2007 Pierre T

AVERTISSEMENT
Ce document est le fruit dun long travail approuv par le jury de

soutenance et mis disposition de lensemble de la communaut
universitaire largie.
Il est soumis la proprit intellectuelle de lauteur au mme titre que sa
version papier. Ceci implique une obligation de citation et de
rfrencement lors de lutilisation de ce document.
Dautre part, toute contrefaon, plagiat, reproduction illicite entrane une
poursuite pnale.

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LIENS

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cole Doctorale EMMA

THSE

Prsente pour lobtention du grade de

Docteur de lInstitut National Polytechnique de Lorraine

Spcialit : Mcanique et nergtique

Par

Thomas PIERRE

Mesure de la temprature lchelle microscopique par
voie optique dans la gamme ultraviolet-visible

Soutenue publiquement le 10 dcembre 2007 devant la commission dexamen compose de :

Rapporteurs : Philippe HERV Professeur Universit Paris X
Sebastian VOLZ Charg de Recherches CNRS, cole Centrale Paris
Examinateurs : Jean-Jacques SERRA Expert DGA, Odeillo
Daniel PETIT Professeur ENSMA, Poitiers
Alain DEGIOVANNI Professeur INPL, Nancy
Benjamin RMY Matre de Confrences INPL, Nancy

Laboratoire dnergtique et de Mcanique Thorique et Applique
Nancy-Universit, CNRS UMR 7563
2, avenue de la Fort de Haye BP 160
54504 Vandoeuvre-ls-Nancy

3
Sommaire

Remerciements p.7

Nomenclature p.9

Introduction gnrale p.13

Chapitre premier - Quelques techniques de mesure de la
temprature lchelle microscopique p.17
Introduction p.19
1.1 Les techniques champ proche p.20
1.1.1 Le microscope effet tunnel p.20
1.1.2 Le microscope force atomique p.21
1.1.3 Le microscope optique champ proche p.22
1.1.4 Le champ proche appliqu la mesure thermique p.25
1.1.4.1 La microscopique thermique applique au STM et lAFM p.25
1.1.4.2 Lamlioration des sondes thermiques p.28
1.1.4.3 Les applications du SThM et ses interprtations p.30
1.1.4.4 La microscopie thermique applique au SNOM p.32
1.2 Les techniques champ lointain p.33
1.2.1 Lutilisation des grandes longueurs donde p.33
1.2.2 Lutilisation des courtes longueurs donde p.35
1.3 La mthode multi-spectrale p.36
Conclusion p.39

Second chapitre Le rayonnement thermique aux courtes
longueurs donde p.41
Introduction p.43
2.1 La radiomtrie thermique p.44
Mesure de la temprature lchelle microscopique par voie optique dans la gamme ultraviolet-visible
4
2.1.1 La notion donde/corpuscule p.44
2.1.2 Langle solide p.45
2.1.3 Les grandeurs nergtiques p.46
2.1.3.1 La luminance p.46
2.1.3.2 Lmittance p.46
2.1.3.3 Lmissivit p.47
2.2 Le rayonnement thermique aux courtes longueurs donde p.48
2.2.1 La loi de PLANCK p.48
2.2.2 Lintrt des courtes longueurs donde p.49
2.2.2.1 Lmissivit des matriaux aux courtes longueurs donde p.49
2.2.2.2 Un comparatif ultraviolet-visible/infrarouge p.50
2.2.2.3 La mthode multi-spectrale p.53
2.2.2.4 Lerreur sur la mesure p.57
2.3 Lapproche photonique du rayonnement thermique p.63
2.4 Lmission photonique : une grandeur statistique alatoire p.65
2.4.1 Lapproche statistique du flux photonique p.65
2.4.2 Leffet du bruit exprimental sur la mesure du flux photonique p.68
2.5 La limite de diffraction p.70
Conclusion p.71

Troisime chapitre Le dispositif exprimental p.73
Introduction p.75
3.1 La prsentation gnrale du banc de mesure p.76
3.2 Les lments chauffants p.77
3.2.1 Le corps noir hautes tempratures p.77
3.2.1.1 La conception et les tudes prliminaires p.77
3.2.1.2 La mesure indpendante de lmissivit spectrale du corps noir p.84
3.2.1.3 Lmissivit apparente de la cavit p.85
3.2.1.4 La modlisation du corps noir p.86
3.2.2 Le fil rsistif p.88
3.2.2.1 Le calcul de la temprature du fil p.90
3.2.2.2 Les valeurs des paramtres trouvs dans la littrature p.95
Sommaire
5
3.2.2.3 Les expriences annexes p.100
3.2.2.4 Une simulation de champs de temprature dans le fil p.105
3.2.2.5 Lestimation de paramtres et ltude de sensibilit p.106
3.3 Le microscope et le systme de mesure du flux photonique p.111
3.3.1 Lobjectif ultraviolet p.112
3.3.2 Loculaire p.113
3.3.3 Le photomultiplicateur et son refroidisseur p.114
3.3.4 Les filtres monochromatiques p.115
3.3.5 La carte de comptage p.116
3.3.6 Les autres lments p.117
Conclusion p.118

Quatrime chapitre Les rsultats exprimentaux p.119
Introduction p.121
4.1 La dfinition de la surface microscopique p.122
4.2 Les premires mesures de temprature p.123
4.2.1 La mesure sans les filtres monochromatiques p.123
4.2.1.1 Les conditions exprimentales p.123
4.2.1.2 Les rsultats p.124
4.3 La mesure avec le corps noir hautes tempratures p.126
4.3.1 Les temps dintgration et le temps de comptage p.126
4.3.2 Ltude du bruit parasite p.127
4.3.3 La mesure avec les filtres monochromatiques p.128
4.3.3.1 Le calcul de lesprance et de la variance p.128
4.3.3.2 Les mesures sans la fonction de transfert p.132
4.3.4 La fonction de transfert du microscope p.133
4.3.4.1 Les filtres monochromatiques p. 135
4.3.5 Les mesures avec la fonction de transfert p.146
4.3.6 Une validation des rsultats p.148
4.3.6.1 La validation laide de la camra de thermographie infrarouge p.148
4.3.6.2 Une mesure multi-spectrale sur le fil de Chromel p.148
Conclusion p.152
6

Cinquime chapitre Les perspectives p.153
Introduction p.155
5.1 Le rseau de diffraction p.156
5.1.1 Quelques notions sur le rseau de diffraction p.156
5.1.2 Les premiers essais p.158
5.2 Lanalyseur multi-canal p.161
5.3 Les techniques stimules p.162
5.3.1 La mesure par LIF p.162
5.3.2 La mesure par fluorescence p.163
Conclusion p.165

Conclusion gnrale p.167

Annexes p.171
Annexe A La fonction de Lambert W p.173
Annexe B Rappel sur les lois de probabilits/statistiques p.175
Annexe C La dfinition de lmissivit apparente p.181
Annexe D La mthode des moindres carrs p.189
Annexe E Le microscope optique p.197

Sources bibliographiques p.199

7
Remerciements

Il faut le faire et cest bien normal ; pendant ces trois annes et quelques..., jai travaill et
rencontr beaucoup de monde et je me dois de les remercier.

Donc tout dabord, je remercie mes encadrants, MM. Alain DEGIOVANNI et Benjamin
RMY pour mavoir permis deffectuer cette thse et surtout de la faire dans dexcellentes
conditions. Jai pu dcouvrir ce qutait vraiment la notion de sens physique .

Je tiens galement remercier tous les membres de mon jury pour avoir eu la gentillesse de
sanctionner mes travaux. Donc Merci ! mes rapporteurs : MM. Philippe HERV et
Sebastian VOLZ et mes examinateurs : MM. Jean-Jacques SERRA et Daniel PETIT davoir
pris un peu de leur temps pour sintresser mon mmoire.

Je tiens galement remercier vivement Franck DEMEURIE, (super) Technicien, pour son
efficacit et sa gentillesse. Il a ralis chacune des pices de mon dispositif, son travail a
toujours t impeccable. Merci Jean-Marie RICARD, Michel MARCHAND et Bernard
MONOD, qui mont galement aid dans mes manip.

Merci galement Christian MOYNE de mavoir accueilli au sein du LEMTA, ainsi qu
Denis MAILLET pour son encadrement efficace lors des mes vacations et de mon monitorat
et pour sa disponibilit.

Une pense va prsent toute la brochette que jai ctoye pendant ces trois annes
entre les murs du laboratoire et avec qui jai pass trois excellentes annes : Olivier, Didier,
Fadil, Jrme, Manuel, Valrie, Corinne, Sbastien, Gilles, Alain, Yves, Sophie, Edith,
Catherine, Stphane, Andr, Michel, Isabelle, Ludovic, Norbert.

Sortons un peu du boulot et remercions ceux avec qui jai fait autres choses que bosser sur
Nancy : Fabrice, Audrey, Antoine, Jon, Loc, Prine, et sans oublier Cline. Merci pour tout le
bon temps pass et venir !

9
Nomenclature

Lettres latines
b biais (photons)
c
o
vitesse de la lumire dans le vide (m.s
-1
)
d diamtre (m)
d
o
diamtre T
(m)
e
i
erreur sur le paramtre i
e
b
bruit alatoire
h constante de PLANCK (J.s)
h
i
coefficient dchange i
k nombre de photons (photons)
k
i
conductivit thermique de i (W.m
-1
.K
-1
)
k
io
conductivit thermique de i T
(W.m
-1
.K
-1
)
k
b
constante de BOLTZMANN (J.K
-1
)
m primtre du fil de Chromel (m)
n
e
flux photonique mis par la surface (photons.s
-1
)
n flux photonique reu par le dtecteur (photons.s
-1
)
p nombre de photons (photons)
q nombre de comptage
q
f
terme source (W.m
-3
)
s surface du fil de Chromel (m
2
)
s
surface mettrice (m
2
)
A coefficient dans lexpression de CHURCHILL et al.
C
1
constante de la loi de PLANCK (W.m
2
)
C
2
constante de la loi de PLANCK (m.K)
E

nergie dun photon (J)
FT
fonction de transfert spectrale du microscope

FT valeur moyenne de FT

Gr nombre de GRASHOF
I courant (A)
L( ;T) luminance (W.m
-2
.sr
-1
)
L longueur (m)

10
L
o
longueur T
(m)
M mittance (W.m
-2
)
N flux photonique (photons.s
-1
)
Nu nombre de NUSSELT
P puissance (W)
Pr nombre de PRANDTL
Q facteur de mrite
R rsistance moyenne ()
R
o
rsistance T

Ra nombre de RAYLEIGH
R
c
rsistance thermique du fil de Chromel (K.m
2
.W
-1
)
R
cd
rsistance thermique de conduction (K.W
-1
)
R
rad
rsistance thermique radiative (K.W
-1
)
R
th
rsistance thermique totale (K.W
-1
)
S section du fil de Chromel (m
2
)
T temprature (C ou K)
T temprature moyenne (C ou K)
U tension (V)
V volume du fil de Chromel (m
3
)
X nombre de photons (photons)
Y nombre de photons (photons)

Lettres grecques
coefficient de dilatation linaire (K
-1
)
(
i
,
j
;T) rapport des signaux
coefficient de variation de la rsistivit lectrique (K
-1
)
coefficient thermique (K
-1
)
demi-bande spectrale (m)
t temps dintgration (s)
missivit
coefficient de variation de la conductivit thermique (K
-1
)
longueur donde (m)
longueur donde moyenne (m)
Nomenclature
11
esprance davoir Y photons
viscosit cinmatique (m
2
.s
-1
)
changement de variable (K)
rsistivit lectrique (.m)
o
rsistivit lectrique T
(.m)
constante de STEFAN-BOLTZMANN (W.m
-2
.K
-4
)
i
paramtre des filtres monochromatique (m)
transmittivit spectrale
probabilit dobserver X = 1
t temps de comptage (s)
x rsolution latrale (m)
flux (W)
angle solide (sr)
mittance photonique monochromatique (photons.m
-2
.s
-1
)

Indices, exposants et symboles
extrieur(e)
o corps noir
a air
app apparent(e)
c convectif
h horizontal
max maximum, maximale
rad radiatif
v vertical
IR infrarouge
UV ultraviolet
spectral(e)

13
Introduction gnrale

Les besoins en matire de caractrisation thermique la micro-chelle se sont
particulirement dvelopps ces dernires annes avec larrive de matriaux nouveaux,
dvelopps par voies de synthse. Ils consistent notamment en la caractrisation de barrires
thermiques hautes tempratures, la dtection de cracks dans des matriaux cramiques, la
mesure de rsistances de contact au niveau des joints de grains, de proprits locales dans les
matriaux poly-cristallins ou poreux (diamant de type CVD ou silicium poreux) ou encore la
dtection dinter-diffusions de phases des matriaux composites. Paralllement ces besoins,
une forte demande est apparue dans le domaine de la micro-lectronique pour dtecter des
points chauds de petites chelles ou mesurer des tempratures locales sur des jonctions de
transistors de forte puissance mais aussi dans le domaine de la mcanique des fluides pour
valuer les tempratures de paroi dans des micro-changeurs ou micro-canaux.

Les mthodes utilises actuellement pour raliser des mesures thermiques lchelle
microscopique reposent principalement sur des dispositifs de mesure par microsondes
thermiques qui permettent datteindre thoriquement lchelle du micron (jonctions
thermocouples, micro-leviers bimtalliques et pointes thermo-rsistives) : microscopes effet
tunnel (STM) ou forces atomiques (AFM). Cependant, si les sondes peuvent tre trs fines
(infrieures au micron dans certains cas), la dimension de la zone perturbe est en ralit plus
importante que celle de la sonde. Il est par ailleurs difficile de remonter une information
prcise en terme de temprature car la prsence de la sonde, soit en contact direct, soit
proximit de la surface, vient perturber la mesure.
De plus, les zones explorer sont galement parfois inaccessibles la mesure par contact.
Dans ce dernier cas, seuls les mesures optiques peuvent tre utilises. Cest le cas par
exemple des microscopes optiques qui utilisent la physique du champ proche (SNOM). Leur
principe de fonctionnement repose sur ltude de linteraction dune onde lectromagntique
incidente avec les ondes de surfaces dites vanescentes du matriau. Linformation est ensuite
collecte par une nano-sonde proximit de la surface. Contrairement loptique classique o
la rsolution est fixe par la limite de diffraction, en optique champ proche, elle est
simplement lie lattnuation exponentielle de lamplitude des ondes vanescentes. Dans ce
cas, la rsolution ne dpend plus de la longueur donde employe mais uniquement de la taille
et de la forme de la pointe quil faut parfaitement matriser. Si ce type de microscope permet
14
dores et dj dobtenir des images topographiques avec des rsolutions infrieures au
micromtre et pouvant mme atteindre quelques dizaines de nanomtres, il existe peu de
dispositifs de ce type permettant de remonter une information en terme de temprature. Les
images obtenues restent galement trs difficiles interprter.

Lide dveloppe dans cette tude est de mettre en uvre un dispositif de dtection et de
mesure de temprature lchelle microscopique par une mthode optique tout en restant
au-del de la limite de diffraction. En effet, les mthodes optiques sont peu intrusives.
Cependant, celles bases sur le champ proche optique prsentent elles aussi leurs limitations.
Il faut en effet que la sonde soit trs proche de la surface pour faire la mesure et la physique
mis en uvre est souvent trs complexe matriser.
En optique classique, la rsolution spatiale est limite par la longueur donde utilise par le
dtecteur qui montre que thoriquement la rsolution spatiale est de lordre de la longueur
donde, do lide de mettre en uvre un systme optique de dtection et de mesure des
hautes tempratures dans le domaine ultraviolet-visible (thoriquement
[0,100m 0,800m]) permettant ainsi datteindre des rsolutions infrieures au micron.
Cette voie a dj commenc tre explore et la faisabilit dune telle mesure dmontre.

Cette tude prsente une technique de mesure de temprature par mission propre. Couple
une mthode multi-spectrale, elle permet de saffranchir des paramtres inconnus tels que
lmissivit spectrale de la surface au niveau locale, langle solide ou encore louverture
numrique du microscope. La Figure 0.01 prsente sous forme de schma les diffrentes
tapes abordes au cours de ces travaux. Lessentiel de ltude prsente le montage du banc
de mesure lequel est tudi sous ces diffrents aspects.
En amont du montage se trouvent les sources de chaleur hautes tempratures, lesquelles
doivent tre talonnes. Il y a deux sources : un fil de Chromel micromtrique pour
ltalonnage microscopique et un corps noir maison en Stumatite adapt aux hautes
tempratures. Dans les deux cas, la modlisation, lestimation de paramtres, ainsi que des
mesures indpendantes ont t effectues pour caractriser au mieux les sources de chaleur.
Le microscope vient ensuite dans la chane de mesure : il est compos dun objectif, dun
oculaire, et dun diaphragme. Lobjectif a la particularit davoir une grande distance de
travail (caractre non-intrusif des mesures).
Enfin, le comptage de photons est assur par un dtecteur quantique (refroidi par effet
PELTIER) et une carte de comptage. Lmission photonique tant un phnomne alatoire,
Introduction gnrale
15
les photons qui quittent la surface, traversent le microscope et sont collects par le dtecteur
pendant un intervalle de temps correspondent un flux photonique qui peut tre dcrit par les
lois statistiques classiques (loi normale, ou de POISSON).
Enfin, pour contourner le problme de lmissivit qui peut varier en fonction de la longueur
donde, de la position, de langle, de la temprature ou encore de ltat de surface, des filtres
monochromatiques sont disposs dans le microscope en amont du dtecteur. Pour une mme
temprature, mesurer le flux photonique travers plusieurs filtres monochromatiques permet
de remonter la temprature, sachant que la bande spectrale dtude est faible et donc que
lmissivit peut tre considre comme constante dans cet intervalle. Une attention
particulire est galement porte sur la faon dont sont modliss les filtres.

Figure 0.01 Plan des travaux.

Chapitre premier

Quelques techniques de mesure
de la temprature
lchelle microscopique
18
Sommaire

Chapitre premier - Quelques techniques de mesure de la
temprature lchelle microscopique p.17
Introduction p.19
1.1 Les techniques champ proche p.20
1.1.1 Le microscope effet tunnel p.20
1.1.2 Le microscope force atomique p.21
1.1.3 Le microscope optique champ proche p.22
1.1.4 Le champ proche appliqu la mesure thermique p.25
1.1.4.1 La microscopique thermique applique au STM et lAFM p.25
1.1.4.2 Lamlioration des sondes thermiques p.28
1.1.4.3 Les applications du SThM et ses interprtations p.30
1.1.4.4 La microscopie thermique applique au SNOM p.32
1.2 Les techniques champ lointain p.33
1.2.1 Lutilisation des grandes longueurs donde p.33
1.2.2 Lutilisation des courtes longueurs donde p.35
1.3 La mthode multi-spectrale p.36
Conclusion p.39
Chapitre premier Quelques techniques de mesure de la temprature lchelle microscopique
19
Introduction

Il existe une trs grande varit de mthodes de mesure de la temprature. Certaines sont
intrusives, cest--dire que le systme de mesure est plac dans le milieu mme, les autres
techniques sont non-intrusives, le systme de mesure est cette fois-ci distance du milieu.
Parmi tous les milieux existants, seuls les solides sont considrs dans cet tat de lart.
Laccent est principalement mis sur les mthodes capables deffectuer des mesures lchelle
du micron. Lintrt deffectuer des mesures cette chelle est multiple car il existe beaucoup
dapplications adaptes des domaines aussi bien pointus que gnraux.

Les techniques de mesure intrusives qui rencontrent le plus de succs sont celles bases sur
lutilisation de la physique en champ proche. Elles reposent sur le principe suivant : la pointe
de la sonde du microscope arrive en contact ou proximit de la surface et des interactions
entre la pointe de la sonde et la surface de lchantillon vont entrer en jeu pour rendre possible
la mesure.

Les techniques non-intrusives (champ lointain) se servent du rayonnement lectromagntique
thermique (ultraviolet, visible, et infrarouge). Malheureusement, en optique classique, les
performances en terme de rsolution spatiale de ces microscopes natteignent pas celles des
microscopes champ proche. En effet, en optique classique, la rsolution est limite par la
longueur donde de mesure du rayonnement. Si les microscopes champ proche peuvent
cartographier des cristaux, des molcules ou des atomes, les microscopes champ lointain ne
semblent pas donner dimage nette de deux objets distants de moins de la longueur donde de
travail.
Comme la rsolution dpend de la longueur donde, il apparat judicieux de diminuer la
longueur donde de fonctionnement du dtecteur. Cependant, ces trs petites chelles, la
mesure aux courtes longueurs donde ncessite une temprature de surface consquente ou un
dtecteur trs sensible pour permettre la mesure dnergies trs faibles. Alors lutilisation de
techniques comme le comptage de photons au moyen dun photomultiplicateur (lequel peut
tre refroidi pour diminuer le bruit parasite) ou encore de la mthode multi-couleur semble
intressante dans le but dobtenir des tempratures avec une erreur relative au-dessous des
5%.

20
1.1 Les techniques champ proche

Trois dispositifs de visualisation sont exposs dans cet tat de lart : le microscope effet
tunnel, le microscope force atomique, et le microscope optique champ proche. Ces trois
microscopes, aprs quelques adaptations, sont capables de raliser des mesures thermiques sur
la surface explore : champ de temprature, conductivit thermique, ou diffusivit thermique.

1.1.1 Le microscope effet tunnel

En 1982, BINNIG et al. proposent une exprience partir dun microscope dont le
fonctionnement repose sur leffet tunnel [8] : ce phnomne quantique considre quun
lectron, malgr une trs faible probabilit, peut franchir une barrire de potentiel ; sa plus
grande probabilit est que, ne possdant pas assez dnergie, il ne passe pas cette barrire. Les
auteurs sont arrivs faire passer un courant entre une pointe de tungstne et un chantillon
de platine distants de 100nm. Ce procd utilise la physique dite de champ proche, mais il est
limit ltude dchantillons conducteurs puisque la sonde et lchantillon doivent jouer le
rle dlectrodes pendant la mesure.
La rsolution du STM est en partie lie la dpendance du courant tunnel avec la distance
sonde/chantillon. En effet, avec une dcroissance du courant tunnel de type exponentielle au
fur et mesure que la sonde sloigne de lchantillon, la mesure doit seffectuer le plus prs
possible de la surface. Cette distance sonde/chantillon est assure par une boucle
dasservissement qui maintient le courant constant ; la moindre compensation en tension pour
maintenir le courant tunnel constant traduit une variation de la distance sonde/chantillon : il
est alors possible de dresser une cartographie de lchantillon en dplaant la sonde sur la
surface (Figure 1.01). Selon les auteurs, la rsolution latrale est annonce trs infrieure
10nm, les atomes peuvent tre imags.
Leur invention, quils nommrent le microscope effet tunnel (Scanning Tunneling
Microscope STM), leur valut le prix Nobel de physique en 1986.

21

Figure 1.01 Schma de principe du STM.

1.1.2 Le microscope force atomique

En 1986, toujours sur le principe du STM qui utilise leffet tunnel, BINNIG et al. proposent
un microscope capable de cartographier non seulement les matriaux conducteurs, mais
galement les semi-conducteurs et les isolants [9]. Le principe repose sur les mesures des
forces inter-atomiques, en particulier les interactions de Van der WAALS (Figure 1.02). Ce
microscope est appel microscope force atomique (Atomic Force Microscope AFM).

Distance pointe-objet
F
o
r
c
e

a
t
o
m
i
q
u
e
Contact
Force attractive
Force rpulsive

Figure 1.02 volution de la force atomique entre deux surfaces en fonction de leur distance.

Le principe de fonctionnement est prsent sur la Figure 1.03 : une certaine distance
sonde/surface correspond une force dinteraction maintenue constante. Un faisceau laser
claire le dessus du micro-levier et sa lumire est rflchie sur un photodtecteur. Si la
22
distance sonde/surface change, la dflexion de la sonde produit un dplacement du faisceau
rflchi sur le photodtecteur ; un systme pizolectrique corrige la dflexion de la sonde.
La rsolution obtenue permet galement une cartographie lchelle atomique (quelques
dizaines de nanomtre).

Figure 1.03 Principe de fonctionnement du microscope force atomique.

1.1.3 Le microscope optique champ proche

Si lAFM et le STM cartographient les surfaces en mesurant respectivement les forces inter-
atomiques ou les courants tunnels, le microscope optique champ proche (Scanning Near-
field Optical Microscope SNOM) dtecte les ondes vanescentes, dites de surface, localises
au voisinage de la surface.

Une onde incidente traverse une ouverture de diamtre infrieur la longueur donde de
londe et claire la surface (Figure 1.04). Seule une petite surface est stimule cause du
confinement lectromagntique au voisinage de louverture. La rsolution est principalement
lie la distance sonde/chantillon ainsi qu la forme et la taille de la sonde. Les ondes
propagatives mises par la zone excite, sont ensuite mesures par dtecteur en champ
lointain. Pour collecter les informations sub-longueur donde confines autour de la surface
de lchantillon, une solution consiste utiliser une petite sonde qui va permettre de convertir
23
les ondes vanescentes en ondes propagatives. Selon la nature de la surface (transparente ou
opaque), deux modes dillumination sont possibles (par transmission ou par rflexion) laide
dune sonde avec ou sans ouverture. La sonde ouverture peut tre utilise de deux faons
diffrentes : en mode collection, la stimulation est ralise en champ lointain et linformation
est collecte laide dune fibre optique en champ proche ; en mode excitation, la stimulation
est ralise travers une fibre optique et linformation est collecte par un dtecteur champ
proche aprs conversion des ondes vanescentes en ondes propagatives.

Figure 1.04 Fonctionnement du SNOM [84].

Un exemple courant dondes vanescentes est donn par la rflexion totale (Figure 1.05) [1].
Soit un dispositif optique clair ; les angles dincidence
i
, de rflexion
r
, et de transmission
t
rpondent aux lois de SNELL-DESCARTES :
i
=
r
et n
i
sin
i
= n
t
sin
t
. Une onde rfracte
nexiste que si
t
est infrieur 90, donc si
i
est infrieur
ic
= arcsin(n
t
/n
i
). Si
i
>
ic
,
alors les conditions dclairement sont celles de rflexion totale.

24

Figures 1.05 Rflexion totale. Sur la figure de droite,
i
k
r
,
t
k
r
, et
r
k
r
sont les vecteurs respectifs des ondes
incidentes, rfractes, et rflchies [1].

Le principal avantage de cette technique champ proche est que la rsolution spatiale est
fonction de la dcroissance exponentielle de lamplitude de londe (Figure 1.06),
contrairement aux mthodes optiques o celle-ci est lie la limite de diffraction (donc de la
demi-longueur donde). La rsolution ne dpend alors pas de la longueur donde mais de la
position parallle et perpendiculaire du plan. Il est donc possible dobtenir de trs petites
rsolutions sous rserve que cette distance soit parfaitement contrle. De plus, la pointe doit
tre la plus petite possible et trs proche de la surface. La rsolution dpend aussi de la
gomtrie de la sonde, laquelle est le principal instrument de cette mthode. Elle est dautant
plus dlicate utiliser que le procd de fabrication des pointes est peu reproductible et que
leur dure de vie est limite [84,92].
25

Figure 1.06 Illustration de la dcroissance exponentielle du signal fourni par les ondes vanescentes [84].

1.1.4 Le champ proche appliqu la microscopie thermique

Pour remonter des informations thermiques (tempratures ou proprits thermophysiques),
de nombreuses quipes internationales ont eu lide dquiper les STM et les AFM de sondes
thermiques permettant de complter les mesures topographiques. Ces travaux sappuient sur
une forte demande industrielle pour mesurer des tempratures ou faire de la caractrisation de
matriaux ou dinterfaces la micro-chelle ; lvolution des technologies de miniaturisation,
comme par exemple en micro-lectronique ou encore en micro-fluidique, ncessite des
matriaux de plus en plus optimiss en terme de qualit. Ces derniers sont soumis des
contraintes de plus en plus importantes, par exemple des densits de puissance vacuer sur
des surfaces de plus en plus petites [25], ce qui peut entraner la cration de points chauds sil
y a prsence de dfauts sub-surfaciques (le microscope peut donc tre utilis pour du Contrle
Non-Destructif, ou de la mesure de rsistance de contact).

1.1.4.1 La microscopie thermique applique au STM et lAFM

Le STM est utilis dans bon nombre dapplications. WEAVER et al. [107] en numrent
quelques unes : mesure de proprits optiques et magntiques, de potentiels lectriques, de
conductances ioniques, de forces superficielles... Ils citent galement certains travaux que
WILLIAMS et al. ont prsent en 1986. Ces derniers ont mis au point ce quils appellent le
Scanning Thermal Profiler (STP) : ils ont lide dassocier une sonde thermocouple au STM
[110]. Le principe est bas sur les interactions en champ proche entre une pointe et la surface
26
(isolante ou conductrice). Cependant, pour les applications thermiques, la distance
pointe/chantillon ncessaire pour obtenir ce profil nest pas ncessairement celle utilise en
AFM et STM. En effet, linteraction thermique intervient des distances plus grandes que
celles pour mesurer les forces de Van der WAALS et pour obtenir leffet tunnel.
La pointe est en tungstne et est recouverte par une couche disolant (sauf en son extrmit),
puis par une couche de nickel. Lextrmit de la sonde devient alors un thermocouple dont la
tension de jonction est proportionnelle la temprature.
La pointe est chauffe par un courant dintensit constante jusqu ce que sa temprature soit
suprieure lambiance. Quand elle sapproche de la surface, il y a un transfert de chaleur. La
pointe refroidit et fait chuter la tension de la jonction thermocouple. Ainsi les variations de
tension dans le thermocouple sont-elles fonction de la distance sonde/chantillon. Leur
contrle permet de reconstruire le relief pendant le balayage de la sonde. La pointe vibre une
frquence
1
pour viter linfluence de perturbations ventuelles (Figure 1.07).

Figure 1.07 Schma qui illustre le fonctionnement du SThM [109].

Les premires difficults apparaissent lorsque la pointe est trs proche de la surface. La
sensibilit de la mesure augmente quand la distance pointe/chantillon diminue, mais il est
difficile de contrler prcisment cette distance et la temprature. Cette technique permet
dobtenir des cartographies de surface avec une rsolution en profondeur annonce de 3nm et
une rsolution latrale de 10nm.

Des modifications de ce dispositif ont t apportes pour obtenir une cartographie en
temprature. Lchantillon est chauff une frquence diffrente de celle qui fait vibrer la
27
pointe. Le dispositif fonctionne de la mme manire que prcdemment et donne
simultanment des informations topographique et thermique. Les informations en temprature
et celles topographiques sont difficiles sparer, car le transfert de chaleur pour maintenir la
distance sonde/chantillon est fonction des proprits thermiques de lchantillon [111].

Un chauffage par laser une frquence
2
(diffrente de
1
) en face arrire de lchantillon a
t expriment [112]. La sparation des informations thermique et topographique est cette
fois-ci possible mais la condition que la temprature de lchantillon ne varie pas ou
faiblement au cours de la mesure par rapport lcart de temprature entre lchantillon et la
sonde.

WEAVER et al. ont eu lide dutiliser le STM, coupl avec une sonde thermocouple adapte
la spectroscopie dabsorption photo-thermique, pour dterminer la composition chimique
dun chantillon [107]. Comme les lments chimiques absorbent de la lumire des
longueurs donde caractristiques, une augmentation de temprature de lchantillon une
certaine longueur donde indique que le rayonnement a t absorb. En mesurant la
temprature de lchantillon en fonction de la longueur donde, il est possible de remonter la
composition chimique de lchantillon connaissant le spectre dabsorption. Cette technique
est appele Tunneling Thermometer et sa sensibilit est estime 10mK.
En gardant lide principale dobtenir simultanment des images thermique et topographique,
STOPKA et OESTERSCHULZE ont dvelopp, en 1995, un microscope quils ont nomm
microscope thermique balayage (Scanning Thermal Microscope SThM) [73-75,96]. La
pointe thermocouple (Au/Constantan) est directement irradie par un faisceau laser. Deux
circuits composent le montage : un premier circuit permet de maintenir la distance
sonde/chantillon constante et ainsi de tracer une carte de ltat de surface ; un second circuit
enregistre les variations de la tension thermolectrique. Selon que le faisceau laser est modul
ou non (modes DC ou AC), limage reflterait soit la conductivit thermique, soit la
diffusivit thermique de lchantillon. Malgr une rsolution spatiale descendant jusqu
30nm, les auteurs admettent que les principaux problmes rencontrs sont lis la proximit
sonde/chantillon et la difficult de sparer les informations topographique et thermique.
TRANNOY prcise quil est parfois ncessaire de se mettre dans des conditions
dexprimentation qui ne facilitent pas lexploitation des rsultats [103]. Elle dresse dans ses
travaux la liste de quelques problmes qui apparaissent au cours des manipulations et qui
peuvent contrarier et influencer le courant tunnel et la tension de la jonction thermocouple :
28
dilatation thermique de la pointe, prsence dune couche deau en surface de lchantillon,
problmes de conduction multiple entre les lments...

En 1992, lquipe de WICKRAMASINGHE a russi obtenir une cartographie dont le
contraste est li aux variations de la conductivit thermique de la surface dun chantillon
conducteur [71]. Un an plus tard, MAJUMDAR et al. ont dvelopp un microscope
permettant la cartographie dchantillons aussi bien conducteurs quisolants [61].

1.1.4.2 Lamlioration des sondes thermiques

Trois types de sondes thermiques sont principalement utilises dans la microscopie
thermique : les pointes thermocouples, les micro-leviers, et les sondes thermo-rsistives.

MAJUMDAR et al. ont eu lide de mettre au point une sonde thermocouple de type K. Ce
type de sonde peut tre rpertori dans une catgorie de sondes appeles pointes
thermocouples. TRANNOY dcrit trs bien son principe [105] : la pointe est remplace par
un thermocouple form de deux fils, un de Chromel et un dAlumel, pour sapparenter un
thermocouple de type K, et ces deux fils fournissent une constante de raideur suffisante pour
former un micro-levier. Pour la mesure de la dflexion de ce micro-levier, on utilise une petite
plaque de verre recouverte dune feuille mtallique : ce montage simple forme le petit miroir
servant la rflexion du faisceau laser. Lorsque la sonde est en contact avec lchantillon, la
diffrence de temprature entre la pointe et lchantillon engendre une tension
thermolectrique au niveau du thermocouple. Pendant lexploration de lchantillon, la
temprature locale est mesure, tandis que la force pointe/chantillon est maintenue constante.
En maintenant le thermocouple une temprature de rfrence, les variations de la tension
thermolectrique donnent limage thermique de lchantillon lie sa temprature. Les
images sont donnes avec une chelle globale de temprature de 1K. Devant les problmes
de dformation et de prsence deau augmentant la surface dchange, MAJUMDAR affine la
pointe en y collant un petit diamant. La jonction thermocouple est de 25m et la rsolution de
500nm. Enfin, en remplaant la jonction de type K par une jonction de type Au-Pt, la
prcision en temprature passe de 1 0,1K [62].
Dautres techniques ont t abordes pour rduire de manire significative la taille des
jonctions et par consquence de diminuer la rsolution spatiale. Tout dabord, en utilisant des
techniques dvaporation mtallique (rsolution 200nm [58,59]) ou encore en intgrant
29
directement le thermocouple dans le micro-levier (jonction de 10nm [97]). Enfin, la technique
de lithographie par faisceau dlectrons a permis de rduire considrablement la rsolution
spatiale des images topographiques et thermiques (respectivement 40 et 80nm) [66].

Un autre type de sonde thermique adaptable au montage de lAFM a t propos par PYLKKI
et al. [80,81] : il sagit de la sonde thermo-rsistive. Cette sonde est compose dun fil de
Wollaston (fil de platine recouvert dargent), ayant subi une attaque lectrochimique de
manire ne laisser apparent que le fil de platine sur une longueur de 200m. Ce fil de platine
est courb en forme de V et constitue llment thermo-rsistif de la sonde. Cette sonde
parcourue par un courant, peut tre la fois la source de chaleur et le dtecteur ou simplement
le dtecteur selon lintensit du courant. La technique est base sur la variation de la
rsistivit lectrique de la pointe en fonction de la diffrence de temprature entre la pointe et
lchantillon [105].
Une autre sonde thermo-rsistive a t mise au point par LEDERMAN [53] puis modifie par
MILLS [67] dans le but amliorer la rsolution spatiale. Cette sonde est passive et sensible
aux variations de temprature la surface de lchantillon. La rsolution spatiale de la sonde
est estime 100nm et la rsolution en temprature de lordre de 1K.

En 2001, une quipe allemande propose une nano-sonde thermo-rsistive intgre un micro-
levier pizo-rsistif [82]. Llment thermo-rsistif est obtenu par une technique particulire
qui consiste faire crotre un fil de platine dans un faisceau dlectrons sous une atmosphre
spcifique. Les rsolutions spatiale et thermique annonces sont respectivement de 20nm et
1mK.

Enfin, on trouve un troisime type de sondes thermiques bas sur la dilatation thermique : les
micro-leviers dynamiques. Ils sont construits partir dune pointe AFM de nitrure de
silicium mais sur laquelle est dpose une couche mtallique en aluminium ou en or, de 50nm
dpaisseur par exemple [70]. Lchantillon (...) est chauff par un courant alternatif et
labsorption de la chaleur par la pointe induit une flexion verticale du micro-levier due la
diffrence de dilatation thermique entre les deux matriaux qui le constituent. Avec cette
sonde, on contrle la temprature et la dilatation thermique du levier lesquelles sont lies dans
la mesure de la dviation du spot laser. Cette technique donne une rsolution en temprature
de 3mK et une rsolution latrale de 400nm [105].
30
Une autre conception de la mesure base sur le comportement dynamique dune sonde AFM
classique en contact avec un chantillon actif (donc chauff) est propose en 1999 pour
obtenir la dilatation thermique locale et la temprature [50]. Ce nouveau microscope est
appel Scanning Joule Thermal Microscope. La rsolution spatiale atteint 20nm. Cette
technique a t propose pour palier aux problmes de fragilit des sondes thermiques. Elle
nest cependant pas simple car elle est base sur la matrise de la dynamique du cantilever,
problme encore dlicat aujourdhui [105].

1.1.4.3 Les applications du SThM et ses interprtations

Au del de la caractrisation, le SThM est aussi utilis pour le Contrle Non-Destructif
(CND). cause des grandes densits de puissance dissipes dans des lments lectroniques
de plus en plus petits, des points chauds apparaissent facilement. FIEGE et al. [25] ont test le
microscope sur des circuits intgrs et sur des MOSFET dans le but de dtecter ces dfauts
(rsolution spatiale 150nm, rsolution thermique 5mK).
De leur ct, HAMMICHE et al. ont ralis une analyse sub-surfacique dun polymre dop
avec des particules mtalliques [43]. partir du dispositif exprimental, les auteurs ont
simul le dispositif exprimental pour dcrire au mieux les flux de chaleur et le profil de
temprature la surface. La rsolution annonce est de lordre du micron et la profondeur de
vision de quelques microns car elle est limite par le bruit de fond. Cependant, lanalyse
sub-surfacique est perturbe par la rugosit de la surface, ce qui entrane des variations de flux
de chaleur. La mme quipe [95] quelques annes plus tard sest encore penche sur
limagerie sub-surfacique mais cette fois par tomographie (application mdicale) : cest--dire
quen mme temps que la sonde du SThM balaye la surface, cette dernire est module en
frquence pour obtenir des informations en profondeur. Les auteurs obtiennent une
cartographie en trois dimensions de la conductivit thermique du volume dtude.

La liste non-exhaustive dapplications prcdemment cite permet dobtenir dexcellents
rsultats en terme qualitatif. Cependant, pour obtenir des informations quantitatives, beaucoup
dauteurs saccordent dire quil est trs difficile de sparer les informations thermiques et
topographiques et ainsi de savoir rellement ce que lon mesure.
Il est trs difficile de prendre en compte lensemble des phnomnes entrant en compte lors
des mesures ; en effet, lorsque la pointe de la sonde sapproche de la surface de lchantillon,
elle perturbe la zone de mesure. Plusieurs phnomnes entrent en jeu [84] : conduction
31
sonde/chantillon (effet dailette), rsistances de contact et de constriction entre la sonde et la
surface, conduction via le mnisque deau prsent autour de la sonde (Figure 1.08),
perturbations lectriques importantes lies aux forts courants traversant certains composants
lectroniques...

Figure 1.08 Schma de la prsence dhumidit aux abords de la sonde sur lchantillon.

Tous ces phnomnes dfinissent une rsistance de contact difficile dfinir. De plus, la
fabrication dune sonde est problmatique puisque, dune part, certaines ont une dure de vie
limite (voire trs limite) et dautre part, deux sondes identiques lil nu nont pas souvent
les mmes proprits intrinsques, il y a donc un problme de reproductibilit. SHI et al. ont
dvelopp un procd de fabrication permettant den fabriquer 300 en une seule fois. Les
auteurs annoncent une rsolution infrieure 100nm, malheureusement, la dure de vie de ces
sondes reste encore trs courte [92].

Des changes thermiques pas trs bien cerns et des sondes aux proprits changeantes ont
contraint de nombreuses quipes dvelopper des techniques de calibrations prenant en
compte le maximum de paramtres possibles (quation de la chaleur, conditions limites et
temporelles...) [14,19,22,29-30,34,53] pour remonter une information quantitative
thermiquement (temprature, conductivit thermique, diffusivit thermique...).
Plusieurs modles ont t proposs pour donner une interprtation quantitative des images
thermiques. Au dpart, ils considraient que la puissance ncessaire pour maintenir constante
la temprature de la sonde tait gale au flux de chaleur allant de la sonde lchantillon.
RUIZ et al. ont propos une procdure de calibration base sur lvolution de la conductivit
thermique dans un chantillon. Ils ont obtenu une loi parfaitement linaire entre les pertes de
chaleur dans la sonde et la conductivit thermique dchantillons connus [86]. MAJUMDAR
et al. ont suggr que les pertes taient non-linaires et que la majorit de la conduction de
chaleur allait plutt en direction du support de la sonde quen direction de la sonde vers
lchantillon [63], informations confirmes par GOMS et al. [31]. Ils ont obtenu une loi
32
entre la puissance injecte dans la sonde et la conductivit thermique de lchantillon suppos
comme tant non-linaire.

Lutilisation du SThM reste un puissant outil de travail pour ce qui est de limagerie
thermique donnant naissance de nombreuses applications dans ce domaine [4,7,12,35-38].
Mais le SThM reste encore difficile talonner du fait des problmes lis la ralisation des
sondes ou bien la prise en compte des effets thermiques mis en jeu [23,25].

1.1.4.4 La microscopie thermique applique au SNOM

Comme pour le SThM, si les SNOM peuvent dlivrer une image avec une rsolution
facilement sub-micromtrique, il est toujours aussi difficile de sparer les informations
thermiques de celles topographiques [84]. Des mesures par un SNOM thermique ont t
effectues laide dune fibre optique remplie de Rhodamine et dun dtecteur InSb [100] :
les auteurs annoncent une rsolution de lordre de /6 et /12, mais butent toujours sur les
sparations des informations (Figure 1.09).

Figure 1.09 SNOM coupl avec une fibre optique remplie de Rhodamine [100].

33
1.2 Les techniques champ lointain

Pour les mesures thermiques, on a vu que les techniques en champ proche sont sduisantes du
point de vue de la rsolution spatiale quil est possible datteindre et pour laspect qualitatif,
mais il nen est pas de mme pour laspect quantitatif. De plus, toutes ces techniques ne
permettent pas de faire des mesures hautes tempratures qui risquent dendommager
lensemble du dispositif cause de sa proximit avec la surface. Pour cela, il est intressant
denvisager des solutions champ lointain. Ce nest alors plus la mme physique qui rentre en
jeu : la physique en champ proche est remplace par celle en champ lointain, bien connue,
plus classique, et plus simple raliser ; les capteurs mesurent cette fois-ci le rayonnement
lectromagntique thermique issu de la surface vise. Il reste se poser la question du choix
de la longueur donde utiliser.

1.2.1 Lutilisation des grandes longueurs donde

Des procds ont t dvelopps pour mesurer des tempratures lchelle microscopique ;
cest le cas des mthodes qui utilisent le rayonnement thermique et qui ont pour intrt de ne
pas perturber la zone de mesure. Cependant, la taille des zones mesures est limite par la
longueur laquelle travaille le dtecteur (ou pyromtre). En effet, la limite de diffraction
dmontre par RAYLEIGH [44,69] impose que limage de deux points ne peut tre distincte
que si la distance qui les spare est infrieure la longueur donde du dtecteur
(x ).

Les camras de thermographie infrarouge utilisent le principe du champ lointain [77]. Elles
considrent que le signal mesur quelles mesurent est proportionnel au flux mis par la
surface ( ( ) ( )

d T M s T U
i
j
o
= ). Elles travaillent principalement dans les gammes suivantes :

[3m 5m] et [8m 12m]. Si les distances sont trs importantes, il est difficile de
raliser des mesures entre 5m et 8m car le rayonnement est absorb par latmosphre
(Figure 1.10).

34

Figure 1.10 Mise en vidence de labsorption du rayonnement par latmosphre entre 5m et 8m.

Ds lors, les camras qui utilisent linfrarouge peuvent thoriquement mesurer des
tempratures sur des zones de quelques micromtres. La camra et les dtecteurs IR
permettent de faire des mesures de temprature lambiante car le flux mis dans lIR est
important, ce qui est illustr sur la Figure 1.11 qui dfinit la loi de PLANCK (Second
Chapitre) pour plusieurs tempratures. Il apparat clairement que la sensibilit de la mesure
pour des basses tempratures est plus importante que pour de grandes tempratures. Plus la
temprature est leve, plus la pente est faible, ce qui peut entraner des erreurs importantes
sur la temprature. De plus, il faut prendre en compte lmissivit spectrale de la surface
vise. Comme le domaine spectral des camras est large, il est difficile de considrer
lmissivit comme constante sur une gamme spectrale aussi large.

2000 4000 6000 8000 10000 12000
10
0
10
2
10
4
10
6
10
8
10
10
10
12
10
14
Longueur d'onde (nm)
E
m
i
t
t
a
n
c
e

M
o
(
;
T
)

(
W
/
m
3
)
lieu des
maxima
5 580K
2 500K
1 000K
750K
500K
300K
5 500K

Figure 1.11 Loi de PLANCK.

35
1.2.2 Lutilisation des courtes longueurs donde

Le sujet de cette tude tant orient sur les mesures prcises de hautes tempratures lchelle
microscopique, il apparat intressant de se tourner vers les courtes longueurs donde pour la
mesure. En effet, au regard de la Figure 1.11, la sensibilit de la mesure parat bien plus
grande dans les ultraviolets que dans les infrarouges pour de fortes tempratures et
lutilisation de courtes longueurs donde permet de sonder des surfaces plus petites (limite de
diffraction lie au critre de RAYLEIGH). Dernier point, la gamme ultraviolette allant de
0,100m 0,4m, sil y a des variations dmissivit, elles se font dans une plus courte
gamme de longueur donde.

Le pionnier de la mesure ultraviolette est HERV [45]. Il a le premier mis au point une
mthode de mesure de la temprature de luminance sans contact laide dun pyromtre
fonctionnant dans la gamme spectrale ultraviolette ([0,100m 0,400m]). Il met en avant
dans ses travaux lintrt de la mesure aux courtes longueurs donde. Il explique que la
mesure de la temprature est trs peu sensible lmissivit dans cette gamme spectrale [46].
Il dmontre, dune part la faisabilit de cette mesure, et dautre part lamlioration de la
prcision de la mesure de temprature due la forte sensibilit du signal la temprature (une
variation de 10K modifie de 50% la valeur du signal).

Descendre dans lchelle spectrale prsente cependant ses limites puisque lnergie mise par
la surface devient de plus en plus faible (elle devient mme discontinue) pour une temprature
donne. Pour la mesure, il est ncessaire davoir recours un dtecteur quantique et une
technique de comptage de photons [47,76]. Au photomultiplicateur (Photo-Multiplicateur
Tube PMT) peut tre adapt un systme de refroidissement. Une quipe italienne a
rcemment tudi la fiabilit dun tel refroidissement de la cellule [78]. Ce moyen est trs
utile dans le sens o lmission photonique enregistre par le dtecteur peut tre biaise par la
prsence dun bruit intrinsque au capteur (bruit lectronique).

Nombre des travaux raliss par HERV sont des applications sur sites industriels.
Lutilisation de lultraviolet sur ce type de site a son avantage dans le sens o le rayonnement
solaire et lclairage artificiel qui se rflchissent sur les objets dans le domaine du visible,
sont arrts respectivement par la couche dozone et leur enveloppe.

36

1.3 La mthode multi-spectrale

La technique multi-spectrale, est explique plus prcisment au Second Chapitre. Elle repose
sur le rapport de mesures faites une seule temprature T mais diffrentes longueurs
donde. Ce rapport permet dliminer des termes comme la fonction de transfert du dtecteur
ou encore lmissivit spectrale de la surface ( condition que ces grandeurs ne dpendent pas
de la longueur donde).

La mthode multi-spectrale (ou multi-couleur) aborde sadapte trs bien aux mesures en
champ lointain quelle que soit la gamme spectrale utilise. Son principe a t prsent pour la
premire fois par CAMPBELL en 1925 [11] avec deux couleurs. Le principe a ensuite t
tendu trois (1954) [80], quatre puis six couleurs [16,60]. Ce sont CASHDOLLAR [12] et
SVET et al. [98], tous les deux en 1979, qui ont appliqu ces techniques respectivement pour
la mesure de la temprature de flammes avec trois longueurs donde et pour la mesure de la
temprature de surface avec quatre longueurs donde.

GARDNER en 1980 [27] propose un pyromtre six couleurs qui travaille entre [0.75m
1.6m] pour des tempratures comprises entre 1 100K et 1 700K (Figure 1.12). Il cherche
dterminer simultanment lmissivit et la temprature laide de filtres passe-bande (dune
largeur comprise entre 0,07m et 0,09m). Le signal est collect par une premire lentille,
puis concentr par un collimateur en direction des filtres. Les dtecteurs photovoltaques
placs derrire les filtres, reoivent une image dans leur gamme spectrale. Le signal de sortie
est amplifi et converti en une information proportionnelle au signal initial.

37

Figure 1.12 Dispositif pyromtrique six couleurs de GARDNER [27].

La bande spectrale de travail est large et les auteurs considrent que lmissivit varie
linairement en fonction de la longueur donde. Ils utilisent un modle non-linaire
dajustement de type moindres carrs pour remonter la temprature et lmissivit. Si
lmissivit ne peut pas tre considre comme constante, NORDINE, qui a travaill sur des
pyromtres une, deux, et trois couleurs [72], explique que la mthode est dcrire
comme
une fonction de qui contient (n 1) paramtres ajustables dans un pyromtre n couleurs (T
tant le dernier paramtre dfinir). Il se penche galement sur le moyen de calibrer le
pyromtre et prconise lutilisation des points de fusion plutt que dun corps noir, qui est
toujours difficile contrler. Cest ce quont fait HIERNAUT et al. [48] en mesurant le point
de fusion et lmissivit de neuf mtaux (entre 0,5m et 1m). Ils ont constat que la pente de
lmissivit changeait autour du point de fusion de certains matriaux. Pour chaque longueur
donde, lmissivit est de la forme ( ) ( ) ( )
i i
T b T a T + = ; ln . Ils annoncent une prcision de
la mesure de la temprature de fusion autour de 0,5%.
En 1989, DEWITT et al. [21] mesurent par un pyromtre quatre couleurs (0,53m, 1,06m,
3,8m, et 7,8m) la temprature et lmissivit dun chantillon de composite
carbone/phnolique irradi par laser. Lmissivit est toujours considre comme un
polynme de la forme ( ) ( ) ( )
i i
T b T a T + = ; ln . Les auteurs estiment 10% prs lmissivit
la plus courte longueur donde et 1,4% pour les autres, ce qui donne une prcision 1% en
temprature.

38
Suite ces amliorations, la technique a t utilise dans des applications industrielles : TSAI
et al. [106] et WEN et al. [109] lont utilise sur des alliages daluminium industriel. TSAI
fait galement tat de la dpendance de lmissivit en fonction du temps ; en effet, sur des
matriaux hautes tempratures, ltat de la surface a une influence sur la valeur de
lmissivit (oxydation en surface). Nous voyons ici apparatre lintrt de lUV qui, compte
tenu du fait de la forte variation du signal, nous permet de travailler sur une gamme spectrale
troite o la mesure reste moins sensible ces variations.
Autres cas industriels, LEGRAND [55] et MERIAUDEAU [65] ont respectivement appliqu
la technique multi-spectrale au CND haute et basse temprature par thermographie et la
mesure de temprature en temps rel laide dune camra CCD (mthode six couleurs).
39
Conclusion

Ce chapitre a fait tat de quelques techniques permettant de mesurer la temprature lchelle
microscopique.

Les premires techniques permettent de raliser des cartographies de surface lchelle de
latome, les mesures thermiques par ces techniques restant dlicates. En effet, la seule
prsence de la sonde aux alentours de la surface perturbe fortement la mesure ; les
informations thermiques deviennent alors difficilement sparables des informations
topographiques. De plus, certaines mesures restent difficiles car parfois la surface est
inaccessible la mesure et requirent un talonnage.

Les techniques non-intrusives doptique classique permettent de mesurer longues distances
laide du rayonnement thermique. Et mme si les performances ne sont pas celles des
microscopes champ proche, la rsolution spatiale, qui est limite par la longueur donde de
mesure, atteint thoriquement quelques micromtres.
premire vue, il semble intressant de travailler avec les infrarouges car les nergies sont
facilement mesurables mme pour des tempratures de surface proches de lambiante. Mais
ces longueurs donde, la sensibilit est trs faible la moindre variation de temprature et
lmissivit peut varier fortement avec la longueur donde car la fentre spectrale des
dtecteurs est grande.
Il apparat alors intressant de descendre en longueur donde, et cela pour plusieurs raisons :
tout dabord la courbe de PLANCK prsente une sensibilit plus forte quand la longueur
donde diminue ; dautre part, lmissivit des matriaux a tendance augmenter quand
diminue ; enfin, la limite de diffraction permet daugmenter la rsolution spatiale de mesure.
Cependant, la mesure aux courtes longueurs donde ncessite une temprature de surface
consquente. Les nergies sont trs faibles et le flux que lon dsire mesurer est une grandeur
discontinue. Il apparat alors judicieux demployer des techniques de comptage de photons au
moyen dun photomultiplicateur (lequel peut tre refroidi pour diminuer le bruit parasite),
associ une mthode multi-spectrale pour saffranchir de lmissivit locale de la surface.

Second chapitre

Le rayonnement thermique aux courtes longueurs donde
42
Sommaire

Second chapitre Le rayonnement thermique aux courtes
longueurs donde p.41
Introduction p.43
2.1 La radiomtrie thermique p.44
2.1.1 La notion donde/corpuscule p.44
2.1.2 Langle solide p.45
2.1.3 Les grandeurs nergtiques p.46
2.1.3.1 La luminance p.46
2.1.3.2 Lmittance p.46
2.1.3.3 Lmissivit p.47
2.2 Le rayonnement thermique aux courtes longueurs donde p.48
2.2.1 La loi de PLANCK p.48
2.2.2 Lintrt des courtes longueurs donde p.49
2.2.2.1 Lmissivit des matriaux aux courtes longueurs donde p.49
2.2.2.2 Un comparatif ultraviolet-visible/infrarouge p.50
2.2.2.3 La mthode multi-spectrale p.53
2.2.2.4 Lerreur sur la mesure p.57
2.3 Lapproche photonique du rayonnement thermique p.63
2.4 Lmission photonique : une grandeur statistique alatoire p.65
2.4.1 Lapproche statistique du flux photonique p.65
2.4.2 Leffet du bruit exprimental sur la mesure du flux photonique p.68
2.5 La limite de diffraction p.70
Conclusion p.71
Second chapitre Le rayonnement thermique aux courtes longueurs donde
43
Introduction

Ce chapitre reprend les approches classiques du rayonnement thermique et les dfinitions des
principales grandeurs utilises par la suite.

Il est important de rappeler que dans cette partie thorique, seules les lois classiques du
rayonnement sont utilises : loi de PLANCK, loi de dplacement de WIEN ou encore
approximation de WIEN. Ces dernires tant appliques aux courtes longueurs donde.
partir de l, plusieurs questions se posent : quels sont les avantages travailler dans la gamme
spectrale ultraviolet-visible par rapport aux infrarouges ? Quels paramtres engendrent des
erreurs ? Quelle est la tendance des matriaux mettre dans les ultraviolets et le visible par
rapport aux infrarouges ?... De ces quelques questions (liste non exhaustive), nous tenterons
de faire ressortir les avantages et les inconvnients de lutilisation des courtes longueurs
donde.

de trs petites chelles, le principal inconvnient de lutilisation des courtes longueurs
donde est la ncessit davoir des tempratures leves pour obtenir des signaux exploitables
en terme de flux. Or, lobjet de ces travaux est la mesure de tempratures moyennes sur des
surfaces de dimensions micromtriques (de lordre de 1 200C et moins). Le flux radiatif, qui
est une grandeur continue, devient une grandeur discrte ; cest pourquoi nous prsenterons
les mmes lois du rayonnement thermique en terme de flux photonique, qui est une adaptation
de la loi de PLANCK mais exprime en photons/s. De l, nous pourrons remonter la
temprature.

Un paragraphe est consacr laspect microscopique de ltude : comme le dispositif de
mesure est un microscope optique quip dun objectif ultraviolet-visible (Troisime
Chapitre), le principe de la limite de diffraction de RAYLEIGH est rappel et dvelopp.

Une dernire partie est consacre lerreur de mesure due au caractre alatoire de lmission
photonique (biais) et sa prise en compte dans les mesures.
44
2.1 La radiomtrie thermique

2.1.1 La notion onde-corpuscule

Le rayonnement thermique est une onde lectromagntique. Cette onde est la rsultante dun
champ magntique et dun champ lectrique sinusodaux de supports perpendiculaires, en
translation la mme vitesse c, selon une direction orthogonale ces deux supports (Figure
2.01).

Figure 2.01 Propagation dune onde lectromagntique.

Une onde lectromagntique est caractrise par son vecteur donde et sa frquence. Le
rayonnement thermique abord ici, possde une gamme spectrale communment tendue
entre 0,100m < < 100m. Cette gamme spectrale inclut les ultraviolets ([0,100m
0,380m]), le visible ([0,380m 0,760m]) et linfrarouge ([0,760m 100m]).

La physique quantique a montr que les ondes lectromagntiques pouvaient transporter leur
nergie grce aux photons. La quantit dnergie transporte par un photon E
, est dfinie par

la relation (2.01).

/
o
hc E =
(2.01)

Cette nergie sexprime en Joule (J). Elle est fonction de la longueur donde , de la constante
de PLANCK h = 6,62.10
-34
J.s, et de la vitesse de la lumire dans le vide c
o
= 3.10
8
m.s
-1
.
Lindice de lair tant trs proche de celui du vide, on peut noter sans trop se tromper, que
45
E
= hc/ dans le cas o londe se propage dans lair (c = c

o
/n, n tant lindice de rfraction du
milieu).

2.1.2 Langle solide

La dfinition de langle solide lmentaire (exprime en stradian sr) est rappele dans
lquation (2.02) o dScos est la surface vue du point O, langle de cette surface avec la
direction OO (dScos est appele surface apparente), et R = || ' OO || (Figure 2.02).

cos
R
S d
d

= (2.02)

Figure 2.02 Angle solide.

Si une surface plane horizontale met sur tout le demi-espace suprieur, on montre aisment
que langle solide vaut 2 sr. Si elle peut mettre dans tout lespace, son angle solide vaut 4
sr.

46
2.1.3 Les grandeurs nergtiques

2.1.3.1 La luminance

On considre un lment d dune surface oriente suivant une normale n
r
qui met un
flux d
4
mis
(,) dans un angle solide d selon une direction dangles et par rapport sa
normale n
r
(Figure 2.03). On peut dfinir la luminance L(,) de d par :

d d L d
mis
cos ) , ( ) , (
4
= (2.03)

qui est la densit de flux issue dune surface, mise dans une certaine direction et dans un
certain angle solide. Elle sexprime en W.m
-2
.sr
-1
. Si la luminance reste la mme quelle que
soit la direction dmission, elle est dite isotrope ou lambertienne et alors L(,) = L = cte. En
pratique, la luminance est surtout fonction de et peu de pour les corps isotropes [87], cette
constatation est prise en compte par la suite.

Figure 2.03 La luminance : flux mis dans une direction particulire.

2.1.3.2 Lmittance

Lmittance M est dfinie comme la densit de flux quittant d dans tout le demi-espace
suprieur soit :

=
2 2
Md d
mis
(2.04)
47

avec :

= = cos d Ld d d
2 2
mis
4
mis
2
(2.05)

Dans le cas dune luminance lambertienne, alors :

L M = (2.06)

Figure 2.04 Expression de dS en coordonnes polaires.

Figure 2.05 Lmittance : le flux est mis dans tout le demi-espace suprieur .

2.1.3.3 Lmissivit

On rappelle brivement que le flux radiatif est fonction dun facteur dpendant entre autres de
ltat de surface, de la direction ou encore de la longueur donde qui est lmissivit
'
. Dans
48
le cas de cette tude, on considre quil est seulement fonction de la longueur donde et quon
le note sous la forme
.

2.2 Le rayonnement thermique aux courtes longueurs donde

2.2.1 La loi de PLANCK

PLANCK a montr que la luminance, cest--dire la densit de flux nergtique d
4
mis
(,)
qumet une surface idale ( noire ) d dans une direction particulire de lespace dangle
solide d, peut tre dcrite par la loi suivante :

1
2
) ; (
5 2
T k
hc
b
e
hc
T L
(2.07)

avec k
b
= 1,3808.10
-23
J.K
-1
, tant dfinie comme la constante de BOLTZMANN. Si le flux est
mis dans les 2 sr de lespace, alors on peut aussi dfinir lmittance du corps noir :

1
2
) ; (
5 2
T k
hc
b
e
hc
T M

(2.08)

Il est galement commun de mettre cette expression sous la forme :

1
C
) ; (
2
C
5
1
T
e
T M

(2.09)

avec (dans le vide) C
1
= 2hc
o
= 3,741.10
-16
W.m
2
et C
2
= hc
o
/k
b
= 0,014388m.K. La Figure
2.06 prsente la loi de PLANCK en fonction de la longueur donde pour diffrentes
tempratures allant de lambiante (300K) celle du soleil (5 580 K). La distribution dnergie
dun corps temprature T
1
est toujours situe en dessous de la courbe dun corps
temprature T
2
> T
1
, et cela, quelle que soit la longueur donde.

49
2000 4000 6000 8000 10000 12000
10
0
10
2
10
4
10
6
10
8
10
10
10
12
10
14
E
m
i
t
t
a
n
c
e

M
o
(
;
T
)

(
W
/
m
3
)
lieu des
maxima
5 580K
2 500K
1 000K
750K
500K
300K
5 500K

Figure 2.06 Lmittance du corps noir.

2.2.2 Lintrt des courtes longueurs donde

2.2.2.1 Lmissivit des matriaux aux courtes longueurs donde

De nombreux matriaux voient leur missivit augmenter quand la longueur donde diminue
mais galement se stabiliser dans les ultraviolets [46-47,102]. Cette tendance est prsente sur
la Figure 2.07 pour un petit nombre dentre eux et offre des avantages qui seront dvelopps
ultrieurement.

0 500 1000 1500 2000 2500 3000
0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
E
m
i
s
s
i
v
i
t

s
p
e
c
t
r
a
l
e
Stumatite
Titane
Tungstne
Aluminium
Cuivre
Or
Nickel

Figure 2.07 missivits de plusieurs matriaux en fonction de la longueur donde [101].
50

2.2.2.2 Un comparatif ultraviolet-visible/infrarouge

Plusieurs notions sont prendre en compte dans un comparatif ultraviolet-visible/infrarouge :
la sensibilit de lmittance la temprature,
le niveau absolu de lmittance,
lmissivit en tant que telle et sa consquence sur la dtermination de la temprature.

Pour les faibles longueurs donde, la loi de PLANCK peut tre simplifie par lapproximation
de WIEN :

T C
e C T M

2
5
1
) (

= (2.10)

pour T << 14 000m.K (en pratique pour T < 3 000m.K).

Lapproximation de WIEN met en vidence les trs fortes variations de lmittance avec la
temprature [84] : plus la longueur donde est faible, plus lnergie mise est sensible la
temprature et cela, indpendamment de son niveau absolu (cet aspect sera dtaill avec la
mthode multi-spectrale).

En ce qui concerne le niveau absolu de lmittance, la Figure 2.08 illustre les quatre bandes
spectrales suivantes :

[0,01m 0,4m] ultraviolet
[0,4m 0,8m] visible
[3m 5m] infrarouge IR-I
[8m 12m] infrarouge IR-II

sur lesquelles est intgre lmittance.

51
0 1000 2000 3000 4000 5000 6000
10
-20
10
-15
10
-10
10
-5
10
0
10
5
10
10
10
15
Temprature T (K)
M
0
(
.
T
)

(
W
/
m
2
)
0 1000 2000 3000 4000 5000 6000
10
-20
10
-15
10
-10
10
-5
10
0
10
5
10
10
10
15
Temprature T (K)
M
0
(
.
T
)

(
W
/
m
2
)
Ultraviolet
Visible
IR-II
IR-I

Figure 2.08 mittance intgre sur plusieurs bandes spectrales.

Il semble intressant de changer de gamme de longueur donde partir de certains seuils de
temprature : en effet, les courbes dmission se croisent, ce qui implique une inversion des
performances potentielles de deux bandes de dtection en terme de niveau dmittance. Ces
inversions se produisent lorsque lon passe de la bande IR-I la bande IR-II partir de 582K
(282C) ou de la bande IR-II au visible 1 973K (1 700C) ou enfin de lIR-II lultraviolet
3 280K (3 000C). Il est clair que si le niveau dmittance tait prendre en compte, les
tempratures ncessaires pour raliser des mesures dans lultraviolet seraient visiblement trs
leves.

Enfin, en ce qui concerne lmissivit, il est intressant de dterminer la relation entre la
temprature T vraie de la surface dmissivit
et la temprature de luminance T
L
qui
suppose la surface noire, soit en utilisant lexpression (2.10) :

T
C
T
C
e C e C
I

2
2
5
1
5
1
= (2.11)

) (
1 1
2

ln
C T T
L
+ = (2.12)

Cette relation montre que la temprature de luminance est toujours infrieure la temprature
vraie (ln(
) est ngatif). Ainsi, partir de la Figure 2.07 qui montre la tendance de

52
lmissivit des matriaux crotre quand la longueur donde diminue, la diffrence entre la
temprature de luminance T
L
et la temprature vraie T de la surface, exprime par la relation
(2.12), est dautant plus faible que est petit ; le produit ln(
) tendant rapidement vers 0

avec (Figure 2.09).

0 500 1000 1500 2000 2500 3000
-8
-7
-6
-5
-4
-3
-2
-1
0
l
n
(
)
Aluminium
Cuivre
Tungstne
Titane
Nickel
Stumatite
Or

Figure 2.09 - ln(

) = f( ) pour les lments dj prsents sur la Figure 2.07.

Pour appuyer un peu plus lintrt dutiliser les courtes longueurs donde, on peut partir de la
loi de DRUDE [83,99] sur les ondes lectromagntiques. Pour les matriaux dilectriques, le
coefficient monochromatique dabsorption K
(aussi not
) sexprime sous la forme

suivante :

o
v
v
K
4
= (2.13)

o
est lindice dextinction de londe. Si le matriau est un mtal ou un dilectrique

imparfait, alors :

2 / 1
4
4
4 4

= = =
o
o e
o o
e
o o o
o o
v
v
A
r
c
r
c
K
(2.14)

53
o r
e
est la rsistance lectrique. La relation (2.14) nonce que le coefficient
monochromatique dabsorption est inversement proportionnel la longueur donde. De plus,
partir de la loi de KIRCHHOFF (2.15) et en considrant le matriau comme lambertien, on
peut donc en conclure que lmissivit augmente lorsque la longueur donde diminue.

' '

= (2.15)

2.2.2.3 La mthode multi-spectrale

Il est possible de dterminer la temprature dune surface grce lapproximation de WIEN
(2.10), condition den connatre lmissivit. Cependant, si lmissivit est inconnue, le
rapport de deux signaux mesurs des longueurs donde diffrentes mais proches lune de
lautre, permet de remonter la temprature indpendamment de lmissivit. Cette mthode
dite multi-spectrale [27] permet de saffranchir non seulement de lmissivit mais aussi
dautres paramtres inconnus propres au capteur (missivit, fonction de transfert du systme
de mesure...).

Soient deux mesures de flux effectues des longueurs donde
i
et
j
pour une temprature
T :

( )
T C
i i
i
i
e C T M

/ 5
1
2
;

= (2.16)

( )
T C
j j
j
j
e C T M

/
5
1
2
;

= (2.17)

Le rapport des mesures (
i
,
j
;T) est introduit :

|
|
\
|

|
|
\
|
= =
j i
j
i
j
i
T
C
j
i
j i
e
T M
T M
T

1 1 5
2
) (
) (
) ; , ( (2.18)

La mthode multi-spectrale ncessite davoir
i
et
j
aussi proche lune de lautre de manire
pouvoir faire lhypothse que
j i

= . Ainsi, la formule (2.18) donne :

54

|
|
\
|
|
|
\
|
|
|
\
|

=
5
2
1 1
i
j
j i
i
j
j
i
M
M
ln
C
T
(2.19)

Les relations (2.10) et (2.19) permettent dexprimer la temprature partir du flux mis par la
surface vise et non partir du flux reu par la cellule sensible du systme de mesure. Dans ce
dernier cas de figure, il faut prendre en compte la fonction de transfert de ce systme, laquelle
peut tre fonction de la longueur donde (Troisime Chapitre) et des flux parasites provenant
de lenvironnement de la cellule.

La Figure 2.10 montre les rapports de fractions dmission dans les deux gammes ultraviolet
et infrarouge sur trois bandes spectrales diffrentes trs troites (longueur moyenne et de
largeur de bande 2 = 20nm). Les signaux ultraviolets sont mesurs sur les bandes spectrales
1
= 380 10nm,
2
= 390 10nm, et
3
= 400 10nm, et ceux dans linfrarouge sur les
bandes spectrales
4
= 4 000 10nm,
5
= 4 010 10nm, et
6
= 4 020 10nm. Les rapports
suivants ont t effectus :
1
/
2
,
1
/
3
,
2
/
3
,
4
/
5
,
4
/
6
, et
5
/
6
. Il apparat clairement
que la sensibilit en fonction de la temprature est plus leve avec des mesures ralises aux
courtes longueurs donde.

500 600 700 800 900 1000 1100 1200 1300 1400
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
0.9
1
1.1
Temprature (C)
R
a
p
p
o
r
t
s

d
e
s

s
i
g
n
a
u
x
Rapports signaux infrarouges
Rapports signaux ultraviolets

Figure 2.10 - Mise en vidence de la diffrence de sensibilit entre des mesures faites dans les ultraviolets et
dans linfrarouge.
55

La mthode multi-spectrale ncessite le choix des longueurs donde utiliser. Lobjectif est
dobtenir une variation relative importante de M pour deux valeurs
i
et
j
qui doivent tre les
plus proches possibles pour valider lhypothse
j i

= . Soit le coefficient de sensibilit
rduit
d
dM
M
1
le plus grand possible, la relation (2.20) montre que :

|
\
|
=

5
) ( 1
2 1
T
C
d
dM
M
(2.20)

La Figure 2.11 montre que cette sensibilit augmente lorsque la longueur donde diminue ;
dans labsolu, le meilleur choix serait la plus petite longueur donde possible.

0 1000 2000 3000 4000 5000 6000
10
2
10
3
10
4
10
5
10
6
10
7
10
8
10
9
10
10
d
M
/
M
d
700K
900K
1 100K
1 300K
1 500K
1 700K

Figure 2.11 volution du coefficient de sensibilit rduit en fonction de .

Pour choisir au mieux les longueurs donde, on simpose la contrainte suivante : on se fixe le
rapport entre les signaux = (
i
,
j
;T). Ainsi, partir de lexpression (2.18) en posant
x =
i
/
j
, en supposant que
j i

= ( faible), alors :

( )
) 1
5
2
x
T
C
i
e x (2.21)

56
En posant : x
T
C
x
i
5
2 *
= (2.22)

la relation (2.21) devient :
T
C
i
x
i
e
T
C
e x

5
5 / 1
2 *
2
* 1
5

= (2.23)

soit : ) (
*
*
i
x
e x = (2.24)

avec :
T
C
i
i
i
e
T
C

5
5 / 1
2
2
1
5
) (

= (2.25)

La forme de lexpression (2.25) est connue pour tre celle de LAMBERT (Annexe A). La
Figure 2.12 est la reprsentation de la relation (2.25) pour un produit
i
T = 483 m.K (par
exemple
i
= 0,380m et T = 1 273K).

0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8 0.9 1
0.9
0.92
0.94
0.96
0.98
1
Rapport des signaux
R
a
p
p
o
r
t

i
/
j

Figure 2.12 Reprsentation du rapport
i
/
j
en fonction du rapport entre les signaux pour un produit

i
T = 483m.K.

En se fixant initialement = 2 (ou 0,5, cest selon), on obtient alors
i
/
j
0,975, rapport qui
correspond approximativement des longueurs donde 380nm et 390nm ou bien 390nm
et 400nm. Deux longueurs donde sont suffisantes pour remonter la temprature, mais
avec trois, il est possible de faire de linter-comparaison. Les sont ici approximativement
57
de 10nm. titre informatif, les trois longueurs donde prsentes ici sont celles qui sont
utilises exprimentalement (Troisime Chapitre).
2.2.2.4 Lerreur sur la mesure

Sil apparat intressant a priori deffectuer des mesures aux courtes longueurs donde pour
plusieurs points de vue, il est important dvaluer les erreurs de mesure. Au regard de
lapproximation de WIEN (2.10), les erreurs de mesure sont fonction de la longueur donde
et de lmissivit
(elle-mme fonction de ).

Si lquation (2.10) est diffrencie, on obtient :

2
2
2
2
5
) (
) (
T
dT C d
T
C d d
T M
T dM

+ + = (2.26)

expression que lon peut crire sous la forme suivante :

|
\
|
+ + =
T
e e
T
C e
e
T M
e
T
T M

2
) (
5
) (
(2.27)

avec e
T
= T
mesure
T
vraie
,
e erreur sur
et e
erreur sur . Lerreur est minimale si

lexpression (2.27) est nulle :

e
C
T
e
C
T
T
e
T
1
5
2 2
+ = (2.28)

En considrant, dans un premier temps, que lerreur sur la longueur donde est nulle
(e
= 0), alors :

e
C
T
T
e
T
2
= (2.29)

Cette relation est intressante pour deux points. Tout dabord, lerreur est fonction de la
longueur donde, donc si diminue, lerreur aussi. Deuximement, il a t dit et montr sur la
58
Figure 2.07 que lmissivit
augmente quand diminue, puis varie peu dans les longueurs

donde ultraviolet-visible ; ainsi lerreur sen trouvera-t-elle encore plus faible.

En considrant maintenant que lerreur sur lmissivit est nulle ( 0 =
e ) :

e
C
T
T
e
T
1
5
2
= (2.30)

Lerreur sur la mesure est minimale pour :

1
5
2
=
C
T
(2.31)

K . m 6 , 877 2 5 / 014388 , 0 5 /
2
= = = C T (2.32)

Il est vident quon retrouve la loi de WIEN :
m
T = 2897,8m.K ; le lger dcalage
provenant de lapproximation de la loi de PLANCK.

Outre la rsolution spatiale ( 2.5), comme cela a t vu prcdemment, lintrt de travailler
dans le proche ultraviolet et le visible est dtre plus sensible aux variations de temprature.
La Figure 2.13 montre bien lvolution de la sensibilit lorsque la longueur donde diminue.
Cependant, il y a un seuil de temprature pour la dtectivit des flux : la Figure 2.13 laisse
apparatre que si on veut mesurer des flux autour de 0,4m (pour une surface vise dun
diamtre de lordre de la longueur donde ), la temprature de la surface doit tre
consquente (suprieure 1 000K).

59
0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8
10
-4
10
-2
10
0
10
2
10
4
10
6
10
8
10
10
Longueur d'onde (m)
E
m
i
t
t
a
n
c
e

M
o
(
;
T
)

(
W
/
m
2
)
1 500K
600K
700K
800K
900K
1 000K
1 100K
1 200K
1 300K
1 400K
Ultraviolet
Visible
500K

Figure 2.13 Courbe de PLANCK de lmission dun corps noir : zoom de la gamme ultraviolet-visible et
mise en vidence de laugmentation de la sensibilit aux faibles longueurs donde.

Le but de la mthode multi-spectrale est de pouvoir remonter la temprature de la surface
sans en mesurer lmissivit. En reprenant la relation (2.18), le rapport de deux signaux
donne :

|
|
\
|

|
|
\
|
=
j i
j
i
j
i
T
C
j
i
e
T M
T M

1 1 5
2
) (
) (
(2.33)

On va choisir
i
et
j
de faon ce que
j i

/ soit proche de 1, pour cela, on utilise un
dveloppement de TAYLOR de
i
, soit :

( )
( )
...
2
2
2
2
+
+ + =
j i
j i
d
d
d
d
j i

(2.34)

( )
( )
...
2
1 1
1
2
2
2
+
+ + =
j i
j i
d
d
d
d
j j j
i

(2.35)

60
Le dveloppement montre que
j i

/ est dautant plus proche de 1 que
i
et
j
sont proches
lun de lautre. Il est intressant de voir comment volue lerreur relative sur la temprature,
pour cela, on crit le rapport
j i

/ au premier ordre, soit :

( )
j i
d
d
j
i

+ =
1
1 (2.36)

La relation (2.33) drive donne :

( )
( )
( )
...
/
/
5
1
/
/
+ =
j i
j i
j i
j i
j i
d
d d
d
d
M M
M M d

(
(
|
|
\
|
+
|
|
\
|
2 2
2
1 1
j
j
i
i
j i
d
d
T
dT
T
C

(2.37)

partir de (2.37), lerreur relative sur la temprature e
T
/T est dduite, en considrant les
termes diffrentiels comme des erreurs.

+ = ... 5 5
2 2
d
d
T
C
e
d
d
T
C
e
T
e
j
j j
i
i i
T
j
i

j i j
M
i
M
T
C
M
e
M
e
j
i

1 1
2
(
(
(
+ + (2.38)

La formule (2.38) montre quil existe un terme derreur intrinsque la variation de en
fonction de ; nanmoins, en pratique, lerreur la plus importante reste celle sur la mesure du
signal.
Dautre part, le terme au dnominateur de lquation (2.38) est problmatique puisque, pour
des longueurs donde
i
et
j
trs proches lune de lautre, ce terme tend vers zro et donc
lerreur vers linfini. Il y a donc un compromis trouver entre deux valeurs trs proches pour
obtenir
j i

et deux valeurs suffisamment loignes pour ne pas introduire une erreur
trop importante. Pour ne pas amplifier lerreur, il faut que :

61
1
1 1
2
>
j i
T
C

(2.39)

do la contrainte sur
i

j
:

2
C
T
j i
j i

> (2.40)

titre dexemple, pour
i

j
0,4m et T = 1 000K, alors :

nm
j i
10 > (2.41)

(cest ce qui est utilis en pratique).

Pour justifier lemploi des courtes longueurs donde, SERIO et al. proposent une approche
toute diffrente en mettant au point un facteur doptimisation [90]. Ce facteur prend en
compte deux termes : Q
1
d la sensibilit en fonction de la longueur donde et Q
2
d au
rapport signal sur bruit dans le cas dun rayonnement thermique issu du fond (dtecteur et
milieu ambiant).
Le premier terme Q
1
, que les auteurs nomment leffet thermosensible, est dfini comme la
drive de la distribution spectrale de rayonnement par rapport la temprature. Il value
laccroissement de la sensibilit quand la longueur donde diminue. Lexpression est
normalise par leffet calcul pour la longueur donde de rayonnement maximum donne par
la loi de dplacement de WIEN :

( )
( )
( )
dT
T dL
dT
T dL
T Q
o
o
,
,
,
max
1
= (2.42)

Q
2
, rapport signal sur bruit du systme de dtection, est la fraction de rayonnement
effectivement reue par le dtecteur une longueur donde donne par unit de surface pour
62
une bande spectrale arbitraire sur la puissance quivalente de bruit pour une bande de bruit
B de 1Hz :

( )
( )
( ) B T NEP
T L
T T Q
f
o
f
,
,
, ,
2

= (2.43)

sachant que :

( )
( )
f
f
f
T
T P
kT T NEP
=
,
2 ,
2

(2.44)

Lexpression (2.44) est la formule dEINSTEIN [10], laquelle dfinit le meilleur dtecteur
possible vis--vis du rapport signal sur bruit. Dans cette expression, la puissance rayonne par
le photorcepteur lui-mme et par son entourage est donne par :

( ) ( )
=
c
d T L A T P
f
o
T f

0
, , (2.45)

o A est la surface sensible du dtecteur,
T
est le facteur dmission du fond (suppos gal
1), et T
f
la temprature du fond. Cette puissance rayonne est value en utilisant la loi de
WIEN intgre sur le domaine spectral de rponse du photodtecteur limit par sa longueur
donde de coupure
c
.

Enfin, le facteur de mrite Q est dfini comme tant le produit des deux facteurs Q
1
et Q
2

(2.45). La Figure 2.14 reprsente les volutions du facteur de qualit Q en fonction de la
longueur donde et pour diffrentes tempratures de surface T.

( ) ( ) ( )
f f
T T Q T Q T T Q , , , , ,
2 1
= (2.46)

63
0 1 2 3 4 5
10
-10
10
0
10
10
10
20
10
30
10
40
10
50
10
60
Longueur d'onde (m)
F
a
c
t
e
u
r

d
e

q
u
a
l
i
t

Q
=
Q
1
.
Q
2
600C
700C
800C
900C
1 000C
1 100C
1 200C

Figure 2.14 Facteur de mrite en fonction de la longueur donde pour diffrentes tempratures de surface
pour lutilisation dun dtecteur quantique.

titre dexemples, les longueurs donde de 1m, 0,59m, et 0,25m sont les longueurs
donde idales pour des tempratures de surfaces respectivement de T = 600C, 700C, et
800C. Il est noter que les travaux de SERIO portent sur lutilisation dun
photomultiplicateur pour mesurer le signal, ce qui est lobjet du paragraphe suivant.

2.3 Lapproche photonique du rayonnement thermique

Comme cela a t dit au paragraphe prcdent, il existe un seuil dacceptabilit pour pouvoir
dtecter des flux exploitables aux courtes longueurs donde. 1 300K et au-del, le problme
ne se pose pas (Figure 2.15), mais en-dessous, il est plus difficile den retirer des
informations. Donc, compte tenu du faible niveau (voire de la discontinuit) du signal
observ, plutt que de parler en terme dnergie, il est plus judicieux de rflchir en terme de
nombre de photons mis.

Il est possible dexprimer lapproximation de WIEN (2.10) en terme de flux photonique.
Lnergie associe un photon est donne par la relation :

64

c
h E = (2.47)

On considre ici lmittance photonique monochromatique du corps noir :

E M
o o
/ = (2.48)

Ce nombre de photons
o
mis par seconde en fonction de la temprature de la paroi et de la

longueur donde , pour une surface unitaire, est reprsent sur la Figure 2.15. Dans ces
conditions, il faut au minimum une temprature de 448K (175C) pour obtenir un photon par
seconde et par mtre carr une longueur donde de 0,4m.

Si le dtecteur est destin la mesure de temprature des petites chelles, il est intressant
de reprsenter lmission dune surface non unitaire, de dimension comparable celle de la
longueur donde du rayonnement, cest--dire daire s
= /4. La valeur de cette aire

correspond celle de la rsolution spatiale de la mesure : on sait que pour une longueur
donde donne, la limite est de lordre de cette longueur donde (critre de RAYLEIGH). On
a trac le flux photonique
e
n
(photons.s
-1
) monochromatique mis par ce disque :

o e
s T n

= ) ( (2.49)

T C e
e
hc
s C
T n

/ 4 1 2
) (

= (2.50)

En prenant en compte cette aire, on a ainsi un seuil de dtectivit 1 photon par seconde
711K (438C) pour une longueur donde de 0,4m (Figure 2.16). Pour commencer faire des
mesures, il faut compter un minimum de 10 photons/s et dans le cas idal 100 photons/s.

65
1000 2000 3000 4000 5000 6000
10
0
10
10
10
20
10
30
Temprature T (K)
F
l
u
x

p
h
o
t
o
n
i
q
u
e

o

(
p
h
o
t
o
n
s
/
m
.
s
)
0,1m
Seuil de dtectivit 1photon/s
3, 5, 8 et 12m
0,8m
0,3m
0,4m
0,2m
448K
(175C)

Figure 2.15 Flux photonique issu dune surface unitaire.

1000 2000 3000 4000 5000 6000
10
-5
10
0
10
5
10
10
10
15
10
20
10
25
Temprature T (K)
F
l
u
x

p
h
o
t
o
n
i
q
u
e

n

(
p
h
o
t
o
n
s
/
s
)
0,1m
711K
(438C)
Seuil de dtectivit 1photon/s
3, 5, 8 et 12m
0,8m
0,4m
0,3m
0,2m

Figure 2.16 - Flux photonique issu dune surface de la taille de la longueur donde du rayonnement.

2.4 Lmission photonique : une grandeur statistique alatoire

2.4.1 Lapproche statistique du flux photonique

Si ) (T n
e
est le flux photonique mis par une surface (2.49), alors n
(T) = n est dfini comme

tant le flux photonique reu par la cellule sensible du photomultiplicateur (Troisime
Chapitre).
66
Du fait du caractre alatoire de lmission de la surface, le flux photonique n ne peut pas tre
mesur exactement, cest une valeur stochastique (ou alatoire). Une estimation N du flux
photonique n peut tre dfinie comme tant le nombre de photons Y compts pendant un
temps de comptage t.

t Y N / = (2.51)

Le flux photonique n est donc lesprance de N (E(N) = n). En introduisant = E(Y),
lesprance du nombre de photons compts pendant t, alors :

t n n t Y N / / ) E( ) E( = = = (2.52)

Le temps de comptage t est divis en un trs grand nombre q (idalement une infinit)
dintervalles de temps trs courts t pendant lesquels le dtecteur peut enregistrer 0 photons
(vnement X = 0, avec la probabilit ) ou 1 photon (vnement X = 1, avec la probabilit
1 ), la probabilit tant petite (pour viter la saturation du dtecteur). X est alors un ala
du binomial desprance (entire) = q. La probabilit dobserver lmission de p photons
(0 p q) est donne par (2.53). Les lois de la statistique sont rappeles en Annexe B.

{ }
p q p p
q
C p Y

= = ) 1 ( P (2.53)

Comme t = qt, la probabilit est gale nt. La variance de Y (le carr de son cart-type
Y
) est alors :

) 1 ( ) 1 ( ) V( ) V(
2
t n q X q Y
Y
= = = = (2.54)

Si q (= t/t) est grand (q > 50) et si (= q = nt) est infrieur 5 (Figure 2.17), la loi
binomiale tend vers la loi de POISSON de paramtre (esprance et variance) et donc :

( )
!
P
k
e
k Y
k

= = (2.55)

67
Si q est grand, mais si est cette fois suprieur 5 (Figure 2.17), la loi binomiale tend vers la
loi normale de paramtres (esprance et variance) :

( )
|
|
\
|
= =
2
) (
2
1
exp
2
1
P

k k Y (2.56)

0 5 10 15 20
0
0.05
0.1
0.15
0.2
0.25
0.3
0.35
0.4
D
i
s
t
r
i
b
u
t
i
o
n

p
h
o
t
o
n
i
q
u
e
Nombre de photons observables

Figure 2.17 volution de la distribution statistique en fonction du nombre de photons observs.

Quelle que soit lapproximation asymptotique retenue, ds que la probabilit est faible, la
variance de Y devient gale (2.58). Il est alors possible de calculer lcart-type de
lestimateur n = N du flux photonique mis par la surface s
:

Y
t
N n
= =
1
(2.57)

( ) ( ) ( ) t
n
t
t n
t
Y
t
N
N
= =
2 2 2
2
) V(
1
) V(

(2.58)

Les expressions (2.52) et (2.58) dterminent le flux photonique n lequel permet de remonter
la temprature grce lquation (2.50).

68
2.4.2 Leffet du bruit exprimental sur la mesure du flux photonique

Comme dfini prcdemment, le flux photonique n correspond lesprance du flux
photonique N. Cependant, cette valeur peut tre entache dune erreur due un bruit alatoire
e
b
, non-corrle avec lmission de la surface (2.59). Le bruit peut tre li des phnomnes
dmissions parasites lis par exemple au bruit lectronique intrinsque lappareil de
mesure.

b exp
e N N + = (2.59)

Comme pour le flux photonique, ce bruit est considr comme une grandeur qui rpond soit
une loi de POISSON si son mission est faible soit une loi normale si son mission est
leve (b = E(e
b
) = V(e
b
) =
2
b
). Elle est suppose additive la quantit mesure.

Le flux photonique rel N se trouve alors entach dune erreur : le flux photonique
exprimental N
exp
est dfini comme tant la somme du flux photonique rel N et du bruit de
mesure e
b
. Lesprance du nouveau signal se calcule alors par :

b n e N N
b exp
+ = + = ) E( ) E( ) E( (2.60)

La relation (2.60) laisse apparatre une valeur dterministe, constante et non-nulle : le biais
dfini comme lesprance du bruit. Ce biais doit tre pris en compte pendant les mesures car il
dfinit lerreur sur la mesure du flux photonique rel n :

b e
N E
=
) (
(2.61)

Il est donc possible de dfinir le flux photonique n partir de lesprance du signal rel
sachant que ce dernier est entach dun biais li au bruit de mesure. Comme cela a t dfini
prcdemment, la variance peut aussi tre utilise pour mesurer n.
De la mme manire, il est ncessaire de connatre lexpression de la variance du signal
lorsquil est biais. La variance du flux photonique exprimental est donne par la relation
(2.62). Cette variance est calcule partir de n plutt que E(N
exp
) afin de prendre en compte le
biais b.
69

( ) ( )
2
E ) V( n N N
exp exp
= (2.62)

En utilisant la relation (2.60), la relation (2.62) devient :

( ) ( )
2
E ) V( n e N N
b exp
+ = (2.63)

( ) ( ) ( ) ( )
2
E ) V( b b e n N N
b exp
+ + = (2.64)

( ) ( ) ( ) ( ) ( ) ( ) ( ) b b e n N b b e n N N
b b exp
+ + + + = E E 2 E E ) V(
2 2
(2.65)

( ) ( ) ( ) ( ) ( ) ( ) ( ) b b e n N b b e n N N
b b exp
+ + + + = E E 2 E E ) V(
2 2
(2.66)

( ) ( ) ( ) ( ) ... E E ) V(
2 2
b e n N N
b exp
+ =
( ) ( )( ) ( ) b b e n N b b e b
b b
+ + + + 2 2 E
2
(2.67)

( ) ( ) ( ) ( ) ( ) b e b n N e b e N N
b b b exp
+ + + + = E 2 V V ) V(
2
(2.68)

Comme e
b
(intrinsque aux appareils de mesure) et N sont des grandeurs stochastiques
indpendantes, elles peuvent tre considres comme dcorrles. Le dernier terme de (2.68)
peut tre considr comme tant nul. La relation (2.68) devient finalement :

( ) ( )
2
V V ) V( b e N N
b exp
+ + = (2.69)

Il est donc possible de mesurer le flux photonique (et donc la temprature) partir de la
variance V(N) du signal. La variance obtenue partir du flux photonique exprimentale doit
tre corrige par la variance sur le bruit V(e
b
) et par le biais b
2
.

70
2.5 La limite de diffraction

La rsolution des images en optique physique est limite par le phnomne de diffraction : en
effet, limage que donne un point nest pas un point mais une tache. Si deux points sont
physiquement distincts, leurs images peuvent se recouvrir sils sont trop rapprochs [1]. Ces
images ont pour noms les taches dAIRY (Figure 2.18).

Cest RAYLEIGH qui russit dfinir la limite de diffraction en 1896 [1]. Il expose que deux
points ne peuvent tre spars par un microscope que si leur distance x vrifie :

sin 2
22 , 1
n
x (2.70)

o est la longueur donde dobservation, n est lindice du milieu, et le demi-angle
douverture de lobjectif du microscope. Il est courant dcrire de faon simplifie que la
rsolution x est dfinie par :

2 / x (2.71)

Donc selon la relation (2.69), descendre en longueur donde conduit amliorer la rsolution
spatiale. De ce point de vue, il est intressant dutiliser les ultraviolets et le visible plutt que
linfrarouge.

Figure 2.18 Taches dAIRY.
71
Conclusion

Ce chapitre a permis de voir lintrt des mesures aux courtes longueurs donde. En plus du
ct non-intrusif et de la rsolution fixe uniquement par la limite de diffraction, il est
possible de raliser des mesures avec une trs bonne prcision (partie ascendante de la courbe
de PLANCK) sur des zones de petites dimensions. De plus, les tempratures minimales
ncessaires pour effectuer des mesures correctes ne sont plus aussi leves en utilisant le flux
photonique que le flux radiatif. Ceci est rendu possible par la mesure du flux photonique. De
plus, on a montr quil tait possible de remonter la temprature partir de lesprance ou
de la variance de ce flux interprtable par des lois statistiques classiques.

Dans la gamme spectrale ultraviolet-visible, le nombre de photons dnombrs est plus faible
que dans linfrarouge : sur la Figure 2.16, 711K, il y a 1 photon/s 0,4m contre environ
10
15
photons/s 3m. Cependant, ce qui est perdu en terme de quantit est gagn en terme de
sensibilit puisque les pentes sont bien plus fortes dans les ultraviolets que dans linfrarouge.
Si linfrarouge ne manque pas de signal, cest lultraviolet qui dtecte le plus aisment la
moindre variation de temprature.

Par mesure directe, lutilisation de lapproximation de WIEN (2.10) exprime en terme de
flux photonique, permet la mesure de la temprature si lmissivit de la surface vise est
connue. La mesure de ce flux ncessite moins de signal que celle du flux radiatif ; il est
possible de mesurer des tempratures plus basses.

Si lmissivit est inconnue, quel que soit le flux mesur (radiatif ou photonique), la
diffrence entre la temprature mesure (de luminance) et la temprature vraie diminue avec
la longueur donde de mesure. Il en est de mme pour lerreur sur la temprature qui diminue
aussi avec la longueur donde.

La mesure aux courtes longueurs prsente donc de nombreux avantages. Concernant la
mthode multi-spectrale, la mesure dans les ultraviolets reste intressante puisque la bande
spectrale est petite ce qui implique que
peut tre considre comme constante. Il est de

plus intressant de travailler avec des longueurs donde trs proches, compte tenu de la forte
variation du signal ces longueurs donde.

Troisime chapitre

Le dispositif exprimental
74
Sommaire

Troisime chapitre Le dispositif exprimental p.73
Introduction p.75
3.1 La prsentation gnrale du banc de mesure p.76
3.2 Les lments chauffants p.77
3.2.1 Le corps noir hautes tempratures p.77
3.2.1.1 La conception et les tudes prliminaires p.77
3.2.1.2 La mesure indpendante de lmissivit spectrale du corps noir p.84
3.2.1.3 Lmissivit apparente de la cavit p.85
3.2.1.4 La modlisation du corps noir p.86
3.2.2 Le fil rsistif p.88
3.2.2.1 Le calcul de la temprature du fil p.90
3.2.2.2 Les valeurs des paramtres trouves dans la littrature p.95
3.2.2.3 Les expriences annexes p.100
3.2.2.4 Une simulation de champs de temprature dans le fil p.105
3.2.2.5 Lestimation de paramtres et ltude de sensibilit p.106
3.3 Le microscope et le systme de mesure du flux photonique p.111
3.3.1 Lobjectif ultraviolet p.112
3.3.2 Loculaire p.113
3.3.3 Le photomultiplicateur et son refroidisseur p.114
3.3.4 Les filtres monochromatiques p.115
3.3.5 La carte de comptage p.116
3.3.6 Les autres lments p.117
Conclusion p.118
Troisime chapitre Le dispositif exprimental
75
Introduction

Ce travail prsente le dispositif exprimental ; le banc de mesure y est dcrit dans son
intgralit.
Aprs avoir brivement dcrit le banc de mesure, le chapitre dbute par la dfinition et le
dveloppement des lments chauffants ncessaires ltalonnage du dispositif des points de
vue thermique et microscopique puisque le dispositif exprimental doit raliser des mesures
la fois hautes tempratures et lchelle microscopique.
Pour ltalonnage en temprature, un petit corps noir a t dvelopp. Pour laspect spatial, un
dispositif bas sur le principe du fil chaud a t mis au point. Dans les deux cas, le travail
sest dcompos en plusieurs tapes : modlisation en vue de dimensionner les deux
dispositifs, validation par la mise en place dun modle soit numrique soit analytique,
dtermination des diffrents paramtres thermophysiques intervenant dans ces modles
(coefficients dchanges radiatif et convectif, conductivit thermique, coefficients de
dilatation thermique et mcanique).

Ensuite une dernire partie est consacre la description dtaille du microscope : objectif,
oculaire, diaphragme, filtres monochromatiques, et du systme de mesure du flux photonique
(photomultiplicateur refroidi par effet PELTIER, carte de comptage avec discrimination).
76
3.1 Prsentation gnrale du banc de mesure

Pour le bon fonctionnement du dispositif, ce dernier ncessite dtre dans un endroit o
lobscurit est la plus complte afin davoir le moins de photons parasites possibles.
Le banc de mesure (Figures 3.01 et 3.02) se dcompose en deux parties : une partie mesure de
temprature et une partie microscopie. Un lment chauffant a t dvelopp pour chaque
effet. Ltalonnage en temprature est assur par un corps noir maison de petites
dimensions adapt aux hautes tempratures qui a t dvelopp au sein mme du laboratoire.
Pour la vise lchelle microscopique, un montage laide dun fil micromtrique horizontal
a t conu.

Un dtecteur quantique (photomultiplicateur avec une cellule sensible de type multi-alkali)
collecte les photons mis par le corps noir qui passent travers le microscope et le filtre
monochromatique. Le microscope est compos dun objectif travaillant dans la gamme
ultraviolet-visible, dun oculaire et dun diaphragme. Plusieurs filtres monochromatiques sont
insrs dans une roue filtres pour la mesure multi-spectrale.

Figure 3.01 Prsentation schmatique du banc de mesure

Figure 3.02 Photo du banc de mesure.

77
3.2 Les lments chauffants

3.2.1 Le corps noir hautes tempratures

3.2.1.1 La conception et les tudes prliminaires

Pour talonner le dispositif exprimental en temprature, un corps noir a t labor. Comme
la pice est destine monter de hautes tempratures (environ 1 473K), elle a t usine
dans de la stumatite, une cramique naturelle rfractaire ayant une bonne tenue aux
tempratures leves (Tableau 3.01). Sa petite taille facilite une mise en chauffe rapide,
laquelle est ralise par effet JOULE : la pice est filete (Figure 3.03) pour permettre
lenroulement dun fil de Nichrome NiCr (de 0,75mm de diamtre). Le fil est maintenu serr
dans le filetage laide dune colle cramique isolante rsistante aux hautes tempratures. Il
est aliment par une alimentation de 600W.

Le microscope vise une cavit perce en face avant de la pice. Sa temprature est contrle
par deux thermocouples placs en face arrire et de part et dautre de la cavit. Cette cavit est
compose de deux trous percs lun la suite de lautre, de 10mm de longueur chacun (Figure
3.04). Le premier trou a un diamtre de 2mm et le second de 1mm.
Pour ne pas perturber le milieu, lobjectif microscopique a t choisi avec une longueur de
travail importante (15mm). Exprimentalement, lobjectif vise lentre de la seconde cavit
(10mm), ne laissant que 5mm entre lui et la pice. Or, ces tempratures leves, lobjectif
peut subir des dommages. Un cran en cuivre refroidi mont sur une glissire par eau est donc
interpos entre lobjectif et la pice le temps des rglages, puis est retir au moment de la
mesure.
La temprature est contrle au niveau du second trou par deux thermocouples glisss dans
deux trous percs en face arrire de la pice (Figure 3.04). Les trous, de 2mm de diamtre,
sont percs de part et dautre et gale distance de laxe de la pice. Les deux thermocouples
permettent un systme de rgulation par PID de maintenir la temprature de la cavit
constante 1K.
78

Figure 3.03 Vue de profil du corps noir.

Llment chauffant en NiCr est muni dune sortie froide en Ni (fil de 0,75mm de diamtre
faible rsistance) ; ce dernier a t choisi pour sa grande conductivit lectrique et pour ses
caractristiques thermiques trs proches du NiCr, ce qui facilite leur soudure (Figure 3.04).

Figure 3.04 Vue de coupe de la pice et de son systme de rgulation.

stumatite crue stumatite 1 323K stumatite 1 573K
Coefficient de dilatation
linaire (K
-1
)
6,8.10
-6
8,3.10
-6
2,0.10
-6
2,8.10
-6
7,2.10
-6
7,4.10
-6

Conductivit thermique
(W.m
-1
.K
-1
)
1,397 2,677
Chaleur spcifique
(J.kg
-1
.K
-1
)
838,52
Tableau 3.01 Proprits thermophysiques de la stumatite (donnes constructeur).

79

Figures 3.05 et 3.06 Photos du corps noir en stumatite sur son support (faces avant et arrire) avant la mise
en place du fil chauffant et de la colle cramique.

Rsistivit lectrique (.m) 108.10
-8

Coefficient thermique (K
-1
) 5.10
-5

Conductivit thermique (W.m
-1
.K
-1
) 13,4
Point de fusion (K) 1 673
Tableau 3.02 Proprits thermophysiques et lectriques du NiCr (donnes constructeur).

Fil de NiCr Corps noir
Diamtre du fil (mm) 0,75 Diamtre total (mm) 15
Nombre de spires 25 Longueur total (mm) 50
Longueur total du fil (m) 1,2 Intervalle entre les spires (mm) 1
Tableau 3.03 Dimensions du corps noir.

Le bilan des changes thermiques autour de la pice permet de dduire la puissance maximale
ncessaire la mise en chauffe du corps noir.

changes convectifs

Toutes les proprits thermophysiques utiles pour valuer les changes thermiques sont
calcules la temprature de film T
film
(3.01) qui est la moyenne entre la temprature de la
surface T et celle de lair hors de la couche limite T
.

2

+
=
T T
T
film
(3.01)

Le cas de la convection naturelle dune paroi ronde verticale en convection naturelle est trait
dans la littrature [57] en considrant la temprature uniforme sur toute la surface ; cette
hypothse a donc t faite pour estimer h
cv
. La corrlation utilise est la suivante :
80

25 , 0
667 , 0 Ra
k
d h
Nu
a
cv
dv
= = (3.02)

avec :
a d
Pr Gr Ra = (3.03)

sachant que :
( )
2
3
a
d
T T d g
Gr
= (3.04)

Les variations thermophysiques de lair en fonction de la temprature de film en proche paroi
(temprature de la couche limite thermique), k
a
, Pr
a
, et
a
, sont donnes respectivement sur
les Figures 3.07, 3.08, et 3.09 [87]. Les nombres adimensionns Nu
dv
et Ra dpendent de la
longueur caractristique de la gomtrie considre, ici le diamtre du cylindre d [87].

La corrlation correspondant aux changes thermiques par convection naturelle autour dun
cylindre horizontal est donne par la formule de CHURCHILL et al. [17]. Elle a pour
expression :

( )
9 / 4
16 / 9
4 / 1
/ 56 , 0 1
518 , 0
36 , 0
(
+
+ =
Pr
Ra
Nu
dh
(3.05)

d
k Nu
h
a dh
ch
= (3.06)

La Figure 3.10 prsente les variations des coefficients dchange en convection naturelle
autour du cylindre avec la relation (3.05) en fonction de la temprature. La puissance
change par convection peut donc scrire selon la relation (3.07), sachant que S = dL et
s = d
2
/4 (L et d reprsentent respectivement la longueur et le diamtre de la pice) qui sont
les surfaces dchanges latrale et des extrmits entre le corps noir et lair ambiant :

( )( )
+ = T T S h s h P
ch cv c
(3.07)

81
changes radiatifs

Les changes radiatifs sont calculs pour une temprature maximale du corps noir de 1 200C
(1 473K) en considrant son missivit = 1 (cas le plus dfavorable). Ainsi, avec
= 5,67.10
-8
W.m
-2
.K
-4
la constante de STEFAN, la puissance dissipe par voie radiative peut
scrire :

( )( )
4 4
+ = T T s S P
rad
(3.08)

Comme S >> s, alors :

( )( )
2 2 2 2

+ = T T T T S P
rad
(3.09)

( )( )( )

+ + = T T T T T T S P
rad
2 2
(3.10)

( )
= T T S h P
rad rad
(3.11)

avec ( )( )

+ + = T T T T h
rad
2 2
(3.12)

La Figure 3.10 prsente lvolution du coefficient dchange radiatif h
rad
.
Figure 3.07 Conductivit thermique de lair k
a
[87].
200 400 600 800 1000 1200 1400
0.02
0.03
0.04
0.05
0.06
0.07
0.08
0.09
Temprature de film T
film
(K)
C
o
n
d
u
c
t
i
v
i
t

t
h
e
r
m
i
q
u
e

k
a

(
W
/
m
.
K
)

82

200 400 600 800 1000 1200 1400
0.68
0.69
0.7
0.71
0.72
0.73
film
(K)
N
o
m
b
r
e

d
e

P
r
a
n
d
t
l

P
r

Figure 3.08 Nombre de Prandtl de lair Pr
a
[87].

200 400 600 800 1000 1200 1400
0
0.2
0.4
0.6
0.8
1
1.2
1.4
1.6
1.8
x 10
-4
film
(K)
V
i
s
c
o
s
i
t

c
i
n
m
a
t
i
q
u
e

(
m
2
/
s
)

Figure 3.09 Viscosit cinmatique de lair
a
[87].

83

0 200 400 600 800 1000 1200
0
20
40
60
80
100
120
140
160
180
200
Temprature T - To (K)
C
o
e
f
f
i
c
i
e
n
t
s

d
'
c
h
a
n
g
e

(
W
/
m
2
.
K
1
)
CHURCHILL
Radiatif
LEWANDOWSKI

Figure 3.10 Estimation des coefficients dchanges autour de la pice.

Dune manire globale et suivant les valeurs obtenues (Tableau 3.04), pour faire chauffer le
cylindre environ 1 200C (1 473K), la puissance quil faut fournir par le fil chauffant est
donne par le bilan enthalpique suivant :

W 9 , 323 = + =
rad c
P P Q (3.13)

Temprature du
corps noir
T
(K)
Coefficient
dchange
convectif
horizontal
h
ch
(W.m
-2
.K
-1
)
Coefficient
dchange
convectif
vertical
h
cv

(W.m
-2
.K
-1
)
Coefficient
dchange
radiatif
h
rad

(W.m
-2
.K
-1
)
R
= 0,79
Puissance
dissipe totale
Q
(W)
573 2,9 8,1 16,1 23,5
673 4,0 15,1 23,3 36,7
773 4,5 17,3 32,6 51,4
873 5,0 19,2 44,3 70,5
973 5,3 19,2 58,6 94,4
1 073 5,6 19,7 75,7 124,6
1 173 5,9 20,0 96,0 161,9
1 273 6,1 20,3 119,7 206,8
1 373 6,4 20,4 147,1 260,6
1 473 6,6 20,7 178,4 323,9
1 573 6,9 20,8 214,0 397,4
1 673 7,1 20,8 254,0 482,0
1 773 7,3 20,9 298,9 578,2
Tableau 3.04 Estimation des coefficients dchange convectif et radiatif, ainsi que la puissance totale
dissipe par le corps noir.
84
Il faut donc fournir approximativement 320W pour lever la temprature de la pice aux
alentours de 1 473K.

3.2.1.2 La mesure indpendante de lmissivit spectrale du corps noir

Lmissivit spectrale de la Stumatite a t mesure indpendamment laide dun
spectroradiomtre dans la gamme spectrale dtude [0,370m 0,410m], ainsi que dans la
gamme de linfrarouge proche [3,5m 5,5m]. Cette seconde gamme correspond la bande
de la camra de thermographie infrarouge (camra matricielle Cedip InSb), utilise pour
valider les mesures effectues dans la gamme ultraviolet-visible. Les rsultats obtenus pour
lmissivit seront utiliss pour la partie modlisation de la pice ( 3.2.1.4).

La Figure 3.11 reprsente lmissivit spectrale de la Stumatite dans la gamme ultraviolet-
visible (la pice a t cuite au four pralablement pour que les conditions soient les plus
proches possibles de celles des mesures). Cependant, les mesures ont t ralises
temprature ambiante car le spectroradiomtre ne permet pas de faire des mesures de hautes
tempratures. Or, comme gnralement elle a tendance augmenter avec la temprature, la
valeur dmissivit obtenue ici est une valeur minimale.
Lmissivit moyenne de la Stumatite a t mesure gale
UV
= 0,614 entre 0,370m et
0,410m, partir de la relation (3.14). Cest le rapport de lmittance dun corps dmissivit
intgre sur la bande spectrale considre ici sur lmittance du corps noir intgre sur cette
mme bande spectrale.

=
=
=
=
=
m
m
o
m
m
o
d T M
d T M
T
410 , 0
370 , 0
410 , 0
370 , 0
) (
) (
) (

(3.14)

La Figure 3.12 fait cette fois-ci tat de la mesure de lmissivit spectrale entre 3,5m et
5,5m. De la mme manire, lmissivit totale a t approche en changeant les bornes
dintgration :
IR
= 0,79.

85
370 375 380 385 390 395 400 405 410
0.6
0.605
0.61
0.615
0.62
0.625
0.63
E
m
i
s
s
i
v
i
t
m
i
s
p
h
r
i
q
u
e

s
p
e
c
t
r
a
l
e

Figure 3.11 missivit hmisphrique spectrale de la stumatite dans la gamme de longueur donde de
travail du banc optique (ultraviolet-visible).

3000 3500 4000 4500 5000 5500 6000
0.6
0.65
0.7
0.75
0.8
0.85
0.9
0.95
1
E
m
i
s
s
i
v
i
t
m
i
s
p
h
r
i
q
u
e

s
p
e
c
t
r
a
l
e

Figure 3.12 missivit hmisphrique spectrale de la stumatite.

3.2.1.3 Lmissivit apparente de la cavit

En pratique, le dtecteur est focalis sur une zone situe linterface entre les deux cavits ; il
est ncessaire dvaluer lmissivit apparente de cette surface. LAnnexe C propose donc
dtudier lmissivit apparente dune cavit cylindrique circulaire de rayon r et de longueur
suppose infinie perce normalement la surface dun corps opaque, gris, diffusant,
dmissivit , et isotherme (temprature T) dbouchant sur le milieu extrieur temprature
86
T
. Le rsultat final de lAnnexe C donne une expression de lmissivit apparente de la

forme :

+
=
1
2
app
(3.15)

Ce rsultat correspond en fait au cas o il ny a quune seule cavit dbouchant sur une cavit
de grande dimension une temprature trs infrieure celle de la pice et que la temprature
ambiante est trs infrieure la temprature de la pice (cela est expliqu dans lAnnexe C).
Ce cas de figure est plus dfavorable que le ntre : la seconde cavit contribuera faire tendre
encore plus lmissivit apparente de lintrieur de la pice vers lunit puisque la temprature
la sortie de la premire cavit est cette fois-ci prendre en compte dans les calculs.
Ainsi lmissivit apparente de la surface fictive vaut-elle
appUV
= 0,87 dans la gamme
[0,370m 0,410m] et
appIR
= 0,94 dans la gamme [3,5m 5,5m].

3.2.1.4 La modlisation du corps noir

Lobjet de cette partie est de montrer que la temprature de la pice est quasi-uniforme. La
modlisation de la pice par lments finis permet de visualiser les champs de temprature.
Pour simplifier la modlisation, le calcul est effectu dans un premier temps en supposant
nulle la densit de flux quittant la cavit. Ceci est possible pour deux raisons : tout dabord, la
surface douverture de la cavit est trs petite devant la surface totale du corps noir (rapport
1/1 000), ce qui permet de ngliger le flux total perdu par la cavit ; enfin lhypothse de
densit de flux nulle (en fait les changes radiatifs dans la cavit sont ngligs) maximise les
gradients de temprature et permet de se placer dans un cas trs dfavorable.

La modlisation est ralise laide du code de calcul par lments finis FlexPDE en 2D
axisymtrique. La Figure 3.13 prsente un maillage grossier de la pice ; seules quelques
mailles sont reprsentes pour montrer la rpartition spatiale du maillage.

87

Figure 3.13 Maillage du corps noir Coupe de laxe de symtrie de la pice.

Les changes de chaleur avec lenvironnement sont modliss par les corrlations prsentes
dans le 3.2.1.2. Un flux surfacique est impos sur la surface latrale correspondant la
puissance dissipe par effet Joule. La temprature ambiante T
est impose 20C (293K) et

la puissance injecte dans la pice est celle calcule partir de la relation (3.13).

La modlisation (Figure 3.14) met en vidence que la temprature nest pas uniforme le long
des surfaces latrales de chaque cavit. Il semble que la petite taille de la pice ainsi que les
changes convectifs perturbent beaucoup le champ de temprature dans la pice. noter tout
de mme que le calcul de la puissance effectu au 3.2.1.2 prsente les rsultats attendus en
terme de temprature moyenne de corps noir.
Figure 3.14 Champ de temprature dans la pice deux cavits (en C).

De mme, la Figure 3.15 prsente les rsultats obtenus sur un schma de corps noir une
seule cavit.

Figure 3.15 Champ de temprature dans la pice cavit unique (C).

88

Les rsultats montrent lintrt de la double cavit qui permet de minimiser les gradients de
temprature dus aux effets de bord (chauffage non-uniforme). En effet, sur la paroi de la
cavit unique, le gradient est de 330K, et de seulement 110K sur la seconde cavit du systme
retenu. Ce gradient est nanmoins important mais difficile rduire vu la dimension du corps
noir fabriquer. Il sera donc difficile, par le calcul, de prvoir avec prcision la temprature
apparente de la zone vise par le dtecteur.

3.2.2 Le fil rsistif

Ce paragraphe est consacr au dveloppement et la conception dun montage permettant de
raliser des mesures lchelle du micromtre. Lide est dutiliser un fil de faible diamtre
(0,127mm) sur lequel se focalise la mesure au travers dun objectif de microscope. La trs
faible taille du fil prsente lavantage dobtenir la temprature de consigne rapidement,
cependant sa faible inertie contraint le fil tre fortement dpendant de lenvironnement
(problmes de convection, fluctuation du courant dans le fil...) ; cest la raison pour laquelle
deux montages ont t dvelopps : un pour laspect talonnage en temprature ( 3.2.2),
lautre pour laspect microscopie.

Plusieurs types de matriaux ont t tests pour le choix du fil chauffant. Les essais effectus
avec le tungstne ont montr quil soxydait rapidement au contact de lair. Il semble plus
adapt de travailler dans des ambiances neutres et confines. De plus, la mise en place du
dispositif pour raliser un vide partiel naurait pas t possible puisquil aurait gn le
microscope bien que ce dernier soit qualifi de microscope avec une longue distance de
travail (15mm).
Dautres lments comme lAlumel, le Constantan ou encore le fer ne permettaient pas
exprimentalement dtre utiliss (fusion trop rapide ou rsistivit lectrique indpendante de
la temprature ou encore proprits thermophysiques difficiles valuer).

Le Chromel (de type P) a finalement t retenu. Cet alliage (90% de nickel et 10% de chrome)
a lintrt dtre rsistif - rsistivit lectrique
o
= 70,6.10
-8
.m T
= 20C (donne
constructeur) mais dont la rsistance dpend faiblement de la temprature coefficient
thermique = 0,00032K
-1
(donne constructeur). Comme les mesures se veulent
micromtriques, le fil est de petit diamtre (5/1 000 de pouce soit 127m).
89

Un courant I circule et chauffe le fil de diamtre d et de longueur L. La tension U ses
bornes est contrle (Figure 3.16). Le fil, en position horizontale, passe dans deux petits trous
de 1mm de diamtre percs dans deux blocs massifs (Figure 3.17) et est maintenu tendu grce
de petites masselottes fixes aux bouts du fil. Le contact nest pas parfait mais est assur par
la tension exerce par les masselottes qui maintiennent le fil tendu.

Avec la temprature, le fil se dilate ; pour que le microscope vise toujours la mme position,
savoir le centre du fil, une vis micromtrique permet de recentrer le fil, si ncessaire.

Exprimentalement, la temprature moyenne du fil T est dtermine par le courant I et la
tension U (3.16).

( ) [ ]
+ = = T T R I U R
o
1 / (3.16)

o R
o
est la rsistance du fil la temprature T
et est le coefficient thermique (K

-1
). La
puissance fournie par effet Joule (P = U.I) est principalement dissipe par convection et par
rayonnement (le flux conductif est faible).

Figure 3.16 Schma lectrique de lalimentation du fil. Le courant est contrl ds la sortie de
lalimentation (A) et la tension est mesure aux bornes du fil lui-mme (V).

90

Figure 3.17 Schma reprsentant le support du fil.

3.2.2.1 Le calcul de la temprature du fil

En ralit, T
max
nest pas gale T (au centre du fil). Il est donc ncessaire de relier ces deux
tempratures entre elles par un modle. Ce modle dpend dun certain nombre de paramtres
inconnus quil faudra identifier.

Comme le fil est de petit diamtre (d
o
= 127m), il monte rapidement en temprature et passe
quasi-instantanment du rgime transitoire au rgime permanent. Le transfert de chaleur dans
ce cylindre horizontal (Figure 3.18) est donc suppos unidirectionnel (selon x) et le rgime
permanent. La relation (3.17) (quation de lailette) approche au mieux ce cas de figure avec
k
c
la conductivit thermique de llment et q
f
la source volumique (en W.m
-3
) qui prend en
compte leffet JOULE et les pertes latrales.

0 ) ( = +
f c
q x T k (3.17)

91

Figure 3.18 Le fil de Chromel.

Lexpression (3.18) exprime le terme source o V (= ddx/4) et s (= ddx) sont
respectivement le volume du fil et sa surface dchange (pour une longueur dx) avec
lenvironnement la temprature T
. h reprsente les pertes convecto-radiatives.

( ) ( )
= T x T hs P V q
f
(3.18)

Aprs changement de variable (x) = T(x) T
, le terme source (3.18) peut scrire sous la

forme (3.19) o m = d est le primtre du fil et S = d/4 sa section.

S
x hm
I
S
q
f
) (
2
2

= (3.19)

La relation (3.19) est injecte dans lquation de POISSON (3.17).

0
) ( ) (
2
2
2
2
= +
S k
x hm
S k
I
dx
x d
c c

(3.20)

avec des conditions limites en x = 0 et en x = L/2. En prenant en compte le fait que le fil est
cylindrique de rvolution, lquation (3.20) devient :

4 2
2
2
2
16
) (
4 ) (
d k
I
x
d k
h
dx
x d
c c

= (3.21)

92
Cette quation ne poserait aucun problme de rsolution si lensemble des grandeurs
intervenant dans le systme tait indpendant de la temprature. Or, le systme tant
susceptible de fonctionner haute temprature (jusqu 1 200C), il est important de prendre
en compte la thermo-dpendance des paramtres. Quatre types de thermo-dpendance sont
considrer :
la variation de la rsistivit lectrique,
la dilatation thermique qui agit sur le diamtre et la longueur du fil,
la variation de la conductivit thermique,
et la variation du coefficient dchange.

On va prendre en compte cette thermo-dpendance de diffrentes faons selon leurs
implications dans les termes de lquation (3.21). Dans le premier terme, x dpend de T
cause de la dilatation longitudinale et par consquent de la limite en L/2. On suppose ici que
la dilatation est uniforme en x. On corrige exprimentalement la variation de L/2 grce au
montage masselottes qui permet de maintenir la longueur chauffe constante.
Dans le second terme, h, k
c
, et d dpendent de T. Ici, cest h qui varie le plus fortement avec la
temprature et cest aussi le paramtre le plus mal connu, en particulier la convection
naturelle sur un cylindre horizontal de diamtre micromtrique. Connaissant mal la variation
de h avec T, il parat illusoire de prendre en compte finement les variations de k
c
et d. Aussi le
terme 4h/k
c
d est-il crit au premier ordre, cest--dire en le supposant constant en x, soit
4h(T )/k
c
(T )d(T ), o h, k
c
, et d sont obtenus la temprature moyenne du fil.
Dans le troisime terme, , d, et k
c
sont crits au premier ordre sous la forme :
=
o
(1 + ) avec
o
la rsistivit T
,
d = d
o
(1 + ) avec d
o
le diamtre T
,
k
c
= k
co
(1 + ) avec k
co
la conductivit thermique T
.

Le calcul est lgrement plus complexe que prvu car nest pas forcment petit devant 1 ;
aussi lquation (3.21) peut-elle scrire :

( )
( ) ( )
( )
( ) ( )

4 1 1
1 16
) (
4 ) (
4 2
2
2
2
+ +
+
=
o co
o
c
d k
I
x
T d T k
T h
dx
x d
(3.22)

93

( )
( ) ( )
( ) [ ]
+
+
=
1
4 1 16
) (
4 ) (
4 2
2
2
2
o co
o
c
d k
I
x
T d T k
T h
dx
x d
(3.23)

( )
( ) ( )
|
|
\
|
+

+ =
1
4
1
16
) (
4 ) (
4 2
2
2
2
o co
o
c
d k
I
x
T d T k
T h
dx
x d
(3.24)

En prenant au premier ordre, cest--dire constant en x :

( )
+ = + + T T 1 1 1 (3.25)

(3.24) scrit alors :

( )
( ) ( ) ( )
4 2
2
4 2
2
2
2
16
) (
1
4 16 4 ) (
o co
o
o co
o
c
d k
I
x
T T d k
I
T d T k
T h
dx
x d

=
(
|
|
\
|
+

(3.26)

En introduisant une solution particulire de (3.22) :

( )
( ) ( ) ( )
|
|
\
|
+

T T T d
d
T k
k
I
d T h
o
c
co
o
o
p
1
4
4
1
2
3 2
(3.27)

et en posant :

( )
( ) ( ) ( )
|
|
\
|
+

=
T T d k
I
T d T k
T h
M
o co
o
c

1
4 16 4
4 2
2
2
(3.28)

lquation (3.22) scrit :
0 ) ) ( (
) (
2
2
2
=
p
x M
dx
x d

(3.29)

Au centre du fil (x = 0), pour des raisons de symtrie, on a une condition de flux nul (3.30).
Aux extrmits du fil (x = L/2), le contact nest pas parfait, il est donc envisageable
dintroduire une rsistance de contact R
c
(3.31), soient :
94

en x = 0 0
) (
0
=
|
|
= x
dx
x d
(3.30)

et en x = L/2
c L x
c
R
x
dx
x d
k
) ( ) (
2 /

=
|
=
(3.31)

La solution de lquation (3.29) est du type :

) ( ) ( ) ( Mx Bsh Mx Ach x
p
+ = (3.32)

avec en x = 0 0 ) 0 ( ) 0 ( = +MBch MAsh (3.33)

et en x = L/2 ( ) ( ) [ ]
p c c
ML ch ML sh MR k A = + 2 / 2 / (3.34)

Donc, en x = 0 0 = B (3.35)

et en x = L/2
) 2 / ( ) 2 / ( ML Msh R k ML ch
A
c c
p
+
=

(3.36)

Aprs tre repass en temprature absolue, le champ de temprature T(x) sexprime par :

+
|
|
\
|
+
= T
ML Msh R k ML ch
Mx ch
x T
c c
p
) 2 / ( ) 2 / (
) (
1 ) ( (3.37)

La temprature maximale T
max
et la temprature moyenne T du fil peuvent tre dtermines
partir de (3.37).

=
2 /
2 /
) (
1
L
L
dx x T
L
T (3.38)

95

( )

+
(
+
= T
ML Msh R k ML ch ML
ML sh
T
c c
p
) 2 / ( ) 2 / ( 2 /
) 2 / (
1 (3.39)

) 0 (
max
= = x T T (3.40)

+
|
|
\
|
+
= T
ML Msh R k ML ch
T
c c
p
) 2 / ( ) 2 / (
1
1
max
(3.41)

Sil est possible prsent de relier analytiquement la temprature moyenne la temprature
maximale du fil, plusieurs paramtres restent dterminer : le coefficient des pertes h et plus
particulirement le coefficient convectif h
cv
ainsi que lmissivit des pertes radiatives, la
rsistance de contact R
c
,

et

enfin les coefficients , , et du Chromel (3.16).

3.2.2.2 Les valeurs des paramtres trouves dans la littrature

Le constructeur ainsi que la littrature peuvent donner des valeurs des paramtres trs
diffrentes. Il est parfois mme ncessaire de les dterminer soi-mme exprimentalement.

La conductivit thermique k
c

De nombreux constructeurs donnent une valeur de la conductivit thermique temprature
ambiante, et cest souvent la mme qui est cite. TOULOUKIAN [102] fournit des valeurs en
fonction de la temprature. Elles sont rassembles dans le Tableau 3.05 et illustres sur la
Figure 3.19. La pente obtenue partir de cette courbe reprsente le coefficient prsent dans
la relation (3.26).

T T
o
(K) 80,2 180,2 280,2 380,2 480,2 501,7
k
c
(W.m
-1
.K
-1
) 19,0 20,9 22,8 24,7 26,6 27,1
Tableau 3.05 Valeurs de la conductivit thermique du Chromel P en fonction de la temprature.

96
0 100 200 300 400 500 600
16
18
20
22
24
26
28
30
Temprature T - T
o
(K)
k
c

(
W
.
m
-
1
.
K
-
1
)
Touloukian
k
c
= k
co
[1 + (T - T
o
)] avec k
co
= 17,5W.m
-1
.K
-1
et = 0,0011K
-1

Figure 3.19 Conductivit thermique k
c
du Chromel P en fonction de la temprature [102].

Le coefficient dexpansion thermique

Le coefficient dexpansion thermique donn dans la littrature est de 17,2.10
-6
K
-1
, cest
aussi cette valeur qui est donne par plusieurs constructeurs.

La rsistivit lectrique
o
et son coefficient thermique

Les donnes constructeur concernant la rsistivit sont
o
= 70,6.10
-8
.m 20C (293K) et
= 0,00032K
-1
. Ces donnes, trs importantes puisquelles permettent de remonter la
mesure de la temprature moyenne, ne sont pas fiables et doivent faire lobjet dune
dtermination exprimentale.

Le coefficient dchange h

Le coefficient dchange h est un coefficient dchange qui intgre la fois les changes
convectifs h
cv
et les changes radiatifs h
rad
. Plusieurs corrlations existent en convection
naturelle pour des fils horizontaux, mais cest celle de CHURCHILL et al. (3.42) [17] qui est
retenue, puisque, nous le verrons, cest celle qui sajuste le mieux sur les points
exprimentaux lors de lestimation de paramtres ( 3.2.2.5)

97

( )
9 / 4
16 / 9
25 , 0
/ 56 , 0 1
36 , 0
(
+
+ =
Pr
ARa
Nu
d
d (3.42)

sachant que :

a
cv
d
k
d h
Nu = (3.43)

d tant la longueur caractristique de la gomtrie considre (ici le diamtre) et k
a
la
conductivit thermique de lair la temprature de film T
f
= (T + T
)/2. Les proprits

thermophysiques de lair sont les mmes que celles utilises au 3.2.1.1.

Dans la formule de CHURCHILL et al., le coefficient A vaut initialement 0,518 et h
cv
est
prsent en fonction de la temprature sur la Figure 3.20 ainsi que les changes radiatifs avec
IR
= 0,8 ( 3.2.2.3).

-200 0 200 400 600 800 1000 1200
0
50
100
150
200
250
300
C
o
e
f
f
i
c
i
e
n
t
s

d
'
c
h
a
n
g
e

(
W
/
m
2
.
K
1
)
CHURCHILL
h
rad

Figure 3.20 Trac des allures des corrlations de Churchill et al et des changes radiatifs.

Les changes radiatifs h
rad
se dfinissent partir de (3.44). La constante de STEFAN-
BOLTZMANN vaut 5,67.10
-8
W.m
-2
.K
-4
.

98
) )( (
2

+ + = T T T T h
rad
(3.44)

Sur la Figure prcdente, les changes convectifs sont prdominants sur les changes
radiatifs, mais le coefficient h
cv
reste cependant mal connu sur des fils trs fins. Ce paramtre
fera donc lobjet dune estimation et dune tude de sensibilit ( 3.2.2.4) en jouant sur A ; de
tous les coefficients prsents dans (3.42), seul A semblait tre le plus pertinent estimer
puisquil permet dobtenir le meilleur ajustement sur les points exprimentaux.
Si aucune exprience nest ralise pour valuer indpendamment les changes convectifs,
lmissivit du Chromel fait par contre lobjet dune mesure indpendante par
spectroradiomtrie ( 3.2.2.3) bien que certaines valeurs soient disponibles dans la littrature.

La rsistance de contact R
c

La condition limite x = L/2 exprime par la relation (3.31) fait apparatre une rsistance de
contact. Exprimentalement, le fil de 127m passe dans des blocs massifs en acier dans un
trou de 1mm de diamtre (Figure 3.21) et peut glisser librement travers ces trous.

Figure 3.21 Schmatisation de la rsistance de contact entre le fil de Chromel et le bloc en x = L/2.

Entre le bloc et le fil, les changes thermiques sont de la forme T = R
th
avec R
th
la somme
de deux rsistances thermiques en parallle de conduction R
cd
et de rayonnement R
rad
dans
lair. La rsistance de conduction peut tre dfinie de la manire suivante :

1
. 1300
2
) / ln(

= W K
l k
d d
R
air
fil trou
cd
(3.45)
99

avec d
trou
= 1mm, d
fil
= 0,127mm, k
air
= 0,025W.m
-1
.K
-1
la conductivit thermique de lair
approximativement 300K, et l = 10mm la longueur du trou. La rsistance thermique
radiative peut sexprimer ainsi :

( ) ( )
bloc fil bloc bloc fil
rad
rad
T T ST T T S
R
T
=
=
3 4 4
4 (3.46)

1
4
. 5200
4
1

W K
ST
R
bloc
rad
(3.47)

avec ici = 1, la constante de STEFAN-BOLTZMANN, S d
trou
l, et T
bloc
300K. La
rsistance totale de contact vaut alors :

1
. 1040
1 1
1

+
= W K
R R
R
rad cd
th
(3.48)

Mais comme la relation (3.31) sexprime en densit de flux, alors il faut corriger R
th
par la
surface dchange thermique S pour avoir R
c
. Ainsi :

1 2 5
2
. . 10 . 3 , 1
4

= = = W m K
d
R S R R
fil
th th c

(3.49)

Lmissivit du Chromel

SASAKI et al. [88] ont mesur lmissivit hmisphrique totale du Chromel par une
technique calorimtrique dans une chambre vide, dont lvolution en fonction de la
temprature est donne sur la Figure 3.22.
Comme aucune autre valeur na pu recouper celles de SASAKI et al., une mesure
indpendante est effectue laide dun spectroradiomtre.

100
350 400 450 500 550 600 650 700 750 800
0.09
0.1
0.11
0.12
0.13
0.14
0.15
Temprature T (K)
E
m
i
s
s
i
v
i
t
m
i
s
p
h
r
i
q
u
e

t
o
t
a
l
e

Figure 3.22 missivit hmisphrique totale du Chromel mesure par SASAKI [88].

3.2.2.3 Les expriences annexes

Un certain nombre dexpriences a t mis en place pour dterminer les coefficients prsents
prcdemment ou encore confirmer les valeurs trouves dans la littrature. Seule une
exprience permettant de dterminer les changes convectifs na pas t conue.

La mesure du coefficient dexpansion thermique

La mesure a t ralise laide dun dilatomtre (Figure 3.23). Les mesures ont t
effectues plusieurs fois par des montes/descentes en temprature entre 293K et 1 523K. La
courbe prsente la dilatation dun chantillon de forme cylindrique de 6mm de diamtre et de
25mm de longueur en fonction de la temprature. Les points exprimentaux mettent en
vidence une variation linaire en fonction de la longueur : le coefficient directeur de la droite
(-) passant au plus proche des points exprimentaux (
*
) permet de remonter au coefficient
dexpansion thermique = 0,0000103K
-1
; cette valeur est infrieure celle trouve dans la
littrature mais elle est du mme ordre de grandeur. Cependant comme elle est dix fois plus
faible que ou , une erreur sur cette grandeur naura pas de grosses influences sur les
rsultats.

101
0 200 400 600 800 1000 1200 1400 1600
25.05
25.1
25.15
25.2
25.25
25.3
25.35
25.4
25.45
25.5
Temprature du fil de Chromel (K)
L
o
n
g
u
e
u
r

d
u

f
i
l

d
e

C
h
r
o
m
e
l

(
m
m
)
Points exprimentaux
L = Lo[1 + (T - To)] avec = 0,0000103K
-1

Figure 3.23 Dilatation thermo-mcanique dun chantillon de Chromel (cylindre de 6mm de diamtre et de
25mm de longueur).

La mesure de lmissivit du Chromel

Le fil sur le montage est chauff quasiment jusqu son point de fusion et une couche
doxydation se forme en surface. Pour la mesure, un chantillon de taille 20mmx20mm de
Chromel a t prpar dans un premier temps au four pour loxyder et ainsi se placer dans les
conditions proches de celles de lexprience. Le spectroradiomtre balaye une large bande
spectrale ([3,5m 5,5m]) qui est celle de travail de la camra (Figure 3.24).

Obtenue partir de la relation (3.14), lmissivit hmisphrique totale vaut 0,80.

102
3500 4000 4500 5000 5500
0.75
0.76
0.77
0.78
0.79
0.8
0.81
0.82
0.83
0.84
0.85
E
m
i
s
s
i
v
i
t

Figure 3.24 missivit spectrale du Chromel mesure par spectroradiomtrie entre 3,5m et 5,5m.

La mesure de la rsistivit du Chromel

La mesure laide du four

Une premire exprience a t de placer un fil de Chromel dans un four hautes
tempratures : le fil de Chromel est entre deux blocs de brique rfractaire en Stumatite (Figure
3.25). La rsistance du fil est mesure laide de deux fils en cuivre relis un multimtre.
Lide est de faire monter la temprature du four et de mesurer la rsistance aux bornes du fil.
Comme le fil est de petites dimensions (127m de diamtre et 100mm de longueur), il atteint
rapidement la temprature ambiante (les paliers en temprature entre chaque mesure sont
suffisamment longs pour que les blocs de serrage atteignent eux aussi la temprature du four).
La temprature du four est obtenue soit partir du thermocouple interne au four utilis pour
sa rgulation, soit laide dune sonde de temprature de type K place proximit pour
conforter les rsultats. La Figure 3.26 prsente lvolution de la rsistance du fil en fonction
de sa temprature. Elle prsente une volution de la temprature assez linaire. Le coefficient
thermique de la pente vaut = 0,00053K
-1
.

En fait, ce coefficient est gal . La rsistance mesure est R = L/S soit :

( )( ) [ ]
+ = T T
d
L
R
o
o
o

1
4
(3.50)
103

est donc gal + soit 0,00054K
-1
. Ce rsultat est relativement loign de ce qui a t
trouv dans la littrature. Pour confirmer cette valeur, une autre technique a t utilise.

Figures 3.25 Mesure du coefficient thermique du
Chromel dans un four hautes
tempratures : mesure de R (T).

0 200 400 600 800 1000
6
6.5
7
7.5
8
8.5
9
9.5
R
s
i
s
t
a
n
c
e

R

(
)
Points exprimentaux
R = Ro[1 + (T - To)] avec = 0,00053K
-1

Figure 3.26 Rsultats de la mesure exprimentale de la rsistance du fil de Chromel dans le four en
fonction de sa temprature.

104
La mesure par camra de thermographie infrarouge

La camra de thermographie infrarouge a t lautre moyen de mesurer le coefficient
thermique du fil. La largeur dun pixel de la camra matricielle tant suprieure au diamtre
du fil, la temprature quelle va donner est fausse. Elle est alors quipe dun objectif
microscopique. La Figure 3.27 donne lvolution de la rsistance du fil toujours en fonction
de sa temprature. Lvolution est linaire et donne une valeur de = 0,00058K
-1
.
Dans cette exprience, la longueur est maintenue fixe, aussi mesur vaut-il :

( )( ) [ ]
+ = = T T
d
L
S
L
R
o
o
o
o

2 1
4
2
(3.51)
soit = + 2 = 0,00060K
-1
: le rsultat obtenu est compatible avec la prcdente mesure.
noter que les valeurs de tempratures sont obtenues pour une missivit = 0,80 dtermine
prcdemment.

0 100 200 300 400 500 600
6.5
7
7.5
8
8.5
9
Temperature T - To (K)
R
e
s
i
s
t
a
n
c
e

R

(
)
Points exprimentaux
R = Ro [1 + (T - To)] avec = 0,00058K
-1

Figure 3.27 Mesure de la rsistance du fil de Chromel en fonction de sa temprature laide de la camra
de thermographie infrarouge.

105
3.2.2.4 Une simulation de champ de temprature dans le fil

En utilisant les rsultats prcdents, il est possible maintenant de calculer le champ de
temprature dans le fil partir des relations (3.39) et (3.41) et dvaluer lcart entre la
temprature moyenne donne par le multimtre et la temprature maximale obtenue par voie
optique. Ces champs sont tracs sur les Figures 3.28 et 3.29. La temprature T
est impose
20C (293K) et cest le courant I qui augmente progressivement de 0,1 0,9A par pas de
0,2A.
La longueur du fil L tait dans un premier temps de 20mm. Du fait de la faible valeur de R
c
,
un gradient significatif en temprature apparat nettement (Figure 3.28). Ce dernier a mme
tendance augmenter avec le courant.
Pour diminuer le gradient et lcart de temprature, nous avons choisi de travailler avec un fil
de 100mm de longueur. Le gradient est beaucoup plus faible et une plus grande uniformit en
temprature est constate mme si la dpendance avec le courant est toujours visible (Figure
3.29).
Le fil de 100mm est plus intressant puisque la temprature T(x) est plus homogne et lcart
des tempratures T T
max
est plus faible.

0 2 4 6 8 10
250
300
350
400
450
500
550
600
650
700
750
Demi-longueur du fil x(mm)
T
e
m
p
r
a
t
u
r
e

T

(
K
)

Figure 3.28 Modlisation du champ de temprature du fil de 20mm de longueur (T(x), T ).

106
0 10 20 30 40 50
0
100
200
300
400
500
600
700
800
900
1000
Demi-longueur du film x (mm)
T
e
m
p
r
a
t
u
r
e

T

(
K
)

Figures 3.29 Modlisation du champ de temprature T(x) dun fil de 100mm de longueur (T(x), T ).

3.2.2.5 Lestimation de paramtres et ltude de leur sensibilit

Les mesures indpendantes effectues prcdemment ont permis de dterminer certains
paramtres inconnus de faon plus ou moins fiable.
Les rsultats obtenus exprimentalement pour correspondent peu prs ceux trouvs
dans la littrature.
Les valeurs de trouves dans la littrature concordent bien avec celles donnes par le
constructeur.
Mme si lmissivit du Chromel obtenue exprimentalement est au-dessus de celle
trouve dans la littrature, cela aura peu dincidence sur le rsultat, comme cela a t montr
prcdemment, les changes radiatifs sont faibles par rapport aux changes convectifs (Figure
3.20).
Une grande incertitude existe galement sur . En effet les mesures faites donnent une
valeur deux fois plus leve que celle fournie par les constructeurs.

Ces deux derniers points devront donc faire lobjet dune estimation systmatique.
L'utilisation dun modle pour estimer les paramtres A et reste dlicate car il faut valuer
les pertes globales autour du fil qui dpendent de la temprature : cest donc un problme non
107
linaire. La rsolution est faite de manire itrative partir de la temprature moyenne du fil
T et des coefficients d'change radiatif (h
rad
) et de convection naturelle (h
cv
) calculs T .

Les paramtres inconnus du modle A et sont estims par une mthode de type moindres
carrs (Annexe D), couple un algorithme de LEVENBERG-MARQUARDT [56,64], qui
consiste minimiser, pour diffrentes valeurs de la puissance injecte dans le fil P = UI, les
carts entre les tempratures moyennes donnes par le modle thorique et celles mesures
exprimentalement [6,79]. Lobservable et la variable explicite disposition sont
respectivement la rsistance R (= U/I) et le courant I. Le modle analytique prend en compte
la non-linarit des pertes (calcul partir de T obtenue par itration), ce qui suppose quelles
sont uniformes le long du fil. Ce qui n'est pas rigoureusement vrai. En effet, la temprature,
proche de l'ambiante prs des bords, peut atteindre la temprature de fusion du fil (> 1 000C)
au centre.
Les donnes exprimentales de courant I et de tension U sont donnes dans le Tableau 3.06.
Ces observables servent calculer la rsistance R , laquelle est trace en fonction de I sur la
Figure 3.30 (les points exprimentaux sont reprsents par o). Le programme itratif
converge pour les valeurs suivantes : = 0,00054K
-1
et A = 0,617. La valeur de ainsi
obtenue, est cohrente avec les mesures prcdentes ; cest donc cette valeur qui sera utilise.
En ce qui concerne la valeur de A, elle est lgrement suprieure celle de CHURCHILL, ce
qui peut sexpliquer par la finesse du diamtre du fil ; les coefficients dchange augmentent
gnralement lorsque le diamtre diminue.
108

0 0.5 1 1.5
8.5
9
9.5
10
10.5
11
11.5
12
12.5
Courant I (A)
R
s
i
s
t
a
n
c
e

R

(
)
Points exprimentaux
LEVENBERG-MARQUARDT

Figure 3.30 Tracs de la rsistance R en fonction du courant I (o) et de son estimation par la mthode des
moindres carrs (-).

0 0.5 1 1.5
-1
-0.8
-0.6
-0.4
-0.2
0
0.2
0.4
0.6
0.8
1
Courant I (A)
R
s
i
d
u
s

Figure 3.31 Rsidus.

La sensibilit du modle est tudie partir de la variation de lobservable (ici R ) en
fonction des paramtres (ici A et ) lorsquon les fait lgrement varier (de quelques
pourcents). Dans la pratique, pour pouvoir comparer les sensibilits entre elles, il est
prfrable de travailler avec les sensibilits rduites qui ont la mme unit :

109

=
R
X
A
R
A X
A
= (3.52)

Si les paramtres sont corrls, alors la variation dun des paramtres se rpercute sur les
autres. Pour des paramtres trs sensibles, une erreur dans leur estimation peut entraner des
erreurs de mesure importantes. Il devient alors ncessaire de dfinir les paramtres les plus
sensibles par dautres mthodes indpendantes les unes des autres (comme cela a t fait).

La Figure 3.32 montre les sensibilits rduites de lobservable R et A qui paraissent
plus ou moins corrles. Par contre, la Figure 3.33 montre quen fait, d R d / et dA R d / ne
sont pas proportionnelles et par consquent pas corrles. Dautre part, les sensibilits
rduites sont dans un rapport denviron 10
4
, ce qui montre que est beaucoup mieux identifi
que A.

0 0.5 1 1.5
-0.5
0
0.5
1
1.5
2
2.5
3
3.5
4
Courant I (A)
S
e
n
s
i
b
i
l
i
t
s

r
d
u
i
t
e
s
= 0,00054K
-1
A = 0,617

Figure 3.32 Tracs des courbes de sensibilits rduites des paramtres estims ( et A).

110
-0.5 0 0.5 1 1.5 2 2.5 3 3.5 4
-0.45
-0.4
-0.35
-0.3
-0.25
-0.2
-0.15
-0.1
-0.05
0
dR/d
d
R
/
d
A

Figure 3.33 Tracs de la sensibilit de R sur A en fonction de la sensibilit de R sur .

Le Tableau 3.06 et la Figure 3.34 prsentent cette fois-ci les rsultats obtenus en terme de
temprature et de coefficients dchange partir des paramtres estims. Les rsidus
galement indiqus montrent un cart faible entre les points exprimentaux et les points
dtermins par la mthode des moindres carrs.

0 200 400 600 800 1000 1200
0
50
100
150
200
250
300
350
C
o
e
f
f
i
c
i
e
n
t
s

d
'
c
h
a
n
g
e

(
W
/
m
2
.
K
1
)
CHURCHILL
h
rad

Figure 3.34 Tracs des coefficients dchange radiatif ( ) et convectif (*) en fonction de la temprature
obtenue avec des paramtres estims intgrs dans les corrlations.

111

3.3. Le microscope et le systme de mesure du flux photonique

Le fonctionnement du microscope est dtaill en Annexe E. Il est compos dun objectif et
dun oculaire. Entre lobjectif et loculaire, sont disposs un diaphragme, une roue filtres
mais galement un tube en Dural de manire isoler le mieux possible le dtecteur de la
U
(V)
I
(A)
P
(W)
R
()
T
(K)
h
conv
(W.m
-2
.K
-1
)
h
rad

(W.m
-2
.K
-1
)
IR
= 0,8
Rsidus
1,000 0,110 0,110 9,091 290,6 122 4,5 0,1365
1,503 0,164 0,247 9,115 299,1 132 4,7 0,0984
2,000 0,219 0,438 9,132 305,6 138 4,9 0,0230
2,500 0,270 0,675 9,259 351,0 157 6,1 0,0729
3,003 0,323 0,970 9,297 364,6 160 6,5 0,0124
3,494 0,371 1,296 9,418 407,9 171 8,0 0,0344
4,002 0,424 1,696 9,439 415,3 173 8,3 -0,0617
4,500 0,472 2,124 9,534 449,5 181 9,7 -0,0783
4,983 0,516 2,571 9,657 493,6 190 11,8 -0,0618
5,500 0,563 3,097 9,769 533,8 198 13,9 -0,0670
6,000 0,609 3,654 9,852 563,7 204 15,7 -0,1017
6,500 0,651 4,232 9,985 611,1 213 18,8 -0,0789
7,000 0,690 4,830 10,145 668,6 221 23,2 -0,0220
7,500 0,736 5,520 10,190 684,9 224 24,6 -0,1001
8,008 0,776 6,214 10,320 731,2 230 28,8 -0,0792
8,503 0,817 6,947 10,408 762,8 235 32,0 -0,1034
9,000 0,845 7,605 10,651 850,0 248 41,9 0,0628
9,496 0,882 8,376 10,766 891,5 254 47,3 0,0761
10,000 0,928 9,280 10,776 894,9 254 47,8 -0,0424
10,500 0,947 9,944 11,088 960,5 263 57,3 0,2164
11,003 1,004 11,047 10,959 1 006,6 269 64,8 -0,0716
11,500 1,033 11,880 11,133 1 022,8 271 67,6 0,0205
12,000 1,065 12,780 11,268 1 071,1 277 76,3 0,0655
12,500 1,095 13,688 11,416 1 124,2 284 86,8 0,1290
13,013 1,132 14,731 11,496 1 152,8 287 92,8 0,1047
13,506 1,164 15,721 11,603 1 191,5 292 101,4 0,1220
14,004 1,203 16,847 11,641 1 205,0 294 104,5 0,0497
14,506 1,227 17,799 11,822 1 270,1 296 120,5 0,1634
15,007 1,283 19,254 11,697 1 225,0 302 109,2 -0,1203
15,512 1,303 20,212 11,905 1 299,6 305 128,2 0,0313
16,000 1,337 21,392 11,967 1 321,9 307 134,3 -0,0023
16,504 1,382 22,809 11,942 1 313,0 308 131,8 -0,1541
17,002 1,414 24,041 12,024 1 342,3 310 140,0 -0,1623
Tableau 3.06 Rsultats en temprature du fil et estimation des changes radiatif et convectif partir des
paramtres estims.
112
lumire ambiante. La roue codeuse porte les filtres monochromatiques utiliss pour la
mthode multi-spectrale.
Le flux, collect par le microscope, parvient finalement au photomultiplicateur (multi-alkali)
par le biais des filtres.

Figure 3.35 Vue gnrale du microscope. Entre lobjectif et loculaire se trouvent le diaphragme et la roue
filtres. Tous ces lments sont accols les uns aux autres pour viter toute lumire parasite. De
plus, une pice en Dural relie tous les lments entre eux pour isoler le dtecteur du milieu
extrieur.

3.3.1. Lobjectif ultraviolet

Lobjectif ultraviolet (CaF
2
transparent dans les UV) qui a t choisi, prsente la particularit
davoir une longue distance de travail (15mm) pour ne pas perturber le milieu de mesure mais
aussi pour permettre des mesures microscopiques hautes tempratures ; de nombreux
objectifs ont des distances de travail infrieures voire trs infrieures au centimtre. Le
Tableau 3.07 rfrence les principales caractristiques de lobjectif que nous avons retenues.

Grossissement
commercial
Ouverture numrique
Distance focale
(mm)
Distance de travail
(mm)
50x 0,42 4 15
Tableau 3.07 Caractristiques principales de lobjectif ultraviolet.

Objectif UV Oculaire
Roue filtres
Dplacement
micromtrique
de lobjectif
Photomultiplicateur
113
La grande distance de travail de lobjectif est importante puisque, pour le corps noir, le point
de vise se situe 10mm lintrieur de la cavit ( 3.2.1). La transmittivit du verre est
fonction de la longueur donde et la Figure 3.36 en reprsente son spectre.

300 350 400 450 500 550 600 650 700 750
0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
0.9
T
r
a
n
s
m
i
t
t
i
v
i
t
o
b
j

Figure 3.36 Transmittivit spectrale de lobjectif.

3.3.2. Loculaire

Loculaire est en verre de type BK7 (10x), il prsente galement une fonction de transfert
fonction de la longueur donde dbutant vers 350nm (Figure 3.37).

300 350 400 450 500 550 600 650 700 750
0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
0.9
1
T
r
a
n
s
m
i
t
t
i
v
i
t
o
c

Figure 3.37 Transmittivit spectrale de loculaire.
114

3.3.3 Le photomultiplicateur et son refroidisseur

Sa cellule sensible est de type multi-alkali et est refroidie par un lment PELTIER. La
chaleur est vacue par une circulation deau. Le rendement quantique, not , de la cellule
donn sur la Figure 3.38 est celui fourni par le constructeur. La gamme de travail du PMT
stend de 185m 710m et sa rponse est maximale 410nm.

100 200 300 400 500 600 700 800
0
0.05
0.1
0.15
0.2
0.25
R
e
n
d
e
m
e
n
t

q
u
a
n
t
i
q
u
e

Figure 3.38 Rendement quantique du PMT.

Le PMT est refroidi par effet PELTIER pour rduire le bruit de mesure (-20C). Pour mettre
en vidence lintrt de refroidir la cellule sensible du PMT, le bruit de fond est enregistr. Il
apparat clairement sur la Figure 3.39 quau bout de 40 minutes environ, le nombre de
photons parasites chute de 9 photons par seconde un photon par seconde voire moins. Le
bruit de fond est li au bruit de llectronique du photomultiplicateur.

115
0 50 100 150 200 250 300 350 400
0
1
2
3
4
5
6
7
8
9
Temps de mesure (x10s)
P
h
o
t
o
n
s

p
a
r
a
s
i
t
e
s

Figure 3.39 Refroidissement du PMT. Le nombre de photons parasites chute puis se stabilise aprs environ
40 minutes. La temprature du PMT passe de 20C -20C.

3.3.4 Les filtres monochromatiques

Les filtres monochromatiques ont t choisis partir de critres thoriques prsents au
2.2.2.3. Les fonctions de transfert
i
f
(Figure 3.40) des filtres sont donnes par les
constructeurs et ont t vrifies laide du spectroradiomtre. Ils sont trs proches les uns
des autres et ont une faible largeur de bande spectrale (environ 10nm) confortant ainsi
lhypothse de lmissivit constante entre deux mesures effectues deux longueurs donde
diffrentes.
Les donnes constructeur des filtres sont donnes dans le Tableau 3.08.

Filtre ni
Longueur donde
centrale
i
(nm)
Transmittivit
maximale
i

Largeur de la bande
spectrale (nm)
i = 1 379,15 0,4942 11,90
i = 2 389,5 0,4306 12,40
i = 3 400,25 0,4957 10,70
Tableau 3.09 Caractristiques optiques et spectrales des filtres.

116
360 370 380 390 400 410 420
0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
T
r
a
n
s
m
i
t
t
i
v
i
t
f
Filtre
1
Filtre
2
Filtre
3

Figure 3.40 Transmittivit spectrale des trois filtres utiliss pour la mthode multi-spectrale.

3.3.5 La carte de comptage

La carte de comptage enregistre les photons comptabiliss par le PMT, cest--dire que le
photon qui est absorb par la cellule sensible va donner naissance une cascade de photo-
lectrons sous leffet dun intense champ lectrique (Figure 3.41), il y a donc cration dun
signal lectrique directement exploitable par la carte de comptage (logiciel dvelopp au
laboratoire sous Delphi).

Figure 3.41 Principe du dtecteur quantique.

La carte permet son utilisateur de choisir le temps dintgration t (de 1ms 10s), cest--
dire quelle compte le nombre de photons pendant le temps t. Un discriminateur permet
galement de slectionner les photo-lectrons suivant leur amplitude.

117
3.3.6 Autres lments

Pour des raisons de scurit et de protection du matriel, un cran amovible en cuivre, refroidi
par une circulation deau (la mme qui refroidit le PMT), est dispos entre lobjectif et le
corps noir (Figure 3.42). En effet, avec des tempratures de 1 273K, la chaleur peut
endommager le verre de lobjectif, voire mme le dtruire.

Figure 3.42 Un cran est dispos entre lobjectif et le corps noir pour protger le premier des hautes
tempratures. Il est refroidi par une circulation deau.
118
Conclusion

La premire partie de ce chapitre prsente le dispositif de mesure : microscope, PMT refroidi,
filtres monochromatiques, carte comptage, et la seconde partie est axe sur le dveloppement
des outils permettant dtalonner au mieux le banc optique. Ce dernier a son importance tant
donn que le principe est de raliser des mesures de temprature lchelle microscopique.

Ltalonnage est effectu au moyen dun corps noir adapt aux hautes tempratures. Les
tudes prliminaires ncessaires son dveloppement, sa modlisation, mais galement les
mesures de ses proprits thermophysiques ont permis de mettre en place un corps noir dont
lmissivit apparente est trs proche de lunit. De plus, la temprature de la pice est bien
contrle et surtout trs stable grce aux thermocouples et au PID.

De la mme manire, les travaux dvelopps sur le fil de Chromel ont permis dobtenir un
montage capable, dune part, dtre assez stable malgr les mouvements du fil lis la
convection, et dautre part, davoir une bonne ide de sa temprature, suite aux nombreuses
expriences parallles pour dterminer ses proprits thermophysiques.

Quatrime chapitre

Les rsultats exprimentaux
120
Sommaire

Quatrime chapitre Les rsultats exprimentaux p.119
Introduction p.121
4.1 La dfinition de la surface microscopique p.122
4.2 Les premires mesures de temprature p.123
4.2.1 La mesure sans les filtres monochromatiques p.123
4.2.1.1 Les conditions exprimentales p.123
4.2.1.2 Les rsultats p.124
4.3 La mesure avec le corps noir hautes tempratures p.126
4.3.1 Les temps dintgration et le temps de comptage p.126
4.3.2 Ltude du bruit parasite p.127
4.3.3 La mesure avec les filtres monochromatiques p.128
4.3.3.1 Le calcul de lesprance et de la variance p.128
4.3.3.2 Les mesures sans la fonction de transfert p.132
4.3.4 La fonction de transfert du microscope p.133
4.3.4.1 Les filtres monochromatiques p.135
4.3.5 Les mesures avec la fonction de transfert p.146
4.3.6 Une validation des rsultats p.148
4.3.6.1 La validation laide de la camra de thermographie infrarouge p.148
4.3.6.2 Une mesure multi-spectrale sur le fil de Chromel p.148
Conclusion p.152
Quatrime chapitre Les rsultats exprimentaux
121
Introduction

Ce chapitre prsente les rsultats exprimentaux et il est compos en plusieurs parties.

La premire concerne ltalonnage de la zone de mesure qui est effectu laide du montage
avec le fil de Chromel. En se basant sur le fil denviron 100m de diamtre, le but est
dobtenir au final une zone dinvestigation denviron 10m, voire moins. Ensuite, une
premire srie de mesures est ralise toujours avec le fil dans le but de valider le
fonctionnement du dispositif ; lobjectif est de retrouver la loi de PLANCK par la mesure du
flux photonique mis par la surface vise du fil en fonction de sa temprature.

La seconde partie du chapitre fait intervenir cette fois-ci le corps noir. temprature impose
et avec chaque filtre monochromatique, le flux photonique, en provenance de la surface
apparente de la seconde cavit est mesur. Sans tenir compte de la fonction de transfert du
microscope, on montre que le rapport des signaux ne permet pas de remonter la temprature.
Il est donc important dintgrer la fonction de transfert du microscope et en particulier des
filtres dans le calcul de la temprature. Si la troisime partie soccupe de dfinir au mieux ces
fonctions de transfert, la quatrime les intgre aux calculs de la temprature.

Enfin les rsultats sont analyss et discuts la fin du chapitre. En effet, le nombre de
comptages effectuer, le temps dintgration, ou bien encore la mthode pour remonter la
temprature ont une importance sur la qualit et la prcision des rsultats.

122
4.1 La dfinition de la surface microscopique

Le microscope permet de viser une surface de quelques micromtres de diamtre (Figure
4.01). La description dtaille du fonctionnement dun microscope est prsente en Annexe E.
La mise au point est relativement difficile faire cause de la petite taille du fil de Chromel
(127m) car le moindre mouvement dair le fait bouger. Elle seffectue en plusieurs tapes.
1-/ Lobjectif est plac devant le fil (AB). Il donne une image relle (AB) visible sur un cran
plac en arrire (feuille de papier millimtr). La distance objet-objectif est telle que limage
est nette sur lcran (cette distance correspond la distance de travail de lobjectif
O
1
A = 15mm). Limage sur lcran est illustre sur le premier dessin de la Figure 4.02.
2-/ Loculaire est intercal entre lcran et lobjectif. Il est plac de manire avoir une image
virtuelle (AB) du fil relativement grande denviron 15mm (second dessin de la Figure
4.02).
3-/ Dispos entre lcran et loculaire, le diaphragme permet de rduire significativement le
diamtre de la zone vise jusqu avoir environ 10m (troisime dessin de la Figure 4.02). Le
photomultiplicateur (et plus particulirement sa surface sensible) prend alors la place de
lcran.

Figure 4.01 Schma dtaill dun microscope optique compos dun objectif et dun oculaire. Le
microscope vise un objet rel AB . Il donne dans un premier temps une image relle ' ' B A ,
puis loculaire donne finalement une image virtuelle ' ' ' ' B A .

123

Figure 4.02 Dessins des diffrentes tapes du rglage pour lobtention de la surface microscopique. Dans
un premier temps, une image relle est obtenue partir de lobjectif seul. Puis loculaire,
associ lobjectif, permet de grossir lobjet en une image virtuelle. Enfin, un diaphragme
rduit de manire significative la zone observe du fil.

4.2 Les premires mesures de tempratures

4.2.1 La mesure sans les filtres monochromatiques

Dans le but de valider le fonctionnement du dispositif, une premire srie de mesures est
effectue sans filtre. Le principe est de mesurer le flux photonique en fonction de la
temprature du fil et de voir si on retrouve bien la loi de PLANCK. On suppose que le
dtecteur est monochromatique.
La source radiative est le fil horizontal de Chromel, le microscope quip de son objectif et de
son oculaire, vise une surface de 10m. Cependant aucun filtre monochromatique nest
dispos. Grossirement la gamme spectrale du microscope est entre 330m 700m (
4.3.1). Dans ce large intervalle,
varie fortement et il est difficile de lvaluer.

4.2.1.1 Les conditions exprimentales

Le temps dintgration est t = 1ms et le nombre de comptage q est fix 40 000. Il faut faire
une mesure prliminaire pour valuer le bruit de fond du dtecteur et le soustraire aux autres
mesures.
La rsistance initiale du fil est R
o
= 7,21, la temprature ambiante est T
= 20C, et le biais
li au bruit est b = 13 photons/t. La temprature sobtient partir de la formule (3.16) du
124
3.2.2. Le coefficient thermique utilis pour calculer la temprature est estim nouveau par
mthodes inverses ( 3.2.2.5) grce la nouvelle srie de mesures de tension et dintensit ;
ainsi = 0,00053K
-1
.

4.2.1.2 Les rsultats

Pour chaque srie de mesures, le flux photonique est lesprance n = E(N) des photons
mesurs pendant t. De plus, cette moyenne est calcule dans un intervalle 3 ( est lcart-
type des comptages de photons) autour de n, pour enlever les comptages aberrants. Les
rsultats prsents au Tableau 4.01 et sur la Figure 4.03 montrent, en accord avec la thorie,
une allure de courbe semblable celle de la loi de PLANCK exprime en flux photonique.
La gamme de temprature aborde varie entre 669K (396C) et 1 049K (776C). Cependant,
la carte ne peut pas comptabiliser plus de 24 000 photons pour t = 1ms ; le comptage est
satur si la temprature augmente.
Le comptage augmente fortement partir du moment o le fil commence rougir ; ltendue
spectrale de lil humain correspondant peu prs celui du microscope dans le cas prsent,
les rsultats en temprature semblent alors corrects.

600 800 1000 1200 1400 1600 1800
0
0.5
1
1.5
2
2.5
3
x 10
4
Temprature T (K)
F
l
u
x

p
h
o
t
o
n
i
q
u
e

(
p
h
o
t
o
n
s
/
t
)
Points exprimentaux
n(T) = 2.10
13
exp(-C
2
/T) avec = 418,97nm

Figure 4.03 Mesures effectues sur le fil de Chromel avec le microscope UV mais sans filtre. Les rsultats
prsents permettent de retrouver la loi de PLANCK.
125

U (V) I (A) R () T (K) M (photons/t)
4,970 0,574 8,65 669 2
7,332 0,796 9,21 816 5
7,938 0,851 9,33 847 11
8,438 0,894 9,44 876 39
8,605 0,907 9,49 889 61
8,992 0,943 9,54 902 134
9,200 0,960 9,58 913 252
9,578 0,996 9,61 921 529
9,666 1,003 9,64 928 666
10,065 1,043 9,65 931 1 327
10,606 1,085 9,78 965 3 136
11,043 1,120 9,86 986 5 104
11,704 1,177 9,94 1 007 11 658
12,304 1,230 10,00 1 023 17 009
12,937 1,282 10,09 1 046 22 394
13,282 1,315 10,10 1 049 23 819
Tableau 4.01 Rsultats des mesures effectues lors dune exprience visant vrifier lobtention de la loi
de PLANCK ( t = 1ms).

Sur la Figure 4.03, une loi (-) de la forme de lapproximation de WIEN (4.01) est ajuste par
moindres carrs (Simplex) au mieux sur les points exprimentaux (o). Deux paramtres a et b
sont estims. a reprsente lamplitude mais peu dinformations peuvent tre tires de ce
paramtre car il dpend de trop de coefficients inconnus. Cest b qui est plus intressant car
celui-ci joue sur la forme de la courbe et il permet de dterminer une longueur donde
moyenne (4.02). Les valeurs obtenues sont a = 2.10
13
photons/t et b = 3,4341.10
4
K.

( ) ( ) T b a T n / exp = (4.01)

nm C b 97 , 418 / 014388 , 0 /
2
= = = (4.02)

La relation (4.02) permet de trouver une cohrence dans les rsultats tant donne que la
longueur donde moyenne obtenue se situe dans la gamme de travail du dtecteur.

Cette premire mesure ne permet pas de remonter la temprature car le systme nest pas
talonn en amplitude (do limpossibilit de se servir du coefficient a). Pour permettre de
mesurer la temprature, il est ncessaire dtalonner le dispositif ou bien de mettre en place
une mthode multi-spectrale.

126

4.3 La mesure avec le corps noir hautes tempratures

prsent, les mesures se font laide de filtres monochromatiques. Ils ont une faible bande
spectrale et sont trs proches les uns des autres de sorte que lmissivit soit la plus constante
possible ( 4.3.2).
Selon le protocole de mise au point dfini au 4.1, la surface vise est de lordre de 10m de
diamtre en visant cette fois-ci lentre de la seconde cavit du corps noir ( 3.2.1.1).

4.3.1 Les temps dintgration et le temps de comptage

Exprimentalement, les comptages sont raliss pour tous les filtres et pour diffrents temps
dintgration t : 1ms, 2ms, 5ms, et 10ms. Ce sont les temps dintgration les plus faibles que
propose la carte de comptage. Le nombre de comptage q est fix 40 000, ce qui fait que le
temps de mesure peut prendre plusieurs valeurs suivant t : t = 40s, 80s, 200s, et 400s. Les
comptages les plus courts sont les moins risqus pour le matriel tant donne la proximit de
lobjectif avec le corps noir (environ 5mm) ; il nen est pas de mme avec le fil micromtrique
o le microscope est moins sensible aux hautes tempratures du fil.
Le nombre de comptage a t choisi 40 000 pour que les grandeurs mesurer (moyenne et
cart-type) soient les plus stables possibles. Les Figures 4.04 illustrent lvolution de la
moyenne du signal ainsi que son cart-type en fonction du nombre de comptage.

0 0.5 1 1.5 2 2.5 3 3.5 4
x 10
4
-0.5
-0.4
-0.3
-0.2
-0.1
0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
Nombre de comptage q
G
r
a
n
d
e
u
r
s

s
t
a
t
is
t
iq
u
e
s
Moyenne
Ecart-type

0 0.5 1 1.5 2 2.5 3 3.5 4
x 10
4
-0.5
-0.4
-0.3
-0.2
-0.1
0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
G
r
a
n
d
e
u
r
s

s
t
a
t
is
t
iq
u
e
s
Moyenne
Ecart-type

0 0.5 1 1.5 2 2.5 3 3.5 4
x 10
4
-0.5
-0.4
-0.3
-0.2
-0.1
0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
G
r
a
n
d
e
u
r
s

s
t
a
t
is
t
iq
u
e
s
Moyenne
Ecart-type

Figures 4.04 volution de la variation des grandeurs statistiques mesures en fonction du nombre de
comptage pour les trois filtres (1 3 de gauche droite).

Les figures laissent apparatre quun nombre de comptage de 40 000 est suffisant pour obtenir
des rsultats stables.

127
4.3.2 Ltude du bruit parasite

Dans un premier temps, le photomultiplicateur est refroidi pour diminuer le bruit de mesure.
Les comptages sont regroups dans le Tableau 4.02 pour les quatre temps dintgration et
pour les trois filtres.

t (ms) Filtre ni 0 photon 1 photon 2 photons 3 photons 4 photons
1 39 845 152 2 1 0
2 39 842 149 5 3 1 1
3 39 620 376 3 1 0
1 39 576 416 6 1 1
2 39 623 371 5 1 0 2
3 39 322 658 16 3 1
1 38 903 1 063 30 2 2
2 38 486 1 459 51 2 2 5
3 35 748 3964 263 21 4
1 37 660 2 229 95 14 2
2 37 002 2836 143 14 5 10
3 32 301 6834 794 64 7
Tableau 4.02 Dtail de la mesure du bruit (q = 40 000) pour tous les filtres et pour chaque temps
dintgration.

Comme lmission spontane de photons parasites est trs faible, cest une loi de POISSON
(Figure 4.05) de paramtre = 0,206 qui est considre pour valuer les proprits
stochastiques du bruit ( 2.4.2).
En ramenant le flux photonique en photons/s, chaque filtre reoit en moyenne respectivement
4 photons/s, 4 photons/s, et 10 photons/s. Compar avec le flux photonique enregistr pour
chaque filtre (environ 10 000 photons/s), le biais peut tre nglig.

128
0 0.5 1 1.5 2 2.5 3 3.5 4
0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
0.9
Nombre de photons
F
r
q
u
e
n
c
e
Points exprimentaux
Loi de Poisson

Figure 4.05 La distribution du bruit peut se traduire par une loi de POISSON.

4.3.3 La mesure avec les filtres monochromatiques

4.3.3.1 Le calcul de lesprance et de la variance

Pour lexprience, la temprature de consigne du PID qui rgule le corps noir est fixe
1 000C. 40 000 comptages sont effectus pour les quatre temps dintgration et pour les trois
filtres. Le flux photonique (et ainsi la temprature) peut tre mesur soit partir de
lesprance, soit partir de la variance du flux photonique exprimental ( 2.4). Pour cela,
trois Mthodes sont utilises pour dterminer ces paramtres. La Mthode 1 consiste
calculer la moyenne et la variance sur les 40 000 comptages (pour chaque filtre et pour
chaque temps dintgration) sans dfinir au pralable de loi statistique. La Mthode 2
dtermine le flux photonique par lestimation indpendante par moindres carrs de
lesprance
2
= E(N) et de la variance
1
= V(N) partir de la loi normale (4.03).

( )
|
|
\
|
= =
1
2
2
1
2
) (
exp
2
1
k
k Y P (4.03)

La Mthode 3 ne calcule quun seul paramtre = E(N) = V(N)t = n (toujours par moindres
carrs) :

129
( )
|
|
\
|
= =
t
k
t
k Y P
2
) (
exp
2
1
2
(4.04)

Le but de ce paragraphe est de dterminer quelle mthode est la plus efficace. Une attention
particulire est galement donne pour linfluence du temps dintgration t.
Le Tableau 4.03 et les Figures 4.06, 4.07, 4.08, et 4.09 prsentent les rsultats exprimentaux
des comptage et la distribution du flux photonique pour diffrents temps de comptage t et
pour chaque filtre.

Mthode 1 Mthode 2 Mthode 3 t
(ms)
i
#
n = E(N) n = V(N)t n = E(N) n = V(N)t n = E(N) = V(N)t
1 10,792 10,839
10,533
( 0,43%)
10,776
( 2,78%)
10,536
( 0,43%)
2 18,477 18,779
18,219
( 0,21%)
18,400
( 1,82%)
18,220
( 0,21%)
1
3 34,353 35,059
34,126
( 0,11%)
35,288
( 1,25%)
34,131
( 0,11%)
1 10,502 10,556
10,366
( 0,21%)
10,272
( 1,95%)
10,366
( 0,21%)
2 18,261 18,427
18,141
( 0,11%)
18,442
( 1,34%)
18,142
( 0,11%)
2
3 34,065 34,725
33,934
( 0,07%)
34,490
( 1,18%)
33,935
( 0,07%)
1 10,237 10,381
10,181
( 0,08%)
10,388
( 1,08%)
10,182
( 0,08%)
2 17,861 19,131
17,798
( 0,07%)
18,844
( 1,15%)
17,799
( 0,06%)
5
3 33,036 33,722
33,023
( 0,04%)
33,785
( 1,03%)
33,024
( 0,04%)
1 10,470 10,682
10,439
( 0,06%)
10,636
( 1,17%)
10,439
( 0,60%)
2 17,900 18,203
17,865
( 0,04%)
18,198
( 1,05%)
17,865
( 0,04%)
10
3 33,132 34,221
33,152
( 0,02%)
33,473
( 0,87%)
33,152
( 0,02%)
Tableau 4.03 Rcapitulatif des flux photoniques (ramens en photons/s) ainsi que les incertitudes pour
chaque filtre et pour les quatre temps dintgration. # : par faute de place, cette colonne est
celle des filtres numrots de 1 3.

130
0 1 2 3 4 5 6 7
x 10
4
0
500
1000
1500
2000
2500
3000
3500
4000
4500
5000
Nombre de photons
D
i
s
t
r
i
b
u
t
i
o
n

d
e

l
'
m
i
s
s
i
o
n

p
h
o
t
o
n
i
q
u
e

Figure 4.06 Distribution exprimentale de lmission photonique pour t = 1ms.

0 1 2 3 4 5 6
x 10
4
0
500
1000
1500
2000
2500
3000
3500
4000
Nombre de photons
D
i
s
t
r
i
b
u
t
i
o
n

d
e

l
'
m
i
s
s
i
o
n

p
h
o
t
o
n
i
q
u
e


131
0 0.5 1 1.5 2 2.5 3 3.5 4 4.5
x 10
4
0
500
1000
1500
2000
2500
Nombre de photons
D
i
s
t
r
i
b
u
t
i
o
n

d
e

l
'
m
i
s
s
i
o
n

p
h
o
t
o
n
i
q
u
e


0.5 1 1.5 2 2.5 3 3.5 4 4.5
x 10
4
0
200
400
600
800
1000
1200
1400
1600
1800
Nombre de photons
D
i
s
t
r
i
b
u
t
i
o
n

d
e

l
'
m
i
s
s
i
o
n

p
h
o
t
o
n
i
q
u
e


Toutes les figures prsentent des distributions gaussiennes : le flux photonique est
indpendant de la valeur du temps dintgration choisie et sa prcision tend samliorer avec
ce paramtre, excepts pour les grands temps dintgration, par exemple pour t = 10ms. Ce
dernier rsultat peut tre expliqu par une possible variation de la temprature de surface
pendant la mesure (comptage denviron 4 minutes). Ladaptation du temps dintgration
semble tre un compromis entre la prcision de la mesure et sa stabilit.

132
Second point, le flux photonique augmente rapidement avec la longueur donde
monochromatique des filtres 1, 2, et 3, et montre des rapports en accord avec les valeurs
utilises pour dfinir de faon approprie les longueurs donde des filtres monochromatiques.
En comparant les Mthodes 1 et 2, une petite diffrence peut tre observe sur lesprance et
la variance du flux photonique, et plus particulirement pour les petits temps dintgration. Si
le flux est petit, alors la partie gauche de la Gaussienne est retire (il ny a pas de flux
photonique ngatif) : le calcul de la moyenne et de la variance est alors affect par la partie
manquante de la courbe. Par exemple, sur la Figure 4.06, la partie gauche de la loi normale est
manquante. Ces deux paramtres sont donc affects par un biais positif, lequel diminue pour
un temps dintgration plus grand.

En considrant les rsultats dans la Mthode 2, le flux photonique mesur partir des
moindres carrs est plus prcis sil est calcul partir de la moyenne plutt que de la variance
(en accord avec les incertitudes calcules dans le Tableau 4.03).

Finalement, comme attendus, les rsultats les plus prcis pour le flux photonique sont obtenus
pour la Mthode 3.

4.3.3.2 Les mesures sans la fonction de transfert

La relation (2.33) prsente la faon la plus simple de remonter la temprature de la surface
en faisant lhypothse que le rapport des missivits vaut 1 (mthode classique). Cette
expression tant le flux mis par la surface, elle ne prend pas en compte la fonction de
transfert du dispositif de mesure. ( ) n T n
i
=
est alors soit lesprance E(N) soit la variance

V(N) du signal
i
et T donnes. Les rsultats sont prsents dans le Tableau 4.04.
133
(ms)
i/j
n = E(N) n = V(N)t n = E(N) n = V(N)t n = V(N)t = E(N)
1
1/2
1/3
2/3
1 322
1 202
1 096
1 206
116
1 294
1 186
1 088
1 189
105
1 298
1 184
1 082
1 188
110
1 329
1 173
1 040
1 180
149
1 298
1 184
1 082
1 188
110
2
1/3
1/3
2/3
1 284
1 183
1 092
1 186
98
1 275
1 169
1 073
1 172
103
1 269
1 174
1 087
1 176
93
1 212
1 148
1 087
1 149
62
1 269
1 174
1 087
1 176
93
5
1/2
1/3
2/3
1 276
1 187
1 102
1 188
88
1 159
1 182
1 206
1 182
23
1 272
1 183
1 102
1 185
83
1 191
1 180
1 170
1 180
11
1 272
1 183
1 102
1 185
87
10
1/2
1/3
2/3
1 326
1 208
1 103
1 212
114
1 334
1 196
1 075
1 201
133
1 323
1 205
1 099
1 209
114
1 324
1 215
1 116
1 218
106
1 323
1 205
1 099
1 209
114
Tableau 4.04 Tempratures calcules sans tenir compte de la fonction de transfert du dispositif.

Les rsultats obtenus prcdemment sont tous relativement levs par rapport la temprature
de consigne du PID, assez disperss (entre 10% et 15%), et surtout plus hautes que celles
donnes par la modlisation (Figure 3.14) qui donne environ 1 100C lintersection des
deux cavits.

Lide est prsent de refaire les calculs mais en prenant cette fois-ci en compte la variation
de la fonction de transfert du microscope mais surtout celle des filtres monochromatiques.

4.3.4 La fonction de transfert du microscope

La fonction de transfert spectrale FT
est en fait le produit des fonctions de transfert de

chaque lment qui compose le microscope : les transmittivits spectrales de lobjectif, de
loculaire, et le rendement quantique du photomultiplicateur (PMT) ; le 3.3 prsente en
dtail ces fonctions de transfert. Lorsque le microscope est entirement assembl, la fonction
de transfert devient alors celle prsente sur la Figure 4.10 (produit des fonctions de transfert).

134
300 350 400 450 500 550 600 650 700
0
0.02
0.04
0.06
0.08
0.1
0.12
0.14
0.16
0.18
0.2
F
o
n
c
t
i
o
n

d
e

t
r
a
n
s
f
e
r
t

d
u

m
i
c
r
o
s
c
o
p
e

F
T

Figure 4.10 Fonction de transfert spectrale FT

du microscope.

Cette fonction FT
prsente dans la gamme spectrale [370nm 410nm] une transmittivit

relativement constante (Figure 4.11). Sachant cela, les filtres monochromatiques ont t
slectionns pour tre dans cet intervalle.
Il est effectivement ncessaire que FT
soit la plus constante possible. En regardant de plus

prs la Figure 4.11 dans la gamme spectrale que couvre chaque filtre, FT
est soit constante,

soit croissante et linaire. Il est alors possible de dduire une transmittivit moyenne i FT
pour chaque filtre dont une valeur prcise est calcule partir de lexpression (4.05).

=
i i
i i
d FT
i
i

2
1
FT (4.05)

Le Tableau 4.05 prsente les valeurs maximales de transmission i FT obtenues pour chaque
filtre monochromatique. Les rsultats ont t obtenus partir dune mthode destimation de
paramtres utilisant la mthode des moindres carrs et lalgorithme Simplex.

135
370 375 380 385 390 395 400 405 410
0.06
0.08
0.1
0.12
0.14
0.16
0.18
0.2
F
o
n
c
t
i
o
n

d
e

t
r
a
n
s
f
e
r
t

d
u

m
i
c
r
o
s
c
o
p
e

F
T

Figure 4.11 Fonction de transfert spectrale du microscope dans la zone dtude ultraviolet-visible dfinie
aux Chapitres 2 et 3 entre 370nm et 410nm. Dans cette gamme de longueur donde, la
transmittivit du microscope est relativement constante par rapport au reste du spectre.

Il nest pas inutile de rappeler lexpression du flux photonique mis par une surface s
dmissivit
vue au 2.3 (2.44). Ds lors, le flux photonique monochromatique n
(T) reu
par le dtecteur ayant travers le microscope (FT
) et le filtre (
) a pour expression :

T C
e
hc
s C
T n

/ 4 1 2
FT ) (

= (4.06)

Exprimentalement, les mesures de flux ne sont pas monochromatiques mais intgres sur
une bande spectrale troite centre autour de la longueur donde moyenne .

4.3.4.1 Les filtres monochromatiques

Prsente dans le Troisime Chapitre, la fonction de transfert des filtres monochromatiques
i
(i allant de 1 3) a une allure mi-chemin entre une Gaussienne et un crneau. Dans

lintrt de modliser simplement la fonction de transfert des filtres, il est intressant de voir
sils peuvent tre substitus lun de ces deux cas de figure (par exemple, le 4.3.3.2
prsente le filtre comme des DIRAC).

136
La fonction crneau

La fonction crneau prsente une transmittivit
i
gale sur tout le spectre du filtre i
[
i

i
;
i
+
i
]. Analytiquement, le flux photonique reu par la cellule sensible du PMT
ayant travers le microscope (FT
) et le filtre (
i
) est donne par (4.07). Cette expression

laisse apparatre un facteur k qui peut galement tre dfini comme une fonction de transfert
mais cette fois-ci due aux aspects gomtriques du microscope : angle solide, ouverture
numrique, facteurs de forme de lmission de la surface...

i
i
i
d e
hc
s C
k T n
T
C
i
2
4 1
FT ) ( (4.07)

De plus, il est ncessaire que laire A
i
du crneau soit la mme que celle du filtre original.
Dans ce cas, laire A
i
est gale 2
i
i
. Analytiquement, la transmittivit constante
i
se
dduit de laire par lquation (4.08).

i
i
i i i i i
A
A d d
i
i i
i i

2
2
0
= = = =

=
=
+
(4.08)

La bande spectrale du filtre est faible (2
i
<<
i
) et lhypothse de lmissivit constante

permettent de la sortir de lintgrale. Selon (4.05), i FT peut tre sortie de lintgrale.

=
i i
i i
d e
hc
s C
k T n
T
C
i
i
i

2
4 1
FT ) ( (4.09)

Il reste alors le terme suivant intgrer (C pour crneau) :

=
i
i
d e C
T
C
i

2
4
2
1
(4.10)

Plusieurs changements de variable sont raliss pour rsoudre (4.10) :
137

i i
= .
*
(4.11)

1
i
i
.
*
= et
T
C
a
i
2
= (4.12)

Ds lors :
( )
( )
+ =
1
1
* .
4
*
*
2
.
2
1

d e C
i
T
C
i i
i
i i
(4.13)

( ) [ ]
+ =
i i
i i
d e C
i
a
i
i

/
/
) 1 (
4
1
2
1
(4.14)

Dans lquation (4.14), sachant que
i
<<
i
, alors le dveloppement limit lordre 1
autour de 0 de (1 + )
-4
vaut 1 - 4 + 10
2
et celui de
) 1 ( +
a
e lordre 1 autour de 0 vaut
a
e a a a

|
|
\
|
+ +
2
) 2 ( 1
2
2

. Ainsi :

( )( )

+ + + =
i i
i i
d a a a e C
a
i
i

/
/
2 2 2 3
2 ) 2 ( 1 10 4 1
2
1
(4.15)

\
|
+ + =
i i
i i
a a a a a a e C
a
i

/
/
3 2 2
2
2 3
... ) 2 ( 2 4 4
2
) 2 ( 1
2
1

) d a a a
4 2 3 2
) 2 ( 5 10 10 + + + (4.16)

( )
(
(
|
|
\
|
+
|
|
\
|
|
\
|
+ =

5
2
3
2 3
2 2
3
20
3
10
3
1 2
2
1
i
i
i
i
i
i a
i
i
a a a a e C
(4.17)

1
dsigne ici une quantit trs petite et na aucun rapport avec le coefficient dmission.
138
Au premier ordre, la relation (4.17) montre quil est possible de simplifier lintgrale en
considrant que la mesure est rellement monochromatique la longueur donde moyenne
i
.
En effet, les autres termes sont ngligeables devant le premier. Ainsi :

( )
T C
i i
i
i
i
e
hc
s C
k T n

/ 4 1 2
FT

= (4.18)

Ainsi le rapport entre deux signaux deux longueurs donde de travail diffrentes
i
et
j

conduit aux relations (4.19) et (4.20) pour exprimer la temprature et son erreur relative.

( )
|
|
\
|
|
|
\
|
=
4
2
FT
FT
/ 1 / 1
i
j
i
i
j
j
j
i
i j
n
n
ln
C
T

(4.19)

...
FT FT
FT FT
|
|
\
|
+ + =
i j
n
n
T i
j
i
i
j
j
j
j
i
i
e
e e e
n
e
n
e
T
e

|
|
\
|
(
(
(
|
|
\
|

|
|
\
|
+
j i j i j i
T
C
e
e
T
C
e
e
j
i
j
i

1 1
4
2
2 2
2
(4.20)

Le Tableau 4.05 prsente les valeurs des paramtres des filtres. noter que lerreur sur
lintgrale de la relation (4.20) est dfinie comme tant la diffrence entre les intgrations
ralises au premier et au troisime ordre : il apparat alors que cette erreur
i
e
FT
est nulle.
Cest une mthode destimation de paramtres utilisant les moindres carrs ainsi que
lalgorithme Simplex qui permettent dobtenir une fonction en crneau qui sajuste le mieux
possible sur les donnes constructeur du filtre rel (Figures 4.12, 4.13 et 4.14). Il y a deux
paramtres ici estimer : la transmittivit maximale
i
et la longueur donde moyenne du
crneau
i
.
Lerreur sur la longueur donde moyenne
i
e
est nulle puisque lintgrale au troisime ordre

donne la mme valeur pour
i
.

139
360 365 370 375 380 385 390 395 400
0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
T
r
a
n
s
m
i
t
t
i
v
i
t

d
u

f
i
l
t
r
e

1
donnes constructeur
fonction crneau

Figure 4.12 Ajustement dune fonction crneau sur les donnes constructeur du premier filtre
monochromatique.

360 370 380 390 400 410 420
0
0.05
0.1
0.15
0.2
0.25
0.3
0.35
0.4
0.45
T
r
a
n
s
m
i
t
t
i
v
i
t

d
u

f
i
l
t
r
e

2
donnes constructeur
fonction crneau

Figure 4.13 Ajustement dune fonction crneau sur les donnes constructeur du second filtre
monochromatique.

140
380 385 390 395 400 405 410 415 420
0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
T
r
a
n
s
m
i
t
t
i
v
i
t

d
u

f
i
l
t
r
e

3
donnes constructeur
fonction crneau

Figure 4.14 Ajustement dune fonction crneau sur les donnes constructeur du troisime filtre
monochromatique.

Filtre i A
i
(10
3
nm)
i
(nm)
(nm)
i

1 0,0059 379,5 6,9 0,4275
2 0,0054 389,6 6,7 0,4030
3 0,0054 400,25 5,65 0,4784
Tableau 4.05 Rcapitulatifs des valeurs obtenues lors de lestimation de paramtres des filtres.
monochromatiques quand ces derniers sont considrs tels des crneaux.

Filtre i 1 2 3
i FT (10
-9
nm)
1,9377 2,0573 1,7855
Tableau 4.06 Tableau rcapitulatif des aires
i
FT en fonction des paramtres des filtres calculs au
Tableau 4.05.

La fonction gaussienne

Une autre solution consiste modliser une courbe de type gaussienne sur le filtre rel.
Lquation (4.06) est toujours celle de dpart, sauf que la forme de la transmittivit spectrale
de lquation est donne par la relation (4.21). Dans cette expression, trois paramtres sont
estimer : la longueur donde moyenne
i
, la transmittivit maximale
i

i
, et lcart-type
de la loi normale
i
(lquivalent de
i
pour la fonction crneau). Ces paramtres sont
estims partir du spectre original du filtre laide dune mthode de type moindres carrs
base sur lalgorithme de LEVENBERG-MARQUARDT. De plus, il est impos que laire de
141
la Gaussienne soit gale celle du filtre rel A
i
; il ne reste alors plus que deux paramtres
estimer puisque, cette fois-ci, on a
i i
i
A
2 = . Donc, en partant de la loi normale :

2
2
1
|
|
\
|
=
i
i
i
e

(4.21)

Intgre dans la relation du flux photonique, (4.05) devient :

=
=
|
|
\
|

0
2
1
4 1
2
2
FT ) ( d e e
hc
s C
k T n
i
i
T
C
i
(4.22)

Pour les mmes raisons quau paragraphe prcdent, dans la relation (4.06), la fonction de
transfert du microscope et lmissivit peuvent sortir de lintgrale (les valeurs de i FT sont
regroupes dans le Tableau 4.08).
Comme la loi normale dcrot rapidement avec la longueur donde, le domaine dintgration
peut tre rduit significativement (4.23).

998 , 0
~
2
1
3
3
2
1
2
+ =
=
|
|
\
|

i
i
i
i
d e
i
(4.23)

Ce qui permet dcrire (4.22) de la faon suivante:

(
(
+ =
=
|
|
\
|
i i
i i
i
i
i
d e e FT
hc
s C
k T n
T
C
i
i
i
i

3
3
2
1
4 1
2
2
2
1
2 ) ( (4.24)

Le terme entre crochets (appel G) de (4.24) est calcul sparment pour voir si il est possible
de le simplifier par lexpression suivante :

T
C
T
C
i
e d e e G
i i
i i
i
i

2
2
2
4
3
3
2
1
4
2
1

|
|
\
|
|
|
\
|
= =
(4.25)

142
La rsolution de (4.25) passe par le changement de variable suivant :
i i
=
*
.Ainsi :

( )
( )
+ =
3
3
*
2
1
4
*
2 *
*
2
2
1

d e e G
T
C
i i
i
i i
(4.26)

De plus, avec
2

i
i
i
i

= =
*
et
T
C
a
i
2
= , alors :

( ) [ ]
|
|
\
|
+ =
i i
i i
i
i
d e e G
i
a
i
i

/ 3
/ 3
2
1
) 1 (
4
2
1
2
1
(4.27)

Le dveloppement limit lordre 1 autour de 0 de (1 + )
-4
vaut 1 4 + 10
2
, celui de
) 1 ( +
a
e
lordre 1 autour de 0 vaut
a
e a a a

|
|
\
|
+ +
2
) 2 ( 1
2
2

. Si
i i
u / = , alors :

|
|
\
|
|
|
\
|
+ =
3
3
2
2
4
... 10 4 1
2
1
u u e G
i
i
i
i a
i
i

du e u a a u a
u
i
i
i
i 2
2
2
2
2
2
1
1

|
|
\
|
|
|
\
|
|
\
|
+ +
(4.28)

Le dveloppement de (4.25) donne :

+ =

... ) 4 (
2
1
2
1
3
3
2
3
3
2
4
2 2
du ue a du e e G
u u
a

... 10 4
2
2
2
1
3
3
2
2
2
2
2
+
|
|
\
|
+
|
|
\
|
|
\
|
+
du e u a
a a
u

( ) ... 2 14
2
1
3
3
2
3 2
3
2
\
|
du e u a a
u

2
Mme remarque que pour la note 1 de la page 135.
143
( )
\
|
+
3
3
2
4 2
4
2
2 5
2
1
du e u a a
u
(4.29)

Chaque terme de lintgrale est calcul sparment :

= =
3
3
2
1
1
2
1
2
du e G
u
(4.30)

0
2
1
2
1
3
3
2
3
3
2
2
2 2
=
(
(
= =
u u
e du ue G

(4.31)

1 6
2
1
2
1
2
1
2 / 9
3
3
2
3
3
3
3
2 2
2
3
2 2 2
+ = +
(
(
= =

e du e ue du e u G
u u u

(4.32)

0
2
1
2
1
3
3
3
3
2
2
2
3
4
2 2
=
(
(
= =
u u
e u du e u G

(4.33)

1 54
2
1
2
1
2
1
2 / 9
3
3
2
3
3
3
3
2
3
2
4
5
2 2 2
+ = +
(
(
= =

e du e e u du e u G
u u u

(4.34)

Au final, le dveloppement donne :

( ) ( )( )
\
|
+ + +
|
\
|
|
\
|
+ =

4
2 / 9 2 2 / 9
2
2 4
1 54 10 5 1 6 10 5
2
1
1
e a a e a a e G
a
(4.35)

Dans (4.35), tous les termes dordre suprieur 1 sont ngligeables. Le flux photonique reu
lorsque le filtre est considr comme une Gaussienne est alors :

T
C
i i
i
i
i
i
e
hc
s C
k T n

2
4 1
2 FT ) (

= (4.36)

144
Les paramtres estims sont prsents dans le Tableau 4.05. De plus, les Figures 4.15,
4.16, et 4.17 prsentent les rsultats des Gaussiennes ajustes au plus prs des spectres rels.
Il apparat clairement que la longueur moyenne est dans les deux cas (crneau et Gaussienne)
relativement bien dtermine. De faon similaire au paragraphe prcdent, le rapport de deux
signaux permet de remonter lexpression de la temprature (4.37) et son erreur relative
(4.38).

( )
|
|
\
|
|
|
\
|
=
4
2
FT
FT
/ 1 / 1
i
j
i
i
j
j
j
i
i j
i
j
n
n
ln
C
T
(4.37)

...
FT FT
FT
FT
+
|
|
\
|
+ + + =
j i
j i
j
n
i
n
T
j
i
j
j
i
i
j
i
j
i
e
e
e
e e
e
n
e
n
e
T
e

|
|
\
|
(
(
(
|
|
\
|

|
|
\
|
j i j i j i
T
C
e
e
T
C
e
e
j
i
j
i

1 1
4
2
2 2
2
(4.38)

Les Tableaux 4.07 et 4.08 regroupent les paramtres des filtres. Lerreur sur la longueur
donde moyenne est dfinie comme tant lcart-type (
i
e
i
= ). De plus, les erreurs sur la
transmittivit maximale, sur la fonction de transfert du microscope et sur lcart-type sont
values 1%, elles correspondent lerreur due la modlisation des spectres rels (donnes
constructeur).

145
360 365 370 375 380 385 390 395 400
0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
T
r
a
n
s
m
i
t
t
i
v
i
t

f
i
l
t
r
e

1
donnes constructeur
fonction gausienne

Figure 4.15 Ajustement dune fonction gaussienne sur les donnes constructeur du premier filtre
monochromatique.

360 370 380 390 400 410 420
0
0.05
0.1
0.15
0.2
0.25
0.3
0.35
0.4
0.45
T
r
a
n
s
m
i
t
t
i
v
i
t

d
u

f
i
l
t
r
e

2
donnes constructeur
fonction crneau

Figure 4.16 Ajustement dune fonction gaussienne sur les donnes constructeur du second filtre
monochromatique.

146
380 385 390 395 400 405 410 415 420
0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
T
r
a
n
s
m
i
t
t
i
v
i
t

d
u

f
i
l
t
r
e

3
donnes constructeur
fonction gaussienne

Figure 4.17 Ajustement dune fonction gaussienne sur les donnes constructeur du troisime filtre
monochromatique.

Filtre i A
i
(10
3
nm)
i
(nm)
i
(nm)
i

1 0,0059 378,6 4,7 0,5008
2 0,0054 389,4 4,6 0,4683
3 0,0054 400,3 3,9 0,5524
Tableau 4.07 Rcapitulatifs des valeurs obtenues lors de lestimation de paramtres des filtres
monochromatiques quand ces derniers sont considrs tels des Gaussiennes.

Filtre i 1 2 3
i
FT (10
-9
nm) 1,3375 1,4252 1,1368
Tableau 4.08 Tableau rcapitulatif des aires
i
FT en fonction des paramtres des filtres calculs au
Tableau 4.07 sur lintervalle [
i
3
i
;
i
+ 3
i
].

4.3.5 Les mesures avec la fonction de transfert

Le Tableau 4.09 prsente la synthse de la mthode multi-spectrale pour la mesure de la
temprature. Il est spar en deux parties : la premire partie (suprieure) concerne
lutilisation dune fonction crneau pour modliser les filtres, et la seconde est relative
lutilisation de la loi de GAUSS.
Gnralement, la fonction crneau donne des rsultats moins dvis que la loi normale. Ceci
peut sexpliquer par la forme des filtres monochromatiques originaux, laquelle est plus proche
dun crneau que dune Gaussienne. De plus, le Tableau 4.10 confirme que lerreur relative
sur la temprature est plus faible avec la mesure de la moyenne. La fonction crneau donne de
147
meilleurs rsultats en terme de temprature grce la plus faible dviation et la prcision
des paramtres du microscope qui sont bien connus.

Comme pour le flux photonique, il apparat clairement que la mthode la plus prcise et la
plus efficace correspond la Mthode 3 (modle moindres carrs un paramtre inconnu).
Les meilleurs temps dintgration sont 2ms et 5ms, de manire compter le plus de photons
possibles dans un intervalle de temps raisonnable.

Filtre modlis comme un crneau
(ms)
i/j
1
1/2
1/3
2/3
1 106
1 091
1 076
1 091
51
1 085
1 077
1 069
1 077
8
1 088
1 075
1 063
1 075
13
1 111
1 066
1 022
1 066
45
1 088
1 075
1 063
1 075
12
2
1/3
1/3
2/3
1 090
1 084
1 079
1 084
6
1 082
1 072
1 060
1 071
11
1 078
1 076
1 074
1 076
2
1 034
1 054
1 074
1 054
20
1 078
1 076
1 074
1 076
2
5
1/2
1/3
2/3
1 084
1 088
1 092
1 088
4
992
1 083
1 191
1 088
96
1 080
1 084
1 089
1 084
5
1 017
1 082
1 155
1 084
67
1 080
1 084
1 089
1 084
5
10
1/2
1/3
2/3
1 109
1 096
1 083
1 096
14
1 115
1 086
1 056
1 085
31
1 107
1 093
1 080
1 093
14
1 107
1 102
1 096
1 102
6
1 107
1 093
1 080
1 093
14
Filtre modlis comme une Gaussienne
(ms)
i/j
1
1/2
1/3
2/3
1 207
1 149
1 094
1 150
57
1 183
1 134
1 086
1 134
48
1 186
1 132
1 080
1 132
54
1 213
1 122
1 038
1 124
89
1 186
1 132
1 080
1 132
54
2
1/2
1/3
2/3
1 175
1 132
1 090
1 132
43
1 167
1 118
1 071
1 118
48
1 162
1 123
1 085
1 123
39
1 113
1 099
1 085
1 099
14
1 162
1 123
1 085
1 123
39
5
1/2
1/3
2/3
1 168
1 135
1 103
1 135
32
1 066
1 130
1 204
1 133
67
1 164
1 132
1 100
1 132
32
1 094
1 129
1 168
1 130
64
1 164
1 132
1 100
1 132
32
10
1/2
1/3
2/3
1 211
1 154
1 100
1 155
56
1 218
1 143
1 073
1 144
73
1 209
1 152
1 097
1 154
55
1 210
1 161
1 114
1 161
49
1 209
1 157
1 097
1 154
55
Tableau 4.09 Tempratures calcules partir des mthodes crneau et gaussienne pour modliser les
filtres.

148
Fonction crneau Fonction gaussienne
t (ms) Moyenne (n) Variance (V(N)) Moyenne (n) Variance (V(N))
1 0,01 % 0,12 % 4,57 % 4,71 %
2 0,02 % 0,08 % 4,54 % 4,52 %
5 0,08 % 0,01 % 4,61 % 4,60 %
10 0,13 % 0,02 % 4,60 % 4,57 %
Tableau 4.10 Erreurs relative sur la temprature T e
T
/ calcule pour chaque fonction.

4.3.6 Une validation des rsultats

4.3.6.1 La validation laide de la camra de thermographie infrarouge

Les rsultats sont valids par une mthode indpendante utilisant une camra de
thermographie infrarouge travaillant entre 3,5m et 5,5m.
Lobjectif de cette exprience est de viser la mme surface que le microscope mais avec la
camra de thermographie infrarouge quipe dun objectif.
Comme pour la gamme ultraviolet-visible, lmissivit de la stumatite est calcule
temprature ambiante dans la gamme de travail de la camra. Son missivit et son missivit
apparente valent = 0,79 et
app
= 0,94.
La mesure infrarouge a permis de connatre la temprature de surface apparente. Sa valeur
(1 090C) est proche de celle mesure par le PMT.

4.3.6.2 Une mesure multi-spectrale sur le fil de Chromel

Pour relier les deux dispositifs (corps noir et fil de Chromel), des mesures multi-spectrales ont
t effectues sur le fil de Chromel. Le protocole exprimental est le suivant :
q = 40 000 comptages
U = 14,31V I = 1,175A
R
o
= 7,45 T
= 20C
Temps dintgration t : 1ms, 2ms, 5ms, et 10ms
Diamtre de la surface vise : 5m

Les donnes prcdentes permettent de remonter une temprature du fil T
max
= 1 217C
(1 429K). Les rsultats du comptage sont prsents dans le Tableau 4.11.
149
(ms)
i
#
E(N) V(N)t E(N) V(N)t E(N) = V(N)t
1 1 262 1 301 762 1 949 1 001
2 2 021 2 068 1 680 2 204 1 733 1
3 3 761 3 873 3 467 3 840 3 483
1 1 237 1 263 1 076 1 314 1 093
2 1 936 1 971 1 796 1 937 1 801 2
3 3 421 3 544 3 287 3 483 3 291
1 1 211 1 229 1 157 1 182 1 158
2 1 825 1 866 1 772 1 843 1 773 5
3 3 336 3 362 3 292 3 411 3 293
1 1 252 1 297 1 222 1 299 1 223
2 1 894 2 007 1 869 1 982 1 870 10
3 3 331 3 861 3 302 3 884 3 305
Tableau 4.11 Rcapitulatif des flux photoniques (ramens en photons/s) pour chaque filtre et pour les
quatre temps dintgration. # : par faute de place, cette colonne est celle des filtres numrots
de 1 3.

-2000 0 2000 4000 6000 8000 10000 12000 14000 16000
0
500
1000
1500
2000
2500
3000
3500
Nombre de photons
D
i
s
t
r
i
b
u
t
i
o
n

d
e

l
'
e
m
i
s
s
i
o
n

p
h
o
t
o
n
i
q
u
e
Loi normale
Histogramme

Figure 4.18 Distribution de lmission photonique pour t = 1ms. Les premires mesures sont
poissonniennes et tendent vers une loi normale.

Plusieurs remarques :
Les comptages sont plus faibles car la zone vise un diamtre de 5m.
Les rsultats sont beaucoup moins stables avec le fil quavec le corps noir, cause de la
petite taille du fil qui le rend trs sensibles aux perturbations extrieures.
Les rsultats t = 1ms ne sont pas corrects avec les Mthodes 1 et 2 comme le montre
la Figure 4.18. La forme de la dispersion est de type loi de POISSON ce qui implique
150
quil ny a quun seul paramtre estimer. La Mthode 3 prsente donc les meilleurs
rsultats pour .
Comme pour les mesures avec le corps noir, le calcul avec la moyenne est plus prcis
quavec la variance. De plus, les mesures effectues t = 10ms sont trop imprcises
car trop longues. Les meilleurs compromis semblent tre pour 2ms et 5ms.

Filtre modlis comme un crneau
(ms)
i/j
1
1/2
1/3
2/3
1 242
1 155
1 074
1 157
85
1 258
1 156
1 063
1 225
99
759
828
910
832
73
2 815
1 724
1 189
1 909
905
1 086
1 014
948
1 016
70
2
1/3
1/3
2/3
1 309
1 246
1 186
1 247
62
1 317
1 230
1 150
1 232
84
1 168
1 141
1 114
1 141
27
1 469
1 296
1 149
1 304
164
1 194
1 156
1 118
1 156
38
5
1/2
1/3
2/3
1 408
1 251
1 116
1 258
150
1 386
1 258
1 145
1 263
123
1 365
1 214
1 086
1 221
143
1 319
1 199
1 093
1 203
115
1 364
1 215
1 086
1 221
143
10
1/2
1/3
2/3
1 380
1 279
1 186
1 281
98
1 322
1 156
1 017
1 165
157
1 351
1 260
1 176
1 262
88
1 358
1 152
987
1 165
192
1 659
1 402
1 198
1 419
239
Filtre modlis comme une Gaussienne
(ms)
i/j
1
1/2
1/3
2/3
1 365
1 218
1 092
1 225
140
1 383
1 219
1 080
1 227
155
815
865
923
867
52
3 373
1 850
1 209
2 144
1 229
1 184
1 066
962
1 070
113
2
1/2
1/3
2/3
1 425
1 306
1 199
1 310
115
1 434
1 289
1 162
1 295
139
1 263
1 192
1 126
1 193
69
1 611
1 359
1 162
1 377
233
1 293
1 208
1 130
1 210
82
5
1/2
1/3
2/3
1 539
1 311
1 128
1 326
213
1 514
1 319
1 157
1 330
184
1 489
1 271
1 097
1 285
203
1 437
1 255
1 105
1 265
171
1 489
1 272
1 097
1 286
203
10
1/2
1/3
2/3
1 529
1 354
1 206
1 363
166
1 460
1 220
1 032
1 237
222
1 494
1 334
1 196
1 341
152
1 503
1 215
1 002
1 240
263
1 494
1 334
1 196
1 341
152
Tableau 4.12 Tempratures calcules partir des mthodes crneau et gaussienne pour modliser les
filtres.

Au vu des premires valeurs disperses donnes par le Tableau 4.11, les rsultats en
temprature du Tableau 4.12 montrent galement une dispersion assez consquente. La
mthode qui consiste considrer le filtre tel un crneau apporte toujours des rsultats
meilleurs, malgr une dispersion beaucoup plus forte quavec les mesures sur le corps noir.
151
Cette dispersion est due la faible, mais observable, variation du courant dans le fil cause
par la convection autour du fil.
De plus, comme la zone est de plus petite taille, le flux photonique est plus faible, ce qui a
permis dobserver une distribution de type loi de POISSON pour les faibles temps
dintgration (t = 1ms et 2ms). Les calculs qui consistent donc estimer deux paramtres
(Mthodes 1 et 2) ne sont ainsi par correctes puisque la loi de POISSON nen possde quun
(2.52).
Cependant, ces mesures montrent que les expriences faites pour dterminer les proprits
thermophysiques du Chromel ont t correctement effectues puisque les valeurs en
tempratures, mme si elles sont assez disperses, sont assez proches de celle que donne la loi
dOHM. Malgr les fortes dispersions (parfois de 200C) partir des calculs faits avec la
moyenne pour les temps de 2ms et de 5ms (fonction crneau), les tempratures obtenues sont
assez voisines de celle mesure avec le courant I et la tension U (1 217C).
152
Conclusion

Les rsultats prsents dans cette partie ont permis de valider plusieurs points.

Tout dabord, le dispositif est capable de viser des surfaces nettes denviron 10m de
diamtre, voire moins. Ce rglage est difficile mais la petite taille du fil chaud ainsi que le
dplacement micromtrique dans les trois directions facilitent sa ralisation.
Les premiers comptages ont permis de valider le fonctionnement du dispositif par lobtention
de la loi de PLANCK grce la mesure du flux photonique en fonction de la temprature du
fil.

Il restait talonner en temprature le banc de mesure laide du corps noir. La consigne en
temprature donne par le PID ne pouvant pas faire rfrence (malgr sa trs bonne
rgulation), lutilisation de la technique multi-spectrale permet de remonter la temprature.
Les premires mesures plusieurs couleurs ont mis en vidence limportance de la fonction
de transfert du microscope ainsi que celle des filtres monochromatiques. Leurs modlisations
ont ainsi permis dobtenir des tempratures trs proches de celle donne par la camra de
thermographie infrarouge (mesure de vrification) mais aussi de celles que donne la
modlisation du corps noir laide du code en lments finis. De plus linter-comparaison des
mesures trois filtres a permis de vrifier lhypothse de lmissivit constante.

Autre point abord : lmission photonique en tant que phnomne statistique. Les nombreux
comptages de photons ont montr que la rpartition du flux photonique pouvait se traduire
soit comme une loi normale pour les grands flux soit comme une loi de POISSON pour les
faibles flux. De plus, les paramtres de ces lois telles que lesprance et la variance permettent
de calculer le flux photonique.

Cinquime chapitre

Les perspectives
154
Sommaire

Cinquime chapitre p.153
Introduction p.155
5.1 Le rseau de diffraction p.156
5.1.1 Quelques notions sur le rseau de diffraction p.156
5.1.2 Les premiers essais p.158
5.2 Lanalyseur multi-canal p.161
5.3 Les techniques stimules p.162
5.3.1 La mesure par LIF p.162
5.3.2 La mesure par fluorescence p.163
Conclusion p.165
Cinquime chapitre Les perspectives
155
Introduction

Une nouvelle approche est exprimente dans ce chapitre. Nous avons vu prcdemment
quune difficult de la mthode multi-spectrale provenait des filtres ; ils sont difficiles
modliser et lorigines des erreurs de mesure. Lide ici est de les remplacer par un rseau
de diffraction.
Lintrt de ce dernier rside dans lapproche plus simple de sa modlisation. En choisissant
un rseau rflexion constante, sa fonction de transfert ne dpend plus de la gomtrie mais
de la longueur donde. Des essais ont t raliss avec un rseau holographique plan par
rflexion et sont prsents. Quelques informations sur le fonctionnement dun rseau de
diffraction par rflexion sont donnes.

Finalement, seront abordes la fin de ce chapitre quelques techniques existantes permettant
de raliser des mesures basses tempratures ou bien den amliorer la prcision. La premire
mthode est base sur les techniques stimules par laser (LIF) et par fluorescence. La seconde
technique consiste utiliser un analyseur multi-canal qui remplacera la carte de comptage et
les filtres monochromatiques.
156
5.1 Le rseau de diffraction

La mesure multi-spectrale reste une technique difficile aborder puisquelle est fonction de
nombreux paramtres pas toujours connus et qui sont fonction ou pas de la longueur donde
(angle solide, ouverture numrique...).
Si le rapport de deux signaux permet de saffranchir des diffrentes grandeurs, il ne permet
pas dliminer les termes qui dpendent de la longueur donde. Il est donc important de bien
connatre et de modliser les filtres monochromatiques ; ce qui reste assez difficile puisque,
comme on la vu prcdemment, le spectre des filtres dorigines peut tre difficilement
remplac par une fonction de type loi normale. La modlisation par une fonction de type
crneau donne des rsultats satisfaisants condition que laire de la fonction soit gale celle
du spectre dorigine.

5.1.1 Quelques notions sur le rseau de diffraction

Dans le but de contourner le problme de la modlisation des filtres, lide est de les
remplacer par un rseau de diffraction (Figure 5.01) [44].

Figure 5.01 Le rseau de diffraction.

Loptique slectionne est un rseau holographique plan par rflexion. Sa rflectivit est
constante dans lultraviolet et le visible (Figure 5.02).

157

Figure 5.02 rflectivit spectrale du rseau holographique plan de diffraction par rflexion (donnes
constructeur : rflectivit de laluminium).

Un rseau de diffraction est une matrice priodique dlments diffractants (fentes parallles
ou rayures rflchissantes), transparents ou opaques, qui modifient la phase et/ou lamplitude
dun faisceau incident. Lespace entre deux lments diffractants est appel le pas (dans notre
cas, 2 400traits/mm). Les rseaux sont gnralement tracs sur de minces films daluminium
dposs par vaporation sur des lames de verre optique ; laluminium prsente lavantage
dtre un bon rflecteur dans lultraviolet.
Soit la loi gnrale des rseaux :

( ) m a
i m
= sin sin (5.01)

avec a le pas du rseau,
i
et
m
respectivement les angles dincidence et de diffraction, m
lordre de diffraction et la longueur donde. Le cas le plus simple est donn pour m = 0 ; en
effet, alors
i
=
m
et on retrouve la loi de SNELL-DESCARTES pour la rflexion.

158

Figure 5.03 Schma de principe du rseau de diffraction par rflexion.

5.1.2 Les premiers essais

En effectuant un filtrage monochromatique (avec les trois filtres monochromatiques utilises
aux prcdents chapitres) la sortie de lobjectif, le flux photonique a t mesur pour voir
comment il voluait en fonction de langle
m
(angle entre la direction rseau/objectif et la
normale au rseau). La Figure 5.04 prsente une vue de dessus du dispositif ; linstallation est
assez rudimentaire mais a tout de mme permis de raliser les mesures avec une bonne
prcision angulaire (par pas de 1). Les rsultats sont prsents sur la Figure 5.05.
159

Figure 5.04 Vue de dessus du montage.

Le flux a donc t mesur pour chaque filtre en faisant tourner de part et dautre de laxe
rseau/objectif lensemble rseau/lampe ; langle entre la rseau et la lumire incidente
i
est
donc constant, seul
m
varie. La valeur du flux ici na pas trop dimportance, lide est de
savoir galement quel est le dcalage angulaire
m
en fonction de la longueur donde.

-40 -30 -20 -10 0 10 20
0
50
100
150
200
250
300
Angle du rseau par rapport la normale au microscope
F
l
u
x

p
h
o
t
o
n
i
q
u
e

(
p
h
o
t
o
n
s
/
t
)
Filtre 1
Filtre 2
Filtre 3

Figure 5.05 Flux photonique en fonction de langle de rfraction pour trois filtres monochromatiques.

On voit sur la Figure 5.05 que les diffrents niveaux de flux augmentent avec la longueur
donde des filtres, de plus, les rapports des signaux restent galement les mmes que ceux
160
calculs au Troisime Chapitre, la rflexion du rseau a donc peu dincidence sur lamplitude.
Par contre on peut noter un problme de dcroissance des flux pour les trois filtres. Ceci est
sans doute un problme dordre gomtrique puisque langle solide entre la lampe incidente
les traits doit varier dun bout lautre du rseau. Ce qui par contre est intressant, cest que
le dcalage est visible quand on passe dun filtre un autre, il est constant et gal 2 pour
= 10nm (conforme la thorie).

Exprimentalement, il faudrait un filtre passe-bas qui laisse passer uniquement les longueurs
donde jusquau visible (0,4m) pour ne pas tre gn par les photons des longueurs donde
suprieures.
partir de l, tant donn quil y a des zones de recoupement entre les filtres (Figure 5.06),
trois mesures trois zones possibles permettent dobtenir un systme de trois quations :

o
M K
3
3 1
= (5.02)

o o
M M K
2 3
2 3 2
+ = (5.03)

o o o
M M M K
3 2 1
3 2 1 3
+ + = (5.04)

Figure 5.06 Schma de principe de la mesure multi-spectrale avec le rseau de diffraction.

Donc si on se place un certain angle correspondant o seul le filtre 3 est considr
(
3
= 400nm), une premire mesure donne une mittance K
1
(5.02). En se dcalant
lgrement pour tre avoir deux crneaux enchsss, alors on obtient un flux mesur par K
2

(5.04). Enfin, quand les trois zones se croisent, cest lquation K
3
qui intervient. noter que
161
lhypothse de lmissivit constante sur ce petit intervalle spectral est toujours de mise,
cependant il est possible par rotation de multiplier le nombre de longueurs donde et donc de
prendre en compte lmissivit. La rsolution de ce systme dquations permet de remonter
la temprature. Cette fois-ci, on utilise le mme composant optique pour les trois mesures
avec
= cte.

5.2 Lanalyseur multi-canal

Un autre moyen de remplacer les filtres monochromatiques (ainsi que la carte de comptage)
consiste utiliser un analyseur multi-canal (Multi-Channel Analyzer MCA).

Le MCA a la possibilit daugmenter significativement le nombre de canaux et de travailler
sur des gammes spectrales plus tendues. Ainsi pourra-t-on amliorer la prcision sur la
temprature en prenant en compte la dpendance (nergtique) spectrale de lmissivit au
niveau local (les mesures sont toujours faites lchelle microscopique) avec une fonction
linaire ou quadratique.

Le MCA peut classer en mode PHD (Pulse Height Distribution) les photons suivant leur
nergie (Figure 5.07). Son principe est le suivant : il trie les photons suivant leur nergie
laquelle est reprsente par une hauteur de pulse. Comme pour la loi de PLANCK, la forme
du spectre devrait voluer en fonction de la temprature.

Figure 5.07 Schma de fonctionnement de lanalyseur multi-canal (MCA) en mode PHD [84].

162
5.3 Les techniques stimules

5.3.1 La mesure par LIF

Les rsultats prsents dans ces travaux ont permis de montrer quil est difficile, lchelle
microscopique, dobtenir un nombre de photons suffisants quand la temprature est trop
faible. Par ailleurs, il est ncessaire davoir un nombre de photons minimum pour que
lexploitation des mesures soit possible.
Donc si on veut mesurer des tempratures plus faibles lchelle microscopique, lmission
photonique propre de la surface ne suffit pas. Lide est alors de se tourner vers des
techniques stimules [77]. Leur principe est dexciter la surface avec un pulse laser, elle va
alors librer des photons supplmentaires rendant ainsi lexploitation du flux photonique
possible des tempratures de plus en plus proches de lambiante.
titre dexemple, ALARURI et al. [3] utilisent une technique de fluorescence induite par
laser (Laser Induced Fluorescence LIF) dans lultraviolet pour mesurer la temprature de
surface dune turbine de moteur (Figure 5.08). Cependant dans ses travaux, les ultraviolets
sont utiliss pour amliorer la prcision de la mesure et non pour viser des zones
microscopiques (limite de diffraction).

Figure 5.08 Cartographie de la temprature de surface prsentant limpact dun jet dair [3].

163
5.3.2 La mesure par fluorescence

Une autre technique consiste mesurer la temprature grce la dcroissance de la
fluorescence [2]. Le problme est que les temps caractristiques sont trs courts (de quelques
nano-secondes). Pour viter ce problme, VALEUR a donn une mthode explique sur la
Figure 5.10 [107].

Figure 5.10 Schma de principe de la mesure de la temprature par la dcroissance de fluorescence
(mthode de la temprature par la mthode de corrlation temporelle) [84].

On excite le matriau avec une source module et simultanment on lance le comptage de
photons avec un retard variable par rapport lexcitation laide dun retardateur (1 sur
Figure 5.10). Les impulsions au niveau de lampli-discriminateur sont comptes sur un
intervalle de temps trs bref (2). On utilise ensuite un convertisseur temps-amplitude (TAC
3) pour classer les photons compts en fonction du retard dans un analyseur multi-canal (4).
Plus le retard entre la mesure et lexcitation est faible, plus le nombre de photons recueillis est
important puisque la probabilit de voir apparatre un photon est proportionnelle lintensit
de fluorescence et que le signal de fluorescence est alors proche de son maximum. On peut
ensuite, en jouant sur le retardateur, reconstruire lexponentielle point par point (Figure 5.11).
Si le signal est trs faible ou varie trs rapidement, on procde de la mme faon que
prcdemment avec le retardateur mais cette fois-ci, on mesure le temps coul entre le dbut
du comptage et le premier photon dtect (Time Correlated Single Photon Counting TCSPC).
L encore, la probabilit donc le temps de voir arriver ce photon, sera dautant plus grande
164
que lordre de comptage sera proche du moment de lexcitation. On utilise un TAC pour
convertir ce signal temporel en amplitude et obtenir le dclin de fluorescence.

Figure 5.11 Dcroissance de la fluorescence [84].

Le banc de mesure mis en place quip de la carte MCA est capable de raliser ce type de
mesure sous rserve de remplacer le PMT par un PMT multi-plateaux (temps de rponse
infrieur la nanoseconde).

165
Conclusion

Le but de ce chapitre est damliorer la prcision de la mesure multi-spectrale en remplaant
les filtres monochromatiques par un rseau de diffraction.
Les premires expriences sont encourageantes car elles ont permis de relier langle de
rotation du systme rseau/lumire incidente avec la longueur donde (loi conforme la
thorie).
Le montage tant pour le moment assez rudimentaire, des amliorations sont apporter pour
raliser des mesures prcises. En effet, tant donne la faible largeur de la bande spectrale
dans les ultraviolets, la rotation du rseau doit elle aussi tre trs faible et doit tre matrise.

Par ailleurs quelques mots on t dits propos de techniques permettant la fois damliorer
la prcision de la mesure, mais aussi de faire des mesures tempratures de plus en plus
proches de lambiante. En effet, lanalyseur multi-canal (MCA) est capable de multiplier le
nombre de canaux ; chaque canal correspond une petite bande spectrale pour tre le plus
monochromatique possible. Le MCA est capable de classer les photons selon leur nergie,
symbolise par une hauteur de pulse. Le fait de pouvoir multiplier les bandes spectrales
permet damliorer la prcision de la mesure tout en prenant cette fois-ci en compte
lmissivit locale de la surface qui peut tre dfinie sous la forme dune fonction linaire ou
quadratique.
Autre technique aborde, faire des mesures stimules. Dans le but de rduire le seuil de
dtectivit et ainsi pouvoir mesurer des tempratures plus faibles, les mesures par mission
stimule par laser (LIF) ou bien par mesure de la dcroissance de la fluorescence peuvent tre
utilises. La premire mthode a pour intrt de dcupler le nombre de photons mis par la
surface lorsque celle-ci est soumise une excitation laser ; le nombre de photons basse
temprature ntant pas suffisant pour exploiter les mesures. La seconde technique permet de
tracer la dcroissance de la fluorescence dune surface stimule par laser. Cette dcroissance
en fonction du temps est relie la temprature. Elle permet aussi de raliser les mesures sur
des surfaces de faible temprature.

Conclusion gnrale

Notre but tait de pouvoir raliser des mesures lchelle micromtrique et ltude prsente
a tent de se dmarquer des autres techniques existantes pour la mesure de la temprature
cette chelle. Si bon nombre de microscopes thermiques champ proche fournissent des images
des chelles avoisinant celle de latome, leurs interprtations restent principalement
qualitatives puisquil est assez difficile de discerner les informations thermiques des
informations topographiques. En effet, la seule prsence de la sonde de mesure proximit ou
au contact de la surface de lchantillon perturbe fortement la mesure.
La voie utilise dans cette tude a plutt t dutiliser la physique du champ lointain pour ne
pas perturber le milieu. Cependant, la rsolution est limite par la longueur donde de mesure.
Donc il est apparu intressant dutiliser les courtes longueurs (ultraviolet-visible) plutt que
les infrarouges. Non, seulement la rsolution est plus petite, mais aussi la sensibilit la
mesure sest avre trs forte pour une faible variation de temprature, et cela sur une faible
bande spectrale (entre 0,37m et 0,41m). Par ailleurs, cette tude a montr que le fait de
travailler sur une trs petite bande spectrale permettait de faire lhypothse dune missivit
constante sur lensemble de cette bande, non sans certaines contraintes.
tant donn le faible niveau dnergie ces longueurs donde, cest le comptage de photons
qui a t prfr la mesure de flux radiatif. On a vu dans cette tude que cette mission
photonique est un phnomne alatoire exploitable laide de lois statistiques connues telles
que la loi de POISSON ou bien la loi normale. De plus, il a t montr que le calcul de flux
photonique tait possible grce la mesure de lesprance ou de la variance du signal, la
premire grandeur tant plus prcise que la seconde.
Les mesures directes du flux photonique pour remonter la temprature nont t possibles
quavec un dispositif de mesure talonn correctement. Pour cela, bon nombre dexpriences
indpendantes a t ralis pour dterminer au mieux les proprits thermophysiques des
matriaux utiliser (Chromel et Stumatite) pour mettre en oeuvre des corps noir adapts
ltalonnage spatiale et en temprature. Cependant, mme si la temprature des lments
mesurs tait connue, la fonction de transfert du dispositif de mesure ne ltait pas. Nous
avons alors utilis la mthode multi-spectrale pour sen affranchir en mme temps que de
lmissivit spectrale locale, puisquelle peut varier en fonction de la zone explore.
laide de trois filtres supposs monochromatiques, il a t possible de remonter la
temprature grce aux rapports des signaux entre eux. De plus, la mesure par inter-
168
comparaison avec les trois filtres a valid la mthode propose pour la mesure de la
temprature ainsi que lhypothse de la constance de lmissivit. Cependant la sensibilit de
la mthode impose de connatre parfaitement la fonction de transfert des filtres, ces derniers
ont une transmittivit spectrale qui est fonction de la longueur donde. Deux types de
simulations ont t tudis : par une fonction de type loi normale et par une fonction de type
crneau. Si la majorit des tempratures mesures exprimentalement tait de lordre de
1 000C, voire plus, on a montr que lincertitude tait parfois trs infrieure 5%.

Exprimentalement, le comptage en lui-mme est assez rapide effectuer. Mais cest le
rglage du dispositif qui tait long et fastidieux : mettre en place le dispositif, refroidir le
PMT, rgler la zone de mesure peut prendre relativement longtemps. Par contre, les
acquisitions sont trs rapides. Des deux montages dvelopps, cest le corps noir qui semble
tre le plus intressant ; son systme de rgulation donne une temprature trs stable et cela
trs rapidement (quelques minutes) tant donne la faible inertie de la pice due sa petite
taille. Ceci fait que les mesures taient trs stables donc idales pour lexploitation puisque le
nombre de comptage devait tre dau moins 10 000 points pour avoir des valeurs de moyenne
et de variance stables.
Par contre le dispositif du fil est un peu plus dlicat utiliser. Il sest avr un bon moyen de
calibrer correctement le microscope pour avoir une image nette de quelques micromtres,
mais sa petite taille le rend trs sensible aux moindres fluctuations extrieures ; les
mouvements dair crent de la convection qui fait varier facilement la temprature du fil et par
consquent le flux photonique. Cependant, on est prsent capable de connatre sa
temprature grce aux multiples expriences indpendantes.

Les dernires expriences qui sont en cours de dveloppement ont pour but damliorer la
prcision de la mesure. On a remplac les filtres monochromatiques par un rseau de
diffraction holographique par rflexion. Il a t choisi de sorte que sa rflectivit soit
constante en fonction de la longueur donde. La rotation du rseau permet de faire un
balayage en longueur donde ; la mesure multi-spectrale tant faite par le mme optique, elle
devrait aboutir de meilleurs rsultats.

Au final, nous disposons actuellement dun dtecteur capable de mesurer en mode passif des
hautes tempratures avec une bonne prcision sur des surfaces dune dizaine de micromtres
de diamtre, voire moins. Ce dtecteur qui compte les photons, utilise la fois les lois
Conclusion gnrale
169
classiques du rayonnement thermique et de la statistique pour pouvoir remonter des
tempratures sans tre trop perturb par lmissivit spectrale locale, qui est susceptible de
varier en fonction du temps (par exemple oxydation aux hautes tempratures,
encrassement...). En effet, sur cette dernire information mal connue, on fait lhypothse
quelle varie peu ou pas dans le faible intervalle spectral quest la gamme ultraviolet-visible
de travail de notre dispositif.

Enfin, un analyseur multi-canal va tre install au montage toujours dans le but damliorer la
prcision de la mesure. Lide est de discriminer les photons et de les classer selon leur
nergie au lieu de ne prendre en compte que leur nombre comme cela a t fait dans cette
tude. Multiplier le nombre de canaux (trs petites bandes spectrales considres comme
monochromatiques) va permettre galement de considrer lmissivit locale de la surface.
Dautres mthodes actives (LIF, mthode de corrlation temporelle) sont galement
susceptibles dtre mises en place dans le but de descendre le niveau de dtectivit en
temprature du fait de lmission stimule.

Annexes

Sommaire

Annexes p.171
Annexe A La fonction de LAMBERT W p.173
Annexe B Rappel sur les lois de probabilits/statistiques p.175
Annexe C La dfinition de lmissivit apparente p.181
Annexe D La mthode des moindres carrs p.189
Annexe E Le microscope optique p.197

Annexe A La fonction de LAMBERT W

La fonction de Lambert W (du physicien Johann Heinrich LAMBERT) est dfinie comme
tant la fonction rciproque de f dfinie de la faon suivante [19] : pour tout nombre
complexe w :

w
we w f = ) ( (A.01)

Ce qui implique que pour tout nombre complexe z, alors :

( )
( )
z e z W
z W
= (A.02)

Cette fonction est utilise dans de nombreux cas de mathmatiques pures ou appliques, par
exemple dans lnumration des arbres [14], pour le calcul des hauteurs de vagues [94]. La
lettre W utilise est celle dusage dans le logiciel Maple.

La fonction f nest pas injective (cest--dire que pour tout y dun ensemble Y, il existe au
moins un lment x dans lensemble de dfinition X tel que f(x) = y), ainsi W est-elle
multiforme.

La branche relle de la fonction de LAMBERT est dfinie pour z -1/e et il nexiste alors
quune seule reprsentation W(z) illustre sur la Figure A.01. Les valeurs particuliers de cette
fonction sont : W(0) = 0 et W(-1/e) = -1.

174
-1 -0.5 0 0.5 1 1.5 2 2.5 3
-0.6
-0.4
-0.2
0
0.2
0.4
0.6
0.8
1
1.2
z
w
(
z
)
-1/e

Figure A.01 Illustration de la fonction de LAMBERT W.

La drive W de la fonction W est donne par la relation :

( )
( ) ( ) ( ) ( ) z W exp z W
z W
+
=
1
1
' (A.03)

( )
( )
0
) ( 1
1
'
+
= z si
z W z
z W (A.04)

Comme cest le cas dans cette tude, beaucoup dquations impliquant des exponentielles
peuvent tre rsolues par lutilisation de la fonction de LAMBERT. Lide est de dplacer
tous les lments de linconnue dun ct de lquation et de la mettre de la forme We
W
.

175
Annexe B Rappels sur les lois de probabilits/statistiques

Lintrt de ce travail de thse rside en lutilisation du comptage de photons.
Exprimentalement, le Troisime Chapitre prsente le mode de fonctionnement de ce
comptage lorsque les photons atteignent la surface sensible du photomultiplicateur. Il apparat
donc que pendant une dure de comptage (la plus courte possible), le dtecteur compte au
maximum 1 photon, cet tat est dfini par lexprience de BERNOULLI [5].

B.1 Lpreuve de BERNOULLI

Le thme du comptage de photons relve donc de lpreuve de BERNOULLI. Cest une
exprience alatoire comportant deux issues : le succs avec une probabilit (la plus petite
possible) et lchec avec une probabilit 1 - . Ces deux tats dterminent ce que les
statistiques appellent lunivers {succs, chec}. Dans le cas de lexprience de BERNOULLI,
une variable alatoire X peut prendre la valeur 1 en cas de succs ou bien la valeur 0 en cas
dchec.
Une succession de n preuves de BERNOULLI indpendantes permet la construction dune
variable alatoire comptant le nombre de succs qui a pour loi de probabilit la loi binomiale
de paramtre (n,).

B.2 La loi binomiale

B.2.1 Les arrangements

Soit une suite de n trous dans lesquels p lectrons donns peuvent tre placs sans rptition
(n p). Il y a :
n possibilits de choix pour le 1
er
trou,
(n 1) possibilits de choix pour le 2
er
trou,
(n 2) possibilits de choix pour le 3
me
trou,
...
n (p 1) = n p + 1 possibilits de choix pour le p-ime trou.
176

Toutes les dispositions possibles sont formes. Elles sont dsignes sous le nom
darrangements
p
n
A de p lectrons pris parmi n trous (B.01).

( )( )( ) ( ) 1 ... 3 2 1 + = p n n n n n A
p
n
(B.01)

B.2.2 Les permutations

Si n lectrons sont placs dans n trous, le nombre de dispositions possibles est donn par
(B.02). Chacune des dispositions de ces n lectrons est appele permutation de ces n lectrons
et
n
n
A est aussi not
n
P .

( )( ) ( ) ! 1 2 ... 2 1 n n n n P A
n
n
n
= = = (B.02)

Si dans les n lectrons donns, p dentre eux sont indiscernables, toute permutation de ces p
lectrons lintrieur dune permutation de n lectrons fournit une nouvelle permutation qui
ne se distingue pas des prcdentes. Le nombre de permutations distinctes des n lectrons est
donc gal au quotient du nombre de permutations des n objets considrs comme distincts par
le nombre de permutations des p lectrons semblables.

( )
!
!
!
,
p
n
p
P
P
n
p n
= = (B.03)

De faon gnrale, si p lectrons sont semblables entre eux, q autres sont semblable entre eux,
r autres sont semblables entre eux, le nombre de permutations distinctes des n lectrons est :

( )
! ! !
!
! ! !
, , ,
r q p
n
r q p
P
P
n
r q p n
= = (B.04)

B.2.3 Les combinaisons

tant donns n lectrons dun ensemble E, la combinaison de p lectrons pris parmi n est
dfinie comme toute partie de E p lectrons. Toute combinaison conduit p! arrangements
177
distincts en rangeant les p lectrons de toutes les faons possibles. En prenant toutes les
combinaisons et en rangeant ses lectrons, tous les arrangements possibles sont obtenus,
chacun tant obtenu une seule fois. Le nombre total de combinaisons de p lectrons pris parmi
n not
p
n
C est donc :

( )( ) ( )
!
1 ... 2 1
!
!
p
p n n n n
p
A
C
p
n p
n
+
= = (B.05)

Sachant que :
( )!
!
p n
n
A
p
n
= (B.06)

alors :
( )! !
!
p n p
n
C
p
n
= (B.07)

E.2.4 nonc de la loi

Lors dun comptage de photons, la probabilit dun vnement favorable davoir k photons
sur n comptages vaut
k
(1 )
n k
. De plus, le nombre dvnements favorables est donn
par (B.07).
Ainsi, une variable alatoire X valeurs entires (0, 1, 2, ..., n) suit une loi binomiale de
paramtre (n,) si, et seulement si, pour toute valeur entire k, il y a :

( ) ( )
k n k k
n
C k X P

= = 1 (B.08)

La loi binomiale est dutilisation frquente : elle se prsente chaque fois quune mme
exprience deux ventualits est rpte n fois et que le succs de lune des deux
ventualits de probabilit est tudie. Cependant, dans certaines conditions, la loi
binomiale peut tre remplace soit par la loi de Poisson, soit par la loi normale, qui sont les
lois asymptotiques de la loi binomiale.
Si la variable alatoire X suit une loi binomiale, alors lesprance est donne par (B.09) et la
variance par (B.10).

( ) n X E = (B.09)
178

( ) ( ) ( ) = = 1
2
n X X V (B.10)

B.3 La loi de POISSON

La loi binomiale est remplace par la loi de POISSON dans le cas o n > 30 et n < 5. Cest
la loi des vnements rares (anomalies de production, erreur dimpression, ...). En partant de
la loi binomiale et en considrant n (m = n), alors :

( ) ( )
k n k k
n
C k X P

= = 1 (B.11)

Le terme de commutation est remplac par (B.07).

( )
( )
( )
k n k
k n k
n
k X P

= = 1
! !
!
(B.12)

Sachant que m = n, la relation (B.12) est dveloppe pour donne (B.13). La limite, quand n
tend vers linfini, de chaque membre de droite de lquation permet dobtenir lquation finale
de POISSON (B.14 et Figure B.01).

( )
( )( ) ( )
( )
( ) ( )
43 42 1 43 2 1
4 4 4 4 3 4 4 4 4 2 1 1 lim
lim
1 lim
1 1
!
1 ... 2 1
!
=
=
=
+
= =
n
m
n
n
k
e
n
k
k
n k n
k n n n n
k
m
k X P (B.13)

( )
! k
m
e k X P
k
m
= = (B.14)

179
B.4 La loi normale ou de LAPLACE-GAUSS

La loi binomiale est remplace par la loi normale dans le cas o n > 30 et m = n > 5. Cest la
loi la plus utilise et elle est constate exprimentalement de faon frquente, en particulier
dans tous les cas de dispersion de valeurs au hasard autour dune valeur centrale.

Une variable alatoire X continue est dfinie par sa fonction de rpartition F(x) qui permet de
calculer la probabilit pour X dappartenir un intervalle dfini. Cest lapplication F(x) dans
[0;1] qui associe tous rels x la probabilit P(X x) = F(x). Cette fonction est monotone
croissante, elle vrifie que F(-) = 0 et que F(+) = 1. La drive de la fonction de rpartition
F(x) donne la densit de probabilit f(x) dont lintgrale [-;+] donne :

1 ) ( =
+

dx x f (B.15)

La loi normale (Figure B.01) est donc dfinie comme tant la loi dune variable alatoire
continue dont la densit de probabilit est donne par (B.16) o m est la moyenne des
variables alatoires X et lcart-type.

(
(
\
|
=
2
2
1
exp
2
1
) (

m x
x f (B.16)

180
0 5 10 15 20
0
0.05
0.1
0.15
0.2
0.25
0.3
0.35
0.4
D
i
s
t
r
i
b
u
t
i
o
n

p
h
o
t
o
n
i
q
u
e
Nombre de photons observables

Figure B.01 Mise en vidence des deux lois statistiques : pour un nombre de photons comptabiliss
infrieur 5, la loi tend vers la loi de POISSON. Pour un nombre suprieur, cest la loi
normale qui est utilise.

B.5 Valeurs caractristiques dune variable alatoire n valeurs relles

Lesprance mathmatique de X, le nombre E(X) dfini par (B.17). Ce nombre sinterprte
comme la moyenne m des valeurs x
i
pondres par leur probabilit p
i
(E(X) = m).

( )

=
=
n
i
i i
x p X E
0
(B.17)

La variance mathmatique de X est lesprance mathmatique du carr de la variable centre
X m (B.18). Elle est note V(X). lcart-type est la racine carre de la variance (B.19).

( ) ( )
2
1
2 2
m x p m X E X V
n
i
i i
= =

=
(B.18)

( ) ( ) X V X = (B.19)

181
Annexe C La dfinition de lmissivit apparente

Cette annexe propose dtudier lmissivit apparente dune cavit cylindrique circulaire de
rayon r et de longueur suppose infinie perce normalement la surface dun corps opaque,
gris, diffusant, dmissivit , et isotherme (temprature T) dbouchant sur le milieu extrieur
temprature T
(Figure C.01).

Figure C.01 Facteurs de forme : deux anneaux lintrieur dun cylindre circulaire droit.

On rappelle tout dabord que le facteur de forme
2 1
d d
dF

entre deux lments annulaires
diffrentiels dS
1
et dS
2
dun cylindre droit circulaire est donne par la relation (C.01) [93].

( )
( )
2 2 2 / 3
2
3
2
1 2
3 2
1
2 1
dx Z exp dx
Z
Z Z
dF
d d

(
(
+
+
=
(C.01)

avec :
r
x x
Z
2
2 1

= (C.02)

Pour une surface S
i
de temprature T
i
, dmissivit
i
, la radiosit R
i
de cette surface, qui est la
somme de lmittance et de la densit de flux reu, lclairement, puis rflchi (cest donc tout
ce qui quitte la surface), est :

( )
4
1
i
T H R
i i i i
+ = (C.03)

182
La surface S
i
ne voit que le milieu extrieur, suppos temprature T
. La densit de flux du
milieu extrieur est :

4
= T H
i
(C.04)

do :

( )
4 4
4
=
T T
T R
i
i
i
(C.05)

Par analogie, lmissivit apparente est dfinie par la relation :

( )
4 4
4
=
T T
T R
a
(C.06)

Si la temprature du milieu extrieur T
est suppose trs infrieure T, ainsi

a
= R/T
i
4
.
Dans la cavit (Figure C.01), la densit de flux incidente H
1
(x) sur dS
1
est donne par (C.07) :
cest lintgrale sur la surface de la portion de densit de flux qui quitte la surface dS
2
en
direction de dS
1
.

=
lat
S
d d
dS dF R dS H
2 2 1 1
1 2
(C.07)

Sachant que la relation de rciprocit donne :

2 1 1 2
1 2 d d d d
dF dS dF dS

= (C.08)

alors :

=
lat
S
d d
dF R H
2 1
2 1
(C.09)

Par analogie avec la relation (C.03) applique la surface dS
1
, alors :
183

( )
1
4
1
1 H T R + = (C.10)

partir de quoi, il est possible dliminer H
1
:

( )
4
2 1
2 1
1 T dF R R
lat
S
d d
+ =

(C.11)

Lide est dobtenir une expression ne comprenant principalement que les termes relatifs au
facteur dmission. Donc, en divisant par T
4
et en posant
1
4
1
/
a
T R = et
2
4
2
/
a
T R = ,
respectivement les missivits apparentes des surfaces dS
1
et dS
2
(C.06), alors :

( ) + =

lat
S
d d a a
dF
2 1 2 1
1 (C.12)

Pour calculer la valeur de lintgrale de (C.12), des changements de variables sont effectus :
r
x
X
2
1
= ,
r
x
Y
2
2
= , ) (
1
X
a a
= , et ) (
2
Y
a a
= . Ainsi, partir de la relation (C.01) :

[ ]dY Y X exp dF
d d
=
2
2 1
(C.13)

( ) [ ] + =
=
=
Y
Y
a a
dY Y X exp X X
0
2 ) ( 1 ) ( (C.14)

Pour la suite des calculs, lintgrale de lquation (C.14) est dcompose de la manire
suivante :

( ) ... ) 2 ( ) ( 2
1
) (
0
=
=
=
X Y
Y
a
a
dY Y exp Y X exp
X

( )

=
=
+
Y
X Y
a
dY Y exp Y X exp ) 2 ( ) ( 2 (C.15)

184
Lide est dobtenir une quation diffrentielle partir de lquation (C.15). La premire
drive donne :

( )
( ) ( ) ( ) ... ) 2 exp( ) ( 2 2 2
1
1
0
(
+ =

=
=
X X dY Y exp Y X exp
dX
X d
a
X Y
Y
a
a

( )
(
=
=
) 2 exp( ) ( ) 2 ( ) ( 2 2 exp X X dY Y exp Y X
a
Y
X Y
a
(C.16)

Les seconds membres des termes entre crochets de (C.16) sannulent, ainsi :

( )
( ) ( ) ( ) ... 2 2 2 exp
1
1
0
(

=
=
X Y
Y
a
a
dY Y exp Y X
dX
X d

( )
(
=
=
dY Y exp Y X
Y
X Y
a
) 2 ( ) ( 2 2 exp (C.17)

La drive de (C.17) donne :

( )
( ) ... ) 2 ( ) ( 2 ) 2 ( ) ( 4 2
1
1
0
2
2
(

=
=
X exp X Y exp Y X exp
dX
X d
a
X Y
Y
a
a

( )
(
=
=
) 2 ( ) ( 2 ) 2 ( ) ( 4 2 X exp X Y exp Y X exp
a
Y
X Y
a
(C.18)

De lquation (C.18), il est possible den extraire une forme diffrentielle :

( ) ( )
( ) X
X
dX
X d
a
a a
4
1
4
1
1
2
2
(C.19)

( )
( ) ( ) ( )( )
= 1 4 4
2
2
X X
dX
X d
a a
a
(C.20)

( )
( )
4 4
2
2
= X
dX
X d
a
a
(C.21)
185

La solution de lquation diffrentielle (C.21) est de la forme :

( ) ( ) ( ) X Bexp X Aexp X
a
2 2 1 + = (C.22)

o A et B sont deux constantes dterminer. Pour que lquation (C.22) garde son sens
physique, la constante B est nulle puisque quand X tend vers linfini (borne suprieure de
lintgrale), lexponentielle galement, alors que 0 <
a
< 1.

( ) ( ) X Aexp X
a
2 1 = (C.23)

La constante A est dtermine en reportant (C.23) dans lquation (C.14). Au point X = 0 en
particulier, il vient :

( ) [ ] ( )dY Y exp Y Aexp
A
Y
Y
2 2 1
1
1
0
=
=
=
(C.24)

( ) ( ) [ ]
( )
+
+
+
0
1 2
1 2
2
2
1
1
Y Aexp Y exp A
(C.25)

( )
(
+
=
1
1
2
1
1
1
A A
(C.26)

( ) ( )( )

=
+
+ +
=
(
=
1
1
2 1 1
2 1
2 1 2
1
1
1
2
1 A A
A (C.27)

=1 A (C.28)

Ainsi :

( ) ( ) X X
a
2 exp 1 1 ) ( = (C.29)

186
Il ne reste alors comme expression de lmissivit apparente quune relation fonction
uniquement de lmissivit de la surface dS
1
.

Le facteur de forme qui value la fraction du flux allant de dS
1
la surface S
3
(Figure C.01) se
calcule partir de la loi dadditivit suivante :

1
2 1 1
3
= +

lat
S
d d d
dF F (C.30)

( ) [ ]
=
=
=
Y
Y
d
dY Y X exp F
0
3
2 1
1
(C.31)

( )
=
=
=
Y
Y
d
dY Y X exp F
0
3
2 1
1
(C.32)

( ) ( )

=
=
=
=
=
Y
X Y
X Y
Y
d
dY X Y exp dY Y X exp F 2 2 1
0
3
1
(C.33)

( )
( )
( )
( )

=
X
X
d
Y
X exp
Y
X exp F
2
2 exp
2
2
2 exp
2 1
0
3
1
(C.34)

( )
2
1
2
2
2
1
1
3
1

+ =
X exp
F
d
(C.35)

( ) X exp F
d
2
2
1
3
1
=
(C.36)

Lmissivit apparente de louverture est donne par :

4
T
R
a
= (C.37)

= =
lat
S
d a a
dS F
r T
R
1 3 2 4 1
1

(C.38)
187

avec dS
1
= 2rdx = 4rdX.

( ) ( ) [ ]
( )
=
0
2
2 exp
2 exp 1 1 4 dX
X
X
a
(C.39)

( ) ( ) ( ) [ ]
( )
+
+
=
0
1 2
1 2 exp 1
2
2 exp
2
X X
a
(C.40)

=
1
1
1
a
(C.41)

Finalement, lmissivit apparente de la surface S
3
scrit sous la forme (C.42). La Figure
C.02 prsente pour diffrentes valeurs dmissivit lvolution de
a
.

+
=
1
2
a
(C.42)

0 0.2 0.4 0.6 0.8 1
0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
0.9
1
Emissivit
E
m
i
s
s
i
v
i
t

a
p
p
a
r
e
n
t
e

a

Figure C.02 - volution de lmissivit apparente en fonction de lmissivit de la surface interne dun
cylindre.

188

189
Annexe D La mthode des moindres carrs

Avant-propos : cette annexe est issue de la thse de Benjamin RMY [83], lequel ma donn
lautorisation de reproduire en grande partie son texte.

La mthode choisie pour raliser les ajustements est la mthode de GAUSS-NEWTON [5]. Il
s'agit d'une mthode non-linaire de type "moindres carrs" qui consiste minimiser une
norme. Ici, la norme est choisie comme tant la somme des carts quadratiques entre la courbe
exprimentale et la courbe thorique donne par le modle. La mthode est souvent appele
mthode des "moindres carrs" pour cette raison. Soit S cette somme :

( )
2
i
i i
) , - F(t Y S = (D.01)

Y reprsente la courbe exprimentale, F la courbe thorique fonction du temps et des
paramtres inconnus. L'indice i fait rfrence l'instant ti. Minimiser S par rapport aux
paramtres j revient annuler ses drives. Soit :

( )
( ) ( ) ( ) j = , t -F Y
t F
=
S
i i
i j
j

0
,
0

(D.02)

partir de D.02, il est dfini le coefficient de sensibilit Xj comme tant la drive du signal
par rapport au paramtre j. Soit :

( )
( )
j
i
i j
, t F
= , t X

(D.03)

Il mesure les variations induites sur le signal par de faibles variations du paramtre j. Ainsi,
plus le coefficient de sensibilit d'un paramtre sera grand, plus le modle sera sensible ce
paramtre et plus il sera facile d'estimer sa valeur par des algorithmes d'inversion. noter que
le coefficient de sensibilit est fonction non seulement des paramtres du modle mais aussi
du temps. Par consquent, limportance du rle jou par un paramtre n'est pas identique
chaque instant.

190
Le systme d'quations non linaires rsoudre dpend directement des coefficients de
sensibilit par la relation :

( ) ( ) ( ) = , t -F Y , t X
i i
i
i j
0
(D.04)

Ces sensibilits jouent donc un rle fondamental dans les techniques d'inversion puisqu'elles
conditionnent non seulement les valeurs estimes des paramtres mais aussi les erreurs
commises sur ces paramtres.

Il est commode pour des raisons d'criture et de calcul d'utiliser le formalisme matriciel.
Ainsi :

(
(
(
(
(
p
=
M
2
1
,
(
(
(
(
n
Y
Y
Y
=
M
2
1
Y et
( )
( )
( )
(
(
(
(

, t F
, t F
, t F
=
n
M
2
1
F

Le vecteur reprsente le vecteur paramtre. Pour distinguer les paramtres identifis des
paramtres rels du modle qui, compte tenu du processus d'identification, ne sont pas
identiques car entachs d'erreurs systmatiques ou alatoires, on marquera le vecteur
paramtre du signe ^ chaque fois que l'on fera rfrence aux paramtres estims.
Les vecteurs Y et F reprsentent respectivement les rponses exprimentale et thorique du
systme. Chaque composante Yi et Fi reprsentent les valeurs mesure et calcule
l'instant ti. La matrice de sensibilit X est galement dfini o chaque composante
X
ij
= X
j
(t
i
; ) reprsente la sensibilit au paramtre
j
l'instant t
i
. Il est alors possible dcrire
la somme S :

( ) ( ) F Y F Y =
t
S (D.05)

et :

191
( ) ( ) 0 F Y X 0
t
= j =
S
j
(D.06)

Dans le cas linaire o
X F = , la matrice de sensibilit ne dpend pas des paramtres. Il est

alors facile d'inverser la relation et d'obtenir
. Alors :

( ) Y X X X
t
1
t

= (D.07)

En l'absence de bruit de mesure et en supposant le modle est sans biais, c'est--dire qu'il
dcrit de manire idale l'volution du systme, alors :

= =
et X Y (D.08)

Dans le cas non linaire, il n'est plus possible d'exprimer aussi simplement F en fonction de .
La solution s'obtient alors par un processus itratif en dveloppant en srie de TAYLOR la
fonction au voisinage de la solution :

( ) ( ) ( )
( )
K +
, t F
+ ,
i
t = F , t F
j j
i n
j
n
j i
n

1 n 1 n

=
+ +
(D.09)

qui s'crit sous forme matricielle :

( )
(n) 1) (n (n) (n) 1) + (n

X + F = F
+
(D.10)

L'exposant (n) sur X indique que la matrice de sensibilit est calcule avec les valeurs de
values au rang (n) soit :
( ) n
. On crit alors que pour des valeurs de proches de la

solution, le systme dquations est vrifi, c'est--dire que :

( ) 0 = F - Y X
1) + (n
t
(n)
(D.11)

192
Si on remplace
( ) 1 n
F
+
par son dveloppement, on obtient alors une relation de rcurrence entre
les valeurs des paramtres estims au rang (n) et au rang (n+1) :

( ) ( )
(n)
t
(n)
-1
(n)
t
(n) (n) 1) + (n
F - Y X X X +
(D.12)

Sous rserve de convergence, la solution est donne par la valeur limite de cette suite. Nous
voyons ainsi apparatre l'intrt de la mthode des moindres carrs qui permet d'obtenir une
expression explicite de la solution linarise.

D.1 Proprits statistiques de lestimateur

partir de la relation prcdente, il est ensuite possible d'tablir les proprits de l'estimateur,
notamment ses proprits statistiques et d'valuer les erreurs commises sur les valeurs des
paramtres identifis. Le modle thorique est fonction des valeurs estimes des paramtres

, obtenues partir de la relation de rcurrence, soit :

( )
t, F F
(n)
= (D.13)

La courbe exprimentale est quant elle fonction des valeurs relles de ces paramtres. Elle
est galement bruite. Ce bruit est alors source d'erreur sur les paramtres identifis. En
labsence dinformations particulires sur le bruit de mesure, on adopte les hypothses
habituelles dun bruit additif la grandeur mesure, ici la temprature. On supposera ce bruit
de mesure comme tant alatoire, non corrl et suivant une loi de distribution normale de
moyenne nulle ( ) 0 E = et de variance constante ( )
2
b
V = (
b
: cart-type du bruit de
mesure). Ainsi, si on suppose que le modle thorique est sans biais, on a :

( ) ( ) ( ) t t, F t, Y + = (D.14)

On cherche ensuite estimer les erreurs commises sur les paramtres identifis. Pour cela, on
va supposer que les valeurs des paramtres donnes par le processus itratif sont proches de la
solution et quelles vrifient les relations :

193
( ) ( ) ( ) 0 =
t, F - t, Y X
t

=
(D.15)

On dveloppe ensuite la fonction F au premier ordre au voisinage de la solution, soit :

( ) ( ) ( )

X + t, F =
t, F (D.16)

partir de cette relation, on peut remarquer quau premier ordre, on a toujours : X = X

.
Si cette expression injecte dans l'quation prcdente, la relation entre les paramtres rels et
estims obtenue est :

( ) ( ) t X X X + =
t
-1
t
(D.17)

La matrice de sensibilit peut s'exprimer soit partir des paramtres estims, soit partir des
paramtres rels.
Cette relation, qui nest quune approximation au premier ordre pour un problme non
linaire, devient une galit pour un problme linaire car la matrice de sensibilit nest plus
fonction des paramtres.

D.2 Esprance mathmatique de l'estimateur

partir de la relation que lon vient dtablir, il est facile de montrer que :

( ) ( ) ( ) [ ] ( ) ( ) [ ] t E X X X + = t X X X E + =
E
t
-1
t t
-1
t
(D.18)

( ) =
E (D.19)

On montre ainsi que le processus itratif mis en place converge bien vers les valeurs relles
des paramtres.

194
D.3 Variance-Covariance de l'estimateur

Par dfinition de la matrice de variance-covariance, on a :

( ) ( ) ( ) ( ) ( ) ( )( ) -
E -

E -
V
t t
(
=
(
= (D.20)

En remplaant
par son expression, on a alors :

( ) ( ) ( ) [ ] ( ) ( ) ( )
-1
t t t
-1
t
-1
t t t
-1
t
X X X E X X X X X X X X X E
V = = (D.21)

Comme on a suppos non corrl, la matrice ( )
t
E est diagonale. De plus, lcart-type du
bruit de mesure tant suppos constant, la matrice est sphrique et ( )
2
b
t
E = , do :

( ) ( )
-1
t 2
b
X X
V = (D.22)

Les termes diagonaux de cette matrice reprsentent les variances de chaque paramtre, c'est
dire les carrs des carts-types de leurs estimateurs.

On peut alors faire les remarques suivantes :
En l'absence de bruit, les variances et covariances des paramtres sont nulles.
En prsence de bruit de mesure, lorsque les sensibilits du signal aux paramtres sont
nulles ou lorsqu'elles sont corrles, le dterminant de X X
t
devient faible et les carts-types
sur les paramtres sont trs grands.
En augmentant le nombre de points de mesure et en prenant des points proches du
maximum de sensibilit chaque paramtre, on diminue les carts-types des paramtres.
En effectuant la moyenne des valeurs estimes partir de plusieurs manipulations, on
diminue l'cart-type sur la valeur moyenne.

L'esprance mathmatique montre que les valeurs des paramtres identifis tendent bien vers
les valeurs des paramtres rels, donc que l'estimateur est sans biais. Ce qui permet de
justifier l'utilisation de la mthode des moindres carrs pour la dtermination de ces
195
paramtres. Cette mthode est d'autant plus intressante qu'elle permet de dterminer
explicitement les erreurs commises sur ces valeurs par une approche statistique (matrice de
variance-covariance). En particulier, l'expression de cette matrice montre que ces erreurs
seront d'autant plus faibles que le bruit de mesure sera petit.

L'optimisation de l'estimation des paramtres consiste rduire les carts-types, donc les
variances des paramtres. Pour ce faire, on va chercher raliser une exprience susceptible
de favoriser au mieux cette estimation. Ceci peut se faire soit en cherchant rendre minimal
l'cart-type du bruit de mesure sur la temprature, soit en mettant au point une stratgie
d'identification visant identifier le ou les paramtres les plus intressants ou encore estimer
au mieux le paramtre le plus sensible du modle.

196

197
Annexe E Le microscope optique

Dispositif de premire importance tout au long de cette tude, il est donn ici une description
gnrale du fonctionnement du microscope. tymologiquement, il sert examiner ()
des objets trop petits () pour tre vus lil nu. Il a la mme fonction que la loupe,
cest--dire quil augmente le diamtre apparent sous lequel lobservateur voit lobjet [44,69].

Grossirement, il est constitu de deux lentilles convergentes. La Figure E.01 prsente le
principe gomtrique du microscope. Lobjet AB est plac un peu devant le foyer F
1
de la
premire lentille appele objectif. La seconde lentille appele oculaire sert observer limage
relle ' ' B A forme par lobjectif. Loculaire peut augmenter le grossissement du microscope
si limage forme AB par lobjectif est derrire le foyer de loculaire F
2
. Loculaire
finalement donne une image virtuelle AB agrandie.

Figure E.01 Schma dtaill dun microscope optique compos dun objectif et dun oculaire. Le
microscope vise un objet rel AB. Il donne dans un premier temps une image relle AB,
puis loculaire donne finalement une image virtuelle AB.

Limage dans loculaire est plus facile observer lorsquelle est situe linfini. Une image
observe linfini ne demande aucun effort daccommodation de la part de lil de
lobservateur. Ceci est obtenu lorsque limage forme par lobjectif (AB) se trouve au foyer
de loculaire (Figure E.02).

198

Figure E.02 Schma du microscope donnant une image AB linfini.

Mme si les Figures E.01 et E.02 reprsentent lobjectif comme deux simples lentilles, cest
en fait un systme optique complexe et surtout son rle jouer dans le microscope est
essentiel. Il se doit en effet de corriger les aberrations sphriques longitudinales et
transversales en travaillant avec des rayons incidents trs inclins par rapport laxe (Figure
E.03). Ainsi, pour sen affranchir, lobjectif est ralis laide de plusieurs lentilles de faible
puissance, mises les uns la suite des autres, ce qui permet de rduire langles dincidence
des rayons lumineux sur les dioptres.
De son ct, loculaire reste un systme relativement moins complexe et contrairement
lobjectif, il ne peut pas redresser une image dforme ou annuler des aberrations ; son rle
est dagrandir limage sans apporter de nouvelles aberrations.

Figure E.03 Les rayons partant de O et traversant la lentille proche de laxe optique se croise en A. Au
contraire, les rayons qui traversent la lentille loin de laxe optique se croisent au point A. Il y
a alors deux types daberrations sphriques : les aberrations longitudinales (AA = L) et les
aberrations transversales (T).

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Titre : Mesure de la temprature lchelle microscopique par voie optique dans la gamme
ultraviolet-visible.

Rsum : Cette tude porte sur la mesure de la temprature lchelle microscopique par
voie optique dans la gamme UV-visible par comptage de photons laide dun PMT refroidi.
partir des avantages et des inconvnients de chaque technique existante, la premire partie
permet de comprendre les orientations de nos travaux. Le Second Chapitre montre et insiste
sur lintrt de travailler aux courtes longueurs donde (limite de diffraction, prcision sur la
mesure...), dutiliser la mthode multi-spectrale pour saffranchir de paramtres inconnus
(e.g. lmissivit) en choisissant judicieusement les longueurs donde de travail, ainsi que les
lois statistiques classiques pour mesurer le flux photonique sachant son mission alatoire.
Le Chapitre Trois prsente le banc de mesure (microscope optique, systme de mesure du
flux photonique...) et une attention toute particulire est porte sur la conception des
lments chauffants servant ltalonnage. Le Quatrime Chapitre prsente les rsultats en
tempratures obtenues laide des lois statistiques. Ils valident le bon fonctionnement du
dispositif, la mise au point de la zone microscopique, et lintrt de bien modliser les filtres
monochromatiques. Enfin, des amliorations sur la prcision de la mesure (rseau de
diffraction, analyseur multi-canal) et pour mesurer des tempratures plus faibles (LIF,
mthode corrlation temporelle) sont prsentes dans le Cinquime Chapitre.

Mots-cls : haute temprature, transfert radiatif, flux photonique, UV-visible, mthode multi-
spectrale, microscopie optique, loi statistique, photomultiplicateur, corps noir, filtre
monochromatique, rseau de diffraction

Title: Microscale Temperature Measurement by Optical Way in the Ultraviolet-Visible
Range.

Abstract: The aim of this study is to measure microscale temperature by optical way in the
UV-visible range by photons counting using a cooled PMT. From the existing techniques
advantages and disadvantages, this first part allows to understand the choices of this study.
The second part shows and underlines the interest in working in short wavelengths
(diffraction limit, measurement accuracy), in using the multi-spectral method to get rid of
unknown parameters (e.g. emissivity) by choosing judicious working wavelengths, as well as
the statistic laws to measure the photonic flux knowing its random emission. The third
chapter presents the optical bench (optical microscope, photonic flux measurement
facility). A particularly attention is given to the design of the heated elements, which allow
to calibrate the facility. The fourth part exposes the temperature results obtained through
statistic laws. They validate the well-running of the facility, the microscopic area focusing,
and the interest to model correctly the filters. Finally, measurement accuracy improvements
(diffraction grating, multi-channel analyzer) and lower temperature measurement techniques
(LIF, time-correlated method) are presented in the fifth part.

Key-words: high temperature, radiative transfer, photonic flux, UV-visible, multi-spectral
method, optical microscopy, statistic law, photomultiplier tube, blackbody, monochromatic
filter, diffraction grating

2007 Pierre T

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AVERTISSEMENT

Ce document est le fruit dun long travail approuv par le jury de

fonction de transfert spectrale du microscope

= ). Elles travaillent principalement dans les gammes suivantes :

, est dfinie par

= hc/ dans le cas o londe se propage dans lair (c = c

) est ngatif). Ainsi, partir de la Figure 2.07 qui montre la tendance de

) tendant rapidement vers 0

) sexprime sous la forme

est lindice dextinction de londe. Si le matriau est un mtal ou un dilectrique

erreur sur . Lerreur est minimale si

augmente quand diminue, puis varie peu dans les longueurs

mis par seconde en fonction de la temprature de la paroi et de la

= /4. La valeur de cette aire

est le flux photonique mis par une surface (2.49), alors n

(T) = n est dfini comme

peut tre considre comme constante. Il est de

. Le rsultat final de lAnnexe C donne une expression de lmissivit apparente de la

est impose 20C (293K) et

et est le coefficient thermique (K

. h reprsente les pertes convecto-radiatives.

, le terme source (3.18) peut scrire sous la

)/2. Les proprits

varie fortement et il est difficile de lvaluer.

est alors soit lesprance E(N) soit la variance

est en fait le produit des fonctions de transfert de

prsente dans la gamme spectrale [370nm 410nm] une transmittivit

soit la plus constante possible. En regardant de plus

est soit constante,

vue au 2.3 (2.44). Ds lors, le flux photonique monochromatique n

(i allant de 1 3) a une allure mi-chemin entre une Gaussienne et un crneau. Dans

) est donne par (4.07). Cette expression

est nulle puisque lintgrale au troisime ordre

2 = . Donc, en partant de la loi normale :

est suppose trs infrieure T, ainsi

X F = , la matrice de sensibilit ne dpend pas des paramtres. Il est

. On crit alors que pour des valeurs de proches de la

, obtenues partir de la relation de rcurrence, soit :

par son expression, on a alors :

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