Cincia dos Materiais

Prof. Kristopher Mendes

Unidade 03
Imperfeies nos Slidos
Pontos a serem discutidos:
Quais os tipos de defeitos que surgem nos slidos?
O nmero e o tipo de defeitos podem variar e serem
controlados?
Como os defeitos afetam as propriedades dos materiais?
Os defeitos so desejveis?
Como os defeitos pontuais presentes nas cermicas diferem
dos metais?
Nas cermicas, como as impurezas so acomodadas no
reticulado e como elas afetam as propriedades?
Defeitos pontuais:
Lacunas
tomos intersticiais
tomos substitucionais
Defeitos lineares:
Discordncias
Defeitos interfaciais:
Contornos de gro
Tipos de imperfeies
Lacuna: ausncia de um tomo na estrutura
Vacancy
distortion
of planes
Auto-intersticial: tomo "extra" posicionado em um stio intersticial.
self-
interstitial
distortion
of planes
Defeitos pontuais
Distoro
de planos
lacuna
Distoro
de planos
auto-intersticial
A concentrao de equilbrio varia com a temperatura, conforme a
equao abaixo:
Onde:
N
d
: nmero de defeitos.
N: nmero total de stios atmicos.
Q
d
: energia de ativao.
k: constante de Boltzmann (1,380 x 10
-23
J/tomo.K ou
8,620 x 10
-5
eV/tomo.K).
T: temperatura absoluta [T(K) = T(
o
C) + 273].
Concentrao de equilbrio de defeitos pontuais
|
.
|

\
|

=
k.T
Q
N . N
d
d
exp
Estimativa da concentrao de lacunas
Determine o nmero de lacunas em equilbrio em 1,000 m
3
de cobre a
1000
o
C.
Dados:
Cu(1000C)
= 8,400 g/cm
3
A
Cu
= 63,550 g/mol
Q
l
= 0,900 eV/tomo N
A
= 6,023 x 10
23
tomos/mol
Temos:
Logo:
N
l
= 2,183 x 10
25
lacunas
stios x
28
10 961 7, . . = = V
A
N
N
Cu
A

|
.
|

\
|
=

1273 10 620 8
900 0
10 961 7
5
28
.
N
l
x
x
,
,
exp . ,
Defeito de Frenkel: um ction est fora do lugar.
Defeito de Shottky: um par de lacunas de um ction e um nion.
Concentrao de equilbrio de defeitos:
Defeitos em estruturas cermicas
Defeito de Shottky
Defeito de Frenkel
|
|
.
|

\
|

=
k.T
Q
N . N
fr
fr
2
exp |
.
|

\
|

=
k.T
Q
N . N
s
s
2
exp
Existem duas possibilidades quando um elemento adicionado a outro:
1) Soluo slida de B em A, com distribuio aleatria dos tomos.
2) Soluo slida de B em A, mais partculas de uma nova fase
(normalmente quando h uma maior quantidade de B)
ou
Liga substitucional (Cu em Ni) Liga intersticial (C em Fe)
Partcula de segunda fase:
-composio diferente.
-estrutura diferente.
Defeitos pontuais em ligas
Impurezas devem tambm satisfazer o balano de cargas.
Exemplo: NaCl
Ction substitucional
nion substitucional
Impurezas em cermicas
Geometria inicial Impureza Ca
2+
Geometria resultante
Ca
2+
Na
+
Na
+
Ca
2+
lacuna ction
Geometria inicial Impureza O
2-
O
2-
Cl
-
Lacuna nion
Cl
-
Geometria resultante
Definio: quantidade de soluto (B) e solvente (A) no sistema.
H duas descries:
% em peso (%p) % atmica (%a)
Converso entre % em peso e % atmica em uma liga A-B:
Base para converso:
Massa de B = mols de B x A
B
, onde A
B
o peso atmico de B.
Massa de A = mols de A x A
A
, onde A
A
o peso atmico de A.
Composio ou concentrao
100 .
m m
m
C
B A
B
B
+
= 100
n n
n
C
B A
B
m m
m
B
.
'
+
=
100 .
A C A C
A C
C
B B A A
B B
B
. .
.
' '
'
+
=
100 .
A C A C
A C
C
A B B A
A B
B
. .
.
'
+
=
Causam escorregamento entre planos cristalogrficos quando se
movem.
Produzem deformao permanente (plstica).
Exemplo: cristal hexagonal compacto (HC):
antes da deformao aps a deformao
planos de
escorregamento
Defeitos lineares: discordncias
Tipos de discordncias
Discordncia em aresta: uma poro extra de um plano de tomos, cuja
aresta termina no interior do cristal.
Vetor de Burgers
Linha da
discordncia
aresta
Discordncia em espiral: apresenta
uma trajetria espiral ou helicoidal
traada em torno da linha de
discordncia.
Linha da discordncia
Vetor de
Burgers
Vetor de
Burgers
Discordncias mistas:
exibem componentes que so
caractersticos de ambos os
tipos (aresta e espiral),
no aresta pura nem espiral
pura,
porm o vetor de Burgers
sempre o mesmo.
A linha da discordncia (pontos vermelho se movendo) separa o
material deformado abaixo do material no deformado acima.
Simulao do deslocamento de
uma discordncia da esquerda
para a direita a medida que o
cristal cortado.
Escorregamento de planos
O deslocamento da discordncia requer sucessivas quebras de planos
de tomos (da direita para a esquerda).
As ligaes atravs dos planos de deslizamento so quebradas e
refeitas sucessivamente.
Viso atmica do movimento da
discordncia em aresta da direita
para a esquerda medida que o
cristal cortado.
Quebra de ligaes
So fronteiras entre os cristais.
So produzidos, por exemplo, pelo processo de solidificao.
Provocam uma mudana de orientao ao longo do material.
Impedem o movimento das discordncias.
Defeitos interfaciais: contornos de gro
Contornos
de gro
lingote metlico
8,000 cm
Fluxo de calor
Diagramas esquemticos dos vrios estgios na solidificao de um
material policristalino.
Defeitos interfaciais: contornos de gro
Aumento de at 2000X.
O polimento produz uma superfcie plana.
O ataque qumico altera a refletncia conforme a orientao do cristal.
Planos compactos
Micrografia de uma amostra de
lato policristalino (Cu e Zn)
0,750 mm
Microscopia tica
microscpio
Os contornos de gro:
so imperfeies,
so mais susceptveis ao ataque
qumico,
podem ser revelados como linhas
escuras,
alteram a direo em um policristal.
Tamanho de gro:
N = 2
n-1
Onde:
N: nmero de gros por polegada,
com um aumento de 100X.
n: tamanho de gro ASTM.
Fe-Cr alloy
microscpio
Contorno de gro
Sulco da superfcie
Superfcie polida
Microscopia tica
Microscopia eletrnica
As ampliaes so maiores (20.000X) e a imagem formada por meio
da utilizao de feixes de eltrons.
Microscpio eletrnico de varredura (MEV):
O feixe de eltrons refletido (ou retroespalhado) coletado.
A amostra pode ou no estar polida ou atacada.
Microscpio eletrnico de transmisso (MET):
O feixe de eltrons que passam atravs da amostra (transmitidos)
coletado.
A amostra deve ser uma pelcula muito fina.
Os tomos podem ser arranjados em imagens.
Molculas de monxido de
carbono implantadas em
uma superfcie de platina.
tomos de ferro implantados
na superfcie do cobre. Estes
caracteres representam a
palavra tomo.
Microscopia de tunelamento de varredura
Defeitos pontuais, lineares e interfaciais podem ser observados nos
slidos.
O nmero e os tipos de defeitos podem variar e serem controlados
(exemplo: a temperatura controla a concentrao de lacunas).
Defeitos afetam as propriedades dos materiais (exemplo: contornos
de gro controlam o escorregamento de planos em um policristal).
Defeitos podem ser desejveis ou indesejveis (exemplo: a presena
de discordncias pode ser boa ou ruim dependendo se a deformao
plstica desejvel ou no)
Resumo
1) Determine a frao dos stios atmicos que esto vagos para o
cobre na sua temperatura de fuso de 1084,000
o
C. Considere a energia
para a formao de lacunas igual a 0,900 eV/tomo.
Temos:
Q
d
= 0,900 eV
k = 8,620 x 10
-5
eV/tomo.K
T = 1084,000 + 273,000 = 1357,000 K.
Exemplos
|
.
|

\
|

=
k.T
Q
N . N
d
d
exp
4 000 1357 10 620 8
900 0
10 555 4
5

|
|
.
|

\
|
= =
|
.
|

\
|

=

* ,
, * * ,
,
e
k.T
Q
N
N
d d
exp
2) Determine a composio, em porcentagem atmica, de uma liga
que contm, em porcentagem em massa, 92,500% de prata e 7,500%
de cobre.
Temos: C
Ag
= 92,500%p A
Ag
= 107,870 g/mol
C
Cu
= 7,500%p A
Cu
= 63,550 g/mol
Assim:
100
550 63 500 92 870 107 500 7
870 107 500 7
100 . .
A C A C
A C
C
Cu Ag Ag Cu
Ag Cu
Cu
, . , , . ,
, . ,
. .
.
'
+
=
+
=
a . C
Cu
% ,
, ,
,
'
098 12 100
375 5878 025 809
025 809
=
+
=
a C C
Cu Ag
% , , ,
' '
902 87 098 12 000 100 100 = = =
3) Um metal tem tamanho de gro ASTM igual a 8. Para um aumento
de 60X, quantos gros sero observados em um quadrado cujo lado
igual a uma polegada?
Temos: n = 8 M = 60
Assim:
N
60
= 355,555 gros/polegada
2
1
2
2
100

=
|
.
|

\
|
n
M
M
N
1 8
2
60
2
60
100

|
.
|

\
|
= . N