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MOVILIDAD
CONCENTRACIN DE IMPUREZAS (cm-3) Movilidad de arrastre del Ge, Si y GaAs para 300K en funcin de laMalaguera concentracin de impurezas. Prof. Jos
jgmalaguera@gmail.com
MOVILIDAD
Si (CAMPO BAJO)
TEMPERATURA (K) Movilidad de electrones y huecos para el Si en funcin de Prof. Josla Malaguera Temperatura.
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(/cuadrado)
CF =Factor de correccin
Factor de correccin CF
Prof. Jos Malaguera usando una muestra de cuatro puntos jgmalaguera@gmail.com
Factor de correccin para mediciones de la resistividad
SILICIO 300K
TIPO P (BORO)
RESISTIVIDAD
TIPO n (FSFORO)
Resistividad en funcin de la concentracin de impurezas del silicio Prof. Jos Malaguera para 300K jgmalaguera@gmail.com
CONCENTRACIN DE IMPUREZAS (cm-3) Prof. Jos Malaguera Resistividad en funcin de la concentracin de impurezas del Ge, GaAs y GaP para 300K jgmalaguera@gmail.com
RESISTIVIDAD
Configuracin bsica para medir la concentracin de portadores a travs del Efecto Hall. Prof. Jos Malaguera
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La Funcin Gamma
ANTES
DESPUS
CAPTURA DE ELECTRN
EMISIN DE ELECTRN
CAPTURA DE UN HUECO
EMISIN DE UN HUECO
Espectros de Fonones medidos en Ge, Si y GaAs, donde TO significa modos pticos transversales, LO significa modos pticos longitudinales. TA significa modos acsticos transversalesProf. y LA modos acsticos longitudinales. Jos Malaguera
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Energa ()eV
BANDA DE CONDUCCIN
Eg (directo)
Eg (indirecto)
Banda de Valencia
Coeficientes de absorcin medidos cerca y por encima del borde de absorcin fundamental para Ge, Si y GaAs puros
Prof. Jos Malaguera jgmalaguera@gmail.com
Conductividad trmica en funcin de la temperatura medida para Ge, Si, GaAs, Cu, Diamante tipo II y SiO2.
85 ECUACIONES BSICAS DE OPERACIN DE LOS COMPONENTES SEMICONDUCTORES. ECUACIONES DE MAXWELL PARA UN MEDIO ISTROPO HOMOGNEO