Electro Nik

JJGDR-UCA 1
1
Caractersticas de los Instrumentos
Electrnicos de Medida

1.1 Introduccin

Este primer captulo se disea con el fin de formar en la caracterizacin de los
instrumentos electrnicos de medida. En primer lugar se define la Instrumentacin
Electrnica planteando a la vez el problema de seleccionar un instrumento electrnico
en funcin del balance coste/prestaciones. A continuacin, se analizan las caractersticas
estticas y dinmicas de los instrumentos, tomando como punto de partida los lmites
operativos de los equipos de adquisicin de datos actuales e incluyendo ejemplos de
tarjetas de adquisicin de seales y de multmetros digitales.
Conocidos estos lmites operativos de los instrumentos, se describe el error interno
asociado a la medida, y se aprende a cuantificar la precisin de un instrumento y a
distinguirla de la repetibilidad y la resolucin.
Finalmente, se tratan las fuentes externas de error entre las que se incluyen varios
tipos de interferencias. Esto permite retomar el hilo de las interferencias en un tema
posterior, con ms facilidad y dando una visin de conjunto de la materia.

1.2 Caractersticas Estticas y Dinmicas de los Instrumentos Electrnicos

La Instrumentacin Electrnica es la disciplina que estudia los medios y los mtodos de
procesado de datos relativos a magnitudes fsicas; empleando principios electrnicos
para llevar a cabo su propsito. Los instrumentos electrnicos emplean sensores y
transductores con el fin de convertir la seal de un dominio fsico concreto al dominio
elctrico, procesable por los instrumentos de medida. Las exigencias de las variables
objeto de medida, en cuanto a su dominio de aplicacin, determinan el diseo y la
seleccin del instrumento empleado.
Por ejemplo, si hemos instalado un termmetro en nuestro hogar y su lectura indica
23 C, realmente es intrascendente que la temperatura real oscile medio grado en torno a
este valor, ya que tales variaciones son demasiado pequeas como para modificar
nuestro sentimiento de fro o calor. Nuestro cuerpo no puede discriminar estas
pequeas variaciones de temperatura. Por tanto, un termmetro con una precisin de
0,5 C se adapta perfectamente a las exigencias de la situacin de medida.
Instrumentacin Electrnica. Juan Jos Gonzlez de la Rosa

2 JJGDR-UCA
Sin embargo, al medir la temperatura de un proceso qumico, cualquier variacin de
medio grado en torno a la temperatura exigida por el proceso puede afectar al
rendimiento de la reaccin qumica que se produzca en el reactor; e incluso modificar el
producto obtenido por el proceso. Este producto puede quedar fuera del estrecho
margen exigido por el cliente. En consecuencia, la precisin de una medida determina la
eleccin del instrumento para una aplicacin concreta.
En efecto, la eleccin de un instrumento consiste en conseguir el equilibrio entre el
coste y sus prestaciones. Por ejemplo, una aplicacin que involucra bajos niveles de
tensiones y corrientes requiere mayor resolucin en la conversin a digital de las
magnitudes analgicas que la medida de tensiones elevadas; el error cometido en stas
no es tan relevante, y se emplean multmetros digitales de menos dgitos con fiabilidad.
Sirva como segundo ejemplo que un contador de alta frecuencia no es necesario para
manejar frecuencias de algunos kilohercios.
Caractersticas como la exactitud, resolucin, sensibilidad, ancho de banda, y otras
como la reaccin ante los cambios de temperatura ambiente constituyen el conjunto
conocido como caractersticas estticas y dinmicas de los instrumentos; y se consideran
como los elementos bsicos de una medida. Estos elementos se incorporan con el fin de
caracterizar los instrumentos electrnicos y, en consecuencia, seleccionar el ms
adecuado a nuestra aplicacin.

1.3 Rango o Campo de Medida

Es el conjunto de los valores correspondientes a la variable que es objeto de la medida, y
que estn comprendidos dentro de los lmites superior e inferior de la capacidad de
medida del instrumento; se expresa mediante los valores extremos. Por ejemplo, un
equipo para la medida de temperatura puede tener un rango de 0 a 100 C. Los
instrumentos suelen incorporar distintos rangos. La seleccin del rango determina el
valor de otras caractersticas estticas. El rango puede ser unipolar o bipolar. La
diferencia entre los lmites del rango suele denominarse alcance (span).

1.4 Resolucin

Cuando un instrumento muestra una determinada lectura de salida, existe un lmite
inferior dado por el mnimo cambio en la entrada o medida que produce un cambio
observable en la salida o lectura del instrumento. Por tanto, la resolucin es la menor
porcin de seal que puede ser observada.
En equipos analgicos suele expresarse como un valor absoluto (algunas veces como
porcentaje del fondo de escala) [Creus, 1995], y viene dada tambin por la "fineza" con
que la escala indicadora de salida se subdivide. Por ejemplo, en el indicador de velocidad
de un coche, podemos encontrar subdivisiones de 20 km/h. Entre cada subdivisin
encontramos tambin marcas de 5 km/h. Estos espacios menores determinan la
resolucin del instrumento, ya que entre cada dos marcas separadas 20 km/h no
podemos medir la velocidad apreciando variaciones menores que 5 km/h.
La mayora de los instrumentos electrnicos de medida actuales incorpora un
convertidor analgico/digital (CAD) que determina su resolucin. Existen varias formas
de caracterizarla: bits, dgitos y cuentas. La denominacin "1/2 dgito" significa que el
dgito ms significativo del indicador numrico del instrumento (formado por circuitos
convertidores del cdigo BCD al de 7 segmentos) slo puede ser 0 1 para rangos
unipolares, y 2 para rangos bipolares.
1 Caractersticas de los Instrumentos Electrnicos de Medida

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Ejemplo 1.
Convertidor A/D de 12 bits. Resolucin de 1 parte en 2
12
= 4096. Un estado
representa una fraccin de 1/4096 del total de posibles estados a codificar con
12 bits (4096).

Multmetro digital de 3 1/2 dgitos. Con cada dgito se pueden representar 10
nmeros (del 0 al 9). Por tanto, los tres dgitos menos significativos permiten
representar 1000 valores, del 000 al 999. Tomando el ms significativo, el
rango en cuentas, lo que aparece en la pantalla, abarca desde el 0000 al 1999
(obsrvese que el dgito ms significativo slo puede ser 0 1). En
consecuencia, su resolucin es de una parte en 2000 cuentas, 1/2000.

Por cada dgito de aumento en el multmetro se multiplica por 10 el nmero de
cuentas. Por ejemplo, para 6 1/2 dgitos el rango abarca desde 0000000 al
1999999 y la resolucin es de una parte en 2000000.

1.5 Sensibilidad

Representa el cambio producido en la variable de salida o resultado de lectura del
instrumento para un determinado cambio en la entrada. Es decir, es la razn entre el
incremento de la lectura y el incremento de la variable que lo ocasiona, despus de
haberse alcanzado el estado de reposo.
Para instrumentos analgicos, la sensibilidad se define como el cociente entre la
deflexin observada en la escala y el valor medido que ocasiona la deflexin [Creus,
1995]. De esto se deduce que la sensibilidad viene dada por la pendiente de la
caracterstica de transferencia de un instrumento, representada como la recta de ajuste
de mnimos cuadrados. Si, por ejemplo, una presin de 2 bar produce una deflexin de
10 grados en el indicador de un transductor de presin, la sensibilidad del instrumento
es 10 grados/2 bar = 5 grados/bar.
En unidades analgicas se expresa como tanto por ciento del alcance de medida. Por
ejemplo, si la sensibilidad del instrumento de medida de temperatura es 0,05 %, su
valor ser 0,05 100/100 = 0,05 C.
La definicin ms frecuente involucra de nuevo al convertidor A/D de la unidad
electrnica de medida. En este caso, la sensibilidad se define como el cociente entre el
menor rango y la resolucin en cuentas, y se especifica en las unidades del parmetro
medido. El ejemplo 2 muestra tres clculos tpicos de equipos electrnicos de medida de
precisin: un voltmetro tradicional de 3 dgitos, un microhmetro y un
nanovoltmetro.


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Ejemplo 2.
Multmetro de 3 1/2 dgitos sobre un rango de 2 V.

mV
cuentas
V
S 1
2000
2
= =

Convertidor A/D de 16 bits sobre rango de 2 .

=
= 30,5 7578125 0,00003051

cuentas
cuentas
S
65536
2
2
2
16

Un instrumento de estas caractersticas se denomina microhmetro.

Nanovoltmetro de 7 1/2 dgitos sobre rango de 20 mV.

nV
cuentas
V
S 1
20000000
10 20
3
=

Ejemplo 3. Para medir una tensin con 1 mV de sensibilidad en un rango de 10 V, cules son las
caractersticas del equipo de medida requerido?

Aplicando la definicin de sensibilidad obtenemos el mnimo nmero de cuentas (o
capacidad de representacin de estados) que debera realizar el instrumento para
obtener la sensibilidad deseada:

10000
10
1 = = = N
cuentas N
V
mV S

Esto significa que necesitamos al menos un multmetro de 4 dgitos, ya que con 4
dgitos podemos realizar hasta 20000 cuentas. En la prctica se emplea un instrumento
de 4 1/2 dgitos.

Si se atiende al nmero de bits del convertidor A/D del instrumento, se obtiene:

3 , 13
2
10
1 = = = n
estados
V
mV S
n

En la prctica se requiere un convertidor A/D de 16 bits, ya que el de 12 es
insuficiente (se pueden codificar 4096 estados con 12 bits).

1.6 Velocidad: Frecuencia de muestreo

A menudo las medidas se realizan sobre seales variables en el tiempo. Por ejemplo, una
tarjeta de adquisicin de datos que toma muestras de una seal sinusoidal. El nmero de
muestras por segundo (frecuencia de muestreo) no puede tomar un valor arbitrario.
Intuitivamente, al muestrear una seal de frecuencia elevada con una frecuencia de
muestreo baja, no conseguiremos recuperar la seal original [Rosado et al., 2001l; se

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obtiene otra de frecuencia menor. La figura 1 muestra el efecto de un muestreo lento
comparado con la frecuencia de la seal. Cada punto de la grfica de la izquierda
corresponde al valor real de la muestra en un instante de tiempo dado. Al reconstruir la
seal a partir de los valores digitalizados de la grfica de la derecha no se recupera la
seal original, sino otra de menor frecuencia.

Fig. 1. Reconstruccin de una seal de alta frecuencia
muestreada a baja frecuencia.

La figura 2 muestra un muestreo ms rpido, realizado a mayor frecuencia. La seal
digitalizada refleja una onda similar a la original.

Fig. 2. Reconstruccin de una seal de alta frecuencia
muestreada a alta frecuencia.

De lo anterior se deduce que la frecuencia de muestreo debe superar con suficiencia
la correspondiente al armnico de mayor frecuencia. La teora del muestreo de Nyquist
establece el mnimo terico para la frecuencia de muestreo en el doble de la mxima
componente armnica. En la prctica, las frecuencias de muestreo son usualmente del
orden de 10 veces la frecuencia ms alta.
Cuando se viola la teora de Nyquist tienen lugar los errores de solapamiento o aliasing
1
.
Los filtros antialiasing (paso-bajas) se utilizan para eliminar las componentes de alta
frecuencia de una seal. Tambin se pueden solucionar los errores de solapamiento
empleando una frecuencia de muestreo mayor. Sin embargo, es mayor el volumen de
datos generados o el ancho de banda requerido para el procesamiento de los datos. En
cualquiera de los casos, debemos adoptar una solucin de compromiso.
A continuacin se plantea el enfoque cuantitativo del solapamiento mediante el
empleo de seales compuestas por tonos puros. Las seales en tiempo continuo se
transforman en seales de tiempo discreto haciendo uso del periodo de muestreo.
Cuando se poseen seales discretas es ms sencillo comprender el fenmeno de alias,
ya que dos seales de tiempo continuo con frecuencias distintas, pueden ser
indistinguibles en tiempo discreto. Este es el fin del ejemplo 4.

1
El trmino aliasing proviene del espaol alias, con el fin de indicar que algunas frecuencias ocupan el
lugar de otras en el espectro.

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Ejemplo 4. Sean dos seales sinusoidales de frecuencias 1 y 6 kHz respectivamente:

t sen t y
t sen t y
) 6000 ( 2 ) (
) 1000 ( 2 ) (
2
1
=
=

Supongamos que son muestreadas a una velocidad de 5000 Hz (5 kHz). Entonces,
haciendo t=nT
S
=n/f
S
=n/5000 se obtienen las seales o secuencias en tiempo
discreto:

n sen n sen n y
n sen n sen n y
5
12
5000
6000
2 ) (
5
2
5000
1000
2 ) (
2
1
= |
\
|
=
= |
\
|
=

Desarrollando la segunda seal muestreada, se observa que es idntica a la primera:

|
\
|
= |
\
|
+ =
= n sen n n sen n sen n y

5
2
5
2
2
5
12
) (
2

En consecuencia, las dos seales son indistinguibles, ya que a partir de los valores de
sus muestras, no podemos determinar de qu seal proceden, si de la de 1 kHz o de la
de 6 kHz. Esto sucede porque y
1
(t) produce exactamente los mismos valores de
muestras que y
2
(t) cuando son muestreadas a una tasa de f
S
=5 kHz (5000 muestras por
segundo). Se dice entonces que la frecuencia de 6 kHz es un alias de la frecuencia de 1
kHz a la frecuencia de muestreo de 5 kHz:

(frecuencia alias = frecuencia de la que es alias + k velocidad de muestreo)
6 kHz = 1 kHz + 1 5 kHz

La frecuencia de 6 kHz no es el nico alias de la frecuencia de 1 kHz a esa velocidad
de muestreo. Tambin lo son las frecuencias de 1+2 5 kHz = 11 kHz, 1+3 5 kHz
= 16 kHz, 1+4 5 kHz = 21 kHz, etc. Es decir, a una velocidad de muestreo
determinada f
s
, y para una frecuencia f
1
, todas las frecuencias f
k
=f
1
+k f
S
, con k
entero, son alias de f
1
.

Por otra parte, para k=-1 se obtiene que -4 kHz es un alias de 1 kHz ya que -4=1+(-
1) 5. Tambin podemos decir que 4 kHz es un alias de 1 kHz.

En resumen: La frecuencia f
k
es un alias de f
1
a la velocidad de muestreo f
S
si existe al
menos un entero k tal que f
k
=f
1
+k f
S
.


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Ejemplo 5. La frecuencia 442 kHz es un alias de -58 kHz a la velocidad de muestreo de
500 kHz, ya que para k=1, 442 = -58+1 500. En este caso, una frecuencia negativa
se representa en el analizador de espectros como si fuera positiva ya que sen (-x)=-
sen(x), y la inversin de fase no la representa el analizador de espectros.

La frecuencia de plegado (f
S
/2) es la mxima componente espectral que puede ser
representada inequvocamente (sin ambigedad) con una velocidad de muestreo f
S
.
Cuando un instrumento (analizador de espectros) adquiere una seal que contiene
componentes en frecuencia mayores que la mitad de la frecuencia de Nyquist (frecuencia de
solapamiento o plegado, folding frequency), las componentes en frecuencia que la superan
experimentan el solapamiento hacia atrs o fold back, dando lugar a alias de frecuencias
menores. En el ejemplo anterior, como 442 kHz 250 kHz = 192 kHz es menor que
250 kHz el plegado es inmediato, segn ilustra el siguiente diagrama de la figura 3.

Fig. 3. Regla prctica para evaluar el solapamiento. Frecuencias en Hz.

Sin embargo, para la frecuencia de 6 kHz, como 6-2,5=3,5 se va del rango de 2,5, al
plegar se obtiene 1, que es la frecuencia de 1 kHz de la que 6 es alias. En este caso f
1
y
k son positivos. En el caso anterior f
1
es negativa y k positiva. Si f
1
es positiva y k
negativa, como por ejemplo 4 es un alias de -1 a la velocidad de 5 para k=1, entonces el
solapamiento cae tambin dentro del rango.

1.7 Errores por fuga espectral

Al muestrear una seal, si se obtiene un nmero no entero de ciclos, los puntos de inicio
y fin se producen en amplitudes diferentes. Las transiciones entre estos puntos
provocan discontinuidades en la seal, que introducen transitorios de alta frecuencia.
Estas discontinuidades se suavizan mediante la aplicacin de funciones ventana. La
figura 4.a. muestra el espectro de una seal monocromtica sin aplicacin de ventana
[Tektronix, 2001]. En ella se aprecian los armnicos parsitos en torno a la frecuencia de
inters, pico central.
Por el contrario, el espectro de la figura 4.b. resuelve con nitidez la seal
monocromtica, ya que se ha aplicado con anterioridad una ventana de Hanning. Esta
funcin ventana, suaviza la seal de inters en los lmites temporales en los que se
desarrolla el muestreo. El precio a pagar por una mayor resolucin en el dominio de la
frecuencia es una menor precisin en la medida de la amplitud.

0 250
442 58
192
192
f
s
/2

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(a) (b)
Fig. 4. (a) Clculo de espectro sin ventana. (b) Evaluacin del espectro con la
aplicacin previa de una ventana de Hanning.

La Fig. 5 muestra un ejemplo experimental correspondiente a la aplicacin de una
ventana de Blackman a una seal sinusoidal de 500 Hz, cuando ha sido muestreada a
10000 Hz. La figura 6 muestra la situacin anterior pero ahora correspondiente a una
frecuencia de muestreo de 800 Hz. La seal que aparece en el espectro es la de 300 Hz,
que se obtiene como diferencia de frecuencia la seal de inters, de 500 Hz y la
frecuencia de muestreo.

Fig. 5. Espectro de una seal sinusoidal de 500 Hz con y sin la aplicacin de
una ventana de Blackman.

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Fig. 6. Efecto alias en la seal del ejemplo anterior al muestrear a 800 Hz.

1.8 Error en Instrumentacin Electrnica

1.8.1 Precisin y Calibracin

El error absoluto, o precisin absoluta, indica la proximidad entre el resultado de una
medida y su valor ideal o verdadero, como resultado de la comparacin con un patrn
establecido y comprobado en laboratorios internacionales. La precisin relativa es la
diferencia entre el valor medido y una referencia establecida localmente.
Una precisin perfecta es imposible. Los principales factores que contribuyen a una
medida imprecisa son el sensor, el equipamiento y el entorno. Al disear un equipo de
medida se deben predecir y controlar al mximo (dentro de unos lmites establecidos en
una especificacin de diseo) estos factores, con el fin de medir con una precisin
predecible y controlable. Esta verificacin o ajuste del instrumento dentro de un margen
o estndar reconocido recibe el nombre de calibracin.
La calibracin establece las especificaciones de precisin del instrumento. stas
pueden variar con el tiempo y los agentes ambientales, por lo que su ritmo de
degradacin debe quedar explcito en una calibracin exigente. Los instrumentos de
medida de alta calidad no garantizan sus especificaciones de precisin ms all de 24
horas, 90 das, 1 ao, 2 aos, o incluso 5 aos despus de la ltima calibracin. Con
frecuencia se garantizan las especificaciones bsicas durante los 90 das siguientes a la
calibracin [Creus, 1995].
El fabricante, suele aadir los valores de calibracin en fbrica y de inspeccin. Por
ejemplo, un instrumento con una precisin de calibracin en fbrica del 0,6 %, puede
tener en inspeccin un 0,7 %, y suministrarse al usuario el dato de 0,8 %. Con ello
se establece un margen de seguridad con el fin de compensar las diferencias de
apreciacin de las personas que efectan la calibracin, las posibles alteraciones debidas

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al desplazamiento del instrumento de un punto a otro, los efectos ambientales el
envejecimiento, etc.
En resumen, el proceso de calibracin establece la desviacin del comportamiento
del instrumento respecto de la idealidad; es en consecuencia un proceso de verificacin.
La accin de correccin de esta desviacin se denomina ajuste.

1.8.2 Error sistemtico. Errores de ganancia y offset

El error absoluto o incertidumbre es la diferencia entre el valor ledo o transmitido por
el instrumento y el valor real de la variable medida. En condiciones de rgimen
permanente recibe el nombre de error esttico o sistemtico. El error sistemtico puede
mantenerse constante o variar de acuerdo con una ley definida al cambiar las
condiciones de medida. Producen un sesgo constante (bias) en las medidas, que est
presente en todo el rango. Suele detectarse y suprimirse por calibracin (contrastando su
lectura con la que ofrece un instrumento de referencia). Las balanzas de los cuartos de
aseo son ejemplos de instrumentos propensos a adquirir este tipo de errores. Es comn
que la indicacin de la balanza cuando no hay nadie encima sea de 1 kg. As, la medida
del peso de una persona es sobrevalorada en esta cantidad. El proceso de calibracin en
este ejemplo consiste en girar una rueda hasta cuando no hay nada encima, hasta que
indique 0 kg.
En todo instrumento suelen existir simultneamente errores sistemticos
multiplicativos, es decir, que dependen del valor de la magnitud medida; y aditivos, es
decir, que no dependen del valor de la magnitud medida [Palls, 1987]. Por esto, se
expresan como un tanto por ciento de la lectura ms un tanto por ciento del valor de
fondo de escala, o tanto por ciento de la lectura ms un umbral, o de alguna otra forma
equivalente. Son los errores que se conocen como errores de ganancia (multiplicativos) y
de offset (aditivos).
La presencia de errores sistemticos en una medida puede ser descubierta si para
medir la misma magnitud se emplean dos instrumentos distintos, o si dan la lectura dos
personas distintas (en instrumentos que no tengan presentacin digital), o cambiando de
forma adecuada las condiciones de medida y viendo su repercusin en el resultado.
La causa de un error sistemtico puede ser conocida y, en cambio, su eliminacin
puede que sea poco prctica o incluso imposible. Puede tambin que sea desconocida,
pero en cambio haya sido establecida empricamente en funcin de determinadas
variables conocidas [Creus, 1995].
Cuando coexisten varias fuentes de error, conviene saber el valor mximo debido a
cada una de ellas. El error global es el resultado de la combinacin de estos errores
particulares. La suma cuadrtica es el mtodo ms habitual para evaluar el error global,
aunque se est suponiendo que las fuentes de error son independientes, cosa que no
siempre es cierta.
En cualquier caso, la indeterminacin en la medida debe expresarse de forma
coherente con el resultado de sta. No se puede hablar, por ejemplo, de 7,5 V 10 mV,
ni de 3,87 V 0,2 V, de 2 V 0,1 %. Tampoco es lgico que la indeterminacin se d
con un nmero elevado de cifras, puesto que no se conoce con la precisin necesaria.
En condiciones dinmicas, el error vara considerablemente debido a que los
instrumentos tienen caractersticas comunes a los sistemas fsicos: absorben energa del
proceso y esta transferencia requiere cierto tiempo, lo cual da lugar a retardos en las
lecturas del aparato. En este caso, el error dinmico se define como la diferencia entre el

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valor instantneo de la variable y el indicado por el instrumento. Su valor depende del
tipo de fluido del proceso, velocidad, transductores, medios de proteccin, etc.
El error medio del instrumento es la media aritmtica de los errores en cada punto de
la medida, determinados para todos los valores crecientes y decrecientes de la variable
medida.

1.8.3 Repetibilidad, resolucin y precisin

Repetibilidad es la capacidad de medir la misma entrada obteniendo los mismos valores
de salida o lecturas del instrumento sucesivamente, en las mismas condiciones
operativas y en el mismo sentido de variacin.
Entre las formas de evaluar la repetibilidad destacan dos. Para equipos analgicos se
adopta el criterio de un porcentaje del alcance o rango. Una definicin ms genrica
consiste en proporcionar la mitad de la anchura de la distribucin de probabilidades de
los valores medidos.
La figura 7 muestra que la resolucin, la precisin y la repetibilidad no siempre van
unidas. Medidas de alta resolucin pueden o no ser precisas, y aquellas con baja
resolucin pueden o no tener gran repetibilidad.
Sin embargo, si la repetibilidad y la resolucin son elevadas, y las fuentes de error son
conocidas y estn cuantificadas, la medidas son aceptables en muchas aplicaciones. En
este caso, las medidas tienen alta precisin relativa y baja precisin absoluta.

Fig. 7. Relacin entre repetibilidad, resolucin y precisin.

Baja resolucin,
baja precisin, baja
repetibilidad
Baja resolucin,
baja precisin, alta
repetibilidad
Alta resolucin,
alta precisin, alta
repetibilidad
Alta resolucin,
alta repetibilidad,
baja precisin

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1.8.4 Evaluacin del error en los instrumentos electrnicos

Algunos errores asociados a la medida son provocados por el propio instrumento
(errores inherentes). Estos errores sistemticos son facilitados por el fabricante bajo las
condiciones indicadas en las especificaciones. Comprender el error inherente permite
mejorar la tcnica de medida y comprender mejor el resultado, sin embargo no se
asegura la precisin del equipo de medida, ya que las condiciones del entorno y el
conexionado pueden degradar las especificaciones del mejor instrumento.
Tradicionalmente, el error inherente al instrumento se proporciona de alguna de las
siguientes formas:

Como un porcentaje del rango,
directamente en unidades de la variable medida,
dando el tanto por ciento de la lectura efectuada,
suministrando a la vez las cantidades anteriores.

En la prctica, la precisin de un instrumento vara en cada punto del rango, aunque
el fabricante indica a veces su valor en algunas zonas del mismo. Por ejemplo, un
manmetro puede tener una precisin de 1 % en toda la escala y de 0,5 % en la
zona central. Cuando se desea obtener la mxima precisin del instrumento en un punto
determinado de la escala, puede calibrarse nicamente para este punto de trabajo, sin
considerar los valores restantes del campo de medida. Por ejemplo, un termmetro de
0-100 C y de 1% de precisin situado en un bao de temperatura constante a 80 C,
calibrarse a este valor, de modo que su precisin en este punto de trabajo sea la mxima
que se pueda obtener con un termmetro patrn. Es obvio que para los valores
restantes, en particular los correspondientes a los extremos de la escala, la precisin se
aleja de 1 %.
Para cuantificar el error se proporcionan dos componentes. Una primera asociada al
valor medido o lectura que se denomina error de ganancia, y se expresa como un tanto por
ciento de la lectura. La segunda componente del error total, el error de offset, hace
referencia al rango empleado; se expresa como un porcentaje del rango o fondo de
escala, y es la componente ms crtica cuando se hacen medidas en la parte baja del
rango. En consecuencia, cuantificamos la precisin como sigue:

Precisin (error absoluto) = (% lectura + % rango)

El ejemplo 6 muestra una aplicacin concreta de la expresin anterior.

Ejemplo 6. Multmetro digital de 2 V de rango, para una entrada de 0,5 V.

( ) V V 0,0002 0,00015 Error = = + = |
\
|
+ = 350 00035 , 0 0 , 2
100
01 , 0
5 , 0
100
03 , 0

En consecuencia, la lectura del instrumento es: 0,5 V 350 V; y la medida real oscila
entre 500000 + 350 = 500350 V = 0,50035 V, y 500000 - 350 = 499650 V = 0,49965
V.


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La figura 8 muestra la influencia de los errores de ganancia y offset segn la zona del
rango que se considere. Recordemos que el error de ganancia es un tanto por ciento de
la lectura; por tanto, para seales de bajo nivel, correspondientes a la zona de comienzo
del rango, el error de ganancia es despreciable frente al error de offset, que es constante
en todo el rango. Al final del rango, para seales de alto nivel, el error de ganancia
supera con creces al de offset, y es el factor ms importante. En resumen, como norma
prctica se considera que el error de offset es el ms significativo en la parte baja del
rango, y el de ganancia en la parte alta.

Fig. 8. Errores de ganancia y de offset en funcin del nivel de la medida expresado
como porcentaje del rango.

Como se observa en la figura 8, el error de ganancia aumenta linealmente con la
lectura. Para especificaciones de medida con poco error de offset y un error de ganancia
considerable, la pendiente es ms acusada (se estrecha la zona correspondiente al error
de offset) y el error de ganancia predomina. Si el error de offset es relativamente
superior al de ganancia en todo el rango, la pendiente de la curva de error de ganancia se
reduce y tiende a un rea rectangular. En este caso, al no ser considerable el efecto del
error de ganancia, la precisin suele proporcionarse como un porcentaje del rango o
fondo de escala (FS; Full Scale). A partir de la zona media, se considera la suma de
ambos errores. El error de offset puede expresarse tambin en partes por milln.

Ejemplo 7. Multmetro digital de 6 1/2 dgitos, 2 V de rango, para una entrada de 0,4 V CC.

Este multmetro puede realizar 2000000 de cuentas. El error puede evaluarse de
distintas formas:

Precisin = (0,003 % lectura + 0,001 % rango)= (0,00003 lectura + 0,00001 rango)=
= (0,003 % lectura + 20 cuentas)= (30 ppm lectura + 10 ppm rango)

Para pasar de porcentaje a partes por milln se multiplica por 10
6
. Por ejemplo:

ppm 10
10
10
10
100
001 , 0
% 001 , 0
6
5
= = = =

Error
de offset
Mximo
error de
ganancia
50%
0% 100%
Medidas
de bajo
nivel
Medidas
de nivel
alto
Aumenta el
nivel de la
medida

14 JJGDR-UCA
La incertidumbre para 0,4 V de entrada resulta:

( ) ( ) V V Error = + = + = 32 000020 , 0 000012 , 0 0 , 2 00001 , 0 4 , 0 00003 , 0

En algunos instrumentos, tambin se proporcionan especificaciones de ruido,
definido como el nivel de ruido interno generado para varios rangos. Este nivel se
evala como un porcentaje del rango especificado, y constituye una componente
adicional en el cmputo del error cuando el instrumento trabaja a velocidades elevadas.
En consecuencia, la expresin completa de la incertidumbre resulta en este caso:

Precisin = (% lectura + % rango) ruido

El nivel de ruido suele expresarse a partir de un porcentaje, fraccin o mltiplo del
bit menos significativo del instrumento (LSB; Least Significant Bit), que equivale a la
resolucin (y a la sensibilidad) del instrumento. Es decir, que indica la menor porcin de
seal que puede medirse con repetibilidad aceptable. El ruido especificado refleja la
tensin pico a pico de la seal de inters. A menudo, cuando se especifica el ruido (en
unidades LSB) suele expresarse el rango en las mismas unidades.

Ejemplo 8. Evaluacin del error asociado a una entrada analgica de 0,4 V en una tarjeta de
adquisicin de datos de 12 bits y 2 V de rango unipolar. Reduccin del error de offset.

Precisin = (0,01 % lectura + 1 LSB) 1 LSB

rango del 0,024% mV 0,488 V 125 0,00048828
4096
2
1 = =
V
LSB

( )
( )
( ) mV V
V
V Error
016 , 1 000488 , 0 000528 , 0
000488 , 0 000488 , 0 000040 , 0
000488 , 0 000488 , 0 4 , 0 0001 , 0
=
= +
= + =

El error de offset (0,000488 V) es 10 veces mayor que el de ganancia (0,000040). En
consecuencia, es ms significativo y predomina en medidas de bajo nivel.

Realizando promediados de un gran nmero de lecturas, el error producido por el ruido
exterior (0,000488) puede reducirse hasta 0,1 LSB. En estas condiciones el error total
es:

( ) mV V Error 5768 , 0 0000488 , 0 000528 , 0 = =

Este ruido, inherente al instrumento y que influye en la degeneracin de las
prestaciones a corto plazo, suele producirse debido a ganancias altas, que aportan mayor
nivel. Otras fuentes de error son las no linealidades y los incrementos de temperatura.
Estos factores suelen ser de poca relevancia salvo que se realicen medidas muy exigentes
o en entornos con condiciones extremas.


JJGDR-UCA 15
1.8.5 Origen de los errores inherentes de los instrumentos

En este apartado se analiza mediante el ejemplo 9 el origen de los errores de ganancia y
de offset, relacionado con las desviaciones respecto de la idealidad de los componentes
electrnicos.

Ejemplo 9. Evaluar el efecto de la tensin de offset en el amplificador inversor de la figura Ej.9.

Z1
+
-
Z2
Vo
-
Voff
Vd
+
+
-
Terminal
inversor real, V
V

-
+
Vi
cortocircuitada

Fig. Ej. 9. Amplificador inversor con entrada
conectada a tierra.

En principio, se consideran ideales las impedancias externas. La tensin real en el
terminal inversor es:

V V V V V V V V V
off d off d d off
= = = (1)

Y la salida del operacional:

( )
off
d
o
d off d off d d d o
V
A
V
V V A V A V V A V A V + = = = = (2)

Consideremos infinita la ganancia diferencial del operacional; entonces, segn (2)
V = V
off
. Como la impedancia de entrada al operacional es infinita, las corrientes
por las dos impedancias son iguales:

|
|
\
|
+ = =
1
2
1 2
1
Z
Z
V V
Z
V
Z
V V
o
o
(3)

Llevando (2) a (3) resulta el desplazamiento que experimenta la salida como
consecuencia de la tensin de offset de entrada:

|
|
\
|
+ = =
1
2
1
Z
Z
V V offset Error
off o


16 JJGDR-UCA
Como esta salida se presenta en ausencia de entrada, la tensin anterior representa un
error absoluto de offset. Por ejemplo, tomando 1 mV de tensin de offset y
suponiendo que las impedancias son resistencias de Z
1
=1 k , Z
2
=10 k nominales,
respectivamente, el error absoluto en la salida resulta 11 mV.

Si las impedancias resistivas poseen tolerancia , el error absoluto producido en la
salida es el error de ganancia y resulta:

( )
( )
i i ideal o real o
V
R
R
V
R
R
V V ganancia Error

= =
1
2
1
2
, ,
1
1

Es inmediato comprobar que en el peor caso, este error absoluto de ganancia vale:

i i
V
R
R
V
R
R
ganancia Error
+
=
(
+

=
1
2
1
2
1
2
1
1
1

El error absoluto total es la suma de las dos contribuciones anteriores:

|
|
\
|
+ +
+
=
1
2
1
2
1
1
2
R
R
V V
R
R
absoluto Error
off i

Se observa que existe un trmino que depende de la lectura o entrada al instrumento
(error de ganancia o de lectura), y un segundo trmino, constante en todo el rango,
error de offset. Se aprecia que cuando la tolerancia de las resistencias es cero,
desparece el error de offset, y cuando la tensin de offset del operacional es cero
desaparece el error de offset.

La salida real viene dada por la salida ideal y los dos trminos de error:

off i i o
V
R
R
V
R
R
V
R
R
V
|
|
\
|
+
+
=
1
2
1
2
1
2
1
1
2

De aqu se deduce la expresin de la ganancia real:

, 1
1
2
1
1
2
1
2
off i
real ganancia
o
V
R
R
V
R
R
V
|
|
\
|
+ |
\
|
+
=
4 4 4 3 4 4 4 2 1
m

que es la ecuacin de una recta de pendiente funcin de la tolerancia; adems, la
ordenada en el origen ya no es cero, como suceda en el caso ideal.

1.9 Fuentes de error externas

Hasta ahora hemos visto que los instrumentos introducen errores originados por las
desviaciones de la idealidad de los componentes electrnicos que los componen;
establecidas por las tolerancias de los parmetros, la limitacin del ancho de banda y la
generacin de ruido interno. Tambin se ha cuantificado el error, con independencia de

JJGDR-UCA 17
su procedencia. En este apartado se revisan las fuentes de error externas al equipo
electrnico y las originadas por la conexin realizada entre el instrumento y el objeto de
la medida. Adems, se revisan las tcnicas empleadas para reducir de sus efectos.

1.9.1 Interferencias de la red

Las interferencias introducidas por la red de suministro elctrico constituyen la causa
ms comn de ruido externo acoplado a un equipo electrnico de medida [Wolf et al.,
1995]. Por ello, en los laboratorios de precisin se emplean dispositivos de aislamiento y
blindaje, con el fin de proteger al instrumento de las seales parsitas provenientes de
fluorescentes y otras instalaciones. Estas seales parsitas introducen componentes que
en condiciones desfavorables suelen alcanzar la frontera entre las aplicaciones de alto y
bajo nivel, 100 mV. En estos casos, el resultado de la medida es inaceptable. El ruido
superpuesto a la seal de inters se denomina ruido en modo serie o normal.
Con el fin de eliminar el ruido, los instrumentos electrnicos incorporan
convertidores analgico-digitales (CAD) de tipo integrador. Estos circuitos eliminan el
ruido realizando promedios o integraciones durante un tiempo o periodo de integracin
mltiplo del periodo de la red. La figura 9 muestra el concepto de promediado sobre la
medida de una seal de CC (110 mV) contaminada por la seal de red. Si se escoge el
perodo de integracin como mltiplo entero del de la red, el promedio de la seal de
ruido es nulo y el resultado de la medida es la seal de inters.

Fig. 9. Concepto de promediado sobre una seal contaminada por el ruido de red.
El valor medio de la seal de ruido durante un ciclo es nulo, y el valor medio de la
medida son los 110 mV de inters.

La incorporacin de circuitos integradores tiene el inconveniente de reducir la
velocidad de operacin del instrumento; generalmente no se superan las 50 medidas por
segundo.
La capacidad para rechazar las interferencias en modo serie se cuantifica por el
parmetro relacin de rechazo al modo serie (SMRR; Series Mode Rejection Ratio). El
SMRR se expresa generalmente en decibelios y se define como la magnitud en decibelios
del cociente entre el ruido presente en la entrada del instrumento y el error que
introduce en la medida, segn la siguiente expresin.

|
|
\
|
=
medida producido error
o instrument entrada cresta cresta ruido
SMRR log 20

Por ejemplo, un SMRR de 60 dB supone una relacin de 1000/1 entre el ruido y el error
producido. Esto significa que si cometemos un error de 1 mV, el valor pico a pico del
ruido presente en la entrada del instrumento es de 1 V.
110 mV
1 ciclo =
20 ms
Red, 50 Hz
Seal de
inters
Promediado
0 V

18 JJGDR-UCA
La idea intuitiva del elemento integrador como supresor de las interferencias de red
mediante la realizacin de promedios, sugiere la dependencia del SMRR con la
frecuencia; ya que la eleccin del periodo de integracin determina la magnitud del
rechazo a las interferencias. Esta dependencia responde a la expresin:

( ) fT sen
fT
SMRR
=

En ella, T es el periodo de integracin y f la frecuencia de la seal de entrada
(considerada sinusoidal). La figura 10 muestra la representacin grfica de esta funcin
en un diagrama semilogartmico. En ella se aprecian los puntos de divergencia cuando el
producto fT es entero; es decir cuando el periodo de la entrada es mltiplo del periodo
empleado por el integrador. De ah que se escojan mltiplos enteros de la frecuencia de
la interferencia que se desea eliminar.
Fig. 10. Representacin logartmica del SMRR en funcin de la
frecuencia. Se observan las divergencias de la funcin cuando el
producto fT es entero.

En la demostracin 1, se obtiene la expresin que muestra la dependencia del SMRR
con la frecuencia, con el fin de mostrar el principio matemtico del multmetro
integrador.

Demostracin 1: Obtener la expresin de la relacin de rechazo a las interferencias en modo serie,
para un multmetro integrador, en funcin de la frecuencia.

Se considera como entrada una seal de interferencia sinusoidal de valor medio nulo,
2V
p
(V
pp
) y frecuencia f, se realiza la integracin a partir de un instante genrico t
*
, y
hasta el instante t
*
+T; donde T es el periodo de integracin:

( ) ( ) [ ]
T t
t
p
T t
t
p medida
ft
fT
V
dt ft sen V
T
V
+
+

= =
*
*
*
*
2 cos
2
2
1

SMRR de un Multmetro Digital Integrador
0
50
100
150
200
250
300
0,1 1 10
fT
S
M
R
R
(
d
B
)

JJGDR-UCA 19
De esto resulta una diferencia de cosenos que se convierte un producto
2
:

( ) [ ] ( ) [ ] ) ( ) (
2
2
2 cos 2 cos
2
* *
B sen A sen
fT
V
t f T t f
fT
V
V
p p
medida

= +
=

donde los ngulos genricos A y B responden a las expresiones siguientes:

( )
2
2
,
2
2
*
fT
B
T t f
A

=
+
=

El valor medio de esta interferencia resulta entonces como producto de dos trminos;
el trmino de argumento A depende del punto de comienzo de la integracin, t
*
.
En consecuencia, la expresin del valor medio de la interferencia de CA en el caso ms
desfavorable es:

( ) fT sen
fT
V
V
p
mx medida

=
,

El SMRR(f) es el valor absoluto de la relacin entre el valor medido en CC, V
p
, y el
anterior, medido en CA:

( ) fT sen
fT
f SMRR
= ) (

Como se aprecia en la figura 11, los puntos de divergencia coinciden con las
integraciones mltiplos de la frecuencia de la interferencia.

Las interferencias en modo serie pueden tambin producirse por seales de modo
comn, como las generadas por lazos de tierra.

1.9.2 Interferencias inductivas y electromagnticas

Los equipos que manejan altos niveles de corriente, como motores y generadores,
originan flujos magnticos que pueden generar, a su vez, errores debido a las tensiones
que inducen, E, segn la ley de Faraday-Lenz:

dt
S B d
dt
d
|
|
\
|

=
=

El voltaje inducido es proporcional al rea encerrada por las conexiones y a la velocidad
de cambio de la densidad de flujo magntico, y puede llegar a ser de varios cientos de
microvoltios. La figura 11 muestra la generacin de una f.e.m (fuerza electromotriz),
como consecuencia de la presencia de un campo magntico variable.

2
cos(A+B)-cos(A-B)=-2sen(A)sen(B)

20 JJGDR-UCA

Fig. 11. Produccin de interferencia electromagntica
en el circuito de entrada de un multmetro digital
(DMM; Digital Multi-Meter).

Por otra parte, cuando una corriente o tensin experimenta una variacin con el
tiempo, da como resultado un campo electromagntico. Una seal sinusoidal produce
un campo electromagntico con slo una componente de frecuencia. Cualquier
deformacin en la misma genera armnicos de esa frecuencia. Estos armnicos son
seales no deseadas que pueden afectar el funcionamiento correcto de los equipos
generando errores. Adems, a mayor frecuencia del armnico, mayor es la fuerza
electromotriz que induce. Las seales con pendientes acusadas indican la presencia de
armnicos de alta frecuencia; lo mismo ocurre para seales producidas por reguladores
de conmutacin, puentes de diodos rectificadores, circuitos lgicos, etc.
Los errores pueden minimizarse disminuyendo el rea del lazo y manteniendo el flujo
constante evitando vibraciones y movimientos. Esto supone que los conductores deben
unirse o trenzarse, estar sujetos y estar magnticamente aislados.

1.9.3 Resistencia de las conexiones

Un multmetro digital realiza la medida de la resistencia haciendo pasar una corriente
conocida (I
ref
) a travs de ella y midiendo a continuacin el voltaje. Empleando el
mtodo de dos hilos, cae tensin en la resistencia de los cables (R
h
) y, en consecuencia,
se introduce un error en la medida. La figura 12 muestra esta situacin.

Fig. 12. Error introducido por los hilos de
conexin al medir R
m
con el mtodo de los
dos hilos. En realidad se mide R
m
= R
h
+ R
h
.

La resistencia tpica de los hilos de conexin est comprendida entre 0,01 y 1 .
Como consecuencia, medir con precisin por debajo del intervalo 10-1000 , resulta
difcil. De ah que se recurra al mtodo de los 4 hilos en medidas de bajas resistencias y
micro-hmetros.

I
ref
V
m
R
h
R
h
R
m

Fuente de
seal

DMM
V
i
V
s
R
s
B


JJGDR-UCA 21
1.9.4 Fuerzas electromotrices trmicas

Cualquier conexin realizada con metales distintos origina un termopar no deseado en el
circuito de medida (efecto Seebeck). En consecuencia, al variar la temperatura, se inducen
fuerzas electromotrices trmicas que generan errores del orden de microvoltios cuando
se emplean termopares, termistores y sensores de deformacin. La figura 13 muestra
una configuracin de medida de temperatura con un termopar cobre-constantan
conectado a un multmetro digital. En ella se aprecia el termopar parsito originado por
el constantan y la conexin de cobre de la entrada del multmetro. Esta unin debe
mantenerse a una temperatura fija, con el fin de que el gradiente trmico no ocasione
tensiones parsitas. En principio se emple un bao de hielo para mantener la unin a 0
C; en la actualidad se utilizan uniones de referencia electrnicas. La unin de la parte
superior no representa problema, ya que est formada por dos metales idnticos (cobre).

Fig. 13. Origen del termopar parsito consecuencia
de conectar un termopar Cu/Con a un multmetro.

1.9.5 Carga de la impedancia de entrada

En la prctica, la impedancia de entrada de un instrumento es finita y, en consecuencia,
produce un efecto de carga sobre el dispositivo bajo test, que introduce un error en la
medida realizada. La figura 14 muestra la disposicin de un multmetro digital con el fin
de medir la tensin en una resistencia de carga, como consecuencia de la inyeccin de
una corriente de referencia. En ella se aprecia que, la tensin (V
m
) se mide en la
resistencia asociacin en paralelo de la de entrada al multmetro (R
i
) y de la resistencia de
carga (R
l
).

Fig. 14. Error introducido por una resistencia de
entrada finita en un multmetro digital.

El ejemplo 10 muestra la cuantificacin del error asociado a la carga de la impedancia de
entrada.

DMM
V
m
Cu

Cu

Co Cu

+

-

+

-

Termopar
Termopar parsito

Fuente
de seal

DMM
V
m
R
i
I
ref
R
l

22 JJGDR-UCA
Ejemplo 10. En el circuito de la figura 11, evaluar el error introducido por una R
i
=10 M, al
medir V
m
, cuando I
ref
=100 A y R
l
=100 k .

La lectura del DMM es:

V 9,90099
) )( 10 1 , 0 (
) )( 10 1 , 0 (
) 100 ( =
+

=
M
M M
A V
m

El valor ideal de la lectura es de 10 V. En consecuencia, el error relativo es:

% % 100
10
90099 , 9 10
% 100 0,9901
ideal Valor
real Valor ideal Valor
e =
=

Este error, cercano al 1%, es intolerable en aplicaciones que manejen bajos niveles de
tensin. A ms alta impedancia de entrada la medida es ms precisa.

1.9.6 Tiempos de estabilizacin: Capacidades parsitas

Las capacidades parsitas de los equipos electrnicos requieren a menudo retrasar la
realizacin de la medida respecto al estmulo con el fin de obtener una medida fiable. La
figura 15 muestra el retardo producido en un equipo de medida como consecuencia de
la capacidad parsita. En cada flanco de subida del estmulo se solicita una medida, pero
hasta que el equipo no ha alcanzado el nivel umbral de produccin de respuesta no
realiza la medida solicitada. Es decir, la respuesta real dista de la ideal (reproduccin de
la seal cuadrada que produce el estmulo). Debemos retardar la visualizacin o
presentacin de la medida para dar tiempo a que la seal alcance el umbral de
produccin de respuesta.

Fig. 15. Retardo de un equipo de medida en la produccin de
respuesta ante los estmulos (en cada flanco de subida).

Este error se manifiesta cuando se observan diferencias al medir de forma manual (paso
a paso) respecto del modo de medida automtico. En ste ltimo, los estmulos se
producen en menos de un milisegundo, por lo que conviene introducir retrasos con el
fin de obtener resultados precisos.
En los equipos de instrumentacin virtual, los retardos se introducen mediante lneas
de programa. Se disean funciones productoras de retardos. Estas funciones estn
asociadas a objetos de temporizacin en lenguajes de programacin orientada a objetos
especficos de la Instrumentacin Electrnica.

Estmulos o
solicitudes de
medidas
Respuesta del
equipo
Umbral de
produccin de
respuesta
Retardo

JJGDR-UCA 23
1.9.7 Interferencias de modo comn. Lazos de tierra

Cuando la fuente de seal involucrada en la medida y el instrumento estn conectados a
la misma toma de tierra pero en distintos puntos, se forma un circuito cerrado que
incluye el conductor de tierra y el plano de tierra. En la figura 16 se aprecia que el lazo
de tierra (tambin llamado bucle de masa) se origina como consecuencia de que el
conductor a tierra del equipo se ha conectado en puntos diferentes (1,2).

Fig. 16. Formacin de un lazo de tierra y circuito
equivalente para cuantificacin de la interferencia.

El ejemplo 11 cuantifica el efecto de las interferencias de modo comn producidas por
la formacin de un lazo de tierra.

Ejemplo 11. En el circuito de la figura 16, demostrar que en la entrada del multmetro est presente
una componente aproximadamente igual a la tensin de modo comn. R
i
=10 M, R
s
=1 k,
R
h
=10 , R
12
=10 .

Sustituyendo los valores de las resistencias en ohmios, la lectura del DMM resulta:

( ) ( )
mc s mc s
h s i
i
i
v v v v
R R R R
R
v +
+ + +
= +
+ + +
=
10 10 10 10
10
3 7
7
12

Se observa en el denominador el dominio de la resistencia de 10
7
. En consecuencia,
esto demuestra que en la entrada del multmetro est presente la casi totalidad de la
tensin de interferencia de modo comn:

mc s i
v v v +

La tensin de modo comn suele oscilar entre 1 y 10 voltios eficaces. Esto significa
que como en muchos de los sensores las seales oscilan entre 10 y 50 mV, la seal de
interferencia enmascara a la seal de inters totalmente.

1.9.8 Errores asociados a seales peridicas: Factores de Cresta

Al medir seales de corriente alterna (CA) en multmetros digitales de verdadero valor
eficaz, el usuario suele aplicar las especificaciones del instrumento respecto al procesado
de seales sinusoidales a todo tipo de formas de ondas.

Fuente de
seal
D
M
M

V
i
V
s
R
s
R
i
Impedancia de
retorno de seal
Fuente de ruido
Estructura de tierra
V=V
mc
R
h
1

2


24 JJGDR-UCA
En realidad, sucede que la forma de la seal de entrada determina la precisin de la
medida. Los errores cometidos en los multmetros dependen del factor de cresta de la
seal medida.
El factor de cresta (CF
3
; Crest Factor) de una seal peridica se define [Agilent
Technologies, 2002], como el cociente entre el valor de pico y el valor eficaz:

ef
p
V
V
CF

La siguiente ecuacin muestra cmo se introduce la estimacin de este error en el
error total. ste es suma del error asociado a la medida de seales sinusoidales (precisin
sinusoidal de DMM como suma del error de ganancia y el error de offset), el error de
factor de cresta y el error estimado de ancho de banda:

BW CF seno
Error Error Error total Error + + =

El error de ancho de banda depende tambin del factor de cresta y responde a la
expresin en tanto por uno [Agilent Technologies, 2002]:

( )
BW
f CF
Error
BW

=
4
2

donde f es la frecuencia fundamental de la seal de entrada, y BW (Band Width) es el
ancho de banda del DMM (la frecuencia superior de corte). El signo negativo es
irrelevante y tiene origen emprico. Obsrvese que si el ancho de banda es infinito, el
error asociado a este parmetro es nulo. El ejemplo 12 muestra cmo evaluar estos
errores.
Hemos visto que resulta muy comn cometer el error de pensar que la precisin de
un DMM (de verdadero valor eficaz) se mantiene para cualquier tipo de seal de
entrada, independientemente de su forma o patrn. Sin embargo, en la prctica no es
as, y se comete un error adicional asociado al factor de cresta.

3
CF es Factor de cresta en EE.UU para diferenciarlo de FC, factor de correccin en Espaol.

JJGDR-UCA 25
Ejemplo 12. El multmetro Agilent 34401 A posee un ancho de banda BW = 1 MHz. Su
precisin de 90 das viene dada por (0,05 % + 0,03 %). El fabricante especifica un error del
0,15% de la lectura para entradas en CA con factor de cresta comprendido entre 2 y 3. Este
instrumento recibe un tren de pulsos de CF = 3 y frecuencia fundamental 20 kHz. Evaluar el error
medio asociado a la medida.

Se considera:

BW CF seno
Error Error Error total Error + + =

El valor absoluto del error de ancho de banda viene dado por:

( ) ( )
( )
% 4 , 1 % 100 0143239 , 0 % 100
1000 4
20 3
% 100
4
2 2
=

=
kHz
kHz
BW
f CF
Error
BW

En consecuencia, la incertidumbre total es:

( ) % 63 , 1 % 4 , 1 15 , 0 03 , 0 05 , 0 = + + + = + + =
BW CF seno
Error Error Error total Error

1.10 Convertidores de tensin Alterna a Continua

Con el fin de realizar la medida de tensiones alternas y continuas es necesario un
convertidor alterna-continua. La tensin alterna se caracteriza por su frecuencia y forma;
y tiene como principales parmetros su valor pico a pico y su valor eficaz.
Existen dos tipos bsicos de convertidores, los convertidores de verdadero valor
eficaz (True RMS converter), y los convertidores alterna-valor medio. Los primeros
realizan el clculo del valor eficaz mediante circuitos con amplificadores operacionales.
Para ello han de realizar el clculo de la expresin:

( ) ,
1
0
2
=
T
ef
dt t v
T
V

donde v(t) es el valor instantneo de la seal a convertir. Este convertidor es el ms
avanzado y es vlido para cualquier seal peridica, independientemente de su forma.
Los convertidores alterna-valor medio se incorporan en los multmetros digitales ms
econmicos y slo pueden medir seales que posean una relacin conocida entre el
valor medio y el valor eficaz. Esta relacin se define como el factor de forma de una
seal:

m
ef
V
V
FF

donde V
m
es el valor medio de la seal rectificada en onda completa.


26 JJGDR-UCA
As, para medir el valor eficaz de una seal el instrumento multiplica su valor medio
por el factor de forma de una seal sinusoidal (FF=FF
sen
). En efecto:

ef
m
ef
m m o
V
V
V
V FF V V = = =

Por ejemplo, un convertidor CA-CC para una seal sinusoidal puede sintetizarse
mediante un rectificador de doble onda de precisin seguido de un integrador que
multiplique por el factor de forma de una senoide. En el caso de emplear rectificadores
de media onda hay que multiplicar por el doble del factor de forma.
En el caso de medir seales cuadradas o triangulares hay que considerar el factor de
correccin. Este parmetro se define como el cociente entre el factor de forma de la
seal involucrada en la medida entre el factor de forma de una seal sinusoidal. As por
ejemplo, para una seal cuadrada, su factor de correccin es:

sen
cuad
cuad
FF
FF
FC =

Al realizar la medida, el multmetro multiplica el valor medio por el factor de forma de
una sinusoidal y por el factor de correccin asociado al tipo de seal que se mide. Por
ejemplo, para una seal triangular se tiene:

ef
trian
m
ef
m
sen
trian
sen m trian
V
sen m o
V
V
V
V
FF
FF
FF V FC FF V V
lectura
=
(
(
= = =
43 42 1

A continuacin se calculan y describen los factores de forma y de correccin de las
seales de test ms frecuentes en Instrumentacin Electrnica.

Ejemplo 13. Seal sinusoidal. Sea la seal: ) 2 ( ) ( ft sen V t v
p
= . Rectificada en onda
completa, la seal sinusoidal queda como indica la figura Ej. 13:

Fig. Ej. 13. Seal sinusoidal rectificada en onda completa y
parmetros caractersticos.

T=1/f
t
v(t)
0
V
p
V
m
=2V
p
/

JJGDR-UCA 27
Su valor eficaz en tiempo continuo es:

( )
( )
2
2
2
1
2
1
) 4 (
4
1
2
2
1
2
1
2
) 4 cos( 1 1
) 2 (
1
2 / 1
2
2 / 1
0
2
0
2
2
0
p
p
T
p
T
p
T
p ef
V
V ft sen
f
V
dt
ft
V
T
dt ft sen V
T
V
=
(
=
(
(
|
|
\
|

=
= |
\
|
= =

El valor medio, despus de rectificarla en onda completa, se evala en un
semiperiodo, para poder integrar la funcin seno que s est definida en ese
semiperodo, y resulta:

[ ]
[ ]
[ ]
= +
=
=
(
\
|

+ |
\
|

=
=
= =
p
p
p
T
p
T
p
T
p m
V
f T
V
T
T
T f T
V ft
f T
V
ft
f T
V dt ft sen V
T
V
2
1 ) 1 (
2
1
2 /
1
0
2
cos
2
2
cos
2
1
2 /
1
) 2 cos(
2
1
2 /
1
) 2 cos(
2
1
2 /
1
) 2 (
2 /
1
2 /
0
2 /
0
2 /
0

El factor de forma resulta pues:

11 , 1 1107207 , 1
4
2
2 2
2
2

=
p
p
m
ef
V
V
V
V
FF

Y su factor de correccin resulta la unidad:

1 = =
sen
sen
sen
seal
FF
FF
FF
FF
FC

La tabla 1 resume las magnitudes factores de forma y correccin, para las tres seales
ms conocidas con valor de pico
p
V , una vez han sido rectificadas en onda completa.

Tabla 1. Caractersticas de las seales ms conocidas en la Ingeniera.
Sinusoide Cuadrada Triangular
Valor eficaz (V
ef
)
2
p
V

p
V
3
p
V

Valor medio (V
m
)
p
V 2

p
V
2
p
V

m
ef
V
V
FF
1,11 1 1,15
sen
seal
FF
FF
FC
1 0,9009009 1,039

El siguiente ejemplo se muestra un ejemplo numrico.

28 JJGDR-UCA
Ejemplo 14. Se dispone de un DMM de 3
1/2
dgitos que mide valor medio y est calibrado en valor
eficaz. Se pregunta qu lectura ofrece el multmetro cuando se le conecta una seal TLL cosn ciclo de
trabajo 50 % y niveles de tensin alto y bajo de 0 y 5 V, respectivamente, con frecuencia comprendida
dentro del ancho de banda del instrumento.

Fig. Ej. 14. Seal cuadrada genrica.

El usuario debe proporcionar la tensin eficaz, una vez se haya corregido la tensin
media medida. Primero el multmetro multiplica por el factor de forma del seno y
presenta en la pantalla un resultado (para obtener la medida de valor eficaz como si la
entrada fuera sinusoidal). Despus el usuario multiplicar por el factor de correccin
asociado al tipo de seal involucrada (en este caso cuadrada). De esta forma, el valor
eficaz presentado es el que corresponde a una seal cuadrada:

ef
V
cua
m
V
ef
V
m
V
sen
FF
cua
FF
sen
FF
m
V
cua
FC
lectura
V
sen
FF
m
V
o
V =
(
(
= = =
43 42 1

En nuestro caso el valor medio de la seal TTL es V
m
=2,5 V, y debemos calcular la
lectura:

V
sen
FF
m
V
lectura
V 775 , 2 11 , 1 5 , 2 = = =

Como es un 3
1/2
la lectura ofrecida es 2,77 V.

Como ejemplo de multmetro de verdadero valor eficaz cabe citar el HM8011-3, 3l
cual, internamente realiza los productos por los factores de correccin correspondientes
a cada forma de onda de funcin matemtica.

Referencias

[1] Agilent Technologies, Digital multimeter measurement error series, AC voltage
measurement errors in digital multimeters, AN 1389-3, 2002.
[2] W.D. Cooper and A.D. Helfrick, Instrumentacin electrnica moderna y tcnicas
de medicin, Prentice-Hall. Hispanoamericana, 1991.
[3] A. Creus, Instrumentacin industrial, Marcombo, Boixareu editores, 1995.
[4] E. Mandado, P. Mario y A. Lago, Instrumentacin Electrnica. Marcombo.
boixareu editores, 1995.
[5] R. Palls, Instrumentacin electrnica bsica, Marcombo, Boixareu editores, 1987.

T

t
v(t)

0
t
*
=T/2
V=5V
t
*
/T = ciclo de trabajo
(duty cycle)

JJGDR-UCA 29
[6] J.J G. de la Rosa y L. Rosado, Caracterizacin esttica y dinmica de los
instrumentos electrnicos de medida, en L. Rosado y colaboradores, Didctica de
la Fsica y sus nuevas tendencias (manual de 2003), UNED, Madrid, pp 505-536.
[7] Tektronix, Manuales de usuario del osciloscopio TDS 210 y mdulos de extensin,
2001.
[8] S. Wolf, y R.F.M. Smith, Gua para mediciones electrnicas y prcticas de
laboratorio, edicin ampliada y actualizada. prentice-hall hispanoamericana.
mxico, etc., 1992.

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JJGDR-UCA 1

= 30,5 7578125 0,00003051

= n sen n n sen n sen n y

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