Automatización de pruebas para supervisores monofásicos

UNIVERSIDAD SIMN BOLVAR
Decanato de Estudios Profesionales

Coordinacin de Ingeniera Electrnica
Diseo y Automatizacin de un Banco de Pruebas para

Supervisores Monofsicos.
Por:
Ana Marian Chinea Espinoza
Sartenejas, Noviembre 2006

Diseo y Automatizacin de un Banco de Pruebas para

Supervisores Monofsicos.
Por:
Ana Marian Chinea Espinoza
Realizado con la asesora de:
Tutor Acadmico:
Juan Muci
Tutor Industrial:
Liliam Ramrez
Informe Final de Cursos en Cooperacin Tcnica y Desarrollo Social

Presentado ante la ilustre Universidad Simn Bolvar
como requisito parcial para optar al ttulo de
Ingeniero Electrnico.

Diseo y Automatizacin de un Banco de Pruebas para Supervisores Monofsicos.
INFORME FINAL DE CURSOS EN COOPERACIN TCNICA Y DESARROLLO SOCIAL
presentado por
Ana Marian Chinea
REALIZADO CON LA ASESORA DE:
Tutor Acadmico:
Juan Muci
Tutor Industrial:
Liliam Ramrez
RESUMEN
En este trabajo se presenta el desarrollo de una plataforma para el control automatizado de un
sistema de pruebas para supervisores monofsicos de la lnea Exceline producida por GENTE C.A, lo
cual permitir obtener pruebas ms precisas de las que se realizan actualmente y prescindir de la
dedicacin exclusiva de un operador a estas pruebas. Adems, el banco de pruebas tiene la capacidad
de ser expandido y mejorado debido a la modularidad empleada tanto en el software como en el
hardware.
La plataforma est conformada por el controlador UP1-ADS Ultimate Brain Controller de la familia
de Opto 22, un sistema de deteccin de LEDs y rels, una interfaz con el usuario y una aplicacin de
manejo de datos desarrollada en Microsoft Excel.
Los eventos que pueden ocurrir en los distintos supervisores monofsicos son el encendido y
apagado de LEDs que indican el estado del supervisor monofsico, y la conexin y desconexin de los
rels, que son los responsables de desconectar el equipo a proteger en caso de una alteracin en la
alimentacin. Como valor agregado de este trabajo se logr que la observacin del estado de los LEDs
que era antes realizada por un operador, sea ahora parte de un sistema automatizado que sense y
registre todos los datos de inters asociados a los eventos que puedan ocurrir.
PALABRAS CLAVES: Automatizacin y control, Supervisores monofsicos, Sistema de deteccin de
rels, Sistema de deteccin de LEDs.
A Dios
A mis padres
"Si quieres comprender la palabra felicidad, tienes que entenderla como recompensa y no
como fin."
-
Antoine de Saint-Exupry
AGRADECIMIENTOS
A mis padres por su amor y dedicacin incondicional y por hacerme quien soy. A mi
hermano por hacerme rer, devolverme la calma y recordarme como es el mundo fuera de las
burbujas.
A Nicols Veloz por siempre estar para m, ser mi apoyo, y mi mejor amigo, por hacerme
mantener mi norte y presentarme el lado positivo de todo.
Al resto de mi familia y amigos por sus buenas energas.
A Juan Muci por sus consejos, su tiempo y su preocupacin por obtener un buen trabajo.
A Liliam Ramrez por su gua, su apoyo y la formacin que me dio durante esas 20
semanas.
A Roger Rivera por la oportunidad.
A Bartolom Mila por saberlo todo y querer saber ms.
A Rogelio Blanco por sus indicaciones con los PCBs aunque el tiempo era tan corto.
A Felipe Valencia por su ingenio con las piezas mecnicas y su trabajo con los paneles del
banco de pruebas.
A Yajaira Torres por su ayuda en el taller y ser insuperable a la hora de realizar la soldadura
superficial de las tarjetas.
A Milton Alfaro y Ronald Jimnez por responder todas mis preguntas sobre los
componentes y el laboratorio, siempre con el mejor nimo.
A Melcris Mena por ser tan paciente y ensearme tantas cosas sobre el PLC y ayudarme a
resolver los problemas misteriosos de Opto22.
A la seora Ivonne porque aunque le quit muchas cosas de su banco de pruebas siempre
estuvo dispuesta a ayudarme.
A Nelly y a Yarelis por su cario, su actitud tan optimista ante la vida y mostrar siempre su
mejor sonrisa, siempre las recordar con profundo afecto y agradecimiento.
A la familia de GENTE en general por ser fuente de conocimiento y armona, por ofrecerme
un ambiente de trabajo tan agradable, por ser maestros, compaeros y amigos; de todos me
llevo muy buenos recuerdos.
NDICE
NDICE DE FIGURAS .........................................................................................................................................III

NDICE DE TABLAS .............................................................................................................................................V
ABREVIATURAS ............................................................................................................................................... VII
CAPTULO 1. INTRODUCCIN ...................................................................................................................... 1
1.1. DESCRIPCIN DEL PROYECTO...................................................................................................................... 1
1.2. JUSTIFICACIN ............................................................................................................................................ 1
1.3. OBJETIVO GENERAL .................................................................................................................................... 2
1.4. OBJETIVOS ESPECFICOS.............................................................................................................................. 2
1.5. PRESENTACIN DE LA EMPRESA .................................................................................................................. 3
1.6. SINOPSIS ..................................................................................................................................................... 4
CAPTULO 2. METODOLOGA PARA EL DESARROLLO DE UN SISTEMA AUTOMATIZADO
DE EQUIPOS
...................................................................................................................................................... 6
2.1. DESCRIPCIN Y ESPECIFICACIONES DE UN SISTEMA AUTOMATIZADO DE EQUIPOS (ATE) ........................... 6

2.2. CRITERIOS PARA LA ESCOGENCIA DEL AMBIENTE DE PROGRAMACIN ...................................................... 10
2.3. CRITERIOS PARA LA ESCOGENCIA DEL HARDWARE ................................................................................... 14
CAPTULO 3. DESCRIPCIN DEL SISTEMA AUTOMATIZADO DE PRUEBAS PARA
SUPERVISORES MONOFSICOS ................................................................................................................... 20
3.1. ESPECIFICACIONES DE LOS SUPERVISORES MONOFSICOS A SER EVALUADOS........................................... 20
3.2. SECUENCIA DE LAS PRUEBAS A REALIZAR ................................................................................................. 21
3.3. DIAGRAMA DE BLOQUES DEL SISTEMA ...................................................................................................... 24
CAPTULO 4. DISEO DEL CONTROL AUTOMATIZADO DE PRUEBAS .......................................... 28
4.1. PROGRAMACIN DEL CONTROLADOR LGICO PROGRAMABLE ................................................................ 28
4.1.1. Descripcin del Controlador lgico programable (PLC) utilizado................................................. 28
4.1.2. Funciones desarrolladas para el programa del PLC ....................................................................... 31
4.2. CONFIGURACIN DE LA INTERFAZ CON EL USUARIO PARA EL CONTROL DE PRUEBAS ................................ 39
4.2.1. Descripcin de la interfaz ( HMI)..................................................................................................... 39
4.2.2. Transmisin de datos al PLC........................................................................................................... 45
4.2.3. Recepcin de datos del PLC ............................................................................................................. 46
4.3. DESCRIPCIN DE LA APLICACIN DE MANEJO DE DATOS ........................................................................... 49
CAPTULO 5. SISTEMA DE DETECCIN DE ENCENDIDO Y APAGADO DE LEDS ........................ 55
II
5.1. SELECCIN DE MDULOS DEL PLC ........................................................................................................... 55
5.1.1. Esquema escogido: Cuatro mdulos de entrada digital ................................................................... 55
5.1.2. Alternativas al Sistema escogido ...................................................................................................... 56
5.1.3. Costos asociados a cada esquema analizado ................................................................................... 59
5.2. SENSORES DE LUZ EVALUADOS PARA EL SISTEMA DE DETECCIN DE LEDS ............................................. 60
5.3. DESCRIPCIN DEL FOTOTRANSISTOR PNA4603H..................................................................................... 61
5.4. DESCRIPCIN DEL CIRCUITO QUE ACONDICIONA LA SEAL DEL SENSOR DE LUZ PNA4603H PARA
PROCESAMIENTO EN LOS MDULOS DEL PLC ..................................................................................................... 62
5.5. CONEXIONES DEL SISTEMA DE DETECCIN DE LEDS ................................................................................ 69

CAPTULO 6. SISTEMA DE DETECCIN DE CONEXIN Y DESCONEXIN DE RELS............... 72
6.1. DESCRIPCIN GENERAL DEL SISTEMA DE DETECCIN DE RELS ................................................................ 72
6.2. CONEXIONES DEL SISTEMA DE DETECCIN DE RELS ................................................................................ 72
CAPTULO 7. RESULTADOS EXPERIMENTALES Y ANLISIS ........................................................... 75
7.1. RESULTADOS OBTENIDOS EN CADA ETAPA DEL PROYECTO ....................................................................... 75
7.2. EVALUACIN DEL SISTEMA DE DETECCIN DE LEDS ................................................................................ 76
7.3. EVALUACIN DEL SISTEMA DE DETECCIN DE RELS ............................................................................... 77
7.4. EVALUACIN DEL SISTEMA INTEGRADO.................................................................................................... 78
CAPTULO 8. CONCLUSIONES Y RECOMENDACIONES ...................................................................... 81
BIBLIOGRAFA ................................................................................................................................................... 83
APNDICE A. PROGRAMACIN DE LA FUENTE DE CALIFORNIA INSTRUMENTS................... A-1
APNDICE B. PRUEBAS REALIZADAS A LA FOTORRESISTENCIA AGI900031........................... B-1
B.1 CARACTERIZACIN DEL SENSOR ................................................................................................. B-1
B.2 RESULTADOS DE LAS PRUEBAS REALIZADAS A LA FOTORRESISTENCIA .......................... B-3
B.3 CIRCUITO DE ACONDICIONAMIENTO PARA LA SEAL DE LA FOTORRESISTENCIA ........ B-6
APNDICE C. PRUEBAS REALIZADAS AL FOTOTRANSITOR PNA4603H ...................................... C-1
APNDICE D. FLUJOGRAMAS DE LAS FUNCIONES DESARROLLADAS PARA EL SOFTWARE
DEL PLC
.................................................................................................................................................. D-1
D.1 POWER UP ...............................................................................................................................................D-1

D.2 RAMPA_TIEMPO ......................................................................................................................................D-2
D.3 COMUNICACIN ......................................................................................................................................D-3
D.4 CHEQUEO_LED_CONEX .........................................................................................................................D-4
III
NDICE DE FIGURAS
FIGURA 2-1: PROCESO DEL DESARROLLO DEL SOFTWARE DEL SISTEMA DE PRUEBAS .............................................. 10
FIGURA 2-2: ESQUEMA DE LA ARQUITECTURA DE UN SISTEMA AUTOMATIZADO DE PRUEBAS ................................. 15
FIGURA 3-1: SUPERVISORES MONOFSICOS DE LA LNEA EXCELINE ....................................................................... 21
FIGURA 3-2: SECUENCIA DE PRUEBAS DEL SISTEMA AUTOMATIZADO ..................................................................... 22
FIGURA 3-3: DIAGRAMA DE BLOQUES DEL BANCO DE PRUEBAS .............................................................................. 24
FIGURA 4-1: BLOQUES EMPLEADOS EN IOCONTROL ................................................................................................ 29
FIGURA 4-2: FUNCIN POWERUP ............................................................................................................................. 32
FIGURA 4-3: FUNCIN RAMPA TIEMPO .................................................................................................................... 33
FIGURA 4-4: FUNCIN COMUNICACIN ................................................................................................................... 35
FIGURA 4-5: MDULO SNAP SCM 232 PARA LA COMUNICACIN CON LA FUENTE PROGRAMABLE ........................ 35
FIGURA 4-6: FUNCIN CHEQUEO_LED_CONEX ...................................................................................................... 36
FIGURA 4-7: VENTANA DE SELECCIN DEL HMI..................................................................................................... 40
FIGURA 4-8: ARCHIVO TXT DE INICIALIZACIN DE VARIABLES DEL GSM-MP........................................................ 41
FIGURA 4-9: CAMPO QUE HA DE SER LLENADO POR EL USUARIO PARA INDICAR LA FRECUENCIA EN EL HMI.......... 42
FIGURA 4-10: VENTANA DE PRUEBAS DEL HMI ...................................................................................................... 44
FIGURA 4-11: CAMPO DE CONFIGURACIN DEL ARCHIVO DE RECEPCIN DE DATOS DEL PLC ................................ 47
FIGURA 4-12: CONFIGURACIN DEL NOMBRE DEL ARCHIVO DE RECEPCIN DE LOS DATOS DEL PLC ..................... 49
FIGURA 4-13: REPORTE GENERADO POR LA APLICACIN DE MANEJO DE DATOS...................................................... 54
FIGURA 5-1: ESQUEMA DE DETECCIN DE LEDS CON CUATRO MDULOS DE ENTRADA DIGITAL ............................ 56
FIGURA 5-2: ESQUEMA DE DETECCIN DE LEDS CON CUATRO MDULOS DE ENTRADA ANALGICA ...................... 57
FIGURA 5-3: ESQUEMA DE DETECCIN DE LEDS CON 1 MDULO DE ENTRADA ANALGICA, 1 MDULO DE SALIDA
DIGITAL Y 4 MULTIPLEXORES ANALGICOS ................................................................................................... 58
FIGURA 5-4: ESQUEMA DE DETECCIN DE LEDS CON UN MDULO DE ENTRADA DIGITAL, UN MDULO DE SALIDA
ANALGICA Y CUATRO MULTIPLEXORES DIGITALES ...................................................................................... 59
FIGURA 5-5: CONFIGURACIN A LAZO ABIERTO DE UN OPAMP ............................................................................. 62

FIGURA 5-6: DISPARADOR SCHMITT EN
CONFIGURACIN NO INVERSORA .............................................................. 63
FIGURA 5-7: CARACTERSTICA DE TRANSFERENCIA DE VOLTAJE DEL DISPARADOR SCHMITT EN CONFIGURACIN NO

INVERSORA .................................................................................................................................................... 63
FIGURA 5-8: CIRCUITO DE COMPARACIN PARA EL SISTEMA DE DETECCIN DE LEDS ........................................... 64

FIGURA 5-9: VALORES DE SALIDA DEL CIRCUITO COMPARADOR CON EL SENSOR PNA4603H, SIN SOMBRA ........... 68
FIGURA 5-10: VALORES DE SALIDA DEL CIRCUITO COMPARADOR CON EL SENSOR PNA4603H, CON SOMBRA........ 69
FIGURA 5-11: DIAGRAMA DE CONEXIN ENTRE LAS DOS TARJETAS DEL SISTEMA DE DETECCIN DE LEDS ........... 70
FIGURA 5-12: DIAGRAMA DE CONEXIN ENTRE LA TARJETA DE SENSORES DE LEDS Y EL MDULO DEL
CONTROLADOR SNAPIDC5D........................................................................................................................ 70
IV
FIGURA 6-1: DIAGRAMA DE CONEXIN ENTRE EL DEL SISTEMA DE DETECCIN DE RELS Y LOS SUPERVISORES
MONOFSICOS
............................................................................................................................................... 73
FIGURA 6-2: DIAGRAMA DE CONEXIN ENTRE EL SISTEMA DE DETECCIN DE RELS Y EL MDULO SNAP IAC5... 74
FIGURA B-1: CIRCUITO DIVISOR DE VOLTAJE PARA LA FOTORRESISTENCIA AGI90031........................................ B-3
FIGURA C-1: CIRCUITO DE PRUEBA DEL SENSOR PNA4603H............................................................................... C-1
FIGURA C-2: DIRECTIVIDAD DEL SENSOR PNA4603H,
COMBINACIN 1 ............................................................. C-2
FIGURA C-3: DIRECTIVIDAD DEL SENSOR PNA46038, COMBINACIN 2............................................................... C-2

FIGURA C-4: SENSOR PNA46038 CON FIBRA PTICA ........................................................................................... C-3
FIGURA D-1: FLUJOGRAMA DE LA FUNCIN POWER_UP .......................................................................................D-1
FIGURA D-2: FLUJOGRAMA DE LA FUNCIN RAMPA_TIEMPO ...............................................................................D-2
FIGURA D-3: FLUJOGRAMA DE LA FUNCIN COMUNICACIN ...............................................................................D-3
FIGURA D-4: FLUJOGRAMA DE LA FUNCIN CHEQUEO_LED_CONEX...................................................................D-4
NDICE DE TABLAS
TABLA 3-1: ESPECIFICACIONES DE LOS SUPERVISORES MONOFSICOS DE EXCELINE .............................................. 20
TABLA 3-2: ESTADO FINAL DE LOS LEDS Y RELS ACORDE A LA GRFICA ............................................................. 24
TABLA 4-1: NMERO DE BIT EN ARREGLO DE BANDERAS PARA VARIABLES DE EVENTOS........................................ 38
TABLA 4-2: VARIABLES DEL PLC GUARDADAS EN EL ARCHIVO TXT MEDIANTE LA CONFIGURACIN DEL ARCHIVO
DE RECEPCIN DE DATOS DEL PLC ................................................................................................................ 48
TABLA 5-1: COSTO DE LOS DIVERSOS ESQUEMAS DE DETECCIN DE LEDS ............................................................. 60

TABLA 5-2: MXIMOS DE LA LONGITUD DE ONDA DE LOS LEDS UTILIZADOS EN LOS PRODUCTOS ......................... 60
TABLA 5-3: COSTOS ASOCIADOS A LA ELECTRNICA DE LOS CIRCUITOS DE DETECCIN DE LEDS .......................... 61
TABLA 5-4: VALORES DE R5 Y R4 PARA EL CASO DEL FOTOTRANSISTOR PNA4603H ............................................ 65
TABLA 5-5: VALORES DE VXH Y VXL PARA EL CASO DEL FOTOTRANSISTOR PNA4603H...................................... 66
TABLA 5-6: VALORES DE R3 Y R1 PARA EL CASO DEL PNA4603H ........................................................................ 67
TABLA 5-7: VALORES DE LA SALIDA DEL CIRCUITO DEL COMPARADOR CON EL SENSOR PNA4603H, SIN SOMBRA 67
TABLA 5-8: VALORES DE LA SALIDA DEL CIRCUITO COMPARADOR CON EL SENSOR PNA4603H, CON SOMBRA ...... 68
TABLA 7-1: RESULTADOS DEL SISTEMA DE DETECCIN DE LEDS ........................................................................... 77
TABLA 7-2: ESPECIFICACIONES DE LA PRUEBA AUTOMATIZADA ............................................................................. 78
TABLA 7-3: UMBRALES DE LA PRUEBA AUTOMATIZADA ......................................................................................... 78
TABLA 7-4: TIEMPO DE VALIDACIN DE FALLAS DE LA PRUEBA AUTOMATIZADA ................................................... 79
TABLA 7-5: TIEMPOS DE RECONEXIN DE LA PRUEBA AUTOMATIZADA .................................................................. 79
TABLA 7-6: ESPECIFICACIONES DE LA PRUEBA MANUAL ......................................................................................... 79
TABLA 7-7: UMBRALES DE LA PRUEBA MANUAL ..................................................................................................... 79
TABLA 7-8: TIEMPO DE VALIDACIN DE FALLAS DE LA PRUEBA MANUAL ............................................................... 79
TABLA 7-9: TIEMPOS DE RECONEXIN DE LA PRUEBA MANUAL .............................................................................. 79
TABLA B-1: RESULTADOS DE LA PRUEBA CON LA FOTORRESISTENCIA AGI900031
Y SIN SOMBRA ..................... B-1
TABLA B-2: RESULTADOS DE LA PRUEBA CON LA FOTORRESISTENCIA AGI90031 Y CON SOMBRA ...................... B-2
TABLA B-3: PRUEBA DE LA FOTORRESISTENCIA AGI90031 CON LA PIEZA MECNICA,
TABLA B-4: PRUEBA DE LA FOTORRESISTENCIA AGI90031
SIN SOMBRA ................... B-2
CON LA PIEZA MECNICA, CON SOMBRA
................. B-2
TABLA B-5: VALORES DE LA FOTORRESISTENCIA UTILIZANDO EN EL DIVISOR R0=1K , CON LA PIEZA MECNICA Y
SIN SOMBRA ................................................................................................................................................. B-3
TABLA B-6: VALORES DE LA FOTORRESISTENCIA UTILIZANDO R0=2K EN EL DIVISOR DE VOLTAJE, CON LA PIEZA
MECNICA Y SIN SOMBRA ............................................................................................................................ B-4
TABLA B-7: PROMEDIO DE LOS VALORES DE
FOTORRESISTENCIA OBTENIDOS CON DIFERENTES VALORES DE R0 EN
EL DIVISOR DE VOLTAJE, CON LA PIEZA MECNICA Y SIN SOMBRA ............................................................... B-4
VI
TABLA B-8: VALORES DE LA FOTORRESISTENCIA UTILIZADO EN EL DIVISOR DE VOLTAJE R0=1K, CON LA PIEZA
MECNICA Y CON SOMBRA........................................................................................................................... B-4
TABLA B-9: VALORES DE LA FOTORRESISTENCIA OBTENIDOS AL UTILIZAR UNA R0=2K EN EL DIVISOR DE VOLTAJE,
CON LA PIEZA MECNICA Y CON SOMBRA .................................................................................................... B-4
TABLA B-10: PROMEDIO DE LOS VALORES OBTENIDOS AL REALIZAR LAS MEDICIONES DE LA FOTORRESISTENCIA
CON DISTINTOS VALORES DE R0, CON LA PIEZA MECNICA Y CON SOMBRA ................................................. B-5
TABLA B-11: VALORES DE R0 PARA EL CIRCUITO DE LA FIGURA B-1, SIN SOMBRA ............................................ B-5
TABLA B-12: VALORES DE R0 PARA EL CIRCUITO DE LA FIGURA B-1, CON SOMBRA........................................... B-5
TABLA B-13: RESULTADOS AL MEDIR LA SALIDA DEL DIVISOR DE VOLTAJE DE LA FIGURA B-1,
SIN SOMBRA .... B-6
TABLA B-14: RESULTADOS OBTENIDOS AL MEDIR LA SALIDA DEL DIVISOR DE VOLTAJE DE LA FIGURA B-1,
CON
SOMBRA ....................................................................................................................................................... B-6
TABLA B-15: VALORES DE R5 Y R4 PARA LA FOTORRESISTENCIA AGI90031, SIN SOMBRA ................................ B-7
TABLA B-16: VALORES VXH Y VXL PARA LA FOTORRESISTENCIA AGI90031 .................................................... B-7
TABLA B-17: VALORES DE R1 Y R3 PARA LA FOTORRESISTENCIA AGI90031...................................................... B-7
TABLA B-18: VALORES A LA SALIDA DEL COMPARADOR PARA LA FOTORRESISTENCIA AGI90031...................... B-7
TABLA C-1: VOLTAJES DE SALIDA DEL FOTOTRANSISTOR PNA4603H, SIN SOMBRA ........................................... C-1
TABLA C-2: RESULTADOS DE LA PRIMERA PRUEBA DEL PNA4603H, CON SOMBRA ............................................. C-2
TABLA C-3: RESULTADOS DE LA TERCERA PRUEBA DEL PNA4603H,
CON SOMBRA Y FIBRA PTICA .................. C-3
TABLA C-4: RESULTADOS DE LA CUARTA PRUEBA DEL PNA4603H, CON LA PIEZA MECNICA ........................... C-4
TABLA C-5: RESULTADOS DE LA QUINTA PRUEBA DEL PNA4603H, CON LA PIEZA MECNICA Y SOMBRA ........... C-4
VII
ABREVIATURAS
ASCII
American Standard Code for Information Interchange- Cdigo

Estndar Americano para Intercambio de Informacin.
ATE
Automatic Testing Equipment- Equipo de Pruebas Automatizadas
ATML
Automated
Test
Markup
Language-
Lenguaje
de
Pruebas
Automatizadas
COM
Component Object Model- Componente del Objeto Modelo
DOT-CSV
Comma Separated Value- Valor separado por coma
DUT
Device under Test- Dispositivo bajo prueba
EMO switch
Emergency off switch- Interruptor de apagado de emergencia.
EPM
Electrical power monitor Monitor de potencia elctrica
FFT
Fast Fourier Transform- Transformada Rpida de Fourier
GPIB
General Purpose Instrumentation Bus- Bus de instrumentacin de

propsitos generales
HMI
Hardware Monitor Interface Interfaz de seguimiento del Hardware.
IEEE
Institute of Electrical and Electronics Engineers Instituto de

Ingenieros Elctricos y Electrnicos
I/O
Input and Output- Entrada / Salida
LAN
Local Area Network Red de rea Local
PLC
Programable Logic Unit Unidad lgica programable
RAM
Random Access Memory Memoria de acceso aleatorio
RFI
Radio Frecuency Interference- Interferencias de Radio Frecuencia
SRS
Software Requirements Specifications- Especificaciones de los

Requerimientos del Software.
USB
Universal Serial Bus- Bus Serial Universal
UUT
Unit Under Test- Unidad Bajo Prueba
XML
Extensible Markup Language Lenguaje Markup Extensible
XSLT
Extensible Stylesheet Transforms transformador de hoja extensible.
Captulo 1.
INTRODUCCIN
Actualmente muchas industrias a nivel mundial estn invirtiendo gran cantidad de dinero
para lograr la automatizacin de los distintos procesos que se llevan a cabo en sus recintos,
esto debido a que implica un mejor aprovechamiento del tiempo y del personal al no
someterlos a tareas exhaustivas que pueda llevar a cabo un sistema automatizado, logrndose
adems un aumento en la seguridad industrial.
La importancia del rea de automatizacin se vislumbra incluso en los pensums de las
universidades que ofrecen materias relacionadas con este tpico tanto a nivel de pregrado
como de postgrado.
1.1. Descripcin del proyecto

En este trabajo se presenta un sistema automatizado para controlar pruebas funcionales a
supervisores monofsicos de la lnea Exceline fabricados por Generacin de Tecnologa
GENTE C.A. Este sistema le ofrece al operador la posibilidad de monitorear las pruebas a
travs de una interfaz grfica desde un computador personal.
El banco de pruebas desarrollado en este trabajo se emplear en el laboratorio de
Investigacin y Desarrollo de la empresa para realizar pruebas funcionales a los productos.
1.2. Justificacin
Parte crucial del proceso de produccin de cualquier empresa consiste en el control de
calidad de sus productos. Este proceso se puede atacar desde dos puntos de vista, el primero es
un control de calidad manual, donde un operador hace el chequeo del funcionamiento del
producto, y el segundo es un sistema totalmente automatizado de pruebas que optimiza el
tiempo y las funciones del personal.
La problemtica a resolver radica en que actualmente las pruebas de funcionamiento de los
productos se hacen con la intervencin de uno o varios operadores, forzndolos a realizar una
tarea exhaustiva y nica, impidiendo obtener un mejor aprovechamiento del personal y de su
tiempo. Es por esto que se desea desarrollar un sistema automatizado, con una interfaz idnea
2
para tener control de las pruebas realizadas a los productos y poder registrar los resultados
obtenidos en dichas pruebas.
Una de las opciones para la automatizacin de cualquier sistema es el uso de controladores
de lgica programable o PLC, debido a su gran confiabilidad de desempeo en tiempos
prolongados, la posibilidad de manejar mltiples variables en tiempo real y adems la ventaja
de poder hacer modificaciones en los programas de control sin tener que modificar la
circuitera.
Los productos que se sometern a prueba son supervisores monofsicos contra alto y bajo
voltaje, de aplicacin domstica e industrial. El funcionamiento de estos equipos requiere
pruebas de tiempos de conexin y desconexin, as como de cambios de estados, lo que
conlleva a la necesidad de tener un operador que est atento a las pruebas de un producto a la
vez, desaprovechando el tiempo del operador que pudiera realizar otras actividades o incluso
otras pruebas a otro tipo de productos; es por esto que se requiere un sistema automatizado que
permita la verificacin del funcionamiento de varios productos a la vez y que genere un
reporte de las pruebas realizadas. Esto optimizar el tiempo del operador y permitir acelerar
el proceso de fabricacin de los productos.
1.3. Objetivo general

Disear y desarrollar un mdulo automatizado para pruebas funcionales de los supervisores
monofsicos fabricados por la empresa Generacin de Tecnologa.
1.4. Objetivos especficos

Investigacin sobre sistemas automatizados de pruebas.
Familiarizacin con los supervisores monofsicos a probar y caracterizacin de los
sistemas existentes de pruebas.
Anlisis del lenguaje de programacin y hardware del PLC.
Reconocimiento de los requerimientos necesarios para las pruebas.
Diseo de un sistema de pruebas para supervisores monofsicos.
Diseo de una interfaz de usuario para el control de pruebas.
Desarrollo y validacin del sistema automatizado de pruebas.
3
1.5. Presentacin de la empresa
Generacin de Tecnologa C.A., GENTE CA, es una empresa fabricante de dispositivos y
rels electrnicos con aproximadamente veinte aos de experiencia en el mercado.
Desde sus inicios, la empresa se ha dedicado a atender fabricantes de tableros elctricos,
equipos de refrigeracin, aire acondicionado, sistemas de bombeo, equipos electrodomsticos
y al mercado de reposicin de partes y piezas, ofreciendo de esta manera productos diseados
y manufacturados para satisfacer a los usuarios ms exigentes.
La empresa cuenta con un experimentado departamento de investigacin y desarrollo y un
equipamiento de ltima tecnologa que permiten que todos sus productos sean diseados y
verificados bajos los estndares IEC de compatibilidad electromagntica y UL de seguridad al
usuario. Estos procesos de verificacin facilitan la entrada a mercados internacionales e
incrementan la calidad de los productos.
El proceso de fabricacin est concebido dentro de un sistema de aseguramiento de calidad
que garantiza una produccin con un bajo nivel de rechazo. Este proceso posee como
principales fortalezas una estricta inspeccin de entrada de la materia prima y la prueba
funcional del 100% de la produccin.
La oferta de productos de la empresa est comprendida por protectores de voltaje,
temporizadores, rels de alternancia, rels de control de nivel, fotocontroles para exteriores,
relojes programables, mdulos de ignicin para cocinas a gas y mdulos de control para
equipos de aire acondicionado.
A continuacin se exponen la misin y visin de GENTE C.A.
Misin: Somos una empresa que desarrolla soluciones tecnolgicas innovadoras

(hardware, software y diseo mecnico), en respuesta a las necesidades de nuestros
clientes en las reas de proteccin, supervisin y control de cargas de sistemas
elctricos de media y baja tensin, atendiendo las industrias manufacturera,
petrolera, energtica, telecomunicaciones y mercado de consumo nacional e
internacional, siendo una referencia de emprendedores en sectores no tradicionales y
estableciendo un nuevo paradigma de desarrollo tecnolgico en el pas, basado en la
investigacin e identificacin de las necesidades del cliente. (Planificacin
Estratgica GENTE, 2004)
Visin: Generacin de tecnologa C.A. es un Centro Generador de Conocimiento

de Tecnologas y Experticias Especficas, dirigido al desarrollo de soluciones
tecnolgicas innovadoras (Hardware, Software y Diseo Mecnico) que satisfacen
con criterios de calidad las necesidades de sus clientes, en las reas de proteccin,
control y supervisin de cargas y sistemas elctricos de media y baja tensin.
Generacin de Tecnologa C.A. Es identificada por sus clientes como un Aliado
Tecnolgico y es Reconocida por su calidad, capacidad de innovacin y compromiso
con una cultura productiva.
El principal mbito de accin de la empresa es el Continente Americano, para lo
cual ha desarrollado las alianzas necesarias. Generacin de Tecnologa C.A. se ha
constituido en el vehculo organizativo para que sus miembros y entorno se Realicen
Humana y Profesionalmente.
El proyecto de pasanta se desarroll en el departamento de Investigacin y Desarrollo de la

empresa. Este departamento se encarga de disear nuevos e innovadores productos de
hardware, software y empaque de los mismos, de acuerdo a criterios de calidad definidos.
1.6. Sinopsis
A continuacin se exponen siete captulos, en los cuales se detallan las caractersticas del
desarrollo del proyecto y se explican cuales fueron los problemas y soluciones de cada una de
las etapas del proyecto. Finalmente se tienen las conclusiones y recomendaciones as como las
referencias bibliogrficas y apndices.
En el captulo dos se cubren los aspectos tericos necesarios para la comprensin del diseo
de un sistema automatizado de pruebas. En el captulo tres se describe
el sistema
automatizado de pruebas diseado y desarrollado en este proyecto. En el captulo cuatro se

expone el procedimiento que se sigui para el desarrollo del software del PLC, para luego
describir la interfaz implementada. La etapa de software culmina en este captulo con la
definicin de la aplicacin de manejo de datos desarrollada.
Posteriormente se procede a la descripcin del sistema de deteccin de LEDs en el captulo
cinco, para proseguir en el captulo seis con el diseo del sistema de deteccin de rels. En el
captulo siete se presentan todos los resultados obtenidos de software y de hardware, as como
5
una muestra de funcionalidad del sistema integrado, es decir, las dos etapas trabajando al
unsono. Para finalizar se presentan las conclusiones a las que se llegaron despus del
completo desarrollo del sistema junto con una serie de recomendaciones que se pueden seguir
para mejoras futuras en el captulo ocho.
Captulo 2.
METODOLOGA PARA EL DESARROLLO DE UN SISTEMA
AUTOMATIZADO DE EQUIPOS
2.1. Descripcin y especificaciones de un sistema automatizado de equipos (ATE)
El Automatic Testing Equipment (ATE) consiste en un sistema automatizado mediante el
cual se evala distintos aspectos de un equipo, es decir es un sistema automatizado de pruebas.
Un sistema automatizado de pruebas comprende una capa de software y una capa de
hardware, con una interfaz apta para pruebas que permita la comunicacin entre las capas
anteriormente mencionadas. La capa de software se comunica en trminos del dispositivo bajo
prueba mientras que la capa de hardware se comunica en trminos del aparato evaluador.
La tarea principal de un sistema automatizado de pruebas consiste en caracterizar la
funcionalidad de dispositivos y circuitos integrados, aplicando estmulos al dispositivo bajo
prueba (DUT). Estos estmulos dependern de la naturaleza del dispositivo, si es lgico o
analgico.
El dispositivo genera respuestas a estos estmulos que son sensados por el ATE y
comparados con la salida esperada, para producir los resultados de las pruebas. Para
caracterizar un DUT se identifica cmo el DUT reacciona a variaciones de ciertos parmetros
involucrados en su funcionamiento como velocidad del reloj, niveles de voltaje y temperatura.
Desarrollar un ATE es bastante costoso, por lo que no es concebible realizar un ATE para
un producto o dispositivo en particular sino para una serie de productos que pertenezcan a una
misma familia o tengan ciertas similitudes.
Un sistema de pruebas puede ser usado para determinar simplemente si un dispositivo es
bueno o malo, o puede servir para obtener una ventaja competitiva. Buscando esto, un sistema
de pruebas puede ser utilizado para:
Encontrar la debilidad en el dispositivo.
Predecir fallas.
Delimitar mejor el diseo del producto y lo que realmente ste puede lograr.
Verificar las caractersticas a largo plazo del producto.
Optimizar el proceso de produccin.
Medir los lmites ambientales.
Encontrar las debilidades en los productos de la competencia.
Los principales sectores que utilizan un sistema de pruebas automatizado son: investigacin
y desarrollo, diseo y validacin, y manufactura.
En el sector de diseo y validacin suele usarse un software grfico como LabView o
Agilent VEE ya que da al ingeniero un grupo de herramientas ms amplias para el control y
anlisis, creando un proceso de medicin ms apto para la repeticin. Los mismos
instrumentos utilizados en este sector son utilizados en investigacin y desarrollo, para as dar
continuidad a todo el proceso y poder comparar las medidas obtenidas en ambos sectores.
Para el sector de manufactura suele usarse un programa de texto ya que se le puede sacar el
mayor provecho al sistema y obtener la repetibilidad y confiabilidad requeridas en el sistema
de pruebas.
Los principales factores que definen un sistema de pruebas son:
Los requerimientos de las pruebas
El tiempo de desarrollo
El costo de las pruebas
El factor ms importante determinar el curso de los otros dos.

Lo ms importante en el diseo de un banco de pruebas es determinar qu se va a probar.
Esto se indica en una especificacin de pruebas que debe contener una lista completa de las
funciones del producto a ser verificadas, parmetros de operacin y cualquier estndar de
regulacin que corresponda.
Algunos aspectos importantes relacionados con el desarrollo de un ATE se exponen a
continuacin.
Exactitud
Es crtica en todo sistema de pruebas y se debe especificar en el plan de pruebas as
como los requerimientos de precisin y el margen recomendado. Como mnimo, el
equipo de pruebas debe tener el doble de exactitud que el dispositivo a evaluar.
Actualmente suelen usarse equipos con un margen de exactitud de 10X para que los
requerimientos de mantenimiento y calibracin no afecten la precisin.
8
Para mantener el margen es necesario tener una temperatura de operacin constante y
que los ciclos de calibracin sean seguidos de la forma ms fehaciente posible.
La precisin tambin debe ser especificada, y es necesario tomar en cuenta que la
conmutacin y el cableado pueden incrementar las incertidumbres.
Tasa de transferencia o rendimiento:
Los requisitos de rendimiento dirigirn la capacidad necesaria del sistema. El tiempo
inactivo de un equipo afecta considerablemente el rendimiento, por lo que para evitar o
disminuir el tiempo de reparacin de fallas se pueden utilizar alternativas como el
diagnstico que permite predecir cundo el sistema est a punto de fallar. Utilizar el
diagnstico en conjunto con un plan de calibracin y mantenimiento permite obtener
un buen rendimiento al disminuir el tiempo inactivo de los equipos.
Resultados:
Los resultados pueden ser simplemente una indicacin de bueno/ malo pero muchas
veces los resultados deben ser analizados y archivados, lo que debe ser especificado en
el plan de pruebas.
Hardware y Software:
El software puede ser mucho ms costoso de desarrollar que el hardware, es por ello
que se recomienda desarrollar primero el software, pero tomando en cuenta que el
actuador propicio exista para satisfacer los requisitos del software.
La escogencia del programa depende de la habilidad del programador, dependiendo
si se siente ms cmo con un lenguaje grfico como LabView y Agilent VEE, o
programas de texto como C++ o Visual Basic que permiten desarrollar programas
complejos.
Control
Otro de las decisiones vitales del diseo de un banco de pruebas es qu tipo de
control se requiere. Puede ser: manual, semi-automatizado automatizado.
9
Manual: el control depende enteramente del operador, pero es muy bajo en costos,
as que un control manual debe escogerse cuando se cumpla que la rapidez de la
prueba no sea crtica, los requerimientos cambien regularmente y el retraso que
produce crear un sistema automatizado sea inaceptable.
Semi-automatizado: en este control las secciones del sistema que estn sometidas a
variaciones, o cuya automatizacin sea muy costosa, se harn de forma manual y las
que tengan repetibilidad se harn de forma automtica.
Generalmente en estos sistemas el operador debe conectar el dispositivo al banco de
pruebas, pero las pruebas se realizan sin su intervencin. Tambin incluyen un panel
frontal y una interfaz que permiten tanto el uso manual como automatizado.
El uso de estos controladores se recomienda cuando los beneficios de la
automatizacin sobrepasan los costos, las pruebas no requieren una automatizacin
completa se necesita cierta flexibilidad en el sistema.
Automatizado: todas las operaciones son controladas por una computadora, a veces
es necesario que un operador conecte el dispositivo al banco de pruebas pero tambin
existen los manipuladores automticos. Este control, pese a ser muy costoso, es el que
ofrece una mayor repetibilidad y confiabilidad al eliminar el error humano. Adems, en
caso de que el conjunto de pruebas sea altamente complejo, facilita enormemente el
proceso.
La calibracin y diagnstico del sistema son fciles de implementar ya que el
software puede reconfigurar el sistema de pruebas para que se pruebe y se auto-calibre,
tomando una referencia a su entrada.
El uso de los controles automatizados se recomienda cuando un alto volumen de
manufactura requiere automatizacin, reducir el tiempo de pruebas es crtico los
costos por prueba son ms altos que el desarrollo de un sistema de pruebas
automatizado.
10
2.2. Criterios para la escogencia del ambiente de programacin
Para poder disear el software del sistema ATE puede seguirse el esquema mostrado en la
Figura 2-1, donde se especifican de forma general las etapas de desarrollo del mismo.
Figura 2-1: Proceso del desarrollo del software del sistema de pruebas
Las herramientas para disear y desarrollar el subsistema de software son:

Especificaciones de los requerimientos de software
Las especificaciones de los requerimientos de software (SRS: Software Requirements
Specifications) es una lista prioritaria de los requerimientos del sistema de pruebas en
cuanto al software. La IEEE identifica las siguientes reas que debera comprender la
SRS:
Funcionalidad: qu se supone que debe hacer el software.
Interfaces externas: cmo interacta el software con las personas y el sistema

de hardware.
Desempeo: cul es la rapidez, la disponibilidad, tiempo de respuesta y de

recuperacin de las distintas funciones del software.
11
Atributos: cmo es la portabilidad, el mantenimiento y las condiciones de

seguridad del software.
Lmites de diseo: qu estndares de la industria se deben seguir, qu lenguaje

se va a usar, cules son las polticas internas de la empresa en cuanto a
seguridad, cules son los lmites del ambiente operativo.
Idealmente la SRS debe describir qu va a hacer el software y no cmo lo hace, ya

que el software se ve como una caja negra en este punto.
Los requerimientos del software deben ser acertados, claros y precisos, completos,
consistentes, jerarquizados, verificables y monitoreables.
Programacin y control de los instrumentos
Se tiene que tomar en cuenta dos aspectos: cmo conectar fsicamente la PC a los
otros instrumentos y qu software se va a usar para controlarlos.
Para conectarlos se tiene que decidir qu tipo de interfaz se va a utilizar: GPIB,
LAN, USB o un hbrido. Para el control de los instrumentos se tiene que escoger el
software I/O (Input and Output- Entrada - Salida) a utilizar. Esto no es ms que la capa
entre la aplicacin del software y la interfaz fsica del instrumento.
Se puede establecer contacto directo de la PC al instrumento o usar un instrumento
actuador entre ellos, la escogencia depende de las necesidades. Si los actuadores
disponibles no soportan alguna caracterstica o funcin del instrumento, si se necesita
la mxima rapidez en el desempeo del sistema o si se necesita controlar la
configuracin exacta de los instrumentos en el sistema, lo ms recomendable es usar
conexin directa. Para facilitar el mantenimiento del software y hacerlo ms extensible
es ptimo utilizar un actuador.
Recoleccin de datos de las pruebas
Se tiene que garantizar que la recoleccin de los datos no afecte en ningn sentido el
comportamiento del sistema. No es recomendable que los datos se mantengan en la
memoria tipo cach porque pueden variar entre prueba y prueba y producir
resultados inconsistentes. Por esto es recomendable mantener los datos en la RAM
12
hasta el final de la prueba sobre el dispositivo, formatear esta informacin y luego
transmitirla.
Las caractersticas de unos buenos datos son:
Identificables: que se tenga acceso a informacin sobre las circunstancias que

rodean a los datos y las condiciones en que fueron recolectados.
Localizables: que pueda diferenciarse a lo largo de conjuntos de datos y

resultados.
Transformables: debido a que los datos deben ser transmitidos y visualizados,

el software probablemente deba crear un nuevo formato de datos en base a los
datos originales.
Permanentes: los datos deben mantenerse disponibles y ser fciles de

comprender.
Diseo de la interfaz del usuario

Lo que observa un usuario al conectarse al sistema de pruebas depende de la clase de
usuario. Una buena SRS debe definir los comandos y el men de selecciones
disponibles para cada clase de usuario y debe proveer a cada uno de ellos slo lo
indispensable para realizar la funcin correspondiente ya que el exceso de informacin
slo lleva a confusiones.
La interfaz del usuario debe ser capaz de:
Comportarse acorde con la clase de usuario.
Proveer o permitir la entrada de informacin detallada acerca del dispositivo en

prueba.
Proveer informacin acerca del estado del sistema.
Proveer operaciones para controlar el estado del sistema y potencialmente su

configuracin.
Proveer los resultados de las pruebas.
13
Escogencia del ambiente de desarrollo
El ambiente de software que se escoja debe cumplir con dos metas: satisfacer los
requisitos de tiempo de las pruebas y lograr el rendimiento del sistema de pruebas
deseado.
Los ambientes de desarrollo de software pueden ser grficos o textuales.
Software grfico: se manipulan imgenes denominadas conos u objetos y las

lneas que conectan esas imgenes. Las imgenes representan comandos
predeterminados y las lneas el flujo del programa. Sus ventajas frente a los
software textuales son:
o Sintaxis simple.
o Los caminos de ejecucin e interaccin son ms fciles de visualizar.
o Los conos que representan los comandos pueden representar
equivalentes de la vida real.
o Se puede realizar rpidamente un prototipo del sistema
o Es fcil para compartir y para aprender de programas existentes.
Software textual: el lenguaje utilizado emplea palabras especiales y sintaxis

para representar las operaciones del programa y su flujo o secuencia. Sus
ventajes sobre los programas grficos son:
o Son mejores para crear y entender programas largos y complejos.
o Puede mejorar el rendimiento del sistema, aunque el factor determinante
sigue siendo el tiempo que se demoren las pruebas.
o Se tiene una mayor seleccin de programas.
Desarrollo de una secuencia de pruebas:

Existen en el mercado los ejecutadores de pruebas que son aplicaciones de software
diseados para llevar a cabo una serie de pruebas de forma rpida y consistente en una
secuencia predefinida. Cada una de las pruebas en la secuencia es un mdulo separado.
Los ejecutadores de pruebas vienen con mdulos estndares y permiten al usuario crear
mdulos de pruebas adicionales.
Los ejecutadores estn esbozados de forma tal que la secuencia de diseo, el diseo
individual de la prueba y los lmites de las pruebas as como las configuraciones son
14
tratados como tareas separadas, lo que resulta en una mayor flexibilidad, mayor calidad
y una gran oportunidad de re-uso de cdigo.
Un ejecutador debe cumplir las siguientes tareas:
Capturar los resultados usando su modelo de recoleccin de datos.
Tomar en cuenta los lmites de las pruebas, el tiempo de ejecucin y el montaje

de los datos.
Proveer anlisis de los resultados en tiempo real
Proveer un lmite de comprobaciones.
En lugar de un ejecutador de pruebas profesional se puede realizar uno propio. Si no

se tiene una secuencia fija de pruebas es mejor escoger el ejecutador propio.
Re-uso del software
Se puede emplear un sistema de re-uso de software que ayuda a reducir el tiempo de
bsqueda, verificacin y adaptacin de un cdigo de texto para una nueva situacin.
Esto requiere seguir una codificacin especfica, un estilo arquitectnico y adems
polticas y prcticas estandarizadas.
2.3. Criterios para la escogencia del hardware

Para elegir el hardware a utilizar en un banco de pruebas necesitan considerarse aspectos
como esttica, seguridad, calor, tamao, expansiones futuras y localizacin ptima de las
partes.
El sistema de arquitectura o hardware puede ser dividido en los siguientes subsistemas:
Instrumentacin.
Cmputo (PC, software e interfaz I/O).
Conmutacin: interconectar el sistema de instrumentacin y las cargas al dispositivo

en prueba.
Interconexin de masa del dispositivo a probar con el sistema cableado-interfaz.
Fuentes de potencia para el dispositivo a probar.
Las conexiones especficas del dispositivo a probar.
15
El esquema de la arquitectura de un sistema general de ATE se muestra en la Figura 2-2:
Figura 2-2: Esquema de la arquitectura de un sistema automatizado de pruebas
Tipos de instrumentacin
Hay dos tipos de instrumentacin para sistemas de pruebas: rack and stack (se
almacenan en estantes, y su crecimiento es de forma vertical) y cardcage (tarjetas que
se insertan en cajas).
Instrumentos rack and stack: los instrumentos rack-and-stack son autnomos

permiten ahorro de espacio y se controlan mediante una PC externa; adems
son ms econmicos por ser producidos masivamente. Adicionalmente,
permiten disminuir el tiempo de desarrollo del sistema ya que pueden
16
funcionar de forma autnoma y as la localizacin y solucin de los problemas
es ms fcil.
Cardcage instruments: son instrumentos de prueba modular en tarjetas

conectables, las cuales se insertan en una caja o mainframe y se controlan con
una PC externa o un controlador embebido.
Escogencia del tipo de instrumentacin

Se tienen que tomar en cuenta aspectos como costos, tiempo, desempeo,
experiencia en la tecnologa a emplear, costos de mantenimiento y seguimiento de los
equipos, disponibilidad de repuestos, entre otros. Siempre existe la posibilidad de
utilizar un sistema de instrumentacin hbrido.
Los instrumentos rack and stack o de estante ofrecen la gran ventaja de ser
autnomos, los cardcage o de cajas necesitaran tener una computadora embebida, pero
sta es mucho ms costosa que una computadora regular. En cuanto a la exactitud los
instrumentos de caja tienen fuentes de potencia que deben ser compartidos entre varios
subsistemas, mientras que los instrumentos de estante estn optimizados para un uso en
particular, as que estn diseados para tener la potencia apta y minimizar la
interferencia magntica. Esto ocasiona que los instrumentos de estante son mejores que
los instrumentos de caja en trminos de exactitud, precisin y ruido.
Una de las ventajas de los instrumentos de caja es que transmiten simultneamente
una gran cantidad de datos. En cuanto al tiempo que se tarda el instrumento en tomar
una medida, hacer la conmutacin y tomar la otra medida los instrumentos de caja
pueden ser mejor o iguales que los de estantes, dependiendo de la tecnologa en ellos.
Sistema de cmputo
Es necesario escoger si se va a emplear una computadora embebida o una externa.
Las embebidas ofrecen una gran velocidad de transmisin de datos, pero hay que
garantizar que quepa en una caja o utilice el espacio del estante eficientemente (para el
caso de los instrumentos de estante). Adems los costos son bastante elevados. Las
computadoras externas ya ofrecen interfaces estndar como LAN y USB.
17
Conmutacin
Comprende los interruptores o rels que interconectan el sistema de instrumentacin
y cargas con los dispositivos a probar. Los tipos de rels a escoger para el subsistema
de conmutacin afectan los tipos de circuitos y sistemas que se pueden probar. Para
sistemas de alta velocidad los rels tipo lectura y los transistores de efecto de campo
(FETs) son las mejores opciones para conectar instrumentos de medida y estmulos de
corriente baja, a los dispositivos a probar. Son muy rpidos, de unos 0.5ms a 1.0ms
pero su desventaja es que tienen un voltaje de offset o desplazamiento trmico mayor
que los rels de armadura.
Las tipologas de conmutacin pueden ser: configuracin simple de rels,
multiplexores y matrices. La ms adecuada depende del nmero de instrumentos y de
puntos de prueba, si las conexiones deben ser simultneas o no y de la velocidad
requerida.
En particular, si se trabaja con alto voltaje y alta corriente se debe incluir un
conmutador para desconectar todas las seales y as evitar accidentes.
Interconexin de masa
Un panel de interconexin de masa es una interfaz de cableado entre el dispositivo a
probar y el sistema de prueba, con la cual no se tiene que cablear cada conexin
individualmente. Si el nmero de pines es pequeo esta aplicacin no es vital, puede
establecerse una conexin directa entre los conmutadores y los pines del dispositivo a
probar.
Los paneles de interfaz son bastante costosos, pero existen varias razones por las que
se debera realizar la inversin:
La interconexin de masa provee una localizacin fsica para colocar

componentes como fusibles, bloques terminales, entre otros, entre el sistema y
el dispositivo a probar.
Las medidas realizadas estn menos expuestas a que cambien debido a

movimientos al azar de los cables.
18
El uso de bloques terminales en la interfaz facilita hacer cambios en el

cableado, permite una fcil conexin de mltiples fuentes a puntos comunes y
provee conexiones simples para hacer la compilacin del sistema.
Fuentes de potencia o poder

La escogencia de la adecuada fuente de poder para el dispositivo en prueba es
sumamente relevante, ya que se requiere mucho tiempo para que la fuente de poder se
estabilice consume mucho tiempo. En la eleccin deben considerarse los siguientes
factores: tiempo de estabilizacin, ruido de salida, respuesta transitoria rpida,
respuesta de programacin rpida y lenta, precisin, exactitud, corriente y voltaje DC,
forma de onda digitalizada, proteccin de sobre voltaje y proteccin de corto- circuito,
entre otros.
Las conexiones especficas del dispositivo a probar
Muchos dispositivos requieren componentes conectados a sus salidas para adecuar la
unidad. Pueden ser cargas como resistencias, bombillos, motores, cargas simuladas,
entre otras.
En necesario que se disponga de un espacio para colocar estos elementos, pueden
estar conectadas a los dispositivos a probar mediante conmutadores para as tener el
dispositivo totalmente desconectado de todo el sistema de pruebas. Se recomienda
localizar las cargas cerca del subsistema de conmutacin para disminuir la longitud de
los cables a emplear.
Escogencia de los instrumentos para el sistema de pruebas
Para decidir cules son los instrumentos a utilizar, sean tipo estante (rack and stack)
o caja (cardcage), se deben considerar los siguientes rubros:
Identificar las necesidades: es recomendable hacer una lista de las entradas y

salidas de cada uno de los dispositivos a probar y de los parmetros que se van
a medir, sealar la precisin y la exactitud que se desean para cada medida, y
luego revisar esta lista y chequear que no haya pruebas redundantes o
innecesarias; para posteriormente identificar posibles instrumentos de prueba
19
para las medidas y buscar la oportunidad de hacer pruebas distintas con un
mismo instrumento.
Tiempo de desarrollo: deben escogerse instrumentos que ayuden a reducir el

tiempo de desarrollo del sistema, lo mejor es utilizar un instrumento especfico
para cada medida pero los costos suelen ser muy elevados, as que hay que
establecer un equilibrio entre costos y tiempo de desarrollo. Gran parte del
tiempo se consume en la depuracin de errores del sistema as que se puede
realizar una rutina de prueba que realimente la salida con la entrada por una
gran parte del subsistema de conmutacin para as identificar la causa de los
problemas.
Velocidad de medicin: determinar cun rpido puede ir el sistema diseado

no es tarea fcil, ya que no slo depende de cunto tiempo se tarde el
instrumento en tomar la medida, sino cunto se tarda el envo a la computadora
mediante la interfaz seleccionada y cunto tiempo se tarda el procesamiento de
los datos en la computadora.
Escogencia del proveedor: se necesita un proveedor que en lo posible pueda

ofrecer asistencia de algn tipo, especialmente en la calibracin de los
instrumentos, ya que es una tarea exhaustiva. Adems, hay que tomar en
cuenta que los instrumentos pueden funcionar individualmente pero al crear el
sistema y ensamblarlos pueden ocurrir funcionamientos extraos que slo el
fabricante puede explicar.
Captulo 3.
DESCRIPCIN DEL SISTEMA AUTOMATIZADO DE
PRUEBAS PARA SUPERVISORES MONOFSICOS
3.1. Especificaciones de los supervisores monofsicos a ser evaluados
Los supervisores monofsicos son protectores contra alto y bajo voltaje diseados para
evitar los daos que ocasionan los apagones y las alzas y cadas de voltajes. Esta proteccin se
realiza mediante la medicin constante del voltaje en la lnea elctrica, desconectando la carga
tan pronto como se produzca la elevacin o disminucin del valor del mismo est fuera del
rango permitido.
Una vez desconectada la carga, el supervisor la reconectar de nuevo solamente si el voltaje
se encuentra en condicin normal de trabajo.
Los equipos a probar son supervisores monofsicos de la lnea Exceline diseados por la
empresa Generacin de Tecnologa GENTE C.A. Los supervisores se encargan de evitar los
daos ocasionados en aparatos como microondas, fotocopiadoras, ayudantes de cocina,
licuadoras, televisores, equipos de sonido, entre otros.
Cada producto tiene cuatro indicadores (LEDs) correspondientes a voltaje normal, bajo
voltaje, sobre voltaje y tiempo de espera. Adems posee el receptculo para ser conectado,
conformado por tierra, neutro y fase en el caso de los dispositivos que usan 110 V, y fase 1,
fase 2 y neutro en el caso de los dispositivos que usan 220 V.
Los productos a evaluar de esta lnea se muestran en la Tabla 3-1, en la cual tambin se
pueden observar ciertas especificaciones de los mismos.
Tabla 3-1: Especificaciones de los supervisores monofsicos de Exceline
Producto
V nominal
V alto
GSM-E
GSM-MP
GSM-RE 120
GSM-RE 220
GSM-R 220
GSM-R 120
GSM-N
120VAC
120VAC
120VAC
220VAC
220VAC
120VAC
120VAC
135VAC
135
140
264
120-145
120-144
140
Ciclo de
Tiempo
espera 1era Conex
90
30s
30s
90
30s
30s
90-105
3m
3s
170-197
3m
3s
90-120
3m
3m
90-120
3m
3m
90
3m
3m
V bajo
Potencia
1440VA
1440VA
2400VA
4400VA
6600VA
3600VA
1800VA
21
Los dispositivos a probar tienen unas dimensiones promedio de 120mm de largo, 80mm de
ancho y 38,2mm de alto. Las imgenes de ellos se muestran en la Figura 3-1.
Figura 3-1: Supervisores monofsicos de la lnea Exceline
3.2. Secuencia de las pruebas a realizar

Se desea realizar un conjunto de pruebas paramtricas con un orden establecido. Dichas
pruebas son las siguientes:
Tiempo de primera conexin (on make): se verificar que el dispositivo bajo prueba
establezca conexin en el tiempo especificado la primera vez que se conecte al
sistema.
Bajo voltaje: se verificar que al aplicar un voltaje bajo el dispositivo en prueba se

desconecte, y se encienda el LED rojo al que le corresponde indicar este evento,
segn las especificaciones.
22
Sobre voltaje: se verificar que al aplicar un voltaje alto el dispositivo bajo prueba se
desconecte y se encienda el LED rojo al que le corresponde indicar este evento,
segn las especificaciones.
Tiempo de recuperacin de conexin (on brake): una vez que se haya producido una
desconexin bien sea por alto o bajo voltaje, el dispositivo debe esperar un cierto
tiempo (segn las especificaciones) para re-establecer conexin. Se verificar que
este tiempo se cumpla, de lo contrario se reporta el mal funcionamiento.
Para poder llevar a cabo estas pruebas de la forma ms eficiente posible, considerando los
tiempos de reconexin y validacin de falla de los productos, se estableci un orden para
realizar las diferentes pruebas, que queda expresado mediante la Figura 3-2. En dicha figura se
han especificado los eventos esperados o que implican un buen funcionamiento del producto,
y que deben ocurrir en cada etapa del conjunto de pruebas.
Figura 3-2: Secuencia de pruebas del sistema automatizado
A continuacin se describen los eventos indicados en la secuencia de pruebas del sistema

automatizado.
to
Inicio
to-t1
Se enciende el LED de ciclo de espera, luego el de voltaje bajo
t1
Se activa el LED amarillo de ciclo de espera
t2
Se enciende el LED verde de voltaje nominal
23
t3
Se conecta el rel. Al ocurrir esta condicin y la anterior se detiene el ciclo de

espera
t3-t4
El LED verde se mantiene encendido
t4
Se enciende el LED rojo de voltaje bajo
t5
Se desconecta el rel
t5-t6
El LED rojo de voltaje bajo se mantiene encendido
t6
Se activa el LED amarillo de ciclo de espera
t7
t8
Se conecta el rel. Al ocurrir esta condicin en conjunto con la anterior se

detiene el ciclo de espera
t8-t9
Se mantiene el LED verde encendido
t9
Se enciende el LED rojo de voltaje alto
t10
Se desconecta el rel
t10-t11 Se mantiene el LED rojo de voltaje alto encendido
t11
Se enciende el LED amarillo de tiempo de espera
t12
t13
Se conecta el rel. Se apaga la fuente
t13-t14 Se mantiene un tiempo de 10 segundos
t14
Se enciende la fuente
t15
Se enciende el LED amarillo
t16
Se enciende el LED verde y se conecta el rel
En la Tabla 3-2 se muestra el estado final en el que deben estar los LEDs y la conexin en
cada rampa y cada tiempo. El 1 es equivalente a on (encendido) y 0 equivalente a off
(apagado) para el caso de los LEDs, y 1 para la conexin y 0 para la desconexin para el caso
de los rels.
24
Tabla 3-2: Estado final de los LEDS y rels acorde a la grfica
Estatus
Conex
L0 (ciclo
de espera)
L1
(vnominal)
L2 (vbajo)
L3 (valto)
R1_1
0
R1_2
0
T1
1
R2
1
T2
0
R3
0
T3
1
R4
1
T4
0
R5
0
T5
1
T6
0
T7
0
T8
1
1
0
0
0
0
0
1
0
1
0
0
0
0
0
0
1
0
1
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
3.3. Diagrama de bloques del sistema

El diagrama de bloques del sistema puede observarse en la Figura 3-3
Figura 3-3: Diagrama de bloques del banco de pruebas
A continuacin se describen los bloques del sistema automatizado de pruebas.
25
Fuente programable
Los productos son alimentados por una fuente programable de California Instruments
capaz de otorgar de 800 VA a 1250 VA, con un rango de voltaje de 0-135 V de 0-270
V. Para este banco de pruebas se debe utilizar el rango de 0-270 V y esta seleccin se
hace de forma automtica en el controlador.
La fuente posee un cable el cual debe conectarse a la toma de alto rango de la fuente.
Este cable en su otro extremo est conectado a una bornera que alimenta a una regleta
que se encuentra en el panel frontal del banco de pruebas.
Regleta de 4
La entrada a la regleta es la fuente programable y los enchufes tipo banana del
sistema de deteccin de rels. Sus salidas son los receptculos, a los que se conectan
los productos. Los receptculos son especficos para el voltaje nominal del producto,
120 VAC 220 VAC.
Sistema de deteccin de rels
Este sistema se encarga de detectar el estado del rel que posee cada supervisor
monofsico de la lnea Exceline, el cual es el encargado de conectar y desconectar el
equipo a proteger segn la estabilidad de la alimentacin directa. En este sistema se
evala slo la fase (en el caso de los de 120 VAC), ya que neutro y tierra van
cableados directo del receptculo. En el caso de los supervisores de 220 VAC se evala
la fase 1.
Sistema de deteccin de LEDs
Este sistema se encarga de detectar cualquier evento en cada uno de los 4 LEDs que
estn localizados en cada supervisor monofsico en su panel frontal. Esta deteccin es de
forma automatizada mediante el empleo de sensores y un circuito de acondicionamiento
para que la seal que entre al mdulo del PLC sea la adecuada para su deteccin. De esta
forma no se necesita acceso a la parte electrnica de los supervisores, por lo contrario se
coloca la pieza slo de forma superficial.
26
Sobre los supervisores monofsicos se coloca una pieza diseada por el departamento
de mecnica, cuya morfologa es adaptable a cada tipo de supervisor monofsico, es decir
existe una pieza por cada tipo de supervisor. En esta pieza se colocan los sensores de los
LEDs logrando mantener la directividad de los mismos, para que un sensor slo detecte al
LED que tiene justo en frente y no a los contiguos.
Controlador
El controlador SNAP ULTIMATE BRAIN de OPTO 22 tiene conectado los
siguientes mdulos:
1 mdulo serial SNAP SCM -232: este mdulo va conectado a la fuente mediante
un cable RS232, este mdulo posee dos puertos para comunicarse de forma
serial con cualquier equipo. En el programa del controlador est configurado el
puerto A, as que es aqu donde se debe colocar el cable de comunicacin con la
fuente.
4 mdulos de entrada digitales SNAP IDC5D: estos mdulos van conectados a

las salidas del sistema de deteccin de LEDs como se muestra ms adelante en el
Captulo 5 en la Figura 5-12 .
La pieza mecnica incluye los sensores, adems el circuito de comparacin. Las
salidas corresponden a los siguientes LEDs:
Salida 1: LED Verde
Salida 2: LED Amarillo
Salida 3: LED Alto
Salida 4: LED Bajo
Salida 5: Tierra
La salida correspondiente a tierra se encuentra con un cable verde para ambos
bancos de pruebas.
1 Mdulo de entrada analgica/digital SNAP IAC5 90-140VAC: este mdulo

posee cuatro canales, los cuales van conectados al transformador y al otro
extremo de los cables que reciben los cables tipo bananas que van conectados al
panel frontal del banco de pruebas.
27
PC o Computadora personal
En la computadora se encuentra la interfaz con el usuario HMI, adems del
programa en donde se maneja los datos. Sin embargo el HMI no es necesario que se
tenga en una computadora, puede ser ejecutada en una pantalla o interfaz para el
usuario que ofrece la familia de Opto22.
Captulo 4.
DISEO DEL CONTROL AUTOMATIZADO DE PRUEBAS
4.1. Programacin del Controlador Lgico Programable
4.1.1. Descripcin del Controlador lgico programable (PLC) utilizado
Un Programmable Logic Controller o un controlador lgico programable es una
computadora pequea que se emplea en procesos de automatizacin, al cual se le pueden
conectar mdulos de hardware de entrada y salida (I/O) con distintos sensores para obtener
datos de inters en un proceso.
Estas pequeas computadoras han sido diseadas para funcionar en ambientes industriales,
as que toleran altas temperaturas, son inmunes al ruido, resistentes a los impactos y
vibraciones.
El programa que controla los procesos es desarrollado en un lenguaje escrito o grfico y es
almacenado en una memoria EEPROM.
El PLC utilizado es un UP1- ADS Ultimate Brain Controller de la familia de Opto22 y
cuenta con un paquete de programacin que permite configurar los distintos mdulos que se le
pueden colocar al PLC, as como desarrollar la estrategia de control y la interfaz que se ha de
tener para monitorear el hardware. Este PLC sigue el mtodo de la programacin grfica o
programacin por diagrama de flujo que es un mtodo muy utilizado en control industrial y
genera elementos grficos basados en estructuras de subprogramas de texto, es decir se
desarrolla el programa mediante un lenguaje de programacin escrito, pero se coloca a modo
de sub-bloques para as poder visualizar de forma grfica la idea general de la funcin del
programa y sus acciones.
El lenguaje de programacin escrito es recomendable en lazos muy complejos y operaciones
matemticas extensas. El lenguaje grfico tiene la opcin de desarrollar un lenguaje escrito
para situaciones como las anteriormente descritas, as como tambin ofrece bloques simples
grficos que representan acciones para procesos y funciones estndar.
Los programas correspondientes a este controlador se describen a continuacin.
29
ioControl
El ioControl es un programa que permite desarrollar cdigos diseados para el rea
de control y automatizacin que tengan base en comunicacin Ethernet. Se basa en un
lenguaje de programacin grfico, con comandos estndares, pero tambin ofrece la
alternativa de desarrollar el cdigo en lenguaje escrito.
Una estrategia consiste en un cdigo o programa desarrollado completamente en
ioControl. La estrategia est formada por uno o varios flowcharts, o diagramas de flujo,
en donde se desarrolla el proceso de control y permite ser visualizado rpidamente.
Estos charts son equivalentes a las funciones del programa.
Se tienen cuatro tipos de figuras o bloques disponibles en ioControl, las cuales se
muestran en la Figura 4-1.
Bloque de accin
Bloque de decisin
Bloque optoscript
Bloque de conexin
Figura 4-1: Bloques empleados en ioControl
Los bloques rectangulares representan comandos de accin, es decir en ellos se le

indica al controlador que se ha de realizar una accin especfica. Este bloque funciona
mediante instrucciones estndar que se seleccionan y configuran.
Los bloques en forma de rombo o diamante son bloque de condicin, as que en ellos
se toman decisiones. De igual forma funcionan mediante la configuracin de
instrucciones estandarizadas.
Los bloques en forma de hexgono son aquellos que permiten al programador utilizar
un lenguaje de programacin escrito para aquellas funciones que no sean posibles de
desarrollar mediante un lenguaje grfico debido a su complejidad. El lenguaje utilizado
es una mezcla de lenguajes como C, Basic y Pascal, en el cual se pueden elaborar
funciones, y subrutinas, como en cualquier lenguaje de programacin.
Los bloques en forma oval son bloques de continuidad que remiten un bloque a otro
dentro del mismo chart o funcin. Esto simplemente es una herramienta para cuando se
30
tengan que establecer continuidad entre bloques que estn muy lejos y el trazado de los
mismos pueda tornarse confuso.
Los bloques se conectan mediante lneas que muestran el curso lgico del programa.
Se tiene una funcin principal denominada powerup encendido, que se coloca de
forma automtica al abrir una nueva estrategia. En dicha funcin es donde se hacen las
llamadas a otras funciones, lo cual se puede hacer de dos formas. De utilizar la
instruccin callchart (llamar a funcin) se inicia la actividad en la funcin especificada
por el programador, y una vez que sta llegue a su fin se le devuelve el control a la
funcin que lo haya invocado o llamado. En el caso en que se utilice la instruccin start
chart, la funcin corre de forma paralela con aquel que lo haya llamado.
ioManager
El ioManager es la herramienta que ofrece Opto22 para configurar los brains o
controladores con los respectivos mdulos de entrada /salida (I/O) a ser empleados en
la aplicacin. En este programa se asignan las direcciones IP de los distintos brains o
controladores de I/O que se puedan emplear.
Aqu tambin se pueden declarar las distintas variables que vaya a emplear la
estrategia a ser desarrollada en ioControl, pero tambin se pueden declarar en este
ltimo.
ioDisplay Configurator Basic
En el ioDisplay se puede desarrollar la interfaz con el usuario o HMI de la aplicacin
desarrollada en ioControl. La interfaz puede correr en una computadora y la estrategia
en el controlador, pero puede establecerse comunicacin entre ambas computadoras
mediante comunicacin TCP/IP, de esta forma la interfaz puede mostrar el estado de
alguna variable del controlador as como tambin le puede enviar datos o variables al
controlador, todo esto en tiempo real.
La interfaz es el medio de comunicacin entre el operador y el controlador y est
restringida segn el criterio del programador que haya desarrollado ambas aplicaciones.
ioDisplay Runtime Basic
31
Una vez elaborada el HMI o interfaz con el usuario en el ioDisplay Configurator
Basic, se abre la misma aplicacin en el Runtime Basic en el momento que se quiera
correr en tiempo real, una vez que se ha descargado la estrategia en el controlador y se
est ejecutando en el mismo.
A grandes rasgos el software o programa desarrollado en la plataforma de OPTO22 se
puede dividir en los siguientes subsistemas.
4.1.2. Funciones desarrolladas para el programa del PLC
4.1.2.1.Seleccin de parmetros
Se desarroll en el controlador un programa que permite la comunicacin del controlador
con la interfaz con el usuario HMI. Dicha comunicacin se hace mediante TCP/IP y se basa
en que los parmetros establecidos por el operador para obtener las condiciones de pruebas
deseadas sean transmitidas al PLC. Una vez que se han establecido estos parmetros, el PLC
puede desarrollar la prueba requerida en los subsistemas que se describirn ms adelante.
Los parmetros que se especifican en esta parte del programa, bien sea por la serie de
respuestas que otorga el operador al HMI o por ser especificados por un archivo, son los
siguientes:
Producto que se desea probar.
Nmero de productos a probar.
Frecuencia a utilizar.
Paso de la fuente.
Voltaje bajo y/o alto al que est la perilla del producto (depende del producto
evaluado).
Nmero de repeticiones de la prueba.
Tiempo entre cada prueba (de ser el caso de que sea ms de una prueba).
Nombre con el que se ha de guardar el archivo.
32
Este sistema queda representado por la funcin power_up que se muestra en la Figura 4-2.
Inicio
Seleccin de
equipos
Ir a rampa tiempo
Repeticin de
prueba?
Stop Chart
Figura 4-2: Funcin powerup
La funcin Powerup es la primera que se ha de correr. Est conformada por dos bloques
seleccin_de_equipos y repeticin_pruebas. El primer bloque consiste en preguntarle al
operador qu tipo de dispositivos desea probar, luego cuntos dispositivos, el paso que desea
en la fuente, nombre del archivo a guardar, entre otros. Otra alternativa es inicializar todos los
parmetros desde un archivo escogido por el operador. Ambas opciones se realizan mediante
la comunicacin entre el PLC y el HMI.
El bloque de repeticin de pruebas es el encargado de llamar al chart rampa_ tiempo el
nmero de veces que se desee repetir la prueba.
Como se observa ambos bloques tienen forma de pentgono, esto se debe a que contienen
cdigo desarrollado en Optoscript.
Una vez elegido el nmero de veces que se quiere aplicar la prueba, se llama a la funcin
Rampa_tiempo en donde se desarrollar la siguiente etapa del conjunto de pruebas. Posterior
a que se culminen el nmero de repeticiones establecidas por el usuario, se le devuelve el
control a la funcin Powerup y se detiene mediante el bloque stop chart.
33
4.1.2.2.Generacin de la rampa
Para generar la rampa o grfica mostrada en la Figura 3-2 es necesario especificar una serie
de parmetros segn la etapa de la grfica en la que se est. Para ello se emplea la funcin
rampa_tiempo mostrada en la Figura 4-3. Esta funcin se encarga de dar las indicaciones y el
orden para la generacin de la grfica anteriormente descrita. En cada switch selector de
casos del primer bloque denominado de igual forma rampa_tiempo se especifica si se ha de
construir una rampa o corresponde a un tiempo.
Inicio
Rampa tiempo
Guardar voltajes y
tiempos
No
Se culmin la
grfica?
S
Guardar datos en
archivo
Stop chart
Figura 4-3: Funcin rampa tiempo
En el caso de los bloques correspondientes a las rampas se indican los valores adecuados a
la construccin de las mismas, es decir pendiente, voltaje de origen y voltaje de parada.
34
En cuanto a la construccin de los tiempos o retardos de la grfica, se indica el tiempo al
que va a finalizar el temporizador. En cada caso lo que se hace es inicializar los parmetros
necesarios para la construccin de la grfica.
Tanto para los retardos como para las rampas se especifica qu se ha de verificar, en cada
parte de la grfica a generar.
Una vez inicializadas las variables necesarias se activa la funcin de Comunicacin y la
funcin de chequeo_LED_conex, las cuales van a correr en paralelo. Una vez que tengan su
condicin de parada, le devuelven el control al chart rampa_tiempo para guardar los
resultados obtenidos y especificar el prximo trozo de grfica.
Una vez que la totalidad de la grfica se haya realizado se procede a guardar en un archivo
txt los resultados acumulados en cada rampa/tiempo, es decir los voltajes y tiempos asociados
a cada evento ocurrido.
4.1.2.3.Comunicacin con la fuente

Esta funcin o diagrama establece la comunicacin con la fuente, la cual es en base a RS232
y utiliza un lenguaje de programacin especfico, lo cual es explicado con mayor detalle en el
Apndice A. Con los parmetros otorgados por la funcin Rampa_tiempo se construye la
rampa mediante la ecuacin: V = Vo + k a t o se activa un temporizador para los retardos,
segn corresponda. En ambos casos se le mandarn comandos a la fuente para que se
establezca en el valor indicado y de forma paralela el diagrama chequeo LED-conex, que
tambin fue llamado por el chart rampa_tiempo, ir chequeando si ocurre algn evento en los
LEDs o en la conexin de los rels.
El diagrama de comunicacin puede detenerse porque si ocurre la condicin de parada por
descarte o si ocurre el evento de parada en la funcin chequeo_LED_conex, es decir se detiene
porque se lleg al voltaje o tiempo tope correspondiente o porque ocurri un evento en los
LEDs o conexin de la totalidad de los productos en prueba, lo cual sucede cuando la variable
n_LED_parada es igual al nmero de equipos a probar.
Se verifica que la fuente est dando la alimentacin requerida con un 4% de tolerancia y de
no ser as se enva un mensaje a la interfaz que indica que la fuente fall. Finalmente se le
devuelve el control al diagrama que lo haya invocado, el cual es rampa_tiempo.
35
En la Figura 4-4 se observa el diagrama comunicacin desarrollado en el PLC. Consiste
simplemente en un bloque de Optoscript, ya que por ser un cdigo complejo fue necesario
utilizar esta herramienta y no los comandos estndar del ioControl.
Inicio
Comunicacin
Stop Chart
Figura 4-4: Funcin comunicacin
Para la comunicacin del controlador con la fuente se emple un mdulo serial

SNAP SCM-232 el cual va conectado a la fuente mediante un cable RS232. En el programa
del controlador est configurado el puerto A, as que es aqu donde se debe colocar el cable de
comunicacin con la fuente. En la Figura 4-5 se muestran los puertos de este mdulo.
Figura 4-5: Mdulo SNAP SCM 232 para la comunicacin con la fuente programable
36
4.1.2.4.Chequeo de eventos
El diagrama de la funcin chequeo_LED_conex se muestra en la Figura 4-6 consiste en un
bloque de optoscript que se encarga de verificar los eventos y guardar los datos importantes, y
un bloque de accin en el que se pregunta si la condicin de parada ya se ha establecido.
Inicio
Chequea el estado de los

LEDs y reles, y guarda el
tiempo y el voltaje en los que
ocurra un evento
No
es
parada=true?
S
Stop Chart
Figura 4-6: Funcin chequeo_LED_conex
Este diagrama se encarga de verificar que los LEDs estn encendidos y los equipos
conectados o desconectados segn sea el caso y se abre esta funcin en paralelo tantas veces
como productos se estn probando. Estos diagramas
van a ser ejecutados de forma
simultnea.
Se utilizaron variables tipo entero denominadas n_LED_conex_ya, una para cada equipo.
Estas variables son utilizadas como un arreglo de cinco banderas (flags) que se encargan de
indicar si es la primera vez que ha ocurrido un evento en los 4 LEDs o la conexin, y
dependiendo del LED que se est evaluando o al que le haya ocurrido un evento se levanta la
bandera correspondiente al LED evaluado. Esta codificacin tipo bandera se hizo para utilizar
37
el menor nmero de variables posibles, ya que hay que tomar en cuenta el paralelismo de este
programa.
Para determinar si la bandera correspondiente a lo que se est evaluando (alguno de los
LEDs o conexin) est en alto se llama a la subrutina determinar_bit, la cual como su nombre
lo indica, se encarga de determinar en base al nmero al que est igualada la variable, qu bit
fue el modificado y en qu estado est, es decir 1 0.
La numeracin de los LEDs corresponde a:
L1: tiempo de reconexin o ciclo de espera (amarillo)
L2: voltaje nominal o normal (verde)
L3: voltaje bajo (rojo)
L4: sobre voltaje (rojo)
En caso de que ocurra un evento en el bit/LED evaluado se llama a la subrutina

ordenar_guardar. Dicha subrutina se encargar de guardar el cdigo del evento ocurrido, as
como el voltaje y el tiempo asociados con l.
Poniendo de lado la codificacin de la variable chequeo_LED_conex_ya y las llamadas a las
respectivas subrutinas, este diagrama a grandes rasgos lo que hace es primero evaluar si la
conexin ha cambiado su estatus esperado segn la circunstancia, de ser as pregunta si ya se
haba reportado este evento, se guarda el dato y se siguen los chequeos. De no ser vlido, se
reporta y pasa a los siguientes chequeos.
Para el chequeo de los LEDs se pregunta si un LED en particular debe ser evaluado o no. Si
ha de ser evaluado, al igual que con la conexin/desconexin se pregunta si ha ocurrido un
evento en el LED, de ser as pregunta si ya se report este evento, de ocurrir esto se pasa a los
siguientes chequeos, de lo contrario se guarda el dato de voltaje y tiempo en el que ocurri el
evento y se siguen los chequeos.
Posteriormente se analizan los resultados del chequeo de los LEDs y la conexin durante el
proceso de construccin de las rampas o de los retardos. Se evala la condicin de parada, de
cumplirse se incrementa la variable n_LED_parada la cual servir de indicador a la funcin
comunicacin para detener la grfica o proseguir.
Una vez terminado los chequeos se le devuelve el control a la funcin o diagrama que lo
haya invocado, que va a ser rampa_tiempo.
38
4.1.2.5.Subrutinas del programa
Las subrutinas empleadas en el programa del PLC sirven para ordenar los datos, codificarlos
y almacenarlos.
Determinar_bit
Los parmetros que se le pasan a esta subrutina son:
n_LED_conex_ya: indica si ocurri un evento por primera vez en el LED

evaluado o en la conexin.
El nmero del bit correspondiente a la variable evaluada en ese momento se muestra

en la Tabla 4-1.
Tabla 4-1: Nmero de bit en arreglo de banderas para variables de eventos

Variable
LED de ciclo de espera
LED Voltaje nominal
LED Voltaje bajo
LED Voltaje alto
Conexin de rel
Nmero de Bit
0
1
2
3
4
b_result: variable que devuelve la subrutina modificada, es decir es pasada por

parmetro, e indica si el bit evaluado est en 0= evento no deseado en
1=evento deseado o de parada.
Esta subrutina se encarga de determinar el estado del bit evaluado mediante

operaciones binarias.
Ordenar_guardar:
Esta subrutina se encarga de guardar el cdigo del evento ocurrido y los voltajes y
tiempos asociados a l.
Los parmetros que se le pasan a esta subrutina son:
n_apuntador_eventos: es una variable que indica que chequeo_LED_conex

est llamando a la subrutina e indica a qu posicin de la tabla se desea
acceder.
El nmero del bit correspondiente a la variable evaluada en ese momento.
n_contador_r_t: indica qu rampa o retardo est en ejecucin
39
f_v: el voltaje al que est la fuente en el justo momento en que se llama a la

subrutina
ut_timer_rampa_tiempo+f_t_anterior: el tiempo total que lleva corriendo la

prueba justo en el momento en que se llama a la subrutina
ft_eventos: la tabla de cdigo de eventos
ft_voltajes: la tabla de voltajes de los eventos
,ft_tiempos: la tabla de tiempos de los eventos
Los resultados de esta subrutina son las tablas de voltaje de parada, tiempos de
parada, eventos, voltajes de eventos y tiempos de eventos modificadas, es decir son
variables pasadas por parmetro, las restantes son pasadas por valor.
4.2. Configuracin de la interfaz con el usuario para el control de pruebas

4.2.1. Descripcin de la interfaz ( HMI)
La interfaz entre el PLC y el operador corre en el programa ioDisplay RunTime Basic, pero
se desarrolla o construye en el programa ioConfigurator Basic. El ioDisplay debe ejecutarse
una vez que se ha descargado la estrategia en el Brain controlador y se ha desarrollado
completamente en ioConfigurator el HMI deseado.
La primera ventana que surge al ejecutar el HMI es la mostrada en la Figura 4-7
40
Figura 4-7: Ventana de seleccin del HMI
La interfaz de forma automtica realizar una serie de preguntas que se visualizarn en

dicha ventana en el siguiente orden:
Desea utilizar los archivos default o agregar uno?
En esta pregunta el usuario elige descargar los valores de inters desde un archivo
realizado por l utilizar la interfaz para hacer la inicializacin. Para saber como llenar
el archivo txt, se puede abrir el archivo GSM-MP.txt para que sirva como ejemplo o
plantilla. Este txt se muestra en la Figura 4-8.
41
//Archivo de inicializacin de variables para el GSM-MP
Ultimate_controller:float table.ft_variables
//float:f_freq
60
//float.f_v_1er
50
//float.f_vnominal
120
//float.f_valto
137.1
//float.f_vbajo
91.1
//float.f_vconex_bajo
96
//float.f_vconex_alto
132.2
//float.f_t_1_conex
30
//float.f_thisteresis
2
//float.f_tiempo_on_off
10
//float.f_tiempo_tope_reconexion
30
//float.f_conex_alto
6.5
//float.f_conex_bajo
4.5
//float.f_k
2
//float.f_t_prueba
0
//integer 32.n_numero_equipo
1
//integer 32.n_repeticion
1
//Fin de inicializacin
Figura 4-8: Archivo txt de inicializacin de variables del GSM-MP
Qu archivo desea utilizar para la inicializacin de variables?

Esta pregunta slo surge en pantalla en el caso que se haya escogido descargar un
archivo en la pregunta anterior. Aparece una ventana que le indica al operador que
introduzca el nombre del archivo, y ste inmediatamente ser descargado una vez que
el operador ejecute esta accin.
Cul producto desea probar?
Esta pregunta slo surge de elegir la inicializacin mediante interfaz. El usuario debe
seleccionar con un clic la imagen del producto que desea probar y que est conectado
en el banco de pruebas.
42
Qu frecuencia desea utilizar?

En esta pregunta el usuario debe colocar un valor que est entre 40 y 70Hz, lo cual
se especifica en la interfaz como se muestra en la Figura 4-9. Tambin se solicita al
operador que de ser decimal la frecuencia, se coloque con coma (,) y no un punto.
Figura 4-9: Campo que ha de ser llenado por el usuario para indicar la frecuencia en el HMI
En qu voltaje est la perilla de bajo/alto voltaje?

Esta pregunta solo surge para el caso de los productos GSM-RE GSM-R, tanto los
de 120 VAC como de 220 VAC, ya que estos productos tienen la capacidad de ser
ajustados en sus perillas. El usuario debe tener los 4 productos a ser evaluados en el
mismo valor que indique la perilla.
Cuntos productos desea probar?
En esta pregunta el usuario introduce el nmero de productos que ha colocado en el
banco de pruebas con un mximo de 4 y un mnimo de 1 lo cual tambin est indicado
en el HMI.
Qu paso desea en la fuente?
Esto indica la velocidad a la que va aumentando el voltaje en la fuente. Es muy
importante su correcta seleccin, ya que de ser muy rpido en los productos van a
ocurrir los eventos en voltajes o tiempos un tanto alejados de los que se tienen en las
especificaciones. La fuente tiene una precisin de 0.1 V/s, as que un rango
recomendable para el paso es de 0.1-2 V/s, pero esto realmente depende de lo que
desea el usuario.
43
Qu nombre quiere colocarle al archivo?
El usuario introduce el nombre que desea que tenga todos los datos recolectados. El
programa automticamente le coloca un subndice al nombre introducido por el usuario
para indicar el nmero del producto al que corresponde los datos, as que de ser
probados los 4 productos se tendr un mismo nombre para el archivo de los datos pero
con un nmero al final que indique a qu producto corresponde.
Cuntas veces quiere repetir la prueba?
El usuario introduce el nmero de veces que quiere aplicar el conjunto de pruebas a
un mismo producto y de forma continua.
Cunto tiempo quiere que pase entre prueba y prueba?
Esta pregunta slo surge si el nmero de veces que se va a repetir la prueba es
mayor a 1, en este caso se tiene que establecer un tiempo entre prueba y prueba. Lo
ms recomendable es usar un tiempo de 3min o 180s, ya que hay algunos productos
que necesitan que sus condensadores se descarguen, pero esto vara de producto a
producto, por lo que el usuario debe tener cierta familiarizacin con los supervisores
monofsicos, lo que se puede obtener revisando su ficha tcnica.
Una vez que se respondi este conjunto de preguntas que en su lugar se ha descargado un
txt con la respuesta a todas ellas, ya el sistema tiene los datos necesarios para iniciar las
pruebas. El usuario puede seleccionar el botn Ir a Pruebas, con el cual se abrir una nueva
ventana en la que podr ver la rampa indicada por el controlador a la fuente, y la que
realmente genera la fuente, para as comprobar visualmente que no existan mayores
diferencias entre stas. Dicha ventana se muestra en la Figura 4-10
44
Figura 4-10: Ventana de pruebas del HMI
Adems de lo anteriormente descrito, tambin se puede observar el estado de los LEDs y

rels de los 4 productos en prueba, directamente en la ventana de la interfaz sin necesidad de
observar los supervisores monofsicos, ya que est asignado a la imagen del producto, como
objetos dinmicos, los mdulos de I/O que sensan estos eventos.
Es as como de estar encendido alguno de los LEDs el valo correspondiente al mismo, en
la imagen del producto en el HMI se indicar al colorearse del color del LED. En el caso del
rel se colorea en gris al estar encendido y en blanco al estar desconectado.
Las pruebas realizadas en este banco de pruebas son las de primera conexin, bajo voltaje,
alto voltaje y on/off. El usuario observar una marca de validez o check en cada una de ellas
cuando se haya culminado la prueba.
El conjunto de pruebas es en el orden ya indicado y no se pueden hacer las pruebas de forma
separada, sino el conjunto completo.
45
De haber un error en la comunicacin del controlador-fuente, aparecer en la interfaz un
mensaje: fuente no respondi adecuadamente, dependiendo del error que haya sucedido el
usuario deber detener la prueba o simplemente reportar este error.
Cuando el PLC haya guardado los datos en el archivo correspondiente, tambin se tendr un
mensaje que indique este evento.
Una vez que se hayan terminado todas las pruebas, el usuario puede cerrar el programa
ioDisplay RunTime Basic y proceder a observar los datos obtenidos a travs de las pruebas.
4.2.2. Transmisin de datos al PLC

El operador define una serie de variables al responder a cada una de las preguntas de la
interfaz, lo cual es recibido en tiempo real por el controlador. En el caso de que se
especifiquen esta serie de parmetros mediante un archivo, se emplea la herramienta recipe
para inicializar las variables de la estrategia. Un recipe no es ms que un archivo que se enva
al controlador o es recibido de l.
La configuracin de un recipe puede hacerse mediante un atributo dinmico que el operador
selecciona para descargar o enviar el archivo, bien sea mediante un trigger o disparador que ha
configurado por el programador y que al estar en un determinado valor, se activa la bandera
que indica que se puede descargar o enviar el archivo.
En el caso del banco de pruebas para supervisores monofsicos se utiliz el recipe para
inicializar las variables desde un archivo. De escogerse esta opcin en la interfaz aparece en
pantalla: Qu archivo desea escoger para la inicializacin?, a lo cual el usuario responde
introduciendo el nombre del archivo txt que desea descargar, e inmediatamente este archivo
es descargado en el controlador y las respectivas variables son inicializadas.
Para enviar o definir una sola variable por objeto simplemente se le asigna un tag o etiqueta
a un objeto dinmico en la interfaz y el operador puede cambiar el estado de la variable bien
sea al seleccionar en el objeto o introducindolo por teclado el valor correspondiente.
El operador solo puede definir las variables cuando la interfaz as se lo indica mediante la
aparicin de las preguntas, de otra forma la configuracin est restringida para as evitar
corromper la prueba.
46
4.2.3. Recepcin de datos del PLC
Los datos provenientes del controlador de igual forma se asignan a objetos dinmicos en la
interfaz, los cuales se pueden observar en tiempo real y pueden visualizarse de distintas
formas. En el caso del voltaje al que se encuentra la fuente y el voltaje que indica el
controlador, se visualizan mediante un grfica x-y, en donde el eje y es el voltaje y x el
tiempo. La grfica en rojo es el voltaje al que est la fuente y la azul es el voltaje indicado por
el controlador.
Para almacenar en un archivo txt los datos que ha guardado el PLC, se configur un
Historic Data Log, que es una herramienta que ofrece el ioDisplay Configurator en donde al
activarse una bandera, o configurarse una variable en un valor indicado, se comienza a escribir
los datos indicados en un archivo, de naturaleza tambin especificada.
Los archivos historic data log estn denominados como: equipo_1, equipo_2, equipo_3 y
equipo_4, acorde al nmero de productos que se pueden evaluar simultneamente en el banco
de pruebas. Se guardar un archivo por producto y las pruebas estadsticas se escriben en ese
mismo archivo.
En la Figura 4-11 se muestra la ventana de configuracin del archivo correspondiente al
equipo 1, pero es similar para el resto, slo cambian las variables a guardar que han de ser
correspondientes al equipo evaluado.
47
Figura 4-11: Campo de configuracin del archivo de recepcin de datos del PLC
Como se observa el nombre del archivo de recepcin es equipo_1, el tiempo en que

refresca la informacin o escribe sobre el archivo es de 1 segundo, indicado en la ventana
por Refresh Time. En Historic Log Points se especifican todas las variables del PLC que se
han de guardar en el archivo. Estas variables se indican en la Tabla 4-2 con una breve
descripcin de las mismas.
Se configur un Start trigger o bandera que al colocarse en 1 se comienza a escribir el
archivo, y al colocar el nmero de muestras en 1 se garantiza que se escriban los valores
una sola vez. Con este trigger se activa una bandera que indica que el archivo ha terminado
de escribirse.
48
Tabla 4-2: Variables del PLC guardadas en el archivo txt mediante la configuracin del archivo de
recepcin de datos del PLC
Variable del controlador
n_repeticin
N
ft_eventos_1[0-69]
ft_voltajes_1[0-69]
ft_tiempos_1[0-69]
ft_voltajes_parada_1[0-16]
ft_tiempos_parada_1[0-16]
n_tipo_equipo
f_Vnominal
f_Vbajo
f_Valto
K
Descripcin de la variable
Indica el nmero de veces que se ha de repetir la
prueba
Indica a qu repeticin de una prueba estadstica
corresponde la prueba o los datos almacenados en ese
momento.
Tabla de eventos ocurridos en el supervisor,
corresponden a cambios en el rel y en los LEDs.
Existen 70 posibles eventos
Indica los voltajes asociados a los eventos
especificados en la variable de ft_eventos
Indica los tiempos asociados a los eventos
especificados en la variable de ft_eventos
Indica a qu voltaje se detuvieron las rampas y
tiempos correspondiente a la grfica de secuencia de
pruebas
Indica a qu tiempo se detuvieron las rampas y
tiempos correspondiente a la grfica de secuencia de
pruebas
Indica qu supervisor monofsico se est usando, un
GSM-RE, un GSM-MP, etc.
Indica el voltaje nominal terico al que debe funcionar
el supervisor monofsico
Indica el valor del voltaje nominal bajo que posee el
supervisor monofsico
Indica el valor del voltaje nominal alto que posee el
supervisor monofsico indicado
Indica la velocidad o paso al que se configur la
fuente.
En la Figura 4-12 se muestra la configuracin del nombre del archivo en donde se estn
guardando las variables del PLC, para ser posteriormente procesadas en la aplicacin de
manejo de datos. El nombre del archivo, como se observa en la figura, es extrado de la
estrategia, es decir se indica el nombre en ella mediante la variable s_archivo_1, bien sea
mediante inicializacin por archivo o preguntas hechas al operador. El archivo se guarda en el
directorio donde se encuentre la estrategia, pero tambin puede ser configurado a gusto del
operador.
49
Figura 4-12: Configuracin del nombre del archivo de recepcin de los datos del PLC
4.3. Descripcin de la aplicacin de manejo de datos

La aplicacin de manejo de datos posee una macro que fue desarrollada en el editor de
Visual Basic que ofrece Excel, utilizando como lenguaje de programacin VBScript, que es el
que soporta Visual Basic. Esta aplicacin carga un archivo generado por el PLC que contiene
los datos obtenidos durante las pruebas realizadas, entre estos datos estn los eventos que
ocurrieron con sus respectivos voltajes y tiempos, los datos de la rampa que fue generada, el
numero de equipos probados, la cantidad de pruebas ejecutadas, entre otras variables que se
indican en la Tabla 4-2.
Los datos recaudados por el PLC estn en un archivo .csv con el nombre que indic el
usuario en la interfaz. Se abre el archivo banco_pruebas_exceline.xls en Excel y al seleccionar
el botn que se encuentra en la hoja, el programa pregunta qu archivo se desea abrir a lo que
el usuario elegir el archivo de los datos que le interese. Con esta seleccin y de forma
automtica la macro se ejecuta arrojando un reporte de lo que se obtuvo en una prueba
determinada.
50
El reporte tiene indicados los eventos que ocurrieron en el producto, y el voltaje y tiempo
asociados con ellos. Se tiene de forma separada una hoja donde se encuentran los tiempos de
histresis, los tiempos de reconexin, as como la histresis relacionadas con el voltaje bajo y
el voltaje alto.
La macro genera siete hojas en un libro de Excel, y un archivo por producto. Las 7 hojas
consisten en lo siguiente:
Data
En esta hoja simplemente se muestran los datos recolectados durante las pruebas en
casillas, adems se anexa la fecha y hora a la que se carg el archivo, as se tiene la
informacin necesaria de cada prueba estadstica.
Eventos
En esta hoja se presentan los eventos que ocurrieron en el producto en conjunto con
los voltajes y tiempos a los cuales ocurrieron, adems se especifica el evento ocurrido y
el nmero de repeticin de la prueba.
Los eventos no se presentan ordenados de forma ascendente acorde al tiempo, debido
a que stos pueden ocurrir en distinto orden en las distintas repeticiones, por lo que se
decidi mostrar los eventos sin orden temporal, aunque se puede deducir observando la
columna de los tiempos.
En el rengln de los eventos se tiene un nmero acompaando al evento en s, que
indica el nmero de la rampa o retardo al que se est. Esto es correspondiente a la
numeracin otorgada en la Figura 3-2.
Esta hoja le permite al operador observar de forma detallada lo que ocurri en el
producto y determinar cul puede ser la causa de una falla.
V_parada
Esta hoja contiene una tabla con los voltajes de parada y sus respectivos tiempos, es
decir en qu momento y a qu voltaje se detuvo cada una de las partes de la grfica de
la Figura 3-2. Esta hoja le permite al operador de una forma ms rpida visualizar el
51
resultado de las pruebas, adems de determinar si la condicin de parada ocurri por el
evento o por el valor predeterminado de parada.
Los voltajes de parada y los tiempos son los mismos para los distintos productos
evaluados durante una prueba, porque se tiene una sola fuente para alimentar a los
cuatro productos, y en la estrategia de ioControl se estableci que la condicin de
parada fuese cuando ocurriera el evento indicado en cualquiera de los cuatro productos,
de lo contrario ocurrira la parada predeterminada.
T_falla
En esta hoja se tienen los tiempos de validacin de falla, es decir el tiempo entre que
se detect la falla y la accin de desconectar el rel. Dichas fallas corresponden a la
aplicacin de voltaje bajo y voltaje alto a los productos o supervisores monofsicos. Se
identifica en cada columna el nmero de repeticin de la prueba estadstica a la que
corresponden las mediciones mostradas.
No se tom en cuenta la medicin producida luego de hacer un encendido/apagado,
ya que no arrojaba datos importantes para la Empresa.
De ser una prueba estadstica se calcula la desviacin estndar de las mediciones de
cada repeticin, para que sirva como factor de comparacin.
t_conexin
En esta hoja de Excel se presentan los tiempos de reconexin una vez que se produce
una falla o un evento particular, es decir luego de aplicar voltaje bajo, voltaje alto,
primera conexin o realizar un encendido/apagado. Se midi el tiempo desde que el
LED amarillo o de ciclo de espera se enciende hasta que ste se apaga, se enciende el
LED verde y se conecta el rel.
De ser una prueba estadstica se calcula la desviacin estndar de las mediciones de
cada repeticin, para que sirva como factor de comparacin.
Cada columna se identifica con el nmero de repeticin de la prueba a la que
corresponde la medicin, adems en cada fila se identifica bajo qu falla o evento fue
tomada la medicin.
52
v_histresis
Se presentan los valores correspondientes a la histresis de los voltajes, los cuales se
miden a travs de calcular la diferencia entre el voltaje al que se entra a la condicin de
voltaje bajo (LED rojo encendido) y el voltaje al que se sale de esta condicin (LED
rojo apagado y LED amarillo encendido). De igual forma se hace con el voltaje alto.
La ecuacin que lo representa es la ecuacin [4.1]
Histresis = Ventrada deumbral Vsalida deumbral
[4.1]
Cada columna est identificada con el nmero de repeticin a la que corresponde la

medicin. De ser una prueba estadstica se calcula la desviacin estndar de las
mediciones de cada repeticin, para que sirva como factor de comparacin.
Umbrales
En esta hoja se resumen los clculos y mediciones realizados en las otras hojas del
libro de Excel, a esta hoja es a la que se debe remitir el operador en primera instancia
ya que le indica de forma sencilla el resultado de las pruebas realizadas a un producto.
Se identifica el cdigo del producto al que se le hicieron las pruebas, el voltaje
nominal del producto, el paso de la fuente y el nmero de repeticiones.
En cuanto a los umbrales, se indica el valor terico tanto del voltaje bajo como del
voltaje alto, luego se muestra el valor mnimo de estos umbrales, as como el mximo.
Estos valores se calculan para la entrada y para la salida del mismo. Posteriormente se
muestra el promedio de los valores antes mencionados, la histresis promedio y la
desviacin estndar de la misma.
Otra medicin realizada en cuanto a los umbrales es el error a la entrada de
determinado umbral, y el error a la salida del mismo. Este error se calcul mediante la
ecuacin [4.2].
Error =
Valorterico Valorreal 100

Valorreal
[4.2]
53
Finalmente se coloca el estado del producto en cuanto a la evaluacin de umbrales
que se remite a bueno y malo, esto se determin mediante la ecuacin [4.3]. De
cumplirse dicha ecuacin el estatus del producto es bueno, si no es malo.
Valorteorico 20
Valorteorico 20
Valorteorico Valorreal
+ Valorteorico
100
100
[4.3]
Adems, en el libro de Excel se deja una casilla de observaciones para que el

operador haga las anotaciones pertinentes.
En cuanto a la validacin de tiempo de falla, se colocan mediciones acorde al umbral
bajo y al umbral alto. Se muestra el valor terico de los tiempos de validacin
correspondiente, acorde a cada falla, y se colocan la medida mnima y mxima
correspondientes a cada umbral. Se muestra el promedio de todas las muestras y se
calcula la desviacin estndar, de aplicarse una prueba estadstica.
Se calcula el error del tiempo de validacin de falla empleando la ecuacin [4.2],
donde ahora el valor terico y valor real corresponden a los valores de tiempo de
validacin de falla.
De igual manera, se coloca el estado del producto acorde al rengln de tiempo de
validacin de falla que responde a la ecuacin [4.4]. Como se observa en esta
inecuacin se decidi que el rango de validez fuese mayor, es decir se calcul el 50%
del valor terico, ya que, en cuanto a los tiempos, el rango de validez es mucho ms
amplio.
Valorteorico 50
Valorteorico 50
Valorteorico Valorreal
+ Valorteorico
100
100
[4.4]
Se deja un espacio para las observaciones del operador.

El ltimo rengln que se coloca en la hoja de umbrales es el correspondiente al
tiempo de reconexin. Se indica a qu falla o evento se someti el producto al tomar las
muestras correspondientes, se coloca el tiempo terico al que debera conectarse el
producto segn la circunstancia, y se colocan los valores mnimos y mximos
obtenidos en las muestras correspondientes bien sea a la falla de voltaje alto, voltaje
bajo, encendido/apagado o al evento de primera conexin.
54
Si se eligi aplicar pruebas estadsticas, se calcula el promedio de las mediciones as
como la desviacin estndar. Se calcul el error mediante la ecuacin [4.2].
Finalmente, se coloca el estado del producto acorde a este rengln respondiendo a la
ecuacin [4.4] y un espacio para las observaciones del operador.
En la Figura 4-13 se muestra un reporte estadstico de 10 pruebas, de la hoja de
umbrales, donde se ilustra de forma resumida lo anteriormente descrito.
Figura 4-13: Reporte generado por la aplicacin de manejo de datos
Captulo 5.
SISTEMA DE DETECCIN DE ENCENDIDO Y APAGADO DE
LEDS
Este sistema se encarga de eliminar la necesidad de tener a un operador observando el
encendido y apagado de los LEDs correspondientes a los supervisores monofsicos a lo largo
de las pruebas funcionales. Esta deteccin se logr realizar de forma automtica y mediante el
hardware diseado. A continuacin se describen las etapas que se cumplieron para lograr el
diseo y elaboracin de este sistema.
5.1. Seleccin de mdulos del PLC
A continuacin se presentan los distintos esquemas que se pueden emplear para la deteccin
de los LEDs en la lnea EXCELINE, para uso en el banco de pruebas.
5.1.1. Esquema escogido: Cuatro mdulos de entrada digital
El esquema escogido corresponde al uso de cuatro mdulos de entrada digital, es decir que
simplemente se tiene un nivel alto y un nivel bajo (on/off), en este caso 0 y 5V, debido a que
la solucin es sencilla y es uno de los esquemas propuestos y analizados menos costosos,
ofreciendo una buena relacin costo-beneficio.
Para emplear un mdulo digital es necesario acondicionar la salida del detector de luz. Es
por esto que se presenta como alternativa colocar a la salida del sensor un comparador
analgico que tenga una salida de 5V al estar encendido el LED y 0V al estar apagado. El
mdulo propuesto es el Snap Digital Input Module IDC5D.
De esta forma, la diferenciacin de rangos se realizara de forma circuital. El circuito
propuesto se explica en la seccin 5.4.
En este sistema de 4 mdulos digitales, cada canal del mdulo evaluara un LED, as que se
necesitara 4 mdulos SNAP IDC5D que son de 4 canales.
El costo de este mdulo es de $42
y al necesitarse cuatro mdulos, el costo total
es Costo total=42x4=$168.
El esquema es el mostrado en la Figura 5-1:
56
Figura 5-1: Esquema de deteccin de LEDs con cuatro mdulos de entrada digital
5.1.2. Alternativas al Sistema escogido
5.1.2.1.Cuatro mdulos de entrada analgica

La lnea de productos OPTO 22 ofrece un mdulo de entrada analgica que detecta voltajes
entre 0 y 5V. El mdulo es el SNAP AIV, el cual posee 4 canales a los cuales se conectaran
las salidas de los detectores de luz, es decir cada canal detectara slo un LED del producto,
por lo que en este sistema se necesitara un mdulo por producto a probar ya que cada
producto tiene 4 LEDs. En total se necesitaran 4 mdulos SNAP AIV de 4 canales para poder
ser empleados en el banco de pruebas.
Para poder diferenciar si un LED est encendido o no, debe tomarse en cuenta el color del
LED ya que dependiendo de esta caracterstica el detector de luz empleado genera distintos
valores de voltajes para la condicin de encendido.
Estos rangos se evaluaran a nivel de software en el controlador y acorde a esto se activara
una variable binaria que simplemente indique el encendido/apagado del LED evaluado.
El esquema sera el mostrado en la Figura 5-2:
57
Figura 5-2: Esquema de deteccin de LEDs con cuatro mdulos de entrada analgica
Los costos asociados a este sistema son 1 mdulo SNAP AIV= $245, Total=245x4=$980.
5.1.2.2.Un mdulo de entrada analgica y un mdulo de salida digital

Entre las alternativas propuestas se puede emplear un mdulo de entrada analgica SNAP
AIV de 4 canales que evale los 4 productos, un canal por producto. Cada canal evaluara los
4 LEDs que posee el producto, para ello se necesita el empleo de 4 multiplexores analgicos y
un mdulo de salida digital SNAP ODC5SRC de 4 canales.
A travs de este mdulo digital el controlador indicar el momento en que se van a evaluar
todos los LEDs de bajo voltaje, todos los LEDs de ciclo de espera y as sucesivamente, para
establecer en la entrada del multiplexor que LED ha de evaluarse.
Los multiplexores empleados para manejar seales analgicas requieren que el mdulo
digital tenga 4 canales para activar cada rel.
Los rangos de salida del sensor de luz se evaluaran a nivel de software en el controlador.
El esquema propuesto es el mostrado en la Figura 5-3:
58
Figura 5-3: Esquema de deteccin de LEDs con 1 mdulo de entrada analgica, 1 mdulo de salida digital
y 4 multiplexores analgicos
Los costos asociados a este esquema son 1 mdulo SNAP AIV=$245 y 1 mdulo
SNAP ODC5SRC=$42, para un Total=245+42=$287.
5.1.2.3.Un mdulo de entrada digital y un mdulo de salida digital

En este sistema se propone que un solo mdulo de entrada digital de 4 canales detecte los 4
productos, cada canal detectara un producto, es decir los 4 LEDs del producto, esto mediante
la multiplexacin de las salidas de los respectivos detectores.
Mediante un mdulo de salida digital de dos canales mnimo, se indicara mediante el
controlador que en determinado momento se van a evaluar todos los LEDs verdes, luego todos
los LEDs amarillo, y as sucesivamente para de esta manera codificar y saber que la salida de
59
cada multiplexor corresponde a un LED determinado. Los dos canales son necesarios para
tener dos seales de control y es por ello que se requiere el uso de 4 multiplexores. El mdulo
a utilizar puede ser un SNAP ODC5SRC, que va de 5-60V y tiene lgica TTL, por lo que los
multiplexores deben escogerse acorde a esto.
Como consecuencia de usar un mdulo de entrada digital (SNAP IDC5D) se tiene que usar
un circuito comparador, como el expuesto en la sesin 5.4. El esquema propuesto sera el
mostrado en la Figura 5-4
Figura 5-4: Esquema de deteccin de LEDs con un mdulo de entrada digital, un mdulo de salida
analgica y cuatro multiplexores digitales
El costo correspondiente a un mdulo SNAP ODC5SRC es de $42, del SNAP IDC5D=$84

para un Total=42+84=$126.
5.1.3. Costos asociados a cada esquema analizado
En la Tabla 5-1 se muestran los costos de las cuatro propuestas en cuanto a los mdulos de
OPTO 22 requeridos.
60
Tabla 5-1: Costo de los diversos esquemas de deteccin de LEDs
Esquema
Mdulo
entrada digital
Mdulo
salida digital
Fig. 5.1
Fig. 5.2
Fig. 5.3
Fig. 5.4
4x$42
0
0
1x$42
0
0
1x$42
1x$84
Mdulo
entrada
analgica
0
4x$245
1x$245
0
Total
$168
$980
$287
$126
Para este sistema se eligi finalmente emplear el esquema de la Figura 5-1 que posee 4
mdulos de entrada digital, ya que su aplicacin es sencilla y es uno de los menos costosos,
ofreciendo una buena relacin costo-beneficio.
5.2. Sensores de luz evaluados para el Sistema de deteccin de LEDs
Para lograr la automatizacin en el banco de pruebas de la lnea Exceline se decidi utilizar

un sensor de luz que detecte el encendido/apagado de los LEDs que estn en los productos, sin
la necesidad de un operador que determine estos cambios en los LEDs, aunque las pruebas no
sern desasistidas.
El sensor a ser utilizado necesita tener un rango de funcionamiento que corresponde al
espectro de luz visible (400 a 780 nm), ya que los LEDs empleados tienen una longitud de
onda comprendida en este rango. En la Tabla 5-2 se identifica cada LED con su mxima
longitud de onda.
Tabla 5-2: Mximos de la longitud de onda de los LEDs utilizados en los productos
Color del LED

Verde (Voltaje nominal)
Amarillo (Ciclo de espera)
Rojo (Voltaje alto y bajo)
Longitud de onda (nm)

565
585
697
Se evaluaron dos tipos de sensores de luz para el diseo del circuito, fototransistores, y
fotorresistencias. Para la fotorresistencia se hizo un anlisis exhaustivo, debido a que los
resultados con este sensor son bastante ptimos, sin embargo el sistema de deteccin de LEDs
no se instal con este sensor debido a que no se posea la pieza mecnica apta para el mismo.
61
La caracterizacin de la fotorresistencia y su circuito de acondicionamiento se presentan en el
Apndice B.
Los costos asociados a la electrnica empleada en cada circuito se expresan en la Tabla 5-3.
Tabla 5-3: Costos asociados a la electrnica de los circuitos de deteccin de LEDs
Sensor empleado
Fototransistor
PNA4603H
Fotorresistencia
AGI-9003-1
Costo del circuito

del comparador
LM324N =$0,37
LM339N=$0,29
LM324N =$0,37
LM339N=$0,29
Costo del
sensor
Total
$3,16
$6,49
$2,96
$3,62
Para el sistema de deteccin de LEDs se escogi el circuito con el fototransistor

PNA4603H pese a que es mayor en costo, debido a que con l se pudo elaborar una pieza
mecnica para fijar los sensores a los productos, con una mayor simplicidad comparada con la
pieza que requerira la fotorresistencia.
A continuacin se presenta la descripcin del fototransistor que fue el sensor escogido para
el sistema de deteccin de LEDs. Las distintas pruebas que se hicieron con este sensor se
encuentran expuestas en el Apndice A. En el siguiente desarrollo slo se muestra la solucin
escogida tomando en cuenta la directividad del sensor correspondiente a la pieza mecnica que
fue utilizada.
5.3. Descripcin del fototransistor PNA4603H
Un fototransistor convierte iluminacin en corriente con una amplificacin que permite una
mayor sensibilidad. Si el fototransistor es conectado a un circuito con una batera, una
corriente foto-inducida circula por el lazo que incluye la regin base-emisor y es amplificada
por el fototransistor obteniendo un aumento en la corriente de colector.
Los circuitos con fototransistores pueden ser diseados con las tcnicas convencionales que
se emplean para los transistores, a excepcin de que su base debe ser alimentada por una
corriente foto-inducida.
Cuando se requiere una alta eficiencia se coloca un arreglo Darlington que consiste en unir
el emisor de un fototransistor con la base de un transistor bipolar, obteniendo una ganancia
que es el producto de las ganancias de los dos transistores.
62
Debido a que la salida del sensor es proporcional a la potencia recibida, que a su vez
depende del rea de superficie del sensor, es importante incrementar dicha rea para lo que se
emplean lentes que aumentan considerablemente la sensibilidad, pero los efectos pticos
deben ser bien analizados para que el uso de lentes sea una ventaja y no una desventaja.
El sensor PNA4603H de Panasonic tiene un rango de sensibilidad similar al de la vista
humana, teniendo su mximo pico de longitud de onda en 540nm. Ofrece una salida analgica,
cuyo valor varia segn la intensidad y el color de la luz del LED utilizado.
5.4. Descripcin del circuito que acondiciona la seal del sensor de luz PNA4603H
para procesamiento en los mdulos del PLC
Para poder acondicionar la salida de los sensores a emplear en el sistema de deteccin de

LEDs, es necesario utilizar un comparador que permite obtener una salida para
encendido/apagado con valores de 5 y 0, respectivamente. El circuito empleado es un
disparador Schmitt no inversor.
El disparador Schmitt se encuentra entre los circuitos con retroalimentacin positiva el cual
se puede utilizar en los circuitos que generan formas de onda, como es el caso de los
multivibradores. Las tres clases de multivibradores son biestable, monoestable y astable.
Los multivibradores biestables estn formados por un comparador que tiene
retroalimentacin positiva y dos estados estables. Un comparador no es ms que un
amplificador operacional que funciona en la configuracin de lazo abierto, el cual se muestra
en la Figura 5-5.
Figura 5-5: Configuracin a lazo abierto de un OPAMP
Cuando v2 es ligeramente mayor que v1, la salida se lleva a un estado de saturacin elevada
VH, cuando v2 es ligeramente menor que v1, la salida se lleva a un estado de saturacin
63
reducida VL. Los voltajes de salida de saturacin VH y VL pueden estar prximos a los
voltajes de alimentacin +Vs y Vs, respectivamente.
En la Figura 5-6 se muestra un disparador Schmitt no inversor que tiene voltajes de
referencia aplicados,
y en la Figura 5-7 las caractersticas de transferencia de voltaje
correspondientes.
Figura 5-6: Disparador Schmitt en configuracin no inversora
Figura 5-7: Caracterstica de transferencia de voltaje del disparador Schmitt en configuracin no

inversora
El voltaje de conmutacin Vs, suponiendo que VH y VL son simtricos cerca de cero, est
determinado por la ecuacin [5.1]
R
Vs = 1 + 1 VR e f
R2
[5.1]
Los voltajes de cruce inferior y superior estn determinados por las frmulas [5.2] y [5.3].
R
VTH = VS 1 VL
R2
[5.2]
64
R
VTL = VS 1 VH
R2
[5.3]
A continuacin se muestra en la Figura 5-8 el esquemtico del circuito de

acondicionamiento de los sensores PNA4603H para el modulo de deteccin de LEDs .
VCC
VCC
VCC
R1
R6
VCC
Vout
3
U1A
LM393AN
R3
R2
2
3
11
Vin
Vin
R4
R5
U2A
LM324N
Figura 5-8: Circuito de comparacin para el sistema de deteccin de LEDs
Se coloc un seguidor de voltaje a la salida del sensor, utilizando un LM324 para evitar que
el circuito de comparacin cargue al sensor, afectando su salida. Al tomar en cuenta el valor
de la impedancia de salida del sensor, as como la resistencia de Thvenin que ve el sensor con
respecto al comparador, los valores de las resistencias a usar variaran un poco, acorde al
sensor empleado. Al incluir un seguidor de voltaje la configuracin circuital puede ser
empleada para distintos sensores.
Los voltajes correspondientes a la ventana de histresis vienen dados por las ecuaciones
[5.4] y [5.5].
VH =
VL =
Voff R5 + VoH R 4
R 4 + R5
Von R5 + VoL R 4
R 4 + R5
[5.4]
[5.5]
65
Tomando en cuenta que el cambio en el comparador se produce slo cuando estos voltajes
son iguales, se debe considerar la ecuacin [5.6] para poder obtener la relacin entre R4 y R5,
donde Vx es el centro de la histresis
Vx = VH = VL
[5.6]
As finalmente se lleg a que la relacin entre R4 y R5 viene dada por la ecuacin [5.7]
R 4 = R5
(Von Voff )
[5.7]
(VoH VoL )
Con las mediciones hechas al sensor PNA4603H en la prueba 5 del Apndice C, con la
pieza mecnica y sombra, tomando en cuenta los dos valores ms altos detectados en cada
LED, se obtiene el voltaje de entrada bajo dado por Von menos un 20% de su valor, y el
voltaje de entrada alto dado por Voff ms un 20% de su valor. Esto se observa de forma ms
clara en la Tabla 5-4, en donde tambin se encuentra registrado el valor de R4 obtenido
mediante la ecuacin [5.7]. R5 fue fijado en 20K
Tabla 5-4: Valores de R5 y R4 para el caso del fototransistor PNA4603H
LED Voltaje Bajo (Rojo)

LED Voltaje Alto (Rojo)
LED Ciclo de Espera
(Amarillo)
LED Voltaje Nominal
(Verde)
Von Voff Von -20% Voff+20%

R5
(V)
(V)
(V)
(V)
4,207 0,682
3,37
0,82
20 k
4,212 0,889
3,37
1,07
20 k
1,02E+04
9,21E+03
R4
comercial
10,2 k
9,09 k
1,223 0,439
0,98
0,53
20 k
1,81E+03
1,82 k
1,950 0,343
1,56
0,41
20 k
4,59E+03
4,53 k
R4()
El voltaje Vx viene dado por el divisor de voltaje que se encuentra en el Terminal negativo
del comparador, lo que queda expresado en la ecuacin [5.8], de donde tambin se obtiene la
ecuacin [5.9] y [5.10] tomando el valor mximo y mnimo que puede existir en el punto
evaluado Vx.
( R 2 + R3) Vcc
R1 + R 2 + R3
[5.8]
Vxmx =
R3 + R 2
Vcc
R1 + R 2 + R3
[5.9]
Vxmin =
R3
Vcc
R1 + R 2 + R3
[5.10]
Vx =
66
De la ecuacin [5.11] y [5.12] se obtienen los valores de Vx para cada caso utilizando las
resistencias comerciales antes calculadas.
VxH =
VxL =
Voff R5 + VoH R 4
[5.11]
R 4 + R5
Von R5 + VoL R 4
R 4 + R5
[5.12]
Finalmente Vx se obtiene promediando estos valores, lo que queda registrado en la Tabla

5-5.
Tabla 5-5: Valores de VxH y VxL para el caso del fototransistor PNA4603H

LED Ciclo de Espera
(Amarillo)
LED Voltaje Nominal
(Verde)
Von -20%
(V)
3,37
3,37
Voff +20%
(V)
0,82
1,07
VoH
(V)
5
5
VoL
(V)
0
0
VxH
(V)
2,23
2,32
VxL
(V)
2,23
2,30
Vx
(V)
2,23
2,31
0,98
0,53
0,90
0,90
0,90
1,56
0,41
1,27
1,26
1,27
Para obtener los lmites donde puede estar el centro de la histresis, es decir Vxmax y
Vxmin, se sum y rest el 20% del voltaje Vx. Una vez que se tienen los distintos valores de
Vxmax y Vxmin se pueden obtener los valores de R1 y R3, despejando las ecuaciones [5.9] y
[5.10]. Se escogi R2 como un potencimetro de 10K y Vcc=5V.
De [5.9] se tiene que:
V
R1 = ( R 2 + R3) cc 1
Vxmx
[5.13]
De las ecuaciones [5.13] y [5.10] se obtiene finalmente:
R3 =
R 2 Vx min
Vxmx Vx min
[5.14]
Con las ecuaciones [5.13] y [5.14] se calcularon los valores de R3 y R1 lo que queda
registrado en la Tabla 5-6. Esta tabla tambin incluye los valores comerciales ms cercanos a
los calculados. Todas las resistencias a emplear en el circuito son de 1% de tolerancia.
67
Tabla 5-6: Valores de R3 y R1 para el caso del PNA4603H
Vx (V)
LED Voltaje Bajo
(Rojo)
LED Voltaje Alto
(Rojo)
LED Ciclo de Espera
(Amarillo)
LED Voltaje Nominal
(Verde)
Vxmax
Vxmin
Vx +20% (V) Vx -20% (V)
R2
R3
R1 ()
R1
comercial
2,23
2,68
1,78
10 k
20 k
2,61x104
26,1 k
2,31
2,77
1,85
10 k
20 k
2,42x104
24,3 k
0,90
1,08
0,72
10 k
20 k
1,09x105
110 k
1,27
1,52
1,01
10 k
20 k
6,88*104
68,1 k
La resistencia R6 se fij para todos los LEDs en 10K a excepcin del LED amarillo cuyo
valor de salida del comparador con R6=10K, ha de ser muy bajo debido a que el valor de R4
para este LED es de 1.82K; as que se emple una R6=4.53K
Con los clculos determinados para el producto sin sombra y bajo sombra se mont el
circuito del comparador y los voltajes obtenidos a la salida fueron los registrados en la Tabla
5-7 y Tabla 5-8 . Luego para visualizar de forma rpida los resultados se graficaron estas
tablas en la
Figura 5-9, y en la
Figura 5-10, respectivamente.
Tabla 5-7: Valores de la salida del circuito del comparador con el sensor PNA4603H, sin sombra
Prueba
Encendido
Encendido
LED Ciclo de Espera
(Amarillo) Encendido
LED Voltaje Nominal
(Verde) Encendido
Todos los LEDs
Apagados
Sensor LED
Volt. Bajo(V)
Sensor LED
Volt. Alto(V)
Sensor LED
Ciclo Espera(V)
Sensor LED
Volt. Nominal (V)
4,78
0,048
0,076
0,048
0,048
4,772
0,045
0,048
0,048
0,046
4,465
0,048
0,048
0,046
0,076
4,141
0,048
0,047
0,076
0,049
68
4,5
4
3,5
3
2,5
Sens. Volt . Bajo
Sens. Volt . Alt o
Sens. Ciclo Espera

1,5
Sens. Volt . Nominal
1
0,5
Sens. Ciclo Espera

0
Sens. Volt . Alt o

LED Volt .Bajo
ON
LED Volt . Alt o

ON
Sens. Volt . Bajo
LED Ciclo
espera ON
LED Volt .
Nominal ON
Todos OFF
Figura 5-9: Valores de salida del circuito comparador con el sensor PNA4603H, sin sombra
Tabla 5-8: Valores de la salida del circuito comparador con el sensor PNA4603H, con sombra
Prueba
Encendido
Encendido
LED Ciclo de Espera
(Amarillo) Encendido
LED Voltaje Nominal
(Verde) Encendido
Todos los LEDs
Apagados
Sensor LED
Volt. Bajo(V)
Sensor LED
Volt. Alto(V)
Sensor LED
Ciclo Espera(V)
Sensor LED
Volt. Nominal (V)
4,207
0,889
0,309
0,338
0,682
4,212
0,439
0,343
0,387
0,484
1,223
0,336
0,387
0,468
0,319
1,95
0,387
0,465
0,291
0,332
69
4,5
4
3,5
3
2,5
2
Sens. Volt . Bajo
1,5
Sens. Volt . Alt o
Sens. Ciclo Espera
0,5
0
Sens. Ciclo Espera

LED
Volt .Bajo LED Volt .
Alt o ON LED Ciclo
ON
espera ON
Sens. Volt . Alt o

Sens. Volt . Bajo
LED Volt .
Nominal ON
Todos OFF
Figura 5-10: Valores de salida del circuito comparador con el sensor PNA4603H, con sombra
Como se observa en las grficas y tablas, la solucin obtenida sin sombra ofrece resultados tan
ptimos como los obtenidos bajo sombra. Los valores de encendido del sensor
correspondiente al LED verde (voltaje nominal) y al LED amarillo (ciclo de espera) son
mayores en el caso en que no se tiene sombra aplicada porque la luz ambiental sigue afectando
al sensor pese a la pieza mecnica; sin embargo, los valores de encendido de estos sensores se
diferencian de los de apagado, obteniendo as una histresis mayor que es lo que se buscaba.
5.5. Conexiones del sistema de deteccin de LEDs
El sistema de deteccin de LEDs posee dos tarjetas, una que posee las conexiones de los
sensores y otra que posee el comparador con histresis que acondiciona las salidas de los
sensores para poder ser procesadas por el PLC. Las conexiones entre estas dos tarjetas se
muestran en Figura 5-11.
70
Figura 5-11: Diagrama de conexin entre las dos tarjetas del sistema de deteccin de LEDs
Para este sistema finalmente se decidi emplear 4 mdulos de entrada digital SNAP IDC5D,
los cuales van conectados a las salidas del sistema de deteccin de LEDs como se muestra en
la Figura 5-12.
Figura 5-12: Diagrama de conexin entre la tarjeta de sensores de LEDs y el mdulo del controlador
SNAPIDC5D
71
Las salidas de la pieza mecnica con sensores, que incluye la etapa del circuito de
comparacin, corresponden a los siguientes LEDs:
Salida 1: LED Verde
Salida 2: LED Amarillo
Salida 3: LED Alto
Salida 4: LED Bajo
Salida 5: Tierra
La salida correspondiente a la tierra se encuentra con un cable verde para ambos bancos de
pruebas.
Captulo 6.
SISTEMA DE DETECCIN DE CONEXIN Y DESCONEXIN
DE RELS
6.1. Descripcin general del sistema de deteccin de rels
Este sistema se encarga de determinar el estado del rel que posee cada producto o
supervisor monofsico de la lnea Exceline, el cual activa o interrumpe la alimentacin del
equipo a proteger segn las condiciones de la alimentacin del supervisor monofsico. Para la
deteccin del estado del rel se decidi emplear un mdulo de entrada analgica/digital SNAP
IAC5 90-140 VAC de la familia de Opto22.
Este mdulo es utilizado para sensar el encendido/apagado de niveles de voltajes AC, posee
un filtro a la entrada y un amplificador de histresis para el rechazo de ruido, adems de
ofrecer una conmutacin libre de transientes.
6.2. Conexiones del sistema de deteccin de rels
Para detectar el estado del rel se utiliza un transformador de aislamiento (1:1) cuyo
embobinado principal va conectado a la toma de la pared y el secundario va a un cable
conectado a la fase de la fuente programable y al mdulo SNAP IAC5. Como los supervisores
monofsicos slo interrumpen una de las conexiones (en el caso de los supervisores de 110
VAC interrumpen la fase y en el caso de los de 220 VAC interrumpen la fase 1), el mdulo
SNAP IAC5 obtiene entre sus extremos el voltaje en el secundario del transformador de
aislamiento cuando el rel est conectado, esto produce que en el controlador se obtenga un 1
lgico para ese mdulo, en caso contrario el mdulo observa un abierto y se obtiene un 0
lgico en el controlador. El diagrama de conexiones para el sistema de deteccin de rels es
mostrado en la Figura 6-1.
73
T1
V1
VSIN
VSIN
Trans Aislacin
Fase in
Neutro in
Tierra in
P1
Fase out
Neutro out
Tierra out
California Instrument
M1
Fase
Neutro
Tierra
Exceline
P2
+ CH1
- CH1
+ CH2
- CH2
+ CH3
- CH3
+ CH4
- CH4
OPTO 22
SRC1
Input Analog - Digital Output

Fase
Neutro
Tierra
Exceline
P3
Fase
Neutro
Tierra
Exceline
P4
Fase
Neutro
Tierra
Exceline
Figura 6-1: Diagrama de conexin entre el del sistema de deteccin de rels y los supervisores monofsicos
Para facilidad de desconexin y conexin de los supervisores monofsicos al banco de

pruebas se utiliz una regleta de 4 receptculos donde se conectan los supervisores, estos
receptculos van cableados a la fuente programable. Para la deteccin del rel se utilizaron
enchufes para simular el sistema que ha de ser protegido por los supervisores, estos enchufes
se conectan mediante un conector tipo banana a la regleta (Extremos denominados A en la
Figura 6-2), los cuales internamente van cableados hacia el mdulo SNAP IAC5 90-140VAC
del PLC.
74
Figura 6-2: Diagrama de conexin entre el sistema de deteccin de rels y el mdulo SNAP IAC5
Captulo 7.
RESULTADOS EXPERIMENTALES Y ANLISIS
7.1. Resultados obtenidos en cada etapa del proyecto
El resultado principal obtenido con este proyecto es el diseo y desarrollo de un sistema de

pruebas para supervisores monofsicos de la lnea Exceline, el cual permitir obtener pruebas
ms precisas de las que se realizaban anteriormente y prescindir de la dedicacin exclusiva de
un operador a estas pruebas.
Para poder llegar al producto final de este trabajo, que es el banco de pruebas, inicialmente
se realiz un anlisis del funcionamiento de los supervisores monofsicos y de la forma de
disear pruebas automatizadas, as como tambin se caracterizaron la forma como
anteriormente se realizaban las pruebas en el laboratorio y en el departamento de produccin.
Luego de la etapa de anlisis del prototipo, se procedi a estructurar el problema por etapas,
quedando divido en dos grandes partes, las cuales son: software y hardware, que a su vez
fueron divididos en sistemas modulares lo que hace ms sencillo el diseo y permite
expansiones y modificaciones futuras al sistema. Ya dividido el sistema en mdulos se
comenz a resolver los problemas de cada etapa por separado.
Primero se dise el formato de prueba a seguir y los puntos que se evaluaran en ella. Se
desarroll el software del PLC utilizando el programa ioController que es perteneciente al
fabricante del controlador empleado, el cual es un UP1-ADS Ultimate Controller. El software
se verific empleando una unidad de pruebas que permita simular eventos tales como los
encendidos y apagados de una variable, o aumentos y disminucin en voltajes.
Luego se desarroll una aplicacin en el PLC que permite comunicarse con una fuente
programable que es la encargada de proveer la alimentacin de los supervisores monofsicos
durante las pruebas, adems se dise una interfaz que le permitiera al operador seguir los
eventos de las pruebas de una forma prctica y determinar los parmetros que definen la
prueba que desea realizar.
Posteriormente se procedi a desarrollar el hardware necesario para lograr la automatizacin
e interconexin del sistema. El hardware tena dos sistemas modulares los cuales son el
sistema de deteccin de LEDs y el sistema de deteccin de rels.
76
Para el sistema de deteccin de LEDs se estudiaron distintos sensores que se pudieran
emplear en este sistema para la deteccin de los encendidos y apagados de los LEDs, as como
los mdulos necesarios para el PLC. Entre los circuitos diseados y ensamblados para este
sistema, se encuentra una tarjeta de sensores y una tarjeta de acondicionamiento de seal con
un disparador Schmitt trigger con voltaje de referencia aplicado. Para la creacin de los PCBs
correspondientes a estas tarjetas se utiliz el programa Protel y posteriormente se utiliz una
mquina de control numrico para la fabricacin de las tarjetas.
En cuanto al sistema de deteccin de rels se realizaron todas las conexiones pertinentes
para poder validar el funcionamiento del rel, es decir, la interrupcin de la seal de
alimentacin al equipo a proteger en caso de que ocurra un evento que altere dicha seal. Se
emple un mdulo de entrada digital AC de Opto22 para la deteccin de los eventos en el rel,
conectado a un transformador de aislamiento de 1:1.
Una etapa importante del proyecto consisti en desarrollar una aplicacin que permitiera
manejar los datos recolectados por el PLC y obtener reportes que permitieran conclusiones
acertadas y de rpida obtencin. Para ello se empleo el programa Microsoft Office Excel en
donde se desarroll una macro que permite obtener todos los clculos de inters a partir de los
datos recolectados por el PLC.
El sistema automatizado de pruebas diseado es capaz de realizar pruebas estadsticas a los
productos, labor que de forma manual es bastante engorrosa e imprecisa. El tiempo que
demoran estas pruebas estadsticas dependen del supervisor monofsico que se est evaluando,
ya que los temporizadores son distintos en cada uno. Adems el tiempo de duracin de las
pruebas est vinculado con el intervalo de separacin escogido por el operador entre prueba y
prueba, as como el paso de la fuente.
Finalmente se procedi a realizar validaciones de los mdulos que conforman el sistema
automatizado de pruebas, para culminar con las pruebas al sistema integrado.
A continuacin se exponen los resultados obtenidos al realizar las evaluaciones de los
mdulos del sistema.
7.2. Evaluacin del sistema de deteccin de LEDs
Una vez que cada una de las tarjetas fue validada, se procedi a evaluar el funcionamiento
del sistema de deteccin de LEDs, para lo cual se sometieron los cuatro productos a los
77
eventos de bajo voltaje, sobre voltaje y encendido/apagado de la fuente de alimentacin. Se
midi la salida correspondiente a cada uno de los LEDs para evaluar el comportamiento al
ocurrir distintos eventos. Los resultados se resumen en la Tabla 7-1.
Tabla 7-1: Resultados del sistema de deteccin de LEDs
Evento
Voltaje nominal
Voltaje Bajo
Voltaje alto
Fuente apagada
Sensor del
LED verde
On
Off
Off
Off
Sensor del
LED amarillo
Off
Off
Off
Off
Sernsor del
LED bajo
Off
On
Off
Off
Sensor del
LED alto
Off
Off
On
Off
En esta prueba no se sometieron los productos a la rampa generada por la fuente

programable por orden del controlador, porque se quera evaluar el sistema de LEDs de la
forma ms aislada posible, para as descartar fallas de otros sistemas. Se observ un encendido
y un apagado contundentes a la salida del circuito comparador, al someter a los productos a
los eventos pertinentes. No hubo interferencia entre las emisiones de un LED con respecto a
otro sensor.
7.3. Evaluacin del sistema de deteccin de rels
Para el sistema de deteccin de rels se evaluaron dos sistemas, uno conformado por un
transformador de 1:1 y un mdulo de 90-140 VAC y otro con un transformador con relacin
de vueltas de 2:1, y un mdulo de entrada digital de 140-280 VAC. El primer esquema es el
elegido, pero se prob tambin este ltimo debido a que no se tena acceso a los
transformadores de 1:1 al momento de la primera evaluacin.
Con el segundo esquema se tuvo la complicacin de que el mdulo del PLC detectaba al
rel conectado aunque fsicamente no lo estuviese, se vea afectado por la conduccin de unos
varistores dentro de los supervisores monofsicos que conducan producto de variaciones en la
frecuencia, esto debido a que la frecuencia de los mdulos del PLC no es exactamente la
misma de la fuente programable.
Para el sistema con el transformador de 1:1 se
observ que el PLC tena suficiente
velocidad de respuesta, ya que el mdulo empleado detectaba de forma inmediata y correcta el

estado del rel. Esta evaluacin se pudo hacer sin necesidad de tener activada la aplicacin en
78
el PLC, sino que simplemente teniendo el mdulo de entrada dc/ac SNAPIAC5 configurado
en el PLC y conectado al sistema de rels, se poda observar en los LEDs que posee este
mdulo que se encendan cuando el respectivo rel se conectaba, y se apagaban en el caso de
que el rel se desconectara.
Para estas pruebas se sometieron a dos productos a los eventos de primera conexin, voltaje
bajo, voltaje alto y encendido/apagado, para as evaluar la velocidad de respuesta del sistema
frente al cambio de los rels. Nuevamente la prueba se hizo configurando la fuente de forma
manual, para que la prueba no se viese afectada por posibles fallas en otros sistemas, ya que lo
que se quera validar era el funcionamiento del sistema de deteccin de rels, lo que
efectivamente se logr.
7.4. Evaluacin del sistema integrado
Para la evaluacin del sistema de forma integrada se hicieron las conexiones pertinentes de
los sistemas, es decir, se instal el sistema de deteccin de LEDs, el sistema de deteccin de
rels, el software del PLC se descarg en el controlador y tanto el HMI, como la aplicacin de
manejo de data se tenan en ejecucin en una computadora.
Se evaluaron dos productos a la vez para comprobar la capacidad de realizar pruebas
simultneas en el banco de pruebas.
Se realiz una prueba funcional con el sistema y se compar con una realizada de forma
manual. Ambas pruebas fueron aplicadas al mismo producto y los resultados se muestran en
las siguientes tablas.
Tabla 7-2: Especificaciones de la prueba automatizada
Producto
Voltaje nominal
Repeticiones
Paso de la fuente
GSM-RE 120
120 V
1
2
Tabla 7-3: Umbrales de la prueba automatizada

Tipo de
umbral
Terico
(V)
Entrada
(V)
Salida
(V)
Histresis
(V)
Umbral Bajo
Umbral alto
90
140
91,0
142,7
95,5
139,7
4,5
3,0
Error
Entrada
Error
Salida
(%)
(%)
1,111
1,92
6,111
0,214
Estatus
Bueno
Bueno
79
Tabla 7-4: Tiempo de validacin de fallas de la prueba automatizada
Tiempo de validacin
Terico (s) Real (s)
de fallas
Error (%)
Estatus
Bajo
1,9
Bueno
Alto
3,9
95
Malo
Tabla 7-5: Tiempos de reconexin de la prueba automatizada

Tiempo de conexin Terico (s)
Real (s)
Error (%)
Estatus
1era Conexin
1,7
43,333
Bueno
Voltaje Bajo
180
127,7
29,055
Bueno
Voltaje Alto
180
159,4
11,444
Bueno
ON - OFF
180
155
13,889
Bueno
Tabla 7-6: Especificaciones de la prueba manual

Producto
Voltaje nominal
Repeticiones
Paso de la fuente
GSM-RE 120
120 V
1
Manual
Tabla 7-7: Umbrales de la prueba manual

Tipo de
umbral
Umbral Bajo
Umbral alto
Terico Entrada
(V)
(V)
90
140
92,1
142,2
Salida
(V)
Histresis Error entrada

(V)
(%)
96,0
140,4
3,9
1,8
Error salida
(%)
Estatus
6,667
0,286
Bueno
Bueno
2,333
1,571
Tabla 7-8: Tiempo de validacin de fallas de la prueba manual

Tiempo de
validacin de fallas
Bajo
Alto
Terico (s)
Real (s)
Error (%)
Estatus
2
2
2,5
3,7
25
85
Bueno
Malo
Tabla 7-9: Tiempos de reconexin de la prueba manual

Tiempo de conexin Terico (s) Real (s)
1era Conexin
Voltaje Bajo
Voltaje Alto
ON - OFF
3
180
180
180
1,3
131,0
159,4
199,0
Error (%)
Estatus
56,667
27,222
11,444
10,556
Bueno
Bueno
Bueno
Bueno
80
De las tablas expuestas anteriormente se evidencia que el estatus del producto en los
distintos rubros, fue el mismo, as que el sistema automatizado le permite al operador llegar a
las mismas conclusiones que obtendra de hacer las pruebas forma manual.
Los valores de la histresis fueron mayor en el caso de las pruebas automatizadas, pero esto
se debe a que el paso de la fuente en esta prueba estaba en 2 V/s, mientras en el caso manual
fue de 0.1 V/s en las zonas de inters. Aqu se destaca la importancia de elegir un valor
adecuado para el paso de la fuente.
En cuanto a los errores entre las muestras y los valores tericos, fueron bastante similares
entre la prueba manual y la automtica. Cabe destacar que en cuanto a los tiempos, el sistema
automatizado es ms preciso porque descarta el error de observacin por parte del operador, ya
que las pruebas manuales se hacen mediante el uso de un cronmetro que el operador detiene
al ocurrir un determinado evento, y por lo tanto se pierden fracciones de segundos entre que el
operador percibe el evento y la accin de detener el cronmetro.
Captulo 8.
CONCLUSIONES Y RECOMENDACIONES
Se logr disear un sistema automatizado de pruebas para supervisores monofsicos,
totalmente funcional y con capacidad de ser expandido y mejorado en futuras investigaciones,
debido a la modularidad que existe en el software al igual que en el diseo implementado para
el hardware. Este sistema no slo qued en la etapa de diseo sino que se elaboraron todas las
tarjetas, cables y conexiones necesarias para su construccin dejando el producto de este
trabajo, que es el banco de pruebas, totalmente ensamblado y funcionando.
Para el desarrollo del banco de pruebas se ejecut una etapa de familiarizacin e
investigacin en la que se estudiaron los conceptos relacionados con el diseo y utilizacin de
sistemas automatizados de pruebas, as como se caracterizaron las pruebas realizadas
actualmente a los supervisores monofsicos y se logr el dominio de la plataforma y lenguaje
de programacin para el software del PLC empleado.
Se dise el programa del PLC para evaluar de forma simultnea de 1 a 4 supervisores
monofsicos iguales, adems de ser capaz de hacer pruebas estadsticas a un mximo de cuatro
supervisores. El programa se desarroll para probar siete tipos de supervisores monofsicos
desarrollados por la empresa, entre los cuales se encuentran supervisores de 120 VAC y 220
VAC, sin embargo se program de forma modular y expandible de tal modo que se puede
probar cualquier otro producto mediante la carga de un archivo sin necesidad de reprogramar
el PLC. Tambin se logr desarrollar una interfaz de usuario fcil de utilizar y que le permite
al operador observar los eventos que ocurren en los productos en tiempo real. Adicionalmente
se desarroll una aplicacin de manejo de datos que permite analizar los datos de forma
automatizada y validar un supervisor con todos los datos necesarios y de inters.
Para la captura de los eventos que ocurren en los productos se desarrollaron dos sistemas de
deteccin: uno se encarga de los eventos que ocurren en los LEDs de los supervisores mientras
que el otro sistema detecta la conexin y desconexin de la carga en el supervisor. Ninguno de
los sistemas requiere tener acceso a la electrnica interna del producto, es decir, los productos
son probados sin tener que desarmarlos.
82
Se construyeron para el banco de pruebas dos plataformas que pueden ser conectadas al
resto del sistema dependiendo del tipo de supervisor que se va a probar, si es de 120 VAC o de
220 VAC.
La importancia de este trabajo es que le ofrece al Laboratorio de Investigacin y Desarrollo
de GENTE C.A una herramienta valiosa para validar sus productos de forma automatizada y
sin la necesidad de un operador a dedicacin exclusiva de las pruebas.
Se logr sustituir los ojos del operador para la deteccin de los eventos en los LEDs,
adems de permitirle al laboratorio hacer pruebas estadsticas a un mismo producto, lo cual de
forma manual no es realizable.
Como recomendacin para mejorar el sistema se propone que el voltaje que se le aplica al
supervisor no sea una rampa en todo el rango, sino que se llegue a los valores cercanos a los
de inters (voltaje bajo, alto y nominal) mediante un escaln, es decir que se llegue a un cierto
valor y a partir de ah se inicie una rampa hasta que se detecte un evento. Con esto el tiempo
neto de prueba sera menor y la prueba se ejecutara ms rpidamente y en las rampas que
prevalezcan se puede fijar el paso de la fuente al menor posible, que es de 0,1 V/s, y as poder
obtener la mayor precisin en la determinacin de las histresis de los umbrales.
BIBLIOGRAFA
Fuentes electrnicas en lnea
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lnea]. Disponible: http://cp.literature.agilent.com/litweb/pdf/E2094-90009.pdf
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California Instruments. PGUI32 User Manual. V 2.10 (2000)
Ficha tcnica de la lnea Exceline- Supervisores monofsicos. (Enero, 2006)
Opto22. ioControl Users guide. (Marzo, 2006)
Opto22. ioManager Users Guide. (Marzo, 2006)
Opto22. ioDisplay Users Guide. (Marzo, 2006)
Libros
Fraden, Jacob. Handbook of Modern Sensors. Springer, Washington (3era Ed), pp 407423.
Neamen, Donald A. Anlisis y Diseo de Circuitos Electrnicos tomo II. McGrawHill,

Mxico, pp. 932-941. (1997).
Tursky, Christine y Gordon, Rodney. Test system design, a systematic approach.

Prentice Hall, New York, pp. 123-145. (2000)
Tanenbaum, Andrew S. Redes de Computadoras. (4ta ed) .Pearson Education, Mxico,

pp. 532-556. (2000)
Apndice A.
PROGRAMACIN DE LA FUENTE DE CALIFORNIA
INSTRUMENTS
El SCPI (Standard Commands for Programmable Instruments) es un lenguaje de
programacin para controlar funciones de instrumentos con una interfaz RS232 o el bus IEEE
488. Los comandos SCPI sirven para controlar distintos instrumentos.
Comandos SCPI:
Comunes: no estn relacionados a operaciones especficas sino para controlar

funciones generales del instrumento programable. Consisten en tres letras
nemotcnicas precedidas de un asterisco.
De subsistema: llevan a cabo funciones especficas del instrumento programable, estn

organizados con una estructura de rbol invertida con la raz en el tope. Es necesario
incluir el encabezado de la raz en todos los comandos enviados al instrumento
programable.
Mensajes SCPI:
De programa: uno o ms comandos en formato SCPI enviados del controlador al

instrumento.
De respuesta: datos en un formato SCPI enviados del instrumento al controlador. El

instrumento programable slo enva el mensaje cuando previamente le ha llegado un
comando del controlador llamado query- pregunta o duda.
Estructura de los mensajes SCPI: consisten en una o ms unidades de mensaje y un

indicador de que el mensaje ha terminado. ste ltimo no pertenece a la sintaxis pero est
implcito en la forma en el que el lenguaje de programacin termina una lnea (caracteres de
lnea nueva o final de lnea)
Formato de datos SCPI: todos los datos de programa enviados al instrumento o que
retornen de l estn en ASCII. Los tipos de datos pueden ser numricos o cadena de datos.
A-2
Formatos de datos numricos:

o Formatos de modo hablante:
<NR1>
Dgitos con un punto decimal implcito asumido a la derecha del

dgito menos significativo. Ejemplo: 273
<NR2>
Dgitos con un punto decimal explcito. Ejemplo 0.0273
<NR3>
Dgitos con un punto decimal explcito y un exponente. Ejemplo:

2.73E+2
<Bool>
Datos booleanos. Ejemplo 0/1
o Formatos de modo oyente:
<NRF>
Formato extendido que incluye <NR1>, <NR2>, <NR3>
<Bool>
Datos booleanos. Ejemplo 0/1
Datos tipo caracter: las cadenas de datos retornados por declaraciones query pueden
tomar las siguientes formas, dependiendo de la longitud de la cadena retornada:
o <CRD>
Character Response Data. Permite el retorno de una cadena de

caracteres
o <AARD>
Arbitrary ASCII Response Data: Permite el retorno de Ilimitados

parmetros ASCII de 7 bits
o <SRD>
String Response Data. Retorna cadenas de parmetros que llevan

doble comillas (a)
Apndice B.
PRUEBAS REALIZADAS A LA FOTORRESISTENCIA
AGI900031
Una fotorresistencia o fotocelda es un dispositivo fotoconductor que generalmente se
elabora mediante sulfuro de cadmio (CdS) selenio de cadmio (CdSe), que son
semiconductores cuya resistividad cambia al incidir luz sobre sus superficies.
Para su operacin una fotorresistencia requiere de una fuente de potencia, ya que no
produce foto-corriente por si sola. Un electrodo es colocado en cada extremo del
fotoconductor. En oscuridad la resistencia del material es alta lo que se traduce en una
corriente pequea. Cuando incide luz la resistencia disminuye y la corriente aumenta.
La longitud de onda a la que funciona efectivamente una fotocelda o fotorresistencia, est
relacionada con el material que se emplea para su construccin.
Para obtener una mayor sensibilidad, la distancia entre los electrodos debe ser pequea y la
superficie del sensor debe ser grande. Esto se obtiene al fabricar un sensor en forma de
serpentina.
Para emplear fotoceldas en cualquier circuito para deteccin de luz es importante
caracterizarlas, es decir, observar el valor de resistencia que tiene la fotocelda al estar la fuente
de luz encendida y apagada.
B.1 CARACTERIZACIN DEL SENSOR
Primera prueba: fotorresistencia sin pieza mecnica y sin sombra
Tabla B-1: Resultados de la prueba con la fotorresistencia AGI900031 y sin sombra
Color del LED
Verde
Rojo
Amarillo
Valor de la fotorresistencia en
ON
8,04K
4,245K
5,95K
Off
9,85K
9,46K
8,16K
Como se observa, si el LED est encendido la resistencia es menor al caso de cuando est
apagado aunque son bastante cercanos, al menos en el caso del LED verde, esto porque los
valores van relacionados al color del LED empleado.
B-2
Segunda prueba: fotorresistencia sin pieza mecnica y con sombra
Tabla B-2: Resultados de la prueba con la fotorresistencia AGI90031 y con sombra
Color del LED
Verde
Rojo
Amarillo
ON
24,05K
5,046K
10,47K
Off
133,1K
249K
190K
En esta segunda prueba se puede concluir que la fotorresistencia es bastante sensible as que
mientras las condiciones ofrezcan un mayor aislamiento de cualquier fuente de luz que no sea
el LED, los resultados son mejores ya que existe una mayor diferencia entre el on y el off. Los
valores siguen variando acorde al color del LED.
Tercera prueba: Fotorresistencia con la pieza mecnica
En esta prueba se utiliz la misma pieza destinada a los sensores de luz para las
fotorresistencias. Pese a que la pieza no es especializada para esta ltima, permite evaluar la
interferencia en la deteccin de los LEDs vecinos.
Se coloc una fotorresistencia en cada cavidad de la pieza mecnica y se midi el valor al
que estaba cada fotorresistencia con las distintas combinaciones de LEDs en on. Se evalu la
fotorresistencia en la pieza mecnica a la sombra.
Los resultados son los expresados en la Tabla B-3 y en la Tabla B-4.
Tabla B-3: Prueba de la fotorresistencia AGI90031 con la pieza mecnica, sin sombra
Prueba
LED bajo ON
LED alto ON
LED Amarillo ON
LED verde ON
Todos apagados
LED bajo(k)
10,42
114,7
169,2
172,3
172,9
LED alto(k)
222,1
35,73
427,3
444,7
445,3
LED amarillo(k)
121,6
67,6
24,5
121,7
135,2
LED verde(k)
410,9
388,8
368,2
111,3
426,5
Tabla B-4: Prueba de la fotorresistencia AGI90031 con la pieza mecnica, con sombra
Prueba
LED bajo ON
LED alto ON
LED Amarillo ON
LED verde ON
Todos apagados
LED bajo(k)
10,03
830
3750
3720
2650
LED alto(k)
256,3
41,29
5320
4930
3870
LED amarillo(k)
3770
182,6
33,07
4830
4220
LED verde(k)
3720
1216
2090
138,5
4380
B-3
Como se evidencia en los resultados, an con la pieza mecnica los resultados son mejores
con sombra que sin ella, pero los valores que estn en on, que son los ms importantes de
caracterizar, se mantienen bastante estables con respecto al cambio de luz en el ambiente.
El nico valor con inconvenientes es el del LED verde encendido, ya que es muy cercano al
valor off de su LED vecino. Este valor puede verse afectado por los componentes del circuito
que hacen sombra en este LED, adems es el LED que enciende con menor intensidad de luz.
Tambin se aplic esta prueba a distintos productos, con resultados bastante similares.
B.2 RESULTADOS DE LAS PRUEBAS REALIZADAS A LA FOTORRESISTENCIA
El primer circuito a proponer para la fotorresistencia es el mostrado en la Figura B-1.
Figura B-1: Circuito divisor de voltaje para la fotorresistencia AGI90031
En este circuito se hizo un simple divisor de voltaje, al cual se le coloca una resistencia en
serie (R0) con la fotorresistencia de un valor igual o muy cercano a la misma, de forma tal de
tener como voltaje de salida Vout =
Vcc
, con Vcc =5V , para lo cual se realiz el promedio entre
2
las mediciones de los dos productos probados, tanto con sombra como sin ella. Los resultados
de las mediciones de la fotorresistencia del divisor de voltaje con R=1K se muestran en la
Tabla B-5. Luego se procedi a hacer las mismas mediciones con una R=2K en el divisor de
voltaje lo que se muestra en la Tabla B-6. Estas mediciones se hicieron sin sombra.
Tabla B-5: Valores de la fotorresistencia utilizando en el divisor R0=1k , con la pieza mecnica y sin
sombra
Sin sombra
LED bajo ON
LED alto ON
LED amarillo ON
LED verde ON
Todos apagados
LED bajo
10,42
114,7
169,2
172,3
172,9
LED alto
221,1
35,73
427,3
444,7
445,3
LED amarillo
121,6
97,6
24,5
121,7
135,2
LED verde
410,9
388,8
368,2
111,3
426,5
B-4
Tabla B-6: Valores de la fotorresistencia utilizando R0=2K en el divisor de voltaje, con la pieza mecnica
y sin sombra
Sin sombra
LED bajo ON
LED alto ON
LED amarillo ON
LED verde ON
Todos apagados
LED bajo
7,7
100,1
151,4
159,9
157,5
LED alto
281,7
36,21
390,2
432,43
434,3
LED amarillo
135,2
104,7
26,84
120
145,7
LED verde
549
540
561
117
567
Tabla B-7: Promedio de los valores de fotorresistencia obtenidos con diferentes valores de R0 en el
divisor de voltaje, con la pieza mecnica y sin sombra
Sin sombra
LED bajo ON
LED alto ON
LED amarillo ON
LED verde ON
Todos apagados
LED bajo
9,06
107,4
160,3
166,1
165,2
LED alto
251,4
35,97
408,75
4438,65
439,8
LED amarillo
128,4
101,15
25,67
120,85
140,45
LED verde
478,95
464,4
464,6
114,5
496,75
Para evaluar la sensibilidad del circuito a la luz ambiental se procedi a realizar las mismas
mediciones mostradas anteriormente, pero esta vez se utiliz la pieza mecnica y sombra. Los
resultados se muestran en las Tabla B-8 y
Tabla B-9, y el promedio de ambas mediciones se muestra en la Tabla B-10.
Tabla B-8: Valores de la fotorresistencia utilizado en el divisor de voltaje R0=1K, con la pieza mecnica y
con sombra
Sin sombra
LED bajo ON
LED alto ON
LED amarillo ON
LED verde ON
Todos apagados
LED bajo
10,3
830
3750
3720
2650
LED alto
256,3
41,29
5320
4930
3870
LED amarillo
3770
182,6
33,07
4830
4220
LED verde
3720
1210
2090
138,5
4380
Tabla B-9: Valores de la fotorresistencia obtenidos al utilizar una R0=2K en el divisor de voltaje, con la
pieza mecnica y con sombra
Sin sombra
LED bajo ON
LED alto ON
LED amarillo ON
LED verde ON
Todos apagados
LED bajo
7,98
261,3
4230
42920
34560
LED alto
666
37,56
3310
48410
26720
LED amarillo
5380
485,3
32,86
1110
41290
LED verde
29260
11690
10540
135,2
24560
B-5
Tabla B-10: Promedio de los valores obtenidos al realizar las mediciones de la fotorresistencia con
distintos valores de R0, con la pieza mecnica y con sombra
Sin sombra
LED bajo ON
LED alto ON
LED amarillo ON
LED verde ON
Todos apagados
LED bajo
9,005
545,65
3990
23320
18605
LED alto
461,5
39,425
4315
26670
15295
LED amarillo
4575
333,95
32,965
2970
22755
LED verde
16490
6450
6315
136,85
14470
Con los valores resaltados en gris, que son los valores de ON para cada LED, se eligi una
resistencia de valor similar a estos para colocarla en el circuito. Los valores elegidos se
registran en la Tabla B-11 y en la Tabla B-12.
Tabla B-11: Valores de R0 para el circuito de la Figura B-1, sin sombra
LED ON
Bajo
Alto
Amarillo
Verde
Sin sombra
Fotorresistencia
(K)
9,06
35,97
25,67
114,15
R0(K)
9,09
35,7
25,5
115
Tabla B-12: Valores de R0 para el circuito de la Figura B-1, con sombra
LED ON
Bajo
Alto
Amarillo
Verde
Con sombra
Fotorresistencia
(K)
9,005
39,425
32,965
136,85
R0(K)
9,09
39,2
33,2
137
Con estos valores de resistencias se procedi a definir el divisor de voltaje de la Figura B-1
y los resultados son los expresados en la Tabla B-13 y en la Tabla B-14.
B-6
Tabla B-13: Resultados al medir la salida del divisor de voltaje de la Figura B-1, sin sombra
Prueba a
LED
Bajo
ON
Alto ON
Amarillo
ON
Verde
ON
Todos
apagados
LED
bajo(V)
R=9,09K
LED
alto(V)
R=35,7K
LED
amarillo(V)
R=25,5K
LED
verde(V)
R=115K
LED
verde(V)
R=135K
LED
verde(V)
R=200K
LED
Verde(V)
R=90K
2,69
0,625
0,7012
1,117
1,31
1,69
0,99
0,587
2,516
0,879
1,22
1,36
1,68
1,01
0,333
0,495
2,51
1,24
1,37
1,73
1,01
0,339
0,479
0,825
2,57
2,720
3,17
2,27
0,328
0,473
0,709
1,18
1,33
1,68
0,979
Se prob con distintos valores de resistencias para el LED verde, ya que es el caso en donde
los valores de on y off estn ms cercanos. El mejor resultado fue el obtenido con la
resistencia de 90K.
Tabla B-14: Resultados obtenidos al medir la salida del divisor de voltaje de la Figura B-1, con sombra
Prueba
LED bajo ON
LED alto ON
LED Amarillo
ON
LED verde ON
Todos apagados
LED
bajo(V)
R=9,09K
2,63
0,275
LED alto(V)
R=35,7K
LED amarillo(V)
R=25,5K
LED verde(V)
R=200K
0,254
2,53
0,03
0,221
0,08
0,145
0,003
0,065
2,32
0,22
0,005
0,003
0,011
0,007
0,152
0,006
2,79
0,085
De la Tabla B-14 se puede concluir que se puede obtener un resultado adecuado para que
estos datos sirvan de entrada al comparador cuya salida ser conectada a un mdulo del
controlador. Aislar al circuito de la luz del ambiente es recomendable, ya que la fotocelda es
muy sensible a ella, sin embargo con los valores obtenidos en la Tabla B-13 y un buen
circuito de comparacin se pueden obtener resultados efectivos.
B.3 CIRCUITO
DE
ACONDICIONAMIENTO
PARA
LA
SEAL
DE
LA
FOTORRESISTENCIA
Para emplear la fotorresistencia se puede utilizar el mismo circuito de comparacin que se

describi en la seccin 5.3. Los valores de las resistencias para este componente se expresan
en las siguientes tablas.
B-7
Tabla B-15: Valores de R5 y R4 para la fotorresistencia AGI90031, sin sombra
Von Voff Von -20% Voff+20%
R5
2,690 0,259
2,15
0,31
2,00E+04
2,516 0,625
2,01
0,75
2,00E+04
LED bajo
LED alto
LED
2,510 0,879
amarillo
LED verde 2,270 1,010
R4
7,37E+03
5,05E+03
R4 comercial
7,32E+03
4,99E+03
2,01
1,05
2,00E+04
3,81E+03
3,83E+03
1,82
1,21
2,00E+04
2,42E+03
2,43E+03
Tabla B-16: Valores VxH y VxL para la fotorresistencia AGI90031

LED bajo
LED alto
LED
amarillo
LED verde
Von -20% Voff +20% VoH VoL VxH VxL Vx

2,15
0,31
5
0 1,58 1,57 1,57
2,01
0,75
5
0 1,61 1,60 1,60
2,01
1,05
1,69 1,69 1,69
1,82
1,21
1,62 1,62 1,62
Tabla B-17: Valores de R1 y R3 para la fotorresistencia AGI90031

Vxmax Vxmin
R2
R3
R1
R1 comercial
Vx +20% Vx -20%
1,57
1,89
1,26 1,00E+04 2,00E+04 4,96E+04 4,99E+04
Vx
LED bajo
LED alto 1,60

LED
1,69
amarillo
LED verde 1,62
1,93
1,28
1,00E+04 2,00E+04 4,79E+04
4,75E+04
2,02
1,35
1,00E+04 2,00E+04 4,41E+04
4,42E+04
1,94
1,30
1,00E+04 2,00E+04 4,71E+04
4,75E+04
Los resultados obtenidos a la salida del circuito comparador, se expresan en la Tabla B-18.
Tabla B-18: Valores a la salida del comparador para la fotorresistencia AGI90031
Prueba
LED bajo ON
LED alto ON
LED amarillo ON
LED Verde ON
Todos apagados
LED bajo (V)

4,65
0,048
0,053
0,093
0,05
LED alto (V)

0,05
4,673
0,053
0,086
0,054
LED amarillo (V)

0,076
0,076
0,0756
0,075
0,076
LED Verde (V)

0,05
0,050
0,045
4,17
0,053
Los resultados obtenidos son bastante ptimos, a excepcin de la prueba con el LED
amarillo encendido en el que no se detect un voltaje de encendido a la salida del comparador.
Esto se debi a que la fotocelda correspondiente a este LED en la pieza no estaba centrada en
la pieza mecnica, lo que es una dificultad propia de no tener la pieza mecnica adecuada para
validar la prueba. Sin embargo, con una pieza mecnica particularizada para las fotoceldas es
posible obtener resultados tan buenos como los del el fototransistor.
Apndice C.
PRUEBAS REALIZADAS AL FOTOTRANSITOR PNA4603H
La caracterizacin que se realiz al fototransistor sometindolo a la luz emitida por distintos
LEDs, cuyos colores son correspondientes a los que poseen los supervisores monofsicos se
muestran en la Tabla C-1.
Tabla C-1: Voltajes de salida del fototransistor PNA4603H, sin sombra
Color del LED
Rojo
Verde
Amarillo
Estado del LED

on
off
On
Off
On
off
Voltaje (V)
4.216
4.216
4.216
4.216
4.216
4.216
A continuacin se exponen las pruebas realizadas con este sensor. El circuito empleado es el
que se muestra en la Figura C-1
Figura C-1: Circuito de prueba del sensor PNA4603H
Primera prueba: Se coloc el sensor como se muestra en la Figura C-1, con alimentacin
de 5V y una resistencia de 750. A la salida del sensor (terminal 1) se coloc un voltmetro,

con la referencia a la tierra del sensor (terminal 2).
Se observ que al desconectar el LED no disminua el voltaje en la salida del sensor y se
concluy que esto era debido a la luz del ambiente, ya que el sensor utilizado es muy sensible.
Efectivamente al cubrir el circuito a modo de hacer sombra, s se observ una variacin de
voltaje del sensor.
C-2
Los resultados de esta primera prueba se muestran en la Tabla C-2
Tabla C-2: Resultados de la primera prueba del PNA4603H, con sombra

Color del LED
Rojo
Verde
Amarillo
Estado del LED

on
off
On
Off
On
off
Voltaje (V)
4.195
0.556
1.259
0.57
1.283
0.574
Segunda prueba: Se prob la deteccin del encendido de LEDs, es decir, del ngulo
deteccin del sensor, bajo condiciones de oscuridad. Colocando los LEDs a la misma
distancia que tienen en los productos, se procedi a realizar las siguientes combinaciones:
Figura C-2: Directividad del sensor PNA4603H, combinacin 1
Figura C-3: Directividad del sensor PNA46038, combinacin 2
Se observ que el sensor detecta a los LEDs cercanos, lo que no sera ptimo para el banco
de pruebas ya que tiene que detectar los eventos en un LED y no confundirlo con el evento en
otro. En el caso de la combinacin 1 se detecta mientras que para la combinacin dos el sensor
no detecta al LED indicado en la Figura C-3. La diferenciacin de colores con este sensor no
es posible, ya que los valores de encendido y apagado de los LEDs verde y amarillo son muy
similares, mientras que el LED rojo si puede ser fcilmente diferenciado.
C-3
Tercera prueba: Para resolver el problema de la direccionalidad de los sensores, se coloc
un arreglo de 4 fibras pticas en el sensor, las cuales se introdujeron en la cobertura de un

cable a manera de que su manejo de forma grupal fuese mucho ms fcil. Se posicion este
cable directamente en cada LED y de esta forma el sensor slo detect el LED conectado de
forma directa a travs de la fibra y no los vecinos.
Figura C-4: Sensor PNA46038 con fibra ptica
Los resultados de la tercera prueba a este sensor se muestran en la Tabla C-3
Tabla C-3: Resultados de la tercera prueba del PNA4603H, con sombra y fibra ptica
Color del LED
Rojo
Verde
Amarillo
Estado del LED

On
Off
On
Off
On
Off
Voltaje (V)
4.165
0.491
1.038
0.486
1.050
0.49
Cuarta prueba: Se prob el sensor utilizando una pieza diseada por el departamento de
mecnica para colocar los LEDs. Dicha pieza est diseada de forma tal de lograr disminuir
la interferencia entre los LEDs y que un sensor detecte solamente a un LED determinado.
Los resultados de esta prueba se muestran en la Tabla C-4
C-4
Tabla C-4: Resultados de la cuarta prueba del PNA4603H, con la pieza mecnica
Prueba
LED bajo on
LED alto on
LED Amarillo on
LED verde on
Todos apagados
LED bajo(V)
4,2
0,96
0,64
0,62
0,66
LED alto(V)
1,342
4,212
0,87
0,86
0,85
LED amarillo(V)
0,436
0,59
1,36
0,45
0,435
LED verde(V)
0,509
0,472
0,5
2,137
0,538
Esta opcin es muy prctica ya que con la pieza mecnica se evita el empleo de fibra ptica
que es un tanto complicada para maniobrar, el inconveniente est en que las ventanas de
histresis estn bastante ajustadas, es particular para el LED amarillo, adems los sensores s
detectan a los LEDs vecinos.
Quinta prueba: se prob el sensor utilizando la pieza diseada por el departamento de
mecnica y colocndole una caja a todo el producto para aislarlo de la luz y ver cmo es
afectado el sensor.
Los resultados de esta prueba se muestran en la Tabla C-5
Tabla C-5: Resultados de la quinta prueba del PNA4603H, con la pieza mecnica y sombra
Prueba
LED bajo on
LED alto on
LED Amarillo on
LED verde on
Todos apagados
LED bajo(V)
4,207
0,682
0,387
0,387
0,387
LED alto(V)
0,889
4,212
0,484
0,468
0,465
LED amarillo(V)
0,309
0,439
1,223
0,319
0,291
LED verde(V)
0,338
0,343
0,336
1,95
0,332
Los sensores s se ven afectados por la luz del ambiente pese al aislamiento de la luz
ambiental. Puede deberse a que la caja del producto evaluado es transparente y puede darse el
caso de que ocurra reflexin interna de los rayos de luz provenientes del ambiente.
Apndice D.
FLUJOGRAMAS DE LAS FUNCIONES DESARROLLADAS PARA EL
SOFTWARE DEL PLC
D.1 Power up
En la Figura D-1 se muestra el flujograma correspondiente a la funcin Power_up del PLC.

Para consultar el funcionamiento de este chart o funcin se puede remitir a la seccin del libro
4.1.2.1 Seleccin de parmetros, correspondiente al Captulo 4.
Inicio
Inicializacin de
variables
Recepcin y envo de
datos del HMI
Llama a
Ranpa_tiempo
pruebas ejecutadas=
nmero de
repeticiones?
No
Yes
Fin
Figura D-1: Flujograma de la funcin power_up
D-2
D.2 Rampa_tiempo
En la Figura D-2 se muestra el flujograma correspondiente a la funcin Rampa_tiempo del

programa del PLC. Para consultar el funcionamiento de este chart o funcin se puede remitir a
la seccin del libro 4.1.2.2 Generacin de la rampa, correspondiente al Captulo 4.
Inicio
Determina que parte de la

grfica se ha de realizar y
carga las variables de la
misma
Llama a
Comunicacin
Activa chequeo
led_conex
No
Se termin la
grfica?
Yes
Guarda
datos
Fin
Figura D-2: Flujograma de la funcin Rampa_tiempo
D-3
D.3 Comunicacin
En la Figura D-3 se muestra el flujograma correspondiente a la funcin Comunicacin del

PLC. Para consultar el funcionamiento de este chart o funcin se puede remitir a la seccin del
libro 4.1.2.3 Comunicacin con la fuente, correspondiente al Captulo 4.
Inicio
Carga de
parmetros de
rampa o tiempo
Establece
valor de la
fuente
Fuente
respondi
bien?
No
Yes
No
Condicin de
parada?
Yes
Fin
Figura D-3: Flujograma de la funcin comunicacin
D-4
D.4 Chequeo_LED_conex
En la Figura
D-4 se muestra el flujograma correspondiente a la funcin
Chequeo_LED_conex del PLC. Para consultar el funcionamiento de este chart o funcin se

puede remitir a la seccin del libro 4.1.2.4 Chequeo de eventos, correspondiente al Captulo 4.
Inicio
Ocurri
el
evento?
No
Yes
Guarda evento y
establece la
variable del
evento
No
variable
de
parada=
true?
Yes
Fin
Figura D-4: Flujograma de la funcin chequeo_LED_conex

Automatización de pruebas para supervisores monofásicos

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Diseo y Automatizacin de un Banco de Pruebas para

Sartenejas, Noviembre 2006

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Diseo y Automatizacin de un Banco de Pruebas para

Informe Final de Cursos en Cooperacin Tcnica y Desarrollo Social

Sartenejas, Noviembre 2006

UNIVERSIDAD SIMN BOLVAR

NDICE DE FIGURAS .........................................................................................................................................III

2.1. DESCRIPCIN Y ESPECIFICACIONES DE UN SISTEMA AUTOMATIZADO DE EQUIPOS (ATE) ........................... 6

5.5. CONEXIONES DEL SISTEMA DE DETECCIN DE LEDS ................................................................................ 69

D.1 POWER UP ...............................................................................................................................................D-1

FIGURA 5-5: CONFIGURACIN A LAZO ABIERTO DE UN OPAMP ............................................................................. 62

CONFIGURACIN NO INVERSORA .............................................................. 63

FIGURA 5-7: CARACTERSTICA DE TRANSFERENCIA DE VOLTAJE DEL DISPARADOR SCHMITT EN CONFIGURACIN NO

FIGURA 5-8: CIRCUITO DE COMPARACIN PARA EL SISTEMA DE DETECCIN DE LEDS ........................................... 64

COMBINACIN 1 ............................................................. C-2

FIGURA C-3: DIRECTIVIDAD DEL SENSOR PNA46038, COMBINACIN 2............................................................... C-2

TABLA 5-1: COSTO DE LOS DIVERSOS ESQUEMAS DE DETECCIN DE LEDS ............................................................. 60

Y SIN SOMBRA ..................... B-1

SIN SOMBRA ................... B-2

CON LA PIEZA MECNICA, CON SOMBRA

TABLA B-7: PROMEDIO DE LOS VALORES DE

FOTORRESISTENCIA OBTENIDOS CON DIFERENTES VALORES DE R0 EN

EL DIVISOR DE VOLTAJE, CON LA PIEZA MECNICA Y SIN SOMBRA ............................................................... B-4

SIN SOMBRA .... B-6

SOMBRA ....................................................................................................................................................... B-6

CON SOMBRA Y FIBRA PTICA .................. C-3

American Standard Code for Information Interchange- Cdigo

Automatic Testing Equipment- Equipo de Pruebas Automatizadas

Component Object Model- Componente del Objeto Modelo

Comma Separated Value- Valor separado por coma

Device under Test- Dispositivo bajo prueba

Emergency off switch- Interruptor de apagado de emergencia.

Electrical power monitor Monitor de potencia elctrica

Fast Fourier Transform- Transformada Rpida de Fourier

General Purpose Instrumentation Bus- Bus de instrumentacin de

Hardware Monitor Interface Interfaz de seguimiento del Hardware.

Institute of Electrical and Electronics Engineers Instituto de

Input and Output- Entrada / Salida

Local Area Network Red de rea Local

Programable Logic Unit Unidad lgica programable

Random Access Memory Memoria de acceso aleatorio

Radio Frecuency Interference- Interferencias de Radio Frecuencia

Software Requirements Specifications- Especificaciones de los

Universal Serial Bus- Bus Serial Universal

Unit Under Test- Unidad Bajo Prueba

Extensible Markup Language Lenguaje Markup Extensible

Extensible Stylesheet Transforms transformador de hoja extensible.

1.1. Descripcin del proyecto

1.3. Objetivo general

1.4. Objetivos especficos

Misin: Somos una empresa que desarrolla soluciones tecnolgicas innovadoras

Visin: Generacin de tecnologa C.A. es un Centro Generador de Conocimiento

El proyecto de pasanta se desarroll en el departamento de Investigacin y Desarrollo de la

automatizado de pruebas diseado y desarrollado en este proyecto. En el captulo cuatro se

Encontrar la debilidad en el dispositivo.

Verificar las caractersticas a largo plazo del producto.

Optimizar el proceso de produccin.

Medir los lmites ambientales.

Encontrar las debilidades en los productos de la competencia.