1

Identificao e Controle de Estufas de Secagem

Denis Cleiton S. da Silva, Mrcia Fernanda M. de Miranda, Jos Carlos Silva de Carvalho, Max R.
Pantoja Trindade.
IESAM - Instituto de Estudos Superiores da Amaznia
Curso de Engenharia de Controle e Automao
Belm PA Brasil



Resumo: Esse trabalho demonstra um procedimento prtico
para a obteno de funes de transferncia de estufas de
secagem e prope o controle da temperatura dessa estufa
atravs de controladores do tipo PI (P-proporcional, I-
integral). A fim de se realizar um estudo prtico sobre os
diversos mtodos de ajuste de controladores, se desenvolveu
um prottipo com caractersticas funcionais similares a
estufas encontradas em diversas atividades industriais, como
as madeireiras que tm forte presena no estado do Par. O
trabalho inicia com o processo experimental para obteno
da funo de transferncia deste sistema (prottipo). A
validao desta funo de transferncia realizada atravs
de anlise de curvas de respostas ao degrau do sistema
simulado (modelo) e do sistema real (prottipo). Vrios
mtodos de sintonia de controladores PID so aqui
abordados e utilizados no ajuste do controlador PI. Por fim
avaliado o desempenho do controlador PI e sugerido os
mtodos de ajuste de controladores mais adequados para o
controle de temperatura em estufas de secagem.

Palavras Chaves: PID, Estufas de Secagem, Identificao e
Controle.

Abstract: This paper presents a practical procedure for
obtaining the transfer service at Kiln and proposes control the
temperature of the oven through PI-type controllers (P-
proportional, I-integer). In order to achieve a practical study
on the various methods by adjusting the controllers, we have
been developed a prototype with features similar to glass
found in various industrial activities such as logging that have
strong presence in the state of Par.
The work begins with the experimental procedure for
obtaining the transfer function of this system (prototype). The
validation of this transfer function is performed through an
analysis of responses to step curves of the simulated system
(model) and the real system (prototype). Several methods of
keeping the PID controllers are raised here and are used to
adjust the PI controller. Finally, is evaluated the performance
of the PI controller and suggested methods of adjusting the
controllers more appropriate to control temperature in kiln.

Key Words: PID, Kiln, Identification and Control.

INTRODUO
Sintonizar um controlador com parmetros PID em
processos industriais requer cuidados para evitar grandes
perturbaes e oscilaes da varivel de processo. Uma das
maneiras de obter estes ajustes de sintonia atravs da tcnica
da identificao de sistemas.
Para aplicao desta tcnica no controle de temperatura
em estufa de secagens, necessrio o conhecimento das
caractersticas de modulao do ar no seu interior, dos limites
de operao da temperatura da cmara e dos fatores
determinantes da qualidade do produto final. Desta forma,
apresenta-se um procedimento para obter o modelo
matemtico da estufa e validao da funo de transferncia
obtida. As caractersticas dinmicas do controle de
temperatura em estufas tais como: tempo morto, constante de
tempo de processo, limites de overshoot
1
associadas com os
mtodos de sintonia dos controladores, servem para definir a
estratgia de controle mais adequada. Os ajustes dos
parmetros do controlador (K
p
e K
i
) garantem que, os
distrbios, como: variao da temperatura externa, ou
mudana da carga trmica interna da estufa no provoquem
oscilaes danosas na temperatura na cmara de secagem. As
curvas de reaes apresentadas na sintonia dos controladores
atravs dos mtodos da Curva de Reao do processo, Ziegler
e Nichols (Z&N), Cohen e Coon (CC), Integral do Erro
(Critrios IEA e ITAE) e Chien, Hrones e Resvick (CHR) so
utilizadas para validar os dados obtidos pelas equaes dos
controladores PI. Finalizando este trabalho, sero
apresentados os ganhos operacionais e financeiros, que estas
tcnicas proporcionam ao controle de secagens de estufas
industriais.
SISTEMA
O sistema composto pelos seguintes elementos: cmara
de aquecimento, cmara de secagem, painel de comando e
controle, supervisrio SCADA e IHM digital.
A cmara de aquecimento a parte superior da estufa,
onde esto localizados os bancos de resistncias que iro
produzir a gerao do calor. A cmara de secagem o maior
espao da estufa, onde esto localizados os produtos finais
como madeiras, massas, sementes, fumos, etc. O painel de
comando e controle modula a temperatura do processo; regula
a cmara de secagem atravs da modulao da velocidade de
circulao do ar e da modulao do tempo de acionamento das
resistncias de aquecimento. A IHM digital indica e
parametriza os ajustes da temperatura da estufa. O
armazenamento dos dados coletados realizado atravs do
sistema de superviso de aquisio de dados (SCADA). A

1
quando a forma de onda, no instante de pico,
ultrapassa o valor de estado estacionrio, final, expresso como
uma percentagem do valor do estado estacionrio.
2


Figura 1 mostra um exemplo de uma estufa para secagem de
madeiras.

Figura 1: Estrutura uma estufa de secagem de madeira
abastecida por empurradores. Fonte do artigo: Elementos de
estufas de madeira (2006).

SOLUO PROPOSTA
Devido grande capacidade trmica das estufas de
secagem e ajustes inadequados destes equipamentos,
freqentemente acontecem perdas irreparveis de produo
causando prejuzos financeiros, ambientais e de no
conformidades de produtos finais. Buscando melhorar o
rendimento destes sistemas prope-se uma forma de
estabilizar a varivel de processo (temperatura), sem causar
oscilaes que comprometam a qualidade do produto final.
IDENTIFICAO DO SISTEMA
A identificao do sistema de secagem baseada em
controles de malha aberta, pois no provocam grandes
oscilaes na varivel de processo (temperatura da cmara de
secagem) e apresentam rpida estabilidade, enquanto em
malha fechada indicado para casos em que haja instabilidade
no sistema em malha aberta.
Uma das formas mais utilizadas para identificao de
modelos em malha aberta o teste de variao ao degrau [4].
Com o controlador em modo manual e com o processo
estabilizado, aplica-se uma perturbao em degrau no
controlador variando o set point
2
(linha verde). Aguarda-se a
nova estabilizao da varivel controlada (linha vermelha),
para obter a curva de resposta do processo em funo do
degrau aplicado, conforme visto na Figura 2.



2
Ponto de ajuste da varivel de processo.
Figura 2: Curva da resposta ao degrau do sistema obtida
experimentalmente.


Tabela 1 Estimativa dos valores dos parmetros
estudados e monitorados durante um perodo
Parmetros
ZP C K
p
T
i
T
d
TC
5 1.25 0 0 4
Onde:
ZP: Zona de atuao do processo em C;
K
p
: Ganho proporcionaldo Controlador;
T
i
: Tempo Integral em minutos;
T
d
: Tempo derivativo;
TC: Tempo de Ciclo dado em segundos;
Obtido a curva de resposta ao degrau do sistema, podem-
se calcular os parmetros para encontrar a funo de
transferncia do sistema em malha aberta (prottipo). Uma
forma experimental grfica de se obter essa funo de
transferncia de sistema de 1 ordem com atraso de transporte
pode ser visto na Figura 3.


Figura 3: Curva de resposta exponencial.
A curva apresentada (Figura 3) caracteriza-se numa
resposta exponencial. Nota-se que, quanto menor for a
constante de tempo T, mais rpida ser a resposta do sistema.
Outra caracterstica importante da curva de resposta
exponencial a inclinao da tangente em t = 0 1/T, pois a
sada alcanaria o valor final em t = T caso se mantivesse a
sua velocidade inicial de resposta. A resposta exponencial
mostra o intervalo T, como a constante de tempo do processo.
A resposta exponencial foi de 0 a 63,2% do valor final. Em
duas constantes de tempo, (2T) a reposta alcana 86, 5% do
valor final. Em t = 3T, 4T e 5T, a reposta alcana 95%, 98,2%,
99,3%, respectivamente do valor final. Portanto, quando (t)
for maior ou igual 4T, a resposta permanece dentro de 2% do
valor final [4].
O regime estacionrio alcanado matematicamente
somente aps um tempo infinito. Na prtica, entretanto, uma
estimativa razovel do tempo de resposta o tempo que a
curva de resposta necessita para alcanar a linha de 2% do
valor final, ou seja, quatro constantes de tempo [4].
Frequentemente no possvel e nem prtico obter
analiticamente a funo de transferncia de um sistema de
controle. Possivelmente o sistema dinmico e os
3


1 + Ts
e
K = G(s)
Ls
dc

componentes internos no so identificveis facilmente. Como

a funo de transferncia representa a relao entre a entrada e
a sada do processo, a curva de reposta do processo ao degrau
pode obter os parmetros que definem a funo de
transferncia, relacionando o atraso de transporte.

(1)

A equao (1) mostra a funo de transferncia
caracterstica de 1 ordem com o ganho de processo (K
dc
),
atraso de transporte L e a constante de tempo T. Analisando-se
a Figura 2, determinam-se os valores do ganho, da constante
de tempo e do tempo morto do processo.

Tabela 2 Parmetros do prottipo calculados a
partir da curva de resposta exponencial.
Dados da Figura 2
K
dc
T L
0.8 300 segundos 120 segundos
Tendo-se os valores de K
dc
, T, e L, define-se ento a
funo de transferncia em malha aberta do sistema de
primeira ordem com atraso de transporte.
A funo de transferncia encontrada no
modelamento do sistema vista na equao 2.

0.8 =G(s) (2)

VALIDAO DO SISTEMA
A validao do sistema realizada comparando as
curvas de resposta ao degrau do prottipo com a da funo de
transferncia obtida via identificao em malha aberta [1],
como mostrado nas Figuras 4 e 5.


Figura 4: Curva de resposta ao degrau do prottipo.


Figura 5: Curva de resposta ao degrau do modelo

As Figuras 4 e 5 mostram a validao do modelo do
sistema, onde compara a curva de resposta ao degrau real da
planta com a curva de resposta o degrau do modelo, sendo as
duas curvas em malha aberta. Observa-se que as curvas de
resposta ao degrau da planta e a do modelo de identificao
esto com os valores bem aproximados. Fato que valida os
dados de controle do processo.


Figura 6: Sistema de fase no-mnima.

Uma observao, a ser feita na Figura 6, que o
sistema apresentado de fase no-mnima. Um sistema de
fase no-mnima apresenta zeros no semi-plano direito e pode
ser estvel. Se os zeros de uma funo de transferncia forem
todos refletidos para o semi-plano oposto, de forma simtrica
em relao ao eixo imaginrio, no haver mudana no
mdulo da funo de transferncia original, havendo apenas
mudana na fase.

MTODOS DE SINTONIAS DE
CONTROLADORES PID.
Agora com o sistema validado, o prximo passo fazer a
sintonia do controlador PI, antes de faz-lo preciso definir
qual mtodo o mais adequado para o sistema. Para isso, foram
utilizados cinco mtodos para estudo:
1 - Mtodo da curva de reao do processo;
2 - Mtodo de Z&N (Ziegler e Nichols 1942);
3 - Mtodo de CHR (Chien, Hrones e Reswick 1952);
4 - Mtodo de CC (Cohen e Coon 1953);
4


5 - Mtodo da Integral do Erro (Lopez et al 1967);
Aps o estudo de cada um dos mtodos descritos, ser
realizada uma anlise e se verificar qual o mtodo mais
indicado para o sistema trmico.
A sintonia de um processo de secagem depende das
curvas de reao em cada estufa, das caractersticas no-
lineares dos distrbios (interferncias ambientais e erros de
medio), dos limites mnimos e mximos que a varivel do
processo pode absorver sem causar danos qualidade do
produto final. Desta maneira, no existe um mtodo que
determine com exatido a eficincia do controle de processo,
sempre haver necessidade de realizar ajustes finos no campo.
A seguir apresentam-se alguns mtodos que agilizam a
orientao destes ajustes nos controladores que fazem a
secagem nas estufas, os quais se diferenciam pela introduo
de elementos do processo, tais como: razo de amortecimento
entre as curvas do processo, anlise do tempo morto,
velocidades de recuperao da varivel do processo (y) e
limites de velocidades da varivel manipulada (u).
MTODO DAS CURVAS DE RESPOSTA
DO PROCESSO.
Este mtodo de identificao utiliza a prpria malha do
processo, para obter os parmetros de controle e, ainda norteia
o engenheiro ou tcnico de processo definir a estratgia de
controle do sistema. Antes de gerar a curva de resposta do
processo necessrio executarmos a calibrao total do
processo. Isto , qual a capacidade total de reao do processo
a um determinado distrbio. Esta calibrao um fator de
garantia da robustez do controle. Com este procedimento,
possvel garantir que os plos da funo de transferncia
permaneam na parte real negativa (semi-plano esquerdo). A
calibrao da capacidade de controle do processo realizada
de forma manual com os seguintes procedimentos:

1 Passar o sistema de operao para modo
MANUAL;
2 Estabilizar o processo no ponto mnimo de operao.
3 Acionar atravs da IHM a sada do controlador,
comando da chave esttica de acionamento dos
bancos de resistncias;
4 Observar o comportamento da curva at o valor do
ponto mximo de operao;
5 Anotar o tempo transcorrido para o processo gerar a
curva desde o valor mnimo at o valor mximo de
operao;
6 A curva de processo mostrada no Grfico 2 mostra
que o range de atuao da varivel de processo (VP)
de 25C 100C, (span de 75C), j o tempo
necessrio para que a VP atinja 100 C, foi de
aproximadamente 48 min. Deste modo, pode-se
afirmar que a varivel de processo variou de 0 at
100%, proporcionalmente ao range de 25C at
100C. J a varivel manipulada (u) ou varivel de
sada do controlador (y) obteve uma variao de 0 a
100%, quando esta atingiu o t = 48min.


Figura 7: Curva de Calibrao do Processo.

Atravs Figura 7, pode-se tambm definir quanto ser
o intervalo de tempo para que a energia E do sistema chegue
ao mximo, conforme a equao 3.

u = E(j) = P(w) x t(s) (3)

MTODO DE Z&N (ZIEGLER E
NICHOLS - 1942).
Este foi o primeiro mtodo que apresentou uma
maneira simples e objetiva para obteno dos ajustes de PID
para sintonia de controles. Seu desenvolvimento foi
decorrente da dificuldade dos usurios de controle, em
sintonizar os processos, visto que, a maioria dos equipamentos
de controle era de natureza mecnica ou pneumtica. Assim
criava-se o mito que a sintonia de controle era para
especialistas. Os criadores deste mtodo no aconselham seu
uso para sistemas de grandes capacitncias, ou seja, constante
de tempo elevada [2].
MTODO DE CHR (CHIEN, HRONES E
RESWICK 1952).
Este Mtodo est relacionado a processos que
necessitam de rpidas recuperaes e que no tenha grandes
overshoot. Para isso, o mtodo CHR utiliza os parmetros
encontrados pela forma de Z&N, corrigindo-os pelo ganho Kp
de Z&N, atravs do ganho do processo, alm de considerar
relao entre a constante de tempo do processo () com o
tempo morto () [2], conforme a equao 4.

R= ( / ) (4)
MTODO DE CC (COHEN E COON-
1953).
O desenvolvimento deste mtodo foi para sintonia de
processo com elevado tempo morto, cuja relao R>3,3. Sua
fundamentao terica foi baseada na funo de transferncia
de processo de 1 ordem em srie com o tempo morto [2].
MTODO DA INTEGRAL DO ERRO.
Este Mtodo tem como base o Trabalho de Lopez et al
(1967), tendo como objetivo a sintonia de processo devido a
perturbao de carga. Posteriormente em [Rovira et al., 1969],
utilizava este mtodo para degraus no set point. Este mtodo
5


considera como critrio de desempenho a integral do erro em
funo do tempo, onde utiliza dois critrios de integrao:
IAE (integral do valor absoluto entre a varivel de processo
VP e o set point SP) e o ITAE (integral do produto do tempo,
pelo valor absoluto do erro entre VP e o set point). As
aplicaes destas tcnicas so recomendas para processos que
necessitam de rpidas recuperaes da varivel do processo
em relao ao set point, [2].
CLCULOS DOS PARAMETROS DO
CONTROLADOR PI PARA CADA
MTODO UTILIZADO.
Obtendo-se a curva da resposta ao degrau em malha
aberta do processo (Figura 1), e utilizando a forma
experimental grfica de se obter a funo de transferncia do
sistema de 1 ordem com atraso de transporte (Figura 4).
Calcularam-se os seguintes parmetros:

Tabela 3 Parmetros da curva de resposta ao
degrau da planta.
Dados dos Clculos Realizados
y(%) u(%) T R T
p
Ku K BP(%)
45
56
2 5 9 16 6.22 0.8 32

Onde:
y(%): Varivel controlada, dado em (%);
u(%): Varivel manipulada, dado em (%);
: Tempo morto dado em minutos;
T: Constante de tempo dado em minutos;
R: Taxa da variao do processo (constante de
controlabilidade);
T
p
: Tempo total do processo, dado em minutos;
Ku: Ganho ltimo do processo;
K: Ganho do Processo;
BP(%): Banda proporcional, dado em (%);
SINTONIA DO CONTROLADOR PI.
Os clculos utilizados para fazer a sintonia dos
controladores PI, foram baseados nos mtodos apresentados, e
nos parmetros da curva de resposta ao degrau da planta da
tabela 3.
Uma forma rpida de ajuste de um controle PI
analisando a curva gerada pelo processo aps os ajustes de K
p

e T
i
. Se o processo no atingiu o valor do set point e gera
oscilao (instabilidade) no processo, a caracterstica de
controle informa que o valor de K
p
no foi suficiente para
corrigir o erro e que a instabilidade de processo representa um
excesso do valor de T
i
. Para melhorar a estabilidade, deve-se
aumentar o valor de K
p
e diminuir o valor de T
i
. Uma boa
recomendao aumentar o ganho K
p
em 20% e diminuir o Ki
em 10%.
A seguir, calculam-se os parmetros K
p
e T
i
para cada
mtodo visto nas Tabelas 4 e 5.

Tabela 4 Clculos dos parmetros K
p
e T
i
das
sintonias do controlador PI segundo os mtodos de
Z&N, CHR e CC, [2].
Mtodos

Z & N CHR CC
Kp
(0.9*)/
(K*)
(0.35*)/
(K*)
(0.9+0.083*(/))*(/(K*))
Ti 3.33* 1.16* ((0.9+0.083*(/))/(1.27+0.6*(/)))*

Onde:
K
p
: Ganho proporcional do controlador;
T
i
: Tempo integral do controlador;

J os clculos da sintonia do controlador PI do Mtodo
da Integral do Erro, parte das seguintes equaes:




(5)



(6)

Tabela 5 Constantes para o clculo da sintonia do
controlador PI segundo o Mtodo da Integral do
Erro, [2].
Critrios

A B C D E F
IAE 0.984 -0.986 0.608 -0.707 - -
ITAE
0.859 -0.977 0.674 -0.68 - -

Fazendo os clculos da sintonia do controlador PI a
cada mtodo estudado, acharam-se os seguintes valores para
os parmetros K
p
e T
i
.

Tabela 6 Tabela Geral dos parmetros K
p
e T
i
da
sintonia do controlador PI.
Mtodos
Z & N CHR CC IAE ITAE
Kp
2.79 1.09 1 3.02 2.61

Ti
6.66 5.8 1.23 4.59 3.9


PROTTIPO.
A estrutura fsica do prottipo composta por 3 (trs)
mdulos. O primeiro mdulo o mdulo de aquecimento e
secagem, Figura 8. O segundo mdulo o painel de comando
e controle, que representa a interface entre o painel de
comando e os equipamentos de acionamento das estufas
Figura 9. O terceiro mdulo o sistema supervisrio
(SCADA), Figura 10, so coletados os dados e os grficos
para anlise do comportamento da varivel do processo.
6


MDULO DE AQUECIMENTO E
SECAGEM.

Figura 8: Mdulo de Aquecimento e Secagem.

O mdulo de aquecimento e secagem a parte do
prottipo que representa a varivel controlada do sistema. Na
parte interna do mdulo contm: bancos de resistncias, motor
eltrico e ventiladores para a uniformizao do ar. A medio
de temperatura realizada pelos termopares tipo J nas
seguintes disposies TP1 e TP2: mede a temperatura mdia
da cmara de aquecimento, TP3, TP4 e TP5: mede a
temperatura mdia da cmara de secagem e TP6: mede a
temperatura externa do prottipo.
PAINEL DE COMANDO E CONTROLE.


Figura 9: Painel de comando e controle.
O painel de comando e controle, Figura 9, aciona as
cmeras da estufa. composto por um inversor de freqncia
[6], que modula a velocidade do ar. O CLP (Controlador
Lgico Programvel) [5] e [7], e o programa usurio
desenvolvido em linguagem Leader, aciona o inversor de
freqncia e mede a temperatura da estufa. A IHM indica a
temperatura e parametriza os ajustes PID e set point do
processo.
SISTEMA SUPERVISRIO (SCADA).


Figura 10: Interface grfica do supervisrio SCADA
(Terceiro Mdulo).
O mdulo de interface grfica (Surpervisrio SCADA)
[8]. Comunica-se com o CLP, atravs da porta de
comunicao RS232, utilizando o protocolo MODBUS RTU.
Tem a funo de coletar o comportamento da temperatura
dentro da cmara de secagem e do set point do processo.
Geram-se os grficos de temperatura versus tempo
proveniente das medies dos termopares da estufa. A linha
vermelha representa a temperatura da cmara de secagem
(varivel de processo) e a linha verde representa o set point
(ponto de ajuste do processo).
ANLISE DAS CURVAS DAS
SINTONIAS REALIZADAS
Baseando-se nas tcnicas apresentadas possvel avaliar
o desempenho dos parmetros de cada mtodo para a
aplicao de estufas de secagens.
O comportamento da resposta usando a tcnica de Ziegler e
Nichols, Figura 11, mostra que o longo tempo de estabilizao
causado por desconsiderar a influncia da constante de
estabilizao do processo. Para processos com capacitncias
considerveis, a estabilizao do processo recomenda
aumentar os valores de Kp e manter os valores de Ki.
Processos instveis e cclicos (caracterstica da contribuio
da ao integral) e com baixa capacidade de reao
(undershoot
3
), recomenda-se aumentar o valor de Kp e
diminuir a ao de Ki (aumentar Ti).
Aps a reconfigurao dos parmetros no controlador,
baseados no mtodo de Z&N. Obteve-se a seguinte reao do
processo. A varivel do processo (temperatura) permaneceu
em torno do setpoint com offset
4
e sem oscilao, mas, levou
um longo tempo de estabilizao.



3
Representa o maior valor da curva de resposta
abaixo do set point.
4
Erro estacionrio provocado pela ao proporcional
pura.
7


Figura 11: Curva da Resposta ao Degrau do Mtodo de
[Ziegler e Nichols, 1943]. Com BP: 5C; Kp: 2.79; Ki: 0,15;
Kd: 0; TC: 4 seg.

Com a utilizao do mtodo CHR, que considera a relao de
tempo morto, obtm-se uma melhor e mais rpida estabilidade
do processo. Este mtodo poder ser utilizado em controles de
estufas de secagens, devido rpida estabilizao aps um
distrbio. A curva de CHR apresentou um overshoot 20%,
taxa de decaimento menor que 25%, considerada como padro
no mtodo de Z&N. Conforme a Figura 12.


Figura 12: Curva da Resposta ao Degrau do Mtodo de
[Chien, Hrones e Reswick, 1952]. Com BP: 5C; Kp: 1; Ki:
0,2; Kd: 0; TC: 4 seg.

O Mtodo CC elaborado por Cohen e Coon, tambm
utiliza a influncia do tempo morto, da constante de tempo do
processo e da relao de controlabilidade, como determinantes
na curva de estabilizao. Sua utilizao aplicvel por
considerar que o processo de secagem tenha rpida
recuperao, permitem oscilaes prximas ao set point,
mantendo a controlabilidade do processo mesmo com a
presena de distrbios gerados por variao da temperatura
ambiente ou aberturas indevidas das portas das estufas.
Mostrado na Figura 13.


Figura 13: Curva da Resposta ao Degrau do Mtodo de
[Cohen e Coon, 1953]. Com BP: 5C; Kp: 1; Ki: 0,8; Kd: 0;
TC: 4 seg.

Os mtodos tipo IAE e ITAE, que so baseados na
Integral do erro, no so adequados para sistemas de secagens,
pois, pequenas oscilaes da varivel do processo, geram
grandes oscilaes da varivel controlada (temperatura da
cmara de secagem). Ilustrado nas Figuras 14 e 15.


Figura 14: Curva da Resposta ao Degrau do Mtodo da
Integral do Erro Critrio IAE. Com BP: 5C; Kp: 3.02; Ki:
0,21; Kd: 0; TC: 4 seg.


Figura 15: Curva da Resposta ao Degrau do Mtodo da
Integral do Erro Critrio ITAE. Com BP: 5C; Kp: 2.61; Ki:
0,25; Kd: 0; TC: 4 seg.

O Mtodo ITAE, um mtodo usados em sistemas
tipo MIMO (Multiple Input and Multiple Output), como
elementos detectores de sistemas antecipatrios (cascatas e
feedforward), os quais devem perceber pequenas oscilaes
das variveis primrias dos sistemas MIMO, servindo como
set point de ajustes das variveis secundrias.

CONCLUSO
Entre mtodos de sintonia de controladores PI
utilizados nas estufas de secagens podem citar as tcnicas
desenvolvidas por CHR (Chien, Hrones e Reswick) e por CC
(Chien, Coon) como as mais eficazes para o controle de
temperatura em estufas de secagem. Os controles destes
processos com CLPs, que utilizam estas tcnicas,
apresentaram melhor eficincia produtiva, pois evitam danos
provocados por m parametrizao do controlador, melhoram
o rendimento da matria prima (energia eltrica), informam as
anormalidades das cmaras atravs de alarmes e controlam e
armazenam as curvas de secagens dos produtos finais.
Portanto os investimentos de implantao nestes processos so
economicamente viveis em funo dos ganhos obtidos com o
aumento de produtividade destas cmaras, ganhos de
otimizao da qualidade do produto, elaborao de
procedimentos tcnicos para as curvas de secagens e
principalmente certificam os produtos finais usando o sistema
SCADA.
8


REFERNCIA BIBLIOGRFICA
[1] AGUIRRE, Luiz Antonio. (2007). Introduo e
identificao de sistemas: tnicas lineares e no
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