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Em que T
o
o tempo de operao, e t(I) uma equao
normalizada dependente da corrente de entrada para o clculo
do tempo de operao.
Essa equao tem o seguinte significado: em um ambiente
de programao computacional, a funo para clculo da
integral pode ser dada de algumas maneiras, por isso escolheu-
se sua implementao atravs de uma somatria. Neste caso
mostrado na Eq. 3, enquanto o resultado dessa somatria no
for maior ou igual a um, o tempo de atuao ainda no foi
alcanado, ou seja, o tempo de atuao ser o mesmo tempo
que esta somatria leva at atingir valor maior do que um.
Para a equao normalizada t(I), utilizaram-se duas normas
distintas, conforme mostrado a seguir:
1. IEEE C37.112-1996 [6]:
=
1
+
(4)
Em que t(I) o tempo de operao (em segundos); A, B e P
so constantes que determinam o tipo de curva (ver Tabela II
em Apndice); I a corrente de entrada; Ipickup a corrente
de pickup; TDM o multiplicador de tempo.
2. IEC 255-4 [7] equivalente British standard BS142 [10]:
=
1
(5)
Em que t(I) o tempo de operao (em segundos); E e K so
constantes que determinam o tipo de curva (ver Tabela III em
Apndice); I a corrente de entrada; Ipickup a corrente de
pickup; TDM o multiplicador de tempo.
Para desenvolver o algoritmo de proteo de sobrecorrente
de tempo inverso, na Eq. 3, t(I) foi substitudo pelas equaes
normalizadas Eqs. 4 e 5. Para isso, essas frmulas foram
implementadas no algoritmo, assim como todos os parmetros
para cada um dos sete tipos de curva dados de acordo com as
tabelas no apndice (trs tipos de curva para a famlia de
curvas IEEE e quatro para a famlia IEC). Atravs do
software, o usurio capaz de escolher o tipo de curva, o
multiplicador de tempo (TDM) e a corrente de pickup, j que
esses trs parmetros constituem trs variveis no algoritmo.
A Fig. 3 mostra de maneira simplificada um diagrama de
blocos do algoritmo de proteo desenvolvido neste trabalho.
Fig. 3. Diagrama de blocos mostrando simplificadamente o algoritmo de
proteo desenvolvido.
No bloco Configuraes o usurio define os seguintes
parmetros:
1. Tipo da curva: o usurio tem a opo de escolher entre os
tipos de curva possveis. Escolher o tipo de curva implica em
selecionar uma das frmulas e seus respectivos parmetros pr
definidos (mostrados nas tabelas em anexo);
2. TDM: o multiplicador de tempo;
3. Corrente de pickup.
4
O bloco Corrente atual sistema corresponde corrente de
entrada do sistema e que tambm ser utilizada na frmula do
clculo de t. O bloco Calcular t(I) faz o clculo do tempo t
de acordo com as Eqs. 4 ou 5, com as configuraes definidas
e com a corrente de entrada do sistema. No prximo bloco, a
varivel S corresponde Somatria. Esta varivel comea em
zero, recebe o valor inverso de t, j que preciso somar-se os
valores inversos de t at que esta soma atinja um valor maior
do que um. O bloco seguinte realiza a comparao e de acordo
com o resultado dessa comparao um sinal de trip para
atuao acionado ou no. Caso o sinal de trip no seja
acionado, o algoritmo volta para o clculo de t baseando-se na
nova corrente de entrada.
IV. TESTES E RESULTADOS
Os testes apresentados neste trabalho analisaram o tempo
de atuao da funo de proteo desenvolvida para que com
isso pudesse compar-la com a de um rel digital. Os testes
foram realizados utilizando o mdulo PC 104, o qual foi
configurado com a biblioteca que contm a funo
desenvolvida. Utilizou-se tambm da opo de aquisio
atravs de hardware que esta biblioteca possui, j que o
objetivo era testar em tempo real a atuao dessa funo
desenvolvida e posteriormente comparar o seu desempenho ao
de um rel digital com uma funo correspondente. Para a
realizao dos testes, dois sistemas foram montados, os quais
esto simplificadamente ilustrados na Fig. 4 e Fig. 5.
Fig. 4. Sistema de teste utilizando o mdulo PC 104.
Fig. 5. Sistema de teste utilizando um rel digital disponvel comercialmente.
No sistema da Fig. 4, uma caixa simuladora gera os sinais
de corrente faltosas; esse sinal passa por um condicionamento
para que possa ser inserido no mdulo PC 104, onde ser
analisado e uma deciso ser tomada de acordo com a funo
desenvolvida. Para obter o resultado do teste, um computador
faz a comunicao com essa caixa simuladora. J no sistema
da Fig. 5, o sinal vai diretamente para o rel digital disponvel
comercialmente, e um computador tem comunicao tanto
com a caixa simuladora quanto com o rel.
Dois tipos de teste foram realizados, o primeiro teve como
princpio realizar cinco simulaes para cada tipo de curva de
cada uma das duas famlias: IEEE e IEC. Nesses testes, fixou-
se a corrente de pickup em 1A. As cinco simulaes
justificam-se pelo fato de que cinco multiplicadores de tempo
foram escolhidos para cada tipo de curva. Alm disso, para
cada simulao, foram escolhidas cinco magnitudes diferentes
para a corrente de falta. Os resultados tanto para o mdulo PC
104 quanto para o rel digital esto apresentados na Tabela 1
que contm os valores mdios (para cada tipo de curva, foram
executadas 10 medies) dos tempos de operao em
segundos.
TABELA I
RESULTADOS PARA O PRIMEIRO TESTE
Curva Terico (s) PC 104 (s) Erro PC 104 Rel (s) Erro Rel
IEEE EI 11,341 11,3900 0,4321% 11,3849 0,3871%
IEEE EI 7,293 7,3300 0,5073% 7,3109 0,2454%
IEEE EI 7,78 7,8026 0,2905% 7,7852 0,0668%
IEEE EI 7,092 7,1011 0,1283% 7,0941 0,0296%
IEEE EI 1,897 1,9057 0,4586% 1,9094 0,6537%
IEEE VI 8,09 8,1142 0,2991% 8,1232 0,4104%
IEEE VI 5,885 5,9054 0,3466% 5,9035 0,3144%
IEEE VI 7,849 7,8665 0,223% 7,8574 0,107%
IEEE VI 8,995 9,0025 0,0834% 8,993 0,0222%
IEEE VI 2,945 2,9508 0,1969% 2,9528 0,2649%
IEEE MI 3,22 3,2444 0,7578% 3,2401 0,6242%
IEEE MI 4,864 4,8782 0,2919% 4,8781 0,2899%
IEEE MI 10,13 10,1417 0,1155% 10,1433 0,1313%
IEEE MI 14,117 14,1201 0,022% 14,127 0,0708%
IEEE MI 5,041 5,0456 0,0913% 5,0526 0,2301%
IEC A 0,501 0,5114 2,0758% 0,5209 3,9721%
IEC A 0,996 1,0015 0,5522% 1,0111 1,5161%
IEC A 1,535 1,541 0,3909% 1,5526 1,1466%
IEC A 1,978 1,9845 0,3286% 1,9944 0,8291%
IEC A 2,971 2,9743 0,1111% 2,9847 0,4611%
IEC B 0,675 0,6859 1,6148% 0,697 3,2593%
IEC B 0,9 0,9106 1,1778% 0,9129 1,4333%
IEC B 1,08 1,0897 0,8981% 1,0956 1,4444%
IEC B 1,157 1,1632 0,5359% 1,1679 0,9421%
IEC B 1,5 1,507 0,4667% 1,5098 0,6533%
IEC C 1,333 1,3443 0,8477% 1,3547 1,6279%
IEC C 1,067 1,0807 1,284% 1,082 1,4058%
IEC C 0,914 0,9268 1,4004% 0,9263 1,3457%
IEC C 0,762 0,7729 1,4304% 0,7762 1,8635%
IEC C 0,808 0,8185 1,2995% 0,8215 1,6708%
IEC SI 0,089 0,0979 10% 0,1051 18,0899%
IEC SI 0,175 0,1825 4,2857% 0,1953 11,6%
IEC SI 0,269 0,2754 2,3792% 0,2856 6,171%
IEC SI 0,346 0,352 1,7341% 0,3617 4,5376%
IEC SI 0,518 0,524 1,1583% 0,5355 3,3784%
5
Atravs desses resultados, possvel perceber uma
proximidade entre os tempos de atuao da funo
desenvolvida e a do rel digital. Pode-se ver tambm que no
geral os erros, dados em porcentagem, esto dentro de valores
aceitveis. Comparativamente, o modelo desenvolvido
apresentou erros percentuais menores, para alguns casos, que
o rel comercial, porm preciso dizer que o algoritmo de
proteo do rel comercial pode possuir etapas adicionais para
confirmar o comando de atuao, o que justificaria essa
diferena. Contudo pode-se dizer que o desempenho para o
primeiro teste foi satisfatrio para a funo desenvolvida neste
trabalho.
O segundo tipo de teste teve como objetivo testar dez
pontos distintos dentro de um mesmo tipo de curva. Este teste
foi feito para todos os tipos de curva de cada famlia (IEEE e
IEC). Neste teste, o multiplicador de tempo foi fixado em 4,0
e as relaes de corrente (I/Ipickup) variaram entre 1,5 e 10.
Os resultados esto concentrados em apenas dois grficos.
O grfico da Fig. 6 mostra o tempo de atuao para a curva
IEEE Moderately Inverse para diversas correntes de falta. Em
azul destaca-se o tempo terico de atuao, em preto o tempo
de atuao da funo desenvolvida e em vermelho o tempo de
atuao do rel comercial. Pode-se constatar que tanto o
tempo de atuao do rel comercial quanto da funo
desenvolvida acompanharam, com pequenos desvios, o valor
terico.
Fig. 6. Grfico mostrando o resultado do teste para o tipo Moderately Inverse
do IEEE
Resultados semelhantes ao anterior podem ser constatados
no grfico da Fig. 7, no qual se mostra o tempo de atuao
para a curva A padro IEC.
Analisando os dois testes possvel perceber que o mdulo
PC 104 contendo a funo desenvolvida apresentou resultados
satisfatrios. Na comparao com o rel digital, a funo
desenvolvida apresentou desempenho muito semelhante, o que
constitui um fato muito importante em relao validao da
funo de proteo desenvolvida.
Fig. 7. Grfico mostrando o resultado do teste para o tipo A da famlia de
curvas do IEC.
V. CONCLUSES
Este trabalho teve como objetivo desenvolver uma funo
de proteo de sobrecorrente temporizada de tempo inverso, e
implement-la em uma biblioteca a qual est embarcada em
um mdulo que segue os padres PC 104, com a inteno de
testar essa funo em laboratrio para analisar seu
comportamento em tempo real.
Aps realizar todos os testes foi possvel confirmar o bom
desempenho que a funo desenvolvida atingiu, j que na
comparao com os valores tericos, os resultados foram
muito prximos e, alm disso, na comparao com os valores
do rel, mais uma vez os resultados se mostraram bastante
consistentes.
Portanto, analisando de uma forma geral, pode-se concluir
que o objetivo deste trabalho foi atingido. Como etapa
posterior a este trabalho, visa-se desenvolver outras funes de
proteo de forma a emular o comportamento de um rel
multifuncional na plataforma PC 104. Com isso, adquire-se
grande flexibilidade para compor esquemas de proteo mais
sofisticados, combinando facilmente diversas funes de
proteo e podendo incluir tcnicas de inteligncia artificial.
VI. APNDICE
As tabelas II e III mostram os parmetros das equaes 4 e
5, respectivamente.
TABELA II
CONSTANTES PARA O PADRO IEEE [6].
Tipo da Curva IEEE A B P
IEEE Extremely Inverse (IEEE EI) 28,2 0,1217 2,0
IEEE Very Inverse (IEEE VI) 19,61 0,491 2,0
IEEE Moderately Inverse (IEEE MI) 0,0515 0,114 0,02
6
TABELA III
CONSTANTES PARA O PADRO IEC [7].
Tipo de Curva IEC / BS142 K E
IEC Curve A (IEC A) 0,14 0,02
IEC Curve B (IEC B) 13,5 1,0
IEC Curve C (IEC C) 80,0 2,0
IEC Short Inverse (IEC SI) 0,05 0,04
VII. AGRADECIMENTOS
Os autores gostariam de expressar seus agradecimentos ao
Laboratrio de Sistemas de Energia Eltrica (LSEE) da
USP/So Carlos pela disponibilizao do espao fsico e
materiais para a realizao deste trabalho.
VIII. REFERNCIAS
[1] D. V. Coury, M. Oleskovicz e R. Giovanini, Proteo digital de
sistemas eltricos de potncia: dos rels eletromecnicos aos
microprocessados inteligentes, So Carlos: Universidade de So Paulo,
2007.
[2] N. J. Salles, Modelagem e Anlise Dinmica de Sistemas de Proteo
de Redes de Distribuio de Energia Eltrica na Presena de Geradores
Sncronos, Dissertao de Mestrado, Universidade Estadual de
Campinas, 2007.
[3] J. F. D. Breda, Um Modelo Computacional para o Rel Digital de
Sobrecorrente Empregado na Proteo de Sistemas Eltricos de
Potncia, Trabalho de Concluso de Curso, Universidade de So Paulo
Escola de Engenharia de So Carlos, 2009.
[4] T. S. Sidhu, M. Hfuda, M.S. Sachdev, A technique for generating
computer models of microprocessor-based relays, in Proc. 1997 IEEE
Communications, Power and Computing Conf. pp 191-196.
[5] H. A. Darwish, A. I. Taalab, H. Assal, A novel overcurrent relay with
universal characteristics, in 2001 IEEE/PES Transmission and
Distribution Conference and Exposition. pp 53-58 vol.1.
[6] IEEE Standard Inverse-Time Characteristic Equations for Overcurrent
Relays, IEEE Standards Board Power System Relaying Committee,
IEEE Std.C37.112-1996, 1996.
[7] Electrical Relays - Part 4: Single input energizing quantity measuring
relays with dependent specified time, IEC Standard 60255-4, 1976.
[8] PC/104 Consortium http://www.pc104.org, 2009
[9] Electrical relays - Part 3: Single input energizing quantity measuring
relays with dependent or independent time, IEC Standard 60255-3, 1989.
[10] Electrical Protection Relays - Requirements for single input energizing
quantity relays - Specification for single input energizing quantity
measuring relays with dependent specified time, British Standard
BS142-Part 3-Section 3.2, 1990.
IX. BIOGRAFIAS
Vincius de Cillo Moro, nasceu em Campinas, Brasil, em
1988. Graduou-se em Engenharia Eltrica pela
Universidade de So Paulo (USP), Brasil em 2010.
Atualmente estudante de mestrado da Universidade de
So Paulo. Seus interesses de pesquisa esto dentro da rea
de proteo digital de sistemas eltricos de potncia.
Renato Machado Monaro, nasceu em So Paulo, Brasil,
em 1982. Graduou-se em Engenharia Eltrica pela Escola de
Engenharia de So Carlos - Universidade de So Paulo, So
Carlos, Brasil em 2007. Atualmente aluno de doutorado na
mesma instituio. Suas reas de interesse incluem proteo
e controle de sistemas de potncia, estimao da freqncia,
proteo de geradores.
J. C. M. Vieira (S98-M07) obteve os ttulos de Mestre e Doutor em
Engenharia Eltrica na Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP),
Campinas, Brasil, em 1999 e 2006, respectivamente. De 1999 a 2003
trabalhou como Engenheiro de Projetos na empresa FIGENER S.A.
Engenheiros Associados, em So Paulo, Brasil. De 2006 a 2007 foi ps-
doutorando na Universidade Estadual de Campinas. Atualmente professor
assistente no Departamento de Engenharia Eltrica da Escola de Engenharia
de So Carlos da USP, So Carlos, Brasil. Seus interesses em pesquisa so
gerao distribuda e sistemas de distribuio de energia eltrica.