STM: Microscopio de

Efecto Tnel.
Aplicaciones de la Mecnica Cuntica.

Luis Adrin Escamilla Torres Jonathan de Jess Hernndez Rodrguez, Oscar Santiago Herrera
Nez
Mayo de 2014




Proyecto final de Mecnica Cuntica
Miembros del equipo:
Luis Adrin Escamilla Torres 1513010
Jonathan de Jess Hernndez Rodrguez 1519958
Oscar Santiago Herrera Nez 1607310
Materia: Mecnica Cuntica
Profesor: Daniel Enrique Ceballos Herrera


















Introduccin.
Inventado por Gerd Binnig y Heinrich Rohrer, quienes pensaron en cmo aprovechar la
mecnica cuntica y el efecto tnel para crear imgenes de alta resolucin, su aportacin
a la fsica fue reconocida y as obtuvieron el premio nobel de fsica en 1986.
El microscopio de efecto tnel es un tipo de microscopio que se usa para escanear
superficies de materiales a escala atmica. Una de las principales ventajas es que se puede
utilizar en una gran variedad de medios, no solo en vaco adems de cubrir un rango
grande de temperaturas.
Su profundidad de imagen puede llegar hasta los 0.01nm de resolucin, en esta escala es
posible ver con el microscopio tomos individuales.
Como su nombre lo indica, el funcionamiento se basa en el efecto tnel, una pequea
punta se pone cerca del material y se aplica una diferencia de voltaje entre ellos,
crendose una corriente llamada corriente de polarizacin, debido al paso de electrones
entre la punta y el material por efecto tnel.
Esta corriente se registra a medida que se recorre la superficie del material y se decodifica
en una imagen.
Su desarrollo ha sido muy importante para estudios de materiales y en el rea de
nanotecnologa es una excelente herramienta para obtener imgenes de gran resolucin
Desarrollo.
Lo primero que se hace, es colocar la punta conductora lo suficientemente cerca como
para que pueda ocurrir el efecto tnel al aplicarle una tensin elctrica al aprovechar las
propiedades piezoelctricas de la punta.
Tpicamente la distancia entre la punta y el material es de 4 a 7 Angstroms. Esta
separacin es efectiva para que se propicie el efecto tnel y se cree una corriente. Una vez
que se define esta distancia ptima que puede ser diferente dependiente de las
condiciones en que se realiza la microscopa, tanto la posicin de la punta como el voltaje
aplicado puede variarse.
Una de las desventajas principales es que los materiales deben de ser lisos y uniformes en
su superficie.
En esta tcnica puede trabajarse de diversas formas segn lo que se busque o
dependiendo del tipo de superficie a trabajar, puede medirse la variacin de la corriente
cambiante con respecto al plano xy de la muestra o puede medirse las variaciones de la
altura z con respecto a una corriente constante
En el modo corriente constante, el dispositivo electrnico del microscopio ajusta la altura
por medio de un mecanismo piezoelctrico. Al permanecer constante la corriente, la
topografa punta-muestra registra superficies con densidades de carga iguales, as que las
variaciones de estas mismas dan el contraste en la imagen.
En cambio, para altura constante lo que se busca es mantener un voltaje constante y esto
se logra variando la corriente de tal modo que la imagen que resulta est tipografiada por
cambios de corriente.
El modo altura constante tiene algo de ventaja en cuestin del tiempo de procesado,
generalmente se requiere ms tiempo para que se registren cambios de altura por el
mecanismo piezoelctrico y se ajuste. Las imgenes tomadas por STM estn en escala de
grises con opcin a darle color despus del procesado.
Equipo del STM.
El quipo principal que tiene un STM convencional es el siguiente:


- Punta de exploracin
- Piezoelctrico de altura controlada
- Escner xy
- Control muestra-punta
- Sistema de aislamiento
- Computadora


Un componente clave en la resolucin de nuestra imagen por STM es la punta que se
utiliza. Generalmente la resolucin se ve limitada por el radio que tiene la punta, tambin
puede ocurrir que en el extremo de la punta no sea uniforme o que tenga en realidad dos
puntas con dos tomos en lugar de uno, esto puede repercutir al momento de tomar
nuestras imgenes.
Las puntas generalmente son hechas de tungsteno, aunque tambin han sido utilizados
otros materiales como el oro o el iridio y ms recientemente se han hecho pruebas con
nanotubos de carbono.
Es indispensable que el STM contenga un sistema de aislamiento debido a que pequeas
vibraciones pueden ocasionar perturbaciones en nuestras imgenes, esto debido a que los
registros de corriente y altura son muy sensibles.
As mismo el sistema es monitoreado, analizado y decodificado por computadora, en la
cual se pueden realizar estudios cuantitativos y mejorar las imgenes.
Conexin con cuntica: efecto tnel.
Usando la ecuacin de Schrdinger de mecnica cuntica, podemos predecir como la
corriente de tunelamiento aumenta conforma la separacin de los dos metales se reduce.
EN el STM el tunelamiento toma lugar entre la punta y la muestra. Una descripcin
completa del proceso de tunelamiento requiere la solucin de la ecuacin de Schrdinger
tridimensional que tiene la forma general:

Donde H es el operador hamiltoniano y E el operador de la energa total.
Esto puede expresarse como:

Para nuestro propsito es suficiente hacer un anlisis unidimensional, entonces la
ecuacin de Schrdinger se escribe:

Donde la ecuacin:

Es la representacin de una onda plana para una funcin de onda de un electrn con
nmero de onda y frecuencia angular w.
Adems, se supone una situacin de estado estacionario (independiente del tiempo) en el
que los electrones de energa E (x, t) = E se encuentran con la barrera de potencial
uniforme de altura U (x, t) = U (x) estn fluyendo continuamente desde un metal a otro.
Entonces slo hay que resolver la ecuacin de Schrdinger en estado estacionario
unidimensional dada por:

Donde E es la energa cintica del electrn y U(x) es el potencial en funcin de la posicin.
Como se observa en la siguiente figura:

U(x) es menor que la energa del electrn en los metales y ms grande que la energa del
electrn en la barrera. Por simplicidad asumimos ()

una constante en la barrera.

En el metal, la solucin general de la ecuacin es:
(Metal 1)
(Metal 2)
Y en la barrera:

Para obtener una visin cuantitativa del fenmeno de tnelamiento de electrones, es
necesario derivar una expresin para el coeficiente de transmisin, es decir, el flujo de
transmisin de la muestra en la punta a travs de la barrera de anchura L.
La barrera es considerada ancha pero finita, de tal manera que el decaimiento de la
funcin de onda en la barrera es significante.
La funcin de onda del electrn y su derivada deben ser continuas en los lmites muestra-
barrera y punta-barrera. Si establecemos un sistema coordenado en donde la superficie
de la muestra (metal 1) est en x=0 y la punta en x=L, y aplicamos condiciones de
continuidad, resulta:

(en la superficie de la muestra x=0) D, la amplitud de la funcin de onda reflejada se
desprecia ya que D A, B, C. Sin embargo, D es significante en el lmite, punta-barrera.
En x=L :

Resolviendo para B/A en x=0

Donde donde A es la amplitud de la funcin de onda incidente de la superficie de
la muestra sobre la barrera y B la amplitud de la reflejada. El coeficiente de reflexin:

Un electrn pasara o se reflejar, en trminos de la probabilidad si T es el coeficiente de
transmisin R + T= 1. Entonces:

Lo que indica que, para una barrera de ancho infinito ningn electrn se encontrar en la
regin de la barrera. Sin embargo, dividiendo la primera de las condiciones en el lmite
vaco-barrera por A nos da:

La probabilidad de encontrar un electrn en la regin de la barrera en x=0 debido al
tunelamiento cuntico es:

Para encontrar el coeficiente de transmisin de tunelamiento efectivo
Y por lo tanto, la probabilidad de que un electrn sufra de tunelamiento y salga de la
superficie de la muestra, a travs de la regin muestra-punta- barrer, hasta la punta,
combinando las ecuaciones en las fronteras punta-barrera (en x=L), la ecuacin resulta:

Lo cual produce el siguiente resultado:

Dnde:

Sustituyendo valores tpicos como

joules

kilogramos y

joules*seg,

asi:

Con L en angstroms.
Esta frmula muestra que para cada angstrom de separacin, la probabilidad de que
ocurra tunelamiento decrece por un orden de magnitud. Esto demuestra
matemticamente que la corriente de tunelamiento es muy sensible a las distancias entre
la punta y la muestra.
En el STM, uno de los metales es la muestra que se examin y el otro metal es la punta. La
muestra es generalmente ms plana que la punta. Debido a que la punta est formada de
tomos, lo ms probable es que tenga un tomo en el extremo de la punta.
El espaciado entre los tomos es de aproximadamente 3 angstroms. Por lo tanto,
cualquier efecto tnel a travs de tomos desde el tomo ms cercano es una fraccin
(
()()
) de tunelamiento a travs del tomo en la punta.
Prcticamente la totalidad de los electrones de tnelamiento pasar a travs del nico
tomo ms cercano a la superficie. Esta caracterstica produce las capacidades de
resolucin atmica del microscopio.
Conclusiones del equipo.
Jonathan
El uso de la mecnica cuntica queda expuesto en este trabajo, no solo el STM funciona
con efectos que se pueden aprovechar gracias al entendimiento a nivel atmico que
proporciona la mecnica cuntica, tambin otras tcnicas de microscopa se basan en
principios y fenmenos cunticos as como tambin gran parte del desarrollo de la
electrnica aplicada a los dispositivos que usamos diariamente, as como tambin su
aplicacin a la rama de la ptica, sin su desarrollo y aplicacin en la tecnologa
probablemente no tendramos muchas cosas que utilizamos actualmente.
Oscar
La mecnica cuntica en la actualidad es tan necesaria como respirar, nuestros mundos
modernos giran en torno a tecnologa la cual fue creada con bases matemticas usando la
mecnica cuntica, esta mecnica cuntica esta en los coches que usamos, en la medicina
que tomamos y en las computadoras que nos facilitan la vida, fue necesaria desarrollarla
para avanzar en el progreso de la humanidad, gracias a ella aumentaremos nuestra
calidad de vida y seguiremos utilizndola sobre todo para entender el mundo atmico y de
esta manera intentar entender nuestro mundo.
Luis
Disfrut mucho del curso, sobre todo porque me hizo ver la importancia actual de la
mecnica cuntica. No se podra imaginar uno un mundo sin la mecnica cuntica, debido
a todas las aplicaciones que tiene en la tecnologa moderna, como la computacin, la
electrnica, toda la ciencia del estado slido est basada en fundamentos de cuntica, as
como toda la qumica moderna, la fsica de partculas y muchas ms. El desarrollo de la
mecnica cuntica fue un paso enorme para todas las ciencias y tecnologas y, por lo
mismo, es quizs el curso ms importante de toda la carrera
Fuentes:
http://www2.fkf.mpg.de/ga/research/stmtutor/stmtheo.html
http://www2.fiu.edu/~zhangj/QMLec1.pdf
http://www.eng.utah.edu/~lzang/images/Lecture_6_STM.pdf