REPBLICA BOLIVARIANA DE VENEZUELA

UNIVERSIDAD DEL ZULIA

FACULTAD DE INGENIERA
DIVISIN DE POSTGRADO
PROGRAMA DE CIENCIAS APLICADAS REA: FSICA














MTODO MATEMTICO BASADO EN LA ECUACIN VON-HIPPEL PARA
LA CARACTERIZACIN ELECTROMAGNTICA DE MATERIALES
DIELCTRICOS NO MAGNTICOS




Trabajo de Grado presentado ante la
Ilustre La Universidad del Zulia
para optar al Grado Acadmico de


MAGSTER SCIENTIARUM EN CIENCIAS APLICADAS REA: FSICA




Autor: Ing. Daniel J Flores Garca.

Tutor: Prof. Manuel Jos Briceo Pia





Maracaibo, Junio de 2012







MTODO MATEMTICO BASADO EN LA ECUACIN VON-HIPPEL PARA LA
CARACTERIZACIN ELECTROMAGNTICA DE MATERIALES DIELCTRICOS
NO MAGNTICOS




Ing. Daniel Jess Flores Garca
C.I. 14.698.679

Departamento de Circuitos y Comunicaciones
Escuela de Ingeniera Elctrica
Facultad de Ingeniera de la Universidad del Zulia
Apartado 4011A-526. Maracaibo-Venezuela
+58-261-4127042
dflores@fing.luz.edu.ve



Prof. Manuel Jos Briceo Pia
Tutor

Escuela de Ingeniera Elctrica
Facultad de Ingeniera de la Universidad del Zulia
mbriceno@fing.luz.edu.ve








APROBACIN


Este jurado aprueba el Trabajo de Grado titulado MTODO MATEMTICO
BASADO EN LA ECUACIN VON-HIPPEL PARA LA CARACTERIZACIN
ELECTROMAGNTICA DE MATERIALES DIELCTRICOS NO MAGNTICOSque
Daniel Jess Flores Garca, C.I.: 14.698.679presenta ante el Consejo Tcnico de la
Divisin de Postgrado de la Facultad de Ingeniera en cumplimiento del Artculo 51,
Pargrafo 51.6 de la Seccin Segunda del Reglamento de Estudios para Graduados
de la Universidad del Zulia, como requisito para optar al Grado Acadmico de


MAGSTER SCIENTIARUM EN CIENCIAS APLICADAS REA: FSICA




Coordinador del Jurado
Manuel Jos Briceo Pia
C.I. 9.742.247




Jorgenson Zambrano Marianela Nava
C.I. 9.729.730 C.I. 9.747.723






Gisela Pez
Directora de la Divisin de Postgrado








Maracaibo, junio de 2012



Flores Garca, Daniel. Mtodo matemtico basado en la ecuacin Von-Hippel
para la caracterizacin electromagntica de materiales dielctricos no
magnticos, 2012. Trabajo de grado. Universidad del Zulia, Facultad de Ingeniera.
Maracaibo, Venezuela, 80 p. Tutor: Msc Manuel J. Briceo P.

RESUMEN


El presente trabajo tuvo como objetivo evaluar un mtodo matemtico basado en la
ecuacin de Von- Hippel para la caracterizacin electromagntica de materiales
dielctricos no magnticos. La investigacin fue de tipo descriptiva, en la cual los
datos se recolectaron por medio de simulaciones por computador y fuentes
documentales. Se realiz una caracterizacin de materiales a travs del mtodo de
Von Hippel de forma deductiva de tal manera que se defini su aplicabilidad en el
laboratorio de comunicaciones y se formul matemticamente el mtodo de forma
de enmarcar el problema a solucionar en condiciones estrictas del mtodo y las
condiciones de uso en La Universidad del Zulia. Finalmente, se desarroll un
algoritmo solucin del mtodo con aplicacin de dos formas, una con el uso del
computador y otra con el uso de una cartilla solucin donde se utiliza un mtodo
grfico con el uso de regla, comps y lpiz nicamente, se obtuvo un error
porcentual mximo de 3,7% en la permitividad real. Se concluy que el mtodo
desarrollado es aplicable en el laboratorio de comunicaciones y que garantiza
mejores prestaciones en la solucin de la ecuacin de Von-Hippel.



Palabras clave: Caracterizacin de materiales, Mtodo de Von Hippel, Laboratorio de
Comunicaciones.



Correo electrnico: dflores@fing.luz.edu.ve





Flores Garca, Daniel. Mathematical method based on Von-Hippel equation for
the electromagnetic characterization of non-magnetic dielectric materials,
2012. Trabajo de grado. Universidad del Zulia, Facultad de Ingeniera. Maracaibo,
Venezuela, 80 p. Tutor: Msc Manuel J. Briceo P.



ABSTRACT


This study aimed to evaluate a mathematical method based on the Von-Hippel
equation for the electromagnetic characterization of dielectric non-magnetic
materials. The research was descriptive, in which data were collected through
computer simulations and documentary sources. A characterization of the method of
Von Hippel in a deductive manner so that its applicability is defined in the
communications laboratory and formulated mathematically as the method of
framing the problem to be solved under strict conditions of the method and
conditions of use the University of Zulia. Finally, we developed a solution algorithm
method with application of two ways, one using the computer and another using a
primer solution which uses a graphical method using ruler, compass and pencil only,
was obtained maximum percentage error of 3,7% on the real permittivity. It was
concluded that the developed method is applicable in the communications
laboratory and ensures better performance in solving the equation of Von-Hippel.


Key words: Characterization of materials, Von Hippels method, Communications
Laboratory.



E-Mail: dflores@fing.luz.edu.ve



DEDICATORIA




























A mi familia paterna.
A mi familia por venir encarnada en Yuliana Mndez y
los hijos que tendremos.
A Willmar para celebrar tu vida.







TABLA DE CONTENIDO
Pgina
RESUMEN ................................................................................................ 4
ABSTRACT ............................................................................................... 5
DEDICATORIA .......................................................................................... 6
TABLA DE CONTENIDO .............................................................................. 7
LISTA DE FIGURAS ................................................................................... 9
LISTA DE TABLAS ................................................................................... 10
INTRODUCCIN...................................................................................... 11
CAPITULO I
EL PROBLEMA ........................................................................................ 12
1.1. Planteamiento y formulacin del problema ....................................................... 12
1.2. Objetivos de la investigacin ............................................................................ 14
1.2.1. Objetivo general .......................................................................................... 14
1.2.2. Objetivos especficos ................................................................................... 14
1.3. Justificacin ..................................................................................................... 14
1.4. Delimitacin ..................................................................................................... 16
1.4.1. Delimitacin espacial ................................................................................... 16
1.4.2. Delimitacin temporal .................................................................................. 16
1.4.3. Delimitacin conceptual o de contenido ....................................................... 16
CAPITULO II
MARCO TERICO .................................................................................... 18
2.1. Antecedentes ..................................................................................................... 18
2.2. Bases Tericas .................................................................................................. 21
2.2.1.- Dielctricos .................................................................................................... 24

2.3.- Normalizacin de Guas de Onda ..................................................................... 29
2.4.- Caracterizacin Experimental de Materiales ..................................................... 32
2.4.1.- Tcnica de Medida: Fundamento y Clasificacin. ........................................... 32
2.4.2.-Consideraciones sobre la eleccin de la tcnica: ............................................ 34
2.5.-Caracterizacin experimental de dielctricos. .................................................... 35
2.5.1.-Tcnica en la Gua Cortocircuitada ................................................................. 35
CAPTULO III
CRITERIOS METODOLGICOS ................................................................... 43
3.1. Nivel de Investigacin ........................................................................................ 43
3.2. Diseo de la Investigacin .................................................................................. 44
3.3. Metodologa Aplicada ......................................................................................... 45
CAPITULO IV
PRESENTACIN Y ANLISIS DE RESULTADOS ............................................. 47
4.1. Premisas para el diseo de un algoritmo que de solucin a la ecuacin de Von
Hippel ............................................................................................................... 48
4.2. Algoritmo previo utilizado en publicaciones previas para medicin de permitividad
en petrleo utilizando Laboratorio de Comunicaciones en LUZ ........................ 49
4.2.1 Solucin de la dependencia de la tcnica SCL a mediciones anteriores con otro
mtodo. ............................................................................................................ 53
4.2.2 Solucin de la imprecisin de la respuesta del mtodo con respecto al conjunto
de llegada tan(d) ............................................................................................ 55
4.3. Desarrollo de cartillas de grficos para ejecucin de algoritmo sin el uso del
computador ...................................................................................................... 65
CONCLUSIONES ..................................................................................... 74
RECOMENDACIONES ............................................................................... 75
REFERENCIAS BIBLIOGRFICAS ................................................................ 76
APNDICE 1. PROGRAMA ......................................................................... 77
APNDICE 2. CARTILLA ............................................................................ 79



LISTA DE FIGURAS
Figura Pgina


1. Respuesta en frecuencia de la permitividad dielctrica (dispersin dielctrica). .
............................................................................................ 27
2.Normalizacin de guas de onda. ............................................................. 30
3. Esquematizacin de la SCL ................................................................... 37
4. Dibujo esquemtico de la disposicin de los diferentes elementos en el montaje
experimental........................................................................................
............................................................................................ 39
5. 1.Modulo de Medicin y control 2. Medidor de potencia RF. 3. Unidad de
adquisicion de datos. 4. Arreglo de guia de onda ranurada. ...................... 40
6. 1. Diodo Gun. 2. Modulador 3.Polarizador. 4. guia de onda ranurada. 5 Clula
Portamuestra .................................................................................... 41
7. Clula portamuestra ............................................................................ 41
9. Algoritmo base desarrollado en software ................................................. 52
8. Grfica del comportamiento de Relacin de Onda Estacionaria vs Constante
Dielctrica ........................................................................................ 54
10. Grfica de tan(d) con obtenido del algoritmo base (derecha) y grfico de
tan(z) con z todo el plano complejo. ..................................................... 57
11 Grfica de tan(d) con obtenido del algoritmo base (derecha) y grfico de
tan(z) con z todo el plano complejo en el mismo rango y escala. ............... 58
12. Grfica de determinacin de tan(d) verdadero perteneciente a tan(z). ...... 59
13. Algoritmo resultante con eliminacin de error de redondeo e independencia
de mediciones previas. ....................................................................... 65
14. Grfico que relaciona S con la permitividad para independizar el mtodo a
mediciones anteriores. ....................................................................... 66
15. Esquemtico de posiciones de subgrficos en la cartilla solucin a la ecuacin
de Roberts-Von Hippel. ....................................................................... 71


LISTA DE TABLAS
Tabla Pgina


1 . Tabla de valores de las funciones (60) y (61) .......................................... 68
2 . Resultados ........................................................................................ 72
3 . Resultados en error absoluto ................................................................ 73
4 . Resultados en error porcentual ............................................................. 73

INTRODUCCIN

El presente trabajo titulado Mtodo Matemtico basado en la Ecuacin Von-
Hippel para la Caracterizacin Electromagntica de Materiales Dielctricos No
Magnticos tiene como objetivo determinar un mtodo para la solucin de la
ecuacin de Von-Hippel aplicada a la tcnica de la gua de onda cortocircuitada para
la medicin de permitividad dielctrica compleja en la caracterizacin de materiales.
Dicha solucin permitir el procesamiento de datos obtenidos de las mediciones
usando la mencionada tcnica y la ulterior determinacin de la permitividad
dielctrica compleja. Se basar en el desarrollo de funciones complejas derivadas de
la de Von-Hippel para encontrar un mtodo matemtico que permita la solucin a
dicha ecuacin. La elaboracin de este trabajo dar respuesta a las dificultades
asociadas al manejo matemtico de las mediciones en la tcnica de la gua
cortocircuitada de forma que facilitar su uso, as permitir que la caracterizacin
electromagntica de materiales se desarrolle como una prctica ampliamente
conocida en el pas. Se espera que el resultado de la investigacin sea favorable y
en definitiva ofrezca un mtodo matemtico para la solucin de la ecuacin de Von-
Hippel en la Caracterizacin de Materiales para materiales dielctricos no
magnticos.


CAPITULO I
EL PROBLEMA

Este captulo comprende los aspectos que permiten la focalizacin del evento de
estudio y la delimitacin de la investigacin. Como apertura, concierne a este
captulo dar la respuesta a porqu y para qu se realizla investigacin.

1.1. Planteamiento y formulacin del problema

En el ejercicio de la ingeniera, con frecuencia, los profesionales del rea se
enfrentan al manejo de sustancias que son sometidas a procesos industriales para
su procesamiento y/o transformacin para satisfacer necesidades sociales de forma
ecolgica y econmica.

En este sentido, para el manejo de sustancias se requiere conocer su
comportamiento ante el sometimiento de condiciones gravitacionales,
electromagnticas y nucleares que proporciona el ambiente de forma natural y/o las
que ofrece un sistema fsico construido por el hombre.

Desde el punto de vista electromagntico, cualquier sustancia responde a la
presencia de ondas y/o campos en funcin de parmetros bien definidos por el
material que constituye la sustancia. Los parmetros mencionados son la
Permeabilidad Magntica () que es la capacidad del medio de responder al flujo de
lneas de campo magntico a travs de s; la Conductividad Elctrica () que es la
capacidad del medio de permitir el flujo de carga a travs de si, y la Permitividad
Dielctrica () que es la capacidad del medio de responder a la incidencia de campo
elctrico externo mediante el fenmeno de acoplamiento capacitivo.

13
La determinacin de estos parmetros se conoce como Caracterizacin
Electromagntica de Materiales, se puede definir como el arte y ciencia de medir los
parmetros elctricos y magnticos de cualquier medio material.

A principios del siglo XX, un fsico alemn llamado Arthur Von-Hippel desarroll
un mtodo para la determinacin de Permitividad Dielctrica Compleja para
materiales no magnticos utilizando ondas electromagnticas en la banda
microondas confinadas en una gua de onda cortocircuitada [1]. Por tanto la
investigacin est circunscrita a materiales dielctricos no magnticos y a la
medicin del parmetro permitividad dielctrica compleja.

La tcnica desarrollada por Von-Hippel permite realizar mediciones a materiales
de forma sencilla y rpida contando con equipos para la propagacin controlada de
ondas electromagnticas y la medicin del fenmeno de reflexin en un
cortocircuito.

Sin embargo, el manejo matemtico de los datos que arrojan las mediciones una
vez realizado los experimentos asociados a la tcnica desarrollada por Von-Hippel
pierde sensiblemente la sencillez de las mediciones. Las ecuaciones involucradas en
el mtodo conllevan a la solucin de una ecuacin conocida como Ecuacin de Von-
Hippel que es trascendental con infinitas soluciones [2].

La solucin de dicha ecuacin ha sido causa y efecto de numerosas
investigaciones, su solucin convierte el mtodo de Von-Hippel el una tcnica simple
y apropiada para la medicin de Permitividad Dielctrica Compleja. [2] [3] [4].

Realizada la exposicin de la situacin actual y el uso requerido de la tcnica por
parte del sector acadmico y de investigacin, se formula la siguiente interrogante
como eje central del tema de investigacin:

Hasta qu punto el mtodo matemtico generado para dar solucin a la
ecuacin de Von-Hippel en la tcnica de la gua cortocircuitada permitir la
caracterizacin electromagntica de materiales dielctricos no magnticos?

14

1.2. Objetivos de la investigacin

Los objetivos permiten conocer los principales logros que a los que se quiere
llegar con la presente investigacin. A continuacin, se presentan los objetivos
clasificados de acuerdo a su amplitud y ordenados de menor a mayor complejidad.

1.2.1. Objetivo general

Evaluar un mtodo matemtico basado en la ecuacin de Von- Hippel para la
caracterizacin electromagntica de materiales dielctricos no magnticos.
1.2.2. Objetivos especficos

Describir el mtodo de la gua de onda cortocircuitada para caracterizacin de
materiales.

Formular un modelo matemtico que permita dar solucin a la ecuacin de Von-
Hippel.

Disear un algoritmo que permita la evaluacin del mtodo matemtico con
respecto a valores conocidos de permitividad dielctrica compleja.

Determinar la efectividad del mtodo matemtico para la caracterizacin
electromagntica de materiales dielctricos no magnticos utilizando casos de
estudio seleccionados.

1.3. Justificacin

El avance de la tecnologa representa un camino para el desarrollo de la
economa en cualquier sociedad, mediante la tecnologa se satisfacen las
15
necesidades bsicas de los individuos involucrados en un espacio y tiempo
definidos.

Entre las necesidades bsicas ms resaltantes dentro de la sociedad actual se
pueden nombrar la produccin de alimentos de mejor calidad y en mayor cantidad,
la produccin de medicamentos elevando cantidad y calidad; en el caso especifico
de Venezuela estn otros elementos de suma importancia como la produccin
petrolera y gasfera, la petroqumica, entre otros que se pueden decir que no son
primordiales pero si estratgicos.

De forma que el conocimiento cientfico sobre las caractersticas de los alimentos,
medicamentos, petrleo, gas y en general cualquier sustancia es imperiosa ante
cualquier desarrollo de procesos de transformacin de dichas materias primas o
secundaras en otras de mayor valor agregado.

La caracterizacin de materiales permite analizar el comportamiento de las
sustancias ante la presencia de cualquier condicin ambiental natural o provocada
por el hombre. De forma que caracterizar materiales nos ofrece un conocimiento
necesario para la transformacin y/o manipulacin de sustancias lo cual define su
importancia desde el punto de vista industrial y acadmico.

El mtodo de la gua de onda cortocircuitada permite caracterizar
electromagnticamente los materiales que no sean magnticos, dentro de los cuales
se encuentran el petrleo, el gas, medicamentos, alimentos, entre otros. [1]

En el pas hay muy poca experiencia registrada con respecto a este campo del
conocimiento, por tanto muy poco desarrollo en este tipo de tcnica. El resolver las
dificultades que representa para el mtodo, la resolucin de la ecuacin de Von-
Hippel y con el agregado de poder comprobar su eficacia con mediciones reales
entregar al Electromagnetismo Aplicado en la Maestra en Fsica Aplicada una
herramienta que lo llevar a nuevos estadios en cuanto a su relacin con la
industria y colaborar al desarrollo nacional en funcin a las lneas estratgicas
antes expuestas.

16
Por otro lado, esta investigacin permitir la experticia para desarrollar nuevos
trabajos desde el punto de vista acadmico de forma que permitan a los estudiantes
de la Escuela de Ingeniera Elctrica de la Universidad del Zulia y los de la Maestra
en Fsica Aplicada experiencias de laboratorio de Microondas y aplicado a la
caracterizacin de materiales de forma que se gana la experticia para resolver
problemas comunes en la industria de alimentos, petroqumica, petrolera, entre
otras.

1.4. Delimitacin

Mediante la delimitacin se especifica el marco fsico, temporal y conceptual
dentro del cual se encuentra la presente investigacin. A continuacin, se desglosan
esos tres aspectos limitantes.

1.4.1. Delimitacin espacial

La investigacin se desarroll en las instalaciones del Laboratorio de
Comunicaciones, Escuela de Ingeniera Elctrica, Facultad de Ingeniera, Universidad
del Zulia, bajo la supervisin delProf. Manuel Briceo.

1.4.2. Delimitacin temporal

La ejecucin de este trabajo se llev a cabo desde el mes de noviembrede
2009hasta el mes de junio de 2012, comprendiendo dos aos en su realizacin.

1.4.3. Delimitacin conceptual o de contenido

El trabajo de investigacin se realizar en el campo de estudio de materiales,
especficamente de sus caractersticas electromagnticas. Se delimita en especifico
en materiales dielctricos no magnticos.

17
Se utilizar las prestaciones del laboratorio de comunicaciones de LUZ para la
caracterizacin de electromagntica de dielctricos no magnticos, para ello se
medir permitividad dielctrica compleja a frecuencia microondas utilizando la
tcnica de Von Hippel denominada Tcnica de la lnea cortocircuitada (SCL).

La pretensin es mejorar el anlisis de datos incorporando un algoritmo que
permita bajar la incertidumbre en el mtodo debido a la complejidad de los mtodos
matemticos involucrados.

18
CAPITULO II
MARCO TERICO


ste captulo contiene el desarrollo terico que da soporte a la investigacin. Se
dan a conocer los trabajos que sirven de antecedentes a la presente en el rea de
optimizacin y sistemas de potencia, as como las teoras establecidas en las que se
basa la investigacin.

2.1. Antecedentes

A continuacin se describen algunos trabajos que se relacionan con la presente
investigacin y los cuales sirven de bases para la realizacin de la
misma.Adicionalmente, se especifican los aportes de cada trabajo en particular.

En este sentido, Prez R. Willmar A., Briceo P. Manuel J., Marn S. Emily G.,
Zambrano A. Jorgenson J. y Flores G. Daniel J., titulan el trabajo Medicin de la
Permitividad Elctrica del Petrleo a 9.51GHz [1],2009, los autores realizan la
medicin de permitividad dielctrica compleja utilizando el mtodo de la gua en
cortocircuito a la frecuencia en Banda X de 9,51 GHz. En el desarrollo del trabajo el
equipo elaborador se enfrent al problema de la ecuacin de Von Hippel en el
anlisis de los datos obtenidos para fijar un valor de permitividad el cual se resolvi
con el uso de un algoritmo desarrollado en una Universidad espaola para el libro
Ingeniera de Microondas que aunque aproximado fue suficientemente preciso
para la medicin en cuestin. ste trabajo permite la descripcin del mtodo
utilizando los equipos de Laboratorio de Comunicaciones de LUZ, especficamente el
montaje de los mismos y el uso de un primer software aunque primitivo y de baja
precisin, muy til para comenzar el desarrollo de uno ms avanzado que resuelva
el problema de la baja precisin de su antecesor.

19
De igual forma, Martnez C. Miriam C. y Velsquez G. Vanessa A., presentaron el
trabajo de grado para optar al ttulo de ingenieras electricistas en la Universidad de
Carabobo Caracterizacin Electromagntica de los Crudos Ta Juana Medio y de uso
general provenientes del Campo Ta Juana Estado Zulia [2],2008, en el cual las
autoras utilizan un equipo de medicin de impedancias para determinar los
parmetros electromagnticos de una sustancia uniforme, en este caso petrleo
pesado del yacimiento Ta Juana, Tierra Este pesado. ste trabajo presenta
resultados de mediciones con un nivel de confianza elevado hasta 95%, lo cual hace
fiable sus premisas; la premisa ms importante que sirve de aporte es que el
petrleo pesado de la formacin de Ta Juana se toma como un material no
magntico lo cual es necesario para el desarrollo de las ecuaciones que llevan hasta
la de Von Hippel.

Asimismo, Nebot del Busto Eduardo presenta el trabajo para la Universidad de
Zaragoza: Caracterizacin de dielctricos a frecuencia de microondas [3], realiza
mediciones de permitividad dielctrica de algunas sustancias a frecuencias de banda
X (9,23GHz especficamente) utilizando la tcnica de la gua cortocircuitada
revelando a la presente investigacin material bibliogrfico terico y detalles de
montaje y constructivos en la tcnica de medicin que hacen ganar fiabilidad a las
muestras y anlisis a realizar.

Por otro lado, Von Hippel Arthur R., presento el libro: Dielectric and Waves [4],
(1964) p73-77, donde se presenta un conjunto de tcnicas desarrolladas por el
autor para la caracterizacin de dielctricos a frecuencias de microondas. Von Hippel
fue uno de los primeros estudiosos de los fenmenos presentes en materiales ante
la presencia de campos y ondas electromagnticas. Adems de ser un terico de la
materia que explica el comportamiento de materiales ante campos
Electromagnticos es un desarrollador de tcnicas para la medicin de permitividad
y permeabilidad de los mismos de forma de llevar a nivel macroscpico y aplicable a
la ingeniera el conocimiento microscpico que se tuviera de los materiales.

La tcnica que se utilizar es la de gua cortocircuitada que para las condiciones
de frecuencia y tipo de muestra es adecuada. Von Hippel tambin expone un
mtodo grfico de solucin en el libro pero que no es aplicable debido a que lo es
20
para un restringido rango de valores de permitividad, sin embargo su desarrollo
presenta detalles importantes en la forma de atacar el problema de hallar una
solucin nica para la ecuacin de Von Hippel.

Tambin, T.P. Iglesias, A. Seoane, and J. Rivas. A Contribution to the
Measurement of Permittivity with the Short-circuited Line Method [5]. En el cual los
autores presentan un mtodo de solucin de la ecuacin de Von Hippel utilizando un
barrido de frecuencia con pasos pequeos de variacin del dominio planteando la
ecuacin de Von Hippel como un desarrollo algebraico concluyendo finalmente en un
mtodo grfico para la determinacin de permitividad. El aporte de ste trabajo en
la presente investigacin es la manipulacin de la ecuacin de Von Hippel como la
coincidencia de dos ecuaciones una tangencial y otra lineal como un primera
aproximacin del desarrollo final a plantear en el presente trabajo.

Por otra parte, T.P. Iglesias, A. Seoane, and J. Rivas. An Algorithm for Solving
Roberts-von Hippel Equation: Separation of Close Solutions [6]. En sta
investigacin los autores manipulan la ecuacin de Von Hippel y los grficos de
Roberts-Von Hippel para dar solucin a la misma. En l los autores parametrizan la
ecuacin como la razn de una funcin tangencial y otra lineal y se definen unas
variables acotadas que toman ciertos valores segn las mediciones de permitividad
en los extremos pticos y cuasi estticos de frecuencia presentado as un mtodo
til y prctico para dar solucin a la ecuacin de Von Hippel, sin embargo, es
necesario conocer otros valores para poder utilizar el algoritmo planteado. El aporte
de ste trabajo a la presente investigacin es la manipulacin de la ecuacin de Von
Hippel como una razn de una funcin y otra relacionado con la variacin de dichas
funciones en funcin a un parmetro en comn lo cual suministra detalles
matemtico-fsicos para el desarrollo de un nuevo algoritmo para dar solucin a la
mencionada ecuacin.

Finalmente, Lipuma Daniel, Gastaldi Ral., Medina Sergio y Busnardo Marcela,
presentaron el trabajo Simplificacion del mtodo del corto circuito para la medicin
de la permitividad dielctrica [7], en el cual los autores disean un algoritmo
haciendo unas aproximaciones de forma que se rompa la ambigedad de las
soluciones, para ello aproximan la relacin de onda estacionaria a infinito con lo cual
21
se simplifica la ecuacin compleja de Von Hippel a una ecuacin real de soluciones
reales pero de igual infinitas soluciones; esto lo hace igualando la tangente de todos
los nmeros reales sobre todos los nmeros reales a un parmetro esttico,
constante y conocido producto de las mediciones, al hacer coincidir ambas grficas
se obtienen las soluciones matemticamente posibles para un posterior anlisis
fsico. Este trabajo aporta el detalle del uso de un mtodo grfico para hallar la
solucin nica de la ecuacin de Von Hippel.

2.2. Bases Tericas

En las bases tericas se presentan las principales teoras que sirven para
desarrollar la investigacin o basamento al trabajo. Se tratan los conceptos
establecidos que permitieron la comprensin de los distintos aspectos de la
investigacin.

En sta parte se establece el conocimiento previo necesario para comprender el
fenmeno fsico a analizar, adems de las tcnicas desarrolladas por el humano
para interactuar con dicho fenmeno.

El estudio del comportamiento de la materia a campos variables con el tiempo es
un problema complicado y muy variado, sobre todo cuando se est interesado en
los procesos macroscpicos que ocurren. Se est ms interesado en el
comportamiento y caracterizacin macroscpica; en tal caso, se entiende que las
magnitudes vectoriales E

y B

, son las magnitudes que caracterizan la excitacin y B

, }

y B

la respuesta.

D

= E

() (1)

J

= E

() (2)

B

= H

() (3)

22
As se escribe de forma general, que no son ms que las expresiones generales
de las ecuaciones constitutivas la funciones f, g y h dependen del medio
considerado y pueden ser muy variadas, desde la ms simple relacin de
proporcionalidad para medios lineales, istropos, homogneos y en reposo hasta
funciones integrales dependientes del tiempo para poder incluir toda la historia del
medio anterior al instante considerado. Para campos con dependencia temporal
armnica, estas ecuaciones se suelen escribir de la forma:

B

= cE

(4)

}

= oE

(5)

B

= B

(6)

Donde c, o y son magnitudes caractersticas de cada medio, pero que pueden
depender de la frecuencia (medios dispersivos), del campo aplicado (medios no
lineales), de la direccin de este (medios anistropos, las magnitudes tendrn
carcter tensorial) y del punto considerado (medios no homogneos).

Un estudio general que sirva globalmente para todos los medios es una tarea
imposible, de hecho, ni las ecuaciones (4), (5) y (6) son totalmente generales. Los
materiales dielctricos que normalmente se encuentran en ste estudio son lineales,
istropos y homogneos y se limitar, por tanto, a dielctricos con estas
caractersticas para garantizarlo la muestra debe ser un diferencial de volumen. Por
otro lado, causa (E

, B

) y respuesta (B

, }

, B

) no siempre estn en fase respecto a su

variacin temporal, por tanto, dentro de la notacin compleja usual, se debe admitir
la posibilidad de que c, o y sean magnitudes complejas y se escribe, en general.

c = c -jc (7)

o = o +jo (8)

= - j (9)
23

Un aspecto que conviene resaltar es que las Ecuaciones (7) y (8) representan la
respuesta del medio al campo elctrico, mientras que la (9) representa la respuesta
al campo magntico. Ambas coexisten formando parte de la respuesta global del
medio al campo electromagntico. Pero dentro de la respuesta elctrica se puede
discriminar entre un conductor y un dielctrico se toma la Ley Ampere-Maxwell,
teniendo en cuenta las anteriores expresiones para c y o

v B

= - jB

+ }

= j(c - jc)E

+ (o + jo)E

= j(c +o) + (o +c)E

(10)

Por lo tanto, se puede unificar ambas respuestas en una, escribiendo

v B

= }

t
= }

D
+}

C
= o
cII
E

(11)
Donde

o
cII
= (o + c) + j(o + c) (12)

Igualmente valido es escribir

v B

= jB

t
= jc
cII
E

(13)

Donde

c
cII
= c +
o
m
-j c +
o
m
(14)

En conclusin, para caracterizar macroscpicamente un medio se necesita una
magnitud compleja para la parte elctrica y otra para la magntica. El hecho de que
aparezcan dos magnitudes complejas relacionadas con la caracterizacin elctrica es
debido a que representan mecanismos microscpicos distintos. La constante o esta
relacionada con la presencia de cargas mviles en el material, o con las perdidas de
energias por choques con los atomos del material y o con la energa almacenada
en el movimiento traslacional de las cargas mviles; c esta relacionada con la
aparicin de dipolos en el material (pequeos desplazamientos de cargas ligadas),
24
ccon la energa de formacin de los dipolos y c con las prdidas de energa debido
a la interaccin dipolar con el entorno. Macroscpicamente el efecto, de c y o por
una parte, y el de o y c por otra son indistinguibles y solo se utiliza una magnitud
compleja, cuyas partes real e imaginaria engloban los pares de mecanismos
equivalentes; entonces se utiliza la conductividad efectiva o la permitividad efectiva
segn el mecanismo dominante.[7]

En la prctica, los materiales que se encuentran presentan preferentemente una
de las respuestas indicadas. As, se encuentran materiales cuya conductividad es
muy pequea y su respuesta magntica muy dbil; se denominan dielctricos y se
caracterizan por la permitividad compleja . En otros, la conductividad es muy
grande, los campos en su interior son muy pequeos, la respuesta dielctrica es,
por tanto, inapreciable y la magntica muy dbil; se denominan conductores y se
caracterizan por su conductividad. Finalmente se encuentran materiales cuya
respuesta magntica es importante y condicionar preferentemente su
comportamiento electromagntico; se denominan, en general, materiales
magnticos. [7]

2.2.1.- Dielctricos

Un dielctrico, es un material cuya conductividad es nula o muy pequea y cuya
respuesta magntica es muy dbil, por lo que se puede tomar =
0
. Su estructura
interna se caracteriza por la fuerte interaccin entre las partculas atmicas y
moleculares de forma que la aplicacin de un campo elctrico externo no modifica
prcticamente la distribucin de cargas, produciendo, tan solo, una pequea
reordenacin que se caracteriza por la aparicin de dipolos elctricos cuyo efecto se
detecta macroscpicamente. A este fenmeno se le conoce con el nombre de
polarizacin del dielctrico y puede incluir varios mecanismos. [7]

A continuacin se describe brevemente los mecanismos bsicos, suponiendo que
los dielctricos son lineales, istropos y homogneos:

25
- Polarizacin por distorsin: En ausencia de campo externo, el centro de las
masas de cargas atmicas positivas y negativas coincide. Al aplicar un campo
elctrico externo, la posicin del centro de masas de las cargas negativas se
desplaza ligeramente respecto del de las positivas, apareciendo un dipolo
atmico inducido (polarizacin por distorsin electrnica). Este tipo de
mecanismo aparece siempre. En algunas molculas existen grupos inicos
con carga de distinto signo, unidos entre s por enlaces de tipo inico; la
aplicacin de un campo elctrico externo produce un desplazamiento de unos
frente a otros generndose un dipolo elctrico inducido (polarizacin por
distorsin inica o atmica).

- Polarizacin por orientacin: Existen materiales en cuyas molculas el centro
de masas de las cargas positivas no coincide con el de las negativas
presentando un momento dipolar permanente (molculas polares), exista o
no campo elctrico externo. El ejemplo ms tpico es el agua. Ahora bien en
ausencia de campo externo, los dipolos moleculares estn orientados al azar
y no producen ningn efecto macroscpico. La aplicacin de un campo
externo produce una orientacin de los dipolos que puede detectarse
macroscpicamente. En todos los casos el fenmeno se caracteriza por el
vector polarizacin P

que se define como el momento dipolar total por unidad

de volumen (incluye la contribucin de todos los mecanismos existentes), que
depende del campo elctrico aplicado segn la expresin.[7]

P

=
0
X
c
E

(15)

Donde X
c
es la susceptibilidad elctrica, magnitud adimensional que est
relacionada con la permitividad por la propia definicin del vector desplazamiento,

D

= s

+P

= s

(1 +
e
)E

= sE

(16)

Para un dielctrico lineal, istropo y homogneo, X
c
y e son magnitudes escalares
caractersticas de cada material. En caso contrario, se siguen utilizando
formalmente las ecuaciones (1) y (2), pero la susceptibilidad y la permitividad
26
pueden ser funciones complicadas del campo (dielctricos no lineales), de la
posicin (no homogneos) o tener carcter tensorial (no istropos), pero no es
usual encontrar este tipo de materiales en aplicaciones de microondas.

Cuando el campo aplicado es variable con el tiempo, los dipolos intentan seguir
las variaciones del campo, pero su respuesta no es instantnea y depende de la
inercia propia de los dipolos y de la interaccin con las partculas vecinas.
Consecuentemente el tiempo de respuesta es distinto para los dipolos asociados a
cada uno de los mecanismos descritos. Ordenndolos de mayor a menor tiempo de
respuesta se tiene: orientacin, inicos y electrnicos, que corresponde a grupos de
mayor a menor masa. Para campos armnicos los dipolos siguen las variaciones del
campo elctrico mientras el tiempo de respuesta es menor que el periodo del campo
(frecuencias bajas). Cuando son comparables, los dipolos siguen al campo elctrico
con un cierto retraso que se traduce en un desfase temporal entre P

o D

y E

, lo que
viene caracterizado, por la permitividad compleja [7]. Cuando el periodo es mucho
menor que el tiempo de respuesta, los dipolos no pueden seguir al campo y dejan
de contribuir a la polarizacin, bien porque desaparecen (dipolos por distorsin),
bien porque quedan orientados al azar (dipolos por orientacin). Como el tiempo de
respuesta es distinto para cada tipo de dipolo, este proceso ocurre a periodos
distintos o lo que es lo mismo a frecuencias distintas dando lugar a una variacin de
la permitividad con la frecuencia que se conoce como dispersin dielctrica. Para los
dipolos generados por orientacin ocurre en la banda de radiofrecuencias y
microondas, para los inicos a microondas e infrarrojo y para los electrnicos en el
ultravioleta. [7]

En la figura 1 se muestra una representacin de la dispersin dielctrica y se
puede observar, en primer lugar, que la real de la permitividad, e, presenta
escalones en determinadas bandas, cada uno de los cuales representa un tipo de
contribucin dipolar que desaparece al aumentar la frecuencia y, por tanto, una
disminucin de e, pero la forma concreta de la curva difiere en la zona de
orientacin, de la inica y electrnica. La razn es que los procesos no son
exactamente iguales, en el primer caso es un proceso que se conoce como
relajacin dielctrica, mientras que n los otros dos corresponde a absorcin
resonante. En segundo lugar, la parte imaginaria, e, presenta mximos en las
27
mismas bandas de frecuencia que corresponde a un aumento de la energa
electromagntica transferida al material (energa perdida) a travs de las
interacciones de los dipolos con el entorno, el cual se opone a las variaciones de su
direccin y sentido. Cuando estos dipolos desaparecen y ya no contribuyen a la
polarizacin (lo que ocurre al aumentar la frecuencia) tampoco contribuyen a las
perdidas.

Desde un punto de vista macroscpico, e caracteriza la capacidad de
polarizacin y de almacenar energa del dielctrico, pues se demuestra que la
energa almacenada en un campo elctrico en un volumen de dielctrico viene
dada por:

=
1
2
]
v
e
2
(17)
donde es el modulo del campo elctrico


e 0iientacion


IonicaElectionica
e


10
3
10
6
10
9
10
12
10
15

NicioonuasIRvisible0v
Fiecuencia (Bz)
Figura 1. Respuesta en frecuencia de la permitividad dielctrica (dispersin dielctrica).
Fuente: Miranda J.M., Sebastin [7].

La parte imaginaria,e representa la prdida de energa debida a los mecanismos
de interaccin de los dipolos con el entorno que generan el desfase de la respuesta.
28
El clculo se puede hacer por similitud del efecto de e con la conductividad puesto
de manifiesto en la ecuacin (14) y resulta

d
= ]
v
e
2
(18)

En un dielctrico real pueden existir, adems, cierto movimiento de cargas debido
a las impurezas o imperfecciones del material. Para una caracterizacin completa se
debe incluir los efectos de la conductividad, aunque sean pequeos, y se debe
utilizar una permitividad efectiva como la definida en (36); pero, por un lado, el
efecto de o es pequeo y experimentalmente indistinguible de las prdidas debidas
a e y, por otro, el de o, si existe, es indistinguible del almacenamiento de
energa debido a e.

Como consecuencia se utiliza la permitividad compleja como caracterstica del
dielctrico asumiendo que incluye todos los efectos presentes, es decir

e
c]]
- e - e (16)

Entonces, la parte real representa el mecanismo de polarizacin mas el posible
almacenamiento de energa en el movimiento traslacional de las cargas mviles que
puedan existir y la parte imaginaria incluye todos los procesos de prdida de
energa existentes.

Es usual encontrar otros parmetros para la caracterizacin de dielctricos como
los que se definen a continuacin:

roroo: e

s
s
0
=
s
s
0
-
s
s
0
= e

- e

(19)

onnpros: on o
s
s
(20)

oncocrco: o
d
e (21)

Incrroccon: n
V
e

(22)
29

Como se puede deducir fcilmente la tangente, de prdidas y la conductividad
dielctrica son parmetros alternativos a la parte imaginaria. La utilizacin de uno o
de otros depende de lo que se quiera resaltar, pero en todos los casos las
magnitudes incluyen todos los mecanismos relacionados posibles: as por ejemplo,
no hay que confundir la conductividad dielctrica con la conductividad que puede
tener un dielctrico debida a una pequea cantidad de cargas mviles de la que se
hablo anteriormente; la conductividad dielctrica, igual que e incluye todos los
mecanismos de perdidas.

2.3.- Normalizacin de Guas de Onda

Es necesario establecer unas ecuaciones bsicas de propagacin de ondas
electromagnticas en guas de onda con la finalidad de conocer las constante de
corte dentro de la gua y categorizar las presentes en el laboratorio de
comunicaciones de LUZ.

Las ondas electromagnticas pueden propagarse en el espacio libre o de forma
guada a travs de espacios confinados llamados lneas de transmisin y guas de
onda.

En las lneas de transmisin existe una frecuencia mxima a la cual se propagan
las ondas electromagnticas en ese medio y siempre lo hacen en el modo
transversal electromagntico.

A diferencia de las lneas de transmisin, que tienen una frecuencia mxima de
operacin, las guas de onda tienen una frecuencia mnima de operacin que se
llama frecuencia de corte. Es una frecuencia limitadora nica; las frecuencias
inferiores a la de corte no se propagan por las guas de onda.

Si se supone guas de onda rectangulares para banda X (8-12 GHz) (ver figura 2)
denominadas WR-90 las cuales son utilizadas en el laboratorio de comunicaciones
de LUZ, se tiene que sus dimensiones son 1,016cm x 2,286cm (Y x X). La
30
frecuencia de corte responder a la ecuacin:

c
=
c
2u
=
3.10
8
2.(0,02286)
= ,E (23)

En la que:
f
c
:Frecuencia de corte en Hz.
a: Longitud trasversal en metros.


Figura 2.Normalizacin de guas de onda.
Fuente: Miranda J.M., Sebastin [7].

En las guas de onda rectangulares se tiene que el modo dominante es el
correspondiente a la frecuencia de corte menor, ste es modo TE
10
quiere decir que
el campo elctrico es perpendicular a la direccin de propagacin de la seal.

La constante caracterstica del medio dentro de la gua de onda para el modo TE
10
para condicin de corte es:

K
c
=
n
u.b
=
n
(0,0286).(0,01016)
=
n
0,0232
= , ro (24)

31
Donde:
a: Longitud trasversal de la cota X de la gua de onda WR-90.
b: Longitud trasversal de la cota Y de la gua de onda WR-90.

En este caso K
0
se define como la constante de propagacin de la onda en vaco y
depende slo de la frecuencia de aplicacin de la onda electromagntica.
Es necesario definir la constante de corte en vaco de la gua de onda.
K
0
=
2n]
c
C
0
(25)

Con:
f
c
= 6,557GHz

f
c
: Frecuencia de corte de la gua de onda WR-90
C
0
= 3.10
8
m/s

C
0
: velocidad de la luz en el vaco.

Ahora es necesario el clculo de la constante de fase en el vaco en la gua de
onda WR-90.

[
0
= (K
0
)
2
-(K
c
)
2
(26)

Con:
K
c
= 135,2633 rad/m

K
c
: Constante caracterstica de la gua de onda WR-90
K
0
= 137,4246 rad/m

K
0
: Constante de corte de la gua de onda WR-90

0
= 24,2766 rad/m

0
: Constante de propagacin en la gua de onda WR-90.

De tal manera que el parmetro
0
es conocido, es decir, es constante en las
pruebas en el laboratorio de comunicaciones de LUZ.

32
2.4.- Caracterizacin Experimental de Materiales

Caracterizacin experimental significa medida de las magnitudes que caracterizan
el comportamiento electromagntico de un material, que han sido definidas en los
apartados anteriores: la permitividad compleja,e , para dielctricos y la
conductividad, o , para los conductores.

2.4.1.- Tcnica de Medida: Fundamento y Clasificacin.

Todas las tcnicas de medidas para la caracterizacin presentan aspectos
comunes. En primer lugar hay que destacar que todas estn basadas en medidas
indirectas, es decir, el material es introducido en un dispositivo y se mide el
comportamiento de ste que se ve afectado lgicamente por la presencia del
material. Se denomina clula de la medida al dispositivo y muestra el trozo de
material inducido.

En la mayora de los casos, la medida se realiza por comparacin: se mide el
comportamiento del dispositivo sin y con la muestra y de la comparacin de los
resultados se obtiene los parmetros deseados del material. Esto lleva a otro
aspecto fundamental de cualquier tcnica de medida: la teora bsica que permite
obtener la relacin entre los parmetros del material y las magnitudes medidas. En
general, se elige la clula de medida y la forma del material de tal forma que
admitan un tratamiento analtico, facilitando la obtencin de esta relacin. Sin
embargo, hay situaciones en que esto no es posible, bien porque el material no
admita tratamiento mecnico, bien porque no se disponga de cantidad suficiente;
en estos casos debemos recurrir a tratamientos numricos o teora de
perturbaciones (aproximados).[7]

Hay diferentes clasificaciones de las tcnicas existentes segn el aspecto que se
considere. As se puede clasificar en funcin de la clula utilizada (en medio libre,
gua o lnea y resonador) o de los parmetros medios (reflexin, transmisin,
puente) entre otros. A grandes rasgos existen los grupos de tcnicas:

33
Tcnicas dependientes de reflexin y transmisin en guas o lneas: Se basan
en el estudio de la influencia de la introduccin de la muestra sobre la reflexin y/o
transmisin de la onda electromagntica a travs de una gua o lnea. Presentan
una buena sensibilidad con poca cantidad de material pero necesitan de un buen
mecanizado de la muestra para adaptarse a las dimensiones de las clulas medidas.

Tcnicas dependientes de reflexin y transmisin en medios libres: El
fundamento es anlogo a las anteriores, pero la interaccin onda-muestra se realiza
en el medio libre utilizando generalmente una muestra en forma de lmina.
Presenta la ventaja de no necesitar un mecanizado especial, pero el inconveniente
de necesitar muestras grandes para evitar errores por efectos de bordes. Presentan
una sensibilidad a prdidas. Se incluye dentro de este grupo las denominadas
tcnicas de lnea o gua con terminacin abierta. Este tipo de tcnicas presentan la
ventaja de medidas no destructivas y el inconveniente de teoras complicadas y
aproximadas.

Tcnicas de puente: Este tipo de tcnicas se parecen a los anteriores en
cuanto a la clula utilizada, puesto que pueden realizarse en medio libres o guas.
La diferencia est en la forma de medir. Se realiza por comparacin de dos ondas
coherentes que recorren caminos distintos, en uno de los cuales est el material son
fundamentalmente comparadores de impedancia como los puentes de baja
frecuencia. La medida se lleva a cabo produciendo interferencia destructiva entre las
dos ondas y detectando un mnimo (deteccin en cero). Para ello se necesitan
patrones de impedancia variables (atenuadores y defasadores), pero presenta la
ventaja de eliminar cualquier problema de defectos en la respuesta de los
detectores.

Tcnicas en resonadores: La muestra es introducida en un resonador y se
mide su influencia en la frecuencia de resonancia y factor de calidad. Son los
mtodos ms sensibles y preferidos para medidas en materiales de bajas prdidas.
Adems, pueden realizarse con pequeas cantidad de material. Por el contrario, es
preciso mecanizar bien la muestra y slo permiten medidas a frecuencias fijas. La
determinada por el resonador.

34
2.4.2.-Consideraciones sobre la eleccin de la tcnica:

Para seleccionar una tcnica para caracterizar un material es conveniente unas
consideraciones previas para la eleccin ms adecuada. La eleccin estar
condicionada por varios factores: objetivo de la medida, material a medir,
disponibilidad en laboratorio y frecuencia a realizar la medida. En funcin de ellos
resultar ms adecuada una u otra tcnica.

Las tcnicas en gua o libre sern tiles cuando se desea medir con buena
precisin a frecuencias bajas y medias dentro del rango de microondas. Son
aplicables a los materiales con bajas o altas prdidas pero inapropiadas cuando no
permiten un fcil mecanizado. Tambin resultan adecuadas cuando el objetivo es el
estudio de la variacin de los parmetros del material en funcin de la
temperatura.

Las tcnicas en medio libre resulta ms adecuada para caracterizar materiales
con prdidas importantes, aunque no admitan un fcil mecanizado. Su aplicacin es
ms fcil cuanto mayor es la frecuencia, pero no resultan tiles cuando se desea
control de temperatura. Precisan de gran cantidad de material. Son las precisas
para medidas en control en procesos industriales.

Las tcnicas de puente son tcnicas muy precisas al estar basadas en deteccin
por cero, pero de aplicacin limitada ya que necesitan buenos patrones de
impedancia, lo que resulta difcil de conseguir.

Las tcnicas en resonadores son las ms sensibles, por lo que son las ms tiles
para medidas precisas en materiales de bajas prdidas. Por lo contrario, resulta
imposible utilizarlas para materiales con altas prdidas y solo permiten medidas a
frecuencia fija. Con una eleccin adecuada del resonador pueden ser utilizadas a
cualquier frecuencia: resonador en coaxial para bajas frecuencias, en guas para
medias y resonador tipo Fabry-Perot para altas. Pueden ser utilizadas para control
de temperatura y solo precisan de pequeas cantidades de material a medir pero
fcilmente mecanizable. Pueden ser aplicables para materiales en formas irregulares
si se utiliza teora de perturbaciones para su anlisis.
35

En el caso de estudio, se tiene que en el laboratorio de comunicaciones se cuenta
con guas de onda con adecuado mecanizado, adicionalmente la muestra de
material al que se le aplica la tcnica experimentalmente es petrleo que es
semilquido por lo cual es necesario confinarlo, adicionalmente no es posible con los
equipos presentes hacer barridos de frecuencia por lo cual la tcnica seleccionada
que es objeto de sta investigacin es la Gua de Onda Cortocircuitada o tambin
conodida como Lnea Cortocircuitada SCL por sus siglas en ingls, se denominar
tambin Mtodo de Von Hippel que responder la ecuacin de Roberts - Von Hippel.

2.5.-Caracterizacin experimental de dielctricos.

Se ha establecido las magnitudes que caracterizan el comportamiento
electromagntico de los dielctricos. En la prctica, las magnitudes ms utilizadas
son la permitividad relativa compleja o la permitividad relativa (parte real) y la
tangente de prdidas. En adelante se tomara preferentemente el ltimo par de
magnitudes, por lo tanto ser necesario analizar el efecto de la muestra sobre dos
magnitudes experimentales reales (o una compleja).

2.5.1.-Tcnica en la Gua Cortocircuitada

Base terica de la tcnica: La tcnica fue inventada por el cientfico Arthur Von
Hippel y perfeccionada por el profesor de la Universidad de Oxford Steven Roberts
quien agrega un mtodo grfico para el desarrollo de la ecuacin que describe el
mtodo.

Consiste en introducir la muestra a una gua terminada en cortocircuito y adosada
a ste, como se muestra en la figura (3). La muestra debe tener la misma forma de
la gua, su superficie lateral debe ajustar perfectamente con la misma.

Como la gua de onda utilizada es la correspondiente al Laboratorio de
Comunicaciones de la Universidad del Zulia, se supone la gua de onda rectangular
36
en banda X, en este caso 9,51 GHz, y modo de propagacin TE
10
.

Se denomina:

y
0
= [
0
(27)
y = [ (28)

Como las constantes de propagacin en la gua vaca y en la gua llena de
dielctrico respectivamente. Se desprecia las prdidas en las paredes, por lo que
0

ser real y ser complejo debido a las prdidas en el dielctrico bajo prueba.[7]

Tomando como origen las coordenadas de interface dielctrico-aire, se puede
escribir los campos de la forma:

Zona vaca:

=
1
+
(
-][
0
z
+I
1

][
0
z
) (29)
E
1

=
L
1
-

z
1
(
-][
0
z
-I
1

][
0
z
) (30)


Zona llena de dielctrico:

=
2
+
(
-][z
+I
2

][z
) (31)
E
2

=
L
2
-

z
2
(
-][z
- I
2

][z
) (32)

37

Figura 3. Esquematizacin de la SCL
Fuente: Miranda J.M., Sebastin [7].

Donde
1
y
2
son los coeficientes de reflexin en el plano de carga de la interfase
visto desde la zona vaca y desde la zona llena respectivamente y Z
i
son las
impedancias en modo TE
10
para cada una de las regiones:

Z
1
=
o
0
[
0
(33)
Z
2
=
o
0
[
(34)

Se puede obtener una relacin entre ambos coeficientes imponiendo las
condiciones de contorno. En efecto, en el cortocircuito el campo elctrico debe
anularse, ya que es transversal en el modo propagante y, por tanto, si d es la
longitud de la muestra.[7]

2
() = =
-][d
+I
2

][d
(35)
De donde

I
2
= -
-2][d
(36)
38

En la interface, z=0, debe cumplirse:

1
() =
2
() (37)
E
1
() = E
2
() (38)

Y aplicando estas condiciones en (29),(30),(31) y (32), resulta:

Z
1
1+I
1
1-I
1
= Z
2
1+I
2
1-I
2
(39)

Y teniendo en cuenta (35) y (36) y la definicin de tangente, resulta:

tun ([d)
[d
= -
](1+I
1
)
[
0
d(1-I
1
)
= K (40)

La magnitud K puede calcularse a partir de magnitudes medibles
experimentalmente por lo que la ecuacin (40) puede ser utilizada para el clculo
de y de ella se puede calcular la permitividad comparando la relacin de
dispersin de la gua vaca y llena de dielctrico, resultando: [7]

e

=
[
2
+K
c
2
[
0
2
+K
c
2
(41)
La forma en la cual se aplica la tcnica en el laboratorio de comunicaciones es
utilizando una gua ranurada con un medidor de onda estacionaria que permite
medir la longitud de onda, las distancias desde el cortocircuito al mnimo de onda
estacionaria con muestra l y sin muestra l
0
y la razn de onda estacionaria S. La
ecuacin (40)puede modificarse teniendo en cuenta que:

I
1
=
1-S
1+S

2][
0
I
min
(42)

Donde l
min
= l-d es la distancia desde la interface al mnimo de onda estacionaria
y resulta.
K = -
1
[
0
d
.
1-]Stun|[
0
(I-d)]
S-tun|[
0
(I-d)]
(43)

Y teniendo en cuenta que
39
tan([
0

0
) = (44)

Se obtiene
K = -
1
[
0
d
.
1-]Stun|[
0
(d+I
0
-I)]
S-tun|[
0
(d+I
0
-I)]
(45)

La ecuacin (45) es trascendente y presenta infinitas soluciones para [7]. Para
determinar la solucin correcta sin ambigedad es preciso conocer una solucin
aproximada con anterioridad.

Montajeexperimental: (Ver figura 4 para un esquemtico general del montaje con
equipos de laboratorio de comunicaciones) El dispositivo utilizado para la
determinacin de constantes dielctricas mediante el mtodo de la gua
cortocircuitada consta esencialmente de los siguientes elementos:


Figura 4. Dibujo esquemtico de la disposicin de los diferentes elementos en el montaje
experimental.
Fuente: Leybold Didactics.T.4.4.3 Microwave Propagation in Waveguides.[8]
40
Un diodo gunn con su correspondiente alimentacin y modulacin que genera una
seal 9,51 GHz.

Una gua rectangular ranurada de dimensiones interiores. a = 10,030 mm b =
22,298 mm Correspondiente a una guia de onda de tipo WR-90 Un medidor de
ondas estacionarias que proporciona valores de tensin relativos en dB.

Una sonda (antena diodo actuando como receptora) acoplada a un sistema que
permite su desplazamiento a lo largo de la gua. El movimiento se realiza a partir de
un tornillo micromtrico que nos proporciona la posicin de la sonda respecto a una
cierta posicin de referencia

Una serie de clulas de las mismas dimensiones transversales que la gua y
diferentes espesores cuya misin va a ser la de servir de alojamiento para la
muestra. Debido a que en muchas ocasiones va a interesar medir muestras lquidas,
la parte de la gua rectangular a la que se va a conectar la muestra est terminada
en una ventana de cuarzo de manera que el lquido quede confinado en la zona de
inters.



Figura 5. 1.Modulo de Medicin y control 2. Medidor de potencia RF. 3. Unidad de adquisicion
de datos. 4. Arreglo de guia de onda ranurada.
Fuente: Prez y otros.[1]

41

Figura 6: : 1. Diodo Gun. 2. Modulador 3.Polarizador. 4. guia de onda ranurada. 5 Clula
Portamuestra
Fuente: Prez y otros [1]



Figura 7. Clula portamuestra
Fuente: Prez y otros [1]

Las figura 5 y figura 6, muestran los diferentes componentes que conforman la
estacin experimental. La figura 7 muestra la clula portamuestra utilizada.

La obtencin de los parmetros se realiza tomando muestras repetidas sobre el
mismo medio, de forma de garantizar la tendencia a un valor medio. Las mediciones
fueron hechas con diez repeticiones, tomando el promedio de cada una como valor
de entrada para el anlisis matemtico del mtodo de Roberts-Von Hippel.

Segn experimentos realizados anteriormente y reseados en [1], imposibles de
replicar debido a que las muestras cambian sus propiedades con el tiempo, se
42
espera que se corroboren los resultados:

e

= e

-e

= , -,9
Tal valor de permitividad es el insumo que se tomar como valor terico, de
referencia o comparacin para los valores obtenidos de la nueva aplicacin de
algoritmo desarrollado en la investigacin.

Con

= ,
+
0
- = ,
= 9, E

Tales valores son insumo para cualquier desarrollo matemtico que resuelva la
ecuacin de Von Hippel para la tcnica SCL, slo es aplicable en el Laboratorio de
Comunicaciones de LUZ o ambientes similares. Hay que tener en cuenta que la
frecuencia debe ser fijada con anterioridad, debido a que si se especifica un rango,
en este caso Banda X (8 a 12 GHz) el resultado pudiera ser drsticamente diferente,
esto es por el carcter dispersivo de la muestra.
43
CAPTULO III
CRITERIOS METODOLGICOS

Los criterios metodolgicos expresan los aspectos del cmo de la investigacin,
se describe la tipologa de la investigacin, el diseo y las unidades de estudio. De
la misma manera las tcnicas e instrumentos empleados durante la investigacin.

3.1. Nivel de Investigacin

Para Arias [9] el nivel de investigacin se refiere al grado de profundidad con que
se aborda un objeto o fenmeno.

De esta manera, Sabino [10] seala que el nivel de la investigacin puede
subdividirse segn su propsito en Bsica y Aplicada y segn la profundidad con que
se aborda el tema: en exploratoria, documental, descriptiva, correlacional y
explicativa.

Segn lo anteriormente expuesto esta investigacin es del tipo Aplicada, debido a
que el trabajo tiene por finalidad utilizar conocimientos previos para afectar una
realidad y convertirla en otra de segn los criterios del investigador o grupo social
generando conocimiento nuevo en el proceso. En este sentido esta investigacin
busca una nueva forma de resolver una ecuacin que hasta ahora no tiene solucin
de forma que sea nica y fsicamente razonable.

Asimismo, esta investigacin es del tipo evaluativa segn la profundidad con la
que se ha abordado el tema, Arias [9], define la investigacin explicativa como la
caracterizacin de un hecho, fenmeno o grupo con el fin de establecer su
estructura o comportamiento.

44

De esta forma, la presente investigacin pretende definir una propuesta de
algoritmo, que es un proceso de pensamiento, para la solucin del problema
planteado aos atrs en el grupo social determinado por los usuarios de
electromagnetismo aplicado a la caracterizacin de materiales.

3.2. Diseo de la Investigacin

Segn Arias, el diseo de investigacin es la estrategia que adopta el
investigador para responder al problema planteado.

En esta investigacin se definir y se justificara el tipo de investigacin, segn el
diseo o estrategia por emplear.

En atencin al diseo, la investigacin se clasifica en investigacin documental y
experimental. Una investigacin documental es aquella que se basa en la obtencin
y anlisis de datos provenientes de materiales impresos u otros tipos de
documentos, Arias [9].

La investigacin Experimental es aquella que consiste en someter a un objeto o
grupo de individuos a determinadas condiciones o estmulos (variable
independiente), para observar los efectos que se producen (variable dependiente),
Arias [9].

Segn lo anterior, este tipo de investigacin es documental, debido a que en la
misma se obtiene la informacin preliminar para la formulacin de las ecuaciones de
materiales impreso, as mismo para el diseo e implementacin del algoritmo y por
ltimo al momento de validar el software se compararn los resultados con otros
obtenidos en investigaciones ya publicadas.

Adicionalmente, es de tipo experimental, debido a que en el desarrollo del
algoritmo, teniendo en cuenta que se conoce los resultados de la variable
dependiente se hace variar a travs de diferentes algoritmos la variable
45
independiente de forma que se obtenga la opcin ptima entre los algoritmos a
utilizar controlando as las variables en juego.

3.3. Metodologa Aplicada

Para el desarrollo de esta investigacin se plantearon 3 fases a seguir, las cuales
tienen el propsito de satisfacer los objetivos de la investigacin basados en una
metodologa planteada por Clint Smith [28], donde se fundamentan los pasos
necesarios para el desarrollo de un trabajo de investigacin como el propuesto.

En consecuencia, para un mejor entendimiento de la investigacin se hace
necesario explicar de manera breve cada uno de los pasos a seguir durante el
desarrollo, con el fin de conocer el objetivo final que se persigue con esta
investigacin.

Fase I: Revisin bibliogrfica que permitir establecer el estado de arte. Para
esta fase se emplearan tcnicas metodolgicas propias de la investigacin
documental que nos permitirn describir, escoger el mtodo que permita resolver la
ecuacin de Von-Hippel, as como tambin la descripcin de la ecuacin y mtodo,
adems de identificar las facilidades de desarrollo de algoritmos para el clculo de
las variables independientes de la ecuacin de Von-Hippel.
Esta etapa est marcada por varios hitos como lo son:
Descripcin de la Tcnica de Gua Cortocircuitada.
Descripcin de la Tcnica de la Gua Cortocircuitada en el laboratorio de
Comunicaciones.
Descripcin de la Ecuacin de Von Hippel como un problema matemtico.
Descripcin de las limitaciones de solucin de la ecuacin.

Fase II: Formulacin del modelo matemtico que permita la solucin a la
ecuacin de Von-Hippel. De forma que se obtenga un mtodo de anlisis de datos
una vez realizadas las mediciones.

46
En esta fase se llevar a cabo todo lo referente al nuevo software, donde se
formularon las ecuaciones necesarias para la solucin del problema de SCL:

Para realizar esta fase es necesario cumplir con las siguientes actividades:
Planteamiento de premisas para el algoritmo de solucin.
Planteamiento de herramientas matemticas para ser ejecutadas en un
algoritmo.
Implementacin del software en Matlab para simular el anlisis de datos
obtenidos de la aplicacin de la tcnica SCL en el Laboratorio de Comunicaciones.

Fase III: Validacin del software.

Una vez llevada a cabo la parte del software se procede a recopilar los datos
obtenidos para ser analizados. Para ello se proceder a observar y comparar con
casos de estudio previamente seleccionados el comportamiento de los datos de
manera visual en cada una de las simulaciones ejecutadas.

Para llevar a cabo esta fase de la investigacin es necesario realizar las siguientes
tareas:

1. Validacin del software mediante la comparacin de los distintos tipos de
sustancias para el estudio de la solucin de SCL.
2. Validacin del software mediante la comparacin de los resultados obtenidos
con casos de estudio previamente seleccionados.


CAPITULO IV
PRESENTACIN Y ANLISIS DE RESULTADOS

Este captulo comprende los resultados obtenidos al cumplir las etapas de la
investigacin. Adems, el anlisis de los mismos de acuerdo a los objetivos que se
propusieron para la investigacin.

Este captulo presenta el desarrollo del algoritmo solucin de la ecuacin de Von
Hippel utilizando la tcnica de la Gua de Onda Cortocircuitada en el Laboratorio de
Comunicaciones de LUZ.

La solucin de la ecuacin de Von Hippel no pasa por ser de carcter analtico.
Adicionalmente presenta infinitas soluciones que en trminos de la interpretacin
fsica no ofrece la informacin de forma unvoca, de tal modo que la solucin de la
ecuacin para el mtodo de Gua Cortocircuitada es necesariamente un mtodo
numrico.

Un mtodo numrico es un procedimiento mediante el cual se obtiene, casi
siempre de manera aproximada, la solucin de ciertos problemas realizando clculos
puramente aritmticos y lgicos (operaciones aritmticas elementales, clculo de
funciones, consulta de una tabla de valores, clculo preposicional, entre otros.)
prescindiendo del anlisis general de las ecuaciones para dar una solucin
(respuesta analtica). Un tal procedimiento consiste de una lista finita de
instrucciones precisas que especifican una secuencia de operaciones algebraicas y
lgicas (algoritmo) de manera que se particularicen las ecuaciones que definen el
fenmeno de forma analtica al caso particular de estudio que producen una
aproximacin de la solucin del problema (solucin numrica).

Es necesario definir un algoritmo. Un conjunto de procedimientos sistemticos
que convierten unos datos de entrada en datos de salida se llama algoritmo. La
secuencia de pasos que lo definen debe ser ejecutada en orden lgico,
48
generalmente dicha secuencia se lleva a un computador para desarrollar un
software que realice las tareas propias del mismo. Sin embargo, no necesariamente
debe ser un software el destino de un algoritmo, pueden existir otras formas de
ejecucin del mismo.

Como resultado de la investigacin se desarrollaron algoritmos que vieron su
ejecucin en software y otra forma, a travs del ensayista del mtodo de Von Hippel
con la ayuda de mtodos grficos que describen cada aspecto del fenmeno fsico
de transmisin y reflexin de ondas guiadas particularmente las existentes en el
laboratorio de comunicaciones de LUZ.

Para la descripcin de los pasos que dan solucin a la ecuacin de Von Hippel se
deben definir unas premisas mediante las cuales se considera en primer lugar que
condiciones aseguran que est resuelto el problema, un punto de partida y al menos
un mtodo de ejecucin.

4.1. Premisas para el diseo de un algoritmo que de solucin a la
ecuacin de Von Hippel

La ecuacin de Von Hippel para el mtodo de la gua cortocircuitada es la
presentada a continuacin:
tan (d)
d
= (46)
constante e C
u incognita e C

Fcilmente se puede ver que es posible definir dos funciones de variable compleja
que deben coincidir para que se cumpla la condicin de la ecuacin (46):

tan(u) = u (47)

Finalmente el resultado complejo de la tcnica es consecuencia de la ecuacin:

49
e

=
[
2
+K
c
2
[
0
2
+K
c
2
(48)

Se pueden redactar las premisas de solucin:
El mtodo debe ser independiente de mediciones anteriores.
La solucin de pertenecer al conjunto de nmeros complejos tan(u) y a Ku e (.
La solucin debe estar circunscrita al caso de propagacin de campos en una gua
de onda WR-90 existente en el laboratorio de comunicaciones de LUZ y utilizada en
la aplicacin de la tcnica de la gua cortocircuitada.

4.2. Algoritmo previo utilizado en publicaciones previas para
medicin de permitividad en petrleo utilizando Laboratorio de
Comunicaciones en LUZ

En el desarrollo de la investigacin que llev a la publicacin Medicin de
Permitividad Dielctrica Compleja a 9.51 GHz [1] llevada a cabo en el laboratorio
de comunicaciones de la Universidad del Zulia los autores utilizaron para el anlisis
de los datos un software basado en el error de dos funciones definidas a partir de la
ecuacin de Von Hippel, se hace una aproximacin temprana al valor univalente de
la permitividad, sin embargo se requirieron datos previos de su valor complejo para
que el software funcione efectivamente.

El algoritmo se basa en encontrar cual es el valor de constante de propagacin
para lo cual se cumple que:

|tan(u) - Ku| - (49)

Esto se logra a travs del valor absoluto del error entre ambos lados de la
ecuacin (46) luego aplicando la ecuacin (48) descrita en el captulo 2 para tener
una funcin R
2
a R
2
donde el dominio son todos los nmeros complejos y la salida es
el valor complejo de permitividad utilizando como medio o funcin de relacin las
ecuaciones (47) y (48).

50
La sintaxis del programa en Matlab

se muestra en Anexo A.1 y un ejemplo de
ejecucin del mismo mostrando grficas y valores resultantes estn en Anexo A.2.

Este procedimiento tiene dos debilidades que deben ser modificadas y
convertidas en fortalezas.

La primera es que es necesaria una primera aproximacin a los valores de
permitividad real e imaginaria con una exactitud que exige mediciones previas con
otro mtodo para obtenerlas y poder utilizarlas.

La segunda es que aunque da un valor bastante aproximado el mismo est
garantizado que se encuentra dentro del conjunto de llegada de f(x,y)=Kd pero no
garantiza que est dentro del conjunto solucin de f(x,y)=tan(d) por tanto aunque
aproximado no cumple totalmente con la premisa expuesta en la ecuacin (46).

La figura 9 muestra el algoritmo base publicado en el libro Ingeniera de
Microondas[7].

51



52

Figura 9. Algoritmo base desarrollado en software


53
4.2.1 Solucin de la dependencia de la tcnica SCL a mediciones anteriores
con otro mtodo.

Para independizar el anlisis de los resultados de alguna medicin previa es
necesario obtener informacin sobre una primera aproximacin del valor de
permitividad compleja a partir de la propia tcnica SCL aplicada.

De la ecuacin (49) se tiene que la tcnica ofrece, adems del valor en
centmetros de la ubicacin del primer mnimo de campo elctrico dentro de la gua
de onda, el valor de Relacin de Onda Estacionaria S que est relacionado
directamente con la magnitud del coeficiente de reflexin.
.

K = -
1
[
0
d
1+]Stan([
0
(d+I
0
-I))
S tan([
0
(d+I
0
-I))
(45)

Donde:
K: Constante conocida producto de la medicin

0
: Constante de fase en el vaco.
d: Profundidad del porta muestras, conocido.
l: Distancia del cortocircuito al primer mnimo con muestra.
l0: Distancia del cortocircuito al primer mnimo sin muestra.
S: Relacin de Onda Estacionaria con muestra, parmetro conocido producto de
la medicin.

La figura 8 obtenida de la publicacin Basics of MeasuringtheDielectricProperties
of Materials [10] de Agilent

mostrada a continuacin, indica una relacin emprica
entre la permitividad dielctrica del medio y la magnitud del coeficiente de reflexin
cuando el segundo medio est bajo muestra.

De manera que a partir de la medicin de S y tal cantidad se relaciona con el
coeficiente de reflexin, con la tcnica SCL se puede obtener, utilizando el grfico de
la figura 8, una primera aproximacin de permitividad relativa en su parte real.

ROE
54
La parte imaginaria de la permitividad compleja se supone muy baja, su valor
est entre el valor cero (0) y el valor de 10% del valor de permitividad relativa real
segn MicrowaveHandbook N. Marcuvitz MIT PRESS 1951 [11], de forma que fijar
cero (0) como primera aproximacin ofrece suficiente exactitud de ste parmetro.



Figura 8. Grfica del comportamiento de Relacin de Onda Estacionaria vs Constante
Dielctrica
Fuente: Basics of Measuring the Dielectric Properties of Materials [10] de Agilent

Con la forma expuesta se independiza el mtodo de alguna medicin previa, con
obtener Relacin de Onda Estacionaria se puede determinar Constante Dielctrica
Compleja inicial de manera de tener una primera aproximacin de entrada al
algoritmo final.



55
4.2.2 Solucin de la imprecisin de la respuesta del mtodo con respecto al
conjunto de llegada tan(d)

Para eliminar la imprecisin que existe entre la solucin que da el mtodo y el
conjunto de llegada tan(d) es necesario comprender la base matemtica del
mismo.

En la publicacin Simplificacion del mtodo del corto circuito para la medicin de
la permitividad dielctrica [12] se muestra una idea de procesamiento, en la misma
se hace con consideraciones que no estn incluidas en la presente investigacin
pero se usa el mismo proceso de pensamiento.

En dicho publicacin se llega a la ecuacin:

tanx
x
= K (51)

Adicionalmente el proceso expuesto en el libro publicado en el ao 2000 por Mc
Graw-Hill Mtodos Numricos Aplicados en Ingeniera[12] expone en pag 119 la
solucin de la ecuacin:

tan = (52)

Se analiza que el conjunto solucin cumple con:

- (53)

En la presente investigacin, no se llegar al resultado por el mismo camino. Para
comenzar el valor de la Relacin de Onda Estacionaria es conocido y viene de la
misma medicin aplicando la tcnica de forma que ofrece mejor tratamiento de los
datos que la consideracin tomada en la referencia Simplificacion del mtodo del
corto circuito para la medicin de la permitividad dielctrica [12]. Sin embargo
garantizar que los resultados pertenezcan a la funcin que se est aproximando es
un punto de partida para mejorar el anlisis de las mediciones.
56

Desde el algoritmo base se tiene una aproximacin cercana del valor de que
ofrece un resultado que para la investigacin que gener el artculo referenciado en
[1] se considera aceptable. Sin embargo el valor obtenido es uno que es complejo
que est cercano al valor inicial dado como primera aproximacin (aproximacin
temprana)

inicial
=
inicial
j
inicial
(54)

Adems es cercano a los valores que cumplen con la condicin de la ecuacin
(49):

|tan(u) -Ku| - (49)

Sin embargo tal condicin implica que:

tan([) = K[ (55)

Eso quiere decir que si se definen dos funciones de dominio y rango complejo:

() = tan ([) (56)

() = K[ (57)

Con

= +

El valor de constante de propagacin debe ser tal que pertenezca a f(z) y a la
vez pertenezca al conjunto g(z).

Si se tiene en cuenta el lugar geomtrico de g(z) segn la ecuacin (57) es todo
el plano complejo, cualquier valor de cumple con la condicin impuesta por dicha
ecuacin.
57

Si se inspecciona la ecuacin (56) es fcil notar que el lugar geomtrico de f(z)
no son todos los nmeros complejos por tanto es necesario garantizar la
interseccin de los conjuntos numricos f(z) y g(z) de tal forma que se cumpla la
condicin impuesta por (49) de forma exacta mejorando as la precisin del mtodo
y rompiendo con la posible ambigedad de resultado producto del redondeo de los
mtodos numricos.

Claramente se puede decir que la interseccin entre las funciones (56) y (57) es
la correspondiente a f(z).

Para ilustrar mejor ntese el ejemplo de la figura 10.


Figura 10. Grfica de tan(d) con obtenido del algoritmo base (derecha) y grfico de tan(z)
con z todo el plano complejo.
Fuente: Flores, Daniel.

Para una mejor y ilustracin en la figura 11 se pueden observar ambos grficos
con la misma escala y en el mismo rango. Ntese en la figura de la derecha el punto
solucin de alguna corrida del mtodo SCL y en la figura de la izquierda una grfica
de la tangente de variable compleja.
-100 -80 -60 -40 -20 0 20 40 60 80 100
-200
-150
-100
-50
0
50
100
150
200
-3.5 -3 -2.5 -2 -1.5 -1
-13
-12.5
-12
-11.5
-11
-10.5
58

Figura 11 Grfica de tan(d) con obtenido del algoritmo base (derecha) y grfico de tan(z)
con z todo el plano complejo en el mismo rango y escala.
Fuente: Flores, Daniel.

Si se superpone ambas grficas y utilizando herramientas de dibujo elementales
se puede notar que el valor encontrado anteriormente no pertenece a tan(z) y por
tanto a f(z) y por el otro que es posible determinar un nuevo valor de tan(d) que si
estara dentro de f(z) y a la vez dentro de g(z) pues el segundo es todo el plano
complejo, ver figura 12.

-3.5 -3 -2.5 -2 -1.5 -1
-13
-12.5
-12
-11.5
-11
-10.5
-3.5 -3 -2.5 -2 -1.5 -1
-13
-12.5
-12
-11.5
-11
-10.5
59

Figura 12. Grfica de determinacin de tan(d) verdadero perteneciente a tan(z).
Fuente: Flores, Daniel.

Para poder determinar el valor del nuevo tan(d)=tan(z) se procede de la forma:

Establecer la funcin error |tan(u) - tan ()| - (56)
Ubicar el ndice del menor error en la matriz de esa funcin.

El nuevo punto elimina por completo el error de redondeo planteado en el
algoritmo base original, sin embargo se ha obtenido un valor de la funcin
tan(z)=tan(d) ms no se ha obtenido un valor de directamente y con l un
nuevo valor para ms preciso.

Seguidamente es necesario los pasos:
Ubicar el mismo ndice en la matriz del mismo orden de los nmeros
complejos que constituyen la variable independiente de z.
Dividir por d. Ya se ha obtenido el nuevo valor de .
Determinar psilon en funcin de beta utilizando la ecuacin (47).

Existe otra forma de determinar el nuevo valor. Se toma que el nuevo valor
determinado responde tambin a g(z) de tal forma que es solucin de Kd, ecuacin
60
de donde es muy sencillo obtener el valorar monovalente de la constante de
propagacin

Se puede puntualizar en los pasos:

Establecer igualmente la funcin error |tan(u) - tan ()| - (56)
Ubicar el ndice del menor error en la matriz de esa funcin.
Ubicar el mismo ndice en la matriz de g(z)=Kd.
Dividir por d y dividir por K. Ya se ha obtenido el nuevo valor de .
Determinar psilon en funcin de beta utilizando la ecuacin (47).

Se ha obtenido la constante de propagacin y a partir de ella el valor univalente
y preciso de la constante dielctrica compleja y con ella la permitividad dielctrica
compleja resolviendo de esta forma precisa y sistemtica la ecuacin (46)
denominada ecuacin Roberts- Von Hippel para la tcnica de la gua cortocircuitada
aplicada en el laboratorio de comunicaciones de LUZ.

La primera forma de obtener y luego es la utilizada para la ejecucin del
algoritmo resultante por medio de software en matlab

. La segunda forma es la que

se utilizar para el desarrollo del algoritmo por medio de grficos analizados por el
ensayista de la tcnica con ausencia de uso de computador.

De acuerdo con estos pasos a cumplir en el algoritmo final se elimina la
ambigedad de soluciones para el mtodo de SCL. El algoritmo final se puede ver
en la figura 13.

61

62

63


64



65

Figura 13. Algoritmo resultante con eliminacin de error de redondeo e independencia de
mediciones previas.
Fuente: Flores, Daniel

El programa implementado en matlab

est en el Anexo A.2.

4.3. Desarrollo de cartillas de grficos para ejecucin de algoritmo
sin el uso del computador

Para comenzar se debe tener claro las premisas expuestas en el inciso 4 de ste
captulo.

El grfico de la figura 8 responde a la independencia del mtodo a mediciones
anteriores. Se comienza con el grfico que relaciona de forma temprana el
66
Coeficiente de Reflexin con la Constante Dielctrica real. El mismo coincide con la
figura 9.

Se obtiene una grfica que relacione la Relacin de Onda Estacionaria medida a
travs de la tcnica de SCL con el coeficiente de reflexin a partir de la ecuacin
conocida (58).

|I| =
S-1
S+1
(58)

Es decir, se puede obtener un grfico de la funcin (58) donde se toma como eje
de las abscisas la relacin de onda estacionaria S y para el eje de las ordenadas la
magnitud del coeficiente de reflexin de tensin.

El grfico mencionado ser de una forma no ortodoxa, debido a que el origen de
la recta real de las abscisas no coincide con el origen del origen de la recta real de
las ordenadas. El eje y estar desplazado en S=10 de tal forma que el grfico
tendr dicho eje a la derecha, no como tradicionalmente se hace.

Este artificio se hace para acoplar el grfico de la funcin (58) que es S vs.
con el grfico en la figura 8 que es
r
vs. . Ambos grficos comparten el eje de las
ordenadas. De sta forma se han acoplado los grficos. En la Figura 14 se puede
mostrar el resultado que se constituye en la primera parte de la cartilla.


Figura 14. Grfico que relaciona S con la permitividad para independizar el mtodo a
mediciones anteriores.
Fuente: Flores, Daniel

67
La intencin de ste grfico es dar informacin al ensayista de la aproximacin de
entrada del valor de permitividad relativa a travs de la medicin misma del mtodo
de SCL, all se obtiene entre otros elementos la Relacin de Onda Estacionaria. De
sta forma grficamente se puede eliminar la dependencia del mtodo a mediciones
anteriores.

El modo de uso es que una vez medido el valor de S, el usuario se introduce en
el grfico de la izquierda que desde ahora en adelante se llamar g2.3 para de esa
forma encontrar el valor de y con ese valor ir al grfico adjunto a la derecha que
relaciona las variables
r
y que desde ahora en adelante se llamar g1.3 y as
encontrar el valor de
r
.

Se asume
r
.=
r
.-j
r
.=
r
.-j0, as que queda totalmente determinado el valor
de permitividad para iniciar el mtodo numrico que determine el verdadero valor
de permitividad dielctrica compleja.

Ahora es necesario encontrar una relacin entre la permitividad y la constante de
fase , esta relacin est descrita en la ecuacin (48). De all se puede despejar

2
.

[
2
= e

. ([
0
2
+ K
c
2
) - K
c
2
(59)

Como se puede detallar en la ecuacin (59),
2
depende linealmente de la
constante dielctrica del medio, el resto de elementos que intervienen en la
ecuacin (59) son constantes conocidas debido a que dependen de la gua de onda
y la frecuencia del ensayo, las cuales estn definidas para el caso del laboratorio de
comunicaciones de LUZ y para cualquier lugar de ensayos, pues es una informacin
necesaria antes de realizar las pruebas.

Teniendo en cuenta los valores caractersticos de las guas de onda del
laboratorio de comunicaciones de LUZ desarrollados en el captulo 2 se puede
plantear ecuaciones equivalentes :

K
c
= 137,4246 rad/m

68
K
c
: Constante caracterstica de la gua de onda WR-90
K
0
= 135,2633 rad/m

K
0
: Constante de corte de la gua de onda WR-90

0
= 24,2766 rad/m

0
: Constante de propagacin en la gua de onda WR-90.

Si se puede incluir los parmetros conocidos en la ecuacin (59) se puede ver
que
2
es un parmetro complejo que es igual a
r
desplazado y escalado en valores
reales conocidos. Se tiene que:

([
2
) = (e

). ([
0
2
+K
c
2
) -K
c
2
(60)
I([
2
) = I(e

). ([
0
2
+ K
c
2
)(61)

A partir de las ecuaciones (60) y (61) se pueden construir ejes coordenados para

2
sobre los ejes coordenados de la permitividad dielctrica compleja tan solo con
las modificaciones de la variable independiente desplazamiento y/o escalamiento.

El efecto de desplazamiento y escalamiento genera unos valores relacionados en
funciones descritas en las ecuaciones (60) y (61) de forma que se pueden
representar en tablas de pares ordenados pero no sern graficados de esa forma
sino que cada eje de la variable independiente tendr un eje relacionado paralelo
con valores propios de la variable dependiente relacionada.

Los pares ordenados se pueden expresar con las tablas de la figura 15.
Tabla 1 . Tabla de valores de las funciones (60) y (61)

r Re(
2
) '
r
Im(
2
)
1 589,353308 1 19474,874
2 20064,2273 2 38949,748
3 39539,1013 3 58424,622
4 59013,9753 4 77899,496
5 78488,8493 5 97374,37
6 97963,7233 6 116849,244
7 117438,597 7 136324,118
69
8 136913,471 8 155798,992
9 156388,345 9 175273,866
10 175863,219 10 194748,74
20 370611,959 20 389497,48
30 565360,699 30 584246,22
40 760109,439 40 778994,96
50 954858,179 50 973743,7
60 1149606,92 60 1168492,44
70 1344355,66 70 1363241,18
100 1928601,88 100 1947487,4
Fuente: Flores, Daniel

Luego, el modo de uso de los valores hallados a travs de los ejes coordenados
determina un nmero complejo en el plano complejo que es el grfico g1.3 que
grficamente tiene magnitud y ngulo, fcilmente se puede determinar la raz
cuadrada del dato hallado.

Con el valor de determinado, hay que encontrar y presentar en plano el valor
de Kd, para ello se tiene que d es conocido, es la profundidad de la muestra
d=3,2.10
-2
m. Solo hay que multiplicar el valor hallado de con d. debido a que se
consider desde un principio que la constante dielctrica en aproximacin inicial era
slo real el valor de d tambin ser real.

Ahora es necesario encontrar el valor de K que es una constante que depende de
los parmetros medidos en la aplicacin de la tcnica. Est descrito por la ecuacin
(45).

K = -
1
[
0
d
1+]S tan([
0
(d+I
0
-I))
S tan([
0
(d+I
0
-I))
(45)

Donde:

K: Constante conocida producto de la medicin

0
: Constante de fase en el vaco.
70
d: Profundidad del porta muestras, conocido.
l: Distancia del cortocircuito al primer mnimo con muestra.
l0: Distancia del cortocircuito al primer mnimo sin muestra.
S: Relacin de Onda Estacionaria con muestra, parmetro conocido producto d
ela medicin.

Como
0
, d, l
0
son conocidos y fijos, realmente se miden los parmetros S y l , la
idea es relacionar K con S y l.

Como ya la cartilla contiene un eje coordenado que representa S se generan dos
nuevos ejes que representan la parte real e imaginaria de K, estarn en paralelo
entre si y perpendiculares al eje de S en el plano cartesiano generado en la misma
rea de g2.3 se dibujar la familia de curvas que depender de la variacin de l por
cada de sta variable se obtendr una curva diferente.

El modo de uso de ste grfico es ubicar S en las abscisas y buscar en la familia
de curvas el valor de l ms cercano para as encontrar el valor de Re(K) y luego de
la misma forma Im(K) sobre el rea correspondiente.

Luego se define una nueva rea de la cartilla de grficos llamado g3.3 que tendr
en el eje vertical la parte real de K y el eje horizontal en orden inverso tendr
asociada la variable Imaginario de K. Con el valor de K complejo ya determinado y
graficado en g3.3 es fcil determinar Kd, debido a que el primer clculo de d ser
siempre real de forma que ser igual que K escalado.

Puntualizando, la cartilla tiene tres reas o divisiones llamadas g1.3, g2.3 y g3.3
cada rea representa un plano cartesiano que puede ser real o complejo segn sea
el caso.

Cada rea de la cartilla adicionalmente puede relacionar ms de un par de
variables a travs del uso de ejes paralelos.

La ubicacin de las reas puede ser observada en la figura 15

71





Figura 15. Esquemtico de posiciones de subgrficos en la cartilla solucin a la ecuacin de
Roberts-Von Hippel.
Fuente: Flores, Daniel

El rea g1.3 contiene las grficas:
vs
r .
Plano real X vs Y (g.1.3.1)

rc
=
r
j
r.
Plano complejo Z= X jY (g.1.3.1)

2
= Re[
2
] + jIm[
2
]
.
Plano complejo Z= X + jY (g.1.3.2 y g.1.3.3)


El rea g2.3 contiene las grficas:
Re [K] vs S
.
Plano real X vs Y (g2.3.3)
Im [K] vs S
.
Plano real X vs Y (g2.3.2)
vs S. Plano real X vs Y (g2.3.1)

El rea g3.3 contiene las grficas:
tan[z]
.
Plano complejo Z= X jY (g3.3)

Puntualizando, para el uso de la cartilla solucin se deben seguir los pasos
siguientes:
Aplicar la tcnica SCL y obtener K, con ello S y l
min.

Con S entrar en el grfico g.2.3.1 y enlazar con el grfico g.1.3.1 a travs
de y hallar
rc

Con
rc
entrar en el grfico g1.3.2 o g1.3.3 segn la escala que corresponda
y hallar d.
Con S y l
min
entrar en g.2.3.2 y g.2.3.3 y hallar parte imaginaria y real de K
respectivamente.
Con K entrar en g3.3 y ubicar ese nmero complejo, luego multiplicarlo por
d para hallar Kd.
g3.
g2.3.1
g1.3.1
g1.3.2
g1.3.3
g2.3.2
g2.3.3
72
Con Kd encontrar el punto contenido en tan[z] ms cercano a Kd , tal
punto ser el nuevo valor que asumir Kd.
Luego dividir ese valor nuevo por el antiguo K.
El resultado ubicarlo en g.1.3.2 o g.1.3.3 segn aplique y encontrar (d)
2
que ser ahora un nmero complejo.
Con ese valor entrar en g.1.3.1 y hallar el nuevo y definitivo valor de
rc.


La versin final y un ejemplo de su aplicacin estn en el Anexo B. En l se puede
notar que con slo el uso de lpiz, comps y regla se puede realizar el mismo
clculo que con el uso del software descrito en el inciso anterior y expuesto en el
Anexo A, con lo cual se ve cumplido el objetivo de hallar un algoritmo y llevarlo a
aplicacin a travs de dos destinos del mismo, uno con la ayuda de un ordenador y
el otro con un mtodo grfico.

Los resultados encontrados son:
Tabla 2 . Resultados
Fuente Permitividad Relativa Compleja
Referencia [1] 2,12-j0,039
Software 2,16-j0,044
Cartilla 2,2-j0,05
Fuente: Flores, Daniel

Se obtuvieron los errores porcentuales de partes real e imaginaria de cada
medicin siguientes:

Ntese la paridad de los resultados sin embargo el mtodo desarrollado garantiza
que las soluciones que de l se obtengan son ms cercanas al valor real que el
software anterior. Los errores de la parte imaginaria son superiores a los de la parte
real, sin embargo en trminos absolutos puede notarse que la diferencia entre las
mediciones tiende a cero, solo que su valor estndar tambin tiende a cero y por
tanto el error tiende a crecer. La parte de real es en valor absoluto 100 veces la
parte imaginaria de cada medicin por tanto el error en trminos absolutos son
mayores en trminos porcentuales menores. Ver tabla 3 y tabla 4.

73
Tabla 3 . Resultados en error absoluto
Fuente Error
Referencia [1] Referencia
Software 0,04-j0,005%
Cartilla 0,08-j0,011
Fuente: Flores, Daniel

Tabla 4 . Resultados en error porcentual
Fuente Error %
Referencia [1] Referencia
Software 1,8%-j12,8%
Cartilla 3,7%-j28,1%
Fuente: Flores, Daniel


74
CONCLUSIONES

En funcin a los objetivos planteados se puede decir que se realiz una
descripcin detallada del mtodo de Von Hippel desde el punto de vista deductivo, a
partir de los general a lo particular, concluyendo que es un mtodo aplicable en el
laboratorio de comunicaciones de La Universidad del Zulia segn las condiciones que
en l se presentan y las recomendadas para la ejecucin de la tcnica.

En la descripcin del mtodo y su aplicacin en el laboratorio de comunicaciones
se pudo formular las ecuaciones que van a regir el problema matemtico a
solucionar en la investigacin a partir de las ecuaciones que describen los
fenmenos fsicos presentes en la tcnica concluyendo que la denominada Ecuacin
de Roberts -.Von Hippel que es trascedente y de infinitas soluciones define el
problema del trabajo efectuado.

La ecuacin objeto de estudio no tiene solucin analtica conocida por tanto se
defini el uso de mtodos numricos, por lo cual se parti de un algoritmo aplicado
en otras latitudes y en el propio laboratorio para el diseo de uno nuevo que genere
menor error e independencia de la tcnica a otras aplicables dando como resultado
un algoritmo propio que salva los problemas de los anteriores, es decir, es
independiente de mtodos anteriores y carece de error de aproximacin de
resultados ms no de otro tipos de errores propios de la aproximacin de un mtodo
numrico.

Se aplic el algoritmo a travs de un software en un ordenador y a travs de un
mtodo grfico utilizando valores de mediciones anteriores comprobadas como
ciertas y expuestas en publicaciones hechas en el mismo laboratorio dando
satisfactorios resultados por lo cual se valid el funcionamiento del algoritmo
diseado y sus herramientas de aplicacin.
RECOMENDACIONES

En funcin a los problemas presentados en el desarrollo de la investigacin y las
nuevas perspectivas en el rea de estudio producto de los objetivos alcanzados se
puede recomendar la aplicacin del mtodo a diversos materiales con el uso de la
cartilla solucin de forma que el grfico g.3.3 deba cambiar de escala para el
desarrollo de nuevos grficos ms detallados.

La aplicacin del software con interfaz grfica para facilitar su aplicacin al
ensayista de la tcnica.

El uso de calculadoras cientficas o su equivalente como apoyo al uso de la
cartilla.

Contrastar en la medida de lo posible varios mtodos de caracterizacin para
garantizar la unicidad de los resultados.

Aplicar teora de mediciones y errores a la tcnica para determinar la
incertidumbre del mtodo y posibles caminos de mejora.


REFERENCIAS BIBLIOGRFICAS

Perez, W y otros. Medicin de permitividad dielctrica compleja con Microondas a
9.51 GHz, IEEE, 2009.
A.R. Von-Hippel. Dielectric Materials and Applications, 4th ed. Cambridge, MA:
MIT Press, 1966.
T. P. Iglesias, A. Seoane, and J. Rivas. A Contribution to the Measurement of
Permittivity with the Short-Circuited Line Method, IEEE Transactions on
Instrumentation and Measurement. Vol. 43, No. 1, February 1994, pp 13-17.
J. Margineda, M. Rojo, A. Hernndez. Eliminating the ambiguity in nonperturbation
microwave measurement of permittivity. IEEE Transactions on Instrumentation and
Measurement. Vol. 38, 1989, pp 1010-1012.
S. O. Nelson, LaV. Stetson, C. W. Schlaphoff. A General Computer Program for
Precise Calculation of Dielectric Properties From Short-Circuited Waveguide
Measurements, IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement. Vol. 43,
No. 1, February 1994, pp 455-460.
E. Nebot del Busto. Caracterizacin de dielctricos a frecuencia microondas,
Universidad de Zaragoza. Zaragoza, 5 de Julio de 2004.
R. M. Redheffer. The Measurement of Dielectric Constants, IEEE Trans on
Vehicular Technology Vol. 43 No.4 pp1058-1066 Noviembre 1994.
F. Arias. El proyecto de investigacin-introduccin a la investigacin cientfica.
Caracas: Editorial Episteme. (2006).
R. Bravo. Tcnicas de Investigacin Social. Espaa: Paraninfos. (1996).
D. A. Schn. The Reflexive Practitioner. How Professionals Think In Action.
Londres, Temple Smith. (1983).



APNDICE 1. PROGRAMA
% Obtencion de la permitividad mediante el metodo de von Hippel
N=1000;
erp1=1.2; ers1=0.2; % Valor inicial de las partes real e imaginaria
de la permitividad.
erpmin=2; ersmin=0.0;
erpmax=5; ersmax=5;

err_ini=Hippel_err([erp1 ers1])
epsilon=fminsearchbnd('Hippel_err',[erp1 ers1],[erpminersmin],[])
err_fin=Hippel_err([real(epsilon) imag(epsilon)])

x=linspace(erpmin,erpmax,N); y=linspace(ersmin,ersmax,N); z=zeros(N,N);

for m=1:N
for n=1:N
z(m,n)=Hippel_err([x(n) y(m)]);
end
end
pcolor(x,y,z);
shading interp;
caxis([0 5]);
title('Err=|tg(z)-Kz|');
xlabel('Real(epsilon)');
ylabel('Imag(epsilon)');
colorbar
figure

lo=14.6e-2;%distancia cc 1er min sin muestra%
l=11.8e-2;%distancia cc 1er min con muestra%
co=299792458;%velocidad de la luz%
muo=4*pi*1e-7;
eo=1/(muo*co^2);
a=2.322576e-2;%area de la guia de onda WR-90%
fc=6.557e9; %frecuencia de corte para guias de onda WR-90%
kc=pi/a;%valor caracteristico de k en el vacio y en la guia de onda tipo WR-
90%
d=3.2e-2; %longitud de la muestra%
lmin=d+lo-l;%parametro de Beta ara hallar "K"%
S=2.0503;%Razon de Onda Estacionaria%
ko=2*pi*fc/co; %numero de onda de corte%
betao=(ko^2-kc^2)^0.5;%beta en el vacio tomando en cuenta las dimensiones de a
guia%
NumK=-i*(1-i*S*tan(betao*lmin));
DenK=betao*d*(S-i*tan(betao*lmin));
K=NumK/DenK;%Valor de "K"%

ktrue=2*pi*fc*(muo*eo*(epsilon(1)-i*epsilon(2)))^0.5;%esta contiene la
variable que no
%se%
betatrue=(ktrue^2-kc^2)^0.5;%depende de k%
ftrue=abs(tan(betatrue*d)-K*(betatrue*d));%se le aplica el metodo desde dond
se llama

epsilontrue=(betatrue^2+kc^2)/(betao^2+kc^2)
xx=linspace(-5,5,N); yy=linspace(-5,5,N);

for m=1:N
for n=1:N
zs(m,n)=xx(m)+i*yy(n);
end
end
subplot(1,2,1)
plot(tan(zs(1:N,1:N))),grid on;
subplot(1,2,2)
plot(tan(betatrue*d),'+r'),grid on
def=betatrue*d;
der=zs(1:N,1:N);
realder=real(der);
imagder=imag(der);
realdef=real(def);
imagdef=imag(def);
dert=abs(der-def);
[plm,pln]=min(min((dert)));
qwe=dert(:,pln);
qwer=qwe';
[we,ws]=min(qwer);
rty=(1/d)*zs(ws,pln);
ratye=(1/d)*atan(rty);
betatrue2=abs(real(rty))+i*(imag(rty));
epsilontrue2=(betatrue2^2+kc^2)/(betao^2+kc^2)

Apoyo: Hippel_err

function f=Hippel_err(er)
lo=14.6e-2;%distancia cc 1er min sin muestra%
l=11.8e-2;%distancia cc 1er min con muestra%
co=299792458;%velocidad de la luz%
muo=4*pi*1e-7;
eo=1/(muo*co^2);
a=2.322576e-2;%area de la guia de onda WR-90%
fc=6.557e9; %frecuencia de corte para guias de onda WR-90%
kc=pi/a;%valor caracteristico de k en el vacio y en la guia de onda tipo WR-
90%
d=3.2e-2; %longitud de la muestra%
lmin=d+lo-l;%parametro de Beta ara hallar "K"%
S=2.0503;%Razon de Onda Estacionaria%
ko=2*pi*fc/co; %numero de onda de corte%
betao=(ko^2-kc^2)^0.5;%beta en el vacio tomando en cuenta las dimensiones de a
guia%
NumK=-i*(1-i*S*tan(betao*lmin));
DenK=betao*d*(S-i*tan(betao*lmin));
K=NumK/DenK;%Valor de "K"%

k=2*pi*fc*(muo*eo*(er(1)-i*er(2)))^0.5;%esta contiene la variable que no
%se conoce%
beta=(k^2-kc^2)^0.5;%depende de k%
f=abs(tan(beta*d)-K*(beta*d));%se le aplica el metodo desde dond se llama



APNDICE 2. CARTILLA