o
/
k
V
29
A grande no linearidade dessa curva pode ser verificada inspecionando-se alguns de seus
pontos chave, como descrito a seguir.
tenso nominal do sistema, o pico da tenso dado por:
Quando submetido a essa tenso, a corrente de fuga resistiva do para-raio de apenas 100
A.
A mxima tenso de operao contnua do para-raio, denominada Uc pela norma IEC
60099-4 (9) e MCOV (Maximum Continuous Operating Voltage) pela norma IEEE Std
C62.11-2005 (10), a mxima tenso em freqncia industrial na qual o para-raio pode
operar continuamente sem qualquer restrio. No exemplo da Figura 3, Uc igual a 268 kV
rms ou 379 kV de pico; nesse ponto de operao, a corrente de fuga resistiva ainda inferior a
200 A.
Quando submetido sua tenso nominal Ur, no exemplo 475 kV de pico (cerca de 25%
acima da tenso de operao contnua), a corrente atinge 1mA. Por norma, o para-raio deve
suportar essa tenso por pelo menos 10 segundos, embora alguns fabricantes garantam tempos
maiores, de forma a garantir que o mesmo no se danifique por sobretenses de relativamente
longa durao freqncia industrial para as quais o para-raio no efetua funo de
proteo.
A partir desse ponto, pequenos aumentos da tenso aplicada ao para-raio causam grandes
aumentos da corrente. Na curva da Figura 3 podemos observar o Nvel de Proteo a Impulso
atmosfrico, que a mxima queda de tenso sobre o para-raio quando a corrente atinge seu
valor nominal de descarga no exemplo, um mximo de 823 kV de pico com o pico de
corrente de descarga de 10 kA.
Podemos observar que um aumento de aproximadamente 140% da tenso (de 343 kV para
823 kV) aumenta a corrente de fuga em 8 ordens de grandeza (de 100 A para 10 kA),
demonstrando claramente a no linearidade dos blocos de ZnO, que foi o que viabilizou o
desenvolvimento de para-raios sem centelhadores.
30
3. MODELOS ELTRICOS DOS PARA-RAIOS
As construes mecnicas dos para-raios de carboneto de silcio e xido de zinco,
mostradas no Captulo 2, podem ser representadas por modelos eltricos com o objetivo de
facilitar o desenvolvimento e testes de mtodos de diagnstico.
Com esse objetivo em mente, os modelos aqui propostos se limitam condio de
operao em regime permanente, freqncia industrial, que a condio em que os para-
raios operam praticamente todo o tempo e durante a qual se deseja monitor-los para
diagnosticar seu estado. Portanto, os modelos eltricos aqui propostos no levam em
considerao as condies transitrias e fenmenos de alta freqncia que ocorrem durante a
operao dos para-raios.
3.1. Para-raios de Carboneto de Silcio
A construo dos para-raios de SiC, descrita no Captulo 2.1, pode ser representada
eletricamente da forma mostrada na Figura 4 a seguir, que busca contemplar inicialmente
todos os elementos constituintes do equipamento, como descrito a seguir.
Os elementos representados na Figura 4 so os seguintes, onde n o nmero total de
conjuntos de centelhadores e m o nmero total de blocos de carboneto de silcio:
C
SGi
- Capacitncia do conjunto de centelhadores i, com i de 1 a n;
R
EQi
- Resistor de equalizao do conjunto de centelhadores i, i de 1 a n;
L
AUX
- Bobina auxiliar de interrupo de arco;
C
SGaux
- Capacitncia do centelhador auxiliar em paralelo com a bobina auxiliar de
interrupo de arco;
R
Bj
- Resistncia do bloco de carboneto de silcio j, com j de 1 a m;
C
Bj
- Capacitncia do bloco de carboneto de silcio j, com j de 1 a m.
31
Figura 4 Modelo eltrico representando um para-raio de SiC em regime permanente
Algumas simplificaes podem ser adotadas para o modelo eltrico da Figura 4,
considerando os seguintes fatores:
A indutncia de L
AUX
relativamente baixa, de forma que em baixa freqncia, como
o caso da freqncia industrial, sua reatncia indutiva praticamente nula. Portanto,
a bobina L
AUX
pode ser considerada um curto-circuito, eliminando tambm a
capacitncia do centelhador auxiliar C
SGaux
;
A resistncia dos blocos de carboneto de silcio, R
Bj
, da ordem de alguns kiloohms,
muito menor, portanto, que a reatncia capacitiva desses mesmos blocos,
correspondente a C
Bj
. Portanto, as capacitncias C
Bj
podem ser desprezadas;
32
A resistncia dos blocos de carboneto de silcio, R
Bj
, da ordem de alguns kiloohms,
muito menor, portanto, que os resistores de equalizao dos centelhadores R
EQi
.
Portanto, as resistncias dos blocos de carboneto de silcio R
Bj
podem ser desprezadas.
Com esses pressupostos, o modelo eltrico simplificado mostrado na Figura 5 abaixo pode
ser adotado para os para-raios de SiC freqncia industrial em regime permanente.
Figura 5 Modelo eltrico simplificado de um para-raio de SiC em regime permanente
Simplificando ainda mais, o para-raio de SiC pode ser representado por apenas uma
capacitncia equivalente, C
SG
, em paralelo com uma resistncia equivalente, R
EQ
, como
mostra o modelo reduzido da Figura 6 abaixo.
Figura 6 Modelo eltrico reduzido de um para-raio de SiC em regime permanente
33
Esta representao, simplificada ao mximo, particularmente til quando se deseja obter
os parmetros do modelo a partir de medies realizadas, sem conhecimento prvio de
detalhes da construo do para-raio (nmero de mdulos centelhadores e resistores de
equalizao), como o caso do exemplo a seguir. A capacitncia equivalente calculada pela
equao (4), e a resistncia equivalente pela equao (6).
(4)
Onde: a capacitncia equivalente do para-raio de SiC;
a corrente de fuga medida;
o ngulo de defasagem medido da corrente de fuga em relao tenso
U;
U a tenso aplicada entre os terminais do para-raio;
a freqncia angular da tenso U.
e,
(6)
Onde: a resistncia equivalente do para-raio de SiC;
U a tenso aplicada entre os terminais do para-raio;
a corrente de fuga medida;
o ngulo de defasagem medido da corrente de fuga em relao tenso
U.
Dados de ensaios em para-raios de SiC de classes de tenso 88 kV e 138 kV, disponveis
em (6) e (7), nos permitem obter uma ordem de grandeza dos parmetros do modelo
simplificado.
34
Nos para-raios de 88 kV foi aplicada tenso fase-terra de 51 kV e medida a corrente de
fuga, assim como seu ngulo de defasagem em relao tenso aplicada. Tomando como
exemplo o para-raio denominado pelo autor como amostra A2, foi medida corrente de fuga de
0,147 mA adiantada 65 graus em relao tenso (6).
J nos para-raios de 138 kV foi aplicada tenso fase-terra de 80 kV e foram medidos,
tomando a amostra denominada B1, corrente de fuga de 0,293 mA adiantada 73 graus em
relao tenso (6).
Dessa forma, os valores calculados para os parmetros eltricos equivalentes desses dois
para-raios so os indicados na Tabela 1 abaixo:
Tabela 1 Parmetros eltricos equivalentes para os para-raios de SiC ensaiados na referncia
(6)
Para-raio de 88 kV Para-raio de 138 kV
C
SG
6,9 pF 9,3 pF
R
EQ
821 M 934 M
3.2. Para-raios de xido de Zinco
A construo dos para-raios de xido de zinco, descrita no Captulo 2.2, pode ser
representada eletricamente, em regime permanente, da forma mostrada na Figura 7 abaixo,
como descrito a seguir (11).
35
Figura 7 Modelo eltrico representando um para-raio de ZnO em regime permanente
Os elementos representados na Figura 7 so os seguintes, onde m o nmero total de
blocos de xido de zinco:
R
Bj
Resistncia do bloco de xido de zinco j, com j variando de 1 a m;
C
Bj
Capacitncia do bloco de xido de zinco j, com j variando de 1 a m.
Dada a simplicidade construtiva dos para-raios de xido de zinco, no h pressupostos que
possam ser aplicados para eliminar elementos do modelo da Figura 7. Observa-se grande
similaridade com o modelo eltrico simplificado dos para-raios de SiC (Figura 5), com a
importante diferena de que naquele caso os elementos eltricos do circuito referem-se aos
centelhadores e seus resistores de equalizao, enquanto que no modelo dos para-raios de
ZnO os elementos eltricos esto associados aos blocos de resistores no-lineares.
O modelo da Figura 7 pode ser ainda reduzido, com o para-raio de ZnO representado por
apenas uma capacitncia equivalente, C
B
, em paralelo com uma resistncia equivalente, R
B
,
como mostra o modelo reduzido da Figura 8 abaixo.
36
Figura 8 Modelo eltrico reduzido de um para-raio de ZnO em regime permanente
Assim como nos para-raios de SiC, esta representao reduzida particularmente til
quando se deseja obter os parmetros do modelo a partir de medies realizadas, sem
conhecimento prvio de detalhes da construo do para-raio (nmero de blocos de ZnO em
srie), como o caso do exemplo a seguir. A capacitncia equivalente pode ser calculada pela
equao (8), e a resistncia equivalente pela equao (9), ambas a seguir.
(8)
Onde: a capacitncia equivalente do para-raio de ZnO;
a corrente de fuga medida;
o ngulo de defasagem da corrente de fuga em relao tenso U;
U a tenso aplicada entre os terminais do para-raio;
a freqncia angular da tenso U.
e,
(9)
Onde: a resistncia equivalente do para-raio de ZnO;
U a tenso aplicada entre os terminais do para-raio;
a corrente de fuga medida;
37
o ngulo de defasagem medido da corrente de fuga em relao tenso
U.
Dados aproximados de medies de corrente de fuga em para-raios de ZnO de 266 kV,
disponveis em (12), nos permitem obter uma ordem de grandeza dos parmetros do modelo
simplificado.
A referncia (12) no fornece os valores exatos das medies, por isso apenas valores
aproximados foram obtidos a partir dos grficos fornecidos. Alm disso, a tenso fase-terra
no foi informada, por isso foi considerado nos clculos a tenso de 266 kV. Como o objetivo
apenas obter uma ordem de grandeza dos parmetros eltricos, tais aproximaes so
aceitveis. A corrente de fuga total foi da ordem de 1,6 mA e a corrente resistiva da ordem de
50 A (12).
Dessa forma, os valores calculados para os parmetros eltricos equivalentes desse para-
raio so os indicados na Tabela 2 abaixo:
Tabela 2 Parmetros eltricos equivalentes para o para-raio de ZnO ensaiado na referncia
(12)
Para-raio de 266 kV
C
B
15,9 pF
R
B
5320 M
4. MTODOS DE DIAGNSTICO ATUAIS
Diversos mtodos de diagnstico do estado dos para-raios foram desenvolvidos ao longo
do tempo, com diferentes graus de sucesso, tanto para os para-raios de carboneto de silcio
quanto para os de xido de zinco. Um resumo dos mesmos apresentado a seguir, para ambas
as tecnologias.
4.1. Para-raios de Carboneto de Silcio
As principais tcnicas de diagnstico empregadas ou estudadas para os para-raios de SiC,
com base na literatura disponvel, so:
38
Tenso de rdio-interferncia (6), (7), (14), (15), (16), (17);
Descargas parciais (mtodos eltricos e acsticos) (14), (17);
Tenso residual corrente de descarga nominal (14), (15);
Tenso disruptiva freqncia industrial (6), (7), (14), (15), (16), (18), (19), (20);
Tenso disruptiva em impulso (6), (7), (15), (18), (19), (20), (21);
Perdas dieltricas (15), (16), (21);
Resistncia de isolamento (6), (7), (15), (16), (19);
Medio de temperatura por termoviso (6), (7), (15), (16);
Medio de corrente de fuga total (6), (7), (14), (15), (16);
Medio de terceira harmnica da corrente de fuga (6), (7).
4.2. Para-raios de xido de Zinco
As principais tcnicas de diagnstico empregadas ou estudadas para os para-raios de ZnO,
com base na literatura disponvel, so:
Descargas parciais (mtodos eltricos e acsticos) (14), (21), (23);
Determinao da tenso de referncia (21), (27), (23);
Levantamento da curva V-I (27), (23);
Perdas dieltricas (13), (21);
Medio de temperatura por termoviso (13), (21), (25);
Medio de temperatura por sensores passivos (13), (26), (27);
Medio de corrente de fuga resistiva (13), (27), (28), (29), (30);
Medio de terceira harmnica da corrente de fuga (13), (22), (24), (25), (27), (31).
4.3. Caractersticas dos mtodos de diagnstico atuais
4.3.1. Tcnicas no aplicveis durante a operao normal
Diversas das tcnicas acima citadas somente podem ser empregadas com o para-raio fora
de servio, desconectado da rede. Com isso, embora algumas delas tenham relativa eficcia na
39
deteco de defeitos, as mesmas no so adequadas para o objetivo desse trabalho, que o
diagnstico em tempo real de estado do equipamento. So elas:
Tenso residual corrente de descarga nominal;
Tenso disruptiva freqncia industrial;
Tenso disruptiva em impulso;
Perdas dieltricas;
Resistncia de isolamento.
Determinao da tenso de referncia;
Levantamento da curva V-I;
4.3.2. Tenso de rdio-interferncia e Descargas parciais
Por outro lado, algumas das tcnicas restantes apresentam dificuldades prticas de
utilizao, apesar de, a princpio, serem aplicveis durante a operao normal do para-raio,
devido aos rudos eletromagnticos presentes em subestaes de alta tenso. o caso das
medies de Tenso de rdio-interferncia e Descargas parciais. Embora tais dificuldades no
sejam exatamente insuperveis de fato, encontram-se em andamento diversas pesquisas
nesse campo (32), (33) esses obstculos contribuem tambm para o aumento do custo de
aplicao das tcnicas citadas, o que pode ser um problema, considerando o baixo custo dos
para-raios a serem monitorados.
4.3.3. Medio de temperatura por termoviso
A tcnica de medio de temperatura por termoviso tem sido empregada de forma
consistente para o diagnstico de diversos equipamentos de alta tenso em subestaes com a
finalidade de localizar pontos com temperatura anormalmente elevada, com resultados em
geral satisfatrios (34). A aplicao dessa tcnica realizada normalmente de forma relativa,
comparando a temperatura do ponto mais quente com a temperatura de pontos adjacentes ou
com a temperatura de outros equipamentos semelhantes nas proximidades. Dessa forma, uma
anormalidade detectada se um determinado ponto apresenta-se muito mais quente que os
demais. A referncia (41) estabelece uma diferena mxima de 5 C, acima da qual o para-
raios deve ser investigado por medio da corrente de fuga ou retirado de operao.
40
Embora essa tcnica seja eficaz para a deteco de alguns tipos de defeito (6), (34), e deva
ser empregada com o para-raio em operao normal, tem o inconveniente de no permitir a
monitorao de forma contnua e nem automtica, pois depende que um operador inspecione
periodicamente os equipamentos com o termovisor, deixando assim de atender a uma das
necessidades pressupostas neste trabalho. A ttulo de exemplo, a referncia (41) relata a
realizao de termoviso para diagnstico de para-raios em operao com periodicidade de 3
a 6 meses.
Isso nos leva tambm a outra desvantagem dessa tcnica, que a necessidade de se
garantir que as medies sejam efetuadas com procedimento uniforme para permitir a
comparao de resultados, o acompanhamento da evoluo das medies (16) e o correto
diagnstico do equipamento, visto que a queda acentuada de temperatura entre os blocos no-
lineares e o exterior do invlucro do para-raio (13) torna muito sutis as diferenas de
temperatura observadas entre um equipamento em bom estado e outro deteriorado, exceto em
casos de deteriorao j muito avanada. Dessa forma, o sucesso do diagnstico por
termoviso tem grande dependncia do operador que realiza a leitura e interpreta os
resultados.
4.3.4. Medio de temperatura interna por sensores passivos
Os diversos parmetros que podem ser monitorados em um para-raios, como perdas
dieltricas e corrente de fuga resistiva, causam alteraes na temperatura interna do para-raio,
sendo esse o princpio que suporta a medio de temperatura por termoviso, abordada acima
(27).
O uso de sensores de temperatura internos ao para-raio busca vencer as limitaes da
termoviso, que so a grande queda de temperatura entre os pontos de aquecimento e a
superfcie externa do equipamento e o fato de no ser um mtodo contnuo e automtico.
Para tal so utilizados sensores de temperatura passivos, baseados em ondas acsticas de
superfcie (SAW, Surface Acoustic Wave), que tem dimenses reduzidas, no requerem
alimentao para sua operao e transmitem a medio por ondas de rdio.
O princpio de operao desses sensores ilustrado na Figura 9 a seguir. Um interrogador
externo ao para-raio transmite ondas de rdio que so recebidas na antena do sensor e excitam
um transdutor piezeltrico, que gera uma onda acstica que se propaga pela superfcie do
sensor. A freqncia de ressonncia dessa onda determinada pelas caractersticas mecnicas
41
dessa superfcie, que se alteram com a temperatura, devido expanso e contrao do
material. Desse modo, a freqncia da onda acstica de superfcie ditada pela temperatura a
que a mesma est submetida. Durante sua propagao pelo sensor, a onda refletida e retorna
ao transdutor piezeltrico, que gera tenso consonante com a onda mecnica que o atingiu.
Esse sinal acoplado de volta antena, que ento retransmite ao interrogador externo um
sinal de rdio que contm a informao da temperatura (27), (35).
Quando vrios sensores desse tipo so utilizados simultaneamente, a informao dos
vrios sensores pode ser identificada por meio de reflexes intencionais na onda acstica,
causadas por refletores posicionados ao longo da superfcie, criando uma espcie de cdigo
que identifica o sensor que est enviando a informao.
Figura 9 Princpio de operao do sensor de temperatura passivo. Fonte: (35), adaptada
A medio de temperatura por sensores passivos no interior do para-raio, apesar de ter
sido reportada como eficaz, somente aplicvel a para-raios novos, pois a instalao dos
sensores s pode ser efetuada durante a fabricao do equipamento. Portanto, no aplicvel
ao grande nmero de para-raios j em operao em campo, tanto de SiC quanto de ZnO.
4.3.5. Corrente de fuga total
No se observam alteraes apreciveis na componente capacitiva da corrente de fuga em
alguns dos principais modos de falha dos para-raios (13), como o caso de deteriorao nos
elementos no-lineares, deteriorao dos resistores de equalizao nos para-raios de SiC ou
ingresso de umidade, por exemplo, sendo apenas a corrente resistiva afetada. Por outro lado,
como j indicado no captulo 3, a corrente de fuga dos para-raios predominantemente
transmisso
recepo
antena
do leitor
antena do sensor SAW
chip SAW
refletor
transdutor
interdigital
42
capacitiva, com a componente resistiva contribuindo com apenas 5 % a 20 % da corrente de
fuga total (6), (13). Com isso, e considerando que a corrente de fuga total a soma vetorial
das componentes resistiva e capacitiva, defasadas 90 entre si, grandes alteraes na corrente
resistiva podem refletir-se em alteraes muito pequenas na corrente total, impedindo a
deteco de um defeito. Por esse motivo, a monitorao da corrente de fuga total dos para-
raios descartada como um meio eficaz de diagnosticar o estado do equipamento (13).
4.3.6. Corrente de fuga resistiva
As tcnicas de diagnstico que envolvem a medio da corrente de fuga resistiva, seja
direta ou indiretamente (pela medio da 3 harmnica da corrente de fuga, tratada no captulo
4.3.7), so as que se mostram as mais promissoras, por permitirem a monitorao de estado do
equipamento de forma contnua e em tempo real (13), (30), possibilitando ainda a utilizao
sem a dependncia de operadores para a execuo das medies.
Por esse motivo, so citadas na norma IEC 60099-5 (13) como a principal ferramenta de
diagnstico do estado de para-raios de ZnO. O captulo 6 dessa norma nomeou os diversos
mtodos para monitorao da corrente de fuga resistiva como A1...A4, B1...B3 e C. Os
mtodos A1 a A3, B3 e C constituem formas de monitorao direta da corrente resistiva e so
detalhados adiante.
Os demais mtodos consistem em monitorao indireta da corrente resistiva, por meio da
terceira harmnica da corrente de fuga, e so detalhados no captulo 4.3.7.
4.3.6.1.Mtodo de medio A1
Como indica a Figura 10 a seguir, no instante em que a taxa de variao da tenso zero
(dU/dt = 0), a componente capacitiva da corrente de fuga tambm zero. Como nesse mesmo
instante a tenso encontra-se no seu valor mximo (positivo ou negativo), a corrente de fuga
medida nesse momento corresponde ao valor de pico da corrente resistiva.
Portanto, a componente resistiva da corrente de fuga pode ser conhecida, empregando a
tcnica acima descrita, desde que se efetuem simultaneamente as medies da tenso aplicada
aos terminais do para-raio e da corrente de fuga total. Essa forma de monitorao da corrente
de fuga resistiva denominada na norma IEC 60099-5 (13) como o mtodo de medio A1.
43
No entanto, a disponibilidade de um sinal correspondente tenso aplicada aos terminais
do para-raio raramente existe na prtica, o que limita o amplo emprego do mtodo A1 para a
monitorao da corrente de fuga resistiva.
Figura 10 Corrente de fuga resistiva em relao tenso nos terminais de um para-raio.
Fonte: (13), adaptada.
4.3.6.2.Mtodo de medio A2
A componente capacitiva da corrente de fuga pode ser eliminada da medio da corrente
de fuga total se um sinal de corrente capacitiva, com a mesma fase e magnitude igual da
corrente capacitiva do para-raio, for subtrado da corrente de fuga total. Esse sinal de corrente
capacitiva pode ser obtido com um capacitor de referncia, com valor de capacitncia igual
do para-raio, energizado com a mesma tenso aplicada ao para-raio.
Com isso, o mtodo mostra-se vivel para uso em laboratrio, no sendo prtico para
aplicaes em campo.
4.3.6.3.Mtodo de medio A3
O mtodo A3 da norma IEC 60099-5 similar ao mtodo A2 acima, com a diferena de
que o sinal de corrente capacitiva a ser subtrado da corrente de fuga total gerado
artificialmente, de forma analgica (em hardware) ou digital (em software).
Tenso
U = Uc
Corrente de fuga
i = 0,20,3 mA
Corrente resistiva
ir = 10600 A
dU/dt = 0
Tempo
T
e
n
s
o
d
e
t
e
s
t
e
,
c
o
r
r
e
n
t
e
d
e
f
u
g
a
44
No entanto, o sinal de corrente capacitiva gerado deve possuir amplitude e ngulo de
defasagem corretos para que o resultado da subtrao corresponda componente resistiva real
da corrente de fuga. Para isso, esse sinal deve ser calibrado com dados especficos do bloco
no-linear, que variam de acordo com o fabricante e mtodo de produo utilizado.
Dessa forma, o mtodo no se mostra prtico para as aplicaes, considerando a
indisponibilidade desses dados para os mltiplos modelos, marcas e pocas de fabricao dos
milhares de para-raios em operao nos sistemas eltricos.
4.3.6.4.Mtodo de medio B3
O mtodo B3 da norma IEC 60099-5 similar ao mtodo A1 acima, com a diferena de
que os sinais de corrente de fuga total e tenso aplicada ao para-raios so processados para
extrao apenas da sua componente fundamental, eliminando-se todos os harmnicos.
Portanto, esse mtodo padece da mesma fragilidade do mtodo A1, que a
indisponibilidade de um sinal correspondente tenso aplicada aos terminais do para-raio, o
que limita o seu amplo emprego para a monitorao da corrente de fuga resistiva.
4.3.6.5.Mtodo de medio C
O mtodo C consiste no clculo das perdas dieltricas do para-raio, em Watts, que so
diretamente proporcionais corrente de fuga resistiva. Isso efetuado pela integrao no
tempo do produto da tenso aplicada ao para-raio e corrente de fuga total.
Portanto, esse mtodo padece da mesma fragilidade do mtodo A1, que a
indisponibilidade de um sinal correspondente tenso aplicada aos terminais do para-raio, o
que limita o seu amplo emprego para a monitorao da corrente de fuga resistiva.
4.3.7. Terceira harmnica da corrente de fuga
Se a tenso aplicada aos terminais do para-raio for livre de freqncias harmnicas, a
parcela capacitiva da corrente de fuga apresentaria apenas componentes na freqncia
fundamental. J a parcela resistiva da corrente de fuga apresentar componentes harmnicos
de diversas ordens, apesar de no existirem harmnicos na tenso, devido no-linearidade da
isolao.
45
Partindo dos pressupostos acima, a totalidade das componentes harmnicas da corrente de
fuga de natureza resistiva. Se for considerado ainda o pressuposto de que existe uma
proporcionalidade entre a totalidade da corrente de fuga resistiva e suas componentes
harmnicas, a medio das componentes harmnicas da corrente de fuga fornece um bom
indicador da corrente resistiva do para-raio.
A componente harmnica predominante na corrente de fuga dos para-raios a de terceira
ordem, de forma que esta, em geral, a nica componente utilizada para monitorao,
desprezando-se as demais.
Os mtodos A4, B1 e B2 do captulo 6 da norma IEC 60099-5 (13) empregam a medio
de terceira harmnica da corrente de fuga para a monitorao indireta da corrente resistiva,
conforme detalhado a seguir.
4.3.7.1.Mtodo de medio B1
O mtodo de medio B1 parte do pressuposto de que todos os componentes harmnicos
presentes na corrente de fuga total so resistivos, ou seja, a tenso aplicada ao para-raio livre
de harmnicos, de forma que no h harmnicos na corrente capacitiva.
No entanto, como a reatncia capacitiva da isolao inversamente proporcional
freqncia da tenso aplicada, nveis de harmnicos relativamente baixos na tenso podem
gerar harmnicos na corrente capacitiva comparveis magnitude total da corrente resistiva,
j que esta bem menor que a corrente capacitiva (36).
As variaes na medio da terceira harmnica da corrente de fuga em relao parcela
puramente resistiva da terceira harmnica so mostradas na Figura 11, a seguir. A faixa de
erro assinalada leva em considerao que a parcela resistiva da corrente de fuga pode
corresponder de 5% a 20% da corrente de fuga total, alm de variao de 0 a 360 graus na
fase da terceira harmnica na tenso (13).
Como indica a Figura 11, para contedo harmnico de apenas 1% na tenso, erros de at
100% podem ocorrer. Dessa forma, essa tcnica no se mostra adequada como mtodo
universal para a monitorao de para-raios.
46
Figura 11 Erro na avaliao da corrente de fuga resistiva devido a harmnicos na tenso do
sistema. Fonte: (13), adaptada.
4.3.7.2.Mtodo de medio B2
O mtodo de medio B2 um aperfeioamento do mtodo B1, com a incluso da
compensao dos harmnicos da tenso do sistema.
Isso obtido atravs de um sensor de campo eltrico prximo base do para-raio, com o
objetivo de amostrar a forma de onda e a fase da tenso aplicada ao equipamento (13), (22).
Dessa forma so ultrapassadas as limitaes do mtodo B2 no que diz respeito aos erros
provocados pelos harmnicos na tenso do sistema. No entanto, devem ser levadas em
considerao outras limitaes inerentes monitorao indireta da corrente resistiva por meio
da medio do terceiro harmnico, conforme demonstrado no captulo 4.3.7.4.
4.3.7.3.Mtodo de medio A4
O mtodo de medio A4 consiste na medio da somatria das correntes de fugas dos
para-raios das trs fases do sistema. Supondo que as trs correntes capacitivas tenham
aproximadamente a mesma magnitude, a defasagem de 120 graus entre as fases do sistema faz
com que as correntes capacitivas se anulem. A terceira harmnica das correntes resistivas, por
outro lado, se somam algebricamente, de forma que o aumento na corrente resistiva de uma
Terceira harmnica na tenso do sistema %
E
r
r
o
d
e
a
v
a
l
i
a
o
%
Faixa de erro
47
das fases, com o consequente aumento de sua terceira harmnica, se faria sentir e poderia ser
detectado pela medio da somatria das correntes.
Entretanto, um dos pontos fracos do mtodo est justamente em seu pressuposto bsico:
na prtica as correntes de fuga capacitivas dos para-raios podem ter magnitudes bastante
diferentes, no apenas por diferenas na capacitncia dos para-raios, mas tambm devido a
diferentes capacitncias parasitas de acoplamento nas trs fases da instalao (13).
Alm disso, assim como o mtodo de medio B1, o mtodo A4 parte do pressuposto de
que todos os componentes harmnicos presentes na corrente de fuga total so resistivos, ou
seja, a tenso aplicada ao para-raio livre de harmnicos, de forma que no h harmnicos na
corrente capacitiva.
Portanto, pelos motivos acima, essa tcnica no se mostra adequada como mtodo
universal para a monitorao de para-raios.
4.3.7.4.Limitaes da monitorao por medio de 3 harmnico
Como explanado acima, a medio de terceiro harmnico da corrente de fuga utilizada
como uma indicao indireta da magnitude da corrente resistiva, a partir do pressuposto de
que existe sempre uma proporcionalidade entre a corrente resistiva total e sua componente de
terceiro harmnico.
Dessa forma, uma degradao da isolao que leve a um aumento da corrente de fuga
resistiva faria necessariamente aumentar a componente de terceira harmnica dessa mesma
corrente.
Embora isso seja verdadeiro para degradaes internas nos blocos de resistores no-
lineares, tais como aquelas provocadas por correntes de descarga muito elevadas, que alteram
a curva V-I do para-raio, existem modos de falha em que isso no ocorre. Segundo (27), a
degradao dos blocos de ZnO devido reduo de oxignio em suas bordas causa o
deslocamento da curva V-I, mas no altera sua inclinao, de forma que a componente
fundamental da corrente resistiva se altera, mas o mesmo no ocorre com a terceira
harmnica. Dessa forma, a monitorao de para-raios pela medio de terceira harmnica
seria insensvel a esse modo de falha.
De forma similar, o ingresso de umidade nos para-raios causa aumento da corrente
resistiva, ao criar caminhos de circulao de corrente resistiva paralelos aos blocos de ZnO.
48
Tambm nesse caso, obviamente, a corrente resistiva eleva-se sem que a componente de
terceira harmnica se altere (27).
O primeiro modo de falha mencionado acima, no detectvel pela medio de terceira
harmnica reduo de oxignio na borda dos blocos de ZnO, poderia ser considerado
relativamente raro, no ocasionando prejuzo importante para o diagnstico de para-raios por
esse mtodo.
J a possibilidade de no deteco de entrada de umidade no para-raio pode prejudicar
seriamente a efetividade do mtodo, considerando que praticamente todos os trabalhos
publicados a respeito de falhas em para-raios mencionam a perda de estanqueidade como o
modo de falha mais comum, tanto em para-raios de SiC quanto de ZnO.
Outra possibilidade que no pode ser desprezada, principalmente em para-raios de SiC,
que tem construo mais intrincada, a ocorrncia de problemas mecnicos internos, como a
quebra de centelhadores e a quebra ou desconexo de resistores de equalizao. Tais modos
de falha podem no afetar a terceira harmnica da corrente de fuga, passando despercebidos a
esse mtodo de diagnstico.
Para verificar essa hiptese, foram analisados os relatos dos ensaios realizados em 12
(doze) para-raios de SiC, sendo seis de tenso nominal 85 kV e outros seis de 132 kV,
disponveis na referncia (6).
Nessa anlise puderam constatar-se 5 (cinco) para-raios em que as medies de terceiro
harmnico da corrente de fuga tm valores comparativamente baixos, porm outros ensaios
realizados e/ou a inspeo interna dos para-raios constataram problemas graves. Os resultados
dos ensaios, reportados em (6), so mostrados de forma resumida na Tabela 3 a seguir.
As clulas marcadas em vermelho indicam ensaios ou inspees em que foram
constatados problemas nos para-raios. As clulas em verde indicam medies de terceira
harmnica de corrente de fuga com valores relativamente baixos comparando com o conjunto
de para-raios.
Observa-se que as amostras A1, A5, A6, B3 e B5, apesar de apresentarem diversos
problemas nos demais ensaios, esto entre as que apresentam os menores contedos de
terceira harmnica.
Dentre os para-raios do fabricante A, tomando como exemplo a amostra A5, verifica-se
uma elevao de temperatura anormal na medio com termovisor, indicando a presena de
elevada corrente de fuga resistiva. As amostras A1 e A6, apesar de reprovados no ensaio de
49
tenso disruptiva freqncia industrial (na amostra foi impossvel a realizao do ensaio),
tambm tem terceira harmnica baixa.
Nos para-raios do fabricante B, a desmontagem da amostra B3 para inspeo interna
revelou a presena de umidade e suporte de centelhador quebrado. A amostra B5, alm de ser
reprovada nos ensaios de tenso disruptiva freqncia industrial e RIV, foi encontrada com
centelhadores quebrados durante a inspeo interna.
Esses resultados vm confirmar as hipteses mencionadas acima, de que defeitos que no
necessariamente afetem a curva V-I dos resistores no-lineares dos para-raios, como entrada
de umidade e alteraes mecnicas, podem no ser detectados com a medio da terceira
harmnica da corrente de fuga.
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5. NOVO MTODO DE DIAGNSTICO PROPOSTO
5.1. Limitaes dos mtodos de diagnstico atuais
Como apresentado resumidamente no Captulo 4, diversas tcnicas foram desenvolvidas e
so utilizadas atualmente para o diagnstico de estado de para-raios de carboneto de silcio e
xido de zinco.
Dentre elas, foram apresentadas com maior detalhamento as tcnicas que mais se
aproximam da necessidade que se busca atender nesse trabalho, apresentada no Captulo 1.3,
que o desenvolvimento de novas tcnicas de diagnstico contnuo e em tempo real do estado
dos para-raios, que dispensem desligamento do equipamento e o uso de mo-de-obra, de
forma a reduzir o risco de falhas, elevar a confiabilidade do sistema, reduzir o risco de
interrupes no fornecimento de energia, ao mesmo tempo em que se reduzam os custos de
operao e manuteno das empresas, alm de permitir o melhor gerenciamento dos ativos at
seu fim de vida til e a migrao da manuteno preventiva (baseada no tempo) para a
preditiva (baseada no estado).
Foi demonstrado que, mesmo as tcnicas que mais se aproximam dessa necessidade,
possuem fatores limitantes de diferentes naturezas, como resumido na Tabela 4 abaixo para os
para-raios de SiC e na Tabela 5 a seguir para os para-raios de ZnO.
52
Tabela 4 Tcnicas atuais de diagnstico de para-raios de SiC e suas desvantagens
Tcnicas de diagnstico Desvantagens
Tenso de rdio-interferncia
Elevadas interferncias
eletromagnticas em subestaes que
dificultam as medies e o diagnstico
Descargas parciais
Elevadas interferncias
eletromagnticas em subestaes que
dificultam as medies e o diagnstico
Tenso residual corrente de descarga
nominal
Tcnica aplicvel apenas com o
equipamento fora de servio
Tenso disruptiva freqncia
industrial
Tcnica aplicvel apenas com o
equipamento fora de servio
Tenso disruptiva em impulso
Tcnica aplicvel apenas com o
equipamento fora de servio
Perdas dieltricas
Tcnica aplicvel apenas com o
equipamento fora de servio
Resistncia de isolamento
Tcnica aplicvel apenas com o
equipamento fora de servio
Medio de temperatura por termoviso
- Monitorao no contnua
- Alta demanda de mo-de-obra
- Sujeito a influncias do operador na
medio
- Dificuldade de interpretao dos
resultados
Medio de corrente de fuga total
Baixa sensibilidade a defeitos
Medio de 3 harmnica da I de fuga
Insensvel a defeitos que no alterem a
curva V-I dos resistores no lineares,
tais como ingresso de umidade, reduo
de O
2
e alteraes mecnicas
53
Tabela 5 Tcnicas atuais de diagnstico de para-raios de ZnO e suas desvantagens
Tcnicas de diagnstico Desvantagens
Descargas parciais
Elevadas interferncias
eletromagnticas em subestaes que
dificultam as medies e o diagnstico
Determinao da tenso de referncia
Tcnica aplicvel apenas com o
equipamento fora de servio
Levantamento da curva V-I
Tcnica aplicvel apenas com o
equipamento fora de servio
Perdas dieltricas
Tcnica aplicvel apenas com o
equipamento fora de servio
Medio de temperatura por termoviso
- Monitorao no contnua
- Alta demanda de mo-de-obra
- Sujeito a influncias do operador na
medio
- Dificuldade de interpretao dos
resultados
Temperatura por sensores passivos
Aplicvel apenas a para-raios novos
Corrente de fuga resistiva mtodo A1
(13)
Necessita sinal da tenso aplicada ao
para-raio (TP ou similar)
Corrente de fuga resistiva mtodo A2
(13)
Necessita capacitor de referncia
conectado alta tenso
Corrente de fuga resistiva mtodo A3
(13)
Necessita dados de cada modelo,
fabricante e lote de blocos no-lineares
Corrente de fuga resistiva mtodo B3
(13)
Necessita sinal da tenso aplicada ao
para-raio (TP ou similar)
Corrente de fuga resistiva mtodo C
(13)
Necessita sinal da tenso aplicada ao
para-raio (TP ou similar)
3 harmnica da corrente de fuga
mtodo B1 (13)
- Sujeito a erros devido a harmnicos na
tenso.
- Insensvel a defeitos que no alterem a
curva V-I dos resistores no lineares,
tais como ingresso de umidade, reduo
de O
2
e alteraes mecnicas
3 harmnica da corrente de fuga
mtodo B2 (13)
Insensvel a defeitos que no alterem a
curva V-I dos resistores no lineares,
tais como ingresso de umidade, reduo
de O
2
e alteraes mecnicas
54
Tcnicas de diagnstico Desvantagens
3 harmnica da corrente de fuga
mtodo A4 (13)
- Necessita correntes capacitivas
equilibradas nas 3 fases.
- Sujeito a erros devido a harmnicos na
tenso.
- Insensvel a defeitos que no alterem a
curva V-I dos resistores no lineares,
tais como ingresso de umidade, reduo
de O
2
e alteraes mecnicas.
5.2. Caractersticas desejveis do novo mtodo
Buscando atender a necessidade apresentada acima, ser proposto a seguir um novo
mtodo de diagnstico de estado de para-raios, com as seguintes caractersticas principais:
Aplicvel em tempo real, com o equipamento em operao normal, e contnua, sem
necessidade de intervenes manuais peridicas;
Imune s interferncias eletromagnticas normalmente encontradas em subestaes de
alta tenso;
Imune existncia de harmnicos na tenso do sistema;
Aplicvel tanto a para-raios de SiC como de ZnO;
Aplicvel tanto a para-raios novos como j em operao;
Sensvel e capaz de diagnosticar os modos de falha mais comuns encontrados nesses
dois tipos de para-raios;
Monitorao baseada em medio de fcil obteno, portanto sem necessidade de
sinais adicionais que podem ser difceis de obter nas subestaes (medio de tenso
por TP, por exemplo).
5.3. Monitorao de capacitncia e resistncia equivalentes
O mtodo proposto consiste na monitorao da capacitncia e da resistncia equivalentes
do para-raio, conforme definidos no Captulo 3.1 para os para-raios de SiC e Captulo 3.2 para
os de ZnO.
55
O clculo desses parmetros capacitncia e resistncia equivalentes ser baseado
apenas na medio da corrente de fuga dos para-raios, sendo a forma de viabilizar esse
clculo sem lanar mo da medio de tenso do sistema explanada mais adiante.
A seguir so detalhadas as influncias que diferentes tipos de defeito no para-raio tm nos
parmetros capacitncia equivalente e resistncia equivalente, para as tecnologias de SiC e
ZnO.
5.3.1. Capacitncia e resistncia equivalentes de para-raios de SiC
Como demonstrado no captulo 3.1, um para-raio de SiC, em regime permanente, pode ser
representado por um modelo eltrico simplificado, que pode ser empregado para obteno de
um modelo reduzido, reproduzidos por convenincia na Figura 12 a seguir, partes (a) e (b)
respectivamente, onde:
C
SGi
capacitncia do conjunto de centelhadores i, com i de 1 a n;
R
EQi
o resistor de equalizao do conjunto i, com i de 1 a n;
C
SG
a capacitncia equivalente do modelo reduzido;
R
EQ
a resistncia equivalente do modelo reduzido.
Com base nesses modelos eltricos, possvel simular a ocorrncia de diferentes tipos de
defeitos no para-raio de SiC e observar seus efeitos na capacitncia e resistncia equivalentes
C
SG
e R
EQ
, que so os parmetros que se pretende monitorar com a nova tcnica de
diagnstico proposta.
56
(a) (b)
Figura 12 Modelos eltricos de um para-raio de SiC em regime permanente. (a) Modelo
simplificado; (b) Modelo reduzido.
As simulaes dessas condies de falha so demonstradas nos captulos seguintes,
utilizando-se as caractersticas eltricas de para-raios reais, obtidas a partir dos diversos
ensaios relatados na referncia (6), realizados em um total de 12 (doze) para-raios de SiC,
sendo 6 (seis) de um fabricante, denominado A, com classe de tenso 88 kV, e 6 (seis) de
outro fabricante, denominado B, com classe de tenso 138 kV, como j mostrado no
captulo 4.3.7.4 e na Tabela 3.
Mais especificamente, sero utilizados os dados dos para-raios da marca B, pelo fato de
que algumas das amostras (B1, B2 e B4) foram encontradas em condies aparentemente
boas, sendo aprovadas nos ensaios e inspees realizados. Dentre essas, a amostra B1 foi a
que apresentou melhores resultados, alm de ter sido submetida a desmontagem para inspeo
interna (B2 e B4 no foram desmontadas) e encontrada tambm em bom estado. Assim, a
amostra B1 ser utilizada nesse trabalho como referncia de para-raio em bom estado, para
comparao com as demais.
As capacitncias equivalentes e resistncias equivalentes para os seis para-raios ensaiados
so mostrados na Tabela 6 a seguir, juntamente com as medies de correntes de fuga e
ngulos de defasagem utilizados para seus clculos.
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Tabela 6Na Tabela 6 esto salientados em laranja os casos em que a capacitncia e/ou a
resistncia equivalente apresentaram desvios significativos em relao aos valores da amostra
de referncia B1.
A partir da fotografia de um desses para-raios desmontado para inspeo interna, mostrada
na Figura 13 a seguir, podemos observar que os mesmos so compostos por um total de 6
(seis) conjuntos de centelhadores em srie (a), sendo que cada conjunto, por sua vez,
composto por diversos centelhadores em srie, com um nico resistor de equalizao para
cada conjunto de centelhadores (b).
(a)
(b)
Figura 13 Configurao interna dos para-raios do fabricante B. (a) Conjuntos de
centelhadores e blocos de SiC em srie; (b) Detalhe de um conjunto de centelhadores. Fonte:
(6)
Adaptando o modelo eltrico genrico da Figura 12 para esse arranjo especfico obtemos o
modelo especfico da Figura 14 a seguir, no qual foi considerado que os seis conjuntos de
centelhadores so idnticos. Embora a observao da fotografia na Figura 13.(a) permita
observar que existem diferenas entre os seis conjuntos de centelhadores, tal simplificao
no invalida o modelo eltrico para os objetivos desse trabalho, que demonstrar os efeitos de
diversos tipos de defeitos nos parmetros eltricos equivalentes.
Blocos de SiC Conjuntos de centelhadores Blocos de SiC
Bobina auxiliar de extino
Resistor de equalizao
59
Partindo dessa premissa e utilizando os parmetros do modelo reduzido mostrados na
Tabela 6, cada um dos seis conjuntos de centelhadores pode ser representado pela
capacitncia C
SGi
e pela resistncia R
EQi
, conforme abaixo:
C
SGi
= 9,3 . 6
C
SGi
= 55,8 pF
R
EQi
= 934 / 6
R
EQi
= 155,7 M
Onde i vai de 1 a 6.
Figura 14 Modelo eltrico dos para-raios de SiC do fabricante B ensaiados na referncia (6).
60
5.3.1.1.Desconexo de resistores de equalizao
Na desmontagem de 3 (trs) para-raios do fabricante B, amostras B1, B3 e B5, conforme
reportado em (6), foi encontrado que a amostra B3 tinha o suporte do resistor de equalizao
de um dos blocos de centelhadores quebrado, como mostra a Figura 15 abaixo.
Figura 15 Suporte do resistor de equalizao quebrado encontrado durante inspeo interna
do para-raio B3. Fonte: (6)
De forma similar, a amostra B5 foi encontrada com diversos conjuntos de centelhadores
quebrados, mostrados na Figura 16 abaixo.
Figura 16 Conjuntos de centelhadores quebrados encontrado durante inspeo interna do
para-raio B5. Fonte: (6)
Os achados dessas inspees evidenciam a possibilidade de ocorrer a desconexo de um
ou mais resistores de equalizao de potencial dos centelhadores em para-raios de SiC. Como
causas hipotticas para esse tipo de defeito poderiam ser citados esforos mecnicos, devido a
61
campos magnticos elevados, causados por correntes de descarga de vrios kA, e os esforos
trmicos a que os centelhadores so submetidos quando da ocorrncia de descargas, alm de
danos causados por impactos durante o transporte, por exemplo.
Os efeitos da desconexo de um, dois ou trs resistores de equalizao sobre os
parmetros eltricos do para-raio so mostrados na Tabela 7 a seguir, onde observamos
elevaes da ordem de 20 %, 50 % e 100% na resistncia equivalente, com praticamente
nenhuma alterao na capacitncia equivalente em relao aos valores iniciais da Tabela 6. A
Figura 17, abaixo, ilustra a desconexo de um resistor no segundo conjunto de centelhadores,
mas o efeito o mesmo independente do conjunto afetado.
Figura 17 Para-raio de SiC do fabricante B (6) com um resistor de equalizao desconectado
62
Tabela 7 Parmetros eltricos de para-raio de SiC do fabricante B (6) com simulao de
desconexo de um, dois ou trs resistores de equalizao
Parmetro
Um resistor
desconectado
Dois resistores
desconectados
Trs resistores
desconectados
Valor Alterao Valor Alterao Valor Alterao
C
SG
(pF) 9,42 + 1,3 % 9,49 + 2,1 % 9,51 + 2,3 %
R
EQ
(M) 1123,7 + 20,3 % 1415,5 + 51,6 % 1911,6 + 104,7 %
Os resultados de simulaes so compatveis com os valores calculados a partir das
medies efetuadas para as amostras B3 e B5, mostrados na Tabela 6, que apresentavam
capacitncias de 8,1 e 9,9 pF, praticamente inalteradas em relao amostra de referncia B1
(9,3 pF), porm com resistncias bem mais elevadas: 1677 M e 2188 contra 934 M da
amostra B1.
Esses resultados indicam possvel desconexo de dois resistores de equalizao na
amostra B3 e trs na amostra B5.
Conclui-se, portanto, que o parmetro resistncia equivalente sensvel a este tipo de
defeito nos para-raios de SiC.
5.3.1.2.Resistores de equalizao alterados
Aps a desmontagem do para-raio B5, reportada em (6), foi levantada a curva V-I de cada
um de seus resistores de equalizao, sendo os resultados para trs deles mostrados na Figura
18 a seguir.
63
Figura 18 Curva V-I dos resistores de equalizao 1, 5 e 6 do para-raio B5. Fonte: (6)
Esses resistores tm caracterstica no-linear, que pode ser aproximada ao formato da
equao (10).
(10)
Onde: U a tenso aplicada ao resistor de equalizao;
a corrente que circula pelo resistor de equalizao;
uma constante, determinada pela geometria (comprimento e rea) do
resistor;
uma constante que expressa o grau de no linearidade do resistor,
determinada pelas caractersticas do material usado na sua fabricao.
O ajuste das constantes da equao (10) aos dados da Figura 18 resultou nos expoentes
mostrados na Tabela 8 a seguir. Foram utilizadas somente as medies nas tenses de 4, 6 e 8
kV, desprezando-se a medio em 2 kV, de forma a obter uma curva mais representativa da
operao do resistor com o para-raio na sua tenso nominal, da ordem de 13 kV por resistor
(80 kV divididos por seis). As diferenas em relao s constantes obtidas por (6) so devidas
principalmente ao uso em (6) de todas as medies para o clculo das constantes.
64
Tabela 8 Constantes para ajuste da equao (10) aos resistores no-lineares do para-raio B5
(6)
Constante Resistor 1 Resistor 5 Resistor 6
k 3,1682 1,5698 4,3302
n 0,2917 0,3569 0,3034
Observa-se que, para os resistores 1 e 6, foram obtidos valores praticamente idnticos para
o expoente n, cerca de 0,3, conforme esperado, j que todos os resistores so feitos do mesmo
material. As diferenas na constante k so devidas s diferenas dimensionais entre os
resistores. Segundo (6), os ensaios realizados em outros seis resistores equalizadores
resultaram tambm em curvas muito similares s dos resistores 1 e 6.
J para o resistor 5 observa-se expoente n cerca de 20% maior, da ordem de 0,36, o que
no seria esperado. Observa-se tambm que a constante k tem valor bastante inferior aos
outros dois resistores, o que resulta em valores de corrente cerca de 5 vezes maiores para um
mesmo valor de tenso aplicada ao resistor 5 (reduo de 80% na resistncia em relao ao
valor original). Isso indica a ocorrncia de algum tipo de degradao no resistor 5 ao longo da
operao do para-raio B5, no observada nos outros oito resistores ensaiados, possivelmente
causada por correntes de descarga muito elevadas, j que no foi constatada presena de
umidade nesse para-raio.
As constataes acima exemplificam outro tipo de defeito possvel em para-raios de SiC,
que a alterao de valor de um ou mais resistores equalizadores. As simulaes dos efeitos
de alteraes de valor de um dos resistores de equalizao sobre os parmetros eltricos do
para-raio so mostrados na Tabela 9 a seguir, supondo cenrios de reduo de 40% e 80% na
resistncia. So observadas redues de 9% e 25% aproximadamente na resistncia
equivalente, com aumentos moderados na capacitncia em relao aos valores iniciais da
Tabela 6.
65
Tabela 9 Parmetros eltricos de para-raio de SiC do fabricante B (6) com simulao de
alteraes em um dos resistores de equalizao
Parmetro
Reduo de 40 % em um dos
resistores de equalizao
Reduo de 80 % em um dos
resistores de equalizao
Valor Alterao Valor Alterao
C
SG
9,34 pF + 0,5 % 10 pF + 7,5 %
R
EQ
846,2 M - 9,4 % 696,9 M - 25,4 %
Conclui-se, portanto, que o parmetro resistncia equivalente sensvel a este tipo de
defeito nos para-raios de SiC, assim como o parmetro de capacitncia equivalente, de forma
moderada, apenas em caso de grandes redues no valor do resistor de equalizao.
Apesar de ter um de seus resistores de equalizao claramente alterado, os resultados das
simulaes na Tabela 9 no se refletiram com os valores calculados a partir das medies
efetuadas na amostra B5 antes de sua desmontagem, mostrados na Tabela 6.
Isso se deve, muito provavelmente, sobreposio com outro defeito na amostra B5, que
a existncia de diversos conjuntos de centelhadores quebrados, com provvel ocorrncia de
resistores de equalizao desconectados, como j demonstrado no captulo 5.3.1.1.
5.3.1.3.Mdulo centelhador em curto-circuito
Como exposto no captulo 5.3.1.1, danos mecnicos aos conjuntos de centelhadores
podem levar desconexo acidental de seus resistores equalizadores. Da mesma forma,
possvel supor a possibilidade de que um ou mais centelhadores entrem em curto-circuito.
Isso poderia ser causado, por exemplo, pela quebra ou deslocamento dos espaadores
isolantes dos centelhadores.
Os efeitos do curto-circuito de um ou dois dos conjuntos de centelhadores sobre os
parmetros eltricos do para-raio do fabricante B (6) so mostrados na Tabela 10 a seguir,
onde observamos elevao de 20% e 50% na capacitncia equivalente, respectivamente,
simultaneamente a redues de aproximadamente 17% e 33% na resistncia equivalente,
tomando sempre como referncia os valores iniciais da Tabela 6.
66
Tabela 10 Parmetros eltricos de para-raio de SiC do fabricante B (6) com simulao de
curto-circuito de um ou dois conjuntos de centelhadores
Parmetro
Um centelhador em curto-
circuito
Dois centelhadores em curto-
circuito
Valor Alterao Valor Alterao
C
SG
11,2 pF + 20% 14 pF + 50%
R
EQ
778,3 M - 16,7% 622,7 M - 33,3%
Na eventualidade de um curto-circuito de dois conjuntos de centelhadores, de um total de
seis, como simulado acima, os quatro conjuntos restantes passam a dividir a tenso aplicada
aos terminais do para-raio, que antes era dividida por seis conjuntos. Dessa forma, cada
conjunto restante submetido a uma tenso 50% maior, mais que dobrando a potncia
dissipada por seus resistores de equalizao (1,5
2
= 2,25).
Com isso, razovel supor que esses resistores venham a sofrer degradao e alterar seus
valores, de forma similar ao observado na inspeo do para-raio B5 (6), relatado no captulo
5.3.1.2 acima, em que um resistor de equalizao foi encontrado com resistncia cerca de
80% menor que os demais.
A simulao do resultado final dessa seqncia de eventos mostrada na Tabela 11
abaixo, com dois conjuntos de centelhadores em curto-circuito e, nos demais conjuntos de
centelhadores, dois resistores de equalizao com reduo de 80% na resistncia e um com
reduo de 70%.
Tabela 11 Parmetros eltricos de para-raio de SiC do fabricante B (6) com simulao de
curto-circuito de dois conjuntos de centelhadores e trs resistores de equalizao alterados
Parmetro
Dois centelhadores em curto-circuito e trs
resistores de equalizao alterados
Valor Alterao
C
SG
16,2 pF + 74,4 %
R
EQ
193,4 M - 79,3 %
67
Como resultado, a capacitncia equivalente elevou-se a cerca de 16 pF (aumento de 74%)
e a resistncia equivalente reduziu-se a cerca de 193 M (reduo de 80%), resultado muito
similar ao observado nos ensaios no para-raio B6, mostrados na Tabela 6.
No se pode afirmar, contudo, que seja exatamente essa a condio real desse para-raio,
pois o mesmo no foi desmontado para inspeo interna (6), e diversas outras combinaes de
defeitos poderiam levar a esses mesmos resultados.
Conclui-se, portanto, que os parmetros capacitncia e resistncia equivalentes so
sensveis a este tipo de defeito nos para-raios de SiC.
5.3.1.4.Entrada de umidade
A perda de estanqueidade e conseqente entrada de umidade so reportadas como uma das
principais causas de problemas em para-raios. Alm de causar a degradao dos elementos
internos em para-raios de SiC, como oxidaes, por exemplo, a presena de gua cria
caminhos paralelos para a circulao de corrente de fuga resistiva.
Essa condio pode ser simulada como uma reduo uniforme da resistncia de todos os
resistores de equalizao, uma vez que a princpio todos estaro expostos mesma umidade.
Isso resulta numa reduo de igual valor na resistncia equivalente, como ilustra o exemplo da
Tabela 12 abaixo, em que os resistores de equalizao foram reduzidos em 20%, resultando
em reduo tambm de 20% na resistncia equivalente, enquanto a capacitncia equivalente
permanece inalterada.
Tabela 12 Parmetros eltricos de para-raio de SiC do fabricante B (6) com simulao de
entrada de umidade
Parmetro
Entrada de umidade, reduo de 20% nos
resistores de equalizao
Valor Alterao
C
SG
9,3 pF 0%
R
EQ
747,2 M - 20%
Esse pode ser o caso da amostra B4, como mostram os valores calculados a partir das
medies efetuadas, mostrados na Tabela 6, que apresenta capacitncia (8 pF) praticamente
68
inalterada em relao amostra de referncia B1 (9,3 pF), porm com resistncias
ligeiramente inferiores: 821 M contra 934 M da amostra B1.
Em casos como esse, em que a diferena relativamente pequena (-12%), a monitorao
contnua e em tempo real do parmetro permitiria observar se existe uma tendncia de
evoluo, comprovando a existncia de um defeito em evoluo no equipamento (entrada de
umidade), ou se h simplesmente uma diferena construtiva normal entre os para-raios.
Conclui-se, portanto, que o parmetro resistncia equivalente sensvel a este tipo de
defeito nos para-raios de SiC, principalmente se o diagnstico for feito com base na tendncia
de evoluo da resistncia. No entanto, como no existem dados de desmontagem do para-
raio da amostra B4 que permitam comprovar a hiptese de entrada de umidade, sugere-se que
em trabalhos futuros sejam realizados ensaios simulando essa condio para comprovao do
efeito final na resistncia equivalente.
5.3.1.5.Blocos de SiC ou outros componentes desconectados
A partir do modelo eltrico completo do para-raio de SiC, mostrado na Figura 4, observa-
se que a desconexo acidental de quaisquer dos elementos em srie com os centelhadores,
como os blocos de SiC e a bobina de extino de arco, fariam a corrente de fuga tender
teoricamente a zero na prtica, haveria grande reduo da corrente de fuga, que passaria a
ser ditada principalmente pelas capacitncias parasitas do ponto de desconexo.
Um defeito desse tipo, que poderia ser causado, por exemplo, por danos mecnicos ao
equipamento, seria enxergado no modelo reduzido como uma grande reduo da capacitncia
equivalente, que tenderia ao valor das capacitncias parasitas do ponto de desconexo.
Dessa forma, verifica-se que o parmetro capacitncia equivalente sensvel a este tipo de
defeito nos para-raios de SiC.
5.3.1.6.Alteraes nos blocos de SiC
Como exposto no captulo 3.1, os blocos de carboneto de silcio tem resistncia
comparativamente muito menor que os blocos de centelhadores e suas resistncias de
equalizao. Por isso, os mesmos no tm praticamente influncia sobre a corrente de fuga e
sobre os parmetros capacitncia equivalente e resistncia equivalente do modelo eltrico
reduzido.
69
Dessa forma, esses parmetros no se mostram sensveis a eventuais alteraes na curva
V-I dos blocos de SiC.
No entanto, os principais fatores que causam deteriorao dos blocos de SiC, como a
perda de estanqueidade com ingresso de umidade e as correntes de descarga elevadas, tendem
a causar alteraes tambm nos resistores de equalizao, como citado no captulo 5.3.1.2,
alm de causar a circulao de corrente resistiva por caminhos paralelos a estes, como
menciona o captulo 5.3.1.4.
Com isso, existe a possibilidade de que esses fatores, se levarem degradao dos blocos
de SiC, sejam detectados a partir da deteriorao causada em outros elementos do para-raio.
Cumpre ressaltar que, devido a essa caracterstica de baixa impedncia dos blocos de SiC,
outras tcnicas de diagnstico, como as medies de terceiro harmnico da corrente de fuga e
de temperatura por termoviso tm exatamente a mesma dificuldade em detectar a degradao
dos mesmos.
A anlise do modelo eltrico do para-raio de SiC permite concluir que as medies de
terceira harmnica na corrente de fuga obtidas na referncia (6) so geradas pelos resistores
de equalizao no-lineares, e no pelos blocos de SiC, assim como as elevaes de
temperatura observadas.
5.3.2. Capacitncia e resistncia equivalentes de para-raios de ZnO
Como demonstrado no captulo 3.2, um para-raio de ZnO em regime permanente pode ser
representado por um modelo eltrico completo, que pode ser empregado para obteno de um
modelo reduzido, reproduzidos por convenincia na Figura 19 a seguir, partes (a) e (b)
respectivamente, onde:
C
Bj
a capacitncia do bloco de xido de zinco j, com j variando de 1 a m;
R
Bj
a resistncia do bloco de xido de zinco j, com j variando de 1 a m;
C
B
a capacitncia equivalente do modelo reduzido;
R
B
a resistncia equivalente do modelo reduzido.
Com base nesses modelos eltricos, possvel simular a ocorrncia de diferentes tipos de
defeitos no para-raio de ZnO e observar seus efeitos na capacitncia e resistncia equivalentes
C
B
e R
B
, que so os parmetros que se pretende monitorar com a nova tcnica de diagnstico
proposta.
70
(a) (b)
Figura 19 Modelos eltricos de um para-raio de ZnO em regime permanente. (a) Modelo
completo; (b) Modelo reduzido.
As simulaes dessas condies de falha so demonstradas nas sees seguintes,
utilizando-se as caractersticas eltricas aproximadas de um para-raio real, obtidas a partir dos
testes reportados na referncia (12), realizados em um para-raio de ZnO, como j citado no
captulo 3.2.
Onde dados de ensaios em para-raios reais com defeitos estiverem disponveis, estes sero
apresentados para ilustrao. Caso contrrio, as situaes de falhas sero apenas simuladas.
Os parmetros capacitncia equivalente e resistncia equivalente para um para-raio em
bom estado so os j mostrados na Tabela 2, reproduzida a seguir na Tabela 13 por
convenincia.
Tabela 13 Parmetros eltricos equivalentes para o para-raio de ZnO ensaiado na referncia
(12)
Para-raio de 266 kV
C
B
15,9 pF
R
B
5320 M
No existem dados disponveis a respeito da forma construtiva do para-raio ensaiado na
referncia (12), principalmente o nmero de blocos de ZnO que o compe. No entanto, de
acordo com a referncia (8), um para-raio desse nvel de tenso (266 kV fase-terra, tenso do
71
sistema 420 kV fase-fase) constitudo por cerca de 66 blocos de ZnO em srie. Dessa forma,
o ndice m dos parmetros da Figura 19 igual a 66.
Partindo dessa premissa, cada um dos 66 blocos de ZnO representado pela capacitncia
C
Bi
de 1,05 nF e pela resistncia R
Bi
de 80,6 M, o que resulta nos parmetros do modelo
reduzido mostrados na Tabela 13.
5.3.2.1.Blocos de ZnO alterados
Vrios fatores podem causar a degradao dos blocos de ZnO de um para-raio, como a
ocorrncia de descargas com energia superior quela para a qual os blocos foram projetados, a
reduo de oxignio nas suas bordas ou os estresses causados pela tenso do sistema aplicada
aos blocos, nas primeiras geraes de para-raios de ZnO (27).
Essas deterioraes causam alteraes na curva V-I do para-raio, como ilustra a Figura 20
abaixo (27), de forma que a corrente de fuga resistiva tende a aumentar para um mesmo valor
de tenso aplicada.
Segundo (27), alteraes causadas por reduo de oxignio no seriam detectadas pela
monitorao da terceira harmnica da corrente de fuga, pois como mostra a Figura 20, a curva
V-I se desloca, mas no altera sua inclinao, de forma que a componente fundamental da
corrente resistiva aumenta, mas a componente de terceiro harmnico permanece constante.
Figura 20 Alterao da curva V-I de para-raios de ZnO. Fonte: (27)
U / Uc [p.u.]
C
o
r
r
e
n
t
e
(
m
A
)
Varistor degradado por
reduo de oxignio
Varistor degradado por
alto estresse de impulso
Varistor novo
72
As simulaes de dois cenrios, um com reduo de 30% na resistncia de cerca de
metade dos blocos do para-raio (35 blocos) e outro com reduo de 70% da resistncia de
10% dos blocos (7 blocos) so mostradas na Tabela 14 abaixo.
Em ambos os casos so observadas redues da ordem de 20% na resistncia equivalente,
sem alteraes na capacitncia em relao aos valores iniciais da Tabela 13.
Tabela 14 Parmetros eltricos de para-raio de ZnO com simulaes de alteraes nos
blocos no-lineares
Parmetro
Reduo de 30% em 35 blocos Reduo de 70% em 7 blocos
Valor Alterao Valor Alterao
C
B
15,9 pF 0% 15,9 pF 0%
R
B
4335 M - 18,5% 4270 M - 19,7%
A referncia (37) apresenta diversos dados de ensaios em blocos varistores individuais,
utilizados para a construo de para-raios comerciais para sistemas de transmisso, que
corroboram os efeitos de blocos de ZnO alterados sobre a resistncia equivalente do para-raio.
Nesses ensaios foram utilizados 14 blocos de ZnO com as caractersticas mostradas na
Tabela 15 abaixo.
Tabela 15 Caractersticas dos blocos de ZnO usados nos ensaios da referncia (37)
Caracterstica Especificao
Tenso Nominal 4,0 kVrms
Mxima tenso contnua de operao (MCOV) 3,4 kVrms
Corrente de descarga nominal 10,0 kA
Corrente de referncia (Iref) 1,0 mA
Tenso de referncia mnima (Irefm) 4,2 kVrms
Tenso residual mdia 12,0 kV
Classe de descarga de linhas de transmisso Classe 1
Diferentes tipos de estresses de degradao foram aplicados em amostras distintas dos
blocos de ZnO, conforme detalhado na Tabela 16, a seguir.
73
Tabela 16 Estresses de degradao aplicados aos blocos de ZnO da referncia (37)
Estresse Caractersticas
Amostras
submetidas
Degradao por
ciclos de impulsos
atmosfricos
4 grupos de quinze impulsos, cada um com:
- Correntes de pico 10 kA nos grupos 1 e 3
- Correntes de pico 15 kA nos grupos 2 e 4
- Formato 8/20 s
- Intervalos da ordem de 1 minuto entre impulsos
5
6
16
22
Degradao por
impulsos de
mltiplas descargas
6 grupos de 5 impulsos, cada um com:
- Pico 10 kA, 8/20 s
- Intervalo entre impulsos 20 a 40 ms
Intervalos da ordem de 1 minuto entre grupos
10
11
12
13
Degradao por
impulsos de corrente
suportvel de longa
durao
6 grupos de trs impulsos, cada um com:
- Energia 5,44 kJ (1,36 kJ/kV)
- Durao virtual de crista 2000 s
- Intervalos da ordem de 1 minuto entre impulsos
Resfriamento temperatura ambiente entre grupos
8
20
29
30
Antes e aps os ensaios de degradao, as mesmas amostras listadas na Tabela 16 foram
submetidas aos seguintes ensaios no destrutivos, a fim de verificar a degradao ocorrida nas
amostras devido aos estresses aplicados, com exceo das amostras 8, 13 e 22, que foram
submetidas a ensaios metalogrficos (37):
Curva caracterstica V-I, de 0,4 a 4,2 kVrms
Curva caracterstica V-C (tenso-capacitncia), de 0,4 a 4,2 kVrms
Curva caracterstica V-TanD (tenso-tangente delta), de 0,4 a 4,2 kVrms
Tenso residual corrente de descarga nominal (10 kA)
Tenso de referncia corrente de referncia (1 mA)
Corrente de polarizao e despolarizao.
Durante a aplicao dos seus respectivos estresses de degradao, conforme Tabela 16, as
amostras 5, 16, 22, 10 e 12 sofreram descargas na superfcie lateral do bloco, e por isso no
tiveram a curva caracterstica V-I levantada aps a degradao (37). No entanto, as curvas
caractersticas V-C e V-TanD foram levantadas, aps a degradao, para os valores iniciais de
74
tenso (37), o que fornece informaes interessantes a respeito dos efeitos das degradaes na
capacitncia equivalente e na resistncia equivalente dos para-raios, uma vez que a tangente
delta a razo entre a componente resistiva e a capacitiva do bloco, sendo diretamente
proporcional, portanto, corrente resistiva deste, como mostra a Figura 21.
Os principais resultados de medies de capacitncia e tangente durante o levantamento
das curvas V-C e V-TanD antes e aps o estresse das amostras 5, 16, 10 e 12, que sofreram
descarga na superfcie lateral do bloco (37), so mostrados nas Tabelas 17, 18, 19 e 20 a
seguir, juntamente com a variao percentual desses parmetros.
Tabela 17 Variao de capacitncia e tangente delta do bloco 5 antes e aps descarga na sua
lateral (37).
Tenso
(kV)
Capacitncia Tangente Delta
Antes
(pF)
Depois
(pF)
Variao
Antes
(pu)
Depois
(pu)
Variao
0,4 167,5 180,0 +7,5 % 0,033 0,063 +90,9 %
0,8 165,7 188,3 +13,6 % 0,033
0,112
+239 %
3,4
(MCOV)
149,4 - - 0,088 - -
3,6 149,2 - -
0,110
- -
4,0
(Un)
150,7 - - 0,206 - -
Figura 21 Tangente Delta dos blocos de ZnO
I
C
I
R
I
FUGA
tan = I
R
/ I
C
75
Enquanto as variaes de capacitncia da amostra 5 aps a degradao foram modestas,
digna de nota a grande variao na tangente delta, mais de 3 vezes o valor original com
apenas 0,8 kV. Observar tambm que com apenas 0,8 kV o valor da tangente delta j era
superior ao que era observado com 3,6 kV, maior que a tenso contnua de operao (3,4 kV).
Esses resultados indicam a grande elevao ocorrida na corrente resistiva do para-raio, e,
portanto, a grande reduo ocorrida em sua resistncia equivalente, como predito pelas
simulaes com o modelo simplificado para o caso de alteraes nos blocos de ZnO, como
mostrado na Tabela 14.
Tabela 18 Variao de capacitncia e tangente delta do bloco 16 antes e aps descarga na
sua lateral (37).
Tenso
(kV)
Capacitncia Tangente Delta
Antes
(pF)
Depois
(pF)
Variao
Antes
(pu)
Depois
(pu)
Variao
0,4 207,4 281,9 +35,9 % 0,027 0,559 +1970 %
0,8 207,2 279,0 +34,7 % 0,030 1,110 +3600 %
3,4
(MCOV)
187,6 - - 0,093 - -
3,6 185,5 - - 0,111 - -
4,0
(Un)
188,2 - - 0,205 - -
De forma similar ao ocorrido na amostra 5, a amostra 16 tambm apresenta variaes
modestas nas capacitncias e alteraes muito grandes na tangente delta, porm bem mais
acentuadas que as verificadas na amostra 5. Com apenas 0,4 kV a tangente delta j era
superior verificada anteriormente tenso nominal de 4 kV, atingindo valores 37 vezes os
originais.
Portanto, a amostra 16 confirma tambm a reduo na resistncia equivalente do para-raio
causada por alteraes nos blocos de ZnO.
Tanto a amostra 5 quanto a 16 sofreram deteriorao devido aplicao de ciclos de
impulsos atmosfricos com picos de at 15 kA, superiores, portanto, corrente de descarga
nominal de 10 kA, simulando degradaes que podem ocorrer nas aplicaes reais.
76
Tabela 19 Variao de capacitncia e tangente delta do bloco 10 antes e aps descarga na
sua lateral (37).
Tenso
(kV)
Capacitncia Tangente Delta
Antes
(pF)
Depois
(pF)
Variao
Antes
(pu)
Depois
(pu)
Variao
0,4 161,0 145,6 -9,6 % 0,031 0,038 +22,6 %
0,8 161,0 154,3 -4,2 % 0,034 0,166 +388 %
1,2 160,8 163,6 +1,7 % 0,038 0,342 +800 %
3,4
(MCOV)
147,7 - - 0,092 - -
3,8 147,9 - - 0,142 - -
4,0
(Un)
149,9 - - 0,211 - -
4,2 152,5 - - 0,319 -
Tabela 20 Variao de capacitncia e tangente delta do bloco 12 antes e aps descarga na
sua lateral (37).
Tenso
(kV)
Capacitncia Tangente Delta
Antes
(pF)
Depois
(pF)
Variao
Antes
(pu)
Depois
(pu)
Variao
0,4 163,2 141,7 -13,2 % 0,028 0,036 +28,6 %
0,8 163,1 147,0 -9,9 % 0,031 0,072 +132,3 %
3,2 149,4 - - 0,073 - -
3,4
(MCOV)
148,4 - - 0,086 - -
4,0
(Un)
149,7 - - 0,200 - -
De forma similar ao observado nas amostras 5 e 16, a amostra 10 apresentou aumento
significativo em sua tangente delta aps a ocorrncia de descarga em sua superfcie lateral,
800% em comparao com o valor original. Foram observadas tambm redues na
77
capacitncia nos mesmos valores de tenso, sem uma explicao aparente, mas que no
invalidam a constatao de reduo da resistncia equivalente aps a degradao da amostra.
Apesar de ter apresentado variaes menores aps a degradao quando comparada s
amostras 5, 16 e 10, constata-se tambm na amostra 12 incremento aprecivel na tangente
delta. Isso fica claro ao se observar que com apenas 0,8 kV a tangente delta j tinha valor
igual ao obtido anteriormente com 3,2 kV, j prximo da tenso mxima para operao
contnua. Embora no tenha sido medido nesse ensaio, fica claro que quando submetida s
tenses normais de operao, essa amostra, assim como as demais, apresentaria valores de
tangente delta extremamente altos.
Portanto, as amostras 10 e 12 confirmam tambm a reduo na resistncia equivalente do
para-raio causada por alteraes nos blocos de ZnO. Ambas as amostras sofreram
deteriorao devido aplicao de impulsos de mltiplas descargas, com picos de corrente de
10 kA, dentro do limite nominal dos blocos, porm uma elevada taxa de repetio, simulando
degradaes que podem ocorrer nas aplicaes reais.
Alm dos desgastes decorrentes diretamente das sobretenses e sobrecorrentes a que
foram submetidas, as amostras 5, 16, 10 e 12 sofreram tambm com uma descarga em sua
superfcie lateral.
A descarga lateral no ocorreu com as amostras 6, 11, 20, 29 e 30, cujas variaes de
capacitncia e tangente delta so apresentadas de forma resumida nas Tabelas 21 e 22 a
seguir.
Tabela 21 Variaes de capacitncia dos blocos 6, 11, 13, 20, 29 e 30 aps estresses (37).
Tenso
(kV)
Variaes de capacitncia (%)
Amostra
6
Amostra
11
Amostra
20
Amostra
29
Amostra
30
0,4 +0,5 -9,7 0,0 +0,8 +9,9
0,8 +1,2 -9,7 +0,1 +0,7 +9,9
3,4
(MCOV)
+2,4 -5,5 +0,6 -1,4 +9,4
3,6 +2,4 -5,4 -0,1 -0,8 +9,6
4,0
(Un)
+2,7 -4,8 -0,4 -0,9 +9,8
78
Tabela 22 Variaes de tangente delta dos blocos 6, 11, 13, 20, 29 e 30 aps estresses (37).
Tenso
(kV)
Variaes de Tangente Delta (%)
Amostra
6
Amostra
11
Amostra
20
Amostra
29
Amostra
30
0,4 +4,2 +4,3 -7,7 -4,2 0,0
0,8 +23,1 +7,7 -6,9 -7,1 -3,6
3,2 +70,5 +16,3 +2,2 -3,4 +6,4
3,4
(MCOV)
+62,6 +11,0 +1,8 -2,8 +7,0
4,0
(Un)
+59,1 +6,0 +0,5 -2,0 +2,3
Conforme seria esperado para o tipo de estresse aplicado s amostras 6, 11, 20, 29 e 30, as
capacitncias no apresentaram variaes importantes, sendo difcil afirmar se as mesmas
realmente refletem alteraes nos blocos de ZnO ou se so devidas s imprecises e
incertezas da medio.
O mesmo ocorre com as medies de tangente delta das amostras 20, 29 e 30. J as
amostras 6 e 11, apesar de apresentarem mudanas modestas ou pequenas na tangente delta,
tiveram variaes coerentes com os resultados observados nas amostras em que houve
descarga lateral, com destaque para a amostra 6.
Essa concluso se baseia no fato de que, dos 3 tipos de estresses de degradao utilizados,
os que se basearam em corrente suportvel de longa durao no causaram descarga lateral
em nenhuma amostra. coerente, portanto, que as amostras 20, 29 e 30 no apresentem
qualquer sinal de alterao nas medies de capacitncia e tangente delta, o que indica que
esse tipo de estresse no tem grande poder de degradao para o tipo de bloco de ZnO
ensaiado.
A amostra 6, pertencente ao grupo em que 3 das 4 amostras estressadas apresentaram
descarga lateral, apesar de ser a nica a escapar ilesa, apresentou variao visvel na
tangente delta, superior a 60 % na tenso mxima de operao contnua. provvel que, se a
mesma continuasse a ser submetida a estresses, o aumento da tangente delta (e a reduo da
resistncia equivalente) evolusse acentuadamente, o que seria detectado pela nova tcnica de
diagnstico proposta nesse trabalho.
79
J a amostra 11, pertencente ao grupo em que 2 das 4 amostras apresentaram descargas
laterais, apresentou alteraes visveis, porm pequenas na tangente delta, o que coerente
com o fato de ser esse um tipo de estresse um pouco menos exigente para os mdulo de ZnO
empregados (50% das amostras apresentaram descarga).
Portanto, com base nas simulaes efetuadas e nos resultados de ensaios com blocos de
ZnO da referncia (37), possvel concluir que o parmetro resistncia equivalente sensvel
a defeitos que causem alteraes nos para-raios de ZnO.
De forma complementar, interessante notar que os ensaios de tenso residual realizados
antes e aps as degradaes (37) comprovam que as alteraes na curva V-I dos para-raios
ocorre na sua regio linear, e no na regio de descarga, conforme afirma a literatura,
ilustrada pela Figura 22 abaixo.
Figura 22 Alterao na regio linear da curva V-I de para-raios de ZnO aps estresse. Fonte:
(37)
De fato, os resultados obtidos na referncia (37) mostram que os valores de tenso
residual antes e aps a degradao tm variaes desprezveis mesmo para os blocos que
apresentaram descarga pela superfcie lateral, como indicam os dados compilados na Tabela
23 a seguir.
80
Tabela 23 Variaes na tenso residual dos blocos antes e aps estresses (37).
Amostra
Tenso Residual a 10 kA
Antes
(kV)
Depois
(kV)
Variao
(%)
5 11,4 11,0 -3,5 %
16 10,9 10,7 -1,8 %
10 11,4 11,2 -1,8 %
12 11,3 10,8 -4,4 %
5.3.2.2.Entrada de umidade
A perda de estanqueidade e conseqente entrada de umidade so reportadas como uma das
principais causas de defeitos tambm nos para-raios de ZnO. Alm de causar a degradao
dos elementos internos, como oxidaes, por exemplo, a presena de gua cria caminhos
paralelos aos blocos para a circulao de corrente de fuga resistiva.
Segundo (27), esse tipo de defeito pode no ser detectado pela monitorao de terceira
harmnica da corrente de fuga, pois como o aumento da corrente no tem origem nos
resistores no-lineares, somente a componente fundamental da corrente resistiva alterada.
Essa condio pode ser simulada como uma reduo uniforme da resistncia de todos os
blocos de ZnO, uma vez que a princpio todos estaro expostos mesma umidade. Isso resulta
numa reduo de igual valor na resistncia equivalente, como ilustra o exemplo da Tabela 24
abaixo, em que os resistores de equalizao foram reduzidos em 20%, resultando em reduo
tambm de 20% na resistncia equivalente, enquanto a capacitncia equivalente permanece
inalterada.
81
Tabela 24 Parmetros eltricos de para-raio de ZnO com simulao de entrada de umidade
Parmetro
Entrada de umidade, reduo de 20% nos
resistores de equalizao
Valor Alterao
C
B
15,9 pF 0%
R
B
4256 M - 20%
Conclui-se, portanto, que o parmetro resistncia equivalente sensvel a este tipo de
defeito nos para-raios de ZnO, principalmente se o diagnstico for feito com base na
tendncia de evoluo da resistncia. Considera-se que a alterao de 20% aqui simulada seja
modesta em relao a condies que podem ser encontradas em campo; no entanto, como no
existem dados de ensaios que permitam comprovar essa hiptese, sugere-se que em trabalhos
futuros sejam realizados ensaios simulando essa condio para comprovao do efeito final na
resistncia equivalente.
5.3.2.3.Blocos de ZnO ou outros componentes desconectados
A partir do modelo eltrico do para-raio de ZnO, mostrado na Figura 19, observa-se que a
desconexo acidental de qualquer elemento em srie no circuito faria a corrente de fuga
tender teoricamente a zero na prtica, haveria grande reduo no seu mdulo, que passaria a
ser ditada principalmente pelas capacitncias parasitas do ponto de desconexo.
Um defeito desse tipo, que poderia ser causado por danos mecnicos ao equipamento,
seria visto no modelo reduzido como uma grande reduo da capacitncia equivalente, que
tenderia ao valor das capacitncias parasitas do ponto de desconexo.
Dessa forma, verifica-se que o parmetro capacitncia equivalente sensvel a este tipo de
defeito nos para-raios de ZnO.
82
6. MTODO DE MONITORAO EM TEMPO REAL
Este captulo apresenta uma proposta de mtodo para viabilizar a monitorao em tempo
real dos parmetros capacitncia equivalente e resistncia equivalente dos para-raios, de
forma a permitir o diagnstico contnuo do estado desses equipamentos utilizando o novo
mtodo descrito no captulo 5.
6.1. Limitaes para medio de tenso
Como demonstrado no captulo 5.3, a monitorao dos parmetros capacitncia
equivalente e resistncia equivalente dos para-raios de SiC e ZnO em regime permanente
permite detectar os principais tipos de defeitos envolvendo esses equipamentos.
Isso foi demonstrado, no caso dos para-raios de SiC, utilizando dados de medies
realizadas em laboratrio, publicadas em (6). Nesse caso, o clculo da capacitncia e
resistncia foi realizado de forma simples, utilizando, as medies de corrente de fuga e da
tenso aplicada ao para-raio, alm do ngulo de defasagem entre ambas.
No entanto, para aplicaes de monitorao em tempo real de para-raios em campo essa
estratgia apresenta dificuldades, pelo fato da medio de tenso aplicada ao equipamento no
estar disponvel, e nos casos em que esteja, o acesso mesma pode implicar em custos que
inviabilizariam economicamente a monitorao.
Dificuldade muito semelhante enfrentada na monitorao em tempo real de buchas
capacitivas, onde se busca monitorar a capacitncia e a tangente delta (ou fator de potncia)
da isolao. Nessa aplicao, a barreira citada ultrapassada com o uso da tcnica da soma
vetorial das correntes de fuga (38), (39), (40).
Nesse trabalho se buscar aplicar, sem alteraes, uma tcnica j existente no mercado,
que a da soma vetorial das correntes de fuga. Para tanto, as correntes de fuga dos trs para-
raios das trs fases, que compe um conjunto trifsico, so medidas simultaneamente com o
objetivo de monitorar as alteraes dos parmetros equivalentes da isolao, capacitncia e
resistncia, sem a necessidade de medio da tenso do sistema.
Deve ser feita distino clara entre o mtodo aqui proposto e o mtodo de diagnstico A4
da norma IEC 60099-5 (13), que tambm monitora a soma das correntes de fuga, porm com
o objetivo de anular a componente capacitiva das correntes de fuga e medir a somatria das
83
componentes de terceiro harmnico. O mtodo aqui proposto tem filosofia de funcionamento
e objetivo distintos.
6.2. Soma vetorial das correntes de fuga
Quando a tenso do sistema aplicada a um para-raio, uma corrente de fuga passa a
circular atravs de sua isolao, devido principalmente sua capacitncia, e em menor
proporo, s suas perdas, representadas pela resistncia da isolao.
A Figura 23 ilustra esta situao. Nela podemos observar, atravs do modelo eltrico
reduzido de um para raio, que pode ser de SiC ou ZnO, a composio das componentes
capacitiva e resistiva da corrente para gerar a corrente de fuga medida para a monitorao.
Figura 23 Correntes de fuga capacitiva e resistiva em um para-raio energizado
Na Figura 23 temos:
a tenso do sistema, aplicada ao para-raio;
a capacitncia equivalente do para-raio, do modelo reduzido;
a resistncia equivalente do para-raio, do modelo reduzido;
a corrente capacitiva;
a corrente resistiva;
a corrente de fuga medida.
As medies das correntes de fuga em cada um dos trs para-raios do sistema trifsico,
bem como a somatria das trs correntes, so realizadas nos cabos de aterramento dos
equipamentos, por meio de transformadores de corrente (TCs) de janela, de forma a no
interferir no aterramento dos para-raios. Para isso, suas bases devem estar isoladas dos
84
suportes, para garantir que toda a corrente de fuga passe pelo cabo de aterramento e seja
medida.
Cuidados especiais devem ser observados quanto localizao dos TCs nos cabos de
aterramento, tendo em vista que os grampos de fixao dos cabos podem criar caminhos
paralelos de circulao das correntes de fuga para terra, inserindo erros nas medies; dessa
forma, os TCs devem estar localizados prximos do ponto de conexo dos cabos aos terminais
de aterramento dos para-raios, antes, portanto, do primeiro grampo.
Tambm devem ser tomadas medidas para eliminao de possveis erros nas medies das
correntes de fuga causados por acoplamentos capacitivos e/ou indutivos com os condutores de
alta tenso. Em algumas aplicaes pode ser necessrio o uso de blindagens metlicas e
magnticas nos TCs e nos cabos de medio.
Para utilizao nesse mtodo, apenas as componentes fundamentais de todas as correntes
medidas devem ser utilizadas. Para isso, as medies devem ser submetidas a filtragens
adequadas para eliminao de todas as componentes harmnicas das medies.
Como as trs correntes de fuga esto defasadas entre si em aproximadamente 120, e
normalmente tem a mesma ordem de magnitude, a somatria das trs correntes tende a
apresentar valor menor que as correntes de fuga individuais, como ilustrado na Figura 24.(a)
abaixo para uma dada condio inicial de capacitncias e resistncias.
(a) (b)
Figura 24 Correntes de fuga de trs para-raios em um sistema trifsico e sua somatria. (a)
Para uma dada condio inicial; (b) com alterao na capacitncia e resistncia equivalentes
do para-raio da fase A
Supondo agora que ocorra uma alterao na capacitncia e na resistncia do para-raio da
fase A, como mostrado na Figura 24.(b), com aumento de suas correntes de fuga capacitiva e
resistiva, a alterao ocorrida na corrente de fuga I
a
reflete-se de forma idntica na somatria
das correntes.
85
Com isso, temos uma nova corrente somatria, alterada em relao inicial tanto em
mdulo quanto em ngulo. Ao decompor o vetor resultante da diferena entre a corrente
somatria final e a inicial nos eixos correspondentes tenso da mesma fase e no eixo
ortogonal a este, obtemos dois vetores que so proporcionais s alteraes, respectivamente,
na resistncia e na capacitncia do para-raio.
Como, na realidade, as tenses do sistema no esto disponveis para o sistema de
monitorao, a decomposio do vetor de alterao na corrente somatria, citada acima, pode
ser efetuada tomando como referncia o conjunto de correntes de fuga dos trs para-raios, que
permite estimar o ngulo das tenses. Contribui para o sucesso dessa estratgia o fato das
correntes de fuga serem predominantemente capacitivas, adiantadas, portanto, cerca de 90
graus eltricos em relao s suas respectivas tenses.
Para permitir a determinao das alteraes ocorridas na somatria das correntes
necessria uma referncia de valor inicial para a mesma. Essa referncia obtida em um
perodo de aprendizado inicial do sistema, durante o qual a corrente somatria inicial
determinada e gravada na memria do sistema de monitorao.
Observa-se, portanto, que os parmetros monitorados de fato por essa tcnica referem-se
s variaes ocorridas na capacitncia e na resistncia, e no a seus valores absolutos. Tal fato
no constitui problema, visto que o que indica a degradao em um para-raio a variao
desses parmetros, e no seus valores absolutos, como verificado nas simulaes
demonstradas no captulo 5.3.
No entanto, caso seja desejvel indicar para o usurio o valor absoluto dos parmetros ao
invs de suas variaes, basta que se programem no sistema os valores iniciais de capacitncia
e resistncia, obtidos por medies efetuadas com o equipamento fora de servio. A soma dos
valores iniciais com as variaes medidas corresponder ao valor atual dos parmetros.
Fica claro tambm que a corrente somatria influenciada no apenas pelas mudanas na
capacitncia e resistncia dos para-raios, mas tambm por alteraes nas tenses fase-terra do
sistema. Uma parte dessas influncias eliminada naturalmente por efeito de cancelamento na
somatria vetorial das correntes, enquanto que outras influncias so eliminadas por meio de
tratamentos estatsticos das medies.
De forma similar, as variaes nas correntes de fuga resistivas causadas pelas variaes da
temperatura dos resistores no-lineares tendem a ser canceladas na corrente somatria, se
considerarmos que os trs para-raios operam mesma temperatura e tem curvas similares de
alterao de corrente em funo da temperatura. Por outro lado, a eventual degradao de um
86
dos para-raios que cause uma maior influncia da temperatura sobre sua corrente resistiva
causar alterao na somatria das correntes, permitindo sua deteco.
Uma das premissas verificadas na descrio do mtodo da soma das correntes acima que
apenas um dos trs para-raios apresenta deteriorao nos parmetros de capacitncia e
resistncia equivalentes. Dessa forma, a determinao de qual das fases apresenta alterao
nos parmetros pode ser efetuada facilmente a partir da orientao do vetor de alterao na
corrente somatria em relao aos vetores das correntes de fuga individuais.
De fato, a probabilidade de ocorrncia de deteriorao simultnea em mais de um para-
raio pode ser considerada pequena. No entanto, na eventualidade de ocorrncia de degradao
em mais de uma fase, a tendncia que o defeito seja detectado e atribudo equivocadamente
a uma alterao nos parmetros da terceira fase, que se encontra em bom estado. H que se
considerar, entretanto, que em caso de emisso de um alerta de defeito pelo sistema de
monitorao, o usurio ir desligar o equipamento para verificao, sendo o desligamento
efetuado de forma trifsica, ficando os trs para-raios disponveis para ensaios. Assim, o
usurio deve sempre efetuar os ensaios nas trs fases monitoradas, e no apenas em uma
delas, o que j seria natural de toda forma, j que todas esto desenergizadas.
6.3. Simulaes de medies por soma vetorial em para-raios ZnO
A fim de demonstrar a viabilidade de uso da tcnica de soma vetorial das correntes de
fuga, j amplamente utilizada atualmente na monitorao de buchas capacitivas, para a
monitorao em tempo real dos parmetros capacitncia equivalente e resistncia equivalente
de para-raios, diversas simulaes so mostradas a seguir.
Para as simulaes de uso dessa tcnica em para-raios de ZnO sero usados como base os
parmetros equivalentes j utilizados no item 5.3.2 como representativos de um para-raios em
bom estado com tenso mxima de operao contnua 266 kV, empregados em sistemas
trifsicos de 420 kV.
6.3.1. Condies iniciais da simulao
Como explanado no item 6.2, o mtodo de soma vetorial das correntes de fuga baseia-se
na comparao das medies mais atuais obtidas com as medies de referncia, obtidas
durante o perodo de aprendizado do sistema no incio de sua operao. Dessa forma,
87
necessria para a simulao que seja determinada essa referncia inicial, conforme descrito a
seguir.
Os parmetros iniciais de simulao do para-raio da fase B sero exatamente os valores j
utilizados no item 5.3.2. Para o para-raio da fase A foram introduzidas variaes arbitrrias de
10% para cima na capacitncia equivalente e 10% para baixo na resistncia equivalente,
enquanto para a fase C as variaes foram arbitradas em 5 % para baixo na capacitncia e 5%
para cima na resistncia.
As variaes arbitrrias introduzidas tm por objetivo simular as diferenas normais
existentes entre os para-raios, mesmo que sejam de mesmo fabricante, modelo e lote. Os
valores iniciais adotados para as trs fases so mostrados na Tabela 25 abaixo.
Tabela 25 Parmetros eltricos iniciais de para-raio de ZnO em bom estado utilizados para
simulao
Fase A Fase B Fase C
Capacitncia inicial 17,5 pF 15,9 pF 15,1 pF
Resistncia inicial 4788 M 5320 M 5586 M
Para as simulaes, considera-se que os trs para-raios acima esto conectados s trs
fases de um sistema eltrico com as caractersticas mostradas na Tabela 26 abaixo.
Tabela 26 Caractersticas do sistema eltrico ao qual esto conectados os para-raios de ZnO
para simulao
Fase A Fase B Fase C
Freqncia 60 Hz
ngulos de defasagem 0 240 120
Tenso nominal fase-fase 420 kV
Tenso nominal fase-terra 242,5 kV
Tenso efetiva fase-terra 242,5 kV 244,925 kV 237,65 kV
Considera-se na simulao que, inicialmente, o sistema apresenta exatamente os valores
de tenses fase-terra mostrados nessa tabela, podendo variar ao longo da simulao conforme
indicado. Como se pode observar, foram introduzidas variaes arbitrrias nas tenses das
88
fases B e C, com o objetivo de simular um leve desbalano entre as tenses fase-terra do
sistema, de 1 % para cima e 2% para baixo respectivamente, em relao fase A.
Os mdulos e ngulos das correntes de fuga de cada para-raio, bem como o mdulo e
ngulo da resultante da soma vetorial das trs correntes de fuga podem ser calculados pelas
equaes (12) a (19) a seguir.
(12)
(13)
(14)
(15)
(16)
(18)
(19)
Onde: o nmero da fase, de 1 a 3 (representando as fases A, B e C)
(20)
Onde:
o novo valor assumido pelo vetor da corrente somatria, aps
alteraes nos parmetros dos para-raios
o valor original do vetor da corrente somatria, obtido
durante o perodo de aprendizado inicial do sistema de
monitorao.
O vetor alterao I
ALTERAO
tem mdulo de 10,6 A e ngulo 31,8, o que o posiciona no
intervalo entre os ngulos da tenso da fase C (aproximadamente 30, sempre tomando como
referncia a corrente de fuga da fase A) e a corrente de fuga total da fase C (aproximadamente
120), o que indica ao sistema de monitorao que a alterao detectada foi causada pela fase
C.
A decomposio de I
ALTERAO
em dois vetores ortogonais entre si, um em fase com a
tenso da fase C e outro em fase com a corrente total da fase C fornece as contribuies,
respectivamente, da alterao da resistncia equivalente e da alterao da capacitncia
equivalente para a alterao verificada na corrente somatria.
No caso sob anlise, o vetor alterao encontra-se praticamente em fase com a tenso da
fase C e ortogonal corrente de fuga da fase C, de forma que sua decomposio resultar em
uma componente nula em fase com a corrente de fuga, indicando contribuio nula de
I
SOMA NOVO
I
SOMA ORIGINAL
I
ALTERAO
94
alteraes da capacitncia da fase C, e uma componente em fase com a tenso praticamente
igual ao prprio vetor alterao.
A componente do vetor alterao em fase com a tenso da fase ter, portanto, mdulo de
aproximadamente 10,6 A, que comparado componente resistiva da corrente de fuga da fase
C, com valor 53 A, representa a reduo da resistncia equivalente, como demonstra a
equao (21):
(21)
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