESQUITA FILHO

Juan Guilhermo Martim

Estudo para Determinao da kVp em Equipamentos de raios X convencional.

Botucatu 2010

Juan Guilhermo Martim

Estudo para Determinao da kVp em Equipamentos de raios X convencional.

Monografia apresentada ao Instituto de Biocincias IB, Universidade Estadual Paulista Jlio de Mesquita Filho UNESP como parte das exigncias para obteno do titulo de Graduado no Curso de Fsica Mdica modalidade Bacharelado.

Orientadora: Profa Dra Diana Rodrigues de Pina

Botucatu 2010

FICHA CATALOGRFICA ELABORADA PELA SEO TC. AQUIS. TRATAMENTO DA INFORM. DIVISO DE BIBLIOTECA E DOCUMENTAO - CAMPUS DE BOTUCATU - UNESP BIBLIOTECRIA RESPONSVEL: ROSEMEIRE APARECIDA VICENTE

Martim, Juan Guilhermo. Estudo para determinao da kVp em equipamentos de raios X convencional / Juan Guilhermo Martim. - Botucatu, 2010 Trabalho de concluso de curso (bacharelado - Fsica Mdica) Instituto de Biocincias de Botucatu, Universidade Estadual Paulista, 2010 Orientador: Diana Rodrigues de Pina Assunto CAPES: 20000006 1. Biologia. 2.Fsica mdica. 3. Raio X.

Palavras-chave: kVp; Raios X convencional; Razo de exposio (RE); Tenso.

Dedico este trabalho: Aos meus pais, Robson e Liliana, pelo amor, carinho, dedicao, companheirismo e por nunca me deixarem faltar nada apesar das dificuldades. minha irm, Juliana, que nunca me deixou esquecer o quanto ainda preciso melhorar para ser bom um dia. Aos meus avs pela torcida e pela ajuda. minha namorada, Renata, pela pacincia, amor e carinho to necessrios para que tudo ao redor deste trabalho desse certo.

Agradecimentos
Deus, acima de tudo. Profa. Dra. Diana Rodrigues de Pina, pela oportunidade de estagio, orientao, pela amizade e por me fazer acreditar que com calma possvel interpretar uma montanha de dados e fazer deles um bom trabalho!

Ao Prof. Dr. Jos Ricardo de Arruda Miranda por todas as dicas, e empenho em criar o curso pelo qual me orgulho.

Prof Dr Claudia Helena Pellizzon, pela iniciativa de tentar melhorar ainda mais nosso curso.

Ao Prof. Srgio Luiz Rocha, pela sugesto do tema desse trabalho e discusses muito valiosas para a concluso do mesmo.

Aos Professores Joel Mesa Hormaza, Ney Lemke e Roberto Morato Fernandez, pela amizade e ajuda durante todo o curso.

Aos Professores Srgio Pereira e Paulo Eduardo Martins Ribolla, pelas primeiras oportunidades de estagio nesta instituio.

Aos companheiros do Laboratrio de Fsica Aplicado ao Radiodiagnstico, Eros Carbi e Rafael Toledo Fernandes de Souza, por toda ajuda, ateno e por serem sempre otimos amigos.

Fatima R. Casagrandi Cavallari, pela simpatia e por sempre ter me ajudado com todos os documentos da graduao com muita boa vontade.

Aos amigos Pedro Rafael Costa, Rodrigo Lessa Pires e Elaine Galhardo pela verdadeira amizade.

Aos grandes amigos Angelo Biasi Govone, Caroline Zepelline do Santos, Cristina Toshie Iwassaki, Daniel Augusto Nolli, Karen Pieri, Lana Tahara Taniguti, Lcio Leonardo Luvezuti, Tiago Cardoso Tardelli, Thiago Revers Dreyer, Woner Mion por todos os momentos incrveis que passamos durante nossa graduao.

Aos Colegas do Cursinho Eukaipa e nossos alunos, dos quais me fizeram mudar completamente de idia com relao ao futuro.

todos da IV Turma de Fsica Mdica, por terem me proporcionado os melhores anos que j tive e por terem me ajudado a amadurecer e me tornar uma pessoa melhor.

Esta Pesquisa foi desenvolvida no Setor de Diagnstico por Imagem do Hospital das Clnicas da Faculdade de Medicina de Botucatu (HCFMB-UNESP) sob orientao da Profa. Dra. Diana Rodrigues de Pina.

Poderia viver encerrado numa casca de noz e julgar-me o rei do espao infinito, no tivesse eu sonhos atormentados. -Shakespeare, Hamlet, Ato 2, Cena 2

RESUMO A aplicao de programas de controle de qualidade em radiodiagnstico importante para se obter, qualidade da imagem, reduo de dose no paciente e custos para a instituio. A verificao da tenso real de um equipamento de raios X um dos parmetros que deve ser determinado em testes de controle de qualidade. Este tem influncia tanto na qualidade da imagem quanto na dose absorvida pelo paciente. Visto a importncia deste fato, esta pesquisa prope a determinao da tenso em qualquer equipamento de raios X convencional, de uma maneira rpida, segura e de baixo custo. Para atingir esse objetivo foi realizada medidas que caracterizam a padronizao dessa metodologia, onde relacionado a razo de exposio (RE), utilizando distintas espessuras de filtros de cobre (Cu), em funo da CSR. Posteriormente feita uma relao da CSR em funo da tenso real obtida, de maneira direta, utilizando um medidor de kVp, devidamente calibrado e comumente empregado na rotina clnica. Dessa forma ao determinar a RE, em qualquer equipamento desejado, pode-se determinar a CSR correspondente e conseqentemente a kVp real, a partir de dados previamente obtidos no processo de padronizao dessa metodologia de estimativa da kVp.

Palavras-chave: kVp; Raios X convencional; Razo de exposio (RE); Tenso.

ABSTRACT

The quality assurance control program (QACP) in clinical radiology is very important to acquire, image quality, patient dose reduction and cost for the institution. The verification of the real tension on the x ray tube, it is one of many parameters that may be determined on a QACP. This act on image quality as absorbed dose in patient. Once proved the importance of this fact, this study come up with the determination of tension to any X ray tube used on medical routine, on quick, safe and low cost manner. To reach the aim of this study, the methodology consisted on measuring expose rates (ER) using different thicknesses of copper (Cu) plates like filters and relating these results with Half Layer Value (HLV). Afterwards, the HLV was associated to real tension that was acquired with kilo voltage of peak (kVp) measurers used on clinical routine. So walking in this path, when performed the ER, on any X ray tube, its possible acquire the HLV and consequently the real kVp, considering measures obtained before, on the methodology of kVp estimative development. Key word: Conventional X Ray tube; Expose Rate (RE); kVp; Tension.

LISTA DE FIGURAS
Figura 1 - Esquema simplificado de um tubo de raios............................................................... 4 Figura 2 - Tipos de interao entre um eltron incidente sobre um material e seus tomos..... 5 Figura 3 - Espectro de raios X gerados com 100 kVp, 2.0 mm Al e 17 de inclinao do nodo de Tungstnio............................................................................................................................. 6 Figura 4 - Representao do efeito fotoeltrico E=h a energia do fton incidente, Eb a

energia de ligao do eltron e T a energia do eltron ejetado do tomo.................................. 7 Figura 5 - Representao do efeito Compton............................................................................. 8 Figura 6 Esquema de uma interao do tipo formao de pares............................................. 9 Figura 7 - Relao entre a tenso de pico, efetiva e seu valor instantneo para um gerador monofsico............................................................................................................................... 10 Figura 8 - Comparao da produo de raios X de geradores monofsicos e de potencial constante.................................................................................................................................. 11 Figura 9 - Tenso alternada de um gerador trifsico.............................................................. 11 Figura 10 - Comparao do ripple para diferentes geradores de raios X: Monofsico com retificao completa de onda, trifsico com seis e com doze pulsos............................... 12 Figura 11 - Efeitos do potencial aplicado e da corrente no espectro do feixe......................... 14 Figura 12 - Efeitos do potencial aplicado e da corrente no espectro do feixe......................... 15 Figura 13 - Espectros de raios x sem filtrao, filtrao de 1mm de alumnio, e 3 mm de alumnio respectivamente........................................................................................................ 16 Figura 14 - Arranjo experimental da avaliao da razo de exposio obtida em funo da tenso do equipamento de raios X avaliado............................................................................. 22 Figura 15 A - Relao da razo de exposio obtida para os equipamentos de raios x Monofsico (Porttil), Trifsico e Alta Freqncia................................................................. 23 Figura 15 B - Relao da CSR com as kVps reais para os equipamentos de raios x Monofsico (Porttil), Trifsico e Alta Frequncia ................................................................ 24 Figura 16 - Razo de Exposio (RE) em funo da kVp, entre equipamentos monofsicos............................................................................................................................. 28

Figura 17-Aplicao do teste de Pearson (R=0,99999), na apreciao da comparao entre os equipamentos monofsicos...................................................................................................... 29 Figura 18: Razo de Exposio (RE) em funo da kVp, entre equipamentos trifsicos........ 29 Figura 19 : Aplicao do teste de Pearson (R=0,99999), na apreciao da comparao entre os equipamentos trifsicos............................................................................................................ 30

LISTA DE TABELAS
Tabela1: Comparao entre os valores de kVp, utilizando o mtodo proposto (UMP) e obtidos por medidas diretas (MD), utilizando o medidor de kVp, com seus respectivos desvio padro (DV), e variaes entre os mtodos avaliados (VMA), para o equipamento Monofsico (Porttil)................................................................................................................................... 26 Tabela 2: Comparao entre os valores de kVp, utilizando o mtodo proposto (UMP) e obtidos por medidas diretas (MD), utilizando o medidor de kVp, com seus respectivos desvio padro (DV), e variaes entre os mtodos avaliados (VMA), para o equipamento de Trifsicos-12 pulsos................................................................................................................. 27 Tabela 3: Comparao entre os valores de kVp, utilizando o mtodo proposto (UMP) e obtidos por medidas diretas (MD), utilizando o medidor de kVp, com seus respectivos desvio padro (DV), e variaes entre os mtodos avaliados (VMA), para equipamento de Alta freqncia respectivamente...................................................................................................... 27 Tabela 4: Reprodutibilidade entre os valores de kVp, utilizando o mtodo proposto (UMP), obtido no equipamento padro (UMP-P) e obtidos no equipamento teste (UMP-T), com seus respectivos desvio padro (DV), e variaes entre os equipamentos Monofsicos (Portteis)................................................................................................................................. 31 Tabela 5: Reprodutibilidade entre os valores de kVp, utilizando o mtodo proposto (UMP), obtido no equipamento padro (UMP-P) e obtidos no equipamento teste (UMP-T), com seus respectivos desvio padro (DV), e variaes entre os equipamentos Trifsico....................... 31

SUMRIO
RESUMO ABSTRACT LISTA DE FIGURAS LISTA DE TABELAS CAPTULO I ......................................................................................................................... 1 1. INTRODUO .............................................................................................................. 1

CAPTULO II ....................................................................................................................... 3 2. FUNDAMENTOS TERICOS ....................................................................................... 3 2.1 PRODUO DE RAIOS X.............................................................................................. 3 2.2 INTERAO DA RADIAO COM A MATRIA........................................................ 6 2.3 FORMA DE ONDA............................................................................................................. 9 2.4 FATORES QUE MODIFICAM AS CARACTESTICAS DO ESPECTRO.................... 12 2.5 QUALIDADE DOS FEIXES DE RAIOS X..................................................................... 17 2.6 ATENUAO................................................................................................................... 18 2.7 CMARA DE IONIZAO............................................................................................. 19

CAPTULO III ...................................................................................................................... 21 3. MATERIAIS E METODOS............................................................................................. 21 3.1 MATERIAIS...................................................................................................................... 21 3.2 METODOLOGIA............................................................................................................. 21

CAPTULO IV....................................................................................................................... 26 4. RESULTADOS................................................................................................................... 26

CAPTULO V......................................................................................................................... 32 5. DISCUSSO E CONCLUSO ........................................................................................ 32

CAPTULO VI................................................................................................................... 34 6. BIBLIOGRAFIA................................................................................................................ 34

CAPTULO 1

INTRODUO
As radiaes ionizantes so utilizadas em diversas reas da sade, incluindo-se radiodiagnstico mdico e odontolgico [1]. Estas radiaes devem ser utilizadas de maneira correta para que benefcios possam ser produzidos em detrimento aos danos que elas podem causar ao homem e ao meio ambiente [1]. O Ministrio da Sade, atravs das Diretrizes de Proteo Radiolgica em Radiodiagnstico Mdico Odontolgico [1,2], em conformidade com as Diretrizes Bsicas de Proteo Radiolgica [1,3] da Comisso Nacional de Energia Nuclear (CNEN),

estabeleceu as normas para o desenvolvimento de programas de controle de qualidade em imagens radiolgicas. De acordo com estas diretrizes, para a obteno de imagens mdicas com qualidade, minimizao dos custos e reduo da dose no paciente, trabalhador e meio ambiente necessria a aplicao de Programas de Garantia de Qualidade (PGQ). Em radiodiagnstico, para a implantao de um PGQ argumenta-se da necessidade de de trabalhar com equipamentos adequados e ajustados para cada radiolgica [1]. Uma das variveis que interfere diretamente na

conjunto

prtica

qualidade da imagem e na dose no paciente a qualidade (energia) do feixe de raios X. A energia dos ftons que constituem o espectro de raios X so diretamente proporcionais quilovoltagem de pico (kVp) [1].

Diversas metodologias j foram propostas para a determinao da quilovoltagem de pico de equipamentos de raios X mdico e odontolgico [1,4]. O primeiro mtodo desenvolvido, em 1966 e melhorado em 1968, para determinar a quilovoltagem de pico constitudo de um sistema mecnico que no fornece o valor da kVp em tempo real. O princpio de funcionamento deste mtodo est baseado no processo de atenuao diferenciada do feixe de raios X por um dispositivo mecnico na forma de cunha que utiliza um filme de raios X como detector cuja resposta processada atravs de um grupo de densidades pticas geradas [1,4]. Atravs de uma apropriada calibrao, o valor de um conjunto de densidade ptica gerado associado a um valor especfico de kVp. Este mtodo

ainda usado por muitas instituies por razo de custo, embora seja necessrio um intervalo de tempo de 15 a 20 minutos para completar o processo da determinao de um nico valor da quilovoltagem de pico [1].

No final da dcada de 80 surgiram as primeiras metodologias que utilizavam uma instrumentao quilovoltagem de pico totalmente digital para a determinao da

de equipamentos mdico e odontolgicos [1,5]. Este tipo de

instrumentao utiliza fotodiodos como detectores e um sistema de aquisio e processamento de dados, composto por componentes eletrnicos discretos, que disponibiliza o resultado da medio da kVp em tempo real [1,5]. Estes medidores de kVp ainda so disponibilizados comercialmente, embora alguns modelos tenham substitudo os componentes eletrnicos discretos por uma eletrnica baseada em microprocessadores. Neste estudo, o valor da kVp determinada com base na absoro diferenciada dos raios X atravs do uso de conjuntos de filtros de cobre (Cu) [1], de modo a determinar a kVp com seguridade, praticidade e confiabilidade no valor das medidas. Dessa forma propomos a estimativa da kVp a partir de medidas utilizando cmara de ionizao e distintas espessuras de filtros de Cu. Aqui foram avaliadas as razes de exposies (RE), de modo a estimar a kVp em qualquer equipamento de raios X convencional, baseando-se em trabalhos anteriores [1,6,7].

CAPTULO 2

FUNDAMENTOS TERICOS

Nesta seo sero descritos os fundamentos tericos envolvidos no processo de produo de raios x, interao da radiao com a matria, forma de onda, fatores que modificam as caractersticas do espectro, qualidade dos feixes de raios x, atenuao e cmara de ionizao.

2.1 PRODUO DE RAIOS X

Os raios X so uma forma de radiao eletromagntica cujo comprimento de onda menor que o da luz visvel. Para uma melhor compreenso desse fenmeno fsico, inicialmente ser descrito um tubo de raios X. A Figura 1 mostra o esquema de um tubo de raios X o qual basicamente constitudo de um invlucro de vidro, onde mantido vcuo. A diferena de potencial (1) aplicada no ctodo (2) aquece-o, havendo liberao de eltrons, de modo que se forma uma nuvem eletrnica ao redor do filamento de tungstnio (3). A fonte de alta tenso (4) aplicada entre o nodo (5) e o ctodo (2) responsvel pela acelerao dos eltrons (6) atravs do tubo, os quais, aps atingirem altas velocidades, colidem com o alvo de tungstnio (7). Ao serem desacelerados, j dentro do alvo, os eltrons perdem parte da sua energia que irradiada na forma de raios X. Normalmente o catodo e anodo so constitudos de materiais que apresente um alto nmero atmico, possibilitando uma maior eficincia na produo de raios X [1,8]. Esse material deve apresentar tambm caractersticas quanto a um rpido poder de dissipao trmica e alto ponto de fuso (3370 C) devido a grande quantidade de calor produzida durante o processo de emisso de raios X. A utilizao de altas correntes eltricas diminui a vida til do tubo, devido produo excessiva de calor. Este inconveniente foi parcialmente eliminado pelo advento do nodo giratrio.

Figura 1 Esquema simplificado de um tubo de raios X [1,8]

O tubo para diagnstico, tem por finalidade a produo de imagens ntidas de um material qualquer, sendo importante obterem-se pontos focais de pequenas dimenses (em mamografia, os tubos de raios X apresentam pontos focais com dimenses entre 0,1 e 0,3 mm). Outro problema que os objetos de interesse nem sempre so imveis, o que dificulta a obteno de nitidez na imagem. Para eliminar este inconveniente, um tubo para diagnstico projetado para trabalhar com alta corrente eltrica para que o tempo de exposio possa ser reduzido[1]. Para compreender a produo de raios X propriamente dita, necessrio conhecer os diversos tipos de interao entre os eltrons incidentes e os tomos do alvo. Basicamente, as interaes podem ser divididas em quatro tipos distintos, esquematizados na Figura 2.

Figura 2 Tipos de interao entre um eltron incidente sobre um material e seus tomos [1,8]. No caso A o eltron incidente colide com um dos eltrons de camadas mais externas do tomo, movendo-o para uma rbita ptica. Como a energia de ligao da camada original do eltron da ordem de poucos eltron-volts, o eltron incidente sofre uma perda de energia desprezvel, continuando seu movimento. O tomo, agora no estado

excitado, retorna ao seu estado fundamental atravs da transio do eltron da rbita ptica para a original, ocorrendo emisso de luz visvel (se o material for gasoso) ou, mais provavelmente, produo de calor (se o material for slido) [1,8]. No caso B, o eltron incidente remove um dos eltrons mais externos do tomo, ionizando-o . Se a energia perdida pelo eltron incidente for da ordem de 100 eV, o eltron removido conhecido como raio [1,8]. No caso C, o eltron incidente remove um dos eltrons das camadas mais internas do tomo, doando uma energia cintica T2. O eltron incidente desviado de sua trajetria, perdendo energia (T2 + Eb) , onde Eb a energia de ligao da camada original do eltron removido. Eltrons de camadas mais externas preenchero a lacuna deixada, havendo emisso de radiao X caracterstica K ou L, de acordo com a camada original do eltron removido [1,8]. No caso D, o eltron incide numa regio muito prxima do ncleo do tomo, sofrendo, por isso, uma forte atrao eletrosttica. O eltron perde uma grande quantidade de energia ( E = h ) que emitida como bremsstrahlung (radiao de freamento) [1,8].

Um feixe de raios X apresenta-se na forma de um espectro em funo da energia, cujo valor mximo numericamente igual quilovoltagem de pico (kVp), aplicada entre o nodo e o ctodo do tubo. Analisando um espectro tpico de raios X (Figura 3), v-se que possvel dividi-lo em duas partes distintas: um espectro contnuo (bremsstrahlung) e um espectro de linhas bem definidas (caracterstico) [1,8].

Figura 3 Espectro de raios X gerados com 100 kVp, 2.0 mm Al e 17 de inclinao do nodo de Tungstnio [1,8]

2.2 INTERAO DA RADIAO COM A MATRIA

H vrios processos que caracterizam a interao da radiao X com a matria. Esses processos dependem essencialmente da energia da radiao e do meio material que ela atravessa. Os ftons tm massa de repouso nula e no transportam carga eltrica, portanto produzem ionizao somente indiretamente quando incidem sobre os tomos que constituem o material alvo. Quando os ftons de raios X interagem com a matria ocorre transferncia de energia atravs de uma variedade de processos, sendo o efeito fotoeltrico, o efeito Compton e a formao de pares os de maior relevncia em medicina [1,9].

2.2.1 Efeito Fotoeltrico

O efeito fotoeltrico representa a interao de um fton (radiao X ou gama) com um tomo resultando na ejeo de um dos seus eltrons orbitais e o desaparecimento do fton incidente [1,9]. O efeito fotoeltrico caracterizado pela transferncia total da energia da radiao (h) a um nico eltron na camada, que ejetado com uma energia cintica T bem definida, eq. (1).
(1)

Onde h a constante de Planck, a freqncia da radiao e Eb a energia de ligao do eltron na camada. O efeito fotoeltrico predominante para baixas energias e para elementos qumicos de elevado nmero atmico Z. A probabilidade de ocorrncia aumenta com (Z)4 e decresce rapidamente com o aumento da energia. O efeito fotoeltrico

predominante para energias menores que 0,6 MeV para o chumbo e menores que 0,06 MeV para o alumnio. A Figura 4 ilustra uma interao do fton com o tomo e representa o efeito fotoeltrico [1].

Figura 4 Representao do efeito fotoeltrico E=h a energia do fton incidente, Eb a energia de ligao do eltron e T a energia do eltron ejetado do tomo [10].

2.2.2 Efeito Compton

No efeito Compton, um fton de raios X incidente espalhado por um eltron que possui um valor baixo de energia de ligao. Nessa interao, o eltron absorve parte da

energia da radiao incidente, ejetado do tomo com certo valor de energia cintica e o fton de raios X desviado da trajetria inicial [1,9]. A probabilidade de ocorrncia do espalhamento Compton aumenta quando o valor da energia de ligao do eltron muito menor em relao ao valor da energia do fton incidente. A Figura 5 ilustra uma interao do tipo Compton onde um fton de raios X incidente, com energia inicial Ey e energia final Ey , desviado da trajetria resultando num eltron ejetado com energia cintica inicial Ec .

Figura 5 Representao do efeito Compton [10]

2.2.3 Formao de Pares

Umas das formas de absoro da radiao eletromagntica de alta energia atravs da produo de pares do tipo eltron (e - ) psitron (e + ). A produo de pares ocorre quando ftons com energia superior a 1,022 MeV, passam nas

proximidades do ncleo de tomos que possuem nmero atmico elevado [9,1]. Nesta interao, a radiao transforma-se num par eltron-psitron, conforme a seguinte reao:
(2)

As duas partculas transferem suas energias cinticas ( T+ e T- ) para o meio material atravs de interaes conservativas. O mais provvel que o psitron volte a se combinar com um eltron estacionrio do meio dando origem a dois ftons, cada um com energia de 0,511 MeV. A Figura 6 ilustra uma interao do fton com o ncleo atmico e representa uma interao tipo produo de pares.

Figura 6 Esquema de uma interao do tipo formao de pares [10].

2.3 FORMA DE ONDA

A forma de onda uma caracterstica que descreve a maneira pela qual a tenso varia com o tempo durante a produo de raios X. So comumente utilizadas diversas formas de onda de tenso, como a monofsica, a trifsica e a de potencial constante.

2.3.1. Forma de Onda Monofsica

No transformador de alta tenso monofsico, a tenso aplicada ao tubo de raios X varia constantemente durante o ciclo, assim como a quantidade e o espectro de energia dos raios X produzidos. Os circuitos retificadores de meia onda e de onda completa so utilizados nestes transformadores [11]. Trs valores de tenso so associados forma de onda monofsica, relacionados a um aspecto da produo de raios X. Em qualquer instante de tempo, a tenso possui um valor instantneo (kVi), que determina a taxa de produo de raios X naquele instante. Durante cada ciclo, a tenso atinge um valor mximo ou de pico (kVp), selecionado pelo operador no painel de comando [11]. A tenso efetiva (kVe) reflete o fato da tenso variar com o tempo e no produzir sempre a mesma energia do valor de pico. Para uma tenso monofsica tpica, o valor da tenso efetiva 70,7% do valor da tenso de pico, como mostra a Figura 7 [11,12].

10

Figura 7 - Relao entre a tenso de pico, efetiva e seu valor instantneo para um gerador monofsico [11,12].

A maior parte da exposio produzida durante uma pequena parte do ciclo de voltagem, quando a tenso prxima do valor de pico, como mostra a Figura 8, pois a eficincia da produo de raios X aumenta com o valor da tenso. Os ftons produzidos com uma tenso maior aplicada no tubo possuem energia mdia maior e so mais penetrantes. Alm disso, a corrente varia com o tempo durante o ciclo de tenso, cujo efeito a produo de raios X em uma srie de pulsos, no havendo exposio significante no perodo de tempo entre os pulsos. Em geral, o valor da corrente selecionada no painel de comando representa um valor mdio durante todo o tempo de exposio [11].

2.3.2. Forma de Onda de Potencial Constante

Nos geradores de potencial constante, a tenso de pico, a tenso efetiva e a tenso instantnea possuem o mesmo valor. Nestes equipamentos so produzidos mais ftons com energia mdia ou efetiva maior do que aqueles produzidos nos geradores monofsicos, como mostra a Figura 8 [11].

11

Figura 8 - Comparao da produo

de raios X de

geradores monofsicos e de

potencial constante. No gerador de potencial constante, a corrente no apresenta variao

durante todo o tempo de exposio, ocorrendo a produo de uma certa quantidade de raios X em um tempo bem menor do que aquele que seria necessrio utilizando um gerador monofsico [11].

2.3.3. Forma de Onda Trifsica

Com os geradores trifsicos, a tenso obtida e o valor mdio da corrente relativamente constante

maior, comparado com um gerador monofsico,

aumentando-se a eficincia da produo de raios X. Neste tipo de gerador, a tenso fornecida por trs circuitos que esto fora de fase entre si, com uma defasagem de um tero de ciclo, permitindo que a tenso atinja o valor de pico trs vezes durante o ciclo, como mostra a Figura 9 [11].

Figura 9 - Tenso alternada de um gerador trifsico.

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O valor instantneo da tenso permanece prximo do valor de pico durante todo o tempo de exposio, pois quando o valor da tenso comea a diminuir, iniciase outra fase, elevando-se o valor da tenso. Esta variao peridica da tenso durante o ciclo chamada de ripple e expressa em percentagem. A ondulao percentual est relacionada com o sistema de retificao do aparelho. Dependendo do retificador utilizado, as formas de onda podem ter seis ou doze pulsos por ciclo, produzindo uma diminuio do ripple da tenso [11]. Na Figura 10 compara-se a ondulao percentual de trs aparelhos: um

monofsico com retificao completa de onda (100%), um trifsico com seis pulsos (13%) e um trifsico com doze pulsos (4%). A maior parte dos equipamentos de raiosX utilizados em radiodiagnstico possui geradores trifsicos de seis ou doze pulsos.[11]

Figura 10 - Comparao do ripple para diferentes geradores de raios X: monofsico com retificao completa de onda, trifsico com seis e com doze pulsos.

2.4

FATORES

QUE

MODIFICAM

AS

CARACTESTICAS

DO

ESPECTRO
O espectro de energia e o nmero de ftons de um feixe de raios X podem ser modificados por diversos parmetros de ajuste do equipamento de raios X, que alteram a intensidade e a qualidade do feixe [11].

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A intensidade de um feixe de raios X representa a quantidade de ftons produzidos e emitidos de um tubo de raios X. Est relacionada com a tenso, a corrente e a forma de onda da tenso pelo nmero de eltrons emitidos em direo ao anodo, com o material do alvo, com a espessura de material atenuador que o feixe atravessa e com a distncia percorrida pelo feixe at o ponto de medio [11]. A qualidade do feixe depende de vrios fatores: material do alvo do tubo, forma de onda da tenso, filtrao do feixe, tenso de pico e camada semi-redutora (CSR), sendo que o material do alvo e a forma de onda da tenso so caractersticos do equipamento de raios X e no podem ser alterados pelo operador [11].

2.4.1 Tenso
A energia mxima dos ftons emitidos de um tubo de raios X igual energia cintica mxima dos eltrons que se chocam no alvo, determinada pela escolha da tenso de pico (kVp). Portanto, a qualidade do feixe de raios X produzido

diretamente proporcional tenso de pico escolhida, pois quanto mais energtica for a radiao, maior ser a CSR necessria para reduzir a intensidade do feixe metade [11]. A Figura 11 compara os espectros de raios X quando a tenso aumenta de 50 para 100 kVp, tornando o feixe mais penetrante, deslocando o pico de intensidade para uma energia maior e com o aparecimento das linhas caractersticas do tungstnio. Alm disso, a quantidade de radiao produzida, representada pelas reas sob as curvas dos espectros, aumenta aproximadamente com o quadrado da tenso [11].

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Figura 11- Efeitos do potencial aplicado e da corrente no espectro do feixe. Dobrando a tenso, o pico de intensidade deslocado para energias

maiores, comea a produo de raios X caractersticos e quadruplica a intensidade total do feixe, aproximadamente.

2.4.2 Corrente
A produo de raios X diretamente proporcional ao nmero de eltrons emitidos do filamento que colidem no alvo. Quanto maior a corrente no ctodo, maior a quantidade de eltrons emitidos, aumentando-se a produo de raios X. O aumento da corrente no modifica a qualidade do feixe, embora ocorra uma ligeira variao do ripple da tenso com a corrente selecionada. A Figura 12 compara os espectros de um feixe de raios X de 100 kV com um determinado valor de corrente com um feixe produzido com o dobro do valor de corrente, produzindo um espectro com o dobro da intensidade do feixe inicial [11].

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Figura 12: Efeitos do potencial aplicado e da corrente no espectro do feixe. Dobrando a corrente, dobra a intensidade total do feixe.

2.4.3 Material do Alvo

Para uma certa tenso e uma certa corrente aplicadas ao tubo de raios X, a quantidade de raios X prcxJuzidos proporcional ao nmero atmico do material do alvo, embora o pico de intensidade do espectro corresponda sempre mesma energia,

determinado pela tenso escolhida. Os espectros caractersticos so prprios de cada material. Quanto maior for o nmero atmico do material do alvo, maior ser a energia dos raios X caractersticos [11].

2.4.4 Forma de Onda da Tenso

Para uma mesma tenso aplicada, um tubo ligado a um gerador trifsico produzir uma quantidade maior de raios X do que um tubo ligado a um gerador monofsico, devido ao ripple menor da tenso. Alm disso, a energia efetiva do feixe produzido em um gerador trifsico maior, pois a tenso permanece com valores

maiores durante toda a exposio. Portanto a qualidade e a intensidade do feixe so proporcionais forma de onda da tenso [11].

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2.4.5 Filtros
Filtrao o processo de aumento de ftons teis para imagem, e diminuio dos ftons que aumentam dose no paciente e diminuem contraste da imagem. Os feixes de raios x para diagnstico so compostos por ftons de um amplo espectro de energia, isto , so policromticos. A energia mdia de um tero a metade da quilovoltagem de pico (kVp) [13]. Aumentando-se a filtrao, aumenta-se a energia efetiva do feixe ou sua camada semi-redutora, pois os ftons de energia baixa so removidos e provocada, tambm, uma diminuio da intensidade do feixe de raios X. Quanto maior for a heterogeneidade do feixe, maior ser a diferena da segunda CSR em relao primeira CSR, que atenuou ftons de energia menor. A razo entre as duas redutoras chamada de coeficiente de homogeneidade do feixe [11]. Quando a radiao policromtica atravessa o material atenuador, grande parte dos ftons de baixa energia, so absorvidos pelos primeiros centmetros do material, e apenas os ftons com capacidade de penetrao maior (alta energia) atravessam o material. O espectro de raios-X aps essa interao apresentar uma intensidade menor e energia efetiva maior, conforme ilustra a figura 13. camadas semi-

Figura 13: Espectros de raios x sem filtrao, filtrao de 1mm de alumnio, e 3 mm de alumnio respectivamente.

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Nesta pesquisa foi estimada a kVp a partir da resposta da exposio ao utilizar combinaes de distintas espessuras de filtros.

2.4.6 Distncia
O feixe de raios X proveniente do ponto focal do tubo divergente, sendo que sua intensidade diminui com o inverso do quadrado da distncia. Portanto, a distncia entre o tubo de raios X e o ponto de medio no influenciam a qualidade do feixe de raios X, mas somente sua intensidade, exceto porm, para feixes de energias baixas que sofrem uma grande atenuao pelo ar, modificando seu espectro [11].

2.5 QUALIDADE DOS FEIXES DE RAIOS X

A qualidade de um feixe de raios-X a medida do poder de

penetrao em um material, sendo expressa em termos da camada semi-redutora (CSR) ou de sua energia efetiva. Outras formas de se especificar a qualidade de um feixe pela determinao do coeficiente de homogeneidade, da energia equivalente efetiva e pela distribuio espectral das energias dos ftons do feixe de raios X [11].

2.5.1 Camada Semi-Redutora

A camada semi-redutora (CSR) definida como sendo a espessura necessria de um material absorvedor para atenuar a intensidade de um feixe metade de seu valor inicial. Nesta definio, a contribuio da radiao espalhada no considerada, devendo-se utilizar feixes estreitos para a medida da camada semi-redutora [11]. O feixe de raios X, ao atravessar um material, sofre uma atenuao de sua intensidade, pois parte de sua energia inicial absorvida e/ou espalhada pelo material. Variando-se a espessura de um material absorvedor colocado na sada do feixe de raios X, so obtidas medidas diferentes da intensidade do feixe, cujos valores podem ser representados graficamente para a determinao da CSR. A intensidade (I) de um feixe de raios X, aps passar por uma espessura (x) de material absorvedor dada por:

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onde: I0 a intensidade do feixe incidente;

o coeficiente de atenuao linear do material absorvedor.

2.5.2. Energia Efetiva

Os feixes de raios X utilizados em radiologia possuem um espectro heterogneo de energia, sendo que a taxa de penetrao em um material diferente para cada energia de fton. Ao se determinar a taxa de atenuao do feixe, pode-se fazer uma comparao entre os espectros do feixe heterogneo com um feixe

monoenergtico, obtendo-se uma energia efetiva que seja equivalente entre eles. Portanto, a energia efetiva definida como sendo a energia de um feixe

monoenergtico que possui a mesma camada semi-redutora de um feixe heterogneo [11,14]. Com o valor da camada semi-redutora do feixe de raios X, pode-se determinar o coeficiente de atenuao do material absorvedor e, em tabelas padres de coeficientes de atenuao de raios X. verifica-se a energia efetiva correspondente do feixe

2.6 ATENUAO
Atenuao a reduo na intensidade de um feixe de raios x quando este passa atravs de um material, podendo sofrer absoro ou reflexo dos ftons deste feixe. A atenuao pode ser mensurada quando h uma mudana na intensidade dos raios x, ou seja, uma mudana de quantidade e qualidade (energia) dos ftons.

2.6.1 Coeficientes de Atenuao

Um coeficiente de atenuao uma medida da quantidade de radiao atenuada, por uma espessura de absorvedor. Existem quatro coeficientes de atenuao, mas apenas dois so importantes para a radiologia diagnstica, o coeficiente de atenuao linear e o coeficiente de atenuao de massa.

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O coeficiente de atenuao linear uma medida quantitativa de atenuao por centmetro de absorvedor, que expe quanto de atenuao deve-se esperar de uma certa espessura de material ou tecido. J o coeficiente de atenuao de massa, usado para quantificar a atenuao de materiais independentemente de seu estado fsico. obtido dividindo o coeficiente linear pela densidade do material absorvedor.

2.6.2 Fatores que afetam a atenuao

Quatro fatores determinam os graus de atenuao de um feixe de raios x quando este passa atravs da matria. Um envolve a natureza da radiao, e trs envolvem a composio da matria. Aumentando a energia da radiao, aumenta o nmero de ftons transmitidos atravs do material (e diminui a atenuao), enquanto o aumento da densidade, nmero atmico e eltrons por grama de absorvedor diminui o nmero de ftons transmitidos (aumentando a atenuao). possvel traar algumas relaes pertinentes com relao a esses quatro fatores. Geralmente elementos com alto nmero atmico so mais densos e possuem menos eltrons por grama que os elementos de baixo nmero atmico, obviamente com algumas excees. A relao da energia com o nmero atmico, determina a porcentagem de cada tipo bsico de interao. Com o aumento da energia da radiao, o percentual de reaes fotoeltricas diminuem mas aliada com o aumento do nmero atmico do absorvedor, a porcentagem de reaes fotoeltricas aumenta devido a necessidade de maior energia para tirar eltrons das camadas mais internas que favorece a atenuao. O aumento apenas da energia faz com que acabe predominando o espalhamento Compton e isoladamente o aumento do nmero atmico do absorvedor faz com que haja predominncia do efeito fotoeltrico [13]. O coeficiente linear a soma das contribuies do espalhamento coerente, espalhamento Compton e reao fotoeltrica.

2.7 CMARA DE IONIZAO

A interao da radiao com a matria responsvel por viabilizar a deteco da radiao ionizante. Esta, forma ons que na presena de diferena de potencial sofrem

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acelerao. Assim teoricamente possvel converter a energia da radiao em um pulso eltrico e isto o que se faz nos detectores por coleo de ons. Teoricamente um detector a gs poderia trabalhar com caractersticas de operao diferentes, mas so necessrias adaptaes de acordo com o propsito de utilizao do medidor, pois h fatores, como geometria, presso do gs, tipo de radiao a ser medida, entre outros que influem no funcionamento do detector. Os detectores a gs so constitudos por um volume gasoso onde ficam inseridos em eletrodos, os quais so mantidos a uma diferena de potencial. Neste volume so formados os pares de ons, quando h passagem da radiao ionizante. Os pares formados so acelerados em direo aos eletrodos devido ao campo eltrico que formado no interior da cmara, pela diferena de potencial. Os eltrons dirigem-se ao nodo e os ons positivos ao ctodo, resultando na passagem de corrente eltrica de pequena intensidade. Um eletrmetro, acoplado ao circuito, e fica responsvel pela d.d.p. e o fornecimento dos valores de medida nas grandezas desejadas. De um modo geral, a resposta ao detector (amplitude do pulso de corrente eltrica resultante) para uma mesma forma e energia de radiao, varia com a d.d.p. entre os eletrodos, o que permite trabalhar, de acordo com a d.d.p. como se fossem detectores distintos. Quando opera como cmara de ionizao, todos os ons formados so coletados pelos eltrons independentemente da d.d.p.. O pulso eltrico formado tem amplitude proporcional energia da radiao incidente, no entanto, sua pequena amplitude o torna suscetvel aos rudos eletrnicos, impedindo a discriminao de energia. Sua melhor utilizao para medir taxas de exposio, isto , a quantidade de carga por unidade de massa produzida no ar, a qual proporcional corrente eltrica medida pelo eletrmetro. Neste estudo foi utilizado uma cmara de ionizao do tipo dedal para estimar exposies obtidas sob distintas espessuras de materiais atenuadores (filtros de Cu).

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CAPTULO 3

MATERIAIS E MTODOS

3.1 MATERIAIS

Equipamento fabricado pela Phillips, modelo Super 80 CP com gerador de tenso em alta freqncia, foco 0,6/1,2mm, tenso mxima de 150kVp e miliamperagem mxima em 800mA.

Equipamento de raios-X fabricado pela GE, modelo VMX Plus, srie 8194YY3, com gerador de tenso monofsico, Tenso mxima de 125kVp, miliamperagem mxima 125mA

Equipamento de raios X fabricado pela Siemens, modelo Multix-B, srie 8440026X1122 com gerador de tenso trifsica de 12 pulsos, foco 1,2/2,0mm, tenso mxima 125kVp e miliamperagem mxima de 500mA

Cmara de ionizao tipo dedal modelo 10x5-6, Radical Corporation Eletrmetro Radiation Monitor Controller modelo 9015, Radical Corporation Filtros de Cu com dimenso (100x100)mm e espessuras de (0,3, 0,8)mm Medidor de kVp, UNFORS Suporte de acrlico Placas de Al

3.2 METODOLOGIA
As medidas da kVp so procedimentos rotineiros em testes de (CQ) [17]. Neste estudo propomos a estimativa da kVp de maneira segura, confivel e prtica, utilizando cmara de ionizao e distintos atenuadores (placas de Cu) para medidas relativas de exposio.

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A metodologia empregada consistiu na utilizao de placas de cobre (Cu) com dimenses 100mm x 100mm e espessuras de (0,3, 0,8)mm. O cobre foi utilizado por ser um material amplamente utilizado como filtro em medidores digitais de quilovoltagem de pico (kVp), pois apresenta a vantagem de ser facilmente encontrado no mercado em um alto grau de pureza (99,99%) [6]. As placas de Cu foram utilizadas a fim de uma primeira avaliao do comportamento das razes de exposio em funo da tenso dos equipamentos avaliados. Estes fatores foram calculados atravs das exposies estimadas sob cada combinao de filtros, conforme ilustra a figura 14. A figura 14 apresenta o arranjo experimental utilizado nesta pesquisa, onde pode-se observar o tubo de raios X (a) posicionado sobre as placas de Cu (b). Essas so arranjadas sobre um suporte de acrlico (c), com espaamento para comportar a cmara de ionizao (d) sob as combinaes de espessuras das placas em estudo. Esse procedimento foi realizado para em avaliao posterior de resultado da exposio (mR) transmitida atravs das placas de Cu.

Figura 14: Arranjo experimental da avaliao da razo de exposio obtidas em funo da tenso do equipamento de raios X avaliado.

Esse procedimento proporcionou a relao da razo de exposies (RE) entre duas espessuras distintas de Cu (0,8/0,3) em funo da CSR para os trs equipamentos avaliados, (monofsico, trifsico e de alta freqncia) considerados em perfeitas condies de uso [17]. A figura 15 A ilustra a resposta desta avaliao realizada nos equipamentos em estudo. A

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seguir foi relacionada as CSRs em funo das kVps reais (obtidas com a utilizao de um medidor de kVp, para exposio direta). O resultado desse procedimento apresentado na figura 15 B. A figura 15 (A-B) caracteriza a metodologia padro para estimar a kVp, utilizando a RE em qualquer outro equipamento de raios X convencional.

Figura 15 A: Relao da razo de exposio obtida para os equipamentos de raios x monofsico (porttil), Trifsico-12 pulsos e Alta Freqncia.

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Figura 15 B: Relao da CSR com as kVps reais para os equipamentos de raios x monofsico (porttil), Trifsico-12 pulsos e Alta Freqncia.

A determinao da kVp em qualquer outro equipamento de raios X convencional foi obtida, a partir de medidas do RE para uma determinada kVp de escolha. Com o valor do RE para o novo equipamento pode-se determinar a CSR, conforme indica a figura 15 A. Utilizando o valor da CSR determinada anteriormente, possvel estimar ao valor da kVp, conforme ilustra a figura 15 B [19,20]. Para certificar-se da confiabilidade do mtodo, cada valor de kVp, determinada para um novo equipamento avaliado, foi comparada com valores de kVp reais, obtidos por medidas diretas utilizando o medidor de kVp devidamente calibrado. A reprodutibilidade do mtodo tambm foi assegurada ao comparar o valor da kVp, pelo mtodo proposto neste estudo, entre distintos equipamentos de raios X que apresentam a mesma forma de onda. A comparao entre os equipamentos foi realizada adotando o mtodo de Pearson [22].

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A razo de exposio foi determinada utilizando as combinaes de filtros de Cu com as seguintes espessuras: (0,8/0,3) mm. Nesse procedimento, foram mantidas constantes a distncia Fonte Detector (DFD) em 100 cm, o tamanho do campo de radiao em 100 mm x 100 mm e a miliamperagem x Segundos (mAs=20). A escolha pelo melhor resultado foi determinada a partir dos resultados, apresentados no capitulo a seguir, baseando-se em trabalhos anteriores [6,18]. A tenso aplicada ao tubo de raios X foi variada de (50-100)kVp para o equipamento de raios X monofsico, (50-100)kVp para o equipamento de raios X trifsico e (50-100)kVp para o equipamento de raios X com gerador de alta freqncia em intervalos iguais a 5 kVp. A metodologia empregada, para determinao da CSR, consistiu na utilizao de placas de alumnio liga 1100, [17]. Foram mantidas constantes a DFD em 100cm, o tamanho de campo de 10 cm x 10 cm, corrente x tempo de exposio (10mAs), para a qual foi utilizado tempo de exposio de 50ms. As placas de alumnio foram posicionadas a meia altura do tubo de raios X. O tempo de exposio (50 ms) utilizado nesta pesquisa foi selecionado, com o cuidado para que no houvesse falha da lei da reciprocidade [21].

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CAPTULO 4 RESULTADOS

A tabela 1, 2 e 3 apresentam a comparao entre os valores de kVp, utilizando o mtodo proposto (UMP) e obtidos por medidas diretas (MD), utilizando o medidor de kVp, com seus respectivos desvios padro (DV), e variaes entre os mtodos avaliados (VMA), para equipamentos Monofsico, Trifsicos-12 pulsos e Alta freqncia respectivamente. Tabela1: Comparao entre os valores de kVp, utilizando o mtodo proposto (UMP) e obtidos por medidas diretas (MD), utilizando o medidor de kVp, com seus respectivos desvio padro (DP), e variaes entre os mtodos avaliados (VMA), para o equipamento Monofsico (Porttil).
Equipamento Monofsico kVp-UMP DP(%) kVp-MD DP(%) VMA(%)

46,96 53,03 58,34 64,21 69,73 75,38 80,89 85,58 90,45 94,75 99,04

1,79 0,18 0,54 0,30 0,14 0,24 0,86 0,00 0,12 0,37 0,00

47,90 53,50 57,90 64,30 67,80 73,80 78,90 83,80 88,10 94,00 99,40

0,63 0,11 0,10 0,23 0,22 0,28 0,13 0,18 0,07 0,13 0,12

1,96 0,88 0,77 0,13 2,85 2,13 2,52 2,12 2,67 0,80 0,36

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Tabela 2: Comparao entre os valores de kVp, utilizando o mtodo proposto (UMP) e obtidos por medidas diretas (MD), utilizando o medidor de kVp, com seus respectivos desvio padro (DP), e variaes entre os mtodos avaliados (VMA), para o equipamento de Trifsicos-12 pulsos.
Equipamento Trifsico kVp-UMP DP(%) kVp-MD DP(%) VMA(%)

53,25 56,96 61,62 67,33 70,78 76,60 81,89 86,20 91,29 96,87 102,20

0,16 0,71 0,40 0,06 0,10 0,23 0,05 0,18 0,02 0,05 0,09

50,80 56,20 60,80 65,90 69,40 74,80 80,80 85,20 90,30 96,90 101,20

0,63 0,18 0,25 0,00 0,14 0,13 0,26 0,31 0,23 0,24 0,15

4,82 1,35 1,36 2,17 1,99 2,41 1,35 1,17 1,10 0,03 0,99

Tabela 3: Comparao entre os valores de kVp, utilizando o mtodo proposto (UMP) e obtidos por medidas diretas (MD), utilizando o medidor de kVp, com seus respectivos desvio padro (DV), e variaes entre os mtodos avaliados (VMA), para equipamento de Alta freqncia respectivamente.
Equipamento Alta Frequncia kVp-UMP DV(%) kVp-MD DV(%) VMA(%)

50,25 53,97 57,64 65,80 69,97 74,94 79,84 83,97 88,70 94,33 99,97

1,30 0,39 0,46 0,22 0,96 0,33 0,22 0,59 0,13 0,14 0,89

50,20 53,90 58,90 65,00 70,10 74,50 78,20 83,90 88,30 94,50 100,50

0,24 0,15 0,10 0,18 0,16 0,11 0,06 0,07 0,00 0,02 0,02

0,11 0,14 2,13 1,23 0,18 0,59 2,10 0,09 0,45 0,18 0,53

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A reprodutibilidade do mtodo tambm foi assegurada ao comparar o valor da kVp, pelo MP, entre os distintos equipamentos de raios X que apresentam a mesma forma de onda. Nesse procedimento foi adotado como padro o equipamento onde foram retirados os dados para caracterizao da metodologia e equipamento teste um outro equipamento de raios X com a mesma forma de onda. As figuras 16 e 18 apresentam, os resultados preliminares de Razo de Exposio (RE) em funo da kVp, para determinao da kVp UMP, entre

equipamentos monofsicos e trifsicos, respectivamente. As figuras 17 e 19, apresentam a apreciao da comparao entre os equipamentos monofsicos e trifsicos, respectivamente, utilizando o teste de Pearson.

Figura 16: Razo de Exposio (RE) em funo da kVp, entre equipamentos monofsicos.

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Figura 17 : Aplicao do teste de Pearson (R=0,99999), na apreciao da comparao entre os equipamentos monofsicos.

Figura 18: Razo de Exposio (RE) em funo da kVp, entre equipamentos trifsicos.

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Figura 19 : Aplicao do teste de Pearson (R=0,99999), na apreciao da comparao entre os equipamentos trifsicos.

A tabela 4 e 5 apresenta a reprodutibilidade do mtodo de estimativa da kVp entre 2 equipamentos com a mesma forma de onda. Esta tabela apresenta a comparao entre os valores de kVp, utilizando o mtodo proposto (UMP), obtido no equipamento padro (UMPP) e obtidos no equipamento teste (UMP-T), com seus respectivos desvio padro (DV), e variaes entre os equipamentos avaliados (VEA). Esse procedimento foi realizado para o equipamento monofsico e trifsico-12 pulsos. Esse procedimento no foi realizado no equipamento de alta freqncia, por no dispormos de um equipamento teste com a mesma forma de onda.

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Tabela 4: Reprodutibilidade entre os valores de kVp, utilizando o mtodo proposto (UMP), obtido no equipamento padro (UMP-P) e obtidos no equipamento teste (UMP-T), com seus respectivos desvio padro (DV), e variaes entre os equipamentos Monofsicos (Portteis).
Equipamento Porttil kVp-UMP-P DV(%) kVp-UMP-T DV(%) VEA(%)

48,47 52,67 58,34 64,16 67,82 73,11 79,67 83,72 88,06 94,34 98,63

0,31 0,45 0,54 0,26 0,25 0,48 0,45 0,22 0,44 0,43 0,19

46,96 53,03 58,34 64,21 69,73 75,38 80,89 85,58 90,45 94,75 99,04

1,79 0,18 0,54 0,30 0,14 0,24 0,86 0,00 0,12 0,37 0,00

3,10 0,68 0,00 0,09 2,83 3,10 1,52 2,22 2,71 0,43 0,42

Tabela 5: Reprodutibilidade entre os valores de kVp, utilizando o mtodo proposto (UMP), obtido no equipamento padro (UMP-P) e obtidos no equipamento teste (UMP-T), com seus respectivos desvio padro (DV), e variaes entre os equipamentos Trifsico.
Equipamento Trifsico kVp-UMP-P DV(%) kVp-UMP-T DV(%) VEA(%)

51,24 54,53 59,62 65,32 68,96 74,38 81,17 85,23 89,98 96,43 101,08

1,65 0,92 0,65 0,64 0,03 0,10 0,20 0,54 0,13 0,06 0,37

53,25 56,96 61,62 67,33 70,78 76,60 81,89 86,20 91,29 96,87 102,20

0,16 0,71 0,40 0,06 0,10 0,23 0,05 0,18 0,02 0,05 0,09

3,93 4,45 3,36 3,08 2,63 2,99 0,88 1,14 1,46 0,46 1,11

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CAPTULO 5 DISCUSSO E CONCLUSO

A escolha pelo material, Cu, se deve ao fato de que no processo de atenuao da radiao com a matria apresenta uma boa transmisso, com a escolha de espessuras determinadas nesta pesquisa. Os resultados mostraram que para a faixa de tenses de raios X convencional o material escolhido, e espessuras determinadas, os resultados so satisfatrios, apresentado o maior desvio padro em torno de 2%, para o equipamento monofsico, devido a forma de onda do equipamento, que responsvel por um feixe menos homogneo quando comparado com os demais estudados nesta pesquisa. Ao avaliarmos a confiabilidade da medida de kVp UMP em comparao com valores de medidores de tenses de exposio direta (tabela 1-3), a maior variao encontrada foi em torno de 2,8%. 4,8% e 2,1% respectivamente para os equipamentos monofsicos, trifsicos e de alta freqncia. O fato da variao em torno de 4,8 no equipamento trifsico, se deve ao fato desta variao ter sido detectada para tenso em tono de 50 kVp, na regio de limite inferior de tenses para raios X convencional. Na apreciao da comparao entre reprodutibilidade (fig. 16-19), de medidas de kVp UMP, entre equipamentos com a mesma forma de onde, pode-se verificar resposta muito prximas (R=0,99999) entres os equipamentos avaliados. As tabelas 4 e 5 ilustram ainda que a maior variao de medias de kVp UMP, apresentou uma variao em torno de 3,1% e 4,5%, para equipamentos monofsicos e trifsicos, respectivamente. Vale salientar que essa maior variao acima citada foi identificada tambm na regio de limite inferior de tenses para raios X convencional (em torno de 50 kVp). A metodologia de padronizao de estimativa da kVp, apresentada nas figuras 15 A-B, poderia ser realizada para um nico equipamento (ou monofsico, ou trifsico ou de alta freqncia). O problema encontrado so as limitaes entre os equipamentos com distinta forma de onda. Por exemplo, a menor CSR determinada no equipamento de alta freqncia, no pode ser identificada no equipamento monofsico (pois este trabalha com tenses menores). Da mesma forma, a maior CSR determinada no equipamento monofsico deixa a desejar CSR maiores no equipamento de alta freqncia. Dessa forma sugerimos como a metodologia de padronizao, respostas referentes s distintos formas equipamentos comumente encontrados na rotina clnica de raios X convencional.

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Finalmente pode-se concluir que medidas de kVp utilizando RE, podem ser empregada na rotina de testes de CQ, com confiabilidade, praticidade e baixo custo. Para faixas de tenses menores, mamografia, o material filtro (Cu) de escolha neste estudo, no seria indicado. Isso porque a maior parte dos ftons, que constituem o espectro de mamografia, seriam barrados. Se optarmos por reduzir a espessura dos filtros, esse procedimento, torna-se impreciso para medidas confiveis de RE. Vale colocar que as combinaes de filtros escolhidas neste estudo foram testadas para a faixa de tenso de mamografia (20 a 35 kVp) sem sucesso. Dessa forma sugerimos que em trabalhos futuros, seja realizada uma avaliao da resposta de RE para diferentes matrias, com menor nmero atmico que o Cu.

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CAPTULO 6

BIBLIOGRAFIA
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