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Instituto de Fsica de So Carlos





Luana de Freitas Nascimento















Dosimetria usando Luminescncia Opticamente
Estimulada: aplicaes, propriedades fsicas e
caracterizao de materiais dosimtricos.













So Carlos SP
Agosto/2007
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Instituto de Fsica de So Carlos

Luana de Freitas Nascimento











Dosimetria usando Luminescncia Opticamente
Estimulada: aplicaes, propriedades fsicas e
caracterizao de materiais dosimtricos.

Dissertao apresentada Banca
Examinadora no Departamento de Fsica
do Instituto de Fsica de So Carlos da
Universidade de So Paulo para a
obteno do ttulo de Mestre em Fsica
Aplicada.



Orientadora:
Profa. Dra. Maria Cristina Terrile




MESTRADO EM FSICA APLICADA
INSTITUTO DE FSICA DE SO CARLOS
UNIVERSIDADE DE SO PAULO






So Carlos SP
Agosto/2007

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Aos meus pais amados, Adilson e Maria Regina; meus estimados irmos, Aretha, Adilson e
Julia; meu querido Luis Enrique e especialmente a Deus.








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Agradecimentos

Quero agradecer, em primeiro lugar, minha orientadora Dra. Maria Cristina Terrile pela
confiana, amizade e incentivo em minha carreira.
Agradeo de forma especial a Dra. Yvone Maria Mascarenhas Hornos (Sapra/Landauer - So
Carlos) pela oportunidade de trabalhar com dosimetria e pelos incentivos constantes no
aperfeioamento de minha formao como pesquisadora e como pessoa.
Vrias pessoas contribuiram para a realizao desse trabalho e merecem todo reconhecimento.
Meus sinceros agradecimentos a: Jos Fernando de Lima (Grupo de Biofsica Molecular
"Srgio Mascarenhas" - IFSC), pelo suporte no uso do equipamento de EPR; ao Dr. Claudio
Magon (Grupo de Ressonncia Magntica - IFSC) e ao Dr. Octaciro Rangel Nascimento
(Grupo de Biofsica Molecular "Srgio Mascarenhas" - IFSC), pelas discusses sobre EPR; ao
Elderson Cssio Domenecucci (Grupo de Crescimentos de Cristais - IFSC), por cortar minhas
amostras; ao Edgar Aparecido Sanches (Grupo de Cristalografia de Proteinas - IFSC), pela
ajuda em entender o processo de recuperao do xido de Alumnio e pela amizade; ao Nibio
Jos Manjerona (Grupo de Polmeros "Prof. Bernhard Gross" - IFSC), pelas irradiaes e por
sempre se mostrar solicito; ao Dr. Eduardo Gardenali Yukihara (Radiation Dosimetry
Laboratory Oklahoma State University), por concretizar minha primeira experincia
academica fora do Brasil me recebendo em seu laboratrio, pela amizade e pelas discusses
sobre OSL; a Dra Maria de Ftima Magon (Sapra/Landuaer So Carlos), pela presteza,
ateno a carinho nas muitas horas de duvidas tericas e experimentais; ao Dr. Carlos Alberto
Tronbella (Sapra/Landuaer So Carlos), pela ajuda essencial nos testes de desempenho de
detectores OSL, pelas irradiaes e pela simpatia.
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No menos importante agradeo ao meu companheiro Luis Enrique Correa da Rocha pelas
constantes correes em meus textos, pela ajuda indispensavel quando tudo parecia nebuloso
e perdido, por cobrar minha ateno e empenho, por ter sempre boas ideias e pelo carinho e
respeito que sempre mostrou nesses anos de estrada academica e pessoal.
Agradeo ao meu grande amigo Roberto Vinicius Martins, por sempre ter ficado ao meu lado,
por me compreender e sempre me apoiar, minha querida amiga Cindy Petree por me acolher
e ser uma me enquanto estive morando em Stillwater e ao meu tio Luiz Antonio Roveran
pela amizade e ajuda essencial em momentos criticos que vivi.
Agradeo aos meus pais por sempre terem incentivado minha formao cultural, permitindo
que eu me dedicasse exclusivamente ao que sempre gostei. Agradeo pelo apoio em minhas
decises, pela orientao e amor sem limites. Por terem me proporcionado uma infncia
pouco usual e muito interessante e por terem sempre acreditado mais no meu potencial do que
nos diagnosticos dos mdicos.
Agradeo CNPQ (Comisso Nacional de Pesquisa e Desenvolvimento) pela bolsa que
financiou esse projeto; Landauer (Chicago - EUA) pelas amostras, pelos aparelhos de
leitura OSL e pelo convite a conhecer seu laboratrio em Glenwood (Chicago - EUA);
Oklahoma State University (Stillwater - EUA) pela ajuda financeira dada para a visita
cientifica feita ao laboratrio de dosimetria radiolgica.
Finalmente agradeo a Deus, meu amigo fiel que me capacitou para que chegasse at aqui e a
quem dou toda a glria pelas conquistas de minha vida.


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RESUMO

Dosimetria usando Luminescncia Opticamente Estimulada (OSL) uma rea em constante
crescimento dentro da cincia e com excelentes perspectivas comerciais. O xido de
Alumnio crescido na presena de uma atmosfera rica em Carbono (Al
2
O
3
:C) tem fornecido
bons resultados como detector luminescente. Esse material apresenta alta sensibilidade
radiao ionizante e boa resposta estmulos pticos. Estima-se que cerca de dois milhes de
pessoas faam uso de dosmetros com detectores de Al
2
O
3
:C em rotinas de dosimetria
individual externa, que por apresentar varias vantagens experimentais acredita-se substituir
as outras duas tcnicas dosimtricas mais adotadas: dosimetria fotogrfica e
termoluminescente. A certificao de uma tcnica de dosimetria para uso comercial exige
uma srie de estudos. Neste trabalho apresentamos contribuies que complementam o
entendimento e adoo da tcnica de OSL em dosimetria pessoal. Nossa primeira
contribuio consiste numa serie de testes de desempenho mostrando a eficcia da tcnica
para justificar nossa proposta de certificao de dosimetria individual externa usando OSL no
Brasil. No intuito de relacionar centros paramagnticos e o processo de luminescncia,
apresentamos resultados de espectros de EPR em detectores OSL. Detectamos e classificamos
sinais de EPR relacionados a impurezas nas amostras, porem, sinais dos centros
luminescentes no foram detectados. Finalmente, apresentamos um estudo preliminar sobre a
resposta de luminescncia do Al
2
O
3
:C quando exposto a diferentes comprimentos de onda de
radiao UV. A inexistncia de dosimetria de nutrons por tcnicas de OSL motivou o estudo
de vrios xidos dopados com Trbio como possveis candidatos a material dosimtrico.
Alguns resultados preliminares do espectro de EPR desses xidos quando irradiados em
campo beta de
90
Sr/
90
Y e da resposta de luminescncia em funo da luz de excitao para
anlise dos tipos de armadilhas criadas pela presena do Tb
+3
so apresentados.









Palavras Chave: Luminescncia Opticamente Estimulada, Dosimetria, Fsica das Radiaes.




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ABSTRACT

Dosimetry using Optically Stimulated Luminescence (OSL) is an expanding scientific
research area which also shows excellent commercial potential. Aluminum oxide grown in an
atmosphere in the presence of Carbon, Al
2
O
3
:C, presented excellent results as a luminescent
detector. This material has high sensitivity when exposed to ionizing radiation and good
responses to optical stimulation. Over two million people use dosimeters with Al
2
O
3
:C
detectors in personal dosimetry procedures. The experimental advantages of using OSL are
believed to replace the two other usual techniques: photographic and thermoluminescent
dosimetry. To validate the commercial use of a dosimetry technique it is necessary to evaluate
a number of studies. In this work we present results which increase our understanding of OSL
dosimetry. First we present a number of behavior tests to show the efficiency of the technique
for the purpose of justifying the use of OSL in personal dosimetry in Brazil. In an attempt to
correlate paramagnetic centers and the luminescence process we present EPR results in OSL
detectors. We could detect and classify impurities centers in our samples; however we could
not find conclusive results about paramagnetic centers generated by exposition to ionizing
radiation. We present a preliminary study about the luminescence behavior from Al
2
O
3
:C
when exposed to different UV wavelengths. The nonexistence of a neutron dosimetry using
OSL suggested a study of three types of oxides doped with Terbium which are strong
candidates as OSL detectors due to their sensitivity to neutron expositions. We present
preliminary results of EPR spectroscopy from these oxides when exposed in a | field of
90
Sr/
90
Y and the luminescent response when the excitation light is used to analyze traps
generated by the presence of Tb
+3
.















Key Words: Optically Stimulatted Luminescence, Dosimetry, Radiation Physics.



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Sumrio
Resumo__________________________________________________________________6
Abstract__________________________________________________________________7
Lista de Figuras___________________________________________________________10
1. INTRODUO .................................................................................................................................. 15
1.1. Apresentao do Problema. ....................................................................................................... 18
1.1.1. O xido de Alumnio. ................................................................................................................ 19
1.1.2. xido de Alumnio crescido numa Atmosfera de Carbono. ......................................................... 20
1.2. Dosimetria Opticamente Estimulada. ......................................................................................... 21
1.2.1. OSL de Onda Contnua. ............................................................................................................. 23
1.2.2. OSL de Modulao Linear. ........................................................................................................ 25
1.2.3. OSL Pulsado. ............................................................................................................................. 26
1.2.4. Absoro ptica. ....................................................................................................................... 27
1.2.5. Dosimetria Individual Externa. .................................................................................................. 29
1.2.6. xido de Alumnio e Sinal OSL. ................................................................................................. 31
2. MATERIAIS E MTODOS ............................................................................................................... 33
2.1. Monocristais Usados para Aquisio de Espectros de EPR. ....................................................... 33
2.2. Amostras em P Usadas para Aquisio de Espectros de EPR, de Excitao e de Emisso........ 33
2.2.1. P Virgem de Al
2
O
3
:C. ............................................................................................................... 34
2.2.2. P Recuperado de Al
2
O
3
:C. ....................................................................................................... 34
2.3. Dosmetros OSL Usados no Trabalho. ....................................................................................... 35
2.3.1. Dosmetros OSL Modelo Luxel

. ................................................................................................ 35
2.3.2. Dosmetros OSL Modelo Inlight

. .............................................................................................. 37
2.4. Leitores de Sinal OSL. ............................................................................................................... 39
2.4.1. Manual Inlight

Reader. ............................................................................................................ 39
2.4.1.1. Mtodo de Medida ..................................................................................................................... 40
2.4.2. Leitor TL/OSL, modelo Ris TL/OSL-DA-20 (Luxel

). ............................................................... 41
2.5. Espectrmetros. ......................................................................................................................... 43
2.5.1. Espectrmetro de EPR (Bruker). ................................................................................................ 43
2.5.2. Espectroscopia ptica: FluoroLog-3. ........................................................................................ 48
3. RESULTADOS I: MODELO DE CERTIFICAO DE DOSIMETRIA INDIVIDUAL
EXTERNA NO BRASIL................................................................................................................................. 51
3.1. O Dosmetro, o Leitor e o Porta Dosmetro. ............................................................................... 52
3.2. Resultados e Discusso .............................................................................................................. 53
3.2.1. Testes de Desempenho do Leitor ................................................................................................ 53
3.2.2. Teste de Desempenho do Porta Dosmetro. ................................................................................ 58
3.2.3. Teste de Desempenho do Dosmetro. .......................................................................................... 60
4. RESULTADOS II: ESPECTROSCOPIA DE EPR ........................................................................... 66
4.1. Resultados e Discusso. ............................................................................................................. 66
4.1.1. Monocristal de Al
2
O
3
:C Temperatura Ambiente. ........................................................................ 67
4.1.2. P de Al
2
O
3
:C Temperatura Ambiente. ...................................................................................... 70
4.1.3. xidos Dopados com Trbio: Resultados Preliminares. ............................................................. 77
4.1.3.1. Grupo 1 Li
2
O:Tb. .................................................................................................................... 78
4.1.3.2. Grupo 2 MgO:Tb,Co e MgO:Tb. ............................................................................................. 86
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4.1.3.3. Grupo 3 CaO:Tb. .................................................................................................................... 92
5. RESULTADOS III: SENSIBILIDADE DO Al
2
O
3
:C A UV .............................................................. 96
5.1. As Amostras e Detalhes Experimentais. ..................................................................................... 96
5.2. Resultados e Discusso. ............................................................................................................. 99
6. RESULTADOS IV: ESPECTRO DE EMISSO E EXCITAO EM XIDOS DOPADOS COM
TRBIO. ....................................................................................................................................................... 112
6.1. As Amostras e Detalhes Experimentais. ................................................................................... 112
6.2. Resultados e Discusso. ........................................................................................................... 115
6.2.1. Espectro de Emisso. ............................................................................................................... 115
6.2.2. Espectro de Excitao. ............................................................................................................. 121
7. CONCLUSES ................................................................................................................................. 127
8. REFERNCIAS ................................................................................................................................ 131
9. APNDICE A MATRIZ DE CORRESPONDNCIA ................................................................. 135
10. APNDICE B MODELO ESTATSTICO PARA AVALIAO DOS TESTES PARA OSL. . 139





















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Lista de Figuras

Figura 1.1. xido de Alumnio. ______________________________________________________________ 20
Figura 1.2. a) estrutura cristalina do xido de Alumnio; b) defeito pontual criado pelo crescimento em baixa
atmosfera na presena de carbono. ___________________________________________________________ 21
Figura 1.3. a) Resposta OSL de onda continua para Al
2
O
3
:C e, b) estimulo OSL de Onda Continua (CW OSL).
_______________________________________________________________________________________ 25
Figura 1.4. a) Resposta OSL de modulao linear para Safira e, b) estimulo OSL de Modulao Linear (LM
OSL). ___________________________________________________________________________________ 26
Figura 1.5. a) Resposta OSL de estimulo pulsado para Al
2
O
3
:C e, b) estimulo OSL pulsado (POSL). _______ 27
Figura 1.6. Esquema com absores pticas possveis. ____________________________________________ 28
Figura 1.7. Esquema criao de pares buraco-eltron e gerao de sinal OSL. ________________________ 29
Figura 1.8. a) Sinal TL do Al
2
O
3
:C e b) Sinal CW-OSL do Al
2
O
3
:C. _________________________________ 31
Figura 1.9. a) Sinal OSL para diferentes doses de irradiao com | e b) para exposio com diferentes fontes de
radiao (|, He, C. Si e Fe). ________________________________________________________________ 32
Figura 2.1. Dosmetro Luxel

a) Fita com o detector OSL, b) estrutura com as quatro janelas e c) Badge. ___ 37
Figura 2.2. Dosmetro Inlight

com a) Fita com o detector OSL (1) e janelas (2), b) protetor com informaes
do usurio (badge).________________________________________________________________________ 38
Figura 2.3. Esquema simplificado com o processo de leitura do leitor Manual Inlight

. __________________ 40
Figura 2.4. a) Diagrama esquemtico do grupo combinado de LEDs azuis e o laser IR para medidas de OSL e
b) esquema visto de cima do prato com amostra para mostrar disposio das fontes. ____________________ 42
Figura 2.5. Diagrama de nveis de energia para o spin de um eltron livre em funo de um campo magntico
aplicado B. ______________________________________________________________________________ 45
Figura 2.6. Esquema geral de um espectrmetro de EPR Bruker ELEXSYS E580 FT/CW. ________________ 46
Figura 2.7. Diagrama da ponte de microondas. _________________________________________________ 46
Figura 2.8. Esquema ptico do FluoroLog

-3. __________________________________________________ 50
Figura 3.1. Contagem de fundo de fotomultiplicadora por leitura. __________________________________ 54
Figura 3.2. Medidas das trs leituras, normalizadas pelas medidas da Leitura 1. ______________________ 56
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Figura 3.3. Medias dos trs grupos: condies normais, 35 oC e 20 oC. _____________________________ 57
Figura 3.4. Distribuio de medidas normalizadas pelas medidas sem exposio luz. _________________ 59
Figura 3.5. Distribuio de medidas e limites. __________________________________________________ 60
Figura 3.6. Histograma com distribuio de medidas para teste de Reprodutibilidade. __________________ 63
Figura 3.7. Mdia por medida para teste de Releitura. ___________________________________________ 65
Figura 4.1. Orientaes do cristal de Al
2
O
3
:C.__________________________________________________ 68
Figura 4.2. Espectro de EPR para monocristal de Al
2
O
3
:C no plano

a b

. __________________________ 68
Figura 4.3. Variao angular dos sinais de Cr
3+
para uma varredura de 8000 G no plano

a c

. _________ 69
Figura 4.4. Variao angular dos sinais de Cr
3+
para uma varredura de 8000 G no plano

a b

. _________ 69
Figura 4.5. Espectro de EPR em banda X, temperatura ambiente e CW para amostras no irradiadas de p
recuperado da Al
2
O
3
:C. ____________________________________________________________________ 71
Figura 4.6. Espectro de EPR em banda X, temperatura ambiente e CW para Amostra 1 irradiada e no
irradiadas de p recuperado. ________________________________________________________________ 72
Figura 4.7. Espectro de EPR em banda X, temperatura ambiente e CW para Amostra 2 irradiada e no
irradiadas de p recuperado. ________________________________________________________________ 73
Figura 4.8. Espectro de EPR para as nove amostras de p virgem de Al
2
O
3
:C em banda X, temperatura
ambiente e CW. ___________________________________________________________________________ 75
Figura 4.9. Estrutura do xido de Ltio. _______________________________________________________ 78
Figura 4.10. Espectro de EPR e medidos em banda X, temperatura ambiente e CW para Li
2
O:Tb (G1_2) no
irradiado, irradiado com 50 Gy e 200 Gy. ______________________________________________________ 79
Figura 4.11. Espectro de EPR e medidos em banda X, temperatura ambiente e CW para Li
2
O:Tb (G1_4) no
irradiado, irradiado com 50 Gy e 200 Gy. ______________________________________________________ 79
Figura 4.12. Espectro de EPR e medidos em banda X, temperatura ambiente e CW para Li2O:Tb (G1_8) no
irradiado, irradiado com 50 Gy e 200 Gy. ______________________________________________________ 80
Figura 4.13. Espectro para G1_2 e G1_4 irradiados com 200 Gy com linha desenhada em vermelho para sinal
largo.___________________________________________________________________________________ 81
Figura 4.14. Espectro para G1_2, G1_4 e G1_8 irradiados com 200 Gy e medidos em banda X, temperatura
ambiente e CW. ___________________________________________________________________________ 82
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Figura 4.15. Espectro de EPR de centro F em monocristal de Li
2
O irradiado com 4.5 x 1021 nutrons trmicos
por m
2
.[32] ______________________________________________________________________________ 82
Figura 4.16. Transies possveis para Tb
4+
. ___________________________________________________ 84
Figura 4.17. Impurezas classificadas nas amostras G1_2 e G1_4 . __________________________________ 85
Figura 4.18. Estrutura do xido de Magnsio. _________________________________________________ 86
Figura 4.19. Espectro de EPR medidos em banda X, temperatura ambiente e CW para MgO:Tb,Co (G2_12)
no irradiado, irradiado com 50 Gy e 200 Gy. __________________________________________________ 87
Figura 4.20. Espectro de EPR medidos em banda X, temperatura ambiente e CW para MgO:Tb,Co (G2_12)
no irradiado, irradiado com 50 Gy e 200 Gy. __________________________________________________ 87
Figura 4.21. Espectro de EPR medidos em banda X, temperatura ambiente e CW para MgO:Tb (G2_16) no
irradiado, irradiado com 50 Gy e 200 Gy. ______________________________________________________ 88
Figura 4.22. Espectro de EPR medidos em banda X, temperatura ambiente e CW para MgO:Tb (G2_18) no
irradiado, irradiado com 50 Gy e 200 Gy. ______________________________________________________ 88
Figura 4.23. Espectro de EPR medidos em banda X, temperatura ambiente e CW de centro F em MgO. [39] 89
Figura 4.24. Linhas do Cr
3+
em monocristal de MgO. [42] ________________________________________ 90
Figura 4.25. a) Linhas do Cr
3+
em p de MgO. [42]. b) Estrutura do Cr
3+
em simetria cbica no MgO. ____ 91
Figura 4.26. Estrutura do xido de Clcio. ____________________________________________________ 92
Figura 4.27. Espectro de EPR medidos em banda X, temperatura ambiente e CW para CaO:Tb (G3_22) no
irradiado, irradiado com 50 Gy e 200 Gy. ______________________________________________________ 93
Figura 4.28. Espectro de EPR medidos em banda X, temperatura ambiente e CW para CaO:Tb (G3_24) no
irradiado, irradiado com 50 Gy e 200 Gy. ______________________________________________________ 93
Figura 4.29. Sinais do Fe
+
e Fe
3+
em CaO (G2_22). ______________________________________________ 94
Figura 5.1. a) Fita Luxel de Al2O3:C e b) amostra no Ris para medida. ____________________________ 99
Figura 5.2. Intensidade da lmpada de Xe por comprimento de onda. ______________________________ 100
Figura 5.3. a) sinal OSL da Amostra 2 exposta a 325 nm de UV para diferentes tempos e b) sinal OSL da
amostra 2 irradiada com | por trs segundos. _________________________________________________ 101
Figura 5.4. Sinal integrado OSL por numero de ftons, para exposio de 350 nm. ____________________ 102
Figura 5.5. a) sinal OSL da Amostra 2 exposta a 325 nm de UV para diferentes tempos e b) sinal OSL da
amostra 2 irradiada com | por trs segundos. _________________________________________________ 103
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Figura 5.6. Sinal integrado OSL por numero de ftons, para exposio de 325 nm. ____________________ 103
Figura 5.7. a) sinal OSL da Amostra 3 exposta a 300 nm de UV para diferentes tempos e b) sinal OSL da
amostra 3 irradiada com | por trs segundos. _________________________________________________ 104
Figura 5.8. Sinal integrado OSL por numero de ftons, para exposio de 300 nm. ____________________ 105
Figura 5.9. a) sinal OSL da Amostra 4 exposta a 275 nm de UV para diferentes tempos e b) sinal OSL da
amostra 4 irradiada com | por trs segundos. _________________________________________________ 105
Figura 5.10. Sinal integrado OSL por nmero de ftons, para exposio de 275 nm. ___________________ 106
Figura 5.11. a) sinal OSL da Amostra 5 exposta a 250 nm de UV para diferentes tempos e b) sinal OSL da
amostra 5 irradiada com | por trs segundos. _________________________________________________ 107
Figura 5.12. Sinal integrado OSL por nmero de ftons, para exposio de 250 nm. ___________________ 107
Figura 5.13. a) sinal OSL da Amostra 6 exposta a 225 nm de UV para diferentes tempos e b) sinal OSL da
amostra 6 irradiada com | por trs segundos. _________________________________________________ 108
Figura 5.14. Sinal integrado OSL por nmero de ftons, para exposio de 225 nm. ___________________ 109
Figura 5.15. a) sinal OSL da Amostra 7 exposta a 210 nm de UV para diferentes tempos e b) sinal OSL da
amostra 7 irradiada com | por trs segundos. _________________________________________________ 109
Figura 5.16. Sinal integrado OSL por nmero de ftons, para exposio de 210 nm. ___________________ 110
Figura 5.17. Sinal OSL da Amostra 8 irradiada com por trs segundos.___________________________ 111
Figura 6.1. a) balana analtica e b) amostra em p disposta em copo de alumnio. ___________________ 113
Figura 6.2. a) FluoroLog em funcionamento b) amostra em p disposta em copo de alumnio em pedao de
madeira com referncia numrica. ___________________________________________________________ 114
Figura 6.3. Transmitncia por comprimento de onda para filtro passa alta de 455 nm. _________________ 114
Figura 6.4. Transmitncia por comprimento de onda para filtro passa alta de 515 nm. _________________ 115
Figura 6.5. Espectro de emisso para Li
2
O:Tb (G1_2) irradiado, com excitao de 525 nm. ____________ 116
Figura 6.6. Espectro de emisso para Li
2
O:Tb (G1_4) irradiado, com excitao de 525 nm. ____________ 116
Figura 6.7. Espectro de emisso para Li
2
O:Tb (G1_8) irradiado, com excitao de 525 nm. ____________ 117
Figura 6.8. Espectro de emisso para MgO:Tb (G2_12) irradiado, com excitao de 525 nm. ___________ 117
Figura 6.9. Espectro de emisso para MgO:Tb (G2_14) irradiado, com excitao de 525 nm. ___________ 118
Figura 6.10. Espectro de emisso para MgO:Tb (G2_16) irradiado, com excitao de 525 nm. __________ 118
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Figura 6.11. Espectro de emisso para MgO:Tb (G2_18) irradiado, com excitao de 525 nm. __________ 119
Figura 6.12. Espectro de emisso para CaO:Tb (G3_22) irradiado, com excitao de 525 nm. __________ 119
Figura 6.13. Espectro de emisso para CaO:Tb (G3_24) irradiado, com excitao de 525 nm. __________ 120
Figura 6.14. a) Transies entre nveis de energia do Tb (diferena entre linhas no esta corretamente
representada) e b) picos identificados no espectro de emisso da amostra MgO:Tb (G2_14), mas que se observa
em todas as outras amostras, com exceo de Li
2
O:Tb na amostra G1_8. ____________________________ 121
Figura 6.15. a) Espectro de excitao para Li
2
O:Tb (G1_2) irradiado e no irradiado com emisso de 380 nm e
b) 415 nm. ______________________________________________________________________________ 122
Figura 6.16. a) Espectro de excitao para Li
2
O:Tb (G1_4) irradiado e no irradiado com emisso de 380 nm
e b) 415 nm. ____________________________________________________________________________ 123
Figura 6.17. a) Espectro de excitao para Li
2
O:Tb (G1_8) irradiado e no irradiado com emisso de 380 nm
e b) 415 nm. ____________________________________________________________________________ 123
Figura 6.18. a) Espectro de excitao para MgO:Tb (G2_12) irradiado e no irradiado com emisso de 380 nm
e b) 415 nm. ____________________________________________________________________________ 123
Figura 6.19. a) Espectro de excitao para MgO:Tb (G2_14) irradiado e no irradiado com emisso de 380 nm
e b) 415 nm. ____________________________________________________________________________ 124
Figura 6.20. a) Espectro de excitao para MgO:Tb (G2_16) irradiado e no irradiado com emisso de 380 nm
e b) 415 nm. ____________________________________________________________________________ 124
Figura 6.21. a) Espectro de excitao para MgO:Tb (G2_18) irradiado e no irradiado com emisso de 380
nm e b) 415 nm. _________________________________________________________________________ 124
Figura 6.22. a) Espectro de excitao para CaO:Tb (G3_22) irradiado e no irradiado com emisso de 380 nm
e b) 415 nm. ____________________________________________________________________________ 125
Figura 6.23. a) Espectro de excitao para CaO:Tb (G3_24) irradiado e no irradiado com emisso de 380
nm e b) 415 nm. _________________________________________________________________________ 125



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1 1. . I IN NT TR RO OD DU U O O
Luminescncia Opticamente Estimulada (Optically Stimulated Luminescence, OSL)
atualmente uma das principais tcnicas em uso em dosimetria das radiaes. Sua aplicao se
estende desde a fsica mdica at mtodos de datao (em geologia e arqueologia), passando
por dosimetria espacial, retrodosimetria e dosimetria individual externa [1].
Para o desenvolvimento de um modelo dosimtrico usando OSL necessrio a realizao de
uma srie de estudos. A primeira etapa consiste em propor materiais que possam ser usados
como detectores OSL, estes devem ser sensveis radiao ionizante e apresentar resposta a
estmulos pticos. Nessa fase faz-se a caracterizao do material usando tcnicas
espectroscpicas e cristalogrficas observando a resposta e comportamento do material para
diferentes tipos de exposies (raios-X, o, |, e nutrons) com faixas de doses diferentes.
Depois de conhecida a resposta luminescente do material quando exposto radiao, um
algoritmo para o clculo de dose desenvolvido. Esse algoritmo deve considerar o tipo de
estmulo (no caso ptico), o comportamento da resposta do material, o comprimento de onda
do estmulo, o tipo de amostra, as condies climticas e qualquer outro fator que influencie o
espectro de emisso OSL. Finalmente para que seja possvel o uso desse material para
dosimetria comercial uma srie de testes de desempenho devem ser realizados usando o novo
detector e o aparato ptico desenvolvido para fazer as leituras de luminescncia e clculo de
dose. Nesta fase, normas so seguidas para averiguao do comportamento do modelo
segundo padres estabelecidos pelos rgos de controle governamental de proteo
radiolgica. Caso esses padres sejam satisfatoriamente respondidos, estabelece-se assim, um
modelo de dosimetria OSL.
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O presente trabalho contribui com resultados para varias fases do desenvolvimento de um
modelo OSL para dosimetria. Essas contribuies so resultantes da parceria entre o Instituto
de Fsica de So Carlos, da Universidade de So Paulo (IFSC USP), onde foram feitos
estudos usando ressonncia paramagntica eletrnica em um detector OSL (Al
2
O
3
:C); a
empresa Sapra Landauer Servio de Assessoria e Proteo Radiolgica de So Carlos, onde
foi desenvolvida a proposta de certificao para o uso de OSL em dosimetria individual
externa no Brasil; e o Laboratrio de Dosimetria das Radiaes (LDR) do departamento de
Fsica da Universidade Estadual de Oklahoma (Stillwater, EUA) onde, em visita cientfica no
perodo de Fevereiro a Abril de 2007, foram feitas medidas preliminares no estudo do
comportamento de um detector OSL (Al
2
O
3
:C) para exposies a diferentes comprimentos de
onda de ultravioleta e aquisio de espectros de EPR, de emisso e de excitao para amostras
de xidos com potencial para uso como detectores OSL.
No Captulo 1 introduzimos o fenmeno da luminescncia opticamente estimulada em linhas
gerais, destacando as possveis aplicaes da tcnica em dosimetria individual externa e as
motivaes para o estudo de OSL em Al
2
O
3
:C apresentando uma breve descrio do material
e de seus bons resultados para dosimetria OSL.
No Captulo 2 descrevemos as amostras e descrevemos os equipamentos utilizadas em cada
estudo de forma esquemtica e geral.
No Captulo 3 justificamos nossa proposta de certificao de dosimetria individual externa no
Brasil usando OSL apresentando os resultados de testes de desempenho para um leitor, um
porta dosmetro e um detector OSL. Esses testes fazem parte dos testes de desempenho e de
tipo apresentados no Apndice A e so discutidos usando o mtodo estatstico descrito no
Apndice B.
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O Captulo 4 dedicado aos resultados obtidos por espectroscopia de EPR para a
caracterizao dos centros luminescentes envolvidos no processo OSL no Al
2
O
3
:C e nos
xidos com potencial para detectores OSL. Apresentamos os espectros adquiridos para nossas
amostras e, embora no tenhamos obtido resultados conclusivos que correlacionem nossos
resultados aos centros luminescentes, apresentamos a caracterizao das linhas dos espectros
e algumas discusses sobre resultados encontrados.
No Captulo 5 fornecemos informaes sobre a resposta do sinal OSL do detector Al
2
O
3
:C
quando exposto a diferentes comprimentos de onda de ultravioleta. A comparao entre o
decaimento OSL entre amostras expostas a diferentes comprimentos de onda de UV e das
mesmas amostras expostas a radiao | abre espao para trabalhos que permitam estudar o
processo de recombinao de diferentes centros luminescentes em Al
2
O
3
:C, bem como a
criao de um modelo reprodutvel para dosimetria em Al
2
O
3
:C para UV.
No Captulo 6 apresentamos os espectros de emisso de excitao para os xidos com
potencial para detectores OSL. Esse estudo o passo inicial no desenvolvimento de um
modelo de dosimetria OSL para esses xidos, especialmente para determinar com que
comprimento de onda os materiais devem ser expostos para a leitura do sinal OSL e saber
qual a resposta dos materiais a esses estmulos luminosos.
Finalmente, no Captulo 7, apresentamos as concluses finais sobre os estudos feitos,
mostrando as tcnicas aprendidas, conhecimento adquirido e resultados obtidos.



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1.1. Apresentao do Problema.

A sugesto do uso de luminescncia opticamente estimulada como tcnica dosimtrica foi
feita por Antonov-Romanovskii em 1956 e desde ento tem sido amplamente estudada e
aplicada em todas as reas da dosimetria [2].
No item a seguir (1.1.1.) so apresentadas algumas propriedades fsico-qumicas do material
usualmente adotado como detector OSL o xido de Alumnio. Esse material
extensivamente usado em laboratrios que fornecem servios de monitorao individual
externa, estima-se que cerca de dois milhes de pessoas no mundo usem dosmetros OSL com
detectores de xido de Alumnio crescido a baixa presso na presena de Carbono, o que
aumenta sua sensibilidade radiao e resposta OSL. A boa resposta OSL atribuda ao
grande nmero de centros F e F
+
criados durante o processo de crescimento (defeitos
pontuais). O centro do tipo F
+
possui um eltron desemparelhado sendo assim um centro
paramagntico.
No item 1.2 apresentamos uma viso geral de dosimetria usando luminescncia opticamente
estimulada, com nfase em dosimetria individual externa. Pases como os Estados Unidos da
Amrica, Inglaterra, Frana e Japo possuem uma larga frao de dosimetria individual
externa realizada com dosmetros OSL. Para que um servio de monitorao individual
externa seja certificado pela Comisso Nacional de Energia Nuclear (CNEN) necessrio que
um plano de controle de qualidade de laboratrio (SMIE) e um conjunto de medidas de
caracterizao do conjunto dosimtrico seja aprovado pelo comit de certificao. No Brasil a
regulamentao para a certificao do SMIE est disponvel apenas para dosimetria
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fotogrfica e termoluminescente. Sendo assim apresentamos uma proposta de certificao
acompanhada de testes de desempenho para dosimetria individual externa usando OSL.
Como nossa proposta de certificao de dosimetria individual externa adota OSL usando
como detector o Al
2
O
3
:C, no Item 1.2.6. fazemos uma relao entre o material e esta
propriedade.
Essa relao importante para que possamos apresentar os resultados referentes eficincia
do Al
2
O
3
:C como detector OSL para luz ultravioleta e para discutirmos os resultados
preliminares de espectroscopia ptica e de EPR de xidos dopados com Trbio (materiais
com potencial para aplicao em dosimetria OSL, especialmente dosimetria de nutrons).
No Captulo 2, apresentamos com mais detalhes os materiais, tcnicas e aparelhos usados em
nossas medidas. Passando ento para a apresentao dos resultados e discusso, nos Captulos
3, 4 e 5.

1.1.1. O xido de Alumnio.

O Oxido de Alumnio (Figura 1.1) um composto qumico formado por tomos de Alumnio
e de Oxignio com a frmula qumica Al
2
O
3
(Figura 1.2. a.). Tambm conhecido como
Curundum em comunidades cientificas envolvidas com minerao, cermicas e cincia dos
materiais.
Este material um bom isolante trmico e eltrico sendo mais comumente utilizado na forma
cristalina, chamado Curundum ou -alumina. Safiras e rubis so qualidades de gemas do
Curundum com diferentes traos de impurezas em sua estrutura cristalina, que causam as
diferentes cores.
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No estado slido, Al
2
O
3
apresenta densidade de 3,97 g/cm
3
, solubilidade em gua nula; ponto
de fuso de 2054 C; ponto de ebulio de aproximadamente 3000 C e condutividade trmica de
18 W/mK.

Figura 1.1. xido de Alumnio.

1.1.2. xido de Alumnio crescido numa Atmosfera de Carbono.

O material mais usado como dosmetro OSL o xido de Alumnio crescido em baixa
presso na atmosfera de Carbono. Nesse processo, tomos de Alumnio so substitudos por
tomos de Carbono e Oxignios so retirados da estrutura, criando defeitos pontuais, como
mostrado na estrutura da Figura 1.2. b.
Cristais de Curundum de alta pureza so crescidos segundo o mtodo de Czochralski [3]
derretidos a 2000 C e recristalizados numa baixa presso na atmosfera de Carbono. Segundo
a literatura os defeitos pontuais criados nas vacncias de oxignio nesse processo so centros
F e F
+
[4], que so armadilhas de eltrons (Figura 1.2).
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Figura 1.2. a) estrutura cristalina do xido de Alumnio; b) defeito pontual criado pelo crescimento em
baixa presso na presena de carbono.


A estrutura cristalina do Curundum Hexagonal Close-Packet (HCP) (Figura 1.2. a.), os ons
Al
3+
ocupam stios octadricos distorcidos (Figura 1.2. b.) e as vacncias de oxignios
(centros F, F
+
) ocupam um sitio de simetria C
2
, ou seja, exido de toro de ordem 2. [4]. Os
tomos de Carbono ocupam os mesmos stios que os Alumnios.

1.2. Dosimetria Opticamente Estimulada.

Luminescncia Opticamente Estimulada (OSL) o sinal luminescente emitido por um
isolante ou semicondutor (previamente irradiado) quando exposto luz. A intensidade OSL
uma funo da dose de radiao absorvida pela amostra, desta maneira a resposta
luminescente pode ser usada como base de um mtodo de dosimetria. O processo comea
com a radiao causando ionizao no material, com excitao dos eltrons da camada de
valncia e a conseqente criao de par eltron/buraco. Defeitos pr-existentes no material
armadilham os eltrons livres e os buracos em estados metaestveis. Ao expor o material
a) b)
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luz, esses eltrons e buracos armadilhados se recombinam e emitem sinal luminescente; que
o sinal OSL proporcional dose recebida pela amostra.
Numa descrio matemtica do problema tem-se que a concentrao total de estados
metaestveis no sistema no tempo t representado por (t), de maneira que:
m m
d d d t n t
m


... ) , ,... , ( ... ) (
2 1 2 1
1 2
} } }
= Equao (1.1)
Na Equao (1.1), n(
1
,
2
, ..
m
, t) a concentrao de estados ocupados de 1 ao stio m,
descritos pelos parmetros de estado
1
,
2
, ..
m
, e em geral n(,t) = N()f(,t), sendo N() a
concentrao de estados possveis, e f() a ocupncia do estado (f = 1 quando esta cheio e f =
0 quando esta vazio). Ambas f e N so funes dependentes do tempo.
Os parmetros de estado ditam a estabilidade do estado metaestvel sob condies de
temperatura e intensidade de iluminao, ou seja, eles determinam a probabilidade por
unidade de tempo do estado voltar condio de equilbrio.
Em medidas de luminescncia opticamente estimulada a intensidade da luminescncia
monitorada durante o retorno do sistema ao equilbrio. A intensidade da luminescncia, I(t),
proporcional ao decaimento dos estados metaestveis, da seguinte maneira:
dt
t d
t I
) (
) (

= Equao (1.2)
A luminescncia estimulada dependente do tempo atravs da dependncia funcional de
dt
t d ) (
com n(
1
,
2
, ..
m
, t). Para desenvolver I(t) precisamos de uma relao entre
dt
t d ) (
e
n(
1
,
2
, ..
m
, t).
Uma proposta uma relao da forma:
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) ( ) (
) (
t P t
dt
t d
l

= Equao (1.3),
onde P(t) a probabilidade por unidade de tempo do decaimento de estados metaestveis (t).
Usando uma funo de primeira ordem (l=1) reescrevemos I(t) da forma (sendo
P( t
m
, ,... ,
2 1
) a probabilidade para cada metaestado):
m m m
d d d t P t n
dt
t d
t I
m


... ) , ,... , ( ) , ,... , ( ...
) (
) (
2 1 2 1 2 1
1 2
} } }
= = Equao (1.4)
A probabilidade depende do tempo e sua forma depende do mtodo de estmulo, ou seja,
estimulo ptico ou trmico do estado metaestvel para a volta ao equilbrio. Nosso interesse
nesse estudo so os estmulos pticos, ento para estimulo pticos tem-se que:
) ( ) (
0 0
E E p |o = Equao (1.5)
Na Equao (1.5), | a intensidade de estimulo ptico, ) (
0
E o a seo de choque de
fotoionizao para a interao do estado metaestvel com o fton incidente, e E
0
o limiar de
energia de estimulao ptica necessria para liberao da carga e retorno ao equilbrio. Neste
caso, m = 1 e
1
= E
0
.[1, 5]

1.2.1. OSL de Onda Contnua.

Na representao da Equao (1.5), a temperatura, o comprimento de onda e | so valores
fixos independentes do tempo. Quando as armadilhas esto sendo esvaziadas usando um
comprimento de onda fixo e uma intensidade de iluminao estacionria |, a luminescncia
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medida conhecida como OSL de onda contnua (CW-OSL), cujo estimulo conforme
ilustrado na Figura 1.3.b.
Para estimulo do sinal OSL pode ser usado laser ou LED com comprimento de onda
conhecido. A luminescncia emitida pela amostra monitorada continuamente enquanto o
feixe de estimulo estiver ligado. Filtros so usados para discriminar entre a luz de excitao
do sinal de luminescncia. O sinal OSL monitorado desde o instante em que a fonte ligada
e apresenta, comumente, um decaimento exponencial at que todas as armadilhas sejam
esvaziadas. O sinal integrado da emisso (ou seja, a rea embaixo da curva menos o sinal de
fundo) medido e usado para determinar a dose de radiao absorvida.
Em muitos casos, a curva OSL exatamente uma exponencial (como no caso de medidas em
Al
2
O
3
:C, exemplo de emisso na Figura 1.3. a.), ou pode ser a soma de vrias exponenciais.
Em outros casos o sinal observado cresce inicialmente, para depois decair (como acontece
para o Quartzo) [6]. Essa variedade de curvas sugere a multiplicidade de possveis caminhos
de recombinao e produo do sinal OSL. conhecido que o comportamento do decaimento
OSL de onda contnua depende da amostra, da dose absorvida, do comprimento de onda de
estimulo, da intensidade de estimulo e da temperatura.
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Figura 1.3. a) Resposta OSL de onda continua para Al
2
O
3
:C e, b) estimulo OSL de Onda Continua (CW
OSL).

1.2.2. OSL de Modulao Linear.

Quando ocorre um crescimento linear na intensidade de estimulo ptico, a um comprimento
de onda constante, tem-se que:
t t
|
| | | + =
0
) ( Equao (1.6),
sendo
dt
d|
|
|
= .
OSL medido dessa maneira chamado de OSL de modulao linear (ML-OSL). Estimulo e
resposta de estimulo OSL de modulao linear so mostrados nas Figura 1.4.a e b.
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Figura 1.4. a) Resposta OSL de modulao linear para Safira e, b) estimulo OSL de Modulao Linear
(LM OSL).


1.2.3. OSL Pulsado.

O estimulo OSL pode ser pulsado, de maneira que |(t) = |
0
para t
0
s t < (t
0
+At) e |(t) = 0
para (t
0
+At) s t < (t
0
+t) sendo At a durao do pulso e t o perodo. A esse tipo de estimulo se
d o nome de OSL pulsado (POSL), com exemplo de estimulo na Figura 1.5. b.
Nesse modo de excitao, a emisso OSL medida apenas entre os pulsos (e no durante os
pulsos). Dessa maneira a discriminao dos sinais, de excitao e de emisso, feita por
resoluo temporal e no por resoluo de comprimento de onda. Quando comparado a CW-
OSL e LM-OSL, POSL necessita de menos filtros pticos. Exemplo de resposta OSL pulsado
para Al
2
O
3
:C mostrado na Figura 1.5. a.
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Figura 1.5. a) Resposta OSL de estimulo pulsado para Al
2
O
3
:C e, b) estimulo OSL pulsado (POSL).


Existem outros estmulos possveis, os citados acima so os mais comumente usados. Nesse
trabalho usamos leitores de sinal luminescente que usam OSL pulsado (Inlight Reader,
descrito no Captulo 2, item 5) e de onda contnua (Ris, descrito no captulo 2, item 6).

1.2.4. Absoro ptica.

A absoro de luz incidente com intensidade I
0
() e comprimento de luz como funo da
distancia x em um slido descrito pela lei de Lambert-Beer:
] ) ( exp[ ) ( ) , (
0
x I x I o = Equao (1.7),
onde o() o coeficiente de absoro e I(,x) a intensidade na posio x. O valor de o
depende do processo de absoro ptica que ocorre para . Um esquema com as transies
pticas possveis e que so importantes para dosimetria mostrado na Figura 1.6.
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Figura 1.6. Esquema com absores pticas possveis.


Transies de banda a banda (tipo 1) no so importantes para isolantes (com gap grande) que
podem ser usados para dosimetria (ex: Al
2
O
3
, SiO
2
), mas so importantes para
semicondutores com gap raso (ex: ZnSe). Excitao de formao (transio 2) pode levar a
localizao de carga e conseqentemente a sinal TL ou OSL, mas esse tipo de transio
geralmente ocorre em ultravioleta, que no relevante para dosimetria das radiaes
ionizantes. As transies do tipo 3a e 3b so de ionizao de defeitos e incluem, por exemplo,
ionizao dos centros F no Al
2
O
3
:C onde a absoro de um fton de aproximadamente 6,5 eV
induz uma transio de eltron do estado fundamental ao estado 2P excitado do centro F, uma
vez que o estado 2P acessvel a banda de conduo pode ocorrer ionizao, levando ao
armadilhamento e, subseqentemente, a TL ou OSL [4].
Transies do tipo 4a e 4b do origem ao sinal OSL. Aps o material ser exposto a radiao
ionizante, eltrons passam da banda de valncia para a banda de conduo e ao decarem uma
frao armadilhada por defeitos do cristal (criao de pares eltron-buraco). O estimulo
ptico dessas cargas armadilhadas por absoro de luz faz com que os eltrons voltem banda
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de conduo, decaiam e recombinem com os buracos armadilhados emitindo um sinal OSL.
Transies desse tipo tambm levam a feitos de fototransferncia e branqueamento ptico de
sinais OSL ou TL. Em ambos os casos o sinal luminescente subseqente (OSL, TL ou
fototransferncia) uma funo da dose inicial de radiao absorvida, do comprimento de
onda, da intensidade e da durao do estimulo ptico. Um esquema mais detalhado do
processo mostrado na Figura 1.7.
Transies intrabanda (do tipo 5) so importantes em alguns processos envolvendo dosimetria
opticamente estimulada em materiais naturais.

Figura 1.7. Esquema de criao de pares buraco-eltron e gerao de sinal OSL.



1.2.5. Dosimetria Individual Externa.

Dosimetria radiolgica permite o calculo de dose absorvida pela matria ou tecido como
resultado de exposio radiao ionizante.
Dose absorvida (D) na unidade SI medida em grays (Gy) e a grandeza expressa por
D=dE/dm, onde dE o valor esperado da energia depositada pela radiao em um volume
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elementar de matria de massa dm, ou seja, um gray a absoro de um Joule de energia por
um quilograma de massa. [7].
Dosimetria individual a rea dentro da dosimetria que monitora a dose recebida por pessoas
expostas a radiao ionizante. Nos ltimos anos estabeleceu-se que esse monitoramento
deveria apresentar as doses expostas pelas pessoas considerando-se a qualidade da irradiao.
Essas doses so calculadas usando-se dose equivalente.
A Dose Equivalente (HT) a grandeza expressa por HT = DTwR, onde DT a dose
absorvida mdia no rgo ou tecido humano e wR o fator de ponderao da radiao. Para
Raios-X, por exemplo, wR = 1, de maneira que dose equivalente numericamente igual a
dose absorvida. A unidade SI de dose equivalente denominado Sievert (Sv).
Dose Profunda a dose equivalente absorvida por tecido humano em uma profundidade
equivalente a 1000 mg/cm
2
(1,0 cm abaixo da pele superficial), nesse caso o interesse em
radiao de alta penetrao, tais como: raios , | de alta energia e Raios-X (com energia > 15
keV).
Dose Rasa a dose equivalente absorvida pela pele a uma profundidade de 5 a 10 mg/cm
2
;
neste caso o interesse em radiao de baixa penetrao, tais como: | de baixa energia e
raios-X (com energia < 15 keV).
Dose de Cristalino a dose equivalente absorvida pela lente do olho a uma profundidade de 3
mm.


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1.2.6. xido de Alumnio e Sinal OSL.

Como j dito anteriormente, xido de Alumnio crescido em uma baixa presso na presena
de uma atmosfera de Carbono (Al
2
O
3
:C) aumenta o nmero de defeitos pontuais (centros F,
F
+
). Nos cristais usados nesse trabalho, o nmero de tomos de carbono no cristal varia de 20
a 100 ppm (por anlise de absoro atmica, resultados no publicados) e defeitos pontuais
esto presentes na ordem de 5000 ppm [1]. Esses cristais dopados com Carbono apresentam
alta sensibilidade termoluminescente e luminescncia opticamente estimulada (sinal
normalizado nas Figuras 1.8.a, para termoluminescncia e 1.8.b, para sinal opticamente
estimulado).

Figura 1.8. a) Sinal TL do Al
2
O
3
:C e b) Sinal CW-OSL do Al
2
O
3
:C.


Existem muitos estudos que avaliam a sensibilidade do Al
2
O
3
:C para diferentes tipos de
radiao [8, 9]. O Al
2
O
3
:C tem sensibilidade a exposies | que vai desde 10 Gy at 100 Gy
[10, 11]. Suas respostas em dosimetria individual externa, datao e dosimetria espacial para
Raios-X, |, , o e partculas pesadas, j so bastante conhecidas [12]. Alguns exemplos so
mostrados no grfico da Figura 1.9. a e b para estimulo com onda contnua (CW OSL).
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No existem modelos de dosimetria OSL usando Al
2
O
3
:C como detector para exposies a
nutrons e ultravioleta. No caso de nutrons o maior problema devido a maneira como os
nutrons interagem com o material. No caso de UV estudos para o desenvolvimento de um
modelo j esto sendo feitos. J se conhece a resposta do material a UV para sinal
termoluminescente e parte dos estudos preliminares de resposta OSL do material a exposio
UV so apresentados nesse trabalho, mostrando a resposta aps exposio com diferentes
comprimentos de onda.

Figura 1.9. a) Sinal OSL para diferentes doses de irradiao com |, e b) para exposio com diferentes
fontes de radiao (|, He, C, Si e Fe).



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2 2. . M MA AT TE ER RI IA AI IS S E E M M T TO OD DO OS S

2.1. Monocristais Usados para Aquisio de Espectros de EPR.
Os monocristais de Al
2
O
3
:C foram enviados pela Diviso de Crescimento de Cristais da
Landauer Inc. (Landauer Crystal Growth Division, Stillwater, EUA).
Esses monocristais possuem forma cilndrica com 3 mm de altura e 8 mm de dimetro e
impurezas de Ca, Cr, Ti, Ni, Si, Cu, Mg e Fe em p.p.m. Para este trabalho no foi feito
nenhum tratamento qumico e as amostras dos cristais foram cortadas pelo grupo de
Crescimento de Cristais do Instituto de Fsica de So Carlos (USP) de maneira que ficassem
quadrados de 5 x 5 mm, mantendo os 3 mm de espessura.
2.2. Amostras em P Usadas para Aquisio de Espectros de EPR, de
Excitao e de Emisso.

Amostras de ps de Al
2
O
3
:C foram utilizadas na aquisio de espectros de EPR. As amostras
de p de MgO:Tb, MgO:Tb,Co, CaO:Tb e Li
2
O:Tb foram utilizadas para aquisio de
espectros de EPR, de emisso e de excitao.
As amostras de MgO:Tb, MgO:Tb,Co, CaO:Tb e de Li
2
O:Tb foram preparadas no Instituto de
Cincias Nucleares Vinca (Belgrado/Srvia). Todas as amostras possuem concentraes
acima de 0,2 % em massa de Tb. As amostras foram separadas em grupos para esse trabalho e
foram codificadas como mostrado na Tabela 2.1. As amostras de cada Grupo diferem-se pela
concentrao de dopante (Tb), segundo especificaes dadas pelo fabricante.



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Grupo 1 Grupo 2 Grupo 3
G1_2 - Li2O:Tb G2_12 - MgO:Tb,Co G3_22 - CaO:Tb
G1_4 - Li2O:Tb G2_14 - MgO:Tb,Co G3_24 - CaO:Tb
G1_8 - Li2O:Tb G2_16 - MgO:Tb -
- G2_18 - MgO:Tb -
Tabela 2.1. Separao das amostras de xidos por grupo.

Para esse trabalho foram usados dois tipos de ps de Al
2
O
3
:C: produzidos atravs de
monocristais virgens e outro atravs da recuperao do material de dosmetros OSL j usados.
Uma breve descrio de cada tipo de p dada a seguir.

2.2.1. P Virgem de Al
2
O
3
:C.

O p virgem de Al
2
O
3
:C usado nesse trabalho foi obtido a partir de cristais de Al
2
O
3
:C
crescidos da maneira como j foi descrito no item 1.1.1. O tamanho de partcula deste p da
ordem de 50 m, segundo especificao dada pelo fabricante.

2.2.2. P Recuperado de Al
2
O
3
:C.

A recuperao do p de Al
2
O
3
:C foi feita nas dependncias da empresa Sapra S/A (So
Carlos). Sensores OSL do tipo Luxel

(descritos a seguir, no item 2.3) so submetidos a um


processo de recuperao que consiste em duas calcinaes.
Na primeira calcinao feita a decomposio do componente polimrico dos sensores. Na
segunda etapa do processo, chamada de segunda calcinao o material resultante do
primeiro processo inserido num forno tipo mufla, com temperatura controlada em torno de
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700
o
C, para a eliminao completa da parte orgnica e posterior recuperao do material
cermico [13].
O resultado final consiste em um p fino, branco, com as mesmas caractersticas fsico-
qumicas do p virgem. Esse material usado para confeco de novos sensores OSL para
uso em dosimetria individual externa.

2.3. Dosmetros OSL Usados no Trabalho.

Dois modelos de dosmetros OSL foram usados no trabalho. Um deles, Inlight

, foi usado nos


testes de desempenho para a certificao de OSL no Brasil e o outro, Luxel

, teve o detector
usado no estudo das mudanas de sensibilidade do material Al
2
O
3
:C a exposies com
ultravioleta.
A descrio de cada um segue abaixo.

2.3.1. Dosmetros OSL Modelo Luxel

.

O dosmetro do tipo Luxel

mostrado na Figura 2.1. a-c. Este um dosmetro destinado a


dosimetria individual externa. A estrutura interna do dosmetro o detector (Figura 2.1. a.) e
consiste em uma fita de Al
2
O
3
:C em p depositado em um filme de polister e coberto por
outra camada de proteo de polister. O tamanho da rea ativa do detector de 16,5 x 18,5
mm e o tamanho da partcula de p Al
2
O
3
:C varia entre 20 e 90 m (como especificado pelo
fabricante).
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O detector acondicionado em um porta amostra que contm quatro aberturas, ou janelas
(Figura 2.1. b), sendo elas: uma janela totalmente aberta, uma janela com um filtro 250 m de
Cu, uma janela com um filtro de 500 m de Sn e uma janela contendo uma rede de Cu de
500 m com buracos de 1 mm de dimetro. O conjunto (detector recoberto por estrutura com
as janelas) colocado dentro de uma proteo denominada monitor ou badge (Figura 2.1. c.)
que feita de maneira a impedir que o detector seja exposto luz (o que causaria perda do
sinal OSL) e para proteo fsica do conjunto.
Quando um dosmetro Luxel lido retirada essa proteo e luz incide em trs das janelas
simultaneamente (a janela aberta, a de Cu e a de Sn). O sinal obtido para essas janelas usado
para calcular a Dose Profunda (Hp(10)), Dose Rasa (Hp(0,07)) e Dose de Cristalino
(Hp(0,3)), usando uma frmula da forma:
D=A.I
ja
+B.I
Cu
+C.I
Sn
Equao (2.1)

Sendo I
ja
a intensidade luminescente para janela aberta, I
Cu
a intensidade luminescente para
janela de Cu e I
sn
a intensidade luminescente para janela de Sn. As constantes A, B e C so
coeficientes especficos de cada filtro e so usados pelo algoritmo de clculo de dose (valores
no fornecidos pelo fabricante).
A quarta janela, contendo a grade de cobre, usada para medidas de distribuio espacial da
dose o que no ser discutido nesse trabalho.
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Figura 2.1. Dosmetro Luxel

a) Fita com o detector OSL, b) estrutura com as quatro janelas e c) Badge.




Dosmetros Luxel so lidos usando uma fonte de Laser. Esse tipo de leitura, devido a potncia
do Laser, limpa todo o sinal OSL dos detectores.

2.3.2. Dosmetros OSL Modelo Inlight

.



O dosmetro Inlight

tambm um produto para dosimetria individual externa, contudo, nesse


caso o processo de leitura usa OSL contnuo (CW-OSL) que estimulado por LEDs verdes.
Neste dosmetro, o detector consiste em uma camada de Al
2
O
3
:C em p depositado em um
filme de polister (Figura 2.2. a. 1), colocado dentro de uma estrutura com quatro janelas
(Figura 2.2 a. 2), sendo elas: janela completamente aberta, janela com filtro 250 m de Pb,
uma janela com um filtro de 500 m de Al e uma janela de plstico. O conjunto (detector
recoberto por tampa com as janelas) colocado dentro de uma proteo denominada monitor
ou badge (Figura 2.2. b.) que feita de maneira a impedir que o detector seja exposto luz (o
que causaria perda do sinal OSL) e para proteo fsica do conjunto.
A leitura OSL de dosmetros Inlight

segue uma rotina um pouco diferente da rotina dos


dosmetros Luxel

. Por serem lidos usando LEDs h possibilidade de releitura do sinal, j que


a potncia dos LEDs baixa e a quantidade do sinal lido pode ser feita de maneira que apenas
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uma pequena frao dos centros luminescentes sejam excitados e se recombinem. Dessa
forma um laboratrio pode fazer medidas de OSL em dosmetros Inlight durante, por
exemplo, um ano, sem limpeza do sinal total, de modo que ao final desse perodo existam
dados sobre dose parcial e dose total acumulada.
A sensibilidade de dosmetros Inlight

vai at 10 Gy para exposio por ftons com energia


maior que 5 keV e por eltrons com energia maior que 150 keV, no sendo sensvel para
exposio a nutrons.
Os dosmetros Inlight

tambm possuem 4 janelas (Figura 2.2. a. 2), s que a quarta no


para medida de distribuio espacial de dose, e sim para clculo de dose devido a exposio |
de baixa energia (Hp(0,07)) como, por exemplo, a exposio de
147
Pm,
206
Ti e
90
Sr/
90
Y. Para
tanto a quarta janela feita de plstico (Mylar) e os gros do p de Al
2
O
3
:C possuem
tamanhos entre 20 e 25 m.
Quando um dosmetro Inlight

lido, retirado o badge e luz incide nas quatro janelas


simultaneamente (a janela aberta, a de Pb, a de Al e a de plstico). O sinal obtido para essas
janelas usado para calcular a Dose Profunda (Hp(10)), Dose Rasa (Hp(0,07)), Dose de
Cristalino (Hp(0,3)) e |.

Figura 2.2. Dosmetro Inlight

com a) Fita com o detector OSL (1) e janelas (2), b) protetor com
informaes do usurio (badge).

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2.4. Leitores de Sinal OSL.

Nesse trabalho foram usados dois tipos diferentes de leitores de sinal OSL: leitor de OSL
pulsado (Manual Inlight Reader) e de onda continua (Ris TL/OSL-DA-20). Esses leitores
so descritos a seguir.

2.4.1. Manual Inlight

Reader.

A empresa Landauer Inc. oferece uma srie de produtos e servios para dosimetria individual
externa. Uma das maiores linhas est nos dosmetros e leitores de OSL usando como material
dosimtrico o Al
2
O
3
:C.
O leitor OSL Inlight

s l dosmetros Inlight

. Neste processo so utilizados 36 LEDs para


estimular o material dosimtrico e uma fotomultiplicadora para receber o sinal luminescente.
O leitor possui um dispositivo para abrir os dosmetros e ler cada janela separadamente, e um
software para calcular as doses equivalentes. Um esquema simplificado do aparelho
mostrado na Figura 2.3. Nele temos a fonte de luz, que fornece luz verde para a amostra.
Antes de chegar amostra, a luz passa por um dispositivo ptico que foca a luz incidente na
amostra e filtra a luz espalhada para que no chegue fotomultiplicadora. O sinal
luminescente da amostra passa por um filtro de deteco que limpa o sinal que chegar a
fotomultiplicadora.
Maiores detalhes sobre o dispositivo ptico, filtros e fotomultiplicadora no so fornecidos
pelo fabricante.
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Figura 2.3. Esquema simplificado com o processo de leitura do leitor Manual Inlight

.


2.4.1.1. Mtodo de Medida

O dosmetro colocado manualmente dentro da gaveta do aparelho. Fecha-se a gaveta e o
aparelho l o cdigo de barras e o cdigo 2-D do dosmetro para associar a dose com detector
e slide (essa informao usada para registrar os dados, relacionando-os com o usurio), o
Leitor abre o dosmetro, para poder ler cada janela separadamente. Essa leitura feita
incidindo luz verde dos LEDs na amostra. O sinal luminescente recebido pela
fotomultiplicadora (passando antes por um sistema ptico para filtrar sinal dos LEDs) que vai
converter a informao de maneira que o programa do aparelho possa usar o algoritmo para
calcular as doses, tipo de radiao e a existncia de radiao |.

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2.4.2. Leitor TL/OSL, modelo Ris TL/OSL-DA-20 (Luxel

).

O leitor de TL/OSL, modelo Ris TL/OSL-DA-20, usado em estudos de luminescncia
como retro dosimetria [14], datao [15], dosimetria individual externa, etc. Os leitores so
bastante flexveis e podem ser programados para fazer uma ou uma srie de medidas,
irradiaes e aquecimentos.
Ele possui uma gaveta para 48 amostras, unidades para leitura com estimulo no comprimento
de onda de azul e infravermelho. Aquecimento linear para medidas de TL de at 700
o
C.
Grupos de estimulo com 42 LEDs azuis Nichia (470 nm) com potencia de 50 mW/cm
2
e laser
de infravermelho (830 nm) com potencia de 300 mW/cm
2
para medidas OSL. Uma fonte de
radiao |
90
Sr/
90
Y com capacidade de aproximadamente 0,1 Gy/s. Um esquema da unidade
de medida OSL no aparelho mostrado na Figura 2.4.
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Figura 2.4. a) Diagrama esquemtico do grupo combinado de LEDs azuis e o laser IR para medidas de
OSL e b) esquema visto de cima do prato com amostra para mostrar disposio das fontes.


A fonte de infravermelho consiste em um arranjo de 30 a 40 diodos que ficam a 20 mm da
amostra, um sensor de resposta (um fototransistor) estabiliza a potncia que sai da fonte,
lentes cilndricas montadas em frente ao laser fornecem uma iluminao uniforme em 1 cm
2

sob a posio da amostra e um filtro de corte do tipo passa alta Schott RG-115 reduz o sinal
de fundo na fotomultiplicadora. A unidade com os LEDs consiste em sete aglomerados de
sete LEDS montados em circulo em volta do prato em que fica a amostra. Todos os
aglomerados so individualmente focados na amostra a 25 mm de distncia. Um filtro de
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corte tipo passa alta GG-420 colocado em frente de cada aglomerado de LEDs para
minimizar a incidncia de luz azul espalhada na fotomultiplicadora. Um filtro de 7,5 mm
Hoya U-340 recebe o sinal emitido pela amostra (filtro de deteco) e estabiliza o sinal que
chegar a fotomultiplicadora.

2.5. Espectrmetros.

Nesse trabalho foram usados dois tipos de espectrmetros: de ressonncia paramagntica
eletrnica (Electron Paramagnetic Resonance, EPR) e ptico. Esses espectrmetros so
descritos a seguir.

2.5.1. Espectrmetro de EPR (Bruker).

Espectrmetros de EPR so usados para estudo de centros paramagnticos. Com este pode-se
detectar impurezas, determinar a simetria dos centros paramagnticos e suas interaes com
os tomos vizinhos.
A tcnica consiste em submeter uma amostra que possua centros paramagnticos (ou seja,
com spins desemparelhados) a dois campos magnticos: um quase esttico ( ) (

0
t B ), que
separa seus nveis de energia; e um outro campo perpendicular ao primeiro ( ) (

1
t B ),
normalmente da ordem de microondas, que provoca as transies enttre os estados. A energia
absorvida monitorada e convertida num espectro de EPR.
O exemplo clssico usado para ilustrar os princpios de EPR o sistema de spin s =
formado por um eltron livre sujeito a um campo magntico
0

B [16]. Os centros estudados


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por EPR possuem um momento de dipolo magntico
e
associado ao momento de spin
atravs da equao abaixo:
S g
B e

. . = Equao (2.2)
Onde S

o operador do momento angular de spin do eltron, g uma constante adimensional


chamada constante g do eltron (que para o eltron livre, considerando correes
relativsticas, igual a 2,0023) e
B
o magneton eletrnico de Bohr, dado por e /2mc (c
a velocidade da luz, e e m so respectivamente a carga e massa do eltron).
A energia do dipolo magntico em um campo magntico ) (

0
t B externo dado por:

0

. B
e
= Equao (2.3)
Substituindo
e
pela expresso da Equao (2.2) temos:

z B e
S B g B . . .

.
0
= = Equao (2.4)
A magnitude do momento de spin S

dada pela raiz quadrada dos autovalores de S


2
, ou seja
[S(S+1)]1/2. Os autovalores para a projeo do momento de spin em alguma direo
especfica so os M
S
(no caso acima, na direo de z), os valores permitidos variam em
mltiplos inteiros de S at +S. Para um eltron livre, S = 1/2 e os valores de M
S
so 1/2 e
+1/2. Existem, ento, dois estados que so degenerados quando o campo B
0
for nulo, e cuja
separao aumenta linearmente medida que B
0
aumenta, como mostrado na Figura 2.5.
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Figura 2.5. Diagrama de nveis de energia para o spin de um eltron livre em funo de um campo
magntico aplicado B.


Dessa forma o campo oscilante ) (

1
t B aplicado perpendicularmente a ) (

0
t B , com freqncia
que satisfaa a condio de ressonncia, induz transies de maneira que passamos a ter
absoro ou emisso de energia:
B g h E
B
. . u = = A Equao (2.5)
Para satisfazer a condio de ressonncia existem diferentes bandas em que medidas de EPR
so feitas. Como exemplo temos a banda X que opera na regio de microondas do espectro
eletromagntico, com freqncia em torno de 9,5 GHz; outro exemplo a banda Q, que usa
freqncia da ordem de 35 GHz.
O espectrmetro usado tanto nas medidas no Brasil quanto nos Estados Unidos foi um
espectrmetro de EPR modelo Bruker ELEXSYS E580 FT/CW. Na Figura 2.6. temos o
esquema geral de um espectrmetro de EPR Bruker e na Figura 2.7., mais detalhadamente, a
ponte de microondas.
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Figura 2.6. Esquema geral de um espectrmetro de EPR Bruker ELEXSYS E580 FT/CW.




Figura 2.7. Diagrama da ponte de microondas.
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O campo magntico B produzido pela corrente eltrica nas bobinas (no magneto). O
controle da estabilidade do campo divide-se em duas partes: microprocessador encarregado
em verificar a voltagem enviada em cada passo do campo (4096 passos, no mximo); e um
controlador de efeito Hall entre as bobinas que envia informao ao microprocessador para
controle da estabilidade.
A amostra colocada em uma cavidade ressonante cujas dimenses casam com o
comprimento de onda da radiao incidente de tal forma que esta entra em ressonncia,
gerando um padro de ondas estacionrias. Ela pode ter uma forma retangular ou cilndrica. A
cavidade usada em nossas medidas (modelo ER 4102ST) retangular e opera no modo TE
102

com uma freqncia central de 9,8 GHz, com fator Q de qualidade de 6000.
A ponte de microondas abriga a fonte de microondas (um diodo Gumn) e o detector (Figura
2.7.). Seguindo o caminho que as microondas fazem da fonte at o detector comeamos pelo
ponto A, a fonte de microondas. A potncia de sada da fonte de microondas no pode ser
variada facilmente, por isso, no ponto B, temos um atenuador que controla precisamente a
potncia de microondas. Deseja-se que o detector (ponto G) receba apenas a radiao de
microondas que volta da cavidade ressonante (ponto D) onde a amostra se encontra, para isso
o circulador (ponto C) direciona as microondas incidentes (da fonte de microondas, que passa
pelo brao de referncia) na porta 1 apenas para a porta 2 (para a cavidade) e microondas
vindo da cavidade apenas para a porta 3, ou seja, para o detector. Um diodo Schottky (ponto
E) detecta a microonda que sai pela porta 3 do circulador e converte potncia de microondas
em corrente eltrica. Para medidas quantitativas da intensidade do sinal bem como otimizao
da sensibilidade, o diodo deve operar na regio linear (potncia acima de 1 mW) que
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corresponde a uma corrente de 200 A (no detector). Para assegurar que o detector opere
nessa faixa h um brao de referncia (ponto F) que balanceia o sistema.

2.5.2. Espectroscopia ptica: FluoroLog-3.

Espectroscopia de ultravioleta/visvel (UV/VIS) usa luz no visvel ou ultravioleta. Nessa
regio de energia molculas passam por transies eletrnicas. Eltrons existem em diferentes
nveis de energia dentro de um tomo. Esses nveis possuem, normalmente, energia bem
definida e eltrons que se movem entre eles emitem ou absorvem ftons (luz). O
comprimento de onda da luz relacionado com sua energia, dessa forma adquirimos o
espectro para a varredura no comprimento de onda.
Espectroscopia ptica pode ser de: absoro, excitao e emisso (ou fluorescncia). Nesse
trabalho foram feitas medidas de dois tipos: emisso e excitao.
Espectroscopia de absoro: luz atravessa uma amostra. Se o comprimento de luz incidente
corresponder a diferena de energia entre dois nveis de energia dos tomos, ento uma
poro dos ftons ser absorvida. A relao entre a concentrao de tomos, o caminho ptico
na amostra e a poro de luz que absorvida so dados pela lei de Lambert-Beer [17].
Para se obter o espectro de emisso, em geral, costuma-se escolher como comprimento de
onda para a excitao quele coincidente com o mximo de absoro. Essa radiao ir levar
a espcie a um certo estado eletrnico excitado. Posteriormente, a espcie vai dissipar parte
desta energia at atingir o primeiro estado eletrnico excitado e a seguir a amostra poder
emitir em uma faixa de comprimentos de onda. O espectro de emisso se constitui em um
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registro das intensidades de emisso nos diversos comprimentos de onda da banda de
emisso, em um comprimento de onda fixo de excitao.
Podemos registrar emisses que ocorram num comprimento de onda fixo, geralmente aquele
que a amostra emitir com maior intensidade, enquanto varia-se o comprimento de onda de
excitao sobre toda a faixa do seu espectro de absoro. Embora em ambos os casos o
registro seja o de emisses por fluorescncia, convenciona-se chamar espectro de
fluorescncia apenas ao primeiro, denominando-se espectro de excitao ao segundo. Este
deve, portanto, apresentar picos nos mesmos comprimentos de onda do espectro de absoro
e, alm disto, ter forma semelhante a este ltimo.
O aparelho usado nesse trabalho para medidas de espectroscopia UV/Vis foi o FluoroLog-3.
Essas medidas foram feitas no LDR (Stillwater, EUA). Este mede a intensidade de luz que
passa pela amostra (I) e compara com a intensidade de luz da fonte (I
0
). A razo I/I
0

chamada de transmitncia.
A fonte de luz do equipamento consiste numa lmpada de 450W de Xennio num envelope
de quartzo para comprimentos de onda no visvel e ultravioleta.
Um esquema ptico do espectrmetro mostrado na Figura 2.8. Luz emitida pela lmpada de
Xe focada na entrada na fenda F1 aps ser concentrada pelo espelho elipsoidal M1. Aps
passar pela fenda F1 a luz refletida pelo espelho M2 at a rede de excitao G1
(monocromador automtico de excitao de feixe simples) de onde dispersa atravs da fenda
de sada F2. A luz de excitao focada, ento, na amostra em A pelas lentes L1 e L2. Parte
da luz de excitao refletida por BS para uma fotomultiplicadora de referncia (PM1). Sinal
emitido da amostra coletado pelas lentes L3 e L4, passando ento pela fenda F3 para ser
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disperso pela rede em G2 (monocromador automtico de emisso de feixe simples). A luz
dispersa passa pela fenda F4 para chegar a fotomultiplicadora PM2.


Figura 2.8. Esquema ptico do FluoroLog

-3.












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3 3. . R RE ES SU UL LT TA AD DO OS S I I: : M MO OD DE EL LO O D DE E C CE ER RT TI IF FI IC CA A O O D DE E D DO OS SI IM ME ET TR RI IA A
I IN ND DI IV VI ID DU UA AL L E EX XT TE ER RN NA A N NO O B BR RA AS SI IL L. .

Nos ltimos anos a luminescncia opticamente estimulada tornou-se extensivamente utilizada
em dosimetria, devido aos bons resultados obtidos usando Al
2
O
3
:C como material
dosimtrico.
No Brasil, a Comisso Nacional de Energia Nuclear CNEN [18] - responsvel pelo
processo de certificao dos servios de dosimetria. O primeiro processo de certificao nessa
rea ocorreu em 1996 para os laboratrios de dosimetria e mais recentemente foi estendido
para laboratrios de calibrao. Os testes so baseados em uma extensa regulamentao que
atinge aspectos de: 1) organizao geral do laboratrio, 2) recursos humanos, 3) instalaes,
4) garantia de qualidade do processo, 5) tipo de suporte para o detector, 6) tipo de detector, 7)
avaliao do dosmetros e 8) avaliao dos equipamentos de leitura.
Os itens 1 a 4 so de carter organizacional e de estabelecimento de controles, e podem ser
entendidos como independentes da tecnologia utilizada para a realizao da dosimetria.
Contudo os itens 5 a 8 foram especificados no regulamento tcnico IRD- RT N. 002.01.05
[IRD RT No.002.01/95 Critrios Gerais para Certificao de um Servio de monitorao
Individual Externa para Dosimetria Fotogrfica e Termoluminescente.
No h, no Brasil, um processo aprovado pela CNEN para certificao de laboratrio de
dosimetria individual externa que faa a dosimetria com tecnologia OSL. A parte formal da
instituio pode e deve seguir os padres ISO 17.025 de regulamentao, mas a parte tcnica
requer controles e padres especficos.
Esse tipo de documentao segue os padres internacionais, estabelecidos pela Agncia
Internacional de Energia Atmica [19] (IAEA) atravs de rgos relacionados com proteo
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radiolgica ICRP [20] (Comisso Internacional de Proteo Radiolgica) e padronizao
de unidades e medidas ICRU (Comisso Internacional de Unidades e Medidas em
Radiao) [21].
Neste trabalho fazemos uma proposta de modelo de certificao de dosimetria OSL no Brasil
apresentando uma matriz de correlao (apresentado no Apndice A) entre certificao de
dosimetria com filme, dosimetria termoluminescente e dosimetria fotoluminescente. Foram
feitas algumas das medidas propostas para os testes de desempenho, apresentadas a seguir nos
itens 3.2.1., 3.2.2. e 3.2.3.

3.1. O Dosmetro, o Leitor e o Porta Dosmetro.

Os testes so divididos em: testes do leitor, testes do dosmetro e testes do porta dosmetro.
O leitor usado para os testes foi o Manual Inlight

Reader (descrito no Captulo 2, item 4.1.),


desenvolvido para aquisio de sinal luminescente e para calcular doses para uso em
dosimetria individual externa. O estimulo usado o OSL pulsado e as doses calculadas so a
Dose Profunda, Dose Rasa e Dose de Cristalino. Os testes de desempenho, apresentados nesse
trabalho, possuem resultados usando apenas Dose Profunda, pois obtivemos resultados com
igual qualidade para todos os tipos de dose calculada. Nossa proposta de uso de OSL em
dosimetria individual externa no Brasil ser encaminhada a CNEN com testes de desempenho
para os trs tipos de doses.
O porta dosmetro usado foi o Panasonic

(descrito no Capitulo 2 item 3.2) e o dosmetro
usado foi o Inlight

(descrito no Capitulo 2, item 3.2).
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As irradiaes foram feitas usando uma fonte de
60
Co e a limpeza do sinal luminescente foi
feita expondo os detectores por 12 horas sob quatro lmpadas fluorescentes de 40 W
montadas paralelamente em uma nica luminria, a uma distncia de 10 centmetros dos
detectores.
Os testes foram feitos usando estatstica t de Student, uma breve explicao da estatstica e
outros detalhes matemticos usados para avaliao dos testes so dadas no Apndice B.

3.2. Resultados e Discusso

3.2.1. Testes de Desempenho do Leitor

a) Reprodutibilidade da Luz de Referncia.
O teste de Luz de Referncia feito pelo leitor a cada dez leituras (o nmero de leituras antes
de cada teste de referncia pode ser modificado, de acordo com configurao feita pelo
usurio) e consiste na medida realizada pela fotomultiplicadora em resposta a uma amostra
radioluminescente de Carbono 14 (padro de referncia). A amostra de Carbono 14 fica
constantemente dentro do leitor e contm uma pequena quantidade de
14
C misturada com
fsforo. A emisso dessa amostra independe de temperatura ou umidade, o que permite a
medida da estabilidade da fotomultiplicadora.
Foram feitas vinte leituras consecutivas da Luz de Referncia do leitor e ento foi calculado
seu coeficiente de variao V, dado pela Equao 3.1.

= =
n
i
i
x x
n x x
s
V
1
2
) (
1
1 1
Equao (3.1)
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Sendo x a mdia das vinte medidas e S o desvio padro da mdia.
De acordo com os padres de desempenho estabelecidos o coeficiente de variao deve ser da
forma: 01 , 0 s V .
A contagem da fotomultiplicadora por nmero de medida realizado pelo leitor mostrada na
Figura 3.1.

Figura 3.1. Contagem de fundo de fotomultiplicadora por leitura.

O valor mdio e desvio padro das vinte medidas 203,3 2,1, que resulta em um coeficiente
de variao de 0106 , 0 = V , um valor um pouco acima do desejado ( 01 , 0 s V ). Excluindo do
grfico o ponto de nmero 19 (mostrado pela seta em vermelho), temos mdia e desvio
padro de 203,6

1,8, com coeficiente de variao de 0086 , 0 = V .


Esse resultado demonstra que durante as 20 leituras o leitor se manteve estvel em relao
Luz de Referncia.

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b) Estabilidade do Leitor
Um grupo com doze dosmetros foi irradiado com 10 mGy, lido e limpo. As medidas foram
feitas da seguinte forma:
- A primeira leitura foi feita aps a primeira irradiao (denominado de Leitura 1);
- A segunda leitura foi feita aps limpeza do sinal, irradiao e espera de 24h aps a
irradiao (denominado de Leitura 2);
- A terceira leitura foi feita aps limpeza do sinal, irradiao e espera de 168h aps a
irradiao (denominado de Leitura 3).
Para avaliar a estabilidade do leitor determina-se valor de leitura A para cada dosmetro,
calculando em seguida a mdia
i
A (i=1, 2 e 3), e os desvios padro S
i
para cada mdia.
As mdias para cada leitura devem estar de maneira que:
05 , 1 95 , 0
1
2
s s I
A
A
Equao (3.2)
10 , 1 90 , 0
1
3
s s I
A
A
Equao (3.3)
Onde I

o intervalo de confiana da razo das mdias e calculado de acordo com o
Apndice B.
Na Figura 3.2. temos o grfico com as medidas normalizadas de cada leitura pela Leitura 1, de
maneira que podemos verificar se houve uma mudana nas medidas devido a instabilidade do
leitor. No mesmo grfico h a mdia, o desvio padro e I de cada grupo.
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0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13
0.7
0.8
0.9
1.0
1.1
1.2
1.3
1.4
1.5
1.6
0h = (9.4 1.0) mSv, I
1
= 0.5 (Leitura 1)
24h = (8.9 0.5) mSv, I
2
= 0.4 (Leitura 2)
1 semana = (9.5 1.0) mSv, I
3
= 0.7 (Leitura 3)
D
o
s
e

P
r
o
f
u
n
d
a
/
D
o
s
e

P
r
o
f
u
n
d
a

d
e

0
h
Nmero do Dosimetro

Figura 3.2. Medidas das trs leituras, normalizadas pelas medidas da Leitura 1.


O clculo de I
A
A
i

1
para os grupos 1 e 2 resultou em 1,02 para o limite superior e 0,95 para o
limite inferior; e para os grupos 1 e 3 em 1,10 para o limite superior e 0,92 para o limite
inferior. Dessa maneira mostramos que os resultados calculados esto dentro dos limites
esperados para o teste de Estabilidade do Leitor.
c) Efeito das Condies Climticas.
Trs grupos com doze dosmetros OSL foram separados e irradiados com 10 mGy. Cada
grupo foi lido da seguinte forma:
Grupo 1: leitor sob condies normais de operao (denominado CN*);
Grupo 2: leitor em um ambiente a 35C (denominado 35C);
Grupo 3: leitor em um ambiente a 20C (denominado 20C).
O valor avaliado A para cada dosmetro foi calculado, junto da mdia
i
A (i=1, 2 e 3) e o
desvio padro para cada mdia.
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As mdias para cada leitura devem estar de maneira que:
10 , 1 90 , 0
1
s s I
A
A
i
Equao (3.4)
Onde I o intervalo de confiana da razo das mdias e calculado de acordo com o
Apndice B.
As doses medidas para cada dosmetro de cada grupo so apresentadas a seguir na Figura 3.3:

0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
8.4
8.6
8.8
9.0
9.2
9.4
9.6
9.8
10.0
10.2
10.4
CN* =(9.20.5) mSv, I
1
= 0.4
35
o
C = (8.90.3) mSv, I
2
= 0.2
20
o
C = (9.20.4) mSv, I
3
= 0.3
D
o
s
e

P
r
o
f
u
n
d
a

(
m
S
v
)
Nmero da Medida

Figura 3.3. Medias dos trs grupos: condies normais, 35 oC e 20 oC.

* CN = Condies Normais
O clculo de I
A
A
i

1
para os grupos 1 e 2 resultou em 1,02 para o limite superior e 0,95 para o
limite inferior; e para os grupos 1 e 3 em 1,10 para o limite superior e 0,92 para o limite
inferior.
Dessa forma mostramos que nossas medidas esto dentro dos limites esperados para o teste de
Condies Climticas do Leitor.

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3.2.2. Teste de Desempenho do Porta Dosmetro.

a) Efeito de Exposio Luz
Dois grupos com vinte dosmetros cada foram preparados. Metade de cada grupo (10
dosmetros) foi irradiada com 10 mGy e a outra metade foi limpa.
Um dos grupos, denominado de Grupo 1, foi exposto por 24 horas a quatro lmpadas
fluorescentes de 40 W montadas paralelamente em uma nica luminria, a uma distncia de 1
metro, durante (a temperatura dos dosmetros foram mantidas menores que 40C). O outro
grupo, denominado de Grupo 2, foi deixado em um ambiente escuro, com as demais
condies ambientais inalteradas (temperatura dos dosmetros do Grupo 1 no mudou mais de
5% em relao ao Grupo 2). Aps uma semana todos os dosmetros foram medidos.
Calculamos o valor avaliado A para cada dosmetro OSL, a mdia
i
A (i=1, 2) e o desvio
padro S
i
das mdias.
As mdias para as leituras dos dosmetros irradiados com 10 mGy devem satisfazer a equao
3.5:
10 , 1 90 , 0
1
2
s s I
A
A
Equao (3.5)
Onde I o intervalo de confiana para a razo das mdias e calculado de acordo com o
Apndice B.
As mdias para as leituras dos dosmetros no irradiados devem estar de maneira que:
mGy I A A 20 , 0
2 1
s + Equao (3.6)
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Onde I o intervalo de confiana para o mdulo da diferena das mdias e calculado de
acordo com o Apndice B.
Para mostrar que no h variao de dose devido a exposio luz foi feito um grfico das
doses dos dosmetros expostos luz normalizada pelas doses dos dosmetros no expostos
luz, na Figura 3.4.
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11
0.004
0.006
0.008
0.010
0.012
0.014
9.0
9.5
10.0
10.5
11.0
11.5
12.0
Sem luz (radia. fundo) = (0.07 0.02) mSv, I
1
= 0.01 (Grupo 2)
Com luz (radia. fundo) = (0.06 0.02) mSv, I
2
= 0.01 (Grupo 1)
Sem luz (10 mGy) = (9.4 0.5) mSv, I
3
= 0.4 (Grupo 2)
Com luz (10 mGy) = (9.4 0.7) mSv, I
4
= 0.6 (Grupo 1)
D
o
s
e

P
r
o
f
u
n
d
a
/
D
o
s
e

P
r
o
f
u
n
d
a

s
e
m

l
u
z
Nmero do Dosmetro

Figura 3.4. Distribuio de medidas normalizadas pelas medidas sem exposio luz.


O clculo de I
A
A

1
2
para os dosmetros irradiados resultou em 1,02 para o limite superior e
0,96 para o limite inferior; e o clculo de I A A +
2 1
para os dosmetros no irradiados
resultou em 0,1 mGy. Dessa forma mostramos que nosso teste de desempenho para Efeitos de
Exposio Luz est dentro do esperado.


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3.2.3. Teste de Desempenho do Dosmetro.

a) Homogeneidade do Lote.
Dois grupos com 25 dosmetros cada foram irradiados com 2 (denominado homo_2) e 10
mGy (denominado homo_10) e medidos. Ento foi calculada a mdia
i
A (i=1, 2), os desvios
padres S
i
para cada mdia e o desvio mximo relativo dos valores avaliados. O desvio
mximo relativo dado por:
3 , 0
min
min max
s

A
A A
Equao (3.7),
sendo A
max
a A
min
as doses de maior e menos valor medidas.
O valor avaliado A para qualquer dosmetro no pode diferir de outro valor avaliado em mais
de 30%, segundo as normas para teste de desempenho para homogeneidade do lote.
As medidas para cada dosmetro, os limites esperados, as mdias e o desvio padro de cada
mdia de cada grupo so apresentados na Figura 3.5. abaixo.
0 2 4 6 8 10 12 14 16 18 20 22 24 26
1.5
1.6
1.7
1.8
1.9
2.0
2.1
2.2
8.0
8.5
9.0
9.5
10.0
10.5
11.0
11.5
12.0
homo_10 = (9 2) mSv
homo_2 = (1.9 0.2) mSv
Limites inferior e superior
D
o
s
e

P
r
o
f
u
n
d
a

(
m
S
v
)
Nmero da Medida

Figura 3.5. Distribuio de medidas e limites.
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Todas as medidas esto dentro dos limites esperados para teste de desempenho de
homogeneidade para duas irradiaes (2 e 10 mGy).
b) Reprodutibilidade.
Um grupo com 15 dosmetros foi irradiado com 10 mGy, medido e limpo dez vezes. Para
cada dosmetro temos A
ij
, em que i se refere a i-sima irradiao e j ao j-simo dosmetro.
Para cada um dos dosmetros OSL (medidos 10 vezes), calculamos o valor mdio
j
A e o
desvio padro S
j
.
Segundo as normas do teste de desempenho para reprodutibilidade, as avaliaes devem se
comportar de maneira que:
075 , 0 s
+
j
j j
A
I S
Equao (3.8)
Onde I
j
o intervalo de confiana de S
j
e calculado de acordo com o Apndice B.
As medidas para cada teste de reprodutibilidade so mostradas na Tabela 3.1 abaixo:







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Dose Profunda (mSv)
dosmetro repro repor1 repro2 repro3 repro4 repro5 repro6 repro7 repro8 repro9
1 10,09 9,51 9,92 9,11 9,54 9,14 9,48 8,23 9,51 9,51
2 9,35 9,75 9,44 9,86 9,56 9,57 9,97 9,27 9,66 8,92
3 9,65 9,51 9,81 9,56 9,59 9,35 9,03 9,77 8,65 8,92
4 9,52 9,44 10,06 9,87 9,99 9,46 9,59 9,36 9,29 8,77
5 10,05 9,75 9,09 9,28 9,84 9,69 9,17 9,90 9,79 9,85
6 10,09 9,89 9,60 9,22 9,52 9,55 9,83 9,82 8,52 8,09
7 9,27 9,59 9,38 9,45 9,04 9,13 9,91 9,02 8,44 9,51
8 9,92 9,38 9,94 9,71 9,91 9,45 9,19 9,37 9,93 9,21
9 10,00 9,26 9,48 9,67 9,37 9,11 9,72 9,65 8,72 9,03
10 10,07 9,97 9,84 8,44 9,03 8,71 9,24 9,44 9,56 8,50
11 9,80 9,17 10,00 9,23 9,02 9,20 9,77 9,35 9,04 9,46
12 9,91 9,17 9,72 9,31 9,30 8,21 9,21 9,15 9,13 8,13
13 9,89 8,64 9,73 9,93 9,29 8,60 9,95 8,91 9,20 9,26
14 9,76 9,38 9,87 8,87 9,48 9,25 9,79 9,99 8,59 9,79
15 9,91 9,69 10,05 10,11 8,03 9,00 8,57 9,17 8,68 9,02
Tabela 3.1. Doses medidas para teste de Reprodutibilidade.
Os clculos da mdia, do desvio padro da mdia, do I do desvio e de
j
j j
A
I S +
(denominado de
Resultado) so mostrados na Tabela 3.2. abaixo para cada rotina de reprodutibilidade:
Dose Profunda (mSv)
repro repor1 repro2 repro3 repro4 repro5 repro6 repro7 Repro8 Repro9
Media Media Media Media Media Media Media Media Media Media
9,8 9,5 9,7 9,4 9,4 9,2 9,5 9,4 9,1 9,1
Desvio Desvio Desvio Desvio Desvio Desvio Desvio Desvio Desvio Desvio
0,3 0,3 0,3 0,4 0,5 0,4 0,4 0,4 0,5 0,5
I desvio I desvio I desvio I desvio I desvio I desvio I desvio I desvio I desvio I desvio
0,15 0,19 0,17 0,15 0,16 0,12 0,12 0,15 0,17 0,12
Resultado Resultado Resultado Resultado Resultado Resultado Resultado Resultado Resultado Resultado
0,069 0,075 0,069 0,071 0,066 0,072 0,057 0,061 0,071 0,072
Tabela 3.2. Clculo das mdias, dos desvios padres das mdias, de I dos desvios e Resultado para as
medidas para teste de Reprodutibilidade.

Um histograma com a distribuio dos pontos foi feito para melhor observao da
distribuio dos valores medidos, mostrado na Figura 3.6.
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8.0 8.2 8.4 8.6 8.8 9.0 9.2 9.4 9.6 9.8 10.0 10.2
0
2
4
6
8
10
12
14
16
18
20
22
24
26
28
N

m
e
r
o

d
e

D
o
s

m
e
t
r
o
s
Dose Profunda (mSv)

Figura 3.6. Histograma com distribuio de medidas para teste de Reprodutibilidade.


Em todas as medidas de reprodutibilidade vemos que o Resultado est abaixo ou igual ao
limite superior desejado, de 0,075. Dessa forma mostramos que nossos testes esto de acordo
com as normas para teste de desempenho de reprodutibilidade.
c) Releitura.
No teste de releitura um grupo com oito dosmetros foi irradiado com 10 mGy e lido dez
vezes (sem limpeza, ou irradiao entre as leituras). Para cada dosmetro temos A
ij
, em que i
se refere a i-sima irradiao e j ao j-simo dosmetro. Para cada uma das dez irradiaes foi
calculada a mdia
i
A e o desvio padro S
i
.
No existe norma para teste de desempenho para releitura em dosimetria usando filme
fotogrfico ou dosimetria termoluminescente. Contudo podemos aplicar as normas de teste de
desempenho, j que para releitura esperamos observar um comportamento equivalente.
Dessa forma, segundo as normas do teste de desempenho para reprodutibilidade, as avaliaes
devem se comportar de maneira que:
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075 , 0 s
+
i
i i
A
I S
Equao (3.9)
Onde I
i
o intervalo de confiana de S
i
e calculado de acordo com o Apndice B.
As medidas para cada teste de releitura (separados por dosmetro) so mostradas na tabela
abaixo, bem como os clculos da mdia, do desvio padro da mdia, do I do desvio e de
i
i i
A
I S +
(denominado de Resultado) so mostrados na Tabela 3.3. abaixo para cada
releitura:
Dose Profunda (mSv)
Leitura Dosmetro1 Dosmetro2 Dosmetro3 Dosmetro4 Dosmetro5 Dosmetro6 Dosmentro7 Dosmentro8
1 8,50 9,25 9,37 9,05 9,35 9,91 9,00 9,52
2 8,10 9,77 9,71 9,00 10,09 9,37 9,38 9,58
3 8,47 9,23 9,12 9,32 9,81 9,43 9,41 9,69
4 8,95 9,46 9,78 9,71 9,75 9,08 9,91 9,56
5 8,47 9,31 9,08 9,84 9,69 9,10 9,79 9,40
6 8,76 9,28 9,35 9,48 9,25 9,79 9,02 9,06
7 8,74 9,18 9,99 9,62 9,34 9,16 9,63 9,38
8 8,78 9,16 9,86 9,83 9,75 9,93 9,12 9,34
9 8,20 9,00 9,78 9,56 10,08 9,74 9,61 9,08
10 8,54 9,74 9,55 9,49 9,17 9,78 9,78 9,27
Dosmetro1 Dosmetro2 Dosmetro3 Dosmetro4 Dosmetro5 Dosmetro6 Dosmentro7 Dosmentro8
Media Media Media Media Media Media Media Media
8,5 9,3 9,5 9,5 9,6 9,5 9,5 9,4

Desvio Desvio Desvio Desvio Desvio Desvio Desvio Desvio
0,3 0,2 0,3 0,3 0,3 0,3 0,3 0,2
I desvio I desvio I desvio I desvio I desvio I desvio I desvio I desvio
0,28 0,26 0,33 0,31 0,35 0,36 0,35 0,22
Resultado Resultado Resultado Resultado Resultado Resultado Resultado Resultado
0,064 0,055 0,068 0,063 0,071 0,073 0,072 0,046
Tabela 3.3. Doses medidas, clculo das mdias, dos desvios padres das mdias, de I dos desvios e
Resultado para as medidas para teste de Releitura.

Para mostrar a variao da dose em funo da releitura, um grfico foi feito usando a mdia
das leituras. Dessa forma se houvesse diminuio progressiva das doses por leitura, devido
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perda de sinal, as mdias apresentariam um decaimento tambm progressivo. No grfico da
Figura 3.7 podemos ver o comportamento das mdias em funo da Leitura.
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
8.7
8.8
8.9
9.0
9.1
9.2
9.3
9.4
9.5
9.6
9.7
9.8
9.9
10.0 Mdia por Leitura
D
o
s
e

P
r
o
f
u
n
d
a

(
m
S
v
)
Nmero da Leitura

Figura 3.7. Mdia por medida para teste de Releitura.

Para as releituras por dosmetro vemos que o Resultado est abaixo ao limite superior
desejado, de 0,075. E tambm vemos, pelo grfico da Figura 3.7. que as mdias no
apresentam um decaimento progressivo, ou seja, no mostram perda de sinal por releitura.
Dessa forma mostramos que nossos testes esto de acordo com as normas para teste de
desempenho de Reprodutibilidade e que podemos aplicar esse teste para avaliao do teste de
Releitura.





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4 4. . R RE ES SU UL LT TA AD DO OS S I II I: : E ES SP PE EC CT TR RO OS SC CO OP PI IA A D DE E E EP PR R

Na literatura [22, 23] o xido de Alumnio crescido em uma baixa presso na presena de
uma atmosfera de Carbono dito um timo material para dosimetria opticamente estimulada
por possuir uma grande quantidade de defeitos no cristal que aumentam o nmero de
armadilhas de eltrons e buracos. Essas armadilhas recebem o nome de centros F (vacncias
de Oxignio, com estado de carga 2
-
como mostrado no Captulo 1, item 1.1.). Quando um
eltron cai nessa armadilha temos ento estado de carga 1
-
e a esse tipo de armadilha damos o
nome de centros F
+
. Por possurem um eltron desemparelhado os centros F
+
so
paramagnticos. Uma das propostas desse trabalho a de correlacionar centros de
luminescncia (importante em dosimetria) e medidas de espectroscopia EPR.
O mesmo principio (defeitos cristalinos e centros luminescentes) observa-se em MgO:Tb,
MgO:Tb,Co, CaO:Tb e Li
2
O:Tb, de maneira que tambm foram obtidos espectros de EPR
para tentar observar os centros paramagnticos criados devido a exposio dos materiais a
radiao ionizante.

4.1. Resultados e Discusso.

Tanto monocristais quanto ps de Al
2
O
3
:C foram usados para aquisio de espectros de EPR
em banda Q (35 GHz) e X (9,8 GHz), onda contnua e pulsada, temperatura ambiente e Hlio
lquido, mas nem todas as medidas revelaram presena de centros paramagnticos. Assim
nesse trabalho apresentamos apenas resultados com alguma relevncia fsica.
No caso dos xidos dopados com Tb, s dispnhamos de p, e o aparelho usado no Instituto
de Fsica da Universidade Estadual de Oklahoma (Stillwater, EUA) no possua
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instrumentao para medidas a baixa temperatura. Ento foram feitas medidas em banda X
(9.8 GHz) em temperatura ambiente, de onda continua. O mesmo aparelho foi usado para
medidas em p virgem de Al
2
O
3
:C (cedidas durante visita aos EUA) e conseqentemente
nossos espectros foram medidos nas mesmas condies.

4.1.1. Monocristal de Al
2
O
3
:C Temperatura Ambiente.

Os parmetros usados para aquisio dos espectros de EPR foram: varredura de 8000 G,
centrado em 4300 G, com 13 dB, ganho de 10
3
e tempo total de varredura de 5400 s.
Os monocristais de Al
2
O
3
:C no sofreram tratamento qumico ou trmico antes da aquisio
dos espectros de EPR. Os cristais foram orientados e cortados no Grupo de Crescimento de
Cristais do Instituto de Fsica de So Carlos (Universidade de So Paulo) de maneira que o
eixo de simetria C
3
fosse perpendicular ao plano de corte b a

do cristal. As amostras dos


cristais (descritas no Captulo 2, item 1) foram medidas no espectrmetro de EPR do Grupo
de Biofsica Molecular Srgio Mascarenhas do Instituto de Fsica de So Carlos
(Universidade de So Paulo), cujo modelo descrito no Capitulo 2, item 6.1.
Os espectros dos cristais foram medidos perpendicularmente a trs planos cristalinos
diferentes, fazendo-se para cada plano variao angular de 5 graus por espectro medido (vide
esquema do cristal na Figura 4.1.). Depois de medidos os cristais foram irradiados com
tempos diferentes em Raios-X com energia de 70 kV usando doses de 10, 20, 30, 40, 50, 60,
70, 80, 90 e 100 Gy, e medidos em espectroscopia de EPR para os mesmos planos. Nenhuma
mudana foi observada entre cristais irradiados e no irradiados.
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Em todos os casos foram vistos sinais devido a Cr
3+
, esses sinais possuem grande variao
angular, para todas as orientaes. Na Figura 4.2 temos um espectro de EPR para um
monocristal na orientao B b

, e nas Figuras 4.3 e 4.4 variao angular desse cristal por


orientao.

Figura 4.1. Orientaes do cristal de Al
2
O
3
:C.


0 800 1600 2400 3200 4000 4800 5600
-0.80
-0.75
-0.70
-0.65
-0.60
-0.55
-0.50
-0.45
-0.40
-0.35
-0.30
-0.25
-0.20
-0.15
I
n
t
e
n
s
i
d
a
d
e

(
u
.
a
.
)
Campo Magntico (G)
Al
2
O
3
:C

Figura 4.2. Espectro de EPR para monocristal de Al
2
O
3
:C no plano

a b

.


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Figura 4.3. Variao angular dos sinais de Cr
3+
para uma varredura de 8000 G no plano

a c

.


Figura 4.4. Variao angular dos sinais de Cr
3+
para uma varredura de 8000 G no plano

a b

.

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Os tomos de Cr
3+
substituem tomos de Al
3+
num sitio de simetria octadrica destorcida
como no do rubi, que possui resultados bastante conhecidos na literatura. [24, 25, 26, 27]. As
linhas do Cr
3+
pode ser interpretado usando o Hamiltoniano abaixo: [25, 26].
) 4 / 5 .( ) . . .( . . . .
2
+ + + =
z y y x x B z z B ll
S D S B S B g S B g Equao (4.1)
Sendo g

e g

o fator g paralelo e perpendicular, respectivamente, ao eixo c

do cristal;
B

magnton de Bohr, B
x
, B
y
e B
z
as componentes do campo magntico aplicado; S
x
, S
y
e S
z
os
componentes do operador de spin eletrnico; D o parmetro de campo cristalino e a direo
z est ao longo do eixo c

do cristal. A temperatura ambiente (como nosso caso) g



e g

e D
so, respectivamente, 1,9817, 1,9819 e -0,19110 cm
-1
. [28]
No Rubi os tomos de Cr
3+
so encontrados em sitio de simetria C
3
, porm em nossos
espectros eles so encontrados em stios diferentes. Embora seja um resultado muito
interessante no aprofundamos nossos estudos no entendimento desse comportamento das
linhas do Cr
3+
, uma vez que nossa inteno era tentar encontrar sinais criados aps exposio
dos cristais radiao ionizante. Mas certamente uma pergunta que pode e deve ser
respondida por algum trabalho futuro.

4.1.2. P de Al
2
O
3
:C Temperatura Ambiente.

Nesse item apresentamos os resultados encontrados para o p de Al
2
O
3
:C em espectroscopia
de EPR feitas em onda contnua (CW), banda X (9,8 Ghz) e temperatura ambiente.
Os parmetros usados para aquisio dos espectros de EPR foram: varredura de 8000 G,
centrado em 4300 G, com 13 dB, ganho de 10
3
, tempo de varredura de 5400 s.
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Para as medidas do p recuperado foram usadas duas amostras (denominadas Amostra 1 e
Amostra 2), recuperadas em dias diferentes, mas usando o mesmo processo explicado no
item 2.2.2. Fizemos medidas com as duas amostras irradiadas e no irradiadas usando os
mesmos parmetros e condies.
O espectro das duas amostras no irradiadas mostrado abaixo na Figura 4.5:
1500 2000 2500 3000 3500 4000 4500 5000
-0.8
-0.7
-0.6
-0.5
-0.4
-0.3
-0.2
I
n
t
e
n
s
i
d
a
d
e

(
u
.
a
.
)
Campo Magntico (G)
Al
2
O
3
:C em p
Amostras no irradiadas
------- Amostra 1
------- Amostra 2

Figura 4.5. Espectro de EPR em banda X, temperatura ambiente e CW para amostras no irradiadas de
p recuperado da Al
2
O
3
:C.

As seis linhas que aparecem mais evidenciadas no espectro da Amostra 1 so devidos a
Mangans (Mn
4+
) [29], as linhas ficam entre 3000 e 3750 G, possuem g =1,9930,002 e
hiperfina de 782 G. Os ons Mn
4+
ocupam os stios octadricos dos Al
3+
distorcem o stio de
simetria do Al
2
O
3
:C por compensao de carga.
O on Mn
4+
isoeletrnico ao Cr
3+
(com configurao 3d
3
) e comporta-se de maneira
equivalente ao rubi. Entretanto devido ao aumento de carga do Mn
4+
em relao ao Cr
3+
o
parmetro de campo cristalino e a colavncia so maiores em Mn
4+
do que em Cr
3+
.
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Podemos ver que a Amostra 1 possui uma quantidade de Mangans (impureza, Mn
4+
) maior
que a Amostra 2. Essa diferena fruto de condies de crescimento e recuperao do
material. Como as medidas foram feitas com ps de amostras diferentes e como foram
recuperadas em dias diferentes explica-se a diferena na concentrao de impurezas.
Essas amostras foram irradiadas com 10 Gy com Raios-X (energia de 70 kV) e medidas no
EPR usando os mesmos parmetros. O espectro das duas amostras irradiadas comparadas com
as duas no irradiadas mostrado na Figura 4.6, para Amostra 1 e Figura 4.7, para Amostra 2:
1000 2000 3000 4000 5000 6000 7000
-0.9
-0.8
-0.7
-0.6
-0.5
-0.4
-0.3
-0.2
-0.1
I
n
t
e
n
s
i
d
a
d
e

(
u
.
a
.
)
Campo Magntico (G)
Al
2
O
3
:C em p
Amostra 1
p irradiado
------ p no irradiado

Figura 4.6. Espectro de EPR em banda X, temperatura ambiente e CW para Amostra 1 irradiada e no
irradiadas de p recuperado.


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1000 2000 3000 4000 5000 6000 7000
-1.0
-0.9
-0.8
-0.7
-0.6
-0.5
-0.4
-0.3
-0.2
-0.1
I
n
t
e
n
s
i
d
a
d
e

(
u
.
a
.
)
Campo Magntico (G)
Al
2
O
3
:C em p
Amostra 2
p irradiado
------- p no irradiado

Figura 4.7. Espectro de EPR em banda X, temperatura ambiente e CW para Amostra 2 irradiada e no
irradiadas de p recuperado.


Podemos observar um sinal largo, no assimtrico na regio de 2750 a 3750 G. Esse sinal
visto no espectro de todas as amostras, irradiadas e no irradiadas. No nos foi possvel
identificar o centro, ou centros, responsveis pelo sinal. No conseguimos observar mudanas
desse sinal entre amostras irradiadas e no irradiadas. Obtemos espectros de p de Al
2
O
3
:C
em banda X a baixa temperatura (He) e em banda Q a temperatura ambiente, contudo no
obtivemos resultado conclusivo que ajudasse a classificar qualquer componente deste sinal.
Acreditamos que ele seja um aglomerado de sinais de centros paramagnticos com g ~2. A
esses temos como candidatos: centros com spin , centros F
+
, centros de buraco.
Em ambas as amostrar irradiadas podemos ver um sinal fino em 3350 G, em g =
2.00180.0002 com largura de 602 G. Esse sinal um candidato em potencial para ser
relacionado com os centros de luminescncia no Al
2
O
3
:C, pois foi criado aps exposio do
material radiao ionizante.
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Para verificar essa hiptese primeiramente colocamos as amostras expostas a quatro lmpadas
fluorescentes de 40 W, do tipo luz do dia por 24h para tentar limpar o sinal. Se o sinal fosse
devido a um centro luminescente do tipo centro F
+
desapareceria ou diminuiria
consideravelmente de intensidade aps ser exposto luz (principio de OSL). Depois de
adquirido novamente o espectro de EPR, usando os mesmos parmetros, vimos que o sinal
fino em 3350 G no desapareceu, nem apresentou mudanas na sua intensidade.
O prximo teste foi irradiar um pouco de amostra no irradiada com o dobro da dose usada
anteriormente e medir no EPR. Novamente obtivemos o sinal fino em 3350 G com g =
2,00180,0002, mas com a mesma intensidade.
Em seguida tentamos irradiar com metade da dose inicial uma amostra no irradiada (pois
talvez as doses anteriores tivessem saturado o sinal) e submeter uma amostra irradiada a
tratamento com luz por 36h; novamente no observamos mudana no sinal.
Nessa fase do projeto entramos em contato direto com o pesquisador responsvel pelo
crescimento dos cristais, o Dr. Mark Akselrod, responsvel chefe pela Diviso de
Crescimento de Cristais da Landauer (Landauer Crystal Group Division, Stillwater, EUA).
Seguindo sua sugesto passamos a fazer o mesmo teste em amostras do p virgem, pois essas
supostamente teriam menos contaminantes e seria mais fcil observar qualquer sinal
correspondente aos centros luminescentes.
Essa nova fase do projeto foi feita durante minha permanncia no grupo de Dosimetria das
Radiaes do Departamento de Fsica da Universidade Estadual de Oklahoma (Stillwater,
EUA) com parceria com a Diviso de Crescimento de Cristais da Landauer (Stillwater, EUA).
De posse do p virgem foi feito o seguinte procedimento: nove amostras foram preparadas do
mesmo lote. Todas foram pesadas com 300 mg e deixadas por 10 minutos em forno a 900
o
C
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para limpeza de qualquer sinal luminescente. A Amostra 1 no foi irradiada, a Amostra 2 foi
irradiada com 5 Gy, a Amostra 3 foi irradiada com 10 Gy, a Amostra 4 foi irradiada com 20
Gy, a Amostra 5 foi irradiada com 30 Gy, a Amostra 6 foi irradiada com 40 Gy, a Amostra 7
foi irradiada com 50 Gy, a Amostra 8 foi irradiada com 80 Gy e a Amostra 9 foi irradiada
com 100 Gy. Todas as irradiaes foram feitas numa fonte de
90
Sr/
90
Y com |.
As nove amostras foram medidas no espectrometro de EPR da Universidade Estadual de
Oklahoma (modelo descrito no Captulo 2, item 6.1.).
Os parmetros usados para aquisio dos espectros foram: varredura de 3000 G, centrado em
3500 G, 13 dB, ganho de 10
4
.
Um sinal em 3350 G, com largura mdia de 623 G, foi visto em todas as amostras de p
virgem (como mostra a Figura 4.8). Esse sinal o mesmo sinal fino com g = 2,0018
encontrado nas amostras de p recuperado nas medidas no Brasil.
2100 2400 2700 3000 3300 3600 3900 4200 4500 4800
-600
-500
-400
-300
-200
-100
0
100
200
300
400
I
n
t
e
n
s
i
d
a
d
e

(
u
.
a
.
)
Campo Magntico (G)
Amostra 1(no irradiado)
Amostra 2 (5 Gy)
Amostra 3 (10 Gy)
Amostra 4 (20 Gy)
Amostra 5 (30 Gy)
Amostra 6 (40 Gy)
Amostra 7 (50 Gy)
Amostra 8 (80 Gy)
Amostra 9 (100 Gy)

Figura 4.8. Espectro de EPR para as nove amostras de p virgem de Al
2
O
3
:C em banda X, temperatura
ambiente e CW.

Esse resultado foi reproduzido usando outro lote de p virgem de maneira que confirmamos
que o sinal fino em 3350 G era o mesmo encontrado para amostras de p recuperado medidos
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no Brasil. Embora esse sinal seja criado pela exposio do material radiao ionizante ele
no limpo quando exposto luz (como era de se esperar para centros paramagnticos do
tipo F
+
).
Fazendo uma busca bibliogrfica observamos resultado que nos leva a acreditar que esse sinal
seja um centro de buraco (V
-OH
) [30]
Nesse trabalho, baseado em estudos da estabilidade trmica e resposta da oxidao em
Al
2
O
3
:C a 1360
o
C, foi concludo que o nico sinal, assimtrico e anisotrpico, encontrado
para amostras irradiadas com (com g

= 2,00180,0002, g

= 2,00110,0002 e largura da
ordem de 50 G) devido a um centro V-
OH
. Esse sinal s foi removido quando o cristal foi
exposto a 1360
o
C por 70 h, o que explica porque no conseguimos remover o sinal
encontrado em nossos espectros em exposies com luz ou em forno de 900
o
C.
Em ambos os espectros do monocristal e p do Al
2
O
3
:C no conseguimos observar sinais
devido aos centros F
+
, importantes no processo OSL.
A resposta do Al
2
O
3
:C radiao ionizante vai at exposies com 100 Gy [31] (referente
exposio da Amostra 9 para o p virgem), dessa forma no acreditamos que exposies com
doses maiores nos trariam melhores resultados. Mesmo com o aumento significativo de
defeitos pontuais devido ao mtodo de crescimento do material (explicado no Captulo 1) e,
conseguentemente, com o aumento de centros F
+
(que so paramagnticos) quando o material
exposto radiao ionizante no houve correspondncia detectvel usando espectroscopia
de EPR.

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4.1.3. xidos Dopados com Trbio: Resultados Preliminares.

Os espectros de EPR, para as amostras em p dos xidos dopados com Tb, medidos durante
minha permanncia no Laboratrio de Dosimetria das Radiaes do Instituto de Fsica da
Universidade Estadual de Oklahoma (Stillwater, EUA), so resultados preliminares de um
estudo mais cuidadoso que ser feito no laboratrio a partir do segundo semestre de 2007.
Essas medidas preliminares foram feitas para tentar observar correlao entre sinais de EPR e
centros de luminescncia. Aqui apresentamos alguns dos espectros e a tentativa de reconhecer
e classificar a maior quantidade que nos foi possvel de linhas paramagnticas.
Os espectros para todas as amostras foram adquiridos em onda contnua (CW), banda X e
temperatura ambiente, usando os seguintes parmetros: varreduras de 8000, de 5000 e de
3000 G, campo central de 4300 G, potncia de 11 mW, ganho de 10
4
, constante de tempo de
1310 ms e tempo total de 335 s.
As amostras em p dos xidos dopados com Trbio no sofreram tratamento qumico, mas
foram deixados por 20 minutos em forno de 200
o
C para limpeza de eventuais sinais devido a
exposio luz (especialmente UV), depois 300 mg de cada amostra foi pesada em uma
balana analtica e ento os espectros de EPR desses ps limpos foram adquiridos.
As mesmas amostras, ento, foram irradiadas com 50 Gy de | em uma fonte de
90
Sr/
90
Y e em
seguida adquiridos seus espectros de EPR sob as mesmas condies (tomadas as devidas
precaues em manter a sala escura, para que no houvesse perda de sinal sob exposio a
luz). Depois disso as amostras foram levadas a tratamento trmico (20 minutos em forno a
200
o
C) para nova limpeza dos sinais, irradiadas com 200 Gy de | numa fonte de
90
Sr/
90
Y e
adquiridos novamente os espectros de EPR.
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O campo foi calibrado usando uma amostra de DPPH (diphenil-pycril hydrazil, fator g =
2.0036) e a freqncia de microondas medida foi de banda X.
O resultado comparativo para cada amostra (amostras rotuladas segundo a Tabela 2.1, no
Captulo 2) apresentado a seguir.

4.1.3.1. Grupo 1 Li
2
O:Tb.

O xido de Ltio possui estrutura tetragonal (Figura 4.9), massa molar de 29,881 g/mol,
densidade de 2013 kg/m
3
e ponto de fuso de 1570
o
C.

Figura 4.9. Estrutura do xido de Ltio.

Os trs espectros apresentados a seguir foram adquiridos de amostras de xido de Ltio
dopados com Trbio, crescidos nas mesmas condies, mas no pertencentes ao mesmo lote.
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1000 2000 3000 4000 5000 6000 7000 8000
-2000
-1500
-1000
-500
0
500
1000
1500
2000
I
n
t
e
n
s
i
d
a
d
e

(
u
.
a
.
)
Campo Magntico (G)
Li
2
O:Tb (G1_2)
Sem irradiao
50 Gy
200 Gy

Figura 4.10. Espectro de EPR e medidos em banda X, temperatura ambiente e CW para Li
2
O:Tb (G1_2)
no irradiado, irradiado com 50 Gy e 200 Gy.

1000 2000 3000 4000 5000 6000 7000 8000
-4000
-3000
-2000
-1000
0
1000
2000
3000
4000
5000
I
n
t
e
n
s
i
d
a
d
e

(
u
.
a
.
)
Campo Magntico (G)
Li
2
O:Tb (G1_4)
No irradiado
50 Gy
200 Gy

Figura 4.11. Espectro de EPR e medidos em banda X, temperatura ambiente e CW para Li
2
O:Tb (G1_4)
no irradiado, irradiado com 50 Gy e 200 Gy.

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0 1000 2000 3000 4000 5000 6000 7000 8000
-3500
-3000
-2500
-2000
-1500
-1000
-500
0
500
1000
1500
2000
2500
3000
I
n
t
e
n
s
i
d
a
d
e

(
u
.
a
.
)
Campo Magntico (G)
Li
2
O:Tb (G1_8)
No irradiado
50 Gy
200 Gy

Figura 4.12. Espectro de EPR e medidos em banda X, temperatura ambiente e CW para Li2O:Tb (G1_8)
no irradiado, irradiado com 50 Gy e 200 Gy.

O primeiro aspecto que tentamos observar foi a existncia de algum sinal paramagntico
devido a algum centro luminescente criado por exposio do material a radiao ionizante.
As amostras G1_2 (Figura 4.11) e G1_4 (Figura 4.12) apresentam espectros bastante
semelhantes. Ambas possuem mesmas linhas (superposio dos espectros para irradiao com
200 Gy mostrado na Figura 4.13) e podemos observar um sinal largo (~ 800 G de largura)
centrado em 2750 G que fica evidente apenas para irradiao de 200 Gy (linha desenhada em
vermelho na Figura 4.13). Esse sinal, evidente apenas aps irradiao com 200 Gy, um forte
candidato a centro luminescente. nesse sinal que faremos nossa primeira anlise.
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Figura 4.13. Espectro para G1_2 e G1_4 irradiados com 200 Gy com linha desenhada em vermelho para
sinal largo.

O sinal evidente para irradiao com 200 Gy nas amostras G1_2 e G1_4 seja o mesmo sinal
observado na amostra G1_8 (Figura 4.12.), que por no possuir outros sinais sobrepostos
apresenta mais claramente o comportamento do sinal em relao dose recebida. Entretanto
no fica, a princpio, claro, porque no espectro de G1_8 o sinal para irradiao com 200 Gy
parecido com o espectro da amostra irradiada com 50 Gy, j que nos espectros das outras duas
amostras esse sinal no visvel para a irradiao com 50 Gy. Tampouco porque o espectro
da amostra G1_8 apresenta espectro to diferente aos apresentados pelas outras duas amostras
(G1_2 e G1_4) uma vez as amostras, embora de lotes diferentes, foram feitos da mesma
forma. Uma superposio dos espectros das trs amostras, irradiadas com 200 Gy, mostrada
na Figura 4.14. abaixo.
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Figura 4.14. Espectro para G1_2, G1_4 e G1_8 irradiados com 200 Gy e medidos em banda X,
temperatura ambiente e CW.

O xido de Ltio possui centros paramagnticos diretamente relacionados com irradiao.
Resultados em EPR mostram correlao entre centros F e irradiao com nutron (exemplo na
Figura 4.15.) [32]. Entretanto esses sinais, dos centros F, no so observados para amostras
no irradiadas ou para amostras irradiadas com em uma fonte de
60
Co com menos de 10
6

Gy. [32, 33].

Figura 4.15. Espectro de EPR de centro F em monocristal de Li
2
O irradiado com 4.5 x 1021 nutrons
trmicos por m
2
.[32]


Nossas irradiaes foram somente ate 200 Gy e mesmo com a dopagem com Trbio (que
aumenta o nmero de defeitos pontuais e conseqentemente centros luminescentes, como
Dissertao Pgina 83 de 141
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centros F e F
+
) no observamos em nossos espectros nenhum sinal correspondente ao sinal de
centro F encontrado na literatura (Figura 4.15). Dessa forma, descartamos relao entre os
sinais largos, encontrados em todos os espectros irradiados com 200 Gy, com centros
luminescentes do tipo centro F
+
.
Nosso passo seguinte tentar encontrar e classificar a maior parte possvel dos sinais vistos
nos espectros para o xido de Ltio dopado com Trbio. Sabemos que Li
2
O puro no possui
centros paramagntico, dessa forma, certamente os sinais vistos so devidos a impurezas no
cristal (e nelas inclumos o prprio dopante, o Tb).
Impurezas comumente encontradas em Li
2
O so: H, Fe, Al, Na, Si, Cu, K, Mn e Cr. [34]. A
essa lista adicionamos, como impureza encontrada na amostra, o Tb
3+
e Tb
4+
.
Terras raras no mostram, comumente, sinal de EPR a temperatura ambiente devido ao seu
tempo de relaxao [35], contudo a situao diferente para ons de terras raras com a
camada f preenchida pela metade, como Gd
3+
, Eu
2+
e Tb
4+
devido ao estado fundamental
8
S
7/2
.
Dessa forma, se o Trbio tetravalente pode-se observar suas linhas caractersticas em
espectroscopia de EPR a temperatura ambiente. As linhas caractersticas do Tb
4+
esto na
regio de g = 2,0012 [36], e como temos muitas transies possveis (nveis de energia para
Tb
4+
gerado pelo programa EasySpin, na Figura 4.16) possvel que o sinal largo, visto no
espectro de todas as amostras, seja um conjunto das linhas do Tb
4+
(como se trata de um p
todas as orientaes so possveis), que na estrutura do material substituiria tomos de L
i
.
Dissertao Pgina 84 de 141
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Figura 4.16. Transies possveis para Tb
4+
.


Continuando nossa anlise por sinais de impurezas temos que nas amostras G1_2 e G1_4
(Figuras 4.10. e 4.11.) a linha fina em 1630 G, com g = 4,1300,002, possivelmente devido
a Fe
+
. No observamos linhas devido a Fe
2+
, que no caso de simetria do Li
2
O s poderia ser
vista em um dos estados do tripleto com g = 1 (6733 G para v = 9,43 GHz) [37]. Linhas
devidas a Fe
3+
j so conhecidas pela literatura [38], essas linhas so detectadas no sitio
tetragonal com duas vacncias de Li
+
e possuem g = 2,008, com 5 linhas finas (S=5/2).
Novamente, como se trata de um p, temos uma superposio dessas linhas do Fe
3+
. As linhas
para Fe
+
e Fe
3+
so destacadas na Figura 4.17.
Dissertao Pgina 85 de 141
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Figura 4.17. Impurezas classificadas nas amostras G1_2 e G1_4 .


No ns foi possvel classificar as demais linhas presentes nos espectros das amostras de
Li
2
O:Tb. O que fica claro, nessas medidas preliminares, que o aparecimento de sinais,
devido a centros luminescentes do tipo F
+
, no foram observados.
Existem dois possveis motivos que explicam porque no observamos os sinais devidos ao
centro F
+
. A primeira de que precisaramos de amostras expostas a doses da ordem de 10
4

Gy (como as encontradas na literatura). A segunda de que a constante de tempo de 1310 ms,
usada para varreduras de 8000 G, cortou sinais finos, de maneira que os sinais devido a
centros F (com largura de 50 G) no foram vistos. Certamente com mais tempo esses aspectos
teriam sido refinados e teramos melhores resultados.



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4.1.3.2. Grupo 2 MgO:Tb,Co e MgO:Tb.

O xido de Magnsio possui estrutura cbica de face centrada (Figura 4.18.). Possui massa
molar de 40,3044 g/mol, densidade de 3580 kg/m
3
, ponto de fuso de 2800
o
C, ponto de
ebulio de 3600
o
C e solubilidade de 0,00062 g em 100 g de gua.

Figura 4.18. Estrutura do xido de Magnsio.

Os quatro espectros apresentados a seguir foram adquiridos de amostras de xido de
Magnsio dopados com Trbio e, em duas das amostras, tambm dopados com Cobalto. As
amostras dopadas somente com Tb foram crescidas nas mesmas condies, mas no
pertencentes ao mesmo lote, e o mesmo para as amostras dopadas com Tb e Co.
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2000 2500 3000 3500 4000 4500 5000
-40000
-30000
-20000
-10000
0
10000
20000
30000
40000
50000
I
n
t
e
n
s
i
d
a
d
e

(
u
.
a
.
)
Campo Magntico (G)
MgO:Tb,Co (G2_7)
No Irradiado
50 Gy
200 Gy

Figura 4.19. Espectro de EPR medidos em banda X, temperatura ambiente e CW para MgO:Tb,Co
(G2_12) no irradiado, irradiado com 50 Gy e 200 Gy.



2000 2500 3000 3500 4000 4500 5000
-35000
-28000
-21000
-14000
-7000
0
7000
14000
21000
28000
35000
42000
I
n
t
e
n
s
i
d
a
d
e

(
u
.
a
.
)
Campo Magntico (G)
MgO:Tb,Co (G2_14)
No Irradiado
50 Gy
200 Gy

Figura 4.20. Espectro de EPR medidos em banda X, temperatura ambiente e CW para MgO:Tb,Co
(G2_12) no irradiado, irradiado com 50 Gy e 200 Gy.





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2000 2500 3000 3500 4000 4500 5000
-50000
-40000
-30000
-20000
-10000
0
10000
20000
30000
40000
50000
60000
70000
I
n
t
e
n
s
i
d
a
d
e

(
u
.
a
.
)
Campo Magntico (G)
MgO:Tb (G2_16)
No Irradiado
50 Gy
200 Gy

Figura 4.21. Espectro de EPR medidos em banda X, temperatura ambiente e CW para MgO:Tb (G2_16)
no irradiado, irradiado com 50 Gy e 200 Gy.

2000 2500 3000 3500 4000 4500 5000
-32000
-24000
-16000
-8000
0
8000
16000
24000
32000
40000
I
n
t
e
n
s
i
d
a
d
e

(
u
.
a
.
)
Campo Magntico (G)
MgO:Tb (G2_18)
No Irradiao
50 Gy
200 Gy

Figura 4.22. Espectro de EPR medidos em banda X, temperatura ambiente e CW para MgO:Tb (G2_18)
no irradiado, irradiado com 50 Gy e 200 Gy.


Novamente, o primeiro aspecto que tentamos observar foi a existncia de algum sinal
paramagntico devido a algum centro luminescente (criado por exposio do material a
radiao ionizante).
A literatura possui trabalhos de EPR em que so encontrados sinais devidos a centros F [39.
40, 41], esses sinais aparecem aps exposio do material a nutron, e UV (nossas
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irradiaes foram feitas com |). O sinal caracterstico para centro F em MgO mostrado na
Figura 4.23. abaixo.
O sinal devido ao centro F possui g = 2,00230,0001 e a largura entre as linhas nos extremos
de 24,7 G. As linhas obtidas em nossos espectros possuem larguras muito maiores do que as
do sinal caracterstico de centro F em MgO e esto na mesma regio (com g prximo de 2).

Figura 4.23. Espectro de EPR medidos em banda X, temperatura ambiente e CW de centro F em MgO.
[39]

Como MgO no possui centros paramagnticos nossa prxima tentativa verificar a qual
impureza ou impurezas consiste o espectro obtido para as quatro amostras.
Os espectros do Grupo 2 so bastante parecidos. Todos apresentam sinal em 3400 G com g =
1,9800,002.
Descartamos sinais devidos ao Co e ao Tb. Sinais de EPR de Co so vistos apenas a baixa
temperatura, devido ao seu tempo de relaxao, e o mesmo para o Tb
3+
. Sinal paramagntico
do Tb
4+
pode ser visto a temperatura ambiente, mas sua linha caracterstica no foi observada
em nossas amostras.
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Contudo um estudo das linhas do Cr
3+
em MgO nos trs maiores evidncias de nossas linhas
nas amostras dopadas com Tb e Co [42]. O espectro mostrado na Figura 4.24. mostra o
espectro do Cr
3+
para um mono cristal de MgO [42]. A linha mais intensa devida ao eixo de
simetria cbica pura. As linhas A
0
, B
0
e C
0
aparecem do eixo de simetria do campo eltrico ao
longo do campo aplicado H
0
, enquanto que B
90
, C
90
e A
90
so cada dupla de linhas
coincidentes de ons com eixo de simetria perpendicular a H
0
. A nica linha reproduzida nos
ps (nosso caso) a linha intensa (destacada na Figura 4.25. a) e a linha que se assemelha
com as linhas de nossas medidas (em 3400 G).

Figura 4.24. Linhas do Cr
3+
em monocristal de MgO. [40]

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Figura 4.25. a) Linhas do Cr
3+
em p de MgO. [42]. b) Estrutura do Cr
3+
em simetria cbica no MgO.

tomos de Cromo substituem ons de Magnsio (Mg
2+
). O espectro do Cr
3+
depende de onde
a compensao da carga extra ocorre. O sinal da Figura 4.25. a. possui g = 1,979 e devido a
ons na simetria octadrica (Figura 4.25. b). Exposies radiao podem tornar o Cr
3+
para
Cr
2+
, segundo resultado observado para exposies a raios-X [43] e pode explicar a
diminuio na intensidade do sinal para irradiaes com 200 Gy em todas as amostras.
Dessa forma identificamos o sinal existente em todos os espectros como devido a Cr
3+
, ou
seja, uma impureza. Como o sinal caracterstico de centro F para MgO est na mesma regio e
possui largura bastante fina preciso que novas amostras, sem Cr
3+
, sejam medidas para que
as linhas, devido a centros luminescentes, sejam observadas.








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4.1.3.3. Grupo 3 CaO:Tb.

O xido de Clcio possui estrutura cbica de face centrada (Figura 4.26.). Possui massa
molar de 56,1 g/mol, densidade de 3358 kg/m
3
, ponto de fuso de 2572
o
C, ponto de ebulio
de 2850
o
C e solubilidade de 0,00062 g em 100 g de gua.


Figura 4.26. Estrutura do xido de Clcio.

Os dois espectros apresentados a seguir foram adquiridos de amostras de xido de Clcio
dopados com Trbio. As amostras foram crescidas nas mesmas condies, mas no
pertencentes ao mesmo lote.

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1000 2000 3000 4000 5000 6000 7000 8000
-1800
-1500
-1200
-900
-600
-300
0
300
600
900
1200
I
n
t
e
n
s
i
d
a
d
e

(
u
.
a
.
)
Campo Magntico (G)
CaO:Tb (G3_22)
No Irradiado
50 Gy
200 Gy

Figura 4.27. Espectro de EPR medidos em banda X, temperatura ambiente e CW para CaO:Tb (G3_22)
no irradiado, irradiado com 50 Gy e 200 Gy.

1000 2000 3000 4000 5000 6000 7000 8000
-600
-450
-300
-150
0
150
300
450
600
I
n
t
e
n
s
i
d
a
d
e
Campo Magntico (G)
CaO:Tb (G3_24)
No Irradiado
50 Gy
200 Gy

Figura 4.28. Espectro de EPR medidos em banda X, temperatura ambiente e CW para CaO:Tb (G3_24)
no irradiado, irradiado com 50 Gy e 200 Gy.

Novamente, o primeiro aspecto que tentamos observar foi a existncia de algum sinal
paramagntico devido a algum centro luminescente (criado pela exposio do material a
radiao ionizante).
Nos espectros de EPR para o xido de clcio dopado com Trbio no vemos aparecimento ou
desaparecimento de sinais devido exposio radiao. Tambm no observamos mudana
na intensidade das linhas. Os centros luminescentes (centros F) possuem linhas conhecidas de
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EPR para CaO e no foram vistas em nossas amostras [44]. O sinal caracterstico do centro F
em CaO similar ao do encontrado no MgO (mostrado na Figura 4.23.), uma vez que
possuem mesma simetria.
xido de Clcio puro no possui centros paramagnticos, ento nossa busca por sinais de
EPR devido impurezas, normalmente observados em cristais de CaO, que so: Gd
2+
, Mn
2+
,
Fe
3+
, Cr
3+
, V
3+
e Ti
+
[45]. No observamos as linhas caractersticas do Gd
2+
, Cr
3+
[46].
Tambm no observamos as linhas caractersticas do Mn
2+
[47].
Na amostra G3_22 a linha caracterstica do Fe
3+
[48] casa com a linha em 3365 G e g =
2,0030,002 e a linha caracterstica do Fe
+
casa com a linha em 1630 G, e g = 4,1290,002
(mostrados na Figura 4.28).

Figura 4.29. Sinais do Fe
+
e Fe
3+
em CaO (G2_22).

Tantos no espectro da amostra G3_22 quanto G3_24 podemos observar um sinal largo em
torno de g = 2,0023 (g do eltron livre). Pouco se pode dizer sobre esses sinais, pois
provavelmente deve-se a um aglomerado de sinais diferentes. Nessa regio temos, por
exemplo, centros de buraco, e centros com spin .
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Novamente, para que possam ser observados os sinais devido ao centro F amostras mais puras
so necessrias, bem como medidas com constante de tempo maior e varreduras menores,
para que sinais finos, como os do centro F, possam ser observados.


















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5 5. . R RE ES SU UL LT TA AD DO OS S I II II I: : S SE EN NS SI IB BI IL LI ID DA AD DE E D DO O A Al l
2 2
O O
3 3
: :C C A A U UV V

Entender os efeitos da radiao UV em humanos essencial para podermos avaliar as
conseqncias de exposio em diferentes tecidos sob diferentes intensidades, especialmente
com a descoberta do processo de rarefao da camada de oznio, que filtra raios UV do Sol,
pela constante emisso de monxido de carbono.
Por ser um material bastante sensvel a radiao ionizante Al
2
O
3
:C um bom candidato como
material para dosimetria UV. Mas preciso estudar se existem mudanas na sensibilidade do
material quando exposto a diferentes comprimentos de onda de UV, ou seja verificar a
reprodutibilidade, padro do sinal OSL e se exposies a UV alteram a resposta do material
quando exposto a outros tipos de radiao (como |, e raios-X, com resposta bastante
conhecida para Al
2
O
3
:C).

5.1. As Amostras e Detalhes Experimentais.

Em nosso estudo uma fita de Al
2
O
3
:C (usada em dosmetros Luxel, Figura 2.2. a) foi cortada
em 8 pequenas circunferncias de 1 cm de dimetro. Cada amostra recebeu um nmero
correspondente (de 1 a 8).
A exposio das amostras a UV foi feita usando a lmpada de Xe do FluoroLog-3 (descrito
no Captulo 2, item 6.2):
- A amostra de nmero 1 foi usada para exposio de comprimento de onda de 350 nm.
- A amostra de nmero 2 foi usada para exposio de comprimento de onda de 325 nm.
- A amostra de nmero 3 foi usada para exposio de comprimento de onda de 300 nm.
- A amostra de nmero 4 foi usada para exposio de comprimento de onda de 275 nm.
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- A amostra de nmero 5 foi usada para exposio de comprimento de onda de 250 nm.
- A amostra de nmero 6 foi usada para exposio de comprimento de onda de 225 nm.
- A amostra de nmero 7 foi usada para exposio de comprimento de onda de 210 nm.
A amostra de nmero 8 no foi exposta a UV para servir de referncia, ou seja, para assegurar
que eventuais mudanas no sinal OSL seriam devido a UV e no a algum outro fator externo
(que tambm seria percebido pela amostra de referncia).
No total foram feitas seis exposies com UV, mudando o tempo de exposio: 10, 20, 50,
100, 200 e 500 segundos. Para cada exposio era lido o sinal OSL no aparelho Ris (descrito
no Captulo 2, item 5.2), usando LED azul com 120 segundos de tempo de leitura.
O esquema com a seqncia das irradiaes com UV, | e medidas do sinal OSL apresentado
na Tabela 5.1:










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Esquema com Seqncia das Exposies e Medidas do Sinal OSL por Amostra
Exposio
e medida
OSL
Amsotra 1 Amostra 2 Amostra 3 Amostra 4 Amostra 5 Amsotra 6 Amsotra 7 Amsotra 8
Tempo de Exposio (para | ou UV) e de Medida (OSL) em segundos
|
1
3 3 3 3 3 3 3 3
OSL 120 120 120 120 120 120 120 120
UV 10 10 10 10 10 10 10 -
OSL 120 120 120 120 120 120 120 -
|
2
3 3 3 3 3 3 3 3
OSL 120 120 120 120 120 120 120 120
UV 20 20 20 20 20 20 20 -
OSL 120 120 120 120 120 120 120 -
|
3
3 3 3 3 3 3 3 3
OSL 120 120 120 120 120 120 120 120
UV 50 50 50 50 50 50 50 -
OSL 120 120 120 120 120 120 120 -
|
4
3 3 3 3 3 3 3 3
OSL 120 120 120 120 120 120 120 120
UV 100 100 100 100 100 100 100 -
OSL 120 120 120 120 120 120 120 -
|
5
3 3 3 3 3 3 3 3
OSL 120 120 120 120 120 120 120 120
UV 200 200 200 200 200 200 200 -
OSL 120 120 120 120 120 120 120 -
|
6
3 3 3 3 3 3 3 3
OSL 120 120 120 120 120 120 120 120
UV 500 500 500 500 500 500 500 -
OSL 120 120 120 120 120 120 120 -
|
7
3 3 3 3 3 3 3 3
OSL 120 120 120 120 120 120 120 120
Tabela 5.1. Esquema com a seqncia das irradiaes com UV, | e medidas do sinal OSL.

Todas as amostras foram expostas por trs segundos de radiao | de uma fonte de
90
Sr/
90
Y
para comparao de sinal OSL entre cada exposio a UV. Essa comparao necessria para
averiguar se houve mudana na sensibilidade do material, pois o sinal OSL para exposio a |
deve se comportar de mesma forma para cada uma das amostras, ou seja, se UV altera a
sensibilidade do Al
2
O
3
:C ento isso se refletir nas medidas OSL para exposio a |.
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Figura 5.1. a) Fita Luxel de Al2O3:C e b) amostra no Ris para medida.

5.2. Resultados e Discusso.

Apresentamos os decaimentos exponenciais medidos pelo Ris para as exposies a UV e
| de cada amostra.
Contudo para compararmos corretamente os resultados entre comprimentos de onda de UV
diferentes preciso calcular a rea do sinal OSL e correlacionar com a intensidade da fonte de
Xe, ou seja, com o nmero de ftons por unidade de tempo e de rea (ftons/cm
2
.s) para cada
comprimento de onda.
A intensidade da lmpada para cada comprimento de onda foi medida e dada na Tabela 5.2.
abaixo e pelo grfico da Figura 5.2:
Comprimento
de Onda (nm)
Intensidade
(mW/cm
2
)
210 0.00042
225 0.0049
250 0.087
275 0.300
300 0.398
325 0.545
350 0.705
Tabela 5.2. Comprimento de onda e intensidade da lmpada de Xe.

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200 220 240 260 280 300 320 340 360
-0.07
0.00
0.07
0.14
0.21
0.28
0.35
0.42
0.49
0.56
0.63
0.70
0.77
I
r
r
a
d
i

n
c
i
a

d
a

f
o
n
t
e

d
e

X
e

(
m
W
/
c
m
2
)
Comprimento de onda (nm)

Figura 5.2. Intensidade da lmpada de Xe por comprimento de onda.

Para calcular o sinal integrado total OSL (denominado I) de cada linha OSL somamos a
intensidade dos 120 pontos (cada ponto descrito por n
i
, com i= 1, 2, 3... 120) e subtramos a
mdia dos ltimos vinte pontos multiplicados por 120, como descrito na equao 5.1, abaixo:

= =
=
120
100
120
1
) 20 / ( * 120
i i
i
ni n I Equao (5.1)
Dessa forma temos a rea de cada decaimento exponencial, que a soma das intensidades dos
120 pontos menos o sinal de fundo. Como j explicado na introduo, item 2.1. a dose
proporcional rea total da curva OSL menos o sinal de fundo.
Dessa forma temos ento grficos, de I para cada intensidade da lmpada.
Apresentamos, em seqncia, os resultados para decaimento exponencial para cada amsotra
irradiada com | e UV, e o grfico de I por nmero de ftons por unidade de rea e tempo.
a) Amostra 1.
Para a Amostra 1 (Figura 5.3 b.), exposta a 350 nm de UV, nota-se que a resposta do material
a | decai da mesma maneira at aproximadamente 10 segundos para todas as medidas e
comea a se separar de maneira que ao final dos 120 segundos vemos que cada irradiao
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termina com uma intensidade diferente, sendo que a maior diferena entre as intensidades est
entre a stima irradiao (linha amarela), com 375 u.a., e quarta irradiao (linha azul anil),
com 600 u.a.


Figura 5.3. a) sinal OSL da Amostra 2 exposta a 325 nm de UV para diferentes tempos e b) sinal OSL da
amostra 2 irradiada com | por trs segundos.

Analisando o grfico da Figura 5.4 vemos um crescimento linear at o terceiro ponto
(correspondente ao ponto para exposio com 50 segundos) e ento intensidades praticamente
constantes at a sexta exposio (500 segundos). Isso nos leva a acreditar que a intensidade
est saturada (o ultimo ponto est em 7 x 10
7
ftons por tempo e rea).
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0
1x10
17
2x10
17
3x10
17
4x10
17
5x10
17
6x10
17
7x10
17
5000
6000
7000
8000
9000
10000
11000
12000
13000
14000
15000
350 nm
I

(
u
.
a
.
)
(n
o
ftons)/cm
2
.s
10 s
20 s
50 s
100 s 200 s
500 s

Figura 5.4. Sinal integrado OSL por numero de ftons, para exposio de 350 nm.



b) Amostra 2.
Para a Amostra 2 (Figura 5.5), exposta a 325 nm de UV, nota-se que a resposta do material a
| j comea com decaimentos separados para todas as irradiaes. Nenhum dos decaimentos
se cruza at o final da leitura (a quinta e a stima irradiao so quase coincidentes desde o
comeo da leitura e seguem esse padro at o final) e a maior diferena entre as intensidades
iniciais vista entre primeira irradiao (em preto) em 800 u.a. e a sexta irradiao (em rosa)
em 1400 u.a. Essas separaes no seguem um padro aparente, ou seja, a primeira irradiao
e a ultima no so os extremos de diferena de intensidade OSL ao final da medida.
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Figura 5.5. a) sinal OSL da Amostra 2 exposta a 325 nm de UV para diferentes tempos e b) sinal OSL da
amostra 2 irradiada com | por trs segundos.


Pelo grfico da Figura 5.6 vemos que a intensidade no cresce de acordo com o tempo de
exposio. Esse comportamento repete o observado no grfico 5.5. a. em que a terceira
exposio (50 segundos) possui intensidade menor do que a exposio por 20 segundos e a
sexta exposio (500 segundos) possui intensidade menor que a de 200 e 100 segundos.
O Al
2
O
3
possui luminescncia caracterstica em 3.8 eV (325 nm) devido a excitao em 5.4
eV (230 nm) [49]. Essa banda devido ao centro F
+
.
0.0
7.0x10
16
1.4x10
17
2.1x10
17
2.8x10
17
3.5x10
17
4.2x10
17
4.9x10
17
500000
600000
700000
800000
900000
1000000
1100000
1200000
1300000
1400000
1500000
1600000
(n
o
ftons)/cm
2
.s
325 nm
I

(
u
.
a
)
10 s
20 s
50 s
100 s 200 s
500 s

Figura 5.6. Sinal integrado OSL por numero de ftons, para exposio de 325 nm.

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c) Amostra 3.
Para a Amostra 3 (Figura 5.7. b.), exposta a 300 nm de UV, nota-se que a resposta do material
a | comea com decaimentos bem separados para todas as irradiaes. Nenhum decaimento
se cruza at o final da leitura e a maior diferena nas intensidades iniciais vista entre
primeira irradiao (em preto) em 7500 u.a. e a stima irradiao (em amarelo) em 12000 u.a.
Embora a primeira irradiao a ltima sejam os extremos em intensidade no vemos um
aumento crescente das intensidades com a irradiao.

Figura 5.7. a) sinal OSL da Amostra 3 exposta a 300 nm de UV para diferentes tempos e b) sinal OSL da
amostra 3 irradiada com | por trs segundos.

O comportamento de I por nmero de ftons no grfico da Figura 5.8. apresenta um
crescimento exponencial dos pontos que segue o mesmo comportamento observado para o
decaimento das curvas no grfico da Figura 5.7. a.
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0.0
4.0x10
16
8.0x10
16
1.2x10
17
1.6x10
17
2.0x10
17
2.4x10
17
2.8x10
17
3.2x10
17
200000
300000
400000
500000
600000
700000
800000
900000
1000000
1100000
(n
o
ftons)/cm
2
.s
300 nm
I

(
u
.
a
.
)
10 s
20 s
50 s
100 s
200 s
500 s

Figura 5.8. Sinal integrado OSL por numero de ftons, para exposio de 300 nm.

d) Amostra 4.
Para a Amostra 4 (Figura 5.9. b.), exposta a 275 nm de UV, nota-se que a resposta do material
a | comea com decaimentos coincidentes em 9000 u.a. e segue decaindo com pouca
separao entre as exposies. A maior diferena em intensidade ao final da medida esta entre
a stima exposio (em amarelo) com 950 u.a. e a quarta exposio (em azul anil) com 350
u.a.

Figura 5.9. a) sinal OSL da Amostra 4 exposta a 275 nm de UV para diferentes tempos e b) sinal OSL da
amostra 4 irradiada com | por trs segundos.
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No grfico de I por nmero de ftons da Figura 5.10. vemos um crescimento exponencial dos
pontos, seguindo um padro esperado (com intensidade do sinal crescendo com o aumento do
tempo de exposio) mesmo comportamento observado no grfico da Figura 5.9. a.
0.0
3.0x10
16
6.0x10
16
9.0x10
16
1.2x10
17
1.5x10
17
1.8x10
17
2.1x10
17
100000
120000
140000
160000
180000
200000
220000
240000
260000
(n
o
ftons)/cm
2
.s
275 nm
I

(
u
.
a
.
)
10 s
20 s
50 s
100 s
200 s
500 s

Figura 5.10. Sinal integrado OSL por nmero de ftons, para exposio de 275 nm.

e) Amostra 5.
Para a Amostra 5 (Figura 5.11. b), exposta a 250 nm de UV, nota-se que a resposta do
material a | comea com os decaimentos coincidentes em 7750 u.a. e segue decaindo sem
separao entre as exposies. As intensidades ao final da medida esto na faixa encontrada
para as medidas da amostra de referncia (amostra 8), em 500 u.a.
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Figura 5.11. a) sinal OSL da Amostra 5 exposta a 250 nm de UV para diferentes tempos e b) sinal OSL da
amostra 5 irradiada com | por trs segundos.

Para a exposio com 250 nm (Figura 5.12.) vemos um crescimento exponencial at a quarta
exposio (100 segundos), mas o comportamento dos dois ltimos decaimentos no segue a
tendncia dos primeiros, sugerindo um comportamento que pode ser descrito pela soma de
exponenciais.
O Al
2
O
3
:C apresenta uma banda de absoro em 4.8 eV (256 nm) devido ao centro F
+
.[49] O
comportamento para exposio com | mostra que no houve mudana no material e que a
emisso devido a centros F
+
.
0.0
7.0x10
15
1.4x10
16
2.1x10
16
2.8x10
16
3.5x10
16
4.2x10
16
4.9x10
16
5.6x10
16
10000
20000
30000
40000
50000
60000
70000
80000
90000
100000
110000
120000
130000
(n
o
ftons)/cm
2
.s
250 nm
I

(
u
.
a
.
)
10 s
20 s
50 s
100 s
200 g
500 s

Figura 5.12. Sinal integrado OSL por nmero de ftons, para exposio de 250 nm.

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f) Amostra 6.
Para a Amostra 6 (Figura 5.13. b), exposta a 225 nm de UV, nota-se que a resposta do
material a | comea com decaimentos coincidentes em 7500 u.a. com exceo da stima
irradiao (em amarelo) que comea ligeiramente acima, com 8500 u.a. A intensidade ao final
da medida esta na faixa encontrada para as medidas da amsotra de referncia (Amostra 8), em
500 u.a., com exceo da stima irradiao que mantm decaimento com intensidade acima
das demais, terminando com 1000 u.a.

Figura 5.13. a) sinal OSL da Amostra 6 exposta a 225 nm de UV para diferentes tempos e b) sinal OSL da
amostra 6 irradiada com | por trs segundos.

O comportamento do grfico da Figura 5.14. apresenta a mesma grande diferena de
intensidade entre os extremos observado para o grfico da Figura 5.13. a.
O comportamento da exposio com 225 nm (Figura 5.13) nos leva a acreditar que a resposta
linear deve-se a baixa potencia da lmpada para os tempos usados nessa exposio.
Provavelmente tempos maiores (com nmero de ftons da ordem das exposies para 300
nm, por exemplo) apresentariam maiores informaes sobre o comportamento da intensidade
do sinal OSL para exposio com UV de 225 nm.
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O Al
2
O
3
:C apresenta uma banda de absoro em 6 eV (~206 nm) devido ao centro F.[49] O
comportamento para exposio com | mostra que no houve mudana no material e que a
emisso devido a centros F.
0.0
7.0x10
15
1.4x10
16
2.1x10
16
2.8x10
16
3.5x10
16
4.2x10
16
4.9x10
16
-200000
0
200000
400000
600000
800000
1000000
1200000
1400000
1600000
(n
o
ftons)/cm
2
.s
225 nm
I

(
u
.
a
.
)
10 s
20 s
50 s
100 s
200 s
500 s

Figura 5.14. Sinal integrado OSL por nmero de ftons, para exposio de 225 nm.

g) Amostra 7.
Para a Amostra 7 (Figura 5.15. b), exposta a 210 nm de UV, nota-se que a resposta do
material a | comea com decaimentos coincidentes em 8000 u.a. e segue sem separao at o
final da medida. A intensidade ao final da medida esta na faixa encontrada para as medidas da
amostra de referncia (amostra 8), em 500 u.a.

Figura 5.15. a) sinal OSL da Amostra 7 exposta a 210 nm de UV para diferentes tempos e b) sinal OSL da
amostra 7 irradiada com | por trs segundos.
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O comportamento do grfico da Figura 5.16 apresenta comportamento semelhante ao grfico
da exposio com 225 nm (Figura 5.14) o que nos leva a acreditar que a resposta linear deve-
se, novamente, a baixa potencia da lmpada para os tempos usados nessa exposio.
Provavelmente tempos maiores (com nmero de ftons da ordem das exposies para 300
nm, por exemplo) apresentariam maiores informaes sobre o comportamento da intensidade
do sinal OSL para exposio com UV de 210 nm.
0.0
3.0x10
13
6.0x10
13
9.0x10
13
1.2x10
14
1.5x10
14
1.8x10
14
2.1x10
14
2.4x10
14
-5000
0
5000
10000
15000
20000
25000
30000
35000
40000
45000
(n
o
ftons)/cm
2
.s
210 nm
I

(
u
.
a
.
)
10 s
20 s
50 s 100 s
200 s
500 s

Figura 5.16. Sinal integrado OSL por nmero de ftons, para exposio de 210 nm.

h) Amostra 8.
Para a amostra 8 (Figura 5.17), sem exposio a UV, nota-se que a resposta do material a
| comea com decaimentos coincidentes em 9000 u.a. e segue sem separao at o final da
medida (em 500 u.a.), com exceo da quarta irradiao (em azul anil) que comea a se
separar em 20 segundos e termina com intensidade ligeiramente maior que as demais, em 750
u.a.
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0 20 40 60 80 100 120
0
1000
2000
3000
4000
5000
6000
7000
8000
9000
S
i
n
a
l

O
S
L

(
u
.
a
.
)
Tempo (segundos)
Amostra 8 - Beta
1 irradiao
2 irradiao
3 irradiao
4 irradiao
5 irradiao
6 irradiao
7 irradiao

Figura 5.17. Sinal OSL da Amostra 8 irradiada com por trs segundos.

Esses resultados so os primeiros de uma serie de outras anlises que sero feitas,
relacionando Al
2
O
3
:C, OSL e dosimetria com ultravioleta.
Podemos dizer que a resposta do material depende do comprimento de onda de UV utilizado e
que o algoritmo para clculo de dose usando resultado de exposio UV dever levar em
conta essa informao.
Ainda faz-se necessrio estudar com maiores detalhes o comportamento da resposta OSL para
diferentes tempos de exposio, quais tempos de exposies saturam o material e
principalmente se o comportamento observado em nossas medidas se repete. J existe estudo
relacionando exposies a UV e resposta termoluminescente [50] o que agrega mais
informaes sobre o problema e ajudar no desenvolvimento de um modelo usando Al
2
O
3
:C
como material sensvel em dosimetria de UV.



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6 6. . R RE ES SU UL LT TA AD DO OS S I IV V: : E ES SP PE EC CT TR RO O D DE E E EM MI IS SS S O O E E E EX XC CI IT TA A O O E EM M
X XI ID DO OS S D DO OP PA AD DO OS S C CO OM M T T R RB BI IO O. .

A radiao ionizante, ao criar centros de eltrons e buracos ou alterar estados de valncia de
ons presentes no cristal, introduz novos estados de energia que possibilitam a excitao do
espectro eletromagntico em regies antes transparentes. O estudo das bandas de excitao
ptica possibilita assim obter informaes sobre como esses defeitos participam do processo
em uma tcnica como a luminescncia opticamente estimulada.

6.1. As Amostras e Detalhes Experimentais.

Embora o uso de luminescncia opticamente estimulada (OSL) em dosimetria tenha sido
sugerido h muito tempo [2] no existem muitos trabalhos relacionados a esse assunto,
especialmente devido falta de materiais que possuam alta sensibilidade radiao ionizante
e que tambm apresentem alta eficincia a estimulo ptico. Atualmente as aplicaes usando
dosimetria OSL so dominadas pelo xido de Alumnio dopado com Carbono, que pode ser
considerado como material padro nessa rea [1].
Na busca de novos materiais para uso em dosimetria usando OSL vrios estudos tm sido
feitos no Laboratrio de Dosimetria das Radiaes da Universidade Estadual de Oklahoma
(Stillwater, EUA). Parte desses trabalhos so feitos em parceria com o Instituto de Cincias
Nucleares em Vinca (Belgrado, Srvia), que forneceu amostras em p de trs xidos dopados
com Trbio, MgO:Tb, Li
2
O:Tb, CaO:Tb, para anlises em dosimetria OSL.
O interesse nesses xidos est principalmente no desenvolvimento de um modelo para
dosimetria em UV e dosimetria de nutrons, e anlises preliminares j mostram resultados
promissores nessa rea [51].
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Um estudo bastante importante consiste em adquirir o espectro de emisso e o de excitao
para esses xidos, para ento refinar os resultados e determinar com qual comprimento de
onda os materiais devem ser expostos para a leitura do sinal OSL.
Em minha estada cientfica no Laboratrio de Dosimetria das Radiaes fiz as medidas
iniciais de emisso e excitao, usando para essas medidas o Fluorolog-3, descrito no
Capitulo 2, item 5.2.
As amostras forma preparadas da seguinte maneira: 10 mg de cada amostra foi pesado usando
uma balana analtica com preciso de 0.1 mg (Figura 6.1. a), ento o material foi depositado
homogeneamente em copinhos de alumnio, mostrado na Figura 6.1. b, de 1 cm de dimetro e
0.5 cm de profundidade, e coberto com spray de silicone (para impedir que o p casse dos
copinhos), em seguida os copinhos foram colocados por 20 minutos em um forno a 200
o
C
para que o silicone secasse e para limpar qualquer sinal no material criado por exposio
luz.


Figura 6.1. a) balana analtica e b) amostra em p disposta em copo de alumnio.

Os copinhos com as amostras ento foram dispostas num pedao de madeira contendo
numerao como mostrado na Figura 6.2. b e depois lidas no FluoroLog

(Figura 6.2. a).


Cada amostra recebeu um nmero e foi classificado em um grupo, como mostrado na Tabela
2.1 no Captulo 2.

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Figura 6.2. a) FluoroLog em funcionamento b) amostra em p disposta em copo de alumnio em pedao
de madeira com referncia numrica.

Para medidas de excitao foi usado um filtro para UV passa alta de 455 nm (transmitncia
por comprimento de onda na Figura 6.3) de 2 x 2 3mm em frente a fonte.
200 400 600 800 1000 1200 1400 1600 1800 2000
1E-4
1E-3
0.01
0.1
1
10
100
1000
3mm
T
r
a
n
s
m
i
t

n
c
i
a

(
%
)
Comprimento de onda (nm)
200 250 300 350 400 450 500 550 600
0
20
40
60
80
100
120

Figura 6.3. Transmitncia por comprimento de onda para filtro passa alta de 455 nm.

Para os espectros de emisso foi usado um filtro para UV passa alta de 515 nm (transmitncia
por comprimento de onda na Figura 6.4.) de 2 x 2 2mm em frente a fonte.
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200 400 600 800 1000 1200 1400 1600 1800 2000
1E-4
1E-3
0.01
0.1
1
10
100
1000
2.9mm
T
r
a
n
s
m
i
t

n
c
i
a

(
%
)
Comprimento de Onda (nm)
400 450 500 550 600 650 700
0
20
40
60
80
100
120

Figura 6.4. Transmitncia por comprimento de onda para filtro passa alta de 515 nm.

6.2. Resultados e Discusso.

6.2.1. Espectro de Emisso.

Os espectros de emisso foram adquiridos para amostras irradiadas. Os xidos em p foram
irradiados com 200 Gy de radiao | numa fonte de
90
Sr/
90
Y. Dessa forma temos os grficos
para as amostras irradiadas.
Para aquisio dos espectros de emisso usamos um intervalo de 200 a 470 nm; excitao de
525 nm; tempo integrado de 0.5 segundos, e tempo de incremento de 0.5. O aparelho foi
usado na funo S/R, ou seja, intensidade da amostra dividido pela intensidade da lmpada.
O espectro de emisso para cada amostra mostrado a seguir.
a) Grupo 1- Li
2
O:Tb.
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200 220 240 260 280 300 320 340 360 380 400 420 440 460 480
2000
3000
4000
5000
6000
7000
8000
9000
10000
11000
12000
13000
14000
15000
I
n
t
e
n
s
i
d
a
d
e

(
u
.
a
.
)
Comprimento de Onda (nm)
Li
2
O:Tb (excitao = 525 nm)
G1_2 (irradiado com 200 Gy)

Figura 6.5. Espectro de emisso para Li
2
O:Tb (G1_2) irradiado, com excitao de 525 nm.

200 220 240 260 280 300 320 340 360 380 400 420 440 460 480
2500
3000
3500
4000
4500
5000
5500
6000
6500
7000
7500
8000
8500
9000
9500
10000
I
n
t
e
n
s
i
d
a
d
e

(
u
.
a
.
)
Comprimento de Onda (nm)
Li
2
O:Tb (excitao = 525 nm)
G1_4 (irradiado com 200 Gy)

Figura 6.6. Espectro de emisso para Li
2
O:Tb (G1_4) irradiado, com excitao de 525 nm.

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200 220 240 260 280 300 320 340 360 380 400 420 440 460 480
-20000
0
20000
40000
60000
80000
100000
120000
140000
160000
180000
200000
220000
240000
I
n
t
e
n
s
i
d
a
d
e

(
u
.
a
.
)
Comprimento de Onda (nm)
Li
2
O:Tb (excitao = 525 nm)
G1_8 (irradiado com 200 Gy)

Figura 6.7. Espectro de emisso para Li
2
O:Tb (G1_8) irradiado, com excitao de 525 nm.

b) Grupo 2 - MgO:Tb.
200 220 240 260 280 300 320 340 360 380 400 420 440 460 480
2000
4000
6000
8000
10000
12000
14000
16000
18000
20000
22000
24000
26000
28000
30000
32000
34000
I
n
t
e
n
s
i
d
a
d
e

(
u
.
a
.
)
Comprimento de Onda (nm)
MgO:Tb,Co (excitao = 525 nm)
G2_12 (irradiado com 200 Gy)

Figura 6.8. Espectro de emisso para MgO:Tb (G2_12) irradiado, com excitao de 525 nm.

Dissertao Pgina 118 de 141
Instituto de Fsica de So Carlos

200 220 240 260 280 300 320 340 360 380 400 420 440 460 480
2000
4000
6000
8000
10000
12000
14000
16000
18000
20000
22000
24000
26000
28000
30000
32000
34000
I
n
t
e
n
s
i
d
a
d
e

(
u
.
a
.
)
Comprimento de Onda (nm)
MgO:Tb,Co (excitao = 525 nm)
G2_14 (irradiado com 200 Gy)

Figura 6.9. Espectro de emisso para MgO:Tb (G2_14) irradiado, com excitao de 525 nm.

200 220 240 260 280 300 320 340 360 380 400 420 440 460 480
0
2000
4000
6000
8000
10000
12000
14000
16000
18000
20000
22000
24000
26000
28000
30000
32000
34000
36000
I
n
t
e
n
s
i
d
a
d
e

(
u
.
a
.
)
Comprimento de Onda (nm)
MgO:Tb (excitao = 525 nm)
G2_16 (irradiado com 200 Gy)

Figura 6.10. Espectro de emisso para MgO:Tb (G2_16) irradiado, com excitao de 525 nm.

Dissertao Pgina 119 de 141
Instituto de Fsica de So Carlos

200 220 240 260 280 300 320 340 360 380 400 420 440 460 480
0
5000
10000
15000
20000
25000
30000
35000
40000
I
n
t
e
n
s
i
d
a
d
e

(
u
.
a
.
)
Comprimento de Onda (nm)
MgO:Tb (excitao = 525 nm)
G2_18 (irradiado com 200 Gy)

Figura 6.11. Espectro de emisso para MgO:Tb (G2_18) irradiado, com excitao de 525 nm.

c) Grupo 3 - CaO:Tb.

200 220 240 260 280 300 320 340 360 380 400 420 440 460 480
0
10000
20000
30000
40000
50000
60000
70000
80000
90000
I
n
t
e
n
s
i
d
a
d
e

(
u
.
a
.
)
Comprimento de Onda (nm)
CaO:Tb (excitao = 525 nm)
G3_22 (irradiado com 200 Gy)

Figura 6.12. Espectro de emisso para CaO:Tb (G3_22) irradiado, com excitao de 525 nm.

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200 220 240 260 280 300 320 340 360 380 400 420 440 460 480
3800
4000
4200
4400
4600
4800
5000
5200
5400
5600
5800
6000
6200
6400
I
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t
e
n
s
i
d
a
d
e

(
u
.
a
.
)
Comprimento de Onda (nm)
CaO:Tb (excitao = 525 nm)
G3_24 (irradiado com 200 Gy)

Figura 6.13. Espectro de emisso para CaO:Tb (G3_24) irradiado, com excitao de 525 nm.


Todos os espectros, com exceo de Li
2
O:Tb na amostra G1_8 (Figura 6.7), apresentam as
mesmas linhas, com intensidades diferentes. Alguns dos picos podem ser atribudos a
transies entre nveis de energia do Tb, de acordo com o esquema mostrado na Figura 6.14 a.
com as linhas identificadas na Figura 6.14. b. a seguir (usamos o espectro de G2_14,
MgO:Tb).
Nenhuma das linhas do Tb foram vistas em amostras no irradiadas. Esse comportamente era
esperado de acordo com os niveis de energia para Tb [52]. O que indica que o processo de
emisso visto para as amostras deve-se a novos estados de energia, provavelmente envolvidos
com centros luminescentes.
Dissertao Pgina 121 de 141
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Figura 6.14. a) Transies entre nveis de energia do Tb (diferena entre linhas no esta corretamente
representada) e b) picos identificados no espectro de emisso da amostra MgO:Tb (G2_14), mas que se
observa em todas as outras amostras, com exceo de Li
2
O:Tb na amostra G1_8.


O comportamento no esperado da amostra G1_8 (Li
2
O:Tb) tambm foi observado para os
espectros de EPR do Captulo 4, cujos sinais so diferentes dos encontrados para as duas
outras amostras de Li
2
O:Tb.
Para o xido de Ltio o pico com maior intensidade o com a transio
5
7
3
5
F D , ao
contrrio das amostras de MgO:Tb e CaO:Tb que possuem pico com maior intensidade para a
transio
6
7
3
5
F D .

6.2.2. Espectro de Excitao.

Os espectros de excitao foram adquiridos para amostras limpas e amostras irradiadas. Os
xidos em p limpos foram submetidos a 20 minutos em forno de 200
o
C e os irradiados
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foram expostos a 200 Gy de radiao | numa fonte de
90
Sr/
90
Y. Dessa forma temos os
grficos comparativos para amostras irradiadas e no irradiadas.
Para aquisio dos espectros de excitao usamos um intervalo de 700 a 500 nm; duas
emisses (380 e 415 nm, usando a denominao a para os espectros com emisso de 380
nm e b para os espectros de emisso 415 nm), referentes aos picos observados para o
espectro de emisso das amostras no item anterior; tempo integrado de 0.5 segundos, e tempo
de incremento de 0.5. As leituras foram feitas usando a funo S/R, ou seja, intensidade da
amostra dividido pela intensidade da lmpada.
a) Grupo 1 - Li
2
O:Tb.
480 500 520 540 560 580 600 620 640 660 680 700
2000
3000
4000
5000
6000
7000
8000
9000
10000
11000
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a
d
e

(
u
.
a
.
)
Comprimento de Onda (nm)
Li
2
O:Tb (emisso = 380 nm)
G1_2a ("limpo")
G1_2a (irradiado com 200 Gy)
480 500 520 540 560 580 600 620 640 660 680 700
2000
3000
4000
5000
6000
7000
8000
9000
10000
11000
12000
13000
14000
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e

(
u
.
a
.
)
Comprimento de Onda (nm)
Li
2
O:Tb 1 (emisso = 415 nm)
G1_2b ("limpo")
G1_2b (irradiado com 200 Gy)

Figura 6.15. a) Espectro de excitao para Li
2
O:Tb (G1_2) irradiado e no irradiado com emisso de 380
nm e b) 415 nm.

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Instituto de Fsica de So Carlos

480 500 520 540 560 580 600 620 640 660 680 700
3000
4000
5000
6000
7000
8000
9000
10000
11000
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d
e

(
u
.
a
.
)
Comprimento de Onda (nm)
Li
2
O:Tb (emisso = 380 nm)
G1_4a ("limpo")
G1_4a (irradiado com 200 Gy)
480 500 520 540 560 580 600 620 640 660 680 700
2000
3000
4000
5000
6000
7000
8000
9000
10000
11000
12000
13000
14000
15000
16000
17000
18000
19000
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e

(
u
.
a
.
)
Comprimento de Onda (nm)
Li
2
O:Tb (emisso = 415 nm)
G1_4b ("limpo")
G1_4b (irradiado com 200 Gy)

Figura 6.16. a) Espectro de excitao para Li
2
O:Tb (G1_4) irradiado e no irradiado com emisso de 380
nm e b) 415 nm.

480 500 520 540 560 580 600 620 640 660 680 700
0
20000
40000
60000
80000
100000
120000
140000
160000
180000
200000
220000
240000
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(
u
.
a
.
)
Comprimento de Onda (nm)
Li
2
O:Tb (emisso = 380 nm)
G1_8a ("limpo")
G1_8a (irradiado com 200 Gy)
480 500 520 540 560 580 600 620 640 660 680 700
0
50000
100000
150000
200000
250000
300000
350000
400000
450000
500000
550000
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(
u
.
a
.
)
Comprimento de Onda (nm)
Li
2
O:Tb (emisso = 412 nm)
G1_8b ("limpo")
G1_8b (iradiado com 200 Gy)

Figura 6.17. a) Espectro de excitao para Li
2
O:Tb (G1_8) irradiado e no irradiado com emisso de 380
nm e b) 415 nm.

b) Grupo 2 - MgO:Tb.
480 500 520 540 560 580 600 620 640 660 680 700
-10000
0
10000
20000
30000
40000
50000
60000
70000
80000
90000
100000
110000
120000
130000
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(
u
.
a
.
)
Comprimento de Onda (nm)
MgO:Tb,Co (emisso = 380 nm)
G2_12a ("limpo")
G2_12a (irradiado com 200 Gy)
480 500 520 540 560 580 600 620 640 660 680 700
0
5000
10000
15000
20000
25000
30000
35000
40000
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e

(
u
.
a
.
)
Comprimento de Onda (nm)
MgO:Tb,Co (emisso = 415 nm)
G2_12b ("limpo")
G2_12b (irradiado com 200 Gy)

Figura 6.18. a) Espectro de excitao para MgO:Tb (G2_12) irradiado e no irradiado com emisso de
380 nm e b) 415 nm.


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Instituto de Fsica de So Carlos

480 500 520 540 560 580 600 620 640 660 680 700
0
10000
20000
30000
40000
50000
60000
70000
80000
90000
100000
110000
120000
130000
140000
150000
160000
170000
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(
u
.
a
.
)
Comprimento de Onda (nm)
MgO:Tb,Co (emisso = 380 nm)
G2_14a ("limpo")
G2_14a (irradiado com 200 Gy)
480 500 520 540 560 580 600 620 640 660 680 700
0
3000
6000
9000
12000
15000
18000
21000
24000
27000
30000
33000
36000
39000
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e

(
u
.
a
.
)
Comprimento de Onda (nm)
MgO:Tb,Co (emisso = 415 nm)
G2_14b ("limpo")
G2_14b (irradiado com 200 Gy)

Figura 6.19. a) Espectro de excitao para MgO:Tb (G2_14) irradiado e no irradiado com emisso de
380 nm e b) 415 nm.

480 500 520 540 560 580 600 620 640 660 680 700
0
20000
40000
60000
80000
100000
120000
140000
160000
180000
200000
220000
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(
u
.
a
.
)
Comprimento de Onda (nm)
MgO:Tb (emisso = 380 nm)
G2_16a ("limpo")
G2_16a (irradiado com 200 Gy)
480 500 520 540 560 580 600 620 640 660 680 700
0
5000
10000
15000
20000
25000
30000
35000
40000
45000
50000
55000
60000
65000
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(
u
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a
.
)
Comprimento de Onda (nm)
MgO:Tb (emisso = 415 nm)
G2_16b ("limpo")
G2_16b (irradiado com 200 Gy)

Figura 6.20. a) Espectro de excitao para MgO:Tb (G2_16) irradiado e no irradiado com emisso de
380 nm e b) 415 nm.

480 500 520 540 560 580 600 620 640 660 680 700
0
20000
40000
60000
80000
100000
120000
140000
160000
180000
200000
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(
u
.
a
.
)
Comprimento de Onda (nm)
MgO:Tb (emisso = 380 nm)
G2_18a ("limpo")
G2_18a (irradado com 200 Gy)
480 500 520 540 560 580 600 620 640 660 680 700
0
5000
10000
15000
20000
25000
30000
35000
40000
45000
50000
55000
60000
65000
70000
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(
u
.
a
.
)
Comprimento de Onda (nm)
MgO:Tb (emisso = 415 nm)
G2_18b ("limpo")
G2_18b (irradiado com 200 Gy)

Figura 6.21. a) Espectro de excitao para MgO:Tb (G2_18) irradiado e no irradiado com emisso de
380 nm e b) 415 nm.

c) Grupo 3 - CaO:Tb.
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Instituto de Fsica de So Carlos


480 500 520 540 560 580 600 620 640 660 680 700
0
20000
40000
60000
80000
100000
120000
140000
160000
180000
200000
220000
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(
u
.
a
.
)
Comprimento de Onda (nm)
CaO:Tb (emisso = 380 nm)
G3_22a ("limpo")
G3_22a (irradiado com 200 Gy)
480 500 520 540 560 580 600 620 640 660 680 700
4000
6000
8000
10000
12000
14000
16000
18000
20000
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(
u
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a
.
)
Comprimento de Onda (nm)
CaO:Tb (emisso = 415 nm)
G3_22b ("limpo")
G3_22b (irradiado com 200 Gy)

Figura 6.22. a) Espectro de excitao para CaO:Tb (G3_22) irradiado e no irradiado com emisso de
380 nm e b) 415 nm.

480 500 520 540 560 580 600 620 640 660 680 700
3000
4000
5000
6000
7000
8000
9000
10000
11000
12000
13000
14000
15000
16000
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(
u
.
a
.
)
Comprimento de Onda (nm)
CaO:Tb (emisso = 380 nm)
G3_24a ("limpo")
G3_24a (irradiado com 200 Gy)
480 500 520 540 560 580 600 620 640 660 680 700
3000
4000
5000
6000
7000
8000
9000
10000
11000
12000
13000
14000
15000
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(
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a
.
)
Comprimento de Onda (nm)
CaO:Tb (emisso = 415 nm)
G3_24b ("limpo")
G3_24b (irradiado com 200 Gy)

Figura 6.23. a) Espectro de excitao para CaO:Tb (G3_24) irradiado e no irradiado com emisso de
380 nm e b) 415 nm.

Dos espectros de excitao vemos que as amostras de xido de Magnsio apresentam
melhores resultados, em especial para os espectros com emisso em 380 nm.
Isso indica que, a princpio, o material um bom candidato a material OSL para ser usado em
dosimetria quando comparado com os outros xidos.
Na regio estudada os espectros para Li
2
O:Tb so caracterizados por: a) presena de banda de
excitao em 1.92 eV (~645 nm) em todas as amostras irradiadas e no irradiadas; b) presena
de banda de excitao em 2.53 eV (~490 nm) em todas as amostras irradiadas e no irradiadas
e; c) excitao maior na regio entre 480 e 560 nm, em que o espectro apresenta crescimento
Dissertao Pgina 126 de 141
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contnuo em direo a 480 nm. Novamente podemos observar a diferena do comportamento
da amostra G1_8 de Li
2
O:Tb em comparao com as duas outras amostras do mesmo xido.
O espectro apresenta intensidade alta, em especial para o espectro com emisso em 415 nm,
cujo comprimento de onda de emisso encontra-se mais prximo ao pico em 420 nm do
espectro de emisso.
Na regio estudada os espectros para MgO:Tb so caracterizados por: a) presena de banda de
excitao em 1.92 eV (~645 nm) em todas as amostras irradiadas e no irradiadas; b) presena
de banda de excitao em 2.53 eV (~490 nm) em todas as amostras irradiadas e no irradiadas
e; c) excitao maior na regio entre 480 e 560 nm, em que o espectro apresenta crescimento
contnuo em direo a 480 nm. Ambos apresentam uma estrutura relativamente comum na
regio de 2.58 eV.
Na regio estudada os espectros para CaO:Tb so caracterizados por: a) presena de banda de
excitao em 1.92 eV (~645 nm) em todas as amostras irradiadas e no irradiadas; b) presena
de banda de excitao em 2.53 eV (~490 nm) em todas as amostras irradiadas e no
irradiadas; c) excitao maior na regio entre 480 e 560 nm e; d) no espectro com emisso de
380 nm da amostra G3_22 (Figura 6.22. a.) ainda existe um pico na amostra irradiada em 2.06
eV (~600 nm).
Com o espectro de emisso para cada xido o prximo passo fazer testes com doses
diferentes e observar saturao e comportamento do sinal de excitao. Em seguida, testes
com diferentes tipos de exposio, como por exemplo, usar UV, , ou nutrons.



Dissertao Pgina 127 de 141
Instituto de Fsica de So Carlos

7 7. . C CO ON NC CL LU US S E ES S

O xido de Alumnio, crescido numa baixa presso na presena de uma atmosfera de
Carbono, o material que atualmente apresenta melhores resultados em dosimetria usando
luminescncia opticamente estimulada. A unio do material tcnica tambm trouxe
vantagens no uso de dosimetria OSL em reas como dosimetria individual externa, datao,
dosimetria mdica e dosimetria espacial.
Em rotinas de laboratrios de dosimetria individual externa usa-se, atualmente no Brasil,
dosimetria usando filmes fotogrficos ou termoluminescncia. Contudo, em pases como
Estados Unidos, Japo e Frana as rotinas tem sido substitudas por dosimetria opticamente
estimulada. Isso devido ao baixo custo dos equipamentos de medida, dos dosmetros e,
tambm, pela diminuio do tempo de leitura em comparao com as outras duas tcnicas
conhecidas.
Para que um laboratrio possa prestar servios de proteo radiolgica necessrio passar por
uma seqncia de testes certificados pela CNEN (Comisso Nacional de Energia Nuclear).
Esses testes seguem padres internacionais, estabelecidos pela Agncia Internacional de
Energia Atmica [19] (IAEA) atravs de rgos relacionados com proteo radiolgica
ICRP [20] (Comisso Internacional de Proteo Radiolgica) e padronizao de unidades e
medidas ICRU (Comisso Internacional de Unidades e Medidas em Radiao) [21].
Nesse trabalho apresentamos uma proposta de certificao de dosimetria individual externa
usando OSL pulsado. Nossa proposta faz uma correspondncia entre os testes j credenciados
pela CNEN s caractersticas de dosimetria usando estimulo ptico pulsado. Tambm
apresentamos alguns testes de desempenho usando dosimetria OSL e mostramos que todos os
testes respondem satisfatoriamente ao esperado.
Dissertao Pgina 128 de 141
Instituto de Fsica de So Carlos

Nossa proposta, junto aos testes de desempenho, ser apresentada a CNEN para que seja
elaborado um documento oficial que permita o uso de dosimetria individual externa usando
luminescncia opticamente estimulada no Brasil.
A literatura apresenta muitos estudos usando espectroscopia de EPR em xido de Alumnio,
contudo nada com o material dopado com Carbono. De posse de monocristal e p de Al
2
O
3
:C
adquirimos espectros de EPR e tentamos identificar sinais criados pela exposio de nossas
amostras a radiao ionizante. Exposies desse tipo de radiao cria estados metaestveis
(pares eltron-buraco) e aumenta o nmero de centros paramagnticos do tipo centro F
+
, mas
no conseguimos identificar a criao desses estados em nossos espectros. Contudo,
apresentamos nesse trabalho a identificao de sinais devidos a impurezas no material.
Impurezas, essas, que existem em pouca quantidade e que no afetam a sensibilidade do
material em dosimetria OSL. Dessa forma mostramos a eficcia da tcnica de espectroscopia
de EPR em detectar impurezas, mesmo quando se encontram em poucas partes por milho.
Em minha estada no Laboratrio de Dosimetria das Radiaes do Instituto de Fsica da
Universidade Estadual de Oklahoma (Stillwater, EUA), de Fevereiro e Abril de 2007, tive a
oportunidade de trabalhar em dois projetos diferentes.
No primeiro tive contato com medidas de luminescncia opticamente estimulada usando onda
contnua (CW OSL) fazendo medidas em Al
2
O
3
:C para observar mudana na sensibilidade do
material quando expostos UV. Essas medidas apresentam resultados interessantes quanto ao
comportamento do sinal OSL quando exposto a diferentes comprimentos de onda na regio
do UV. O uso do Al
2
O
3
:C para dosimetria UV vivel, mas um modelo vlido para
dosimetria dever levar em considerao o comprimento de onda a que o material foi exposto.
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Observamos que para algumas exposies (275, 300, 325 e 350 nm) houve mudana no
material, pois a resposta a exposies com mesma dose de | mostrou decaiemntos diferentes.
Esse resultado sugere a diferena de caminhos de recombinao para cada exposio com
UV.
No segundo participei de pesquisas preliminares que fazem parte da busca por novos
materiais sensveis a radiao ionizante e com boa resposta para estimulo ptico. De posse de
amostras em p de trs xidos dopados com Trbio (Li
2
O:Tb, MgO:Tb e CaO:Tb) fiz
medidas de espectroscopia de EPR, de emisso e de excitao.
Em espectroscopia de EPR esperava, novamente, poder observar aparecimento de sinais no
espectro por exposio dos materiais a radiao ionizante pela criao de centros
metaestveis. Algumas linhas em nosos espectros foram identificadas e so devidas a
impurezas nas amostras, contudo no obtivemos resultados conclusivos sobre centros criados
aps irraidao das amostras.
Nos espectros de emisso observamos picos devidos s transies do Tb. Esses picos no so
observados para amostras no irradiadas, uma vez que o comprimento de energia de excitao
usado no suficiente para que sejam vistas as linhas de emisso. Esse resultado indica que o
processo de emisso visto para as amostras deve-se a novos estados de energia,
provavelmente envolvidos com centros luminescentes. O pico com maior intensidade para
Li
2
O:Tb est em 415 nm com transio
5
7
3
5
F D e para CaO:Tb e MgO:Tb est em 380 nm
com transio
6
7
3
5
F D .
Os espectros de excitao foram adquiridos usando os comprimentos de onda dos picos dos
espectros de emisso. Nestes foi observado que MgO:Tb apresenta melhores resultados para
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ser usado em dosimetria, uma vez que seus espectros possuem intensidades bem mais altas,
quando comparados com os dos outros xidos.
O foco central desse trabalho foi estudar dosimetria usando luminescncia opticamente
estimulada. Nele tive a oportunidade de aprender e trabalhar diretamente com dois tipos de
estmulos diferentes, o OSL pulsado e o de onda contnua (CW OSL). Ao meu conhecimento
agrego as tcnicas de espectroscopia de EPR, de emisso e de excitao. E ainda a experincia
com o ambiente de um laboratrio que presta servios de proteo radiolgica, e uma
experincia internacional em um laboratrio de dosimetria.













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9 9. . A AP P N ND DI IC CE E A A M MA AT TR RI IZ Z D DE E C CO OR RR RE ES SP PO ON ND D N NC CI IA A
A seguir temos uma tabela com os testes de tipo e de desempenho para dosimetria pessoal externa usando termoluminescncia (coluna
TLD), filme fotogrfico (coluna Filme) e o teste correspondente para dosimetria pessoal externa usando luminescncia opticamente
estimulada (coluna OSL).

Processo de Certificao - Padro de desempenho, caractersticas fsicas e dosimtricas.

IRD RT No. 002 deve ter uma seo especifica para OSL, apresentamos abaixo um resumo em forma de tabela para os testes a serem realizados.
Para dosimetria OSL realizada com um dosmetro modelo InLight

temos
a presena de 4 componentes.
I - Leitor;
II - Porta Monitor;
III - Porta Leitor que contm os filtros e um invlucro resistente luz;
IV - Dosmetro com quatro janelas de Al
2
O
3
:C.
NA = No se Aplica
Nome Filme TLD OSL
Definies
3.1.1 Dosmetro Fotogrfico;
3.1.2 Sistema de Dosimetria
Fotogrfica;
3.1.3 Densidade tica de
Transmisso;
3.1.4 Curva Caracterstica;
3.1.5 Imagem Latente;
4.1.1 Termoluminescncia (TL);
4.1.2 Material Termoluminescente;
4.1.3 Detector Termoluminescente (TLD);
4.1.4 Dosmetros Termoluminescentes;
4.1.5 Leitor de Detectores Termoluminescentes;
4.1.6 Sistema de Dosimetria Termoluminescente;
5.1.1 Luminescncia Opticamente
Estimulada (OSL);
5.1.2 Material OSL;
5.1.3 Detector Opticamente Estimulado;
5.1.4 Dosmetros OSL;
5.1.5 Leitor de Detectores OSL;
5.1.6 Sistema de Dosimetria OSL;
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3.1.6 Solarizao. 4.1.7 Lote (detectores ou dosmetros TL);
4.1.8 Recozimento;
4.1.9 Preparao;
4.1.10 Leitura;
4.1.11 Auto-irradiao;
4.1.12 Leitura zero;
4.1.13 Rudo de fundo do Leitor.
5.1.7 Lote (detectores ou dosmetros OSL);
5.1.8 Preparao;
5.1.9 Leitura;
5.1.10 Leitura zero;
5.1.11 Rudo de fundo do Leitor.
Responsabilidade
Pelos Testes
3.2 Responsabilidade pelos testes 4.2 Responsabilidade pelos testes
5.2 - Responsabilidade pelos testes (igual ao
4.2)
Procedimento de
Teste
3.3 Procedimento de Teste 4.3 Procedimento de teste 5.3 - Procedimento de teste (igual ao 4.3)
Teste de
Desempenho do
Leitor
3.4 - 1) Densitmetro deve medir
densidades ticas entre 0,01 e 5; 2) A
reprodutibilidade das medidas deve
ser 0.01 entre 0,01 e 0,1; e 0.02
entre 0,1 e 5.
4.3.1 - Reprodutibilidade da luz de referncia. Para
10 leituras a varincia deve ser < 0,01;
4.3.2 - Estabilidade do leitor - a estabilidade deve ser
verificada no perodo de 168h;
4.3.3 - Efeito das condies climticas (temperatura)
- para 3 temperaturas faz-se a comparao no sinal
de fundo e no sinal do dosmetro;
4.3.4 - Efeito de luz dobre o leitor (sem a presena de
dosmetro).
5.4.1 Reprodutibilidade da luz de referncia
(4.3.1)
5.4.2 Estabilidade do leitor (4.3.2)
5.4.3 Efeito das condies climticas (4.3.3)
5.4.4 Efeito de luz sobre o leitor (4.3.4)
Teste de
desempenho do
detector
3.5.1 - Uniformidade da densidade
tica da emulso;
3.5.2 - estabilidade da imagem
latente;
3.5.3 - Remitncia ao
envelhecimento;
3.5.3.1 - envelhecimento
artificial;
3.5.3.2 - envelhecimento
4.4.1 - Homogeneidade do lote prepara-se e
irradia-se os detectores do lote, com o mesmo valor
verdadeiro convencional C igual a 2mGy.
Determina-se o valor avaliado A para cada detector.
Encontre A
max
, A
min
e calcule A
mdio
;
4.4.2 Linearidade A resposta no deve variar em
mais de 10 % no intervalo 0,2 mGy 1 Gy;
4.4.3 - Dependncia energtica quatro grupos so
irradiados com 10 mGy, nos intervalos: 20-25 keV,
- Para OSL - InLight

o valor da sensibilidade de cada


detector estabelecido pelo fabricante. O teste pode ser
realizado exatamente como em TL para um lote de
mesma sensibilidade.
- No modelo InLight

o par detector/porta-monitor esta


sempre associado. O dosmetro s vendido dentro do
porta dosmetro, e o teste de detector isolado do porta
dosmetro no se aplica.
- A anlise cabvel a influncia do porta monitor.
- Os testes - equivalentes aos testes 4.4 para TL devem ser
feitos sem a presena da porta monitor.
Testes a serem realizados:
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natural;
3.5.4 - Opacidade dos envelopes;
3.5.5 - Resistncia do invlucro ao
vapor de H
2
O.
30-40 keV, 80-100 keV e
137
Cs ou
50
Co.
4.4.4 - efeito de exposio luz do detector
(equivalente ao 3.5.4).
5.5.1 Homogeneidade do lote (4.4.1)
5.5.2 Linearidade (4.4.2)
5.5.3 Dependncia energtica (4.4.3)
5.5.4 Efeito de exposio luz (4.4.4)
5.5.5 Opacidade dos detectores (3.5.4)
5.5.6 Resistncia do detector ao vapor de
H
2
O (3.5.5)
Requisitos de
desempenho do
porta dosmetro
3.6.1 - Homogeneidade dos filtros;
3.6.2 - Auto irradiao;
3.6.3 - Resistncia a impactos.
NA
NA
NA
NA
NA
5.6.1 Resistncia a impactos (3.6.3)
Requisitos de
desempenho do
sistema.
3.7.1 - limite inferior de deteco;
3.7.2 Reprodutibilidade;
3.7.3 Linearidade;
3.7.4 Dependncia Energtica;
3.7.5 Dependncia Angular;
3.7.6 Influncia da presena de um
fantoma;
3.7.7 Influncia da Irradiao
Pstero-Anterior.
4.5.1 Homogeneidade do Lote;
4.5.2 Reprodutibilidade;
4.5.3 Linearidade;
4.5.4 Limite Inferior de Deteco;
4.5.5 Auto Irradiao;
4.5.6 Estabilidade dos dosmetros sob diferentes
condies climticas. (a) Tempo CNPT 30 dias; (b)
Tempo CNTP 90 dias; (c) Tempo por sete dias em
T=50C 2C; (d) Tempo por 30 dias com T=25 C
e umidade = 90%.
4.5.7 Sinal residual (devido reutilizao do
dosmetro);
4.5.8 Efeito de Luz sobre o Dosmetro;
4.5.9 Dependncia Energtica;
4.5.10 Dependncia Angular;
4.5.11 Influncia na Presena de um Fantoma;
4.5.12 Influncia da Irradiao Pstero-Anterior;
5.7.1 Homogeneidade do Lote (4.5.1)
5.7.2 Reprodutibilidade (4.5.2)
5.7.3 Linearidade (4.5.3)
5.7.4 Limite inferior de Deteco (4.5.4)
5.7.5 Estabilidade dos dosmetros (4.5.6)
5.7.6 Sinal Residual (4.5.7)
5.7.7 Efeito de luz sobre dosmetro (4.5.8)
5.7.8 Dependncia Energtica (4.5.9)
5.7.9 Dependncia Angular (4.5.10)
5.7.10 Influncia na presena de um
Fantoma (4.5.11)
5.7.11 Influncia da Irradiao Pstero-
Anterior (4.5.12)
5.7.12 Resistncia a Impactos (4.5.13)
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4.5.13 Resistncia a Impactos.
Releitura dos
dosmetros
NA NA
Os monitores tipo OSL InLight

so
analisados com um feixe de luz de baixa
intensidade (no com laser como o modelo
Luxel

), dessa forma podem ser re-analisados


por mais de 10 vezes sem que o sinal seja
reduzido. Caso o laboratrio venha a fazer uso
dessa propriedade um teste de desempenho
deve ser feito.


Processo de Certificao Critrios Gerais.
IRD RT No. 001 Deve ter um item sobre o detector OSL.

Nome Filme TLD OSL
O detector 6.2 O Filme 6.3 O Detector Termoluminescente (TL)
6.4 O Detector Opticamente Estimulado
(OSL) essa seo muito similar ao 6.3 para
dosimetria TL, toda a parte relativa a
tratamento trmico deve ser substituda por
tratamento ptico.


Processo de Certificao LNMRI, auditoria e registro de doses.

IRD RT No. 003 a 005 - no necessitam de alterao (desempenho de sistemas de monitorao individual externa testes no LNMRI; processo de auditoria para
certificao de um sistema de monitorao individual externa; sistema de registro de doses procedimentos de cadastro).
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1 10 0. . A AP P N ND DI IC CE E B B M MO OD DE EL LO O E ES ST TA AT T S ST TI IC CO O P PA AR RA A A AV VA AL LI IA A O O
D DO OS S T TE ES ST TE ES S P PA AR RA A O OS SL L. .

O modelo estatstico usado para avaliar os resultados dos testes de tipo e de desempenho para
dosimetria pessoal externa termoluminescente e de filme fotogrfico o t-student. Esse
modelo tambm usado para nossa proposta de testes para dosimetria pessoal externa usando
luminescncia opticamente estimulada.
Nesse Apndice daremos uma breve explicao do modelo estatstico e de termos usados no
captulo 3 para validao de nossos dados.
Em probabilidade e estatstica a distribuio t, ou distribuio t-student uma distribuio
probabilstica que surge do problema de se trabalhar com a mdia de uma populao
normalmente distribuda quando o tamanho da populao pequeno [52]. bastante usado
em analise estatstica entre mdias de populaes e entre intervalos de confiana dessas
mdias. [54]
A seguir apresentamos as equaes para clculo do intervalo de confiana para a mdia,
desvio padro e grandezas compostas de uma amostra usando distribuio t.
a) Intervalo de Confiana para o Desvio Padro.
O intervalo de confiana para o desvio padro S :
) , (
S S
l S l S + Equao (10.1)
Sendo l
S
a meia largura do intervalo de confiana de S. Se S for calculado de n
s
medidas, o
limite superior de l
S
com um nvel de confiana de 95% ser dado por:
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S
n
t n l
s
ns s s
.
1
5 . 0
. ) (

= Equao (10.2)
Sendo t
ns
o fator t de student para n
s
medidas presente na Tabela 10.1.
b) Intervalo de Confiana para a Mdia x .
Intervalo de confiana para a mdia x :
) , (
i i
l x l x + Equao (10.3)
Sendo l
i
a meia largura do intervalo de confiana relativa ao i-simo conjunto de medidas com
um nvel de confiana de 95%. Ao calcular x de n
i
medidas, a meia largura do intervalo de
confiana dada por:
i
i ni
i i
n
S t
n l
.
) ( = Equao (10.4)
Onde S
i
o desvio padro do i-simo grupo de medidas e t
ni
o fato t de student para n
i

medidas presente na Tabela 10.1.
c) Intervalo de Confiana para uma Grandeza Composta.
Se os limites de variao so estabelecidos para uma grandeza x calculada com k mdias
independentes
1
x ,
2
x ,
3
x ,...,
k
x :
) ,..., , , (
3 2 1 k
x x x x f x = Equao (10.5)
E a meia largura do intervalo de confiana da i-sima mdia I
i
, a meia largura do intervalo
de confiana para x dado por:

=
c
c
=
k
i
i
k
l
x
x x x x f
l
1
2
2
3 2 1
.
) ,..., , , (
Equao (10.6)
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Por exemplo, se a relao das mdias dada por:
2 1
x x x + = Equao (10.7)
Ento a meia largura do intervalo de confiana escrito de maneira que:

2
2
2
1
l l l + = Equao (10.8)
Abaixo apresentamos a tabela com fator t de Student para quantidades n
i
de medidas.
n
i
t
ni

2 12.71
3 4.3
4 3.18
5 2.78
6 2.57
7 2.45
8 2.37
9 2.31
10 2.26
15 2.15
20 2.09
25 2.06
30 2.05
40 2.02
60 2.00
120 1.98
1.96
Tabela 10.1 Fator t-student (t
ni
) por numero de medidas (n
i
)